KR102208811B1 - 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 백라이트 유닛의 불량소자만을 정확하게 검출하여, 보다 효율적인 수리가 가능하도록 하는 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법에 관한 것으로서, 본 발명의 일 형태에 따르면, 복수개의 엘이디가 실장된 엘이디 기판을 스테이지에 반입하는 기판 반입단계, 반입된 엘이디 기판에 전력을 공급시켜 엘이디 기판 전체를 작동시키는 전체기판 작동단계, 전체가 작동된 엘이디 기판의 불량 작동 구역을 확인하는 불량작동구역 확인단계, 확인된 불량작동구역 내의 각 개별 엘이디를 프로브 유닛을 통해 직접 작동시키는 개별소자 작동단계, 상기 개별소자 작동단계를 통해 개별 엘이디 각각의 불량 작동여부를 판단하는 불량소자 검출단계, 상기 불량소자 검출단계에서 불량이라 판단된 엘이디의 위치를 획득 및 전송하는 불량소자 위치획득단계를 포함하는 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법이 제공된다.
Description
본 발명은 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 백라이트 유닛의 불량소자만을 정확하게 검출하여, 보다 효율적인 수리가 가능하도록 하는 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법에 관한 것이다.
LCD 등의 평판 디스플레이 장치가 개발된 이후, 이의 사용이 늘고 있다. 예를 들어 핸드폰, 모니터, TV등에 평판 디스플레이 장치가 사용되고 있다.
이러한 평판 디스플레이 장치는 디스플레이 패널의 뒤쪽에 광원의 역할을 하는 백라이트 유닛이 구비된다.
이러한 백라이트 유닛은 과거에는 냉음극관(CCFL)이 측면에 배치되고, 상기 냉음극관은 액정 패널의 일측 테두리 부근에 배치되며, 상기 냉음극관에서 방출되는 빛을 평판 디스플레이 패널에 고르게 분산 및 확산 시키는 도광판이 구비된다.
한편, 평판 디스플레이 장치의 박형화가 진행되면서, 최근에는 상기 냉음극관 대신 두께와 발열 및 휘도, 수명 및 무게 등에서 유리한 엘이디 소자가 채택되고 있다.
이러한 엘이디 또한 디스플레이 패널이 대형화 됨에 따라 도광판을 통한 방식으로는 화면 균일도 기준을 충족하기에 불충분 하여, 복수개의 엘이디를 디스플레이 패널의 바로 뒤쪽에 촘촘히 배치하는 직하형 방식의 사용이 점차 증대되고 있다.
이러한 직하형 방식의 백라이트 유닛은 디스플레이 패널의 후측에 소정 면적의 엘이디 기판이 배치되고, 상기 엘이디 기판에 복수개의 엘이디소자가 촘촘히 배치된 형태이다.
그런데, 도 1에 도시된 바와 같이, 기판의 회로패턴 배치에 따라 상기 기판에 배치된 복수개의 엘이디 소자 중 하나의 엘이디 소자에 불량이 발생되어도, 불량 엘이디 소자의 주변의 구역에 불량 작동이 발생될 수 있다. 이러한 불량작동은 점등 불량 및 휘도 불량등으로 나타날 수 있다.
그런데, 이러한 불량 작동 에이디 구역에 해당하는 엘이디 소자 중에 어느 엘이디 소자가 진짜로 불량 엘이디 소자인지 파악하기 곤란하여 불량 작동 구역의 엘이디 소자 전체를 교체하였는데, 이러한 방법은 교체되는 엘이디 소자 중에 양품의 엘이디 소자가 대다수여서 소자의 낭비가 초래되며, 엘이디 소자 교체 수가 많아 수리시간이 장시간 소요되며 비용이 증가하게 되는 문제점이 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 엘이디 기판 중 불량 작동되는 구역의 엘이디 소자 중에 진짜로 불량인 엘이디 소자를 파악할 수 있는 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법을 제공하는 것이 과제이다.
본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않는 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기한 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 일 형태에 따르면, 복수개의 엘이디가 실장된 엘이디 기판을 스테이지에 반입하는 기판 반입단계, 반입된 엘이디 기판에 전력을 공급시켜 엘이디 기판 전체를 작동시키는 전체기판 작동단계, 전체가 작동된 엘이디 기판의 불량 작동 구역을 확인하는 불량작동구역 확인단계, 확인된 불량작동구역 내의 각 개별 엘이디를 프로브 유닛을 통해 직접 작동시키는 개별소자 작동단계, 상기 개별소자 작동단계를 통해 개별 엘이디 각각의 불량 작동여부를 판단하는 불량소자 검출단계, 상기 불량소자 검출단계에서 불량이라 판단된 엘이디의 위치를 획득 및 전송하는 불량소자 위치획득단계를 포함하는 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법이 제공된다.
