JPS61220598A - Ultrasonic wave transducer - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は超音波トランスジー−サに関し、特に産業用ロ
ボットの近接室の検出に利用することのできる高性能か
つ小型軽量の超音波トランスジューサの構造に関するも
のである・
(従来技術とその問題点)
従来、産業用ロボットの分野においては対象物体の距離
、大きさ、形状等の認識にCCD等の可視光を用いる固
体撮像センサが多く用いられてきた。Detailed Description of the Invention (Field of Industrial Application) The present invention relates to an ultrasonic transducer, and in particular to a high performance, small and lightweight ultrasonic transducer that can be used to detect a nearby room of an industrial robot. Concerning the structure (Prior art and its problems) Conventionally, in the field of industrial robots, solid-state image sensors such as CCDs that use visible light are often used to recognize the distance, size, shape, etc. of target objects. It's here.
しかし、可視光を用いるセンサでは、対象物体が透明で
あるときやセンサと対象物体との間の媒体が塵等で汚れ
ているとき等に用いることができないという欠点がある
。従って、近年、可視光にかわって超音波を対象物体の
認識に利用しようとする技術が登場した。超音波トラン
スジューサにおいては、一つあるいは複数個のデバイス
により超音波の送波および受波を行なうので、超音波の
発振および受信を行なう機械的要素とこれを助ける発振
回路、受信回路等の電気的要素をうまく組み合せて構成
する必要がある。特に、ある面を振動させて空気中に超
音波を放射しようとするとき、その面に対する空気の手
ごたえ(音響インピーダンス)は液体や固体に比べて非
常に小さいので、大きな強度をもつ超音波の放射が困難
である。従って、先に述べた機械的要素において効率よ
く超音波が放射されるように設計することはもちろん、
電気的要素においても増幅補償回路により小信号を補償
して受信する等の工夫が必要である。しかし、現在一般
に用いられている超音波トランスジューサは、この機械
的要素と電気的要素が一体とはならす番こ分離している
。以下、従来例を図をあげて説明し、同時にその欠点に
ついて述べる。However, sensors that use visible light have the disadvantage that they cannot be used when the target object is transparent or when the medium between the sensor and the target object is dirty with dust or the like. Therefore, in recent years, a technology has appeared that attempts to use ultrasonic waves instead of visible light to recognize target objects. In an ultrasonic transducer, ultrasonic waves are transmitted and received by one or more devices, so there are mechanical elements that oscillate and receive ultrasonic waves, and electrical elements such as oscillation circuits and reception circuits that support this. It is necessary to properly combine the elements. In particular, when trying to emit ultrasonic waves into the air by vibrating a certain surface, the response (acoustic impedance) of the air to that surface is very small compared to liquids or solids, so ultrasonic waves with high intensity are emitted. is difficult. Therefore, it goes without saying that the mechanical elements mentioned above should be designed so that ultrasonic waves are emitted efficiently.
Even in the electrical elements, it is necessary to take measures such as compensating for small signals using an amplification compensation circuit for reception. However, in the currently commonly used ultrasonic transducers, the mechanical element and the electrical element are separated from each other. Hereinafter, a conventional example will be explained with reference to figures, and at the same time, its drawbacks will be discussed.
第4図は従来の超音波トランスジー−サの構成例の断面
を示す図である。図中47は、円形のアルミ合金の板で
、中央に数十〜数百μmの深さをもつ溝101が形成さ
れている。この溝101の上面には、厚さ6〜20数μ
mのポリエステルの膜48が金属ケース41とアルミ合
金の板47により挿まれて固定されている。ポリエステ
ルの膜48の表面は、アルミ合金の板47と接する面と
反対の側の表向に、金箔等による電極4つが蒸着されて
いる。図中の43は保護スクリーンで金属ケース41に
固定されており、ポリエステルの膜48か外部より破損
されるのを防いでいる。一方、アルミ合金の板47の裏
面には、金属よりなる板バネ4Gが取りつけられており
、アルミ合金の板47を金属ケース41に押しつけてい
る。また、板バネ46はプラスチックケース42に固定
されている。44.45は電極端子で、44は板バネ4
6と一体に構成されており、一方、45は金属ケース4
1と一体に構成されている。従って、電極端子44の電
位は、板バネ46を介してアルミ合金の板47と等しく
、一方、電極端子45の電1位は、金属ケース41を介
して電極49と等しい。FIG. 4 is a cross-sectional view of an example of the configuration of a conventional ultrasonic transducer. In the figure, reference numeral 47 denotes a circular aluminum alloy plate, in which a groove 101 having a depth of several tens to hundreds of μm is formed in the center. The upper surface of this groove 101 has a thickness of 6 to 20 μm.
A polyester film 48 having a diameter of m is inserted and fixed between a metal case 41 and an aluminum alloy plate 47. On the surface of the polyester film 48, four electrodes made of gold foil or the like are deposited on the surface opposite to the surface in contact with the aluminum alloy plate 47. 43 in the figure is a protective screen fixed to the metal case 41 to prevent the polyester film 48 from being damaged from the outside. On the other hand, a plate spring 4G made of metal is attached to the back surface of the aluminum alloy plate 47, and presses the aluminum alloy plate 47 against the metal case 41. Further, the leaf spring 46 is fixed to the plastic case 42. 44 and 45 are electrode terminals, and 44 is the leaf spring 4.
6, while 45 is constructed integrally with metal case 4.
