[go: up one dir, main page]

KR100785528B1 - Image sensor and pixel array of image sensors with wide operating range - Google Patents

Image sensor and pixel array of image sensors with wide operating range Download PDF

Info

Publication number
KR100785528B1
KR100785528B1 KR1020060039152A KR20060039152A KR100785528B1 KR 100785528 B1 KR100785528 B1 KR 100785528B1 KR 1020060039152 A KR1020060039152 A KR 1020060039152A KR 20060039152 A KR20060039152 A KR 20060039152A KR 100785528 B1 KR100785528 B1 KR 100785528B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
pixel
signal
reset
transistor
sensing node
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
KR1020060039152A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20070106827A (en
Inventor
이성수
서용덕
Original Assignee
(주) 픽셀플러스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주) 픽셀플러스 filed Critical (주) 픽셀플러스
Priority to KR1020060039152A priority Critical patent/KR100785528B1/en
Priority to PCT/KR2007/002131 priority patent/WO2007126288A1/en
Publication of KR20070106827A publication Critical patent/KR20070106827A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100785528B1 publication Critical patent/KR100785528B1/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/50Control of the SSIS exposure
    • H04N25/57Control of the dynamic range
    • H04N25/58Control of the dynamic range involving two or more exposures
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/50Control of the SSIS exposure
    • H04N25/57Control of the dynamic range
    • H04N25/58Control of the dynamic range involving two or more exposures
    • H04N25/581Control of the dynamic range involving two or more exposures acquired simultaneously
    • H04N25/583Control of the dynamic range involving two or more exposures acquired simultaneously with different integration times
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/78Readout circuits for addressed sensors, e.g. output amplifiers or A/D converters
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/80Constructional details of image sensors
    • H10F39/803Pixels having integrated switching, control, storage or amplification elements
    • H10F39/8037Pixels having integrated switching, control, storage or amplification elements the integrated elements comprising a transistor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Abstract

본 발명은 넓은 동작 범위를 가지는 이미지 센서 및 이미지 센서의 픽셀 어레이에 관한 것으로, 특히 서로 다른 노출 정도를 가지는 픽셀 쌍을 통해 노출 정도가 다른 이미지를 획득하고, 결합함으로써 넓은 조도 범위의 이미지를 생성하는 기술에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image sensor having a wide operating range and a pixel array of the image sensor. In particular, an image having a wide illumination range is generated by acquiring and combining images having different exposure levels through pixel pairs having different exposure levels. It's about technology.

본 발명에 의한 이미지 센서의 픽셀 어레이는 노출시간이 상이하고, 동일한 로우 상에 인접하여 배열된 복수 개의 픽셀로 이루어지는 단위픽셀그룹이 격자형으로 배열되는 것을 특징으로 한다.The pixel array of the image sensor according to the present invention is characterized in that the unit pixel groups composed of a plurality of pixels arranged adjacent to each other on the same row have different exposure times, and are arranged in a grid.

또한, 본 발명에 의한 이미지 센서는 노출시간이 상이한 복수 개의 픽셀로 이루어지는 단위픽셀그룹이 격자형으로 배열되는 픽셀 어레이; 픽셀 어레이의 동작에 필요한 구동신호를 생성하는 로우 드라이버; 및 픽셀 어레이에서 출력되는 센싱 신호를 입력받아, 짝수 컬럼의 신호와 홀수 컬럼의 신호를 분리하여 출력하는 출력회로를 포함한다.In addition, an image sensor according to the present invention includes a pixel array in which a unit pixel group including a plurality of pixels having different exposure times is arranged in a lattice shape; A row driver for generating driving signals for operation of the pixel array; And an output circuit for receiving a sensing signal output from the pixel array and separating and outputting an even column signal and an odd column signal.

Description

넓은 동작 범위를 가지는 이미지 센서 및 이미지 센서의 픽셀 어레이{WIDE DYNAMIC RANGE IMAGE SENSOR AND PIXEL ARRAY OF IMAGE SENSOR}WIDE DYNAMIC RANGE IMAGE SENSOR AND PIXEL ARRAY OF IMAGE SENSOR}

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 컬럼 별로 노출 정도를 다르게 하는 이미지 센서를 도시하는 블록도.1 is a block diagram showing an image sensor for varying the degree of exposure for each column according to an embodiment of the present invention.

도 2는 도 1의 이미지 센서에 의한 이미지의 출력예를 도시하는 도면.FIG. 2 is a diagram illustrating an output example of an image by the image sensor of FIG. 1. FIG.

도 3은 컬럼 별로 노출 정도를 다르게 하는 이미지 센서의 픽셀 쌍의 회로도.3 is a circuit diagram of pixel pairs of an image sensor for varying the degree of exposure for each column.

도 4는 컬럼 별로 노출 정도를 다르게 하는 이미지 센서의 픽셀 쌍의 다른 회로도.4 is another circuit diagram of a pixel pair of an image sensor for varying the degree of exposure for each column.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 로우 별로 노출 정도를 다르게 하는 이미지 센서를 도시하는 블록도.5 is a block diagram illustrating an image sensor for varying an exposure level for each row according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 6은 도 5의 이미지 센서에 의한 이미지의 출력예를 도시하는 도면.FIG. 6 is a diagram illustrating an output example of an image by the image sensor of FIG. 5. FIG.

도 7은 로우 별로 노출 정도를 다르게 하는 이미지 센서의 픽셀 쌍의 회로도.7 is a circuit diagram of a pixel pair of an image sensor for varying the degree of exposure for each row.

도 8은 로우 별로 노출 정도를 다르게 하는 이미지 센서의 픽셀 쌍의 다른 회로도.8 is another circuit diagram of a pixel pair of an image sensor that varies the degree of exposure on a row-by-row basis.

< 도면의 주요 부분의 부호의 설명 ><Description of Signs of Major Parts of Drawings>

10,310 : 로우 드라이버 20,320 : 픽셀 어레이10,310: low driver 20,320: pixel array

30,330 : 출력회로 30,330: Output circuit

100,101,200,201,400,401,500,501 : 포토 다이오드100,101,200,201,400,401,500,501: Photodiode

110,111,410,411 : 전송 트랜지스터110,111,410,411: transfer transistor

120,121,210,211,420,421,510,511 : 리셋 트랜지스터120,121,210,211,420,421,510,511: reset transistor

130,131,220,221,430,431,520,521 : 드라이브 트랜지스터130,131,220,221,430,431,520,521: drive transistor

140,141,230,231,440,441,530,531 : 셀렉터 트랜지스터140,141,230,231,440,441,530,531: selector transistor

본 발명은 넓은 동작 범위를 가지는 이미지 센서 및 이미지 센서의 픽셀 어레이에 관한 것으로, 특히 서로 다른 노출 정도를 가지는 픽셀 쌍을 통해 노출 정도가 다른 이미지를 획득하고, 결합함으로써 넓은 조도 범위의 이미지를 생성하는 기술에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image sensor having a wide operating range and a pixel array of the image sensor. In particular, an image having a wide illumination range is generated by acquiring and combining images having different exposure levels through pixel pairs having different exposure levels. It's about technology.

일반적으로, 이미지 센서란 빛의 에너지에 반응하는 반도체 장치의 성질을 이용하여, 이미지를 찍어(capture) 내는 장치를 말한다. 자연계에 존재하는 각 피사체에서 발생되는 빛은 파장 등에서 고유의 값을 가진다. 이미지 센서의 픽셀은 각 피사체에서 발생하는 빛을 감지하여, 전기적인 신호로 변환한다. 즉, 이미지 센서의 픽셀은 피사체에서 발생되는 빛의 파장에 따른 전기적인 신호를 발생한다. 이미지 센서는 이러한 전기적인 신호를 이용하여, 피사체의 영상을 인식한다.In general, an image sensor refers to a device that captures an image by using a property of a semiconductor device that responds to energy of light. Light generated from each subject existing in the natural world has a unique value in wavelength and the like. The pixel of the image sensor detects light generated from each subject and converts it into an electrical signal. That is, the pixel of the image sensor generates an electrical signal according to the wavelength of light generated from the subject. The image sensor recognizes an image of the subject by using the electrical signal.

그런데, 일반적인 이미지 센서는 인식가능한 조도의 대역에 한계가 있다. 즉, 극히 밝은 부분과 어두운 부분이 공존하는 영상을 촬영하게 되면, 밝은 부분은 잘 표현되고 어두운 부분은 전체적으로 검게 표현되어 버리거나, 어두운 부분의 물체는 잘 구별되어 보이지만 밝은 부분의 영상은 온통 하얗게 되어 버리거나 하여, 어두운 부분과 밝은 부분 모두의 정보를 손실 없이 획득하기 어려운 문제점이 있다.However, the general image sensor has a limitation in the band of illuminance that can be recognized. In other words, if you shoot an image where extremely bright and dark parts coexist, the bright parts are well expressed and the dark parts are generally black, or the objects in the dark parts are well distinguished, but the bright parts are all white. Thus, there is a problem that it is difficult to obtain information of both dark and bright parts without loss.

상기 문제점을 해결하기 위하여 본 발명은 서로 다른 노출 정도를 가지는 픽셀 쌍을 통해 노출 정도가 다른 이미지를 획득하고, 결합함으로써 넓은 조도 범위의 이미지를 생성할 수 있는 넓은 동작 범위를 가지는 이미지 센서 및 이미지 센서의 픽셀 어레이를 제공하는 것을 목적으로 한다.In order to solve the above problems, the present invention obtains an image having different exposure levels through a pair of pixels having different exposure levels, and combines an image sensor and an image sensor having a wide operating range capable of generating an image of a wide illumination range. It is an object to provide a pixel array of.

본 발명에 의한 이미지 센서의 픽셀 어레이는 노출시간이 상이하고, 동일한 로우 상에 인접하여 배열된 복수 개의 픽셀로 이루어지는 단위픽셀그룹이 격자형으로 배열되는 것을 특징으로 한다.The pixel array of the image sensor according to the present invention is characterized in that the unit pixel groups composed of a plurality of pixels arranged adjacent to each other on the same row have different exposure times, and are arranged in a grid.

또한, 본 발명에 의한 이미지 센서는 노출시간이 상이한 복수 개의 픽셀로 이루어지는 단위픽셀그룹이 격자형으로 배열되는 픽셀 어레이; 픽셀 어레이의 동작에 필요한 구동신호를 생성하는 로우 드라이버; 및 픽셀 어레이에서 출력되는 센싱 신호를 입력받아, 짝수 컬럼의 신호와 홀수 컬럼의 신호를 분리하여 출력하는 출력회로를 포함한다.In addition, an image sensor according to the present invention includes a pixel array in which a unit pixel group including a plurality of pixels having different exposure times is arranged in a lattice shape; A row driver for generating driving signals for operation of the pixel array; And an output circuit for receiving a sensing signal output from the pixel array and separating and outputting an even column signal and an odd column signal.

이하에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설 명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, preferred embodiments of the present invention will be described in detail.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 컬럼 별로 노출 정도를 다르게 하는 이미지 센서를 도시하는 블록도이다.1 is a block diagram illustrating an image sensor for varying an exposure degree for each column according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 컬럼 별로 노출 정도를 다르게 하는 이미지 센서는 로우 드라이버(10), 픽셀 어레이(20), 출력 회로(30)로 구성된다.Referring to FIG. 1, an image sensor having a different exposure level for each column includes a row driver 10, a pixel array 20, and an output circuit 30.

로우 드라이브(10)는 픽셀 어레이(20)의 동작에 필요한 구동신호를 생성하여 출력한다.The row drive 10 generates and outputs a driving signal necessary for the operation of the pixel array 20.

픽셀 어레이(20)는 복수 개의 로우과 컬럼으로 이루어지는 픽셀들로 구성되는 데, 픽셀들의 각 로우는 같은 색상을 인식하는 두 개의 픽셀씩 쌍을 이루어(단위픽셀그룹), 다른 색상을 인식하는 픽셀 쌍과 번갈아 배열된다. 즉, R(Red), G(Green), B(Blue) 픽셀로 구성된다면, 각 로우는 RRGGRRGG..., GGBBGGBB... 등의 패턴으로 형성된다. 픽셀 쌍을 이루는 두 개의 픽셀 각각은 서로 다른 노출시간을 갖는다.The pixel array 20 is composed of pixels consisting of a plurality of rows and columns. Each row of pixels is paired by two pixels that recognize the same color (unit pixel group), and a pair of pixels that recognizes a different color. Are alternately arranged. That is, if R (Red), G (Green), B (Blue) pixels, each row is formed in a pattern such as RRGGRRGG ..., GGBBGGBB .... Each of the two pixels in the pixel pair has a different exposure time.

여기서는 단위픽셀그룹이 두 개의 픽셀로 이루어지는 경우를 예시하였으나, 단위픽셀그룹은 셋 이상의 픽셀로도 구성될 수 있다. 이 경우 셋 이상의 픽셀은 서로 다른 노출시간을 갖는다.Here, although the unit pixel group is composed of two pixels, the unit pixel group may include three or more pixels. In this case, three or more pixels have different exposure times.

출력회로(30)는 픽셀 어레이(20)에서 출력되는 센싱 신호를 입력받아, 짝수 컬럼의 신호와 홀수 컬럼의 신호를 분리하여 출력한다.The output circuit 30 receives a sensing signal output from the pixel array 20, and separates and outputs an even column signal and an odd column signal.

도 2는 도 1의 이미지 센서에 의한 이미지의 출력예를 도시하는 도면이다.FIG. 2 is a diagram illustrating an output example of an image by the image sensor of FIG. 1.

도 2를 참조하면, 픽셀 어레이가 1280*480의 픽셀로 구성된다면, 노출 정도 가 다른 짝수 컬럼의 640*480의 픽셀 신호와 홀수 컬럼의 640*480의 픽셀 신호로 분리되어 출력된다.Referring to FIG. 2, if the pixel array is composed of 1280 * 480 pixels, the pixel array is separated into 640 * 480 pixel signals of even columns having different exposure levels and 640 * 480 pixel signals of odd columns.

도 3은 컬럼 별로 노출 정도를 다르게 하는 이미지 센서의 픽셀 쌍의 회로도이다.3 is a circuit diagram of a pixel pair of an image sensor for varying the degree of exposure for each column.

도 3을 참조하면, 각 픽셀은 포토 다이오드(100,101), 전송 트랜지스터(110,111), 리셋 트랜지스터(120,121), 드라이브 트랜지스터(130,131) 및 셀렉터 트랜지스터(140,141)로 구성된다.Referring to FIG. 3, each pixel includes a photodiode 100, 101, a transfer transistor 110, 111, a reset transistor 120, 121, a drive transistor 130, 131, and a selector transistor 140, 141.

포토 다이오드(100,101)는 외부의 빛을 흡수하여 광전하를 생성한다.The photodiodes 100 and 101 absorb external light to generate photocharges.

전송 트랜지스터(110,111)는 포토 다이오드(100,101)로부터의 광전하를 선택적으로 센싱 노드(N1,N2)로 전달한다.The transfer transistors 110 and 111 selectively transfer photocharges from the photodiodes 100 and 101 to the sensing nodes N1 and N2.

리셋 트랜지스터(120,121)는 전원단(VDD)과 센싱 노드(N1,N2) 사이에 접속되어, 센싱 노드(N1,N2)를 리셋시킨다.The reset transistors 120 and 121 are connected between the power supply terminal VDD and the sensing nodes N1 and N2 to reset the sensing nodes N1 and N2.

드라이브 트랜지스터(130,131)는 일측이 전원단(VDD)에 연결되며, 센싱 노드(N1,N2)에 대응되는 전기적 신호의 전달 및 증폭 기능을 수행한다.One side of the drive transistors 130 and 131 is connected to the power supply terminal VDD, and transmits and amplifies an electrical signal corresponding to the sensing nodes N1 and N2.

셀렉트 트랜지스터(140,141)는 드라이브 트랜지스터(130,131)의 타측에 연결되며, 센싱된 신호를 출력한다.The select transistors 140 and 141 are connected to the other side of the drive transistors 130 and 131 and output a sensed signal.

로우 드라이버(10)에서 출력되는 제 1 전송 신호(TX1), 제 2 전송 신호(TX2), 리셋 신호(RS), 라인 셀렉트 신호(LS)는 다음과 같이 각 픽셀 쌍에 인가된다.The first transmission signal TX1, the second transmission signal TX2, the reset signal RS, and the line select signal LS output from the row driver 10 are applied to each pixel pair as follows.

제 1 전송 신호(TX1)는 픽셀 쌍 중 첫 번째 픽셀(홀수 컬럼)의 전송 트랜지 스터(110)의 게이트에 인가된다.The first transmission signal TX1 is applied to the gate of the transmission transistor 110 of the first pixel (odd column) of the pixel pair.

제 2 전송 신호(TX2)는 픽셀 쌍 중 두 번째 픽셀(짝수 컬럼)의 전송 트랜지스터(111)의 게이트에 인가된다.The second transfer signal TX2 is applied to the gate of the transfer transistor 111 of the second pixel (even column) of the pixel pair.

리셋 신호(RS)는 픽셀 쌍의 첫 번째 리셋 트랜지스터(120), 두 번째 리셋 트랜지스터(121)의 게이트에 공통으로 인가된다.The reset signal RS is commonly applied to the gates of the first reset transistor 120 and the second reset transistor 121 of the pixel pair.

라인 셀렉트 신호(LS)는 픽셀 쌍의 첫 번째 셀렉트 트랜지스터(140), 두 번째 셀렉트 트랜지스터(141)의 게이트에 공통으로 인가된다.The line select signal LS is commonly applied to the gates of the first select transistor 140 and the second select transistor 141 of the pixel pair.

각 픽셀의 노출시간은 리셋 신호(RS)와 전송 신호(TX1,TX2)가 동시에 인에이블된 시점부터, 라인 셀렉트 신호(LS)가 인에이블되어 센싱된 신호가 출력되기까지의 시간이다.The exposure time of each pixel is a time from when the reset signal RS and the transmission signals TX1 and TX2 are simultaneously enabled, until the line select signal LS is enabled and the sensed signal is output.

라인 셀렉트 신호(LS)는 짝수 컬럼과 홀수 컬럼의 픽셀에 대해 공통으로 인에이블되므로, 리셋 신호(RS)가 인에이블된 상태에서 제 1 전송 신호(TX1)와 제 2 전송 신호(TX2)가 일정시간 간격을 두고 인에이블되면, 그 시간 간격만큼 짝수 컬럼과 홀수 컬럼의 픽셀의 노출 정도는 달라지게 된다.Since the line select signal LS is commonly enabled for the pixels of the even columns and the odd columns, the first transmission signal TX1 and the second transmission signal TX2 are constant while the reset signal RS is enabled. When enabled at time intervals, the exposure degree of pixels of even and odd columns is changed by the time interval.

도 4는 컬럼 별로 노출 정도를 다르게 하는 이미지 센서의 픽셀 쌍의 다른 회로도이다.4 is another circuit diagram of pixel pairs of an image sensor for varying the degree of exposure for each column.

도 4를 참조하면, 각 픽셀은 포토 다이오드(200,201), 리셋 트랜지스터(210,211), 드라이브 트랜지스터(220,221) 및 셀렉터 트랜지스터(230,231)로 구성된다.Referring to FIG. 4, each pixel includes photodiodes 200 and 201, reset transistors 210 and 211, drive transistors 220 and 221, and selector transistors 230 and 231.

포토 다이오드(200,201)는 외부의 빛을 흡수하여 광전하를 생성한다.The photodiodes 200 and 201 absorb light from outside to generate photocharges.