상기 스테이지에 반입된 기판의 아이디를 확인하는 아이디 확인단계 및 상기 전체기판 작동단계에서 작동된 엘이디의 기준위치를 확인하는 정렬단계를 더 포함할 수 있다.
상기 불량작동구역 확인단계는, 상기 전체 기판을 영역별로 분할하는 영역 분할단계, 비전부가 이동하면서 분할된 각 영역별로 불량작동 구역을 확인하는 영역별 불량구역 확인단계를 포함할 수 있다.
상기 영역별 불량구역 확인단계는, 엘이디가 점등되지 아니하거나 기준광도를 발광하지 못하는 구역을 불량구역이라 판단할 수 있다.
상기 불량소자 검출단계는, 상기 개별 엘이디의 점등 여부로서 불량 여부를 판단하는 단계일 수 있다.
상기 불량소자 검출단계는, 상기 개별 엘이디의 기준광도충족여부로서 불량 여부를 판단할 수 있다.
상기 제어부는, 상기 개별 엘이디의 양 전극의 기준전위차 만족여부로서 불량 여부를 판단할 수 있다.
본 발명의 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비에 따르면 엘이디 기판의 불량작동구역내의 불량소자를 정확하 판별할 수 있으므로, 엘이디 소자의 교체 수가 적어져 엘이디 기판의 재작업 시간과 비용이 줄어들어 결과적으로 비용이 줄어는 효과가 있다.
본 발명의 효과들은 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 청구범위의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
아래에서 설명하는 본 출원의 바람직한 실시예의 상세한 설명뿐만 아니라 위에서 설명한 요약은 첨부된 도면과 관련해서 읽을 때에 더 잘 이해될 수 있을 것이다. 본 발명을 예시하기 위한 목적으로 도면에는 바람직한 실시예들이 도시되어 있다. 그러나, 본 출원은 도시된 정확한 배치와 수단에 한정되는 것이 아님을 이해해야 한다.
도 1은 불량작동구역이 존재하는 엘이디 기판을 도시한 도면;
도 2는 본 발명의 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비를 도시한 사시도;
도 3은 엘이디 백라이트 유닛의 엘이디 기판을 도시한 도면;
도 4는 도 2의 프로브 유닛의 제1 실시예를 도시한 도면;
도 5는 도 2의 프로브 유닛의 제2 실시예를 도시한 도면;
도 6은 도 2의 프로브 유닛의 제3 실시예를 도시한 도면;
도 7은 도 2의 프로브 유닛의 제4 실시예를 도시한 도면;
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법을 도시한 순서도;
도 9는 불량구역이 존재하는 엘이디 기판의 영역이 분할된 모습을 도시한 도면;
도 10 은 불량 구역에서 개별 불량소자를 확인하는 모습을 도시한 도면이다.
도 1은 불량작동구역이 존재하는 엘이디 기판을 도시한 도면;
도 2는 본 발명의 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비를 도시한 사시도;
도 3은 엘이디 백라이트 유닛의 엘이디 기판을 도시한 도면;
도 4는 도 2의 프로브 유닛의 제1 실시예를 도시한 도면;
도 5는 도 2의 프로브 유닛의 제2 실시예를 도시한 도면;
도 6은 도 2의 프로브 유닛의 제3 실시예를 도시한 도면;
도 7은 도 2의 프로브 유닛의 제4 실시예를 도시한 도면;
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법을 도시한 순서도;
도 9는 불량구역이 존재하는 엘이디 기판의 영역이 분할된 모습을 도시한 도면;
도 10 은 불량 구역에서 개별 불량소자를 확인하는 모습을 도시한 도면이다.
이하 본 발명의 목적이 구체적으로 실현될 수 있는 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다. 본 실시예를 설명함에 있어서, 동일 구성에 대해서는 동일 명칭 및 동일 부호가 사용되며 이에 따른 부가적인 설명은 생략하기로 한다.
본 발명에 따른 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법을 설명하기에 앞서, 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비(100)의 일 실시예에 대해서 설명하기로 한다.
본 실시예에 따른 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비(100)는 도 2에 도시된 바와 같이, 프레임(110), 스테이지(122)부(120), 파워 공급부(140), 얼라인부(160), 비전부(170), 프로브 유닛(180) 및 제어부(196)를 포함할 수 있다.
상기 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비(100)를 설명하기에 앞서, 백라이트 유닛의 엘이디 기판(10)에 대해서 설명하기로 한다.
상기 엘이디 기판(10)은 도 3에 도시된 바와 같이, 평판의 기판(12)에 복수개의 엘이디 소자(14)가 일정간격으로 실장된다.
이 때, 상기 기판(12)은 그 형태에 제한은 없으나, 일반적으로 디스플레이 패널이 사각 형태이므로, 상기 기판(12) 또한 사각 형태로 형성될 수 있다. 물론, 상기 기판(12)은 사각형태 이외에도 삼각이나 원형, 심지어는 물결형태 등 다양한 형태로 형성될 수 있으며, 휘어짐이 자유롭게 유연한 재질로 형성될 수 도 있을 것이다.
상기 기판(12)의 테두리에는 전력 및 신호를 인가받기 위한 단자부(16)가 형성된다. 상기 단자부(16)를 통해 상기 기판(12)에 실장된 전체 엘이디 소자(14)에 전력 및 신호가 인가되어 점등될 수 있다.
상기 기판(12)에 실장되는 엘이디 소자(14)는 일정간격 이격되어 행열을 맞추어 배치되는데, 상기 각 엘이디 소자(14)의 양 측면에는 해당 각 엘이디에 전력 및 신호를 인가할 수 있는 개별전극(18)이 형성될 수 있다.
즉, 상기 기판(12)에 구비된 단자부(16)를 통해서는 기판(12) 전체의 엘이디 소자(14)에 전력 및 신호가 인가되는 것이며, 상기 개별전극(18)을 통해서는 해당 엘이디 소자(14) 하나에 전력 및 신호가 인가될 수 있다.
한편, 상기 프레임(110)은 설치면에 놓여지며, 다른 부품들이 놓여지며 하중을 지탱하는 뼈대를 이룰 수 있다.
상기 스테이지(122)부(120)는 상기 프레임(110)에 설치되며, 반입되는 엘이디 기판(10)이 놓여지는 부분이다.
한편, 상기 스테이지(122)부(120)는, 반입된 엘이디 기판(10)이 안착되며 상기 엘이디 기판(10)을 평평한 상태로 지지하는 스테이지(122) 및 상기 스테이지(122)에 반입된 기판(12)을 평평한 상태로 고정시키는 척(124)이 구비될 수 있다.
이 때, 상기 척(124)은 여러가지 형태와 방식으로 구비될 수 있으나, 본 실시예에서는 상기 스테이지(122)의 표면에 형성된 복수개의 흡입공을 포함하여 이루어져, 상기 엘이디 기판(10)을 진공으로 흡입 고정하도록 구비되는 것일 수 있다.
한편, 상기 스테이지 이동부(126)는 상기 스테이지(122)를 수평이동하여 상기 스테이지(122)를 기판(12)이 반입되는 반입위치(132), 검사되는 검사위치(134) 및 검사가 완료된 기판(12)이 반출되는 반출위치(136)로 이동시킬 수 있다.
상기 스테이지(122) 이동부는 상기 스테이지(122)을 평면상에서 일측과 타측방향으로 이동시키기 위한 레일을 포함하며, 상기 스테이지(122)를 상기 레일상에서 이동시키기 위한 모터 등을 포함할 수 있다.
한편, 상기 파워 공급부(140)는 상기 스테이지(122)에 반입된 기판(12)의 단자부(16)와 접촉되어 전력 또는 신호를 인가하는 전력공급단자(142)를 포함할 수 있다.
상기 전력공급단자(142)는 상하 또는 수평이동이 가능하게 구비될 수 있다. 상기 전력공급단자(142)를 통해 전력 및 신호가 공급된 엘이디 기판(10)은 상기 기판(12)의 실장된 엘이디 소자(14) 전체에 전력 및 신호가 인가되어 점등될 수 있다. 그리고, 상기 엘이디 기판(10)에 실장된 개별 엘이디 소자(14) 중 불량 엘이디 소자 또는 불량 엘이디 소자 인근의 정상적인 엘이디 소자는 점등이 안되거나 또는 휘도가 낮은 등의 작동불량이 발생될 수 있다. 이렇게 작동 불량이 발생한 구역을 불량작동구역(20)이라 칭하기로 한다.
즉, 상기 불량작동구역(20)내에는 실제로 불량인 엘이디 소자가 있을 수도 있으며, 또는 엘이디 소자 자체는 정상이나 주변의 불량 엘이디 소자에 의해 점등이 안되는 정상 엘이디 소자가 있을 수 있다.
또한, ID 리더(150)가 구비될 수 있다. 상기 엘이디 기판(10)에는 기판(12)마다 ID가 부여될 수 있는데, 이러한 ID에는 엘이디 기판(10)의 정보가 입력되어 있을 수 있다. 즉, 기판(12)의 크기 내지는 배치된 엘이디 소자(14)의 종류, 작동 전압 및 기준광도, 엘이디 소자(14)의 배치 개수 및 배치 간격 등의 정보가 담겨있을 수 있다. 이러한 ID는 바코드 또는 QR 코드 형태 또는 RFID의 형태로 제공될 수 있으며, 상기 ID리더(150)기 또한 상기한 형태의 정보를 취득할 수 있는 형태로 제공될 수 있다.
상기 얼라인부(160)는 상기 스테이지(122)에 안착되어 고정된 엘이디 기판(10)의 정확한 안착위치를 감지하는 구성요소로서, 점등된 상태의 엘이디 기판(10)의 특정 엘이디 소자(14)의 위치를 파악함으로써 상기 엘이디 기판(10)의 기준위치를 설정할 수 있다. 이와 같은 얼라인부(160)는 카메라를 포함할 수 있다.
예를 들어 상기 얼라인부(160)는 점등된 엘이디 기판(10)의 최외곽 모서리에 위치된 엘이디 소자(14)를 인식하여 그 위치를 파악함으로써 상기 엘이디 기판(10)의 정확한 안착위치를 파악할 수 있다.
상기 얼라인부(160)에서 획득한 엘이디 기판(10)의 정확한 위치 및 상기 ID리더(150)를 통해 획득한 엘이디 기판(10)의 정보를 통해 어느 위치에 엘이디 소자(14)가 배열되어 있는지에 대한 정보도 파악할 수 있다.
상기 비전부(170)는 카메라 등으로 상기 점등된 상태의 엘이디 기판(10)을 촬영하여, 점등이 안되거나 점멸 혹은 밝기가 낮는 등 작동이 불량인 구역의 위치를 파악할 수 있다.
그리고, 상기 프로브 유닛(180)은 상기 작동이 불량인 구역의 각 개별 엘이디 소자(14)의 개별전극(18)에 접촉하여 각 개별전극(18)을 통하여 전력과 신호를 인가함으로써 각 개별 엘이디 소자(14)를 독립작동 시킴으로써 작동의 불량 여부를 판단할 수 있다.
한편, 상기 얼라인부(160)와 비전부(170) 및 프로브 유닛(180)은 평면상에서 이동이 가능하도록 X축 레일(192)과 Y축 레일(194)이 구비될 수 있다. 물론, 상기 얼라인부(160), 비전부(170) 및 프로브 유닛(180)들이 상하운동 가능하도록 각각 별개로 신축되거나 또는 상하이동되도록 구비될 수도 있다.
그리고, 제어부(196)가 구비될 수 있다. 상기 제어부(196)는 전술한 상기 파워 공급부(140)와 얼라인부(160), ID리더(150), 비전부(170) 및 프로브 유닛(180)을 제어하며, 상기 파워 공급부(140)와 얼라인부(160), ID 리더(150), 비전부(170) 및 프로브 유닛(180)을 통해 획득되는 정보로서 엘이디 소자(14)의 불량 유무를 판단할 수 있다. 이러한 제어부(196)는 상기 프레임(110)에 구비될 수도 있으며, 또는 별도의 위치에 구비된 PC 등의 형태로 구비될 수 있다.
즉, 상기 파워 공급부(140)를 통해 상기 엘이디 기판(10) 전체에 전력 및 신호가 인가되어 엘이디 기판(10)이 작동되며, 상기 비전부(170)가 평면이동되면서 상기 엘이디 기판(10) 중에 불량작동구역(20)의 위치를 파악하고, 상기 프로브 유닛(180)이 상기 각 개별 엘이디를 작동시켜 불량 엘이디 소자(14)를 판별하는 것이다.
이 때, 상기 제어부(196)는 상기 개별 엘이디 소자(14)의 점등여부로서 불량여부를 판단할 수 있다.
상기 프로브 유닛(180)이 상기 각 개별전극(18)을 통해 개별 엘이디 소자(14)에게 전력 및 신호를 인가하며, 그에 의해 해당 엘이디 소자(14)가 정상적으로 점등하는지의 여부를 판단하는 것이다.
또는 상기 제어부(196)는 상기 개별 엘이디 소자(14)의 기준광도충족여부로서 불량 여부를 판단할 수 있다.
상기 프로브 유닛(180)이 상기 각 개별전극(18)을 통해 개별 엘이디 소자(14)에게 전력 및 신호를 인가하며, 그에 의해 해당 엘이디 소자(14)에서 방출되는 광도가 기준에 부합하는지의 여부를 판단하는 것이다.
또는 상기 제어부(196)는 상기 개별 엘이디 소자(14)의 양 개별전극(18) 간의 기준전위차를 만족하는지의 여부로서 불량 여부를 판단할 수 있다.
상기 프로브 유닛(180)이 상기 각 개별전극(18)을 통해 개별 엘이디 소자(14)에게 전력 및 신호를 인가하며, 그에 의해 해당 엘이디 소자(14)의 개별전극(18) 양 단에서 측정되는 전위차가 기준전위차를 만족하는지의 여부로서 불량여부를 판단할 수 있다.
그리고, 상기 제어부(196)에서는 상기 프로브 유닛(180)을 통해 검출한 불량 엘이디 소자(14)의 위치를 좌표(Xi, Yi) 등의 형식으로 기록하여 저장할 수 있으며, 기록된 불량 엘이디 소자(14)의 위치를 외부로 송신하여 추후 엘이디 기판(10)의 보수 작업에 활용토록 할 수 있다.
이하에서는 상기 프로브 유닛(180)의 여러가지 실시예를 소개한다.
상기 프로브 유닛(180)의 제1실시예는 도 4에 도시된 바와 같이, 포고핀(182) 및 수광소자(188)를 포함할 수 있다.
즉, 상기 프로브 유닛(180)은 상기 개별 엘이디 소자(14)의 개별전극(18)에 각각 접촉되어 전력 및 신호를 인가하는 적어도 한 쌍의 포고핀(182)을 포함할 수 있다. 그리고, 상기 포고핀(182)은 프로브 기판(184)에 설치될 수 있다.
이 때, 상기 프로브 기판(184)의 상기 엘이디 소자(14)의 상측은 개구(186)되거나 또는 렌즈 등의 투명한 소재가 구비되고, 그 직상부에 수광소자(188)가 구비될 수 있다.
따라서, 상기 수광소자(188)를 통해 해당 개별 엘이디 소자(14)가 정상적으로 점등되는지 여부를 판단하거나, 해당 개별 엘이디 소자(14)의 기준광도충족여부를 판단할 수 있다.
여기서, 상기 포고핀(182) 및 수광소자(188)는 상기 프로브 유닛(180)에 복수개가 구비되어 한 번에 복수개의 개별 엘이디 소자(14)의 점등을 검사할 수 있도록 구비될 수 있다.
상기 프로브 유닛(280)의 제2실시예는 도 5에 도시된 바와 같이, 포고핀(282) 및 광섬유(286)과 수광소자(288)를 포함할 수 있다.
전술한 제1실시예와 다르게, 본 실시예의 프로브 유닛(280)은 상기 수광소자(288)가 개별 엘이디 소자(14)의 직상부에 위치될 필요가 없으며, 임의의 장소에 위치될 수 있다. 그리고, 상기 수광소자(288)의 직상부에는 광섬유(286)의 일단이 구비되며, 상기 광섬유(286)가 상기 임의의 위치에 구비된 수광소자(188)까지 연장될 수 있다.
따라서, 상기 광섬유(286)를 통해 수광소자(188)까지 빛이 전달되며, 이를 통해 해당 개별 엘이디 소자(14)가 정상적으로 점등되는지 여부를 판단하거나, 해당 개별 엘이디 소자(14)의 기준광도충족여부를 판단할 수 있다.
상기 프로브 유닛(380)의 제3실시예는 도 6에 도시된 바와 같이, 포고핀(382) 및 전위차 측정부(388)를 포함할 수 있다.
즉, 상기 프로브 유닛(380)은 상기 개별 엘이디 소자(14)의 개별전극(18)에 각각 접촉되어 전력 및 신호를 인가하는 적어도 한 쌍의 포고핀(382)을 포함할 수 있다. 그리고, 상기 포고핀(382)은 프로브 기판(384)에 설치될 수 있다.
그리고, 상기 전위차 측정부(388)는 상기 포고핀(182)을 통해 양 개별전극(18)에서 측정되는 전위차를 측정할 수 있다.
즉, 상기 개별 엘이디 소자(14)가 정상작동한다면, 상기 해당 개별전극(18)에서 측정되는 전위차 또한 기준범위에 속할 것이고, 그렇지 않을 경우 불량이라 판단할 수 있다.
상기 프로브 유닛(480)의 제4실시예는 도 7에 도시된 바와 같이, 투명블록(484)과 포고핀(482) 및 카메라(488)를 포함할 수 있다.
상기 투명블록(484)은 유리 또는 투명폴리카보네이트 등 빛이 투과될 수 있는 투명한 재질로 형성되며, 상기 엘이디 소자(14)의 상측에 위치될 수 있다.
그리고, 상기 포고핀(482)은 상기 투명블록(484)의 하측에 구비되거나 또는 상기 투명블록(484)을 관통하여 설치될 수 있다.
또한, 상기 투명블록(484)의 상측에는 카메라(488)가 구비될 수 있다.
따라서, 상기 포고핀(482)에 의해 전달되는 전력 및 신호에 의해 점등되는 엘이디 소자(14)의 빛이 투명블록(484)을 통해 카메라를 향할 수 있다. 상기 카메라(488)는 복수개의 엘이디 소자(14)의 빛을 수광하도록 구비되거나 또는 한번에 하나의 엘이디 소자(14)의 빛을 수광하도록 구비될 수 있다.
또는 상기 카메라(488)는 상기 비전부(170)와는 별개의 것일 수도 있으며 또는 별도의 카메라(488)의 설치 없이 상기 비전부(170)가 상기 카메라의 역할을 수행할 수도 있다.
이하, 본 발명의 일 실시예에 따른 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비(100)의 제어방법을 설명하기로 한다.
본 실시예에 따른 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비(100)의 제어방법은 도 8에 도시된 바와 같이, 기판 반입단계(S110), 아이디 확인단계(S120), 전체기판 작동단계(S130), 정렬단계(S140), 불량작동구역 확인단계(S150), 개별소자 작동단계(S160), 불량소자 검출단계(S170) 및 불량소자 위치획득단계(S180)를 포함할 수 있다.
상기 기판 반입단계(S110)는, 전술한 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비(100)의 스테이지(122)에 엘이디 기판(10)을 반입하는 단계이다. 이 때, 상기 스테이지(122)는 반입위치(132)로 이동된 상태에서 상기 엘이디 기판(10)을 반입받으며, 이후, 검사위치(134)로 이동될 수 있다.
상기 엘이디 기판(10)이 반입된 후에는 척(124)이 작동하여 상기 엘이디 기판(10)을 흡착 고정할 수 있다.
상기 아이디 확인단계(S120)는, 상기 ID리더(150)를 통해 상기 스테이지(122)에 반입된 기판(12)의 아이디를 확인하는 단계이다.
상기 엘이디 기판(10)에는 기판(12)마다 ID가 부여될 수 있는데, 이러한 ID에는 엘이디 기판(10)의 정보가 입력되어 있을 수 있다. 즉, 기판(12)의 크기 내지는 배치된 엘이디 소자(14)의 종류, 작동 전압 및 기준 휘도, 엘이디 소자(14)의 배치 개수 및 배치 간격 등의 정보가 담겨있을 수 있다. 이러한 ID는 바코드 또는 QR 코드 형태 또는 RFID의 형태로 제공될 수 있으며, 상기 ID리더(150)기 또한 상기한 형태의 정보를 취득할 수 있는 형태로 제공될 수 있다.
상기 전체기판 작동단계(S130)는 상기 파워 공급부(140)의 전력공급단자(142)를 통해 반입된 엘이디 기판(10)에 전력 및 신호를 인가함으로써, 상기 엘이디 기판(10)에 실장된 전체 엘이디 소자(14)를 점등시킬 수 있다.
그리고, 상기 엘이디 기판(10)에 실장된 개별 엘이디 소자(14) 중 불량 엘이디 소자(14) 또는 불량 엘이디 소자(14) 인근의 정상적인 엘이디 소자(14)는 점등이 안되거나 또는 휘도가 낮은 등의 불량작동구역(20)이 발생될 수 있다.
즉, 상기 불량작동구역(20)내에는 실제로 불량인 엘이디 소자가 있을 수도 있으며, 또는 엘이디 소자 자체는 정상이나 주변의 불량 엘이디 소자에 의해 점등이 안되는 정상 엘이디 소자가 있을 수 있다.
상기 정렬단계(S140)는, 얼라인부(160)를 통해 상기 스테이지(122)에 안착되어 고정된 엘이디 기판(10)의 정확한 안착위치를 감지하는 단계이다. 즉, 상기 얼라인부(160)를 통해 점등된 상태의 엘이디 기판(10)의 특정 엘이디 소자(14)의 위치를 파악함으로써 상기 엘이디 기판(10)의 기준위치를 설정할 수 있다.
한편, 상기 불량작동구역 확인단계(S150)는, 점등된 전체 엘이디 기판(10) 중 불량작동구역(20)의 위치를 확인하는 단계이다. 상기 불량작동구역 확인단계(S150)는, 영역 분할단계(S152) 및 영역별 불량구역 확인단계(S154)를 포함할 수 있다.
상기 엘이디 기판(10)이 상기 비전부(170)의 촬영영역보다 큰 경우에는 상기 비전부(170)가 수평이동되면서 상기 엘이디 기판(10)을 촬영해야 할 수 있다.
이럴 경우, 도 9에 도시된 바와 같이, 상기 ID 확인단계에서 확인된 정보를 통해, 상기 엘이디 기판(10)의 전체를 상기 비전부(170)가 촬영할 수 있는 크기의 영역으로 분할해야하며, 상기 영역분할단계(S152)에서 이러한 과정이 수행될 수 있다.
도 9에서는 점등된 엘이디를 검은색 실선으로 표시하였고, 점등되지 아니한 엘이디는 별도 도시하지 아니하였다.
그리고, 상기 영역별 불량구역 확인단계(S154)는 상기 영역분할단계(S152)에서 분할된 영역으로 상기 비전부(170)가 이동되면서, 각 영역별로 점등된 엘이디 기판(10) 중에 불량작동구역(20)의 위치를 확인할 수 있다. 여기서, 불량작동구역(20)은 엘이디 소자(14)가 점등되지 아니하거나 도는 기준광도를 발휘하지 못하는 구역을 뜻할 수 있다.
상기 영역별 불량구역 확인단계(S154)에서 확인된 불량작동구역(20)의 위치는 제어부(196)로 송신될 수 있다.
상기 개별소자 작동단계(S160)는, 상기 영역별 불량구역 확인단계에서 확인된 불량작동구역으로 상기 프로브 유닛(180)이 이동되어, 불량작동구역(20) 내의 각 개별 엘이디 소자(14)에 직접 전력 및 신호를 인가하여 개별 엘이디 소자(14)를 점등작동 시키는 단계이다.
상기 불량소자 검출단계(S170)는, 상기 개별소자 작동단계(S160)를 통해 개별 엘이디 각각의 불량 작동여부를 판단하는 단계이다.
만약, 상기 프로브 유닛(180)에 의해 전력 및 신호를 인가 받은 개별 엘이디 소자(14)가 정상이라면, 도 10에 도시된 바와 같이 정상(14)적으로 점등될 수 있다.
또는, 상기 프로브 유닛(180)에 의해 전력 및 신호를 인가 받은 개별 엘이디 소자(14)가 불량이라면, 도 10에 도시된 바와 같이, 광도가 낮거나(13) 또는 점등이 되지 않을 수도(15) 있을 것이며, 이러한 엘이디 소자(14)를 불량소자(13, 15)라 검출할 수 있다.
이 때, 상기 제어부(196)는 상기 프로브 유닛(180)에 의해 전력 및 신호를 인가받은 엘이디 소자(14)의 점등 여부로서 불량 여부를 판단할 수 있다.
또는 상기 제어부(196)는 상기 프로브 유닛(180)에 의해 전력 및 신호를 인가받은 엘이디 소자(14)의 기준광도충족여부로서 불량여부를 판단할 수 있다.
또는, 상기 제어부(196)는 상기 프로브 유닛(180)에 의해 전력 및 신호를 인가받은 엘이디 소자(14)의 양 개별전극(18)의 기준전위차 만족 여부로서 불량 여부를 판단할 수 있다.
그리고, 상기 불량소자 위치획득단계(S180)는 상기 불량소자 검출단계(S170)에서 불량이라 검출된 엘이디 소자(13, 15)의 위치를 좌표 형식(X i , Y i )으로 획득하여 저장하거나 이를 타 장비로 전송할 수 있다.
그리고, 엘이디 기판(10)의 불량 엘이디 소자(14)를 교체할 수 있는 타 장비에서 획득된 엘이디 소자(14)의 위치정보로서, 불량 엘이디 소자(14)만을 선택하여 교체 및 수리할 수 있다.
이상과 같이 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 살펴보았으며, 앞서 설명된 실시예 이외에도 본 발명이 그 취지나 범주에서 벗어남이 없이 다른 특정 형태로 구체화 될 수 있다는 사실은 해당 기술에 통상의 지식을 가진 이들에게는 자명한 것이다. 그러므로, 상술된 실시예는 제한적인 것이 아니라 예시적인 것으로 여겨져야 하고, 이에 따라 본 발명은 상술한 설명에 한정되지 않고 첨부된 청구항의 범주 및 그 동등 범위 내에서 변경될 수도 있다.
10: 엘이디 기판 12: 기판
14: 엘이디 소자 16: 단자부
18: 개별전극 20: 불량작동구역
100: 엘이디 백라이트 테스트 유닛 110: 프레임
120: 스테이지부 122: 스테이지
124: 척 126: 스테이지 이동부
132: 반입위치 134: 검사위치
136: 반출위치 140: 파워 공급부
142: 전력공급단자 150: ID 리더
160: 얼라인부 170: 비전부
180: 프로브 유닛 182: 포고핀
184: 프로브 기판 186: 개구
188: 수광소자 192: X축 레일
194: Y축 레일 196: 제어부
280: 프로브 유닛 282: 포고핀
286: 광섬유 288: 수광소자
380: 프로브 유닛 382: 포고핀
388: 전위차 측정부 480: 프로브 유닛
482: 포고핀 484: 투명블록
488: 카메라
S110: 기판 반입단계 S120: 아이디 확인단계
S130: 전체기판 작동단계 S140: 정렬단계
S150: 불량작동구역 확인단계 S152: 영역분할단계
S154: 영역별 불량구역 확인단계
S160: 개별소자 작동단계 S170: 불량소자 검출단계
S180: 불량소자 위치획득단계
14: 엘이디 소자 16: 단자부
18: 개별전극 20: 불량작동구역
100: 엘이디 백라이트 테스트 유닛 110: 프레임
120: 스테이지부 122: 스테이지
124: 척 126: 스테이지 이동부
132: 반입위치 134: 검사위치
136: 반출위치 140: 파워 공급부
142: 전력공급단자 150: ID 리더
160: 얼라인부 170: 비전부
180: 프로브 유닛 182: 포고핀
184: 프로브 기판 186: 개구
188: 수광소자 192: X축 레일
194: Y축 레일 196: 제어부
280: 프로브 유닛 282: 포고핀
286: 광섬유 288: 수광소자
380: 프로브 유닛 382: 포고핀
388: 전위차 측정부 480: 프로브 유닛
482: 포고핀 484: 투명블록
488: 카메라
S110: 기판 반입단계 S120: 아이디 확인단계
S130: 전체기판 작동단계 S140: 정렬단계
S150: 불량작동구역 확인단계 S152: 영역분할단계
S154: 영역별 불량구역 확인단계
S160: 개별소자 작동단계 S170: 불량소자 검출단계
S180: 불량소자 위치획득단계
Claims (7)
- 복수개의 엘이디가 실장된 엘이디 기판을 스테이지에 반입하는 기판 반입단계;
반입된 엘이디 기판에 전력을 공급시켜 엘이디 기판 전체를 작동시키는 전체기판 작동단계;
전체가 작동된 엘이디 기판의 불량 작동 구역을 확인하는 불량작동구역 확인단계;
확인된 불량작동구역 내의 각 개별 엘이디를 각 개별 엘이디의 양측에 전력을 인가하기 위해 배치된 개별전극에 접촉되어 전력을 인가하는 한 쌍의 포고핀 및 상기 포고핀에 의해 공급되는 전력에 의해 작동되는 개별 엘이디의 빛을 감지하는 수광부를 포함하며, 상기 수광부는 포고핀 사이의 상기 엘이디 상부에 위치되어 타측으로 연장되는 광섬유 및 상기 광섬유의 타측 끝단측과 마주보도록 구비되며, 상기 광섬유의 끝단으로 부터 방출되는 빛을 감지하도록 구비되는 수광소자를 포함하는 프로브 유닛을 통해 직접 작동시키는 개별소자 작동단계;
상기 개별소자 작동단계를 통해 개별 엘이디 각각의 불량 작동여부를 판단하는 불량소자 검출단계;
상기 불량소자 검출단계에서 불량이라 판단된 엘이디의 위치를 획득 및 전송하는 불량소자 위치획득단계;
를 포함하는 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법. - 제1항에 있어서,
상기 스테이지에 반입된 기판의 아이디를 확인하는 아이디 확인단계; 및
상기 전체기판 작동단계에서 작동된 엘이디의 기준위치를 확인하는 정렬단계;
를 더 포함하는 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법. - 제1항에 있어서,
상기 불량작동구역 확인단계는,
상기 전체 기판을 영역별로 분할하는 영역 분할단계;
비전부가 이동하면서 분할된 각 영역별로 불량작동 구역을 확인하는 영역별 불량구역 확인단계;
를 포함하는 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법. - 제3항에 있어서,
상기 영역별 불량구역 확인단계는,
엘이디가 점등되지 아니하거나 기준광도를 발광하지 못하는 구역을 불량작동구역이라 판단하는 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법. - 제1항에 있어서,
상기 불량소자 검출단계는,
상기 개별 엘이디의 점등 여부로서 불량 여부를 판단하는 단계인 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법. - 제1항에 있어서,
상기 불량소자 검출단계는,
상기 개별 엘이디의 기준광도충족여부로서 불량 여부를 판단하는 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법. - 제1항에 있어서,
상기 불량소자 검출단계는,
상기 개별 엘이디의 양 전극의 기준전위차 만족여부로서 불량 여부를 판단하는 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법.
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|---|---|---|---|
| KR1020190107305A KR102208811B1 (ko) | 2019-08-30 | 2019-08-30 | 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020190107305A KR102208811B1 (ko) | 2019-08-30 | 2019-08-30 | 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR102208811B1 true KR102208811B1 (ko) | 2021-01-27 |
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| KR1020190107305A Active KR102208811B1 (ko) | 2019-08-30 | 2019-08-30 | 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법 |
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| KR (1) | KR102208811B1 (ko) |
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| CN114279683A (zh) * | 2021-11-22 | 2022-04-05 | 浙江大华技术股份有限公司 | 显示屏用自动化检测平台及其方法和led显示屏 |
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2019
- 2019-08-30 KR KR1020190107305A patent/KR102208811B1/ko active Active
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| CN114279683A (zh) * | 2021-11-22 | 2022-04-05 | 浙江大华技术股份有限公司 | 显示屏用自动化检测平台及其方法和led显示屏 |
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