KR20080074652A - Semiconductor Chip Mounting Board - Google Patents
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Abstract
반도체 칩 실장 기판이 개시되어 있다. 반도체 칩 실장 기판은 베이스 기판, 베이스 기판의 상부면에 증착되고 패터닝된 제 1금속 패턴층, 제 1금속 패턴층을 덮어 보호하는 제 1솔더 레지스트층, 베이스 기판의 하부면에 증착되고 패터닝된 제 2금속 패턴층, 제 2금속 패턴층을 덮어 보호하는 제 2솔더 레지스트층, 제 1금속 패턴층 및 제 1솔더 레지스트층을 포함한 상부면에 반도체 칩이 실장되는 칩 실장 영역이 복수개의 열과 행으로 배열되고, 몰딩 공정에서 몰딩 수지가 유입되는 방향으로 칩 실장 영역들이 일렬로 배열된 열을 선택된 개수만큼 하나로 묶어 형성한 실장 블럭들 및 상부면 중 몰딩 수지가 유입되는 쪽 가장자리에서 각각의 실장 블럭들과 대응하여 한개씩 형성되며, 실장 블럭의 폭보다 작게 형성되어 서로 이격된 몰드 게이트들을 포함한다.A semiconductor chip mounting substrate is disclosed. The semiconductor chip mounting substrate may include a base substrate, a first metal pattern layer deposited and patterned on an upper surface of the base substrate, a first solder resist layer covering and protecting the first metal pattern layer, and a material deposited and patterned on a lower surface of the base substrate. A chip mounting region in which a semiconductor chip is mounted on a top surface including a second metal pattern layer, a second solder resist layer covering and protecting the second metal pattern layer, and a first metal pattern layer and a first solder resist layer is arranged in a plurality of columns and rows. Arranged, the mounting blocks formed by tying a row of chip mounting regions in a row in the direction in which the molding resin flows in the molding process, and the respective mounting blocks at the edge of the upper surface of the molding resin flows. And formed one by one, and formed smaller than the width of the mounting block and spaced apart from each other.
Description
도 1은 본 발명의 제 1실시예에 의한 반도체 칩 실장 기판의 평면도이다.1 is a plan view of a semiconductor chip mounting substrate according to a first embodiment of the present invention.
도 2는 도 1의 A부분을 확대하여 도시한 확대도이다.FIG. 2 is an enlarged view illustrating an enlarged portion A of FIG. 1.
도 3은 도 2를 I-I´선으로 절단한 단면도이다.3 is a cross-sectional view taken along line II ′ of FIG. 2.
도 4는 본 발명의 제 2실시예에 의한 반도체 칩 실장 기판의 평면도이다. 4 is a plan view of a semiconductor chip mounting substrate according to a second embodiment of the present invention.
본 발명은 반도체 칩 실장 기판에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 실장 기판에서 몰딩 수지가 유입되는 입구인 몰드 게이트를 반도체 칩이 부착되는 유닛별로 형성하여 실장 기판이 휘어지는 것을 최소화한 반도체 칩 실장 기판에 관한 것이다.The present invention relates to a semiconductor chip mounting substrate, and more particularly, to a semiconductor chip mounting substrate in which a mold gate, which is an inlet through which a molding resin flows, is formed for each unit to which a semiconductor chip is attached, thereby minimizing bending of the mounting substrate. will be.
일반적으로 반도체 칩 실장이라 함은 웨이퍼로부터 낱개로 절단된 반도체 칩들을 외부 환경으로부터 보호하고, 다른 전자기기에 실장 가능하도록 패키징(packaging)하기 위해서 리드 프레임 및 실장 기판, 즉 인쇄회로기판 상에 낱개의 반도체 칩들을 부착하는 것을 의미한다.In general, semiconductor chip mounting refers to a piece of semiconductor chip mounted on a lead frame and a mounting substrate, that is, a printed circuit board, in order to protect the semiconductor chips cut from the wafer from the external environment and to be packaged for mounting on other electronic devices. Means attaching semiconductor chips.
최근에는 반도체 장치의 고집적화, 메모리 용량의 증가, 다기능화 및 고밀도 실장의 요구등이 가속화되고 있으며, 이들의 요구를 만족시키기 위해 BGA(Ball Grid Array)형태의 반도체 패키지가 개발되었다. 이러한, BGA 형태의 반도체 패키지(이하, BGA 반도체 패키지라 한다.)는 평판 형상의 인쇄회로기판 상에 반도체 칩을 부착하고, 인쇄회로기판의 하부면에 외부 접속 단자로 사용되는 솔더 볼(solder ball)들을 부착시킨 형태의 반도체 패키지이다. Recently, demands for high integration of semiconductor devices, increased memory capacities, multi-functions, and high-density packaging have been accelerated, and semiconductor packages in the form of ball grid array (BGA) have been developed to satisfy these requirements. The BGA type semiconductor package (hereinafter, referred to as a BGA semiconductor package) is a solder ball attached to a semiconductor chip on a flat printed circuit board and used as an external connection terminal on a lower surface of the printed circuit board. ) Is a semiconductor package attached to the form.
이와 같이 인쇄회로기판의 하부면에 외부 접속 단자를 배열하기 때문에 리드 프레임을 이용한 반도체 패키지에 비해 두께 및 크기를 줄일 수 있어 반도체 패키지의 크기가 반도체 칩의 크기와 거의 비슷하고, 많은 개수의 외부 접속 단자를 형성할 수 있다. Since the external connection terminals are arranged on the lower surface of the printed circuit board, thickness and size can be reduced compared to the semiconductor package using the lead frame, so the size of the semiconductor package is almost the same as that of the semiconductor chip, and a large number of external connections are provided. Terminals can be formed.
상술한 특성을 갖는 BGA 반도체 패키지에서 반도체 칩들이 부착되는 인쇄회로기판은 평판 형상으로, 수개 ∼ 수십개의 반도체 칩들이 평행으로 실장될 수 있는 크기를 갖는다. 인쇄회로기판은 실장되는 반도체 칩들을 지지하고, 자중 또는 실장되는 반도체 칩의 무게에 의해 휘어지는 것을 방지하기 위한 베이스 기판, 베이스 기판의 상부면과 하부면에 증착된 후 패터닝된 금속 패턴층, 각각의 금속 패턴층의 상부에 도포되어 금속 패턴층을 보호하는 솔더 레지스트층을 포함한다.In the BGA semiconductor package having the above-described characteristics, the printed circuit board to which the semiconductor chips are attached may have a flat plate shape and may have a size in which several to several dozen semiconductor chips may be mounted in parallel. The printed circuit board is a base substrate for supporting the semiconductor chips to be mounted, and to prevent bending due to its own weight or the weight of the mounted semiconductor chip, a metal pattern layer deposited on the upper and lower surfaces of the base substrate and patterned, respectively And a solder resist layer applied over the metal pattern layer to protect the metal pattern layer.
이와 같이 구성된 인쇄회로기판의 상부면에는 칩 실장 영역들이 마련되는데, 칩 실장 영역들은 복수개의 열과 행으로 배열된다. 각각의 칩 실장 영역은 다시, 반도체 칩이 부착되는 영역인 칩 부착부 및 칩 부착부의 외측 또는 칩 부착부의 내부에 배열되고 반도체 칩과 전기적으로 연결되는 본딩 패드들을 포함한다. 여기서, 본딩 패드들은 베이스 기판의 상부면에 증착된 금속 패턴층에 형성되며, 본딩 패드 들과 대응되는 부분에는 솔더 레지스트층이 오픈되어 본딩 패드들이 솔더 레지스트층의 외부로 노출된다.Chip mounting regions are provided on the upper surface of the printed circuit board configured as described above, and the chip mounting regions are arranged in a plurality of columns and rows. Each chip mounting region again includes a chip attaching portion, which is a region to which the semiconductor chip is attached, and bonding pads arranged outside the chip attaching portion or inside the chip attaching portion, and electrically connected to the semiconductor chip. Here, the bonding pads are formed on the metal pattern layer deposited on the upper surface of the base substrate, and the solder resist layer is opened at portions corresponding to the bonding pads so that the bonding pads are exposed to the outside of the solder resist layer.
그리고, 인쇄회로기판의 상부면 중 후속 공정, 즉 몰딩 공정에서 몰딩 수지가 유입되는 가장자리(이하, "몰드 유입 가장자리"라 한다.)에는 몰드 게이트가 형성된다. 몰드 게이트는 솔더 레지스트층을 오픈시켜 금속 패턴층을 외부로 노출시켜 형성한 것으로, 몰드 유입 가장자리를 따라 길게 형성된다. 따라서, 몰드 게이트의 길이는 몰드 유입 가장자리의 길이보다 약간 작게 형성된다.In addition, a mold gate is formed at an edge of the upper surface of the printed circuit board (ie, a mold inflow edge) in which a molding resin flows in a subsequent process, that is, a molding process. The mold gate is formed by opening the solder resist layer to expose the metal pattern layer to the outside, and is formed along the mold inflow edge. Thus, the length of the mold gate is formed slightly smaller than the length of the mold inlet edge.
한편, 인쇄회로기판의 하부면에는 외부 접속 단자로 사용되는 솔더 볼이 접속되는 볼 랜드들이 형성되며, 볼 랜드들과 본딩 패드들은 회로 패턴들 및 비아 홀에 의해 전기적으로 연결된다. 볼 랜드들은 베이스 기판의 하부면에 증착된 금속 패턴층에 형성되며, 볼 랜드들과 대응되는 부분에는 솔더 레지스트층이 오픈되어 볼 랜드들이 솔더 레지스트층의 외부로 노출된다.Meanwhile, ball lands to which solder balls used as external connection terminals are connected are formed on the bottom surface of the printed circuit board, and the ball lands and the bonding pads are electrically connected by circuit patterns and via holes. The ball lands are formed on the metal pattern layer deposited on the lower surface of the base substrate, and a solder resist layer is opened at a portion corresponding to the ball lands so that the ball lands are exposed to the outside of the solder resist layer.
그러나, 상술한 인쇄회로기판의 칩 부착부에 반도체 칩을 부착하고, 반도체 칩에 형성된 범프들과 본딩 패드들을 전기적으로 연결시킨 후, 반도체 칩을 보호하기 위해 반도체 칩을 포함한 인쇄회로기판을 몰딩 수지로 감싸는 몰딩 공정에서 길이가 긴 몰드 게이트로 인해 휨이 발생되는 문제점이 발생된다.However, after attaching the semiconductor chip to the chip attachment portion of the above-described printed circuit board, electrically connecting the bumps and bonding pads formed on the semiconductor chip, and molding the printed circuit board including the semiconductor chip to protect the semiconductor chip In the molding process of wrapping, a problem arises in that bending occurs due to a long mold gate.
이를 좀더 상세히 설명하면, 인쇄회로기판을 구성하는 베이스 기판, 금속 패턴층 및 솔더 레지스트층의 열팽창 계수가 서로 다르기 때문에 베이스 기판의 상부면에 형성된 금속 패턴층 및 솔더 레지스트층의 전체 면적 및 분포 비율이 베이스 기판의 하부면에 형성된 금속 패턴층 및 솔더 레지스트층의 전체 면적 및 비율과 서로 다를 경우 몰딩 공정에서 인쇄회로기판의 휨은 더욱 심해진다.In more detail, since the thermal expansion coefficients of the base substrate, the metal pattern layer and the solder resist layer constituting the printed circuit board are different from each other, the total area and distribution ratio of the metal pattern layer and the solder resist layer formed on the upper surface of the base substrate are different. If the total area and the ratio of the metal pattern layer and the solder resist layer formed on the lower surface of the base substrate are different from each other, the warpage of the printed circuit board becomes more severe in the molding process.
몰딩 공정에서 발생되는 휨을 최소화하기 위해서는 베이스 기판의 상부면에 형성된 금속 패턴층과 솔더 레지스트층의 전체 면적 및 분포 비율이 베이스 기판의 하부면에 형성된 금속 패턴층과 솔더 레지스트층의 전체 면적 및 분포 비율과 가능한 서로 비슷해야 맞추어 줘야 한다. In order to minimize warpage generated in the molding process, the total area and distribution ratio of the metal pattern layer and the solder resist layer formed on the upper surface of the base substrate are the total area and distribution ratio of the metal pattern layer and solder resist layer formed on the lower surface of the base substrate. And should be as similar as possible to each other.
그러나, 상술한 바와 같이 몰드 게이트를 몰드 유입 가장자리를 따라 길게 형성하고, 몰드 게이트가 외부로 노출되도록 솔더 레지스트층을 오픈시킬 경우 베이스 기판의 상부면과 하부면의 금속 패턴층의 전체 면적 및 분포 비율, 솔더 레지스트층의 전체 면적 및 분포 비율이 크게 차이나 상술한 바와 같이 휨이 발생되는 것이다.However, as described above, when the mold gate is formed long along the mold inflow edge and the solder resist layer is opened to expose the mold gate to the outside, the total area and distribution ratio of the metal pattern layers on the upper and lower surfaces of the base substrate. The total area and distribution ratio of the solder resist layer are greatly different, but warping occurs as described above.
본 발명은 이와 같은 종래 문제점을 감안한 것으로서, 본 발명의 목적은 베이스 기판의 상부면에 형성된 금속 패턴층의 분포 비율 및 솔더 레지스트층의 비율을 베이스 기판의 하부면에 형성된 금속 패턴층의 분포 비율 및 솔더 레지스트층의 비율을 거의 동일하게 맞춰 휨 발생을 최소화한 반도체 칩 실장 기판을 제공함에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such a conventional problem, and an object of the present invention is to determine the distribution ratio of the metal pattern layer formed on the upper surface of the base substrate and the ratio of the solder resist layer, The present invention provides a semiconductor chip mounting substrate which minimizes warpage by matching the solder resist layer to about the same ratio.
이와 같은 본 발명의 목적을 구현하기 위한 반도체 칩 실장 기판은 베이스 기판, 상기 베이스 기판의 상부면에 증착되고 패터닝된 제 1금속 패턴층, 상기 제 1금속 패턴층을 덮어 보호하는 제 1솔더 레지스트층, 상기 베이스 기판의 하부면에 증착되고 패터닝된 제 2금속 패턴층, 상기 제 2금속 패턴층을 덮어 보호하는 제 2솔더 레지스트층, 상기 제 1금속 패턴층 및 상기 제 1솔더 레지스트층을 포함한 상부면에 반도체 칩이 실장되는 칩 실장 영역이 복수개의 열과 행으로 배열되고, 몰딩 공정에서 몰딩 수지가 유입되는 방향으로 상기 칩 실장 영역들이 일렬로 배열된 열을 선택된 개수만큼 하나로 묶어 형성한 실장 블럭들 및 상기 상부면 중 몰딩 수지가 유입되는 쪽 가장자리에서 각각의 상기 실장 블럭들과 대응하여 한개씩 형성되며, 상기 실장 블럭의 폭보다 작게 형성되어 서로 이격된 몰드 게이트들을 포함한다.The semiconductor chip mounting substrate for implementing the object of the present invention is a base substrate, a first metal pattern layer deposited and patterned on the upper surface of the base substrate, a first solder resist layer covering and protecting the first metal pattern layer A second metal pattern layer deposited and patterned on a lower surface of the base substrate, a second solder resist layer covering and protecting the second metal pattern layer, an upper portion including the first metal pattern layer and the first solder resist layer Chip mounting regions in which semiconductor chips are mounted on a surface are arranged in a plurality of columns and rows, and mounting blocks are formed by grouping a plurality of rows in which the chip mounting regions are arranged in a row in a direction in which a molding resin flows in a molding process. And one formed at the edge of the upper surface of the upper surface to correspond to each of the mounting blocks. It is formed smaller than the width includes a mold gate spaced apart from each other.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들에 따른 반도체 칩 실장 기판에 대하여 상세하게 설명한다. Hereinafter, a semiconductor chip mounting substrate according to exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
반도체 칩 실장 기판Semiconductor Chip Mounting Board
실시예Example 1 One
도 1은 본 발명의 제 1실시예에 의한 반도체 칩 실장 기판의 평면도이고, 도 2는 도 1의 A부분을 확대하여 도시한 확대도이며, 도 3은 도 2를 I-I´선으로 절단한 단면도이다. 1 is a plan view of a semiconductor chip mounting substrate according to a first exemplary embodiment of the present invention, FIG. 2 is an enlarged view of an enlarged portion A of FIG. 1, and FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line II ′ of FIG. 2. to be.
도 1을 참조하면, 본 발명에 의한 반도체 칩 실장 기판(100)은 상부면에 반도체 칩(도시 안됨)이 부착되고, 부착된 반도체 칩과 전기적으로 연결되는 평판 형상의 인쇄회로기판으로, 수개 ∼ 수십개의 반도체 칩들이 평행으로 실장될 수 있는 크기를 갖는다. 이하, 본 실시예에서 반도체 칩 실장 기판을 인쇄회로기판이라 한 다.Referring to FIG. 1, a semiconductor
따라서, 인쇄회로기판(100)을 평면상에서 보았을 때 인쇄회로기판(100)의 상부면에는 도 1에 점선으로 도시된 바와 같이 칩 실장 영역(110)들이 복수개의 열과 행으로 배열된다.Therefore, when the printed
도 2를 참조하면, 각각의 칩 실장 영역(110)의 중앙에는 반도체 칩이 부착되는 영역인 칩 부착부(112)가 마련되고, 칩 부착부(112)의 가장자리와 이격되어 칩 부착부(112)의 외측에는 도전성 와이어에 의해 반도체 칩의 범프들과 전기적으로 연결되는 본딩 패드(122)들이 배열된다.Referring to FIG. 2, a
도시되지는 않았지만, 반도체 칩의 범프들과 본딩 패드들을 직접적으로 연결하는 플립칩 본딩 방식에 의해 반도체 칩을 칩 실장 영역에 실장할 경우 본딩 패드들은 칩 부착부의 내부에 배열되며, 각각의 본딩 패드들은 범프들과 대응하여 위치한다.Although not shown, when the semiconductor chip is mounted in the chip mounting region by a flip chip bonding method directly connecting the bumps and the bonding pads of the semiconductor chip, the bonding pads are arranged inside the chip attaching portion, It is located in correspondence with the bumps.
또한, 도 1에 도시된 바와 같이 인쇄회로기판(100)의 상부면 가장자리들 중 몰딩 공정에서 몰딩 수지가 유입되는 쪽 가장자리(이하, 몰드 유입 가장자리라 한다.)에는 인쇄회로기판(100)의 상부면으로 몰딩 수지가 원활하게 공급될 수 있도록 몰드 게이트(124)들이 형성된다.In addition, as shown in FIG. 1, the upper side of the printed
본 실시예에 의한 몰드 게이트(124)들은 몰딩 수지가 유입되는 방향으로 칩 실장 영역(110)들이 일렬로 배열된 각각의 열(110a)에 한개씩 형성되며, 각 몰드 게이트(124)의 길이는 칩 실장 영역(110)의 폭보다 작게 형성되어 각각의 몰드 게이트(124)들은 서로 인접한 몰드 게이트(124)와 이격된다.The
한편, 인쇄회로기판(100)의 하부면에는 각각의 칩 실장 영역(110)과 대응하여 볼 랜드(142)들이 배열되는데, 각각의 볼 랜드(142)에는 반도체 패키지 제조 공정에서 외부 접속 단자로 사용되는 솔더 볼들이 부착된다. 볼 랜드(142)들은 연결 배선 및 비아홀에 의해 인쇄회로기판(100)의 상부에 형성된 본딩 패드(122)들과 전기적으로 연결된다.Meanwhile,
도 3에 도시된 바와 같이 인쇄회로기판(100)을 절단하여 단면으로 보았을 때 인쇄회로기판(100)은 베이스 기판(102), 제 1금속 패턴층(120), 제 1솔더 레지스트층(130), 제 2금속 패턴층(140) 및 제 2솔더 레지스트층(150)을 포함한다.As shown in FIG. 3, when the
베이스 기판(102)은 인쇄회로기판(100)의 크기 및 형상과 동일한 평판으로, 인쇄회로기판(100)의 중심이 되며, 인쇄회로기판(100)의 상부면에 실장되는 반도체 칩들을 지지하고, 인쇄회로기판(100)의 자중 또는 실장되는 반도체 칩의 무게에 의해 인쇄회로기판(100)이 휘어지는 것을 방지한다.The
제 1금속 패턴층(120)과 제 1솔더 레지스트층(130)은 베이스 기판(102)의 상부에 차례대로 형성된다. 제 1금속 패턴층(120)은 베이스 기판(100)의 상부면 전체를 덮는 금속층을 층착하고, 증착된 금속층을 패터닝하여 형성한 것으로, 제 1금속 패턴층(120)은 본딩 패드(122)들과 연결 배선들 및 몰드 게이트(124)들을 포함한다.The first
제 1솔더 레지스트층(130)은 제 1금속 패턴층(120) 중 본딩 패드(122)들, 몰드 게이트(124)들을 제외한 나머지 제 1금속 패턴층(120)을 덮어 보호한다.The first
제 2금속 패턴층(140)과 제 2솔더 레지스트층(150)은 베이스 기판(102)의 하 부에 차례대로 형성된다. 제 2금속 패턴층(140)은 베이스 기판(102)의 하부면 전체를 덮는 금속층을 증착하고, 증착된 금속층을 패터닝하여 형성한 것으로, 제 2금속 패턴층(140)은 볼 랜드(142)들 및 연결 배선들을 포함한다.The second
본 실시예에서와 같이 몰딩 수지가 유입되는 방향으로 칩 실장 영역(110)들이 일렬로 배열된 각각의 열(110a)에 대응하여 몰드 게이트(124)를 한개씩 형성하고, 각각의 몰드 게이트(124)의 길이를 칩 실장 영역(110)의 폭보다 작게 형성하면, 전체 몰드 게이트(124)의 면적을 줄일 수 있다. 이와 같이 몰드 게이트(124)의 면적이 줄어들면, 베이스 기판(102)의 상부에 배치된 제 1금속 패턴층(120) 및 제 1솔더 레지스트층(130)의 전제 면적 및 분포 비율을 베이스 기판(102)의 하부에 배치된 제 2금속 패턴층(140) 및 제 2솔더 레지스트층(150)의 전체 면적 및 분포 비율을 거의 비슷하게 맞출 수 있다. 따라서, 몰딩 공정과 같이 열이 가해지는 공정에서 인쇄회로기판(100)의 휨을 최소화할 수 있다.As in the present embodiment, the
실시예Example 2 2
도 4는 본 발명의 제 2실시예에 의한 반도체 칩 실장 기판의 평면도이다. 4 is a plan view of a semiconductor chip mounting substrate according to a second embodiment of the present invention.
본 발명의 제 2실시예에 의한 반도체 칩 실장 기판은 몰드 게이트를 제외하면 앞에서 설명한 실시예 1의 반도체 칩 실장 기판과 실질적으로 동일한 구조 및 구성을 갖는다. 따라서, 동일한 구성 요소에 대해서는 동일한 참조부호 및 명칭을 부여하기로 하고, 실시예 1과 다른 몰드 게이트에 대해서만 설명하기로 한다.The semiconductor chip mounting substrate according to the second embodiment of the present invention has a structure and structure substantially the same as those of the semiconductor chip mounting substrate of the first embodiment described above except for the mold gate. Therefore, the same reference numerals and names are assigned to the same components, and only the mold gates different from those of the first embodiment will be described.
실시예 1에서는 몰드 유입 가장자리에서 몰딩 수지가 유입되는 방향으로 칩 실장 영역(110)들이 일렬로 배열된 각각의 열(110a)에 대응하여 몰드 게이트(124)를 형성하였지만, 실시예에서는 칩 실장 영역(110)들의 열(110a)을 적어도 2개이상 묶은 실장 블럭(110b)에 대응하여 한개씩 형성한다. 도 4를 참조하면, 본 실시예에서는 칩 실장 영역(110)들의 열(110a) 4개를 하나로 묶어 실장 블럭(110b)을 형성하였다. In the first embodiment, the
본 실시예에 의한 각 몰드 게이트(120)의 길이는 실장 블럭(110b)의 폭보다 작게 형성되어 각각의 몰드 게이트(124)들은 서로 인접한 몰드 게이트(124)와 이격된다.The length of each
본 실시예에서와 같이 각 실장 블럭(110b)에 대응하여 몰드 게이트(124)를 한개씩 형성하고, 각각의 몰드 게이트(124)의 길이를 실장 블럭(110b)의 폭보다 작게 형성하면, 실시예 1에서와 같이 전체 몰드 게이트(124)의 면적을 줄일 수 있다. As in the present embodiment, when one
이상, 본 발명은 특정 실시예에 관련하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명이 그에 한정되는 것은 아니며, 이하의 특허청구의 범위는 본 발명의 정신과 분야를 이탈하지 않는 한도 내에서 본 발명이 다양하게 개조 및 변형될 수 있다는 것을 당업계에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 알 수 있다. Although the present invention has been shown and described with reference to specific embodiments, the present invention is not limited thereto, and the following claims are not limited to the scope of the present invention without departing from the spirit and scope of the present invention. And one of ordinary skill in the art that the present invention can be modified.
이상에서 상세하게 설명한 바와 같이 몰드 게이트를 칩 실장 영역들의 열과 대응하여 한개씩 형성하거나, 칩 실장 영역들의 열을 2개이상 묶은 실장 블럭들과 대응하여 한개씩 형성하여 몰드 게이트를 여러 개로 분리하면, 베이스 기판을 중심으로 베이스 기판의 상부면과 하부면에 배치된 금속 패턴층 및 솔더 레지스트층의 면적과 분포 비율을 거의 비슷하여 인쇄회로기판의 휨을 최소화할 수 있는 효과가 있다.As described in detail above, if the mold gates are formed one by one in correspondence with the rows of the chip mounting regions, or one mold gate is formed in correspondence with two or more mounting blocks in which two or more rows of the chip mounting regions are formed, the mold gates are separated into a plurality of base substrates. The area and distribution ratio of the metal pattern layer and the solder resist layer disposed on the upper and lower surfaces of the base substrate are approximately the same, thereby minimizing the warpage of the printed circuit board.
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2007
- 2007-02-09 KR KR1020070014046A patent/KR20080074652A/en not_active Withdrawn
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