KR101119814B1 - 스테이지 장치, 노광 장치 및 노광 방법 - Google Patents
스테이지 장치, 노광 장치 및 노광 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101119814B1 KR101119814B1 KR1020077000359A KR20077000359A KR101119814B1 KR 101119814 B1 KR101119814 B1 KR 101119814B1 KR 1020077000359 A KR1020077000359 A KR 1020077000359A KR 20077000359 A KR20077000359 A KR 20077000359A KR 101119814 B1 KR101119814 B1 KR 101119814B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- axis
- stage
- supply device
- wafer stage
- force
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70716—Stages
- G03F7/70725—Stages control
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70716—Stages
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70758—Drive means, e.g. actuators, motors for long- or short-stroke modules or fine or coarse driving
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70766—Reaction force control means, e.g. countermass
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70991—Connection with other apparatus, e.g. multiple exposure stations, particular arrangement of exposure apparatus and pre-exposure and/or post-exposure apparatus; Shared apparatus, e.g. having shared radiation source, shared mask or workpiece stage, shared base-plate; Utilities, e.g. cable, pipe or wireless arrangements for data, power, fluids or vacuum
-
- G—PHYSICS
- G12—INSTRUMENT DETAILS
- G12B—CONSTRUCTIONAL DETAILS OF INSTRUMENTS, OR COMPARABLE DETAILS OF OTHER APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G12B5/00—Adjusting position or attitude, e.g. level, of instruments or other apparatus, or of parts thereof; Compensating for the effects of tilting or acceleration, e.g. for optical apparatus
-
- H10P72/57—
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Epidemiology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Public Health (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Description
Claims (37)
- 이동면을 이동하는 스테이지와, 상기 스테이지에 대해서 용력을 공급하는 용력 공급 장치를 갖는 스테이지 장치로서,상기 용력 공급 장치가,상기 이동면 내의 제 1 축의 방향으로 연장되는 제 1 축부 ;상기 제 1 축부를 상기 제 1 축의 방향 및 상기 제 1 축 주위에 이동 가능하게 지지하는 제 1 지지부;상기 제 1 축과 교차하는 제 2 축의 방향으로 연장되는 제 2 축부; 및상기 제 2 축부를 상기 제 2 축의 방향 및 상기 제 2 축 주위에 이동 가능하게 지지하는 제 2 지지부를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 스테이지 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 용력 공급 장치는,상기 제 1 축과 상기 제 2 축에 교차하는 제 3 축의 방향으로 연장되는 제 3 축부; 및상기 제 3 축부를 상기 제 3 축의 방향 및 상기 제 3 축 주위에 이동 가능하게 지지하는 제 3 지지부를 추가로 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 스테이지 장치.
- 제 2 항에 있어서,상기 제 1 축부와 상기 제 1 지지부 사이, 상기 제 2 축부와 상기 제 2 지지부 사이, 상기 제 3 축부와 상기 제 3 지지부 사이의 각각에는, 제 1, 제 2, 제 3 기체 정압 베어링이 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 스테이지 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 용력 공급 장치는 상기 제 1 축의 방향을 따라 등속 운동하는 캐리어에 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 스테이지 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 제 1 축부와 상기 제 1 지지부 사이, 및 상기 제 2 축부와 상기 제 2 지지부 사이에는 제 1, 제 2 기체 정압 베어링이 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 스테이지 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 용력 공급 장치는 흡인 장치를 갖고 있는 것을 특징으로 하는 스테이지 장치.
- 제 6 항에 있어서,상기 흡인 장치는 상기 스테이지 상의 액체를 흡인하는 것을 특징으로 하는 스테이지 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 스테이지를 구동하는 구동 장치를 추가로 구비하고,상기 용력 공급 장치는 상기 구동 장치에 당해 구동 장치를 온도 조절하는 온도 조절 유체를 공급하는 것을 특징으로 하는 스테이지 장치.
- 제 8 항에 있어서,상기 구동 장치는 상기 스테이지의 개구부에 설치된 자석을 갖고 있는 것을 특징으로 하는 스테이지 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 용력 공급 장치가 복수 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 스테이지 장치.
- 이동면에 이동 가능하게 지지된 스테이지;상기 스테이지를 구동하는 제 1 구동 장치;상기 제 1 구동 장치에 의해 상기 스테이지를 구동했을 때의 반력에 의해 상기 스테이지와 반대 방향으로 이동하는 카운터 매스; 및상기 카운터 매스를 통하여 용력을 상기 스테이지에 공급하는 용력 공급 장 치를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 스테이지 장치.
- 제 11 항에 있어서,상기 이동면은 상기 카운터 매스에 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 스테이지 장치.
- 제 11 항에 있어서,상기 카운터 매스를 구동하는 제 2 구동 장치를 추가로 구비하는 스테이지 장치.
- 제 11 항에 있어서,상기 용력 공급 장치는 상기 스테이지의 이동에 따라 이동하는 이동부를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 스테이지 장치.
- 스테이지 장치에 탑재된 마스크의 패턴을 기판에 전사하는 노광 장치로서,상기 스테이지 장치로서 제 1 항 내지 제 14 항 중 어느 한 항에 기재된 스테이지 장치를 이용하는 것을 특징으로 하는 노광 장치.
- 스테이지 장치에 탑재된 기판을 노광하여 패턴을 형성하는 노광 장치로서,상기 스테이지 장치로서 제 1 항 내지 제 14 항 중 어느 한 항에 기재된 스 테이지 장치를 이용하는 것을 특징으로 하는 노광 장치.
- 2 차원 평면 내를 이동하는 스테이지에 용력을 공급하는 용력 공급 장치를 구비하는 장치에서, 상기 스테이지 상의 기판을 노광하여 패턴을 형성하는 노광 방법으로서,상기 용력 공급 장치를 상기 2 차원 평면 내의 제 1 축 방향 및 상기 제 1 축 주위에 이동시키고,상기 용력 공급 장치를 상기 제 1 축과 교차하는 제 2 축 방향 및 상기 제 2 축 주위에 이동시키는 것을 특징으로 하는 노광 방법.
- 제 17 항에 있어서,상기 용력 공급 장치는 상기 스테이지에 저항력을 주지 않는 것을 특징으로 하는 노광 방법.
- 제 17 항에 있어서,상기 용력 공급 장치가 상기 제 1 축 방향과 상기 제 2 축 방향에 교차하는 제 3 축 방향 및 상기 제 3 축 주위에 이동하는 것을 특징으로 하는 노광 방법.
- 제 17 항에 있어서,상기 용력 공급 장치는 상기 스테이지 상의 액체를 흡인하는 것을 특징으로 하는 노광 방법.
- 제 20 항에 있어서,상기 액체의 흡인은 노광 동작 종료 후에 실시되는 것을 특징으로 하는 노광 방법.
- 제 17 항에 있어서,상기 용력 공급 장치는 상기 스테이지를 구동하는 구동 장치에 그 구동 장치를 온도 조절하는 온도 조절 유체를 공급하는 것을 특징으로 하는 노광 방법.
- 스테이지 장치로서,4 이상의 자유도로 이동면에 대해 상대적으로 이동가능한 스테이지; 및상기 스테이지에 용력을 공급하는 용력 공급 장치를 포함하고,상기 용력 공급 장치는:상기 용력을 공급하는 공급 부재를 구비하고, 상기 스테이지로부터 독립적인 상기 이동면에 대해 상대적으로 이동가능한 이동부;제 1 축의 방향으로 이동가능한 제 1 부재, 및 상기 제 1 부재와 대향하는 부분을 구비하고 상기 제 1 축의 방향을 1 자유도로서 포함하는 2 이상의 자유도로 상기 제 1 부재에 대해 상대적으로 이동할 수 있는 제 2 부재를 갖는 제 1 유닛으로서, 상기 제 1 부재와 상기 제 2 부재 사이에 상기 용력의 전달을 수행하는, 상기 제 1 유닛;상기 2 이상의 자유도가 상기 4 자유도로부터 배제될 때 나머지 자유도의 방향으로 상기 이동부와 상기 제 2 부재 사이의 상대적인 이동을 허용하도록 상기 이동부와 상기 제 2 부재 사이에 배열된 제 2 유닛으로서, 상기 공급 부재와 상기 제 2 부재 사이의 용력의 전달을 수행하는, 상기 제 2 유닛; 및상기 스테이지의 이동에 따라 상기 제 1 축과 교차하는 제 2 축의 방향을 따라 이동하는 가동 부재를 포함하고,상기 용력은 상기 가동 부재로부터 제 1 지지부 및 제 2 지지부를 통해 상기 스테이지에 공급되는, 스테이지 장치.
- 제 23 항에 있어서,상기 스테이지는 상기 이동면에 대해 6 자유도로 상대적으로 이동하고,상기 제 1 부재 및 상기 제 2 부재는 2 자유도로 상대적으로 이동하는, 스테이지 장치.
- 제 23 항에 있어서,상기 제 1 부재와 상기 제 2 부재 사이의 상기 대향하는 부분에 제 1 기체 정압 베어링이 배열되는, 스테이지 장치.
- 제 23 항에 있어서,상기 이동부에는 상기 제 1 축의 방향을 따라 등속 이동하는 캐리어가 배열되는, 스테이지 장치.
- 제 23 항에 있어서,상기 제 1 부재는 상기 스테이지에 고정되는, 스테이지 장치.
- 제 23 항에 있어서,상기 제 1 부재는 상기 제 1 축의 방향으로 연장되는 제 1 축부를 포함하고, 상기 제 2 부재는 상기 제 1 축의 방향 및 상기 제 1 축 주위의 방향으로 상기 제 1 축부를 이동가능하게 지지하는 제 1 지지부를 포함하며,상기 제 2 유닛은 상기 제 1 축과 교차하는 제 2 축의 방향으로 연장되는 제 2 축부, 및 상기 제 2 축의 방향 및 상기 제 2 축 주위의 방향으로 상기 제 2 축부를 이동가능하게 지지하는 제 2 지지부를 포함하는, 스테이지 장치.
- 제 28 항에 있어서,상기 제 2 유닛은, 상기 제 1 축 및 상기 제 2 축과 교차하는 제 3 축의 방향으로 연장되는 제 3 축부, 및 상기 제 3 축의 방향 및 상기 제 3 축 주위의 방향으로 상기 제 3 축부를 이동가능하게 지지하는 제 3 지지부를 더 포함하는, 스테이지 장치.
- 스테이지 장치 상에 탑재된 마스크의 패턴을 기판 상으로 전사하는 노광 장치로서, 상기 스테이지 장치로서 제 23 항에 기재된 스테이지 장치가 사용되는, 노광 장치.
- 스테이지 장치 상에 탑재된 기판을 노광함으로써 패턴을 형성하는 노광 장치로서, 상기 스테이지 장치로서 제 23 항에 기재된 스테이지 장치가 사용되는, 노광 장치.
- 제 30 항에 기재된 노광 장치를 이용하여 기판 상으로 디바이스 패턴이 전사되는 리소그래피 공정을 포함하는, 디바이스 제조 방법.
- 제 31 항에 기재된 노광 장치를 이용하여 기판을 노광함으로써 디바이스 패턴이 형성되는 리소그래피 공정을 포함하는, 디바이스 제조 방법.
- 제 2 항에 있어서,상기 제 1 지지부는, 상기 용력의 공급 경로를 따라 상기 제 2 지지부보다 상기 스테이지 측에 더 가깝게 배치되는, 스테이지 장치.
- 제 2 항에 있어서,상기 제 2 지지부는 가동 부재에 접속되는, 스테이지 장치.
- 제 23 항에 있어서,상기 제 1 지지부는, 상기 용력의 공급 경로를 따라 상기 제 2 지지부보다 상기 스테이지 측에 더 가깝게 배치되는, 스테이지 장치.
- 제 23 항에 있어서,상기 제 2 지지부는 가동 부재에 접속되는, 스테이지 장치.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004168481 | 2004-06-07 | ||
| JPJP-P-2004-00168481 | 2004-06-07 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20070022139A KR20070022139A (ko) | 2007-02-23 |
| KR101119814B1 true KR101119814B1 (ko) | 2012-03-06 |
Family
ID=35503373
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020077000359A Expired - Fee Related KR101119814B1 (ko) | 2004-06-07 | 2005-06-06 | 스테이지 장치, 노광 장치 및 노광 방법 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (5) | US20080192226A1 (ko) |
| EP (1) | EP1780786A4 (ko) |
| JP (2) | JP4655039B2 (ko) |
| KR (1) | KR101119814B1 (ko) |
| TW (1) | TW200614342A (ko) |
| WO (1) | WO2005122242A1 (ko) |
Families Citing this family (38)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7852034B2 (en) * | 2004-04-09 | 2010-12-14 | Nikon Corporation | Drive method of moving body, stage unit, and exposure apparatus |
| JP4655039B2 (ja) * | 2004-06-07 | 2011-03-23 | 株式会社ニコン | ステージ装置、露光装置及び露光方法 |
| EP1826813A4 (en) | 2004-12-01 | 2009-05-13 | Nikon Corp | STAGE DEVICE AND EXPOSURE APPAEIL |
| US8693006B2 (en) | 2005-06-28 | 2014-04-08 | Nikon Corporation | Reflector, optical element, interferometer system, stage device, exposure apparatus, and device fabricating method |
| TW200710616A (en) | 2005-07-11 | 2007-03-16 | Nikon Corp | Exposure apparatus and method for manufacturing device |
| WO2007018127A1 (ja) * | 2005-08-05 | 2007-02-15 | Nikon Corporation | ステージ装置及び露光装置 |
| US8681314B2 (en) | 2005-10-24 | 2014-03-25 | Nikon Corporation | Stage device and coordinate correction method for the same, exposure apparatus, and device manufacturing method |
| JP2007305778A (ja) * | 2006-05-11 | 2007-11-22 | Nikon Corp | ステージ装置、露光装置、デバイスの製造方法、配線方法 |
| JP4962903B2 (ja) * | 2006-12-28 | 2012-06-27 | 株式会社ニコン | 用力供給装置、移動体システム及びパターン形成装置、並びに移動体装置 |
| US7607647B2 (en) * | 2007-03-20 | 2009-10-27 | Kla-Tencor Technologies Corporation | Stabilizing a substrate using a vacuum preload air bearing chuck |
| US20090201484A1 (en) * | 2007-10-29 | 2009-08-13 | Nikon Corporation | Utilities supply member connection apparatus, stage apparatus, projection optical system support apparatus and exposure apparatus |
| DE102008019681B4 (de) | 2008-04-11 | 2013-10-17 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Mittels aerostatischer Lagerelemente geführter Tisch für Vakuumanwendung |
| US20100302526A1 (en) * | 2008-11-13 | 2010-12-02 | Nikon Corporation | Drive control method for moving body, exposure method, robot control method, drive control apparatus, exposure apparatus and robot apparatus |
| US8659746B2 (en) | 2009-03-04 | 2014-02-25 | Nikon Corporation | Movable body apparatus, exposure apparatus and device manufacturing method |
| JP2010238985A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-21 | Nikon Corp | 露光装置及びデバイスの製造方法 |
| JP5295855B2 (ja) * | 2009-04-28 | 2013-09-18 | 住友重機械工業株式会社 | 反力処理機構 |
| JP5107984B2 (ja) * | 2009-09-18 | 2012-12-26 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | ステージ装置 |
| US8763999B2 (en) * | 2009-10-27 | 2014-07-01 | Applied Materials Israel, Ltd. | Stage structure for operation in vacuum |
| KR20120100959A (ko) * | 2009-10-30 | 2012-09-12 | 가부시키가이샤 니콘 | 노광 장치 및 디바이스 제조 방법 |
| US8988655B2 (en) * | 2010-09-07 | 2015-03-24 | Nikon Corporation | Exposure apparatus, movable body apparatus, flat-panel display manufacturing method, and device manufacturing method |
| US20120064460A1 (en) * | 2010-09-07 | 2012-03-15 | Nikon Corporation | Movable body apparatus, object processing device, exposure apparatus, flat-panel display manufacturing method, and device manufacturing method |
| US8598538B2 (en) * | 2010-09-07 | 2013-12-03 | Nikon Corporation | Movable body apparatus, object processing device, exposure apparatus, flat-panel display manufacturing method, and device manufacturing method |
| WO2012040705A2 (en) * | 2010-09-24 | 2012-03-29 | Rudolph Technologies, Inc. | Support for semiconductor substrate |
| US8575791B2 (en) * | 2010-12-17 | 2013-11-05 | National Formosa University | Manufacturing-process equipment |
| NL2007802A (en) | 2010-12-21 | 2012-06-25 | Asml Netherlands Bv | A substrate table, a lithographic apparatus and a device manufacturing method. |
| US9323160B2 (en) * | 2012-04-10 | 2016-04-26 | Nikon Corporation | Liquid immersion member, exposure apparatus, exposure method, device fabricating method, program, and recording medium |
| WO2014054188A1 (ja) * | 2012-10-05 | 2014-04-10 | 株式会社ミラック光学 | 手動ステージ用電動化ユニット、及び電動化ユニット付き手動ステージ |
| NL2014645A (en) | 2014-04-16 | 2015-11-02 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus, method for positioning an object in a lithographic apparatus and device manufacturing method. |
| JP2016207756A (ja) * | 2015-04-17 | 2016-12-08 | 株式会社ニコン | ステージ装置及び露光装置 |
| SG10201603103UA (en) * | 2015-04-30 | 2016-11-29 | Canon Kk | Imprint device, substrate conveying device, imprinting method, and method for manufacturing article |
| JP6701873B2 (ja) * | 2016-03-28 | 2020-05-27 | セイコーエプソン株式会社 | プロジェクター |
| WO2018153480A1 (en) * | 2017-02-24 | 2018-08-30 | Applied Materials, Inc. | Positioning arrangement for a substrate carrier and a mask carrier, transportation system for a substrate carrier and a mask carrier, and methods therefor |
| JP6735693B2 (ja) * | 2017-02-27 | 2020-08-05 | 株式会社日立ハイテク | ステージ装置、及び荷電粒子線装置 |
| US10564553B2 (en) * | 2017-09-26 | 2020-02-18 | Guangdong University Of Technology | Large load-bearing guide mechanism and multi-DOF large-stroke high-precision motion platform system |
| US20200286764A1 (en) * | 2017-09-29 | 2020-09-10 | Onto Innovation, Inc. | High resolution stage positioner |
| CN113118787A (zh) * | 2021-03-24 | 2021-07-16 | 广州市昊志机电股份有限公司 | 一种机床转台和机床 |
| CN119196462B (zh) * | 2024-10-11 | 2025-03-21 | 山东中维世纪科技股份有限公司 | 一种广播电视录制用三维移动式录制设备 |
| CN118938612B (zh) * | 2024-10-14 | 2025-01-28 | 上海芯东来半导体科技有限公司 | 高精度滑台组件及光刻机工作台 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004095705A (ja) | 2002-08-30 | 2004-03-25 | Tokyo Electron Ltd | 液処理装置 |
Family Cites Families (96)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3308069A (en) * | 1964-05-01 | 1967-03-07 | Mobil Oil Corp | Catalytic composition of a crystalline zeolite |
| US4101596A (en) * | 1977-01-10 | 1978-07-18 | Mobil Oil Company | Low pressure xylene isomerization |
| US4346164A (en) * | 1980-10-06 | 1982-08-24 | Werner Tabarelli | Photolithographic method for the manufacture of integrated circuits |
| JPS57153433A (en) * | 1981-03-18 | 1982-09-22 | Hitachi Ltd | Manufacturing device for semiconductor |
| JPS58202448A (ja) | 1982-05-21 | 1983-11-25 | Hitachi Ltd | 露光装置 |
| JPS5919912A (ja) | 1982-07-26 | 1984-02-01 | Hitachi Ltd | 液浸距離保持装置 |
| DD221563A1 (de) | 1983-09-14 | 1985-04-24 | Mikroelektronik Zt Forsch Tech | Immersionsobjektiv fuer die schrittweise projektionsabbildung einer maskenstruktur |
| DD224448A1 (de) | 1984-03-01 | 1985-07-03 | Zeiss Jena Veb Carl | Einrichtung zur fotolithografischen strukturuebertragung |
| US4642226A (en) * | 1984-04-16 | 1987-02-10 | Mobil Oil Corporation | Process for the preparation of zeolite Beta using dibenzyldimethylammonium ions and the product produced |
| JPS6144429A (ja) | 1984-08-09 | 1986-03-04 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 位置合わせ方法、及び位置合せ装置 |
| US4780617A (en) * | 1984-08-09 | 1988-10-25 | Nippon Kogaku K.K. | Method for successive alignment of chip patterns on a substrate |
| JPS6265326A (ja) | 1985-09-18 | 1987-03-24 | Hitachi Ltd | 露光装置 |
| JPS63157419A (ja) | 1986-12-22 | 1988-06-30 | Toshiba Corp | 微細パタ−ン転写装置 |
| US5081323A (en) * | 1987-12-17 | 1992-01-14 | Chevron Research And Technology Company | Liquid phase alkylation or transalkylation process using zeolite beta |
| US5040431A (en) * | 1988-01-22 | 1991-08-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Movement guiding mechanism |
| US5228358A (en) * | 1990-02-21 | 1993-07-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Motion guiding device |
| JPH04305915A (ja) | 1991-04-02 | 1992-10-28 | Nikon Corp | 密着型露光装置 |
| JPH04305917A (ja) | 1991-04-02 | 1992-10-28 | Nikon Corp | 密着型露光装置 |
| JPH0562877A (ja) | 1991-09-02 | 1993-03-12 | Yasuko Shinohara | 光によるlsi製造縮小投影露光装置の光学系 |
| US5227558A (en) * | 1992-02-10 | 1993-07-13 | Fina Technology, Inc. | Aromatic alkylation process employing steam modified zeolite beta catalyst |
| JPH06124873A (ja) | 1992-10-09 | 1994-05-06 | Canon Inc | 液浸式投影露光装置 |
| JP2753930B2 (ja) * | 1992-11-27 | 1998-05-20 | キヤノン株式会社 | 液浸式投影露光装置 |
| JP3316833B2 (ja) | 1993-03-26 | 2002-08-19 | 株式会社ニコン | 走査露光方法、面位置設定装置、走査型露光装置、及び前記方法を使用するデバイス製造方法 |
| KR100300618B1 (ko) * | 1992-12-25 | 2001-11-22 | 오노 시게오 | 노광방법,노광장치,및그장치를사용하는디바이스제조방법 |
| JP3196798B2 (ja) * | 1993-10-12 | 2001-08-06 | キヤノン株式会社 | 自重支持装置 |
| JPH07220990A (ja) | 1994-01-28 | 1995-08-18 | Hitachi Ltd | パターン形成方法及びその露光装置 |
| JP3226704B2 (ja) * | 1994-03-15 | 2001-11-05 | キヤノン株式会社 | 露光装置 |
| US5874820A (en) | 1995-04-04 | 1999-02-23 | Nikon Corporation | Window frame-guided stage mechanism |
| JP3800616B2 (ja) | 1994-06-27 | 2006-07-26 | 株式会社ニコン | 目標物移動装置、位置決め装置及び可動ステージ装置 |
| US6246204B1 (en) * | 1994-06-27 | 2001-06-12 | Nikon Corporation | Electromagnetic alignment and scanning apparatus |
| US5623853A (en) * | 1994-10-19 | 1997-04-29 | Nikon Precision Inc. | Precision motion stage with single guide beam and follower stage |
| JPH08316124A (ja) * | 1995-05-19 | 1996-11-29 | Hitachi Ltd | 投影露光方法及び露光装置 |
| JPH08316125A (ja) | 1995-05-19 | 1996-11-29 | Hitachi Ltd | 投影露光方法及び露光装置 |
| JP3634483B2 (ja) * | 1996-02-13 | 2005-03-30 | キヤノン株式会社 | ステージ装置、及びこれを用いた露光装置やデバイス生産方法 |
| US5723710A (en) * | 1996-07-12 | 1998-03-03 | Uop | Zeolite beta and its use in aromatic alkylation |
| EP0929502B1 (en) * | 1996-09-06 | 2001-08-01 | ExxonMobil Chemical Patents Inc. | Alkylation process using zeolite beta |
| US5825043A (en) * | 1996-10-07 | 1998-10-20 | Nikon Precision Inc. | Focusing and tilting adjustment system for lithography aligner, manufacturing apparatus or inspection apparatus |
| US6222614B1 (en) * | 1996-12-06 | 2001-04-24 | Nikon Corporation | Exposure elements with a cable-relaying support |
| JPH10223527A (ja) * | 1996-12-06 | 1998-08-21 | Nikon Corp | 露光装置 |
| IT1290846B1 (it) * | 1996-12-12 | 1998-12-14 | Enichem Spa | Composizione catalitica e processo per l'alchilazione e/o la transalchilazione di composti aromatici |
| JP3747566B2 (ja) | 1997-04-23 | 2006-02-22 | 株式会社ニコン | 液浸型露光装置 |
| JP3817836B2 (ja) | 1997-06-10 | 2006-09-06 | 株式会社ニコン | 露光装置及びその製造方法並びに露光方法及びデバイス製造方法 |
| US6408045B1 (en) * | 1997-11-11 | 2002-06-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Stage system and exposure apparatus with the same |
| JPH11176727A (ja) | 1997-12-11 | 1999-07-02 | Nikon Corp | 投影露光装置 |
| JPH11189332A (ja) | 1997-12-26 | 1999-07-13 | Canon Inc | ステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法 |
| US5907073A (en) * | 1998-02-24 | 1999-05-25 | Fina Technology, Inc. | Aromatic alkylation process |
| AU2747999A (en) * | 1998-03-26 | 1999-10-18 | Nikon Corporation | Projection exposure method and system |
| JP2000058436A (ja) | 1998-08-11 | 2000-02-25 | Nikon Corp | 投影露光装置及び露光方法 |
| TWI233535B (en) * | 1999-04-19 | 2005-06-01 | Asml Netherlands Bv | Motion feed-through into a vacuum chamber and its application in lithographic projection apparatuses |
| TWI242112B (en) * | 1999-04-19 | 2005-10-21 | Asml Netherlands Bv | Lithographic projection apparatus and method of operating a lithographic projection apparatus |
| US6559428B2 (en) * | 2001-01-16 | 2003-05-06 | General Electric Company | Induction heating tool |
| JP3262228B2 (ja) * | 1999-06-22 | 2002-03-04 | 株式会社ニコン | 移動ステージ装置およびステージ移動方法 |
| JP2001007015A (ja) * | 1999-06-25 | 2001-01-12 | Canon Inc | ステージ装置 |
| JP2001020951A (ja) * | 1999-07-07 | 2001-01-23 | Toto Ltd | 静圧気体軸受 |
| WO2001035168A1 (en) | 1999-11-10 | 2001-05-17 | Massachusetts Institute Of Technology | Interference lithography utilizing phase-locked scanning beams |
| US6323567B1 (en) * | 1999-12-24 | 2001-11-27 | Nikon Corporation | Circulating system for shaft-type linear motors |
| US6583597B2 (en) * | 2000-07-07 | 2003-06-24 | Nikon Corporation | Stage apparatus including non-containing gas bearings and microlithography apparatus comprising same |
| JP2002043213A (ja) * | 2000-07-25 | 2002-02-08 | Nikon Corp | ステージ装置および露光装置 |
| JP4405071B2 (ja) * | 2000-10-23 | 2010-01-27 | パナソニック株式会社 | 送り装置及びそれを具備する光ディスク原盤記録装置 |
| US20020075467A1 (en) * | 2000-12-20 | 2002-06-20 | Nikon Corporation | Exposure apparatus and method |
| US6958808B2 (en) * | 2000-11-16 | 2005-10-25 | Nikon Corporation | System and method for resetting a reaction mass assembly of a stage assembly |
| US6885430B2 (en) * | 2000-11-16 | 2005-04-26 | Nikon Corporation | System and method for resetting a reaction mass assembly of a stage assembly |
| TW591342B (en) * | 2000-11-30 | 2004-06-11 | Asml Netherlands Bv | Lithographic projection apparatus and integrated circuit manufacturing method using a lithographic projection apparatus |
| US6496248B2 (en) * | 2000-12-15 | 2002-12-17 | Nikon Corporation | Stage device and exposure apparatus and method |
| JP2002198284A (ja) * | 2000-12-25 | 2002-07-12 | Nikon Corp | ステージ装置および露光装置 |
| JP2002343706A (ja) * | 2001-05-18 | 2002-11-29 | Nikon Corp | ステージ装置及びステージの駆動方法、露光装置及び露光方法、並びにデバイス及びその製造方法 |
| JP2002353118A (ja) * | 2001-05-28 | 2002-12-06 | Nikon Corp | ステージ装置及び露光装置 |
| US6781138B2 (en) * | 2001-05-30 | 2004-08-24 | Nikon Corp. | Positioning stage with stationary actuators |
| TW529172B (en) * | 2001-07-24 | 2003-04-21 | Asml Netherlands Bv | Imaging apparatus |
| US6765650B2 (en) * | 2001-08-09 | 2004-07-20 | Nikon Corporation | Vacuum compatible air bearing stage |
| TWI293475B (en) * | 2001-11-30 | 2008-02-11 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
| JP4134560B2 (ja) * | 2002-01-16 | 2008-08-20 | 株式会社ニコン | リニアモータ及びステージ装置 |
| CN1639089A (zh) * | 2002-02-28 | 2005-07-13 | 斯东及韦伯斯特公司 | 烷基芳香族化合物的制备 |
| US6937911B2 (en) * | 2002-03-18 | 2005-08-30 | Nikon Corporation | Compensating for cable drag forces in high precision stages |
| JP4109891B2 (ja) * | 2002-04-19 | 2008-07-02 | キヤノン株式会社 | 能動制振装置、露光装置及びデバイス製造方法 |
| KR20050035890A (ko) | 2002-08-23 | 2005-04-19 | 가부시키가이샤 니콘 | 투영 광학계, 포토리소그래피 방법, 노광 장치 및 그 이용방법 |
| JP2004095653A (ja) * | 2002-08-29 | 2004-03-25 | Nikon Corp | 露光装置 |
| US7268264B2 (en) * | 2002-10-04 | 2007-09-11 | Fina Technology, Inc. | Critical phase alkylation process |
| JP2004134682A (ja) | 2002-10-15 | 2004-04-30 | Nikon Corp | 気体シリンダ、ステージ装置及び露光装置 |
| JP2004140145A (ja) | 2002-10-17 | 2004-05-13 | Nikon Corp | 露光装置 |
| CN101470360B (zh) * | 2002-11-12 | 2013-07-24 | Asml荷兰有限公司 | 光刻装置和器件制造方法 |
| SG158745A1 (en) * | 2002-12-10 | 2010-02-26 | Nikon Corp | Exposure apparatus and method for producing device |
| JP2004193425A (ja) | 2002-12-12 | 2004-07-08 | Nikon Corp | 移動制御方法及び装置、露光装置、並びにデバイス製造方法 |
| US6917412B2 (en) * | 2003-02-26 | 2005-07-12 | Nikon Corporation | Modular stage with reaction force cancellation |
| JP3826118B2 (ja) * | 2003-07-08 | 2006-09-27 | キヤノン株式会社 | 露光装置 |
| JP2005046941A (ja) * | 2003-07-31 | 2005-02-24 | Canon Inc | ケーブル微動ユニット付きステージ装置 |
| US6987078B2 (en) * | 2003-10-03 | 2006-01-17 | Fina Technology, Inc. | Alkylation and catalyst regenerative process |
| JP3102327U (ja) * | 2003-12-17 | 2004-07-02 | 国統国際股▲ふん▼有限公司 | 可撓管の漏れ止め機構 |
| US7852034B2 (en) * | 2004-04-09 | 2010-12-14 | Nikon Corporation | Drive method of moving body, stage unit, and exposure apparatus |
| JP4655039B2 (ja) * | 2004-06-07 | 2011-03-23 | 株式会社ニコン | ステージ装置、露光装置及び露光方法 |
| US7297827B2 (en) * | 2004-11-29 | 2007-11-20 | Fina Technology, Inc. | Use of monolith catalyst to prepare ethylbenzene |
| US7557529B2 (en) * | 2005-01-11 | 2009-07-07 | Nikon Corporation | Stage unit and exposure apparatus |
| US20070161835A1 (en) * | 2006-01-07 | 2007-07-12 | Fina Technology, Inc. | Liquid phase alkylation system |
| US7495139B2 (en) * | 2006-01-07 | 2009-02-24 | Fina Technology, Inc. | Use of modified zeolite catalysts in alkylation systems |
| US20080058566A1 (en) * | 2006-09-05 | 2008-03-06 | Fina Technology, Inc. | Processes for reduction of alkylation catalyst deactivation utilizing low silica to alumina ratio catalyst |
| US20080058568A1 (en) * | 2006-09-05 | 2008-03-06 | Fina Technology, Inc. | Processes for the reduction of alkylation catalyst deactivation utilizing stacked catalyst bed |
-
2005
- 2005-06-06 JP JP2006514487A patent/JP4655039B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2005-06-06 EP EP05750923A patent/EP1780786A4/en not_active Withdrawn
- 2005-06-06 KR KR1020077000359A patent/KR101119814B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2005-06-06 US US11/628,199 patent/US20080192226A1/en not_active Abandoned
- 2005-06-06 WO PCT/JP2005/010315 patent/WO2005122242A1/ja not_active Ceased
- 2005-06-07 TW TW094118673A patent/TW200614342A/zh not_active IP Right Cessation
-
2009
- 2009-09-30 US US12/588,007 patent/US20100060877A1/en not_active Abandoned
-
2010
- 2010-06-30 US US12/801,897 patent/US8325326B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2010-11-01 JP JP2010245715A patent/JP5246243B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2012
- 2012-11-16 US US13/679,523 patent/US20130120731A1/en not_active Abandoned
-
2013
- 2013-02-05 US US13/759,812 patent/US20130148094A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004095705A (ja) | 2002-08-30 | 2004-03-25 | Tokyo Electron Ltd | 液処理装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPWO2005122242A1 (ja) | 2008-04-10 |
| TWI378493B (ko) | 2012-12-01 |
| US20130120731A1 (en) | 2013-05-16 |
| US20130148094A1 (en) | 2013-06-13 |
| TW200614342A (en) | 2006-05-01 |
| US20100060877A1 (en) | 2010-03-11 |
| US8325326B2 (en) | 2012-12-04 |
| US20100283986A1 (en) | 2010-11-11 |
| WO2005122242A1 (ja) | 2005-12-22 |
| JP4655039B2 (ja) | 2011-03-23 |
| KR20070022139A (ko) | 2007-02-23 |
| US20080192226A1 (en) | 2008-08-14 |
| JP5246243B2 (ja) | 2013-07-24 |
| JP2011077528A (ja) | 2011-04-14 |
| EP1780786A1 (en) | 2007-05-02 |
| EP1780786A4 (en) | 2009-11-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101119814B1 (ko) | 스테이지 장치, 노광 장치 및 노광 방법 | |
| JP5725059B2 (ja) | 移動体装置、露光装置、及びデバイス製造方法 | |
| TWI506378B (zh) | An exposure apparatus, an exposure method, an element manufacturing method, and a transport method | |
| KR102027589B1 (ko) | 노광 장치 및 디바이스 제조 방법 | |
| JP4362862B2 (ja) | ステージ装置及び露光装置 | |
| KR20190131146A (ko) | 물체 처리 장치, 노광 장치 및 노광 방법, 및 디바이스 제조 방법 | |
| KR20120055574A (ko) | 물체 이동 장치, 물체 처리 장치, 노광 장치, 물체 검사 장치 및 디바이스 제조 방법 | |
| KR20120037943A (ko) | 노광 장치, 노광 방법 및 디바이스 제조 방법 | |
| JP5348627B2 (ja) | 移動体装置、露光装置及びデバイス製造方法 | |
| JP2001267226A (ja) | 駆動装置及び露光装置、並びにデバイス及びその製造方法 | |
| KR102022788B1 (ko) | 노광 장치 및 디바이스 제조 방법 | |
| KR20120091160A (ko) | 노광 장치, 노광 방법, 및 디바이스 제조 방법 | |
| KR20120031075A (ko) | 노광 장치 및 디바이스 제조 방법 | |
| JPWO2006075575A1 (ja) | ステージ装置及び露光装置 | |
| JP5505584B2 (ja) | 露光装置 | |
| HK1100307A (en) | Stage apparatus, exposure apparatus, and exposure method |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0105 | International application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A15-nap-PA0105 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R18-oth-X000 |
|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| T11-X000 | Administrative time limit extension requested |
St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000 |
|
| T11-X000 | Administrative time limit extension requested |
St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000 |
|
| T11-X000 | Administrative time limit extension requested |
St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000 |
|
| T11-X000 | Administrative time limit extension requested |
St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U12-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150119 Year of fee payment: 4 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 4 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160119 Year of fee payment: 5 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 5 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170119 Year of fee payment: 6 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 6 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180202 Year of fee payment: 7 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 7 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190130 Year of fee payment: 8 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 8 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20200205 Year of fee payment: 9 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 9 |
|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U13-oth-PC1903 Not in force date: 20210218 Payment event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE |
|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903 Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE Not in force date: 20210218 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |