KR20080054596A - Inspection device and method of flat panel display - Google Patents
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Abstract
본 발명의 일 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 장치는 얼룩이 발생한 색필터가 형성되어 있는 기판과 소정 간격 이격되어 상기 기판 아래에 배치되어 있는 조사 장치, 상기 기판과 소정 간격 이격되어 상기 기판 위에 배치되어 있으며, 상기 색필터에 발생한 얼룩 및 그 주변의 복수개의 지점을 촬상하는 촬상 장치, 상기 촬상 장치에 연결되며, 상기 촬상 장치로부터 수신된 색필터 영상의 촬상 지점에서의 색좌표의 변화량을 이용하여 색필터의 불량 여부를 판정하는 영상 처리 장치를 포함하는 것이 바람직하다. 따라서, 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 장치 및 검사 방법은 복수개의 지점에서의 색좌표의 변화량 및 색필터의 폭의 변화량을 측정함으로써, 색필터의 불량 여부를 신속하고 정확하게 판단할 수 있으므로, 제조 공정 시간을 줄이고, 제품의 수율을 향상시킬 수 있다.An inspection apparatus of a flat panel display device according to an embodiment of the present invention is disposed on the substrate spaced apart from the substrate spaced apart from the substrate on which the spot color filter is formed and spaced apart from the substrate. An image pickup device for picking up spots generated in the color filter and a plurality of points around the color filter; and an image pickup device connected to the image pickup device, and using a change amount of color coordinates at an image pickup point of a color filter image received from the image pickup device. It is preferable to include an image processing device for determining whether or not the filter is defective. Accordingly, the inspection apparatus and the inspection method of the flat panel display device according to an embodiment of the present invention can determine whether the color filter is defective quickly and accurately by measuring the amount of change in the color coordinates and the amount of change in the width of the color filter at a plurality of points. Therefore, the manufacturing process time can be shortened and the yield of the product can be improved.
Description
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 장치를 도시한 도면이다.1 is a diagram illustrating an inspection apparatus of a flat panel display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 2는 도 1에 도시된 얼룩이 발생한 색필터 표시판의 평면도이다.FIG. 2 is a plan view of a color filter display panel in which spots shown in FIG. 1 are generated.
도 3은 도 2의 색필터 표시판을 III-III를 따라 잘라 도시한 단면도와 도 1의 평판 표시 장치의 검사 장치를 이용하여 돌기에 의해 발생한 얼룩을 촬상하는 상태를 도시한 도면이다.3 is a cross-sectional view illustrating the color filter display panel of FIG. 2 taken along line III-III, and a state of photographing an unevenness generated by projections using the inspection apparatus of the flat panel display device of FIG. 1.
도 4는 도 1에 도시된 색필터 표시판에서 얼룩과 그 주변 영역을 확대 도시한 도면이다.FIG. 4 is an enlarged view illustrating spots and surrounding areas of the color filter display panel of FIG. 1.
도 5는 공정 오차 등에 의해 색필터의 폭이 변화되어 얼룩을 발생하는 상태를 도시한 도면이다. 5 is a diagram illustrating a state in which a width of a color filter is changed due to a process error or the like to cause spots.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 방법을 순서대로 도시한 도면이다.6 is a diagram illustrating an inspection method of a flat panel display device according to an exemplary embodiment of the present invention in order.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
10: 조사 장치 20: 촬상 장치 10: irradiation device 20: imaging device
30: 이송 장치 40: 영상 처리 장치 30: transfer device 40: image processing device
본 발명은 평판 표시 장치의 검사 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection apparatus and method for a flat panel display.
액정 표시 장치(liquid crystal display, LCD), 유기 발광 표시 장치(organic light emitting diode display, OLED display)등과 같은 평판 표시 장치(flat panel display, FPD) 등의 제조 과정 중 또는 제조 완료 후에는 검사 공정을 진행하여 양품과 불량품을 선별하게 된다.During or after completion of the manufacturing process of flat panel displays (FPDs) such as liquid crystal displays (LCDs), organic light emitting diode displays (OLED displays), etc. Proceed to screen the good and defective products.
