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KR102803215B1 - 표시 장치 및 적응적인 잔상 보상 방법 - Google Patents

표시 장치 및 적응적인 잔상 보상 방법 Download PDF

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KR102803215B1
KR102803215B1 KR1020210174509A KR20210174509A KR102803215B1 KR 102803215 B1 KR102803215 B1 KR 102803215B1 KR 1020210174509 A KR1020210174509 A KR 1020210174509A KR 20210174509 A KR20210174509 A KR 20210174509A KR 102803215 B1 KR102803215 B1 KR 102803215B1
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Abstract

본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치는 다수의 서브 픽셀을 포함하는 표시 패널, 및 영상 패턴을 분석하여 잔상 예상 영역과 잔상 예상 영역에서의 잔상을 검출하고, 검출된 잔상의 잔상 타입을 결정하고, 결정된 잔상 타입과 대응되는 잔상 보상 처리를 수행하기 위해 구성된 잔상 보상 장치를 포함할 수 있다.

Description

표시 장치 및 적응적인 잔상 보상 방법{DISPLAY DEVICE AND ADAPTIVE AFTERIMAGE COMPENSATION METHOD}
본 개시의 실시 예들은 표시 장치 및 적응적인 잔상 보상 방법에 관한 것이다.
표시 장치는 사용 시간이 길어짐에 따라 화면 상에 비정상적인 얼룩이 보이는 잔상 현상이 발생할 수 있다. 특히, 유기 발광 표시 장치 등과 같은 자체 발광 표시 장치인 경우에는 잔상이 더욱 잘 발생할 가능성이 있다.
표시 장치에서 화면 상에 잔상이 발생하는 경우, 화상 품질이 저하되고 제품에 대한 사용자 만족도가 크게 떨어질 수 있다.
종래의 디스플레이 분야에서는, 사용 시간이 길어짐에 따라 화면에 발생되는 잔상을 해결하기 위하여 다양한 잔상 보상 기술이 개발되고 있으나, 기존의 잔상 보상 기술의 개발에도 불구하고, 잔상이 여전히 제거되지 못하거나 완화되지 못하는 문제점이 있었다.
이에, 본 명세서의 발명자들은 오랜 실험과 분석을 통해 잔상의 유발 원인 및 특성 등을 밝혀 내고, 밝혀낸 정보에 기초하여 몇 가지 잔상 타입들을 정의하고 각 잔상 타입에 맞는 차별화된 잔상 보상 기술을 발명하였다.
본 개시의 실시 예들은 잔상 타입을 구분하여 잔상 타입에 맞는 잔상 보상을 수행할 수 있는 표시 장치 및 적응적인 잔상 보상 방법을 제공할 수 있다.
본 개시의 실시 예들은 영상 패턴을 이용하여 잔상 보상 처리를 수행할 수 있는 표시 장치 및 적응적인 잔상 보상 방법을 제공할 수 있다.
본 개시의 실시 예들은 영상 패턴을 이용하여 잔상이 발생할 영역에 대해서만 잔상 보상 처리를 수행할 수 있는 표시 장치 및 적응적인 잔상 보상 방법을 제공할 수 있다.
본 개시의 실시 예들은 다수의 서브 픽셀을 포함하는 표시 패널, 및 영상 패턴에 따라 잔상 예상 영역에서 검출된 잔상의 잔상 타입을 결정하고, 결정된 잔상 타입과 대응되는 잔상 보상 처리를 수행하기 위해 구성된 잔상 보상 장치를 포함하는 표시 장치를 제공할 수 있다.
잔상 보상 장치는 영상 패턴을 분석하여 잔상 예상 영역과 잔상 예상 영역에서의 잔상을 검출하고, 검출된 잔상의 잔상 타입을 복수의 잔상 타입들(예: 복원 잔상, 단기 비복원 잔상, 장기 비복원 잔상 등) 중에서 결정하고, 결정된 잔상 타입과 대응되는 잔상 보상 처리를 수행하기 위해 구성될 수 있다.
본 개시의 실시 예들은 영상 패턴을 분석하여 잔상 예상 영역과 잔상 예상 영역에서의 잔상을 검출하는 단계, 검출된 잔상의 잔상 타입을 결정하는 단계, 및 결정된 잔상 타입과 대응되는 잔상 보상 처리를 수행하는 단계를 포함하는 적응적인 잔상 보상 방법을 제공할 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 의하면, 잔상 타입을 구분하여 잔상 타입에 맞는 잔상 보상을 수행할 수 있는 표시 장치 및 적응적인 잔상 보상 방법을 제공할 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 의하면, 영상 패턴을 이용하여 잔상 보상 처리를 수행할 수 있는 표시 장치 및 적응적인 잔상 보상 방법을 제공할 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 의하면, 영상 패턴을 이용하여 잔상이 발생할 영역에 대해서만 잔상 보상 처리를 수행할 수 있는 표시 장치 및 적응적인 잔상 보상 방법을 제공할 수 있다.
도 1은 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치의 시스템 구성도이다.
도 2는 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 패널에서의 서브 픽셀의 등가 회로이다.
도 3은 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 패널에서의 서브 픽셀의 다른 등가 회로이다.
도 4는 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 패널에서의 잔상 영역들을 나타낸다.
도 5는 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치의 잔상 보상 장치를 나타낸다.
도 6은 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법을 나타낸 다이어그램이다.
도 7은 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법에서 패턴 분석 단계 및 잔상 구분 단계의 흐름도이다.
도 8은 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법에서 잔상 구분 단계의 상세 흐름도이다.
도 9는 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법에서 잔상 보상 단계 및 누적 처리 단계의 흐름도이다.
도 10은 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법에서 잔상 보상 단계 및 누적 처리 단계의 다른 흐름도이다.
도 11은 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법에서, 휘도 저감 제어 방식의 잔상 지연 처리를 나타낸다.
도 12는 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법에서, 화면 이동 제어 방식의 잔상 지연 처리를 나타낸다.
도 13은 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법에서, 잔상 평탄화 처리를 나타낸다.
도 14는 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상의 적용 전후의 보상값과 화면 상태를 나타낸다.
도 15는 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상의 적용 전후의 화면 상태 변화를 나타낸다.
이하, 본 개시의 일부 실시 예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성 요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 개시를 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 개시의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다. 본 명세서 상에서 언급된 "포함한다", "갖는다", "이루어진다" 등이 사용되는 경우 "~만"이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별한 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함할 수 있다.
또한, 본 개시의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제1, 제2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다.
구성 요소들의 위치 관계에 대한 설명에 있어서, 둘 이상의 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속" 등이 된다고 기재된 경우, 둘 이상의 구성 요소가 직접적으로 "연결", "결합" 또는 "접속" 될 수 있지만, 둘 이상의 구성 요소와 다른 구성 요소가 더 "개재"되어 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 여기서, 다른 구성 요소는 서로 "연결", "결합" 또는 "접속" 되는 둘 이상의 구성 요소 중 하나 이상에 포함될 수도 있다.
구성 요소들이나, 동작 방법이나 제작 방법 등과 관련한 시간적 흐름 관계에 대한 설명에 있어서, 예를 들어, "~후에", "~에 이어서", "~다음에", "~전에" 등으로 시간적 선후 관계 또는 흐름적 선후 관계가 설명되는 경우, "바로" 또는 "직접"이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우도 포함할 수 있다.
한편, 구성 요소에 대한 수치 또는 그 대응 정보(예: 레벨 등)가 언급된 경우, 별도의 명시적 기재가 없더라도, 수치 또는 그 대응 정보는 각종 요인(예: 공정상의 요인, 내부 또는 외부 충격, 노이즈 등)에 의해 발생할 수 있는 오차 범위를 포함하는 것으로 해석될 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 개시의 다양한 실시예들을 상세히 설명한다.
도 1은 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치(100)의 시스템 구성도이다.
도 1을 참조하면, 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치(100)의 디스플레이 구동 시스템은 표시 패널(110) 및 표시 패널(110)을 구동하기 위한 구동 회로 등을 포함할 수 있다.
표시 패널(110)은 영상이 표시되는 표시 영역(DA)과 영상이 표시되지 않는 비-표시 영역(NDA)을 포함할 수 있다. 표시 패널(110)은 영상 표시를 위하여 기판(SUB) 상에 배치되는 다수의 서브 픽셀들(SP)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 다수의 서브 픽셀들(SP)은 표시 영역(DA)에 배치될 수 있다. 경우에 따라, 비-표시 영역(NDA)에 적어도 하나의 서브 픽셀(SP)이 배치될 수도 있다. 비-표시 영역(NDA)에 배치되는 적어도 하나의 서브 픽셀(SP)은 더미 서브 픽셀이라고도 한다.
표시 패널(110)은 다수의 서브 픽셀들(SP)을 구동하기 위하여, 기판(SUB) 상에 배치되는 다수의 신호 배선들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 다수의 신호 배선들은 다수의 데이터 라인들(DL) 및 다수의 게이트 라인들(GL)을 포함할 수 있다. 신호 배선들은 서브 픽셀(SP)의 구조에 따라, 다수의 데이터 라인들(DL) 및 다수의 게이트 라인들(GL)과 다른 신호 배선들을 더 포함할 수도 있다. 예를 들어, 다른 신호 배선들은 구동 전압 라인들 및 기준 전압 라인들 등을 포함할 수 있다.
다수의 데이터 라인들(DL) 및 다수의 게이트 라인들(GL)은 서로 교차할 수 있다. 다수의 데이터 라인들(DL) 각각은 제1 방향으로 연장되면서 배치될 수 있다. 다수의 게이트 라인들(GL) 각각은 제2 방향으로 연장되면서 배치될 수 있다. 여기서, 제1 방향은 칼럼(Column) 방향이고 제2 방향은 로우(Row) 방향일 수 있다. 본 명세서에서, 칼럼(Column) 방향과 로우(Row) 방향은 상대적인 것이다. 예를 들어, 칼럼 방향은 세로 방향이고 로우 방향은 가로 방향일 수 있다. 다른 예를 들어, 칼럼 방향은 가로 방향이고 로우 방향은 세로 방향일 수도 있다. 아래에서는, 설명의 편의를 위하여, 각 데이터 라인(DL)은 세로 방향으로 연장되면서 배치되고, 각 게이트 라인(GL)은 가로 방향으로 연장되면서 배치되는 것으로 가정한다.
구동 회로는 다수의 데이터 라인들(DL)을 구동하기 위한 데이터 구동 회로(120) 및 다수의 게이트 라인들(GL)을 구동하기 위한 게이트 구동 회로(130)를 포함할 수 있다. 구동 회로는 데이터 구동 회로(120) 및 게이트 구동 회로(130)를 제어하기 위한 컨트롤러(140)를 더 포함할 수도 있다.
데이터 구동 회로(120)는 다수의 데이터 라인들(DL)을 구동하기 위해, 다수의 데이터 라인들(DL)로 영상 신호에 해당하는 데이터 신호들(데이터 전압들이라고도 함)을 출력하기 위해 구성될 수 있다.
게이트 구동 회로(130)는 다수의 게이트 라인들(GL) 구동하기 위해, 게이트 신호들을 생성하여 다수의 게이트 라인들(GL)로 게이트 신호들을 출력하기 위해 구성될 수 있다. 한편, 표시 장치(100)는 게이트 신호 생성에 필요한 클럭 신호들을 생성하기 위한 클럭 신호 생성 회로를 더 포함할 수 있다. 클럭 신호 생성 회로는 게이트 구동 회로(130)의 내부 또는 외부에 포함될 수 있으며, 일 예로, 레벨 쉬프터(Level Shifter)로 구현될 수 있다.
컨트롤러(140)는 각 프레임에서 구현하는 타이밍에 따라 스캐닝이 시작되어 스캐닝에 맞춰 적당한 시간에 데이터 구동이 수행되도록 제어하기 위해 구성될 수 있다. 컨트롤러(140)는, 외부에서 입력되는 입력 영상 데이터를 데이터 구동 회로(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상 데이터(Data)를 데이터 구동 회로(120)에 공급하기 위해 구성될 수 있다.
컨트롤러(140)는, 입력 영상 데이터와 함께, 디스플레이 구동 제어 신호들을 외부의 호스트(150)로부터 수신할 수 있다. 예를 들어, 디스플레이 구동 제어 신호들은 수직 동기 신호(VSYNC), 수평 동기 신호(HSYNC), 입력 데이터 인에이블 신호(DE: Data Enable), 클럭 신호 등을 포함할 수 있다.
