KR100832007B1 - 반도체 메모리 소자와 그의 구동 방법 - Google Patents
반도체 메모리 소자와 그의 구동 방법 Download PDFInfo
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Abstract
Description
Claims (16)
- 외부클럭을 지연시켜 DLL(Delay Locked Loop) 클럭을 생성하기 위한 지연고정루프;리드 커맨드에 응답하여 내부 리드 커맨드 신호를 생성하기 위한 내부 커맨드 신호 생성수단;상기 내부 리드 커맨드 신호를 지연고정된 상기 지연고정루프의 지연시간에 대응하는 시간만큼 지연시키기 위한 지연수단; 및상기 지연수단의 출력신호와 상기 DLL 클럭에 응답하여 출력인에이블신호를 생성하기 위한 출력인에이블신호 생성수단을 구비하는 반도체 메모리 소자.
- 제1항에 있어서,상기 지연고정루프는,상기 외부클럭을 버퍼링하여 기준클럭을 생성하는 클럭버퍼;상기 기준클럭을 제어신호에 따라 지연시켜 출력하는 딜레이라인;상기 딜레이라인의 출력신호의 듀티 싸이클을 교정하여 상기 DLL 클럭을 생성하는 듀티싸이클보상부;상기 DLL 클럭을 메모리내 클럭신호의 지연요소들로 모델링하여 피드백클럭 으로써 출력하는 지연복제모델부;상기 기준클럭과 피드백클럭의 위상차이를 비교하는 위상비교부; 및상기 위상비교부의 출력값에 따라 상기 제어신호를 출력하는 딜레이제어부를 구비하는 반도체 메모리 소자.
- 제2항에 있어서,상기 지연수단은,상기 내부 리드 커맨드 신호를 입력받고, 상기 클럭버퍼와 동일한 지연시간을 갖는 제1 지연부;상기 제1 지연부의 출력신호를 입력받고, 상기 제어신호에 따라 상기 딜레이라인과 동일한 지연시간을 갖는 제2 지연부; 및상기 제2 지연부의 출력신호를 입력받고, 상기 듀티싸이클보상부와 동일한 지연시간을 갖는 제3 지연부를 구비하는 반도체 메모리 소자.
- 제3항에 있어서,상기 제1 지연부는 상기 클럭버퍼와 동일한 지연시간을 가지는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
- 제3항에 있어서,상기 제2 지연부는 상기 딜레이라인과 동일한 지연시간을 가지는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
- 제3항에 있어서,상기 제3 지연부는 상기 듀티싸이클보상부와 동일한 지연시간을 가지는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
- 제1항에 있어서,상기 출력인에이블신호 생성수단은,상기 지연수단의 출력신호에 응답하여, 버스트랭스(burst length)에 대응하는 초기출력인에이블신호를 생성하는 초기신호생성부; 및상기 DLL 클럭에 응답하여, 상기 초기출력인에이블신호를 쉬프팅(shifting)한 상기 출력인에이블신호를 출력하는 출력인에이블신호 출력부를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
- 제1항에 있어서,상기 출력인에이블신호는 상기 DLL 클럭의 정해진 어느 한 시점에서 활성화되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
- 제7항에 있어서,상기 출력인에이블신호는 상기 DLL 클럭의 제1 에지 또는 제2 에지에 동기되는 적어도 하나 이상의 신호인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
- 제9항에 있어서,상기 출력인에이블신호 출력부는,상기 초기출력인에이블신호를 입력받고, 상기 DLL 클럭의 제1 에지에 동기하는 제1 출력인에이블신호를 출력하는 제1 출력인에이블신호 출력부; 및상기 제1 출력인에이블신호를 입력받고, 상기 DLL 클럭의 제2 에지에 동기하는 제2 출력인에이블신호를 출력하는 제2 출력인에이블신호 출력부를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
- 제10항에 있어서,상기 제1 출력인에이블신호 출력부는,상기 DLL 클럭의 제1 에지에 응답하여 상기 초기출력인에이블신호를 전달하는 전달부;상기 전달부의 출력신호를 래치하는 래치부; 및상기 래치부의 출력신호를 드라이빙하여, 상기 제1 출력인에이블신호로써 출력하는 드라이버를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
- 제10항에 있어서,상기 제2 출력인에이블신호 출력부는,상기 DLL 클럭의 제2 에지에 응답하여 상기 제1 출력인에이블신호를 전달하는 전달부;상기 전달부의 출력신호를 래치하는 래치부; 및상기 래치부의 출력신호를 드라이빙하여, 상기 제2 출력인에이블신호로써 출력하는 드라이버를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
- 삭제
- 지연고정루프에서 지연고정이 이루어질 때까지 외부클럭을 지연시켜 DLL(Delay Locked Loop) 클럭을 생성하는 단계;리드 커맨드에 응답하여 내부 리드 커맨드 신호를 생성하는 단계;상기 내부 리드 커맨드 신호를 지연고정된 상기 지연고정루프의 지연시간에 대응하는 시간만큼 지연시키는 단계; 및상기 DLL 클럭과 지연된 내부 리드 커맨드 신호에 응답하여 출력인에이블신호를 생성하는 단계를 포함하는 반도체 메모리 소자의 구동방법.
