KR100813009B1 - Test System and Method for Photodiode Array Module for Optical Signal Performance Monitoring - Google Patents
Test System and Method for Photodiode Array Module for Optical Signal Performance Monitoring Download PDFInfo
- Publication number
- KR100813009B1 KR100813009B1 KR1020060123990A KR20060123990A KR100813009B1 KR 100813009 B1 KR100813009 B1 KR 100813009B1 KR 1020060123990 A KR1020060123990 A KR 1020060123990A KR 20060123990 A KR20060123990 A KR 20060123990A KR 100813009 B1 KR100813009 B1 KR 100813009B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- array module
- photodiode array
- channel
- control
- optical signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 75
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 69
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 title claims abstract description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 17
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 8
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 7
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 2
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 2
- 238000012356 Product development Methods 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000009863 impact test Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/26—Optical coupling means
- G02B6/28—Optical coupling means having data bus means, i.e. plural waveguides interconnected and providing an inherently bidirectional system by mixing and splitting signals
- G02B6/293—Optical coupling means having data bus means, i.e. plural waveguides interconnected and providing an inherently bidirectional system by mixing and splitting signals with wavelength selective means
- G02B6/29346—Optical coupling means having data bus means, i.e. plural waveguides interconnected and providing an inherently bidirectional system by mixing and splitting signals with wavelength selective means operating by wave or beam interference
- G02B6/29361—Interference filters, e.g. multilayer coatings, thin film filters, dichroic splitters or mirrors based on multilayers, WDM filters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J2001/4446—Type of detector
- G01J2001/446—Photodiode
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
본 발명은 광신호 성능감시용 포토 다이오드 어레이 모듈의 특성을 측정하는데 소요되는 시간을 단축하고 측정 자동화 설정에 사용되는 시험장치를 구비함으로써, 시험을 용이하게 하고 측정의 효율성을 높일 수 있는 포토 다이오드 어레이 모듈의 시험 시스템 및 그 방법에 관한 것으로, 본 발명은 광신호 성능감시용 포토 다이오드 어레이 모듈의 시험 시스템에 있어서, 포토 다이오드 어레이 모듈의 시험을 위한 제어 프로그램을 탑재하여, 시험을 제어하고, 시험 결과를 저장하는 제어 수단; 상기 제어 수단의 제어를 받아 광신호를 공급하는 레이저 광원; 상기 제어 수단의 제어를 받아 임의의 자연수 N 채널의 포토 다이오드 어레이 모듈의 각 입력 포트에 상기 레이저 광원의 광신호를 입력하기 위한 광 스위칭수단; 상기 제어 수단의 제어를 받아 상기 광 스위칭 수단에 의해 설정된 채널과 일치되도록 상기 포토 다이오드 어레이 모듈의 채널과 연결시키는 연결수단; 및 상기 제어 수단의 제어를 받아 상기 연결수단을 통해 상기 포토 다이오드로 역바이어스 전압을 공급하고, 상기 연결수단을 통해 입력된 포토 다이오드의 광 전류 값을 채널별로 감지하는 감지수단을 포함한다.The present invention shortens the time required to measure the characteristics of the photodiode array module for monitoring the optical signal performance and includes a test apparatus used for setting the measurement automation, thereby facilitating the test and increasing the efficiency of the measurement. TECHNICAL FIELD The present invention relates to a test system for a photodiode array module for monitoring an optical signal performance, comprising a control program for testing a photodiode array module, controlling a test, and a test result. Control means for storing; A laser light source for supplying an optical signal under the control of the control means; Optical switching means for inputting an optical signal of the laser light source to each input port of an arbitrary number N channel photodiode array module under control of the control means; Connection means connected to a channel of the photodiode array module under control of the control means to match a channel set by the optical switching means; And sensing means for supplying a reverse bias voltage to the photodiode through the connection means under the control of the control means, and detecting the photocurrent value of the photodiode input through the connection means for each channel.
Description
도 1은 본 발명에 따른 포토 다이오드 어레이 모듈의 시험 시스템의 전체 블록 구성도,1 is an overall block diagram of a test system of a photodiode array module according to the present invention;
도 2는 본 발명에 따른 포토 다이오드 어레이 모듈의 시험 방법의 처리 흐름도이다.2 is a process flowchart of a test method of a photodiode array module according to the present invention.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings
10: 레이저 광원 20: 광 스위치10: laser light source 20: light switch
30: 포토 다이오드 어레이 모듈 40: 시험 장치30: photodiode array module 40: test apparatus
50: 감지장치 60: 제어 장치50: detection device 60: control device
본 발명은 광신호 성능감시용 포토 다이오드 어레이 모듈의 시험 시스템 및 그 방법에 관한 것으로, 더욱 자세하게는 광신호 성능감시용 포토 다이오드 어레이 모듈의 특성을 측정하는데 소요되는 시간을 단축하고 측정 자동화 설정에 사용되는 시험장치를 구비함으로써, 시험을 용이하게 하고 측정의 효율성을 높일 수 있는 포토 다이오드 어레이 모듈의 시험 시스템 및 그 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a test system and method of the photodiode array module for monitoring the optical signal performance, and more particularly, to shorten the time required to measure the characteristics of the photodiode array module for monitoring the optical signal performance and to use it for setting measurement automation. The present invention relates to a test system and a method of a photodiode array module that can facilitate a test and increase measurement efficiency by providing a test apparatus.
통상적으로, 광통신에서 포토 다이오드는 광신호를 수신하여 광/전 변환하는 수신 모듈로 사용된다. 광 네트워크 혹은 전송 시스템을 설치하고 운영할 경우, 시스템 내의 주요 지점에서 발생하는 문제들을 감시하고, 문제 발생시 이를 유지 보수해 주는 체계가 필요하다.In general, photodiodes in optical communication are used as receiving modules for receiving and converting optical signals. When installing and operating an optical network or transmission system, there is a need for a system that monitors problems occurring at key points in the system and maintains them when they occur.
파장분할다중화(WDM: Wavelength Division Multiplexing) 광 전송시스템의 OAM(Operation Administration & Maintenance)과 관련된 대부분의 개념은 기존에 잘 개발된 동기 디지털 계층(SDH: Synchronous Digital Hierarchy) 전송시스템에서 도입된 것으로, WDM 전송망에서도 적용이 가능하다. 그러나 채널별 광 성능감시의 경우에 있어서는 광의 투명성을 유지하여야 하기 때문에, 기존의 SDH 전송망의 감시 방법을 적용할 수 없다. 따라서 광 신호의 성능감시를 위해서는 WDM 신호의 채널별 파워와 파장 그리고 광 신호대 잡음비(OSNR: Optical Signal-to-Noise Ratio)와 같은 새로운 성능감시 항목이 요구되고 있다. Most concepts related to Operation Administration & Maintenance (OAM) in Wavelength Division Multiplexing (WDM) optical transmission systems are introduced in the well-developed Synchronous Digital Hierarchy (SDH) transmission system. It can be applied to the transmission network. However, in the case of the optical performance monitoring for each channel, the transparency of the light must be maintained, and thus, the conventional monitoring method of the SDH transmission network cannot be applied. Therefore, in order to monitor the performance of optical signals, new performance monitoring items such as power and wavelength of each WDM signal and optical signal-to-noise ratio (OSNR) are required.
WDM 광 전송시스템의 채널별 광 성능감시를 수행하기 위한 다양한 방법들 중 WDM 신호의 채널별 파워와 파장 그리고 OSNR을 실시간으로 동시에 측정할 수 있는 방법은 회절격자와 어레이 검출기를 사용하는 방법이다. 따라서 현재 상용화 단계 에 와있는 광 성능감시 제품들은 주로 회절격자와 어레이 검출기를 이용하는 방법을 채택하고 있으며, 이 외에도 가변필터를 이용하여 WDM신호의 파장영역을 스캔하는 방식을 사용하고 있다. Among the various methods for monitoring the optical performance of each channel in the WDM optical transmission system, the method of simultaneously measuring the power, wavelength and OSNR of each channel of the WDM signal in real time is a method using a diffraction grating and an array detector. Therefore, optical performance monitoring products that are in the commercialization stage mainly adopt a method using a diffraction grating and an array detector. In addition, a method of scanning a wavelength region of a WDM signal using a variable filter is used.