It is constructed integrally with 1. Therefore, the potential of the electrode terminal 44 is equal to that of the aluminum alloy plate 47 via the plate spring 46, while the potential of the electrode terminal 45 is equal to that of the electrode 49 via the metal case 41.
これより、電極端子44.45に電圧が印加されるとき
、この印加電圧と等しい電圧がアルミ合金の板47と電
極49の間に生じ、静電気力によりポリエステルの膜4
8を撓ませる。従って、この電極端子4−4 、45に
印加する電圧が交流で変化するとき、ポリエステルの膜
48に働く静電気力も交流で変化して、ポリエステルの
膜48を振動させ、この結果、超音波が前面に放射され
る。第5図は、前記第4図で述べた静電然型超音波トラ
ンスジューサの原理を示す図で、振動をおこす機械的要
素51とこれ以外の電気的要素52から構成されている
2機械的要素51は振動板51aと固定板51bから構
成されており、例えば第4図に示す構造をもつ。一方、
電気的要素52は、超音波の送波の場合にはバイアス電
圧53、抵抗54、発振回路55から構成される。今、
発振回路55から信号が生じていないときには、振動板
51aはバイアス電圧53により固定板51bに引かれ
撓んでいる。続いて、発振回路55にバイアス電圧53
よりも小さい交流電圧が生じた場合には、発振回路55
の両端に生ずる電圧の極性により以下のように変化する
。すなわち、発1辰回路55の両端に生ずる電圧の極性
がバイアス電圧53と同じときには、これら電圧の和に
等しい電位差が振動板51aと固定板51bに加わるた
めに、振動板51aの撓みは大きくなる。一方、発振回
路55の7ん圧の極性がバイアス電圧53と逆の場合に
は、これらの電圧の差に等しい電位差が振動板51aと
固定板51bに加わるために、振動板51aの撓みは小
さくなる。従って、発振回路55により発振回路の両端
の電圧を周期的に変化させるとき、振動板51aが振動
し、超音波が前面に放射される。なお、抵抗54は、振
動板51aと固定板51bの間で放電等が生じた場合に
、回路に大きな電流が流れないように回路を保護する機
能をもっている。以上超音波の送波の場合について述べ
たが、受波の場合には、第5図の55を増幅補償等を行
なう受信回路とすれは良い。このとき、外部から侵入し
た超音波により、振動板51aが振動して、振動板51
aと固定板51bの間の容量が変化する。従って、受信
回路55に交流電流が流れ、これを増幅補償してやるこ
とにより超音波の受波が可能となる。以上、例を用いて
従来の静電型超音波トランスジー−サの説明を行なった
。ここで示したように、超音波トランスジー−ザにおい
て、機械的要素と電気的要素の組み合せは必要不可避な
ものであり、従来例として第4図に示した超音波トラン
スジー−サにおいても第4図の機械的要素に外付けの電
気回路を付帯して全体を構成していた。従って、従来の
構造で高性能のデバイスを実現しようとすると、ますま
すこの電気的要素の占める領域が大きくなり、装置を大
型なものにするという傾向があった。From this, when a voltage is applied to the electrode terminals 44, 45, a voltage equal to this applied voltage is generated between the aluminum alloy plate 47 and the electrode 49, and the polyester film 44 due to electrostatic force.
Flex 8. Therefore, when the voltage applied to the electrode terminals 4-4, 45 changes with alternating current, the electrostatic force acting on the polyester membrane 48 also changes with alternating current, causing the polyester membrane 48 to vibrate, and as a result, ultrasonic waves are transmitted to the front surface. is radiated to. FIG. 5 is a diagram showing the principle of the electrostatic ultrasonic transducer described in FIG. Reference numeral 51 is composed of a diaphragm 51a and a fixed plate 51b, and has the structure shown in FIG. 4, for example. on the other hand,
The electric element 52 includes a bias voltage 53, a resistor 54, and an oscillation circuit 55 when transmitting ultrasonic waves. now,
When no signal is generated from the oscillation circuit 55, the diaphragm 51a is pulled toward the fixed plate 51b by the bias voltage 53 and is bent. Subsequently, the bias voltage 53 is applied to the oscillation circuit 55.
If an alternating current voltage smaller than
It changes as follows depending on the polarity of the voltage generated across the . That is, when the polarity of the voltage generated across the generator circuit 55 is the same as the bias voltage 53, a potential difference equal to the sum of these voltages is applied to the diaphragm 51a and the fixed plate 51b, so that the flexure of the diaphragm 51a increases. . On the other hand, when the polarity of the 7 pressure of the oscillation circuit 55 is opposite to the bias voltage 53, a potential difference equal to the difference between these voltages is applied to the diaphragm 51a and the fixed plate 51b, so the deflection of the diaphragm 51a is small. Become. Therefore, when the oscillation circuit 55 periodically changes the voltage across the oscillation circuit, the diaphragm 51a vibrates and ultrasonic waves are emitted to the front. Note that the resistor 54 has a function of protecting the circuit so that a large current does not flow in the circuit when discharge or the like occurs between the diaphragm 51a and the fixed plate 51b. Although the case of ultrasonic wave transmission has been described above, in the case of wave reception, it is preferable to replace 55 in FIG. 5 with a receiving circuit that performs amplification compensation and the like. At this time, the diaphragm 51a vibrates due to the ultrasonic waves that entered from the outside, and the diaphragm 51a vibrates.
The capacitance between a and the fixed plate 51b changes. Therefore, an alternating current flows through the receiving circuit 55, and by amplifying and compensating this current, it becomes possible to receive ultrasonic waves. The conventional electrostatic ultrasonic transducer has been described above using examples. As shown here, in an ultrasonic transducer, a combination of mechanical and electrical elements is inevitable, and even in the conventional ultrasonic transducer shown in FIG. The whole was constructed by adding an external electric circuit to the mechanical elements shown in Figure 4. Therefore, when trying to realize a high-performance device with a conventional structure, the area occupied by the electrical elements becomes larger and larger, and there is a tendency to make the device larger.
この傾向は、超音波トランスジー−サアレイを実現しよ
うとするときにます才す問題となった。実際アレイ化さ
れたトランスジューサの電極を結ぶ配線は、これだけで
かなりの大きさとなることが知られている。一方、先に
述べたように産業用ロボットの分野において高性能かつ
小型の超音波トランスジューサが必要とされている。従
って、超音波トランスジユーザの電気的要素をシリコン
のICプロセス技術を利用して集積化し、これと振動を
行なう機械的要素を一体に成形して小型軽量を実現した
デバイスが切に望すれていた。しかし、従来の構造をも
つ超音波トランスジューサにおいては、機械的快素をシ
リコンのICプロセス技術と合致して製造することが不
可能なため、デバイスの小型軽量化をはかることができ
ないという欠点があった。This trend has become an increasing problem when attempting to implement ultrasonic transducer arrays. It is known that the wiring connecting the electrodes of an array of transducers becomes quite large. On the other hand, as mentioned above, high performance and compact ultrasonic transducers are needed in the field of industrial robots. Therefore, there is a strong need for a small and lightweight device that integrates the electrical elements of an ultrasonic transuser using silicon IC process technology, and molds these and the mechanical elements that produce vibration into one piece. Ta. However, ultrasonic transducers with conventional structures have the disadvantage that it is impossible to manufacture mechanical components that match silicon IC process technology, and therefore it is not possible to reduce the size and weight of the device. Ta.
(発明の目的)
本発明の目的は、上記従来技術の欠点を除去し、高性能
かつ小型軽量の超音波トランスジー−ザを提供すること
にある。(Object of the Invention) An object of the present invention is to eliminate the drawbacks of the above-mentioned prior art and to provide a high performance, small and lightweight ultrasonic transducer.
(発明の構成)
本発明によれば、表面の一方の側に第一の電極をもつダ
イアフラムと、当該ダイアフラムとスペーサを介して対
向する第二の電極により構成されより、また、前記スペ
ーサがシリコンにより構成されることを特徴とする超音
波トランスジー−サおよび、表面の一方の側に第一の電
極をもつダイアフラムと、当該ダイアフラムとスペーサ
を介して対向する第二の電、極により構成される静電型
超前記スペーサがシリコンにより構成される超音波トラ
ンスジー−サを一つの素子とし、当該素子を同一シリコ
ン基板上に複数個ならべ、前記第一あるいは第二の電極
の少なくとも一方を当該各素子ごとに分離し、当該各素
子の前記ダイアフラムに当該素子ごとに異なる電圧が印
加されるようにした超音波トランスジューサが得られる
。(Structure of the Invention) According to the present invention, the diaphragm is composed of a diaphragm having a first electrode on one side of its surface, and a second electrode facing the diaphragm with a spacer interposed therebetween, and the spacer is made of silicon. An ultrasonic transducer comprising: a diaphragm having a first electrode on one side of its surface; and a second electrode facing the diaphragm with a spacer interposed therebetween. One element is an ultrasonic transducer in which the electrostatic spacer is made of silicon, a plurality of such elements are arranged on the same silicon substrate, and at least one of the first or second electrode is connected to the ultrasonic transducer. An ultrasonic transducer is obtained in which each element is separated and a different voltage is applied to the diaphragm of each element.
(発明の作用原理)
本発明の超音波トランスジー−サは、シリコンのICプ
ロセス技術に合致した製法と周辺回路の集積化を可能と
したモノリシック超音波トランスジー−サであり、第2
図に示すように弾性定数の小さい高分子膜により主6と
構成されたダイアフラムがこの上下の電極に加えられた
電位差の変化に従って変形し、超音波を送波するように
工夫されている。また、このデバイスを超音波の受波に
用いる場合には、上記ダイアフラムが外部超音波により
振動するときダイアフラムの上下の′■極間の容量が変
化することを利用して、電気口:烙1こγ奇れる電流の
変化として峨み出すことプバできろようになっている。(Principle of operation of the invention) The ultrasonic transducer of the present invention is a monolithic ultrasonic transducer that enables integration of peripheral circuits and a manufacturing method compatible with silicon IC process technology.
As shown in the figure, a diaphragm made of a polymer membrane with a small elastic constant as the main body 6 is deformed in accordance with changes in the potential difference applied to the upper and lower electrodes, and is devised to transmit ultrasonic waves. When this device is used to receive ultrasonic waves, the capacitance between the upper and lower poles of the diaphragm changes when the diaphragm vibrates due to external ultrasonic waves. This is designed to be able to rise as a result of strange changes in the current.
また、上記ダイアフラムと下部t)ノミ極の間に挿入さ
れたスペーサhSシリコンより構成されているため、こ
のスペーサの領域に発111.!回路および受信回路を
ICプロセス技術により集積化することが可能であるた
め、高性能超竹波トランスジューサを小型ボイ量に製造
することができた。In addition, since the spacer hS silicon is inserted between the diaphragm and the lower chisel pole, the 111. ! Since the circuit and the receiving circuit can be integrated using IC process technology, a high-performance ultra-bamboo wave transducer can be manufactured with a small volume.
