[go: up one dir, main page]

RU2011144620A - Композиции для нанесения металлического покрытия, содержащая подавляющий агент, для беспустотного заполнения субмикронных элементов поверхности - Google Patents

Композиции для нанесения металлического покрытия, содержащая подавляющий агент, для беспустотного заполнения субмикронных элементов поверхности Download PDF

Info

Publication number
RU2011144620A
RU2011144620A RU2011144620/02A RU2011144620A RU2011144620A RU 2011144620 A RU2011144620 A RU 2011144620A RU 2011144620/02 A RU2011144620/02 A RU 2011144620/02A RU 2011144620 A RU2011144620 A RU 2011144620A RU 2011144620 A RU2011144620 A RU 2011144620A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
alkylene
copper
copolymer
radical
ethylene oxide
Prior art date
Application number
RU2011144620/02A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2529607C2 (ru
Inventor
Корнелиа РЕГЕР-ГЕПФЕРТ
Роман Бенедикт РЭТЕР
Шарлотте ЭМНЕТ
Александра ХААГ
Дитер Майер
Original Assignee
Басф Се
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Басф Се filed Critical Басф Се
Publication of RU2011144620A publication Critical patent/RU2011144620A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2529607C2 publication Critical patent/RU2529607C2/ru

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/31Coating with metals
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/31Coating with metals
    • C23C18/32Coating with nickel, cobalt or mixtures thereof with phosphorus or boron
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D3/00Electroplating: Baths therefor
    • C25D3/02Electroplating: Baths therefor from solutions
    • C25D3/38Electroplating: Baths therefor from solutions of copper
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D3/00Electroplating: Baths therefor
    • C25D3/02Electroplating: Baths therefor from solutions
    • C25D3/56Electroplating: Baths therefor from solutions of alloys
    • C25D3/58Electroplating: Baths therefor from solutions of alloys containing more than 50% by weight of copper
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D7/00Electroplating characterised by the article coated
    • C25D7/12Semiconductors
    • C25D7/123Semiconductors first coated with a seed layer or a conductive layer
    • H10P14/47
    • H10W20/056
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/42Plated through-holes or plated via connections
    • H05K3/423Plated through-holes or plated via connections characterised by electroplating method

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Electroplating And Plating Baths Therefor (AREA)
  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)
  • Chemically Coating (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)

Abstract

1. Способ электролитического осаждения меди на подложку, содержащую элементы поверхности субмикрометрового размера, имеющие размер отверстия 30 нанометров или менее, где способ содержит:а) контакт электролитической ванны для осаждения меди, содержащей источник ионов меди, один или более ускоряющих агентов и один или более подавляющих агентов, выбранных из соединений формулы Iгде каждый радикал Rнезависимо выбирается из сополимера этиленоксида и по меньшей мере еще одного С3-С4 алкиленоксида, причем указанный сополимер представляет собой случайный сополимер,каждый радикал Rнезависимо выбирается из Rили алкила,Х и Y независимо представляют собой спейсерные группы, причем Х имеет независимые значения для каждой повторяющейся единицы, выбранные из С1-С6 алкилена и Z-(O-Z), где каждый радикал Z независимо выбирается из С2-С6 алкилена,n представляет собой целое число, больше или равное 0,m представляет собой целое число, больше или равное 1, в частности m равно 1-10,- содержание этиленоксида в сополимере этиленоксида и С3-С4 алкиленоксида составляет от 30 до 70%,с подложкой, иb) создание плотности тока в подложке в течение периода времени, достаточного для заполнения медью элемента поверхности субмикронного размера.2. Способ по п.1, отличающийся тем, что Х и Y имеют независимые значения, причем Х имеет независимые значения для каждой повторяющейся единицы, выбранные из С1-С4 алкилена.3. Способ по п.1, отличающийся тем, что подавляющий агент получают из аминных соединений, выбранных из метиламина, этиламина, пропиламина, изопропиламина, н-бутиламина, трет-бутиламина, гексиламина, диметиламина, диэтиламина, циклопентиламина, циклогекси�

Claims (10)

1. Способ электролитического осаждения меди на подложку, содержащую элементы поверхности субмикрометрового размера, имеющие размер отверстия 30 нанометров или менее, где способ содержит:
а) контакт электролитической ванны для осаждения меди, содержащей источник ионов меди, один или более ускоряющих агентов и один или более подавляющих агентов, выбранных из соединений формулы I
Figure 00000001
где каждый радикал R1 независимо выбирается из сополимера этиленоксида и по меньшей мере еще одного С3-С4 алкиленоксида, причем указанный сополимер представляет собой случайный сополимер,
каждый радикал R2 независимо выбирается из R1 или алкила,
Х и Y независимо представляют собой спейсерные группы, причем Х имеет независимые значения для каждой повторяющейся единицы, выбранные из С1-С6 алкилена и Z-(O-Z)m, где каждый радикал Z независимо выбирается из С2-С6 алкилена,
n представляет собой целое число, больше или равное 0,
m представляет собой целое число, больше или равное 1, в частности m равно 1-10,
- содержание этиленоксида в сополимере этиленоксида и С3-С4 алкиленоксида составляет от 30 до 70%,
с подложкой, и
b) создание плотности тока в подложке в течение периода времени, достаточного для заполнения медью элемента поверхности субмикронного размера.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что Х и Y имеют независимые значения, причем Х имеет независимые значения для каждой повторяющейся единицы, выбранные из С1-С4 алкилена.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что подавляющий агент получают из аминных соединений, выбранных из метиламина, этиламина, пропиламина, изопропиламина, н-бутиламина, трет-бутиламина, гексиламина, диметиламина, диэтиламина, циклопентиламина, циклогексиламина, этаноламина, диэтаноламина, триэтаноламина, этилендиамина, 1,3-диаминопропана, 1,4-диаминобутана, 1,5-ди-аминопентана, 1,6-диаминогексана, неопентандиамина, изофорондиамина, 4,9-диоксадекан-1,12-диамина, 4,7,10-триокситриде-кан-1,13-диамина, триэтиленгликоля диамина, диэтилентриамина, (3-(2-аминоэтил)аминопропиламина, 3,3'-иминоди(пропиламина), N,N-бис(3-аминопропил)метиламина, бис(3-диметиламинопро-пил)амина, триэтилентетрамина и N,N'-бис(3-аминопропил)этилен-диамина.
4. Способ по п.1, отличающийся тем, что С3-С4 алкиленоксид выбирается из пропиленоксида.
5. Способ по п.1, отличающийся тем, что молекулярная масса (Mw) подавляющего агента составляет 6000 г/моль или более.
6. Способ по п.5, отличающийся тем, что молекулярная масса (Mw) подавляющего агента составляет от 7000 до 19000 г/моль.
7. Способ по п.5, отличающаяся тем, что молекулярная масса (Mw) подавляющего агента составляет от 9000 до 18000 г/моль.
8. Способ по п.1, отличающийся тем, что подавляющий агент получают из аминного соединения, содержащего по меньшей мере три активные аминогруппы.
9. Способ по любому из пп.1-8, отличающийся тем, что электролитическая ванна для осаждения меди, кроме того, содержит один или более выравнивающих агентов.
10. Способ по п.1, отличающийся тем, что элементы поверхности имеют коэффициент пропорциональности 4 или более.
RU2011144620/02A 2009-04-07 2010-03-25 Композиция для нанесения металлического покрытия, содержащая подавляющий агент, для беспустотного заполнения субмикронных элементов RU2529607C2 (ru)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP09005106 2009-04-07
EP09005106.1 2009-04-07
US25633309P 2009-10-30 2009-10-30
US61/256,333 2009-10-30
PCT/EP2010/053881 WO2010115717A1 (en) 2009-04-07 2010-03-25 Composition for metal plating comprising suppressing agent for void free submicron feature filling

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2011144620A true RU2011144620A (ru) 2013-05-20
RU2529607C2 RU2529607C2 (ru) 2014-09-27

Family

ID=42935665

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2011144620/02A RU2529607C2 (ru) 2009-04-07 2010-03-25 Композиция для нанесения металлического покрытия, содержащая подавляющий агент, для беспустотного заполнения субмикронных элементов

Country Status (11)

Country Link
US (2) US20120024711A1 (ru)
EP (1) EP2417283B1 (ru)
JP (1) JP5702359B2 (ru)
KR (1) KR101720365B1 (ru)
CN (1) CN102365396B (ru)
IL (1) IL215018B (ru)
MY (1) MY158203A (ru)
RU (1) RU2529607C2 (ru)
SG (1) SG174264A1 (ru)
TW (1) TWI489011B (ru)
WO (1) WO2010115717A1 (ru)

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200632147A (ru) 2004-11-12 2006-09-16
US9869029B2 (en) 2009-07-30 2018-01-16 Basf Se Composition for metal plating comprising suppressing agent for void free submicron feature filling
WO2011113908A1 (en) 2010-03-18 2011-09-22 Basf Se Composition for metal electroplating comprising leveling agent
JP5981938B2 (ja) 2010-12-21 2016-08-31 ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピアBasf Se レベリング剤を含有する金属電解めっき組成物
EP2468927A1 (en) 2010-12-21 2012-06-27 Basf Se Composition for metal electroplating comprising leveling agent
EP2530102A1 (en) 2011-06-01 2012-12-05 Basf Se Additive and composition for metal electroplating comprising an additive for bottom-up filling of though silicon vias
WO2012164509A1 (en) 2011-06-01 2012-12-06 Basf Se Composition for metal electroplating comprising an additive for bottom-up filling of though silicon vias and interconnect features
US9243339B2 (en) * 2012-05-25 2016-01-26 Trevor Pearson Additives for producing copper electrodeposits having low oxygen content
RU2015121797A (ru) 2012-11-09 2017-01-10 Басф Се Композиция для электролитического осаждения металла, содержащая выравнивающий агент
JP2018517793A (ja) * 2015-04-28 2018-07-05 ローム アンド ハース エレクトロニック マテリアルズ エルエルシーRohm and Haas Electronic Materials LLC 電気めっき浴用の添加剤としてのビス無水物及びジアミンの反応生成物
EP3141633B1 (en) * 2015-09-10 2018-05-02 ATOTECH Deutschland GmbH Copper plating bath composition
WO2018015168A1 (en) * 2016-07-18 2018-01-25 Basf Se Composition for cobalt plating comprising additive for void-free submicron feature filling
KR102266305B1 (ko) 2016-09-22 2021-06-18 맥더미드 엔쏜 인코포레이티드 마이크로전자장치에서의 구리 전착
WO2018073011A1 (en) 2016-10-20 2018-04-26 Basf Se Composition for metal plating comprising suppressing agent for void free submicron feature filling
CN110100048B (zh) * 2016-12-20 2022-06-21 巴斯夫欧洲公司 包含用于无空隙填充的抑制试剂的用于金属电镀的组合物
EP3679179B1 (en) 2017-09-04 2023-10-11 Basf Se Composition for metal electroplating comprising leveling agent
EP3728702B1 (en) * 2017-12-20 2021-09-22 Basf Se Composition for tin or tin alloy electroplating comprising suppressing agent
SG11202009106XA (en) * 2018-04-20 2020-11-27 Basf Se Composition for tin or tin alloy electroplating comprising suppressing agent
CN110284162B (zh) * 2019-07-22 2020-06-30 广州三孚新材料科技股份有限公司 一种光伏汇流焊带无氰碱性镀铜液及其制备方法
CN114514339A (zh) 2019-09-27 2022-05-17 巴斯夫欧洲公司 用于铜凸块电沉积的包含流平剂的组合物
KR20220069012A (ko) 2019-09-27 2022-05-26 바스프 에스이 레벨링제를 포함하는 구리 범프 전착용 조성물
IL296980A (en) 2020-04-03 2022-12-01 Basf Se The composition for electrodeposition of copper bumps containing a polyaminoamide compensator
EP3922662A1 (en) 2020-06-10 2021-12-15 Basf Se Polyalkanolamine
WO2022012932A1 (en) 2020-07-13 2022-01-20 Basf Se Composition for copper electroplating on a cobalt seed
US20250129503A1 (en) 2021-10-01 2025-04-24 Basf Se Composition for copper electrodeposition comprising a polyaminoamide type leveling agent
KR20250036166A (ko) 2022-07-07 2025-03-13 바스프 에스이 구리 나노트윈 전착을 위한 폴리아미노아미드 유형 화합물을 포함하는 조성물의 용도
KR20250124348A (ko) 2022-12-19 2025-08-19 바스프 에스이 구리 나노트윈 전착용 조성물
WO2025026863A1 (en) 2023-08-03 2025-02-06 Basf Se Composition for copper electroplating on a metal seed

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4505839A (en) 1981-05-18 1985-03-19 Petrolite Corporation Polyalkanolamines
US4347108A (en) 1981-05-29 1982-08-31 Rohco, Inc. Electrodeposition of copper, acidic copper electroplating baths and additives therefor
US5051154A (en) 1988-08-23 1991-09-24 Shipley Company Inc. Additive for acid-copper electroplating baths to increase throwing power
DE4003243A1 (de) 1990-02-03 1991-08-08 Basf Ag Verwendung von trialkanolaminpolyethern als demulgatoren von oel-in-wasser-emulsionen
RU2103420C1 (ru) * 1995-06-06 1998-01-27 Калининградский государственный университет Электролит блестящего меднения
DE19625991A1 (de) 1996-06-28 1998-01-02 Philips Patentverwaltung Bildschirm mit haftungsvermittelnder Silikatschicht
US6444110B2 (en) 1999-05-17 2002-09-03 Shipley Company, L.L.C. Electrolytic copper plating method
JP3610434B2 (ja) * 2002-02-06 2005-01-12 第一工業製薬株式会社 非イオン界面活性剤
JP2003328179A (ja) * 2002-05-10 2003-11-19 Ebara Udylite Kk 酸性銅めっき浴用添加剤及び該添加剤を含有する酸性銅めっき浴並びに該めっき浴を用いるめっき方法
RU2237755C2 (ru) * 2002-07-25 2004-10-10 Калининградский государственный университет Электролит меднения стальных деталей
US6833479B2 (en) 2002-08-16 2004-12-21 Cognis Corporation Antimisting agents
JP3804788B2 (ja) * 2002-11-18 2006-08-02 荏原ユージライト株式会社 クローズド酸性銅めっきシステムおよびこれに利用される耐温性酸性銅めっき浴
US20050072683A1 (en) 2003-04-03 2005-04-07 Ebara Corporation Copper plating bath and plating method
US20050045485A1 (en) 2003-09-03 2005-03-03 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co. Ltd. Method to improve copper electrochemical deposition
TW200632147A (ru) * 2004-11-12 2006-09-16
US20060213780A1 (en) 2005-03-24 2006-09-28 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Electroplating composition and method
RU2334831C2 (ru) * 2006-10-31 2008-09-27 Федеральное государственное унитарное предприятие "Калужский научно-исследовательский институт телемеханических устройств" Электролит меднения
CU23716A1 (es) * 2008-09-30 2011-10-05 Ct Ingenieria Genetica Biotech Péptido antagonista de la actividad de la interleucina-15

Also Published As

Publication number Publication date
EP2417283B1 (en) 2014-07-30
WO2010115717A1 (en) 2010-10-14
US20120024711A1 (en) 2012-02-02
TW201042095A (en) 2010-12-01
CN102365396A (zh) 2012-02-29
JP5702359B2 (ja) 2015-04-15
MY158203A (en) 2016-09-15
CN102365396B (zh) 2014-12-31
RU2529607C2 (ru) 2014-09-27
TWI489011B (zh) 2015-06-21
JP2012522897A (ja) 2012-09-27
IL215018A0 (en) 2011-12-01
US20210317582A1 (en) 2021-10-14
IL215018B (en) 2018-02-28
EP2417283A1 (en) 2012-02-15
SG174264A1 (en) 2011-10-28
KR20120089564A (ko) 2012-08-13
KR101720365B1 (ko) 2017-03-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2011144620A (ru) Композиции для нанесения металлического покрытия, содержащая подавляющий агент, для беспустотного заполнения субмикронных элементов поверхности
RU2011144618A (ru) Композиция для нанесения металлического покрытия, содержащая подавляющий агент, для беспустотного заполнения субмикронных элементов поверхности
RU2011144619A (ru) Композиция для нанесения металлического покрытия, содержащая подавляющий агент, для беспустотного заполнения субмикронных элементов поверхности
RU2012126604A (ru) Композиция для электрического осаждеия металла, содержащая выравнивающий агент
US8833450B2 (en) Nitrogen containing compounds as corrosion inhibitors
MY167595A (en) Aqueous alkaline compositions and method for treating the surface of silicon substrates
CN103857826B (zh) 无电钯镀浴组合物
JP2012522897A5 (ru)
AU2003285760A1 (en) Cleaning agent composition, cleaning and production methods for semiconductor wafer, and semiconductor wafer
EP0886547A4 (en) METHOD FOR CLEANING METAL IMPURITIES OF A SUBSTRATE, WHILE MAINTAINING THE FLATNESS OF THE SUBSTRATE
PH12012502385A1 (en) Aqueous alkaline etching and cleaning composition and method for treating the surface of silicon substrates
KR101878496B1 (ko) 구리 함유 재료용 에칭제 조성물 및 구리 함유 재료의 에칭 방법
JP2002544324A5 (ru)
JP2013527325A5 (ru)
TW201706393A (zh) 抑制硫化物垢之組成物與方法
TW201042097A (en) Composition for metal plating comprising suppressing agent for void free submicron feature filling
RU2011107295A (ru) Противомалярийные соединения
CN102575201B (zh) 用于制造平面显示器的基板的清洗液组合物
EP1260866A3 (en) Additive composition for rinse water and method for surface treatment of lithographic printing plates
CN101389707B (zh) 用于金属清洁和/或酸洗的酸抑制剂组合物
JP2003082335A (ja) 固定砥粒ワイヤソー用水溶性加工液組成物
JP2002541075A5 (ru)
JP4105205B2 (ja) 無電解金めっき液
JP2017014611A5 (ru)
JP2011046989A (ja) 金属めっき液添加剤及び金属めっき方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20170326