특히 어레이 검출기를 사용하여 WDM 광전송 망의 채널별 광 성능감시를 수행하는 경우, 사용되는 포토 다이오드의 성능이 채널별로 균등해야 하며, 이에 대한 성능이 보장되어야 한다. 대부분의 제품에서와 같이, 사용되는 포토 다이오드가 원하는 성능을 만족하는지 확인하기 위해서는 특성 시험을 해야 한다. 또한 다양한 환경 조건에서도 동작하는지를 확인하기 위해 온습도 시험, 고온 및 저온 시험, 기계적 충격 시험과 같은 많은 신뢰성 시험을 통과해야 한다.In particular, in the case of performing the optical performance monitoring for each channel of the WDM optical transmission network using the array detector, the performance of the photodiode used should be uniform for each channel, and the performance must be guaranteed. As in most products, a characteristic test is required to ensure that the photodiode used meets the desired performance. In addition, many reliability tests, such as temperature and humidity tests, high and low temperature tests, and mechanical impact tests, must be passed to ensure that they operate under a variety of environmental conditions.
모듈 레벨에서 패키지 안에 N개의 포토 다이오드가 정렬된 제품을 시험하기 위해서는 다채널이기 때문에 시험에 소요되는 시간 및 인력이 증가한다. 이러한 시험 시간 및 인력 투입은 제품 개발비용을 증가시키는 요인이 된다. 따라서 모듈 레벨에서의 성능을 시험하기 위해서는 별도의 시험 설정을 필요로 한다. 이때 여러 계측 장비들이 동시에 사용되고 시험시간을 줄이기 위해서는 수동으로 장비를 조작하지 않고 장비들을 원격 제어하고 연동할 수 있도록 자동화 설정을 구축해야 한다. At the module level, multi-channel testing of products with N photodiodes arranged in a package increases the time and manpower required for testing. This testing time and manpower input increases the cost of product development. Therefore, a separate test setup is required to test performance at the module level. In order to use multiple measuring instruments simultaneously and reduce the test time, it is necessary to build an automation setting so that the instruments can be remotely controlled and interlocked without manual operation.
일반적으로 광통신에서 포토 다이오드는 단일 채널로 많이 사용되는데, 이 경우에는 시험에 소요되는 시간이 줄어들 수 있다. 그러나 N 채널의 포토 다이오드 어레이 모듈의 특성을 측정하려면 각 포트마다 개별적으로 바이어스를 인가하면서 특성을 확인해야 한다. 수동으로 각 포트에 바이어스를 인가할 경우 시간이 많이 소요되며, 핀들간의 간격이 좁을 경우에는 바이어스 프로브 연결 시 쇼트로 인한 제품 손상의 원인이 될 수 있다. 더욱이 광 입력 포트가 점퍼 케이블로 피그테일되지 않은 경우 베어 파이버를 퓨전 스플라이싱을 하여 기준 광섬유와 포토 다이오드 어레이 모듈을 연결하게 되는데, 이런 스플라이싱에도 오류가 발생될 가능성이 많다. 만약 측정 값의 변화가 생겼을 때 이것이 모듈의 특성으로 인한 것인지, 스플라이싱의 오류로 인한 것인지 알려면 반복적인 수작업으로 재확인이 이루어져야 하는데, 이로 인해 시험시간이 증가하며 효율성이 떨어지게 된다. In general, photodiodes are commonly used as single channels in optical communications, which can reduce the time required for testing. However, in order to measure the characteristics of the N-channel photodiode array module, it is necessary to check the characteristics by applying a bias to each port individually. Manually biasing each port can be time consuming, and if the spacing between pins is small, it can cause damage to the product due to shorts when connecting the bias probe. Furthermore, if the optical input port is not pigtailed with jumper cables, the bare fiber will be fusion spliced to connect the reference fiber and the photodiode array module, which will likely cause errors. If a change in measured value occurs, it may need to be rechecked by manual iteration to determine if it is due to the nature of the module or to an error in splicing, which increases test time and decreases efficiency.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로, 본 발명은 광신호 성능감시용 포토 다이오드 어레이 모듈의 특성을 측정하는데 소요되는 시간을 단축하고 측정 자동화 설정에 사용되는 시험장치를 구비함으로써, 시험을 용이하게 하고 측정의 효율성을 높일 수 있는 포토 다이오드 어레이 모듈의 시험 시스템 및 그 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.Therefore, the present invention has been proposed to solve the above problems of the prior art, the present invention is to reduce the time required to measure the characteristics of the photodiode array module for monitoring the optical signal performance test used for setting the measurement automation It is an object of the present invention to provide a test system and a method of a photodiode array module that can facilitate the test and increase the efficiency of the measurement by providing the device.
