RU2011144620A - Композиции для нанесения металлического покрытия, содержащая подавляющий агент, для беспустотного заполнения субмикронных элементов поверхности - Google Patents
Композиции для нанесения металлического покрытия, содержащая подавляющий агент, для беспустотного заполнения субмикронных элементов поверхности Download PDFInfo
- Publication number
- RU2011144620A RU2011144620A RU2011144620/02A RU2011144620A RU2011144620A RU 2011144620 A RU2011144620 A RU 2011144620A RU 2011144620/02 A RU2011144620/02 A RU 2011144620/02A RU 2011144620 A RU2011144620 A RU 2011144620A RU 2011144620 A RU2011144620 A RU 2011144620A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- alkylene
- copper
- copolymer
- radical
- ethylene oxide
- Prior art date
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C18/00—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
- C23C18/16—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
- C23C18/31—Coating with metals
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C18/00—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
- C23C18/16—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
- C23C18/31—Coating with metals
- C23C18/32—Coating with nickel, cobalt or mixtures thereof with phosphorus or boron
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D3/00—Electroplating: Baths therefor
- C25D3/02—Electroplating: Baths therefor from solutions
- C25D3/38—Electroplating: Baths therefor from solutions of copper
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D3/00—Electroplating: Baths therefor
- C25D3/02—Electroplating: Baths therefor from solutions
- C25D3/56—Electroplating: Baths therefor from solutions of alloys
- C25D3/58—Electroplating: Baths therefor from solutions of alloys containing more than 50% by weight of copper
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D7/00—Electroplating characterised by the article coated
- C25D7/12—Semiconductors
- C25D7/123—Semiconductors first coated with a seed layer or a conductive layer
-
- H10P14/47—
-
- H10W20/056—
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/42—Plated through-holes or plated via connections
- H05K3/423—Plated through-holes or plated via connections characterised by electroplating method
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Electroplating And Plating Baths Therefor (AREA)
- Electroplating Methods And Accessories (AREA)
- Chemically Coating (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
Abstract
1. Способ электролитического осаждения меди на подложку, содержащую элементы поверхности субмикрометрового размера, имеющие размер отверстия 30 нанометров или менее, где способ содержит:а) контакт электролитической ванны для осаждения меди, содержащей источник ионов меди, один или более ускоряющих агентов и один или более подавляющих агентов, выбранных из соединений формулы Iгде каждый радикал Rнезависимо выбирается из сополимера этиленоксида и по меньшей мере еще одного С3-С4 алкиленоксида, причем указанный сополимер представляет собой случайный сополимер,каждый радикал Rнезависимо выбирается из Rили алкила,Х и Y независимо представляют собой спейсерные группы, причем Х имеет независимые значения для каждой повторяющейся единицы, выбранные из С1-С6 алкилена и Z-(O-Z), где каждый радикал Z независимо выбирается из С2-С6 алкилена,n представляет собой целое число, больше или равное 0,m представляет собой целое число, больше или равное 1, в частности m равно 1-10,- содержание этиленоксида в сополимере этиленоксида и С3-С4 алкиленоксида составляет от 30 до 70%,с подложкой, иb) создание плотности тока в подложке в течение периода времени, достаточного для заполнения медью элемента поверхности субмикронного размера.2. Способ по п.1, отличающийся тем, что Х и Y имеют независимые значения, причем Х имеет независимые значения для каждой повторяющейся единицы, выбранные из С1-С4 алкилена.3. Способ по п.1, отличающийся тем, что подавляющий агент получают из аминных соединений, выбранных из метиламина, этиламина, пропиламина, изопропиламина, н-бутиламина, трет-бутиламина, гексиламина, диметиламина, диэтиламина, циклопентиламина, циклогекси�
Claims (10)
1. Способ электролитического осаждения меди на подложку, содержащую элементы поверхности субмикрометрового размера, имеющие размер отверстия 30 нанометров или менее, где способ содержит:
а) контакт электролитической ванны для осаждения меди, содержащей источник ионов меди, один или более ускоряющих агентов и один или более подавляющих агентов, выбранных из соединений формулы I
где каждый радикал R1 независимо выбирается из сополимера этиленоксида и по меньшей мере еще одного С3-С4 алкиленоксида, причем указанный сополимер представляет собой случайный сополимер,
каждый радикал R2 независимо выбирается из R1 или алкила,
Х и Y независимо представляют собой спейсерные группы, причем Х имеет независимые значения для каждой повторяющейся единицы, выбранные из С1-С6 алкилена и Z-(O-Z)m, где каждый радикал Z независимо выбирается из С2-С6 алкилена,
n представляет собой целое число, больше или равное 0,
m представляет собой целое число, больше или равное 1, в частности m равно 1-10,
- содержание этиленоксида в сополимере этиленоксида и С3-С4 алкиленоксида составляет от 30 до 70%,
с подложкой, и
b) создание плотности тока в подложке в течение периода времени, достаточного для заполнения медью элемента поверхности субмикронного размера.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что Х и Y имеют независимые значения, причем Х имеет независимые значения для каждой повторяющейся единицы, выбранные из С1-С4 алкилена.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что подавляющий агент получают из аминных соединений, выбранных из метиламина, этиламина, пропиламина, изопропиламина, н-бутиламина, трет-бутиламина, гексиламина, диметиламина, диэтиламина, циклопентиламина, циклогексиламина, этаноламина, диэтаноламина, триэтаноламина, этилендиамина, 1,3-диаминопропана, 1,4-диаминобутана, 1,5-ди-аминопентана, 1,6-диаминогексана, неопентандиамина, изофорондиамина, 4,9-диоксадекан-1,12-диамина, 4,7,10-триокситриде-кан-1,13-диамина, триэтиленгликоля диамина, диэтилентриамина, (3-(2-аминоэтил)аминопропиламина, 3,3'-иминоди(пропиламина), N,N-бис(3-аминопропил)метиламина, бис(3-диметиламинопро-пил)амина, триэтилентетрамина и N,N'-бис(3-аминопропил)этилен-диамина.
4. Способ по п.1, отличающийся тем, что С3-С4 алкиленоксид выбирается из пропиленоксида.
5. Способ по п.1, отличающийся тем, что молекулярная масса (Mw) подавляющего агента составляет 6000 г/моль или более.
6. Способ по п.5, отличающийся тем, что молекулярная масса (Mw) подавляющего агента составляет от 7000 до 19000 г/моль.
7. Способ по п.5, отличающаяся тем, что молекулярная масса (Mw) подавляющего агента составляет от 9000 до 18000 г/моль.
8. Способ по п.1, отличающийся тем, что подавляющий агент получают из аминного соединения, содержащего по меньшей мере три активные аминогруппы.
9. Способ по любому из пп.1-8, отличающийся тем, что электролитическая ванна для осаждения меди, кроме того, содержит один или более выравнивающих агентов.
10. Способ по п.1, отличающийся тем, что элементы поверхности имеют коэффициент пропорциональности 4 или более.
Applications Claiming Priority (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP09005106 | 2009-04-07 | ||
| EP09005106.1 | 2009-04-07 | ||
| US25633309P | 2009-10-30 | 2009-10-30 | |
| US61/256,333 | 2009-10-30 | ||
| PCT/EP2010/053881 WO2010115717A1 (en) | 2009-04-07 | 2010-03-25 | Composition for metal plating comprising suppressing agent for void free submicron feature filling |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2011144620A true RU2011144620A (ru) | 2013-05-20 |
| RU2529607C2 RU2529607C2 (ru) | 2014-09-27 |
Family
ID=42935665
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2011144620/02A RU2529607C2 (ru) | 2009-04-07 | 2010-03-25 | Композиция для нанесения металлического покрытия, содержащая подавляющий агент, для беспустотного заполнения субмикронных элементов |
Country Status (11)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US20120024711A1 (ru) |
| EP (1) | EP2417283B1 (ru) |
| JP (1) | JP5702359B2 (ru) |
| KR (1) | KR101720365B1 (ru) |
| CN (1) | CN102365396B (ru) |
| IL (1) | IL215018B (ru) |
| MY (1) | MY158203A (ru) |
| RU (1) | RU2529607C2 (ru) |
| SG (1) | SG174264A1 (ru) |
| TW (1) | TWI489011B (ru) |
| WO (1) | WO2010115717A1 (ru) |
Families Citing this family (28)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TW200632147A (ru) | 2004-11-12 | 2006-09-16 | ||
| US9869029B2 (en) | 2009-07-30 | 2018-01-16 | Basf Se | Composition for metal plating comprising suppressing agent for void free submicron feature filling |
| WO2011113908A1 (en) | 2010-03-18 | 2011-09-22 | Basf Se | Composition for metal electroplating comprising leveling agent |
| JP5981938B2 (ja) | 2010-12-21 | 2016-08-31 | ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピアBasf Se | レベリング剤を含有する金属電解めっき組成物 |
| EP2468927A1 (en) | 2010-12-21 | 2012-06-27 | Basf Se | Composition for metal electroplating comprising leveling agent |
| EP2530102A1 (en) | 2011-06-01 | 2012-12-05 | Basf Se | Additive and composition for metal electroplating comprising an additive for bottom-up filling of though silicon vias |
| WO2012164509A1 (en) | 2011-06-01 | 2012-12-06 | Basf Se | Composition for metal electroplating comprising an additive for bottom-up filling of though silicon vias and interconnect features |
| US9243339B2 (en) * | 2012-05-25 | 2016-01-26 | Trevor Pearson | Additives for producing copper electrodeposits having low oxygen content |
| RU2015121797A (ru) | 2012-11-09 | 2017-01-10 | Басф Се | Композиция для электролитического осаждения металла, содержащая выравнивающий агент |
| JP2018517793A (ja) * | 2015-04-28 | 2018-07-05 | ローム アンド ハース エレクトロニック マテリアルズ エルエルシーRohm and Haas Electronic Materials LLC | 電気めっき浴用の添加剤としてのビス無水物及びジアミンの反応生成物 |
| EP3141633B1 (en) * | 2015-09-10 | 2018-05-02 | ATOTECH Deutschland GmbH | Copper plating bath composition |
| WO2018015168A1 (en) * | 2016-07-18 | 2018-01-25 | Basf Se | Composition for cobalt plating comprising additive for void-free submicron feature filling |
| KR102266305B1 (ko) | 2016-09-22 | 2021-06-18 | 맥더미드 엔쏜 인코포레이티드 | 마이크로전자장치에서의 구리 전착 |
| WO2018073011A1 (en) | 2016-10-20 | 2018-04-26 | Basf Se | Composition for metal plating comprising suppressing agent for void free submicron feature filling |
| CN110100048B (zh) * | 2016-12-20 | 2022-06-21 | 巴斯夫欧洲公司 | 包含用于无空隙填充的抑制试剂的用于金属电镀的组合物 |
| EP3679179B1 (en) | 2017-09-04 | 2023-10-11 | Basf Se | Composition for metal electroplating comprising leveling agent |
| EP3728702B1 (en) * | 2017-12-20 | 2021-09-22 | Basf Se | Composition for tin or tin alloy electroplating comprising suppressing agent |
| SG11202009106XA (en) * | 2018-04-20 | 2020-11-27 | Basf Se | Composition for tin or tin alloy electroplating comprising suppressing agent |
| CN110284162B (zh) * | 2019-07-22 | 2020-06-30 | 广州三孚新材料科技股份有限公司 | 一种光伏汇流焊带无氰碱性镀铜液及其制备方法 |
| CN114514339A (zh) | 2019-09-27 | 2022-05-17 | 巴斯夫欧洲公司 | 用于铜凸块电沉积的包含流平剂的组合物 |
| KR20220069012A (ko) | 2019-09-27 | 2022-05-26 | 바스프 에스이 | 레벨링제를 포함하는 구리 범프 전착용 조성물 |
| IL296980A (en) | 2020-04-03 | 2022-12-01 | Basf Se | The composition for electrodeposition of copper bumps containing a polyaminoamide compensator |
| EP3922662A1 (en) | 2020-06-10 | 2021-12-15 | Basf Se | Polyalkanolamine |
| WO2022012932A1 (en) | 2020-07-13 | 2022-01-20 | Basf Se | Composition for copper electroplating on a cobalt seed |
| US20250129503A1 (en) | 2021-10-01 | 2025-04-24 | Basf Se | Composition for copper electrodeposition comprising a polyaminoamide type leveling agent |
| KR20250036166A (ko) | 2022-07-07 | 2025-03-13 | 바스프 에스이 | 구리 나노트윈 전착을 위한 폴리아미노아미드 유형 화합물을 포함하는 조성물의 용도 |
| KR20250124348A (ko) | 2022-12-19 | 2025-08-19 | 바스프 에스이 | 구리 나노트윈 전착용 조성물 |
| WO2025026863A1 (en) | 2023-08-03 | 2025-02-06 | Basf Se | Composition for copper electroplating on a metal seed |
Family Cites Families (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4505839A (en) | 1981-05-18 | 1985-03-19 | Petrolite Corporation | Polyalkanolamines |
| US4347108A (en) | 1981-05-29 | 1982-08-31 | Rohco, Inc. | Electrodeposition of copper, acidic copper electroplating baths and additives therefor |
| US5051154A (en) | 1988-08-23 | 1991-09-24 | Shipley Company Inc. | Additive for acid-copper electroplating baths to increase throwing power |
| DE4003243A1 (de) | 1990-02-03 | 1991-08-08 | Basf Ag | Verwendung von trialkanolaminpolyethern als demulgatoren von oel-in-wasser-emulsionen |
| RU2103420C1 (ru) * | 1995-06-06 | 1998-01-27 | Калининградский государственный университет | Электролит блестящего меднения |
| DE19625991A1 (de) | 1996-06-28 | 1998-01-02 | Philips Patentverwaltung | Bildschirm mit haftungsvermittelnder Silikatschicht |
| US6444110B2 (en) | 1999-05-17 | 2002-09-03 | Shipley Company, L.L.C. | Electrolytic copper plating method |
| JP3610434B2 (ja) * | 2002-02-06 | 2005-01-12 | 第一工業製薬株式会社 | 非イオン界面活性剤 |
| JP2003328179A (ja) * | 2002-05-10 | 2003-11-19 | Ebara Udylite Kk | 酸性銅めっき浴用添加剤及び該添加剤を含有する酸性銅めっき浴並びに該めっき浴を用いるめっき方法 |
| RU2237755C2 (ru) * | 2002-07-25 | 2004-10-10 | Калининградский государственный университет | Электролит меднения стальных деталей |
| US6833479B2 (en) | 2002-08-16 | 2004-12-21 | Cognis Corporation | Antimisting agents |
| JP3804788B2 (ja) * | 2002-11-18 | 2006-08-02 | 荏原ユージライト株式会社 | クローズド酸性銅めっきシステムおよびこれに利用される耐温性酸性銅めっき浴 |
| US20050072683A1 (en) | 2003-04-03 | 2005-04-07 | Ebara Corporation | Copper plating bath and plating method |
| US20050045485A1 (en) | 2003-09-03 | 2005-03-03 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co. Ltd. | Method to improve copper electrochemical deposition |
| TW200632147A (ru) * | 2004-11-12 | 2006-09-16 | ||
| US20060213780A1 (en) | 2005-03-24 | 2006-09-28 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Electroplating composition and method |
| RU2334831C2 (ru) * | 2006-10-31 | 2008-09-27 | Федеральное государственное унитарное предприятие "Калужский научно-исследовательский институт телемеханических устройств" | Электролит меднения |
| CU23716A1 (es) * | 2008-09-30 | 2011-10-05 | Ct Ingenieria Genetica Biotech | Péptido antagonista de la actividad de la interleucina-15 |
-
2010
- 2010-03-25 SG SG2011064086A patent/SG174264A1/en unknown
- 2010-03-25 WO PCT/EP2010/053881 patent/WO2010115717A1/en not_active Ceased
- 2010-03-25 EP EP10710049.7A patent/EP2417283B1/en active Active
- 2010-03-25 RU RU2011144620/02A patent/RU2529607C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2010-03-25 KR KR1020117026530A patent/KR101720365B1/ko active Active
- 2010-03-25 JP JP2012503952A patent/JP5702359B2/ja active Active
- 2010-03-25 US US13/257,716 patent/US20120024711A1/en not_active Abandoned
- 2010-03-25 MY MYPI2011004272A patent/MY158203A/en unknown
- 2010-03-25 CN CN201080015501.7A patent/CN102365396B/zh active Active
- 2010-04-06 TW TW099110627A patent/TWI489011B/zh active
-
2011
- 2011-09-07 IL IL215018A patent/IL215018B/en active IP Right Grant
-
2021
- 2021-05-25 US US17/329,459 patent/US20210317582A1/en not_active Abandoned
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP2417283B1 (en) | 2014-07-30 |
| WO2010115717A1 (en) | 2010-10-14 |
| US20120024711A1 (en) | 2012-02-02 |
| TW201042095A (en) | 2010-12-01 |
| CN102365396A (zh) | 2012-02-29 |
| JP5702359B2 (ja) | 2015-04-15 |
| MY158203A (en) | 2016-09-15 |
| CN102365396B (zh) | 2014-12-31 |
| RU2529607C2 (ru) | 2014-09-27 |
| TWI489011B (zh) | 2015-06-21 |
| JP2012522897A (ja) | 2012-09-27 |
| IL215018A0 (en) | 2011-12-01 |
| US20210317582A1 (en) | 2021-10-14 |
| IL215018B (en) | 2018-02-28 |
| EP2417283A1 (en) | 2012-02-15 |
| SG174264A1 (en) | 2011-10-28 |
| KR20120089564A (ko) | 2012-08-13 |
| KR101720365B1 (ko) | 2017-03-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2011144620A (ru) | Композиции для нанесения металлического покрытия, содержащая подавляющий агент, для беспустотного заполнения субмикронных элементов поверхности | |
| RU2011144618A (ru) | Композиция для нанесения металлического покрытия, содержащая подавляющий агент, для беспустотного заполнения субмикронных элементов поверхности | |
| RU2011144619A (ru) | Композиция для нанесения металлического покрытия, содержащая подавляющий агент, для беспустотного заполнения субмикронных элементов поверхности | |
| RU2012126604A (ru) | Композиция для электрического осаждеия металла, содержащая выравнивающий агент | |
| US8833450B2 (en) | Nitrogen containing compounds as corrosion inhibitors | |
| MY167595A (en) | Aqueous alkaline compositions and method for treating the surface of silicon substrates | |
| CN103857826B (zh) | 无电钯镀浴组合物 | |
| JP2012522897A5 (ru) | ||
| AU2003285760A1 (en) | Cleaning agent composition, cleaning and production methods for semiconductor wafer, and semiconductor wafer | |
| EP0886547A4 (en) | METHOD FOR CLEANING METAL IMPURITIES OF A SUBSTRATE, WHILE MAINTAINING THE FLATNESS OF THE SUBSTRATE | |
| PH12012502385A1 (en) | Aqueous alkaline etching and cleaning composition and method for treating the surface of silicon substrates | |
| KR101878496B1 (ko) | 구리 함유 재료용 에칭제 조성물 및 구리 함유 재료의 에칭 방법 | |
| JP2002544324A5 (ru) | ||
| JP2013527325A5 (ru) | ||
| TW201706393A (zh) | 抑制硫化物垢之組成物與方法 | |
| TW201042097A (en) | Composition for metal plating comprising suppressing agent for void free submicron feature filling | |
| RU2011107295A (ru) | Противомалярийные соединения | |
| CN102575201B (zh) | 用于制造平面显示器的基板的清洗液组合物 | |
| EP1260866A3 (en) | Additive composition for rinse water and method for surface treatment of lithographic printing plates | |
| CN101389707B (zh) | 用于金属清洁和/或酸洗的酸抑制剂组合物 | |
| JP2003082335A (ja) | 固定砥粒ワイヤソー用水溶性加工液組成物 | |
| JP2002541075A5 (ru) | ||
| JP4105205B2 (ja) | 無電解金めっき液 | |
| JP2017014611A5 (ru) | ||
| JP2011046989A (ja) | 金属めっき液添加剤及び金属めっき方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20170326 |