[go: up one dir, main page]

RU2011138073A - Рельефные микроструктуры поверхности, соответствующие устройства и способ их изготовления - Google Patents

Рельефные микроструктуры поверхности, соответствующие устройства и способ их изготовления Download PDF

Info

Publication number
RU2011138073A
RU2011138073A RU2011138073/28A RU2011138073A RU2011138073A RU 2011138073 A RU2011138073 A RU 2011138073A RU 2011138073/28 A RU2011138073/28 A RU 2011138073/28A RU 2011138073 A RU2011138073 A RU 2011138073A RU 2011138073 A RU2011138073 A RU 2011138073A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
microstructure
layer
matrix
copy
relief
Prior art date
Application number
RU2011138073/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2540092C2 (ru
Inventor
Мохаммед ИБН-ЭЛЬХАДЖ
Жюльен МАРТЦ
Хуберт ЗАЙБЕРЛЕ
Вольфганг ВЕРНЕТ
Original Assignee
Ролик Аг
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ролик Аг filed Critical Ролик Аг
Publication of RU2011138073A publication Critical patent/RU2011138073A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2540092C2 publication Critical patent/RU2540092C2/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/0002Lithographic processes using patterning methods other than those involving the exposure to radiation, e.g. by stamping
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y40/00Manufacture or treatment of nanostructures
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D1/00Electroforming
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D1/00Electroforming
    • C25D1/10Moulds; Masks; Masterforms
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/02Diffusing elements; Afocal elements
    • G02B5/0205Diffusing elements; Afocal elements characterised by the diffusing properties
    • G02B5/021Diffusing elements; Afocal elements characterised by the diffusing properties the diffusion taking place at the element's surface, e.g. by means of surface roughening or microprismatic structures
    • G02B5/0221Diffusing elements; Afocal elements characterised by the diffusing properties the diffusion taking place at the element's surface, e.g. by means of surface roughening or microprismatic structures the surface having an irregular structure
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/02Diffusing elements; Afocal elements
    • G02B5/0205Diffusing elements; Afocal elements characterised by the diffusing properties
    • G02B5/0257Diffusing elements; Afocal elements characterised by the diffusing properties creating an anisotropic diffusion characteristic, i.e. distributing output differently in two perpendicular axes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/02Diffusing elements; Afocal elements
    • G02B5/0268Diffusing elements; Afocal elements characterized by the fabrication or manufacturing method
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/18Diffraction gratings
    • G02B5/1847Manufacturing methods
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/18Diffraction gratings
    • G02B5/1847Manufacturing methods
    • G02B5/1857Manufacturing methods using exposure or etching means, e.g. holography, photolithography, exposure to electron or ion beams
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1337Surface-induced orientation of the liquid crystal molecules, e.g. by alignment layers
    • G02F1/13378Surface-induced orientation of the liquid crystal molecules, e.g. by alignment layers by treatment of the surface, e.g. embossing, rubbing or light irradiation
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/0017Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor for the production of embossing, cutting or similar devices; for the production of casting means
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/24Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
    • G11B7/26Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of record carriers
    • G11B7/261Preparing a master, e.g. exposing photoresist, electroforming
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24479Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including variation in thickness
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24479Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including variation in thickness
    • Y10T428/24521Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including variation in thickness with component conforming to contour of nonplanar surface

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
  • Credit Cards Or The Like (AREA)
  • Holo Graphy (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
  • Shaping Of Tube Ends By Bending Or Straightening (AREA)
  • Printing Methods (AREA)

