RU2011140310A - Высокочастотная волоноводная структура - Google Patents
Высокочастотная волоноводная структура Download PDFInfo
- Publication number
- RU2011140310A RU2011140310A RU2011140310/07A RU2011140310A RU2011140310A RU 2011140310 A RU2011140310 A RU 2011140310A RU 2011140310/07 A RU2011140310/07 A RU 2011140310/07A RU 2011140310 A RU2011140310 A RU 2011140310A RU 2011140310 A RU2011140310 A RU 2011140310A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- conductive lines
- conductive
- waveguide structure
- line
- frequency waveguide
- Prior art date
Links
- 239000000835 fiber Substances 0.000 title 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract 9
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims abstract 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims 3
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 claims 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 3
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 claims 3
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 claims 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 abstract 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 abstract 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 abstract 2
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01P—WAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
- H01P3/00—Waveguides; Transmission lines of the waveguide type
- H01P3/02—Waveguides; Transmission lines of the waveguide type with two longitudinal conductors
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49016—Antenna or wave energy "plumbing" making
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Waveguides (AREA)
Abstract
1. Высокочастотная волноводная структура, содержащая:подложку (10);первую и вторую проводящие линии (11, 12), размещенные в первом слое (A) на подложке (10); итретью проводящую линию (13), размещенную в плоскости (G) симметрии между первой и второй проводящими линиями (11, 12), причем высота (h) каждой из первой и второй проводящих линий (11, 12) больше, чем ширина (w) каждой линии из первой и второй проводящих линий (11, 12).2. Высокочастотная волноводная структура по п. 1, в которой третья проводящая линия (13) располагается во втором слое (B, C) выше или ниже первого слоя (A).3. Высокочастотная волноводная структура по любому из предшествующих пунктов, в которой первая и вторая проводящие линии (11, 12) образуют первый волновод для моды щелевой линии, и при этом третья проводящая линия (13) вместе с первой и второй проводящими линиями (11, 12) образуют второй волновод для моды планарного волновода или моды копланарного волновода.4. Высокочастотная волноводная структура по п. 1 или 2, в которой связь между первой и второй проводящими линиями (11, 12) сильнее, чем связь между первой или второй проводящими линиями (11, 12) по отношению к подложке (10).5. Высокочастотная волноводная структура по п. 1 или 2, в которой электрическое поле моды щелевой линии в основном ограничено в промежутке между первой и второй проводящими линиями (11, 12).6. Высокочастотная волноводная структура по п. 1 или 2, в которой электрическое поле моды щелевой линии является, по существу, нулевым в плоскости G симметрии первой и второй проводящих линий (11, 12).7. Высокочастотная волноводная структура по п. 1 или 2, в которой высокочастотная волноводная структура интегрирована в КМОП/БиКМОП устройство.8. Вы�
Claims (15)
1. Высокочастотная волноводная структура, содержащая:
подложку (10);
первую и вторую проводящие линии (11, 12), размещенные в первом слое (A) на подложке (10); и
третью проводящую линию (13), размещенную в плоскости (G) симметрии между первой и второй проводящими линиями (11, 12), причем высота (h) каждой из первой и второй проводящих линий (11, 12) больше, чем ширина (w) каждой линии из первой и второй проводящих линий (11, 12).
2. Высокочастотная волноводная структура по п. 1, в которой третья проводящая линия (13) располагается во втором слое (B, C) выше или ниже первого слоя (A).
3. Высокочастотная волноводная структура по любому из предшествующих пунктов, в которой первая и вторая проводящие линии (11, 12) образуют первый волновод для моды щелевой линии, и при этом третья проводящая линия (13) вместе с первой и второй проводящими линиями (11, 12) образуют второй волновод для моды планарного волновода или моды копланарного волновода.
4. Высокочастотная волноводная структура по п. 1 или 2, в которой связь между первой и второй проводящими линиями (11, 12) сильнее, чем связь между первой или второй проводящими линиями (11, 12) по отношению к подложке (10).
5. Высокочастотная волноводная структура по п. 1 или 2, в которой электрическое поле моды щелевой линии в основном ограничено в промежутке между первой и второй проводящими линиями (11, 12).
6. Высокочастотная волноводная структура по п. 1 или 2, в которой электрическое поле моды щелевой линии является, по существу, нулевым в плоскости G симметрии первой и второй проводящих линий (11, 12).
7. Высокочастотная волноводная структура по п. 1 или 2, в которой высокочастотная волноводная структура интегрирована в КМОП/БиКМОП устройство.
8. Высокочастотная волноводная структура по п. 1 или 2, в которой первая и вторая проводящие линии (11, 12) образованы структурированным толстым металлическим слоем.
9. Структура диодного моста, соединяемая с высокочастотной волноводной структурой по любому из предшествующих пунктов, содержащая:
первую структуру (21) внутренних соединений между первой проводящей линией (11) и третьей проводящей линией (13), содержащую первый диод (23), соединенный своим катодом с третьей проводящей линией (13), и первый конденсатор (25), соединенный последовательно; и
вторую структуру (22) внутренних соединений между второй проводящей линией (12) и третьей проводящей линией (13), содержащей второй диод (24), соединенный своим анодом с третьей проводящей линией (13), и второй конденсатор (26), соединенный последовательно.
10. Структура диодного моста по п.9, в которой первый и второй конденсаторы (25, 26) расположены на двух промежуточных металлических слоях под первой и второй проводящими линиями (11, 12), соответственно.
11. Структура диодного моста по п. 9 или 10, в которой первый и второй диоды (23, 24) расположены в подложке (10) под первой и второй проводящими линиями (11, 12), соответственно.
12. Система формирования изображения/спектроскопии для анализа образца с использованием электромагнитного излучения в субтерагерцовом и/или терагерцовом диапазоне, содержащая:
передатчик для осуществления передачи электромагнитного излучения в субтерагерцовом и/или терагерцовом диапазоне на образец;
приемник (45), содержащий высокочастотный генератор (30) и структуру диодного моста (20) по любому из пп. 9-11, для приема электромагнитного излучения в субтерагерцовом и/или терагерцовом диапазоне от образца.
13. Система формирования изображения/спектроскопии по п. 12, в которой высокочастотный генератор (30) содержит нелинейную линию (32) передачи, чтобы генерировать сигнал с очень широким спектральным составом.
14. Система формирования изображения/спектроскопии по п. 12 или 13, в которой высокочастотный генератор (30) соединен с высокочастотной волноводной структурой (15) по любому из пп. 1-8.
15. Способ изготовления высокочастотной волноводной структуры, содержащий этапы:
обеспечения подложки (10);
обеспечения диэлектрического материала (14) на подложке (10);
обеспечения толстого металлического слоя в первом слое (A) на диэлектрическом материале (14),
обработки первой и второй проводящих линий (11, 12) путем структурирования толстого металлического слоя, причем высота каждой из первой и второй проводящих линий (11, 12) превышает ширину каждой из первой и второй проводящих линий (11, 12); и
обработки третьей проводящей линии (13), размещенной в плоскости (G) симметрии между первой и второй проводящими линиями (11, 12), до или после обработки первой и второй проводящих линий (11, 12).
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US201161535410P | 2011-09-16 | 2011-09-16 | |
| US61/535,410 | 2011-09-16 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2011140310A true RU2011140310A (ru) | 2013-04-10 |
Family
ID=47880129
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2011140310/07A RU2011140310A (ru) | 2011-09-16 | 2011-10-04 | Высокочастотная волоноводная структура |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20130069743A1 (ru) |
| RU (1) | RU2011140310A (ru) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11316275B2 (en) | 2017-01-19 | 2022-04-26 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Electromagnetic wave radiator |
| US10601140B2 (en) | 2017-01-19 | 2020-03-24 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Electromagnetic wave radiator |
Family Cites Families (43)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5544268A (en) * | 1994-09-09 | 1996-08-06 | Deacon Research | Display panel with electrically-controlled waveguide-routing |
| JP3241019B2 (ja) * | 1999-03-15 | 2001-12-25 | 日本電気株式会社 | コプレーナ線路 |
| US7103245B2 (en) * | 2000-07-10 | 2006-09-05 | Massachusetts Institute Of Technology | High density integrated optical chip |
