KR102403813B1 - 기본단위체 제조방법 및 그를 포함하는 전극조립체 제조방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 기본단위체 제조방법에 관한 것으로, (a)제1 전극, 분리막, 제2 전극, 분리막 및 제1 전극이 순차적으로 배열된 기본단위체를 제조하는 단계; (b) 상기 (a) 단계의 기본단위체에서 상기 제2 전극의 전극탭 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AU1)와, 상기 제2 전극의 전극탭 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AL1)가 각각 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하는지 검사하는 단계; (c) 상기 (b) 단계를 통과한 기본단위체에서 상기 분리막의 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극 일면까지의 거리(AU2)와, 상기 분리막의 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AL2)의 차이값(AU2-AL2)의 절대값이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지 검사하는 단계; 및 (d) 상기 (c) 단계를 통과한 기본단위체를 정상품으로 판정하는 단계를 포함한다.
Description
본 발명은 기본단위체 제조방법 및 그를 포함하는 전극조립체 제조방법에 관한 것으로서, 특히 기본단위체가 정상품인지 또는 불량품인지 정확하게 검사할 수 있는 기본단위체 제조방법 및 그를 포함하는 전극조립체 제조방법에 관한 것이다.
일반적으로 이차전지(secondary battery)는 충전이 불가능한 일차 전지와는 달리 충전 및 방전이 가능한 전지를 말한다.
이러한 이차전지는 하나 이상의 기본단위체를 포함하는 전극조립체, 상기 전극조립체를 수용하는 케이스를 포함하며, 상기 기본단위체는 복수의 전극과 복수의 분리막이 교대로 적층되는 구조를 가진다. 즉, 상기 기본단위체는 제1 전극, 분리막, 제2 전극, 분리막 및 제1 전극이 상하방향을 따라 순차적으로 배열되는 구조를 가진다.
한편, 상기한 기본단위체는 전극간의 격차를 측정하여 정상품인지 또는 불량품인지 검사한다. 즉, 상하로 적층된 제1 전극과 제2 전극의 상호 대응하는 대응면의 격차를 통해 기본단위체가 정상품인지 또는 불량품인지 검사한다.
그러나 상기한 기본단위체는 상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이에 분리막이 개재되어 있어 상기 제1 전극과 상기 제2 전극간의 격차를 정확하게 측정하기 어려우며, 이에 따라 기본단위체가 정상품인지 또는 불량품인지 정확하게 검사하기 어려운 문제점이 있었다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 발명된 것으로, 본 발명은 전극과 분리막을 교대로 적층하여 기본단위체를 제조하고, 제조된 기본단위체의 전극간 격차를 정확하게 측정하여 상기 기본단위체가 정상품인지 또는 불량품인지 정확하게 검사할 수 있는 기본단위체 제조방법 및 그를 포함하는 전극조립체 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 제1 실시예에 따른 기본단위체 제조방법은 (a)제1 전극, 분리막, 제2 전극, 분리막 및 제1 전극이 순차적으로 배열된 기본단위체를 제조하는 단계; (b) 상기 (a) 단계의 기본단위체에서 상기 제2 전극의 전극탭 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AU1)와, 상기 제2 전극의 전극탭 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AL1)가 각각 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하는지 검사하는 단계; (c) 상기 (b) 단계를 통과한 기본단위체에서 상기 분리막의 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극 일면까지의 거리(AU2)와, 상기 분리막의 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AL2)의 차이값(AU2-AL2)의 절대값이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지 검사하는 단계; 및 (d) 상기 (c) 단계를 통과한 기본단위체를 정상품으로 판정하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 T1과 상기 a1은 양수일 수 있다.
상기 기준 설정값인 T1±a1 범위값은 상기 추가 기준 설정값 보다 큰 값을 가질 수 있다.
상기 추가 기준 설정값은 0.4mm 이하로 형성될 수 있다.
한편, 본 발명의 제2 실시예에 따른 기본단위체 제조방법은 (a)제1 전극, 분리막, 제2 전극, 분리막 및 제1 전극이 순차적으로 배열된 기본단위체를 제조하는 단계; (b) 상기 (a) 단계를 통과한 기본단위체에서 상기 분리막의 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극 일면까지의 거리(AU2)와, 상기 분리막의 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AL2)가 각각 기준 설정값인 T2±a2 범위값 내에 위치하는 지 검사하는 단계; (c) 상기 (b) 단계를 통과한 기본단위체에서 상기 거리(AU2)와, 상기 거리(AL2)의 차이값(AU2-AL2)의 절대값이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지 검사하는 단계; (d) 상기 (c) 단계를 통과한 기본단위체를 정상품으로 판정하는 단계를 포함할 수 있다.
한편, 본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체 제조방법은 (A) 최외각에 제1 전극이 배열된 제1 기본단위체를 제조하는 단계; (B) 최외각에 제2 전극이 배열된 제2 기본단위체를 제조하는 단계; 및 (C) 상기 제1 기본단위체와 상기 제2 기본단위체 사이에 분리시트를 개재하는 단계를 포함하며, 상기 (A) 단계는, (a)제1 전극, 분리막, 제2 전극, 분리막 및 제1 전극이 순차적으로 배열된 제1 기본단위체를 제조하는 단계; (b) 상기 (a) 단계의 제1 기본단위체에서 상기 제2 전극의 전극탭 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AU1)와, 상기 제2 전극의 전극탭 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AL1)가 각각 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하는지 검사하는 단계; (c) 상기 (b) 단계를 통과한 제1 기본단위체에서 상기 분리막의 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극 일면까지의 거리(AU2)와, 상기 분리막의 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AL2)의 차이값(AU2-AL2)의 절대값이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지 검사하는 단계; 및 (d) 상기 (c) 단계를 통과한 제1 기본단위체를 정상품으로 판정하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 (B) 단계는, (a-1)제2 전극, 분리막, 제1 전극, 분리막 및 제2 전극이 순차적으로 배열된 제2 기본단위체를 제조하는 단계; (b-1) 상기 (a-1) 단계의 제2 기본단위체에서 상기 제1 전극의 전극탭 일면으로부터 상기 하나의 제2 전극 일면까지 거리(AU1)와, 상기 제1 전극의 전극탭 일면으로부터 상기 다른 하나의 제2 전극 일면까지 거리(AL1)가 각각 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하는지 검사하는 단계; (c-1) 상기 (b-1) 단계를 통과한 제2 기본단위체에서 상기 분리막의 일면으로부터 상기 하나의 제2 전극 일면까지의 거리(AU2)와, 상기 분리막의 일면으로부터 상기 다른 하나의 제2 전극 일면까지 거리(AL2)의 차이값(AU2-AL2)의 절대값이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지 검사하는 단계; 및 (d-1) 상기 (c-1) 단계를 통과한 제2 기본단위체를 정상품으로 판정하는 단계를 포함할 수 있다.
첫째: 본 발명은 제1 전극, 분리막, 제2 전극, 분리막 및 제1 전극이 순차적으로 배열된 기본단위체를 제조하고, 제조된 상기 기본단위체는 상기 제2 전극의 전극탭 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AU1)와, 상기 제2 전극의 전극탭일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AL1)가 각각 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하는지 1차로 측정하여 검사하는 단계, 상기 분리막의 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극 일면까지의 거리(AU2)와, 상기 분리막의 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AL2)의 차이값(AU2-AL2)의 절대값이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지 2차로 검사하는 단계를 포함하는 것에 특징을 가진다. 이와 같은 특징으로 인해 기본단위체가 정상품인지 또는 불량품인지 정확하게 판정할 수 있으며, 이에 따라 기본단위체의 생산 수율을 향상시킬 수 있다.
둘째: 본 발명에서 기준 설정값인 T1±a1 범위값에 포함된 상기 T1과 상기 a1은 양수인 것을 특징으로 하며, 이와 같은 특징으로 인해 기준 설정값인 T1±a1 범위값의 오류 발생을 미연에 방지할 수 있고, 그 결과 기본단위체가 정상품인지 또는 불량품인지 정확하게 판정할 수 있다.
셋째: 본 발명에서 기준 설정값인 T1±a1 범위값은 추가 기준 설정값 보다 큰 값을 가지는 것을 특징으로 하며, 이와 같은 특징으로 인해 상기 1차 검사단계의 기준 설정값인 T1±a1 범위값을 확대할 수 있으며, 그 결과 기본단위체의 생산 수율을 크게 향상시킬 수 있다.
넷째: 본 발명에서 추가 기준 설정값은 0.4mm 이하로 형성되는 것을 특징으로 가진다. 즉, 추가 기준 설정값이 0.4mm 이상일 경우 기본단위체에 포함된 전극간 격차가 크게 발생하여 쇼트 등의 사고가 발생할 수 있으며, 이에 따라 추가 기준 설정값이 0.4mm 이하로 형성하여 전극간 격차를 크게 줄일 수 있고, 그 결과 쇼트 등의 사고를 방지할 수 있다.
다섯째: 본 발명은 제1 전극, 분리막, 제2 전극, 분리막 및 제1 전극이 순차적으로 배열된 기본단위체를 하나 이상 포함하는 전극조립체를 제조하고, 제조된 상기 기본단위체는 상기 제2 전극의 전극탭 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AU1)와, 상기 제2 전극의 전극탭일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AL1)가 각각 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하는지 1차로 측정하여 검사하는 단계, 상기 분리막의 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극 일면까지의 거리(AU2)와, 상기 분리막의 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AL2)의 차이값(AU2-AL2)의 절대값이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지 2차로 검사하는 단계를 포함하는 것에 특징을 가진다. 이와 같은 특징으로 인해 정상품으로 판정된 기본단위체를 통해 전극조립체를 제조하여 전극조립체의 생산 수율을 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 기본단위체를 도시한 사시도.
도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 기본단위체를 X 방향에서 바라본 상태를 도시한 측면도.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 기본단위체 제조방법을 나타낸 순서도.
도 4는 본 발명의 제2 실시예에 따른 기본단위체를 도시한 측면도.
도 5는 본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체를 도시한 측면도.
도 6은 본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체 제조방법을 나타낸 순서도.
도 7은 본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체의 제1 기본단위체를 도시한 측면도.
도 8은 본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체의 제2 기본단위체를 도시한 측면도.
도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 기본단위체를 X 방향에서 바라본 상태를 도시한 측면도.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 기본단위체 제조방법을 나타낸 순서도.
도 4는 본 발명의 제2 실시예에 따른 기본단위체를 도시한 측면도.
도 5는 본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체를 도시한 측면도.
도 6은 본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체 제조방법을 나타낸 순서도.
도 7은 본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체의 제1 기본단위체를 도시한 측면도.
도 8은 본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체의 제2 기본단위체를 도시한 측면도.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
[본 발명의 제1 실시예에 따른 기본단위체]
본 발명의 제1 실시예에 따른 기본단위체(110)는 도 1 및 도 2에 도시되어 있는 것과 같이, 제1 전극(111), 분리막(112), 제2 전극(113), 분리막(112) 및 제1 전극(111)이 상하방향을 따라 순차적으로 배열된 구조를 가진다. 그리고 상기 제1 전극(111)에는 제1 전극탭(111a)이 형성되고, 상기 제2 전극(113)에는 제2 전극탭(113a)이 형성된다.
이와 같은 구성을 가진 기본단위체(110)는 전극간의 격차를 측정하여 정상품인지 또는 불량품인지 검사한다.
즉, 상기 기본단위체(110)는 도 2를 참조하면, 상기 제2 전극(113)의 전극탭(113a) 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극(111) 일면까지 거리(AU1)와, 상기 제2 전극(113)의 전극탭(113a) 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극(111) 일면까지 거리(AL1)가 각각 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하는지 1차로 측정한다. 그리고 상기 AU1의 거리와 상기 AL1의 거리가 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하면, 상기 분리막(112)의 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극(111) 일면까지의 거리(AU2)와, 상기 분리막(112)의 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극(111) 일면까지 거리(AL2)의 차이값(AU2-AL2)이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지 2차로 측정한다.
여기서 상기 제1 전극(111)은 양극이고, 상기 제2 전극(113)은 음극이며, 상기 제2 전극(113)은 상기 제1 전극(111) 보다 큰 면적을 가진다. 그리고 상기 T1과 상기 a1은 양수일 수 있다.
따라서 본 발명의 제1 실시예에 따른 기본단위체(110)는 상기 차이값(AU2-AL2)이 추가 기준 설정값 내에 위치하면 정상품으로 판정하고, 상기 차이값(AU2-AL2)이 추가 기준 설정값 외에 위치하면 불량품으로 판정하며, 이에 따라 기본단위체(110)의 불량여부를 보다 정확히 판정할 수 있다.
이하, 본 발명의 제1 실시예에 따른 기본단위체(110)의 제조방법을 보다 상세히 설명한다.
[본 발명의 제1 실시예에 따른 기본단위체 제조방법]
본 발명의 제1 실시예에 따른 기본단위체 제조방법은 도 2 및 도 3에 도시되어 있는 것과 같이, (a) 기본단위체(110)를 제조하는 단계, (b) 제조된 기본단위체(110)에 포함된 제2 전극을 기준으로 제1 전극들의 격차가 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하는지 검사하는 단계, (c) 극간 격차가 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하면 분리막을 기준으로 제1 전극들의 거리 차이값인 절대값이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지 검사하는 단계, 및 (d) 상기 (c) 단계를 통과한 기본단위체를 정상품으로 판정하는 단계를 포함한다.
상기 (a) 단계는 도 1을 참조하면, 제1 전극(111), 분리막(112), 제2 전극(113), 분리막(112) 및 제1 전극(111)을 상하방향을 따라 순차적으로 배열된 기본단위체(110)를 제조한다.
상기 (b) 단계는 도 2를 참조하면, 상기 (a) 단계의 기본단위체(110)에서 상기 제2 전극(113)의 전극탭(113a) 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극(111) 일면까지 거리(AU1)와, 상기 제2 전극(113)의 전극탭(113a) 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극(111) 일면까지 거리(AL1)가 각각 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하는지 검사한다.
예를 들면, 상기 (b) 단계는 중앙에 배치된 상기 제2 전극(113)의 제2 전극탭(113a) 일면(도 2에서 보았을 때 전극탭의 좌측면)으로부터 상기 최상단에 배치된 제1 전극(111) 일면(도 2에서 보았을 때 최상단 제1 전극의 좌측면)까지 거리(AU1)와, 상기 제2 전극(113)의 제2 전극탭(113a) 일면(도 2에서 보았을 때 전극탭의 좌측면)으로부터 상기 최하단에 배치된 제1 전극(111) 일면(도 2에서 보았을 때 최하단 제1 전극의 좌측면)까지 거리(AL1)가 각각 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하는지 1차로 측정한다.
여기서 상기 T1과 상기±a1은 양수일 수 있다.
따라서 상기 (b) 단계는 상기 AU1와 상기 AL1가 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하는지 1차로 검사하여 기본단위체(110)의 불량여부를 1차로 판정한다.
상기 (c) 단계는 상기 (b) 단계를 통과한 기본단위체(110)에서 상기 분리막(112)의 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극(111) 일면까지의 거리(AU2)와, 상기 분리막(112)의 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극(111) 일면까지 거리(AL2)의 차이값(AU2-AL2)의 절대값이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지 검사한다.
예를 들면, 상기 (c) 단계는 상기 AU1의 거리와 상기 AL1의 거리가 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하면, 상기 분리막(112)의 일면(도 2에서 보았을 때 분리막의 좌측면)으로부터 최상단에 배치된 제1 전극(111) 일면(도 2에서 보았을 때 최상단 제1 전극의 좌측면)까지의 거리(AU2)와, 상기 분리막(112)의 일면으로부터 최하단에 배치된 제1 전극(111) 일면(도 2에서 보았을 때 최하단 제1 전극의 좌측면)까지 거리(AL2)의 차이값(AU2-AL2)이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지 2차로 측정한다.
상기 (d) 단계는 상기 (c) 단계를 통과한 기본단위체(110)를 정상품으로 판정한다. 즉, 상기 (d) 단계는 상기 AU1와 상기 AL1가 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하고, 상기 AU2와 상기 AL2의 차이값(AU2-AL2)이 추가 기준 설정값 내에 위치하면 기본단위체(110)를 정상품으로 판정한다.
여기서 상기 제1 전극(111)은 양극이고, 상기 제2 전극(113)은 음극이며, 상기 제2 전극(113)은 상기 제1 전극(111) 보다 큰 면적을 가진다. 그리고 상기 T1과 상기 a1은 양수일 수 있다.
따라서 본 발명의 제1 실시예에 따른 기본단위체(110)는 2차에 걸쳐서 전극간 오버행을 측정하는 것에 특징을 가지며, 이와 같은 특징으로 인해 불량여부를 보다 정확히 판정할 수 있다. 특히 상기 상기 (c) 단계가 포함되면서 상기 (d)의 기준 설정값인 T1±a1 범위값을 크게 확장할 수 있으며, 이에 따라 기본단위체(110)의 수율을 크게 높일 수 있다.
한편, 상기 추가 기준 설정값은 0.4mm 이하로 형성될 수 있다. 즉, 상기 추가 기준 설정값은 0.4mm 이상일 경우 전극간 격차가 0.4mm 이상이 발생함에 따라 불량률이 증가될 수 있으며, 이에 따라 상기 추가 기준 설정값은 0.4mm 이하로 형성하여 전극간 격차를 최소화하고, 이에 따라 불량률을 크게 줄일 수 있다.
따라서 본 발명의 제1 실시예에 따른 기본단위체 제조방법은 제조된 기본단위체의 불량여부를 정확하게 판정할 수 있다.
이하, 본 발명의 다른 실시예를 설명함에 있어 전술한 실시예와 동일한 구성에 대해서는 동일한 구성부호를 사용하며, 중복되는 설명은 생략한다.
[본 발명의 제2 실시예에 따른 기본단위체 제조방법]
본 발명의 제2 실시예에 따른 기본단위체 제조방법은 도 4에 도시되어 있는 것과 같이, (a)제1 전극, 분리막, 제2 전극, 분리막 및 제1 전극이 순차적으로 배열된 기본단위체를 제조하는 단계, (b) 상기 (a) 단계를 통과한 기본단위체에서 상기 분리막의 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극 일면까지의 거리(AU2)와, 상기 분리막의 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AL2)가 각각 기준 설정값인 T2±a2 범위값 내에 위치하는지 검사하는 단계, (c) 상기 (b) 단계를 통과한 기본단위체에서 상기 거리(AU2)와, 상기 거리(AL2)의 차이값(AU2-AL2)의 절대값이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지 검사하는 단계, 및 (d) 상기 (c) 단계를 통과한 기본단위체를 정상품으로 판정하는 단계를 포함한다.
상기 (a) 단계는 제1 전극(111), 분리막(112), 제2 전극(113), 분리막(112) 및 제1 전극(111)을 상하방향을 따라 순차적으로 배열된 기본단위체(110')를 제조한다.
상기 (b) 단계는 상기 분리막(112)의 일면(도 4에서 보았을 때 분리막의 좌측면)으로부터 최상단에 배치된 제1 전극(111) 일면(도 4에서 보았을 때 최상단 제1 전극의 좌측면)까지의 거리(AU2)와, 상기 분리막(112)의 일면으로부터 최하단에 배치된 제1 전극(111) 일면(도 4에서 보았을 때 최하단 제1 전극의 좌측면)까지 거리(AL2)가 각각 기준 설정값인 T2±a2 범위값 내에 위치하는지 검사한다.
상기 (c) 단계는 상기 (b) 단계를 통과한 기본단위체에서 거리(AU2)와, 상기 거리(AL2)의 차이값(AU2-AL2)의 절대값이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지 검사한다.
여기서 상기 추가 기준 설정값은 0.4mm 이하로 형성될 수 있다. 즉, 상기 추가 기준 설정값은 0.4mm 이상일 경우 전극간 격차가 0.4mm 이상이 발생함에 따라 불량률이 증가될 수 있으며, 이에 따라 상기 추가 기준 설정값은 0.4mm 이하로 형성하여 전극간 격차를 최소화하고, 이에 따라 불량률을 크게 줄일 수 있다.
상기 (d) 단계는 상기 (c) 단계를 통과한 기본단위체(110')를 정상품으로 판정한다. 즉, 상기 (d) 단계는 상기 AU2와 상기 AL2가 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하고, 상기 AU2와 상기 AL2의 차이값(AU2-AL2)이 추가 기준 설정값 내에 위치하면 기본단위체(110')를 정상품으로 판정한다.
따라서 본 발명의 제2 실시예에 따른 기본단위체 제조방법은 상기 분리막(112)의 일면에서 하나의 제1 전극(111) 일면까지 거리(AU2)와, 상기 분리막(112)의 일면에서 다른 하나의 제1 전극(111) 일면까지 거리(AL2)가 기준 설정값인 T2±a2 범위값 내에 위치하는지 또는 거리(AU2)와, 상기 거리(AL2)의 차이값(AU2-AL2)의 절대값이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지를 검사하여 기본단위체(110')가 정삼품인지 불량품인지 정확히 검사할 수 있다.
[본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체 제조방법]
본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체 제조방법은 도 5 및 도 6에 도시되어 있는 것과 같이, (A) 최외각에 제1 전극이 배열된 제1 기본단위체(110)를 제조하는 단계, (B) 최외각에 제2 전극이 배열된 제2 기본단위체(120)를 제조하는 단계, 및 (C) 상기 제1 기본단위체(110)와 상기 제2 기본단위체(120) 사이에 분리시트(130)를 개재하여 전극조립체(100)를 완성하는 단계를 포함한다.
상기 (A) 단계는 도 7에 도시되어 있는 것과 같이, (a)제1 전극(111), 분리막(112), 제2 전극(113), 분리막(112) 및 제1 전극(111)이 순차적으로 배열된 제1 기본단위체(110A)를 제조하는 단계, (b) 상기 (a) 단계의 제1 기본단위체(110A)에서 상기 제2 전극(113)의 전극탭(113a) 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극(111) 일면까지 거리(AU1)와, 상기 제2 전극(113)의 전극탭(113a) 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극(111) 일면까지 거리(AL1)가 각각 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하는지 검사하는 단계, (c) 상기 (b) 단계를 통과한 제1 기본단위체(110A)에서 상기 분리막(112)의 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극(111) 일면까지의 거리(AU2)와, 상기 분리막(112)의 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극(111) 일면까지 거리(AL2) 차이값(AU2-AL2)의 절대값이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지 검사하는 단계, 및 (d) 상기 (c) 단계를 통과한 제1 기본단위체(110A)를 정상품으로 판정하는 단계를 포함한다.
여기서 상기 제1 기본단위체(110A)는 제1 실시예에서 설명한 기본단위체(110)와 동일한 구성과 방법을 가지며, 이에 따라 중복되는 설명은 생략한다.
즉, 상기 (A) 단계는 상기 AU1와 상기 AL1가 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하고, 상기 AU2와 상기 AL2의 차이값(AU2-AL2)이 추가 기준 설정값 내에 위치하면 제1 기본단위체(110A)를 정상품으로 판정한다.
상기 (B) 단계는 도 8에 도시되어 있는 것과 같이, (a-1)제2 전극(113), 분리막(112), 제1 전극(111), 분리막(112) 및 제2 전극(113)이 순차적으로 배열된 제2 기본단위체(110B)를 제조하는 단계, (b-1) 상기 (a-1) 단계의 제2 기본단위체(110B)에서 상기 제1 전극(111)의 전극탭(111a) 일면으로부터 상기 하나의 제2 전극(113) 일면까지 거리(AU1)와, 상기 제1 전극(111)의 전극탭(111a) 일면으로부터 상기 다른 하나의 제2 전극(113) 일면까지 거리(AL1)가 각각 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하는지 검사하는 단계, (c-1) 상기 (b-1) 단계를 통과한 제2 기본단위체(110B)에서 상기 분리막(112)의 일면으로부터 상기 하나의 제2 전극(113) 일면까지의 거리(AU2)와, 상기 분리막(112)의 일면으로부터 상기 다른 하나의 제2 전극(113) 일면까지 거리(AL2)의 차이값(AU2-AL2)의 절대값이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지 검사하는 단계, 및 (d-1) 상기 (c-1) 단계를 통과한 제2 기본단위체(110B)를 정상품으로 판정한다.
즉, 상기 (B) 단계는 상기 AU1와 상기 AL1가 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하고, 상기 AU2와 상기 AL2의 차이값(AU2-AL2)이 추가 기준 설정값 내에 위치하면 제2 기본단위체(110B)를 정상품으로 판정한다.
따라서 본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체 제조방법은 정상품으로 판정된 제1 및 제2 기본단위체(110A)(110B)와, 그들 사이에 개재되는 분리시트(130)를 포함하여 전극조립체(100)를 제조함에 따라 전극조립체(100)의 수율을 크게 증대시킬 수 있다.
본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 다양한 실시 형태가 가능하다.
100: 전극조립체
110: 기본단위체
111: 제1 전극
112: 분리막
113: 제2 전극
110: 기본단위체
111: 제1 전극
112: 분리막
113: 제2 전극
Claims (12)
- (a)제1 전극, 분리막, 제2 전극, 분리막 및 제1 전극이 순차적으로 배열된 기본단위체를 제조하는 단계;
(b) 상기 (a) 단계의 기본단위체에서 상기 제2 전극의 전극탭 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AU1)와, 상기 제2 전극의 전극탭 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AL1)가 각각 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하는지 검사하는 단계;
(c) 상기 (b) 단계를 통과한 기본단위체에서 상기 분리막의 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극 일면까지의 거리(AU2)와, 상기 분리막의 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AL2)의 차이값(AU2-AL2)의 절대값이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지 검사하는 단계; 및
(d) 상기 (c) 단계를 통과한 기본단위체를 정상품으로 판정하는 단계를 포함하는 기본단위체 제조방법. - 청구항 1에 있어서,
상기 T1과 상기 a1은 양수인 기본단위체 제조방법. - 청구항 1에 있어서,
상기 기준 설정값인 T1±a1 범위값은 상기 추가 기준 설정값 보다 큰 값을 가지는 기본단위체 제조방법. - 청구항 1에 있어서,
상기 추가 기준 설정값은 0.4mm 이하로 형성되는 기본단위체 제조방법. - (a)제1 전극, 분리막, 제2 전극, 분리막 및 제1 전극이 순차적으로 배열된 기본단위체를 제조하는 단계;
(b) 상기 (a) 단계를 통과한 기본단위체에서 상기 분리막의 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극 일면까지의 거리(AU2)와, 상기 분리막의 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AL2)가 각각 기준 설정값인 T2±a2 범위값 내에 위치하는 지 검사하는 단계;
(c) 상기 (b) 단계를 통과한 기본단위체에서 상기 거리(AU2)와, 상기 거리(AL2)의 차이값(AU2-AL2)의 절대값이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지 검사하는 단계;
(d) 상기 (c) 단계를 통과한 기본단위체를 정상품으로 판정하는 단계를 포함하는 기본단위체 제조방법. - 청구항 5에 있어서,
상기 T2과 상기 a2는 양수인 기본단위체 제조방법. - 청구항 5에 있어서,
상기 기준 설정값인 T2±a2 범위값은 상기 추가 기준 설정값 보다 큰 값을 가지는 기본단위체 제조방법. - 청구항 5에 있어서,
상기 추가 기준 설정값은 0.4mm 이하로 형성되는 기본단위체 제조방법. - (A) 최외각에 제1 전극이 배열된 제1 기본단위체를 제조하는 단계;
(B) 최외각에 제2 전극이 배열된 제2 기본단위체를 제조하는 단계; 및
(C) 상기 제1 기본단위체와 상기 제2 기본단위체 사이에 분리시트를 개재하는 단계를 포함하며,
상기 (A) 단계는,
(a)제1 전극, 분리막, 제2 전극, 분리막 및 제1 전극이 순차적으로 배열된 제1 기본단위체를 제조하는 단계;
(b) 상기 (a) 단계의 제1 기본단위체에서 상기 제2 전극의 전극탭 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AU1)와, 상기 제2 전극의 전극탭 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AL1)가 각각 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하는지 검사하는 단계;
(c) 상기 (b) 단계를 통과한 제1 기본단위체에서 상기 분리막의 일면으로부터 상기 하나의 제1 전극 일면까지의 거리(AU2)와, 상기 분리막의 일면으로부터 상기 다른 하나의 제1 전극 일면까지 거리(AL2)의 차이값(AU2-AL2)의 절대값이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지 검사하는 단계; 및
(d) 상기 (c) 단계를 통과한 제1 기본단위체를 정상품으로 판정하는 단계를 포함하는 전극조립체 제조방법. - 청구항 9에 있어서,
상기 (B) 단계는,
(a-1)제2 전극, 분리막, 제1 전극, 분리막 및 제2 전극이 순차적으로 배열된 제2 기본단위체를 제조하는 단계;
(b-1) 상기 (a-1) 단계의 제2 기본단위체에서 상기 제1 전극의 전극탭 일면으로부터 상기 하나의 제2 전극 일면까지 거리(AU1)와, 상기 제1 전극의 전극탭 일면으로부터 상기 다른 하나의 제2 전극 일면까지 거리(AL1)가 각각 기준 설정값인 T1±a1 범위값 내에 위치하는지 검사하는 단계;
(c-1) 상기 (b-1) 단계를 통과한 제2 기본단위체에서 상기 분리막의 일면으로부터 상기 하나의 제2 전극 일면까지의 거리(AU2)와, 상기 분리막의 일면으로부터 상기 다른 하나의 제2 전극 일면까지 거리(AL2)의 차이값(AU2-AL2)의 절대값이 추가 기준 설정값 내에 위치하는지 검사하는 단계; 및
(d-1) 상기 (c-1) 단계를 통과한 제2 기본단위체를 정상품으로 판정하는 단계를 포함하는 전극조립체 제조방법. - 청구항 10에 있어서,
상기 T1과 상기 a1은 양수인 전극조립체 제조방법. - 청구항 10에 있어서,
상기 기준 설정값인 T1±a1 범위값은 상기 추가 기준 설정값 보다 큰 값을 가지는 전극조립체 제조방법.
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