KR100591853B1 - LC module test method and device - Google Patents
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Abstract
개시된 본 발명은 LCD 모듈을 구성하고 있는 도트별 검사와 복수의 도트로 이루어진 군집 영역을 생성시켜 군집 영역별로 검사하여 불량상태를 정확하게 파악하기 위한 LCD 모듈 검사 방법 및 장치에 관한 것으로서, 디스플레이장치의 제조 공정 중 단위공정별로 이루어지는 화질 외관 검사 공정을 포함하는 LCD 모듈 검사 방법에 있어서, 양품 LCD를 촬영하여 도트별 기준 휘도값인 제 1 기준 데이터, 제 1 군집 영역별 휘도값인 제 2 기준 데이터 및 제 2 군집 영역별 휘도값인 제 3 기준 데이터를 생성시켜 저장하는 기준 데이터 생성과정; 카메라로 촬영한 검사용 LCD의 영상신호를 수치화하여 캡쳐하는 캘리브레이션과정; 및 상기 캡쳐된 영상신호를 디지털 신호로 변환한 후 각 도트별 휘도값을 추출하여 제 1 비교 데이터를 생성하고, 제 1 군집 영역별 휘도값을 추출하여 제 2 비교 데이터를 생성하며, 제 2 군집 영역별 휘도값을 추출하여 제 3 비교 데이터를 생성한 후, 상기 제 1, 제 2, 제 3 비교값을 미리 등록된 제 1, 제 2, 제 3 기준 데이터와 비교할 때 양불 판정을 위한 휘도편차값을 제 1, 제 2, 제 3 휘도 편차 기준값으로 각각 산정하고, 산정된 제 1, 제 2, 제 3 휘도 편차 기준값과 측정된 휘도레벨차를 비교하여 LCD 모듈 불량상태를 분석하고, 분석 결과를 출력하는 불량상태분석과정으로 이루어진 것을 특징으로 한다.The present invention relates to a method and apparatus for inspecting an LCD module for accurately identifying a defective state by inspecting a dot-by-dot constituting an LCD module and generating a clustered area composed of a plurality of dots and inspecting the clustered area. In the LCD module inspection method comprising the image quality visual inspection process is performed for each unit process during the process, the first reference data which is the reference luminance value for each dot, the second reference data and the luminance value for each first cluster region by photographing the good LCD A reference data generation process of generating and storing third reference data which is a luminance value for each of the two clustered regions; A calibration process of digitizing and capturing an image signal of an inspection LCD captured by a camera; And converting the captured image signal into a digital signal, extracting luminance values for each dot to generate first comparison data, extracting luminance values for each first cluster region, and generating second comparison data; After extracting the luminance value for each region to generate third comparison data, the luminance deviation for determining whether the first, second and third comparison values are compared with the first, second and third reference data registered in advance. The value is calculated as the first, second, and third luminance deviation reference values, and the LCD module failure status is analyzed by comparing the calculated first, second, and third luminance deviation reference values with the measured luminance level difference. Characterized in that it consists of a failure state analysis process that outputs.
Description
도 1은 본 발명에 따른 LCD 모듈 검사 장치의 구성을 설명하기 위한 블록도,1 is a block diagram for explaining the configuration of the LCD module inspection apparatus according to the present invention;
도 2는 LCD 모듈 검사시 검사 영역을 설명하기 위한 도면,2 is a view for explaining an inspection area when inspecting an LCD module;
도 3a 내지 도 3b는 본 발명에 따른 LCD 모듈 검사 방법을 설명하기 위한 동작 흐름도,3A to 3B are flowcharts illustrating an LCD module test method according to the present invention;
*** 도면의 주요부분에 대한 부호설명 ****** Explanation of main parts of drawing ***
10 : 카메라 20 : 저장부10: camera 20: storage
30 : 캘리브레이션부 40 : 영상신호 처리부30: calibration unit 40: video signal processing unit
50 : 제어부 60 : 표시부50: control unit 60: display unit
70 : 키패드 80 : 검사용 LCD 모듈70: keypad 80: inspection LCD module
본 발명은 LCD 모듈 검사 방법 및 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an LCD module inspection method and apparatus.
