RU2008151170A - Устройство неразрушающего контроля путем анализа рассеяния излучения - Google Patents
Устройство неразрушающего контроля путем анализа рассеяния излучения Download PDFInfo
- Publication number
- RU2008151170A RU2008151170A RU2008151170/28A RU2008151170A RU2008151170A RU 2008151170 A RU2008151170 A RU 2008151170A RU 2008151170/28 A RU2008151170/28 A RU 2008151170/28A RU 2008151170 A RU2008151170 A RU 2008151170A RU 2008151170 A RU2008151170 A RU 2008151170A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- control device
- radiation
- microsensors
- network
- computing system
- Prior art date
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract 26
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 claims abstract 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract 6
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims abstract 4
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims abstract 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract 3
- 238000009659 non-destructive testing Methods 0.000 claims abstract 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims abstract 2
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 claims 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims 1
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 claims 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 claims 1
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 claims 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/72—Investigating presence of flaws
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/15—Charge-coupled device [CCD] image sensors
- H10F39/159—Charge-coupled device [CCD] image sensors comprising a photoconductive layer deposited on the CCD structure
Landscapes
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
1. Устройство неразрушающего контроля детали (4), подвергаемой механическим напряжениям, путем анализа рассеяния излучения, отличающееся тем, что упомянутое устройство (1) содержит средства измерения, выполненные с возможностью определения поля излучения поверхности упомянутой детали, при этом упомянутые средства измерения интегрированы в гибкую подложку (2), предназначенную для покрытия зоны поверхности упомянутой контролируемой детали и повторяющую форму детали. ! 2. Устройство контроля по п.1, отличающееся тем, что упомянутые средства измерения имеют чувствительность, соответствующую определению изменений излучения, свидетельствующих о наличии дефектов на поверхности упомянутой детали. ! 3. Устройство контроля по п.2, отличающееся тем, что упомянутые средства измерения содержат сеть микродатчиков (3) излучения. ! 4. Устройство контроля по п.3, отличающееся тем, что упомянутая сеть микродатчиков (3) излучения сгруппирована в матрицу линии-столбцы. ! 5. Устройство контроля по п.4, отличающееся тем, что каждый микродатчик (3) излучения содержит элемент, выполненный с возможностью преобразования излучения, излучаемого поверхностью упомянутой детали, в электрические заряды, при этом упомянутый элемент соединяют с устройством переноса электрических зарядов для приема электрических зарядов. ! 6. Устройство контроля по п.2, отличающееся тем, что средства измерения содержат мембрану (7) из термочувствительных жидких кристаллов и сеть оптоэлектронных микродатчиков (6), наложенную на упомянутую мембрану (7) из термочувствительных жидких кристаллов. ! 7. Устройство контроля по п.6, отличающееся тем, что упомянутая сеть опт
Claims (28)
1. Устройство неразрушающего контроля детали (4), подвергаемой механическим напряжениям, путем анализа рассеяния излучения, отличающееся тем, что упомянутое устройство (1) содержит средства измерения, выполненные с возможностью определения поля излучения поверхности упомянутой детали, при этом упомянутые средства измерения интегрированы в гибкую подложку (2), предназначенную для покрытия зоны поверхности упомянутой контролируемой детали и повторяющую форму детали.
2. Устройство контроля по п.1, отличающееся тем, что упомянутые средства измерения имеют чувствительность, соответствующую определению изменений излучения, свидетельствующих о наличии дефектов на поверхности упомянутой детали.
3. Устройство контроля по п.2, отличающееся тем, что упомянутые средства измерения содержат сеть микродатчиков (3) излучения.
4. Устройство контроля по п.3, отличающееся тем, что упомянутая сеть микродатчиков (3) излучения сгруппирована в матрицу линии-столбцы.
5. Устройство контроля по п.4, отличающееся тем, что каждый микродатчик (3) излучения содержит элемент, выполненный с возможностью преобразования излучения, излучаемого поверхностью упомянутой детали, в электрические заряды, при этом упомянутый элемент соединяют с устройством переноса электрических зарядов для приема электрических зарядов.
