[go: up one dir, main page]

JPS6016996Y2 - Address selection device for input/output interface device - Google Patents

Address selection device for input/output interface device

Info

Publication number
JPS6016996Y2
JPS6016996Y2 JP17075679U JP17075679U JPS6016996Y2 JP S6016996 Y2 JPS6016996 Y2 JP S6016996Y2 JP 17075679 U JP17075679 U JP 17075679U JP 17075679 U JP17075679 U JP 17075679U JP S6016996 Y2 JPS6016996 Y2 JP S6016996Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
address
interface device
circuit
input
program
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP17075679U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS5688333U (en
Inventor
宏行 本多
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP17075679U priority Critical patent/JPS6016996Y2/en
Publication of JPS5688333U publication Critical patent/JPS5688333U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPS6016996Y2 publication Critical patent/JPS6016996Y2/en
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Debugging And Monitoring (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 この考案はデータバスを通じてデータ処理装置に接続さ
れたインタフェイス装置において、インタフェイス装置
をアドレスにより選択するアドレス選択装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an address selection device for selecting an interface device by address in an interface device connected to a data processing device through a data bus.

従来のアドレス選択装置においてはインタフェイス装置
に対し一つの固有のアドレスが設定され、その設定され
たアドレスがバスに与えられた時、そのインタフェイス
装置が動作するように構成されていた。
In conventional address selection devices, one unique address is set for an interface device, and the interface device is configured to operate when the set address is applied to the bus.

そのためデータ処理装置のプログラムが正常なものであ
るかどうかと検査して不良個所を発見する、いわゆるプ
ログラムのデパックにおいて、そのデータ処理装置に本
来接続されるべき全ての入出力装置に対応したインタフ
ェイス装置を用意する必要があった。
Therefore, in so-called program depacking, which checks whether the program of a data processing device is normal and discovers defective parts, an interface that corresponds to all input/output devices that should originally be connected to the data processing device is used. Equipment had to be prepared.

つまりその一つのインタフェイス装置でも欠けるとその
プログラムが異常として検出され、つまりそのプログラ
ムによりアドレスが発生された時にそれに対する応答が
インタフェイス装置からない場合そのプログラム自体が
不良として検査してしまう。
In other words, if even one of the interface devices is missing, the program will be detected as abnormal.In other words, if the interface device does not respond when an address is generated by the program, the program itself will be inspected as defective.

従って一般にそのようなデータ処理装置のプログラムの
デパックを行なう際に、そのデータ処理装置に接続され
るべき全ての種類のインタフェイス装置を用意するか、
或いはそのプログラムに対応するインタフェイス装置を
全て用意できない場合はプログラム内アドレスのみを、
用意されたインタフェイス装置のアドレスに替えて動作
させていた。
Therefore, when depacking a program for such a data processing device, it is generally necessary to prepare all types of interface devices to be connected to the data processing device, or
Or, if you cannot prepare all the interface devices that correspond to the program, only the address in the program,
It operated by replacing the address of the prepared interface device.

この種のインタフェイス装置が使用される情報処理シス
テムは第1図に示すように主メモリに対スルインタフェ
イス装置11、デジタル入出力装置に対するインタフェ
イス装置12、又アナログ入出力装置に対するインクフ
ェイス装置13等がそれぞれの各入出力装置に対して一
つずつ設けられており、これ等はバス14を通じてデー
タ処理装置15に接続されている。
As shown in FIG. 1, an information processing system using this type of interface device has a main memory as an interface device 11 for digital input/output devices, an interface device 12 for digital input/output devices, and an inkface device for analog input/output devices. 13 etc. are provided for each input/output device, and these are connected to the data processing device 15 through a bus 14.

このような各種インタフェイス装置、例えば伝送用のも
のは第2図に示すように、バス14にアドレスストロー
ブが与えられてこれが端子16を通じてアドレスラッチ
回路17に与えられると、その時バス14上に発生して
いるアドレスは線18を通じてラッチ回路17に取込ま
れる。
As shown in FIG. 2, various interface devices such as these, for example, those for transmission, when an address strobe is applied to the bus 14 and applied to the address latch circuit 17 through the terminal 16, generate signals on the bus 14 at that time. The current address is taken into latch circuit 17 through line 18.

このデータ処理装置15よりのアドレスは、比較器19
においてアドレス設定回路21に設定されているそのイ
ンタフェイス装置に固有なアドレスと比較される。
This address from the data processing device 15 is sent to the comparator 19.
The address is compared with the address unique to the interface device set in the address setting circuit 21.

比較器19においてその両アドレスの−致が検出される
と選択信号が比較器19の出力端子22に発生する。
When the comparator 19 detects a match between the two addresses, a selection signal is generated at the output terminal 22 of the comparator 19.

例えばデータを書込む場合においてはバス14よりの書
込みストローブが端子23を通じてアンド回路24に与
えられ、端子22の選択信号との論理積がとられる。
For example, when writing data, a write strobe from the bus 14 is applied to the AND circuit 24 through the terminal 23, and the AND circuit 24 is logically ANDed with the selection signal at the terminal 22.

アンド回路24から書込み可能信号がゲート回路25に
与えられると、ゲート回路25のゲートが開いてバス1
4より線26を通じて入力データがファーストインファ
ーストアウトメモリ27に書込まれる。
When the write enable signal is given to the gate circuit 25 from the AND circuit 24, the gate of the gate circuit 25 opens and the bus 1
Input data is written to the first-in-first-out memory 27 through the four-stranded wire 26 .

その書込まれたデータはタイミング制御回路28よりの
制御によって続み出されて変換回路29において例えば
並列データが直例データに変換されて端子31より出力
される。
The written data is successively outputted under the control of the timing control circuit 28, and in the conversion circuit 29, for example, parallel data is converted into direct data, and the converted data is outputted from the terminal 31.

またアンド回路24より書込み可能信号が発生した際に
その信号はオア回路32を通じて応答信号として線33
を通じてバス14に与えられる。
Further, when a write enable signal is generated from the AND circuit 24, the signal is sent to the line 33 as a response signal via the OR circuit 32.
is provided to bus 14 through.

データを取込む場合においては比較器19において選択
信号が得られると、端子22のその出力にはアンド回路
34にも与えられており、従ってバス14に読み出しス
トローブが線35を通じてアンド回路34に与えられる
と、アンド回路34より読み出し可能信号が発生し、こ
れによりゲート回路36が開かれる。
In the case of data acquisition, when a selection signal is obtained in the comparator 19, its output at the terminal 22 is also applied to the AND circuit 34, so that a read strobe is applied to the bus 14 through the line 35 to the AND circuit 34. When this happens, the AND circuit 34 generates a read enable signal, which opens the gate circuit 36.

端子37よりの直列データは変換回路29において並列
データに変換され、ファーストインファーストアウトメ
モリ38に書込まれており、これが読み出されてゲート
36を通じ、更に線39を通じてバス14に与えられて
データ処理装置15に送られる。
The serial data from the terminal 37 is converted into parallel data in the conversion circuit 29 and written into the first-in-first-out memory 38, which is read out and applied to the bus 14 through the gate 36 and through the line 39 as data. It is sent to the processing device 15.

アンド回路34の出力である読み出し可能信号はオア回
路32に供給されて応答信号としてバス14に送られる
The read enable signal output from the AND circuit 34 is supplied to the OR circuit 32 and sent to the bus 14 as a response signal.

このように従来のインタフェイス装置においてはそのイ
ンタフェイス装置に固有の1個のアドレスが設定回路2
1に与えられており、このインタフェイス装置に固有な
アドレスがバスに与えられた場合にのみそのインタフェ
イス装置に対してデータの入力或いは出力が可能となる
In this way, in the conventional interface device, one address unique to the interface device is stored in the setting circuit 2.
1, and only when an address unique to this interface device is given to the bus, data can be input to or output from that interface device.

先に述べたようにデータ処理装置15のプログラムに誤
りがあるか否かの検査をする際にはそのプログラムに含
まれているインタフェイス装置の全てのバス14に接続
して検査するか、或いはそのようなインタフェイス装置
を全て用意することができなければ、用意できないイン
タフェイス装置についてはプログラムのアドレスを書替
える必要があった。
As mentioned above, when checking whether there is an error in the program of the data processing device 15, it is necessary to connect and check all the buses 14 of the interface devices included in the program, or If all such interface devices could not be prepared, it would be necessary to rewrite the addresses of the programs for the interface devices that could not be prepared.

つまりインタフェイス装置としては同一機能のものがバ
ス14にいくつも実際には接続されるが、例えばプログ
ラムを工場内において検査する場合はインタフェイス装
置は1個〜数個しか用意しておかないのが通常である。
In other words, a number of interface devices with the same function are actually connected to the bus 14, but for example, when testing a program in a factory, only one to a few interface devices are prepared. is normal.

そのためにプログラムを変更したりしてそのプログラム
をデパックすることになり、プログラムの完成に時間が
長くなり、又聞違いにより正しくプログラムを検査する
ことができなかった。
For this reason, the program had to be changed and then depacked, which took a long time to complete, and the program could not be inspected correctly due to misreading.

更に既に開発されている、つまり既存のプログラムを用
いて検査する場合、そのプログラムのアドレスに合わせ
て各インタフェイス装置のアドレスを変更する必要があ
った。
Furthermore, when testing is performed using a program that has already been developed, that is, an existing program, it is necessary to change the address of each interface device to match the address of the program.

この考案の目的は複数のアドレスに対して応答でき、従
って一つのインタフェイス装置で複数のインクフェイス
装置としての機能を果し、プログラムの検査の際に実際
に必要とするインタフェイス装置よりも少ない数の装置
を用意しても検査することが可能なアドレス選択装置を
提供することにある。
The purpose of this invention is to be able to respond to multiple addresses, thus allowing one interface device to function as multiple inkface devices, with fewer interface devices than are actually needed when testing a program. To provide an address selection device that can perform inspection even if several devices are prepared.

この考案によれば二つのアドレスが設定できるようにさ
れ、その二つのアドレスの何れかについてもデータ処理
装置からの呼び出しに対して選択信号を発生することが
できる。
According to this invention, two addresses can be set, and a selection signal can be generated for either of the two addresses in response to a call from the data processing device.

更に場合によってはその二つのアドレスの間に存在する
アドレスについても選択信号を発生できるように構成さ
れる。
Further, depending on the case, it is configured to be able to generate a selection signal for an address that exists between the two addresses.

このように構成されているためプログラムをテストする
際に、例えば一つのインタフェイス装置により複数のイ
ンタフェイス装置として動作可能となり、データ処理装
置から見てはその複数のインタフェイス装置があたかも
接続したかのように動作させることができる。
Because of this configuration, when testing a program, for example, one interface device can operate as multiple interface devices, and from the data processing device's perspective, it is difficult to see whether the multiple interface devices are connected. It can be operated as follows.

従って少ない数のインタフェイス装置でプログラムを検
査することができわざわざプログラムのアドレスを書替
えたりする必要がなく、正しい検査を短時間で行なうこ
とができる。
Therefore, a program can be tested with a small number of interface devices, there is no need to take the trouble of rewriting program addresses, and correct testing can be performed in a short time.

例えば第3図において第2図と対応する部分に同一符号
を付けて示しているが、この考案においてはアドレス設
定回路として41及び42の二つが設けられる。
For example, in FIG. 3, parts corresponding to those in FIG. 2 are shown with the same reference numerals, and in this invention two address setting circuits 41 and 42 are provided.

この実施例ではそのアドレス設定回路41には、成る範
囲のアドレスの最大値を設定し、アドレス設定回路42
はそのアドレス範囲の最小値を設定する。
In this embodiment, the address setting circuit 41 is set to the maximum value of the addresses within the range, and the address setting circuit 42
sets the minimum value for that address range.

これ等アドレス設定回路41.42に設定されたアドレ
スとアドレスラッチ回路17に設定されたアドレスとが
比較器43゜44によりそれぞれ比較される。
The addresses set in these address setting circuits 41 and 42 and the address set in the address latch circuit 17 are compared by comparators 43 and 44, respectively.

比較器43においてはアドレスラッチ回路17に取り込
まれたアドレスがアドレス設定回路41に設定されたア
ドレスと等しいかこれより小さい場合には出力を発生し
、例えば高レベルとなる。
In the comparator 43, when the address taken into the address latch circuit 17 is equal to or smaller than the address set in the address setting circuit 41, an output is generated, for example, at a high level.

比較器44においてはアドレスラッチ回路17のアドレ
スがアドレス設定回路42のアドレスと等しいか或いは
これより大きい場合にその出力を発生して高レベルとな
る。
In the comparator 44, when the address of the address latch circuit 17 is equal to or larger than the address of the address setting circuit 42, an output thereof is generated and becomes high level.

これ等比較器43.44の出力はアンド回路45に供給
される。
The outputs of these comparators 43 and 44 are supplied to an AND circuit 45.

このアンド回路45の出力が選択信号となってアンド回
路24及び34に供給される。
The output of the AND circuit 45 becomes a selection signal and is supplied to the AND circuits 24 and 34.

その他は第2図に示した場合と同様である。The rest is the same as the case shown in FIG.

従ってバス14に与えられたアドレスがアドレス設定回
路41.42に与えられた2つのアドレスの範囲内にあ
る時はこのインタフェイス装置が選択されたことになり
、選択信号がアンド回路34に与えられて前述の第2図
について説明したと同様にデータを書込む場合はバス1
4のデータがゲート回路25を通じてメモリ27に書込
まれ、逆にデータを読み出す場合はメモリ38のデータ
がゲート回路36を通じてバス14に供給される。
Therefore, when the address applied to the bus 14 is within the range of the two addresses applied to the address setting circuits 41 and 42, this interface device is selected, and a selection signal is applied to the AND circuit 34. When writing data in the same manner as explained in connection with FIG.
4 is written into the memory 27 through the gate circuit 25, and conversely, when reading data, data from the memory 38 is supplied to the bus 14 through the gate circuit 36.

従って実際のシステムとして用いる場合に同一種類のイ
ンタフェイス装置が複数用いられる場合にその同一種類
のインタフェイス装置に連続するアドレスを与えておけ
ば、その連続するアドレスの両端のアドレスをアドレス
設定回路41.42に設定することにより、例えばデジ
タル入出力装置に対するインタフェイス装置を一つのイ
ンタフェイス装置で代表させ、同様にしてアナログ入出
力装置に対するインタフェイス装置をも他の一つのイン
タフェイス装置で代表させる等してその実際に用にられ
るインタフェイス装置を全て設ける必要がなくプログラ
ムの検査を行なうことができる。
Therefore, when a plurality of interface devices of the same type are used in an actual system, if consecutive addresses are given to the interface devices of the same type, the addresses at both ends of the consecutive addresses can be assigned to the address setting circuit 41. By setting it to .42, for example, the interface device for the digital input/output device is represented by one interface device, and similarly the interface device for the analog input/output device is represented by another interface device. Thus, it is possible to check a program without having to provide all the interface devices that are actually used.

このため正しいプログラムの検査を短時間で行なうこと
ができる。
Therefore, the correct program can be checked in a short time.

設定回路41.42に同一のアドレスを設定すれば通常
のインタフェイス装置としてそのインタフェイス装置に
固有な1つのアドレスが与えられた時のみ動作すること
ができる。
If the same address is set in the setting circuits 41 and 42, the interface device can operate as a normal interface device only when a single address unique to that interface device is given.

つまり特に検査用にのみ使用するのではなく実際の装置
としても使用することもできる。
In other words, it can be used not only for inspection purposes, but also as an actual device.

更に設定回路41.42の設定値を全アドレスの両端を
アドレスとすればその全アドレスに対して読み出し書込
みのテストプログラムと組み合わせることによってバス
等の故障も検査することができる。
Furthermore, if the set values of the setting circuits 41 and 42 are set at both ends of all addresses, failures in buses, etc. can be tested by combining them with a read/write test program for all addresses.

この場合データ処理装置よりインタフェイス装置に入力
したデータを再びデータ処理装置に読み出して、その入
出力を比較するため端子31及び37を接続してやれば
読み出し、書込み全体のアドレスについて検査すること
ができる。
In this case, if the data input from the data processing device to the interface device is read out again to the data processing device and the terminals 31 and 37 are connected to compare the input and output, it is possible to check the addresses of the entire read and write operations.

尚データとしてはデジタルのデータの入出力を制御する
場合のみならずアナログのデータの入出力も制御するこ
とができるようにすることができ例えば流量信号を入力
し、バルブ制御信号を出力する等を行なうこともできる
As for data, it is possible to control not only digital data input/output but also analog data input/output. For example, inputting a flow rate signal and outputting a valve control signal, etc. You can also do it.

その場合、メモリ27.3B、変換回路29等はアナロ
グ信号とデジタル信号を変換する回路とされる。
In that case, the memory 27.3B, the conversion circuit 29, etc. are circuits that convert analog signals and digital signals.

更に主メモリに対するインタフェイス装置としても利用
できる。
Furthermore, it can also be used as an interface device for main memory.

1つのインタフェイス装置内において更に内部のもの、
例えばレジスタを選択するようにすることもでき、その
場合は例えばアドレス設定回路の設定値の小数点より上
位においてそのインタフェイス装置の選択を行なわせ、
小数点以下のアドレスによってそのインタフェイス装置
内の各部の選択を行なうようにすることができる。
further internal within one interface device,
For example, it is possible to select a register, and in that case, for example, select the interface device above the decimal point of the setting value of the address setting circuit,
Each part within the interface device can be selected by the address below the decimal point.