컨트롤러(140)는, 호스트(150)에서 입력된 디스플레이 구동 제어 신호들에 기초하여, 데이터 구동 제어 신호들(DCS) 및 게이트 구동 제어 신호들(GCS)을 생성할 수 있다. 컨트롤러(140)는, 데이터 구동 제어 신호들(DCS)을 데이터 구동 회로(120)에 공급함으로써, 데이터 구동 회로(120)의 구동 동작 및 구동 타이밍을 제어할 수 있다. 컨트롤러(140)는, 게이트 구동 제어 신호들(GCS)을 게이트 구동 회로(130)에 공급함으로써, 게이트 구동 회로(130)의 구동 동작 및 구동 타이밍을 제어할 수 있다.
예를 들어, 데이터 구동 회로(120)는 하나 이상의 소스 드라이버 집적 회로(SDIC: Source Driver Integrated Circuit)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 각 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)는 시프트 레지스터(Shift Register), 래치 회로(Latch Circuit), 디지털 아날로그 컨버터(DAC: Digital to Analog Converter), 출력 버퍼 등을 포함할 수 있다. 각 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)는, 경우에 따라서, 아날로그 디지털 컨버터(ADC: Analog to Digital Converter)를 더 포함할 수 있다.
예를 들어, 각 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)는 테이프 오토메티드 본딩(TAB: Tape Automated Bonding) 방식으로 표시 패널(110)과 연결되거나, 칩 온 글래스(COG: Chip On Glass) 또는 칩 온 패널(COP: Chip On Panel) 방식으로 표시 패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결되거나, 칩 온 필름(COF: Chip On Film) 방식으로 구현되어 표시 패널(110)과 연결될 수 있다.
게이트 구동 회로(130)는 컨트롤러(140)의 제어에 따라, 턴-온 레벨 전압의 게이트 신호를 출력하거나 턴-오프 레벨 전압의 게이트 신호를 출력할 수 있다. 게이트 구동 회로(130)는 다수의 게이트 라인(GL)으로 턴-온 레벨 전압의 게이트 신호를 순차적으로 공급함으로써, 다수의 게이트 라인(GL)을 순차적으로 구동할 수 있다.
게이트 구동 회로(130)는 테이프 오토메티드 본딩(TAB) 방식으로 표시 패널(110)과 연결되거나, 칩 온 글래스(COG) 또는 칩 온 패널(COP) 방식으로 표시 패널(110)의 본딩 패드에 연결되거나, 칩 온 필름(COF) 방식에 따라 표시 패널(110)과 연결될 수 있다. 또는, 게이트 구동 회로(130)는 게이트 인 패널(GIP: Gate In Panel) 타입으로 표시 패널(110)의 비-표시 영역(NDA)에 형성될 수 있다. 게이트 구동 회로(130)는 기판 상에 배치되거나 기판에 연결될 수 있다. 즉, 게이트 구동 회로(130)는 GIP 타입인 경우 기판의 비-표시 영역(NDA)에 배치될 수 있다. 게이트 구동 회로(130)는 칩 온 글래스(COG) 타입, 칩 온 필름(COF) 타입 등인 경우 기판에 연결될 수 있다.
한편, 데이터 구동 회로(120) 및 게이트 구동 회로(130) 중 적어도 하나의 구동 회로는 표시 영역(DA)에 배치될 수도 있다. 예를 들어, 데이터 구동 회로(120) 및 게이트 구동 회로(130) 중 적어도 하나의 구동 회로는 서브 픽셀들(SP)과 일부 또는 전체가 중첩되게 배치될 수도 있다.
데이터 구동 회로(120)는 표시 패널(110)의 일 측(예: 상측 또는 하측)에 연결될 수도 있다. 구동 방식, 패널 설계 방식 등에 따라, 데이터 구동 회로(120)는 표시 패널(110)의 양 측(예: 상측과 하측)에 모두 연결되거나, 표시 패널(110)의 4 측면 중 둘 이상의 측면에 연결될 수도 있다.
게이트 구동 회로(130)는 표시 패널(110)의 일 측(예: 좌측 또는 우측)에 연결될 수도 있다. 구동 방식, 패널 설계 방식 등에 따라, 게이트 구동 회로(130)는 표시 패널(110)의 양 측(예: 좌측과 우측)에 모두 연결되거나, 표시 패널(110)의 4 측면 중 둘 이상의 측면에 연결될 수도 있다.
예를 들어, 컨트롤러(140)는, 데이터 구동 회로(120)와 별도의 부품으로 구현될 수 있거나, 또는 데이터 구동 회로(120)와 함께 통합되어 집적 회로로 구현될 수 있다. 컨트롤러(140)는 통상의 디스플레이 기술에서 이용되는 타이밍 컨트롤러(Timing Controller)이거나, 타이밍 컨트롤러를 포함하여 다른 제어 기능도 더 수행할 수 있는 제어 장치일 수 있으며, 또는 타이밍 컨트롤러와 다른 제어 장치일 수도 있으며, 또는 제어 장치 내 회로일 수도 있다.
예를 들어, 컨트롤러(140)는, IC(Integrated Circuit), FPGA(Field Programmable Gate Array), ASIC(Application Specific Integrated Circuit), 또는 프로세서(Processor) 등의 다양한 회로나 전자 부품으로 구현될 수 있다.
예를 들어, 컨트롤러(140)는 인쇄 회로 기판, 연성 인쇄 회로 등에 실장 되고, 인쇄 회로 기판, 연성 인쇄 회로 등을 통해 데이터 구동 회로(120) 및 게이트 구동 회로(130)와 전기적으로 연결될 수 있다. 컨트롤러(140)는, 미리 정해진 하나 이상의 인터페이스에 따라 데이터 구동 회로(120)와 신호를 송수신할 수 있다. 여기서, 예를 들어, 인터페이스는 LVDS(Low Voltage Differential Signaling) 인터페이스, EPI 인터페이스, SP(Serial Peripheral Interface) 등을 포함할 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치(100)는 표시 패널(110)이 자체적으로 발광하는 자체 발광 표시 장치일 수 있다. 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치(100)가 자체 발광 표시 장치인 경우, 다수의 서브 픽셀들(SP) 각각은 발광 소자를 포함할 수 있다. 예를 들어, 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치(100)는 발광 소자가 유기 발광 다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)로 구현된 유기 발광 표시 장치일 수 있다. 다른 예를 들어, 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치(100)는 발광 소자가 무기물 기반의 발광 다이오드로 구현된 무기 발광 표시 장치일 수 있다. 또 다른 예를 들어, 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치(100)는 발광 소자가 스스로 빛을 내는 반도체 결정인 퀀텀닷(Quantum Dot)으로 구현된 퀀텀닷 표시 장치일 수 있다.
도 2는 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 패널(110)에서의 서브 픽셀(SP)의 등가 회로를 나타내고, 도 3은 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 패널(110)에서의 서브 픽셀(SP)의 다른 등가 회로를 나타낸다.
도 2를 참조하면, 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치(100)에서, 각 서브 픽셀(SP)은 발광 소자(ED)와, 발광 소자(ED)로 흐르는 전류를 제어하여 발광 소자(ED)를 구동하는 구동 트랜지스터(DRT)와, 데이터 전압(Vdata)을 구동 트랜지스터(DRT)의 게이트 노드인 제1 노드(N1)로 전달하는 스캔 트랜지스터(SCT)와, 일정 기간 동안 전압 유지를 위한 스토리지 캐패시터(Cst) 등을 포함할 수 있다.
발광 소자(ED)는 픽셀 전극(PE) 및 공통 전극(CE)과, 픽셀 전극(PE) 및 공통 전극(CE) 사이에 위치하는 발광층(EL)을 포함할 수 있다. 발광 소자(ED)의 픽셀 전극(PE)은 애노드 전극 또는 캐소드 전극일 수 있다. 공통 전극(CE)은 캐소드 전극 또는 애노드 전극일 수 있다. 발광 소자(ED)는 일 예로, 유기 발광 다이오드(OLED), 무기물 기반의 발광 다이오드(LED), 퀀텀닷(Quantum dot) 발광 소자 등일 수 있다.
발광 소자(ED)의 공통 전극(CE)에는 기저 전압(EVSS)이 인가될 수 있다. 여기서, 예를 들어, 기저 전압(EVSS)은 그라운드 전압이거나 그라운드 전압과 유사한 전압일 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)는 발광 소자(ED)를 구동하기 위한 트랜지스터로서, 제1 노드(N1), 제2 노드(N2) 및 제3 노드(N3) 등을 포함할 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)는 게이트 노드에 해당하는 노드이고, 스캔 트랜지스터(SCT)의 소스 노드 또는 드레인 노드와 전기적으로 연결될 수 있다. 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)는 소스 노드 또는 드레인 노드이고, 발광 소자(ED)의 픽셀 전극(PE)과 전기적으로 연결될 수 있다. 구동 트랜지스터(DRT)의 제3 노드(N3)는 드레인 노드 또는 소스 노드일 수 있고, 구동 전압(EVDD)을 공급하는 구동 전압 라인(DVL)과 전기적으로 연결될 수 있다. 아래에서는, 설명의 편의를 위하여, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)는 소스 노드이고, 제3노드(N3)는 드레인 노드인 것을 예로 들어 설명할 수 있다.
스캔 트랜지스터(SCT)는 데이터 라인(DL)과 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1) 간의 연결을 스위칭 할 수 있다.
스캔 트랜지스터(SCT)는 게이트 라인(GL)에서 공급되는 스캔 신호(SCAN)에 응답하여, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)와 다수의 데이터 라인들(DL) 중 대응되는 데이터 라인(DL) 간의 연결을 제어할 수 있다.
스캔 트랜지스터(SCT)의 드레인 노드 또는 소스 노드는 해당 데이터 라인(DL)에 전기적으로 연결될 수 있다. 스캔 트랜지스터(SCT)의 소스 노드 또는 드레인 노드는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)에 전기적으로 연결될 수 있다. 스캔 트랜지스터(SCT)의 게이트 노드는 게이트 라인(GL)과 전기적으로 연결되어 스캔 신호(SCAN)를 인가 받을 수 있다.
스캔 트랜지스터(SCT)는 턴-온 레벨 전압의 스캔 신호(SCAN)에 의해 턴-온 되어, 해당 데이터 라인(DL)으로부터 공급된 데이터 전압(Vdata)을 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)로 전달해줄 수 있다.
스캔 트랜지스터(SCT)는 턴-온 레벨 전압의 스캔 신호(SCAN)에 의해 턴-온 되고, 턴-오프 레벨 전압의 스캔 신호(SCAN)에 의해 턴-오프 된다. 여기서, 스캔 트랜지스터(SCT)가 n 타입인 경우, 턴-온 레벨 전압은 하이 레벨 전압이고, 턴-오프 레벨 전압은 로우 레벨 전압일 수도 있다. 스캔 트랜지스터(SCT)가 p 타입인 경우, 턴-온 레벨 전압은 로우 레벨 전압이고 턴-오프 레벨 전압은 하이 레벨 전압일 수도 있다.
스토리지 캐패시터(Cst)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 형성될 수 있고, 영상 신호 전압에 해당하는 데이터 전압(Vdata) 또는 이에 대응되는 전압을 한 프레임 시간 동안 유지해줄 수 있다.
스토리지 캐패시터(Cst)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 존재하는 내부 캐패시터(Internal Capacitor)인 기생 캐패시터가 아니라, 구동 트랜지스터(DRT)의 외부에 의도적으로 설계한 외부 캐패시터(External Capacitor)일 수 있다.
도 2에 예시된 서브 픽셀(SP)은, 발광 소자(ED)를 구동하기 위하여, 2개의 트랜지스터(DRT, SCT)와 1개의 캐패시터(Cst)를 갖기 때문에, 2T(Transistor)1C(Capacitor) 구조를 갖는다고 한다.
도 3을 참조하면, 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치(100)에서, 각 서브 픽셀(SP)은 구동 시 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압 상태를 제어하기 위한 센싱 트랜지스터(SENT)를 더 포함할 수 있다. 이 경우, 서브 픽셀(SP)은 발광 소자(ED)를 구동하기 위하여 3개의 트랜지스터(DRT, SCT, SENT)와 1개의 캐패시터(Cst)를 갖기 때문에, 3T(Transistor)1C(Capacitor) 구조를 갖는다고 할 수 있다.
도 3을 참조하면, 센싱 트랜지스터(SENT)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)와 기준 전압 라인(RVL) 간의 연결을 스위칭할 수 있다.
센싱 트랜지스터(SENT)는 센싱 신호(SENSE)에 응답하여, 발광 소자(ED)의 픽셀 전극(PE)에 전기적으로 연결된 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)와 다수의 기준 전압 라인들(RVL) 중 대응되는 기준 전압 라인(RVL) 간의 연결을 제어할 수 있다.
센싱 트랜지스터(SENT)의 드레인 노드 또는 소스 노드는 기준 전압 라인(RVL)에 전기적으로 연결될 수 있다. 센싱 트랜지스터(SENT)의 소스 노드 또는 드레인 노드는 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)에 전기적으로 연결될 수 있으며, 발광 소자(ED)의 픽셀 전극(PE)과 전기적으로 연결될 수 있다. 센싱 트랜지스터(SENT)의 게이트 노드는 센싱 신호(SENSE)를 인가 받을 수 있다.
센싱 트랜지스터(SENT)는 턴-온 되어, 기준 전압 라인(RVL)에서 공급된 기준 전압(Vref)을 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)에 인가해줄 수 있다.
센싱 트랜지스터(SENT)는 턴-온 레벨 전압의 센싱 신호(SENSE)에 의해 턴-온 되고, 턴-오프 레벨 전압의 센싱 신호(SENSE)에 의해 턴-오프 된다. 여기서, 센싱 트랜지스터(SENT)가 n 타입인 경우, 턴-온 레벨 전압은 하이 레벨 전압이고, 턴-오프 레벨 전압은 로우 레벨 전압일 수도 있다. 센싱 트랜지스터(SENT)가 p 타입인 경우, 턴-온 레벨 전압은 로우 레벨 전압이고 턴-오프 레벨 전압은 하이 레벨 전압일 수도 있다.
예를 들어, 구동 트랜지스터(DRT), 스캔 트랜지스터(SCT) 및 센싱 트랜지스터(SENT) 각각은 n 타입 트랜지스터이거나 p 타입 트랜지스터일 수 있다. 구동 트랜지스터(DRT), 스캔 트랜지스터(SCT) 및 센싱 트랜지스터(SENT) 모두가 n 타입 트랜지스터이거나 p 타입 트랜지스터일 수 있다. 구동 트랜지스터(DRT), 스캔 트랜지스터(SCT) 및 센싱 트랜지스터(SENT) 중 적어도 하나는 n 타입 트랜지스터(또는 p 타입 트랜지스터)이고 나머지는 p 타입 트랜지스터(또는 n 타입 트랜지스터)일 수 있다.
스캔 트랜지스터(SCT) 및 센싱 트랜지스터(SENT) 각각의 게이트 노드는 동일한 하나의 게이트 라인(GL)에 연결될 수 있다. 이와 다르게, 스캔 트랜지스터(SCT) 및 센싱 트랜지스터(SENT) 각각의 게이트 노드는 서로 다른 게이트 라인(GL)에 연결될 수도 있다.
기준 전압 라인(RVL)은 하나의 서브 픽셀 열마다 배치될 수 있다. 이와 다르게, 기준 전압 라인(RVL)은 둘 이상의 서브 픽셀 열마다 배치될 수도 있다. 기준 전압 라인(RVL)이 둘 이상의 서브 픽셀 열마다 배치되는 경우, 복수의 서브 픽셀(SP)은 하나의 기준 전압 라인(RVL)으로부터 기준 전압(Vref)을 공급받을 수 있다. 예를 들어, 기준 전압 라인(RVL)은 4개의 서브 픽셀 열마다 1개씩 배치될 수 있다. 즉, 하나의 기준 전압 라인(RVL)은 4개의 서브 픽셀 열에 포함된 서브 픽셀들(SP)이 공유할 수 있다.
구동 전압 라인(DVL)은 하나의 서브 픽셀 열마다 배치될 수 있다. 이와 다르게, 구동 전압 라인(DVL)은 둘 이상의 서브 픽셀 열마다 배치될 수도 있다 구동 전압 라인(DVL)이 둘 이상의 서브 픽셀 열마다 배치되는 경우, 복수의 서브 픽셀(SP)은 하나의 구동 전압 라인(DVL)으로부터 구동 전압(EVDD)을 공급받을 수 있다. 예를 들어, 구동 전압 라인(DVL)은 4개의 서브 픽셀 열마다 1개씩 배치될 수 있다. 즉, 하나의 구동 전압 라인(DVL)은 4개의 서브 픽셀 열에 포함된 서브 픽셀들(SP)이 공유할 수 있다.
도 3에 예시된 서브 픽셀(SP)의 3T1C 구조는, 설명을 위한 예시일 뿐, 1개 이상의 트랜지스터를 더 포함하거나, 경우에 따라서는, 1개 이상의 캐패시터를 더 포함할 수도 있다. 또는, 다수의 서브 픽셀들 각각이 동일한 구조로 되어 있을 수도 있고, 다수의 서브 픽셀들 중 일부는 다른 구조로 되어 있을 수도 있다.
한편, 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치(100)는 상부 발광(Top Emission) 구조를 갖거나, 하부 발광(Bottom Emission) 구조를 가질 수도 있다.
한편, 각 서브 픽셀(SP)에 포함된 구동 트랜지스터(DRT)는 문턱 전압 및 이동도 등의 고유 특성치를 가질 수 있다. 구동 트랜지스터(DRT)는 구동 시간이 길어짐에 따라 열화 되어 문턱 전압 및/또는 이동도가 변화할 수 있다.
또한, 각 서브 픽셀(SP)에 포함된 발광 소자(ED)는 문턱 전압 등의 고유 특성치를 가질 수 있다. 발광 소자(ED)는 구동 시간이 길어짐에 따라 열화 되어 문턱 전압이 변화할 수 있다.
도 4는 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 패널(110)에서의 잔상 영역들을 나타낸다.
도 4를 참조하면, 표시 패널(110)의 표시 영역(DA) 내 적어도 하나의 영역(JA1, JA2, JA3)에서는 얼룩으로 보이는 잔상이 발생할 수 있다. 특히, 유기 발광 표시 장치 등과 같은 자체 발광 표시 장치인 경우에는 잔상이 발생하기가 더욱 쉽다. 본 명세서에서 얼룩과 잔상 등은 동일한 의미로 기재될 수 있다.
본 명세서의 발명자들은, 여러 실험과 분석을 통해, 표시 패널(110)의 표시 영역(DA)에서 발생하는 잔상의 유발 원인 및 특성이 다르다는 것을 확인하고, 잔상의 특성에 따라 잔상 타입을 구분하고, 잔상 타입 별로 그에 맞는 잔상 보상 방식을 발명하였다.
본 명세서의 발명자들은 잔상 특성에 따라 잔상 타입을 3가지로 구분하였다. 3가지 잔상 타입은 복원 잔상 타입(단기 복원 잔상 타입), 장기 비복원 잔상 타입 및 단기 비복원 잔상 타입을 포함할 수 있다.
본 개시의 실시 예들에서는, 잔상 지속 시간 및 복원 가능성이라는 잔상 특성 관점에서, 3가지 잔상 타입을 아래와 같이 구분할 수 있다. 여기서, 복원 가능성은 잔상이 사라지는 가능성을 의미할 수 있다.
복원 잔상 타입은 적어도 하나의 영역(JA1, JA2, JA3)에서 발생한 이후 제1 기준 시간이 지나면 사라지는 잔상의 잔상 타입일 수 있다. 여기서, 제1 기준 시간은 상대적으로 짧은 시간으로서, 예를 들어 수초의 시간일 수 있다.
복원 잔상 타입과 다르게, 짧은 제1 기준 시간이 지나더라도 사라지지 않고 유지되는 잔상도 있다. 이러한 잔상의 잔상 타입을 "비복원 잔상 타입"이라고 하는데, 비복원 잔상 타입은 단기 비복원 잔상 타입과 장기 비복원 잔상 타입으로 분류될 수 있다.
단기 비복원 잔상 타입은 제1 기준 시간보다 긴 제2 기준 시간이 지나면 사라지는 잔상의 잔상 타입일 수 있다. 여기서, 제2 기준 시간은 제1 기준 시간보다 긴 시간으로서, 예를 들어, 수 분 이상일 수 있다.
장기 비복원 잔상 타입은 제2 기준 시간이 지나더라도 사라지지 않고 반영구적 또는 영구적으로 유지되는 잔상의 잔상 타입일 수 있다.
본 개시의 실시 예들에서는, 잔상의 발생 상황이나 발생 위치 관점에서, 3가지 잔상 타입을 아래와 같이 구분할 수 있다.
표시 패널(110)의 표시 영역(DA) 내 적어도 하나의 영역(JA1, JA2, JA3)에서 동일한 이미지(예: 로고, 뉴스 헤드라인, 알림 창, 채널 정보, 각종 정보 표시 창 등)가 일정 시간 (예: 몇 개의 프레임 시간) 동안 지속적으로 표시되다가 사라진 이후, 다른 이미지로 바뀌어 표시되더라도, 그 전에 표시되었던 이미지의 잔상이 보이는 현상이 발생할 수 있다. 이러한 잔상의 잔상 타입은 복원 잔상 타입일 수 있다.
표시 패널(110)의 표시 영역(DA) 내 적어도 하나의 영역(JA1, JA2, JA3)에서 동일한 이미지(예: 로고, 뉴스 헤드라인, 알림 창, 채널 정보, 각종 정보 표시 창 등)가 일정 시간 (예: 몇 개의 프레임 시간) 동안 지속적으로 표시되고 있는 동안, 이미지가 표시되는 부분이 비정상적인 얼룩처럼 보이는 잔상이 발생할 수 있다. 이러한 잔상(얼룩)의 잔상 타입은 단기 비복원 잔상 타입일 수 있다.
장기 비복원 잔상 타입의 경우, 표시 패널(110)의 표시 영역(DA) 내 적어도 하나의 영역(JA1, JA2, JA3)에서 동일한 이미지가 지속적으로 표시되지 않더라도, 고정 위치 또는 불특정 위치에서 장기간 복원되지 않는 잔상이 발생할 수 있다.
본 개시의 실시 예들에서는, 잔상의 밝기 관점에서 3가지 잔상 타입을 아래와 같이 구분할 수 있다.
복원 잔상 타입의 잔상은 주변 영역보다 비정상적으로 어둡게 표시될 수 있다. 단기 비복원 잔상 타입의 잔상은 주변 영역보다 비정상적으로 밝게 표시될 수 있다. 장기 비복원 잔상 타입의 잔상은 주변 영역보다 비정상적으로 밝게 표시될 수 있다.
본 개시의 실시 예들에서는, 잔상의 유발 원인 관점에서 3가지 잔상 타입을 아래와 같이 구분할 수 있다.
장기 비복원 잔상 타입의 잔상은 발광 소자(ED)의 열화에 따라 주로 발생될 수 있다. 단기 비복원 잔상 타입의 잔상은 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도 변화에 따라 주로 발생될 수 있다. 복원 잔상 타입의 잔상은 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압 변화에 따라 주로 발생될 수 있다.
전술한 바와 같이, 본 개시의 실시 예들은 잔상 타입 별 잔상의 특성 및 유발 원인 등을 고려하여, 표시 패널(110)에서 발생 가능한 잔상의 잔상 타입을 복원 잔상 타입, 단기 비복원 잔상 타입 및 장기 비복원 잔상 타입 중 하나로 결정하고, 결정된 잔상 타입에 적합한 잔상 보상 처리를 수행하여 잔상을 효과적으로 제거할 수 있는 적응적인 잔상 보상 기술을 개시한다.
본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 기술은, 소자들의 열화 정도를 센싱하여 소자들 간의 열화 편차를 보상해주는 보상 기술(내부 보상, 외부 보상), 및 영상 데이터의 누적 카운팅을 통해 소자들의 열화 정도를 예측하여 소자들 간의 열화 편차를 보상해주는 보상 기술을 통해서는 해결하지 못하는 잔상 문제를 해결할 수 있다. 여기서, 소자들은 구동 트랜지스터(DRT) 및 발광 소자(ED)를 포함할 수 있으며, 열화 편차는 구동 트랜지스터들(DRT) 간의 문턱 전압 편차, 구동 트랜지스터들(DRT) 간의 이동도 편차, 발광 소자들(ED) 간의 문턱 전압 편차를 포함할 수 있다.
한편, 각 서브 픽셀(SP) 내 구동 트랜지스터(DRT)는 액티브 층으로 산화물(Oxide) 반도체를 사용하는 산화물 트랜지스터일 수 있다. 이러한 경우, 더욱 다양하고 더욱 정밀한 잔상 보상이 필요할 수 있다.
아래에서는, 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 기술에 대하여 더욱 상세하게 설명한다.
도 5는 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치(100)의 잔상 보상 장치(500)를 나타낸다. 단, 본 명세서에서 "잔상"은 "얼룩", "잔상 이미지", "잔상 패턴", "영상 패턴(이미지 패턴)", 또는 "패턴" 등으로 기재될 수 있다.
도 5를 참조하면, 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치(100)는 잔상 타입을 구분하고, 구분된 잔상 타입에 적합한 잔상 보상 처리를 수행하기 위해 구성된 잔상 보상 장치(500)를 포함할 수 있다.
