JPS628038A - Apparatus for analyzing particle - Google Patents
Apparatus for analyzing particleInfo
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- JPS628038A JPS628038A JP60146649A JP14664985A JPS628038A JP S628038 A JPS628038 A JP S628038A JP 60146649 A JP60146649 A JP 60146649A JP 14664985 A JP14664985 A JP 14664985A JP S628038 A JPS628038 A JP S628038A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野]
本発明は、フローサイトメータ等において、合軸状態を
容易に判定することを可能とした粒子解析装置に関する
ものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a particle analysis device that makes it possible to easily determine the alignment state in a flow cytometer or the like.
[従来の技術]
フローサイトメータ等に用いられる従来の粒子解析装置
では、フローセルの中央部の例えば200 pmX 2
00 amの微小な断面を有する流通部内を、シース液
に包まれて通過する血球細胞などの検体に照射光を照射
し、その結果生ずる前方及び側方散乱光により、検体の
形状番大きさ・屈折率等の粒子的性質を得ることが可能
である。[Prior Art] In a conventional particle analysis device used in a flow cytometer or the like, a particle size of, for example, 200 pm
Irradiation light is irradiated onto a specimen such as blood cells wrapped in sheath fluid and passing through a flow section with a minute cross section of 0.00 am, and the resulting forward and side scattered light is used to determine the shape, number, size, etc. of the specimen. It is possible to obtain particle-like properties such as refractive index.
また、蛍光剤により染色され得る検体に対しては、照射
光とほぼ直角方向の側方散乱光から検体の蛍光を検出す
ることにより、検体を解析するための重要な情報を求め
ることができる。Further, for a specimen that can be stained with a fluorescent agent, important information for analyzing the specimen can be obtained by detecting the fluorescence of the specimen from side scattered light in a direction substantially perpendicular to the irradiation light.
このような装置における照射光としては、一般にレーザ
光が使用されているが1通常のレーザ光源によるレーザ
光の強度分布はガウス分布を呈している。一方、検体粒
子はシース液に包まれて流通部の中央部を通過するよう
に工夫されているから、レーザ光の光軸と流通部の中央
部とが一致すれば、検体粒子には強度の最も強いレーザ
光が照射され、効率の良い測定が可能である。ところが
、レーザ光の光軸と流通部の中央部が相対的にずれたり
、検体粒子の流れが流通部の中央部からずれたりすると
、検体粒子に照射されるレーザ光の強さはガウス分布に
従って弱いものとなり、得られる散乱光も弱くなり、同
一粒子を測定しても同一の光検出信号が得られなくなる
ことがある。Laser light is generally used as the irradiation light in such devices, and the intensity distribution of the laser light from a normal laser light source exhibits a Gaussian distribution. On the other hand, since the sample particles are designed to pass through the center of the flow section while being wrapped in the sheath liquid, if the optical axis of the laser beam and the center of the flow section match, the sample particles will receive a strong The most intense laser light is irradiated, allowing for efficient measurements. However, if the optical axis of the laser beam and the center of the flow section are relatively misaligned, or the flow of sample particles deviates from the center of the flow section, the intensity of the laser light irradiated to the sample particles will follow a Gaussian distribution. The scattered light obtained also becomes weak, and even if the same particle is measured, the same light detection signal may not be obtained.
従って、フローサイトメータ等において正確な測定を行
うためには、検体粒子の流れの軸と光軸とを正確に一致
させる必要がある。Therefore, in order to perform accurate measurements using a flow cytometer or the like, it is necessary to precisely align the flow axis of sample particles with the optical axis.
そのために従来装置においては、測定前に標準サンプル
を流しながら、操作者が目視により手動で焦点及び光軸
調整を行っているので、十分に正確な焦点及び光軸調整
を行うことが難しい、また、測定中の照射ビームの形状
変化及び照射ビームと流通部との相対的なずれの発生等
を確認することが不可能であるため、測定途中に疑似信
号が混入したか否かを判別できず、データの信頼性につ
いて不安がある。For this reason, in conventional devices, the operator manually adjusts the focus and optical axis by visual inspection while flowing a standard sample before measurement, which makes it difficult to perform sufficiently accurate focus and optical axis adjustments. Since it is impossible to confirm changes in the shape of the irradiation beam during measurement and relative deviation between the irradiation beam and the flow section, it is not possible to determine whether or not spurious signals have entered the measurement. , there are concerns about the reliability of the data.
[発明の目的]
本発明の目的は、照射光の強度分布の検出及び表示を行
うことにより、フローセルの中心軸と照射光の光軸との
軸調整を容易に行い得る粒子解析装置を提供することに
ある。[Object of the Invention] An object of the present invention is to provide a particle analysis device that can easily adjust the central axis of a flow cell and the optical axis of the irradiated light by detecting and displaying the intensity distribution of the irradiated light. There is a particular thing.
[発明の概要]
上述の目的を達成するための本発明の要旨は、フローセ
ル内の流通部を流れる検体粒子に光ビームを照射する照
射光学系と、該光ビームが検体粒子によって散乱された
散乱光を測定する測光光学系と、前記流通部を通過した
照射光の強度分布を一次元光電変換素子により検出する
検出手段と、該検出手段の出力信号波形を表示する表示
手段とを具備することを特徴とする粒子解析装置である
。[Summary of the Invention] The gist of the present invention for achieving the above-mentioned object is to provide an irradiation optical system that irradiates a light beam to sample particles flowing through a flow section in a flow cell, and a light beam scattered by the sample particles. A photometric optical system that measures light, a detection means that uses a one-dimensional photoelectric conversion element to detect the intensity distribution of the irradiated light that has passed through the flow section, and a display means that displays the output signal waveform of the detection means. This is a particle analysis device featuring:
[発明の実施例] 本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する。[Embodiments of the invention] The present invention will be explained in detail based on illustrated embodiments.
第1図は全体の構成図であり、フローセルlの中央部の
紙面に垂直な流通部2内を、高速層流となったシース液
に包まれて流体力学的焦点合わせが行われた検体粒子が
通過し、この流れと直交する方向にレーザ光源3が配置
されている。このレーザ光s3から出射されたレーザ光
りを流通部2に導光するために、光軸01上に結像レン
ズ4が配置されている。また、検体粒子によって散乱さ
れたレーザ光りの前方散乱光側には、ビームスプリッタ
5.集光レンズ6、光電検出器7が順次に配列されてお
り、結像レンズ4を介して流通部2で照射されたレーザ
光りは検体粒子により散乱され、ビームスプリッタ5.
集光レンズ6を経て光電検出器7に至り、主に検体粒子
の大きさの情報が得られるようになっている。なお、通
常、集光レンズ6の近傍に図示しない遮光板が配されて
おり、検体粒子によって散乱されなかったレーザ光りの
直進成分を除去し、光電検出器7で得られる情報のS/
N比を向上させるようになっている。Figure 1 shows the overall configuration of the sample particles, which are surrounded by a sheath liquid in a high-speed laminar flow and hydrodynamically focused inside the flow section 2 perpendicular to the plane of the paper in the center of the flow cell I. passes through, and a laser light source 3 is arranged in a direction perpendicular to this flow. An imaging lens 4 is arranged on the optical axis 01 in order to guide the laser beam emitted from the laser beam s3 to the circulation section 2. In addition, a beam splitter 5 is provided on the forward scattered light side of the laser light scattered by the sample particles. A condensing lens 6 and a photoelectric detector 7 are arranged in sequence, and the laser light irradiated at the flow section 2 through the imaging lens 4 is scattered by the sample particles and sent to the beam splitter 5.
The light passes through a condensing lens 6 and reaches a photoelectric detector 7, where information mainly on the size of the sample particles can be obtained. Note that a light-shielding plate (not shown) is usually placed near the condenser lens 6 to remove the straight component of the laser beam that is not scattered by the sample particles, and to convert the information obtained by the photoelectric detector 7 into an S/
It is designed to improve the N ratio.
更に、ビームスプリッタ5で分割された光束の光軸02
上には集光レンズ8、アレイ状光電検出器9が配置され
、アレイ状光電検出器9には基準指標Mを表示したCR
T等のモニタ10が接続されている。そして、ビームス
プリッタ5により分割反射された光束は、集光レンズ8
により一次元光電変換素子であるアレイ状光電検出器9
上に結像される。Furthermore, the optical axis 02 of the luminous flux split by the beam splitter 5
A condensing lens 8 and an array photoelectric detector 9 are arranged above, and the array photoelectric detector 9 has a CR on which a reference index M is displayed.
A monitor 10 such as T is connected. The light beam split and reflected by the beam splitter 5 is then split into a condensing lens 8.
The arrayed photoelectric detector 9, which is a one-dimensional photoelectric conversion element, is
imaged on top.
また、検体粒子の流れの中心軸とレーザ光りの光軸O1
とに、それぞれほぼ直交する方向の光軸o3上には、側
方散乱光用対物集光レンズ11及び図示しない絞り、波
長選別手段、光電検出器等の光学系が配置され、検体粒
子の90°方向の散乱光及び蛍光が測定され、この90
°散乱光により検体粒子の顆粒性が、蛍光により検体粒
子の生化学的性質が観測できるようになっている。In addition, the central axis of the flow of sample particles and the optical axis O1 of the laser beam
On the optical axis o3, which is substantially orthogonal to each other, an optical system such as an objective condenser lens 11 for side scattered light, an aperture (not shown), a wavelength selection means, a photoelectric detector, etc. is arranged, and 90% of the sample particles are The scattered light and fluorescence in the direction of 90 ° are measured.
°The granularity of the sample particles can be observed using scattered light, and the biochemical properties of the sample particles can be observed using fluorescence.
ところで、レーザ光は通常ではガウス分布による強度分
布を有しており、流通部2における結像ビームもガウス
強度分布を宥している。#うて。By the way, laser light normally has a Gaussian intensity distribution, and the imaging beam in the flow section 2 also has a Gaussian intensity distribution. #Shoot.
流通部2の中心軸と照射光の光軸01とがほぼ一致して
いれば、アレイ状光電検出器9上の結像ビームの強度分
布も左右対称なガウス強度分布を呈し、アレイ状光電検
出器9の出力信号Iをモニタ10により表示すると、左
右対称で滑らかなガウス強度分布波形Pを観察できるこ
とになる。If the central axis of the flow section 2 and the optical axis 01 of the irradiated light almost coincide, the intensity distribution of the imaging beam on the arrayed photoelectric detector 9 also exhibits a symmetrical Gaussian intensity distribution, and the arrayed photoelectric detection When the output signal I of the device 9 is displayed on the monitor 10, a symmetrical and smooth Gaussian intensity distribution waveform P can be observed.
第2図は流通部2の中心軸と照射光の光軸01とが一致
していない場合のアレイ状光tm出器9の出力分布波形
Pの説明図であり、例えばレーザ光りの光軸O1がレー
ザ光源3側から見て流通部2の右側にずれている場合に
は、レーザ光りはフローセル1の内壁2Rに当たり、レ
ーザ光りの強度分布に乱れが生じ、アレイ状光電検出器
9の出力信号工は右側に乱れを生じた非対称のガウス分
布となる。従って、この分布波形PをモニタlOにより
観察することにより、レーザ光りがフローセルlの内壁
に当っているか否かを確認することができる。FIG. 2 is an explanatory diagram of the output distribution waveform P of the arrayed light tm output device 9 when the central axis of the flow section 2 and the optical axis 01 of the irradiated light do not coincide, for example, the optical axis O1 of the laser beam. is shifted to the right side of the flow section 2 when viewed from the laser light source 3 side, the laser beam hits the inner wall 2R of the flow cell 1, the intensity distribution of the laser beam is disturbed, and the output signal of the arrayed photoelectric detector 9 is The result is an asymmetric Gaussian distribution with disturbances on the right side. Therefore, by observing this distribution waveform P using the monitor lO, it is possible to confirm whether or not the laser beam is hitting the inner wall of the flow cell l.
第3図は実際に流通部2の中心軸と照射光の光軸O1と
その光軸合わせを行う際の手順の説明図である。先ず、
モニタlO上に滑らかなガウス分布波形Pが得られるよ
うに、即ちレーザ光りがフローセルlの内壁に当らない
ようにフローセルlを移動させる0通常、レーザ光りの
流通部2における結像ビーム径は、測定中の外乱を防ぐ
ために流通部2の水平方向の長さよりも短く設定しであ
るので、このようにモニタlO上に滑らかなガウス波形
が得られているだけでは、流通部2の中心とレーザ光り
の光軸01とが正確に一致しているか否かは判別できな
い。FIG. 3 is an explanatory diagram of the procedure for actually aligning the central axis of the circulation section 2 and the optical axis O1 of the irradiated light. First of all,
The flow cell l is moved so that a smooth Gaussian distribution waveform P can be obtained on the monitor lO, that is, so that the laser beam does not hit the inner wall of the flow cell l.Normally, the imaging beam diameter in the laser beam distribution section 2 is: In order to prevent disturbances during measurement, it is set shorter than the horizontal length of the flow section 2, so if a smooth Gaussian waveform is obtained on the monitor lO, the center of the flow section 2 and the laser It is not possible to determine whether the optical axis 01 of the light is exactly aligned with the optical axis 01 of the light.
従って1次にフローセルlをレーザ光源3から見て左側
のA方向に移動させてゆく、そして、流通部2の左側内
壁が破線で示したaの位置に達したときに、流通部2の
右側内壁2Rがレーザ光りのビーム径内に入ったとする
。すると、レーザ光りはフローセル1の内12Rに当た
り、ガウス分布に乱れが生じ、モニタ10上の表示波形
は右側に乱れの生じた非対称なガウス分布波形Paとな
る。Therefore, first, the flow cell l is moved in the direction A on the left side as seen from the laser light source 3, and when the left inner wall of the circulation section 2 reaches the position a indicated by the broken line, it is moved to the right side of the circulation section 2. Assume that the inner wall 2R is within the beam diameter of the laser beam. Then, the laser beam hits 12R of the flow cell 1, causing disturbance in the Gaussian distribution, and the displayed waveform on the monitor 10 becomes an asymmetric Gaussian distribution waveform Pa with disturbance on the right side.
このような位置aを目盛っておき、今度は反対にフロー
セル1を右側のB方向に移動させ、ブローセル1の左側
内壁2Lがレーザ光りのビーム径内に入り、モニタ10
上の表示波形が左側に乱れの生じた非対称のガウス分布
波形pbとなった際のフローセルlの左側内壁2Lの位
置すを目盛る。そして、この位置aと位置すの中間の位
置Cに分布波形Pの中央部が位置するように、フローセ
ル1をA方向へ移動させると、モニタ10上に得られる
分布波形はPcのような左右対称で滑らかなガウス強度
分布を呈する。このガウス分布波形Pcはレーザ光りの
光軸O1と流通部2の中心とが完全に一致したことを示
している。With such a position a marked on the scale, the flow cell 1 is moved in the opposite direction to the right side B, so that the left inner wall 2L of the flow cell 1 enters the beam diameter of the laser beam, and the monitor 10
The position of the left inner wall 2L of the flow cell I when the displayed waveform above becomes an asymmetric Gaussian distribution waveform pb with disturbance on the left side is calibrated. Then, when the flow cell 1 is moved in the direction A so that the center of the distribution waveform P is located at a position C between this position a and the position C, the distribution waveform obtained on the monitor 10 will be It exhibits a symmetric and smooth Gaussian intensity distribution. This Gaussian distribution waveform Pc indicates that the optical axis O1 of the laser beam and the center of the flow section 2 are completely aligned.
このように、流通部2に照射されたレーザ光りをアレイ
状光電検出器9に結像させ、その出力信号をモニタ10
により観察することによって、容易にフローセル1と照
射光学系との光軸調整を行うことができる。光軸調整を
完了した後に、実際に流通部2内に検体粒子を通過させ
、レーザ光りを照射しビームスプリッタ5を透過した前
方散乱光を、集光レンズ6を介して光電検出器7で検出
するようにすれば正確な測定値を得ることができ
□る。In this way, the laser beam irradiated onto the flow section 2 is imaged on the arrayed photoelectric detector 9, and the output signal is sent to the monitor 10.
By observing this, it is possible to easily adjust the optical axis between the flow cell 1 and the irradiation optical system. After completing the optical axis adjustment, the sample particles are actually passed through the flow section 2, irradiated with laser light, and the forward scattered light transmitted through the beam splitter 5 is detected by the photoelectric detector 7 via the condenser lens 6. You can get accurate measurements by doing this.
□Ru.
このように、合軸状態でかつ流通部2を清浄な状態にし
て測定が開始され、しばらくは良好な測定値を得ること
ができるが、測定を続けているうちに流通部2の内部に
サンプル液による汚れが付着し、壁面が清浄な状態でな
くなる場合がある。In this way, measurement is started with the shafts aligned and the flow section 2 in a clean state, and good measured values can be obtained for a while, but as the measurement continues, the sample inside the flow section 2 Dirt from the liquid may adhere and the wall surface may no longer be in a clean state.
このような状態になると、レーザ光りのガウス強
;変分布に乱れが生じ、同一の検体粒子を測定している
にも拘わらず、測定される散乱光強度に差が 生
ずることになり、測定値の信頼性に欠ける虞れがある。In this situation, the Gaussian intensity of the laser light
; Disturbances occur in the distribution, and even though the same specimen particles are being measured, there will be differences in the measured scattered light intensity, and there is a risk that the measured values will lack reliability.
しかし本発明によれば、測定中にモニタ10上の分布波
形Pを監視することによってこれを防止することができ
る。第4図はフローセル1の内面に汚れが付着した場合
のモニタ10の分布波形Pの例を示したものであり、フ
ローセルlの内面に汚れが付着するとモニタ10上の分
布波形Pに乱れが生じ、滑らかなガウス分布ではなくな
る。However, according to the present invention, this can be prevented by monitoring the distribution waveform P on the monitor 10 during measurement. FIG. 4 shows an example of the distribution waveform P on the monitor 10 when dirt adheres to the inner surface of the flow cell 1. When dirt adheres to the inner surface of the flow cell I, the distribution waveform P on the monitor 10 is disturbed. , it is no longer a smooth Gaussian distribution.
従って測定中にモニタ10上の表示波形を監視すること
により、測定中のフローセル1内の様子を知ることが可
能であり、モニタ10上の分布波形Pが正常な状態のと
きにのみ測定を行うようにすることによって信頼度の高
い測定値を得ることができる。Therefore, by monitoring the displayed waveform on the monitor 10 during measurement, it is possible to know the state inside the flow cell 1 during measurement, and measurement is performed only when the distribution waveform P on the monitor 10 is in a normal state. By doing so, highly reliable measurement values can be obtained.
以上はレーザ照射光学系と70−セル1の流通部2との
光軸調整について述べたが、第1図に示したようにモニ
タ10上に指標Mを設けることにより、レーザ照射光学
系とCOD検出光学系との合軸状態の検出も可能である
。即ち、モニタ10上に中心位置を示す指標Mを記入し
、この指標Mに対する分布波形Pの移動により1合軸状
態を判別することができ容易に光軸調整を行うことがで
きる。The above has described the optical axis adjustment between the laser irradiation optical system and the flow section 2 of the 70-cell 1. However, by providing the index M on the monitor 10 as shown in FIG. It is also possible to detect the alignment state with the detection optical system. That is, an index M indicating the center position is written on the monitor 10, and by moving the distribution waveform P with respect to the index M, it is possible to determine the 1-axis state and easily adjust the optical axis.
また、モニタ10上の分布波形を監視しながら、手動で
フローセル1を動かして合軸することもできるし、アレ
イ状光電検出器9の出力信号を信号処理してフローセル
lの内壁を検知することにより、モータ駆動機構等によ
りフローセルlを移動させ、自動的に光軸調整を行うこ
とも可能である。It is also possible to manually move the flow cell 1 to align the axis while monitoring the distribution waveform on the monitor 10, or to detect the inner wall of the flow cell 1 by signal processing the output signal of the arrayed photoelectric detector 9. Therefore, it is also possible to move the flow cell l using a motor drive mechanism or the like and automatically adjust the optical axis.
[発明の効果]
以上説明したように本発明に係る粒子解析装置は、フロ
ーセルの流通部における照射光強度分布を検出するCO
Dセンナ等の検出手段と、その検出手段の出力信号を表
示するモニタを設け、モニタ上の分布波形を監視するこ
とにより、容易にレーザ照射光学系とフローセルの流通
部との光軸調整を行うことができ、更に測定中のフロー
セル流通部の内面の汚れ等の外乱を監視することにより
、高精度な解析を可能としている。また、モニタ上に基
準指標を設ければ、レーザ照射光学系とCOD検出光学
系との光軸調整も容易に行うことができ、更に測定精度
を向上させることができる。また所望によっては、検出
手段の出力信号によって駆動する機構を設けることによ
って、全自動的に光軸調整を行うことも可能となり、更
に測定操作を容易にすることもできる。[Effects of the Invention] As explained above, the particle analysis device according to the present invention has a CO
By installing a detection means such as a D-senna and a monitor that displays the output signal of the detection means, and monitoring the distribution waveform on the monitor, the optical axis between the laser irradiation optical system and the flow cell flow section can be easily adjusted. Furthermore, by monitoring disturbances such as dirt on the inner surface of the flow cell flow section during measurement, highly accurate analysis is possible. Moreover, if a reference index is provided on the monitor, the optical axes of the laser irradiation optical system and the COD detection optical system can be easily adjusted, and measurement accuracy can be further improved. Further, if desired, by providing a mechanism driven by the output signal of the detection means, it becomes possible to perform the optical axis adjustment fully automatically, and furthermore, the measurement operation can be made easier.
図面は本発明に係る粒子解析装置の一実施例を示すもの
であり、第1図は全体の構成図、第2図は非合軸時の照
射光とブローセルの内壁との相対的位置関係とそのとき
の分布波形の説明図、第3図は合軸操作時の照射光とフ
ローセルの内壁との相対的位置関係及び分布波形の説明
図、第4図はフローセルの内面が汚れている時の分布波
形図である。
符号1はフローセル、2は流通部、3はレーザ光源、5
はビームスプリッタ、7は光電検出器、9はアレイ状光
電検出器、10はモニタである。
第2図The drawings show an embodiment of the particle analysis device according to the present invention, and FIG. 1 shows the overall configuration, and FIG. 2 shows the relative positional relationship between the irradiated light and the inner wall of the blow cell when the axes are not aligned. Figure 3 is an explanatory diagram of the distribution waveform at that time. Figure 3 is an explanatory diagram of the relative positional relationship between the irradiated light and the inner wall of the flow cell during alignment operation, and the distribution waveform. Figure 4 is an illustration of the distribution waveform when the inner surface of the flow cell is dirty. It is a distribution waveform diagram. 1 is a flow cell, 2 is a flow section, 3 is a laser light source, 5
is a beam splitter, 7 is a photoelectric detector, 9 is an arrayed photodetector, and 10 is a monitor. Figure 2
Claims (1)
を照射する照射光学系と、該光ビームが検体粒子によっ
て散乱された散乱光を測定する測光光学系と、前記流通
部を通過した照射光の強度分布を一次元光電変換素子に
より検出する検出手段と、該検出手段の出力信号波形を
表示する表示手段とを具備することを特徴とする粒子解
析装置。 2、前記光ビームをレーザビームとし、前記流通部のエ
ッジ部での散乱による前記レーザビームのガウス強度分
布の乱れを前記検出手段で検出し、前記表示手段に表示
することにより前記照射光学系と前記流通部との光軸調
整を行うようにした特許請求の範囲第1項に記載の粒子
解析装置。 3、前記表示手段に基準位置を示す指標を設け、前記照
射光学系と前記検出手段との光軸調整を行うようにした
特許請求の範囲第1項に記載の粒子解析装置。 4、前記表示手段の出力信号波形を、測定中に監視する
ことにより前記流通部内の様子を検知可能とした特許請
求の範囲第1項に記載の粒子解析装置。[Scope of Claims] 1. An irradiation optical system that irradiates a light beam onto sample particles flowing through a flow section in a flow cell, a photometric optical system that measures scattered light from which the light beam is scattered by the sample particles, and a photometric optical system that measures the scattered light that is scattered by the sample particles; What is claimed is: 1. A particle analysis device comprising: a detection means for detecting the intensity distribution of irradiation light that has passed through the part using a one-dimensional photoelectric conversion element; and a display means for displaying an output signal waveform of the detection means. 2. The light beam is a laser beam, and the detection means detects a disturbance in the Gaussian intensity distribution of the laser beam due to scattering at the edge portion of the flow section, and displays it on the display means, so that the irradiation optical system The particle analysis device according to claim 1, wherein optical axis adjustment is performed with respect to the flow section. 3. The particle analysis apparatus according to claim 1, wherein an index indicating a reference position is provided on the display means, and optical axis adjustment between the irradiation optical system and the detection means is performed. 4. The particle analysis device according to claim 1, wherein the state inside the flow section can be detected by monitoring the output signal waveform of the display means during measurement.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60146649A JPS628038A (en) | 1985-07-05 | 1985-07-05 | Apparatus for analyzing particle |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60146649A JPS628038A (en) | 1985-07-05 | 1985-07-05 | Apparatus for analyzing particle |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS628038A true JPS628038A (en) | 1987-01-16 |
Family
ID=15412504
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60146649A Pending JPS628038A (en) | 1985-07-05 | 1985-07-05 | Apparatus for analyzing particle |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS628038A (en) |
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