| US6631225B2 (en) * | 2000-07-10 | 2003-10-07 | Massachusetts Institute Of Technology | Mode coupler between low index difference waveguide and high index difference waveguide |
| US6839491B2 (en) * | 2000-12-21 | 2005-01-04 | Xponent Photonics Inc | Multi-layer dispersion-engineered waveguides and resonators |
| US6816518B2 (en) * | 2001-03-20 | 2004-11-09 | Cyoptics (Israel) Ltd. | Wavelength tunable high repetition rate optical pulse generator |
| US7011932B2 (en) * | 2001-05-01 | 2006-03-14 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Polymer waveguide fabrication process |
| US7177515B2 (en) * | 2002-03-20 | 2007-02-13 | The Regents Of The University Of Colorado | Surface plasmon devices |
| US6810058B2 (en) * | 2002-04-23 | 2004-10-26 | Adc Telecommunications, Inc. | Semiconductor laser with gain waveguide layer providing transversal and longitudinal mode stability |
| US6870987B2 (en) * | 2002-08-20 | 2005-03-22 | Lnl Technologies, Inc. | Embedded mode converter |
| US7076135B2 (en) * | 2002-09-20 | 2006-07-11 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Optical module and manufacturing method therefor |
| US20040145026A1 (en) * | 2003-01-29 | 2004-07-29 | Chi-Kuang Sun | Photonic transmitter |
| WO2004113957A2 (en) * | 2003-06-16 | 2004-12-29 | The Regents Of The University Of California | Apparatus for optical measurements on low-index non-solid materials based on arrow waveguides |
| WO2005017588A1 (en) * | 2003-08-19 | 2005-02-24 | Ignis Technologies As | Integrated optics spot size converter and manufacturing method |
| US7359593B2 (en) * | 2003-10-09 | 2008-04-15 | Infinera Corporation | Integrated optical mode shape transformer and method of fabrication |
| US20070147766A1 (en) * | 2003-11-12 | 2007-06-28 | Mattsson Kent E | Low loss silicon oxynitride optical waveguide, a method of its manufacture and an optical device |
| DK1706767T3 (da) * | 2003-12-29 | 2019-07-22 | Google Llc | Optokobleranordning |
| US20050242287A1 (en) * | 2004-04-30 | 2005-11-03 | Hosain Hakimi | Optical terahertz generator / receiver |
| JP3913253B2 (ja) * | 2004-07-30 | 2007-05-09 | キヤノン株式会社 | 光半導体装置およびその製造方法 |
| US7151380B2 (en) * | 2004-08-06 | 2006-12-19 | Voith Paper Patent Gmbh | Microwave water weight sensor and process |
| US7519257B2 (en) * | 2004-11-24 | 2009-04-14 | Cornell Research Foundation, Inc. | Waveguide structure for guiding light in low-index material |
| US7391949B2 (en) * | 2005-09-27 | 2008-06-24 | The Regents Of The University Of California | Low loss hollow core optical waveguide |
| US7798817B2 (en) * | 2005-11-04 | 2010-09-21 | Georgia Tech Research Corporation | Integrated circuit interconnects with coaxial conductors |
| US20070101927A1 (en) * | 2005-11-10 | 2007-05-10 | Honeywell International Inc. | Silicon based optical waveguide structures and methods of manufacture |
| KR100731544B1 (ko) * | 2006-04-13 | 2007-06-22 | 한국전자통신연구원 | 다층배선 코플래너 웨이브가이드 |
| WO2008105888A2 (en) * | 2006-05-31 | 2008-09-04 | Georgia Tech Research Corporation | Integrated sensing probes, methods of fabrication thereof, and methods of use thereof |
| US7949031B2 (en) * | 2006-06-16 | 2011-05-24 | Pbc Lasers Gmbh | Optoelectronic systems providing high-power high-brightness laser light based on field coupled arrays, bars and stacks of semicondutor diode lasers |
| GB0620955D0 (en) * | 2006-10-20 | 2006-11-29 | Speakman Stuart P | Methods and apparatus for the manufacture of microstructures |
| US7565046B2 (en) * | 2006-12-13 | 2009-07-21 | Massachusetts Institute Of Technology | Mode transformers for low index high confinement waveguides |
| US7659513B2 (en) * | 2006-12-20 | 2010-02-09 | Virgin Islands Microsystems, Inc. | Low terahertz source and detector |
| US20110168891A1 (en) * | 2007-05-07 | 2011-07-14 | Tera-X, Llc | Systems, methods and devices for improved imaging and sensation of objects |
| JP4975000B2 (ja) * | 2007-12-07 | 2012-07-11 | キヤノン株式会社 | 電磁波発生素子、電磁波集積素子、及び電磁波検出装置 |
| WO2009106140A1 (en) * | 2008-02-29 | 2009-09-03 | Pirelli & C. S.P.A. | Optical mode transformer, in particular for coupling an optical fiber and a high-index contrast waveguide |
| CA2719342C (en) * | 2008-02-29 | 2016-04-26 | Pgt Photonics S.P.A | Optical mode transformer, in particular for coupling an optical fiber and a high-index contrast waveguide |
| US8203127B2 (en) * | 2008-05-06 | 2012-06-19 | The United States Of America, As Represented By The Secretary Of The Army | Terahertz radiation device using polar semiconductor materials and method of generating terahertz radiation |
| US8031991B2 (en) * | 2008-05-28 | 2011-10-04 | Lightwire Inc. | Low index, large mode field diameter optical coupler |
| ATE510240T1 (de) * | 2008-07-15 | 2011-06-15 | Univ Danmarks Tekniske | Volloptische steuerung von thz-strahlung in wellenleitern mit parallelen platten |
| JP5419411B2 (ja) * | 2008-10-08 | 2014-02-19 | キヤノン株式会社 | テラヘルツ波発生素子 |
| FR2951321B1 (fr) * | 2009-10-08 | 2012-03-16 | St Microelectronics Sa | Dispositif semi-conducteur comprenant un guide d'ondes electro-magnetiques |
| WO2011098943A1 (en) * | 2010-02-15 | 2011-08-18 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Device for analyzing a sample using radiation in the terahertz frequency range |
| US9040919B2 (en) * | 2010-10-25 | 2015-05-26 | Thomas E. Darcie | Photomixer-waveguide coupling tapers |
| US20130154773A1 (en) * | 2011-12-15 | 2013-06-20 | Infineon Technologies Ag | Waveguide |
| US9285554B2 (en) * | 2012-02-10 | 2016-03-15 | International Business Machines Corporation | Through-substrate optical coupling to photonics chips |
-
2011
- 2011-10-04 RU RU2011140310/07A patent/RU2011140310A/ru not_active Application Discontinuation
-
2012
- 2012-09-12 US US13/611,766 patent/US20130069743A1/en not_active Abandoned
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20130069743A1 (en) | 2013-03-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Grzyb et al. | Real-time video rate imaging with a 1k-pixel THz CMOS focal plane array | |
| Liu et al. | A Multichannel THz Detector Using Integrated Bow‐Tie Antennas | |
| WO2015175047A3 (en) | Optically detected magnetic resonance imaging with an electromagnetic field resonator | |
| MY174515A (en) | Optical receiver and transceiver using the same | |
| Takhedmit et al. | A 2.45-GHz low cost and efficient rectenna | |
| Gu et al. | Analysis and experiment on the modulation sensitivity of Doppler radar vibration measurement | |
| CN109473757A (zh) | 一种宽频传输线芯片 | |
| Maestrojuan et al. | USE of COC substrates for millimeter‐wave devices | |
| RU2011140310A (ru) | Высокочастотная волоноводная структура | |
| CN205786306U (zh) | 太赫兹近场探测器及其光电导天线 | |
| Dahlbäck et al. | Compact 340 GHz homodyne transceiver modules for FMWC imaging radar arrays | |
| Hao et al. | Coherent wideband microwave channelizer based on dual optical frequency combs | |
| CN103872461A (zh) | 一种基于CMOS制造工艺的Si基场效应晶体管太赫兹探测器天线 | |
| CN104467976A (zh) | 一种可同时生成两种倍频因子毫米波信号的装置 | |
| CN204289675U (zh) | 全频段覆盖太赫兹频段的耦合传输装置 | |
| CN207132907U (zh) | 太赫兹波探测器 | |
| Yang et al. | Research progress on terahertz communication technology | |
| Shang et al. | A− 78dBm sensitivity super-regenerative receiver at 96 GHz with quench-controlled metamaterial oscillator in 65nm CMOS | |
| CN105305034B (zh) | 带人工磁导体结构的高增益太赫兹天线 | |
| CN103943964A (zh) | 一种基于CMOS制造工艺的Si基场效应晶体管环形太赫兹探测器天线 | |
| Ahmed et al. | Design of rectifying circuit and harmonic suppression antenna for RF energy harvesting | |
| CN112289791B (zh) | 用于太赫兹频段结电容测试的肖特基二极管及半导体器件 | |
| Lisauskas et al. | Terahertz detection and coherent imaging from 0.2 to 4.3 THz with silicon CMOS field-effect transistors | |
| RU2496123C1 (ru) | Маркер - субгармонический параметрический рассеиватель | |
| KR20100073015A (ko) | 광전도 안테나에 실리콘 볼렌즈가 일체화된 테라헤르츠파 송수신 모듈 및 그 제조 방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FA92 | Acknowledgement of application withdrawn (lack of supplementary materials submitted) |
Effective date: 20160328 |