[go: up one dir, main page]

RU1770780C - Способ полихроматического определени истинной температуры - Google Patents

Способ полихроматического определени истинной температуры

Info

Publication number
RU1770780C
RU1770780C SU904841551A SU4841551A RU1770780C RU 1770780 C RU1770780 C RU 1770780C SU 904841551 A SU904841551 A SU 904841551A SU 4841551 A SU4841551 A SU 4841551A RU 1770780 C RU1770780 C RU 1770780C
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
emissivity
radiation
polychromatic
mirror
increasing
Prior art date
Application number
SU904841551A
Other languages
English (en)
Inventor
Дарий Яковлевич Свет
Original Assignee
Институт высоких температур АН СССР
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт высоких температур АН СССР filed Critical Институт высоких температур АН СССР
Priority to SU904841551A priority Critical patent/RU1770780C/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU1770780C publication Critical patent/RU1770780C/ru

Links

Landscapes

  • Radiation Pyrometers (AREA)

Abstract

Сущность изобретени : переотражают излучение исследуемого обьекта с помощью поверхности, имеющей неселективный или качественно такой же, что и в излучающей поверхности, возрастающий или убывающий характер зависимости коэффициента отражени  от длины волны. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.

Description

Изобретение относитс  к области пирометрии излучени  и может быть использовано при определении температуры твердых или жидких веществ.
Известен способ полихроматического определени  истинной температуры, в котором из собственного излучени  выдел ют сигнал коррекции, которым корректируют вариацию излучательной способности в процессе измерени .
Известен также способ полихроматического определени  истинной температуры объектов, имеющих в исследуемом интервале длин волн возрастающий, убывающий или неселективный характер спектральной зависимости отражательной или излуча- тельной способности, включающий измерение отношений составл ющих спектра излучени  обьекта, в том числе возведенных в степень, В этом способе коррекци  осуществл етс  за счет возведени  одной, или нескольких компонент в степень, с показател ми , минимизирующими вли ние излучательной способности. При этом при большой разнице между значени ми излучательной способности у различных спектральных компонент методическую погрешность полностью исключить трудно, а иногда и невозможно .
Целью изобретени   вл етс  повышение точности полихроматического определени  истинной температуры объектов за счет сближени  коэффициентов излучательной способности в исследуемом интервале длин волн.
Очевидно, чем ближе, например, в бих- роматическом пирометре отношени  значе- ний коэффициентов излучательной способности ei и ближе Јi/Ј2 к единице и, следовательно, методическа  погрешность меньше.
Так например, при измерении температуры алюмини  и его сплавов в процессах прессовани  и прокатки методическую погрешность не удаетс  получить менее + 1- 1,5%.
со
с
xj Ч О VI со О
Предложенный способ позвол ет довести величину этой погрешности до ±0,5% и даже до ±0,2+0,25%.
Сущность изобретени  заключаетс  в том, что в способе полихроматического определени  истинной температуры объектов, имеющих в исследуемом интервале длин волн возрастающий, убывающий или неселективный характер спектральной зависимости отражательной или излучательной способности, включающем измерение отношений составл ющих спектра излучени , в том числе возведенных в степень, излучение переотражают поверхностью, имеющей неселективный или качественно такой же, что и у объекта, возрастающий или убывающий характер зависимости коэффициента отражени  от длины волны,
Способ осуществл ют следующим образом ,
Переотражают излучение поверхностью , имеющей неселективный или качественно такой же, что и у объекта, возрастающий или убывающий характер зависимости коэффициента отражени  от дли- ны волны.
Измер ют отношени  составл ющих спектра излучени , в том числе возведенных в степень.
На чертеже изображена оптическа  схе- ма устройства дл  осуществлени  способа.
Схема включает излучающую поверхность 1 исследуемого объекта, отражающую поверхность 2, например плоское зеркало, имеющее отражающее покрытие с неселек- тивным или качественно таким же, что и у объекта возрастающим или убывающим характером зависимости коэффициента отражени  от длины волны, окно 3 в отражающей поверхности 1, через которое фокусируетс  пирометр и полихроматический пирометр 4.
Пунктиром показано пр мое излучение от излучающей поверхности 1. Сплошными лини ми показано излучение от поверхно- сти 1, переотраженное отражателем 2, также попадающее через окно 3 в объектив пирометра 4.
По сним количественно предлагаемый способ,
Обозначим суммарные потоки излучени  с длинами волн AiAaAn попадающие в объектив или световод пирометра
через: Fi, F2Fn
тогда
F e +K/f- g/ e,-)2... F M« V -Ј2 M2+MzVejV.,,
{„--Јпеп+кп(1-Јп)(1-Јп%п
где EI , Ј2Јn излучэтельные способности поверхности с длинами волн AI , Дг ,..., An ; ;
bi, D2..., bn - значени  спектральных потоков с длинами волн AI , hiAn ; у черного тела;
Ki, K2,..., Кп коэффициенты, определенные спектральной зависимостью коэффициента отражени  дл  длин волн Ач , А2АЛ ; и геометрией, в т.ч. рассто нием , углами расположени  зеркала, его размерами и диаметром окна.
Т.о., на соотношение между коэффициентами Ki, K2,... Кп можно вли ть выбором материала отражающего сло  зеркала, конструкцией , оптикой отражател  2,
П р и м е р 1. Рассмотрим реализацию предлагаемого способа на простейшем, примере бихроматического пирометра, работающего вначале по алгоритму пирометра спектрального отношени .
Пусть значени  длин волн такого пирометра AI 1,6микрон и А2 2,5 микрон, а поверхностью излучени   вл етс  алюминий , В этом случае ei 0,12 и Ј2 0,08. Т.е. излучательна  способность убывает с увеличением длины волны.
Дл  нагл дности положим, что спектральна  отражательна  способность отра- жател -2 такова, что KI 0. Это можно получить покрыва  зеркало-2 отражающим слоем, например, светофильтром, который пропускает излучение с 2 и полностью поглощает излучение на AI , т.е. Kt 0. К2 - положим равным 0,25 и будем считать, что геометри  системы такова, что достаточно рассматривать только одно отражение.
Положим также, что истинна  температура поверхности равна 800 К. Тогда, без отражающего зеркала методическа  поправка будет
Сг fff -f-Ј In %; ЛТ 1--
т.е. Л74388
-Л . Я г. Я
- b,h микрон
С отражающим зеркалом
517707806
-1 Л - Ј т методическа  погрешность в этом способе
лт с f 4-Ј К (f+Ј )будет определ тьс  выражением:
.. 0,2dT-. L. Еп° °8 „a J
44388408 008-0,250-0,08) Ј4 1пЈ 1П0,Ъ n УГ
1ДТ 1 x 3,7микрон
Л Теперь4положим. что за счет по влени При «утствии зеркала In | 0 . и елешероховатости излучательна  способность довательно ДТ О алюминиевой поверхности увеличилась иПри увеличении шероховатости:
стала:Ј, 0,35 I/ Ј2 0,25/
Ј1 0.35; 0,25,, ,55Ш -,
ЛТ 6125 23 М ИЈ Н; Тогда погрешность в обычном методе
спектрального отношени , без сближени . т ,д . ЛТ в
значений излучательных способностей бу--on, - / /о .
дет:При использовании предлагаемого спо соба сближени 
Ат-1 4,44-106, 0,35 лмЈ, 0,12.; (-Ј) к .
14388 (Г25 Реиипрон; 222 2 ,
0,,08 (1-0,ОВ)0.25 0,098Ь}
,4%. 25
епЈ in 0,12 ОУ
При применении предлагаемого способа сближени :ПРИ глаДкой поверхности
30
AT 1 4 l4388°6 . ffOl12v
& с2 -3 7 1 ш омш щъ 
ЛТ 5реуь/«рон; ДТ К .
П 0.25 + 0.25°(f- 0,25) 0,25 50 35
При шероховатой поверхности
Т 32 К; т.е. погрешность измерени ., 6
при вариации излучательной способности 40ДТ 1 in
С2 Л Т 49 - 49
1.25%.0351.09
|П 0.25+0.25 (1-0.25)-0.25 - Т.о. в традиционном методе бихромати- 45 ческой пирометрии спектрального отношени  предлагаемый способ уменьшает зад-j- д . ДТ 9 - 4 Q с о/ счет сближени  значений EI и ег методиче- Т 800 скую погрешность в 3 раза.

Claims (1)

12,5 -9 3,5% без зеркала;50 Итак, в бихроматическом методе с про5-4 1 % с зеркалом.стейшей автоматической коррекцией, предП ри ме р2. Рассмотрим теперь приме- лагаемый способ сближени  позвол ет нение способа сближени  в бихроматиче- уменьшить методическую погрешность от ском пирометре с автоматической вариации излучательной способности на коррекцией. Здесь дл  коррекции примен - 55 250-300%, т.е. в три раза, етс  возведение напр жени , пропорционального первой спектральной  ркости вФормула изобретени  степень п, где n In Ј2 min/ln ei min, т.о.,
Способ полихроматического определени  истинной температуры объектов, имеющих в исследуемом интервале длин волн возрастающий, убывающий или неселективный характер спектральной зависимости отражательной или излучательной способности, включающий измерение отношений составл ющих спектра излучени , в том числе возведенных в степень, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности за счет сближени  значений коэффициентов излучательной способности в исследуемом интервале длин волн, излучение переотражают поверхностью, имеющей неселективный или качественно такой же, что и у объекта, возрастающий или убывающий характер зависимости коэффициента отражени  от длины волны.
SU904841551A 1990-06-20 1990-06-20 Способ полихроматического определени истинной температуры RU1770780C (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU904841551A RU1770780C (ru) 1990-06-20 1990-06-20 Способ полихроматического определени истинной температуры

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU904841551A RU1770780C (ru) 1990-06-20 1990-06-20 Способ полихроматического определени истинной температуры

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU1770780C true RU1770780C (ru) 1992-10-23

Family

ID=21522191

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU904841551A RU1770780C (ru) 1990-06-20 1990-06-20 Способ полихроматического определени истинной температуры

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU1770780C (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Свет Д.Я. Оптические методы измерени истинных температур. -М .Наука, 1982, с. 214-216. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970011746B1 (ko) 박막 두께 측정 장치 및 방법
US5120966A (en) Method of and apparatus for measuring film thickness
US4243882A (en) Infrared multilayer film thickness measuring method and apparatus
US4826321A (en) Thin dielectric film measuring system
US5337150A (en) Apparatus and method for performing thin film layer thickness metrology using a correlation reflectometer
WO1992009880A3 (en) Method and apparatus for automatic optical inspection
TW200532164A (en) Film thickness measuring method and apparatus
JPH10508379A (ja) 電気光学的氷検出方法および装置
SU1584759A3 (ru) Фотометрическое устройство дл измерени и управлени толщиной оптически активных слоев
US4320967A (en) Apparatus for measuring a radiation affecting parameter of a film or coating
US4952061A (en) Method and apparatus for sensing or determining one or more properties or the identity of a sample
JPH0423202B2 (ru)
RU1770780C (ru) Способ полихроматического определени истинной температуры
SU1747877A1 (ru) Интерференционный способ измерени толщины полупроводниковых слоев
US6549291B1 (en) Process for continuous determination of the optical layer thickness of coatings
US4425041A (en) Measuring apparatus
GB2183821A (en) A temperature sensor
US20200036936A1 (en) System and method for reducing ghost images in a laser imaging system
JP4882067B2 (ja) 絶対反射率の測定方法及び測定装置
JPH07113547B2 (ja) 試料面位置測定装置
WO2004010094A1 (en) Emissivity corrected radiation pyrometer integral with a reflectometer and roughness sensor for remote measuring of true surface temperatures
Leonov et al. Influence of substrate material and geometric features of measurement slits on the measurement results of infrared optical system quality characteristics
JPS61277026A (ja) 偏光角検出方法および偏光角検出装置
JP2970020B2 (ja) コーティング薄膜の形成方法
SU1143993A1 (ru) Способ измерени разности температур