[go: up one dir, main page]

PL72864Y1 - Aparat do analizy strumienia próbki zawiesiny procesowej - Google Patents

Aparat do analizy strumienia próbki zawiesiny procesowej Download PDF

Info

Publication number
PL72864Y1
PL72864Y1 PL127535U PL12753516U PL72864Y1 PL 72864 Y1 PL72864 Y1 PL 72864Y1 PL 127535 U PL127535 U PL 127535U PL 12753516 U PL12753516 U PL 12753516U PL 72864 Y1 PL72864 Y1 PL 72864Y1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
wall
flow chamber
sample stream
process suspension
outlet pipe
Prior art date
Application number
PL127535U
Other languages
English (en)
Other versions
PL127535U1 (pl
Inventor
Olli HAAVISTO
Pasi HIETARINTA
Jani KAARTINEN
Original Assignee
Outotec Finland Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Outotec Finland Oy filed Critical Outotec Finland Oy
Publication of PL127535U1 publication Critical patent/PL127535U1/pl
Publication of PL72864Y1 publication Critical patent/PL72864Y1/pl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N11/00Investigating flow properties of materials, e.g. viscosity, plasticity; Analysing materials by determining flow properties
    • G01N11/02Investigating flow properties of materials, e.g. viscosity, plasticity; Analysing materials by determining flow properties by measuring flow of the material
    • G01N11/04Investigating flow properties of materials, e.g. viscosity, plasticity; Analysing materials by determining flow properties by measuring flow of the material through a restricted passage, e.g. tube, aperture
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/10Investigating individual particles
    • G01N15/14Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/03Cuvette constructions
    • G01N21/05Flow-through cuvettes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/15Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/49Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
    • G01N21/53Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85Investigating moving fluids or granular solids
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85Investigating moving fluids or granular solids
    • G01N21/8507Probe photometers, i.e. with optical measuring part dipped into fluid sample
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/26Oils; Viscous liquids; Paints; Inks
    • G01N33/28Oils, i.e. hydrocarbon liquids
    • G01N33/2823Raw oil, drilling fluid or polyphasic mixtures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
    • G01N2021/4742Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres comprising optical fibres
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N2021/4764Special kinds of physical applications
    • G01N2021/4769Fluid samples, e.g. slurries, granulates; Compressible powdery of fibrous samples
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85Investigating moving fluids or granular solids
    • G01N21/8507Probe photometers, i.e. with optical measuring part dipped into fluid sample
    • G01N2021/8528Immerged light conductor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85Investigating moving fluids or granular solids
    • G01N2021/8557Special shaping of flow, e.g. using a by-pass line, jet flow, curtain flow

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Oil, Petroleum & Natural Gas (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Feeding, Discharge, Calcimining, Fusing, And Gas-Generation Devices (AREA)

Abstract

Wzór użytkowy dotyczy aparatu i sposobu analizy próbki (2) strumienia zawiesiny procesowej. Aparat ma przestrzeń przepływową (3) ograniczoną strukturą ściany (4), rurę wlotową (5) i rurę wylotową (6). Rura wlotowa (5) jest umieszczona na końcu wlotowym (7) przestrzeni przepływowej (3), przestrzeń przepływowa (3) ma koniec kolizyjny (8) skonfigurowany tak, aby był uderzany przez próbkę (2) strumienia zawiesiny procesowej z wytworzeniem sekcji burzliwej (9) w próbce (2) strumienia zawiesiny procesowej w przestrzeni przepływowej (3). Rura wylotowa (6) jest umieszczona w strukturze ściany (4) w odległości (C) od końca kolizyjnego (8). Sonda pomiarowa (10) jest umieszczona w przestrzeni przepływowej (3) i jest skonfigurowana tak, by analizowała sekcję burzliwą (9) próbki (2) strumienia zawiesiny procesowej.

Description

Opis wzoru Niniejszy wzór uzytkowy dotyczy aparatu do analizy strumienia próbki zawiesiny procesowej. Analiza on-line strumieni zawiesiny procesowej, takich jak strumienie zawiesiny mineralnej wy- maga, aby reprezentatywna próbka strumienia zawiesiny byla dostepna do analizy. Mozna to osiagnac dzieki kuwetom przeplywowym, w których strumien próbki zawiesiny jest prowadzony przez komore z bocznym oknem tworzaca czesc sciany kuwety przeplywowej, i analize prowadzi sie przez boczne okno tworzace wspomniana czesc sciany kuwety przeplywowej. Typowo, strumien próbki zawiesiny w kuwecie przeplywowej jest pionowy, co polepsza reprezentatywnosc strumienia próbki zawiesiny. Celem wzoru uzytkowego jest dostarczenie ulepszonego aparatu do analizy strumienia próbki zawiesiny procesowej. Aparat do analizy strumienia próbki zawiesiny procesowej wedlug niniejszego wzoru uzytkowego charakteryzuje sie tym, ze zawiera komore przeplywowa zawierajaca sciane, przy czym komora prze- plywowa zawiera koniec wlotowy, koniec kolizyjny do uderzania w niego strumienia próbki zawiesiny procesowej umieszczony po stronie przeciwnej w komorze przeplywowej do konca wlotowego oraz sek- cje burzliwa burzliwego przeplywu strumienia próbki zawiesiny procesowej umieszczona miedzy kon- cem wlotowym a koncem kolizyjnym, rure wlotowa do wprowadzania strumienia próbki zawiesiny pro- cesowej do komory przeplywowej, przy czym rura wlotowa ma os centralna A rury wlotowej, przy czym rura wlotowa jest umieszczona w scianie na koncu wlotowym komory przeplywowej, rure wylotowa do wyprowadzania strumienia próbki zawiesiny procesowej z komory przeplywowej, przy czym rura wylo- towa ma os centralna B rury wylotowej, przy czym rura wylotowa jest umieszczona w scianie w odleglo- sci C od konca kolizyjnego, przy czym kat miedzy osia centralna B rury wylotowej a osia centralna A rury wlotowej zawiera sie miedzy 30° a 120°, sonde pomiarowa do analizowania strumienia próbki zawiesiny procesowej w sekcji burzliwej komory przeplywowej, umieszczona w scianie i wystajaca do komory przeplywowej, przy czym sonda pomiarowa zawiera rure zawierajaca komore rurowa oraz koniec wolny rury, okno umieszczone na wolnym koncu rury, przy czym okno zamyka wolny koniec rury, zródlo pro- mieniowania elektromagnetycznego umieszczone w komorze rurowej, przy czym zródlo promienio- wania elektromagnetycznego jest przystosowane do emitowania promieniowania elektromagne- tycznego przez okno, oraz czujnik promieniowania elektromagnetycznego do odbierania rozproszo- nego promieniowania elektromagnetycznego rozpraszanego od strumienia próbki zawiesiny proce- sowej przez okno, wzdluz sciezki stanowiacej przedluzenie rury wylotowej przecinajace wolny ko- niec rury sondy pomiarowej. Korzystnie sonda pomiarowa jest umieszczona co najmniej czesciowo miedzy koncem kolizyjnym a rura wylotowa w komorze przeplywowej. Korzystnie sonda pomiarowa jest skierowana od komory przeplywowej do rury wylotowej. Korzystnie czujnik promieniowania elektromagnetycznego zawiera wlókno optyczne umiesz- czone w rurze sondy pomiarowej, przy czym wlókno optyczne jest przystosowane do prowadzenia roz- proszonego promieniowania elektromagnetycznego do srodków analizy optycznej. Korzystnie rura sondy pomiarowej jest skierowana od komory przeplywowej do sciany tak, ze wolny koniec rury znajduje sie w komorze przeplywowej w odleglosci od sciany. Korzystnie sciana komory przeplywowej na koncu kolizyjnym stanowi plaska sciane kolizyjna. Korzystniej plaska sciana kolizyjna jest prostopadla do osi centralnej A rury wlotowej. Korzystnie sonda pomiarowa jest skierowana od plaskiej sciany kolizyjnej do komory przeplywo- wej na odleglosc D, która to odleglosc D jest wieksza niz odleglosc C miedzy rura wylotowa a koncem kolizyjnym komory przeplywowej. Korzystnie rura wlotowa jest skierowana do komory. Korzystnie rura wylotowa przebiega w czesci komory przeplywowej wyznaczonej przez sciane. Korzystnie kat miedzy osia centralna A rury wlotowej i osia centralna B rury wylotowej zawiera sie miedzy 80 a 100°. Ponizej przedmiot wzoru uzytkowego zostanie opisany bardziej szczególowo w odniesieniu do figur rysunku, na których: fig. 1 przedstawia pierwsza postac wykonania aparatu do analizy strumienia próbki zawiesiny procesowej, fig. 2 przedstawia druga postac wykonania aparatu do analizy strumienia próbki zawiesiny pro- cesowej,3 fig. 3 przedstawia trzecia postac wykonania aparatu do analizy strumienia próbki zawiesiny pro- cesowej, fig. 4 przedstawia czwarta postac wykonania aparatu do analizy strumienia próbki zawiesiny pro- cesowej, fig. 5 przedstawia piata postac wykonania aparatu do analizy strumienia próbki zawiesiny proce- sowej, fig. 6 przedstawia szósta postac wykonania aparatu do analizy strumienia próbki zawiesiny pro- cesowej, i fig. 7 przedstawia uklad do analizy zawiesiny zawierajacy wiele aparatów do analizy strumienia próbki zawiesiny procesowej. Pierwszy aparat 1 do analizy strumienia 2 próbki zawiesiny procesowej, takiej jak próbka zawie- siny z flotacji mineralu i pewne postacie wykonania oraz warianty aparatu zostana opisane bardziej szczególowo. Aparat zawiera komore przeplywowa 3 ograniczona sciana 4, rura wlotowa 5 majaca pierwsza os centralna A i skonfigurowana tak, ze wprowadza sie strumien 2 próbki zawiesiny procesowej do komory przeplywowej 3, i rure wylotowa 6 majaca druga os centralna B i skonfigurowana tak, ze wypro- wadza sie strumien 2 próbki zawiesiny procesowej z komory przeplywowej 3. Rura wlotowa 5 i rura wylotowa 6 maja korzystnie, lecz niekoniecznie, przekrój kolowy. Rura wlotowa 5 jest umieszczona na koncu wlotowym 7 komory przeplywowej 3. Komora przeplywowa 3 ma koniec kolizyjny 8 na przeciwnym koncu komory przeplywowej 3 wzgledem konca wlotowego 7. Koniec kolizyjny 8 jest skonfigurowany tak, ze jest uderzany przez strumien 2 próbki zawiesiny procesowej, która skonfigurowana rura wlotowa 5 wprowadza do komory przeplywowej 3 dla wytworze- nia sekcji burzliwej 9 w strumieniu 2 próbki zawiesiny procesowej w komorze przeplywowej 3. Rura wylotowa 6 jest umieszczona w scianie 4 w odleglosci C od konca kolizyjnego 8. Kat (nie oznaczony odnosnikiem liczbowym ani znakiem) pomiedzy pierwsza osia centralna A rury wlotowej 5 a druga osia centralna B rury wylotowej 6 wynosi od 30 do 120°, korzystnie od 80 do 100°, najkorzystniej okolo 90°. Aparat zawiera sonde pomiarowa 10 w komorze przeplywowej 3. Sonda pomiarowa 10 jest skonfigurowana tak, ze analizuje strumien 2 próbki zawiesiny proceso- wej analizujac sekcje burzliwa 9 strumienia 2 próbki zawiesiny procesowej. Aparat zapewnia dobra reprezentatywnosc strumienia próbki zawiesiny procesowej ze wzgledu na tworzenie sekcji burzliwej w próbce strumienia zawiesiny procesowej. Oznacza to przykladowo, ze aparat usuwa klasyfikowanie takie, jak czesci laminarne przeplywu w próbce strumienia zawiesiny pro- cesowej, tworzac sekcje burzliwa i analizujac sekcje burzliwa, z czego wynika dobra reprezentatywna analiza strumienia próbki zawiesiny procesowej. Ze wzgledu na tworzenie sekcji burzliwej w strumieniu próbki zawiesiny procesowej, aparat mozna stosowac do analizy przeplywu poziomego, w którym moga wystepowac problemy z klasyfikacja i do analizy przeplywów pionowych. W aparacie 1 przedstawionym na fig. 1, 3, 5 i 6, sonda pomiarowa 10 jest umieszczona co naj- mniej czesciowo pomiedzy koncem kolizyjnym 8 a rura wylotowa 6 w komorze przeplywowej 3. W aparacie 1 przedstawionym na fig. 1, 2, 3, 5 i 6, sonda pomiarowa 10 wystaje ze sciany 4 w ko- morze przeplywowej 3. W aparacie 1 przedstawionym na fig. 4, sonda pomiarowa 10 wystaje z rury wylotowej 6 w komo- rze przeplywowej 3. Sonda pomiarowa 10 zawiera korzystnie, lecz niekoniecznie, rure 11 ograniczajaca komore ru- rowa 12, okno 13 na wolnym koncu 14 rury 11, w którym okno 13 zamyka wolny koniec 14 rury 11, zródlo 15 promieniowania elektromagnetycznego w komorze rurowej 12, przy czym zródlo 15 promie- niowania elektromagnetycznego jest skonfigurowane tak, ze emituje promieniowanie elektromagne- tyczne 16 przez okno 13, i czujnik 17 wykrywajacy promieniowanie elektromagnetyczne skonfigurowany tak, ze przyjmuje rozproszone promieniowanie elektromagnetyczne 18 rozpraszane od strumienia 2 próbki zawiesiny procesowej przez okno 13. Jesli aparat zawiera sonde pomiarowa 10 jak opisano, to zródlo 15 promieniowania elektroma- gnetycznego jest korzystnie, lecz niekoniecznie, skonfigurowane tak, ze emituje promieniowanie elek- tromagnetyczne 16 o dlugosci fali od 150 do 2500 nm. Zródlem 15 promieniowania elektromagnetycz- nego moze byc lampa lub laser. Jesli aparat zawiera sonde pomiarowa 10 jak opisano, to rura 11 jest korzystnie, lecz niekoniecz- nie, wykonana co najmniej czesciowo z co najmniej jednej substancji sposród metalu, polimeru lub ce- ramiki dla polepszenia odpornosci na zuzycie rury 11. Jesli aparat zawiera sonde pomiarowa 10 jak opisano, to okno 13 jest korzystnie, lecz niekoniecz- nie, wykonane ze szkla szafirowego lub szkla hartowanego i/albo zawiera powloke dla polepszenia od- pornosci na zuzycie okna 13. Jesli aparat zawiera sonde pomiarowa 10 jak opisano, to czujnik 17 wykrywajacy promieniowanie elektromagnetyczne moze zawierac wlókno optyczne 22 w rurze 11, przy czym wspomniane wlókno optyczne 22 jest skonfigurowane tak, ze prowadzi rozproszone promieniowanie elektromagnetyczne 18 do srodka do analizy optycznej, tak jak do spektrometru optycznego. Alternatywnie, urzadzenie do ana- lizy optycznej, takie jak spektrometr optyczny, moze byc umieszczone w komorze rurowej 12. Jesli aparat zawiera sonde pomiarowa 10 jak opisano, to sciezka stanowiaca przedluzenie (nie- pokazane na figurach) rury wylotowej 6 przecina korzystnie, lecz niekoniecznie, wolny koniec 14 rury 11 sondy pomiarowej 10. Zaleta tego ukladu jest to, ze wolny koniec 14 z oknem 13 znajduje sie na wylocie, co oznacza przykladowo, ze strumien próbki zawiesiny procesowej opuszczajacy komore prze- plywowa 3 splukuje okno 13. Jesli aparat zawiera sonde pomiarowa 10 jak opisano, to rura 11 sondy pomiarowej 10 przebiega korzystnie, lecz niekoniecznie, od sciany 4 w komorze przeplywowej 3 tak, ze wolny koniec 14 rury 11 znajduje sie w komorze przeplywowej 3 w pewnej odleglosci od sciany 4 i tak, ze okno 13 sondy pomia- rowej 10 znajduje sie w komorze przeplywowej 3 w pewnej odleglosci od sciany 4. Zaleta tego ukladu jest to, ze pozwala na lepsze ustawienie okna 13 w sekcji burzliwej 9 strumienia 2 próbki zawiesiny procesowej. W aparatach 1 pokazanych na fig. 1, 2, 3 i 4, sciana 4 zawiera sciane 19 przy koncu wlotowym 7. W aparatach 1 pokazanych na fig. 1, 2, 3, 4 i 5, sciana 4 zawiera plaska sciane kolizyjna 20 przy koncu kolizyjnym 8, i sciana kolizyjna 20 przebiega prostopadle do pierwszej osi centralnej A rury wlo- towej 5. Plaska sciana kolizyjna 20 umieszczona w taki sposób zapewnia zwlaszcza dobra burzliwosc w strumieniu 2 próbki zawiesiny procesowej w komorze przeplywowej 3. Jesli aparat 1 ma plaska sciane kolizyjna 20 i sonde pomiarowa 10 z dowolnej opisanej postaci wykonania majaca wolny koniec 14 i okno 13 zamykajace wolny koniec 14, to sonda pomiarowa 10 przebiega korzystnie od plaskiej sciany kolizyjnej 20 w komorze przeplywowej 3 na odleglosc D, która jest wieksza niz odleglosc C pomiedzy rura wylotowa 6 a koncem kolizyjnym 8, jak zilustrowano na fig. 1. Zaleta tego ukladu jest to, ze wolny koniec 14 z oknem 13 rury 11 sondy pomiarowej 10 znajduje sie powyzej rury wylotowej i okno 13 sondy pomiarowej 10 jest wiec splukiwane strumieniem próbki zawiesiny procesowej opuszczajacej komore przeplywowa 3 i utrzymywane w czystosci. Jesli sciana 4 aparatu 1 zawiera zarówno sciane 19, jak i sciane kolizyjna 20, jak przedstawiono, to sciana 4 zawiera korzystnie, lecz niekoniecznie, sciane obwodowa 21 pomiedzy sciana 19 przy koncu wlotowym 7 a sciana kolizyjna 20 przy koncu kolizyjnym 8. Jesli sciana 4 zawiera sciane obwodowa 21 jak przedstawiono, to przekrój poprzeczny komory przeplywowej 3 jest korzystnie, lecz niekoniecznie, poza miejscem przy rurze wlotowej 5, rurze wyloto- wej 6 i sondzie pomiarowej 10, taki sam pomiedzy sciana 19 a sciana kolizyjna 20. Przekrój poprzeczny moze przykladowo miec postac okregu, kwadratu, kwadratu z zaokraglonymi brzegami, prostokata, lub prostokata z zaokraglonymi brzegami. Odleglosc pomiedzy sciana 19 a sciana kolizyjna 20 stanowi korzystnie, lecz niekoniecznie, 200 do 400% szerokosci komory przeplywowej 3. Szerokosc komory przeplywowej 3 zalezy od ksztaltu przekroju poprzecznego komory przeplywowej 3 i moze przykladowo stanowic srednice komory przeplywowej 3 lub odleglosc pomiedzy przeciwnymi scianami. Jesli sciana 4 aparatu 1 zawiera zarówno sciane 19, jak i sciane kolizyjna 20, jak przedstawiono, to przekrój poprzeczny komory przeplywowej 3 moze sie alternatywnie zmieniac, to jest powiekszac w strone sciany kolizyjnej 20, pomiedzy sciana 19 a sciana kolizyjna 20. Jesli sciana 4 zawiera sciane obwodowa 21 jak przedstawiono, to sonda pomiarowa 10 moze przebiegac od sciany obwodowej 21 w komorze przeplywowej 3. Najwieksze pole przekroju poprzecznego komory przeplywowej 3 aparatu 1 stanowi korzystnie, lecz niekoniecznie, 150 do 350% pola przekroju poprzecznego rury wlotowej 5 dla uzyskania dostatecz- nej przestrzeni w komorze przeplywowej na burzliwosc w strumieniu 2 próbki zawiesiny procesowej. Rura wlotowa 5 przebiega korzystnie, lecz niekoniecznie, do sekcji komory przeplywowej 3 ogra- niczonej przez sciane 4. Polepsza to odpornosc na zuzycie Rura wylotowa 6 przebiega korzystnie, lecz niekoniecznie, do sekcji komory przeplywowej 3 ogra- niczonej przez sciane 4. Polepsza to odpornosc na zuzycie. Nastepnie bardziej szczególowo opisany zostanie uklad, nie wedlug wzoru uzytkowego, do ana- lizy zawiesiny zawierajacy wiele aparatów 1 wedlug dowolnej postaci wykonania, jak tutaj opisano. W ukladzie do analizy zawiesiny rura wlotowa 5 kazdego aparatu 1 jest polaczona z mozliwo- scia przeplywu (ang. in fluid communication) plynu z glównymi srodkami 23 do pobierania próbek tak jak i z urzadzeniem próbkujacym z rury cisnieniowej lub z urzadzeniem do pobierania próbek z przeply- wem grawitacyjnym i skonfigurowana tak, ze przyjmuje strumien próbki odcinany ze strumienia proce- sowego 24. W ukladzie do analizy zawiesiny rura wylotowa 6 kazdego aparatu 1 jest skonfigurowana tak, ze moze selektywnie laczyc sie z mozliwoscia przeplywu plynu z analizatorem 25, np. rentgenowskim flu- orescencyjnym analizatorem elementarnym, skonfigurowanym tak, ze dalej analizuje strumien próbki zawiesiny procesowej, lub z przewodem powrotnym 26. Ponizej, bardziej szczególowo zostana opisane sposób, nie wedlug wzoru uzytkowego, analizy strumienia 2 próbki zawiesiny procesowej takiej jak próbka zawiesiny z flotacji mineralu i pewne przy- klady i warianty sposobu. Sposób obejmuje dostarczenie aparatu 1 majacego komore przeplywowa 3 ograniczona sciana 4, rura wlotowa 5 majaca pierwsza os centralna A i skonfigurowana tak, ze wprowadza strumien 2 próbki zawiesiny procesowej do komory przeplywowej 3, i rura wylotowa 6 majaca druga os centralna B i skonfigurowana tak, ze wyprowadza strumien 2 próbki zawiesiny procesowej z komory przeplywo- wej 3. Rura wlotowa 5 w takim aparacie 1 jest umieszczona na koncu wlotowym 7 komory przeplywo- wej 3. Komora przeplywowa 3 w takim aparacie 1 ma koniec kolizyjny 8 na przeciwnym koncu komory przeplywowej 3 wzgledem konca wlotowego 7 i skonfigurowany tak, ze jest uderzany przez strumien 2 próbki zawiesiny procesowej, która skonfigurowana rura wlotowa 5 wprowadza do komory przeplywo- wej 3 z wytworzeniem sekcji burzliwej 9 w strumieniu 2 próbki zawiesiny procesowej w komorze prze- plywowej 3. Rura wylotowa 6 w takim aparacie 1 jest umieszczona w scianie 4 w odleglosci C od konca koli- zyjnego 8. Kat pomiedzy pierwsza osia centralna A rury wlotowej 5 a druga osia centralna B rury wylotowej 6 w takim aparacie 1 wynosi od 30 do 120°, korzystnie od 80 do 100°, najbardziej korzystnie okolo 90°. Sposób obejmuje dostarczenie sondy pomiarowej 10 i umieszczenie sondy pomiarowej 10 w ko- morze przeplywowej 3. Sposób obejmuje wprowadzanie strumienia 2 próbki zawiesiny procesowej rura wlotowa 5 do komory przeplywowej 3 tak, ze strumien 2 próbki zawiesiny procesowej uderza w koniec kolizyjny 8 i po- woduje powstanie sekcji burzliwej 9 w strumieniu 2 próbki zawiesiny procesowej w komorze przeplywo- wej 3. Sposób obejmuje wyprowadzanie strumienia 2 próbki zawiesiny procesowej rura wylotowa 6 z komory przeplywowej 3. Sposób obejmuje analizowanie strumienia 2 próbki zawiesiny procesowej przez analize sekcji burzliwej 9 strumienia 2 próbki zawiesiny procesowej. Sposób zapewnia dobra reprezentatywnosc strumienia próbki zawiesiny procesowej ze wzgledu na tworzenie sekcji burzliwej w próbce strumienia zawiesiny procesowej. Oznacza to przykladowo, ze sposób usuwa klasyfikowanie, takie jak czesci laminarne wystepujace w próbce strumienia zawiesiny procesowej, tworzac sekcje burzliwa i analizujac sekcje burzliwa, uzyskujac dobra reprezentatywna analize strumienia próbki zawiesiny procesowej. Ze wzgledu na tworzenie sekcji burzliwej w próbce strumienia zawiesiny procesowej, sposób mozna stosowac do analizy zarówno przeplywu poziomego, w którym moga wystepowac problemy z klasyfikacja, i przeplywów pionowych. Sposób moze obejmowac umieszczenie sondy pomiarowej 10 co najmniej czesciowo pomiedzy koncem kolizyjnym 8 a rura wylotowa 6 w komorze przeplywowej 3, jak pokazano na fig. 1, 3, 5 i 6. Sposób moze obejmowac umieszczenie sondy pomiarowej 10 tak, ze przebiega od sciany 4 w komorze przeplywowej 3, jak pokazano na fig. 1, 2, 3, 5 i 6. Sposób moze obejmowac umieszczenie sondy pomiarowej 10 tak, ze przebiega od rury wyloto- wej 6 w komorze przeplywowej 3, jak pokazano na fig. 4. Dostarczona sonda pomiarowa 10 zawiera korzystnie, lecz niekoniecznie, rure 11 ograniczajaca komore rurowa 12, okno 13 na wolnym koncu 14 rury 11, gdzie okno 13 zamyka wolny koniec 14 rury 11, zródlo 15 promieniowania elektromagnetycznego w komorze rurowej 12, gdzie zródlo 15 promie- niowania elektromagnetycznego jest skonfigurowane tak, ze emituje promieniowanie elektromagne- tyczne 16 przez okno 13, i czujnik 17 wykrywajacy promieniowanie elektromagnetyczne skonfigurowany tak, ze przyjmuje rozproszone promieniowanie elektromagnetyczne 18 rozpraszane od strumienia 2 próbki zawiesiny procesowej przez okno 13. Jesli w sposobie dostarczana jest sonda pomiarowa 10, jak opisano, to sposób obejmuje korzyst- nie, lecz niekoniecznie, emitowanie promieniowania elektromagnetycznego 16 o dlugosci fali od 150 do 2500 nm ze zródla 15 promieniowania elektromagnetycznego. Zródlem 15 promieniowania elektroma- gnetycznego moze byc lampa lub laser. Jesli w sposobie dostarczana jest sonda pomiarowa 10, jak opisano, to dostarczana rura 11 sondy pomiarowej 10 jest korzystnie, lecz niekoniecznie, wykonana co najmniej czesciowo z co najmniej jednej substancji sposród metalu, polimeru lub ceramiki dla polepszenia odpornosci na zuzycie. Jesli w sposobie dostarczana jest sonda pomiarowa 10, jak opisano, dostarczane okno 13 sondy pomiarowej 10 jest korzystnie, lecz niekoniecznie, wykonane ze szkla szafirowego lub szkla hartowa- nego i/albo zawiera powloke dla polepszenia odpornosci na zuzycie. Jesli w sposobie dostarczana jest sonda pomiarowa 10, jak opisano, to dostarczany czujnik 17 wykrywajacy promieniowanie elektromagnetyczne sondy pomiarowej 10 moze obejmowac wlókno op- tyczne 22 w rurze 11, przy czym wspomniane wlókno optyczne 22 jest skonfigurowane tak, ze prowadzi rozproszone promieniowanie elektromagnetyczne 18 do srodka do analizy optycznej, gdzie sposób obejmuje prowadzenie rozproszonego promieniowania elektromagnetycznego 18 z czujnika 17 wykry- wajacego promieniowanie elektromagnetyczne do srodka do analizy optycznej. Alternatywnie, urzadze- nie do analizy optycznej, takie jak spektrometr optyczny, moze byc umieszczone w rurze 11. Jesli w sposobie dostarczana jest sonda pomiarowa 10, jak opisano, to sposób obejmuje korzyst- nie, lecz niekoniecznie, umieszczenie sondy pomiarowej 10 w komorze przeplywowej tak, ze sciezka stanowiaca przedluzenie rury wylotowej 6 przecina wolny koniec 14 rury 11 sondy pomiarowej 10. Zaleta tego ukladu jest to, ze wolny koniec 14 z oknem 13 znajduje sie na wylocie, co oznacza przykladowo, ze próbka strumienia zawiesiny procesowej splukuje okno 13. Jesli w sposobie dostarczana jest sonda pomiarowa 10, jak opisano, to sposób obejmuje korzyst- nie, lecz niekoniecznie, umieszczenie sondy pomiarowej 10 w komorze przeplywowej 3 tak, ze rura 11 sondy pomiarowej 10 wystaje ze sciany 4 w komorze przeplywowej 3 tak, ze wolny koniec 14 rury 11 znajduje sie w komorze przeplywowej 3 w pewnej odleglosci od sciany 4, i tak ze okno 13 sondy pomia- rowej 10 znajduje sie w komorze przeplywowej 3 w pewnej odleglosci od sciany 4. Zaleta tego ukladu jest to, ze pozwala na lepsze ustawienie okna 13 w sekcji burzliwej 9 strumienia 2 próbki zawiesiny procesowej. Sposób moze obejmowac dostarczanie aparatu 1 majacego sciane 4 majaca sciane 19 przy koncu wlotowym 7. Sposób moze obejmowac dostarczanie aparatu 1 majacego sciane 4 zawierajaca plaska sciane kolizyjna 20 przy koncu kolizyjnym 8 tak, ze sciana kolizyjna 20 przebiega prostopadle do pierwszej osi centralnej A rury wlotowej 5. Jesli sposób obejmuje dostarczanie aparatu 1 majacego sciane 4 zawierajaca plaska sciane ko- lizyjna 20 i sonde pomiarowa 10 z dowolnej opisanej postaci wykonania majacej wolny koniec 14 i okno 13 zamykajace wolny koniec 14, to sposób obejmuje korzystnie umieszczenie sondy pomiarowej 10 tak, ze przebiega od plaskiej sciany kolizyjnej 20 w komorze przeplywowej 3 na odleglosc D, która jest wieksza niz odleglosc C pomiedzy rura wylotowa 6 a koncem kolizyjnym 8, jak zilustrowano na fig. 1. Za- leta tego ukladu jest to, ze wolny koniec 14 z oknem 13 rury 11 sondy pomiarowej 10 znajduje sie powyzej rury wylotowej i okno 13 sondy pomiarowej 10 jest wiec splukiwane strumieniem próbki zawie- siny procesowej i utrzymywane w czystosci. Jesli sposób obejmuje dostarczanie aparatu 1 majacego sciane 4 zawierajaca sciane 19 i plaska sciane kolizyjna 20, to dostarczana sciana 4 aparatu 1 ma korzystnie, lecz niekoniecznie, dodatkowo sciane obwodowa 21 pomiedzy sciana 19 przy koncu wlotowym 7 a sciana kolizyjna 20 przy koncu kolizyjnym 8. Przekrój poprzeczny komory przeplywowej 3 dostarczanego aparatu 1 moze, poza miej- scem przy rurze wlotowej 5, rurze wylotowej 6 i sondzie pomiarowej 10, byc taki sam pomiedzy sciana 19 a sciana kolizyjna 20. Przekrój poprzeczny moze przykladowo miec postac okregu, kwadratu, kwa-7 dratu z zaokraglonymi brzegami, prostokata, lub prostokata z zaokraglonymi brzegami. W takim przy- padku, odleglosc pomiedzy sciana 19 a sciana kolizyjna 20 stanowi korzystnie 200 do 400% szerokosci komory przeplywowej 3 w dostarczanym aparacie 1. Szerokosc komory przeplywowej 3 zalezy od ksztaltu przekroju poprzecznego komory przeplywowej 3 i moze przykladowo stanowic srednice komory przeplywowej 3 lub odleglosc pomiedzy przeciwnymi scianami. Jesli sciana 4 aparatu 1 ma zarówno sciane 19, jak i sciane kolizyjna 20, jak przedstawiono, to przekrój poprzeczny komory przeplywowej 3 dostarczanego aparatu 1 moze sie alternatywnie zmieniac, tak jak powiekszac, w strone sciany kolizyjnej 20, pomiedzy sciana 19 a sciana kolizyjna 20. Jesli sciana 4 ma sciane obwodowa 21, jak przedstawiono, to sonda pomiarowa 10 moze byc umieszczona jako przebiegajaca od sciany obwodowej 21 do komory przeplywowej 3. Najwieksze pole przekroju poprzecznego komory przeplywowej 3 dostarczanego aparatu 1 sta- nowi korzystnie, lecz niekoniecznie, 150 do 350% pola przekroju poprzecznego rury wlotowej 5. Rura wlotowa 5 dostarczanego aparatu 1 przebiega korzystnie, lecz niekoniecznie, do sekcji ko- mory przeplywowej 3 ograniczonej przez sciane 4. Polepsza to odpornosc na zuzycie. Rura wylotowa 6 dostarczanego aparatu 1 przebiega korzystnie, lecz niekoniecznie, do sekcji komory przeplywowej 3 ograniczonej przez sciane 4. Polepsza to odpornosc na zuzycie. Dla specjalisty w dziedzinie wiadomym bedzie, ze w miare postepów techniki podstawowa idea niniejszego wzoru uzytkowego moze byc realizowana na rózne sposoby. Niniejszy wzór uzytkowy i jego postacie wykonania nie sa wiec ograniczone do powyzszych przykladów, lecz moga ulegac zmianom w zakresie zastrzezen. PL PL PL PL PL PL PL PL PL PL PL PL PL
PL127535U 2016-02-15 2016-02-15 Aparat do analizy strumienia próbki zawiesiny procesowej PL72864Y1 (pl)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/FI2016/050094 WO2017140938A1 (en) 2016-02-15 2016-02-15 Apparatus and method for analyzing a process slurry flow sample

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL127535U1 PL127535U1 (pl) 2019-02-25
PL72864Y1 true PL72864Y1 (pl) 2023-01-09

Family

ID=59625667

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL127535U PL72864Y1 (pl) 2016-02-15 2016-02-15 Aparat do analizy strumienia próbki zawiesiny procesowej

Country Status (10)

Country Link
CN (1) CN208833622U (pl)
AU (1) AU2016393383A1 (pl)
BG (1) BG3093U1 (pl)
BR (2) BR202018016590Y1 (pl)
ES (1) ES1223300Y (pl)
FI (1) FI12204U1 (pl)
PL (1) PL72864Y1 (pl)
RU (1) RU185791U1 (pl)
WO (1) WO2017140938A1 (pl)
ZA (1) ZA201804480B (pl)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU2018419252B2 (en) 2018-04-20 2022-02-24 Metso Finland Oy X-ray fluorescence analyzer, and a method for performing X-ray fluorescence analysis
FI20206176A1 (en) * 2018-04-20 2020-11-20 Outotec Finland Oy X-ray fluorescence analyzer system and a method for performing x-ray fluorescence analysis of an element of interest in slurry
US11858086B2 (en) * 2020-06-15 2024-01-02 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. High-throughput, precise semiconductor slurry blending tool
GB202009498D0 (en) 2020-06-22 2020-08-05 Blue Cube Tech (Pty)Ltd Apparatus and method for analysis of a moving slurry

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5815264A (en) * 1994-09-21 1998-09-29 Laser Sensor Technology, Inc System for acquiring an image of a multi-phase fluid by measuring backscattered light
US5619043A (en) * 1994-09-21 1997-04-08 Laser Sensor Technology, Inc. System for acquiring an image of a multi-phase fluid by measuring backscattered light
AU2001240121B2 (en) * 2000-03-10 2005-06-23 Textron Systems Corporation Optical probes and methods for spectral analysis
US6542231B1 (en) * 2000-08-22 2003-04-01 Thermo Finnegan Llc Fiber-coupled liquid sample analyzer with liquid flow cell
US7165464B2 (en) * 2002-11-15 2007-01-23 Cidra Corporation Apparatus and method for providing a flow measurement compensated for entrained gas
GB2454517B (en) * 2007-11-09 2010-10-06 Scottish & Newcastle Plc Ice fraction sensor
EP2875214A4 (en) * 2012-07-23 2016-08-03 Halliburton Energy Services Inc METHOD AND DEVICE FOR ANALYZING A MULTI-PHASE FLUID CURRENT BY MEANS OF A MOE CALCULATION DEVICE
MX2015015405A (es) * 2013-06-20 2016-06-30 Halliburton Energy Services Inc Conceptos de implementacion y metodos relacionados para dispositivos opticos computacionales.

Also Published As

Publication number Publication date
BR202018016590Y1 (pt) 2021-08-10
CN208833622U (zh) 2019-05-07
PL127535U1 (pl) 2019-02-25
BG3093U1 (bg) 2019-01-31
AU2016393383A2 (en) 2018-08-09
RU185791U1 (ru) 2018-12-19
AU2016393383A1 (en) 2018-08-02
WO2017140938A1 (en) 2017-08-24
ES1223300Y (es) 2019-04-10
FI12204U1 (fi) 2018-10-15
ZA201804480B (en) 2019-10-30
ES1223300U (es) 2019-01-18
BR112018016590A2 (pt) 2018-12-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
PL72864Y1 (pl) Aparat do analizy strumienia próbki zawiesiny procesowej
CN112313506B (zh) 具有多个测量通道的x射线荧光分析仪和用于执行x射线荧光分析的方法
CN205404400U (zh) 一种土壤重金属检测装置
CN104458357A (zh) 可扩展式污染源颗粒物鞘气保护采样稀释器
BR112016012120B1 (pt) aparelho para apresentar uma amostra de fluido a um analisador, sistema para análise online de um fluxo de material fluido e método para apresentar uma amostra de fluido a um analisador
KR101897232B1 (ko) 용액내 미립자 검출용 화상검출장치
Contini et al. Water tank measurements of buoyant plume rise and structure in neutral crossflows
CN112313505B (zh) X射线荧光分析仪和用于执行x射线荧光分析的方法
AU2016102390A4 (en) Apparatus and method for analyzing a process slurry flow sample
KR20190047405A (ko) 배기가스 성분 분석 시스템
CN103512856A (zh) 一种多通道水质在线分析仪及其应用方法
CN102175822B (zh) 一种uf6气体铀丰度在线监测装置的测量容器
CN118961677A (zh) 基于深海着陆器平台的热液流体长期原位监测装置
CN105699613A (zh) 水质监测系统
CN114544499A (zh) 水中油传感器、石油平台外排水中含油量监测装置及方法
AU2016102374A4 (en) Method and apparatus for optical emission spectroscopy of fluids
CN105699338A (zh) 基于等离子体约束腔的微量重金属检测的libs系统
CN110044657A (zh) 一种适用于管道光谱采集的液体样品取样装置
CN205229031U (zh) 新型的比色法仪器用检测池结构
CN223526082U (zh) 一种循环流化床锅炉烟气组分分析的多点取样装置
FI113699B (fi) Menetelmä ja laite lietenäytteiden ottamiseksi prosessivirrasta
CN201716263U (zh) 一种管道内气体的光电分析装置
DE4243418A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Anregen und Empfangen der Photolumineszenz von Stoffen in Rohrleitungen
RU45777U1 (ru) Устройство для отбора проб газожидкостного потока
CN119000633A (zh) 一种基于荧光法非接触式水中油悬浮物检测装置