KR20040083809A - The Driving Circuit of Pseudo SRAM - Google Patents
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Abstract
본 발명은 슈도우 에스램의 구동회로를 개시한다. 특히, 외부전압및 코어전압을 비교하여 하이(high) 신호및 로우(low)신호를 선택적으로 출력하여 스위칭부를 제어하는 비교기; 상기 비교기에서 출력된 제어신호에 따라 스위칭을 개폐하여 내부승압전압및 코어전압을 출력하는 스위칭부; 및 상기 스위칭부에 연결되어 제 1구동전압및 제 2구동전압에 따라 구동되는 구동부를 구비하며, 상기 회로를 통해 전원전압이 동작전압이하로 낮아질 경우, 충분한 전압을 공급함으로써 데이터를 유지하기 위한 목적이 있다.The present invention discloses a drive circuit for a pseudo esram. In particular, a comparator for comparing the external voltage and the core voltage to selectively output a high signal and a low signal to control the switching unit; A switching unit which opens and closes switching according to the control signal output from the comparator and outputs an internal boost voltage and a core voltage; And a driving unit connected to the switching unit and driven according to a first driving voltage and a second driving voltage, wherein a supply voltage is sufficient to maintain data when the power supply voltage is lowered below the operating voltage through the circuit. There is this.
Description
본 발명은 슈도우 에스램의 구동회로에 관한 것으로서, 특히 코어전압이 외부전압이하일 때 부족한 전압을 보강함으로써 데이터를 보존하는 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a drive circuit of a pseudo-sRAM, and more particularly, to a method of preserving data by reinforcing an insufficient voltage when the core voltage is below an external voltage.
현재 반도체 메모리 장치의 에스램의 빠른 동작속도와 낮은 소모전력에 디램의 작은 면적을 보완한 슈도우 에스램(Pseudo SRAM)이 개발되고 있다.Currently, Pseudo SRAM is being developed to supplement the small area of DRAM with fast operation speed and low power consumption of SRAM of semiconductor memory devices.
도 1은 슈도우 에스램의 등가회로에 차지된 전압을 간단히 설명하기 위한 회로도이다.1 is a circuit diagram for briefly explaining a voltage occupied by an equivalent circuit of a pseudo-sram.
도시된 바와 같이, 도 1의 등가회로(100,110)는 하나의 스위치가 비트라인 커패시터와 셀 커패시터를 온(110)/오프(100) 하였을 경우를 나타내고, 아래의 도면(120)은 온/오프에 따른 등가회로의 차징전압(Charging Voltage)을 나타낸다.As shown in FIG. 1, the equivalent circuits 100 and 110 of FIG. 1 show a case where one switch is turned on (110) / off (100) a bit line capacitor and a cell capacitor, and the diagram 120 below shows ON / OFF. Represents the charging voltage of the equivalent circuit.
즉, 오프 상태(100)일 경우, 비트라인에는 코어전압의 2/1이 프리차징(VBL)된다. 이때 스위치가 온 상태(110)가 되면, 데이터 신호에 따라 비트라인(BL)과 셀(cell)간에 전압이 차지 쉐어링(Charge sharging)(V)된다.That is, in the off state 100, 2/1 of the core voltage is precharged V BL in the bit line. At this time, when the switch is turned on (110), the voltage is charged between the bit line (BL) and the cell (Charge sharging) (V) in accordance with the data signal.
예를 들어, 상기 등가회로의 스위치가 온(110) 상태일 때, 단위 메모리셀에 1이라는 데이터 신호가 저장되어 있을 경우, 비트라인과 비트바라인에는 프리 차징(VBL)상태에서 Vs1의 전압이 인가되고 이를 센스 앰프에 전달하면 상기 센스앰프는 1이라는 데이터 신호를 인식하게 된다. 반대로, 0의 데이타 신호는 Vs2전압이 상기 비트라인과 비트바 라인에 인가된다. 여기서 참조부호 Vcore는 메모리의 기억소에 공급되는 전압으로 코어 전압을 나타내며, Cs는 셀 커패시턴스를, CBL은 비트라인의 커패시턴스를 나타낸다.For example, when the switch of the equivalent circuit is in the on state 110, when the data signal of 1 is stored in the unit memory cell, the voltage of Vs1 in the precharging (V BL ) state in the bit line and the bit bar line. When this is applied and transferred to the sense amplifier, the sense amplifier recognizes a data signal of 1. In contrast, a data signal of zero has a Vs2 voltage applied to the bit line and the bit bar line. Here, reference numeral Vcore denotes a core voltage as a voltage supplied to a memory of a memory, Cs denotes a cell capacitance, and CBL denotes a capacitance of a bit line.
상기 슈도우 에스램은 또한, 기억된 데이터를 손실하지 않기 위해 주기적으로 충전을 하는 리프레쉬 동작을 하게 되는데, 이 동작은 전력소모가 있으므로 만일 모바일 폰과 같은 경우처럼,폰을 사용하지 않는 경우 공급전원을 정상동작 전압보다 낮추어 낮은 전압으로 전원을 유지시켜 전력소모를 최소화하는게 최근추세이다. 이때 정상동작시 인가되는 전압보다 낮은 전압이 되어 리프레쉬가 들어오더라도 데이터가 손실되는 문제가 생긴다.The Shush SRAM also performs a refresh operation that periodically charges to avoid losing stored data. This operation consumes power, so if the phone is not used, such as a mobile phone, the power supply The recent trend is to keep the power at a lower voltage by lowering the normal operating voltage to minimize power consumption. At this time, a voltage lower than the voltage applied in the normal operation causes a problem of data loss even when the refresh is input.
즉, 정상동작의 모바일 폰의 구동전압이 1.8V일때, 폰을 사용하지 않는 경우는 1.8V일때, 폰을 사용하지 않는 경우는 1.8V이하의 낮은 전압으로 머무르게 되므로 충분한 리프래쉬 차지가 공급되지 못하거나, 아니면 낮은 전압으로 인해 리프래쉬 주기를 결정하는 링 오실레이터의 주기가 길어져 리프래쉬 불량(Fall)으로 저장된 데이타를 잃게 되는 것이다.In other words, when the driving voltage of the mobile phone in normal operation is 1.8V, when the phone is not used, it is 1.8V, and when the phone is not used, the low voltage of 1.8V or less is not maintained, so that sufficient refresh charge is not supplied. In other words, the low voltage causes the ring oscillator to determine the refresh period, resulting in loss of data stored as a fallback failure.
따라서 본 발명의 목적은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로써, 구동전압보다 낮은 코어전압을 갖을 경우, 부족한 전압을 충분히 공급함으로써 데이타를 보존할 수 있는 슈도우 에스램의 구동회로를 제공하는 데 있다.Accordingly, an object of the present invention is to solve the above-mentioned problems, and when the core voltage is lower than the driving voltage, the drive circuit of the pseudo-sram which can preserve the data by supplying insufficient voltage sufficiently To provide.
도 1은 일반적인 슈도우 에스램의 구동 방법을 설명하기 위한 등가회로및 블럭도.1 is an equivalent circuit and a block diagram for explaining a general method of driving a drive SRAM.
도 2는 본 발명에 사용되는 전압 특성을 설명하기 위한 전압 곡선.2 is a voltage curve for explaining the voltage characteristics used in the present invention.
도 3은 본 발명에 따른 슈도우 에스램의 구동회로를 설명하기 위한 회로도.Figure 3 is a circuit diagram for explaining a drive circuit of the shoe SRAM according to the present invention.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 슈도우 에스램의 구동회로는, 외부전압및 코어전압을 비교하여 하이(high) 신호및 로우(low)신호를 선택적으로 출력하여 스위칭부를 제어하는 비교기; 상기 비교기에서 출력된 제어신호에 따라 스위칭을 개폐하여 내부승압전압및 코어전압을 출력하는 스위칭부; 및 상기 스위칭부에 연결되어 제 1구동전압및 제 2구동전압에 따라 구동되는 구동부를 구비하는 것을 특징으로 한다.The driving circuit of the pseudo SRAM according to the present invention for achieving the above object comprises: a comparator for comparing the external voltage and the core voltage to selectively output a high signal and a low signal to control the switching unit; A switching unit which opens and closes switching according to the control signal output from the comparator and outputs an internal boost voltage and a core voltage; And a driving unit connected to the switching unit and driven according to a first driving voltage and a second driving voltage.
(실시예1)Example 1
이하, 본 발명의 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
우선 슈도우 에스램의 구동회로에서 사용되는 내부전압들의 전압곡선을 도면을 참조하여 살펴보면 다음과 같다.First, the voltage curves of the internal voltages used in the driving circuit of the pseudo-sram will be described with reference to the drawings.
도 2는 노말 동작모드에서 내부전원전압으로 사용되는 전압들의 곡선을 나타낸 그래프이다. 도시된 바와 같이, 외부전압(Vext)을 기준으로 각 내부전원들의 특성을 나타내었다. 가로축은 외부전압(Vext)을, 세로축은 외부 전압(Vext)값에 따라 설정된 각각의 내부전원을 나타낸다.2 is a graph showing curves of voltages used as internal power supply voltages in a normal operation mode. As shown, the characteristics of the respective internal power sources are shown based on the external voltage Vext. The horizontal axis represents the external voltage Vext, and the vertical axis represents each internal power source set according to the external voltage Vext value.
여기서 단위 메모리셀에 전원공급을 하는 코어전압(Vcore)의 경우, 1.8V부터는 외부전압(Vext)이 증가 하더라도 1.8V를 유지하도록 설정되었다. 즉, 구동회로의 구동전압을 1.8V로 설정하였을 경우, 외부전압이 1.8V이상에서는 회로의 구동전압을 코어전압(Vcore)으로 유지하도록 구성된다.Here, the core voltage (Vcore) for supplying power to the unit memory cell is set to maintain 1.8V even if the external voltage (Vext) increases from 1.8V. That is, when the driving voltage of the driving circuit is set to 1.8V, the driving voltage of the circuit is maintained at the core voltage Vcore when the external voltage is higher than 1.8V.
이때 코어전압이 1.8V이하가 되면 상기 코어전압(Vcore)은 구동전압 이하의 전압값을 갖게되어 데이터를 유지할 수 없게된다.At this time, when the core voltage is less than 1.8V, the core voltage Vcore has a voltage value less than or equal to the driving voltage and thus data cannot be maintained.
여기서 Vpp는 내부승압전압을, Vcore는 코어전압을, Vcp/Vblp는 셀의 커패시터및 비트라인에 흐르는 전압을 나타내며, 상기 전압곡선에서 파워업(Pwrup)은 1.5V에서 시작된다.Where Vpp denotes an internal boost voltage, Vcore denotes a core voltage, and Vcp / Vblp denotes a voltage flowing in a capacitor and a bit line of a cell, and power-up (Pwrup) starts at 1.5V in the voltage curve.
도 3은 본 발명에 따른 슈도우 에스램의 구동회로를 상세히 설명하기 위한 회로도이다.3 is a circuit diagram illustrating in detail the driving circuit of the pseudo SRAM according to the present invention.
도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 슈도우 에스램의 구동회로는 비교기(300)와 스위칭부(310)와 구동부(320)로 구성되며, 상기 비교기(300)와 스위칭부(310)는 제 1 컨트롤 모드(Ctrl 1)로 연결된다.As shown, the driving circuit of the shoe SRAM according to the present invention is composed of a comparator 300, a switching unit 310 and a driving unit 320, the comparator 300 and the switching unit 310 is the first You are connected to control mode (Ctrl 1).
외부전압(Vext)과 코어전압(Vcore)의 크기의 차를 기준으로 회로의 구동방법을 설명하면 다음과 같다.The driving method of the circuit based on the difference between the magnitude of the external voltage Vext and the core voltage Vcore is as follows.
비교기(300)는 2개의 제1, 제 2 피모스 트랜지스터(P1,P2)와 3개의 제1,제2, 제3 엔모스 트랜지스터(N1,N2,N3)로 구성된다.The comparator 300 includes two first and second PMOS transistors P1 and P2 and three first, second and third NMOS transistors N1, N2 and N3.
제1 엔모스 트랜지스터(N1)의 게이트는 외부전압(Vext)과 연결되며, 드레인은 제1 피모스 트렌지스터(P1)의 소오스및 노드 A와 동시에 연결된다. 제1 피모스 트랜지스터(P1)는, 드레인에 내부승압전압(Vpp)이 연결되고, 게이트가 제1 엔모스 트랜지스터(N1)의 드레인과 연결되어, 상기 제1 엔모스 트랜지스터(N1)의 신호에 따라 개폐를 결정한다. 또한 제2 피모스 트랜지스터(P2)역시 드레인에 내부승압전압(Vpp)이 연결되고, 게이트는 제1 엔모스 트랜지스터(N1)의 드레인에서 나오는 노드 A신호에 연결되어 상기 노드 A신호의 기준에 따라 제1 엔모스 트랜지스터(P1)를 개폐하여 제 1컨트롤 모드(Ctrl 1)에 각각, 내부승압전압(Vpp) 또는 외부전압(Vext)을 인가한다. 상기 제 2피모스 트랜지스터(P2)의 소오스와, 제1 컨트롤 모드(Ctrl 1)와 동시에 연결된 노드 B는 제2 엔모스 트랜지스터(N2)의 드래인과 연결되며, 게이트는 코어전압(Vcore)과 연결된다. 또한 상기 제1 및 제2 엔모스 트랜지스터(N1,N2)의 소오스는 접지전압(Vss)과 연결된 제 3 엔모스 트랜지스터(N2)의 드레인과 연결된 구조이다.A gate of the first NMOS transistor N1 is connected to an external voltage Vext, and a drain thereof is simultaneously connected to a source and a node A of the first PMOS transistor P1. The first PMOS transistor P1 has an internal boost voltage Vpp connected to a drain thereof, and a gate thereof connected to a drain of the first NMOS transistor N1 so as to be connected to a signal of the first NMOS transistor N1. Decide to open and close accordingly. In addition, the second PMOS transistor P2 also has an internal boost voltage Vpp connected to the drain, and a gate thereof is connected to the node A signal coming out of the drain of the first NMOS transistor N1, according to the reference of the node A signal. The first NMOS transistor P1 is opened and closed to apply the internal boost voltage Vpp or the external voltage Vext to the first control mode Ctrl 1, respectively. The node B connected to the source of the second PMOS transistor P2 and the first control mode Ctrl 1 is connected to the drain of the second NMOS transistor N2, and the gate is connected to the core voltage Vcore. Connected. In addition, the source of the first and second NMOS transistors N1 and N2 has a structure connected to the drain of the third NMOS transistor N2 connected to the ground voltage Vss.
스위칭부(310)는 제 3피모스 트랜지스터(P3)의 게이트가 상기 제1 컨트롤모드(Ctrl 1)와 연결되고, 드레인과 소오스에 각각 제 1구동전압으로 코어전압(Vcor)이, 제 2구동전압으로 내부승압전압(Vpp)이 연결되어 상기 비교기(300)의 제어신호에 따라 제 1구동전압과 제 2구동전압중 하나가 출력부(320)에 전달되도록 구성된다.In the switching unit 310, the gate of the third PMOS transistor P3 is connected to the first control mode Ctrl 1, the core voltage Vcor is applied to the drain and the source at the first driving voltage, respectively, and the second driving is performed. The internal boosting voltage Vpp is connected to the voltage to be configured to transmit one of the first driving voltage and the second driving voltage to the output unit 320 according to the control signal of the comparator 300.
구동방법은 먼저 외부전압(Vext)이 코어전압(Vcor)보다 큰 경우, 즉 도 2의A구간과 같이 1.8V이상에서 코어전압(Vcor)이 일정할 경우에는 제2 엔모스 트랜지스터(N2)의 게이트는 로우신호(low)를 전달받아 닫히고, 제 1엔모스 트랜지스터(N1)의 게이트는 하이(High)신호가 전달되어 게이트가 열림으로써 노드 A에는 접지전압(Vss)이 흐르게 된다. 그때 제1, 제2 피모스트랜지스터(P1,P2)는 온(On)상태가 되어 게이트가 열리므로 결국 제 1컨트롤 모드(Ctrl 1)에는 내부승압전압(Vpp)이 흐르게 된다.First, the driving method of the second NMOS transistor N2 when the external voltage Vext is greater than the core voltage Vcor, that is, when the core voltage Vcor is constant at 1.8V or more as shown in section A of FIG. 2. The gate is closed by receiving a low signal, and the gate of the first NMOS transistor N1 receives a high signal to open the gate, so that the ground voltage Vss flows to the node A. At this time, since the first and second PMOS transistors P1 and P2 are turned on and the gate is opened, the internal boost voltage Vpp flows in the first control mode Ctrl 1.
그와는 반대로, 코어전압(Vcore)이 외부전압(Vext)과 같거나 작을 경우,즉 도 2의 B구간과 같이 코어전압이 1.8V이하가 되어 구동전압보다 작은전압이 인가되는 경우는 제2 엔모스 트랜지스터(N2)의 게이트는 하이신호를, 제1 엔모스 트랜지스터(N1)는 로우신호를 입력받아 제2 엔모스 트랜지스터(N2)가 열리면서 접지전압(Vss)이 노드 B쪽으로 흐르게 되어 결국 제 1 컨트롤 모드(Ctrl 1)에는 접지전압(Vss)이 흐르게 된다.On the contrary, when the core voltage Vcore is less than or equal to the external voltage Vext, that is, when the core voltage is 1.8V or less and the driving voltage is smaller than the driving voltage as shown in section B of FIG. The gate of the NMOS transistor N2 receives a high signal and the first NMOS transistor N1 receives a low signal, and the second NMOS transistor N2 opens to allow the ground voltage Vss to flow toward the node B. 1 In control mode (Ctrl 1), the ground voltage (Vss) flows.
이때 상기 비교기(300)의 신호에 따라 제 1컨트롤 모드(Ctrl 1)에 내부승압전압(Vpp)이 흐르면, 스위칭부(310)의 제 3피모스 트랜지스터(P3)는 오프상태가 되어 구동부(320)에 코어전압(Vcore)이 인가되며, 상기 제 1컨트롤 모드(Ctrl 1)에 접지전압(Vss)이 흐르면, 제 3피모스 트랜지스터(P3)는 온 상태가 되어 상기 구동부(320)로 내부승압전압(Vpp)이 흐르게 된다.At this time, when the internal boost voltage Vpp flows in the first control mode Ctrl 1 according to the signal of the comparator 300, the third PMOS transistor P3 of the switching unit 310 is turned off and the driving unit 320 is turned on. When the core voltage Vcore is applied and the ground voltage Vss flows in the first control mode Ctrl 1, the third PMOS transistor P3 is turned on to boost the internal voltage to the driving unit 320. The voltage Vpp flows.
구동부(320)는, 센스앰프(sense amlifier)및 링 오실레이터에 연결되어 각각 센싱동작을 수행하거나, 리프레쉬 주기를 유지하는 구동기능을 수행한다.The driving unit 320 is connected to a sense amplifier and a ring oscillator to perform a sensing operation or to maintain a refresh cycle.
다시말해, 도 2의 전압특성곡선으로 회로를 구성하였을 경우,외부전압(Vext)이 1.8V이상이 되면 코어전압(Vcore)은 항상 1.8V를 유지하게 되고, 그때 비교기(300)는 제 1컨트롤 모드(CtrlA)로 내부승압전압(Vpp)이 인가되어 상기 제 3피모스 트랜지스터(P3)는 오프 상태가 되므로, 센스 앰프(320)에는 코어전압(Vcore)이 그대로 흐르게 된다.In other words, when the circuit is constructed with the voltage characteristic curve of FIG. 2, when the external voltage Vext becomes 1.8 V or more, the core voltage Vcore is always maintained at 1.8 V, and the comparator 300 then controls the first control. Since the internal boost voltage Vpp is applied in the mode CtrlA to turn off the third PMOS transistor P3, the core voltage Vcore flows through the sense amplifier 320 as it is.
그러나 코어전압(Vcore)이 1.8V이하인 경우 외부전압(Vext)과 코어 전압(Vcore)은 같아지고, 그때 비교기(300)에서는 제 1컨트롤 모드(Ctrl 1)로 접지전압(Vss)을 인가하여 제 3피모스 트랜지스터(P3)가 열리고, 구동부(320)에는 내부전원 중 가장 높은 전압인 내부승압전압(Vpp)이 인가된다.However, when the core voltage Vcore is 1.8 V or less, the external voltage Vext and the core voltage Vcore become equal, and then the comparator 300 applies the ground voltage Vss in the first control mode Ctrl 1 to apply the ground voltage Vss. The 3 MOS transistor P3 is opened, and the internal boost voltage Vpp, which is the highest voltage among the internal power supplies, is applied to the driver 320.
즉, 구동전압이하의 낮은전압이 인가되더라도, 내부승압전압(Vpp)을 통해 항상 충분한 전압을 구동부에 차징시킬 수 있다.That is, even if a low voltage below the driving voltage is applied, a sufficient voltage can always be charged to the driving unit through the internal boost voltage Vpp.
이때, 제 2 컨트롤 모드(ctrl 2)는 고정시켜 사용할 경우, 하이신호로 설정하고, 제어신호로 사용할 경우에는 인에이블 신호로 사용할 수 있다.In this case, the second control mode (ctrl 2) may be set as a high signal when it is fixed and used as an enable signal when used as a control signal.
이상에서와 같이 본 발명에 따른 슈도우 에스램의 구동회로에 의하면, 모바일폰과 같이 낮은전압을 요하는 기계의 베터리를 교환하거나 전원을 잠시 오프 시킬 경우, 구동전압이하의 낮은 전압이 흐를때 상기 구동부에 센스앰프를 연결하여 단위 메모리셀의 구동전압으로 가장 높은 내부전압인 내부승압전압이 흐르도록 구성함으로써, 낮은 전원으로 인한 데이터 손실을 막는 효과가 있다.As described above, according to the driving circuit of the pseudo SRAM according to the present invention, when a battery of a machine requiring a low voltage, such as a mobile phone, or when the power is turned off for a while, when a low voltage below the driving voltage flows, By connecting the sense amplifier to the driving unit so that the internal boost voltage, which is the highest internal voltage, flows as the driving voltage of the unit memory cell, thereby preventing data loss due to low power.
또한, 데이터 손실의 이유가 리프레쉬의 긴 주기가 원인일 경우에는 본 발명의 구동부에 링 오실레이터를 연결하여 리프레쉬의 주기를 적절히 조절함으로써 리프레쉬 주기를 유지시키는 효과가 있다.In addition, when the reason for data loss is caused by a long period of refresh, the refresh cycle is maintained by appropriately adjusting the refresh cycle by connecting a ring oscillator to the driving unit of the present invention.
한편, 본 발명은 상술한 특정의 바람직한 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변경실시가 가능할 것이다.On the other hand, the present invention is not limited to the above-described specific preferred embodiments, anyone of ordinary skill in the art without departing from the gist of the invention claimed in the claims can be variously modified. will be.
Claims (3)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020030018465A KR20040083809A (en) | 2003-03-25 | 2003-03-25 | The Driving Circuit of Pseudo SRAM |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020030018465A KR20040083809A (en) | 2003-03-25 | 2003-03-25 | The Driving Circuit of Pseudo SRAM |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20040083809A true KR20040083809A (en) | 2004-10-06 |
Family
ID=37367477
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
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| Country | Link |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20140019942A (en) * | 2012-08-07 | 2014-02-18 | 에스케이하이닉스 주식회사 | Voltage supply circuit |
-
2003
- 2003-03-25 KR KR1020030018465A patent/KR20040083809A/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20140019942A (en) * | 2012-08-07 | 2014-02-18 | 에스케이하이닉스 주식회사 | Voltage supply circuit |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20030325 |
|
| PG1501 | Laying open of application | ||
| PC1203 | Withdrawal of no request for examination | ||
| WITN | Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid |