KR950006931Y1

KR950006931Y1 - Lifter of IC Test Sleeve

Info

Publication number: KR950006931Y1
Application number: KR2019900003834U
Authority: KR
Inventors: 이수필; 김일섭; 이덕희; 김열
Original assignee: 금성일렉트론 주식회사; 문정환
Priority date: 1990-03-31
Filing date: 1990-03-31
Publication date: 1995-08-23
Anticipated expiration: 2000-03-31
Also published as: KR910017194U

Abstract

내용 없음.No content.

Description

Lifter of IC Test Sleeve

제1도는 본 고안이 장착되어 있는 IC 테스트 슬리브의 로우딩, 언로우딩 시스템의 전체적인 개략도로서,1 is an overall schematic diagram of the loading and unloading system of the IC test sleeve to which the present invention is mounted.

제1a도는 정면 상태도.1a is a front view.

제1b도는 측면 상태도.1B is a side view.

제2도는 본 고안의 사시도.2 is a perspective view of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1 : 이송바 2 : 이송대1: transfer bar 2: transfer table

3 : 이동블럭 4 : 실린더3: moving block 4: cylinder

5 : 스윙암 6 : 양다리5: swing arm 6: both legs

6a : 걸림홈 7 : 슬리브6a: Hanging groove 7: Sleeve

8 : 파지홈 9 : 바이브레이터8: gripping groove 9: vibrator

10 : 테스터 11 : 솔레노이드밸브10: tester 11: solenoid valve

본 고안은 테스트를 받기 위하여 전공정으로부터 이송되어오는 IC가 든 슬리브를 파지하여 원하는 테스터의 주입구측으로 이동하여 슬리브내의 IC를 주입해준 후, 빈 슬리브를 다시 다음 공정의 낙하부로 이동시켜주는 역할을 수행하는 IC 테스트 슬리브의 솟터(Sorter) 장치에 관한 것이다.The present invention grasps the sleeve containing the IC transferred from the previous process to be tested, moves to the inlet side of the desired tester, injects the IC in the sleeve, and then moves the empty sleeve back to the dropping part of the next process. It relates to a soter device of the IC test sleeve.

일반적으로 제작이 완료된 IC는 투명 플라스틱 재질의 기다란 슬리브내에 다량으로 끼워져 운반이 이루어지면서 필요한 작업공정을 수행하게 되는데, 종래에는 이와 같이 슬리브내에 채워진 IC들을 테스트 해주기 위해서는 각각의 슬리브를 테스터의 유입구측으로 작업자가 직접 슬리브를 파지하여 이를 맞추어 기울여줌에 따라 테스트를 받기 위한 IC들을 테스터내에 주입시켜주도록 하였다.In general, the completed IC is inserted in a long sleeve made of a transparent plastic material, and is carried out as a transport is performed. In order to test the ICs filled in the sleeve as described above, each sleeve is moved to the inlet side of the tester. Directly grips the sleeve and tilts it to inject ICs into the tester for testing.

그러나 이와같이 작업자가 직접 하나씩의 슬리브를 파지하면서 테스터내로 IC를 직접 주입시켜주도록 된것은, 테스터 숫자에 따른 동일한 인원의 작업자가 상기와 같은 작업을 수행해 주어야하만 되었기 때문에 작업성이 매우 저하될 뿐만 아니라 인건비에 따라 원가상승 요인의 단점이 되었다.However, in this way, the operator directly injects the IC into the tester while holding the sleeve one by one, because the same number of workers according to the number of testers have to perform the above work, which not only reduces workability but also labor costs. This has become a disadvantage of the cost increase factor.

따라서 이와같은 문제점을 개선해 주기 위하여 테스터측으로 IC가 채워진 슬리브를 무인자동화 시스템으로 공급시켜주고, 빈 슬리브를 다시 하방으로 낙하시켜 테스터에서 테스팅을 마친 IC를 테스트 등급에 따라 빈 슬리브내로 채워주는 무인 자동화 설비를 본 고안인이 선출원한 특허출원번호 89-12565의 슬리브의 분리, 수평유지, 낙하의 자동화 장치 및 특허출원번호 89-15372의 IC 테스트기의 로딩, 언로우딩 장치를 통하여 이루어지도록 하였다.Therefore, to improve this problem, the unmanned automated system supplies the IC-filled sleeve to the tester side and the empty sleeve is dropped downward to fill the tested IC in the empty sleeve according to the test grade. The inventors of the patent application No. 89-12565 of the applicant filed, the horizontal maintenance, the automatic device for dropping and the loading and unloading device of the IC tester of patent application No. 89-15372.

이와같은 자동차 설비내에서 본 고안은 제1도에 도시된 시스템 개략도 중에서 테스트를 받기 위하여 적치함(15)으로부터 타이밍밸트(16)를 타고 상승된 슬리브(7)를 본 고안 장치의 솟터부(17)를 통해 파지하여 원하는 테스터(10)의 주입구측으로 이동하여 슬리브(7)내의 IC를 부어준 후, 빈 슬리브(7)를 다시 이동시켜 드롭부(18)측으로 낙하시켜주도록 한 것이다.In such a vehicle installation, the present invention uses the timing belt 16 lifted from the stacker 15 to be tested in the system schematic shown in FIG. After gripping through to move to the inlet side of the desired tester 10 to pour the IC in the sleeve 7, the empty sleeve 7 is moved again to drop to the drop portion 18 side.

이와같은 기능을 수행하기 위하여 본 고안의 형태에 따르면, 한쌍의 상, 하 이송바(1)를 따라 수평으로 슬라이딩하는 이송대(2)에 이동블럭(3)을 일정각도만큼 회전 가능하게 설치하고, 상기 이동블럭(3)에는 하부측에 실린더(4)를 통해 승, 하강하는 스윙암(5)에 걸어지는 걸림홈(6a)을 갖는 양다리(6)를 설치함과 함께 몸체 중앙으로는 슬리브(7)가 삽입되는 파지홈(8)을 형성하고, 상부측에는 파지된 슬리브(7)를 진동시켜주는 바이브레이터(9)와 슬리브(7)내의 IC가 테스터(10)로 통과하도록 개방해주는 역할의 솔레노이드 밸브(11)를 설치하여서 된 것이다.In order to perform such a function, according to the form of the present invention, the movable block 3 is rotatably installed at a predetermined angle on the transport table 2 sliding horizontally along a pair of up and down transport bars 1 and In addition, the movable block 3 is provided with both legs 6 having a locking groove 6a which is hooked to the swinging arm 5 ascending and descending through the cylinder 4 on the lower side, and at the center of the sleeve. A gripping groove 8 into which 7 is inserted is formed, and on the upper side, a vibrator 9 for vibrating the gripped sleeve 7 and an IC in the sleeve 7 open to pass through the tester 10. The solenoid valve 11 was provided.

이와같이 된 본 고안은 이송바(1)를 따라 수평 이동하는 이동블럭(3)이 공급되는 슬리브(7)를 파지하여 경사진 상태로 테스터(10)의 주입구로 이동한 다음, 솔레노이드 밸브(11)의 개방에 따라 슬리브(7)내의 IC를 테스터(10)내로 주입시켜주고, 빈 슬리브(7)를 다시 다음 공정의 드롭부로 이동시켜 자동 낙하시켜주는 역할을 수행하는 것으로서, 이에 따른 작업공정을 순차적으로 살펴보면 다음과 같다.The present invention as described above is carried to the inlet of the tester 10 in an inclined state by holding the sleeve (7) supplied with the moving block (3) which moves horizontally along the transfer bar (1), the solenoid valve (11) Injecting the IC in the sleeve (7) into the tester 10 in accordance with the opening of the, and the empty sleeve (7) to move to the drop of the next process to automatically drop the role, according to the work process accordingly Looking at it as follows.

먼저, 이동블럭(3)을 회전시켜주는 스윙암(5)은 정상상태에서는 항상 상승되어 있는 상태를 나타낸다.First, the swing arm 5 which rotates the moving block 3 shows a state of being always raised in the normal state.

따라서 이동블럭(3)이 전공정의 타이밍 밸트를 타고 상승하는 슬리브를 파지하기 위하여 정해진 위치로 이송바(1)를 따라 이송되어오면, 도시가 생략된 센서의 기능에 의해 이동블럭(3)이 어느 일정각도 상승된 상태로 이송바의 양다리(6)중 한쪽다리, 즉 제2도 도면상의 오른쪽 다리의 걸림홈(6a)이 상승되어 있는 스윙암(4)의 일측부, 즉 도면상의 좌측으로 끼워진 상태를 유지하고, 이 상태에서 스윙암(5)이 실린더(4)의 작동에 따라 하강을 하여 상승되어 있는 이동블럭(3)을 수평상태로 내려준다.Therefore, when the moving block 3 is transported along the transfer bar 1 to a predetermined position in order to grip the sleeve which rises on the timing belt of the previous process, the moving block 3 is moved by the function of the sensor not shown. One of the two legs 6 of the transfer bar in a raised state, that is, the one side of the swing arm 4 in which the engaging groove 6a of the right leg in FIG. In this state, the swing arm 5 descends in accordance with the operation of the cylinder 4 in this state to lower the movable block 3 that is raised.

이 상태에서는, 대기하고 있던 슬리브(7)가 도시가 생략된 밀판의 작용에 따라 이동블럭(3)의 파지홈(8)으로 삽입된다.In this state, the waiting sleeve 7 is inserted into the gripping groove 8 of the moving block 3 in accordance with the action of the compact plate (not shown).

다음으로 하강된 스윙암(5)을 상승시켜 줌에 따라 슬리브(7)를 파지한 이동블럭(3)은 일정각도만큼 회전된 상태에서 스윙암(5)을 빠져나오면서 테스터(10)의 빈 주입구를 찾아 이동된다.Next, as the lowered swing arm 5 is raised, the movable block 3 holding the sleeve 7 exits the swing arm 5 while being rotated by a predetermined angle, and then the empty injection hole of the tester 10. Go to find it.

테스터(10)의 주입구측으로 이동된 이동블럭(3)은 솔레노이드 밸브(11)의 작동에 따라 슬리브(7)내에 끼워진 IC들을 막고 있는 걸림대가 개방되면서 경사진 각도에 의하여 슬리브(7)내의 IC들을 테스터(10)내로 주입시켜준다.The movable block 3 moved to the inlet side of the tester 10 receives the ICs in the sleeve 7 by an inclined angle while the latches blocking the ICs inserted in the sleeve 7 are opened in accordance with the operation of the solenoid valve 11. It is injected into the tester 10.

이 상태에서 혹시 IC들이 슬리브(7)와 밀착되어 빠져나가지 못한 상태를 미연에 예방해주기 위하여 이동블럭(3)의 선단측으로 슬리브(7)의 상부측에 설치되어 있는 바이브레이터(9)가 작동하면서 슬리브(7)에 약간의 충격을 가해줌에 따라 슬리브(7)내에 잔존하는 IC들이 완전히 테스터(10)내로 주입되는 것을 도와주게 된다.In this state, in order to prevent the ICs from coming out of close contact with the sleeve 7 in advance, the vibrator 9 installed on the upper side of the sleeve 7 to the front end side of the movable block 3 is operated and the sleeve is operated. Applying a slight impact to (7) helps the IC remaining in the sleeve (7) to be completely injected into the tester (10).

이와 같이 슬리브(7)내의 IC들을 테스터(10)로 완전히 주입시킨 후에는, 빈 슬리브를 파지한 이동블럭(3)은 다시 이송바(1)를 따라 이동하여 이번에는 이동블럭(3)의 하부측, 즉 도면상의 왼쪽다리의 걸림홈(6a)이 스윙암(5)의 도면상 오른쪽 위치에 끼워진 상태로 정지를 하게 되면, 상승되어 있는 스윙암(5)이 하강을 하여 이동블럭(3)을 수평상태로 유지시켜 주고, 이 상태에서는 다음 공정의 작업에 따라 이동블럭(3)의 파지홈(8)에 끼워진 슬리브(7)가 빠지면서 드롭부측으로 낙하를 하게 되는 것이다.After completely injecting the ICs in the sleeve 7 into the tester 10, the movable block 3 holding the empty sleeve moves again along the transfer bar 1, this time under the movable block 3. When the stop groove 6a of the side, that is, the left leg on the drawing, is stopped at a state fitted to the right position on the drawing of the swing arm 5, the swing arm 5 that is raised descends to move the moving block 3 Is kept in a horizontal state, and in this state, the sleeve 7 fitted into the gripping groove 8 of the moving block 3 is pulled out to the drop portion side according to the operation of the next step.

이와 같이 본 고안은, 승,하강하는 하나의 스윙암을 통하여 이송바를 따라 슬라이딩 하는 이동블럭을 어느 일정각도만큼 회전시켜주면서 전공정에서 공급되는 슬리브를 파지하여 테스터의 주입구측으로 부어주고 다시 다음공정의 빈 슬리브 드롭부로 보내주는 작업을 무인화 공정으로 실시하여 줌에 따라 작업생산성을 대폭 향상 시켜주게 되는 효과를 갖는다.In this way, the present invention, while rotating the moving block sliding along the transfer bar through a swing arm to move up and down by a certain angle, the sleeve supplied in the previous process is gripped and poured to the injection port side of the tester and the next process The work to be sent to the empty sleeve drop part is performed by the unmanned process, thereby greatly improving the work productivity.

Claims

The movable block 3 is rotatably installed at a predetermined angle on the carriage 2 sliding horizontally along the pair of upper and lower transfer bars 1, and the movable block 3 has a cylinder 4 at the lower side thereof. While installing both legs (6) having a locking groove (6a) to the swinging arm (5) to move up and down through the) and to form a gripping groove (8) in the sleeve 7 is inserted into the center of the body and IC test, characterized in that the upper side is provided with a vibrator (9) for vibrating the gripped sleeve (7) and a solenoid valve (11) for opening the IC in the sleeve (7) to pass through the tester (10) Lifting device of the sleeve.