6. Устройство контроля по п.2, отличающееся тем, что средства измерения содержат мембрану (7) из термочувствительных жидких кристаллов и сеть оптоэлектронных микродатчиков (6), наложенную на упомянутую мембрану (7) из термочувствительных жидких кристаллов.
7. Устройство контроля по п.6, отличающееся тем, что упомянутая сеть оптоэлектронных микродатчиков (6) сгруппирована в матрицу линии-столбцы.
8. Устройство контроля по п.7, отличающееся тем, что каждый оптоэлектронный микродатчик (6) содержит светочувствительный элемент для преобразования оптических сигналов в электрические сигналы, при этом упомянутый элемент соединяют с устройством переноса электрических зарядов для приема электрических зарядов.
9. Устройство контроля по одному из пп.1-8, отличающееся тем, что упомянутое устройство дополнительно содержит электронный интерфейс (10), соединяющий упомянутые средства измерения и детектирования с записывающим запоминающим устройством (11).
10. Устройство контроля по п.9, отличающееся тем, что электронный интерфейс (10) и запоминающее устройство (11) интегрированы в гибкую подложку (2) таким образом, чтобы получить монолитное устройство (1) контроля.
11. Устройство контроля по п.9, отличающееся тем, что электронный интерфейс (10) расположен на конце линий микродатчиков излучения или на конце столбцов микродатчиков излучения.
12. Устройство контроля по п.9, отличающееся тем, что электронный интерфейс (10) расположен на конце линий оптоэлектронных микродатчиков или на конце столбцов оптоэлектронных микродатчиков.
13. Устройство контроля по п.10, отличающееся тем, что устройство (1) контроля содержит вычислительную систему (13), такую как микропроцессорная система.
14. Устройство контроля по п.13, отличающееся тем, что вычислительная система (13) не интегрирована в гибкую подложку (2), и упомянутое устройство контроля содержит средства передачи для направления электрических сигналов, записанных в запоминающем устройстве (11), в вычислительную систему (13) при помощи проводной связи, беспроводной связи, радиосвязи или инфракрасной связи.
15. Устройство контроля по п.14, отличающееся тем, что вычислительная система (13) интегрирована в гибкую подложку (2) и соединена между интерфейсом (10) и записывающим запоминающим устройством (11).
16. Устройство контроля по одному из пп.14 или 15, отличающееся тем, что вычислительная система (13) содержит запоминающее устройство, содержащее, по меньшей мере, одну картографию эталонного поля излучения поверхности детали или деталей, средства вычисления, преобразующие электрические сигналы, принятые упомянутой вычислительной системой, в поле излучения, и средства анализа упомянутого поля излучения по отношению к эталонному полю излучения.
17. Устройство контроля по п.16, отличающееся тем, что упомянутую, по меньшей мере, одну картографию эталонного поля излучения определяют предварительно на эталонной детали.
18. Устройство контроля по п.16, отличающееся тем, что упомянутую, по меньшей мере, одну картографию эталонного поля излучения определяют предварительно путем моделирования.
19. Устройство контроля по п.16, отличающееся тем, что упомянутые средства анализа содержат средства дифференциального анализа для определения упомянутого поля повышения уровня излучения детали.
20. Устройство контроля по п.19, отличающееся тем, что упомянутые средства дифференциального анализа содержат средства генерирования сигнала состояния S, когда упомянутое поле повышения уровня излучения детали превышает пороговое значение.
21. Устройство контроля по п.16, отличающееся тем, что упомянутые средства анализа содержат средства спектрального анализа для определения данных, связанных с дефектами, присутствующими в детали.
22. Устройство контроля по п.20, отличающееся тем, что упомянутый сигнал состояния S и упомянутые данные передаются упомянутой вычислительной системой в средства (14) тревожной сигнализации.