보다 상세하게는, LCD 모듈을 구성하고 있는 도트별 검사와 복수의 도트로 이루어진 군집 영역을 생성시켜 군집 영역별로 검사하여 여러 가지 원인에 따라 발 생하는 유형별로 그 불량상태를 정확하게 파악하기 위한 LCD 모듈 검사 방법 및 장치에 관한 것이다.In more detail, an LCD module for accurately identifying a defective state for each type caused by various causes by inspecting each dot region constituting an LCD module and generating a clustered region composed of a plurality of dots, and inspecting each clustered region. An inspection method and apparatus.
일반적으로 LCD 모듈 불량은 여러 형태가 있고 조립 공정이 다양하여 어느 공정이든 이물, 얼룩 및 깨짐 등의 불량이 발생한다.In general, LCD module defects come in many forms and various assembly processes cause defects such as foreign objects, stains, and cracks.
대부분 LCD 모듈은 검사자가 육안으로 검사를 하고 있다. 검사용 고정장치에 LCD 패널을 고정시켜 둔 후 LCD 패널에 소정 밝기의 조명기구로 빛을 조사하고, 검사자의 목시(目視) 위치를 조금씩 변경시켜 가면서 LCD 패널상의 불량 유무를 결정하게 되고, 불량 상태에 따라 재가공을 하게 되거나, 또는 폐기결정을 하게 된다.Most LCD modules are visually inspected by the inspector. After fixing the LCD panel to the inspection fixture, the LCD panel is irradiated with light with a predetermined brightness, and the visual position of the inspector is changed little by little to determine whether there is a defect on the LCD panel. Depending on the reprocessing or disposal decision.
상기와 같이 LCD 모듈 제작시 각 공정 수행 과정 중 이물이나 얼룩 등과 같은 것에 의해서 발생하는 불량은 미세하기 때문에 검사자의 눈으로 판별하기 쉽지 않다는 문제점이 있었다.As described above, when the LCD module is manufactured, defects caused by foreign matters or stains during the process of each process are minute, so there is a problem in that it is not easy to discriminate with the eyes of the inspector.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 LCD 모듈을 구성하고 있는 도트별 검사와 복수의 도트로 이루어진 군집 영역을 생성시켜 군집 영역별로 검사하여 불량상태를 정확하게 파악하기 위한 LCD 모듈 검사 방법 및 장치를 제공하는데 있다.Accordingly, the present invention has been made to solve the problems of the prior art as described above, the object of the present invention is to generate a clustered area consisting of a plurality of dots and the inspection by dots constituting the LCD module to inspect by the clustered region The present invention provides an LCD module inspection method and apparatus for accurately identifying a defective state.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예는, 양품 LCD를 촬영하여 도트별 기준 휘도값인 제 1 기준 데이터, 제 1 군집 영역별 휘도값인 제 2 기준 데이터 및 제 2 군집 영역별 휘도값인 제 3 기준 데이터를 생성시켜 저장하는 기준 데이터 생성과정; 카메라로 촬영한 검사용 LCD의 영상신호를 수치화하여 캡쳐하는 캘리브레이션과정; 및 상기 캡쳐된 영상신호를 디지털 신호로 변환한 후 각 도트별 휘도값을 추출하여 제 1 비교 데이터를 생성하고, 제 1 군집 영역별 휘도값을 추출하여 제 2 비교 데이터를 생성하며, 제 2 군집 영역별 휘도값을 추출하여 제 3 비교 데이터를 생성한 후, 상기 제 1, 제 2, 제 3 비교값을 미리 등록된 제 1, 제 2, 제 3 기준 데이터와 비교하여 LCD 모듈 불량상태를 분석하고, 분석결과를 출력하는 불량상태분석과정으로 이루어진 것을 특징으로 한다.One embodiment of the present invention for achieving the above object, by taking a good LCD, the first reference data which is the reference luminance value for each dot, the second reference data and the second cluster region for each luminance value of each first cluster region A reference data generation process of generating and storing third reference data which is a luminance value; A calibration process of digitizing and capturing an image signal of an inspection LCD captured by a camera; And converting the captured image signal into a digital signal, extracting luminance values for each dot to generate first comparison data, extracting luminance values for each first cluster region, and generating second comparison data; After generating luminance comparison values for each region to generate third comparison data, the LCD module failure status is analyzed by comparing the first, second, and third comparison values with pre-registered first, second, and third reference data. And, characterized in that consisting of a failure state analysis process for outputting the analysis results.
또한, 상기 불량상태분석과정은, 상기 제 1 비교데이터와 제 1 기준 데이터 비교결과, 그 휘도 레벨차가 제 1 데이터 허용편차 이상으로 판단되는 경우 도트 불량 또는 이물질 포함에 의한 불량임을 알리는 화면이 출력되도록 하는 것을 특징으로 한다.In addition, the failure state analysis process, if the result of the comparison of the first comparison data and the first reference data, if the luminance level difference is determined to be greater than the first data allowance deviation so that the screen indicating that the failure due to the dot failure or the inclusion of foreign matters is output. Characterized in that.
또한 상기 불량상태분석과정은, 상기 제 2 비교데이터와 제 2 기준 데이터 비교결과, 그 휘도 레벨차가 제 2 데이터 허용편차 이상으로 판단되는 경우 결함 정보로 색이상 또는 얼룩에 의한 불량임을 알리는 화면이 출력되도록 하는 것을 특징으로 한다.In addition, the failure state analysis process, when the result of comparing the second comparison data and the second reference data, if the difference in the luminance level is determined to be greater than the second data allowance deviation, the screen indicating that the defect due to color abnormalities or unevenness as defect information is outputted It is characterized by that.
또한 상기 불량상태분석과정은, 상기 제 3 비교데이터와 제 3 기준 데이터 비교결과, 그 휘도 레벨차가 제 3 데이터 허용편차 이상으로 판단되는 경우 얼룩 또는 번짐에 의한 불량임을 알리는 화면이 출력되도록 한다.In addition, the failure state analysis process, if the result of the comparison between the third comparison data and the third reference data, if it is determined that the luminance level difference is greater than the third data allowable deviation so that the screen indicating that the defect due to the stain or bleeding is output.
또한, 본 발명의 다른 실시예는, 고정되어 설치되는 카메라; 도트별 기준 휘도값인 제 1 기준 데이터, 제 1 군집 영역별 휘도값인 제 2 기준 데이터 및 제 2 군집 영역별 휘도값인 제 3 기준 데이터를 저장하고 있으며, 검사용 LCD 모듈 정보에 매칭시켜 불량상태를 저장하고 있는 저장부; 상기 카메라로부터 입력되는 영상신호를 수치화하여 캡쳐하는 캘리브레이션부; 상기 캡쳐된 영상신호를 디지털 신호로 변환하는 영상신호 처리부; 상기 디지털 신호를 입력받아 각 도트별 휘도값을 추출하여 제 1 비교 데이터를 생성하고, 제 1 군집 영역별 휘도값을 추출하여 제 2 비교 데이터를 생성하며, 제 2 군집 영역별 휘도값을 추출하여 제 3 비교 데이터를 생성한 후, 상기 제 1, 제 2, 제 3 비교값을 미리 등록된 제 1, 제 2, 제 3 기준 데이터와 비교하여 불량상태를 출력하는 한편, 상기 불량상태를 LCD 모듈 정보에 매칭시켜 상기 저장부에 저장하는 제어부; 및 상기 제어부의 제어에 응하여 상기 불량상태를 화면상에 출력하는 출력부로 구성된 것을 특징으로 한다.In addition, another embodiment of the present invention, the camera is fixedly installed; The first reference data, which is the reference luminance value for each dot, the second reference data, which is the luminance value for the first clustered region, and the third reference data, which is the luminance value for the second clustered region, are stored. A storage unit for storing a state; A calibration unit which quantizes and captures an image signal input from the camera; An image signal processor converting the captured image signal into a digital signal; Receives the digital signal, extracts luminance values for each dot to generate first comparison data, extracts luminance values for each first cluster region, generates second comparison data, and extracts luminance values for each second cluster region After generating third comparison data, the first, second, and third comparison values are compared with the first, second, and third reference data registered in advance to output a defective state, and the defective state is displayed in the LCD module. A control unit matching the information and storing the information in the storage unit; And an output unit for outputting the defective state on a screen according to the control of the controller.
또한, 상기 제어부는, 상기 제 1 비교데이터와 제 1 기준 데이터 비교결과, 그 휘도 레벨차가 제 1 데이터 허용편차 이상으로 판단되는 경우 도트 불량 또는 이물질 포함에 의한 불량임을 알리는 화면이 출력되도록 하는 것을 특징으로 한다.The controller may output a screen indicating that a dot defect or a defect due to the inclusion of foreign matters is determined as a result of the comparison between the first comparison data and the first reference data and the luminance level difference is greater than or equal to the first data allowable deviation. It is done.
또한, 상기 제어부는, 상기 제 2 비교데이터와 제 2 기준 데이터 비교결과, 그 휘도 레벨차가 제 2 데이터 허용편차 이상으로 판단되는 경우 색이상 또는 얼룩에 의한 불량임을 알리는 화면이 출력되도록 하는 것을 특징으로 한다.The controller may be further configured to output a screen indicating that a color abnormality or a defect is defective when it is determined that the luminance level difference is greater than or equal to a second data deviation as a result of comparing the second comparison data with the second reference data. do.
또한, 상기 제어부는, 상기 제 3 비교데이터와 제 3 기준 데이터 비교결과, 그 휘도 레벨차가 제 3 데이터 허용편차 이상으로 판단되는 경우 얼룩 또는 번짐에 의한 불량임을 알리는 화면이 출력되도록 하는 것을 특징으로 한다.The controller may be further configured to output a screen indicating that the image is defective due to spots or smears when it is determined that the luminance level difference is greater than or equal to the third data allowance as a result of the comparison between the third comparison data and the third reference data. .
이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대해 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
첨부 도면 도 1에 도시된 바와 같이, 고정되어 설치되는 카메라(10)와, 도트별 기준 휘도값인 제 1 기준 데이터, 제 1 군집 영역별 휘도값인 제 2 기준 데이터 및 제 2 군집 영역별 휘도값인 제 3 기준 데이터를 저장하고 있으며, 검사용 LCD 모듈 정보에 매칭시켜 불량상태를 저장하고 있는 저장부(20)와, 상기 카메라(10)로부터 입력되는 영상신호를 수치화하여 캡쳐하는 캘리브레이션부(30)와, 상기 캡쳐된 영상신호를 디지털 신호로 변환하는 영상신호 처리부(40)와, 상기 디지털 신호를 입력받아 각 도트별 휘도값을 추출하여 제 1 비교 데이터를 생성하고, 제 1 군집 영역별 휘도값을 추출하여 제 2 비교 데이터를 생성하며, 제 2 군집 영역별 휘도값을 추출하여 제 3 비교 데이터를 생성한 후, 상기 제 1, 제 2, 제 3 비교값을 미리 등록된 제 1, 제 2, 제 3 기준 데이터와 비교하여 불량상태를 출력하는 한편, 상기 불량상태를 LCD 모듈 정보에 매칭시켜 상기 저장부에 저장하는 제어부(50)와, 상기 제어부(50)의 제어에 응하여 상기 불량상태를 화면상에 출력하는 표시부(60)와, 검사자가 검사장치를 조정하고, 검사용 LCD 모듈(80)의 검사조건을 입력할 수 있도록 지원하는 키패드(70)로 구성된다.As shown in FIG. 1, the
LCD 모듈을 각 도트와 군집 영역으로 나누어 검사를 하는 이유는 도트성 불량은 도트 단위로 검사하여 휘도 차이로 검출이 가능하지만, 얼룩이나 번짐 등과 같이 눈에 잘 드러나지 않고, 광범위한 불량의 경우 도트별 접근으로는 그 한계성 이 있기 때문이며, 군집 영역으로 검사를 하는 것이 좀더 정밀하게 불량상태를 파악할 수 있다. The reason for testing by dividing LCD module into each dot and clustering area is that it is possible to detect the dot defect by the dot unit and to detect the difference in luminance, but it is not easy to be seen such as spots and smudges, and in case of a wide range of defects This is because there is a limit, and the inspection of the cluster area can identify the defect state more precisely.
상기 검사 기준영역에 대해 좀더 상세히 기술하면, 첨부 도면 도 2에 도시된 바와 같이 도면부호 100은 도트영역으로서 R, G, B 각각의 영역을 검사하기 위한 것이고, 도면부호 110은 제 1 군집영역으로서, 제 1 군집영역은 RGB를 하나의 그룹으로 하여 4그룹을 기준영역을 설정해 놓은 것이며, 도면부호 120은 제 2 군집영역으로서, 제 2 군집영역은 RGB를 하나의 그룹으로 하여 9그룹을 기준영역으로 설정해 놓은 것이다. 상기와 같은 기준영역은 필요에 따라서 변경될 수 있다.Referring to the inspection reference area in more detail, as shown in FIG. 2,
이에, 상기 제어부(50)는 상기 제 1 비교데이터와 제 1 기준 데이터 비교결과, 그 휘도 레벨차가 제 1 데이터 허용편차 이상으로 판단되는 경우 도트 불량 또는 이물질 포함에 의한 불량을 알리는 화면이 출력되도록 한다.Accordingly, when the first comparison data and the first reference data are compared, the
또한, 상기 제어부(50)는 상기 제 2 비교데이터와 제 2 기준 데이터 비교결과, 그 휘도 레벨차가 제 2 데이터 허용편차 이상으로 판단되는 경우 색이상 또는 얼룩에 의한 불량임을 알리는 화면이 출력되도록 한다.In addition, the
또한, 상기 제어부(50)는 상기 제 3 비교데이터와 제 3 기준 데이터 비교결과, 그 휘도 레벨차가 제 3 데이터 허용편차 이상으로 판단되는 경우 얼룩 또는 번짐에 의한 불량임을 알리는 화면이 출력되도록 한다.In addition, the
상기와 같이 구성된 LCD 모듈 검사 장치의 작용을 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the LCD module inspection device configured as described above are as follows.
도 3a 및 도 3b는 본 발명에 따른 LCD 모듈 검사 방법을 설명하기 위한 동작 흐름도이다.3A and 3B are flowcharts illustrating the LCD module test method according to the present invention.
첨부 도면 도 2에 도시된 바와 같이, 먼저 양품 LCD 모듈을 검사장비에 탑재시켜(S100), 양품 LCD 모듈을 카메라(10)로 촬영하고, 촬영된 영상신호를 캘리브레이션부(30)로 입력시킨다.2, the good LCD module is first mounted on the inspection equipment (S100), the good LCD module is photographed by the
그러면, 상기 캘리브레이션부(30)는 상기 카메라(10)로부터 입력되는 영상신호를 수치화하여 캡쳐하고, 캡쳐된 영상을 영상신호 처리부(40)로 출력한다.Then, the
그러면 영상신호 처리부(40)는 캡쳐된 영상을 디지털 신호로 변환(S110)시켜 제어부(50)로 출력하고, 제어부(40)는 양품 LCD 모듈을 촬영함에 따라 생성된 디지털 신호를 이용하여 도트별 기준 휘도값인 제 1 기준 데이터, 제 1 군집 영역별 휘도값인 제 2 기준 데이터 및 제 2 군집 영역별 휘도값인 제 3 기준 데이터를 생성시켜 저장부(20)에 저장한다(S120). 이때, 제어부(50)는 기준 포인트를 설정하고, 기준 포인트에서 검사할 영역을 설정하는 한편 검사자에 의해 입력된 검사 조건을 토대로 기준 데이터를 생성시키고, 이후에 동일한 조건으로 비교 데이터를 생성시킨다.Then, the image
그리고, 검사자가 양품 LCD 모듈을 검사용 LCD 모듈(80)로 교체시키면, 검사용 LCD 모듈(80)을 카메라(10)로 촬영하고, 촬영된 영상신호를 캘리브레이션부(30)로 입력시킨다.Then, when the inspector replaces the good quality LCD module with the
그러면, 상기 캘리브레이션부(30)는 상기 카메라(10)로부터 입력되는 영상신호를 수치화하여 캡쳐하고, 캡쳐된 영상을 영상신호 처리부(40)로 출력한다.Then, the
그러면 영상신호 처리부(40)는 캡쳐된 영상을 디지털 신호로 변환(S140)시켜 제어부(50)로 출력하고, 제어부(50)는 입력된 디지털 신호를 이용하여 각 도트별 휘도값을 추출하여 제 1 비교 데이터를 생성하고, 제 1 군집 영역별 휘도값을 추출하여 제 2 비교 데이터를 생성하며, 제 2 군집 영역별 휘도값을 추출하여 제 3 비교 데이터를 생성(S150)한 후, 상기 제 1, 제 2, 제 3 비교 데이터를 미리 등록된 제 1, 제 2, 제 3 기준 데이터와 비교하고, 비교 결과에 따라 알 수 있는 불량상태를 표시부(60)로 출력한다.Then, the
즉, 상기 제어부(50)는 상기 제 1 비교데이터와 제 1 기준 데이터를 비교하고(S160), 비교결과 각 도트별 휘도 레벨차가 제 1 데이터 허용편차 이상으로 판단되는 경우(S170의 예) 도트 불량 또는 이물질 포함에 의한 불량임을 알리는 화면이 표시부(60)를 통해 출력되도록 한다(S180).That is, the
그리고, 상기 제어부(50)는 상기 제 2 비교데이터와 제 2 기준 데이터를 비교하고(S190), 비교결과 그 휘도 레벨차가 제 2 데이터 허용편차 이상으로 판단되는 경우(S200의 예) 결함 정보로 색이상 또는 얼룩에 의한 불량임을 알리는 화면이 표시부(60)를 통해 출력되도록 한다(S2100).In addition, the
그리고, 상기 제어부(50)는 상기 제 3 비교데이터와 제 3 기준 데이터를 비교하고(S220), 비교결과 그 휘도 레벨차가 제 2 데이터 허용편차 이상으로 판단되는 경우(S230의 예) 얼룩 또는 번짐에 의한 불량임을 알리는 화면이 표시부(60)로 출력되도록 한다(S220).Then, the
한편, 상기 S230의 판단 결과 그 휘도 레벨차가 제 1 데이터 허용편차 이상도 아니고, 제 2 데이터 허용편차 이상도 아니며, 제 3 데이터 허용편차 이상도 아 닌 경우 제어부(50)는 검사용 LCD 모듈(80)을 양품으로 판정한다(S250).On the other hand, if the luminance level difference is not more than the first data tolerance, not more than the second data tolerance, or more than the third data tolerance, as a result of the determination in S230, the
한편, 검사용 LCD 모듈(80)이 양품이나 불량품으로 판정되는 경우 또다른 검사용 LCD를 검사할 것인지를 체크한다(S260). 체크 결과 검사할 또다른 LCD 모듈이 있는 경우 제어부(50)는 상기 S130 과정부터 재 수행한다. On the other hand, if it is determined that the
이에 따라서, 본 발명은 LCD 모듈을 구성하고 있는 도트별 검사와 복수의 도트로 이루어진 군집 영역을 생성시켜 군집 영역별로 검사하여 불량상태를 정확하게 파악할 수 있도록 하는 효과가 있다.
Accordingly, the present invention has the effect of accurately identifying the defective state by generating the inspection by dots and the cluster region consisting of a plurality of dots constituting the LCD module by inspecting the cluster regions.
본 발명은 상기 실시예에만 한정되지 않으며, 본 발명의 기술적 사상 내에서 당 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 많은 변형이 가능함은 명백하다.The present invention is not limited only to the above embodiments, and it is apparent that many modifications are possible by those skilled in the art within the technical spirit of the present invention.
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