KR100971220B1

KR100971220B1 - The inspection method of the capacitive touch screen panel using lc resonance frequency shift

Info

Publication number: KR100971220B1
Application number: KR1020090075525A
Authority: KR
Inventors: 고재준; 김영권
Original assignee: 주식회사 에프티랩
Priority date: 2009-08-17
Filing date: 2009-08-17
Publication date: 2010-07-20
Anticipated expiration: 2029-08-17
Also published as: TWI431293B; CN102187319A; CN102187319B; JP5403640B2; JP2011527440A; TW201128205A; WO2011021825A2; WO2011021825A3

Abstract

본 발명은 정전용량방식 터치스크린패널(capacitive touch screen panel : CTSP)의 불량여부 검사에 있어서 ITO 패턴의 형태에 무관하게 그리고 CTSP 전용 컨트롤러 칩 없이도 CTSP의 불량을 판별하는 검사방법에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection method for determining a defect of a CTSP regardless of the shape of an ITO pattern in a defect inspection of a capacitive touch screen panel (CTSP) and without a CTSP dedicated controller chip.

이를 위하여 본 발명에서는 CTSP의 ITO 전극간의 미세한 정전용량에 적합하도록 구성된 LC 공진회로, 이 LC 공진회로를 구동하기위한 op 앰프 회로, LC 공진회로와 CTSP의 ITO 센서 전극을 각기 쌍으로 순차적으로 병렬 연결하기위한 릴레이모듈, 그리고 주파수를 측정하고 릴레이를 구동하기위한 마이컴 회로 등의 검사를 위한 테스트 회로를 구성하였고 이를 이용하여 CTSP와 LC공진회로를 연결시키지 않고 LC공진회로만의 기준 공진주파수를 얻는 제 1단계, CTSP의 ITO 센서 전극과 LC공진회로를 연결 하였을 때 발생하는 공진주파수 변이 값을 측정하는 제 2단계, 2단계를 반복하여 여러 CTSP들의 공진 주파수 변이의 분포를 구하고 양품 범위를 설정해놓는 제 3단계, 특정 CTSP 측정 시 기 설정된 양품 범위를 벗어나는 공진 주파수 변이 값을 보일 경우 불량으로 판정하는 제 4단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 CTSP 검사방법 To this end, in the present invention, an LC resonance circuit adapted to a fine capacitance between ITO electrodes of a CTSP, an op-amp circuit for driving the LC resonance circuit, an LC resonance circuit and an ITO sensor electrode of CTSP are sequentially connected in parallel A relay module for measuring the frequency and a microcontroller circuit for driving the relay are constructed and a first test circuit for obtaining the reference resonance frequency of the LC resonance circuit without connecting the CTSP and the LC resonance circuit using the first test circuit The second and third steps of measuring the resonance frequency variation value generated when the ITO sensor electrode of the CTSP is connected to the LC resonance circuit are repeated to obtain the distributions of the resonance frequency variations of the various CTSPs, Step, judged to be defective when a certain CTSP measurement shows a resonance frequency shift value that deviates from the predetermined good product range And a fourth step of performing a CTSP test method

Description

BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to an LC resonance frequency shift,

본 발명은 정전용량방식 터치스크린패널(capacitive touch screen panel : 이하 "CTSP"로 칭함)의 제조 단계에서 불량여부를 판별하는 검사방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 CTSP의 양품과 불량품 사이에 존재하는 ITO 터치 센서 전극 간 미세 정전용량(capacitance)의 차이를 LC공진주파수 변이 차 측정기법으로 정밀하게 계측함으로써 CTSP 전용 컨트롤러 칩 없이도 또한 CTSP의 ITO 전극 패턴에 무관하게 정확한 불량판별을 할 수 있는 검사회로 및 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to an inspection method for discriminating a defect in a manufacturing step of a capacitive touch screen panel (hereinafter referred to as " CTSP "), By precisely measuring the difference in capacitance between the ITO touch sensor electrodes using the LC resonance frequency difference difference measurement technique, it is possible to accurately detect the defect regardless of the ITO electrode pattern of the CTSP without using a dedicated CTSP controller chip &Lt; / RTI >

일반적으로 휴대폰이나 키오스크 등의 디스플레이 화면위에 부착되어 손 터치에 의해 각종 버튼 또는 정보 입력용으로 사용되는 터치스크린패널에는 저항막방식과 정전용량방식이 있다. 이중 정전용량방식 터치스크린패널, CTSP는 일반적으로 도 1에 도시한 바와 같은 구조로 되어있다. 맨 하단에 하부 접지용 필름(110)과 그 위의 터치센서 역할을 하는 투명한 ITO 전극 패턴이 형성되어있는 센서전극 필름(120), 그리고 그 위에 ITO 전극에 접착제로 부착되는 유전체필름(130), 맨 위의 보호필름(140)으로 구성되어있다. 각 제조 회사별로 터치센서 전극인 ITO 전극(150) 패턴의 모양은 그 성능과 전용 컨트롤러 칩의 구동 방식에 따라 달라지나 전체적인 기본구조는 상기와 같으며 특히 ITO 센서 전극들 간에 정전용량이 유지되는 방식은 각 사 공통 사항이다. 즉 도 2에 도시한 바와 같이 모든 CTSP는 등가회로 적으로 ITO 전극 들 간에 존재하는 capacitor(210), 하부 접지 에 의해 발생 되는 capacitor(220)들의 직병렬 결합형태가 된다. Generally, a touch screen panel attached to a display screen such as a mobile phone or a kiosk and used for various buttons or information input by a hand touch includes a resistive film type and a capacitive type. The dual capacitance touch screen panel, CTSP, is generally structured as shown in FIG. A sensor electrode film 120 having a bottom ground film 110 and a transparent ITO electrode pattern serving as a touch sensor thereon, and a dielectric film 130 adhered thereon as an adhesive to the ITO electrode, And a top protective film 140. The shape of the pattern of the ITO electrode 150, which is the touch sensor electrode, differs depending on the performance and the driving method of the dedicated controller chip. However, the overall basic structure is as described above. In particular, the capacitance between the ITO sensor electrodes Are common to all companies. That is, as shown in FIG. 2, all of the CTSPs are in the form of series-parallel coupling of the capacitors 210 between the ITO electrodes and the capacitors 220 generated by the bottom ground.

상기와 같은 구조로 되어있는 CTSP에 도 3에 도시한 전용 컨트롤러 칩(310)이 내장된 FPC(320)가 부착되어지면 터치스크린모듈 형태로 되며 CTSP에 사람의 손이 터치된 위치 측정을 위한 동작이 가능해진다. When the FPC 320 having the dedicated controller chip 310 shown in FIG. 3 is attached to the CTSP having the above-described structure, it is in the form of a touch screen module, and a CTSP Lt; / RTI >

CTSP의 동작원리는 다음과 같다. CTSP에 사람의 손이 접촉하면 접촉한 부위의 ITO 전극 간 정전용량이 처음 값과 달라진다. 이 값의 변화를 전용 컨트롤러 칩(310)에서 ITO 전극에 인가하는 전기적 신호 펄스의 위상지연 변화로 측정하여, 칩(310)에 내장된 알고리즘으로 해석하여, CTSP에 손이 접촉한 위치 정보를 알아내게 되는 방식이다. 따라서 전용 컨트롤러 칩의 역할은 터치스크린모듈의 동작에서 기능적으로 매우 중요하다. 만일 CTSP의 ITO 전극 패턴 설계가 바뀌면 그 바뀐 형태에 따라 전극 간 정전용량이 변화되므로, 이에 맞게 설계되고 프로그램된 새로운 전용 컨트롤러 칩을 사용해야만 한다. The operation principle of CTSP is as follows. When the human hand touches the CTSP, the capacitance between the ITO electrodes at the contacted part is different from the initial value. The change of this value is measured by the phase delay change of the electrical signal pulse applied to the ITO electrode in the dedicated controller chip 310 and analyzed by the algorithm built in the chip 310 to obtain the position information of the hand touching the CTSP It's the way I get. Therefore, the role of the dedicated controller chip is very important in function of the operation of the touch screen module. If the ITO electrode pattern design of the CTSP changes, the capacitance between the electrodes changes with the change, so a new dedicated controller chip designed and programmed for it must be used.

각 CTSP 제조회사에서는 터치스크린모듈 상태까지 생산 단계를 가져가는데 기존의 전기적 특성 품질검사는 CTSP 또는 터치스크린 모듈 상태에서 전용 컨트롤러 칩을 이용하여 시행하고 있다. 따라서 CTSP의 기종이 바뀌어서 CTSP의 ITO 전극 패턴이 바뀌면, 그때마다 매번 다른 전용컨트롤러 칩이 탑재된 검사기를 사용하여야만 하는 불편함이 있다. 또한 CTSP의 전기적 특성을 좌우하는 ITO 센서 전극들 간의 정전용량은 기존의 전용 컨트롤러 칩을 이용한 방식에서는 알 수 없다. 또한 전용 칩들이 신호 펄스의 위상지연 시간 측정 기법으로 불량을 판별하므로 EMI등 외부환경 조건변화에 취약하며 측정정밀도가 떨어진다는 문제가 있다. Each CTSP maker takes production steps up to the touch screen module state. The existing electric characteristic quality test is performed using a dedicated controller chip in the state of CTSP or touch screen module. Therefore, when the CTSP model is changed and the ITO electrode pattern of the CTSP is changed, it is inconvenient to use a tester equipped with another dedicated controller chip each time. In addition, the capacitance between the ITO sensor electrodes, which determines the electrical characteristics of the CTSP, can not be known in the conventional method using the dedicated controller chip. In addition, since the dedicated chips discriminate the defect by the phase delay time measuring technique of the signal pulse, there is a problem that it is vulnerable to changes in external environmental conditions such as EMI and the measurement accuracy is lowered.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하고자 안출한 것으로 CTSP 전용 컨트롤러 칩 없이 그리고 CTSP의 ITO 전극 패턴의 형태에 관계없이 CTSP의 전기적 특성을 정밀하게 검사하여 불량품을 판별 해낼 수 있는 검사방법을 제공하는데 그 목적이 있다.Disclosure of Invention Technical Problem [8] Accordingly, the present invention has been made to solve the above problems, and it is an object of the present invention to provide an inspection method capable of precisely inspecting electrical characteristics of CTSP without discriminating the ITO electrode pattern of CTSP, There is a purpose.

본 발명에서는 CTSP의 전기적 특성 검사에 있어서, CTSP의 ITO 전극간의 미세한 정전용량에 적합하도록 100pF 미만의 기준 capacitor와 수mH 이하의 인덕턴스(inductance)값을 갖는 코일로 구성된 LC 공진회로, 이 LC 공진회로를 구동하기위한 op 앰프 회로, LC 공진회로와 CTSP의 ITO 센서 전극을 각기 쌍으로 순차적으로 병렬 연결하기위한 릴레이모듈, 그리고 주파수를 측정하고 릴레이를 구동하기위한 마이컴 회로 등의 검사를 위한 테스트 회로를 구성하여 CTSP와 LC공진회로를 연결시키지 않고 LC공진회로만의 기준 공진주파수를 얻는 제 1단계, CTSP의 ITO 센서 전극과 LC공진회로를 연결 하였을 때 발생하는 공진주파수 변이 값을 측정하는 제 2 단계, 2 단계를 반복하여 여러 CTSP들의 공진 주파수 변이의 분포를 구하고 양품 범위를 설정해놓는 제 3단계, 특정 CTSP 측정 시 기 설정된 양품 범위를 벗어나는 공진 주파수 변이 값을 보일 경우 불량으로 판정하는 제 4단계로 이루어진 검사방식을 특징으로 한다. In the present invention, an LC resonance circuit composed of a reference capacitor of less than 100 pF and a coil having an inductance value of less than several milliamperes to suit the fine capacitance between the ITO electrodes of the CTSP in the electrical characteristic inspection of the CTSP, A relay module for sequentially connecting the ITO sensor electrodes of the LC resonant circuit and the ITO sensor electrode of the CTSP in parallel, and a test circuit for testing the frequency and the microcomputer circuit for driving the relay The first step is to obtain the reference resonance frequency of the LC resonance circuit without connecting the CTSP and the LC resonance circuit. The second step is to measure the resonance frequency variation value generated when the ITO sensor electrode of the CTSP is connected to the LC resonance circuit. The third step is to repeat the second step to determine the distribution of the resonance frequency variation of the various CTSPs and set the good product range. And a fourth step of judging a failure when the resonance frequency shift value is out of the predetermined good product range.

본 발명에 따른 LC공진주파수 변이를 이용한 CTSP 검사방법은 다음과 같은 효과가 있다. The CTSP inspection method using the LC resonance frequency variation according to the present invention has the following effects.

CTSP의 ITO 전극 간 정전용량 값의 이상 유무를 LC공진 주파수로 측정하므로 ITO 패턴의 형태에 관계없이, CTSP의 종류에 관계없이, CTSP 전용 컨트롤러 칩 없이도 CTSP의 불량 유무를 판별 해낼 수 있다. The presence or absence of the CTSP deficiency can be determined without the CTSP dedicated controller chip, regardless of the type of ITO pattern, regardless of the type of ITO pattern.

또한 전기적 공진현상을 이용한 검사회로를 이용하므로 공진현상이 갖는 고유한 안정성으로 인하여 정전기 쇼크나 외부 EMI등의 전기적 충격에 강하며 기계적 진동 또는 온습도 변화 등 외부 환경변화요인에 매우 둔감하다. 측정에 있어서도 전압이나 전류가 아닌 주파수를 카운터로 세면서 측정함으로써 1/1000 이상의 측정 정확도를 유지할 수 있다. Also, due to the inherent stability of the resonance phenomenon due to the use of the inspection circuit using the electrical resonance phenomenon, it is resistant to an electrostatic shock such as an electrostatic shock or an external EMI, and is very insensitive to external environmental factors such as mechanical vibration or temperature and humidity change. In measurement, the measurement accuracy can be maintained at 1/1000 or more by counting the frequency, not the voltage or the current, by the counter.

또한 LC공진회로 정수와 공진주파수 관계식을 통하여 CTSP의 ITO 전극 간 실제 정전용량 값을 얻을 수 있으므로 불량분석에 용이하게 쓰일 수 있다. In addition, since the capacitance value between the ITO electrodes of the CTSP can be obtained through the LC resonant circuit constant and the resonance frequency relation, it can be easily used for the failure analysis.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 CTSP의 검사방법에 대하여 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, a method of inspecting a CTSP according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

먼저, 본 발명의 검사방법을 적용한 LC공진을 이용한 CTSP의 검사회로를 도 4에 도시하였다. 도 4에 도시한 바와 같이 검사회로는 기본적으로 LC 공진부(410), op 앰프 구동부(420), 릴레이부(430), 마이컴부(440)를 포함한다. First, FIG. 4 shows an inspection circuit of CTSP using LC resonance to which the inspection method of the present invention is applied. 4, the inspection circuit basically includes an LC resonance unit 410, an op-amp driver 420, a relay unit 430, and a microcomputer unit 440.

LC 공진부(410)는 일반적으로 CTSP의 ITO 전극 간 정전용량이 수십pF의 매우 적은 값이므로 이의 측정에 적합하도록 100pF 미만의 기준 capacitor와 수백uH의 인덕턴스(inductance)값을 갖는 코일로 LC 공진회로를 구성하여 기준 공진주파수가 600kHz~800kHz 범위의 값이 되도록 한다. Since the capacitance between the ITO electrodes of the CTSP is very small, which is a few tens of pF, the LC resonator 410 generally has a reference capacitor of less than 100 pF and a coil having an inductance value of several hundreds of uH, So that the reference resonance frequency is in the range of 600 kHz to 800 kHz.

op 앰프 구동부(420)는 LC 공진회로를 발진시키는 역할과 더불어 공진주파수 파형을 사인파에서 구형파로 변형시켜 마이컴의 주파수 카운팅이 용이하도록 하는 기능을 한다. The op-amp driver 420 serves to oscillate the LC resonance circuit and to transform the resonance frequency waveform from a sinusoidal wave to a square wave to facilitate frequency counting of the micom.

릴레이부(430)는 LC 공진회로와 CTSP의 ITO 센서 전극을 각기 쌍으로 순차적으로 병렬 연결하기위한 장치로서 마이컴의 신호를 받아 동작 된다. The relay unit 430 is a device for sequentially connecting the LC resonance circuit and the ITO sensor electrodes of the CTSP in pairs in order and operates by receiving a signal from the microcomputer.

마이컴부(440)는 릴레이를 구동하고, op앰프에서 출력되는 공진주파수 펄스신호를 카운팅하여 주파수를 측정하고 정전용량환산 및 CTSP의 불량 여부를 판단하기 위한 계산 기능을 수행한다. The microcomputer unit 440 drives the relay, counts the resonance frequency pulse signal output from the operational amplifier, measures the frequency, and calculates the electrostatic capacity and determines whether the CTSP is defective or not.

다음은 상기에서 설명된 도 4의 검사회로를 이용하여 CTSP의 전기적 특성을 지배하는 ITO 센서 전극 간 정전용량을 공진주파수 변이로 측정하는 과정에 대하여 설명하고자 한다. Hereinafter, a process of measuring the electrostatic capacitance between the ITO sensor electrodes that governs the electrical characteristics of the CTSP using the inspection circuit of FIG. 4 will be described in terms of the resonance frequency variation.

먼저 모든 릴레이를 단선시켜서 CTSP의 ITO 센서 전극들을 LC공진회로에 연결시키지 않았을 때, 즉 순수하게 공진회로의 LC만의 발진으로 인한 기준 공진주파수를 마이컴으로 측정한다. First, when all of the relays are disconnected and the ITO sensor electrodes of the CTSP are not connected to the LC resonance circuit, that is, the reference resonance frequency due to the LC oscillation only in the resonance circuit is measured by the micom.

차후 마이컴의 동작신호에 의하여 릴레이를 구동하여 CTSP의 ITO 센서 전극들을 터치면상에서 서로 인접한 전극 끼리, 전극 단자에서는 아래 위 대칭 쌍으로, 즉 예를 들어 10개의 ITO 전극이 존재하는 경우, 처음엔 1번과 10번, 다음엔 2번과 9번식으로 순차적으로 LC공진회로에 연결하면 ITO 전극간의 정전용량이 LC공진회로의 C값에다 더하여져서 공진주파수의 변이가 발생하게 되는데 이 공진 주파수 변이 값을 마이컴을 이용하여 측정하면 CTSP의 ITO 각 전극 간 정전용량 값을 공진 주파수 변이의 정도 차로 일대일 환산하여 측정할 수 있는 것이다. 이와 같은 측정법은 CTSP의 ITO 센서 전극의 패턴 형태에 무관하므로 CTSP의 종류에 상관없이 항상 적용 가능한 범용적인 것이다. 또한 측정 정밀도에 있어서 전압이나 전류치가 아닌 주파수를 카운트하는 방식으로 측정하므로 항시 측정에 악영향을 주는 전기적 노이즈에 무관한 정밀한 측정이 가능하다. When the ITO sensor electrodes of the CTSP are driven by the operation signals of the microcomputer, the electrodes adjacent to each other on the touch surface and the electrode terminals of the CTSP are symmetrically arranged in the upper and lower symmetrical pairs, When the LC resonance circuit is connected sequentially to the LC resonance circuit, the electrostatic capacitance between the ITO electrodes is added to the C value of the LC resonance circuit, so that the resonance frequency shift occurs. , It is possible to measure the electrostatic capacity value between the electrodes of the ITO of the CTSP by one-to-one conversion of the difference in degree of resonance frequency variation. Such a measurement method is irrelevant to the pattern shape of the ITO sensor electrode of the CTSP, and thus is always applicable regardless of the type of the CTSP. In addition, the measurement accuracy is measured by a method of counting frequencies, not voltage or current values, so that precise measurement is possible irrespective of electrical noise, which adversely affects the measurement at all times.

다음은 CTSP들의 불량여부검사를 수행하는 실제 검사과정에 대하여 예를 들어 설명하고자한다. 우선 검사기 회로의 기준 공진주파수를 마이컴으로 측정하였는데 680kHz이었다. 이어서 정상적인 CTSP 샘플들의 공진 주파수와 그 평균값을 구한다. 도 5에 그 실제 결과를 도시하였다. 도 5는 32개의 단자를 갖는 핸드폰용 CTSP 정상샘플 10장을 상기에서 설명한 방법으로 대칭 쌍이 되는 단자간의 정전용량에 의하여 변이된 공진주파수를 측정하여 실제로 측정하여 표시한 것이다. 도 5에서 점선으로 표시된 채널 3번의 측정값들(510)은 10장의 CTSP 샘플에서 3번 단자와 30번 단자를 상기의 검사기에 연결하였을 때 얻어진 값들이다. 나머지 채널의 의미도 이와 같다. 다음은 측정된 변이 주파수를 평균값으로 나누는 규격화(normalize)를 하는 과정이다. 그 결과를 도 6에 도시하였다. 도 6을 보면 모든 결과 데이터들은 점선(610)으로 표시된 ± 1%내의 오차 범위 안에 존재하므로 이를 양품들의 공진 주파수 변이 범위로 설정하여 마이컴의 메모리에 저장해놓는다. 이렇게 양품의 주파수 변이 범위를 정해놓고 차후 CTSP 검사 시 특정 채널 간 공진 주파수 변이를 마이컴이 측정하여 규격화로 계산해내고 기 저장된 양품 범위 값과 비교하여 만일 이 값이 양품의 범위를 벗어나면 불량으로 판정하면 된다. 다음은 불량 판정의 실 예이다. 도 7과 도 8은 불량으로 판정된 CTSP 샘플의 결과이다. 도 7에서는 점선(710)으로 표시된 두 개의 데이터가 그리고 도 8에서는 다수의 데이터 값들이 양품의 범위를 크게 벗어남을 명확히 볼 수 있다. 도 9는 LC공진 회로의 관계식

를 이용하여 도 7의 측정 결과를 CTSP의 실제 정전용량으로 환산하여 표시한 것이다. 이때 검사회로에 사용된 LC는 각각 L=1mH, Cref=30pF 이었다. 즉, 공진주파수 변이를 측정하면 실제 정전용량도 같이 알 수 있는 것이다. 이와 같은 방법으로 본 발명에서는 LC공진 주파수 변이를 이용하여 CTSP의 종류에 관계없이, ITO 패턴의 형태에 관계없이, CTSP 전용 컨트롤러 칩 없이도 CTSP의 불량 유무를 판별 해낼 수 있으며 더불어 실제 각 전극 간 정전용량 값도 측정할 수 있다.Hereinafter, an actual inspection process for performing a defect check of CTSPs will be described as an example. First, the reference resonance frequency of the tester circuit was measured by a micom, which was 680 kHz. Next, the resonance frequency and average value of normal CTSP samples are obtained. The actual results are shown in Fig. FIG. 5 shows actually measured and displayed 10 resonance frequencies of terminals CTSP for mobile phones having 32 terminals by mutual capacitance between terminals which are symmetrically paired by the above-described method. The measured values 510 of the channel 3 indicated by the dashed line in FIG. 5 are the values obtained when the terminals 3 and 30 of the 10 CTSP samples are connected to the above tester. The meaning of the remaining channels is the same. The following is a normalization process that divides the measured mutation frequency by the average value. The results are shown in Fig. Referring to FIG. 6, all the result data are within an error range of ± 1% indicated by a dotted line 610, and therefore, they are stored in the memory of the microcomputer by setting the resonance frequency variation range of good products. In this case, the frequency variation range of the good product is set, and the microcomputer measures the resonance frequency variation between specific channels in the subsequent CTSP inspection, calculates it by standardization, and compares it with the stored good product range value. If the value is out of the good range, do. The following is a real example of a bad judgment. Figures 7 and 8 show the results of the CTSP samples determined to be defective. In FIG. 7, it can be clearly seen that there are two data indicated by a dotted line 710, and in FIG. 8, a plurality of data values deviate significantly from the range of good products. 9 is a graph showing the relationship

Is used to convert the measurement result of Fig. 7 into the actual capacitance of CTSP. The LC used in the test circuit was L = 1mH and Cref = 30pF, respectively. That is, when the resonance frequency variation is measured, the actual capacitance is also known. In this way, according to the present invention, regardless of the type of CTSP, regardless of the type of the ITO pattern, it is possible to determine whether the CTSP is defective without using a dedicated CTSP controller chip by using the LC resonance frequency variation, The value can also be measured.

도 1은 CTSP 각층의 구조도 1 shows the structure of each layer of CTSP

도 2는 CTSP의 ITO 전극의 등가회로 Fig. 2 shows the equivalent circuit of the ITO electrode of CTSP

도 3은 완성된 터치스크린 모듈 구조 FIG. 3 is a cross-

도 4는 LC공진을 이용한 CTSP 검사회로 Fig. 4 shows a CTSP inspection circuit using LC resonance

도 5는 양품 CTSP의 각 채널의 공진 주파수 변이 Fig. 5 is a graph showing the relationship between the resonance frequency variation of each channel of the good CTSP

도 6은 도 5의 결과의 규격화 및 양품의 범위설정 Fig. 6 is a graph showing the relationship between the standardization of the results of Fig. 5 and the range setting

도 7은 불량 판정의 예 1 Fig. 7 shows the results of the determination

도 8은 불량 판정의 예 2 Fig. 8 shows the results of the determination

도 9는 CTSP의 ITO 단자 간 실제 정전용량 측정 결과 Figure 9 shows the results of actual capacitance measurement between the ITO terminals of CTSP

Claims

An inspection method for determining whether or not a capacitance touch screen panel (CTSP) is defective using an LC resonance frequency shift measurement method, comprising: an LC resonance circuit capable of generating electrical resonance by coupling with capacitance between ITO sensor electrodes of CTSP; , An OP amplifier circuit for converting the square wave into a square wave so that the microcomputer can count the frequency while oscillating the LC resonance circuit is constructed and the CTSP and the LC resonance circuit are not connected to obtain the reference resonance frequency due to the pure LC oscillation A first step of measuring a reference resonance frequency of the LC resonance circuit only by measuring the LC resonance frequency value by the frequency of the micom and storing the measured LC resonance frequency value, the relay unit operated by the signal of the micom, the pair of ITO sensor electrodes of the CTSP and the LC resonance circuit In which the capacitance between the ITO electrodes is added to the C value of the LC resonance circuit, A third step of determining distribution of resonance frequency variation of various CTSPs measured by the micom by repeating the second and second steps of measuring and storing the water variation value by the micom, setting the good product range and storing it in the memory of the microcomputer, The fourth step of the microcomputer judging whether the resonance frequency variation value between channels is normalized by the micom to calculate a good / bad quality according to whether the value is in the range of the good product or out of the range of the good product in comparison with the good product range value stored in the microcomputer CTSP test method characterized by

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