- 제14항에 있어서,상기 출력인에이블신호는 상기 DLL 클럭의 정해진 어느 한 시점에서 활성화되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 구동방법.
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| KR100933800B1 (ko) * | 2008-06-30 | 2009-12-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자의 출력 인에이블 신호 생성회로 |
| US8008954B2 (en) * | 2008-10-03 | 2011-08-30 | Micron Technology, Inc. | Multi-phase signal generator and method |
| US7911245B2 (en) * | 2008-10-03 | 2011-03-22 | Micron Technology, Inc. | Multi-phase signal generator and method |
| US7872924B2 (en) * | 2008-10-28 | 2011-01-18 | Micron Technology, Inc. | Multi-phase duty-cycle corrected clock signal generator and memory having same |
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| KR20110040538A (ko) * | 2009-10-14 | 2011-04-20 | 삼성전자주식회사 | 레이턴시 회로 및 이를 포함하는 반도체 장치 |
| JP2012010114A (ja) * | 2010-06-25 | 2012-01-12 | Elpida Memory Inc | 半導体装置 |
| US8369165B2 (en) * | 2011-02-17 | 2013-02-05 | Nanya Technology Corporation | Synchronous signal generating circuit |
| KR20130072693A (ko) * | 2011-12-22 | 2013-07-02 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 및 그의 동작 방법 |
| US8836394B2 (en) | 2012-03-26 | 2014-09-16 | Rambus Inc. | Method and apparatus for source-synchronous signaling |
| KR102034150B1 (ko) * | 2012-06-27 | 2019-10-18 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 지연 회로 및 이를 포함하는 반도체 장치 |
| KR101418045B1 (ko) * | 2013-01-18 | 2014-07-14 | 연세대학교 산학협력단 | 온도 감지 회로 및 온도 감지 방법 |
| US9508417B2 (en) | 2014-02-20 | 2016-11-29 | Micron Technology, Inc. | Methods and apparatuses for controlling timing paths and latency based on a loop delay |
| US9530473B2 (en) * | 2014-05-22 | 2016-12-27 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for timing provision of a command to input circuitry |
| KR20160048512A (ko) * | 2014-10-24 | 2016-05-04 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 타이밍 마진 자체 조정이 가능한 반도체 장치 |
| US9531363B2 (en) | 2015-04-28 | 2016-12-27 | Micron Technology, Inc. | Methods and apparatuses including command latency control circuit |
| US9813067B2 (en) | 2015-06-10 | 2017-11-07 | Micron Technology, Inc. | Clock signal and supply voltage variation tracking |
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| US9997220B2 (en) | 2016-08-22 | 2018-06-12 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for adjusting delay of command signal path |
| KR20190009534A (ko) * | 2017-07-19 | 2019-01-29 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체장치 |
| US10224938B2 (en) | 2017-07-26 | 2019-03-05 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for indirectly detecting phase variations |
| US11611335B2 (en) | 2021-05-06 | 2023-03-21 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Duty-cycle corrector phase shift circuit |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20050041613A (ko) * | 2003-10-31 | 2005-05-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 데이터 출력제어회로 |
| KR20050109813A (ko) * | 2004-05-17 | 2005-11-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 고정 루프를 포함하는 메모리 장치 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6446180B2 (en) * | 1999-07-19 | 2002-09-03 | Micron Technology, Inc. | Memory device with synchronized output path |
| KR100522433B1 (ko) | 2003-04-29 | 2005-10-20 | 주식회사 하이닉스반도체 | 도메인 크로싱 회로 |
| KR100540472B1 (ko) * | 2003-10-31 | 2006-01-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 데이터 출력에 관한 동작마진이 향상된 메모리 장치 |
| KR100543937B1 (ko) * | 2003-10-31 | 2006-01-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 데이터 출력제어회로 |
| KR100550633B1 (ko) * | 2003-12-04 | 2006-02-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 기억 소자의 지연 고정 루프 및 그의 제어 방법 |
| US7027336B2 (en) * | 2004-05-10 | 2006-04-11 | Hynix Semiconductor Inc. | Semiconductor memory device for controlling output timing of data depending on frequency variation |
| KR100636929B1 (ko) * | 2004-11-15 | 2006-10-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 메모리 장치의 데이터 출력 회로 |
| US7272054B2 (en) * | 2005-07-08 | 2007-09-18 | Micron Technology, Inc. | Time domain bridging circuitry for use in determining output enable timing |
-
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-
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Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20050041613A (ko) * | 2003-10-31 | 2005-05-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 데이터 출력제어회로 |
| KR20050109813A (ko) * | 2004-05-17 | 2005-11-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 고정 루프를 포함하는 메모리 장치 |
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