본 발명의 다른 목적 및 장점들은 하기의 설명에 의해서 이해될 수 있으며, 본 발명의 실시예에 의해 보다 분명하게 알게 될 것이다. 또한, 본 발명의 목적 및 장점들은 특허 청구 범위에 나타낸 수단 및 그 조합에 의해 실현될 수 있음을 쉽게 알 수 있을 것이다.Other objects and advantages of the present invention can be understood by the following description, and will be more clearly understood by the embodiments of the present invention. Also, it will be readily appreciated that the objects and advantages of the present invention may be realized by the means and combinations thereof indicated in the claims.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 시험 시스템은, 광신호 성능감시용 포토 다이오드 어레이 모듈의 시험 시스템에 있어서, 포토 다이오드 어레이 모듈의 시험을 위한 제어 프로그램을 탑재하여, 시험을 제어하고, 시험 결과를 저장하는 제어 수단; 상기 제어 수단의 제어를 받아 광신호를 공급하는 레이저 광원; 상기 제어 수단의 제어를 받아 임의의 자연수 N 채널의 포토 다이오드 어레이 모듈의 각 입력 포트에 상기 레이저 광원의 광신호를 입력하기 위한 광 스위칭수단; 상기 제어 수단의 제어를 받아 상기 광 스위칭 수단에 의해 설정된 채널과 일치되도록 상기 포토 다이오드 어레이 모듈의 채널과 연결시키는 연결수단; 및 상기 제어 수단의 제어를 받아 상기 연결수단을 통해 상기 포토 다이오드로 역바이어스 전압을 공급하고, 상기 연결수단을 통해 입력된 포토 다이오드의 광 전류 값을 채널별로 감지하는 감지수단을 포함한다.Test system according to the present invention for achieving the above object, in the test system of the photodiode array module for monitoring optical signal performance, equipped with a control program for the test of the photodiode array module, to control the test, the test result Control means for storing; A laser light source for supplying an optical signal under the control of the control means; Optical switching means for inputting an optical signal of the laser light source to each input port of an arbitrary number N channel photodiode array module under control of the control means; Connection means connected to a channel of the photodiode array module under control of the control means to match a channel set by the optical switching means; And sensing means for supplying a reverse bias voltage to the photodiode through the connection means under the control of the control means, and detecting the photocurrent value of the photodiode input through the connection means for each channel.
또한, 상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 방법은, 광신호 성능 감시용 포토 다이오드 어레이 모듈의 시험 방법에 있어서, 레이저 광원의 광 출력 파워를 원하는 값으로 조절하는 제1 단계; 광 스위치의 임의의 자연수 N개의 출력 포트들이 일정 시간 간격을 두고 스위칭 되도록 제어하고, 포토 다이오드 어레이 모듈의 각 채널과 연결하는 연결수단을 제어하여 연결수단의 채널을 광 스위치의 채널과 일치되도록 순차적으로 일정 시간 간격을 두고 변경시키는 제2 단계; 포토 다이오드 어레이 모듈로 바이어스 전압이 공급되도록 감지 장치를 제어하는 제3 단계; 및 연결수단의 채널이 변경된 후 상기 감지 장치에 의해 측정된 포토 다이오드 어레이 모듈의 채널별 광전류 값을 읽어 와서 실시간으로 저장하고, 측정된 채널별 광 전류 값을 화면에 디스플레이하는 제4 단계를 포함한다.In addition, a method according to the present invention for achieving the above object, the test method of the photodiode array module for monitoring optical signal performance, the first step of adjusting the optical output power of the laser light source to a desired value; Arbitrary natural number N output ports of the optical switch are controlled to be switched at a predetermined time interval, and the connecting means for connecting with each channel of the photodiode array module is sequentially controlled to match the channel of the optical switch. A second step of changing at regular time intervals; Controlling the sensing device to supply a bias voltage to the photodiode array module; And a fourth step of reading the photocurrent value of each channel of the photodiode array module measured by the sensing device after the channel of the connecting means is changed, storing the measured photocurrent value of each channel on the screen in real time. .