도 5를 참조하면, 본 개시의 실시 예들에 따른 잔상 보상 장치(500)는 영상 패턴을 분석하여 잔상 발생이 예상되는 잔상 예상 영역과 잔상 예상 영역에서의 잔상을 검출하고, 검출된 잔상의 잔상 타입을 결정하며, 결정된 잔상 타입과 대응되는 잔상 보상 처리를 수행하기 위해 구성될 수 있다.
도 5를 참조하면, 본 개시의 실시 예들에 따른 잔상 보상 장치(500)는 영상 패턴을 분석하는 패턴 분석부(510), 잔상 타입을 구분하는 잔상 구분부(520), 및 잔상 보상 처리를 수행하는 잔상 보상부(530)를 포함할 수 있다.
패턴 분석부(510)는 영상 데이터의 영상 패턴을 분석하여 적어도 하나의 잔상 예상 영역을 검출하고, 검출된 적어도 하나의 잔상 예상 영역에서의 잔상을 검출할 수 있다.
잔상 구분부(520)는 패턴 분석부(510)에 의해 검출된 적어도 하나의 잔상 예상 영역에서의 잔상의 잔상 타입을 결정할 수 있다. 예를 들어, 잔상 구분부(520)에 의해 결정된 잔상 타입은 잔상 지속 시간 및 복원 가능성에 따라 구분되는 둘 이상의 잔상 타입 중 하나일 수 있다.
잔상 보상부(530)는 잔상 구분부(520)에 의해 결정된 잔상 타입과 대응되는 잔상 보상 처리를 수행할 수 있다.
잔상 보상부(530)는 잔상 보상 처리를 수행할 때, 잔상 예상 영역에 배치된 서브 픽셀들(SP)에 대한 보상값들을 도출할 수 있고, 도출된 보상값들을 메모리(550)에 저장할 수 있다.
컨트롤러(140)는 메모리(550)에 저장된 보상값들을 이용하여 영상 데이터를 변경하고 변경된 영상 데이터를 데이터 구동 회로(120)에 공급할 수 있다. 데이터 구동 회로(120)는 변경된 영상 데이터를 아날로그 전압 형태의 데이터 전압으로 변환하여 데이터 라인(DL)으로 출력할 수 있다. 이에 따라, 잔상 보상이 실현되어 잔상이 제거된 화면이 표시될 수 있다.
도 5를 참조하면, 본 개시의 실시 예들에 따른 잔상 보상 장치(500)는 보상값들에 따라 변경된 영상 데이터에 대한 누적 데이터를 메모리(550)에 저장 관리하는 누적부(540)를 더 포함할 수 있다.
패턴 분석부(510)는 누적부(540)에 의해 저장 관리되는 누적 데이터를 이용하여 영상 패턴의 분석을 수행할 수 있다. 이에 따라, 분석 정확도가 향상될 수 있다.
잔상 구분부(520)는 누적부(540)에 의해 저장 관리되는 누적 데이터를 이용하여 잔상 타입을 결정할 수 있다. 이에 따라, 잔상 구분 정확도가 향상될 수 있다.
잔상 보상부(530)는 누적부(540)에 의해 저장 관리되는 누적 데이터를 이용하여 잔상 보상 처리를 수행할 수 있다. 이에 따라, 더욱 정확한 보상값이 도출될 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 잔상 보상 장치(500)는 컨트롤러(140)에 모듈 형태로 포함될 수 있다. 또는, 잔상 보상 장치(500)는 컨트롤러(140)와 별도의 장치로 구현될 수 있다.
아래에서는, 전술한 잔상 보상 장치(500)가 수행하는 적응적인 잔상 보상 방법에 대하여, 잔상이 표시된 표시 영역(DA)의 화면을 예로 들어 다시 설명한다.
도 6은 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치(100)의 적응적인 잔상 보상 방법을 나타낸 다이어그램이다. 아래에서는, 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법을 설명하기 위하여, 표시 패널(110)의 표시 영역(DA) 내 2개의 영역(JA1, JA2)에서 잔상(JIMG1, JIMG2)이 발생하는 것을 가정한다.
도 6을 참조하면, 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치(100)의 적응적인 잔상 보상 방법은 영상 패턴을 분석하는 패턴 분석 단계(S610), 잔상 타입을 구분하는 잔상 구분 단계(S620) 및 잔상 보상 처리를 수행하는 잔상 보상 단계(S630) 등을 포함할 수 있다.
도 6을 참조하면, 패턴 분석 단계(S610)에서, 잔상 보상 장치(500)는 영상 데이터의 영상 패턴을 분석하여 잔상 발생이 예상되는 잔상 예상 영역(JA1, JA2)과 검출된 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에서의 잔상(JIMG1, JIMG2)을 검출할 수 있다. 예를 들어, 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에서의 잔상(JIMG1, JIMG2)은 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에서의 영상 패턴을 의미할 수 있거나 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에 배치된 서브 픽셀들(SP)로 공급되는 영상 데이터를 의미할 수 있다.
도 6을 참조하면, 잔상 구분 단계(S620)에서, 잔상 보상 장치(500)는 패턴 분석 단계(S610)에서 검출된 적어도 하나의 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에서의 잔상(JIMG1, JIMG2)의 잔상 타입을 결정할 수 있다.
예를 들어, 제1 잔상 예상 영역(JA1)에서의 잔상(JIMG1) 및 제2 잔상 예상 영역(JA2)에서의 잔상(JIMG2) 각각의 잔상 타입은 잔상 지속 시간 및 복원 가능성에 따라 구분되는 둘 이상의 잔상 타입 중 하나일 수 있다.
예를 들어, 제1 잔상 예상 영역(JA1)에서의 잔상(JIMG1)의 잔상 타입은 복원 잔상 타입 타입, 단기 비복원 잔상 타입 및 장기 비복원 잔상 타입 중 하나일 수 있다. 제2 잔상 예상 영역(JA2)에서의 잔상(JIMG2)의 잔상 타입은 복원 잔상 타입, 단기 비복원 잔상 타입 및 장기 비복원 잔상 타입 중 하나의 타입일 수 있다.
도 6을 참조하면, 잔상 보상 단계(S630)에서, 잔상 보상 장치(500)는 잔상 구분 단계(S620)에서 결정된 잔상 타입과 대응되는 차별화된 잔상 보상 처리를 수행할 수 있다.
도 6을 참조하면, 잔상 보상 장치(500)는 잔상 보상 처리를 수행할 때, 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에 배치될 서브 픽셀들(SP)에 대한 보상값(JCV1, JCV2)을 도출할 수 있고, 도출된 보상값(JCV1, JCV2)을 메모리(550)에 저장할 수 있다.
예를 들어, 제1 잔상 예상 영역(JA1)에서의 제1 잔상(JIMG1)이 주변 영역보다 비정상적으로 어두운 잔상 타입(예: 복원 잔상 타입)인 경우, 제1 잔상 예상 영역(JA1)에 대응되는 제1 보상값(JCV1)은 휘도를 높여주는 보상값일 수 있다.
예를 들어, 제1 잔상 예상 영역(JA1)에서의 제1 잔상(JIMG1)이 주변 영역보다 비정상적으로 밝은 잔상 타입(예: 단기 비복원 잔상 타입, 장기 비복원 잔상 타입)인 경우, 제1 잔상 예상 영역(JA1)에 대응되는 제1 보상값(JCV1)은 휘도를 낮추어주는 보상값일 수 있다.
예를 들어, 제2 잔상 예상 영역(JA2)에서의 제2 잔상(JIMG2)이 주변 영역보다 비정상적으로 어두운 잔상 타입(예: 복원 잔상 타입)인 경우, 제2 잔상 예상 영역(JA2)에 대응되는 제2 보상값(JCV2)은 휘도를 높여주는 보상값일 수 있다.
예를 들어, 제2 잔상 예상 영역(JA2)에서의 제2 잔상(JIMG2)이 주변 영역보다 비정상적으로 밝은 잔상 타입(예: 단기 비복원 잔상 타입, 장기 비복원 잔상 타입)인 경우, 제2 잔상 예상 영역(JA2)에 대응되는 제2 보상값(JCV2)은 휘도를 낮추어주는 보상값일 수 있다.
컨트롤러(140)는 메모리(550)에 저장된 보상값들(JCV1, JCV2)을 이용하여 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에 배치될 서브 픽셀들(SP)에 공급할 영상 데이터를 변경하고, 변경된 영상 데이터를 데이터 구동 회로(120)에 공급할 수 있다. 데이터 구동 회로(120)는 변경된 영상 데이터를 아날로그 전압 형태의 데이터 전압으로 변환하여, 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에 배치될 서브 픽셀들(SP)과 연결되는 데이터 라인들(DL)로 출력할 수 있다. 이에 따라, 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에서 발생할 수 있었던 잔상이 방지되어 잔상 보상이 비로소 실현된다.
도 6을 참조하면, 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법은 보상값들(JCV1, JCV2)에 따라 변경된 영상 데이터에 대한 누적 데이터를 메모리(550)에 저장 관리하는 누적 처리 단계(S640)를 더 포함할 수 있다.
전술한 바와 같이, 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법에 따르면, 잔상 보상 장치(500)는, 영상 패턴을 이용하여 잔상이 발생할 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에 대해서만 잔상 보상을 수행할 수 있다. 또한 잔상 보상 장치(500)는 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에서 발생될 가능성이 있거나 이미 발생한 잔상(JIMG1, JIMG2)의 잔상 타입을 결정하여 결정된 잔상 타입에 맞는 차별화된 잔상 보상 처리를 수행할 수 있다.
아래에서는, 도 6을 참조하여 설명한 적용적인 잔상 보상 방법을 도 7 내지 도 13을 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. 이때, 도 6도 함께 참조된다. 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상은 영상 패턴을 이용하기 때문에, 아래에서는, 적응적인 잔상 보상을 패턴 잔상 보상이라고도 기재할 수 있다.
도 7은 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치(100)의 적응적인 잔상 보상 방법에서 패턴 분석 단계(S610) 및 잔상 구분 단계(S620)의 흐름도이다.
도 7을 참조하면, 패턴 분석 단계(S610)에서, 잔상 보상 장치(500)의 패턴 분석부(510)는, 영상 패턴과 함께, 온도 패턴 및 열화 패턴을 더 분석하여 잔상 예상 영역(JA1, JA2) 및 잔상(JIMG1, JIMG2)을 검출할 수 있다.
도 7을 참조하면, 패턴 분석 단계(S610)는 영상 패턴을 분석하는 영상 패턴 분석 단계(S711), 온도 패턴을 분석하는 온도 패턴 분석 단계(S712), 열화 패턴을 분석하는 열화 패턴 분석 단계(S713), 그리고 3가지 패턴 분석 결과를 종합적으로 이용하여 적어도 하나의 잔상 예상 영역(JA1, JA2)을 검출하고, 적어도 하나의 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에서의 잔상(JIMG1, JIMG2)를 검출하는 검출 단계(S714)를 포함할 수 있다.
예를 들어, 영상 패턴은 다수의 서브 픽셀 각각의 영상 데이터의 변화 패턴일 수 있다. 온도 패턴은 표시 패널(110)에서의 온도 분포일 수 있다. 열화 패턴은 다수의 서브 픽셀 각각의 열화 수치의 분포일 수 있다. 열화 패턴은 구동 트랜지스터들(DRT)의 문턱 전압 분포, 구동 트랜지스터들(DRT)의 이동도 분포, 및 발광 소자들(ED)의 문턱 전압 분포를 포함할 수 있다.
도 7을 참조하면, 검출 단계(S714)에서, 패턴 분석부(510)는, 영상 패턴 분석(S711)을 통해 얻어진 영상 패턴 분석 결과를 이용하여, 일정 시간 이상 동안 동일한 영상 데이터가 공급되는 서브 픽셀들(SP)을 확인할 수 있고, 확인된 서브 픽셀들(SP)이 위치하는 영역을 잔상 예상 영역(JA1, JA2)으로 검출하고, 확인된 서브 픽셀들(SP)에 공급되는 동일한 영상 데이터에 의해 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에 표시되는 이미지를 잔상(JIMG1, JIMG2)으로 검출할 수 있다.
도 7을 참조하면, 검출 단계(S714)에서, 패턴 분석부(510)는 온도 패턴 분석(S712)을 통해 얻어진 온도 패턴 분석 결과를 이용하여, 잔상 예상 영역(JA1, JA2)을 검출할 수 있다.
잔상 예상 영역(JA1, JA2)은 잔상 예상 영역(JA1, JA2)과 다른 영역의 온도에 비해 높은 온도를 가질 수 있다. 이에 따라, 패턴 분석부(510)는 온도 패턴 분석(S712)을 통해 얻어진 온도 패턴 분석 결과를 이용하여, 상대적으로 높은 온도 분포를 갖는 영역을 잔상 예상 영역(JA1, JA2)으로 검출할 수 있다.
도 7을 참조하면, 검출 단계(S714)에서, 패턴 분석부(510)는 열화 패턴 분석(S713)을 통해 얻어진 열화 패턴 분석 결과를 이용하여, 문턱 전압 쉬프트(문턱 전압 변화)가 상대적으로 큰 구동 트랜지스터들(DRT)이 포함된 서브 픽셀들(SP)이 배치된 제1 영역, 이동도 변화가 상대적으로 큰 구동 트랜지스터들(DRT)이 포함된 서브 픽셀들(SP)이 배치된 제2 영역, 및 문턱 전압 쉬프트(문턱 전압 변화)가 상대적으로 큰 발광 소자들(DE)이 포함된 서브 픽셀들(SP)이 배치된 제3 영역 중 하나 이상의 영역을 잔상 예상 영역(JA1, JA2)으로 검출할 수 있다.
도 7을 참조하면, 검출 단계(S714)에서, 패턴 분석부(510)는 3가지 패턴들(영상 패턴, 온도 패턴, 열화 패턴) 간의 특징 패턴 매칭을 수행하고, 특징 분석 모델링을 이용하여 패턴 분류를 수행하여 잔상 예상 영역(JA1, JA2)을 검출할 수 있다.
한편, 패턴 분석부(510)는 특징 분석 모델링을 이용하여 패턴 분류를 수행할 때 인공 지능을 이용할 수 있다. 패턴 분석부(510)는 잔상 패턴에 대한 학습 데이터로 학습된 인공 지능 신경망을 토대로 잔상 패턴과 유사한 패턴(영상 패턴, 온도 패턴, 열화 패턴)을 검출하고, 유사한 패턴(영상 패턴, 온도 패턴, 열화 패턴)이 검출된 영역을 잔상 예상 영역(JA1, JA2)으로 검출할 수 있다.
도 7을 참조하면, 패턴 분석 단계(S610)의 검출 단계(S714) 이후, 잔상 구분 단계(S620)가 잔상 보상 장치(500)에 포함된 잔상 구분부(520)에 의해 진행될 수 있다.
도 7을 참조하면, 잔상 구분 단계(S620)에서, 잔상 구분부(520)는, 검출 단계(S714)에서 검출된 잔상(JIMG1, JIMG2)이 장기 잔상 타입인지를 판단할 수 있다(S721).
잔상 구분부(520)는, 검출된 잔상(JIMG1, JIMG2)이 장기 잔상 타입인 것으로 판단되면, 검출된 잔상(JIMG1, JIMG2)의 잔상 타입을 "장기 비복원 잔상 타입"으로 결정할 수 있다(S722).
도 7을 참조하면, 잔상 구분부(520)는, 검출된 잔상(JIMG1, JIMG2)이 장기 잔상 타입이 아닌 것으로 판단되면, 검출된 잔상(JIMG1, JIMG2)이 복원 잔상 타입인지를 판단할 수 있다(S731).
잔상 구분부(520)는, 검출된 잔상(JIMG1, JIMG2)이 복원 잔상 타입이 아닌 것으로 판단되면, 검출된 잔상(JIMG1, JIMG2)의 잔상 타입을 "단기 비복원 잔상 타입"으로 결정할 수 있다(S732).
잔상 구분부(520)는, 검출된 잔상(JIMG1, JIMG2)이 복원 잔상 타입인 것으로 판단되면, 검출된 잔상(JIMG1, JIMG2)의 잔상 타입을 "복원 잔상 타입"으로 결정할 수 있다(S742).
도 8은 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치(100)의 적응적인 잔상 보상 방법에서 잔상 구분 단계(S620)의 상세 흐름도이다.
도 8을 참조하면, 잔상 보상 장치(500)의 잔상 구분부(520)는 열화 패턴을 토대로 잔상 예상 영역(JA1, JA2)과 그 주변 영역 간의 열화 차이가 제1 임계 값(TH1) 이상인지를 판단할 수 있다(S810). 여기서, S810 단계는 도 7에서 잔상(JIMG1, JIMG2)이 장기 잔상 타입인지를 판단하는 단계(S721)와 대응될 수 있다.
잔상 구분부(520)는, S810 단계에서 잔상 예상 영역(JA1, JA2)과 주변 영역 간의 열화 차이가 제1 임계 값(TH1) 이상인 것으로 판단되면, 잔상 타입을 장기 비복원 잔상 타입으로 결정할 수 있다(S722). 예를 들어, 제1 임계 값(TH1)은 5% 등일 수 있다.
잔상 구분부(520)는, S810 단계에서 잔상 예상 영역(JA1, JA2)과 주변 영역 간의 열화 차이가 제1 임계 값(TH1) 미만인 것으로 판단되면, 영상 패턴 및 온도 패턴을 이용하여, 영상 패턴과 온도 패턴 간의 차이가 제2 임계 값(TH2) 이상인지를 판단할 수 있다(S820). 여기서, S820 단계는 도 7에서 잔상(JIMG1, JIMG2)이 복원 잔상 타입인지를 판단하는 단계(S731)와 대응될 수 있다. 예를 들어, 제2 임계 값(TH2)은 5% 등일 수 있다.
잔상 구분부(520)는, S820 단계에서 영상 패턴과 온도 패턴 간의 차이가 제2 임계 값(TH2) 미만인 것으로 판단되면, 잔상 타입을 단기 비복원 잔상 타입으로 결정할 수 있다(S732).
잔상 구분부(520)는, S820 단계에서 영상 패턴과 온도 패턴 간의 차이가 제2 임계 값(TH2) 이상인 것으로 판단되면, 잔상 타입을 복원 잔상 타입으로 결정할 수 있다(S742).
다시 말해, 잔상 구분 단계(S620)에서, 잔상 예상 영역(JA1, JA2)과 그 주변 영역 간의 열화 차이가 제1 임계 값(TH1) 이상이면, 잔상 타입이 장기 비복원 잔상 타입으로 결정될 수 있다.
잔상 구분 단계(S620)에서, 잔상 예상 영역(JA1, JA2)과 그 주변 영역 간의 열화 차이가 제1 임계 값(TH1) 미만이고, 영상 패턴과 온도 패턴 간의 차이가 제2 임계 값(TH2) 미만이면, 잔상 타입이 단기 비복원 잔상 타입으로 결정될 수 있다.
잔상 구분 단계(S620)에서, 잔상 예상 영역과 주변 영역 간의 열화 차이가 제1 임계 값(TH1) 미만이고, 영상 패턴과 온도 패턴 간의 차이가 제2 임계 값(TH2) 이상이면, 잔상 타입이 복원 잔상 타입으로 결정될 수 있다.
도 9는 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치(100)의 적응적인 잔상 보상 방법에서 잔상 보상 단계(S630) 및 누적 처리 단계(S640)의 흐름도이다.
도 9를 참조하면, 잔상 구분 단계(S620)에서의 잔상 구분 결과, 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에서의 잔상(JIMG1, JIMG2)의 잔상 타입이 무엇으로 결정되느냐에 따라서, 잔상 보상 단계(S630)에서 수행되는 잔상 보상 처리가 달라질 수 있다.
도 9를 참조하면, 잔상 구분 단계(S620) 이후 누적 처리 단계(S640)가 진행될 수 있다. 누적 처리 단계(S640)에서, 누적부(540)는 블록 기반 누적 처리를 수행할 수 있다(S914, S924, S934). 블록 기반 누적 처리는 영역 별로 영상 데이터를 누적하는 처리일 수 있다.
도 9를 참조하면, 잔상 구분 단계(S620)에서 잔상 타입이 복원 잔상 타입으로 결정된 경우, 잔상 보상 단계(S630)에서는, 잔상 보상 장치(500)의 잔상 보상부(530)는 복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리를 수행할 수 있다(S910).
도 9를 참조하면, 복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리 수행 단계(S910)에서, 잔상 보상 장치(500)의 잔상 보상부(530)는, 복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리를 시작하고(S911), 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에 대한 목표 휘도값을 현재 휘도값보다 높게 설정(상향 설정)하고(S912), 설정된 목표 휘도값에 대응되는 보상값(JCV1, JCV2)을 도출할 수 있다(S913).
도 9를 참조하면, 복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리 수행 단계(S910) 이후 진행되는 누적 처리 단계(S640)에서, 누적부(540)는 S913 단계에서 도출된 보상값(JCV1, JCV2)에 따라 변경된 영상 데이터를 이용하여 블록 기반 누적 처리를 수행할 수 있다(S914).
도 9를 참조하면, 잔상 구분 단계(S620)에서 잔상 타입이 단기 비복원 잔상 타입으로 결정된 경우, 잔상 보상 단계(S630)에서는, 잔상 보상 장치(500)의 잔상 보상부(530)는 단기 비복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리를 수행할 수 있다(S920).
도 9를 참조하면, 단기 비복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리 수행 단계(S920)에서, 잔상 보상 장치(500)의 잔상 보상부(530)는, 단기 비복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리를 시작하고(S921), 미리 정의된 잔상 지연 처리를 수행할 수 있다(S922).
도 9를 참조하면, 단기 비복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리 수행 단계(S920)에서, 잔상 지연 처리에 따라 변경된 영상 데이터가 있는 경우, 누적 처리 단계(S640)에서, 누적부(540)는 잔상 지연 처리에 따라 변경된 영상 데이터를 이용하여 블록 기반 누적 처리를 수행할 수 있다(S924).
잔상 지연 처리는, 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에서의 잔상(JIMG1, JIMG2)이 제거되거나 방지시켜주는 것이 아니라, 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에서의 잔상(JIMG1, JIMG2)의 발생을 지연시켜주기 위한 처리일 수 있다.
예를 들어, 잔상 지연 처리는 휘도 저감 제어 방식으로 수행될 수도 있고 화면 이동 제어 방식으로도 수행될 수 있다. 휘도 저감 제어 방식의 잔상 지연 처리는 도 11을 참조하여 더욱 상세하게 후술하고, 화면 이동 제어 방식의 잔상 지연 처리는 도 12를 참조하여 더욱 상세하게 후술한다.
도 9를 참조하면, 잔상 구분 단계(S620)에서 잔상 타입이 장기 비복원 잔상 타입으로 결정된 경우, 잔상 보상 단계(S630)에서는, 잔상 보상 장치(500)의 잔상 보상부(530)는 장기 비복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리를 수행할 수 있다(S930).
도 9를 참조하면, 장기 비복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리 수행 단계(S930)에서, 잔상 보상 장치(500)의 잔상 보상부(530)는, 장기 비복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리를 시작하고(S931), 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에 대한 목표 휘도값을 현재 휘도값보다 낮게 설정(하향 설정)하고(S932), 잔상 평탄화 처리를 수행하고 하향 설정된 목표 휘도값에 대응되는 보상값(JCV1, JCV2)을 도출할 수 있다(S933).
잔상 평탄화 처리는 잔상 예상 영역(JA1, JA2)과 그 주변 영역 간의 경계가 너무 뚜렷하게 보이지 않도록 잔상 예상 영역(JA1, JA2)과 주변 영역 간의 경계의 표시를 제어해주는 처리일 수 있다. 잔상 평탄화 처리에 대해서는 도 13을 참조하여 더욱 상세하게 후술한다.
도 9를 참조하면, 장기 비복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리 수행 단계(S910) 이후 진행되는 누적 처리 단계(S640)에서, 누적부(540)는 S933 단계에서 도출된 보상값(JCV1, JCV2)에 따라 변경된 영상 데이터를 이용하여 블록 기반 누적 처리를 수행할 수 있다(S934).
도 10은 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치(100)의 적응적인 잔상 보상 방법에서 잔상 보상 단계(S630) 및 누적 처리 단계(S640)의 다른 흐름도이다.
도 10을 참조하면, 단기 비복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리 수행 단계(S920)에서, 잔상 보상 장치(500)의 잔상 보상부(530)는, 잔상 지연 처리(S922)를 수행한 이후, 추가 잔상 보상 처리(목표 휘도값 설정, 보상값 도출)를 수행할 수 있다(S1021, S1022). 잔상 보상 장치(500)의 잔상 보상부(530)는 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에 대한 목표 휘도값을 현재 휘도값보다 낮게 설정(하향 설정)하고(S1021), 설정된 목표 휘도값에 대응되는 보상값(JCV1, JCV2)을 도출할 수 있다(S1022).
도 10을 참조하면, 단기 비복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리 수행 단계(S920) 이후 진행되는 누적 처리 단계(S640)에서, 누적부(540)는 S1022 단계에서 도출된 보상값(JCV1, JCV2)에 따라 변경된 영상 데이터를 이용하여 블록 기반 누적 처리를 수행할 수 있다(S924).
도 10을 참조하면, 단기 비복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리 수행 단계(S920)에서, 잔상 보상 장치(500)의 잔상 보상부(530)는, 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에 대한 목표 휘도값을 현재 휘도값보다 낮게 설정(하향 설정)하고(S932), 이후, 잔상 지연 처리를 추가로 더 수행할 수 있다(S1031). 여기서, 잔상 지연 처리가 휘도 저감 제어 방식인 경우, 하향 설정된 목표 휘도값에 기초하여 휘도 제어가 진행될 수 있다.
도 10을 참조하면, 잔상 보상 장치(500)의 잔상 보상부(530)는, 잔상 지연 처리(S1031)를 수행한 이후, 잔상 평탄화 처리를 수행하고 하향 설정된 목표 휘도값에 대응되는 보상값(JCV1, JCV2)을 도출할 수 있다(S933).
도 10을 참조하면, 장기 비복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리 수행 단계(S910) 이후 진행되는 누적 처리 단계(S640)에서, 누적부(540)는 S933 단계에서 도출된 보상값(JCV1, JCV2)에 따라 변경된 영상 데이터를 이용하여 블록 기반 누적 처리를 수행할 수 있다(S934).
도 11은 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법에서, 휘도 저감 제어 방식의 잔상 지연 처리를 나타낸다.
도 11을 참조하면, 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법에서 수행되는 휘도 저감 제어 방식의 잔상 지연 처리는 표시 패널(110)의 표시 영역(DA) 내 잔상 예상 영역(JA1, JA2)의 휘도를 제어하여, 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에서 잔상(JIMG1, JIMG2)이 발행되는 것을 지연시켜주는 처리일 수 있다.
도 11을 참조하면, 표시 영역(DA) 내 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에서 단기 비복원 타입 또는 장기 비복원 타입의 잔상(JIMG1, JIMG2)이 발생한다고 가정할 때, 잔상 보상 장치(500)는 잔상 예상 영역(JA1, JA2)의 휘도를 입력 영상 소스에서의 기초 휘도 값(L1)에서 기초 휘도 값(L1)보다 낮은 목표 휘도 값(L2)까지 감소시킴으로써, 휘도 저감 제어 방식으로 잔상 지연 처리를 수행할 수 있다.
도 11을 참조하면, 휘도 저감 시간 구간(t1~t2) 동안, 기초 휘도 값(L1)에서 목표 휘도 값(L2)까지 휘도 저감이 진행될 수 있다. 휘도 저감 시간 구간(t1~t2)의 시간적인 길이는 원하는 잔상 지연 특성에 따라 짧아지거나 길어질 수 있다.
전술한 휘도 저감 제어 방식의 잔상 지연 처리는, 단기 비복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리 수행 단계(S920)의 잔상 지연 처리 단계(S922)에서 수행될 수 있다.
전술한 휘도 저감 제어 방식의 잔상 지연 처리는, 장기 비복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리 수행 단계(S930)의 잔상 지연 처리 단계(S1031)에서 수행될 수도 있다.
도 12는 본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치(100)의 적응적인 잔상 보상 방법에서, 화면 이동 제어 방식의 잔상 지연 처리를 나타낸다.
도 12를 참조하면, 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법에서 수행되는 화면 이동 제어 방식의 잔상 지연 처리는, 표시 패널(110)의 표시 영역(DA)에서 전체 이미지(IMG)의 표시 위치를 제어하여 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에서 잔상(JIMG1, JIMG2)이 발행되는 것을 지연시켜주는 처리일 수 있다.
도 12를 참조하면, 표시 영역(DA) 내에서 전체 이미지(IMG)의 표시 위치는 정해진 시간(Ta ~ Tf) 동안 이동할 수 있다.
예를 들어, 표시 영역(DA) 내에서 전체 이미지(IMG)의 표시 위치는 Ta 시점 이후 우측 이동하고, Tb 시점 이후 하측 이동하고, Tc 시점 이후 좌측 이동하고, Td 시점 이후 상측 이동하고, Te 시점 이후 우측 이동할 수 있다.
도 12의 예시에서와 같이, 표시 영역(DA)에서 전체 이미지(IMG)의 표시 위치를 제어하는 전체적인 화면 이동 제어 방식으로 잔상 지연 처리가 수행될 수 있다. 이와 다르게, 표시 영역(DA) 내 잔상 예상 영역(JA1, JA2)에서의 이미지(JIMG1, JIMG2)의 표시 위치를 이동시키는 국부적인 화면 이동 제어 방식으로 잔상 지연 처리가 수행될 수도 있다. 이 경우, 표시 영역(DA)에서 잔상 예상 영역(JA1, JA2)과 다른 영역의 이미지에 대한 표시 위치 이동은 진행되지 않을 수 있다.
전술한 화면 이동 제어 방식의 잔상 지연 처리는, 단기 비복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리 수행 단계(S920)의 잔상 지연 처리 단계(S922)에서 수행될 수 있다.
전술한 화면 이동 제어 방식의 잔상 지연 처리는, 장기 비복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리 수행 단계(S930)의 잔상 지연 처리 단계(S1031)에서 수행될 수도 있다.
도 13은 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법에서, 잔상 보상 처리 시 진행되는 잔상 평탄화 처리를 나타낸다.
도 13을 참조하면, 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법의 경우 잔상 평탄화 처리가 수행될 수 있다. 잔상 평탄화 처리는, 잔상 예상 영역(JA1)과 그 주변 영역(PA)이 너무 뚜렷하게 구별되어 잔상 예상 영역(JA1)에서의 잔상(JIMG1)이 더욱 눈에 띄는 현상을 완화시켜줄 수 있다.
도 13을 참조하면, 잔상 보상 장치(500)는, 경계 영역(BA)의 설정과 휘도 제어를 통해 잔상 평탄화 처리를 수행할 수 있다.
도 13을 참조하면, 잔상 보상 장치(500)는 잔상 예상 영역(JA1)을 둘러싸는 일정 면적의 경계 영역(BA)을 설정할 수 있다. 잔상 보상 장치(500)는, 경계 영역(BA)의 휘도가 잔상 예상 영역(JA1)의 휘도와 주변 영역(PA)의 휘도의 중간 휘도 값이 되도록 제어함으로써, 잔상 평탄화 처리를 수행할 수 있다.
잔상 평탄화 처리는, 장기 비복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리 수행 단계(S930)에서 수행될 수 있다. 잔상 평탄화 처리는, 복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리 수행 단계(S910) 또는 단기 비복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리 수행 단계(S920)에서도 수행될 수 있다.
도 14는 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상의 적용 전후의 보상값과 화면 상태를 나타낸다.
도 14의 잔상 보상 전 화면(1400)의 예시는, 제1 시간 동안, 표시 패널(110) 내 제1 잔상 예상 영역(JA1)과 제2 잔상 예상 영역(JA2)이 다른 조건으로 구동된 이후의 화면 예시이다. 여기서, 제1 시간은 제1 잔상 예상 영역(JA1)과 제2 잔상 예상 영역(JA2)이 다른 조건으로 구동되는 시간으로, 제1 잔상 예상 영역(JA1)과 제2 잔상 예상 영역(JA2) 각각에 대하여 다른 타입의 잔상이 유발되도록 하는 구동 시간을 의미할 수 있다.
도 14의 잔상 보상 전 화면(1400)의 예시를 참조하면, 잔상 보상이 진행되기 전 제1 시간 동안, 표시 패널(110) 내 제1 잔상 예상 영역(JA1)에 배치된 제1 서브 픽셀들(SP)은 서로 다른 제1 계조와 제2 계조의 중간 계조의 데이터 전압을 지속적으로 공급받을 수 있다.
여기서, 제1 계조는 높은 계조이고, 제2 계조는 제1 계조보다 낮은 계조일 수 있다. 예를 들어, 제1 계조는 255 계조이고, 제2 계조는 0 계조일 수 있으며, 중간 계조는 127 계조일 수 있다.
도 14의 잔상 보상 전 화면(1400)의 예시를 참조하면, 잔상 보상이 진행되기 제1 시간 동안, 표시 패널(110) 내 제1 잔상 예상 영역(JA1)과 다른 제2 잔상 예상 영역(JA2)에 배치된 제2 서브 픽셀들(SP)은 제1 계조의 데이터 전압과 제2 계조의 데이터 전압을 교번하여 공급받을 수 있다.
제1 시간 동안 제1 잔상 예상 영역(JA1)과 제2 잔상 예상 영역(JA2)이 서로 다른 조건으로 구동이 되었지만, 제1 잔상 예상 영역(JA1)에 배치된 제1 서브 픽셀들(SP)에 대한 영상 데이터 누적 값(예: 127 계조에 해당하는 영상 데이터 누적 값)과 제2 잔상 예상 영역(JA2)에 배치된 제2 서브 픽셀들(SP)에 대한 영상 데이터 누적 값(예: 0 계조에 해당하는 영상 데이터와 255 계조에 해당하는 영상 데이터가 교번되는 누적값)은 동일할 수 있다.
도 14를 참조하면, CASE 1은 일반적인 센싱 방식의 잔상 보상이 적용된 경우이고, CASE 2는 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적 잔상 보상(패턴 잔상 보상)이 적용된 경우이다.
CASE 1 및 CASE 2 모두, 제1 잔상 예상 영역(JA1)에 배치된 제1 서브 픽셀들(SP)에 대한 제1 보상값들(JCV1)과 제2 잔상 예상 영역(JA2)에 배치된 제2 서브 픽셀들(SP)에 대한 제2 보상값들(JCV2)이 생성되어 메모리(550)에 저장되고, 메모리(550)에 저장된 제1 보상값들(JCV1)과 제2 보상값들(JCV2)은 제1 서브 픽셀들(SP)과 제2 서브 픽셀들(SP)의 구동 시 영상 데이터 변경에 이용될 수 있다.
도 14를 참조하면, 제1 잔상 예상 영역(JA1)에 배치된 제1 서브 픽셀들(SP)에 대한 영상 데이터 누적 값과 제2 잔상 예상 영역(JA2)에 배치된 제2 서브 픽셀들(SP)에 대한 영상 데이터 누적 값이 동일할 수 있다.
따라서, 도 14의 CASE 1의 보상 값 표현 화면(1401)을 참조하면, CASE 1에 따른 일반적인 잔상 보상 기술의 경우, 제1 잔상 예상 영역(JA1)에 배치된 제1 서브 픽셀들(SP)에 대한 제1 보상값들(JCV1)과 제2 잔상 예상 영역(JA2)에 배치된 제2 서브 픽셀들(SP)에 대한 제2 보상값들(JCV2)은 동일한 값으로 생성된다.
하지만, 제1 잔상 예상 영역(JA1)에 배치된 제1 서브 픽셀들(SP)과 제2 잔상 예상 영역(JA2)에 배치된 제2 서브 픽셀들(SP)은 소자들의 열화 정도 차이가 있기 때문에, 도 14의 잔상 보상 후 화면(1410)에서 보는 바와 같이, CASE 1에 따른 일반적인 잔상 보상 기술이 수행된 이후, 제1 잔상 예상 영역(JA1)에서 제1 잔상(JIMG1)이 나타나고, 제2 잔상 예상 영역(JA2)에서 제2 잔상(JIMG2)이 나타날 수밖에 없다.
도 14의 CASE 2의 보상 값 표현 화면(1402)을 참조하면, CASE 2에 따른 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 기술(패턴 잔상 보상 기술)의 경우, 제1 잔상 예상 영역(JA1)과 제2 잔상 예상 영역(JA2) 각각에서의 잔상 타입을 구분하여 잔상 타입에 맞는 잔상 보상 처리를 수행할 수 있다.
따라서, CASE 2에 따른 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 기술(패턴 잔상 보상 기술)의 경우, 제1 잔상 예상 영역(JA1)에서의 영상 데이터 누적 값과 제2 잔상 예상 영역(JA2)에서의 영상 데이터 누적 값이 동일하더라도, 제1 잔상 예상 영역(JA1)에 배치된 제1 서브 픽셀들(SP)에 대한 제1 보상값들(JCV1)과 제2 잔상 예상 영역(JA2)에 배치된 제2 서브 픽셀들(SP)에 대한 제2 보상값들(JCV2)은 서로 다른 값으로 생성될 수 있다.
제1 잔상 예상 영역(JA1)에 배치된 제1 서브 픽셀들(SP)과 제2 잔상 예상 영역(JA2)에 배치된 제2 서브 픽셀들(SP)은 소자들의 열화 정도 차이가 있고, 이러한 열화 패턴이 CASE 2에 따른 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 기술(패턴 잔상 보상 기술)에서는 고려된다.
따라서, 도 14의 CASE 2의 잔상 보상 후 화면(1420)에서 보는 바와 같이, CASE 2에 따른 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 기술(패턴 잔상 보상 기술)이 수행된 이후, 제1 잔상 예상 영역(JA1) 및 제2 잔상 예상 영역(JA2)에서는 잔상이 전혀 발생하지 않을 수 있다.
도 15는 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상의 적용 전후의 화면 상태 변화를 나타낸다.
도 14를 참조하면, CASE 1은 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적 잔상 보상(패턴 잔상 보상)이 적용되지 않고 일반적인 센싱 방식의 잔상 보상이 적용된 경우이고, CASE 2는 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적 잔상 보상(패턴 잔상 보상)이 적용된 경우이다.
도 15의 잔상 보상 전 화면(1500)의 예시를 참조하면, 잔상 보상이 진행되기 전, 일정 구동 시간(제1 시간) 동안, 표시 패널(110) 내 제1 잔상 예상 영역(JA1)에 배치된 제1 서브 픽셀들(SP)은 제1 계조의 데이터 전압을 지속적으로 공급받을 수 있다. 여기서, 제1 계조는 높은 계조일 수 있다. 예를 들어, 제1 계조는 255 계조일 수 있다.
도 15를 참조하면, CASE 1 및 CASE 2 모두, 일정 구동 시간이 종료되면, 제1 시점(t=0)에 제1 서브 픽셀들(SP)은 제1 계조보다 낮은 제2 계조와 제1 계조의 중간 계조의 데이터 전압을 공급받을 수 있다. 여기서, 제1 계조는 높은 계조이고, 제2 계조는 제1 계조보다 낮은 계조일 수 있다. 예를 들어, 제1 계조는 255 계조이고, 제2 계조는 0 계조일 수 있으며, 중간 계조는 127 계조일 수 있다.
제1 시점(t=0)에, 표시 패널(110)의 표시 영역(DA) 전체의 서브 픽셀들(SP)로 중간 계조의 데이터 전압이 공급될 수도 있다. 또는 제1 시점(t=0)에, 제1 잔상 예상 영역(JA1)의 주변 영역(PA)에 배치된 서브 픽셀들(SP)로도 중간 계조의 데이터 전압이 공급될 수 있다.
전술한 바와 같이, 제1 잔상 예상 영역(JA1)에 제1 계조의 데이터 전압이 공급되다가 제1 계조와 제2 계조의 중간 계조의 데이터 전압이 공급되게 되면, 제1 잔상 예상 영역(JA1)에서 복원 잔상 타입의 잔상이 발생하는 경우를 가정한다.
도 15에서 제1 시점(t=0) 이후의 CASE 1의 화면(1510)을 참조하면, CASE 1의 일반적인 센싱 방식의 잔상 보상이 적용하게 되면, 복원 잔상 타입의 잔상 보상 처리가 되지 못하여, 제1 시점(t=0)부터 제1 잔상 예상 영역(JA1)에서 잔상(JIMG1)이 발생하고, 일정 시간이 경과한 이후 제2 시점(t=T)에 제1 잔상 예상 영역(JA1)에서 잔상(JIMG1)이 사라질 수 있다.
도 15에서 제1 시점(t=0) 이후의 CASE 2의 화면(1520)을 참조하면, CASE 2의 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상(패턴 잔상 보상)이 적용하게 되면, 복원 잔상 타입의 잔상 패턴이 검출되어 검출된 잔상 패턴에 맞는 잔상 보상 처리(도 9 및 도 10의 S910)가 수행될 수 있다. 이에 따라, 제1 시점(t=0)부터 제1 잔상 예상 영역(JA1)에서 잔상(JIMG1)이 나타나지 않을 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상(패턴 잔상 보상)이 적용하게 되면, 제1 잔상 예상 영역(JA1)에 배치된 제1 서브 픽셀들(SP)로 중간 계조의 데이터 전압이 공급되기 시작한 제1 시점(t=0)부터 제1 잔상 예상 영역(JA1)에는 복원 잔상 타입의 잔상이 발생하지 않는다.
도 14 및 도 15을 참조하여 설명한 방식으로 일정 시간(제1 시간) 동안 구동을 수행하고 난 이후, 화면에서의 잔상 발생 유무를 통해, 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상의 적용 유무를 확인할 수 있다.
도 14 및 도 15을 참조하여 설명한 방식으로 구동하였을 때 CASE 1과 같이 잔상 보상 후 화면(1410, 1510)이 발생하면, 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상이 적용되지 않은 것을 확인할 수 있다.
전술한 바와 같이, 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상이 적용되지 않은 CASE 1의 경우, 잔상 보상 실행에도 불구하고 잔상이 보이는 잔상 보상 후 화면(1410, 1510)이 보이는 이유는, 일정 시간(제1 시간)의 구동 이후, 잔상 보상 과정에서 제1 잔상 예상 영역(JA1)과 제2 잔상 예상 영역(JA2) 각각에 대한 보상값(JCV1, JCV2)이 동일하게 도출되었기 때문이다.
여기서, 제1 잔상 예상 영역(JA1)과 제2 잔상 예상 영역(JA2) 각각에 대한 보상값(JCV1, JCV2)이 동일하다는 것은, 제1 시간 동안의 제1 잔상 예상 영역(JA1)과 제2 잔상 예상 영역(JA2) 각각의 다른 구동 조건(즉, 다른 잔상 타입)이 고려되지 못한 것을 의미할 수 있다.
도 14 및 도 15을 참조하여 설명한 방식으로 구동하였을 때 CASE 2과 같이 잔상 보상 후 화면(1420, 1520)이 발생하면, 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상이 적용된 것을 확인할 수 있다.
전술한 바와 같이, 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상이 적용된 CASE 2의 경우, 잔상 보상 실행 이후, 잔상이 없는 잔상 보상 후 화면(1420, 1520)이 보이는 이유는, 제1 시간의 구동 이후, 본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 과정에서 제1 잔상 예상 영역(JA1)과 제2 잔상 예상 영역(JA2) 각각에 대한 보상값(JCV1, JCV2)이 서로 다르게 도출되었기 때문이다.
여기서, 제1 잔상 예상 영역(JA1)과 제2 잔상 예상 영역(JA2) 각각에 대한 보상값(JCV1, JCV2)이 다르다는 것은 제1 시간 동안의 제1 잔상 예상 영역(JA1)과 제2 잔상 예상 영역(JA2) 각각의 다른 구동 조건(즉, 다른 잔상 타입)이 고려된 것을 의미할 수 있다.
이상에서 설명한 본 개시의 실시 예들을 간략하게 설명하면 아래와 같다.
본 개시의 실시 예들은 다수의 서브 픽셀을 포함하는 표시 패널, 및 영상 패턴을 분석하여 잔상 예상 영역과 잔상 예상 영역에서의 잔상을 검출하고, 검출된 잔상의 잔상 타입을 결정하고, 결정된 잔상 타입과 대응되는 잔상 보상 처리를 수행하기 위해 구성된 잔상 보상 장치를 포함하는 표시 장치를 제공할 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치에 있어서, 잔상 보상 장치는 영상 패턴과 함께, 온도 패턴 및 열화 패턴을 더 분석하여 잔상 예상 영역 및 잔상을 검출하기 위해 구성될 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치에 있어서, 영상 패턴은 다수의 서브 픽셀 각각의 영상 데이터의 변화 패턴일 수 있다. 온도 패턴은 표시 패널에서의 온도 분포일 수 있다. 열화 패턴은 다수의 서브 픽셀 각각의 열화 수치의 분포일 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치에 있어서, 잔상 예상 영역은 잔상 예상 영역과 다른 영역의 온도에 비해 높은 온도를 가질 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치에 있어서, 결정된 잔상 타입은 잔상 지속 시간 및 복원 가능성에 따라 구분되는 둘 이상의 잔상 타입 중 하나일 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치에 있어서, 잔상 예상 영역과 주변 영역 간의 열화 차이가 제1 임계 값 이상이면, 잔상 타입이 장기 비복원 잔상 타입으로 결정될 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치에 있어서, 잔상 예상 영역과 주변 영역 간의 열화 차이가 제1 임계 값 미만이고, 영상 패턴과 온도 패턴 간의 차이가 제2 임계 값 미만이면, 잔상 타입이 단기 비복원 잔상 타입으로 결정될 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치에 있어서, 잔상 예상 영역과 주변 영역 간의 열화 차이가 제1 임계 값 미만이고, 영상 패턴과 온도 패턴 간의 차이가 제2 임계 값 이상이면, 잔상 타입이 복원 잔상 타입으로 결정될 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치에 있어서, 복원 잔상 타입의 잔상은 주변 영역보다 어둡게 표시될 수 있고, 단기 비복원 잔상 타입의 잔상은 주변 영역보다 밝게 표시될 수 있고, 장기 비복원 잔상 타입의 잔상은 주변 영역보다 밝게 표시될 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치에 있어서, 장기 비복원 잔상 타입의 잔상은 발광 소자의 열화에 따라 발생될 수 있고, 단기 비복원 잔상 타입의 잔상은 구동 트랜지스터의 이동도 변화에 따라 발생될 수 있고, 복원 잔상 타입의 잔상은 구동 트랜지스터의 문턱 전압 변화에 따라 발생될 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치에 있어서, 잔상 보상 장치는, 잔상 타입을 복원 잔상 타입으로 결정한 경우, 잔상 예상 영역에 대한 목표 휘도값을 현재 휘도값보다 높게 설정하고 설정된 목표 휘도값에 대응되는 보상값을 도출하기 위해 구성될 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치에 있어서, 잔상 보상 장치는, 잔상 타입을 단기 비복원 잔상 타입 또는 장기 비복원 잔상 타입으로 결정한 경우, 잔상 예상 영역에서의 잔상 발생을 지연시키기 위한 잔상 지연 처리를 수행하기 위해 구성될 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치에 있어서, 잔상 보상 장치는 잔상 예상 영역의 휘도를 입력 영상 소스에서의 기초 휘도 값에서 기초 휘도 값보다 낮은 목표 휘도 값까지 감소시킴으로써 잔상 지연 처리를 수행하기 위해 구성될 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치에 있어서, 잔상 보상 장치는 표시 패널의 표시 영역에서의 전체 이미지의 표시 위치를 이동시키거나 표시 영역 내 잔상 예상 영역에서의 이미지의 표시 위치를 이동시킴으로써 잔상 지연 처리를 수행하기 위해 구성될 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치에 있어서, 잔상 보상 장치는, 잔상 타입을 장기 비복원 잔상 타입으로 결정한 경우, 잔상 예상 영역에 대한 목표 휘도값을 현재 휘도값보다 낮게 설정하고 설정된 목표 휘도값에 대응되는 보상값을 도출하기 위해 구성될 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치에 있어서, 잔상 보상 장치는, 잔상 예상 영역을 둘러싸는 일정 면적의 경계 영역을 설정하고, 경계 영역의 휘도가 잔상 예상 영역의 휘도와 주변 영역의 휘도의 중간 휘도 값이 되도록 제어할 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치에서, 동일한 제1 시간 동안, 표시 패널 내 제1 영역에 배치된 제1 서브 픽셀들은 서로 다른 제1 계조와 제2 계조의 중간 계조의 데이터 전압을 지속적으로 공급받고, 표시 패널 내 제1 영역과 다른 제2 영역에 배치된 제2 서브 픽셀들은 제1 계조의 데이터 전압과 제2 계조의 데이터 전압을 교번하여 공급받을 수 있다. 이러한 구동 후, 잔상 보상 처리를 통해 제1 서브 픽셀들에 대한 제1 보상값들과 제2 서브 픽셀들에 대한 제2 보상값들이 생성되어 메모리에 저장될 수 있다. 제1 보상값들과 제2 보상값들은 서로 다른 값일 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 표시 장치에서, 일정 구동 시간 동안, 표시 패널 내 제1 영역에 배치된 제1 서브 픽셀들은 제1 계조의 데이터 전압을 지속적으로 공급받고, 일정 구동 시간이 종료되면, 제1 서브 픽셀들은 제1 계조보다 낮은 제2 계조와 제1 계조의 중간 계조의 데이터 전압을 공급받을 수 있다. 이 경우, 제1 서브 픽셀들로 중간 계조의 데이터 전압이 공급되기 시작한 시점부터 제1 영역에는 잔상이 발생하지 않을 수 있다.
본 개시의 실시 예들은 영상 패턴을 분석하여 잔상 예상 영역과 잔상 예상 영역에서의 잔상을 검출하는 단계, 검출된 잔상의 잔상 타입을 결정하는 단계, 및 결정된 잔상 타입과 대응되는 잔상 보상 처리를 수행하는 단계를 포함하는 적응적인 잔상 보상 방법을 제공할 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법에 있어서, 잔상 타입을 결정하는 단계는, 잔상 예상 영역과 주변 영역 간의 열화 차이가 제1 임계 값 이상이면, 잔상 타입이 장기 비복원 잔상 타입으로 결정되는 단계, 잔상 예상 영역과 주변 영역 간의 열화 차이가 제1 임계 값 미만이고, 영상 패턴과 온도 패턴 간의 차이가 제2 임계 값 미만이면, 잔상 타입이 단기 비복원 잔상 타입으로 결정되는 단계, 및 잔상 예상 영역과 주변 영역 간의 열화 차이가 제1 임계 값 미만이고, 영상 패턴과 온도 패턴 간의 차이가 제2 임계 값 이상이면, 잔상 타입이 복원 잔상 타입으로 결정되는 단계를 포함할 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법에 있어서, 잔상 타입을 결정하는 단계에서, 잔상 타입이 복원 잔상 타입으로 결정된 경우,
본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법에 있어서, 잔상 보상 처리를 수행하는 단계에서는, 잔상 예상 영역에 대한 목표 휘도값을 현재 휘도값보다 높게 설정하고 설정된 목표 휘도값에 대응되는 보상값을 도출할 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법에 있어서, 잔상 타입을 결정하는 단계에서, 잔상 타입이 단기 비복원 잔상 타입으로 결정된 경우, 잔상 보상 처리를 수행하는 단계에서는, 미리 정의된 잔상 지연 처리를 수행할 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따른 적응적인 잔상 보상 방법에 있어서, 잔상 타입을 결정하는 단계에서, 잔상 타입이 장기 비복원 잔상 타입으로 결정된 경우, 잔상 보상 처리를 수행하는 단계에서는, 잔상 예상 영역에 대한 목표 휘도값을 현재 휘도값보다 낮게 설정하고 설정된 목표 휘도값에 대응되는 보상값을 도출할 수 있다.
이상에서 설명한 본 개시의 실시 예들에 의하면, 잔상 타입을 구분하여 잔상 타입에 맞는 잔상 보상을 수행할 수 있는 표시 장치 및 적응적인 잔상 보상 방법을 제공할 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 의하면, 영상 패턴을 이용하여 잔상 보상 처리를 수행할 수 있는 표시 장치 및 적응적인 잔상 보상 방법을 제공할 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 의하면, 영상 패턴을 이용하여 잔상이 발생할 영역에 대해서만 잔상 보상 처리를 수행할 수 있는 표시 장치 및 적응적인 잔상 보상 방법을 제공할 수 있다.
이상의 설명은 본 개시의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 개시의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 또한, 본 개시에 개시된 실시예들은 본 개시의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이므로 이러한 실시예에 의하여 본 개시의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 개시의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 개시의 권리 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 표시 장치 110: 표시 패널
500: 잔상 보상 장치 510: 패턴 분석부
520: 잔상 구분부 530: 잔상 보상부
540: 누적부 550: 메모리
DA: 표시 영역
JA1, JA2, JA3: 잔상 예상 영역
JIMG1, JIMG2, JIMG3: 잔상

Claims (20)

  1. 다수의 서브 픽셀을 포함하는 표시 패널; 및
    영상 패턴에 따라 잔상 예상 영역에서 검출된 잔상의 잔상 타입을 결정하고, 상기 결정된 잔상 타입과 대응되는 잔상 보상 처리를 수행하기 위해 구성된 잔상 보상 장치를 포함하고,
    상기 잔상 예상 영역과 주변 영역 간의 열화 차이가 상기 제1 임계 값 이상이면, 상기 잔상 타입이 장기 비복원 잔상 타입으로 결정되고,
    상기 잔상 예상 영역과 상기 주변 영역 간의 열화 차이가 상기 제1 임계 값 미만이고, 상기 영상 패턴과 온도 패턴 간의 차이가 제2 임계 값 미만이면, 상기 잔상 타입이 단기 비복원 잔상 타입으로 결정되고,
    상기 잔상 예상 영역과 상기 주변 영역 간의 열화 차이가 상기 제1 임계 값 미만이고, 상기 영상 패턴과 상기 온도 패턴 간의 차이가 상기 제2 임계 값 이상이면, 상기 잔상 타입이 복원 잔상 타입으로 결정되는 표시 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 잔상 보상 장치는 상기 영상 패턴과 함께, 온도 패턴 및 열화 패턴을 더 분석하여 상기 잔상 예상 영역 및 상기 잔상을 검출하기 위해 구성되고,
    상기 영상 패턴은 상기 다수의 서브 픽셀 각각의 영상 데이터의 변화 패턴이고, 상기 온도 패턴은 상기 표시 패널에서의 온도 분포이고, 상기 열화 패턴은 상기 다수의 서브 픽셀 각각의 열화 수치의 분포인 표시 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 잔상 예상 영역은 다른 영역의 온도에 비해 높은 온도를 갖는 표시 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 결정된 잔상 타입은 잔상 지속 시간 및 복원 가능성에 따라 구분되는 둘 이상의 잔상 타입 중 하나인 표시 장치.
  5. 삭제
  6. 제1항에 있어서,
    상기 복원 잔상 타입의 잔상은 상기 주변 영역보다 어둡게 표시되고, 상기 단기 비복원 잔상 타입의 잔상은 상기 주변 영역보다 밝게 표시되고, 상기 장기 비복원 잔상 타입의 잔상은 상기 주변 영역보다 밝게 표시되는 표시 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 서브 픽셀 각각은 발광 소자 및 구동 트랜지스터를 포함하고,
    상기 장기 비복원 잔상 타입의 잔상은 상기 발광 소자의 열화에 따라 발생되고, 상기 단기 비복원 잔상 타입의 잔상은 상기 구동 트랜지스터의 이동도 변화에 따라 발생되고, 상기 복원 잔상 타입의 잔상은 상기 구동 트랜지스터의 문턱 전압 변화에 따라 발생되는 표시 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 잔상 보상 장치는, 상기 잔상 타입을 상기 복원 잔상 타입으로 결정한 경우, 상기 잔상 예상 영역에 대한 목표 휘도값을 현재 휘도값보다 높게 설정하고 상기 설정된 목표 휘도값에 대응되는 보상값을 도출하기 위해 구성되는 표시 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 잔상 보상 장치는, 상기 잔상 타입을 상기 단기 비복원 잔상 타입 또는 상기 장기 비복원 잔상 타입으로 결정한 경우, 상기 잔상 예상 영역에서의 잔상 발생을 지연시키기 위한 잔상 지연 처리를 수행하기 위해 구성되는 표시 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 잔상 보상 장치는 상기 잔상 예상 영역의 휘도를 입력 영상 소스에서의 기초 휘도 값에서 상기 기초 휘도 값보다 낮은 목표 휘도 값까지 감소시킴으로써 상기 잔상 지연 처리를 수행하기 위해 구성되는 표시 장치.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 잔상 보상 장치는 상기 표시 패널의 표시 영역에서의 전체 이미지의 표시 위치를 이동시키거나 상기 표시 영역 내 상기 잔상 예상 영역에서의 이미지의 표시 위치를 이동시킴으로써 상기 잔상 지연 처리를 수행하기 위해 구성되는 표시 장치.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 잔상 보상 장치는, 상기 잔상 타입을 상기 장기 비복원 잔상 타입으로 결정한 경우, 상기 잔상 예상 영역에 대한 목표 휘도값을 현재 휘도값보다 낮게 설정하고 상기 설정된 목표 휘도값에 대응되는 보상값을 도출하기 위해 구성되는 표시 장치.
  13. 제1항에 있어서,
    상기 잔상 보상 장치는, 상기 잔상 예상 영역을 둘러싸는 일정 면적의 경계 영역을 설정하고, 상기 경계 영역의 휘도가 상기 잔상 예상 영역의 휘도와 주변 영역의 휘도의 중간 휘도 값이 되도록 제어하는 표시 장치.
  14. 제1항에 있어서,
    상기 표시 패널은, 제1 서브픽셀들이 배치된 제1 영역과, 제2 서브픽셀들이 배치된 제2 영역을 포함하고,
    상기 제1 서브픽셀들에 포함된 구동 트랜지스터들은 상기 제2 서브픽셀들에 포함된 구동 트랜지스터들에 비해 문턱 전압 변화가 상대적으로 크고, 상기 제2 서브픽셀들에 포함된 구동 트랜지스터들은 상기 제1 서브픽셀들에 포함된 구동 트랜지스터들에 비해 이동도 변화가 상대적으로 크고,
    동일한 제1 시간 동안, 상기 제1 서브 픽셀들은 서로 다른 제1 계조와 제2 계조의 중간 계조의 데이터 전압을 지속적으로 공급받고, 상기 제2 서브 픽셀들은 상기 제1 계조의 데이터 전압과 상기 제2 계조의 데이터 전압을 교번하여 공급받고,
    상기 잔상 보상 처리를 통해 상기 제1 서브 픽셀들에 대한 제1 보상값들과 상기 제2 서브 픽셀들에 대한 제2 보상값들이 생성되어 메모리에 저장되고,
    상기 제1 보상값들과 상기 제2 보상값들은 서로 다른 값인 표시 장치.
  15. 제1항에 있어서,
    상기 표시 패널은, 제1 서브픽셀들이 배치된 제1 영역과, 제2 서브픽셀들이 배치된 제2 영역을 포함하고,
    상기 제1 서브픽셀들에 포함된 구동 트랜지스터들은 상기 제2 서브픽셀들에 포함된 구동 트랜지스터들에 비해 문턱 전압 변화가 상대적으로 크고, 상기 제2 서브픽셀들에 포함된 구동 트랜지스터들은 상기 제1 서브픽셀들에 포함된 구동 트랜지스터들에 비해 이동도 변화가 상대적으로 크고,
    일정 구동 시간 동안, 상기 제1 서브 픽셀들은 제1 계조의 데이터 전압을 지속적으로 공급받고,
    상기 일정 구동 시간이 종료되면, 상기 제1 서브 픽셀들은 상기 제1 계조보다 낮은 제2 계조와 상기 제1 계조의 중간 계조의 데이터 전압을 공급받고,
    상기 제1 서브 픽셀들로 상기 중간 계조의 데이터 전압이 공급되기 시작한 시점부터 상기 제1 영역에는 잔상이 발생하지 않는 표시 장치.
  16. 영상 패턴을 분석하여 잔상 예상 영역과 상기 잔상 예상 영역에서의 잔상을 검출하는 단계;
    상기 검출된 잔상의 잔상 타입을 결정하는 단계; 및
    상기 결정된 잔상 타입과 대응되는 잔상 보상 처리를 수행하는 단계를 포함하고,
    상기 잔상 타입을 결정하는 단계에서,
    상기 잔상 예상 영역과 주변 영역 간의 열화 차이가 상기 제1 임계 값 이상이면, 상기 잔상 타입이 장기 비복원 잔상 타입으로 결정되고,
    상기 잔상 예상 영역과 상기 주변 영역 간의 열화 차이가 상기 제1 임계 값 미만이고, 상기 영상 패턴과 온도 패턴 간의 차이가 제2 임계 값 미만이면, 상기 잔상 타입이 단기 비복원 잔상 타입으로 결정되고,
    상기 잔상 예상 영역과 상기 주변 영역 간의 열화 차이가 상기 제1 임계 값 미만이고, 상기 영상 패턴과 상기 온도 패턴 간의 차이가 상기 제2 임계 값 이상이면, 상기 잔상 타입이 복원 잔상 타입으로 결정되는 적응적인 잔상 보상 방법.
  17. 삭제
  18. 제16항에 있어서,
    상기 잔상 타입을 결정하는 단계에서, 상기 잔상 타입이 상기 복원 잔상 타입으로 결정된 경우,
    상기 잔상 보상 처리를 수행하는 단계에서는, 상기 잔상 예상 영역에 대한 목표 휘도값을 현재 휘도값보다 높게 설정하고 상기 설정된 목표 휘도값에 대응되는 보상값을 도출하는 적응적인 잔상 보상 방법.
  19. 제16항에 있어서,
    상기 잔상 타입을 결정하는 단계에서, 상기 잔상 타입이 상기 단기 비복원 잔상 타입으로 결정된 경우,
    상기 잔상 보상 처리를 수행하는 단계에서는, 미리 정의된 잔상 지연 처리를 수행하는 적응적인 잔상 보상 방법.
  20. 제16항에 있어서,
    상기 잔상 타입을 결정하는 단계에서, 상기 잔상 타입이 상기 장기 비복원 잔상 타입으로 결정된 경우,
    상기 잔상 보상 처리를 수행하는 단계에서는, 상기 잔상 예상 영역에 대한 목표 휘도값을 현재 휘도값보다 낮게 설정하고 상기 설정된 목표 휘도값에 대응되는 보상값을 도출하는 적응적인 잔상 보상 방법.
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