KR102818968B1 - Substrate processing device - Google Patents
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Abstract
(과제) 일차 측의 압력을 감시함으로써, 기판에 대한 부적절한 세정 처리가 행해지는 것을 미연에 방지할 수 있다.
(해결 수단) 제어부(161)는, 압압용 액추에이터(89)로의 입력 신호를 조작하여, 압압을 조정하고, 압압 기구를 통해 브러시(99)를 기판(W)의 상면에 작용시킨다. 제어부(161)는, 일차 측 압력계(155)와 이차 측 압력계(159)를 감시하고 있으므로, 일차 측 압력에 이변이 생긴 것을 판단할 수 있다. 제어부(161)는, 브러시(99)의 압압을 원하는 값으로 조정할 수 없는 상황이 된 것을 판단할 수 있다. 그 결과, 새로운 기판(W)에 대한 부적절한 세정 처리가 계속적으로 행해지는 것을 미연에 방지할 수 있다.(Task) By monitoring the pressure on the primary side, it is possible to prevent in advance improper cleaning treatment of the substrate.
(Solution) The control unit (161) adjusts the pressure by manipulating the input signal to the pressure actuator (89), and acts on the upper surface of the substrate (W) by the pressure mechanism to cause the brush (99) to act. Since the control unit (161) monitors the primary pressure gauge (155) and the secondary pressure gauge (159), it can determine that there is an abnormality in the primary pressure. The control unit (161) can determine that a situation has arisen in which the pressure of the brush (99) cannot be adjusted to a desired value. As a result, it is possible to prevent in advance the inappropriate cleaning treatment for a new substrate (W) from being continuously performed.
Description
본 발명은, 반도체 기판, 액정 표시용이나 유기 EL(Electroluminescence) 표시 장치 등의 FPD(Flat Panel Display)용 기판, 포토마스크용 유리 기판, 광 디스크용 기판 등의 기판에 브러시를 작용시켜 세정 처리를 행하는 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a substrate processing device and a substrate processing method for performing a cleaning process by applying a brush to a substrate such as a semiconductor substrate, a substrate for an FPD (Flat Panel Display) such as a liquid crystal display or an organic EL (Electroluminescence) display device, a glass substrate for a photomask, a substrate for an optical disk, etc.
종래, 이런 종류의 장치로서, 회전 유지부와, 노즐과, 아암과, 에어 공급 배관과, 전공(電空) 레귤레이터와, 압력계와, 에어 실린더와, 로드 셀과, 브러시를 구비한 기판 처리 장치가 있다(예를 들면, 특허문헌 1 참조).Conventionally, as this type of device, there is a substrate processing device having a rotating holding portion, a nozzle, an arm, an air supply pipe, an electro-pneumatic regulator, a pressure gauge, an air cylinder, a load cell, and a brush (see, for example, Patent Document 1).
회전 유지부는, 기판의 세정면을 상방을 향하게 한 자세로 유지한다. 노즐은, 기판의 상면에 처리액을 공급한다. 아암은, 브러시를 선단에 유지한다. 아암은, 브러시를 자전시키면서, 목표 하중이 되도록 압압(押壓)을 부여하여 브러시를 기판에 눌러 기판에 작용시킨다. 이로 인해 세정 처리가 행해진다.The rotating support member maintains the cleaning surface of the substrate in an upwardly facing position. The nozzle supplies the treatment liquid to the upper surface of the substrate. The arm maintains the brush at the tip. The arm rotates the brush and applies pressure so as to achieve a target load, thereby pressing the brush against the substrate and acting on the substrate. As a result, the cleaning process is performed.
에어 배관 등은, 아암에 내장되어 있다. 에어 공급 배관은, 클린 룸에 구비된 유틸리티의 에어 공급원에 일단이 접속된다. 에어 공급 배관의 타단은, 에어 실린더에 접속된다. 에어 공급 배관에는, 에어 공급부에 가까운 상류 측에서부터, 전공 레귤레이터와, 압력계와, 에어 실린더가 그 순서로 접속되어 있다.Air piping, etc. are built into the arm. One end of the air supply piping is connected to the air supply source of the utility provided in the clean room. The other end of the air supply piping is connected to an air cylinder. In the air supply piping, an electric regulator, a pressure gauge, and an air cylinder are connected in that order from the upstream side near the air supply section.
전공 레귤레이터는, 입력 신호에 따라 개도가 조정된다. 전공 레귤레이터는, 에어 공급원 측인 일차 측의 에어를, 압력을 조정하여 전공 레귤레이터의 하류 측인 이차 측에 공급한다. 압력계는, 전공 레귤레이터의 이차 측의 압력을 검출한다. 에어 실린더는, 에어의 이차 측의 압력에 따라 로드가 신축한다. 이로 인해 에어 실린더는, 브러시에 압압을 가한다. 브러시의 압압과의 대응 관계가 교정되어 있는 로드 셀은, 브러시의 압압에 따른 출력 신호를 출력한다. 로드 셀로부터의 출력 신호에 따라 전공 레귤레이터로의 입력 신호가 조정되고, 브러시의 압압이 목표 하중으로 조정된다. 로드 셀로부터의 출력 신호에 따라 압압을 조정한 후, 조정 시의 전공 레귤레이터로의 입력 신호를 유지한 채, 기판에 대해 브러시에 의한 세정 처리가 행해진다.The electro-pneumatic regulator adjusts the opening according to the input signal. The electro-pneumatic regulator adjusts the pressure of the air on the primary side, which is the air supply source side, and supplies it to the secondary side, which is the downstream side of the electro-pneumatic regulator. The pressure gauge detects the pressure on the secondary side of the electro-pneumatic regulator. The air cylinder expands and contracts the load according to the pressure of the secondary side of the air. As a result, the air cylinder applies pressure to the brush. The load cell, whose corresponding relationship with the pressure of the brush is corrected, outputs an output signal according to the pressure of the brush. The input signal to the electro-pneumatic regulator is adjusted according to the output signal from the load cell, and the pressure of the brush is adjusted to the target load. After adjusting the pressure according to the output signal from the load cell, a cleaning process is performed on the substrate by the brush while maintaining the input signal to the electro-pneumatic regulator at the time of adjustment.
그러나, 이러한 구성을 갖는 종래 예의 경우에는, 다음과 같은 문제가 있다. However, in the case of conventional examples having this configuration, there are the following problems.
즉, 종래의 장치는, 에어 공급원으로부터 충분히 높은 압력의 에어를 공급할 수 있는 경우에는, 문제는 발생하지 않는다. 그런데, 에어 공급원은, 클린 룸의 유틸리티이므로, 다른 장치 등에도 에어를 공급한다. 그 때문에, 많은 장치 등에 대해 공급 타이밍이 겹치는 경우가 있다. 그러면, 에어 공급 배관의 일차 측의 압력이 저하된다. 이 상태에서는, 조정 시의 전공 레귤레이터로의 입력 신호를 유지한 채로는, 압압이 목표 하중보다 저하된다. 또, 이 상태에서는, 설령 전공 레귤레이터의 개도가 커지도록 조정해도, 이차 측의 압력은 소정값 이상으로 오르지 않게 된다.That is, conventional devices do not have a problem if they can supply air at a sufficiently high pressure from the air supply source. However, since the air supply source is a utility of the clean room, it also supplies air to other devices, etc. Therefore, there are cases where the supply timing overlaps for many devices, etc. Then, the pressure on the primary side of the air supply pipe decreases. In this state, while maintaining the input signal to the electropneumatic regulator at the time of adjustment, the pressure decreases below the target load. In addition, in this state, even if the opening of the electropneumatic regulator is adjusted to increase, the pressure on the secondary side does not rise above the specified value.
따라서, 로드 셀로부터의 출력 신호에 따라 전공 레귤레이터로의 입력 신호를 조정하여 압압을 조정한 후, 일차 측의 압력이 저하되면, 브러시의 압압이 목표 하중보다 저하된다. 즉, 브러시의 압압을 목표 하중으로 조정하지 못할 우려가 있다. 그 결과, 부적절한 압압으로의 처리가 기판에 대해 행해지는 경우가 있다.Therefore, after adjusting the pressure by adjusting the input signal to the main regulator according to the output signal from the load cell, if the pressure on the primary side decreases, the pressure of the brush decreases below the target load. That is, there is a concern that the pressure of the brush cannot be adjusted to the target load. As a result, there are cases where processing with an inappropriate pressure is performed on the substrate.
본 발명은, 이러한 사정을 감안하여 이루어진 것이며, 일차 측의 압력을 감시함으로써, 기판에 대한 부적절한 세정 처리가 행해지는 것을 미연에 방지할 수 있는 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made in consideration of these circumstances, and has as its object the provision of a substrate processing device and a substrate processing method capable of preventing in advance improper cleaning treatment of a substrate by monitoring the pressure of the primary side.
본 발명은, 이러한 목적을 달성하기 위해, 다음과 같은 구성을 취한다. In order to achieve this purpose, the present invention adopts the following configuration.
즉, 청구항 1에 기재된 발명은, 기판에 대해 브러시를 작용시켜 세정 처리를 행하는 기판 처리 장치에 있어서, 기판을 수평 자세로 유지함과 더불어, 기판을 회전시키는 회전 유지부와, 상기 회전 유지부에 유지된 기판의 상면에 작용하는 브러시와, 에어가 공급됨으로써, 상기 브러시를 기판을 향해 압압으로 탄성 가압하는 압압 기구와, 에어 공급원에 일단이 연통 접속되고, 타단이 상기 압압 기구에 연통 접속되어 있는 에어 공급관과, 입력 신호에 따라 개도를 조정하여, 상기 에어 공급관에 있어서의 에어의 압력을 조정하는 전공 레귤레이터와, 상기 에어 공급관 중, 상기 에어 공급원과 상기 전공 레귤레이터 사이에 배치되며, 상기 전공 레귤레이터의 일차 측의 압력을 일차 측 압력으로서 검출하는 일차 측 압력계와, 상기 에어 공급관 중, 상기 전공 레귤레이터와 상기 압압 기구 사이에 배치되며, 상기 전공 레귤레이터의 이차 측의 압력을 이차 측 압력으로서 검출하는 이차 측 압력계와, 상기 입력 신호를 조작함과 더불어, 상기 일차 측 압력계와 상기 이차 측 압력계를 감시하는 제어부를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 것이다.That is, the invention described in claim 1 is a substrate processing device that performs a cleaning process by acting a brush on a substrate, the device comprising: a rotating holding unit that maintains the substrate in a horizontal position and rotates the substrate; a brush that acts on an upper surface of the substrate held by the rotating holding unit; a pressing mechanism that elastically presses the brush toward the substrate by applying pressure by supplying air; an air supply pipe having one end communicatively connected to an air supply source and the other end communicatively connected to the pressing mechanism; an electropneumatic regulator that adjusts the pressure of the air in the air supply pipe by adjusting the opening degree according to an input signal; a primary pressure gauge that is disposed between the air supply source and the electropneumatic regulator among the air supply pipes and detects the pressure on the primary side of the electropneumatic regulator as the primary pressure; a secondary pressure gauge that is disposed between the electropneumatic regulator and the pressing mechanism among the air supply pipes and detects the pressure on the secondary side of the electropneumatic regulator as the secondary pressure; and a pressure gauge that operates the input signal and operates the primary pressure gauge and the secondary pressure gauge. It is characterized by having a control unit that monitors the side pressure gauge.
[작용·효과] 청구항 1에 기재된 발명에 의하면, 제어부는, 입력 신호를 조작하여, 압압을 조정하고, 압압 기구를 통해 브러시를 기판의 상면에 작용시킨다. 제어부는, 일차 측 압력계와 이차 측 압력계를 감시하고 있으므로, 일차 측 압력에 이변이 생긴 것을 판단할 수 있다. 따라서, 제어부는, 브러시의 압압을 원하는 값으로 조정할 수 없는 상황이 된 것을 판단할 수 있다. 그 결과, 기판에 대한 부적절한 세정 처리가 행해지는 것을 미연에 방지할 수 있다.[Operation/Effect] According to the invention described in claim 1, the control unit manipulates the input signal to adjust the pressure and causes the brush to act on the upper surface of the substrate through the pressure mechanism. Since the control unit monitors the primary pressure gauge and the secondary pressure gauge, it can determine that there is an abnormality in the primary pressure. Accordingly, the control unit can determine that a situation has arisen in which the pressure of the brush cannot be adjusted to a desired value. As a result, it is possible to prevent in advance the substrate from being subjected to inappropriate cleaning treatment.
또, 본 발명에 있어서, 상기 제어부는, 상기 일차 측 압력이 소정값 이하인 경우에는, 알람을 발하는 것이 바람직하다(청구항 2).In addition, in the present invention, it is preferable that the control unit generates an alarm when the primary side pressure is below a predetermined value (claim 2).
제어부는, 일차 측 압력이 소정값 이하인 경우에는, 알람을 발한다. 따라서, 장치의 오퍼레이터는, 처리를 정지하는 등의 조치를 취할 수 있다. 그 결과, 기판에 대한 부적절한 세정 처리가 행해지는 것을 미연에 방지할 수 있다.The control unit issues an alarm when the primary side pressure is below a predetermined value. Accordingly, the operator of the device can take measures such as stopping processing. As a result, inappropriate cleaning processing of the substrate can be prevented in advance.
또, 본 발명에 있어서, 상기 제어부는, 상기 일차 측 압력이 소정값 이하인 경우에는, 상기 회전 유지부에 유지되어 있는 기판에 대한 세정 처리가 완료된 시점에서 처리를 정지하는 것이 바람직하다(청구항 3).In addition, in the present invention, it is preferable that the control unit stops the processing at the point in time when the cleaning process for the substrate held in the rotating holding unit is completed when the primary side pressure is below a predetermined value (claim 3).
제어부는, 일차 측 압력이 소정값 이하인 경우에는, 세정 처리 중의 기판에 대한 세정 처리가 완료된 시점에서 처리를 정지한다. 따라서, 압압이 목표 하중에 미치지 않는 상태에서의 세정 처리가 되고 있을 가능성이 높기는 하지만, 목표 하중의 압압으로 처리된 다른 기판과 동일한 프로세스를 행한 다음에 처리를 정지한다. 그 결과, 다른 기판과의 처리 이력을 맞출 수 있다. 또, 린스 처리나 건조 처리를 거쳐 정지하게 되므로, 이들을 거치지 않고 정지하는 즉시 정지에 비해 기판에 대한 데미지를 작게 할 수 있다.The control unit stops the processing when the cleaning process for the substrate during the cleaning process is completed if the primary side pressure is lower than a predetermined value. Therefore, although the cleaning process is likely to be performed under a condition where the pressure does not reach the target load, the processing is stopped after performing the same process as for other substrates processed with the pressure of the target load. As a result, the processing history can be matched with that of other substrates. In addition, since the processing is stopped after performing a rinsing process or a drying process, damage to the substrate can be reduced compared to an immediate stop without performing these.
또, 본 발명에 있어서, 상기 제어부는, 상기 회전 유지부에서 기판이 재치(載置)되는 위치에 전자 천칭을 재치한 상태에서, 미리 취득한 상기 전공 레귤레이터의 개도와 상기 전자 천칭의 측정값의 실측 하중의 대응 관계와, 상기 전공 레귤레이터의 개도와 상기 이차 측 압력의 대응 관계에 의거하여, 기판에 부여하고 싶은 목표 하중과 상기 실측 하중의 대응 관계로부터 얻어지는 상기 전공 레귤레이터의 개도로부터, 상기 이차 측 압력계가, 당해 개도에 대응하는 상기 이차 측 압력이 되도록, 상기 입력 신호를 조정하여 상기 브러시의 압압을 상기 목표 하중으로 조정하는 것이 바람직하다(청구항 4).In addition, in the present invention, the control unit, in a state where an electronic balance is placed at a position where a substrate is placed in the rotation holding unit, adjusts the input signal so that the secondary side pressure gauge becomes the secondary side pressure corresponding to the opening degree of the electropneumatic regulator obtained in advance based on a correspondence relationship between the opening degree of the electropneumatic regulator and the measured load of the measured value of the electronic balance, and a correspondence relationship between the opening degree of the electropneumatic regulator and the secondary side pressure, so that the pressure of the brush is adjusted to the target load (claim 4).
미리 취득한 실측 하중의 대응 관계와, 전공 레귤레이터의 개도와 이차 측 압력의 대응 관계에 의거하여, 기판에 부여하고 싶은 목표 하중과 실측 하중의 대응 관계로부터 전공 레귤레이터의 개도를 얻는다. 이차 측 압력계가, 그 개도에 대응하는 이차 측 압력이 되도록, 입력 신호를 부여하여 브러시의 압압을 목표 하중으로 조정한다. 일차 측 압력이 소정값 이하가 아닌 상태는, 전공 레귤레이터의 개도와 이차 측 압력의 관계가 유지되고 있다. 그 때문에, 이차 측 압력계가, 개도에 대응하는 이차 측 압력이 되도록, 입력 신호를 조정하면, 압압이 목표 하중이 된다. 따라서, 목표 하중의 압압으로 정확하게 세정 처리를 행할 수 있다.Based on the correspondence relationship of the actual load acquired in advance and the correspondence relationship between the opening degree of the electropneumatic regulator and the secondary pressure, the opening degree of the electropneumatic regulator is obtained from the correspondence relationship between the target load to be applied to the substrate and the actual load. The secondary pressure gauge is adjusted to the target load by applying an input signal so that the secondary pressure corresponds to the opening degree. In a state where the primary pressure is not lower than a predetermined value, the relationship between the opening degree of the electropneumatic regulator and the secondary pressure is maintained. Therefore, when the input signal is adjusted so that the secondary pressure gauge is the secondary pressure corresponding to the opening degree, the pressure becomes the target load. Therefore, the cleaning process can be accurately performed with the pressure of the target load.
또, 본 발명에 있어서, 상기 압압 기구는, 지점(支点) 부재를 지점으로 하여 요동 가능하게 구성되며, 상기 지점에 대해 한쪽 측에 역점부를 구비하고, 상기 지점에 대해 다른 쪽 측에 작용점부를 구비한 시소 부재와, 에어에 의거한 구동력을 상기 역점부에 부여하여, 상기 지점을 중심으로 하여 상기 시소 부재를 요동시킴으로써, 상기 브러시를 기판의 상면에 누르기 위한 압압을 부여하는 압압용 액추에이터를 구비하고 있는 것이 바람직하다(청구항 5). 점In addition, in the present invention, it is preferable that the pressure mechanism comprises a seesaw member configured to be swayable about a fulcrum member as a fulcrum, and having a stress point on one side of the fulcrum and an operating point on the other side of the fulcrum, and a pressure actuator that applies a pressure to press the brush against the upper surface of the substrate by applying a driving force based on air to the stress point to cause the seesaw member to sway about the fulcrum (claim 5).