평판 표시 장치의 색필터 표시판의 검사 장치는 얼룩을 검출하는 얼룩 검출 장치 및 얼룩의 불량 여부를 판정하는 불량 판정 장치로 이루어진다. 얼룩 검출 장치는 색필터 표시판을 잡고 움직일 수 있는 로봇과 얼룩을 관찰할 수 있는 조명으로 이루어지며, 불량 판정 장치는 색필터 표시판을 이송시킬 수 있는 스테이지와 분광 측정을 할 수 있는 카메라 및 조명으로 이루어진다. 검사자가 얼룩 검출 장치의 로봇을 조정하여 색필터 표시판을 움직이고 이를 고정된 조명 아래에서 육안으로 검사하여 얼룩을 검출한다. 그리고, 검사자는 불량 판정 장치를 이용하여 검출된 얼룩의 특성을 파악하여 얼룩의 불량 여부를 판정한다. The inspection apparatus of the color filter display plate of the flat panel display device is composed of a spot detection device for detecting spots and a defect determination device for determining whether a spot is defective. The spot detection device consists of a robot that can hold and move the color filter display plate, and an illumination that can observe the spot, and the defect determination device is composed of a stage for transferring the color filter display plate, a camera for illumination and spectroscopic measurement. . The inspector adjusts the robot of the spot detection device to move the color filter display panel and visually inspects it under a fixed light to detect spots. Then, the inspector grasps the characteristic of the detected spot using the defect determining apparatus and determines whether the spot is defective.
이 경우, 얼룩 검출 방법은 검사자의 조작에 의해 수동으로 이루어지므로, 검사자에 대한 의존도가 너무 높다. 이로 인해, 검사 시간이 지연되고, 검사 신뢰도가 저하된다. 또한, 불량 판정 장치에서 분광 측정 방법은 정형화되어 있지 않으며, 불량 판정 기준이 모호하다. 그리고, 얼룩 검출 장치와 불량 판정 장치는 분리되어 있으므로 검출 및 판정에 과도한 시간이 요구되어 생산성이 저하된다. In this case, since the stain detection method is performed manually by the inspector's operation, the dependence on the inspector is too high. For this reason, test time is delayed and test reliability falls. In addition, the spectroscopic measurement method in a failure determination apparatus is not standardized, and the failure determination criteria are ambiguous. And since the spot detection apparatus and the defect determination apparatus are separated, excessive time is required for detection and determination, and productivity falls.
본 발명의 기술적 과제는 자동으로 색필터 표시판의 얼룩의 불량 여부를 판정할 수 있는 평판 표시 장치의 검사 장치 및 방법을 제공하는 것이다. It is an object of the present invention to provide an inspection apparatus and method for a flat panel display device that can automatically determine whether or not a defect of a color filter display plate is defective.
본 발명의 일 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 장치는 얼룩이 발생한 색필터가 형성되어 있는 기판과 소정 간격 이격되어 상기 기판 아래에 배치되어 있는 조사 장치, 상기 기판과 소정 간격 이격되어 상기 기판 위에 배치되어 있으며, 상기 색필터에 발생한 얼룩 및 그 주변의 복수개의 지점을 촬상하는 촬상 장치, 상기 촬상 장치에 연결되며, 상기 촬상 장치로부터 수신된 색필터 영상의 촬상 지점에서의 색좌표의 변화량을 이용하여 색필터의 불량 여부를 판정하는 영상 처리 장치를 포함하는 것이 바람직하다.An inspection apparatus of a flat panel display device according to an embodiment of the present invention is disposed on the substrate spaced apart from the substrate spaced apart from the substrate on which the spot color filter is formed and spaced apart from the substrate. An image pickup device for picking up spots generated in the color filter and a plurality of points around the color filter; and an image pickup device connected to the image pickup device, and using a change amount of color coordinates at an image pickup point of a color filter image received from the image pickup device. It is preferable to include an image processing device for determining whether or not the filter is defective.
또한, 상기 영상 처리 장치는 상기 촬상 지점에서의 상기 색필터의 폭의 변화량을 이용하여 상기 색필터의 불량 여부를 더 판정하는 것이 바람직하다.The image processing apparatus may further determine whether the color filter is defective by using an amount of change in the width of the color filter at the imaging point.
또한, 상기 조사 장치와 상기 기판 사이에는 확산기가 배치되어 있는 것이 바람직하다.Moreover, it is preferable that the diffuser is arrange | positioned between the said irradiation apparatus and the said board | substrate.
또한, 상기 촬상 지점에서의 상기 색좌표의 변화량은 상기 색필터의 얼룩에서의 높이 차이에 의해 발생하는 것이 바람직하다. In addition, it is preferable that the amount of change of the color coordinate at the imaging point is caused by the height difference in the unevenness of the color filter.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 방법은 얼룩이 색필터에 발생하였는 지 여부를 확인하는 단계, 상기 색필터에 발생한 얼룩 및 그 주 변 영역의 복수개의 지점을 촬상하는 단계, 상기 복수개의 지점에서의 색좌표의 변화량을 측정하는 단계, 상기 색좌표의 변화량이 색좌표 기준 변화량보다 큰 경우에는 상기 색필터를 불량으로 판정하는 단계를 포함하는 것이 바람직하다.In addition, the inspection method of the flat panel display device according to an embodiment of the present invention comprises the steps of confirming whether or not a stain occurs in the color filter, photographing the spots generated in the color filter and a plurality of points of the surrounding area, It is preferable to include the step of measuring the change amount of the color coordinates at the plurality of points, the step of determining the color filter as defective when the change amount of the color coordinate is larger than the color coordinate reference change amount.
또한, 상기 복수개의 지점에서의 색필터의 폭의 변화량을 측정하는 단계, 상기 색필터의 폭의 변화량이 폭 기준 변화량보다 큰 경우에도 색필터를 불량으로 판정하는 단계를 더 포함하는 것이 바람직하다. The method may further include measuring a change amount of the width of the color filter at the plurality of points, and determining the color filter as defective even when the change amount of the width of the color filter is larger than the change of the width reference.
그러면, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 실시예에 대하여 첨부한 도면을 참고로 하여 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.Then, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art can easily implement the present invention. As those skilled in the art would realize, the described embodiments may be modified in various different ways, all without departing from the spirit or scope of the present invention.
이제 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 장치에 대하여 도면을 참고로 하여 상세하게 설명한다.An inspection apparatus of a flat panel display device according to an exemplary embodiment of the present invention will now be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 장치를 도시한 도면이고, 도 2는 도 1에 도시된 얼룩이 발생한 색필터 표시판의 평면도이고, 도 3은 도 2의 색필터 표시판을 III-III를 따라 잘라 도시한 단면도와 도 1의 평판 표시 장치의 검사 장치를 이용하여 돌기에 의해 발생한 얼룩을 촬상하는 상태를 도시한 도면이고, 도 4는 도 1에 도시된 색필터 표시판에서 얼룩과 그 주변 영역을 확대 도시한 도면이고, 도 5는 공정 오차 등에 의해 색필터의 폭이 변화되어 얼룩을 발생하는 상태를 도시한 도면이다. 1 is a diagram illustrating an inspection apparatus of a flat panel display device according to an exemplary embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view of a color filter display panel in which unevenness is shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a view of the color filter display panel of FIG. 2. A cross-sectional view taken along the line III-III and a state of photographing the spots generated by the projections using the inspection apparatus of the flat panel display device of FIG. 1, and FIG. 4 is a spots of the color filter display panel shown in FIG. And an enlarged view of a peripheral area thereof, and FIG. 5 is a diagram illustrating a state in which a width of the color filter changes due to a process error or the like to cause unevenness.
도 1 내지 도 4에 도시한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 장치는 얼룩(AA)이 발생한 색필터(230)가 형성된 기판(210) 즉, 색필터 표시판(200)과 소정 간격 이격되어 기판(210) 아래에 배치되어 있는 조사 장치(10), 기판(200)과 소정 간격 이격되어 기판(210) 위에 배치되어 있는 촬상 장치(Charge-Coupled Device, CCD)(20), 촬상 장치(20)에 연결된 영상 처리 장치(40), 그리고 기판(100)을 탑재하여 이송시키는 이송 장치(30)를 포함한다.1 to 4, the inspection apparatus for a flat panel display according to an exemplary embodiment of the present invention may include a
색필터 표시판(200)은 절연 기판(210), 블랙 매트릭스(220), 색필터(230), 오버 코트막(250) 및 공통 전극(270)을 포함한다. 절연 기판(210)은 투명한 재질로 이루어지고, 화상을 표시하는 다수의 화소 영역(PX)으로 구획된다. 블랙 매트릭스(220)는 매트릭스 형태로 형성되어 화소 영역을 구분하며 빛이 누설되는 것을 방지한다. 색필터(230)는 블랙 매트릭스(220)의 일부와 중첩되어 블랙 매트릭스(220) 사이에 화상을 표시한다. 오버 코트막(250)은 블랙 매트릭스(220) 및 색필터(230)를 보호하기 위해 블랙 매트릭스(220) 및 색필터(230)를 덮고 있으며, 색필터 표시판(200)을 평탄화시킨다. 공통 전극(270)은 오버 코트막(250) 위에 형성되어 박막 트랜지스터 표시판의 화소 전극(도시하지 않음)과 함께 전계를 형성한다. The
도 3 및 도 4에 도시한 바와 같이, 색필터(230)의 일부는 색필터(230) 형성 시 잔존한 이물질 등에 의해 돌출되어 돌기(230a)를 가질 수 있다. 이러한 돌기(230a)에 의해 돌기(230a)의 주변 영역(OA)과 색이 다르게 보이는 소정 영역인 얼룩(AA)이 발생하게 된다. 또한, 도 5에 도시한 바와 같이, 공정 오차에 의해 색필터(230)의 폭이 L1에서 L2로 변화한 영역에도 얼룩(AA)이 발생하게 된다. 이러 한 얼룩(AA)이 색필터(230)에 발생하였는 지 여부는 얼룩 검출 장치(도시하지 않음)를 이용하여 확인한다.As shown in FIG. 3 and FIG. 4, a part of the
조사 장치(10)는 색필터 표시판(200)에 빛을 조사하는 장치이고, 촬상 장치(20)는 색필터(230)를 통과한 빛이 입사되어 전기로 변환하여 영상을 생성하는 장치이다. 촬상 장치(20)는 색필터(230)에 발생한 얼룩(AA) 및 그 주변 영역(OA)의 복수개의 지점(P)을 촬상한다. The
영상 처리 장치(40)는 색좌표 프로그램을 이용하여 복수개의 지점(P)에서의 색좌표의 변화량을 측정하거나 색필터(230)의 폭의 변화량을 측정하여 색필터(230)의 불량 여부를 판정한다. The
돌기(230a)에 의한 색필터(230)의 미세한 높이 차이는 조사 장치(10)로부터 조사된 빛의 투과량을 다르게 하여 색좌표의 차이를 발생시킨다. 구체적으로, 조사 장치(10)로부터 출사된 빛(L)은 색필터 표시판(200)을 투과하여 외부로 출사된다. 색필터 표시판(200)에서 빛(L)의 투과율은 색필터 표시판(200)의 두께가 두꺼울수록 저하된다. 특히, 돌기(230a)가 형성된 돌기 영역(AA)은 다른 영역(OA)보다 두께가 두껍기 때문에, 돌기 영역(AA)의 빛 투과율이 다른 영역보다 저하되어 돌기 영역(AA)의 휘도가 감소한다. 이에 따라, 촬상 장치(20)에서 생성된 영상에서 돌기 영역(AA)은 돌기 영역(AA)을 둘러싼 주변 영역(OA)보다 어둡게 표시된다. 따라서, 촬상 장치(20)에서 생성된 영상에서 돌기 영역(AA)의 색과 주변 영역(OA)의 색이 다르게 표시되므로, 돌기 영역(AA)에 대응하는 색좌표 값과 주변 영역(OA)에 대응하는 색좌표 값이 서로 다르게 된다. The minute height difference of the
따라서, 색좌표의 변화량이 큰 경우에는 색필터(230)를 불량으로 판정하며, 색필터(230)의 폭의 변화량이 큰 경우에도 색필터(230)를 불량으로 판정한다. Therefore, when the change amount of the color coordinate is large, the
촬상 장치(20)와 색필터 표시판(200) 사이에는 확산기(50)를 설치하여 촬상 장치(20)에서 나온 빛이 균일하게 색필터(230)를 통과하게 하여 보다 정확하게 얼룩의 불량 여부를 판정하게 한다.A diffuser 50 is provided between the
이하에서 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 장치를 이용하여 색필터에 발생한 얼룩의 불량 여부를 판정하는 방법에 대하여 도면을 참조하여 이하에서 상세히 설명한다.Hereinafter, a method of determining whether or not a defect occurs in a color filter by using an inspection apparatus of a flat panel display device according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 방법을 순서대로 도시한 도면이다.6 is a diagram illustrating an inspection method of a flat panel display device according to an exemplary embodiment of the present invention in order.
도 6에 도시한 바와 같이, 우선, 얼룩 검출 장치(도시하지 않음)를 이용하여 얼룩(AA)이 색필터(230)에 발생하였는 지 여부를 확인한다(S110).As shown in FIG. 6, first, it is checked whether a spot AA has occurred in the
다음으로, 색필터(230)에 발생한 얼룩(AA) 및 그 주변 영역(OA)의 복수개의 지점(P)을 촬상한다(S120). Next, the spot AA generated in the
다음으로, 복수개의 지점(P)에서의 색좌표의 변화량을 측정하거나 색필터(230)의 폭의 변화량을 측정한다(S130).Next, the amount of change in the color coordinates at the plurality of points P is measured or the amount of change in the width of the
다음으로, 색좌표의 변화량이 색좌표 기준 변화량보다 큰 경우에는 색필터(230)를 불량으로 판정하며, 색필터(230)의 폭의 변화량이 폭 기준 변화량보다 큰 경우에도 색필터(230)를 불량으로 판정한다(S140). 색좌표의 기준 변화량이나 폭 기준 변화량은 영상 처리 장치에 이미 설정되어 있거나, 얼룩 검출 장치로 색필 터(230)를 촬상 시 측정한다. Next, when the amount of change in the color coordinates is greater than the reference amount of change in the color coordinates, the
따라서, 색필터의 불량 여부를 명확한 기준 하에 신속하고 정확하게 판단할 수 있으므로, 제조 공정 시간을 줄이고, 제품의 수율을 향상시킬 수 있다.Therefore, it is possible to quickly and accurately determine whether the color filter is defective under a clear standard, thereby reducing the manufacturing process time and improving the yield of the product.
또한, 색필터의 불량 여부는 영상 처리 장치에서 자동으로 이루어지므로, 검사자의 조작을 최소화할 수 있고, 검사 신뢰도를 향상시킬 수 있다.In addition, whether or not the color filter is defective is automatically performed by the image processing apparatus, thereby minimizing an operator's manipulation and improving inspection reliability.
본 발명의 일 실시예에 따른 평판 표시 장치의 검사 장치 및 방법은 복수개의 지점에서의 색좌표의 변화량 및 색필터의 폭의 변화량을 측정함으로써, 색필터의 불량 여부를 신속하고 정확하게 판단할 수 있으므로, 제조 공정 시간을 줄이고, 제품의 수율을 향상시킬 수 있다.In the inspection apparatus and method of the flat panel display device according to an embodiment of the present invention, by measuring the amount of change in the color coordinates and the change in the width of the color filter at a plurality of points, it is possible to quickly and accurately determine whether the color filter is defective, It can reduce manufacturing process time and improve product yield.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만, 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 권리 범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다. Although the preferred embodiments of the present invention have been described in detail above, those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom. Accordingly, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and improvements of those skilled in the art using the basic concept of the present invention as defined in the following claims also fall within the scope of the present invention.
Claims (6)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020060127045A KR20080054596A (en) | 2006-12-13 | 2006-12-13 | Inspection device and method of flat panel display |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020060127045A KR20080054596A (en) | 2006-12-13 | 2006-12-13 | Inspection device and method of flat panel display |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20080054596A true KR20080054596A (en) | 2008-06-18 |
Family
ID=39801524
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020060127045A Withdrawn KR20080054596A (en) | 2006-12-13 | 2006-12-13 | Inspection device and method of flat panel display |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20080054596A (en) |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20061213 |
|
| PG1501 | Laying open of application | ||
| PC1203 | Withdrawal of no request for examination | ||
| WITN | Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid |