KR100936903B1 - Inspection device and inspection method - Google Patents
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Abstract
본 발명은 인쇄 회로 기판에서 이물 불량이나 패턴 불량 등을 검사하는 장치에 관한 것이다. 본 발명에 의하면, 인쇄 회로 기판은 로딩 유닛에서 검사 유닛으로 이동된 후 순차적으로 상면 촬영, 반전, 그리고 하면 촬영이 이루어지고, 언로딩 유닛으로 이동된다. 로딩 유닛, 검사 유닛, 언로딩 유닛 간 인쇄 회로 기판의 이동은 직각으로 배치된 두 개의 아암을 사용하여 로딩 유닛으로부터 검사 유닛으로 인쇄 회로 기판의 이동과 검사 유닛으로부터 언로딩 유닛으로의 인쇄 회로 기판의 이동이 동시에 이루어진다. 또한, 검사 유닛에서 인쇄 회로 기판이 놓이는 스테이지에 인쇄 회로 기판의 반전을 위해 제공되는 핑거들이 삽입되는 홈을 형성하여, 핑거들이 홈을 통해 이동함으로써 인쇄 회로 기판을 스테이지로부터 들어 올리거나 스테이지 상에 놓을 수 있다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for inspecting foreign material defects, pattern defects, and the like on a printed circuit board. According to the present invention, the printed circuit board is moved from the loading unit to the inspection unit, and then the top surface photographing, inverting, and bottom surface photographing are sequentially performed and moved to the unloading unit. The movement of the printed circuit board between the loading unit, the inspection unit and the unloading unit is carried out using two arms arranged at right angles, the movement of the printed circuit board from the loading unit to the inspection unit and the movement of the printed circuit board from the inspection unit to the unloading unit. The movement takes place at the same time. Also, in the inspection unit, a groove in which the fingers provided for inversion of the printed circuit board are inserted is formed in the stage where the printed circuit board is placed, so that the fingers move through the groove to lift the printed circuit board from the stage or place it on the stage. Can be.
인쇄 회로 기판, 반전, 검사 Printed circuit board, reversed, inspection
Description
본 발명은 검사 장치 및 검사 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 인쇄회로 기판과 같은 대상물의 불량 여부를 광학적으로 검사하는 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection apparatus and an inspection method, and more particularly, to an apparatus and method for optically inspecting whether an object such as a printed circuit board is defective.
상면에 패턴 등의 형성이 완료된 인쇄 회로 기판은 표면에 이물이 부착되어 있는지 여부, 패턴에 불량이 있는지 여부, 또는 인쇄 회로 기판에 개구를 형성한 경우 절단면에 버(burr) 등이 잔류하는지 여부 등에 대한 검사가 이루어진다. 상술한 검사는 주로 카메라로 기판을 촬영하여 얻은 이미지를 영상 처리기가 이미지의 영역별 밝기 등을 검출함으로써 이루어진다. 일반적으로 검사 장치는 많은 수의 인쇄 회로 기판들을 연속적으로 검사한다. 따라서 검사에 소요되는 시간을 단축하기 위해 장치 내 유닛들 간에 인쇄 회로 기판을 빠르게 이송하는 것은 중요하다.The printed circuit board on which the pattern or the like is formed on the upper surface has a foreign substance adhered to the surface, whether there is a defect in the pattern, or if burrs remain on the cut surface when an opening is formed in the printed circuit board. Checks are made. The above-described inspection is mainly performed by the image processor detecting the brightness, etc. of each region of the image, obtained by photographing the substrate with a camera. In general, the inspection apparatus continuously inspects a large number of printed circuit boards. Therefore, it is important to quickly transfer the printed circuit board between units in the apparatus in order to shorten the time required for inspection.
또한, 인쇄 회로 기판의 상면과 하면 각각에 대해 검사를 수행하는 경우, 인쇄 회로 기판을 반전하는 유닛이 필요하다. 그러나 일반적인 장치는 그 구조가 매우 복잡하고, 반전에 소요되는 시간이 길다.In addition, when inspecting the upper and lower surfaces of the printed circuit board, a unit for inverting the printed circuit board is required. However, the general apparatus is very complicated in structure and takes a long time to invert.
본 발명은 인쇄 회로 기판과 같은 검사 대상물의 검사를 효율적으로 수행할 수 있는 검사 장치 및 방법을 제공한다.The present invention provides an inspection apparatus and method that can efficiently inspect an inspection object such as a printed circuit board.
또한, 본 발명은 인쇄 회로 기판과 같은 검사 대상물의 검사에 소요되는 시간을 줄일 수 있는 검사 장치 및 방법을 제공한다.The present invention also provides an inspection apparatus and method that can reduce the time required for inspection of an inspection object such as a printed circuit board.
또한, 본 발명은 인쇄 회로 기판과 같은 검사 대상물의 반전을 빠르게 수행할 수 있고, 장치 구조가 단순한 검사 장치 및 방법을 제공한다.The present invention also provides an inspection apparatus and method that can quickly perform reversal of an inspection object such as a printed circuit board and have a simple device structure.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 여기에 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다. The problem to be solved by the present invention is not limited thereto, and other problems not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.
본 발명은 검사 대상물을 검사하는 장치를 제공한다. 일 실시예에 의하면, 상기 검사 대상물은 인쇄 회로 기판일 수 있다. 상기 검사 장치는 검사 대상물에 대한 검사가 이루어지는 검사 유닛; 상기 검사 유닛으로 반입하고자 하는 검사 대상물이 놓이는 반입 유닛; 상기 검사 유닛에서 반출된 검사 대상물이 놓이는 반출 유닛; 그리고 상기 반입 유닛과 상기 검사 유닛, 그리고 상기 반출 유닛과 상기 검사 유닛 간에 검사 대상물을 이송하는 이송 유닛을 가진다. 상기 이송 유닛은 상기 반입 유닛에 놓인 검사 대상물을 상기 검사 유닛으로 이송시키는 과정과 상기 검사 유닛에 놓인 검사 대상물을 상기 반출 유닛으로 이송시키는 과정을 동시에 수행할 수 있도록 형상 지어진다. The present invention provides an apparatus for inspecting an inspection object. In example embodiments, the test object may be a printed circuit board. The inspection apparatus may include an inspection unit for inspecting an inspection object; An import unit in which an inspection object to be carried into the inspection unit is placed; A carrying out unit on which an inspected object taken out from the inspecting unit is placed; And a transfer unit for transferring an inspection object between the carrying unit and the inspection unit, and between the carrying unit and the inspection unit. The transfer unit is configured to simultaneously perform a process of transferring the inspection object placed on the carrying unit to the inspection unit and a process of transferring the inspection object placed on the inspection unit to the carrying unit.
일 예에 의하면, 상기 검사 유닛은 상기 반입 유닛 및 상기 반출 유닛과 검사 대상물을 주고받는 초기 위치, 검사 대상물에 대해 촬영이 이루어지는 검사 위치, 그리고 검사 대상물을 반전시키는 반전 위치 간에 이동 가능하며, 검사 대상물이 놓이는 복수의 스테이지들; 상기 검사 위치로 이동된 검사 대상물을 촬영하는 촬영 부재; 상기 촬영 부재로부터 촬영된 이미지를 전송받고, 상기 이미지로부터 검사 대상물의 불량 여부를 판독하는 영상 처리기; 그리고 상기 반전 위치로 이동된 검사 대상물을 반전하는 반전 부재를 가진다. According to an example, the inspection unit may be moved between an initial position for exchanging an inspection object with the carrying unit and the carrying unit, an inspection position at which an image is taken with respect to the inspection object, and an inversion position for reversing the inspection object. A plurality of stages to be placed; A photographing member for photographing a test object moved to the test position; An image processor which receives the photographed image from the photographing member and reads whether the inspection object is defective from the image; And an inversion member for inverting the inspection object moved to the inversion position.
일 예에 의하면, 상기 이송 유닛은 상기 반입 유닛, 상기 반출 유닛, 그리고 상기 초기 위치로 이동된 상기 스테이지 사이에 배치되며, 회전 가능한 회전체; 상기 회전체로부터 연장되며, 검사 대상물을 홀딩할 수 있는 제 1 암; 그리고 상기 회전체로부터 상기 제 1 암에 수직하게 연장되며, 검사 대상물을 홀딩할 수 있는 제 2 암을 가진다. According to one example, the transfer unit is disposed between the carrying unit, the carrying unit and the stage moved to the initial position, the rotatable body; A first arm extending from the rotating body and capable of holding an inspection object; And a second arm extending perpendicular to the first arm from the rotating body and capable of holding the inspection object.
일 예에 의하면, 상기 반전 부재는 검사 대상물을 홀딩하는 핑거; 검사 대상물이 반전되도록 상기 핑거를 회전시키는 회전 구동기; 상기 핑거를 상하 방향으로 이동시키는 수직 구동기; 그리고 상기 핑거를 전후 방향으로 이동시키는 수평 구동기를 포함한다. 각각의 상기 스테이지의 상면에는 상기 핑거가 삽입될 수 있는 홈들이 형성될 수 있다. According to one example, the reversing member includes a finger for holding the inspection object; A rotary driver for rotating the finger so that the inspection object is inverted; A vertical driver for moving the finger in a vertical direction; And a horizontal driver for moving the finger in the front-rear direction. Grooves into which the finger can be inserted may be formed on an upper surface of each stage.
일 예에 의하면, 상기 반입 유닛은 검사 대상물이 직선 이동되는 운반대와 상기 운반대 상에 설치되어 검사 대상물 상에 부착된 이물을 제거하는 이물 제거 부재를 포함한다. 상기 운반대에는 일정거리 이격되며, 검사 대상물의 양측 가장자 리를 지지하는 컨베이어 벨트가 제공될 수 있다. 상기 이물 제거 부재는 상기 컨베이어 벨트에 놓인 검사 대상물의 상면과 접촉하도록 배치되며, 외측면에 접착제가 제공된 제 1 롤러; 상기 컨베이어 벨트에 놓인 검사 대상물의 하면과 접촉되도록 배치되며, 외측면에 접착제가 제공된 제 2 롤러; 상기 제 1 롤러와 접촉되도록 배치되며, 외측면에 접착제가 제공되어 상기 제 1 롤러에 부착된 이물을 제거하는 상부 롤러; 그리고 상기 제 2 롤러와 접촉되도록 배치되며, 외측면에 접착제가 제공되어 상기 제 2 롤러에 부착된 이물을 제거하는 하부 롤러를 가진다. According to one example, the carrying unit includes a carriage in which the inspection object is linearly moved, and a foreign matter removal member installed on the carriage to remove foreign matter attached to the inspection object. The pallet may be provided with a conveyor belt spaced apart from each other by a certain distance and supporting both edges of the inspection object. The foreign material removing member is disposed to contact the upper surface of the inspection object placed on the conveyor belt, the first roller provided with an adhesive on the outer surface; A second roller disposed to be in contact with the lower surface of the inspection object placed on the conveyor belt and provided with an adhesive on an outer surface thereof; An upper roller disposed to be in contact with the first roller and provided with an adhesive on an outer surface thereof to remove foreign substances attached to the first roller; And a lower roller disposed to be in contact with the second roller and provided with an adhesive on an outer surface thereof to remove foreign substances attached to the second roller.
또한, 본 발명의 검사 장치는 검사 대상물에 대한 검사가 이루어지는 검사 유닛; 상기 검사 유닛에서 검사하고자 하는 검사 대상물이 놓이는 반입 유닛; 상기 검사 유닛에서 검사가 이루어진 검사 대상물이 놓이는 반출 유닛; 그리고 상기 반입 유닛과 상기 검사 유닛, 그리고 상기 반출 유닛과 상기 검사 유닛 간에 검사 대상물을 이송하는 이송 유닛을 가진다. 상기 검사 유닛은 검사 대상물을 촬영하는 제 1 촬영 부재 및 제 2 촬영 부재; 검사 대상물을 반전하는 반전 부재; 상기 제 1 촬영 부재 및 상기 제 2 촬영부재로부터 촬영된 이미지를 전송받고, 상기 이미지로부터 검사 대상물의 불량 여부를 판독하는 영상 처리기; 회전에 의해 상기 반입 유닛 및 상기 반출 유닛과 검사 대상물을 주고받는 초기 위치, 상기 제 1 촬영 부재가 제공된 제 1 검사 위치, 상기 반전 부재가 제공된 반전 위치, 상기 제 2 촬영 부재가 제공된 제 2 검사 위치 간에 이동 가능하며, 검사 대상물이 놓이는 복수의 스테이지들을 포함한다. In addition, the inspection apparatus of the present invention includes an inspection unit for inspecting the inspection object; An import unit in which an inspection object to be inspected in the inspection unit is placed; A carrying-out unit on which the inspected object subjected to the inspection in the inspecting unit is placed; And a transfer unit for transferring an inspection object between the carrying unit and the inspection unit, and between the carrying unit and the inspection unit. The inspection unit includes a first photographing member and a second photographing member for photographing an inspection object; An inverting member for inverting the inspection object; An image processor configured to receive images captured by the first photographing member and the second photographing member, and to read whether the inspection object is defective from the image; An initial position for exchanging an inspection object with the carrying unit and the carrying unit by rotation, a first inspection position provided with the first imaging member, an inverted position provided with the inversion member, and a second inspection position provided with the second imaging member It is movable in the liver and includes a plurality of stages on which the test object is placed.
일 예에 의하면, 상기 검사 유닛은 회전되는 베이스를 더 포함하고, 상기 베 이스의 각 변에는 상기 스테이지가 상기 베이스와 함께 회전되도록 제공되며, 상기 제 1 촬영 부재, 상기 반전 부재, 그리고 상기 제 2 촬영 부재는 각각의 상기 스테이지가 회전시 순차적으로 도달될 수 있도록 배치된다. According to one example, the inspection unit further comprises a base to be rotated, each side of the base is provided so that the stage is rotated with the base, the first photographing member, the inverting member, and the second The photographing member is arranged such that each of the stages can be reached sequentially when rotating.
일 예에 의하면, 상기 이송 유닛은 상기 반입 유닛, 상기 반출 유닛, 그리고 상기 초기 위치로 이동된 상기 스테이지 사이에 배치되며, 회전 가능한 회전체; 상기 회전체로부터 연장되며, 검사 대상물을 홀딩할 수 있는 제 1 암; 그리고 상기 회전체로부터 상기 제 1 암에 수직하게 연장되며, 검사 대상물을 홀딩할 수 있는 제 2 암을 가진다. According to one example, the transfer unit is disposed between the carrying unit, the carrying unit and the stage moved to the initial position, the rotatable body; A first arm extending from the rotating body and capable of holding an inspection object; And a second arm extending perpendicular to the first arm from the rotating body and capable of holding the inspection object.
일 예에 의하면, 상기 반전 부재는 검사 대상물을 진공에 의해 홀딩하는 핑거; 상기 핑거를 회전시키고, 상하 방향 및 전후 방향으로 직선이동시키는 구동기를 포함하고, 상기 스테이지의 상면에는 상기 핑거가 전후 방향 및 상하 방향으로 이동시 상기 핑거의 이동경로로서 제공되는 홈이 형성된다. In one embodiment, the reversing member includes a finger for holding the inspection object by a vacuum; And a driver for rotating the finger and linearly moving it in the vertical direction and the front and rear direction, and a groove provided on the upper surface of the stage provided as a movement path of the finger when the finger moves in the front, rear, and vertical directions.
또한, 본 발명은 검사 대상물을 검사하는 방법을 제공한다. 본 발명의 방법에 의하면, 반입 유닛으로부터 검사 대상물을 검사 유닛으로 이동하고, 상기 검사 유닛에서 검사 대상물의 불량 여부를 검사하며, 상기 검사 유닛에서 검사가 완료된 기판은 반출 유닛으로 이동하되, 하나의 구동기에 의해 회전 가능하며 서로에 대해 직각으로 제공된 두 개의 암을 사용하여, 상기 반입 유닛에서 상기 검사 유닛으로의 검사 대상물의 이동과 상기 검사 유닛에서 상기 반입 유닛으로의 검사 대상물의 이동을 동시에 수행한다. The present invention also provides a method for inspecting a test object. According to the method of the present invention, the inspection object is moved from the import unit to the inspection unit, and the inspection unit inspects whether the inspection object is defective, and the inspection-completed substrate is moved to the export unit, but one driver The two arms rotatable by and provided at right angles to each other simultaneously perform the movement of the inspection object from the loading unit to the inspection unit and the movement of the inspection object from the inspection unit to the loading unit.
일 예에 의하면, 상기 검사 유닛에는 검사 대상물이 놓일 수 있는 스테이지 를 복수 개 제공하고, 상기 스테이지들은 회전에 의해 초기 위치, 제 1 검사 위치, 반전 위치, 그리고 제 2 검사 위치로 순차적으로 이동 가능하며, 상기 초기 위치는 상기 반입 유닛 및 상기 반출 유닛과 상기 검사 유닛이 검사 대상물을 주고받는 위치이고, 상기 제 1 검사 위치와 상기 제 2 검사 위치는 촬영 부재에 의해 검사 대상물의 촬영이 이루어지는 위치이며, 상기 반전 위치는 검사 대상물의 반전이 이루어지는 위치이다. According to one example, the inspection unit is provided with a plurality of stages on which the test object can be placed, the stages are sequentially movable to the initial position, the first inspection position, the inverted position, and the second inspection position by rotation; The initial position is a position at which the loading unit, the carrying unit and the inspection unit exchange inspection objects, and the first inspection position and the second inspection position are positions at which the photographing of the inspection object is performed by a photographing member. The inversion position is a position at which the inspection object is inverted.
일 예에 의하면, 상기 스테이지들은 네 개가 제공되며, 상기 초기 위치, 상기 제 1 검사 위치, 상기 반전 위치, 상기 제 2 검사 위치는 상기 스테이지들이 각각 90도 회전시 이동되는 위치이다. According to an example, four stages are provided, and the initial position, the first inspection position, the inverted position, and the second inspection position are positions at which the stages are rotated by 90 degrees each.
상기 검사 대상물의 반전은 상부에서 핑거로 상기 스테이지에 놓인 검사 대상물을 진공 흡착하여 상기 검사 대상물을 상기 스테이지로부터 들어 올리고, 상기 핑거를 180도 회전시켜 상기 검사 대상물을 반전시키고, 상기 핑거를 상기 스테이지의 상부면에 제공된 홈 내로 하강 이동시킴으로써 상기 검사 대상물을 상기 스테이지에 놓음으로써 이루어질 수 있다. The reversal of the inspection object is carried out by vacuum suction of the inspection object placed on the stage with a finger from the top to lift the inspection object from the stage, and rotate the
또한, 상기 검사 대상물의 반전은 상기 스테이지의 상부면에 제공된 홈 내로 핑거를 삽입하고 상기 핑거를 승강시킴으로써 상기 스테이지로부터 상기 검사 대상물을 들어올리고 상기 검사 대상물을 진공 흡착하며, 상기 핑거를 180도 회전시켜 상기 검사 대상물을 반전시키고, 상기 스테이지의 상부면에 상기 검사 대상물을 놓은 후 상기 진공을 제거함으로써 이루어질 수 있다.In addition, the reversal of the inspection object may include inserting a finger into a groove provided in the upper surface of the stage and lifting the finger to lift the inspection object from the stage, vacuum suction the inspection object, and rotate the
또한, 직각으로 제공된 두 개의 암 중 하나는 상기 반입 유닛에 위치된 검사 대상물을 진공 흡착하고, 다른 하나는 상기 초기 위치로 이동된 상기 스테이지에 놓인 검사 대상물을 진공 흡착하며, 상기 두 개의 암과 연결된 회전체가 상기 반출 유닛을 향하는 방향으로 90도 회전됨으로써, 상기 초기 위치로 이동된 상기 스테이지에 놓인 검사 대상물은 상기 반출 유닛으로 이동되고 이와 동시에 상기 반입 유닛에 위치된 검사 대상물은 상기 초기 위치로 이동된 상기 스테이지 상으로 이동될 수 있다. In addition, one of the two arms provided at right angles vacuum-adsorbs the inspection object positioned in the loading unit, and the other vacuum-adsorbs the inspection object placed on the stage moved to the initial position, and connected with the two arms. As the rotating body is rotated 90 degrees in the direction toward the carry-out unit, the inspection object placed on the stage moved to the initial position is moved to the carry-out unit, and at the same time, the inspection object located at the carry-in unit moves to the initial position. Can be moved onto the stage.
또한, 상기 검사 대상물은 상면 및 하면을 가지는 얇은 판 형상을 가지고, 상기 검사 대상물의 검사면 수에 따라 검사 과정을 상이하게 수행하되, 상기 검사면이 상기 상면 및 하면 모두를 포함하는 경우에는 각각의 상기 검사 대상물이 상기 초기 위치, 상기 제 1 검사 위치, 상기 반전 위치, 상기 제 2 검사 위치, 그리고 상기 초기 위치로 순차적으로 이동되고, 상기 제 1 검사 위치에서는 상기 검사 대상물의 상면과 하면 중 어느 하나에 대한 검사가 이루어지고, 상기 제 2 검사 위치에서는 상기 검사 대상물의 상면과 하면 중 다른 하나에 대한 검사가 이루어지며, In addition, the inspection object has a thin plate shape having an upper surface and a lower surface, and performs the inspection process differently according to the number of inspection surfaces of the inspection object, each of the case where the inspection surface includes both the upper and lower surfaces The inspection object is sequentially moved to the initial position, the first inspection position, the inverted position, the second inspection position, and the initial position, and at the first inspection position, any one of an upper surface and a lower surface of the inspection object. Inspection is performed, and at the second inspection position, inspection of the other of the upper and lower surfaces of the inspection object is performed;
상기 검사면이 상면인 경우에는 각각의 검사 대상물은 상기 초기 위치, 상기 제 1 검사 위치와 상기 제 2 검사 위치 중 어느 하나의 위치, 그리고 상기 초기 위치로 순차적으로 이동되고, 상기 제 1 검사 위치와 상기 제 2 검사 위치에서는 서로 상이한 검사 대상물에 대해 검사가 이루어질 수 있다. When the inspection surface is an upper surface, each inspection object is sequentially moved to the initial position, any one of the first inspection position and the second inspection position, and the initial position, and the first inspection position and In the second inspection position, the inspection may be performed on different inspection objects.
또한, 상기 검사 대상물이 상기 검사 유닛으로 이동되기 전에 상기 반입 유닛에서 상기 검사 대상물에 부착된 이물을 제거할 수 있다. In addition, the foreign matter attached to the inspection object may be removed from the carrying unit before the inspection object is moved to the inspection unit.
본 발명에 의하면, 많은 수의 검사 대상물에 대해 효율적으로 검사를 수행할 수 있다.According to the present invention, inspection can be efficiently performed for a large number of inspection objects.
본 발명에 의하면, 검사 유닛으로 검사 대상물의 로딩 및 검사 유닛으로부터 검사 대상물의 언로딩이 동시에 수행되므로, 검사 공정에 소요되는 시간을 줄일 수 있다.According to the present invention, since the loading of the inspection object into the inspection unit and the unloading of the inspection object from the inspection unit are simultaneously performed, the time required for the inspection process can be reduced.
본 발명에 의하며, 검사 대상물의 반전을 용이하게 행할 수 있고, 반전을 위한 유닛의 구조가 단순하다.According to the present invention, the inspection object can be easily reversed, and the structure of the unit for reversing is simple.
본 발명에 의하면, 촬영 부재에 의해 촬영이 이루어지기 전에 검사 대상물에 부착된 이물을 일차적으로 제거하므로 이물로 인해 검사 대상물이 불량으로 판단되는 것을 줄일 수 있다.According to the present invention, since the foreign matter attached to the inspection object is first removed before the photographing is performed by the photographing member, it is possible to reduce the fact that the inspection object is determined to be defective due to the foreign matter.
이하, 본 발명의 실시 예를 첨부된 도면 도 1 내지 도 10을 참조하여 더욱 상세히 설명한다. 본 발명의 실시 예는 여러 가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래의 실시 예로 한정되는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 실시 예는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해 제공되는 것이다. 따라서 도면에서의 요소의 형상은 보다 명확한 설명을 강조하기 위해 과장되었다. Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to FIGS. 1 to 10. Embodiments of the invention may be modified in various forms, the scope of the invention should not be construed as limited to the following examples. This embodiment is provided to more completely explain the present invention to those skilled in the art. Therefore, the shape of the elements in the drawings are exaggerated to emphasize a more clear description.
본 실시 예에서 검사 대상물이 대체로 얇은 판으로서 제공되는 인쇄 회로 기판(B)인 경우를 예로 들어 설명한다. 그러나 이와 달리 본 발명의 기술적 사상은 인쇄 회로 기판(B) 이외의 검사 물품에도 적용될 수 있다. In this embodiment, the case where the inspection object is a printed circuit board B which is generally provided as a thin plate will be described as an example. However, the technical idea of the present invention may be applied to an inspection article other than the printed circuit board B.
도 1은 본 발명의 검사 장치(1)의 일 실시 예를 개략적으로 보여주는 평면도이다. 도 1을 참조하면, 검사 장치(1)는 반입 유닛(10), 반출 유닛(20), 검사 유닛(30), 그리고 이송 유닛(40)을 가진다. 반입 유닛(10)에는 검사를 수행할 인쇄 회로 기판(B)이 놓이고, 반출 유닛(20)에는 검사가 완료된 인쇄 회로 기판(B)이 놓인다. 검사 유닛(30)은 인쇄 회로 기판(B)에 대해 불량 여부를 검사한다. 이송 유닛(40)은 인쇄 회로 기판(B)을 반입 유닛(10)으로부터 검사 유닛(30)으로 이동하고, 인쇄 회로 기판(B)을 검사 유닛(30)으로부터 반출 유닛(20)으로 이동한다. 반입 유닛(10)과 반출 유닛(20)은 일정 거리 이격되며 서로 마주보도록 배치된다. 검사 유닛(30)은 반입 유닛(10)과 반출 유닛(20)의 일단에 인접하게 배치된다. 반입 유닛(10), 검사 유닛(30), 그리고 반출 유닛(20)에 의해 제공되는 공간에는 이송 유닛(40)이 배치된다.1 is a plan view schematically showing an embodiment of the
반입 유닛(10)은 적재대(120), 운반대(140), 수평 이동기(160), 그리고 이물 제거 부재(180)를 가진다. 적재대(120)에는 검사가 수행될 인쇄 회로 기판들(B)이 놓인다. 수평 이동기(160)는 인쇄 회로 기판(B)을 적재대(120)에서 운반대(140)로 이동되며, 인쇄 회로 기판(B)은 운반대(140)에서 상술한 이송 유닛(40)에 의해 홀딩 가능한 위치까지 운반된다. 이물 제거 부재(180)는 검사 유닛(30)으로 인쇄 회로 기판(B)이 이동되기 전에 인쇄 회로 기판(B) 상에 부착된 이물을 일부 제거한다. The
도 2는 도 1의 선 Ⅰ-Ⅰ을 따라 절단한 단면도로, 적재대(120)의 구성을 개 략적으로 보여준다. 도 2를 참조하면, 적재대(120)는 프레임(121), 승강 판(122), 수직 구동기(123), 그리고 센서(124)를 가진다. 프레임(121)은 내부에 상부가 개방된 공간을 가지며, 대체로 직육면체의 형상을 가진다. 프레임(121)의 형상은 검사 대상물의 형상 등에 따라 변화될 수 있다. 프레임(121) 내에는 직사각 판 형상의 승강 판(122)이 제공된다. 인쇄 회로 기판들(B)은 승강 판(122) 상에 적층 되게 놓인다. 수직 구동기(123)는 승강 판(122)을 상하 방향으로 구동한다. 인쇄 회로 기판(B)이 프레임(121)으로부터 운반대(140)로 이동될 때마다, 승강 판(122)은 기설정 높이 승강된다. 센서(124)는 승강 판(122) 상에 인쇄 회로 기판(B)이 남아 있는지 여부를 검출한다. 승강 판(122)에 인쇄 회로 기판(B)이 남아 있지 않는 경우에 승강 판(122)은 하강하고, 새로운 인쇄 회로 기판(B)이 작업자 또는 자동 운송 장치에 의해 프레임(121) 내로 놓인다. FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line I-I of FIG. 1 and schematically shows a configuration of the mounting table 120. Referring to FIG. 2, the mounting table 120 has a
승강 판(122) 상에 인쇄 회로 기판(B)이 놓여져 있는지 여부를 검출하는 방법은 다양하게 제공될 수 있다. 일 예에 의하면, 승강 판(122)의 표면은 광을 반사하는 재질로 제공되고, 발광 센서와 수광 센서가 승강 판(122)의 상면 또는 상부에 나란하게 배치된다. 승강 판(122)이 설정위치까지 승강되면 발광 센서로부터 조사된 광은 승강 판(122)으로부터 반사되고, 반사된 광을 수광 센서가 받아 들일 수 있다. 다른 예에 의하면, 인쇄 회로 기판(B)이 승강 판(122)의 측방향으로 돌출될 수 있도록 승강 판(122)의 크기를 정하고, 발광 센서와 수광 센서가 승강 판(122)의 외측에 서로 마주보도록 배치된다. 설정위치에 인쇄 회로 기판(B)이 놓인 경우에는 발광 센서로부터 발광된 광을 인쇄 회로 기판(B)이 차단하고, 설정 위치에 승 강 판(122)이 놓인 경우에는 수광 센서가 광을 받아 들일 수 있다. Various methods of detecting whether the printed circuit board B is placed on the elevating
운반대(140)는 상부에서 바라볼 때 대체로 직사각의 형상을 가진다. 운반대(140)의 상부면과 적재대(120)의 상부면은 대체로 유사한 높이로 배치된다. 운반대(140)는 적재대(120)와 대향되는 위치에서 시작하여 이동 유닛을 향하는 방향으로 길게 연장된다. 운반대(140)는 일정 간격 이격되어 서로 마주보도록 설치된 컨베이어 벨트들(142)을 가진다. 각각의 컨베이어 벨트(142)에는 인쇄 회로 기판(B)의 가장자리가 지지된다. 적재대(120)에서 운반대(140)의 일단 영역으로 이동된 인쇄 회로 기판(B)은 컨베이어 벨트(142)에 의해 운반대(140)의 타단 영역까지 직선 이동된다. 컨베이어 벨트(142)는 그 상면이 운반대(140)의 일단에서 타단을 향하도록 계속적으로 회전된다. 운반대(140)에서 인쇄 회로 기판(B)의 운반은 컨베이어 벨트(142) 이외의 다른 운반 구조가 사용될 수 있다. The
수평 이동기(160)는 지지 축(161), 가이드 레일(162), 지지로드(164), 핸드(166)그리고 구동기(167, 168)를 가진다. 지지 축(161)의 길이 방향은 운반대(140)의 길이 방향과 수직하게 되도록 배치된다. 지지 축(161)의 일단은 적재대(120)와 대향되는 위치 또는 이보다 길게 연장되고, 지지 축(161)의 타단은 운반대(140)와 대향되는 위치 또는 이보다 길게 연장된다. 지지 축(161)은 적재대(120) 및 운반대(140)의 상부에 위치된다. 지지 축(161)의 일단은 적재대(120)로부터 이격되게 배치되며, 지지 축(161)의 타단은 적재대(120)를 가로지르도록 배치된다. 지지 축(161)의 상면에는 지지 축(161)의 길이방향을 따라 일직선으로 가이드 레일(162)이 제공되며, 가이드 레일(162)에는 브라켓(163)이 결합된다. 브라켓(163) 에는 지지로드(164)의 일단이 고정 결합되며, 지지로드(164)의 타단에는 핸드(166)가 고정 결합된다. 핸드(166)의 하면에는 인쇄 회로 기판(B)을 진공 흡착하도록 진공 홀(166)이 형성된다. 구동기는 브라켓(163)을 가이드 레일(162)을 따라 직선 이동시키는 수평 구동기(168)와, 핸드(166)를 상하 방향으로 이동시키는 수직 구동기(167)를 가진다.The
이물 제거 부재(180)는 운반대(140)에서 컨베이어 벨트(142)를 따라 운송되는 인쇄 회로 기판(B)의 표면에서 일부 이물을 제거한다. 도 3은 도 1의 선 Ⅱ-Ⅱ의 단면도로, 이물 제거 부재(180)의 일 예를 보여준다. 도 3을 참조하면, 이물 제거 부재(180)는 제 1 롤러(182), 제 2 롤러(184), 상부 롤러(186), 그리고 하부 롤러(188)를 가진다. 제 1 롤러(182)와 제 2 롤러(184)는 컨베이어 벨트(142)를 사이에 두고 서로 상하로 마주보도록 배치된다. 제 2 롤러(184)는 컨베이어 벨트들(142)의 사이에 위치된다. 제 1 롤러(182)와 제 2 롤러(184)는 컨베이어 벨트(142)를 따라 이송되는 인쇄 회로 기판(B)의 상면 및 하면과 접촉될 수 있도록 배치된다. 제 1 롤러(182)와 제 2 롤러(184) 각각은 인쇄 회로 기판(B)과의 마찰력에 의해 회전될 수 있다. 선택적으로 제 1 롤러(182)와 제 2 롤러(184)를 회전시키는 구동기(도시되지 않음)가 제공될 수 있다. The foreign
제 1 롤러(182)와 제 2 롤러(184) 각각의 외주면에는 접착층(182a, 184a)이 제공된다. 접착층(182a, 184a)은 제 1 롤러(182)와 제 2 롤러(184)가 인쇄 회로 기판(B)과 접촉될 때 인쇄 회로 기판(B) 상에 부착된 이물을 인쇄 회로 기판(B)에서 제거한다. 제 1 롤러(182)와 제 2 롤러(184)의 접착층의 접착력은 인쇄 회로 기 판(B)과의 접착 없이 인쇄 회로 기판(B) 상의 이물을 제거할 수 있을 정도로 제공된다.
상부 롤러(186)는 제 1 롤러(182)에 부착된 이물을 제거하고, 하부 롤러(188)는 제 2 롤러(184)에 부착된 이물을 제거한다. 상부 롤러(186)는 제 1 롤러(182)의 상부에 제 1 롤러(182)와 접촉되도록 배치되고, 하부 롤러(188)는 제 2 롤러(184)의 하부에 제 2 롤러(184)와 접촉되도록 배치된다. 상부 롤러(186)와 하부 롤러(188)의 외주면에는 접착층(186a, 188a)이 제공된다. 상부 롤러(186)와 하부 롤러(188)의 접착층의 접착력은 제 1 롤러(182) 또는 하부 롤러(188)와의 접착 없이 제 1 롤러(182) 또는 제 2 롤러(184) 상의 이물을 제거할 수 있을 정도로 제공된다. 상부 롤러(186)와 하부 롤러(188)의 접착층(186a, 188a)의 접착력은 제 1 롤러(182)와 제 2 롤러(184)의 접착층(182a, 184a)의 접착력보다 크게 제공된다.The
도 3과 같이, 하부 롤러(188)와 상부 롤러(186)는 상하 방향으로 일직선이 되도록 배치되고, 제 2 롤러(184)와 제 1 롤러(182)는 상하 방향으로 일직선이 되도록 배치되며, 상부 롤러(186)와 제 1 롤러(182)는 수직선에서 경사지게 배치될 수 있다. 선택적으로, 도 4와 같이 하부 롤러(188), 제 2 롤러(184), 제 1 롤러(182), 그리고 상부 롤러(186)는 상하 방향으로 일직선이 되도록 배치될 수 있다. As shown in FIG. 3, the
반출 유닛(20)은 적재대(220), 운반대(240), 그리고 수평 이동기(260)를 가진다. 반출 유닛(20)의 운반대(240)와 반입 유닛(10)의 운반대(140)는 나란하게 서로 마주보도록 배치된다. 반출 유닛(20)과 반입 유닛(10)의 서로 대응되는 구성들 은 반입 유닛(10)과 반출 유닛(20) 사이의 중앙선을 기준으로 서로 선대칭이 되도록 배치된다. 반출 유닛(20)의 적재대(220), 운반대(240), 그리고 수평 이동기(260)는 반입 유닛(10)의 적재대(120), 운반대(140), 그리고 수평 이동기(160)와 대체로 유사한 구조를 가진다. 다만, 반출 유닛(20)의 적재대(220)에서 센서(도시되지 않음)는 승강 판이 설정 높이까지 하강하였는지 여부를 검출하고, 승강 판이 설정 높이까지 하강하면 작업자 또는 자동 운송 장치가 승강 판 상에 놓인 인쇄 회로 기판(B)들을 적재대(220)로부터 제거한다. 또한, 반출 유닛(20)에서 컨베이어 벨트(242)의 회전 방향과 반입 유닛(10)에서 컨베이어 벨트(142)의 회전 방향은 반대로 제공된다. The carrying out
검사 유닛(30)은 인쇄 회로 기판(B)을 카메라로 촬영하고, 촬영된 이미지로부터 인쇄 회로 기판(B)의 불량 여부를 검출한다. 불량 검사는 인쇄 회로 기판(B)에 형성된 패턴에 단선, 단락, 패임, 합선 등이 있는지 등을 검사하는 패턴 검사일 수 있다. 선택적으로 불량 검사는 인쇄 회로 기판(B)의 상면 또는 하면에 이물이 잔류하는지 여부를 검사하는 이물 검사일 수 있다. 이물은 패턴 상에 부착된 이물이거나, 인쇄 회로 기판(B)에 형성된 개구의 절단면에 잔존하는 버(burr), 또는 인쇄 회로 기판(B)의 표면에 부착된 파티클 등일 수 있다. The inspection unit 30 photographs the printed circuit board B with a camera, and detects whether the printed circuit board B is defective from the photographed image. The defect inspection may be a pattern inspection that inspects whether a pattern formed on the printed circuit board B has a disconnection, a short circuit, a recess, a short circuit, or the like. Optionally, the defect inspection may be a foreign material inspection that inspects whether foreign matter remains on the upper or lower surface of the printed circuit board B. FIG. The foreign material may be a foreign material attached on the pattern, a burr remaining on the cut surface of the opening formed in the printed circuit board B, a particle attached to the surface of the printed circuit board B, and the like.
검사 유닛(30)은 스테이지 유닛(300), 촬영 부재(420, 440), 반전 부재(500), 그리고 영상 처리기(600)를 가진다. 도 5는 도 1의 스테이지 유닛(300)의 사시도이다. 도 5를 참조하면, 스테이지 유닛(300)은 베이스(320)와 복수의 스테이지들(340)을 가진다. 스테이지 유닛(300)은 그 중심축을 기준으로 회전된다. 베이 스(320)는 상부에서 바라볼 때 대체로 정사각판 형상을 가진다. 베이스(320)의 하부면 중앙에는 상술한 모터(326)에 의해 회전되는 구동축(324)이 고정설치된다. 베이스(320)의 각 변에는 스테이지들(340)이 설치된다. 스테이지(340)는 베이스(320)와 함께 회전되도록 베이스(320)의 각 변으로부터 베이스(320)의 외측으로 연장된다. 각각의 스테이지(340)는 직사각의 판 형상을 가지며, 스테이지(340)의 긴 변의 길이는 베이스(320)의 일변의 길이와 대체로 유사하게 제공된다. The inspection unit 30 includes a
각각의 스테이지(340)의 상면에는 슬릿 형성의 장 홈들(342)이 형성된다. 각각의 홈(342)은 스테이지(340)의 외측변으로부터 내측으로 일정길이 연장된다. 각각의 홈(342)은 스테이지(340)의 짧은 변과 평행하게 형성된다. 홈들(342)은 서로 나란하게 형성된다. 홈들(342)은 후술하는 반전 부재(500)의 핑거(510)가 인쇄 회로 기판(B)을 스테이지(340)에 놓거나 스테이지(340)로부터 들어올릴 때, 핑거(510)의 이동 경로로서 기능한다.Slit-formed
베이스(320)는 설정 각도, 또는 그 배수의 각도로 회전된다. 예컨대, 설정 각도는 360도를 스테이지(340)의 수로 나눈 각일 수 있다. 본 실시 예와 같이 스테이지(340)가 네 개 제공된 경우, 베이스(320)는 90도, 또는 그 배수 간격으로 회전될 수 있다.The
각각의 스테이지(340)는 회전에 의해 초기 위치(P1), 검사 위치(P2, P4), 그리고 반전 위치(P3) 간에 이동된다. 초기 위치(P1)는 반입 유닛(10) 및 반출 유닛(20)과 검사 유닛(30)이 인쇄 회로 기판(B)을 주고 받는 위치이다. 검사 위치(P2, P4)는 촬영 부재(420, 440)에 의해 인쇄 회로 기판(B)의 촬영이 이루어지는 위치이다. 반전 위치(P3)는 인쇄 회로 기판(B)의 상면과 하면이 반전되는 위치이다. 검사 위치(P2, P4)는 복수 개가 제공될 수 있으며, 본 실시예에서는 검사 위치(P2, P4)가 두 군데이다. 첫 번째 검사 위치를 제 1 검사 위치(P2)라 하고, 두 번째 검사 위치를 제 2 검사 위치(P4)라 한다. Each
본 실시 예에서, 제 1 검사 위치(P2)는 베이스(320)의 제 1 측 영역이고, 제 2 검사 위치(P4)는 베이스(320)의 제 2 측 영역이다. 제 1 측과 제 2 측은 서로 마주보는 영역이다. 반전 위치(P3)는 베이스(320)의 제 3 측 영역이며, 제 3 측은 제 1 측 및 제 2 측과 수직한 영역이다. 초기 위치(P1)는 베이스(320)의 제 4 측 영역이며, 제 4 측은 제 3 측과 마주보는 영역이다. 제 4 측은 반입 유닛(10) 및 반출 유닛(20)과 인접한 영역이다. 베이스(320)가 일 방향으로 회전될 때, 각각의 스테이지(340)는 초기 위치(P1), 제 1 검사 위치(P2), 반전 위치(P3), 제 3 검사 위치(P2, P4)를 지난 후 다시 초기 위치(P1)로 돌아온다.In the present embodiment, the first inspection position P2 is the first side region of the
베이스(320)의 제 1 측 영역에는 제 1 촬영 유닛(420)이 설치되고, 베이스(320)의 제 2 측 영역에는 제 2 촬영 유닛(440)이 설치된다. 제 1 촬영 유닛(420)과 제 2 촬영 유닛(440)으로는 카메라가 사용된다. 제 1 촬영 유닛(420)과 제 2 촬영 유닛(440)은 동일한 해상도로 인쇄 회로 기판(B)을 촬영하도록 제공될 수 있다. 선택적으로 제 1 촬영 유닛(420)과 제 2 촬영 유닛(440)은 상이한 해상도로 인쇄 회로 기판(B)을 촬영하도록 제공될 수 있다. 제 1 촬영 유닛(420)과 제 2 촬영 유닛(440)은 서로 상이한 인쇄 회로 기판(B)의 상면을 촬영할 수 있다. 선택적으로 제 1 촬영 유닛(420)과 제 2 촬영 유닛(440)은 동일한 인쇄 회로 기판(B)을 촬영하되, 제 1 촬영 유닛(420)은 인쇄 회로 기판(B)의 상면을 촬영하고, 제 2 촬영 유닛(440)은 인쇄 회로 기판(B)의 하면을 촬영할 수 있다. The first imaging unit 420 is installed in the first side region of the
촬영 유닛에 의해 촬영된 이미지는 영상 처리기(600)로 전송된다. 영상 처리기(600)는 촬영 이미지로부터 인쇄 회로 기판(B)에 패턴 불량이 있는지 여부 또는 인쇄 회로 기판(B)의 패턴 또는 표면에 이물이 부착되어 있는지 여부를 판독한다. The image photographed by the photographing unit is transmitted to the
베이스(320)의 제 3 측 영역에는 반전 부재(500)가 설치된다. 도 6은 도 1의 반전 부재(500)의 사시도이다. 반전 부재(500)는 핑거(510), 연결 로드(520), 회전 축(530), 지지 블럭(540), 수직 지지대(550), 그리고 구동기(560)를 가진다. 핑거(510)는 인쇄 회로 기판(B)을 홀딩한다. 핑거(510)는 그 일면 끝단에 진공 홀들(512a)이 형성된 핀들(512)을 가진다. 핀들(512)은 일렬로 복수개가 제공될 수 있다. 핑거(510)는 복수 개가 제공될 수 있으며, 본 실시 예에서는 네 개의 핑거들(510)이 제공된다. 핑거들(510)은 서로 나란하게 배치되며, 스테이지(340)에 형성된 홈들(342)과 상응하도록 제공된다. 핑거(510)는 회전 운동, 전후 방향으로 직선 운동, 그리고 상하 방향으로 직선 운동하도록 제공된다. 구동기는 핑거(510)를 회전시키는 회전 구동기(562), 핑거(510)를 전후 방향으로 직선 이동시키는 수평 구동기(564), 그리고 핑거(510)를 상하 방향으로 직선 이동시키는 수직 구동기(566)를 가진다.An
핑거들(510)의 일단은 연결 로드(520)에 고정 설치된다. 연결 로드(520)는 회전 축(530)에 고정 설치되고, 회전 축(530)은 지지 블럭(540)에 의해 지지된다. 지지 블럭(540)은 대체로 직육면체 형상을 가진다. 회전 축(530)의 일부는 지지 블 럭(540) 내에 삽입되며, 일부는 지지 블럭(540)으로부터 돌출된다. 회전 축(530)은 지지 블럭(540)에 대해 회전 가능하고, 전후 방향으로 이동 가능하도록 지지 블럭(540)에 결합된다. 회전 축(530)의 일단에는 회전 구동기(530)인 모터가 설치된다. 수평 구동기(564)는 회전 축(530)을 전후 방향으로 이동시키며, 수평 구동기(564)로는 유공압 실린더가 사용될 수 있다. 수직 지지대(550)에는 상하 방향으로 일직선이 되도록 제공되는 가이드 레일(552)이 설치된다. 가이드 레일(552)에는 수직 지지대(550)에 대해 상하 방향으로 이동 가능하도록 브라켓(560)이 결합되고, 지지 블럭(540)은 브라켓(560)에 고정결합된다. 브라켓(560)은 수직 구동기(566)에 의해 상하로 이동된다.One end of the
도 7a 내지 도 7e는 반전 부재(500)가 스테이지(340) 상에 놓인 인쇄 회로 기판(B)을 반전시키는 과정을 순차적으로 보여주는 도면들이다. 처음에 핀들(512)이 아래 방향으로 돌출된 상태에서 핑거들(510)이 인쇄 회로 기판(B)을 진공 흡착한다. 핑거들(510)은 일정 높이 위 방향으로 이동하여 인쇄 회로 기판(B)을 스테이지(340)로부터 들어올린다(도 7a). 이후, 핑거들(510)은 인쇄 회로 기판(B)이 스테이지(340)의 측부로 벗어나도록 후진 이동한다(도 7b). 회전 축(530)에 의해 핑거들(510)이 180도 회전되어 인쇄 회로 기판(B)이 반전된다(도 7c). 인쇄 회로 기판(B)은 핑거들(510) 위에 놓인다. 핑거들(510)이 전진 이동하여, 인쇄 회로 기판(B)이 스테이지(340) 상부에 위치된다(도 7d). 이후 핑거들이 아래 방향으로 이동되어 인쇄 회로 기판(B)은 스테이지(340) 상에 놓이고, 핑거들(510)은 스테이지(340)에 형성된 홈(342) 내로 삽입된다(도 7e). 핑거들(510)에서 진공이 차단되 고, 핑거들(510)은 후진 이동된다. 7A to 7E are diagrams sequentially illustrating a process of inverting the printed circuit board B on which the
상술한 바와 달리, 핑거들(510)이 인쇄 회로 기판(B)을 스테이지(340)로부터 충분히 높이 들어올리고, 스테이지(340)의 상부에서 곧바로 인쇄 회로 기판(B)을 회전시킬 수 있다.Unlike the above, the
또한, 상술한 바와 달리, 처음에 핑거들(510)이 스테이지(340)에 제공된 홈(342) 내로 삽입된 후, 상부로 이동됨으로써 인쇄 회로 기판(B)을 스테이지(340)로부터 들어올릴 수 있다. 이후, 핑거들(510)이 180도 회전하여 인쇄 회로 기판(B)을 반전시키고, 인쇄 회로 기판(B)이 핑거들(510)의 아래에서 핑거들(510)에 진공흡착된 상태에서 핑거들(510)이 인쇄 회로 기판(B)을 스테이지(340)에 놓을 수 있다.In addition, unlike the above, the
도 8은 도 1의 이송 유닛(40)의 사시도이다. 이송 유닛(40)은 초기 위치(P1)로 이동된 스테이지(340) 상의 인쇄 회로 기판(B)을 반출 유닛(20)으로 이동시키고, 이와 동시에 반입 유닛(10)에 놓인 인쇄 회로 기판(B)을 초기 위치(P1)로 이동된 스테이지(340) 상으로 이동시키는 구조를 가진다. 8 is a perspective view of the
도 8을 참조하면, 이송 유닛(40)은 회전체(710), 제 1 암(720), 제 2 암(740), 지지판(770), 그리고 구동기(780)를 가진다. 제 1 암(720)과 제 2 암(740)은 각각 로드 형상을 가지며, 인쇄 회로 기판(B)을 홀딩한다. 제 1 암(720)과 제 2 암(740)의 하면 끝단에는 인쇄 회로 기판(B)을 진공으로 흡착할 수 있도록 진공 홀(722)이 형성된다. 제 1 암(720)은 회전체(710)로부터 그 측 방향으로 길게 연장된다. 제 2 암(740)은 제 1 암(720)과 동일 평면 상에 배치되며 제 1 암(720) 과 수직하게 회전체(710)로부터 그 측 방향으로 연장된다. 제 1 암(720), 제 2 암(740), 그리고 회전체(710)는 상부에서 바라볼 때 'ㄱ' 형상을 가진다. 제 1 암(720)과 제 2 암(740)은 회전체(710)와 함께 회전되고 구동될 수 있도록 회전체(710)에 결합된다. 제 1 암(720), 제 2 암(740), 그리고 회전체(710)는 일체로 제조될 수 있다. Referring to FIG. 8, the
회전체(710)는 반입 유닛(10), 반출 유닛(20), 그리고 초기 위치(P1)에 놓인 스테이지(340)에 의해 정의되는 공간에 설치된다. 회전체(710)에는 회전 축(760)이 고정 결합되고, 회전 축(760)의 아래에는 지지판(770)이 위치된다. 회전 축(760)은 지지판(770)에 대해 회전가능하고, 지지판(770)과 함께 상하 이동될 수 있도록 지지판(770)에 결합된다. 구동기(780)는 회전체(710)를 회전시키는 회전 구동기(782)와 회전 축(710)을 상하 방향으로 직선이동시키는 수직 구동기(784)를 가진다. 회전 구동기(782)는 회전 축(760)과 결합되며 지지판(770)에 설치된다. 회전 구동기(782)로는 모터 또는 로터리 실린더가 사용될 수 있다. 수직 구동기(784)로는 직선 이동을 위한 유공압 실린더가 사용될 수 있다.The
도 9a와 도 9b는 이송 유닛(40)이 인쇄 회로 기판(B)을 이송하는 과정을 보여주는 도면들이다. 반입 유닛(10)의 운반대(140) 상에는 적재대(120)로부터 이송된 검사가 수행될 인쇄 회로 기판(B1)이 놓이고, 검사 유닛(30)의 초기 위치(P1)로 이동된 스테이지(340) 상에는 촬영이 완료된 인쇄 회로 기판(B2)이 놓인다. 이송 유닛(40)의 제 1 암(720)은 반입 유닛(10)의 운반대(140) 상부에 위치되고, 제 2 암(740)은 검사 유닛(30)의 초기 위치(P1)로 이동된 스테이지(340) 상부에 위치된 다. 회전체(710)가 아래로 이동하며, 제 1 암(720)은 반입 유닛(10)의 운반대(140)에 놓인 인쇄 회로 기판(B1)을 진공 흡착하고, 제 2 암(740)은 초기 위치(P1)로 이동된 스테이지(340) 상에 놓인 인쇄 회로 기판(B2)을 진공 흡착한다(도 9a). 회전체(710)가 위 방향으로 이동하고, 제 2 암(740)이 반출 유닛(20)을 향하는 방향으로 90도 회전된다. 제 2 암(740)은 반출 유닛(20)의 운반대(140) 상부로 이동되고, 제 1 암(720)은 초기 위치(P1)에 놓인 스테이지(340) 상부로 이동된다. 제 1 암(720)과 제 2 암(740)이 아래 방향으로 이동된다. 제 1 암(720)에 흡착된 인쇄 회로 기판(B1)은 초기 위치(P1)에 놓인 스테이지(340) 상에 놓이고, 제 2 암(740)에 놓인 인쇄 회로 기판(B2)은 반출 유닛(20)의 운반대(140) 상에 놓인다(도 9b). 스테이지(340)는 회전되고, 회전체(710)는 제 1 암(720)이 반입 유닛(10)을 향하는 방향으로 90도 회전한다. 제 1 암(720)은 다시 반입 유닛(10)의 운반대(140) 상부에 위치되고, 제 2 암(740)은 초기 위치(P1)로 이동된 스테이지(340) 상으로 이동된다. 상술한 과정은 계속적으로 반복된다.9A and 9B are views illustrating a process of transferring the printed circuit board B by the
다음에는 도 10을 참조하여, 인쇄 회로 기판(B)의 불량 여부를 검사하는 방법의 일 예를 설명한다. 인쇄 회로 기판(B)들은 검사가 수행되는 순서대로 제 1 기판), 제 2 기판, 제 3 기판, … 이라고 칭한다. 스테이지들(340)은 시계 방향으로 놓이는 순서에 따라 제 1 스테이지, 제 2 스테이지, 제 3 스테이지, 그리고 제 4 스테이지라고 칭한다. Next, an example of a method of inspecting whether the printed circuit board B is defective will be described with reference to FIG. 10. The printed circuit boards B are the first substrate, the second substrate, the third substrate,... In the order in which the inspection is performed. It is called. The
처음에 각각의 인쇄 회로 기판(B)들에 대해 검사를 수행할 면을 결정한다(스텝 S10). 검사면은 인쇄 회로 기판(B)의 양면 모두이거나, 인쇄 회로 기판(B)의 일 면이다. 일면은 패턴이 형성된 인쇄 회로 기판(B)의 상면일 수 있다. First, the surface on which each of the printed circuit boards B is to be inspected is determined (step S10). The inspection surface may be both sides of the printed circuit board B, or one surface of the printed circuit board B. FIG. One surface may be an upper surface of the printed circuit board B on which the pattern is formed.
검사면이 양면인 경우에는 각각의 인쇄 회로 기판(B)은 초기 위치(P1), 제 1 검사 위치(P2), 반전 위치(P3), 그리고 제 2 검사 위치(P4)를 거쳐 다시 초기 위치(P1)로 이동되고, 제 1 검사 위치(P2)에서 인쇄 회로 기판(B)의 상면 촬영, 반전 위치(P3)에서 인쇄 회로 기판(B)의 반전, 그리고 제 2 검사 위치(P4)에서 인쇄 회로 기판(B)의 하면 촬영이 이루어진다. 구체적인 검사 방법의 일 예는 다음과 같다. When the inspection surface is double-sided, each printed circuit board B passes through the initial position P1, the first inspection position P2, the inversion position P3, and the second inspection position P4, and then again the initial position ( Moved to P1, and photographs the top surface of the printed circuit board B at the first inspection position P2, inverts the printed circuit board B at the inverted position P3, and the printed circuit at the second inspection position P4. Imaging of the lower surface of the substrate B is performed. An example of a specific inspection method is as follows.
제 1 기판, 제 2 기판, 제 3 기판, … 은 위에서 아래순으로 적재대(120) 내에 놓인다. 수평 이동기(160)는 적재대(120)로부터 제 1 기판을 반입 유닛(10)의 운반대(140)로 이동시킨다. 컨베이어 벨트(142)의 회전에 의해 운반대(140) 내에서 제 1 기판은 검사 유닛(30)을 향하는 방향으로 이동된다. 이동 도중에 이물 제거 부재(180)에 의해 제 1 기판 상에 부착된 이물의 일부가 제거된다. 제 2 기판, 제 3 기판, … 은 일정 시간 간격으로 계속적으로 제 1 기판과 동일하게 적재대(120)로부터 반입 유닛(10)으로 이동된다. 초기 위치(P1)에는 제 1 스테이지가 놓인다. 이송 유닛(40)은 제 1 기판을 제 1 스테이지로 이송한다(스텝 S110). First substrate, second substrate, third substrate,... Is placed in the mounting table 120 from top to bottom. The
스테이지 유닛(300)이 시계 방향으로 90도 회전된다. 제 1 스테이지는 제 1 검사 위치(P2)로 이동되고, 제 2 스테이지가 초기 위치(P1)로 이동된다(스텝 S120). The
제 1 기판의 상면이 촬영되고, 제 2 기판이 반입 유닛(10)에서 제 2 스테이지로 이동된다(스텝 S130). The upper surface of the first substrate is photographed, and the second substrate is moved from the carrying in
스테이지 유닛(300)이 시계 방향으로 90도 회전된다. 제 1 스테이지는 반전 위치(P3)로 이동되고, 제 2 스테이지(340)는 제 1 검사 위치(P2)로 이동되며, 제 3 스테이지는 초기 위치(P1)로 이동된다(스텝 S140). The
제 1 기판이 반전되고, 제 2 기판의 상면이 촬영되고, 제 3 기판이 제 3 스테이지로 이동된다(스텝 S150). The first substrate is inverted, the upper surface of the second substrate is photographed, and the third substrate is moved to the third stage (step S150).
스테이지 유닛(300)이 시계 방향으로 90도 회전된다. 제 1 스테이지는 제 2 검사 위치(P4)로 이동되고, 제 2 스테이지는 반전 위치(P3)로 이동되고, 제 3 스테이지는 제 1 검사 위치(P2)로 이동되고, 제 4 스테이지는 초기 위치(P1)로 이동된다(스텝 S160). The
제 1 기판의 후면이 촬영되고, 제 2 기판이 반전되고, 제 3 기판의 상면이 촬영되고, 제 4 기판이 제 4 스테이지로 이동된다(스텝 S170). The rear surface of the first substrate is photographed, the second substrate is inverted, the upper surface of the third substrate is photographed, and the fourth substrate is moved to the fourth stage (step S170).
스테이지 유닛(300)이 시계 방향으로 90도 회전된다. 제 1 스테이지는 초기 위치(P1)로 이동되고, 제 2 스테이지는 제 2 검사 위치(P4)로 이동되고, 제 3 스테이지는 반전 위치(P3)로 이동되고, 제 4 스테이지는 제 1 검사 위치(P2)로 이동된다(스텝 S180). The
초기 위치(P1)에서 제 1 기판은 반출 유닛(20)의 운반대(240)로 이동되고, 이와 동시에 제 5 기판이 제 1 스테이지로 이동된다. 제 2 기판의 후면이 촬영되고, 제 3 기판이 반전되고, 제 4 기판의 상면이 촬영된다(스텝 S190). At the initial position P1, the first substrate is moved to the
제 1 기판은 반출 유닛(20)의 운반대(140)에서 적재대(120)로 이동된다.The first substrate is moved from the
상술한 과정이 계속적으로 반복되며, 초기 위치(P1)에 놓인 스테이지(340)로 부터 검사가 완료된 인쇄 회로 기판(B)의 이동 및 검사가 수행될 인쇄 회로 기판(B)의 초기 위치(P1)에 놓인 스테이지(340)로의 이동은 동시에 이루어진다.The above-described process is continuously repeated, and the initial position P1 of the printed circuit board B to be inspected and the movement of the printed circuit board B whose inspection is completed from the
검사면이 상면 하나인 경우에는 각각의 인쇄 회로 기판(B)은 초기 위치(P1), 제 1 검사 위치(P2)와 제 2 검사 위치(P4) 중 어느 하나를 거쳐 다시 초기 위치(P1)로 이동된다. 제 1 검사 위치(P2)와 제 2 검사 위치(P4)에서 서로 상이한 인쇄 회로 기판(B)의 상면 촬영이 이루어진다. 이 경우, 인쇄 회로 기판(B)의 반전은 이루어지지 않는다. 구체적인 검사 방법의 일 예는 다음과 같다. When the inspection surface has one upper surface, each printed circuit board B passes through any one of the initial position P1, the first inspection position P2, and the second inspection position P4, and then returns to the initial position P1. Is moved. The imaging of the upper surface of the printed circuit board B different from each other at the first inspection position P2 and the second inspection position P4 is performed. In this case, the inversion of the printed circuit board B is not performed. An example of a specific inspection method is as follows.
반입 유닛(10)에서 인쇄 회로 기판(B)들이 이송되는 과정은 상술한 검사면이 양면인 경우와 동일하다.The process of transferring the printed circuit boards B in the
제 1 기판은 반입 유닛(10)에서 초기 위치(P1)에 놓인 제 1 스테이지로 이동된다(스텝 S210). The first substrate is moved to the first stage placed at the initial position P1 in the loading unit 10 (step S210).
스테이지 유닛(300)이 시계 방향으로 180도 회전된다. 제 1 스테이지는 반전 위치(P3)로 이동되고, 제 2 스테이지는 제 1 검사 위치(P2)로 이동되고, 제 3 스테이지는 초기 위치(P1)로 이동된다(스텝 S220). The
제 2 기판이 제 3 스테이지로 이동된다(스텝 S230).The second substrate is moved to the third stage (step S230).
스테이지 유닛(300)이 시계 방향으로 90도 회전된다. 제 1 스테이지는 제 2 검사 위치(P4)로 이동되고, 제 2 스테이지는 반전 위치(P3)로 이동되고, 제 3 스테이지는 제 1 검사 위치(P2)로 이동되고, 제 4 스테이지는 초기 위치(P1)로 이동된다(스텝 S240). The
제 1 기판과 제 2 기판의 상면 촬영이 이루어진다(스텝 S250).Image capturing of the first substrate and the second substrate is performed (step S250).
스테이지 유닛(300)이 시계 방향으로 90도 회전된다. 제 1 스테이지는 초기 위치(P1)로 이동되고, 제 2 스테이지는 제 2 검사 위치(P4)로 이동되고, 제 3 스테이지는 반전 위치(P3)로 이동되고, 제 4 스테이지는 제 1 검사 위치(P2)로 이동된다(스텝 S260). The
제 1 기판이 반출 유닛(20)으로 이동되고, 이와 동시에 제 3 기판이 제 1 스테이지로 이동된다(스텝 S270).The first substrate is moved to the carrying out
스테이지 유닛(300)이 시계 방향으로 180도 회전된다. 제 1 스테이지는 반전 위치(P3)로 이동되고, 제 2 스테이지는 제 1 검사 위치(P2)로 이동되고, 제 3 스테이지는 초기 위치(P1)로 이동되고, 제 4 스테이지는 제 2 검사 위치(P4)로 이동된다(스텝 S280)The
제 2 기판이 언로딩 유닛(20)으로 이동되고, 이와 동시에 제 3 기판이 제 1 스테이지로 이동된다(스텝 S290)The second substrate is moved to the
상술한 과정이 계속적으로 반복되며, 초기 위치(P1)에 놓인 스테이지(340)로부터 검사가 완료된 인쇄 회로 기판(B)의 이동 및 검사가 수행될 인쇄 회로 기판(B)의 초기 위치(P1)에 놓인 스테이지(340)로의 이동은 동시에 이루어진다.The above-described process is continuously repeated, and the
상술한 예에서는 인쇄 회로 기판(B)의 검사면을 먼저 선택하고, 다음에 검사가 이루어지는 것으로 설명하였다. 이 경우, 제 1 촬영 부재(420)와 제 2 촬영 부재(440)는 동일한 해상도로 인쇄 회로 기판(B)을 촬영할 수 있도록 제공된다. 선택적으로 인쇄 회로 기판(B)의 검사면은 양면만 이루어질 수 있다. 이 경우, 패턴이 형성된 면을 촬영하는 제 1 촬영부재는 반대면을 촬영하는 제 2 촬영부재에 비해 높은 해상도로 인쇄 회로 기판(B)을 촬영하도록 제공될 수 있다.In the above-mentioned example, it was demonstrated that the test surface of the printed circuit board B is selected first, and then the test is performed. In this case, the first photographing member 420 and the second photographing
상술한 예에서는 스테이지 유닛(300)이 네 개의 스테이지(340)를 가지는 것으로 설명하였다. 그러나 스테이지 유닛(300)은 이보다 많은 수의 스테이지들(340)을 가질 수 있다. 예컨대, 스테이지(340)는 여섯 개가 제공되고, 각각의 스테이지(340)는 초기 위치, 제 1 검사 위치, 제 2 검사 위치, 반전 위치, 제 3 검사 위치, 그리고 제 4 검사 위치를 거친 후 다시 초기 위치로 이동될 수 있다. 이 경우, 스테이지 유닛(300)은 한 번에 60도씩 회전될 수 있다.In the above-described example, the
도 1은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 검사 장치의 평면도이다.1 is a plan view of an inspection apparatus according to a preferred embodiment of the present invention.
도 2는 도 1의 적재대의 일 예를 보여주는 단면도이다.2 is a cross-sectional view showing an example of the mounting table of FIG.
도 3은 도 1의 이물 제거 부재의 일 예를 보여주는 단면도이다.3 is a cross-sectional view illustrating an example of the foreign material removing member of FIG. 1.
도 4는 도 1의 이물 제거 부재의 다른 예를 보여주는 단면도이다.4 is a cross-sectional view illustrating another example of the foreign material removing member of FIG. 1.
도 5는 도 1의 스테이지 유닛의 사시도이다.5 is a perspective view of the stage unit of FIG. 1.
도 6은 도 1의 반전 유닛의 사시도이다.6 is a perspective view of the inversion unit of FIG. 1.
도 7a 내지 도 7b는 인쇄 회로 기판을 반전하는 과정을 순차적으로 보여주는 도면들이다.7A through 7B are diagrams sequentially illustrating a process of inverting a printed circuit board.
도 8은 도 1의 이송 유닛의 사시도이다.8 is a perspective view of the transfer unit of FIG. 1.
도 9a와 도 9b는 이송 유닛에 의해 인쇄 회로 기판들이 이송되는 과정을 보여주는 도면들이다.9A and 9B are views illustrating a process of transferring printed circuit boards by a transfer unit.
도 10은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 검사 방법을 순차적으로 보여주는 플로우차트이다.10 is a flowchart sequentially showing a test method according to an exemplary embodiment of the present invention.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
10 : 반입 유닛 20 : 반출 유닛10: carrying unit 20: carrying unit
30 : 검사 유닛 40 : 이송 유닛30: inspection unit 40: transfer unit
120 : 적재대 140 : 운반대120: loading table 140: carrier
180 : 이물 제거 부재 320 : 베이스180: foreign material removing member 320: base
340 : 스테이지 420 : 제 1 촬영 부재340: Stage 420: First shooting member
440 : 제 2 촬영 부재 510 : 핑거440: second shooting member 510: finger
710 : 회전체 720 : 제 1 암710: rotating body 720: first arm
740 : 제 2 암740: the second arm
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