[go: up one dir, main page]

RU2011150236A - Источник рентгеновских лучей со множеством эмиттеров электронов - Google Patents

Источник рентгеновских лучей со множеством эмиттеров электронов Download PDF

Info

Publication number
RU2011150236A
RU2011150236A RU2011150236/02A RU2011150236A RU2011150236A RU 2011150236 A RU2011150236 A RU 2011150236A RU 2011150236/02 A RU2011150236/02 A RU 2011150236/02A RU 2011150236 A RU2011150236 A RU 2011150236A RU 2011150236 A RU2011150236 A RU 2011150236A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
source
electron beam
target
rays
electrode
Prior art date
Application number
RU2011150236/02A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2538771C2 (ru
Inventor
Гереон ФОГТМАЙЕР
Вольфганг ХРОСТ
Original Assignee
Конинклейке Филипс Электроникс Н.В.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. filed Critical Конинклейке Филипс Электроникс Н.В.
Publication of RU2011150236A publication Critical patent/RU2011150236A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2538771C2 publication Critical patent/RU2538771C2/ru

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00—X-ray tubes
    • H01J35/02—Details
    • H01J35/14—Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
    • H01J35/153—Spot position control
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00—X-ray tubes
    • H01J35/02—Details
    • H01J35/04—Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
    • H01J35/06—Cathodes
    • H01J35/064—Details of the emitter, e.g. material or structure
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2235/00—X-ray tubes
    • H01J2235/06—Cathode assembly
    • H01J2235/062—Cold cathodes
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2235/00—X-ray tubes
    • H01J2235/06—Cathode assembly
    • H01J2235/068—Multi-cathode assembly
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2235/00—X-ray tubes
    • H01J2235/08—Targets (anodes) and X-ray converters
    • H01J2235/086—Target geometry

Landscapes

  • X-Ray Techniques (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

1. Источник (100, 200) рентгеновских лучей, содержащий:а) мишень (110, 210), предназначенную для испускания рентгеновских лучей (Х) при бомбардировке ее пучком электронов (В, В'); иb) генератор (120, 220) пучка электронов с, по меньшей мере, двумя источниками (121) пучков электронов для селективного испускания пучков электронов (В, В'), которые сходятся в направлении мишени, упомянутый генератор (120, 220) пучка электронов содержитb1) эмиттерное устройство (140, 240) с набором эмиттеров (141, 241) электронов; иb2) электродное устройство (130, 230) с набором электродных элементов (131, 231) для селективного направления пучков электронов (В, В'), испущенных эмиттерным устройством, электродный элемент и электродный эмиттер представляют источник пучка электронов.2. Источник (100, 200) рентгеновских лучей по п.1,отличающийся тем, что пучки электронов (В, В'), испущенные источниками (121) пучков электронов, ударяют мишень (110, 210) в точках (Т, Т') мишени, которые лежат на, по меньшей мере, одной данной траектории (L).3. Источник (100, 200) рентгеновских лучей,отличающийся тем, что взаимное расстояние (d) от соседних точек (Т, Т') мишени на траектории (L) меньше, чем расстояние (Δ) от соседних источников (121) пучков электронов.4. Источник (100, 200) рентгеновских лучей по п.1,отличающийся тем, что эмиттеры (141, 241) электронов содержат углеродные нанотрубки.5. Источник (100) рентгеновских лучей по п.1,отличающийся тем, что эмиттеры (141) электронов расположены на искривленной поверхности.6. Источник (200) рентгеновских лучей по п.1,отличающийся тем, что электродные элементы (231) сконструированы для отклонения пучков электронов (В).7. Источник (200) рентгеновских лучей по п.1,отличающийся тем, что электродные элемен

Claims (14)

1. Источник (100, 200) рентгеновских лучей, содержащий:
а) мишень (110, 210), предназначенную для испускания рентгеновских лучей (Х) при бомбардировке ее пучком электронов (В, В'); и
b) генератор (120, 220) пучка электронов с, по меньшей мере, двумя источниками (121) пучков электронов для селективного испускания пучков электронов (В, В'), которые сходятся в направлении мишени, упомянутый генератор (120, 220) пучка электронов содержит
b1) эмиттерное устройство (140, 240) с набором эмиттеров (141, 241) электронов; и
b2) электродное устройство (130, 230) с набором электродных элементов (131, 231) для селективного направления пучков электронов (В, В'), испущенных эмиттерным устройством, электродный элемент и электродный эмиттер представляют источник пучка электронов.
2. Источник (100, 200) рентгеновских лучей по п.1,
отличающийся тем, что пучки электронов (В, В'), испущенные источниками (121) пучков электронов, ударяют мишень (110, 210) в точках (Т, Т') мишени, которые лежат на, по меньшей мере, одной данной траектории (L).
3. Источник (100, 200) рентгеновских лучей,
отличающийся тем, что взаимное расстояние (d) от соседних точек (Т, Т') мишени на траектории (L) меньше, чем расстояние (Δ) от соседних источников (121) пучков электронов.
4. Источник (100, 200) рентгеновских лучей по п.1,
отличающийся тем, что эмиттеры (141, 241) электронов содержат углеродные нанотрубки.
5. Источник (100) рентгеновских лучей по п.1,
отличающийся тем, что эмиттеры (141) электронов расположены на искривленной поверхности.
6. Источник (200) рентгеновских лучей по п.1,
отличающийся тем, что электродные элементы (231) сконструированы для отклонения пучков электронов (В).
7. Источник (200) рентгеновских лучей по п.1,
отличающийся тем, что электродные элементы (231) расположены на искривленной поверхности.
8. Источник (100, 200) рентгеновских лучей по п.1,
отличающийся тем, что источники (120, 220) пучка электронов и/или эмиттеры (141, 241) электронов в соответствии с п.5 расположены в двухмерном наборе.
9. Источник (100, 200) рентгеновских лучей по п.8,
отличающийся тем, что этот набор имеет матричную сетку, причем элементы соседних столбцов (С, С') смещены в направлении столбца относительно друг друга.
10. Источник (100, 200) рентгеновских лучей по п.9,
отличающийся тем, что элементы, по меньшей мере, двух различных столбцов (С, С') фокусируются на мишени (110, 210) на одну и ту же траекторию (L).
11. Источник (100, 200) рентгеновских лучей по п.1,
отличающийся тем, что пучки электронов, по меньшей мере, двух различных источников пучков электронов попадают на одну и ту же область на мишени.
12. Источник (100, 200) рентгеновских лучей по п.1,
отличающийся тем, что поверхность мишени (110, 210), с которой сталкиваются пучки электронов (В, В') генератора (120, 220) пучка электронов, является искривленной.
13. Устройство воспроизведения изображения на основе рентгеновских лучей, в частности компьютерный томограф, микрокомпьютерный томограф, анализатор материалов, устройство для инспекции багажа или устройство для томосинтеза, содержащее источник (100, 200) рентгеновских лучей в соответствии с п.1.
14. Способ для генерации рентгеновских лучей (Х), включающий в себя:
а) селективное испускание пучков электронов (В, В') из, по меньшей мере, двух различных источников (121) пучков электронов генератора (120, 220) пучка электронов;
b) фокусирование упомянутых пучков электронов сходящимся образом на мишени (110, 210), при этом упомянутый генератор (120, 220) пучка электронов содержит
b1) эмиттерное устройство (140, 240) с набором эмиттеров (141, 241) электронов; и
b2) электродное устройство (130, 230) с набором электродных устройств (131, 231) для селективного направления пучков электронов (В, В'), испущенных эмиттерным устройством, при этом электродное устройство и электродный эмиттер представляют источник пучка электронов.
RU2011150236/07A 2009-05-12 2010-05-12 Источник рентгеновских лучей со множеством эмиттеров электронов RU2538771C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP09159977.9 2009-05-12
EP09159977 2009-05-12
PCT/IB2010/052107 WO2010131209A1 (en) 2009-05-12 2010-05-12 X-ray source with a plurality of electron emitters

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2011150236A true RU2011150236A (ru) 2013-06-20
RU2538771C2 RU2538771C2 (ru) 2015-01-10

Family

ID=42335289

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2011150236/07A RU2538771C2 (ru) 2009-05-12 2010-05-12 Источник рентгеновских лучей со множеством эмиттеров электронов

Country Status (6)

Country Link
US (1) US8989351B2 (ru)
EP (1) EP2430638B1 (ru)
JP (1) JP5801286B2 (ru)
CN (1) CN102422364B (ru)
RU (1) RU2538771C2 (ru)
WO (1) WO2010131209A1 (ru)

Families Citing this family (46)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5833327B2 (ja) * 2011-03-25 2015-12-16 株式会社日立ハイテクサイエンス Ｘ線管及びｘ線分析装置
US20150117599A1 (en) 2013-10-31 2015-04-30 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
WO2013080074A1 (en) 2011-11-28 2013-06-06 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray tube with heatable field emission electron emitter and method for operating same
US10242836B2 (en) * 2012-03-16 2019-03-26 Nanox Imaging Plc Devices having an electron emitting structure
JP6024500B2 (ja) * 2012-03-21 2016-11-16 Ｊｆｅエンジニアリング株式会社 アレイ型粒子線照射装置及びその制御方法
CN104584179B (zh) 2012-08-16 2017-10-13 纳欧克斯影像有限公司 图像捕捉装置
CN103903940B (zh) 2012-12-27 2017-09-26 清华大学 一种产生分布式x射线的设备和方法
JP6080610B2 (ja) 2013-02-26 2017-02-15 キヤノン株式会社 マルチ放射線発生装置および放射線撮影システム
CN104470176B (zh) * 2013-09-18 2017-11-14 同方威视技术股份有限公司 X射线装置以及具有该x射线装置的ct设备
KR101855931B1 (ko) * 2013-09-18 2018-05-10 칭화대학교 X선장치 및 이를 구비하는 ct장비
CN104470177B (zh) * 2013-09-18 2017-08-25 同方威视技术股份有限公司 X射线装置及具有该x射线装置的ct设备
US10297359B2 (en) 2013-09-19 2019-05-21 Sigray, Inc. X-ray illumination system with multiple target microstructures
US10269528B2 (en) 2013-09-19 2019-04-23 Sigray, Inc. Diverging X-ray sources using linear accumulation
WO2015084466A2 (en) * 2013-09-19 2015-06-11 Sigray, Inc. X-ray sources using linear accumulation
US10295485B2 (en) 2013-12-05 2019-05-21 Sigray, Inc. X-ray transmission spectrometer system
USRE48612E1 (en) 2013-10-31 2021-06-29 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
US10304580B2 (en) 2013-10-31 2019-05-28 Sigray, Inc. Talbot X-ray microscope
CN105793952B (zh) * 2013-11-27 2018-12-11 纳欧克斯影像有限公司 以耐离子轰击配置的电子发射结构
CN106535769B (zh) * 2014-05-01 2020-03-13 斯格瑞公司 X射线干涉成像系统
US10401309B2 (en) 2014-05-15 2019-09-03 Sigray, Inc. X-ray techniques using structured illumination
JP6980740B2 (ja) * 2015-02-10 2021-12-15 ルクスブライト・アーベー Ｘ線デバイス
US10352880B2 (en) 2015-04-29 2019-07-16 Sigray, Inc. Method and apparatus for x-ray microscopy
RU2618510C2 (ru) * 2015-05-18 2017-05-04 Общество с ограниченной ответственностью "СКБ Медрентех" Способ рентгеноскопии
US10295486B2 (en) 2015-08-18 2019-05-21 Sigray, Inc. Detector for X-rays with high spatial and high spectral resolution
US10991539B2 (en) * 2016-03-31 2021-04-27 Nano-X Imaging Ltd. X-ray tube and a conditioning method thereof
WO2018035171A1 (en) * 2016-08-16 2018-02-22 Massachusetts Institute Of Technology Nanoscale x-ray tomosynthesis for rapid analysis of integrated circuit (ic) dies
US11145431B2 (en) * 2016-08-16 2021-10-12 Massachusetts Institute Of Technology System and method for nanoscale X-ray imaging of biological specimen
US10247683B2 (en) 2016-12-03 2019-04-02 Sigray, Inc. Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams
WO2018175570A1 (en) 2017-03-22 2018-09-27 Sigray, Inc. Method of performing x-ray spectroscopy and x-ray absorption spectrometer system
US10578566B2 (en) 2018-04-03 2020-03-03 Sigray, Inc. X-ray emission spectrometer system
WO2019222786A1 (en) * 2018-05-25 2019-11-28 Micro-X Limited A device for applying beamforming signal processing to rf modulated x-rays
DE112019002822T5 (de) 2018-06-04 2021-02-18 Sigray, Inc. Wellenlängendispersives röntgenspektrometer
GB2591630B (en) 2018-07-26 2023-05-24 Sigray Inc High brightness x-ray reflection source
US10656105B2 (en) 2018-08-06 2020-05-19 Sigray, Inc. Talbot-lau x-ray source and interferometric system
DE112019004433B4 (de) 2018-09-04 2024-09-12 Sigray, Inc. System und verfahren für röntgenstrahlfluoreszenz mit filterung
CN112823280B (zh) 2018-09-07 2024-11-05 斯格瑞公司 用于深度可选x射线分析的系统和方法
RU2695637C1 (ru) * 2018-10-02 2019-07-25 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук, (ФГБУН ФИАН) Устройство многопроекционной съёмки
US10804062B2 (en) 2019-01-31 2020-10-13 Electronics And Telecommunications Research Institute Field emission device
WO2021011209A1 (en) 2019-07-15 2021-01-21 Sigray, Inc. X-ray source with rotating anode at atmospheric pressure
US11437218B2 (en) 2019-11-14 2022-09-06 Massachusetts Institute Of Technology Apparatus and method for nanoscale X-ray imaging
CN114902080A (zh) * 2020-02-26 2022-08-12 深圳帧观德芯科技有限公司 成像系统及其操作方法
CN117940808A (zh) * 2021-09-16 2024-04-26 深圳帧观德芯科技有限公司 使用多辐射束的成像方法
DE112023000574T5 (de) 2022-01-13 2024-10-24 Sigray, Inc. Mikrofokus-röntgenquelle zur erzeugung von röntgenstrahlen mit hohem fluss und niedriger energie
US12360067B2 (en) 2022-03-02 2025-07-15 Sigray, Inc. X-ray fluorescence system and x-ray source with electrically insulative target material
WO2024170816A1 (en) * 2023-02-14 2024-08-22 University Of Eastern Finland X-ray tube and method of manufacturing a field emission cathode for an x-ray tube
US12181423B1 (en) 2023-09-07 2024-12-31 Sigray, Inc. Secondary image removal using high resolution x-ray transmission sources

Family Cites Families (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3482096A (en) * 1965-08-02 1969-12-02 Field Emission Corp High energy field emission electron radiation pulse generator,x-ray apparatus and system employing same
JP2579912B2 (ja) * 1986-08-05 1997-02-12 キヤノン株式会社 荷電粒子発生装置
FR2658002B1 (fr) 1990-02-02 1992-05-22 Gen Electric Cgr Cathode a deflexion en diedre pour tube a rayons x.
US5173852A (en) 1990-06-20 1992-12-22 General Electric Company Computed tomography system with translatable focal spot
US5442678A (en) * 1990-09-05 1995-08-15 Photoelectron Corporation X-ray source with improved beam steering
US5303281A (en) * 1992-07-09 1994-04-12 Varian Associates, Inc. Mammography method and improved mammography X-ray tube
JP2630900B2 (ja) 1993-04-22 1997-07-16 株式会社岡村製作所 衝立立設装置
US5796211A (en) * 1994-12-22 1998-08-18 Lucent Technologies, Inc. Microwave vacuum tube devices employing electron sources comprising activated ultrafine diamonds
US6283812B1 (en) * 1999-01-25 2001-09-04 Agere Systems Guardian Corp. Process for fabricating article comprising aligned truncated carbon nanotubes
RU2161843C2 (ru) * 1999-02-17 2001-01-10 Кванта Вижн, Инк. Точечный высокоинтенсивный источник рентгеновского излучения
US6538367B1 (en) * 1999-07-15 2003-03-25 Agere Systems Inc. Field emitting device comprising field-concentrating nanoconductor assembly and method for making the same
US6504292B1 (en) * 1999-07-15 2003-01-07 Agere Systems Inc. Field emitting device comprising metallized nanostructures and method for making the same
US6297592B1 (en) * 2000-08-04 2001-10-02 Lucent Technologies Inc. Microwave vacuum tube device employing grid-modulated cold cathode source having nanotube emitters
US6553096B1 (en) * 2000-10-06 2003-04-22 The University Of North Carolina Chapel Hill X-ray generating mechanism using electron field emission cathode
US7082182B2 (en) * 2000-10-06 2006-07-25 The University Of North Carolina At Chapel Hill Computed tomography system for imaging of human and small animal
US6980627B2 (en) * 2000-10-06 2005-12-27 Xintek, Inc. Devices and methods for producing multiple x-ray beams from multiple locations
US6876724B2 (en) 2000-10-06 2005-04-05 The University Of North Carolina - Chapel Hill Large-area individually addressable multi-beam x-ray system and method of forming same
JP2002243898A (ja) * 2001-02-13 2002-08-28 Ebara Corp ビーム取り出し装置
US20030002628A1 (en) * 2001-06-27 2003-01-02 Wilson Colin R. Method and system for generating an electron beam in x-ray generating devices
US6760407B2 (en) * 2002-04-17 2004-07-06 Ge Medical Global Technology Company, Llc X-ray source and method having cathode with curved emission surface
WO2005117058A1 (de) * 2004-05-19 2005-12-08 Comet Holding Ag Röntgenröhre für hohe dosisleistungen
FR2861215B1 (fr) * 2003-10-20 2006-05-19 Calhene Canon a electrons a anode focalisante, formant une fenetre de ce canon, application a l'irradiation et a la sterilisation
US7639774B2 (en) 2003-12-23 2009-12-29 General Electric Company Method and apparatus for employing multiple axial-sources
US7192031B2 (en) 2004-02-05 2007-03-20 General Electric Company Emitter array configurations for a stationary CT system
US7333587B2 (en) 2004-02-27 2008-02-19 General Electric Company Method and system for imaging using multiple offset X-ray emission points
US7203269B2 (en) 2004-05-28 2007-04-10 General Electric Company System for forming x-rays and method for using same
JP2008501222A (ja) * 2004-05-28 2008-01-17 ジーイー ホームランド プロテクション，インコーポレイテッド Ｘ線を形成するためのシステム及びその使用法
KR101118693B1 (ko) * 2004-07-05 2012-03-12 전자빔기술센터 주식회사 멀티 마이크로칼럼에서 전자빔을 제어하는 방법 및 이방법을 이용한 멀티 마이크로칼럼
US7263156B2 (en) 2005-05-12 2007-08-28 Varian Medical Systems Technologies, Inc. Method and apparatus to facilitate computerized tomography of relatively large objects
JP5295503B2 (ja) * 2007-01-15 2013-09-18 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー Ｘ線発生装置およびｘ線ｃｔ装置
WO2009012453A1 (en) 2007-07-19 2009-01-22 The University Of North Carolina At Chapel Hill Stationary x-ray digital breast tomosynthesis systems and related methods
JP2009087633A (ja) * 2007-09-28 2009-04-23 Toshiba Corp Ｘ線源およびｘ線源の製造方法
CN101470560B (zh) * 2007-12-27 2012-01-25 清华大学 触摸屏及显示装置
US7809114B2 (en) * 2008-01-21 2010-10-05 General Electric Company Field emitter based electron source for multiple spot X-ray
US7826594B2 (en) * 2008-01-21 2010-11-02 General Electric Company Virtual matrix control scheme for multiple spot X-ray source
US20110051895A1 (en) * 2008-05-09 2011-03-03 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray system with efficient anode heat dissipation

Also Published As

Publication number Publication date
US8989351B2 (en) 2015-03-24
CN102422364A (zh) 2012-04-18
WO2010131209A1 (en) 2010-11-18
CN102422364B (zh) 2015-08-05
JP2012527079A (ja) 2012-11-01
EP2430638B1 (en) 2018-08-08
RU2538771C2 (ru) 2015-01-10
US20120057669A1 (en) 2012-03-08
EP2430638A1 (en) 2012-03-21
JP5801286B2 (ja) 2015-10-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2011150236A (ru) Источник рентгеновских лучей со множеством эмиттеров электронов
US10741353B2 (en) Electron emitting construct configured with ion bombardment resistant
US9991085B2 (en) Apparatuses and methods for generating distributed x-rays in a scanning manner
US8488737B2 (en) Medical X-ray imaging system
JP6126239B2 (ja) カソード制御マルチカソード分散型ｘ線装置、及びこの装置を有するｃｔ設備
JP5675794B2 (ja) ２つの焦点スポットを生成するｘ線管及びこれを有する医療デバイス
RU2011143319A (ru) Структурированный эмиттер электронов для визуализации с кодированным источником с помощью рентгеновской трубки
JP6124679B2 (ja) 走査荷電粒子顕微鏡および画像取得方法
US7388944B2 (en) Device for generation of x-ray radiation with a cold electron source
JP2012142269A5 (ru)
KR20100071564A (ko) 엑스선 튜브
US8295434B2 (en) X-ray imaging method and x-ray imaging system
WO2006038191A3 (en) X-ray source apparatus, computer tomography apparatus, and method of operating an x-ray source apparatus
WO2005077069A3 (en) Cathode head with focal spot control
JP2007263961A (ja) 複数焦点ｘ線システムのための方法及びシステム
KR20070071918A (ko) 탄소나노튜브를 이용한 오목한 그리드 구조의 엑스-선관
KR102605978B1 (ko) 전계 방출 엑스선원 및 그의 구동 방법
KR102819181B1 (ko) 엑스레이 튜브 음극부
US20230411106A1 (en) Multi-beam x-ray source and method for forming same
US20240055216A1 (en) X-ray source and operating method therefor
JP2011100637A5 (ru)

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20200513