Abstract

1. Способ тиражирования образующей узор рельефной микроструктуры поверхности, включающий стадии:- формирования первого слоя (21), имеющего образующую узор рельефную микроструктуру поверхности, на втором слое (22), причем первый слой содержит первый материал, а второй слой содержит второй материал;- создания матрицы путем копирования микроструктуры первого слоя во второй слой с использованием по меньшей мере одной стадии сухого или мокрого травления;- отличающийся дополнительной стадией, на которой микроструктуру матрицы вводят в контакт с материалом копии так, чтобы микроструктура матрицы воспроизвелась в материале копии с профилем рельефа поверхности, обратным по сравнению с профилем рельефа поверхности матрицы.2. Способ по п.1, в котором на одной из стадий травления толщину первого слоя уменьшают до тех пор, пока не будет удален материал в нижних зонах (26) рельефной микроструктуры поверхности и не откроются части (27) нижележащего второго слоя (22).3. Способ по п.1, в котором глубина скопированной микроструктуры больше глубины исходной микроструктуры.4. Способ по п.1, в котором скопированная микроструктура имеет разную глубину на разных ее участках.5. Способ по п.1, в котором имеется по меньшей мере один участок узора, содержащий анизотропную микроструктуру.6. Способ по п.1, в котором узор содержит по меньшей мере один участок, на котором микроструктура является непериодической.7. Способ по п.1, в котором по меньшей мере на одном участке характеристическое отношение рельефа поверхности меньше 50.8. Способ по п.1, в котором по меньшей мере на одном участке коэффициент заполнения рельефа поверхности находится в диапазоне от

Claims (21)

1. Способ тиражирования образующей узор рельефной микроструктуры поверхности, включающий стадии:
- формирования первого слоя (21), имеющего образующую узор рельефную микроструктуру поверхности, на втором слое (22), причем первый слой содержит первый материал, а второй слой содержит второй материал;
- создания матрицы путем копирования микроструктуры первого слоя во второй слой с использованием по меньшей мере одной стадии сухого или мокрого травления;
- отличающийся дополнительной стадией, на которой микроструктуру матрицы вводят в контакт с материалом копии так, чтобы микроструктура матрицы воспроизвелась в материале копии с профилем рельефа поверхности, обратным по сравнению с профилем рельефа поверхности матрицы.
2. Способ по п.1, в котором на одной из стадий травления толщину первого слоя уменьшают до тех пор, пока не будет удален материал в нижних зонах (26) рельефной микроструктуры поверхности и не откроются части (27) нижележащего второго слоя (22).
3. Способ по п.1, в котором глубина скопированной микроструктуры больше глубины исходной микроструктуры.
4. Способ по п.1, в котором скопированная микроструктура имеет разную глубину на разных ее участках.
5. Способ по п.1, в котором имеется по меньшей мере один участок узора, содержащий анизотропную микроструктуру.
6. Способ по п.1, в котором узор содержит по меньшей мере один участок, на котором микроструктура является непериодической.
7. Способ по п.1, в котором по меньшей мере на одном участке характеристическое отношение рельефа поверхности меньше 50.
8. Способ по п.1, в котором по меньшей мере на одном участке коэффициент заполнения рельефа поверхности находится в диапазоне от 0,2 до 0,8.
9. Способ по п.1, в котором образующую узор рельефную микроструктуру поверхности формируют по технологии мономерного рифления.
10. Способ по п.1, в котором узор содержит участки с модуляцией поверхности, состоящей из переходов от углублений к возвышениям и от возвышений к углублениям, причем в (первом) поперечном направлении на каждых 20 мкм участка поверхности имеется (в среднем) по меньшей мере один переход от возвышения к углублению или наоборот, и предпочтительно дополнительно во втором поперечном направлении участка поверхности, которое перпендикулярно первому направлению, на каждых 200 мкм участка поверхности имеется в среднем по меньшей мере один переход от возвышения к углублению или наоборот.
11. Способ по п.1, отличающийся дополнительной стадией, на которой копию используют в качестве дочерней матрицы для тиражирования образующей узор рельефной микроструктуры поверхности путем введения дочерней матрицы в контакт с материалом копии так, чтобы микроструктура дочерней матрицы воспроизвелась в материале копии с профилем рельефа поверхности, обратным по сравнению с профилем рельефа поверхности дочерней матрицы.
12. Способ по п.11, в котором в качестве дочерней матрицы используют копию более высокого порядка.
13. Способ по п.1, отличающийся тем, что перед введением микроструктуры матрицы (дочерней матрицы) в контакт с материалом копии на микроструктуру наносят тонкий слой металла.
14. Способ по п.1, отличающийся тем, что материал копии наносят на микроструктуру одним из следующих методов: нанесение покрытия, печать, погружение, напыление, напыление в вакууме, литье, осаждение методом химического восстановления или электролитическое осаждение.
15. Способ по п.1, отличающийся тем, что рельефную микроструктуру поверхности получают в материале копии тиснением.
16. Способ по п.11, отличающийся тем, что рельефную микроструктуру поверхности получают в материале копии тиснением.
17. Применение копии рельефной микроструктуры поверхности, полученной способом по любому из предыдущих пунктов, в качестве матрицы для последующего тиражирования.
18. Оптический элемент, имеющий образующую узор рельефную микроструктуру поверхности, полученную путем тиражирования способом по любому из пп.1-16.
19. Оптический элемент по п.18, отличающийся тем, что он по меньшей мере частично является отражающим.
20. Оптический элемент по п.18, отличающийся тем, что он содержит слой диэлектрического материала на рельефной микроструктуре поверхности.
21. Оптическое защитное устройство, содержащее оптический элемент по любому из пп.18-20.
RU2011138073/28A 2009-02-18 2010-02-15 Рельефные микроструктуры поверхности, соответствующие устройства и способ их изготовления RU2540092C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP09153151.7 2009-02-18
EP09153151 2009-02-18
PCT/EP2010/000909 WO2010094441A1 (en) 2009-02-18 2010-02-15 Surface relief microstructures, related devices and method of making them

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2011138073A true RU2011138073A (ru) 2013-03-27
RU2540092C2 RU2540092C2 (ru) 2015-01-27

Family

ID=40796271

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2011138073/28A RU2540092C2 (ru) 2009-02-18 2010-02-15 Рельефные микроструктуры поверхности, соответствующие устройства и способ их изготовления

Country Status (12)

Country Link
US (1) US9618839B2 (ru)
EP (1) EP2399151B1 (ru)
JP (3) JP2012517919A (ru)
CN (1) CN102326102B (ru)
AU (1) AU2010214906B2 (ru)
BR (1) BRPI1008453A2 (ru)
CA (1) CA2751668A1 (ru)
MX (1) MX2011007955A (ru)
RU (1) RU2540092C2 (ru)
UA (1) UA106486C2 (ru)
WO (1) WO2010094441A1 (ru)
ZA (1) ZA201106743B (ru)

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5481306B2 (ja) * 2010-07-30 2014-04-23 富士フイルム株式会社 積層体、光学フィルムおよびそれらの製造方法、偏光板、画像晶表示装置、立体画像表示システム
RU2548945C2 (ru) * 2013-05-06 2015-04-20 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения РАН (ИЯФ СО РАН) Микроструктурные элементы для селекции электромагнитного излучения и способ их изготовления
TWI653495B (zh) * 2014-06-26 2019-03-11 荷蘭商皇家飛利浦有限公司 發光二極體照明單元
JP6688296B2 (ja) * 2014-10-23 2020-04-28 コーニング インコーポレイテッド 光拡散部材および光拡散部材の製造方法
CA2912888C (en) * 2014-11-25 2018-04-03 Hao Jiang Methods for fabricating color image display devices comprising structural color pixels from a generic stamp
EP3283905B1 (en) 2015-04-16 2020-09-23 ROLIC Technologies AG Multiple image scattering device
CN107850708B (zh) * 2015-07-15 2022-03-22 凸版印刷株式会社 显示体
AU2016307053A1 (en) 2015-08-07 2018-03-01 Rolic Technologies AG Azimuthally modulated scattering device
EP3168057A1 (fr) * 2015-11-11 2017-05-17 Nivarox-FAR S.A. Procede de fabrication d'une piece metallique avec au moins un motif a illusion d'optique
EP3480027B1 (en) 2016-06-30 2020-09-23 Toppan Printing Co., Ltd. Display body, and article provided with display body
CN105974731B (zh) * 2016-07-25 2020-01-03 京东方科技集团股份有限公司 一种压印板、检测方法及检测装置
US11067860B2 (en) * 2016-11-18 2021-07-20 Magic Leap, Inc. Liquid crystal diffractive devices with nano-scale pattern and methods of manufacturing the same
CA3078896A1 (en) * 2017-11-06 2019-05-09 Magic Leap, Inc. Method and system for tunable gradient patterning using a shadow mask
US10475656B2 (en) * 2017-12-19 2019-11-12 Micron Technology, Inc. Hydrosilylation in semiconductor processing
AT520942B1 (de) * 2018-03-15 2019-09-15 Werner Faerber Verfahren zur Herstellung einer Lichtlenkfolie und damit hergestellte Folie
EP3894905A2 (en) 2018-12-11 2021-10-20 ExxonMobil Upstream Research Company Automated seismic interpretation systems and methods for continual learning and inference of geological features
CA3122684C (en) 2018-12-11 2023-12-19 Exxonmobil Upstream Research Company Data augmentation for seismic interpretation systems and methods
WO2020123101A1 (en) 2018-12-11 2020-06-18 Exxonmobil Upstream Research Company Automated reservoir modeling using deep generative networks
US10690821B1 (en) * 2018-12-14 2020-06-23 Applied Materials, Inc. Methods of producing slanted gratings
CN112128710A (zh) * 2019-06-24 2020-12-25 宜兰汽车配件制造(平湖)有限公司 使用于汽车投影灯的彩色图案成像透光片的制造方法
US12169359B2 (en) 2019-08-21 2024-12-17 Snap Inc. Manufacture of surface relief structures
FR3105088B1 (fr) * 2019-12-20 2021-12-24 Oberthur Fiduciaire Sas Structure optique à effet de relief
EP3888929B1 (en) 2020-03-31 2022-05-11 NWM Research Spolka z ograniczona Odpowiedzialnoscia Spolka komandytowa A method of manufacturing a discretized optical security microstructure on a substrate and a shim for use in the method
TWI883167B (zh) * 2020-04-07 2025-05-11 瑞士商西克帕控股有限公司 設計焦散層的防複製光重定向表面的方法、包含該防複製光重定向表面的光學安全元件、經標記物品、鑑別該經標記物品的用途和方法
DK4147081T3 (da) * 2020-05-08 2025-09-01 Nil Technology Aps Fremgangsmåder til fremstilling af flerniveaustrukturer
EP4162303A4 (en) * 2020-06-08 2024-10-09 Board of Regents, The University of Texas System MANUFACTURE OF OPTICAL ELEMENTS
US20230400608A1 (en) * 2020-10-27 2023-12-14 3M Innovative Properties Company Multi-level optical diffuser with high near infrared clarity
WO2022158357A1 (ja) * 2021-01-21 2022-07-28 富士フイルム株式会社 マスター原盤及び金属成形物の製造方法
TW202247990A (zh) 2021-05-12 2022-12-16 瑞士商羅立克科技股份公司 用於創造表面微結構的方法
CN117485047B (zh) * 2022-07-25 2025-08-29 中钞特种防伪科技有限公司 光学防伪元件和光学防伪产品
CN117162693A (zh) * 2023-10-16 2023-12-05 苏州印象技术有限公司 一种全息镭射金属标制备方法
CN119395952B (zh) * 2024-12-13 2025-12-26 深圳市鲲腾易必目科技有限责任公司 电子束光刻微纳结构加工方法、设备、防伪标记及反射光栅