리셋 트랜지스터(210,211)는 전원단(VDD)과 센싱 노드(N3,N4) 사이에 접속되어, 센싱 노드(N3,N4)를 리셋시킨다.The reset transistors 210 and 211 are connected between the power supply terminal VDD and the sensing nodes N3 and N4 to reset the sensing nodes N3 and N4.

드라이브 트랜지스터(220,221)는 일측이 전원단(VDD)에 연결되며, 센싱 노드(N3,N4)에 대응되는 전기적 신호의 전달 및 증폭 기능을 수행한다.One side of the drive transistors 220 and 221 is connected to the power supply terminal VDD, and transmits and amplifies an electrical signal corresponding to the sensing nodes N3 and N4.

셀렉트 트랜지스터(230,231)는 드라이브 트랜지스터(220,221)의 타측에 연결되며, 센싱된 신호를 출력한다.The select transistors 230 and 231 are connected to the other side of the drive transistors 220 and 221 and output a sensed signal.

로우 드라이버(10)에서 출력되는 제 1 리셋 신호(RS1), 제 2 리셋 신호(RS2), 라인 셀렉트 신호(LS)는 다음과 같이 각 픽셀 쌍에 인가된다.The first reset signal RS1, the second reset signal RS2, and the line select signal LS output from the row driver 10 are applied to each pixel pair as follows.

제 1 리셋 신호(RS1)는 픽셀 쌍 중 첫 번째 픽셀(홀수 컬럼)의 리셋 트랜지스터(210)의 게이트에 인가된다.The first reset signal RS1 is applied to the gate of the reset transistor 210 of the first pixel (odd column) of the pixel pair.

제 2 리셋 신호(RS2)는 픽셀 쌍 중 두 번째 픽셀(짝수 컬럼)의 리셋 트랜지스터(211)의 게이트에 인가된다.The second reset signal RS2 is applied to the gate of the reset transistor 211 of the second pixel (even column) of the pixel pair.

라인 셀렉트 신호(LS)는 픽셀 쌍의 첫 번째 셀렉트 트랜지스터(230), 두 번째 셀렉트 트랜지스터(231)의 게이트에 인가된다.The line select signal LS is applied to the gates of the first select transistor 230 and the second select transistor 231 of the pixel pair.

각 픽셀의 노출시간은 리셋신호(RS1,RS2)가 인에이블 된 시점부터, 라인 셀렉트 신호(LS)가 인에이블되어 센싱된 신호가 출력되기까지의 시간이다.The exposure time of each pixel is a time from when the reset signals RS1 and RS2 are enabled until the line select signal LS is enabled and the sensed signal is output.

라인 셀렉트 신호(LS)는 짝수 컬럼과 홀수 컬럼의 픽셀에 대해 공통으로 인에이블되므로, 제 1 리셋 신호(RS1)와 제 2 리셋 신호(RS2)가 일정시간 간격을 두고 인에이블되면, 그 시간 간격만큼 짝수 컬럼과 홀수 컬럼의 픽셀의 노출 정도는 달라지게 된다.Since the line select signal LS is commonly enabled for the pixels of the even column and the odd column, when the first reset signal RS1 and the second reset signal RS2 are enabled at a predetermined time interval, the time interval is As a result, the exposure degree of pixels of even and odd columns is changed.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 로우 별로 노출 정도를 다르게 하는 이미지 센서를 도시하는 블록도이다.5 is a block diagram illustrating an image sensor for varying an exposure level for each row according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 로우 별로 노출 정도를 다르게 하는 이미지 센서는 로우 드라이버(310), 픽셀 어레이(320), 출력 회로(330)로 구성된다.Referring to FIG. 5, an image sensor having a different exposure level for each row includes a row driver 310, a pixel array 320, and an output circuit 330.

로우 드라이브(310)는 픽셀 어레이(320)의 동작에 필요한 구동신호를 생성하여 출력한다.The row drive 310 generates and outputs a driving signal necessary for the operation of the pixel array 320.

픽셀 어레이(320)는 복수 개의 로우과 컬럼으로 이루어지는 픽셀들로 구성되는 데, 픽셀들의 각 컬럼은 같은 색상을 인식하는 두 개의 픽셀씩 쌍을 이루어(단위픽셀그룹), 다른 색상을 인식하는 픽셀 쌍과 번갈아 배열된다. 즉, R(Red), G(Green), B(Blue) 픽셀로 구성된다면, 각 컬럼은 RRGGRRGG..., GGBBGGBB... 등의 패턴으로 형성된다. 픽셀 쌍을 이루는 두 개의 픽셀 각각은 서로 다른 노출시간을 갖는다.The pixel array 320 is composed of pixels consisting of a plurality of rows and columns. Each column of pixels is paired by two pixels that recognize the same color (a unit pixel group), and a pair of pixels that recognizes a different color. Are alternately arranged. That is, if R (Red), G (Green), B (Blue) pixels, each column is formed in a pattern such as RRGGRRGG ..., GGBBGGBB .... Each of the two pixels in the pixel pair has a different exposure time.

여기서는 단위픽셀그룹이 두 개의 픽셀로 이루어지는 경우를 예시하였으나, 단위픽셀그룹은 셋 이상의 픽셀로도 구성될 수 있다. 이 경우 셋 이상의 픽셀은 서로 다른 노출시간을 갖는다.Here, although the unit pixel group is composed of two pixels, the unit pixel group may include three or more pixels. In this case, three or more pixels have different exposure times.

출력회로(330)는 픽셀 어레이(320)에서 출력되는 센싱 신호를 입력받아, 짝수 로우의 신호와 홀수 로우의 신호를 분리하여 출력한다.The output circuit 330 receives a sensing signal output from the pixel array 320 and separates an even row signal and an odd row signal and outputs the separated signal.

도 6은 도 5의 이미지 센서에 의한 이미지의 출력예를 도시하는 도면이다.6 is a diagram illustrating an output example of an image by the image sensor of FIG. 5.

도 6을 참조하면, 픽셀 어레이가 640*960의 픽셀로 구성된다면, 노출 정도가 다른 짝수 로우의 640*480의 픽셀 신호와 홀수 로우의 640*480의 픽셀 신호로 분리 되어 출력된다.Referring to FIG. 6, if the pixel array is composed of 640 * 960 pixels, the pixel array may be divided into an even row of 640 * 480 pixel signals and an odd row of 640 * 480 pixel signals.

도 7은 로우 별로 노출 정도를 다르게 하는 이미지 센서의 픽셀 쌍의 회로도이다.7 is a circuit diagram of a pixel pair of an image sensor for varying the degree of exposure for each row.

도 7을 참조하면, 각 픽셀은 포토 다이오드(400,401), 전송 트랜지스터(410,411), 리셋 트랜지스터(420,421), 드라이브 트랜지스터(430,431) 및 셀렉터 트랜지스터(440,441)로 구성된다.Referring to FIG. 7, each pixel includes a photo diode 400, 401, a transfer transistor 410, 411, a reset transistor 420, 421, a drive transistor 430, 431, and a selector transistor 440, 441.

포토 다이오드(400,401)는 외부의 빛을 흡수하여 광전하를 생성한다.The photodiodes 400 and 401 absorb light from outside to generate photocharges.

전송 트랜지스터(410,411)는 포토 다이오드(400,401)로부터의 광전하를 선택적으로 센싱 노드(N5,N6)로 전달한다.The transfer transistors 410 and 411 selectively transfer the photocharges from the photodiodes 400 and 401 to the sensing nodes N5 and N6.

리셋 트랜지스터(420,421)는 전원단(VDD)과 센싱 노드(N5,N6) 사이에 접속되어, 센싱 노드(N5,N6)를 리셋시킨다.The reset transistors 420 and 421 are connected between the power supply terminal VDD and the sensing nodes N5 and N6 to reset the sensing nodes N5 and N6.

드라이브 트랜지스터(430,431)는 일측이 전원단(VDD)에 연결되며, 센싱 노드(N5,N6)에 대응되는 전기적 신호의 전달 및 증폭 기능을 수행한다.One side of the drive transistors 430 and 431 is connected to the power supply terminal VDD, and transmits and amplifies an electrical signal corresponding to the sensing nodes N5 and N6.

셀렉트 트랜지스터(440,441)는 드라이브 트랜지스터(430,431)의 타측에 연결되며, 센싱된 신호를 출력한다.The select transistors 440 and 441 are connected to the other side of the drive transistors 430 and 431 and output the sensed signals.

로우 드라이버(310)에서 출력되는 제 1 전송 신호(TX1), 제 2 전송 신호(TX2), 제 1 리셋 신호(RS1), 제 2 리셋 신호(RS2), 라인 셀렉트 신호(LS)는 다음과 같이 각 픽셀 쌍에 인가된다.The first transmission signal TX1, the second transmission signal TX2, the first reset signal RS1, the second reset signal RS2, and the line select signal LS output from the row driver 310 are as follows. Applied to each pair of pixels.

제 1 전송 신호(TX1)는 픽셀 쌍 중 첫 번째 픽셀(홀수 로우)의 전송 트랜지스터(410)의 게이트에 인가된다.The first transfer signal TX1 is applied to the gate of the transfer transistor 410 of the first pixel (odd row) of the pixel pair.

제 2 전송 신호(TX2)는 픽셀 쌍 중 두 번째 픽셀(짝수 로우)의 전송 트랜지스터(411)의 게이트에 인가된다.The second transfer signal TX2 is applied to the gate of the transfer transistor 411 of the second pixel (even row) of the pixel pair.

제 1 리셋 신호(RS1)는 픽셀 쌍 중 첫 번째 픽셀(홀수 로우)의 리셋 트랜지스터(420)의 게이트에 인가된다.The first reset signal RS1 is applied to the gate of the reset transistor 420 of the first pixel (odd row) of the pixel pair.

제 2 리셋 신호(RS2)는 픽셀 쌍 중 두 번째 픽셀(짝수 로우)의 리셋 트랜지스터(421)의 게이트에 인가된다.The second reset signal RS2 is applied to the gate of the reset transistor 421 of the second pixel (even row) of the pixel pair.

라인 셀렉트 신호(LS)는 픽셀 쌍의 첫 번째 셀렉트 트랜지스터(440), 두 번째 셀렉트 트랜지스터(441)의 게이트에 공통으로 인가된다.The line select signal LS is commonly applied to the gates of the first select transistor 440 and the second select transistor 441 of the pixel pair.

각 픽셀의 노출시간은 리셋 신호(RS1,RS2)와 전송 신호(TX1,TX2)가 동시에 인에이블 된 시점부터, 라인 셀렉트 신호(LS)가 인에이블되어 센싱된 신호가 출력되기까지의 시간이다.The exposure time of each pixel is a time from when the reset signals RS1 and RS2 and the transmission signals TX1 and TX2 are simultaneously enabled until the line select signal LS is enabled and the sensed signal is output.

라인 셀렉트 신호(LS)는 짝수 로우과 홀수 로우의 픽셀에 대해 공통으로 인에이블되므로, 제 1 전송 신호(TX1)와 제 2 전송 신호(TX2)가 일정시간 간격을 두고 인에이블되면, 그 시간 간격만큼 짝수 로우과 홀수 로우의 픽셀의 노출 정도는 달라지게 된다.Since the line select signal LS is commonly enabled for the pixels of even and odd rows, when the first transmission signal TX1 and the second transmission signal TX2 are enabled at a predetermined time interval, The exposure of the pixels on even and odd rows will be different.

도 8은 로우 별로 노출 정도를 다르게 하는 이미지 센서의 픽셀 쌍의 다른 회로도이다.8 is another circuit diagram of a pixel pair of an image sensor for varying the degree of exposure for each row.

도 8을 참조하면, 각 픽셀은 포토 다이오드(500,501), 리셋 트랜지스터(510,511), 드라이브 트랜지스터(520,521) 및 셀렉터 트랜지스터(530,531)로 구성된다.Referring to FIG. 8, each pixel includes a photodiode 500, 501, reset transistors 510, 511, drive transistors 520, 521, and selector transistors 530, 531.

포토 다이오드(500,501)는 외부의 빛을 흡수하여 광전하를 생성한다.The photodiodes 500 and 501 absorb light from outside to generate photocharges.

리셋 트랜지스터(510,511)는 전원단(VDD)과 센싱 노드(N7,N8) 사이에 접속되어, 센싱 노드(N7,N8)를 리셋시킨다.The reset transistors 510 and 511 are connected between the power supply terminal VDD and the sensing nodes N7 and N8 to reset the sensing nodes N7 and N8.

드라이브 트랜지스터(520,521)는 일측이 전원단(VDD)에 연결되며, 센싱 노드(N7,N8)에 대응되는 전기적 신호의 전달 및 증폭 기능을 수행한다.One side of the drive transistors 520 and 521 is connected to the power supply terminal VDD, and transmits and amplifies an electrical signal corresponding to the sensing nodes N7 and N8.

셀렉트 트랜지스터(530,531)는 드라이브 트랜지스터(520,521)의 타측에 연결되며, 센싱된 신호를 출력한다.The select transistors 530 and 531 are connected to the other side of the drive transistors 520 and 521, and output the sensed signals.

로우 드라이버(310)에서 출력되는 제 1 리셋 신호(RS1), 제 2 리셋 신호(RS2), 라인 셀렉트 신호(LS)는 다음과 같이 각 픽셀 쌍에 인가된다.The first reset signal RS1, the second reset signal RS2, and the line select signal LS output from the row driver 310 are applied to each pixel pair as follows.

제 1 리셋 신호(RS1)는 픽셀 쌍 중 첫 번째 픽셀(홀수 로우)의 리셋 트랜지스터(510)의 게이트에 인가된다.The first reset signal RS1 is applied to the gate of the reset transistor 510 of the first pixel (odd row) of the pixel pair.

제 2 리셋 신호(RS2)는 픽셀 쌍 중 두 번째 픽셀(짝수 로우)의 리셋 트랜지스터(511)의 게이트에 인가된다.The second reset signal RS2 is applied to the gate of the reset transistor 511 of the second pixel (even row) of the pixel pair.

라인 셀렉트 신호(LS)는 픽셀 쌍의 첫 번째 셀렉트 트랜지스터(530), 두 번째 셀렉트 트랜지스터(531)의 게이트에 인가된다.The line select signal LS is applied to the gates of the first select transistor 530 and the second select transistor 531 of the pixel pair.

각 픽셀의 노출시간은 리셋신호(RS1,RS2)가 인에이블 된 시점부터, 라인 셀렉트 신호(LS)가 인에이블되어 센싱된 신호가 출력되기까지의 시간이다.The exposure time of each pixel is a time from when the reset signals RS1 and RS2 are enabled until the line select signal LS is enabled and the sensed signal is output.

라인 셀렉트 신호(LS)는 짝수 로우와 홀수 로우의 픽셀에 대해 공통으로 인에이블되므로, 제 1 리셋 신호(RS1)와 제 2 리셋 신호(RS2)가 일정시간 간격을 두고 인에이블되면, 그 시간 간격만큼 짝수 로우과 홀수 로우의 픽셀의 노출 정도는 달라지게 된다.Since the line select signal LS is commonly enabled for the pixels of even and odd rows, when the first reset signal RS1 and the second reset signal RS2 are enabled at a predetermined time interval, the time interval is As a result, the exposure degree of pixels of even rows and odd rows is changed.

본 발명에 따른 넓은 동작 범위를 가지는 이미지 센서 및 이미지 센서의 픽셀 어레이의 효과는 다음과 같다.Effects of the image sensor having a wide operating range and the pixel array of the image sensor according to the present invention are as follows.

첫째, 서로 다른 노출 정도를 가지는 픽셀 쌍을 통해 노출 정도가 다른 이미지를 획득하고, 결합함으로써 넓은 조도 범위의 이미지를 생성할 수 있다.First, an image having a wide exposure range may be generated by acquiring and combining an image having different exposure levels through pixel pairs having different exposure levels.

둘째, 여러 개의 이미지를 저장하기 위해 별도의 프레임 버퍼를 사용할 필요가 없다.Second, there is no need to use a separate frame buffer to store multiple images.

아울러 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위한 것으로, 당업자라면 첨부된 특허 청구범위의 기술적 사상과 범위를 통해 다양한 수정, 변경, 대체 및 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정 변경 등은 이하의 특허 청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.In addition, a preferred embodiment of the present invention is for the purpose of illustration, those skilled in the art will be able to various modifications, changes, replacements and additions through the spirit and scope of the appended claims, such modifications and changes are the following claims It should be seen as belonging to a range.

Claims (13)

삭제delete 노출시간이 상이하고, 동일한 로우 상에 인접하여 배열된 복수 개의 픽셀로 이루어지는 단위픽셀그룹이 격자형으로 배열되는 것을 특징으로 하는 이미지 센서의 픽셀 어레이.And a unit pixel group consisting of a plurality of pixels arranged adjacently on the same row with different exposure times and arranged in a lattice pattern. 제 2 항의 픽셀 어레이;A pixel array of claim 2; 상기 픽셀 어레이의 동작에 필요한 구동신호를 생성하는 로우 드라이버; 및A row driver for generating a driving signal for operation of the pixel array; And 상기 픽셀 어레이에서 출력되는 센싱 신호를 입력받아, 짝수 컬럼의 신호와 홀수 컬럼의 신호를 분리하여 출력하는 출력회로An output circuit which receives a sensing signal output from the pixel array and separates and outputs an even column signal and an odd column signal 를 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서.Image sensor comprising a. 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 각 픽셀은,Each pixel is 외부의 빛을 흡수하여 광전하를 생성하는 포토 다이오드;A photodiode that absorbs external light and generates photocharges; 상기 포토 다이오드로부터의 광전하를 선택적으로 센싱 노드로 전달하기 위한 전송 트랜지스터;A transfer transistor for selectively transferring photocharge from the photodiode to a sensing node; 전원단과 상기 센싱 노드 사이에 접속되어, 상기 센싱 노드를 리셋시키기 위한 리셋 트랜지스터;A reset transistor connected between a power supply terminal and the sensing node to reset the sensing node; 일측이 전원단에 연결되며, 상기 센싱 노드에 대응되는 전기적 신호의 전달 및 증폭 기능을 수행하기 위한 드라이브 트랜지스터; 및A drive transistor having one side connected to a power supply terminal and configured to transmit and amplify an electrical signal corresponding to the sensing node; And 상기 드라이브 트랜지스터의 타측에 연결되며, 센싱된 신호를 출력하는 셀렉트 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서.And a select transistor connected to the other side of the drive transistor and outputting a sensed signal. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 단위픽셀그룹은 두 개의 픽셀 쌍으로 이루어지고,The unit pixel group consists of two pixel pairs, 제 1 전송 신호는 상기 픽셀 쌍 중 첫 번째 픽셀의 전송 트랜지스터의 게이트에 인가되고,A first transmission signal is applied to the gate of the transfer transistor of the first pixel of the pixel pair, 제 2 전송 신호는 상기 픽셀 쌍 중 두 번째 픽셀의 전송 트랜지스터의 게이트에 인가되고,A second transmission signal is applied to the gate of the transfer transistor of the second pixel of the pixel pair, 리셋 신호는 상기 픽셀 쌍의 첫 번째, 두 번째 리셋 트랜지스터의 게이트에 공통으로 인가되며,A reset signal is commonly applied to the gates of the first and second reset transistors of the pixel pair, 라인 셀렉트 신호는 상기 픽셀 쌍의 첫 번째, 두 번째 셀렉트 트랜지스터의 게이트에 공통으로 인가되는 것을 특징으로 하는 이미지 센서.And a line select signal is commonly applied to the gates of the first and second select transistors of the pixel pair. 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 각 픽셀은,Each pixel is 외부의 빛을 흡수하여 광전하를 생성하는 포토 다이오드;A photodiode that absorbs external light and generates photocharges; 전원단과 센싱 노드 사이에 접속되어, 상기 센싱 노드를 리셋시키기 위한 리셋 트랜지스터;A reset transistor connected between a power supply terminal and a sensing node to reset the sensing node; 일측이 전원단에 연결되며, 상기 센싱 노드에 대응되는 전기적 신호의 전달 및 증폭 기능을 수행하기 위한 드라이브 트랜지스터; 및A drive transistor having one side connected to a power supply terminal and configured to transmit and amplify an electrical signal corresponding to the sensing node; And 상기 드라이브 트랜지스터의 타측에 연결되며, 센싱된 신호를 출력하는 셀렉트 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서.And a select transistor connected to the other side of the drive transistor and outputting a sensed signal. 제 6 항에 있어서,The method of claim 6, 상기 단위픽셀그룹은 두 개의 픽셀 쌍으로 이루어지고,The unit pixel group consists of two pixel pairs, 제 1 리셋 신호는 상기 픽셀 쌍 중 첫 번째 픽셀의 리셋 트랜지스터의 게이트에 인가되고,A first reset signal is applied to the gate of the reset transistor of the first pixel of the pixel pair, 제 2 리셋 신호는 상기 픽셀 쌍 중 두 번째 픽셀의 리셋 트랜지스터의 게이트에 인가되며,A second reset signal is applied to the gate of the reset transistor of the second pixel of the pixel pair, 라인 셀렉트 신호는 상기 픽셀 쌍의 첫 번째, 두 번째 셀렉트 트랜지스터의 게이트에 공통으로 인가되는 것을 특징으로 하는 이미지 센서.And a line select signal is commonly applied to the gates of the first and second select transistors of the pixel pair. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 단위픽셀그룹의 복수 개의 픽셀들은 동일한 컬럼 상에 인접하여 배열되는 것을 특징으로 하는 이미지 센서의 픽셀 어레이.And a plurality of pixels of the unit pixel group are arranged adjacent to the same column. 제 8 항의 픽셀 어레이;A pixel array of claim 8; 상기 픽셀 어레이의 동작에 필요한 구동신호를 생성하는 로우 드라이버; 및A row driver for generating a driving signal for operation of the pixel array; And 상기 픽셀 어레이에서 출력되는 센싱 신호를 입력받아, 짝수 로우의 신호와 홀수 로우의 신호를 분리하여 출력하는 출력회로An output circuit which receives a sensing signal output from the pixel array and separates an even row signal and an odd row signal 를 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서.Image sensor comprising a. 제 9 항에 있어서,The method of claim 9, 상기 각 픽셀은,Each pixel is 외부의 빛을 흡수하여 광전하를 생성하는 포토 다이오드;A photodiode that absorbs external light and generates photocharges; 상기 포토 다이오드로부터의 광전하를 선택적으로 센싱 노드로 전달하기 위한 전송 트랜지스터;A transfer transistor for selectively transferring photocharge from the photodiode to a sensing node; 전원단과 상기 센싱 노드 사이에 접속되어, 상기 센싱 노드를 리셋시키기 위한 리셋 트랜지스터;A reset transistor connected between a power supply terminal and the sensing node to reset the sensing node; 일측이 전원단에 연결되며, 상기 센싱 노드에 대응되는 전기적 신호의 전달 및 증폭 기능을 수행하기 위한 드라이브 트랜지스터; 및A drive transistor having one side connected to a power supply terminal and configured to transmit and amplify an electrical signal corresponding to the sensing node; And 상기 드라이브 트랜지스터의 타측에 연결되며, 센싱된 신호를 출력하는 셀렉트 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서.And a select transistor connected to the other side of the drive transistor and outputting a sensed signal. 제 10 항에 있어서,The method of claim 10, 상기 단위픽셀그룹은 두 개의 픽셀 쌍으로 이루어지고,The unit pixel group consists of two pixel pairs, 제 1 전송 신호는 상기 픽셀 쌍 중 첫 번째 픽셀의 전송 트랜지스터의 게이트에 인가되고,A first transmission signal is applied to the gate of the transfer transistor of the first pixel of the pixel pair, 제 2 전송 신호는 상기 픽셀 쌍 중 두 번째 픽셀의 전송 트랜지스터의 게이트에 인가되고,A second transmission signal is applied to the gate of the transfer transistor of the second pixel of the pixel pair, 제 1 리셋 신호는 상기 픽셀 쌍 중 첫 번째 픽셀의 리셋 트랜지스터의 게이트에 인가되고,A first reset signal is applied to the gate of the reset transistor of the first pixel of the pixel pair, 제 2 리셋 신호는 상기 픽셀 쌍 중 두 번째 픽셀의 리셋 트랜지스터의 게이트에 인가되며,A second reset signal is applied to the gate of the reset transistor of the second pixel of the pixel pair, 라인 셀렉트 신호는 상기 픽셀 쌍의 첫 번째, 두 번째 셀렉트 트랜지스터의 게이트에 공통으로 인가되는 것을 특징으로 하는 이미지 센서.And a line select signal is commonly applied to the gates of the first and second select transistors of the pixel pair. 제 9 항에 있어서,The method of claim 9, 상기 각 픽셀은,Each pixel is 외부의 빛을 흡수하여 광전하를 생성하는 포토 다이오드;A photodiode that absorbs external light and generates photocharges; 전원단과 센싱 노드 사이에 접속되어, 상기 센싱 노드를 리셋시키기 위한 리셋 트랜지스터;A reset transistor connected between a power supply terminal and a sensing node to reset the sensing node; 일측이 전원단에 연결되며, 상기 센싱 노드에 대응되는 전기적 신호의 전달 및 증폭 기능을 수행하기 위한 드라이브 트랜지스터; 및A drive transistor having one side connected to a power supply terminal and configured to transmit and amplify an electrical signal corresponding to the sensing node; And 상기 드라이브 트랜지스터의 타측에 연결되며, 센싱된 신호를 출력하는 셀렉 트 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서.And a select transistor connected to the other side of the drive transistor and outputting a sensed signal. 제 12 항에 있어서,The method of claim 12, 상기 단위픽셀그룹은 두 개의 픽셀 쌍으로 이루어지고,The unit pixel group consists of two pixel pairs, 제 1 리셋 신호는 상기 픽셀 쌍 중 첫 번째 픽셀의 리셋 트랜지스터의 게이트에 인가되고,A first reset signal is applied to the gate of the reset transistor of the first pixel of the pixel pair, 제 2 리셋 신호는 상기 픽셀 쌍 중 두 번째 픽셀의 리셋 트랜지스터의 게이트에 인가되며,A second reset signal is applied to the gate of the reset transistor of the second pixel of the pixel pair, 라인 셀렉트 신호는 상기 픽셀 쌍의 첫 번째, 두 번째 셀렉트 트랜지스터의 게이트에 공통으로 인가되는 것을 특징으로 하는 이미지 센서.And a line select signal is commonly applied to the gates of the first and second select transistors of the pixel pair.
KR1020060039152A 2006-05-01 2006-05-01 Image sensor and pixel array of image sensors with wide operating range Active KR100785528B1 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060039152A KR100785528B1 (en) 2006-05-01 2006-05-01 Image sensor and pixel array of image sensors with wide operating range
PCT/KR2007/002131 WO2007126288A1 (en) 2006-05-01 2007-05-01 Wide dynamic range image sensor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060039152A KR100785528B1 (en) 2006-05-01 2006-05-01 Image sensor and pixel array of image sensors with wide operating range

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20070106827A KR20070106827A (en) 2007-11-06
KR100785528B1 true KR100785528B1 (en) 2007-12-13

Family

ID=38655751

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060039152A Active KR100785528B1 (en) 2006-05-01 2006-05-01 Image sensor and pixel array of image sensors with wide operating range

Country Status (2)

Country Link
KR (1) KR100785528B1 (en)
WO (1) WO2007126288A1 (en)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8139130B2 (en) 2005-07-28 2012-03-20 Omnivision Technologies, Inc. Image sensor with improved light sensitivity
US8274715B2 (en) 2005-07-28 2012-09-25 Omnivision Technologies, Inc. Processing color and panchromatic pixels
US7916362B2 (en) 2006-05-22 2011-03-29 Eastman Kodak Company Image sensor with improved light sensitivity
US8031258B2 (en) 2006-10-04 2011-10-04 Omnivision Technologies, Inc. Providing multiple video signals from single sensor
KR101361788B1 (en) * 2008-02-25 2014-02-21 알제이에스 테크놀로지, 인코포레이티드 System and method for a high dynamic range image sensor sensitive array
US20100309340A1 (en) * 2009-06-03 2010-12-09 Border John N Image sensor having global and rolling shutter processes for respective sets of pixels of a pixel array
KR101133733B1 (en) * 2009-12-10 2012-04-09 삼성전자주식회사 Multi-Step Exposure Method By Electronic Shutter And Apparatus Using The Same
KR101794656B1 (en) * 2010-08-20 2017-11-08 삼성디스플레이 주식회사 Sensor array substrate, display device comprising the same and method of manufacturing the same
KR102678455B1 (en) * 2016-12-30 2024-06-27 삼성전자주식회사 Image sensor
CN115118896B (en) * 2021-03-23 2025-09-30 思特威(上海)电子科技股份有限公司 A driving method for an image sensor used for rolling exposure and an image sensor
CN115308757A (en) * 2021-05-08 2022-11-08 宁波飞芯电子科技有限公司 An image sensor and its driving method

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003179819A (en) 2001-12-12 2003-06-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd Imaging device

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1176807A1 (en) * 2000-07-24 2002-01-30 Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) Skewed pixel pattern sub-sampling for image sensor
JP2005312025A (en) * 2004-04-21 2005-11-04 Magnachip Semiconductor Ltd CMOS image sensor capable of high-speed analog signal processing

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003179819A (en) 2001-12-12 2003-06-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd Imaging device

Also Published As

Publication number Publication date
KR20070106827A (en) 2007-11-06
WO2007126288A1 (en) 2007-11-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100785528B1 (en) Image sensor and pixel array of image sensors with wide operating range
JP5717561B2 (en) Image sensor column circuit and pixel binning circuit
US7256381B2 (en) Driving an image sensor with reduced area and high image quality
KR102374112B1 (en) An image sensor including an auto focusing pixel, and an image processing system including the same
KR102516303B1 (en) Solid-state imaging element, imaging device, and electronic instrument
US20180152644A1 (en) Solid-state imaging device
KR102241072B1 (en) Solid-state imaging element and electronic device
KR20110029217A (en) Image sensor for outputting RGB signal through internal conversion and image processing device including the same
US20150163430A1 (en) Solid state imaging device
JP2007043689A (en) CMOS image sensor having dark current compensation function
KR20210066048A (en) Image sensor, image device having the same, and operating method thereof
KR102171022B1 (en) Image sensor for improving interference influence between pixels
KR20200145654A (en) Image sensor, pixel array and operation method of the image sensor
US20130155302A1 (en) Digital image sensor
KR20200143559A (en) Depth sensor comprising hybrid pixel
US10944924B2 (en) Image sensor and electronic camera
US7652707B2 (en) Pixel circuit with reduced wiring
KR102625261B1 (en) Image device
JP2015008343A (en) Imaging device, and method for forming imaging image
US9716867B2 (en) Color filter array and image sensor having the same
US8547458B2 (en) Solid-state image pickup device
KR102490299B1 (en) Image sensing device and method of driving the same
KR100878305B1 (en) Low Power Consumption Low Noise CMOS Image Sensor
JP4354862B2 (en) Optical sensor device and transmission circuit device
US20060138488A1 (en) Image sensor test patterns for evaluating light-accumulating characteristics of image sensors and methods of testing same

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
PA0109 Patent application

Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 20060501

PA0201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event date: 20070611

Patent event code: PE09021S01D

PG1501 Laying open of application
E701 Decision to grant or registration of patent right
PE0701 Decision of registration

Patent event code: PE07011S01D

Comment text: Decision to Grant Registration

Patent event date: 20071109

GRNT Written decision to grant
PR0701 Registration of establishment

Comment text: Registration of Establishment

Patent event date: 20071206

Patent event code: PR07011E01D

PR1002 Payment of registration fee

Payment date: 20071207

End annual number: 3

Start annual number: 1

PG1601 Publication of registration
G170 Re-publication after modification of scope of protection [patent]
PG1701 Publication of correction
PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20101206

Start annual number: 4

End annual number: 4

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20111216

Start annual number: 5

End annual number: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120925

Year of fee payment: 6

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20120925

Start annual number: 6

End annual number: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20131025

Year of fee payment: 7

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20131025

Start annual number: 7

End annual number: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20141125

Year of fee payment: 8

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20141125

Start annual number: 8

End annual number: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150924

Year of fee payment: 9

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20150924

Start annual number: 9

End annual number: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20161025

Year of fee payment: 10

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20161025

Start annual number: 10

End annual number: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20171025

Year of fee payment: 11

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20171025

Start annual number: 11

End annual number: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20181025

Year of fee payment: 12

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20181025

Start annual number: 12

End annual number: 12

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20191125

Year of fee payment: 13

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20191125

Start annual number: 13

End annual number: 13

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20201125

Start annual number: 14

End annual number: 14

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20211125

Start annual number: 15

End annual number: 15

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20241128

Start annual number: 18

End annual number: 18