상술한 목적, 특징 및 장점은 첨부된 도면과 관련한 다음의 상세한 설명을 통하여 보다 분명해 질 것이며, 그에 따라 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 것이다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서 본 발명과 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에 그 상세한 설명을 생략하기로 한다. The above objects, features and advantages will become more apparent from the following detailed description taken in conjunction with the accompanying drawings, whereby those skilled in the art may easily implement the technical idea of the present invention. There will be. In addition, in describing the present invention, when it is determined that the detailed description of the known technology related to the present invention may unnecessarily obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 일 실시 예를 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명에 따른 포토 다이오드 어레이 모듈의 시험 시스템의 전체 블록 구성도이다.1 is an overall block diagram of a test system of a photodiode array module according to the present invention.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 포토 다이오드 어레이 모듈의 시험시스템은, 포토 다이오드 어레이 모듈의 시험을 위한 제어 프로그램을 탑재하여, 시험을 제어하고, 시험 결과를 저장하는 제어 장치(60)와, 상기 제어 장치(60)의 제어를 받아 광신호를 공급하는 레이저 광원(10)과, 상기 제어 장치의 제어를 받아 N 채널의 포토 다이오드 어레이 모듈의 각 입력 포트에 광신호를 입력하기 위한 광 스위치(20)와, 피 측정 대상인 포토 다이오드 어레이 모듈(30)과, 상기 제어 장치의 제어를 받아 상기 광 스위치의 채널과 일치되도록 포토 다이오드 어레이 모듈의 채널과 연결시키는 시험장치(40)와, 상기 제어 장치의 제어를 받아 상기 시험장치를 통해 상기 포토 다이오드로 역바이어스 전압을 공급하고, 상기 시험장치를 통해 입력된 포토 다이오드의 광 전류 값을 채널별로 감지하는 감지장치(50)를 포함한다.As shown in FIG. 1, a test system of a photodiode array module according to the present invention includes a
상기와 같은 구성을 갖는 본 발명에 따른 광신호 성능감시용 포토 다이오드 어레이 모듈 시험 시스템의 동작을 첨부된 도 1을 참조하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.The operation of the photodiode array module test system for monitoring optical signal performance according to the present invention having the above configuration will be described in more detail with reference to FIG. 1.
제어 장치(60)는 일반적인 개인용 컴퓨터로 구성될 수 있으며, 포토 다이오드 어레이 모듈을 시험하기 위한 프로그램을 탑재하여, 레이저 광원(10), 광 스위치(20), 시험장치(40), 감지장치(50)를 각각 제어하여, 시험을 수행하고, 시험 결과를 저장하여 분석한다. 즉, 제어 장치(60)는 시험 상태를 화면에 디스플레이하고, 포토 다이오드 어레이 모듈(30)의 각 채널의 광전류 값을 화면에 출력하여, 만일 이상치가 있는 경우 쉽게 발견할 수 있도록 한다.The
레이저 광원(10)은 포토 다이오드 어레이 모듈(30)에 광신호를 공급하기 위한 것이다. 포토 다이오드의 광전류 특성을 측정하려면 입력으로 기준 광신호가 필요하다. 레이저 광원(10)은 출력되는 광 파워 크기의 흔들림이 허용치보다 작아야 하고, 장시간 동안 구동하여도 광 파워의 변동이 없이 안정화되어야 한다. 광 파워의 변화는 결국 측정되는 광전류 결과값에 영향을 주기 때문이다. 따라서 제어장치(60)는 레이저 광원(10)과 원격으로 통신이 연결되어 광신호 출력을 주기적으로 모니터링하여 광 파워를 PC 모니터에 디스플레이하고, 광 파워 변화가 심할 경우 모니터에 경보 신호를 표시할 수 있다.The
광 스위치(20)는 N 채널의 포토 다이오드 어레이 모듈(30)의 각 입력 포트에 레이저 광원(10)에 의해 발생된 광신호가 입력될 수 있도록 N개 이상의 출력 포트를 가진다. 광 스위치(20)의 각 출력 포트들은 광 신호의 변화가 생기지 않도록 광 특성이 균일해야 하며, 포트간의 스위칭 속도가 수 ms 이내가 되어야 한다. 제어 장치(60)는 광 스위치(20)의 스위칭 기능을 제어하고, 현재 연결된 채널 상태를 모니터에 디스플레이해 준다.The
포토 다이오드 어레이 모듈(30)은 광섬유 어레이가 점퍼 케이블로 피그테일되지 않은 상태이기 때문에 광 스위치(20)의 출력과 연결된 광섬유 어레이와 퓨전 스플라이싱을 하여야 한다. 스플라이싱을 하기 전에 제어 장치(60)를 이용하여 광 스위치(20)의 각 출력 포트들의 광 파워를 채널별로 측정하고, 측정된 채널별 데이터를 실시간으로 저장한다. 이때 측정된 채널별 광 파워는 포토 다이오드 어레이 모듈(30)의 기준 입력 값이 된다.The
시험장치(40)는 N 채널의 포토 다이오드 어레이 모듈(30)을 장착하여 시험할 수 있도록 장치되었으며, 포토 다이오드 어레이 모듈(30)의 각 채널과의 연결 상태를 N개의 발광 다이오드를 통해 표시해 준다. 제어 장치(60)는 시험장치(40)와 연결되어 포토 다이오드 어레이 모듈(30)과의 채널 연결을 제어한다. 채널이 연결되면 시험 장치(40)의 해당 채널의 발광 다이오드가 켜지고, 연결되지 않은 다른 채널들은 켜지지 않는다. 이로써 현재 연결된 채널 상태를 시각적으로 쉽게 알 수가 있다. 또한 시험장치(40)는 제어 장치(60)와 RS-232 또는 GPIB로 원격 통신이 가능하여, 제어 장치(60)는 시험장치(40)에 채널 연결을 명령하고 채널 연결 상태를 모니터에 디스플레이해 준다.The
감지장치(50)는 제어 장치(60)의 제어를 받아 시험 장치(40)로 포토 다이오드 어레이 모듈(30)을 구동하기 위한 역바이어스 전압을 공급하고, 시험 장치(40)를 통해 입력된 포토 다이오드의 광전류 값을 측정한다.The
제어 장치(60)는 감지 장치(50)에 의해 측정된 광전류 값을 실시간으로 저장하고, 화면에 디스플레이되도록 감지 장치(50)를 원격 제어한다.The
시험 장치(40)는 감지 장치(50)로부터 공급된 역바이어스 전압을 포토 다이오드 어레이 모듈(30)로 연결하여 포토 다이오드를 동작시켜, 포토 다이오드에 의해 광 입력 신호에 대한 광/전 변환이 이루어질 수 있도록 한다. 포토 다이오드에서 광/전 변환이 일어나면 포토 다이오드의 출력은 광전류가 되며, 시험 장치(40)는 포토 다이오드의 광 전류를 감지 장치(50)로 제공한다. The
도 2는 본 발명에 따른 포토 다이오드 어레이 모듈의 시험 방법에 대한 전체 흐름도이다.2 is an overall flowchart of a test method of a photodiode array module according to the present invention.
제어 장치는 먼저, 레이저 광원, 광 스위치, 시험장치, 감지장치들과의 RS-232 또는 GPIB 통신 연결 상태를 확인하고, 모든 파라메터를 초기화 한다(101). 이후, 제어 장치는 레이저 광원(10)을 원격으로 켠 후, 원하는 값으로 광 출력 파워를 조절한다(102).The control device first checks the RS-232 or GPIB communication connection status with the laser light source, the optical switch, the test device, and the detection devices, and initializes all parameters (101). Thereafter, the control device remotely turns on the
제어 장치는 광 스위치(20)의 N개의 출력 포트들이 일정 시간 간격을 두고 스위칭 되도록 제어하고(103), 시험 장치(40)의 채널을 광 스위치(20)의 채널과 일치되도록 순차적으로 일정 시간 간격을 두고 변경시킨다(104).The control device controls the N output ports of the
이후 제어 장치는 포토 다이오드 어레이 모듈(30)로 바이어스 전압이 공급되 도록 감지 장치를 제어하고, 감지 장치는 시험장치의 채널이 변경된 후 포토 다이오드 어레이 모듈의 광전류 값을 채널별로 측정한다(105, 106).After that, the control device controls the sensing device to supply the bias voltage to the
그런 다음, 제어 장치는 감지장치로부터 채널별 광전류 값을 읽어 와서 실시간으로 저장하고, 측정된 채널별 광 전류 값을 화면에 디스플레이한다(107).Then, the control device reads the photocurrent values for each channel from the sensing device and stores them in real time, and displays the measured photocurrent values for each channel on the screen (107).
이상에서 설명한 본 발명은, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하므로 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니다.The present invention described above is capable of various substitutions, modifications, and changes without departing from the technical spirit of the present invention for those skilled in the art to which the present invention pertains. It is not limited by the drawings.
상기와 같은 본 발명은, 측정 자동화 기능을 구비함으로써 다채널 부품 측정에 소요되는 시간을 단축시키고, 시험의 용이성 및 효율성을 높여 제품의 시험비용을 줄일 수 있으며, 신뢰성 시험의 합격/불합격 판정을 위한 특성 측정에서도 활용할 수 있다.The present invention as described above, by reducing the time required for the measurement of multi-channel components, and by increasing the ease and efficiency of the test by having a measurement automation function, it is possible to reduce the test cost of the product, for the pass / fail determination of the reliability test It can also be used for characterization.
Claims (7)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020060123990A KR100813009B1 (en) | 2006-12-07 | 2006-12-07 | Test System and Method for Photodiode Array Module for Optical Signal Performance Monitoring |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020060123990A KR100813009B1 (en) | 2006-12-07 | 2006-12-07 | Test System and Method for Photodiode Array Module for Optical Signal Performance Monitoring |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR100813009B1 true KR100813009B1 (en) | 2008-03-13 |
Family
ID=39398667
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020060123990A Active KR100813009B1 (en) | 2006-12-07 | 2006-12-07 | Test System and Method for Photodiode Array Module for Optical Signal Performance Monitoring |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR100813009B1 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116539932A (en) * | 2022-01-25 | 2023-08-04 | 宁波飞芯电子科技有限公司 | A light source monitoring device |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20000024926A (en) * | 1998-10-02 | 2000-05-06 | 이계철 | Circuit for distinguishing reliabilities of photodiodes for optical communication |
-
2006
- 2006-12-07 KR KR1020060123990A patent/KR100813009B1/en active Active
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20000024926A (en) * | 1998-10-02 | 2000-05-06 | 이계철 | Circuit for distinguishing reliabilities of photodiodes for optical communication |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116539932A (en) * | 2022-01-25 | 2023-08-04 | 宁波飞芯电子科技有限公司 | A light source monitoring device |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP2623948B1 (en) | Field tester for topologies utilizing array connectors and multi-wavelength field tester for topologies utilizing array connectors | |
| US7769292B2 (en) | Automated testing and analysis of dense wave division multiplexing (DWDM) switching devices | |
| EP3282242B1 (en) | Optical time-domain reflectometer | |
| US8907696B2 (en) | Test apparatus having optical interface and test method | |
| US7542673B2 (en) | Fault localization apparatus for optical line in wavelength division multiplexed passive optical network | |
| US10180373B2 (en) | Opto electrical test measurement system for integrated photonic devices and circuits | |
| CN105049113A (en) | Active optical module multi-channel automatic test system and method | |
| US20060098699A1 (en) | Laser optics integrated control system and method of operation | |
| CN102201864A (en) | Loss testing apparatus for multi-channel optical device | |
| US10962443B1 (en) | Multi-fiber connector visual polarity and continuity tester | |
| GB2532088A (en) | Multipoint gas sensing apparatus | |
| US20040156632A1 (en) | Apparatus and method for simultaneous channel and optical signal-to-noise ratio monitoring | |
| KR20150069138A (en) | Life test apparatus for optical communication module | |
| KR100813009B1 (en) | Test System and Method for Photodiode Array Module for Optical Signal Performance Monitoring | |
| US8014670B2 (en) | Method and apparatus for testing and monitoring data communications in the presence of a coupler in an optical communications network | |
| KR20130058797A (en) | Muli-channel distributed temperature sensor for branching route | |
| JP4851380B2 (en) | Optical fiber identification method and identification apparatus | |
| US20030081278A1 (en) | Optical module testing method and testing system | |
| CN209086384U (en) | A kind of responsiveness test device of APD pipe, PIN pipe | |
| JP4383162B2 (en) | Optical branch line monitoring system | |
| TW201300815A (en) | Fiber sensing systems and fiber sensing methods | |
| KR100689502B1 (en) | Reliability Tester of Optical Communication Module | |
| US20190238224A1 (en) | Dynamic monitoring and calibration of nodes in an optical networking device | |
| CN101141220A (en) | An optical power display and adjustment device | |
| KR20120109253A (en) | Optical wavelength monitoring module for wavelength division multiplexing |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20061207 |
|
| PA0201 | Request for examination | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20080228 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20080306 Patent event code: PR07011E01D |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20080307 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20110228 Year of fee payment: 4 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20110228 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20111208 Year of fee payment: 20 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20111208 Start annual number: 5 End annual number: 20 |