23. Устройство контроля по п.20, отличающееся тем, что упомянутый сигнал состояния S и упомянутые данные записываются в записывающее запоминающее устройство (11), соединенное с вычислительной системой (13), затем передаются в средства (14) тревожной сигнализации при помощи проводной связи, беспроводной связи, радиосвязи или инфракрасной связи.
24. Устройство контроля по одному из пп.22 или 23, отличающееся тем, что средства (14) тревожной сигнализации содержат средства (22) отображения и световые или звуковые индикаторы (20).
25. Устройство контроля по п.5, отличающееся тем, что микродатчики (3) излучения или оптоэлектронные микродатчики (6) имеют размер порядка сотни микрон.
26. Устройство контроля по п.1, отличающееся тем, что толщина упомянутого устройства (1) контроля меньше или равна 50 мкм.
27. Устройство контроля по п.1, отличающееся тем, что гибкую подложку (2) устройства (1) контроля крепят на поверхности контролируемой детали (4) при помощи адгезивного материала.
28. Устройство контроля по одному из пп.3-8, отличающееся тем, что микродатчики (3) интегрируют непосредственно в слой покрытия, предназначенный для нанесения на поверхность контролируемой детали.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR0651902A FR2901609B1 (fr) | 2006-05-24 | 2006-05-24 | Dispositif de controle non destructif d'une piece par analyse de dissipation de rayonnement |
| FR0651902 | 2006-05-24 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2008151170A true RU2008151170A (ru) | 2010-06-27 |
| RU2439545C2 RU2439545C2 (ru) | 2012-01-10 |
Family
ID=37607011
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2008151170/28A RU2439545C2 (ru) | 2006-05-24 | 2007-05-16 | Устройство неразрушающего контроля путем анализа рассеяния излучения |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8173964B2 (ru) |
| EP (1) | EP2027457A1 (ru) |
| JP (1) | JP5187695B2 (ru) |
| CN (1) | CN101449153B (ru) |
| BR (1) | BRPI0712211A2 (ru) |
| CA (1) | CA2651392A1 (ru) |
| FR (1) | FR2901609B1 (ru) |
| RU (1) | RU2439545C2 (ru) |
| WO (1) | WO2007135059A1 (ru) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8986778B2 (en) * | 2006-07-06 | 2015-03-24 | Siemens Energy, Inc. | Coating method for non-destructive examination of articles of manufacture |
| RU2494434C1 (ru) * | 2012-06-07 | 2013-09-27 | Закрытое акционерное общество "ГИАП-ДИСТцентр" | Способ управления промышленной безопасностью и диагностики эксплуатационного состояния промышленного объекта |
| RU2502058C1 (ru) * | 2012-08-23 | 2013-12-20 | Сергей Михайлович Мужичек | Способ контроля состояния конструкции летательного аппарата и устройство для его осуществления |
| CN110304195A (zh) * | 2019-07-01 | 2019-10-08 | 上海外高桥造船有限公司 | 船体应力的检测方法及系统 |
| CN113702441A (zh) * | 2021-09-23 | 2021-11-26 | 合肥维信诺科技有限公司 | 断裂检测装置及断裂检测方法 |
| CN120276013B (zh) * | 2025-06-12 | 2025-09-09 | 聚变新能(安徽)有限公司 | 测试装置 |
Family Cites Families (31)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3511086A (en) * | 1966-11-23 | 1970-05-12 | Boeing Co | Nondestructive testing with liquid crystals |
| US3970074A (en) * | 1974-08-22 | 1976-07-20 | Spitalul Clinic Filantropia Bucuresti | Method of and apparatus for making medical thermographs |
| US4232554A (en) * | 1978-11-30 | 1980-11-11 | Grumman Aerospace Corporation | Thermal emission flaw detection method |
| US4433637A (en) * | 1979-06-04 | 1984-02-28 | Vectra International Corporation | Microencapsulated cholesteric liquid crystal temperature measuring device for determining the temperature of non-planar or planar surfaces |
| FR2598250B1 (fr) * | 1986-04-30 | 1988-07-08 | Thomson Csf | Panneau de prise de vue radiologique, et procede de fabrication |
| JPS63157024A (ja) * | 1986-12-22 | 1988-06-30 | Hiroshi Ogawa | 検出素子 |
| JPS63250554A (ja) * | 1987-04-08 | 1988-10-18 | Fujita Corp | 腐食診断法及び診断装置 |
| US5166573A (en) * | 1989-09-26 | 1992-11-24 | Atochem North America, Inc. | Ultrasonic contact transducer and array |
| US5047719A (en) | 1990-05-25 | 1991-09-10 | The Failure Group, Inc. | Flexible coil assembly for reflectance-mode nondestructive eddy-current examination |
| JPH05107212A (ja) * | 1991-10-18 | 1993-04-27 | Fujitsu Ltd | 部品類が実装されたプリント板の外観検査法 |
| US5315234A (en) | 1992-04-03 | 1994-05-24 | General Electric Company | Eddy current device for inspecting a component having a flexible support with a plural sensor array |
| CA2133081C (en) * | 1992-06-11 | 2001-12-25 | R. Andrew Wood | Use of abx in microbolometer sensors |
| DE4220544B4 (de) * | 1992-06-24 | 2005-10-20 | Woelfel Horst | Verfahren zum Messen mechanischer Spannungskomponenten an der Oberfläche von dynamisch belasteten Meßobjekten |
| IT1273248B (it) * | 1994-03-15 | 1997-07-07 | Europiana S R L | Apparecchiatura per la misurazione della temperatura dell'epidermide |
| US5659248A (en) | 1994-10-17 | 1997-08-19 | General Electric Company | Multilayer eddy current probe array for complete coverage of an inspection surface without mechanical scanning |
| US5793206A (en) | 1995-08-25 | 1998-08-11 | Jentek Sensors, Inc. | Meandering winding test circuit |
| US5911158A (en) * | 1996-02-29 | 1999-06-08 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Piezoelectric strain sensor array |
| TW346688B (en) * | 1996-04-15 | 1998-12-01 | Matsushita Electric Works Ltd | Pyroelectric-type IR receiving element and IR sensor using the same |
| US5915277A (en) | 1997-06-23 | 1999-06-22 | General Electric Co. | Probe and method for inspecting an object |
| JP3778659B2 (ja) * | 1997-07-07 | 2006-05-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線位置検出装置 |
| US6077228A (en) * | 1998-11-04 | 2000-06-20 | Schonberger; Milton | Breast temperature scanner |
| JP2000171418A (ja) * | 1998-12-02 | 2000-06-23 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | 耐熱鋼のクリープひずみ量の非破壊的推定法 |
| CN1112584C (zh) * | 1998-12-18 | 2003-06-25 | 中国科学院金属研究所 | X射线应力智能分析仪 |
| US7039326B1 (en) * | 1999-09-29 | 2006-05-02 | Ess Technology, Inc. | Infrared communication system utilizing receiver with multiple photo-sensors |
| JP2001337059A (ja) * | 2000-05-26 | 2001-12-07 | Toshiba Corp | プリント配線板の劣化検出方法および装置 |
| JP2002232640A (ja) * | 2001-02-01 | 2002-08-16 | Fuji Photo Film Co Ltd | ラインセンサおよびそれを用いた放射線画像情報読取装置 |
| DE10136756C2 (de) * | 2001-07-27 | 2003-07-31 | Siemens Ag | Röntgendiagnostikeinrichtung mit einem flexiblen Festkörper-Röntgendetektor |
| FR2836994B1 (fr) * | 2002-03-05 | 2004-12-17 | Airbus France | Procede et dispositif de controle de pieces par rayons x |
| US7078702B2 (en) * | 2002-07-25 | 2006-07-18 | General Electric Company | Imager |
| US6812697B2 (en) | 2002-09-24 | 2004-11-02 | General Electric Company | Molded eddy current array probe |
| JP3812559B2 (ja) | 2003-09-18 | 2006-08-23 | Ｔｄｋ株式会社 | 渦電流プローブ |
-
2006
- 2006-05-24 FR FR0651902A patent/FR2901609B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-05-16 CN CN2007800185580A patent/CN101449153B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2007-05-16 JP JP2009511474A patent/JP5187695B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-05-16 WO PCT/EP2007/054762 patent/WO2007135059A1/fr not_active Ceased
- 2007-05-16 RU RU2008151170/28A patent/RU2439545C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2007-05-16 BR BRPI0712211-0A patent/BRPI0712211A2/pt not_active IP Right Cessation
- 2007-05-16 EP EP07729210A patent/EP2027457A1/fr not_active Withdrawn
- 2007-05-16 US US12/301,646 patent/US8173964B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-05-16 CA CA002651392A patent/CA2651392A1/fr not_active Abandoned
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US8173964B2 (en) | 2012-05-08 |
| EP2027457A1 (fr) | 2009-02-25 |
| JP2009537836A (ja) | 2009-10-29 |
| WO2007135059A1 (fr) | 2007-11-29 |
| FR2901609A1 (fr) | 2007-11-30 |
| FR2901609B1 (fr) | 2009-01-16 |
| CA2651392A1 (fr) | 2007-11-29 |
| JP5187695B2 (ja) | 2013-04-24 |
| BRPI0712211A2 (pt) | 2012-03-13 |
| CN101449153A (zh) | 2009-06-03 |
| RU2439545C2 (ru) | 2012-01-10 |
| CN101449153B (zh) | 2012-07-11 |
| US20100011861A1 (en) | 2010-01-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2008151180A (ru) | Устройство неразрушающего контроля детали путем анализа магнитного поля утечки | |
| RU2008151170A (ru) | Устройство неразрушающего контроля путем анализа рассеяния излучения | |
| RU2008151161A (ru) | Устройство неразрушающего контроля конструкции при помощи вибрационного анализа | |
| CN105526909B (zh) | 一种基于图像识别原理的沉降检测方法和装置 | |
| CN105352583B (zh) | 一种测量超声波声压和声强的光学方法和装置及其应用 | |
| CN104964727A (zh) | 一种光纤点式液位传感器 | |
| JPS5877606A (ja) | 支持体上の印刷用紙の位置検出装置 | |
| JP2009537834A5 (ru) | ||
| CN102520019B (zh) | 一种谐振式露点测量方法 | |
| CN205825950U (zh) | 一种基于图像识别原理的沉降检测装置 | |
| CN202393351U (zh) | Ccd垂线坐标仪 | |
| Den Ouden et al. | The INFRA-EAR: a low-cost mobile multidisciplinary measurement platform for monitoring geophysical parameters | |
| JP2009537836A5 (ru) | ||
| KR101261132B1 (ko) | 고감도 수소감지센서 | |
| TWI784625B (zh) | 大氣亂流偵測方法及大氣亂流偵測裝置 | |
| US20090326822A1 (en) | Test bed for in-situ studies | |
| CN105334320A (zh) | 一种应用反射率来检验层析读数仪的平台与方法 | |
| CN105607047B (zh) | 一次性存储标定型微波辐射计及其实现方法 | |
| CN104267101A (zh) | 光纤声学透视仪 | |
| JPWO2019026464A1 (ja) | 多重の光センサーによる積雪深計及び積雪深測定方法 | |
| CN2901258Y (zh) | 浮标式车辆油量测量装置 | |
| CN209841678U (zh) | 智能温度自矫正的糖度盐度检测装置 | |
| CN103411884B (zh) | 一种参比透射色散敏感谱线检测装置 | |
| CN116105797B (zh) | 一种痕量气氛在线检测系统 | |
| CN203116766U (zh) | 一种实验室环境参数综合测量仪 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20150517 |