RU2008108473A

RU2008108473A - Устройство и способ для конфигурирования полупроводниковой схемы

Info

Publication number: RU2008108473A
Application number: RU2008108473/09A
Authority: RU
Inventors: Райнхард ВАЙБЕРЛЕ (DE); Райнхард ВАЙБЕРЛЕ; Бернд МЮЛЛЕР (DE); Бернд Мюллер; Эберхард БЕЛЬ (DE); Эберхард БЕЛЬ; Йорк КОЛЛАНИ (DE); Йорк КОЛЛАНИ; Райнер ГМЕЛИХ (DE); Райнер ГМЕЛИХ
Original assignee: Роберт Бош ГмбХ (DE); Роберт Бош Гмбх
Priority date: 2005-08-08
Filing date: 2006-07-27
Publication date: 2009-09-20
Also published as: DE102005037236A1; KR20080032166A; WO2007017399A1; US20100295571A1; EP1917591A1; JP2009514064A; CN101238445A; TW200725254A

Abstract

1. Способ конфигурирования полупроводниковой схемы, содержащей по меньшей мере два одинаковых или аналогичных функциональных блока, отличающийся тем, что при наличии неисправности по меньшей мере в одном из одинаковых или аналогичных функциональных блоков неисправный блок идентифицируют и отключают. ! 2. Способ по п.1, отличающийся тем, что конфигурирование полупроводниковой схемы является технологической операцией процесса изготовления, контроля, диагностики и технического обслуживания. ! 3. Способ по п.1, отличающийся тем, что по меньшей мере два из одинаковых или аналогичных функциональных блоков полупроводниковой схемы способны переключаться в режим работы, в котором функциональные блоки выполняют одинаковые функции, команды, программные сегменты или программы с возможностью сравнения выходных сигналов этих функциональных блоков. ! 4. Способ по п.1, отличающийся тем, что для идентификации неисправных функциональных блоков выходные сигналы этих функциональных блоков сравнивают с эталонными значениями. ! 5. Способ по п.3 или 4, отличающийся тем, что предусмотрена возможность инициирования переключения и/или взаимного сравнения выходных сигналов по меньшей мере двух функциональных блоков и/или сравнения выходных сигналов с эталонными значениями посредством внешних технологических, контрольных или диагностических устройств, не являющихся частью полупроводниковой схемы. ! 6. Способ по п.1, отличающийся тем, что по меньшей мере для функциональных блоков полупроводниковой схемы, идентифицированных как неисправные, генерируют состояние конфигурирования и/или состояние неисправности. ! 7. Способ по п.6, отлича

Claims

1. Способ конфигурирования полупроводниковой схемы, содержащей по меньшей мере два одинаковых или аналогичных функциональных блока, отличающийся тем, что при наличии неисправности по меньшей мере в одном из одинаковых или аналогичных функциональных блоков неисправный блок идентифицируют и отключают.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что конфигурирование полупроводниковой схемы является технологической операцией процесса изготовления, контроля, диагностики и технического обслуживания.

3. Способ по п.1, отличающийся тем, что по меньшей мере два из одинаковых или аналогичных функциональных блоков полупроводниковой схемы способны переключаться в режим работы, в котором функциональные блоки выполняют одинаковые функции, команды, программные сегменты или программы с возможностью сравнения выходных сигналов этих функциональных блоков.

4. Способ по п.1, отличающийся тем, что для идентификации неисправных функциональных блоков выходные сигналы этих функциональных блоков сравнивают с эталонными значениями.

5. Способ по п.3 или 4, отличающийся тем, что предусмотрена возможность инициирования переключения и/или взаимного сравнения выходных сигналов по меньшей мере двух функциональных блоков и/или сравнения выходных сигналов с эталонными значениями посредством внешних технологических, контрольных или диагностических устройств, не являющихся частью полупроводниковой схемы.

6. Способ по п.1, отличающийся тем, что по меньшей мере для функциональных блоков полупроводниковой схемы, идентифицированных как неисправные, генерируют состояние конфигурирования и/или состояние неисправности.

7. Способ по п.6, отличающийся тем, что для отключения функционального блока информацию, характеризующую состояние конфигурирования или состояние неисправности этого функционального блока, сохраняют в запоминающем устройстве с возможностью считывания этой информации при инициализации и/или во время работы полупроводниковой системы, и обрабатывают сохраненную информацию таким образом, чтобы использование во время работы блока, обозначенного как неисправный, было невозможным.

8. Способ по пп.6 и 7, отличающийся тем, что определение состояния конфигурирования или состояния неисправности по меньшей мере одного функционального блока полупроводниковой схемы и/или сохранение этой информации в запоминающем устройстве осуществимо посредством внешних технологических, контрольных или диагностических устройств, не являющихся частью полупроводниковой схемы.

9. Способ по п.2, отличающийся тем, что блок, идентифицированный как неисправный, отключают необратимо.

10. Способ по п.2, отличающийся тем, что электрические соединения с функциональными блоками или между функциональными блоками полупроводниковых схем прерывают.

11. Способ по п.10, отличающийся тем, что прерывание электрических соединений в полупроводниковой схеме осуществляют механическим воздействием на полупроводниковую схему.

12. Способ по п.10, отличающийся тем, что прерывание электрических соединений в полупроводниковой схеме осуществляют химическим воздействием на полупроводниковую схему.

13. Способ по п.10, отличающийся тем, что прерывание электрических соединений в полупроводниковой схеме осуществляют оптическим воздействием на полупроводниковую схему.

14. Способ по п.10, отличающийся тем, что прерывание электрических соединений в полупроводниковой схеме осуществляют электрическим воздействием на полупроводниковую схему.

15. Способ по одному из пп.9-14, отличающийся тем, что отключение функционального блока осуществляют посредством внешних технологических, контрольных или диагностических устройств.

16. Устройство для конфигурирования полупроводниковой схемы, содержащей по меньшей мере два одинаковых или аналогичных функциональных блока, отличающееся тем, что оно содержит средства для идентификации неисправности по меньшей мере в одном из одинаковых или аналогичных функциональных блоков и для отключения неисправного блока.

17. Устройство по п.16, отличающееся тем, что оно содержит средства переключения, позволяющие переключать по меньшей мере два одинаковых или аналогичных функциональных блока в режим работы, в котором эти функциональные блоки выполняют одинаковые функции, команды, программные сегменты или программы.

18. Устройство по п.16, отличающееся тем, что оно содержит средства сравнения, позволяющие сравнивать выходные сигналы по меньшей мере двух функциональных блоков.

19. Устройство по п.16, отличающееся тем, что оно содержит средства сравнения, позволяющие сравнивать выходные сигналы по меньшей мере одного функционального блока с эталонными значениями.

20. Устройство по п.16, отличающееся тем, оно содержит средства хранения данных, в которых хранятся эталонные значения для идентификации неисправных функциональных блоков.

21. Устройство по пп.18-20, отличающееся тем, что средства сравнения и/или средства хранения данных распложены, по меньшей мере частично, на полупроводниковой схеме.

22. Устройство по п.16, отличающееся тем, что полупроводниковая схема содержит средства приема, позволяющие принимать сигналы технологических, контрольных, диагностических устройств и устройств технического обслуживания.

23. Устройство по п.16, отличающееся тем, оно содержит средства хранения данных, позволяющие сохранять по меньшей мере один элемент данных, характеризующий состояние конфигурирования или состояние неисправности, с возможностью его считывания при инициализации и/или во время работы полупроводниковой системы.

24. Устройство по п.23, отличающееся тем, что оно содержит средства считывания и обработки информации, а использование во время работы схемы блока, обозначенного как неисправный, допускается или запрещается в зависимости от хранящейся в памяти информации.

25. Устройство по п.23, отличающееся тем, что средства хранения данных являются энергонезависимыми.

26. Устройство по п.23, отличающееся тем, что средства хранения данных выполнены таким образом, что доступ к ним для записи имеют только технологические, контрольные, диагностические устройства и устройства для технического обслуживания, не установленные на полупроводниковой схеме.

27. Устройство по п.16, отличающееся тем, что оно содержит средства переключения для обратимого отключения функционального блока, и эти средства являются частью полупроводниковой схемы или частью компонента, на котором полупроводниковая схема реализована.

28. Устройство по п.16, отличающееся тем, что оно содержит средства для необратимого отключения функционального блока.