압압용 액추에이터의 동작이 시소 부재의 역점부를 통해 작용점부에 부여된다. 따라서, 시소 부재를 구비함으로써, 압압용 액추에이터의 배치의 자유도를 높일 수 있다. 따라서, 기판 처리 장치의 높이를 억제할 수 있다. 그 결과, 기판 처리 장치를 다단으로 적층하는 배치를 용이하게 실현할 수 있다.The motion of the pressure actuator is applied to the working point through the pivot point of the seesaw member. Therefore, by providing the seesaw member, the degree of freedom in the arrangement of the pressure actuator can be increased. Therefore, the height of the substrate processing device can be suppressed. As a result, the arrangement of stacking the substrate processing devices in multiple stages can be easily realized.
또, 본 발명에 있어서, 상기 압압 기구는, 일단부에서 압압에 따라 탄성 가압되며, 타단부에서 상기 브러시를 이동시키는 브러시 이동 부재와, 상기 브러시 이동 부재의 상하면을 지지하며, 길이 방향으로의 이동을 허용하는 지지 부재와, 상기 브러시가 하부에 장착되며, 상기 브러시 이동 부재의 타단부에 배치된 브래킷과, 압압에 따른 에어가 공급되어 진퇴되는 로드를 구비하며, 상기 로드의 선단부를 상기 브러시 이동 부재의 일단 측에 접촉시켜 상기 브러시 이동 부재를 이동시키는 압압용 액추에이터를 구비하고, 상기 로드는, 상기 선단부가 길이 방향의 축에 대해 경사진 로드 경사면을 구비하고, 상기 브러시 이동 부재는, 상기 일단부가 길이 방향의 축에 대해 경사지며, 상기 로드 경사면을 따라 경사진 제1 경사면과, 상기 타단부가 길이 방향의 축에 대해 경사진 제2 경사면을 구비하고, 상기 브래킷은, 상부가 상기 제2 경사면을 따라 경사진 브래킷 경사면을 구비하고, 상기 로드의 진퇴에 따라 상기 브러시 이동 부재가 상기 길이 방향으로 진퇴되는 것이 바람직하다(청구항 6).In addition, in the present invention, the pressure mechanism comprises a brush moving member that is elastically pressed at one end according to the pressure and moves the brush at the other end, a support member that supports the upper and lower surfaces of the brush moving member and allows movement in the longitudinal direction, a bracket on which the brush is mounted at the lower end and arranged at the other end of the brush moving member, and a rod that is supplied with air according to the pressure and moves forward and backward, and a pressure actuator that moves the brush moving member by bringing the tip end of the rod into contact with the one end side of the brush moving member, wherein the rod has a rod inclined surface at the tip end that is inclined with respect to the longitudinal axis, the brush moving member has a first inclined surface that is inclined with respect to the longitudinal axis at the one end and is inclined along the rod inclined surface, and a second inclined surface at the other end that is inclined with respect to the longitudinal axis, and the bracket has a bracket inclined surface at the upper end that is inclined along the second inclined surface, and the brush moving member advances and retreats in the longitudinal direction according to the advance and retreat of the rod. Preferable (claim 6).
압압용 액추에이터의 로드가 진퇴하면, 로드 경사면이 진퇴하여 병진한다. 이에 따라, 지지 부재로 지지되어 있는 브러시 이동 부재의 제1 경사면과 제2 경사면이 길이 방향으로 병진한다. 또한, 브래킷 경사면이 브래킷의 길이 방향으로 병진한다. 따라서, 로드의 진퇴에 따라 브러시가 이동된다. 브러시 이동 부재는, 지지 부재로 지지되어 있으므로, 압압용 액추에이터에서 보면, 브러시 이동 부재의 자중이 캔슬된다. 따라서, 압압용 액추에이터의 로드가 미소한 진퇴를 행하는 경우여도, 브러시 이동 부재를 미소한 진퇴에 따라 이동시킬 수 있다. 그 결과, 미소한 압압을 부여하는 경우여도, 정확하게 압압을 부여할 수 있다.When the rod of the pressure actuator advances and retreats, the rod inclined surface advances and retreats and translates. Accordingly, the first inclined surface and the second inclined surface of the brush moving member supported by the supporting member advance and retreat in the longitudinal direction. In addition, the bracket inclined surface advances and retreats in the longitudinal direction of the bracket. Accordingly, the brush moves in accordance with the advance and retreat of the rod. Since the brush moving member is supported by the supporting member, the dead weight of the brush moving member is canceled when viewed from the pressure actuator. Accordingly, even when the rod of the pressure actuator advances and retreats slightly, the brush moving member can be moved in accordance with the slight advance and retreat. As a result, even when a slight pressure is applied, the pressure can be applied accurately.
또, 청구항 7에 기재된 발명은, 기판에 대해 브러시를 작용시켜 세정 처리를 행하는 기판 처리 방법에 있어서, 회전 유지부에 유지된 기판의 상면에 압압 기구를 통해 압압으로 브러시를 작용시키는 과정을 실시할 때에, 에어 공급원에 일단이 연통 접속되며, 타단이 상기 압압 기구에 연통 접속되어 있는 에어 공급관 중, 상기 에어 공급관에 있어서의 에어의 압력을 조정하는 전공 레귤레이터와 상기 에어 공급원 사이의 일차 측 압력을 검출하는 과정과, 상기 일차 측 압력이 소정값 이하인 경우에는, 알람을 발하는 과정을 실시하는 것을 특징으로 하는 것이다.In addition, the invention described in claim 7 is characterized in that, in a substrate processing method for performing a cleaning treatment by applying a brush to a substrate, when performing a process of applying pressure to an upper surface of a substrate held by a rotating holding member by applying pressure to the brush through a pressure mechanism, a process of detecting a primary pressure between an electropneumatic regulator that adjusts the pressure of air in an air supply pipe, one end of which is connected to an air supply source and the other end of which is connected to the pressure mechanism, and the air supply source is performed, and a process of sounding an alarm when the primary pressure is below a predetermined value.
[작용·효과] 청구항 7에 기재된 발명에 의하면, 기판의 상면에 압압 기구를 통해 압압으로 브러시를 작용시키는 과정을 실시하는 내내, 일차 측 압력을 검출하는 과정과, 일차 측 압력이 소정값 이하인 경우에는, 알람을 발하는 과정을 실시한다. 따라서, 브러시의 압압을 원하는 값으로 조정할 수 없는 상황이 된 것을 판단할 수 있다. 그 결과, 기판에 대한 부적절한 세정 처리가 행해지는 것을 미연에 방지할 수 있다.[Operation/Effect] According to the invention described in claim 7, during the process of applying pressure to the upper surface of the substrate with a brush through a pressure mechanism, a process of detecting the primary pressure and a process of generating an alarm when the primary pressure is below a predetermined value are performed. Accordingly, it is possible to determine that a situation has arisen in which the pressure of the brush cannot be adjusted to a desired value. As a result, it is possible to prevent in advance an inappropriate cleaning treatment of the substrate.
본 발명에 따른 기판 처리 장치에 의하면, 제어부는, 입력 신호를 조작하여, 압압을 조정하고, 압압 기구를 통해 브러시를 기판의 상면에 작용시킨다. 제어부는, 일차 측 압력계와 이차 측 압력계를 감시하고 있으므로, 일차 측 압력에 이변이 생긴 것을 판단할 수 있다. 따라서, 제어부는, 브러시의 압압을 원하는 값으로 조정할 수 없는 상황이 된 것을 판단할 수 있다. 그 결과, 기판에 대한 부적절한 세정 처리가 행해지는 것을 미연에 방지할 수 있다.According to the substrate processing device according to the present invention, the control unit manipulates an input signal to adjust the pressure and causes the brush to act on the upper surface of the substrate through the pressure mechanism. Since the control unit monitors the primary pressure gauge and the secondary pressure gauge, it can determine that there is an abnormality in the primary pressure. Accordingly, the control unit can determine that a situation has arisen in which the pressure of the brush cannot be adjusted to a desired value. As a result, it is possible to prevent in advance an inappropriate cleaning process for the substrate from being performed.
도 1은, 실시예에 따른 기판 처리 장치의 전체 구성을 나타내는 평면도이다.
도 2는, 도 1의 기판 처리 장치를 후방(X)에서 본 도면이다.
도 3은, 실시예에 따른 이면 세정 유닛의 개략 구성을 나타내는 평면도이다.
도 4는, 이면 세정 유닛의 개략 구성을 나타내는 측면도이다.
도 5는, 세정 아암의 종단면도이다.
도 6은, 이면 세정 유닛의 제어계를 나타내는 블록도이다.
도 7은, 미리 행하는 전처리를 나타내는 플로차트이다.
도 8의 (a)는, 전공 레귤레이터의 개도와 전자 천칭의 하중의 관계를 나타내고, (b)는, 전공 레귤레이터의 이차 측 압력과 개도의 관계를 나타내며, (c)는, 압압용 액추에이터의 하중과 전공 레귤레이터의 이차 측 압력의 관계를 나타내는 그래프이다.
도 9는, 세정 처리를 나타내는 플로차트이다.
도 10은, 변형예에 따른 세정 아암의 종단면도이다.
도 11은, 변형예에 따른 세정 아암의 동작 설명도이다.Fig. 1 is a plan view showing the overall configuration of a substrate processing device according to an embodiment.
Figure 2 is a drawing of the substrate processing device of Figure 1 as seen from the rear (X).
Fig. 3 is a plan view showing a schematic configuration of a back cleaning unit according to an embodiment.
Figure 4 is a side view showing a schematic configuration of a back cleaning unit.
Figure 5 is a cross-sectional view of the cleaning arm.
Figure 6 is a block diagram showing the control system of the back cleaning unit.
Figure 7 is a flow chart showing the preprocessing performed in advance.
Fig. 8 (a) is a graph showing the relationship between the opening of the electro-pneumatic regulator and the load of the electronic balance, (b) is a graph showing the relationship between the secondary pressure of the electro-pneumatic regulator and the opening, and (c) is a graph showing the relationship between the load of the pressure actuator and the secondary pressure of the electro-pneumatic regulator.
Figure 9 is a flow chart showing the cleaning process.
Fig. 10 is a longitudinal cross-sectional view of a cleaning arm according to a modified example.
Figure 11 is a diagram explaining the operation of a cleaning arm according to a modified example.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 대해서 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
도 1은, 실시예에 따른 기판 처리 장치의 전체 구성을 나타내는 평면도이다. 도 2는, 도 1의 기판 처리 장치를 후방(X)에서 본 도면이다.Fig. 1 is a plan view showing the overall configuration of a substrate processing device according to an embodiment. Fig. 2 is a drawing of the substrate processing device of Fig. 1 as seen from the rear (X).
<1. 전체 구성> <1. Overall composition>
기판 처리 장치(1)는, 반입출 블록(3)과, 인덱서 블록(5)과, 처리 블록(7)을 구비하고 있다.The substrate processing device (1) is equipped with an import/export block (3), an indexer block (5), and a processing block (7).
기판 처리 장치(1)는, 기판(W)을 처리한다. 기판 처리 장치(1)는, 예를 들면, 기판(W)에 대해 세정 처리를 행한다. 기판 처리 장치(1)는, 처리 블록(7)에 있어서 매엽식으로 기판(W)을 처리한다. 매엽식은, 한 장의 기판(W)을 수평 자세의 상태로 한 장씩 처리한다.The substrate processing device (1) processes a substrate (W). The substrate processing device (1) performs, for example, a cleaning process on the substrate (W). The substrate processing device (1) processes the substrate (W) in a single wafer manner in a processing block (7). The single wafer manner processes one sheet of substrate (W) at a time in a horizontal position.
본 명세서에서는, 편의상, 반입출 블록(3)과, 인덱서 블록(5)과, 처리 블록(7)이 늘어서는 방향을, 「전후 방향(X)」으로 부른다. 전후 방향(X)은 수평이다. 전후 방향(X) 중, 처리 블록(7)에서 반입출 블록(3)을 향하는 방향을 「전방」으로 부른다. 전방과 반대의 방향을 「후방」으로 부른다. 전후 방향(X)과 직교하는 수평 방향을, 「폭 방향(Y)」으로 부른다. 「폭 방향(Y)」의 일 방향을 적절히 「우방」으로 부른다. 우방과는 반대의 방향을 「좌방」으로 부른다. 수평 방향에 대해 수직인 방향을 「연직 방향(Z)」으로 부른다. 각 도면에서는, 참고로서, 전, 후, 우, 좌, 상, 하를 적절히 나타낸다.In this specification, for convenience, the direction in which the load-out block (3), the indexer block (5), and the processing block (7) are lined up is called the “front-back direction (X).” The front-back direction (X) is horizontal. Among the front-back directions (X), the direction from the processing block (7) toward the load-out block (3) is called the “front.” The direction opposite to the front is called the “rear.” The horizontal direction orthogonal to the front-back direction (X) is called the “width direction (Y).” One direction of the “width direction (Y)” is called the “right” as appropriate. The direction opposite to the right is called the “left.” The direction perpendicular to the horizontal direction is called the “vertical direction (Z).” In each drawing, front, back, right, left, up, and down are appropriately indicated for reference.
<2. 반입출 블록> <2. Import/Export Block>
반입출 블록(3)은, 투입부(9)와 불출부(拂出部)(11)를 구비하고 있다. 투입부(9)와 불출부(11)는, 폭 방향(Y)으로 배치되어 있다. 기판(W)은, 복수 장(예를 들면, 25장)이 하나의 캐리어(C) 내에 수평 자세로 일정한 간격을 두고 적층 수납되어 있다. 미처리 기판(W)을 수납한 캐리어(C)는, 투입부(9)에 재치된다. 투입부(9)는, 예를 들면, 캐리어(C)가 재치되는 재치대(13)를 두 개 구비하고 있다. 캐리어(C)는, 기판(W)의 면끼리 이격되어, 기판(W)을 한 장씩 수용하는 홈(도시 생략)이 복수 개 형성되어 있다. 캐리어(C)는, 예를 들면, 기판(W)의 표면을 위로 향하게 한 자세로 수용한다. 캐리어(C)로서는, 예를 들면, FOUP(Front Opening Unify Pod)가 있다. FOUP는, 밀폐형 용기이다. 캐리어(C)는, 개방형 용기여도 되고, 종류를 가리지 않는다.The loading/unloading block (3) has an input section (9) and an output section (11). The input section (9) and the output section (11) are arranged in the width direction (Y). A plurality of substrates (W) (for example, 25 substrates) are stacked and stored in a horizontal position at a certain interval within one carrier (C). The carrier (C) storing the unprocessed substrates (W) is placed on the input section (9). The input section (9) has, for example, two mounting tables (13) on which the carriers (C) are placed. The carrier (C) has a plurality of grooves (not shown) formed so that the surfaces of the substrates (W) are spaced apart from each other and each receives the substrates (W) one by one. The carrier (C) receives the substrates (W) in an attitude such that the surfaces thereof face upward. As the carrier (C), for example, there is a FOUP (Front Opening Unify Pod). FOUP is a closed container. The carrier (C) may be an open container or of any type.
불출부(11)는, 기판 처리 장치(1)에 있어서의 폭 방향(Y)의 중앙부를 사이에 둔 투입부(9)의 반대 측에 배치되어 있다. 불출부(11)는, 투입부(9)의 좌방(Y)에 배치되어 있다. 불출부(11)는, 처리가 완료된 기판(W)을 캐리어(C)에 수납하여 캐리어(C)마다 불출한다. 이와 같이 기능하는 불출부(11)는, 투입부(9)와 마찬가지로, 예를 들면, 캐리어(C)를 재치하기 위한 두 개의 재치대(13)를 구비하고 있다. 투입부(9)와 불출부(11)는, 로드 포트라고도 불린다.The discharge unit (11) is arranged on the opposite side of the input unit (9) with respect to the center of the width direction (Y) of the substrate processing device (1). The discharge unit (11) is arranged on the left side (Y) of the input unit (9). The discharge unit (11) stores the substrate (W) that has been processed in the carrier (C) and discharges it for each carrier (C). The discharge unit (11) that functions in this manner, like the input unit (9), has, for example, two loading tables (13) for loading the carrier (C). The input unit (9) and the discharge unit (11) are also called load ports.
<3. 인덱서 블록><3. Indexer Block>
인덱서 블록(5)은, 기판 처리 장치(1)에 있어서의 반입출 블록(3)의 후방(X)에 인접하여 배치되어 있다. 인덱서 블록(5)은, 인덱서 로봇(IR)과, 수도부(受渡部)(15)를 구비하고 있다.The indexer block (5) is positioned adjacent to the rear (X) of the load/unload block (3) in the substrate processing device (1). The indexer block (5) is equipped with an indexer robot (IR) and a receiving section (15).
인덱서 로봇(IR)은, 연직 방향(Z) 둘레로 회전 가능하게 구성되어 있다. 인덱서 로봇(IR)은, 폭 방향(Y)으로 이동 가능하게 구성되어 있다. 인덱서 로봇(IR)은, 제1 핸드(19)와, 제2 핸드(21)를 구비하고 있다. 도 1에서는, 도시의 관계상, 하나의 핸드만을 나타낸다. 제1 핸드(19)와, 제2 핸드(21)는, 각각 1장의 기판(W)을 유지한다. 제1 핸드(19)와 제2 핸드(21)는, 독립적으로 전후 방향(X)으로 진퇴 가능하게 구성되어 있다. 인덱서 로봇(IR)은, 폭 방향(Y)으로 이동함과 더불어 연직 방향(Z) 둘레로 회전하고, 제1 핸드(19)나 제2 핸드(21)를 진퇴시켜 각 카세트(C)와의 사이에서 기판(W)을 수도한다. 마찬가지로, 인덱서 로봇(IR)은, 수도부(15)와의 사이에서 기판(W)을 수도한다.The indexer robot (IR) is configured to be rotatable around the vertical direction (Z). The indexer robot (IR) is configured to be movable in the width direction (Y). The indexer robot (IR) has a first hand (19) and a second hand (21). In Fig. 1, only one hand is shown due to the relationship between the illustrations. The first hand (19) and the second hand (21) each hold one substrate (W). The first hand (19) and the second hand (21) are configured to be independently moved forward and backward in the forward and backward direction (X). The indexer robot (IR) moves in the width direction (Y) and rotates around the vertical direction (Z), and moves the first hand (19) or the second hand (21) forward and backward to move the substrate (W) between each cassette (C). Similarly, the indexer robot (IR) moves the substrate (W) between the moving section (15).
수도부(15)는, 인덱서 블록(5) 중, 처리 블록(7)과의 경계에 배치되어 있다. 수도부(15)는, 예를 들면, 폭 방향(Y)의 중앙부에 배치되어 있다. 도 2에 나타내는 바와 같이, 수도부(15)는, 연직 방향(Z)으로 길게 형성되어 있다.The water supply unit (15) is arranged at the boundary with the processing block (7) among the indexer blocks (5). The water supply unit (15) is arranged, for example, at the center in the width direction (Y). As shown in Fig. 2, the water supply unit (15) is formed long in the vertical direction (Z).
수도부(15)는, 연직 방향(Z)의 하방에서 상방을 향해, 제1 반전 유닛(23)과, 패스부(25)와, 패스부(27)와, 제2 반전 유닛(29)을 구비하고 있다.The water supply unit (15) is provided with a first inversion unit (23), a pass unit (25), a pass unit (27), and a second inversion unit (29) from the downward to the upward direction in the vertical direction (Z).
제1 반전 유닛(23)은, 인덱서 블록(5)으로부터 수취한 기판(W)의 상하를 반전시킨다. 제1 반전 유닛(23)은, 기판(W)의 수평 자세를 반전시킨다. 구체적으로는, 제1 반전 유닛(23)은, 표면이 위로 향해진 기판(W)을, 표면이 아래로 향해진 자세로 변환한다. 환언하면, 이면이 위를 향한 자세가 되도록 기판(W)의 자세를 변환한다.The first inversion unit (23) inverts the top and bottom of the substrate (W) received from the indexer block (5). The first inversion unit (23) inverts the horizontal position of the substrate (W). Specifically, the first inversion unit (23) converts the substrate (W) whose surface is facing upward into a position in which the surface is facing downward. In other words, it converts the position of the substrate (W) so that the back side is facing upward.
제2 반전 유닛(29)은, 그 반대의 동작을 행한다. 즉, 제2 반전 유닛(29)은, 처리 블록(7)으로부터 수취한 기판(W)의 상하를 반전시킨다. 제2 반전 유닛(29)은, 표면이 아래로 향해진 기판(W)을, 표면이 위로 향해진 자세로 변환한다. 환언하면, 이면이 아래를 향한 자세가 되도록 기판(W)의 자세를 변환한다.The second inversion unit (29) performs the opposite operation. That is, the second inversion unit (29) inverts the top and bottom of the substrate (W) received from the processing block (7). The second inversion unit (29) converts the substrate (W) with its surface facing downward into a posture in which its surface faces upward. In other words, it converts the posture of the substrate (W) so that its back side faces downward.
상기의 제1 반전 유닛(23)과 제2 반전 유닛(29)의 반전 방향은, 서로 반대여도 된다. 즉, 제1 반전 유닛(23)은, 표면이 위를 향한 자세가 되도록 기판(W)의 자세를 변환한다. 제2 반전 유닛(29)은, 이면이 위를 향한 자세가 되도록 기판(W)의 자세를 변환한다.The inversion directions of the first inversion unit (23) and the second inversion unit (29) described above may be opposite to each other. That is, the first inversion unit (23) changes the posture of the substrate (W) so that the surface faces upward. The second inversion unit (29) changes the posture of the substrate (W) so that the back surface faces upward.
패스부(25, 27)는, 인덱서 블록(5)과 처리 블록(7) 사이에서 기판(W)의 수도를 행하기 위해 이용된다. 패스부(25)는, 예를 들면, 처리 블록(7)에서 인덱서 블록(5)으로 기판(W)을 반송하기 위해 이용된다. 패스부(27)는, 예를 들면, 인덱서 블록(5)에서 처리 블록(7)으로 기판(W)을 반송하기 위해 이용된다. 또한, 패스부(25, 27)에 있어서의 기판(W)의 반송 방향은, 서로 역방향이어도 된다.The pass section (25, 27) is used to transfer the substrate (W) between the indexer block (5) and the processing block (7). The pass section (25) is used, for example, to return the substrate (W) from the processing block (7) to the indexer block (5). The pass section (27) is used, for example, to return the substrate (W) from the indexer block (5) to the processing block (7). In addition, the return directions of the substrate (W) in the pass sections (25, 27) may be opposite to each other.
<4. 처리 블록> <4. Processing Block>
처리 블록(7)은, 예를 들면, 기판(W)에 대해 세정 처리를 행한다. 세정 처리는, 예를 들면, 처리액에 더하여 브러시를 이용한 처리이다. 처리 블록(7)은, 도 1에 나타내는 바와 같이, 예를 들면, 폭 방향(Y)에 있어서, 제1 열(R1)과, 제2 열(R2)과, 제3 열(R3)로 나누어진다. 상세하게는, 제1 열(R1)은, 좌방(Y)에 배치되어 있다. 제2 열(R2)은, 폭 방향(Y)의 중앙부에 배치되어 있다. 환언하면, 제2 열(R2)은, 제1 열(R1)의 우방(Y)에 배치되어 있다. 제3 열(R3)은, 제2 열(R2)의 우방(Y)에 배치되어 있다.The processing block (7) performs, for example, a cleaning treatment on the substrate (W). The cleaning treatment is, for example, a treatment using a brush in addition to a processing liquid. The processing block (7), as shown in Fig. 1, is divided into, for example, a first column (R1), a second column (R2), and a third column (R3) in the width direction (Y). Specifically, the first column (R1) is arranged on the left side (Y). The second column (R2) is arranged in the center portion in the width direction (Y). In other words, the second column (R2) is arranged on the right side (Y) of the first column (R1). The third column (R3) is arranged on the right side (Y) of the second column (R2).
<4-1. 제1 열> <4-1. Column 1>
처리 블록(7)의 제1 열(R1)은, 복수 개의 처리 유닛(31)을 구비하고 있다. 제1 열(R1)은, 예를 들면, 4개의 처리 유닛(31)을 구비하고 있다. 제1 열(R1)은, 4개의 처리 유닛(31)을 연직 방향(Z)으로 적층하여 배치되어 있다. 각 처리 유닛(31)에 대해서는, 상세를 후술한다. 각 처리 유닛(31)은, 예를 들면, 세정 유닛이다. 세정 유닛은, 기판(W)을 세정 처리한다. 세정 유닛으로서는, 기판(W)의 표면을 세정 처리하는 표면 세정 유닛과, 기판(W)의 이면을 세정 처리하는 이면 세정 유닛이 있다. 본 실시예에서는, 처리 유닛(31)으로서 이면 세정 유닛(SSR)을 예로 들어 설명한다.The first row (R1) of the processing block (7) has a plurality of processing units (31). The first row (R1) has, for example, four processing units (31). The first row (R1) has the four processing units (31) stacked in the vertical direction (Z) and arranged. Each processing unit (31) will be described in detail later. Each processing unit (31) is, for example, a cleaning unit. The cleaning unit cleans the substrate (W). As the cleaning unit, there are a surface cleaning unit that cleans the surface of the substrate (W) and a back cleaning unit that cleans the back surface of the substrate (W). In this embodiment, the back cleaning unit (SSR) will be described as an example of the processing unit (31).
<4-2. 제2 열> <4-2. Column 2>
처리 블록(7)의 제2 열(R2)은, 센터 로봇(CR)을 구비하고 있다. 센터 로봇(CR)은, 연직 방향(Z) 둘레로 회전 가능하게 구성되어 있다. 센터 로봇(CR)은, 연직 방향(Z)으로 승강 가능하게 구성되어 있다. 센터 로봇(CR)은, 예를 들면, 제1 핸드(33)와 제2 핸드(35)를 구비하고 있다. 제1 핸드(33)와 제2 핸드(35)는, 각각 1장의 기판(W)을 유지한다. 제1 핸드(33)와 제2 핸드(35)는, 독립적으로 전후 방향(X) 및 폭 방향(Y)으로 진퇴 가능하게 구성되어 있다.The second row (R2) of the processing block (7) is equipped with a center robot (CR). The center robot (CR) is configured to be rotatable around the vertical direction (Z). The center robot (CR) is configured to be able to ascend and descend in the vertical direction (Z). The center robot (CR) is equipped with, for example, a first hand (33) and a second hand (35). The first hand (33) and the second hand (35) each hold one substrate (W). The first hand (33) and the second hand (35) are configured to be able to advance and retreat independently in the forward-backward direction (X) and the width direction (Y).
<4-3. 제3 열><4-3. Column 3>
처리 블록(7)의 제3 열(R3)은, 제1 열(R1)과 동일한 구성이다. 즉, 제3 열(R3)은, 복수 개의 처리 유닛(31)을 구비하고 있다. 제3 열(R3)은, 예를 들면, 4개의 처리 유닛(31)을 구비하고 있다. 제3 열(R3)은, 4개의 처리 유닛(31)을 연직 방향(Z)으로 적층하여 배치되어 있다. 제1 열(R1)의 각 처리 유닛(31)과 제3 열(R3)의 각 처리 유닛(31)은, 폭 방향(Y)에 있어서 대향하여 배치되어 있다. 이로 인해, 센터 로봇(CR)이 연직 방향(Z)의 같은 높이에 있어서 제1 열(R1)과 제3 열(R3)의 대향하는 각 처리 유닛(31)에 액세스 할 수 있다.The third row (R3) of the processing block (7) has the same configuration as the first row (R1). That is, the third row (R3) has a plurality of processing units (31). The third row (R3) has, for example, four processing units (31). The third row (R3) has the four processing units (31) stacked and arranged in the vertical direction (Z). Each processing unit (31) of the first row (R1) and each processing unit (31) of the third row (R3) are arranged to face each other in the width direction (Y). Due to this, the center robot (CR) can access the opposing processing units (31) of the first row (R1) and the third row (R3) at the same height in the vertical direction (Z).
처리 블록(7)은, 상술한 바와 같이 구성되어 있다. 여기서, 센터 로봇(CR)의 동작예를 간단하게 설명한다. 센터 로봇(CR)은, 예를 들면, 제1 반전 유닛(23)으로부터 기판(W)을 수취한다. 센터 로봇(CR)은, 제1 열(R1) 및 제3 열(R3) 중 어느 하나의 이면 세정 유닛(SSR)에 기판(W)을 반송하여 기판(W)의 이면에 세정 처리를 행하게 한다. 센터 로봇(CR)은, 제1 열(R1) 및 제3 열(R3) 중 어느 하나의 이면 세정 유닛(SSR)에서 세정 처리가 행해진 기판(W)을 수취한다. 센터 로봇(CR)은, 제2 반전 유닛(29)에 기판(W)을 반송한다.The processing block (7) is configured as described above. Here, an operation example of the center robot (CR) will be briefly described. The center robot (CR) receives, for example, a substrate (W) from the first inversion unit (23). The center robot (CR) returns the substrate (W) to the back-side cleaning unit (SSR) of one of the first column (R1) and the third column (R3) to perform a cleaning process on the back side of the substrate (W). The center robot (CR) receives the substrate (W) that has been cleaned in the back-side cleaning unit (SSR) of one of the first column (R1) and the third column (R3). The center robot (CR) returns the substrate (W) to the second inversion unit (29).
<4-4. 처리 유닛> <4-4. Processing Unit>
여기서, 도 3~도 5를 참조하여, 이면 세정 유닛(SSR)(처리 유닛(31))에 대해서 설명한다. 도 3은, 실시예에 따른 이면 세정 유닛의 개략 구성을 나타내는 평면도이다. 도 4는, 이면 세정 유닛의 개략 구성을 나타내는 측면도이다. 도 5는, 세정 아암의 종단면도이다.Here, with reference to FIGS. 3 to 5, the back cleaning unit (SSR) (processing unit (31)) will be described. FIG. 3 is a plan view showing a schematic configuration of a back cleaning unit according to an embodiment. FIG. 4 is a side view showing a schematic configuration of a back cleaning unit. FIG. 5 is a cross-sectional view of a cleaning arm.
또한, 여기에서는, 제1 열(R1)이 구비하고 있는 이면 세정 유닛(SSR)을 예로 들어 설명한다. 제3 열(R3)의 이면 세정 유닛(SSR)은, 폭 방향(Y)에 있어서의 배치를 바꿔 넣은 것 같은 구성이 된다.In addition, here, the back cleaning unit (SSR) equipped in the first column (R1) is explained as an example. The back cleaning unit (SSR) of the third column (R3) is configured as if the arrangement in the width direction (Y) has been changed.
이면 세정 유닛(SSR)은, 회전 유지부(37)와, 가드(39)와, 제1 처리액 아암(41)과, 제2 처리액 아암(43)과, 세정 아암(45)과, 대기 포트(47)를 구비하고 있다.The back cleaning unit (SSR) is equipped with a rotating maintenance part (37), a guard (39), a first treatment liquid arm (41), a second treatment liquid arm (43), a cleaning arm (45), and a waiting port (47).
<4-4-1. 회전 유지부><4-4-1. Rotation maintenance part>
회전 유지부(37)는, 평면에서 봤을 때 이면 세정 유닛(SSR)의 거의 중앙에 배치되어 있다. 회전 유지부(37)는, 기판(W)을 수평 자세로 유지한 상태로, 기판(W)을 수평면 내에서 회전시킨다. 회전 유지부(37)는, 전동 모터(49)와, 회전축(51)과, 스핀 척(53)과, 지지 핀(55)을 구비하고 있다.The rotation support member (37) is arranged almost at the center of the back cleaning unit (SSR) when viewed from the plane. The rotation support member (37) rotates the substrate (W) within the horizontal plane while maintaining the substrate (W) in a horizontal position. The rotation support member (37) is equipped with an electric motor (49), a rotation shaft (51), a spin chuck (53), and a support pin (55).
전동 모터(49)는, 회전축(51)이 연직 방향(Z)으로 향해진 자세로 배치되어 있다. 회전축(51)은, 상단에 스핀 척(53)이 장착되어 있다. 스핀 척(53)은, 기판(W)의 직경보다 약간 큰 직경을 갖는다. 스핀 척(53)은, 원 형상의 판 형상 부재이다. 스핀 척(53)은, 복수 개의 지지 핀(55)을 구비하고 있다. 이 실시예에서는, 예를 들면, 6개의 지지 핀(55)을 구비하고 있다. 6개의 지지 핀(55)은, 기판(W)의 외주연에 맞닿아 기판(W)을 수평 자세로 지지한다. 복수 개의 지지 핀(55)은, 기판(W)을 수평 자세로 안정적으로 지지할 수 있으면, 지지 핀(55)의 개수는 6개로 한정되지 않는다. 6개의 지지 핀(55)은, 스핀 척(53)에 있어서의 기판(W)의 외주연 부근에 세워져 설치되어 있다. 6개의 지지 핀(55)은, 기판(W)을 스핀 척(53)에 반입할 때와, 기판(W)을 스핀 척(53)으로부터 반출할 때에는, 기판(W)의 주연의 유지를 해제한다. 그 때문에, 각 지지 핀(55)은, 연직 방향(Z) 둘레로 회전 가능하게 구성되어 있다. 그 동작을 행하기 위한 구체적인 구성의 설명에 대해서는 생략한다. 회전 유지부(37)는, 전동 모터(49)를 회전시키면, 회전 중심(P1) 둘레로 스핀 척(53)을 회전시킨다. 회전 중심(P1)은, 연직 방향(Z)이다.The electric motor (49) is arranged in a posture in which the rotation axis (51) is directed in the vertical direction (Z). The rotation axis (51) has a spin chuck (53) mounted on the upper end. The spin chuck (53) has a diameter slightly larger than the diameter of the substrate (W). The spin chuck (53) is a circular plate-shaped member. The spin chuck (53) has a plurality of support pins (55). In this embodiment, for example, six support pins (55) are provided. The six support pins (55) contact the outer periphery of the substrate (W) and support the substrate (W) in a horizontal posture. The number of support pins (55) is not limited to six as long as the plurality of support pins (55) can stably support the substrate (W) in a horizontal posture. The six support pins (55) are installed so as to stand near the outer periphery of the substrate (W) in the spin chuck (53). The six support pins (55) release the support of the periphery of the substrate (W) when loading the substrate (W) into the spin chuck (53) and when removing the substrate (W) from the spin chuck (53). Therefore, each support pin (55) is configured to be rotatable around the vertical direction (Z). A description of the specific configuration for performing the operation is omitted. The rotation holding unit (37) rotates the spin chuck (53) around the rotation center (P1) when the electric motor (49) is rotated. The rotation center (P1) is in the vertical direction (Z).
<4-4-2. 가드> <4-4-2. Guard>
가드(39)는, 평면에서 봤을 때 회전 유지부(37)를 둘러싸도록 배치되어 있다. 상세하게는, 가드(39)는, 원통 형상의 몸통부(57)와, 경사부(59)를 구비한다. 가드(39)는, 연직 방향(Z)으로 승강 가능하게 구성되어 있다. 가드(39)는, 하강한 대기 위치와, 대기 위치보다 상방의 처리 위치로 승강 가능하다. 가드(39)를 승강시키는 구체적인 구성의 설명에 대해서는 생략한다.The guard (39) is arranged to surround the rotational support member (37) when viewed from a plan view. Specifically, the guard (39) has a cylindrical body (57) and an inclined member (59). The guard (39) is configured to be raised and lowered in the vertical direction (Z). The guard (39) can be raised and lowered to a lowered standby position and a processing position higher than the standby position. A description of the specific configuration for raising and lowering the guard (39) is omitted.
가드(39)의 몸통부(57)는, 통 형상을 나타낸다. 몸통부(57)는, 내주면이 회전 유지부(37)의 외주 측에서 외방으로 이격되어 배치되어 있다. 경사부(59)는, 몸통부(57)의 상부로부터 회전축(51) 측에 가까워지도록 좁혀지고 있다. 경사부(59)는, 상부에 개구부(61)를 갖는다. 개구부(61)는, 경사부(59)의 중앙부에 형성되어 있다. 개구부(61)는, 기판(W)의 직경보다 크다. 개구부(61)는, 스핀 척(53)의 직경보다 크다. 기판(W)의 반입출 시에는, 가드(39)는, 연직 방향(Z)에 있어서, 스핀 척(53)이 개구부(61)로부터 상방으로 돌출하는 위치까지 하강된다. 기판(W)의 세정 처리 시에는, 가드(39)는, 스핀 척(53)에 유지된 기판(W)의 높이 부근에 경사부(59)가 위치한다. 경사부(59)는, 경사진 내주면에서 기판(W)으로부터 주위로 비산한 처리액 등을 가드(39)의 하방으로 안내한다.The body (57) of the guard (39) has a cylindrical shape. The body (57) is arranged so that the inner surface thereof is spaced outward from the outer surface of the rotational support member (37). The inclined portion (59) is narrowed from the upper portion of the body (57) to approach the rotational axis (51). The inclined portion (59) has an opening (61) at the upper portion. The opening (61) is formed in the central portion of the inclined portion (59). The opening (61) is larger than the diameter of the substrate (W). The opening (61) is larger than the diameter of the spin chuck (53). When the substrate (W) is loaded or unloaded, the guard (39) is lowered in the vertical direction (Z) to a position where the spin chuck (53) protrudes upward from the opening (61). When cleaning the substrate (W), the guard (39) has an inclined portion (59) positioned near the height of the substrate (W) held on the spin chuck (53). The inclined portion (59) guides the treatment liquid, etc., flying around from the substrate (W) on the inclined inner surface to the lower side of the guard (39).
<4-4-3. 제1 처리액 아암><4-4-3. First treatment liquid arm>
제1 처리액 아암(41)은, 평면에서 봤을 때 회전 유지부(37)의 후방(X)에 배치되어 있다. 제1 처리액 아암(41)은, 기단부 측에 전동 모터(42)를 구비하고 있다. 제1 처리액 아암(41)은, 전동 모터(42)에 의해 기단부 측의 회전 중심(P2) 둘레로 요동된다. 회전 중심(P2)은, 연직 방향(Z)이다. 제1 처리액 아암(41)은, 1개의 노즐(63)을 구비하고 있다. 노즐(63)은, 하방에 토출구를 구비하고 있다. 노즐(63)은, 처리액을 토출한다. 제1 처리액 아암(41)은, 노즐(63)의 선단부가 도 3에 나타내는 대기 위치와, 회전 중심(P1) 부근의 공급 위치에 걸쳐 요동 가능하게 구성되어 있다. 제1 처리액 아암(41)은, 처리액을 기판(W)에 공급할 때에는, 노즐(63)의 선단부가 공급 위치로 이동된다. 제1 처리액 아암(41)은, 처리액을 기판(W)에 공급하지 않는 경우에는, 노즐(63)의 선단부가 대기 위치로 이동된다. 제1 처리액 아암(41)은, 처리액을 기판(W)에 공급할 때에, 세정 아암(45)과 간섭하지 않도록, 노즐(63)을 기판(W)의 상방에서 요동 이동하도록 해도 된다.The first treatment liquid arm (41) is arranged at the rear (X) of the rotation support member (37) when viewed from the plane. The first treatment liquid arm (41) is equipped with an electric motor (42) on the base side. The first treatment liquid arm (41) is swung around a rotation center (P2) on the base side by the electric motor (42). The rotation center (P2) is in the vertical direction (Z). The first treatment liquid arm (41) is equipped with one nozzle (63). The nozzle (63) is equipped with a discharge port on the lower side. The nozzle (63) discharges the treatment liquid. The first treatment liquid arm (41) is configured so that the tip of the nozzle (63) can swung between the standby position shown in Fig. 3 and the supply position near the rotation center (P1). When the first treatment liquid arm (41) supplies the treatment liquid to the substrate (W), the tip end of the nozzle (63) moves to the supply position. When the first treatment liquid arm (41) does not supply the treatment liquid to the substrate (W), the tip end of the nozzle (63) moves to the standby position. When the first treatment liquid arm (41) supplies the treatment liquid to the substrate (W), the nozzle (63) may be moved in a swing manner above the substrate (W) so as not to interfere with the cleaning arm (45).
노즐(63)로부터 토출되는 처리액으로서는, 예를 들면, 린스액을 들 수 있다. 린스액으로서는, 예를 들면, 순수, 탄산수, 전해 이온수, 수소수, 오존수 등을 들 수 있다.As the treatment liquid discharged from the nozzle (63), for example, a rinse liquid can be mentioned. As the rinse liquid, for example, pure water, carbonated water, electrolytic ion water, hydrogen water, ozone water, etc. can be mentioned.
<4-4-4. 제2 처리액 아암> <4-4-4. Second treatment liquid arm>
제2 처리액 아암(43)은, 평면에서 봤을 때 회전 유지부(37)의 좌방(Y)에 배치되어 있다. 제2 처리액 아암(43)은, 기단부 측에 전동 모터(44)를 구비하고 있다. 제2 처리액 아암은, 전동 모터(44)에 의해 기단부 측의 회전 중심(P3) 둘레로 요동된다. 회전 중심(P3)은, 연직 방향(Z)이다. 제2 처리액 아암(43)은, 3개의 노즐(65, 67, 69)을 구비하고 있다. 각 노즐(65, 67, 69)은, 하방에 토출구를 구비하고 있다. 노즐(65, 67, 69)은, 처리액을 토출한다. 제2 처리액 아암(43)은, 노즐(65, 67, 69)의 선단부가 도 3에 나타내는 대기 위치와, 회전 중심(P1) 부근의 공급 위치에 걸쳐 요동 가능하게 구성되어 있다. 제2 처리액 아암(43)은, 처리액을 기판(W)에 공급할 때에는, 노즐(65, 67, 69)의 선단부가 공급 위치로 이동된다. 제2 처리액 아암(43)은, 처리액을 기판(W)에 공급하지 않는 경우에는, 노즐(65, 67, 69)의 선단부가 대기 위치로 이동된다. 제2 처리액 아암(43)은, 처리액을 기판(W)에 공급할 때에, 세정 아암(45)과 간섭하지 않도록, 노즐(65, 67, 69)을 기판(W)의 상방에서 요동 이동하도록 해도 된다.The second treatment liquid arm (43) is arranged on the left side (Y) of the rotation support member (37) when viewed from the plane. The second treatment liquid arm (43) is equipped with an electric motor (44) on the base side. The second treatment liquid arm is swung around the rotation center (P3) on the base side by the electric motor (44). The rotation center (P3) is in the vertical direction (Z). The second treatment liquid arm (43) is equipped with three nozzles (65, 67, 69). Each nozzle (65, 67, 69) is equipped with a discharge port on the lower side. The nozzles (65, 67, 69) discharge the treatment liquid. The second treatment liquid arm (43) is configured so that the tip portions of the nozzles (65, 67, 69) can swing between the standby position shown in FIG. 3 and the supply position near the center of rotation (P1). When the second treatment liquid arm (43) supplies the treatment liquid to the substrate (W), the tip portions of the nozzles (65, 67, 69) move to the supply position. When the second treatment liquid arm (43) does not supply the treatment liquid to the substrate (W), the tip portions of the nozzles (65, 67, 69) move to the standby position. When the second treatment liquid arm (43) supplies the treatment liquid to the substrate (W), the nozzles (65, 67, 69) may swing above the substrate (W) so as not to interfere with the cleaning arm (45).
노즐(65, 67, 69)로부터 토출되는 처리액으로서는, 예를 들면, 약액을 들 수 있다. 약액으로서는, 예를 들면, 황산, 질산, 아세트산, 염산, 불화수소산, 암모니아수, 과산화수소수 중 적어도 하나를 포함하는 약액이다. 보다 구체적인 약액으로서는, 예를 들면, 암모니아수와 과산화수소수의 혼합액인 SC-1 등을 이용할 수 있다.As the treatment liquid discharged from the nozzle (65, 67, 69), for example, a chemical liquid can be mentioned. As the chemical liquid, for example, a chemical liquid containing at least one of sulfuric acid, nitric acid, acetic acid, hydrochloric acid, hydrofluoric acid, ammonia water, and hydrogen peroxide water can be mentioned. As a more specific chemical liquid, for example, SC-1, which is a mixture of ammonia water and hydrogen peroxide water, can be used.
<4-4-5. 세정 아암> <4-4-5. Washing Arm>
세정 아암(45)은, 다음과 같이 구성되어 있다.The cleaning arm (45) is composed as follows.
세정 아암(45)은, 회전 승강 기구(71)와, 지주(73)와, 하우징(75)과, 세정부(77)를 구비하고 있다.The cleaning arm (45) is equipped with a rotating lifting mechanism (71), a support (73), a housing (75), and a cleaning unit (77).
회전 승강 기구(71)는, 지주(73)와, 하우징(75)과, 세정부(77)를 연직 방향(Z)으로 승강 가능하게 구성되어 있다. 회전 승강 기구(71)는, 지주(73)와, 하우징(75)과, 세정부(77)를 회전 중심(P4) 둘레로 요동 가능하게 구성되어 있다. 구체적으로는, 회전 승강 기구(71)는, 예를 들면, 전동 모터와 에어 실린더를 조합하여 구성되어 있다. 회전 승강 기구(71)는, 대기 위치에 있어서 세정부(77)를 대기 포트(47)로부터 연직 방향(Z)으로 상승시킨다. 회전 승강 기구(71)는, 세정부(77)가 회전 중심(P1) 부근을 지나도록 수평면 내에서 요동시킨다.The rotary elevating mechanism (71) is configured such that the support (73), the housing (75), and the cleaning section (77) can be raised and lowered in the vertical direction (Z). The rotary elevating mechanism (71) is configured such that the support (73), the housing (75), and the cleaning section (77) can swing around the rotation center (P4). Specifically, the rotary elevating mechanism (71) is configured by combining an electric motor and an air cylinder, for example. The rotary elevating mechanism (71) raises the cleaning section (77) in the vertical direction (Z) from the standby port (47) at the standby position. The rotary elevating mechanism (71) swings the cleaning section (77) within the horizontal plane so that it passes near the rotation center (P1).
지주(73)는, 원기둥 형상을 나타낸다. 지주(73)는, 회전 승강 기구(71)에 하부가 연결되어 있다. 지주(73)는, 상부가 하우징(75)의 한쪽 하부에 연결되어 있다. 하우징(75)은, 수평면 내에 장축을 갖는다. 하우징(75)은, 다른 쪽 하부에 세정부(77)를 구비하고 있다. 세정부(77)는, 회전 중심(P5) 둘레로 회전된다. 회전 중심(P5)은, 연직 방향(Z)이다.The support (73) has a cylindrical shape. The support (73) has a lower part connected to a rotary lifting mechanism (71). The support (73) has an upper part connected to one lower part of a housing (75). The housing (75) has a major axis within a horizontal plane. The housing (75) has a cleaning part (77) on the other lower part. The cleaning part (77) rotates around a rotation center (P5). The rotation center (P5) is in the vertical direction (Z).
하우징(75)은, 하부 하우징(75a)과, 상부 하우징(75b)을 구비하고 있다. 하부 하우징(75a)은, 하우징(75)의 하부를 구성한다. 상부 하우징(75b)은, 하우징(75)의 상부를 구성한다. 상부 하우징(75b)과 하부 하우징(75a)은, 서로 연결되어 있다.The housing (75) has a lower housing (75a) and an upper housing (75b). The lower housing (75a) constitutes the lower part of the housing (75). The upper housing (75b) constitutes the upper part of the housing (75). The upper housing (75b) and the lower housing (75a) are connected to each other.
하우징(75)은, 압압 기구(81)와, 회전 기구(83)를 구비하고 있다. 구체적으로는, 하부 하우징(75a)은, 압압 기구(81)와, 회전 기구(83)를 탑재하고 있다.The housing (75) is equipped with a pressing mechanism (81) and a rotating mechanism (83). Specifically, the lower housing (75a) is equipped with a pressing mechanism (81) and a rotating mechanism (83).
압압 기구(81)는, 지점 부재(85)와, 시소 부재(87)와, 압압용 액추에이터(89)와, 지지 기구(91)를 구비하고 있다.The pressure mechanism (81) is equipped with a branch member (85), a seesaw member (87), a pressure actuator (89), and a support mechanism (91).
지점 부재(85)는, 하부 하우징(75a)의 상면에 장착되어 있다. 지점 부재(85)는, 하부 하우징(75a)의 전후 방향(X)에 있어서의 거의 중앙부에 세워져 설치되어 있다. 지점 부재(85)는, 상부에 요동축(85a)을 구비하고 있다. 요동축(85a)은, 폭 방향(Y) 둘레로 회전 가능하다. 시소 부재(87)는, 중앙부(87c)가 요동축(85a)을 통해 지점 부재(85)에 요동 가능하게 장착되어 있다. 시소 부재(87)는, 한쪽 측(87l)(작용점부)과 다른 쪽 측(87r)(역점부)의 양단이 연직 방향(Z)으로 교호로 승강 가능하다. 시소 부재(87)는, 요동축(85a)이 지점이 된다.The pivot member (85) is mounted on the upper surface of the lower housing (75a). The pivot member (85) is installed so as to be erected at approximately the center of the lower housing (75a) in the front-back direction (X). The pivot member (85) has a pivot shaft (85a) on the upper portion. The pivot shaft (85a) is rotatable around the width direction (Y). The seesaw member (87) is pivotally mounted to the pivot member (85) via the pivot shaft (85a) at the center portion (87c). The seesaw member (87) can alternately be raised and lowered in the vertical direction (Z) at both ends on one side (87l) (working point) and the other side (87r) (reverse point). The seesaw member (87) has the pivot shaft (85a) as a pivot point.
압압용 액추에이터(89)는, 작동축(89a)이 연직 방향(Z)을 향해 배치되어 있다. 압압용 액추에이터(89)는, 작동축(89a)을 신장시킴으로써 시소 부재(87)의 한쪽 측(87l)을 상승시킨다. 압압용 액추에이터(89)는, 예를 들면, 에어 베어링 액츄에이터가 바람직하다.The pressure actuator (89) has an operating shaft (89a) arranged in the vertical direction (Z). The pressure actuator (89) raises one side (87l) of the seesaw member (87) by extending the operating shaft (89a). The pressure actuator (89) is preferably an air bearing actuator, for example.
에어 베어링 액츄에이터는, 작동축(89a)이 공기에 의해 미소 간극을 두고 진퇴 가능하게 지지되어 있다. 그 때문에, 이론상은, 작동축(89a)의 슬라이드 저항이 제로가 되어 마찰이 생기지 않는다. 그 때문에, 에어 베어링 액츄에이터는, 통상의 에어 실린더와 비교하여, 미소한 공기압으로도 작동축(89a)을 진퇴시킬 수 있다. 따라서, 공기압에 따라 리니어로 진퇴시키는 것이 가능하다. 단, 압압용 액추에이터(89)로서, 통상의 에어 실린더를 사용할 수도 있다.The air bearing actuator is supported by an operating shaft (89a) that can be moved forward and backward by air with a microscopic gap. Therefore, theoretically, the sliding resistance of the operating shaft (89a) becomes zero, and friction does not occur. Therefore, the air bearing actuator can move the operating shaft (89a) forward and backward even with a microscopic air pressure, compared to a normal air cylinder. Therefore, it is possible to move forward and backward linearly according to the air pressure. However, a normal air cylinder can also be used as the pressure actuator (89).
전후 방향(X)에 있어서, 지점 부재(85)를 사이에 둔 압압용 액추에이터(89)의 반대 측에는, 지지 기구(91)가 설치되어 있다. 지지 기구(91)는, 세정부(77)를 지지한다. 지지 기구(91)는, 하우징(75)의 하방에 세정부(77)를 현수(懸垂) 지지한다.In the forward/backward direction (X), a support mechanism (91) is installed on the opposite side of the pressure actuator (89) with the support member (85) in between. The support mechanism (91) supports the cleaning unit (77). The support mechanism (91) suspends and supports the cleaning unit (77) below the housing (75).
지지 기구(91)는, 유지 부재(93)와, 탄성 가압부(95)와, 가이드부(97)를 구비하고 있다.The support mechanism (91) is equipped with a holding member (93), an elastic pressure member (95), and a guide member (97).
지지 기구(91)는, 세정부(77)를 현수 지지한다. 세정부(77)는, 브러시(99)와, 브러시 홀더(101)를 구비하고 있다. 브러시(99)는, 기판(W)에 작용하여 세정을 행한다. 브러시 홀더(101)는, 브러시(99)를 유지한다. 브러시 홀더(101)는, 브러시(99)를 착탈이 자유롭게 유지한다. 브러시 홀더(101)는, 평면에서 봤을 때 중심부에 회전축(103)이 장착되어 있다. 회전축(103)은, 브러시 홀더(101)로부터 연직 방향(Z)으로 연장되어 있다.The support mechanism (91) supports the cleaning unit (77) in a suspended manner. The cleaning unit (77) is equipped with a brush (99) and a brush holder (101). The brush (99) acts on the substrate (W) to clean it. The brush holder (101) holds the brush (99). The brush holder (101) holds the brush (99) in a detachable manner. The brush holder (101) has a rotational shaft (103) mounted at the center when viewed from the plane. The rotational shaft (103) extends in the vertical direction (Z) from the brush holder (101).
유지 부재(93)는, 회전축(103)을 회전이 자유롭게 유지한다. 회전축(103)은, 예를 들면, 스플라인 축으로 구성되어 있다. 회전축(103)은, 스플라인 너트(103a)를 통해 유지 부재(93)에 장착되어 있다. 회전축(103)은, 스플라인 너트(103a)에 대해 연직 방향(Z)으로 이동 가능하다. 유지 부재(93)는, 연직 방향(Z) 둘레로 회전 가능한 상태로 스플라인 너트(103a)를 유지한다. 스플라인 너트(103a)는, 도시하지 않는 베어링을 통해 유지 부재(93)에 장착되어 있다. 회전축(103)은, 회전 중심(P5) 둘레로 회전 가능하다. 유지 부재(93)의 상부에 돌출된 스플라인 너트(103a)에는, 풀리(105)가 장착되어 있다. 풀리(105)는, 스플라인 너트(103a)의 외주면에 고정되어 있다. 풀리(105)가 회전하면, 스플라인 너트(103a)가 회전하고, 이와 함께 회전축(103)도 같은 방향으로 회전한다.The retaining member (93) freely maintains the rotational shaft (103). The rotational shaft (103) is configured as, for example, a spline shaft. The rotational shaft (103) is mounted to the retaining member (93) via a spline nut (103a). The rotational shaft (103) is movable in the vertical direction (Z) with respect to the spline nut (103a). The retaining member (93) maintains the spline nut (103a) in a state where it can rotate around the vertical direction (Z). The spline nut (103a) is mounted to the retaining member (93) via a bearing (not shown). The rotational shaft (103) is rotatable around the rotation center (P5). A pulley (105) is mounted on the spline nut (103a) protruding from the upper portion of the retaining member (93). The pulley (105) is fixed to the outer surface of the spline nut (103a). When the pulley (105) rotates, the spline nut (103a) rotates, and the rotation shaft (103) also rotates in the same direction.
풀리(105)의 상부에는, 탄성 가압부(95)가 배치되어 있다. 탄성 가압부(95)는, 상부 유지부(107)와, 하부 유지부(109)와, 코일 스프링(111)을 구비하고 있다. 상부 유지부(107)는, 회전축(103)의 상부 측에 베어링(도시하지 않음)을 통해 장착되어 있다. 환언하면, 상부 유지부(107)는, 회전축(103)이 회전해도 정지한 채로 있다. 하부 유지부(109)는, 상부 유지부(107)로부터 이격되어 배치되어 있다. 하부 유지부(109)는, 상부 유지부(107)의 하방이며, 풀리(105)의 상부에 배치되어 있다. 하부 유지부(109)는, 상부 유지부(107)의 하방이며, 풀리(105)의 상부에 배치되어 있다. 하부 유지부(109)는, 내주면이 회전축(103)의 외주면으로부터 이격되어 배치되어 있다. 따라서, 하부 유지부(109)는, 회전축(103)이 회전해도 정지한 채로 있다. 또, 하부 유지부(109)는, 풀리(105)의 상면에 베어링을 통해 장착되어 있다. 따라서, 하부 유지부(109)는, 풀리(105)의 회전에 영향을 받지 않는다.An elastic pressure member (95) is arranged on the upper portion of the pulley (105). The elastic pressure member (95) is provided with an upper holding member (107), a lower holding member (109), and a coil spring (111). The upper holding member (107) is mounted on the upper side of the rotation shaft (103) via a bearing (not shown). In other words, the upper holding member (107) remains stationary even when the rotation shaft (103) rotates. The lower holding member (109) is arranged spaced apart from the upper holding member (107). The lower holding member (109) is arranged below the upper holding member (107) and above the pulley (105). The lower holding member (109) is arranged below the upper holding member (107) and above the pulley (105). The lower retaining member (109) is arranged with its inner surface spaced from the outer surface of the rotation shaft (103). Therefore, the lower retaining member (109) remains stationary even when the rotation shaft (103) rotates. In addition, the lower retaining member (109) is mounted on the upper surface of the pulley (105) via a bearing. Therefore, the lower retaining member (109) is not affected by the rotation of the pulley (105).
코일 스프링(111)은, 상부 유지부(107)와 하부 유지부(109)에 장착되어 있다. 코일 스프링(111)은, 상부 유지부(107)에 상단이 고정되어 있다. 코일 스프링(111)은, 하부 유지부(109)에 하단이 고정되어 있다. 코일 스프링(111)은, 예를 들면, 원통 형상을 나타낸다. 코일 스프링(111)은, 압축 코일 스프링이다. 따라서, 풀리(105)의 상면 및 하부 유지부(109)로부터 상방으로 상부 유지부(107)가 탄성 가압된다. 그 결과, 회전축(103)이 연직 방향(Z)의 상방으로 탄성 가압된다. 그 때문에, 압압용 액추에이터(89)가 작동하고 있지 않은 통상 상태에 있어서는, 브러시(99)는, 하부 하우징(75a)의 하면으로부터 일정한 높이에 유지된다. 환언하면, 통상 상태에 있어서는, 브러시(99)에 의한 하중은 제로이다.The coil spring (111) is mounted on the upper holding member (107) and the lower holding member (109). The upper end of the coil spring (111) is fixed to the upper holding member (107). The lower end of the coil spring (111) is fixed to the lower holding member (109). The coil spring (111) has, for example, a cylindrical shape. The coil spring (111) is a compression coil spring. Therefore, the upper holding member (107) is elastically pressed upward from the upper surface of the pulley (105) and the lower holding member (109). As a result, the rotation shaft (103) is elastically pressed upward in the vertical direction (Z). Therefore, in a normal state where the pressure actuator (89) is not operating, the brush (99) is maintained at a constant height from the lower surface of the lower housing (75a). In other words, in normal conditions, the load by the brush (99) is zero.
지지 기구(91)는, 연직 방향(Z)으로 승강하는 회전축(103)을 지지한다. 지지 기구(91)는, 리니어 가이드(113)와, 축 유지부(115)를 구비하고 있다. 리니어 가이드(113)는, 유지 부재(93)에 인접하여 배치되어 있다. 리니어 가이드(113)는, 연직 방향(Z)으로 세워져 설치되어 있다. 리니어 가이드(113)는, 레일(113a)과 캐리지(113b)를 구비하고 있다. 레일(113a)은, 연직 방향(Z)으로 길이 방향이 배치되어 있다. 레일(113a)은, 캐리지(113b)가 연직 방향(Z)으로 이동 가능하게 장착되어 있다. 캐리지(113b)는, 시소 부재(87)의 다른 쪽 측(87r) 하방에 배치되어 있다. 캐리지(113b)는, 시소 부재(87)의 다른 쪽 측(87r)이 하강했을 때에 맞닿는 위치에 배치되어 있다.The support mechanism (91) supports a rotation shaft (103) that rises and falls in the vertical direction (Z). The support mechanism (91) has a linear guide (113) and a shaft holding member (115). The linear guide (113) is arranged adjacent to the holding member (93). The linear guide (113) is installed so as to be erected in the vertical direction (Z). The linear guide (113) has a rail (113a) and a carriage (113b). The rail (113a) is arranged longitudinally in the vertical direction (Z). The carriage (113b) is mounted on the rail (113a) so as to be movable in the vertical direction (Z). The carriage (113b) is arranged below the other side (87r) of the seesaw member (87). The carriage (113b) is positioned so that it comes into contact with the other side (87r) of the seesaw member (87) when it is lowered.
축 유지부(115)는, 회전축(103)의 상부를 유지한다. 축 유지부(115)는, 회전축(103)이 회전하는 것을 허용한 상태로 유지한다. 축 유지부(115)는, 예를 들면, 도시하지 않는 베어링을 통해 회전축(103)을 유지한다. 캐리지(113b)는, 축 유지부(115)에 연결되어 있다. 코일 스프링(111)의 탄성 가압력보다 강한 구동력으로 압압용 액추에이터(89)가 작동축(89a)을 상승시키면, 한쪽 측(87l)(작용점부)이 상승한다. 한쪽 측(87l)이 상승하면, 다른 쪽 측(87r)(역점부)이 하강한다. 이 때, 다른 쪽 측(87r)이 캐리지(113b)를 축 유지부(115)와 함께 하강시킨다. 그러면, 회전축(103)이 하강하고, 브러시(99)가 소정 위치에서 하방으로 이동한다. 이와 같이 하여 압압용 액추에이터(89)를 구동하면, 압압용 액추에이터(89)의 구동력에 따른 압압이 브러시(99)에 부여된다.The shaft retainer (115) retains the upper portion of the rotation shaft (103). The shaft retainer (115) retains the rotation shaft (103) in a state in which the rotation shaft (103) is allowed to rotate. The shaft retainer (115) retains the rotation shaft (103) via, for example, a bearing (not shown). The carriage (113b) is connected to the shaft retainer (115). When the pressure actuator (89) raises the operating shaft (89a) with a driving force stronger than the elastic pressing force of the coil spring (111), one side (87l) (working point) rises. When one side (87l) rises, the other side (87r) (reverse point) lowers. At this time, the other side (87r) lowers the carriage (113b) together with the shaft retainer (115). Then, the rotation shaft (103) descends and the brush (99) moves downward from a predetermined position. When the pressure actuator (89) is driven in this way, pressure according to the driving force of the pressure actuator (89) is applied to the brush (99).
지지 기구(91)에 인접하여 회전 기구(83)가 배치되어 있다. 회전 기구(83)는, 지점 부재(85) 측에 배치되어 있다. 회전 기구(83)는, 설치 부재(117)와, 전동 모터(119)를 구비하고 있다. 설치 부재(117)는, 하부 하우징(75a)의 저면으로부터 전동 모터(119)를 상방으로 이격하여 배치한다. 전동 모터(119)는, 회전축이 연직 방향(Z)의 하방을 향해 배치되어 있다. 전동 모터(119)는, 회전 중심(P6) 둘레로 회전축을 회전시킨다. 회전 중심(P6)은, 연직 방향(Z)에 있어서 회전 중심(P5)과 거의 평행하다. 전동 모터(119)는, 회전축에 풀리(121)가 장착되어 있다. 풀리(121)와 풀리(105)에는, 타이밍 벨트(123)가 걸쳐져 있다. 따라서, 전동 모터(119)가 회전되면, 타이밍 벨트(123)와, 풀리(105, 121)와, 스플라인 너트(103a)를 통해 회전축(103)이 회전 중심(P5) 둘레로 회전된다. 이와 같이 회전축(103)이 회전되어도, 회전축(103)은 연직 방향(Z)으로 승강 가능하다.A rotating mechanism (83) is arranged adjacent to the support mechanism (91). The rotating mechanism (83) is arranged on the side of the support member (85). The rotating mechanism (83) has an installation member (117) and an electric motor (119). The installation member (117) is arranged so that the electric motor (119) is spaced upward from the bottom surface of the lower housing (75a). The electric motor (119) has a rotational axis arranged downward in the vertical direction (Z). The electric motor (119) rotates the rotational axis around the rotational center (P6). The rotational center (P6) is substantially parallel to the rotational center (P5) in the vertical direction (Z). The electric motor (119) has a pulley (121) mounted on the rotational axis. A timing belt (123) is stretched between the pulley (121) and the pulley (105). Accordingly, when the electric motor (119) rotates, the rotation shaft (103) rotates around the center of rotation (P5) through the timing belt (123), the pulleys (105, 121), and the spline nut (103a). Even if the rotation shaft (103) rotates in this way, the rotation shaft (103) can be raised and lowered in the vertical direction (Z).
상술한 바와 같이 세정 아암(45)이 구성되어 있다. 즉, 압압용 액추에이터(89)의 동작이 시소 부재(87)의 한쪽 측(87l)(역점부)을 통해 다른 쪽 측(87r)(작용점부)에 부여된다. 따라서, 시소 부재(87)를 구비함으로써, 압압용 액추에이터(89)의 배치의 자유도를 높일 수 있다. 따라서, 기판 처리 장치(1)의 높이를 억제할 수 있다. 그 결과, 기판 처리 장치(1)를 다단으로 적층하는 배치를 용이하게 실현할 수 있다.As described above, the cleaning arm (45) is configured. That is, the operation of the pressure actuator (89) is applied to the other side (87r) (action point) through one side (87l) (reverse point) of the seesaw member (87). Therefore, by providing the seesaw member (87), the degree of freedom in the arrangement of the pressure actuator (89) can be increased. Accordingly, the height of the substrate processing device (1) can be suppressed. As a result, the arrangement in which the substrate processing devices (1) are stacked in multiple stages can be easily realized.
<4-5. 제어계><4-5. Control System>
여기서 도 6을 참조한다. 도 6은, 이면 세정 유닛의 제어계를 나타내는 블록도이다.Referring here to Fig. 6, Fig. 6 is a block diagram showing the control system of the back cleaning unit.
상술한 노즐(63)에는, 배관(125)의 일단 측이 연통 접속되어 있다. 배관(125)의 타단 측에는, 린스액 공급원(127)에 연통 접속되어 있다. 린스액 공급원(127)은, 상술한 린스액을 공급한다. 배관(125)은, 유량 제어 밸브(129)를 구비하고 있다. 유량 제어 밸브(129)는, 배관(125)에 있어서의 린스액의 유량을 제어한다.The nozzle (63) described above is connected to one end of a pipe (125). The other end of the pipe (125) is connected to a rinse solution supply source (127). The rinse solution supply source (127) supplies the rinse solution described above. The pipe (125) is provided with a flow rate control valve (129). The flow rate control valve (129) controls the flow rate of the rinse solution in the pipe (125).
상술한 노즐(65)에는, 배관(131)의 일단 측이 연통 접속되어 있다. 배관(131)의 타단 측에는, 처리액 공급원(133)에 연통 접속되어 있다. 처리액 공급원(133)은, 상술한 각종 약액 중 어느 하나를 공급한다. 배관(131)은, 유량 제어 밸브(135)를 구비하고 있다. 유량 제어 밸브(135)는, 배관(131)에 있어서의 약액의 유량을 제어한다.The nozzle (65) described above is connected to one end of a pipe (131). The other end of the pipe (131) is connected to a treatment liquid supply source (133). The treatment liquid supply source (133) supplies one of the various chemical liquids described above. The pipe (131) is equipped with a flow rate control valve (135). The flow rate control valve (135) controls the flow rate of the chemical liquid in the pipe (131).
상술한 노즐(67)에는, 배관(137)의 일단 측이 연통 접속되어 있다. 배관(137)의 타단 측에는, 처리액 공급원(139)에 연통 접속되어 있다. 처리액 공급원(139)은, 상술한 각종 약액 중 어느 하나를 공급한다. 배관(137)은, 유량 제어 밸브(141)를 구비하고 있다. 유량 제어 밸브(141)는, 배관(139)에 있어서의 약액의 유량을 제어한다.The nozzle (67) described above is connected to one end of a pipe (137). The other end of the pipe (137) is connected to a treatment liquid supply source (139). The treatment liquid supply source (139) supplies one of the various chemical liquids described above. The pipe (137) is equipped with a flow rate control valve (141). The flow rate control valve (141) controls the flow rate of the chemical liquid in the pipe (139).
상술한 노즐(69)에는, 배관(143)의 일단 측이 연통 접속되어 있다. 배관(143)의 타단 측에는, 처리액 공급원(145)에 연통 접속되어 있다. 처리액 공급원(145)은, 상술한 각종 약액 중 어느 하나를 공급한다. 배관(143)은, 유량 제어 밸브(147)를 구비하고 있다. 유량 제어 밸브(147)은, 배관(143)에 있어서의 약액의 유량을 제어한다.The nozzle (69) described above is connected to one end of a pipe (143). The other end of the pipe (143) is connected to a treatment liquid supply source (145). The treatment liquid supply source (145) supplies one of the various chemical liquids described above. The pipe (143) is equipped with a flow rate control valve (147). The flow rate control valve (147) controls the flow rate of the chemical liquid in the pipe (143).
상술한 압압용 액추에이터(89)에는, 에어 공급관(149)의 일단 측이 연통 접속되어 있다. 또한, 압압용 액추에이터(89)에는, 작동축(89a)을 미소한 간극으로 지지하기 위한 에어가 공급되는데, 이 배관 등에 대해서는 생략한다. 에어 공급관(149)의 타단 측에는, 에어 공급원(151)이 연통 접속되어 있다. 에어 공급원(151)은, 예를 들면, 에어를 공급한다. 에어는, 바람직하게는 드라이 에어이다. 에어 공급원(151)은, 다른 장치에도 연통 접속되어 있다. 에어 공급원(151)의 공급 압력은, 다른 장치의 가동 상태의 영향을 받는다. 즉, 다른 장치의 가동률이 높아지면 공급 압력이 저하되는 경우가 있다. 에어 공급원(151) 측에서부터 순서대로, 개폐 밸브(153)와, 일차 측 압력계(155)와, 전공 레귤레이터(157)와, 이차 측 압력계(159)를 구비하고 있다.In the above-described pressure actuator (89), one end of an air supply pipe (149) is connected to the pressure actuator. In addition, air is supplied to the pressure actuator (89) to support the operating shaft (89a) with a small gap, but this pipe, etc. are omitted. In the other end of the air supply pipe (149), an air supply source (151) is connected to the pressure actuator. The air supply source (151) supplies air, for example. The air is preferably dry air. The air supply source (151) is also connected to another device. The supply pressure of the air supply source (151) is affected by the operating status of the other device. That is, when the operating rate of the other device increases, the supply pressure may decrease. From the air supply source (151), in order, an on-off valve (153), a primary side pressure gauge (155), an electric regulator (157), and a secondary side pressure gauge (159) are provided.
개폐 밸브(153)는, 에어 공급관(149)에 있어서의 에어의 유통을 허용 또는 차단한다. 일차 측 압력계(155)는, 전공 레귤레이터(157)의 상류 측에 있어서의 에어의 압력을 측정한다. 전공 레귤레이터(157)는, 입력 신호에 따라 내장하는 밸브의 개도를 조정한다. 이로 인해, 전공 레귤레이터(157)는, 에어 공급관(149)에 있어서의 에어의 압력을 조정한다. 상세하게는, 전공 레귤레이터(157)는, 주어진 입력 신호에 따라 밸브 개도를 조정하여 일차 측 압력을 줄여, 에어 공급관(149)에 있어서의 이차 측 압력으로 한다. 전공 레귤레이터(157)는, 에어 공급관(149)에 있어서의 일차 측 압력보다 높은 이차 측 압력으로 조정할 수는 없다. 전공 레귤레이터(157)는, 에어 공급관(149)의 일차 측 압력 이하로 이차 측 압력을 조정한다. 전공 레귤레이터(157)는, 일차 측 압력이 소정값을 초과하고 있는 경우에, 이차 측 압력을 소정값 이하의 범위에서 조정할 수 있다. 환언하면, 전공 레귤레이터(157)는, 일차 측 압력이 소정값 이하인 경우에는, 이차 측 압력을 일정값 이상으로 정확하게 조정할 수 없는 사태가 발생할 수 있다.The on-off valve (153) allows or blocks the flow of air in the air supply pipe (149). The primary pressure gauge (155) measures the pressure of air on the upstream side of the electropneumatic regulator (157). The electropneumatic regulator (157) adjusts the opening of the built-in valve according to an input signal. As a result, the electropneumatic regulator (157) adjusts the pressure of air in the air supply pipe (149). Specifically, the electropneumatic regulator (157) adjusts the valve opening according to a given input signal to reduce the primary pressure and make it the secondary pressure in the air supply pipe (149). The electropneumatic regulator (157) cannot adjust the secondary pressure to be higher than the primary pressure in the air supply pipe (149). The electropneumatic regulator (157) adjusts the secondary pressure to be lower than the primary pressure of the air supply pipe (149). The electric regulator (157) can adjust the secondary pressure within a range below a predetermined value when the primary pressure exceeds a predetermined value. In other words, when the primary pressure is below a predetermined value, the electric regulator (157) may not be able to accurately adjust the secondary pressure to a predetermined value or higher.
제어부(161)는, 상술한 각 부를 통괄적으로 제어한다. 구체적으로는, 제어부(161)는, 투입부(9) 및 불출부(11)에 있어서의 반송 동작, 인덱서 로봇(IR)의 반송 동작, 제1 반전 유닛(23) 및 제2 반전 유닛(29)의 반전 동작, 센터 로봇(CR)의 반송 동작 등을 제어한다. 제어부(161)는, 이면 세정 유닛(SSR)(처리 유닛(31))에 있어서의 전동 모터(49)의 회전 제어, 가드(39)의 승강 동작, 스핀 척(53)에 있어서의 지지 핀(55)의 개폐 동작, 전동 모터(42, 44)의 요동 동작, 유량 제어 밸브(129, 135, 141, 147)의 개폐 동작, 회전 승강 기구(71)의 요동 및 승강 동작, 전동 모터(119)의 회전 동작, 개폐 밸브(153)의 개폐 동작, 전공 레귤레이터(157)의 개도 동작을 제어 대상으로 하여 조작을 행한다.The control unit (161) comprehensively controls each of the above-described units. Specifically, the control unit (161) controls the return operation in the input unit (9) and the output unit (11), the return operation of the indexer robot (IR), the reversal operation of the first reversal unit (23) and the second reversal unit (29), the return operation of the center robot (CR), etc. The control unit (161) operates by controlling the rotation control of the electric motor (49) in the back cleaning unit (SSR) (processing unit (31)), the raising/lowering operation of the guard (39), the opening/closing operation of the support pin (55) in the spin chuck (53), the swinging operation of the electric motor (42, 44), the opening/closing operation of the flow control valve (129, 135, 141, 147), the swinging and rising/falling operation of the rotary lifting mechanism (71), the rotation operation of the electric motor (119), the opening/closing operation of the opening/closing valve (153), and the opening/closing operation of the pneumatic regulator (157).
제어부(161)는, 도시하지 않는 CPU 및 메모리를 구비하고 있다. 제어부(161)에는, 지시부(163)가 접속되어 있다. 지시부(163)는, 기판 처리 장치(1)의 오퍼레이터에 의해 조작된다. 지시부(163)는, 기판(W)의 처리의 내용 등을 규정한 레시피나, 처리의 개시나 정지 등을 오퍼레이터가 지시하기 위해 이용된다. 제어부(161)에는, 알림부(165)가 접속되어 있다. 알림부(165)는, 기판 처리 장치(1)에 문제가 생겼을 때에 알람을 발생시켜, 오퍼레이터에 문제의 발생을 알린다. 알림부(165)는, 예를 들면, 표시 장치, 램프, 버저, 스피커 등이다. 알림부(165)는, 발생한 문제의 종별을 확인할 수 있는 것이 바람직하다. 제어부(161)는, 입력 포트(IP)를 구비하고 있다. 입력 포트(IP)는, 각종 전자 기기의 데이터가 입력된다. 입력 포트(IP)로부터 입력된 데이터는, 제어부(161)에서 처리되거나, 기억된다.The control unit (161) has a CPU and memory that are not shown. The control unit (161) is connected to a command unit (163). The command unit (163) is operated by an operator of the substrate processing device (1). The command unit (163) is used by the operator to command a recipe that stipulates the content of processing of the substrate (W), or the start or stop of processing, etc. The control unit (161) is connected to a notification unit (165). The notification unit (165) generates an alarm when a problem occurs in the substrate processing device (1) and notifies the operator of the occurrence of the problem. The notification unit (165) is, for example, a display device, a lamp, a buzzer, a speaker, or the like. It is preferable that the notification unit (165) be capable of confirming the type of problem that has occurred. The control unit (161) is equipped with an input port (IP). Data of various electronic devices is input into the input port (IP). Data input from the input port (IP) is processed or stored in the control unit (161).
제어부(161)는, 일차 측 압력계(155) 및 이차 측 압력계(159)의 측정값을 수취한다. 제어부(161)는, 전공 레귤레이터(157)의 밸브의 개도 동작을 위해 입력 신호를 부여한다. 이 입력 신호에 따라 브러시(99)에 의한 기판(W)으로의 압압이 결정된다.The control unit (161) receives the measurement values of the primary side pressure gauge (155) and the secondary side pressure gauge (159). The control unit (161) provides an input signal for the opening operation of the valve of the electric regulator (157). The pressure applied to the substrate (W) by the brush (99) is determined according to this input signal.
또한, 상술한 이면 세정 유닛(SSR)(처리 유닛(31))이 본 발명에 있어서의 「기판 처리 장치」에 상당한다.In addition, the above-described back cleaning unit (SSR) (processing unit (31)) corresponds to the “substrate processing device” in the present invention.
<5. 처리 유닛에 있어서의 전처리> <5. Preprocessing in the processing unit>
도 7 및 도 8을 참조하여, 상술한 이면 세정 유닛(SSR)에 있어서의 전처리에 대해서 설명한다. 도 7은, 미리 행하는 전처리를 나타내는 플로차트이다. 도 8의 (a)는, 전공 레귤레이터의 개도와 전자 천칭의 하중의 관계를 나타내고, 도 8의 (b)는, 전공 레귤레이터의 이차 측 압력과 개도의 관계를 나타내며, 도 8의 (c)는, 압압용 액추에이터의 하중과 전공 레귤레이터의 이차 측 압력의 관계를 나타내는 그래프이다.Referring to FIGS. 7 and 8, the preprocessing in the above-described back-side cleaning unit (SSR) will be described. FIG. 7 is a flowchart showing the preprocessing performed in advance. FIG. 8 (a) shows the relationship between the opening of the electro-pneumatic regulator and the load of the electronic balance, FIG. 8 (b) shows the relationship between the secondary side pressure of the electro-pneumatic regulator and the opening, and FIG. 8 (c) is a graph showing the relationship between the load of the pressure actuator and the secondary side pressure of the electro-pneumatic regulator.
기판 처리 장치(1)의 오퍼레이터는, 지시부(163)를 조작하여, 하나의 이면 세정 유닛(SSR)에 대해서 전처리를 지시한다.An operator of a substrate processing device (1) operates a command unit (163) to command preprocessing for one backside cleaning unit (SSR).
단계 S1Step S1
전자 천칭을 배치한다. 구체적으로는, 도시하지 않는 전자 천칭을 회전 유지부(37)에 배치한다. 전자 천칭은, 하중을 측정하는 장치이다. 전자 천칭은, 데이터 출력 단자를 구비하고 있는 것이 바람직하다. 전자 천칭은, 데이터 출력 단자가 입력 포트(IP)에 접속된다. 전자 천칭은, 데이터 출력 단자로부터 측정값을 출력한다. 측정값은, 예를 들면, 하중(g)이다.An electronic balance is placed. Specifically, an electronic balance, which is not shown, is placed on a rotating support member (37). The electronic balance is a device for measuring a load. It is preferable that the electronic balance has a data output terminal. The electronic balance has a data output terminal connected to an input port (IP). The electronic balance outputs a measured value from the data output terminal. The measured value is, for example, a load (g).
단계 S2Step S2
하중을 측정한다. 구체적으로는, 예를 들면, 제어부(161)는, 개폐 밸브(153)를 개방한 상태에 있어서, 전공 레귤레이터(157)로의 입력 신호를 가변하고, 그 때의 입력 신호마다 전자 천칭의 하중 X(g)를 측정한다. 또한, 오퍼레이터가 실제로 처리에 있어서 브러시(99)에 부여하고 싶은 몇 가지 하중(목표 하중 X(g))을 지시부(163)로부터 지시하고, 전자 천칭의 측정값이 각 목표 하중 X(g)가 되도록 전공 레귤레이터(157)로의 입력 신호를 가변하여, 그 때의 각 목표 하중 X(g)에 대응하는 입력 신호를 얻도록 해도 된다. 이 때, 제어부(161)는, 하중마다의 이차 측 압력계(159)의 측정값인 이차 측 압력을 수신한다.Measure the load. Specifically, for example, the control unit (161) varies the input signal to the electropneumatic regulator (157) while the on-off valve (153) is open, and measures the load X(g) of the electronic balance for each input signal at that time. In addition, the operator may instruct the instruction unit (163) for several loads (target loads X(g)) that he/she actually wants to give to the brush (99) in processing, and vary the input signal to the electropneumatic regulator (157) so that the measured value of the electronic balance becomes each target load X(g), thereby obtaining an input signal corresponding to each target load X(g) at that time. At this time, the control unit (161) receives the secondary pressure, which is the measured value of the secondary pressure gauge (159) for each load.
단계 S3Step S3
실측 하중의 대응 관계를 기억한다. 제어부(161)는, 단계 S2의 측정에 의해, 도 8의 (a)와 같은 전공 레귤레이터(157)의 개도(입력 신호)와 전자 천칭의 하중(목표 하중 X(g))의 관계와, 도 8의 (b)와 같은 전공 레귤레이터(157)의 이차 측 압력과 개도의 관계를 얻는다. 제어부(161)는, 상기의 관계와 함께, 도 8의 (c)와 같은 압압용 액추에이터(89)의 하중과 전공 레귤레이터(157)의 이차 측 압력의 관계를 메모리에 기억한다.Memorize the corresponding relationship of the actual load. The control unit (161) obtains, by the measurement of step S2, the relationship between the opening (input signal) of the electropneumatic regulator (157) as in Fig. 8 (a) and the load of the electronic balance (target load X(g)), and the relationship between the secondary pressure and the opening of the electropneumatic regulator (157) as in Fig. 8 (b). The control unit (161) memorizes, in memory, the relationship between the load of the pressure actuator (89) as in Fig. 8 (c) and the secondary pressure of the electropneumatic regulator (157), along with the above relationship.
단계 S4Step S4
기판 처리 장치(1)의 오퍼레이터는, 지시부(163)를 조작하여, 하나의 이면 세정 유닛(SSR)에 대해서 전처리의 종료를 지시한다. 기판 처리 장치(1)의 오퍼레이터는, 전자 천칭을 회전 유지부(37)로부터 치운다. 필요에 따라, 다른 이면 세정 유닛(SSR)에 대해서도 동일한 전처리를 행한다.The operator of the substrate processing device (1) operates the instruction unit (163) to instruct the end of the preprocessing for one back-side cleaning unit (SSR). The operator of the substrate processing device (1) removes the electronic balance from the rotation holding unit (37). If necessary, the same preprocessing is performed for other back-side cleaning units (SSR).
<6. 처리 유닛에 있어서의 세정 처리> <6. Cleaning treatment in the processing unit>
다음에, 도 9를 참조하여, 세정 처리에 대해서 설명한다. 도 9는, 세정 처리를 나타내는 플로차트이다.Next, the cleaning process will be described with reference to Fig. 9. Fig. 9 is a flow chart showing the cleaning process.
단계 S11Step S11
오퍼레이터가 처리 개시를 지시한다. 구체적으로는, 목표 하중 X(g)를 포함하는 레시피도 지시한다. 그러면, 인덱서 블록(5)으로부터 기판(W)이 수도부(15)에 반송되고, 제1 반전 유닛(23)에서 이면이 위로 향해지도록 자세가 변환된다.The operator instructs the start of processing. Specifically, he also instructs a recipe including a target load X(g). Then, the substrate (W) is returned from the indexer block (5) to the water supply unit (15), and the posture is changed so that the back side faces upward in the first inversion unit (23).
단계 S12Step S12
이면이 위로 향해진 기판(W)은, 센터 로봇(CR)에 의해 하나의 이면 세정 유닛(SSR)에 반송된다. 이면 세정 유닛(SSR)은, 세정 처리를 개시한다. 구체적으로는, 제어부(161)는, 미리 취득한 상기의 관계(도 8의 (c))를 참조하여, 이차 측 압력계(159)의 이차 측 압력이, 목표 하중 X(g)에 대응하는 이차 측 압력 Z(Pa)가 되도록 전공 레귤레이터(157)로의 입력 신호를 조정한다. 이로 인해, 압압용 액추에이터(89)에 대해 전공 레귤레이터(157)로부터 에어가 공급되고, 브러시(99)로부터 기판(W)에 목표 하중 X(g)로 하중이 부여되는 상태로 세정이 행해진다. 이 때, 제1 처리액 아암(41)이 요동되고, 세정 아암(45)과 간섭하지 않는 위치에 있어서, 순수가 기판(W)의 표면 전체에 공급된다. 이 때, 브러시(99)가 기판(W)의 이면에 작용하여 세정 처리가 행해진다. 제어부(161)는, 회전 승강 기구(71)를 조작하여, 브러시(99)가 회전 중심(P1)을 지나, 기판(W)의 양 단면에서 반전되도록, 기판(W)의 직경 내에서 세정 아암(45)을 요동시킨다.The substrate (W) with its back side facing upward is returned to a back-side cleaning unit (SSR) by the center robot (CR). The back-side cleaning unit (SSR) starts the cleaning process. Specifically, the control unit (161) refers to the relationship ((c) of FIG. 8) acquired in advance and adjusts the input signal to the electropneumatic regulator (157) so that the secondary pressure of the secondary-side pressure gauge (159) becomes the secondary pressure Z (Pa) corresponding to the target load X (g). As a result, air is supplied from the electropneumatic regulator (157) to the pressure actuator (89), and cleaning is performed in a state where a load is applied to the substrate (W) from the brush (99) at the target load X (g). At this time, the first treatment liquid arm (41) swings, and pure water is supplied to the entire surface of the substrate (W) at a position where it does not interfere with the cleaning arm (45). At this time, the brush (99) acts on the back surface of the substrate (W) to perform a cleaning process. The control unit (161) operates the rotary lifting mechanism (71) to swing the cleaning arm (45) within the diameter of the substrate (W) so that the brush (99) passes the rotation center (P1) and is reversed on both end surfaces of the substrate (W).
상기의 예에서는, 목표 하중 X(g)에 대응하는 이차 측 압력 Z(Pa)가 되도록, 이차 측 압력의 편차에 따라 전공 레귤레이터(157)로의 입력 신호를 조정하고 있다. 즉, 피드백을 행하므로, 브러시(99)의 압압 제어의 안정성, 응답성을 향상시킬 수 있다.In the above example, the input signal to the electric regulator (157) is adjusted according to the deviation of the secondary pressure so that the secondary pressure Z (Pa) corresponds to the target load X (g). That is, since feedback is performed, the stability and responsiveness of the pressure control of the brush (99) can be improved.
또한, 상기의 단계 S12가 본 발명에 있어서의 「압압으로 브러시를 작용시키는 과정」에 상당한다.In addition, the above step S12 corresponds to the “process of applying pressure to the brush” in the present invention.
단계 S13Step S13
일차 측 압력이 소정값 이하인지 여부를 판정한다. 제어부(161)는, 항상 일차 측 압력계(155)의 측정값을 감시하고 있다. 제어부(161)는, 에어 공급관(149)의 일차 측 압력을 감시하고 있다. 제어부(161)는, 일차 측 압력이 소정값을 초과하고 있는 경우에는, 단계 S14로 처리를 이행한다. 또한, 단계 S13은, 다음 단계 S14의 처리 중이어도 실시되고 있다. 즉, 브러시(99)에 의한 세정 처리가 행해지고 있는 동안에는, 단계 S13의 처리가 실시되고 있다. 단계 S13은, 인터럽트 처리에 의해 소정 간격으로 세정 처리 동안에 걸쳐 실시된다.It is determined whether the primary side pressure is below a predetermined value. The control unit (161) always monitors the measurement value of the primary side pressure gauge (155). The control unit (161) monitors the primary side pressure of the air supply pipe (149). If the primary side pressure exceeds the predetermined value, the control unit (161) moves the processing to step S14. In addition, step S13 is performed even during the processing of the next step S14. That is, the processing of step S13 is performed while the cleaning process by the brush (99) is being performed. Step S13 is performed at predetermined intervals during the cleaning process by interrupt processing.
또한, 상기의 단계 S13이 본 발명에 있어서의 「일차 측 압력을 검출하는 과정」에 상당한다.In addition, the above step S13 corresponds to the “process of detecting primary side pressure” in the present invention.
여기에서는, 우선 일차 측 압력이 소정값을 초과하고 있는 것으로 하여 설명한다.Here, it is first explained assuming that the primary side pressure exceeds a specified value.
단계 S14Step S14
처리를 계속한다. 소정 시간의 순수의 공급 후, 제1 처리액 아암(41)을 대신하여 제2 처리액 아암(43)이 요동된다. 이로 인해, 세정 아암(45)과 간섭하지 않는 위치에 있어서, 약액이 기판(W)의 표면 전체에 공급된다. 이 때, 브러시(99)가 기판(W)의 이면에 작용된다. 소정 시간의 약액의 공급 후, 제2 처리액 아암(43)을 대신하여, 다시 제1 처리액 아암(41)이 요동되고, 약액이 순수로 치환된다. 이 때, 브러시(99)가 기판(W)의 이면에 작용된다. 그 후, 제1 처리액 아암(41)과, 제2 처리액 아암(43)과, 세정 아암(45)이 대기 위치로 이동된다. 그리고, 제어부(161)가, 기판(W)을 건조시킨다. 구체적으로는, 제어부(161)는, 전동 모터(49)를 고속으로 회전시켜, 기판(W)에 부착되어 있는 순수를 떨쳐내어 건조시킨다.The processing continues. After the supply of pure water for a predetermined time, the second processing liquid arm (43) is swung in place of the first processing liquid arm (41). As a result, the chemical liquid is supplied to the entire surface of the substrate (W) at a position where it does not interfere with the cleaning arm (45). At this time, the brush (99) is applied to the back surface of the substrate (W). After the supply of the chemical liquid for a predetermined time, the first processing liquid arm (41) is swung again in place of the second processing liquid arm (43), and the chemical liquid is replaced with pure water. At this time, the brush (99) is applied to the back surface of the substrate (W). Thereafter, the first processing liquid arm (41), the second processing liquid arm (43), and the cleaning arm (45) are moved to the standby position. Then, the control unit (161) dries the substrate (W). Specifically, the control unit (161) rotates the electric motor (49) at high speed to shake off the pure water attached to the substrate (W) and dry it.
단계 S15Step S15
처리를 종료하고 기판(W)을 반출한다. 제어부(161)는, 가드(39)를 대기 위치로 하강시킨다. 센터 로봇(CR)은, 건조 처리를 끝낸 기판(W)을 이면 세정 유닛(SSR)으로부터 반출한다. 반출된 기판(W)은, 제2 반전 유닛(29)에서 표면을 상방을 향하게 한 자세로 반전된다. 표면을 상방을 향하게 한 기판(W)은, 인덱서 로봇(IR)에 의해 불출부(11)에 반출된다.The processing is completed and the substrate (W) is removed. The control unit (161) lowers the guard (39) to the standby position. The center robot (CR) removes the substrate (W) that has completed the drying process from the back cleaning unit (SSR). The removed substrate (W) is inverted in the second inversion unit (29) to a posture in which the surface faces upward. The substrate (W) with the surface facing upward is removed to the removal unit (11) by the indexer robot (IR).
단계 S16Step S16
다음 기판(W)의 처리로 이행한다. 제어부(161)는, 센터 로봇(CR)에 의해 반입된 다음 기판(W)에 대해 세정 처리를 행한다. 즉, 상기 단계 S12로 되돌아온다.The process moves to the processing of the next substrate (W). The control unit (161) performs a cleaning process on the next substrate (W) brought in by the center robot (CR). That is, the process returns to step S12.
여기서 상술한 단계 S13에 있어서, 일차 측 압력이 소정값 이하였던 경우에 대해서 설명한다. 즉, 브러시(99)에 의한 기판(W)에 대한 처리 중에 일차 측 압력이 소정값 이하가 된 경우의 처리예에 대해서 설명한다.In the step S13 described here, a description will be given of a case where the primary side pressure is below a predetermined value. That is, a description will be given of a processing example where the primary side pressure becomes below a predetermined value during processing of a substrate (W) by a brush (99).
단계 S17Step S17
알람을 발한다. 제어부(161)는, 일차 측 압력이 소정값 이하였던 경우에는, 알림부(165)를 조작하여, 알람을 발보시킨다. 이로 인해, 기판 처리 장치(1)의 오퍼레이터는, 이면 세정 유닛(SSR)에 있어서 브러시(99)의 하중이 목표 하중과는 상이한 상태로 처리가 행해진 것을 알 수 있다.An alarm is generated. The control unit (161) operates the notification unit (165) to generate an alarm when the primary pressure is below a predetermined value. As a result, the operator of the substrate processing device (1) can know that processing is performed in a state where the load of the brush (99) in the back cleaning unit (SSR) is different from the target load.
일차 측 압력이 소정값 이하이면, 전공 레귤레이터(157)의 입력 신호를 조작해도 이차 측 압력을 목표 하중 X(g)에 대응하는 이차 측 압력 Z(Pa)로 조정하지 못하는 경우가 있다. 즉, 일차 측 압력이 부족하면 목표 하중에 대응하는 이차 측 압력으로까지 올릴 수 없다. 그 때문에, 알람을 발한다.If the primary pressure is below a predetermined value, there are cases where the secondary pressure cannot be adjusted to the secondary pressure Z (Pa) corresponding to the target load X (g) even if the input signal of the electric regulator (157) is manipulated. In other words, if the primary pressure is insufficient, the secondary pressure cannot be increased to the secondary pressure corresponding to the target load. Therefore, an alarm is issued.
또한, 상기의 단계 S17이 본 발명에 있어서의 「알람을 발하는 과정」에 상당한다.In addition, the above step S17 corresponds to the “process of generating an alarm” in the present invention.
단계 S18Step S18
처리를 계속한다. 제어부(161)는, 알람을 발보시킨 후, 처리를 정지시키지 않고 계속시킨다. 즉, 상술한 단계 S14와 같이, 약액을 공급하면서 브러시(99)에 의한 브러시 약액 세정과, 순수를 공급하면서 브러시(99)에 의한 브러시 순수 세정과, 떨쳐냄 건조 처리를 실시한다.The processing continues. The control unit (161) continues the processing without stopping it after generating an alarm. That is, as in the step S14 described above, the brush chemical cleaning by the brush (99) is performed while supplying the chemical solution, the brush pure water cleaning by the brush (99) is performed while supplying the pure water, and the shaking-off drying process is performed.
단계 S19Step S19
상술한 단계 S15와 같이, 처리를 종료하고 기판(W)을 반출한다.As in step S15 described above, the processing is terminated and the substrate (W) is taken out.
단계 S20Step S20
처리를 정지한다. 제어부(161)는, 기판(W)에 대한 대강의 세정 처리가 완료된 후, 처리를 정지한다. 즉, 세정 처리의 도중에 처리를 정지하는 것이 아니라, 기판(W)에 대한 처리가 완료된 시점에서 처리를 정지한다. 이러한 정지의 방법을 사이클 정지라고도 부른다.Processing is stopped. The control unit (161) stops the processing after the rough cleaning process for the substrate (W) is completed. In other words, the processing is not stopped during the cleaning process, but is stopped at the point when the processing for the substrate (W) is completed. This method of stopping is also called a cycle stop.
단계 S13에 있어서 일차 측 압력이 소정값 이하라고 판단된 경우에는, 압압이 목표 하중에 미치지 않는 상태에서의 세정 처리가 되고 있을 가능성이 높다. 그러나, 그 즉시 정지하지 않고, 목표 하중의 압압으로 처리된 다른 기판(W)과 동일한 프로세스를 행한 다음 처리를 정지한다. 그 결과, 다른 기판(W)과의 처리 이력을 맞출 수 있다. 또, 린스 처리나 건조 처리를 거쳐 정지하게 되므로, 이들을 거치지 않고 정지하는 즉시 정지에 비해 기판(W)에 대한 데미지를 작게 할 수 있다.In step S13, if the primary side pressure is judged to be below the predetermined value, there is a high possibility that the cleaning process is being performed under a condition where the pressure does not reach the target load. However, instead of stopping immediately, the same process is performed on another substrate (W) processed with the pressure of the target load, and then the processing is stopped. As a result, the processing history with the other substrate (W) can be matched. In addition, since the process is stopped after going through a rinsing process or a drying process, the damage to the substrate (W) can be reduced compared to an immediate stop without going through these.
본 실시예에 의하면, 제어부(161)는, 압압용 액추에이터(89)로의 입력 신호를 조작하여, 압압을 조정하고, 압압 기구(81)를 통해 브러시(99)를 기판(W)의 상면에 작용시킨다. 제어부(161)는, 일차 측 압력계(155)와 이차 측 압력계(159)를 감시하고 있으므로, 일차 측 압력에 이변이 생긴 것을 판단할 수 있다. 따라서, 제어부(161)는, 브러시(99)의 압압을 원하는 값으로 조정할 수 없는 상황이 된 것을 판단할 수 있다. 그 결과, 새로운 기판(W)에 대한 부적절한 세정 처리가 계속적으로 행해지는 것을 미연에 방지할 수 있다.According to the present embodiment, the control unit (161) adjusts the pressure by manipulating the input signal to the pressure actuator (89), and acts on the upper surface of the substrate (W) by the pressure mechanism (81) to cause the brush (99) to act. Since the control unit (161) monitors the primary pressure gauge (155) and the secondary pressure gauge (159), it can determine that there is an abnormality in the primary pressure. Accordingly, the control unit (161) can determine that a situation has arisen in which the pressure of the brush (99) cannot be adjusted to a desired value. As a result, it is possible to prevent in advance the inappropriate cleaning treatment for a new substrate (W) from being continuously performed.
본 실시예에서는, 단계 S17에 있어서, 제어부(161)는, 일차 측 압력이 소정값 이하인 경우에는 알람을 발한다. 따라서, 기판 처리 장치(1)의 오퍼레이터는, 단계 S17에 있어서 처리를 정지하는 등의 조치를 취할 수 있다. 그 결과, 기판(W)에 대한 부적절한 세정 처리가 행해지는 것을 미연에 방지할 수 있다.In this embodiment, in step S17, the control unit (161) issues an alarm if the primary side pressure is below a predetermined value. Accordingly, the operator of the substrate processing device (1) can take measures such as stopping the processing in step S17. As a result, it is possible to prevent in advance an inappropriate cleaning process for the substrate (W).
본 실시예에서는, 제어부(161)는, 미리 취득한 상기의 관계(도 8의 (a)~(c))에 의해, 브러시(99)의 하중을 조정한다. 이와 같이, 미리 취득한 실측 하중의 대응 관계와, 전공 레귤레이터의 개도와 이차 측 압력의 대응 관계에 의거하여, 목표 하중과 실측 하중의 대응 관계로부터 전공 레귤레이터(157)의 개도를 얻는다. 이차 측 압력계(159)가, 그 개도에 대응하는 이차 측 압력이 되도록, 제어부(161)가 입력 신호를 부여하여 브러시(99)의 압압을 목표 하중으로 조정한다. 일차 측 압력이 소정값 이하가 아닌 상태는, 전공 레귤레이터(157)의 개도와 이차 측 압력의 관계가 유지되고 있다. 그 때문에, 이차 측 압력계(159)가, 개도에 대응하는 이차 측 압력이 되도록, 입력 신호를 조정하면, 압압이 목표 하중이 된다. 따라서, 목표 하중의 압압으로 정확하게 세정 처리를 행할 수 있다.In this embodiment, the control unit (161) adjusts the load of the brush (99) by the relationship ((a) to (c) of FIG. 8) acquired in advance. In this way, based on the correspondence relationship of the actual load acquired in advance and the correspondence relationship between the opening degree of the electropneumatic regulator and the secondary pressure, the opening degree of the electropneumatic regulator (157) is obtained from the correspondence relationship between the target load and the actual load. The control unit (161) provides an input signal so that the secondary pressure gauge (159) becomes the secondary pressure corresponding to the opening degree, and adjusts the pressure of the brush (99) to the target load. In a state where the primary pressure is not lower than a predetermined value, the relationship between the opening degree of the electropneumatic regulator (157) and the secondary pressure is maintained. Therefore, when the input signal is adjusted so that the secondary pressure gauge (159) becomes the secondary pressure corresponding to the opening degree, the pressure becomes the target load. Therefore, cleaning treatment can be performed accurately with the pressure of the target load.
<변형예><Variations>
도 10을 참조하여, 본 실시예에 있어서의 변형예에 대해서 설명한다. 도 10은, 변형예에 따른 세정 아암의 종단면도이다. 또한, 상술한 실시예에 있어서의 세정 아암(45)과 같은 구성에 대해서는 동일 부호를 붙임으로써 상세한 설명에 대해서는 생략한다.Referring to Fig. 10, a description will be given of a modified example of the present embodiment. Fig. 10 is a cross-sectional view of a cleaning arm according to a modified example. In addition, the same reference numerals are used for the same configuration as the cleaning arm (45) in the above-described embodiment, and a detailed description thereof is omitted.
세정 아암(45A)은, 압압 기구(81A)의 구성이 상이하다. 구체적으로는, 압압 기구(81A)는, 지지대(171)와, 하부 지지 롤러(173)와, 상부 지지 롤러(175)와, 브러시 이동 부재(177)와, 로드(179)와, 승강 부재(181)를 구비하고 있는 점이 상이하다.The cleaning arm (45A) has a different configuration of the pressure mechanism (81A). Specifically, the pressure mechanism (81A) has a different configuration in that it is provided with a support member (171), a lower support roller (173), an upper support roller (175), a brush moving member (177), a rod (179), and an elevating member (181).
지지대(171)는, 하부 지지 롤러(173)와 상부 지지 롤러(175)를 구비하고 있다. 지지대(171)는, 측면에 하부 지지 롤러(173)와 상부 지지 롤러(175)가 장착되어 있다. 하부 지지 롤러(173)와 상부 지지 롤러(175)는, 폭 방향(Y) 둘레로 회전 가능하게 장착되어 있다. 하부 지지 롤러(173)와 상부 지지 롤러(175)는, 브러시 이동 부재(177)의 상하면을 협지한다. 브러시 이동 부재(177)는, 일단 측에서 압압에 따라 탄성 가압되고, 타단 측에서 브러시(99)를 간접적으로 이동시킨다. 브러시 이동 부재(177)는, 그 상하면에 하부 지지 롤러(173)와 상부 지지 롤러(175)가 맞닿아 있다. 브러시 이동 부재(177)는, 하부 지지 롤러(173)와 상부 지지 롤러(175)에 의해, 연직 방향(Z)으로의 이동이 규제되고 있다. 브러시 이동 부재(177)는, 하부 지지 롤러(173)와 상부 지지 롤러(175)에 의해, 전후 방향(X)으로 이동 가능하게 지지되어 있다.The support member (171) has a lower support roller (173) and an upper support roller (175). The support member (171) has the lower support roller (173) and the upper support roller (175) mounted on the side. The lower support roller (173) and the upper support roller (175) are mounted so as to be rotatable around the width direction (Y). The lower support roller (173) and the upper support roller (175) pinch the upper and lower surfaces of the brush moving member (177). The brush moving member (177) is elastically pressed by pressure at one end side and indirectly moves the brush (99) at the other end side. The brush moving member (177) has the lower support roller (173) and the upper support roller (175) in contact at its upper and lower surfaces. The brush moving member (177) is regulated in the vertical direction (Z) by the lower support roller (173) and the upper support roller (175). The brush moving member (177) is supported so as to be movable in the forward-backward direction (X) by the lower support roller (173) and the upper support roller (175).
브러시 이동 부재(177)는, 일단부가 길이 방향인 전후 방향(X)의 축에 대해 경사진 제1 경사면(177a)을 구비하고 있다. 브러시 이동 부재(177)는, 타단부가 길이 방향인 전후 방향(X)의 축에 대해 경사진 제2 경사면(177b)을 구비하고 있다. 제1 경사면(177a)과 제2 경사면(177b)은, 연직 방향(Z)에 대해 약 45°의 기울기이다. 제1 경사면(177a)과 제2 경사면(177b)은, 서로 역방향으로 경사면을 갖는다. 제1 경사면(177a)은, 하향의 경사면이며, 전방(X)에서 후방(X)을 향해 면이 내려간다. 제2 경사면(177b)은, 하향의 경사면이며, 후방(X)에서 전방(X)을 향해 면이 내려간다.The brush moving member (177) has a first inclined surface (177a) that is inclined at one end with respect to the longitudinal axis in the forward-backward direction (X). The brush moving member (177) has a second inclined surface (177b) that is inclined at the other end with respect to the longitudinal axis in the forward-backward direction (X). The first inclined surface (177a) and the second inclined surface (177b) have an inclination of about 45° with respect to the vertical direction (Z). The first inclined surface (177a) and the second inclined surface (177b) have inclined surfaces in opposite directions to each other. The first inclined surface (177a) is a downward inclined surface, and its surface descends from the front (X) toward the rear (X). The second inclined surface (177b) is a downward inclined surface, and its surface descends from the rear (X) toward the front (X).
로드(179)는, 압압용 액추에이터(89)의 작동축(89a)에 장착되어 있다. 로드(179)는, 작동축(89a)의 상부에 세워져 설치되어 있다. 로드(179)는, 상단에 로드 경사면(179a)을 구비하고 있다. 로드 경사면(179a)은, 선단부가 로드(179)의 길이 방향의 축에 대해 경사져 있다. 로드 경사면(179a)은, 경사면이 제1 경사면(177a)과 평행하다. 로드 경사면(179a)은, 경사면이 제1 경사면(177a)과 같은 각도로 형성되어 있다.The rod (179) is mounted on the operating shaft (89a) of the pressure actuator (89). The rod (179) is installed standing up on the upper portion of the operating shaft (89a). The rod (179) has a rod inclined surface (179a) at the upper end. The rod inclined surface (179a) has a tip end inclined with respect to the longitudinal axis of the rod (179). The rod inclined surface (179a) is parallel to the first inclined surface (177a). The rod inclined surface (179a) is formed at the same angle as the first inclined surface (177a).
승강 부재(181)는, 리니어 가이드(113)의 캐리지(113b)에 장착되어 있다. 승강 부재(181)는, 캐리지(113b)의 상부에 세워져 설치되어 있다. 승강 부재(181)는, 연직 방향(Z)으로 연장되어 있다. 승강 부재(181)는, 캐리지(113b)와, 축 유지부(115)와, 회전축(103)과, 브러시 홀더(101)를 통해 브러시(99)에 연결되어 있다. 환언하면, 승강 부재(181)는, 하부에 브러시(99)가 장착되어 있다. 승강 부재(181)는, 브러시 이동 부재(177)의 타단부에 배치되어 있다. 승강 부재(181)는, 경사면(181a)이 상부에 형성되어 있다. 경사면(181a)은, 전방(X)으로 면이 향해져 있다. 경사면(181a)은, 제2 경사면(177b)과 평행하다. 경사면(181a)은, 제2 경사면과 같은 각도로 면이 형성되어 있다. 경사면(181a)은, 상향의 경사면이며, 후방(X)에서 전방(X)을 향해 면이 내려간다.The elevating member (181) is mounted on the carriage (113b) of the linear guide (113). The elevating member (181) is installed so as to stand on the upper part of the carriage (113b). The elevating member (181) extends in the vertical direction (Z). The elevating member (181) is connected to the carriage (113b), the shaft holding member (115), the rotation shaft (103), and the brush (99) via the brush holder (101). In other words, the elevating member (181) has the brush (99) mounted on the lower part. The elevating member (181) is arranged on the other end of the brush moving member (177). The elevating member (181) has an inclined surface (181a) formed on the upper part. The inclined surface (181a) faces forward (X). The inclined surface (181a) is parallel to the second inclined surface (177b). The inclined surface (181a) is formed at the same angle as the second inclined surface. The inclined surface (181a) is an upward inclined surface, and the surface goes down from the rear (X) to the front (X).
또한, 상술한 승강 부재(181)가 본 발명에 있어서의 「브래킷」에 상당한다. 상술한 경사면(181a)이 본 발명에 있어서의 「브래킷 경사면」에 상당한다.In addition, the above-described lifting member (181) corresponds to the “bracket” in the present invention. The above-described inclined surface (181a) corresponds to the “bracket inclined surface” in the present invention.
이러한 구성의 세정 아암(45A)은, 다음과 같이 동작한다. 여기서, 도 11을 참조한다. 도 11은, 변형예에 따른 세정 아암의 동작 설명도이다.The cleaning arm (45A) of this configuration operates as follows. Refer to Fig. 11 here. Fig. 11 is a diagram explaining the operation of the cleaning arm according to a modified example.
세정 아암(45A)은, 압압에 따라 압압용 액추에이터(89)가 작동된다. 예를 들면, 작동축(89a)의 상승에 의해 로드(179)가 상승한다. 이 때, 로드 경사면(179a)이 상승하여 병진한다. 이에 따라, 브러시 이동 부재(177)의 제1 경사면(177a)과 제2 경사면(177b)이 후방(X)으로 병진한다. 즉, 제1 경사면(177a)과 제2 경사면(177b)이 후방(X)으로 이동한다. 또한, 승강 부재(181)의 경사면(181)이 연직 방향(Z)으로 병진하여 하강한다. 따라서, 로드(179)의 상승에 따라 브러시(99)가 하강된다. 또, 작동축(89a)이 하강한 경우에는, 로드(179)가 하강하고, 로드 경사면(179a)이 하강하여 병진한다. 이에 따라, 코일 스프링(111)의 탄성 가압에 의해 승강 부재(181)가 상승되고, 경사면(181a)이 상승하여 병진한다. 또한, 브러시 이동 부재(177)의 제1 경사면(177a)과 제2 경사면(177b)이 전방(X)으로 병진한다. 이러한 구성이어도, 상술한 실시예와 마찬가지로, 브러시(99)의 압압을 조정할 수 있다.The cleaning arm (45A) operates the pressure actuator (89) according to the pressure. For example, the load (179) rises by the rise of the operating shaft (89a). At this time, the load inclined surface (179a) rises and translates. Accordingly, the first inclined surface (177a) and the second inclined surface (177b) of the brush moving member (177) translate backward (X). That is, the first inclined surface (177a) and the second inclined surface (177b) move backward (X). In addition, the inclined surface (181) of the lifting member (181) translates in the vertical direction (Z) and descends. Therefore, the brush (99) descends according to the rise of the load (179). In addition, when the operating shaft (89a) is lowered, the load (179) is lowered, and the load slope (179a) is lowered and translated. Accordingly, the lifting member (181) is raised by the elastic pressure of the coil spring (111), and the slope (181a) is raised and translated. In addition, the first slope (177a) and the second slope (177b) of the brush moving member (177) are translated forward (X). Even with this configuration, the pressure of the brush (99) can be adjusted, similarly to the above-described embodiment.
이 변형예에서는, 브러시 이동 부재(177)는, 상부 지지 롤러(175)와 하부 지지 롤러(173)로 지지되어 있으므로, 압압용 액추에이터(89)에서 보면, 브러시 이동 부재(177)의 자중이 캔슬된다. 따라서, 압압용 액추에이터(89)의 로드(179)가 미소한 진퇴를 행하는 경우여도, 브러시 이동 부재(177)를 미소한 진퇴에 따라 이동시킬 수 있다. 그 결과, 미소한 압압을 부여하는 경우여도, 정확하게 압압을 부여할 수 있다.In this modified example, since the brush moving member (177) is supported by the upper support roller (175) and the lower support roller (173), the dead weight of the brush moving member (177) is canceled when viewed from the pressure actuator (89). Accordingly, even when the rod (179) of the pressure actuator (89) moves slightly forward and backward, the brush moving member (177) can be moved according to the slight forward and backward movement. As a result, even when a slight pressure is applied, the pressure can be applied accurately.
본 발명은, 상기 실시 형태로 한정되지 않고, 하기와 같이 변형 실시할 수 있다.The present invention is not limited to the above-mentioned embodiments, and can be implemented with modifications as follows.
(1) 상술한 실시예에서는, 기판 처리 장치로서 이면 세정 유닛(SSR)을 예로 들어 설명했다. 그러나, 본 발명은, 이면 세정 유닛(SSR)으로 한정되지 않는다. 예를 들면, 기판의 표면을 브러시(99)로 세정하는 표면 세정 유닛이어도 적용할 수 있다.(1) In the above-described embodiment, the backside cleaning unit (SSR) was used as an example as a substrate processing device. However, the present invention is not limited to the backside cleaning unit (SSR). For example, it can also be applied to a surface cleaning unit that cleans the surface of a substrate with a brush (99).
(2) 상술한 실시예에서는, 기판 처리 장치로서의 이면 세정 유닛(SSR)(처리 유닛(31))이 반입출 블록(3)이나 인덱서 블록(5) 등을 구비한 기판 처리 장치(1)에 구비된 구성을 예로 들어 설명했다. 그러나, 본 발명은, 이러한 구성으로 한정되지 않는다. 예를 들면, 이면 세정 유닛(SSR)(처리 유닛(31))만으로 구성되어 있어도 된다.(2) In the above-described embodiment, the backside cleaning unit (SSR) (processing unit (31)) as a substrate processing device is described as an example of a configuration provided in a substrate processing device (1) equipped with a load/unload block (3) or an indexer block (5). However, the present invention is not limited to this configuration. For example, it may be configured with only the backside cleaning unit (SSR) (processing unit (31)).
(3) 상술한 실시예에서는, 세정 아암(45)이 브러시(99)에 가해지는 하중을 검출하는 기구를 구비하고 있지 않다. 그러나, 본 발명은, 이러한 구성으로 한정되지 않는다. 예를 들면, 캐리지(113b)에 가해지는 힘을 로드 셀로 검출하고, 목표 하중과의 일치 정도를 검출하는 구성으로 해도 된다.(3) In the above-described embodiment, the cleaning arm (45) is not provided with a mechanism for detecting the load applied to the brush (99). However, the present invention is not limited to this configuration. For example, it may be configured to detect the force applied to the carriage (113b) by a load cell and detect the degree of agreement with the target load.
(4) 상술한 실시예에서는, 일차 측 압력이 소정값 이하인 경우에는, 알람을 발생시켜 사이클 정지를 행하는 구성으로 하고 있다. 그러나, 본 발명은, 이러한 구성으로 한정되지 않는다. 예를 들면, 알람을 발생시킴과 더불어, 현재 처리하고 있는 기판(W)에 대한 처리를 곧바로 정지하는 즉시 정지로 하는 구성으로 해도 된다.(4) In the above-described embodiment, when the primary pressure is below a predetermined value, an alarm is generated and a cycle is stopped. However, the present invention is not limited to this configuration. For example, a configuration may be adopted in which an alarm is generated and processing for the substrate (W) currently being processed is immediately stopped.
(5) 상술한 실시예에서는, 미리 취득한 실측 하중의 대응 관계와, 전공 레귤레이터(157)의 개도와 이차 측 압력의 대응 관계에 의거하여, 입력 신호를 부여하여 브러시(99)의 압압을 목표 하중으로 조정하고, 이차 측 압력계(159)가, 개도에 대응하는 이차 측 압력이 되도록 피드백을 행하고, 입력 신호를 조정하여 압압을 목표 하중으로 하고 있다. 그러나, 본 발명은, 이러한 피드백을 필수로 하는 것은 아니다.(5) In the above-described embodiment, based on the correspondence relationship of the measured load acquired in advance and the correspondence relationship between the opening degree of the electric regulator (157) and the secondary pressure, the input signal is applied to adjust the pressure of the brush (99) to the target load, the secondary pressure gauge (159) provides feedback so that the secondary pressure corresponds to the opening degree, and the input signal is adjusted to make the pressure the target load. However, the present invention does not require such feedback.
(6) 상술한 실시예에서는, 이면 세정 유닛(SSR)이 세정 아암(45) 이외에, 제1 처리액 아암(41)이나 제2 처리액 아암(43)을 구비하고 있다. 그러나, 본 발명은, 이들을 필수로 하는 것은 아니다. 예를 들면, 제1 처리액 아암(41)이나 제2 처리액 아암(43)을 생략하고, 세정 아암(45)에 처리액의 공급계를 구비하는 구성이어도 된다.(6) In the above-described embodiment, the back cleaning unit (SSR) is provided with a first treatment liquid arm (41) or a second treatment liquid arm (43) in addition to the cleaning arm (45). However, the present invention does not require these. For example, the first treatment liquid arm (41) or the second treatment liquid arm (43) may be omitted, and a configuration may be provided in which a treatment liquid supply system is provided to the cleaning arm (45).
(7) 상술한 실시예 및 변형예에서는, 세정 아암(45)이 시소 부재(87)나 브러시 이동 부재(177)를 구비하고, 역점부와 작용점부를 전후 방향(X)에서 이격한 구성을 채용하고 있다. 그러나, 본 발명은, 이러한 구성으로 한정되지 않는다. 즉, 역점부와 작용점부를 전후 방향(X)에서 거의 같은 위치에 구비하는 구성이어도 된다.(7) In the above-described embodiment and modified examples, the cleaning arm (45) is provided with a seesaw member (87) or a brush moving member (177), and a configuration is adopted in which the power point and the action point are spaced apart in the forward-backward direction (X). However, the present invention is not limited to this configuration. That is, a configuration in which the power point and the action point are provided at almost the same position in the forward-backward direction (X) may be adopted.
1: 기판 처리 장치 3: 반입출 블록
5: 인덱서 블록 7: 처리 블록
W: 기판 C: 캐리어
IR: 인덱서 로봇 15: 수도부
23: 제1 반전 유닛 25, 27: 패스부
29: 제2 반전 유닛 31: 처리 유닛
SSR: 이면 세정 유닛 CR: 센터 로봇
37: 회전 유지부 39: 가드
41: 제1 처리액 아암 42: 전동 모터
43: 제2 처리액 아암 45: 세정 아암
47: 대기 포트 53: 스핀 척
71: 회전 승강 기구 75: 하우징
77: 세정부 81: 압압 기구
83: 회전 기구 85: 지점 부재
87: 시소 부재 87c: 중앙부
87l: 한쪽 측 87r: 다른 쪽 측
89: 압압용 액추에이터 91: 지지 기구
93: 유지 부재 95: 탄성 가압부
97: 가이드부 99: 브러시
101: 브러시 홀더 103: 회전축
111: 코일 스프링 113: 리니어 가이드
149: 에어 공급관 151: 에어 공급원
155: 일차 측 압력계 157: 전공 레귤레이터
159: 이차 측 압력계 161: 제어부
163: 지시부 165: 알림부1: Substrate processing device 3: Loading/unloading block
5: Indexer block 7: Processing block
W: substrate C: carrier
IR: Indexer Robot 15: Capital
23: 1st inversion unit 25, 27: Pass section
29: Second Inversion Unit 31: Processing Unit
SSR: Back Cleaning Unit CR: Center Robot
37: Rotation retainer 39: Guard
41: First treatment liquid arm 42: Electric motor
43: Second treatment arm 45: Washing arm
47: Standby port 53: Spin chuck
71: Rotating lifting mechanism 75: Housing
77: Washing machine 81: Pressure mechanism
83: Rotating mechanism 85: Branch absence
87: Absence of seesaw 87c: Central part
87l: one side 87r: the other side
89: Actuator for pressure 91: Support mechanism
93: Absence of maintenance 95: Elastic pressurized part
97: Guide section 99: Brush
101: Brush holder 103: Rotating shaft
111: Coil spring 113: Linear guide
149: Air supply pipe 151: Air supply source
155: Primary pressure gauge 157: Electric regulator
159: Secondary side pressure gauge 161: Control unit
163: Instructions 165: Notifications
Claims (8)
기판을 수평 자세로 유지함과 더불어, 기판을 회전시키는 회전 유지부와,
상기 회전 유지부에 유지된 기판의 상면에 작용하는 브러시와,
에어가 공급됨으로써, 상기 브러시를 기판을 향해 압압(押壓)으로 탄성 가압하는 압압 기구와,
에어 공급원에 일단이 연통 접속되고, 타단이 상기 압압 기구에 연통 접속되어 있는 에어 공급관과,
입력 신호에 따라 개도를 조정하여, 상기 에어 공급관에 있어서의 에어의 압력을 조정하는 전공(電空) 레귤레이터와,
상기 에어 공급관 중, 상기 에어 공급원과 상기 전공 레귤레이터 사이에 배치되며, 상기 전공 레귤레이터의 일차 측의 압력을 일차 측 압력으로서 검출하는 일차 측 압력계와,
상기 에어 공급관 중, 상기 전공 레귤레이터와 상기 압압 기구 사이에 배치되며, 상기 전공 레귤레이터의 이차 측의 압력을 이차 측 압력으로서 검출하는 이차 측 압력계와,
상기 입력 신호를 조작함과 더불어, 상기 일차 측 압력계와 상기 이차 측 압력계를 감시하는 제어부
를 구비하고,
상기 제어부는, 상기 일차 측 압력계 및 상기 이차 측 압력계를 감시함으로써, 상기 일차 측 압력에 이변이 생긴 것을 판단하고,
상기 제어부는, 상기 일차 측 압력이 소정값 이하인 경우에는, 알람을 발하고,
상기 제어부는, 상기 일차 측 압력이 소정값 이하인 경우에는, 상기 회전 유지부에 유지되어 있는 기판에 대한 세정 처리가 완료된 시점에서 처리를 정지하고,
상기 회전 유지부에 유지된 기판의 상면에 린스액을 토출하는 린스액 토출부와,
상기 린스액 토출부에 상기 린스액을 공급하는 린스액 공급부를 더 구비하고,
상기 제어부는, 상기 린스액 공급부, 상기 압압 기구, 상기 회전 유지부를 제어하여, 상기 일차 측 압력이 소정값 이하인 경우에는, 상기 기판에 상기 린스액을 토출하면서 상기 브러시에 의한 처리를 행하는 브러시 세정 처리와, 떨쳐냄 건조 처리를 실시한 후에, 처리를 정지하는, 기판 처리 장치. In a substrate treatment device that performs a cleaning process by applying a brush to the substrate,
In addition to maintaining the substrate in a horizontal position, a rotation support unit that rotates the substrate,
A brush acting on the upper surface of the substrate maintained on the above rotating support member,
A pressure mechanism that elastically presses the brush toward the substrate by supplying air,
An air supply pipe having one end connected to an air supply source and the other end connected to the pressurizing mechanism,
An electro-pneumatic regulator that adjusts the pressure of air in the air supply pipe by adjusting the opening according to the input signal,
Among the above air supply pipes, a primary side pressure gauge is placed between the air supply source and the electropneumatic regulator, and detects the pressure on the primary side of the electropneumatic regulator as the primary side pressure;
Among the above air supply pipes, a secondary pressure gauge is placed between the electric regulator and the pressurizing mechanism, and detects the pressure on the secondary side of the electric regulator as the secondary pressure;
In addition to manipulating the above input signal, a control unit that monitors the primary side pressure gauge and the secondary side pressure gauge
Equipped with,
The above control unit determines that there is an abnormality in the primary pressure by monitoring the primary pressure gauge and the secondary pressure gauge.
The above control unit generates an alarm when the primary pressure is below a predetermined value.
The above control unit stops the processing when the cleaning process for the substrate maintained in the rotating maintenance unit is completed when the primary side pressure is below a predetermined value.
A rinse solution discharge unit that discharges rinse solution onto the upper surface of the substrate maintained by the above-mentioned rotating maintenance unit,
Further provided is a rinse solution supply unit for supplying the rinse solution to the rinse solution discharge unit.
The above control unit controls the rinse solution supply unit, the pressure mechanism, and the rotation maintenance unit to perform brush cleaning processing by discharging the rinse solution onto the substrate and performing processing using the brush, and then performing a shaking-off drying process, and then stopping the processing, when the primary side pressure is below a predetermined value. A substrate processing device.
상기 제어부는, 상기 회전 유지부에서 기판이 재치(載置)되는 위치에 전자 천칭을 재치한 상태에서, 미리 취득한 상기 전공 레귤레이터의 개도와 상기 전자 천칭의 측정값의 실측 하중의 대응 관계와, 상기 전공 레귤레이터의 개도와 상기 이차 측 압력의 대응 관계에 의거하여, 기판에 부여하고 싶은 목표 하중과 상기 실측 하중의 대응 관계로부터 얻어지는 상기 전공 레귤레이터의 개도로부터, 상기 이차 측 압력계가, 당해 개도에 대응하는 상기 이차 측 압력이 되도록, 상기 입력 신호를 조정하여 상기 브러시의 압압을 상기 목표 하중으로 조정하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.In claim 1,
The above control unit, in a state where an electronic balance is placed at a position where a substrate is placed in the rotation holding unit, adjusts the input signal so that the secondary side pressure gauge becomes the secondary side pressure corresponding to the opening degree of the electropneumatic regulator, based on a correspondence between the opening degree of the electropneumatic regulator acquired in advance and the actual load of the measured value of the electronic balance, and a correspondence relationship between the opening degree of the electropneumatic regulator and the secondary side pressure, and adjusts the pressure of the brush to the target load.
상기 압압 기구는,
지점(支点) 부재를 지점으로 하여 요동 가능하게 구성되며, 상기 지점에 대해 한쪽 측에 역점부를 구비하고, 상기 지점에 대해 다른 쪽 측에 작용점부를 구비한 시소 부재와,
에어에 의거한 구동력을 상기 역점부에 부여하여, 상기 지점을 중심으로 하여 상기 시소 부재를 요동시킴으로써, 상기 브러시를 기판의 상면에 누르기 위한 압압을 부여하는 압압용 액추에이터를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.In claim 1 or claim 2,
The above pressure mechanism is,
A seesaw member configured to be swayable with a support member as a support member, having a pivot member on one side of the support member and an action member on the other side of the support member,
A substrate processing device characterized by having a pressure actuator that applies a driving force based on air to the above-mentioned pivot point to vibrate the seesaw member around the above-mentioned pivot point, thereby applying pressure to press the brush against the upper surface of the substrate.
기판을 수평 자세로 유지함과 더불어, 기판을 회전시키는 회전 유지부와,
상기 회전 유지부에 유지된 기판의 상면에 작용하는 브러시와,
에어가 공급됨으로써, 상기 브러시를 기판을 향해 압압으로 탄성 가압하는 압압 기구와,
에어 공급원에 일단이 연통 접속되고, 타단이 상기 압압 기구에 연통 접속되어 있는 에어 공급관과,
입력 신호에 따라 개도를 조정하여, 상기 에어 공급관에 있어서의 에어의 압력을 조정하는 전공 레귤레이터와,
상기 에어 공급관 중, 상기 에어 공급원과 상기 전공 레귤레이터 사이에 배치되며, 상기 전공 레귤레이터의 일차 측의 압력을 일차 측 압력으로서 검출하는 일차 측 압력계와,
상기 에어 공급관 중, 상기 전공 레귤레이터와 상기 압압 기구 사이에 배치되며, 상기 전공 레귤레이터의 이차 측의 압력을 이차 측 압력으로서 검출하는 이차 측 압력계와,
상기 입력 신호를 조작함과 더불어, 상기 일차 측 압력계와 상기 이차 측 압력계를 감시하는 제어부
를 구비하고,
상기 압압 기구는,
일단부에서 압압에 따라 탄성 가압되며, 타단부에서 상기 브러시를 이동시키는 브러시 이동 부재와,
상기 브러시 이동 부재의 상하면을 지지하며, 길이 방향으로의 이동을 허용하는 지지 부재와,
상기 브러시가 하부에 장착되며, 상기 브러시 이동 부재의 타단부에 배치된 브래킷과,
압압에 따른 에어가 공급되어 진퇴되는 로드를 구비하며, 상기 로드의 선단부를 상기 브러시 이동 부재의 일단 측에 접촉시켜 상기 브러시 이동 부재를 이동시키는 압압용 액추에이터
를 구비하고,
상기 로드는, 상기 선단부가 길이 방향의 축에 대해 경사진 로드 경사면을 구비하고,
상기 브러시 이동 부재는, 상기 일단부가 길이 방향의 축에 대해 경사지며, 상기 로드 경사면을 따라 경사진 제1 경사면과, 상기 타단부가 길이 방향의 축에 대해 경사진 제2 경사면을 구비하고,
상기 브래킷은, 상부가 상기 제2 경사면을 따라 경사진 브래킷 경사면을 구비하고,
상기 로드의 진퇴에 따라 상기 브러시 이동 부재가 상기 길이 방향으로 진퇴되는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.In a substrate treatment device that performs a cleaning process by applying a brush to the substrate,
In addition to maintaining the substrate in a horizontal position, a rotation support unit that rotates the substrate,
A brush acting on the upper surface of the substrate maintained on the above rotating support member,
A pressure mechanism that elastically presses the brush toward the substrate by supplying air,
An air supply pipe having one end connected to an air supply source and the other end connected to the pressurizing mechanism,
An electric regulator that adjusts the pressure of air in the air supply pipe by adjusting the opening according to the input signal,
Among the above air supply pipes, a primary side pressure gauge is placed between the air supply source and the electropneumatic regulator, and detects the pressure on the primary side of the electropneumatic regulator as the primary side pressure;
Among the above air supply pipes, a secondary pressure gauge is placed between the electric regulator and the pressurizing mechanism, and detects the pressure on the secondary side of the electric regulator as the secondary pressure;
In addition to manipulating the above input signal, a control unit that monitors the primary side pressure gauge and the secondary side pressure gauge
Equipped with,
The above pressure mechanism is,
A brush moving member that is elastically pressurized by pressure at one end and moves the brush at the other end,
A support member that supports the upper and lower surfaces of the above brush moving member and allows movement in the longitudinal direction,
The above brush is mounted at the bottom, and a bracket is placed at the other end of the brush moving member,
A pressure actuator having a rod that advances and retreats by supplying air according to pressure, and moving the brush moving member by bringing the tip end of the rod into contact with one end of the brush moving member
Equipped with,
The above load has a rod slope that is inclined with respect to the longitudinal axis of the tip portion,
The brush moving member has a first inclined surface inclined along the load slope at one end and inclined relative to the longitudinal axis, and a second inclined surface inclined relative to the longitudinal axis at the other end.
The above bracket has a bracket slope that is inclined along the second slope at the upper end,
A substrate processing device characterized in that the brush moving member advances and retreats in the longitudinal direction according to the advance and retreat of the load.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2022139299A JP2024034805A (en) | 2022-09-01 | 2022-09-01 | Substrate processing equipment and substrate processing method |
| JPJP-P-2022-139299 | 2022-09-01 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20240031920A KR20240031920A (en) | 2024-03-08 |
| KR102818968B1 true KR102818968B1 (en) | 2025-06-11 |
Family
ID=90048317
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020230114654A Active KR102818968B1 (en) | 2022-09-01 | 2023-08-30 | Substrate processing device |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2024034805A (en) |
| KR (1) | KR102818968B1 (en) |
| CN (1) | CN117650042A (en) |
| TW (1) | TWI885447B (en) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2887197B2 (en) | 1994-09-20 | 1999-04-26 | 大日本スクリーン製造株式会社 | Rotary substrate cleaning equipment |
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| US20160069772A1 (en) * | 2014-09-10 | 2016-03-10 | Siemens Aktiengesellschaft | Valve Operation And Diagnosis |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR0171491B1 (en) * | 1994-09-20 | 1999-03-30 | 이시다 아키라 | Rotary Substrate Cleaner |
| JP5385537B2 (en) * | 2008-02-26 | 2014-01-08 | 大日本スクリーン製造株式会社 | Substrate processing equipment |
| JP6454326B2 (en) | 2014-04-18 | 2019-01-16 | 株式会社荏原製作所 | Substrate processing apparatus, substrate processing system, and substrate processing method |
-
2022
- 2022-09-01 JP JP2022139299A patent/JP2024034805A/en active Pending
-
2023
- 2023-08-10 TW TW112130148A patent/TWI885447B/en active
- 2023-08-30 KR KR1020230114654A patent/KR102818968B1/en active Active
- 2023-08-31 CN CN202311112146.0A patent/CN117650042A/en active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20240031920A (en) | 2024-03-08 |
| JP2024034805A (en) | 2024-03-13 |
| TWI885447B (en) | 2025-06-01 |
| CN117650042A (en) | 2024-03-05 |
| TW202428372A (en) | 2024-07-16 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| D13-X000 | Search requested |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D13-srh-X000 |
|
| D14-X000 | Search report completed |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D14-srh-X000 |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| T11-X000 | Administrative time limit extension requested |
St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| E90F | Notification of reason for final refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| E13-X000 | Pre-grant limitation requested |
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|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
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|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
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|
| PG1601 | Publication of registration |
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|
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