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KR870000477B1 - 선조체 표면의 요철 검출장치 - Google Patents

선조체 표면의 요철 검출장치 Download PDF

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KR870000477B1
KR870000477B1 KR1019830001511A KR830001511A KR870000477B1 KR 870000477 B1 KR870000477 B1 KR 870000477B1 KR 1019830001511 A KR1019830001511 A KR 1019830001511A KR 830001511 A KR830001511 A KR 830001511A KR 870000477 B1 KR870000477 B1 KR 870000477B1
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South Korea
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light
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shadow
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KR1019830001511A
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Inventor
에쓰로오 닛다
타까유끼 코마미즈
Original Assignee
스미도모덴기 고오교오 가부시기 가이샤
나까하라 쓰네오
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Publication date
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    • G01B11/10Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters of objects while moving
    • GPHYSICS
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Abstract

내용 없음.

Description

선조체 표면의 요철 검출장치
제1도는 본 발명의 장치의 단면도.
제2도는 제1도중 광전 변환 소자 부분의 정면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
a : 평행광 b : 선조체
c : 요철 b' : 선조체의 그림자
c' : 요철의 그림자 1 : 투광부
2 : 수광부 3 : 스크린
4 : 렌즈 5 : 광전 변환 소자
6 : 차동증폭기
본 발명은 선조체 표면의 요철 검출장치에 관한 것으로, 특히 선조체 표면의 요철을 연속적이면서 비접촉식으로 검출하는 장치에 관한 것이다.
전력케이블이나 통신케이블 등과 같은 선조체의 압출 제조공정에 있어서는, 선조체의 표면, 예를들면 케이블의 절연피복에 국부적인 요철이 생기는 경우가 있기 때문에 전장(全長)에 걸쳐서 검사하여 이러한 국부적인 요철을 검출할 필요가 있다. 이를 위해, 지금까지 각종의 검출장치가 사용되어 왔는데, 연속적이면서 비접촉식으로 검출하는 장치로서는, 광학식 외경 측정기를 사용하는 경우가 있다. 그러나, 이 장치에 의한 측정 방식은, 투광부나 수광부의 어느 한쪽을 선조체의 주행 방향과 직각방향으로 요동시켜서 선조체의 표면을 주사하고 수광량이나 수광시간의 변화에 의해 요철을 검출하는 것이기 때문에, 선조체가 고속으로 주행하는 라인에 있어서는 요철을 모르고 지나치게 되는 경우가 있고, 따라서 확실한 검사를 할 수 없다는 결점이 있다. 또한, 그 밖의 측정방식으로서는, 요철에 의한 선조체의 직경의 변화를 광량의 절대량의 변화율로서 검출하는 것이 있는데, 이 방식은 진동에 약하고, 또한 선조체의 주행속도의 변화에 영향을 받기 쉬운 결점이 있다.
따라서, 본 발명은 상기한 바와같은 결점이 없는 선조체 표면의 요철 검출 장치를 제공하는데 그 목적이 있다. 이하, 첨부된 도면을 참조로 하여 본 발명의 구성을 상세히 설명한다.
제1도에 도시한 바와같이, 본 발명에 따른 검출장치는 평행광(a)의 투광부(1)와, 이 투광부에 대향 배치한 수광부(2)로 구성되고, 양자의 사이에 피검사물인 선조체(b)를 평행광(a)과 직각 방향으로 주행시킨다. 수광부(2)는 그 전면에 투광성(빛 투과성)의 스크린(3)을 배치하고, 그 후방에 렌즈(4)와 슬리트(Slit)형 광전 변환 소자(5)를 배치하여, 스크린(3)에 투영된 선조체(b)의 그림자(b')(제2도 참조)를 렌즈(4)를 통해 광전 변환 소자(5)의 표면에 결상시키도록 구성된다.
광전 변환 소자(5)는, 제2도에 도시한 바와같이, 선조체의 그림자(b')의 폭보다 긴 장방형을 이루되, 그 긴변을 선조체(b)의 주행방향과 직각방향을 향하게 하고, 선조체(b)가 상, 하 진동 하더라도 선조체의 그림자(b')가 그 표면에서 벗어나지 않을 정도로 충분히 긴 길이를 갖도록 하며, 선조체(b)의 주행방향을 따라 일정한 간격을 두고 한쌍의 소자가 병렬 배치되도록 한다. 또한, 각 소자(5)의 출력측은 공통의 차동증폭기(6)의 입력측에 접촉되도록 한다.
한편, 상기 수광부(2)의 구성에 있어서, 스크린(3) 및 렌즈(4)는 반드시 필요한 것은 아니고, 광전 변환 소자(5)에 의해서 직접 평행광(a)과 선조체의 그림자(b')를 받도록 구성해도 된다. 또한, 선조체(b)의 전체 둘레에 대해서 요철을 검출할 필요가 있는 경우에는, 상기 장치를 선조체의 둘레에 복수 배치하면 된다.
본 발명의 장치는 상기와 같이 구성되므로, 선조체(b)의 표면에 요철(c)이 존재하는 경우, 그 요철의 그림자(c')가 광전 변환 소자(5)의 표면에 투영되어 통과할 때 한쪽의 소자와 다른쪽의 소자에 투영되는 그림자의 면적에 차이가 생기기 때문에, 각 소자의 전기 출력에도 차이가 생긴다. 그 차이는 차동증폭기(6)에 의해 증폭되어 출력되므로, 일정 이상의 출력 레벨에 도달하는 경우에 경보등을 발생시키도록 구성하면, 감시자가 용이하게 선조체의 요철을 검출할 수 있게 된다.
이상과 같이, 본 발명은 한 쌍의 광전 변환 소자를 선조체의 주행방향에 따라 일정한 간격으로 배치하고 있으므로, 선조체의 요철에 의한 투영 면적의 변화를 전기 출력의 차이로서 검출할 수 있고, 또한 선조체 표면의 요철을 연속적으로 검출하는 것이 가능하다. 또한, 선조체의 그림자의 폭이 광전 변환 소자의 표면으로부터 벗어나지 않도록 광전 변환 소자의 긴변을 선조체의 주행방향과 직각방향으로 충분히 길게 형성해놓으면, 진동의 영향을 받는 일이 없다. 한편, 선조체의 직경이 변경되었을 경우에도, 이 선조체의 직경과는 무관하게 요철만의 신호가 출력되기 때문에, 선조체의 직경이 변경되더라도 장치를 조정할 필요가 없고, 또한 선조체의 주행속도의 변화에 영향을 받지 않는 효과가 있다.

Claims (1)

  1. 평행광(a)의 투광부(1)와 그 수광부(2)를 대향 배치하고, 양자간에 피검사물인 선조체(b)를 주행시켜서, 선조체의 투영면적의 변동에 의한 수광량의 변화를 취출하는 선조체 표면의 요철 검출 장치에 있어서, 상기 수광부(2)에 투영된 상기 선조체(b)의 그림자(b')의 폭보다 긴 변을 갖는 한쌍의 광전 변환 소자(5)를 상기 선조체의 주행 방향에 따라 일정한 간격으로 병렬 배치하되, 그 각각의 긴 변이 상기 선조체의 주행방향과 직각을 이루도록 하고, 상기 각 광전 변환 소자의 전기출력을 차동증폭기(6)의 입력에 접속하여, 그 차동출력을 취출하는 것을 특징으로 하는 선조체 표면의 요철 검출장치.
KR1019830001511A 1982-05-10 1983-04-12 선조체 표면의 요철 검출장치 Expired KR870000477B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

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JP57078644A JPS58207254A (ja) 1982-05-10 1982-05-10 線条体表面の凹凸検出装置
JP57-78644 1982-05-10
JP78644 1982-05-10

Publications (2)

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KR840004572A KR840004572A (ko) 1984-10-22
KR870000477B1 true KR870000477B1 (ko) 1987-03-11

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KR1019830001511A Expired KR870000477B1 (ko) 1982-05-10 1983-04-12 선조체 표면의 요철 검출장치

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JP (1) JPS58207254A (ko)
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DE (1) DE3372306D1 (ko)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1190091B (it) * 1985-04-26 1988-02-10 Hauni Werke Koerber & Co Kg Dispositivo per sorvegliare un trasportatore tessile per un filone dell'industria di lavorazione del tabacco
GB8806592D0 (en) * 1988-03-19 1988-04-20 Cabot Plastics Ltd Method & apparatus for evaluating surface of object
DE19958993A1 (de) * 1999-12-07 2001-06-28 Christoph Berthold Anordnung zur zerstörungsfreien und berührungslosen Produktionsüberwachung der Dicke und/oder der Geometrie von Fasern in allen Bereichen der Faserproduktion mit Hilfe der Lichtstreuung
EP1643246A1 (en) * 2004-10-01 2006-04-05 Barco NV Compact filamentous material detector
JPWO2006115007A1 (ja) 2005-04-21 2008-12-18 住友電気工業株式会社 超電導線材の検査装置および検査方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4007992A (en) * 1975-06-02 1977-02-15 Techmet Company Light beam shape control in optical measuring apparatus
GB1525157A (en) * 1975-08-06 1978-09-20 Ellenberger & Poensgen Multi-pole excess current circuit breaker
FR2389099A1 (fr) * 1977-04-25 1978-11-24 Sopelem Procede optique de controle dimensionnel
JPS54146656A (en) * 1978-05-08 1979-11-16 Kobe Steel Ltd Method and device for measuring quantity of bend of rod

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CA1203597A (en) 1986-04-22
EP0093890B1 (en) 1987-07-01
JPS58207254A (ja) 1983-12-02
DE3372306D1 (en) 1987-08-06
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