(実施例)
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。第1171は、本発明の一実施例を示す断面図であり
、第2図は本発明の動作原理を示す観念図である。図に
おいて、従来例として示した第4図および第5図と同一
番号は同一構成要素を示している。本実施例の超音波の
送波および受波を行なうダイアフラム22は、二酸化シ
リコン(Sin、)等の薄い無機絶縁膜1と数〜20μ
mの厚さをもつポリイミド樹脂等よりなる高分子膜2よ
り構成されているために小さな弾性定数をもち、そのた
めに振動による変形が容易な構造となっている。(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to the drawings. 1171 is a sectional view showing one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a conceptual diagram showing the operating principle of the present invention. In the figure, the same numbers as in FIGS. 4 and 5, which are shown as conventional examples, indicate the same components. The diaphragm 22 that transmits and receives ultrasonic waves in this embodiment is made of a thin inorganic insulating film 1 made of silicon dioxide (Sin, etc.) and a film of several to 20 μm.
Since it is composed of a polymer film 2 made of polyimide resin or the like having a thickness of m, it has a small elastic constant, and therefore has a structure that is easily deformed by vibration.
当該膜1は、本実施例の外に、窒化シリコン膜(8i3
N4)あるいはS i 3 N4/8 tOv/S +
3 N4の3層構造膜等でも良く、シリコン基板9を
化学的にエツチングして溝12を形成するときに高分子
膜2を保護する役目をもっている。また、高分子膜2は
、回転塗布法を用いると厚さを精確に制御することが可
能であり、材料として本実施例の外にフォトレジストを
用いても良い。かかる構造をもつダイアフラム22の一
方の表面には、金等が蒸着等によりつけられて第一の電
極3を形成している。一方、当該ダイアフラム22の背
面には、当該第一の電極3に対向して第二の電極4がベ
ークライト等の絶縁ケース5の上につけられており、前
記第一の電極3と当該第二の電極4により前記ダイアフ
ラム22と前記シリコン基板9を挿み込んだ構造をして
いる。当該シリコン基板9は前記ダイアフラム22と前
記第二の電極4のスペーサとじての役目卒しており、ダ
イアフラム22と接する面には8で示す発眼および受信
回路がICプロセス技術により集積化されている。また
、当該シリコン基板9のダイアフラム22が形成されて
いる面と反対側の面では、金・シリコン共晶合金13等
によりシリコン基板9が電極4および絶縁ケース5に接
着されている。図中の10および11はリードで、それ
ぞれボンディング線6およびアルミ配線7を介して集積
回路8と外部の電源および制御装置(図示せず)との間
に信号の入出力を行なう。In addition to this example, the film 1 is a silicon nitride film (8i3
N4) or S i 3 N4/8 tOv/S +
A three-layer structure film of 3N4 or the like may be used, and has the role of protecting the polymer film 2 when the groove 12 is formed by chemically etching the silicon substrate 9. Further, the thickness of the polymer film 2 can be precisely controlled by using a spin coating method, and photoresist may be used as a material other than this embodiment. On one surface of the diaphragm 22 having such a structure, gold or the like is applied by vapor deposition or the like to form the first electrode 3. On the other hand, on the back side of the diaphragm 22, a second electrode 4 is attached on an insulating case 5 made of Bakelite or the like, facing the first electrode 3. It has a structure in which the diaphragm 22 and the silicon substrate 9 are inserted through the electrode 4. The silicon substrate 9 no longer serves as a spacer between the diaphragm 22 and the second electrode 4, and on the surface in contact with the diaphragm 22, an eye development and reception circuit indicated by 8 is integrated using IC process technology. There is. Further, on the surface of the silicon substrate 9 opposite to the surface on which the diaphragm 22 is formed, the silicon substrate 9 is bonded to the electrode 4 and the insulating case 5 using a gold-silicon eutectic alloy 13 or the like. Reference numerals 10 and 11 in the figure are leads for inputting and outputting signals between the integrated circuit 8 and an external power supply and control device (not shown) via bonding wires 6 and aluminum wiring 7, respectively.
なお、当該リード11は、前記第二の電極4と図に示す
ように接続されており、前記集積回路8の端子に電極4
と等しい電位を与えている。第2図の(a)は、発振回
路55の両端に生ずる電圧の極性がバイアス電圧53と
反対の場合を示しており、同図(b)は、当該電圧の極
性が同じ場合を示している。同図に示すように、当該ダ
イアフラム22は、同図(b)の方が同図(a)よりも
大きく変位する。従って、発振回路55の電圧が交流的
に変化して極性を変えるとき、ダイアフラム22は、同
図(,1→(b)→(a)→・・・と変形することにな
り、この結果、ダイアフラム22の前面に超音波が放射
される。超音波の強度は、バイアス電圧53の大きさが
大きい程強く放射されるが、一方、バイアス電圧53が
大き過ぎるときには、ダイアフラム22と電極4の間に
放電が生じるためにデバイスの破損が生じる危険がある
。従って、バイアス電圧53は適度な値に設計されるべ
きである。先に述べたように、当該デバイスを超音波の
受波に用いる場合には、第2図の55を適当な受信回路
で置き換えると良い。このとき、第一の電極3と第二の
電極4の間の容量がダイアフラム22の変形に従って変
化するから、外部より侵入した超音波がダイアフラム2
2を同図(a)→(b)→(a)→・・・と変形させる
とき、受信回路55の両端に流れる電流値が変化する。Note that the lead 11 is connected to the second electrode 4 as shown in the figure, and the electrode 4 is connected to the terminal of the integrated circuit 8.
It gives a potential equal to . FIG. 2(a) shows a case where the polarity of the voltage generated across the oscillation circuit 55 is opposite to the bias voltage 53, and FIG. 2(b) shows a case where the polarity of the voltage is the same. . As shown in the figure, the diaphragm 22 is displaced more in the figure (b) than in the figure (a). Therefore, when the voltage of the oscillation circuit 55 changes in an alternating current manner and changes its polarity, the diaphragm 22 deforms as shown in the figure (1→(b)→(a)→...), and as a result, Ultrasonic waves are emitted to the front surface of the diaphragm 22. The intensity of the ultrasonic waves is stronger as the bias voltage 53 becomes larger, but on the other hand, when the bias voltage 53 is too large, the ultrasonic waves are There is a risk that the device will be damaged due to the occurrence of discharge.Therefore, the bias voltage 53 should be designed to an appropriate value.As mentioned earlier, when the device is used to receive ultrasonic waves, 2, it is recommended to replace 55 in Fig. 2 with an appropriate receiving circuit.At this time, since the capacitance between the first electrode 3 and the second electrode 4 changes according to the deformation of the diaphragm 22, it is better to replace 55 in Fig. 2 with an appropriate receiving circuit. Ultrasonic wave is diaphragm 2
2 is transformed from (a) to (b) to (a) in the figure, the value of the current flowing across the receiving circuit 55 changes.
この電流値を受信回路55により適度に信号処理するこ
とにより、超音波の受信が可能となる。なお、本実施例
で述べた発信回路および受信回路は、特に限定されるも
のでなく、全ての周知の回路技術を本発明に含むことは
言うまでもない。By subjecting this current value to appropriate signal processing by the receiving circuit 55, it becomes possible to receive ultrasonic waves. Note that the transmitting circuit and receiving circuit described in this embodiment are not particularly limited, and it goes without saying that the present invention includes all known circuit techniques.
第3図は、本発明の実施例をもつ超音波トランスジー−
サを製造する手順の一例を示したものである。同図(、
)は通常のシリコンのICプロセス技術を用いて周辺回
路32をシリコン基板30の表面に形成したものである
。この段階においては、通常、酸化膜31がシリコン基
板30の表裏に形成されているので、当該酸化膜31を
エツチングして完全に除去する(同図(b))。続いて
、シリコン基板30の表側の面に酸化膜31をcvn法
により形成しく同図(C))、さらに熱酸化法によって
シリコン基板30の表裏面に薄い酸化膜を形成する(同
図(d))。以上の手順を行なう理由は、シリコン基板
30の表側の面の酸化膜31に生ずる応力を低く抑える
ためであり、後述する同図(h)の段階でエツチングが
当該酸化膜31で停止するようにするために必要である
。さて、同図fd)のシリコン基板30の表1111に
ポリイミド樹脂等を回転4ミ布し、これを焼き固めて高
分子1莫33を形成した後、フォトレジスト等で保護し
て周辺回路32の電極を外部に取り出すためのコンタク
ト穴34を開ける(同図(e))。続いて、シリコン基
板30の表側にアルミ等を蒸着した後、不必要な箇所を
除去して電極35およびアルミ配線38を形成する(同
図(f))。当該シリコン基板30の裏側より溝パター
ン36の領域lこおける酸化膜31を除去する(同l;
4(g))。この後、シリコン基板30の裏側のみがエ
ツチング液と接触するようにした治具を用いてシリコン
基板30をエツチングして溝37を形成する。この際シ
リコンのエツチング液トシて、K OH、ヒドラジン等
の異方性を示すエツチング液を用いると、横方向の不必
要なエツチングがないため、溝37を正確に制御して形
成することができる。なお、シリコン基板30の表側に
形成された酸化膜31に大きな応力が存在するときには
、同図(h)で示される溝37を形成したときに当該溝
37を覆う当該酸化膜31にクラックが生じ、このクラ
ックを通して高分子膜33がエツチングされるというこ
とが起こる。従って、当該シリコン基板30の表側の酸
化膜31に大きな応力が生じないように注意しなければ
いけない。FIG. 3 shows an ultrasonic transgy having an embodiment of the present invention.
This figure shows an example of a procedure for manufacturing a sachet. Same figure (,
) is one in which a peripheral circuit 32 is formed on the surface of a silicon substrate 30 using normal silicon IC process technology. At this stage, since the oxide film 31 is normally formed on the front and back surfaces of the silicon substrate 30, the oxide film 31 is completely removed by etching (FIG. 3(b)). Next, an oxide film 31 is formed on the front surface of the silicon substrate 30 by the CVN method (FIG. 2(C)), and a thin oxide film is further formed on the front and back surfaces of the silicon substrate 30 by a thermal oxidation method (FIG. 1(D)). )). The reason for performing the above procedure is to suppress the stress generated in the oxide film 31 on the front surface of the silicon substrate 30, and to ensure that etching stops at the oxide film 31 at the stage shown in FIG. It is necessary to do so. Now, polyimide resin or the like is spread on the surface 1111 of the silicon substrate 30 (fd) in the same figure by rotation, and this is baked and hardened to form a polymer 1111. After that, it is protected with a photoresist or the like and the peripheral circuit 32 is formed. A contact hole 34 is made to take out the electrode to the outside (FIG. 4(e)). Subsequently, after aluminum or the like is deposited on the front side of the silicon substrate 30, unnecessary portions are removed to form electrodes 35 and aluminum wiring 38 (FIG. 3(f)). The oxide film 31 in the region l of the groove pattern 36 is removed from the back side of the silicon substrate 30 (same l;
4(g)). Thereafter, the groove 37 is formed by etching the silicon substrate 30 using a jig so that only the back side of the silicon substrate 30 comes into contact with the etching solution. At this time, if an anisotropic etching solution such as KOH or hydrazine is used as the silicon etching solution, there will be no unnecessary etching in the lateral direction, and the grooves 37 can be formed with precise control. . Note that when a large stress exists in the oxide film 31 formed on the front side of the silicon substrate 30, cracks occur in the oxide film 31 covering the groove 37 when the groove 37 shown in FIG. It happens that the polymer film 33 is etched through this crack. Therefore, care must be taken not to generate large stress on the oxide film 31 on the front side of the silicon substrate 30.
第6図および第7図は本発明の他の実施例を示す平面図
である。図において、第1図と同一番号は同一構成要素
を示している。これらの実施例において、破線で示され
た複数の矩形はダイアフラム22を示している。また、
当該ダイアフラム22の上面に形成された電極3はアル
ミ配線60およびコンタクト穴61を介して周辺回路8
の一部と接続されている。なお、これらの図において、
周辺回路8の間を結ぶアルミ配線はこれを省略して描い
た。第6図および第7図の実施例に示すように当該ダイ
アフラム22を複数個並べたときには、超音波を前面の
小さな角度に強く放射したり、前面の小さな角度のみの
超音波を強く受信したりすることができ、周囲の雑音に
惑わされることが少なくなるという特長がある。また、
単一の大きな面積をもつダイアフラム構造と比較して、
本実施例に示すように小さな複数個のダイアフラムに分
割するときには、基本モード以外の高調波の信号を減少
させることができるという利点があり、これも同様に信
号の雑音の減少に役立つ。さらに、前記第3図(h)の
説明で述べたシリコンの異方性エツチングの技術を用い
ると、正確に形状の等しいダイアフラム22を同時に形
成することができるため、品質および製造に要する時間
の点からも少しも問題がないという特長がある。ここに
示した実施例の他にも、中央のダイアフラム22の面積
を大きくとり、周辺に行くに従ってダイアフラム22の
面積を小さくした実施例もある(図示せず)。FIGS. 6 and 7 are plan views showing other embodiments of the present invention. In the figure, the same numbers as in FIG. 1 indicate the same components. In these examples, the dashed rectangles represent diaphragms 22. Also,
The electrode 3 formed on the upper surface of the diaphragm 22 is connected to the peripheral circuit 8 through the aluminum wiring 60 and the contact hole 61.
connected with some of the In addition, in these figures,
The aluminum wiring connecting the peripheral circuits 8 is omitted in the drawing. When a plurality of diaphragms 22 are lined up as shown in the embodiments of FIGS. 6 and 7, it is possible to strongly radiate ultrasonic waves at a small angle on the front surface, or to strongly receive ultrasonic waves only at a small angle on the front surface. It has the advantage of being less distracting from surrounding noise. Also,
Compared to a single large area diaphragm structure,
When dividing into a plurality of small diaphragms as shown in this embodiment, there is an advantage that harmonic signals other than the fundamental mode can be reduced, which also helps to reduce signal noise. Furthermore, by using the anisotropic silicon etching technique described in the explanation of FIG. It has the advantage that there are no problems at all. In addition to the embodiment shown here, there is also an embodiment (not shown) in which the area of the diaphragm 22 at the center is increased and the area of the diaphragm 22 is decreased toward the periphery.
この場合には、上記した指向性がさらに改善され、雑音
の少ない高品質のデバイスを提供することができるとい
う利点がある。In this case, there is an advantage that the above-mentioned directivity is further improved and a high-quality device with less noise can be provided.
第8図も本発明の他の実施例である。図において、第6
図と同一番号は同一構成要素を示している。本発明の実
施例においては、ダイアフラム22の上面に形成された
電極3が各ダイアフラム22ごとに分離して配置されて
おり、それぞれアルミ配線60およびコンタクト穴61
を介して周辺回路8に接続されていることに特徴がある
。従って、本実施例の構成をとる超音波トランスジー−
サにおいては、各ダイアフラム22ごとに異なった強度
および位相をもつ電圧を印加することが可能となる。特
に、各ダイアフラム22に異なった位相をもつ電圧を印
加することにより、超音波の送波および受波の方向を変
化させることができ、従って、電気的に走査を行なう高
性能な超音波トランスジー−サを提供できるという特長
がある。第8図に示す実施例においては、ダイアフラム
22の上面の電極3を各ダイアフラム22について分離
したが、この他に、ダイアフラム22上向の電極3を共
通にして、ダイアフラム22の下面の第二の電極(図示
せず)を各ダイアフラム22ごとに分離しても上と同様
の効果をもつデバイスを実現することができる。また第
一の電極と第二の電極をともにダイアフラム22ごとに
分離してもか才わない。第8図においては1行5列の超
音波トランスジー−サアレイを示したが、ダイアフラム
22の個数について何ら制限される必要はない。例えば
、前記第71ズの実施例において、ダイアフラム22上
向の電極3を各ダイアフラム22ごとに分離して配置し
、それぞ゛れの電極を周辺回路8に接続すると二次元の
方向に電気的に走査するこ吉のできる二次元超音波トラ
ンスジー−サを実現するこ吉ができる。また、本実施例
で述べた超音波トランスジューサアレイにおいては、各
ダイアフラムの上面電極は通常のICプロセス技術を用
いて同時にかつ容易に形成することができるという点も
従来技術に比べて大きな長所である。FIG. 8 also shows another embodiment of the present invention. In the figure, the sixth
The same numbers as in the figures indicate the same components. In the embodiment of the present invention, the electrodes 3 formed on the upper surface of the diaphragm 22 are arranged separately for each diaphragm 22, and the aluminum wiring 60 and the contact hole 61 are arranged separately for each diaphragm 22.
It is characterized in that it is connected to the peripheral circuit 8 via. Therefore, the ultrasonic transgy having the configuration of this embodiment
In this case, it is possible to apply voltages having different intensities and phases to each diaphragm 22. In particular, by applying voltages with different phases to each diaphragm 22, the directions of ultrasonic wave transmission and reception can be changed. - It has the advantage of being able to provide services. In the embodiment shown in FIG. 8, the electrode 3 on the upper surface of the diaphragm 22 is separated for each diaphragm 22, but in addition, the electrode 3 on the upper surface of the diaphragm 22 is made common, and the second electrode 3 on the lower surface of the diaphragm 22 is separated. Even if the electrodes (not shown) are separated for each diaphragm 22, a device having the same effect as above can be realized. Furthermore, both the first electrode and the second electrode may be separated for each diaphragm 22. Although FIG. 8 shows an ultrasonic transducer array with one row and five columns, there is no need to limit the number of diaphragms 22 in any way. For example, in the 71st embodiment, if the electrodes 3 above the diaphragm 22 are arranged separately for each diaphragm 22 and each electrode is connected to the peripheral circuit 8, electric power is generated in two-dimensional directions. Kokichi is able to realize a two-dimensional ultrasonic transducer that scans the area. Furthermore, in the ultrasonic transducer array described in this embodiment, the top electrode of each diaphragm can be formed simultaneously and easily using normal IC process technology, which is a major advantage over conventional technology. .
以上、本発明にこついて例を挙げ詳細な説明を行なった
。なお、本発明の構成は、信号として使用する超音波が
連続的に変化するか、あるいは−及至数個の波長のみで
パルス的に変化するか等に関係なく成り立つものである
。また、超音波の波長が単一かあるいは複数個等にも関
係なく成り立つものである。また、本発明の実施例にお
いては、ダイアフラムの下の溝中に空気が閉じこめられ
ていたが、この構成の外に、溝の底に穴を開けて空気の
流動を可能とした構成もある。さらには、溝穴の外側に
スポンジ等の音を吸収する物質を置く等の方法によりデ
バイスの裏側の影響を少なくした構成、およびダイアフ
ラムの前面にホーンを配量1ッて感度を高くした構成も
本発明に含まれる。The present invention has been described above in detail by giving examples. The configuration of the present invention is applicable regardless of whether the ultrasonic wave used as a signal changes continuously or changes in a pulsed manner with only a few wavelengths. This also holds true regardless of whether the wavelength of the ultrasound is single or multiple. Further, in the embodiment of the present invention, air is trapped in the groove under the diaphragm, but in addition to this configuration, there is also a configuration in which a hole is made in the bottom of the groove to allow air to flow. Furthermore, there are also configurations that reduce the influence of the back side of the device by placing a sound-absorbing material such as a sponge on the outside of the slot, and configurations that increase sensitivity by placing a horn on the front of the diaphragm. Included in the present invention.
なお、上記実施例においてダイアフラムの面積を大きく
したり、厚さを薄くしたり、あるいは、スペーサさして
用いられるシリコン基板の厚さを薄くしたりすることに
より超音波の送波および受波の感度を旨くすることがで
きる。しかし、この場合には、同時にデバイスの周波数
特性等の変化が生ずるので、超音波センサを設計する際
には、以上の効果を考慮して、感度および周波数特性等
を最適にするようにダイアフラムとスペーサの寸法を決
めなければならない。In the above embodiments, the sensitivity of ultrasonic wave transmission and reception can be increased by increasing the area of the diaphragm, decreasing its thickness, or decreasing the thickness of the silicon substrate used as a spacer. It can be made delicious. However, in this case, the frequency characteristics of the device, etc. will change at the same time, so when designing an ultrasonic sensor, take the above effects into account and adjust the diaphragm to optimize the sensitivity, frequency characteristics, etc. The dimensions of the spacer must be determined.
(発明の効果)
以上説明したとおり、本発明によれば、高性能かつ小型
軽量の超音波トランスジー−サを供給することが可能と
なった。その結果、産業用ロボット等の分野で近接覚等
の検B着こ高性能な超音波トランスジューサを利用する
ことができるようζこなった。また、本発明の超音波ト
ランスジューサは従来のシリコンICプロセス技術と合
致した製法で大量に製造することができるため、製造コ
ストを低減することができる。これらの効果は著しいも
のであり、本発明は有効なものである。(Effects of the Invention) As explained above, according to the present invention, it has become possible to provide a high performance, small and lightweight ultrasonic transducer. As a result, it has become possible to utilize high-performance ultrasonic transducers for detection of proximity sense and the like in fields such as industrial robots. Further, since the ultrasonic transducer of the present invention can be manufactured in large quantities using a manufacturing method that is compatible with conventional silicon IC process technology, manufacturing costs can be reduced. These effects are remarkable and the present invention is effective.
第1図は本発明の一実施例の断面図、第2図は本発明の
動作原理を示す概念図、第3図は本発明の実施例を製造
する方法の一実施例を示す概念図、第4図は従来の超音
波トランスジューサの断面図。
第5図は従来の静電型トランスジー−サの原理図、第6
図および第7図は本発明の他の実施例を示す平面図、第
8図は本発明による超音波トランスジューサアレイの一
実施例を示す平面図である。
1.31 酸化膜 2,33 高分子膜3.4,3
.5.49・・・電極 5・絶縁ケース6・ボンディン
グ線 7 、38 、’60・・・アルミ配線8.3
2・周辺回路 9,30・・・シリコン基板10.1
1・・・リード 12,37,101・・・溝13
・・・金・シリコン共晶合金
22−ダイアフラム 34. 、61−コンタクト穴
36 ・溝パターン 41・・・金属ケース42・
プラスチックケース
43・・保護スクリーン 44..45−電極端子46
・・・板バネ 47・・アルミ合金の板48・
ポリエステルの膜51・機械的要素51a・・振動板
51b・固定板52・・・電気的要素 53
・バイアス電圧54・・・抵抗 55・・
発信および受信回路。
\C二
筆、イ 圀
第3図
(h)
勾剣 / 譚
[]]ゴーーーーーー〜
オフ 0 四
カフ国
e+v 67
筋θ図FIG. 1 is a cross-sectional view of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a conceptual diagram showing the operating principle of the present invention, and FIG. 3 is a conceptual diagram showing an embodiment of a method for manufacturing the embodiment of the present invention. FIG. 4 is a cross-sectional view of a conventional ultrasonic transducer. Figure 5 is a principle diagram of a conventional electrostatic transformer, Figure 6
7 and 7 are plan views showing other embodiments of the present invention, and FIG. 8 is a plan view showing one embodiment of the ultrasonic transducer array according to the present invention. 1.31 Oxide film 2,33 Polymer film 3.4,3
.. 5.49... Electrode 5, Insulating case 6, Bonding wire 7, 38, '60... Aluminum wiring 8.3
2. Peripheral circuit 9, 30... Silicon substrate 10.1
1... Lead 12, 37, 101... Groove 13
...Gold-silicon eutectic alloy 22-diaphragm 34. , 61-Contact hole 36・Groove pattern 41...Metal case 42・
Plastic case 43...protective screen 44. .. 45-electrode terminal 46
...Plate spring 47...Aluminum alloy plate 48.
Polyester membrane 51, mechanical element 51a, diaphragm
51b・Fixing plate 52...Electrical element 53
・Bias voltage 54...Resistance 55...
Transmitting and receiving circuits. \C Two strokes, I Kuni No. 3 (h) Magaken / Tan []] Gooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooooo 67
Claims (2)
と、当該ダイアフラムとスペーサを介して対向する第二
の電極により構成される静電型超音波トランスジューサ
において、前記ダイアフラムが無機絶縁膜および高分子
膜の複合層により、また、前記スペーサがシリコンによ
り構成されることを特徴とする超音波トランスジューサ
。(1) In an electrostatic ultrasonic transducer configured with a diaphragm having a first electrode on one side of its surface and a second electrode facing the diaphragm with a spacer interposed therebetween, the diaphragm has an inorganic insulating film and An ultrasonic transducer characterized in that the spacer is constituted by a composite layer of a polymer membrane, and the spacer is constituted by silicon.
と、当該ダイアフラムとスペーサを介して対向する第二
の電極により構成される静電型超音波トランスジューサ
において、前記ダイアフラムが無機絶縁膜および高分子
膜の複合層により、また、前記スペースがシリコンによ
り構成される超音波トランスジューサを一つの素子とし
、当該素子を同一シリコン基板上に複数個ならべ、前記
第一あるいは第二の電極の少なくとも一方を当該各素子
ごとに分離し、当該各素子の前記ダイアフラムに当該素
子ごとに異なる電圧が印加されるようにした超音波トラ
ンスジューサ。(2) In an electrostatic ultrasonic transducer comprising a diaphragm having a first electrode on one side of its surface and a second electrode facing the diaphragm with a spacer interposed therebetween, the diaphragm has an inorganic insulating film and An ultrasonic transducer made of a composite layer of a polymer film and the space made of silicon is used as one element, and a plurality of said elements are arranged on the same silicon substrate, and at least one of the first or second electrode An ultrasonic transducer in which the diaphragm is separated into each element, and different voltages are applied to the diaphragm of each element.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6133485A JPH067719B2 (en) | 1985-03-26 | 1985-03-26 | Ultrasonic transducer |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP6133485A JPH067719B2 (en) | 1985-03-26 | 1985-03-26 | Ultrasonic transducer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61220598A true JPS61220598A (en) | 1986-09-30 |
| JPH067719B2 JPH067719B2 (en) | 1994-01-26 |
Family
ID=13168131
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6133485A Expired - Lifetime JPH067719B2 (en) | 1985-03-26 | 1985-03-26 | Ultrasonic transducer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH067719B2 (en) |
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| US7540194B2 (en) | 2005-03-01 | 2009-06-02 | Denso Corporation | Ultrasonic sensor having transmission device and reception device of ultrasonic wave |
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|---|---|---|---|---|
| JP5495918B2 (en) | 2009-07-24 | 2014-05-21 | キヤノン株式会社 | Electromechanical transducer and method for producing electromechanical transducer |
-
1985
- 1985-03-26 JP JP6133485A patent/JPH067719B2/en not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Publication date |
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| JPH067719B2 (en) | 1994-01-26 |
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Legal Events
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| EXPY | Cancellation because of completion of term |