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5084351A (en) 1979-12-28 1992-01-28 Flex Products, Inc. Optically variable multilayer thin film interference stack on flexible insoluble web
JPH10198259A (ja) 1996-12-27 1998-07-31 Victor Co Of Japan Ltd 光記録媒体
HK1044960A1 (zh) 1999-10-19 2002-11-08 Rolic Ag 拓撲結構化的聚合物塗層
JP3582713B2 (ja) * 2000-05-29 2004-10-27 日本ビクター株式会社 証明用シール
EP1363143A1 (en) 2002-05-17 2003-11-19 Rolic AG Bright and white optical diffusing film
US6849558B2 (en) 2002-05-22 2005-02-01 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Replication and transfer of microstructures and nanostructures
JP3702445B2 (ja) * 2002-07-30 2005-10-05 学校法人慶應義塾 光学素子及びその光学素子を用いた装置
EP1400838A1 (en) * 2002-09-19 2004-03-24 Rolic AG Thin films with corrugated surface topologies and method to produce them
JP2004177805A (ja) 2002-11-28 2004-06-24 Alps Electric Co Ltd 反射体及び反射体の製造方法並びに液晶表示装置
JP2007503120A (ja) * 2003-08-19 2007-02-15 ナノオプト コーポレーション サブミクロンスケールのパターニングの方法およびシステム
EP1771752B1 (en) 2004-07-21 2020-10-07 ROLIC Technologies AG Anisotropic optical device and method for making same
KR100676073B1 (ko) 2004-12-07 2007-01-30 태산엘시디 주식회사 도광판 제조용 스탬퍼의 제작방법
JP4479491B2 (ja) 2004-12-10 2010-06-09 住友電気工業株式会社 回折格子形成方法
EP1855127A1 (en) 2006-05-12 2007-11-14 Rolic AG Optically effective surface relief microstructures and method of making them
US8318253B2 (en) * 2006-06-30 2012-11-27 Asml Netherlands B.V. Imprint lithography
WO2008031243A1 (en) * 2006-09-13 2008-03-20 Rolic Ag Volume photo-aligned retarder
CN101016634B (zh) * 2006-12-30 2010-12-15 苏州大学 一种具有表面浮雕微结构金属滚筒的制作方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP2399151A1 (en) 2011-12-28
JP2015092268A (ja) 2015-05-14
JP2012517919A (ja) 2012-08-09
WO2010094441A1 (en) 2010-08-26
AU2010214906B2 (en) 2014-12-04
CN102326102A (zh) 2012-01-18
CN102326102B (zh) 2015-09-23
UA106486C2 (ru) 2014-09-10
MX2011007955A (es) 2011-09-01
RU2540092C2 (ru) 2015-01-27
JP6322568B2 (ja) 2018-05-09
ZA201106743B (en) 2012-06-27
CA2751668A1 (en) 2010-08-26
JP2017072847A (ja) 2017-04-13
BRPI1008453A2 (pt) 2016-02-23
AU2010214906A1 (en) 2011-08-18
US9618839B2 (en) 2017-04-11
US20120027998A1 (en) 2012-02-02
EP2399151B1 (en) 2019-11-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2011138073A (ru) Рельефные микроструктуры поверхности, соответствующие устройства и способ их изготовления
CN102910579B (zh) 一种可提高图形深宽比的纳米压印方法及其产品
CN101414119B (zh) 用微米级模板构筑亚微米或纳米级模板的方法
Schift et al. Fabrication of polymer photonic crystals using nanoimprint lithography
RU2008148828A (ru) Рельефные микроструктуры поверхности с оптическими эффектами и способ их получения
HK1052559A1 (zh) 衬底及与该结构的制造相关的工艺
KR101022506B1 (ko) 쉐도우 증착과 나노전사 프린팅을 이용한 나노임프린트 리소그래피의 패턴전사 방법
WO2011111697A1 (ja) 陽極酸化層の形成方法、型の製造方法および反射防止膜の製造方法
TW201140650A (en) Pattern formation method
CN106226846B (zh) 一种基于反转压印纳米成型技术的力响应性光子晶体材料的制备方法
TW201518067A (zh) 圖案化印模製造方法、圖案化印模壓印方法及壓印物件
CN106291776B (zh) 一种基于纳米成型技术的力响应性光子晶体材料的制备方法
CN100557467C (zh) 使用有机无机混合材料和纳米压印技术的微细结构体的制造方法以及微细结构体
WO2017032758A1 (en) Seamless roll-to-roll nano-imprinting
KR100407602B1 (ko) 디웨팅 현상을 이용한 미세 패턴 형성 방법
JP5272791B2 (ja) ナノインプリント用モールドの製造方法
JP2009235434A (ja) 微細構造体製造方法
CN101022078A (zh) 不等深度微纳沟槽结构成形方法
CN105502281A (zh) 一种金属图形化方法
JP2013193454A (ja) マスターモールドの製造方法およびモールドの製造方法並びにそれらに使用される表面加工方法
Schlachter et al. UV-NIL based nanostructuring of aluminum using a novel organic imprint resist demonstrated for 100 nm half-pitch wire grid polarizer
Sun et al. A low-cost and high-efficiency method for four-inch silicon nano-mold by proximity UV exposure
Plachetka et al. Tailored etching processes for UV-NIL resist material for Si-antireflective surfaces
CN117666280A (zh) 衍射光波导的制备方法、衍射光波导及ar显示设备
Sun et al. Direct tailoring the Si substrate for antireflection via random nanohole nanoimprint

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20200216