更に比較的短かい距離内においてこれ等のデータ処理装
置及び入出力装置に対する入出力装置のインタフェイス
装置を接続する場合のみならず、比較的離れた距離にあ
る各局をバス接続し、その各局に対する入出力インタフ
ェイス装置にもこの考案を適用することができる。
Furthermore, in addition to connecting these data processing devices and input/output device interface devices to input/output devices within a relatively short distance, it is also possible to connect stations located relatively far apart by bus, and to This idea can also be applied to input/output interface devices.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はデータ処理システムを示すブロック図、第2図
は従来のインタフェイス装置を示すブロック図、第3図
はこの考案によるインタフェイス装置の一例を示すブロ
ック図である。 11.12,13:インタフェイス装置、14:バス、
15:データ処理装置、17:アドレスラッチ回路、2
7:ファーストインファーストアウトメモリ、41.4
2ニアドレス設定回路、43.44:比較器。
FIG. 1 is a block diagram showing a data processing system, FIG. 2 is a block diagram showing a conventional interface device, and FIG. 3 is a block diagram showing an example of an interface device according to this invention. 11.12,13: Interface device, 14: Bus,
15: data processing device, 17: address latch circuit, 2
7: First in first out memory, 41.4
2 Near address setting circuit, 43.44: Comparator.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] データ処理装置にバスを通じて接続され、前記データ処
理装置よりのアドレスがアドレス設定回路に設定された
アドレスと一致すると選択信号を発生するインタフェイ
ス装置において、アドレスを変更設定できる2個のアド
レス設定回路と、前記2個の設定したアドレスの間の何
れのアドレスに対しても選択信号を発生する手段を備え
た入出力インタフェイス装置のアドレス選択装置。
An interface device that is connected to a data processing device through a bus and generates a selection signal when an address from the data processing device matches an address set in the address setting circuit, includes two address setting circuits that can change and set the address. . An address selection device for an input/output interface device, comprising means for generating a selection signal for any address between the two set addresses.
JP17075679U 1979-12-10 1979-12-10 Address selection device for input/output interface device Expired JPS6016996Y2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17075679U JPS6016996Y2 (en) 1979-12-10 1979-12-10 Address selection device for input/output interface device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17075679U JPS6016996Y2 (en) 1979-12-10 1979-12-10 Address selection device for input/output interface device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5688333U JPS5688333U (en) 1981-07-15
JPS6016996Y2 true JPS6016996Y2 (en) 1985-05-25

Family

ID=29681588

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17075679U Expired JPS6016996Y2 (en) 1979-12-10 1979-12-10 Address selection device for input/output interface device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6016996Y2 (en)

Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5345170A (en) 1992-06-11 1994-09-06 Cascade Microtech, Inc. Wafer probe station having integrated guarding, Kelvin connection and shielding systems
US6380751B2 (en) 1992-06-11 2002-04-30 Cascade Microtech, Inc. Wafer probe station having environment control enclosure
US5561377A (en) 1995-04-14 1996-10-01 Cascade Microtech, Inc. System for evaluating probing networks
US6232789B1 (en) 1997-05-28 2001-05-15 Cascade Microtech, Inc. Probe holder for low current measurements
US5914613A (en) 1996-08-08 1999-06-22 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing system with local contact scrub
US6002263A (en) 1997-06-06 1999-12-14 Cascade Microtech, Inc. Probe station having inner and outer shielding
US6578264B1 (en) 1999-06-04 2003-06-17 Cascade Microtech, Inc. Method for constructing a membrane probe using a depression
US6445202B1 (en) 1999-06-30 2002-09-03 Cascade Microtech, Inc. Probe station thermal chuck with shielding for capacitive current
US6838890B2 (en) 2000-02-25 2005-01-04 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing system
US6914423B2 (en) 2000-09-05 2005-07-05 Cascade Microtech, Inc. Probe station
US6965226B2 (en) 2000-09-05 2005-11-15 Cascade Microtech, Inc. Chuck for holding a device under test
DE20114544U1 (en) 2000-12-04 2002-02-21 Cascade Microtech, Inc., Beaverton, Oreg. wafer probe
US6970634B2 (en) 2001-05-04 2005-11-29 Cascade Microtech, Inc. Fiber optic wafer probe
US7355420B2 (en) 2001-08-21 2008-04-08 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing system
WO2003100445A2 (en) 2002-05-23 2003-12-04 Cascade Microtech, Inc. Probe for testing a device under test
US6847219B1 (en) 2002-11-08 2005-01-25 Cascade Microtech, Inc. Probe station with low noise characteristics
US6724205B1 (en) 2002-11-13 2004-04-20 Cascade Microtech, Inc. Probe for combined signals
US6861856B2 (en) 2002-12-13 2005-03-01 Cascade Microtech, Inc. Guarded tub enclosure
US7221172B2 (en) 2003-05-06 2007-05-22 Cascade Microtech, Inc. Switched suspended conductor and connection
US7492172B2 (en) 2003-05-23 2009-02-17 Cascade Microtech, Inc. Chuck for holding a device under test
US7057404B2 (en) 2003-05-23 2006-06-06 Sharp Laboratories Of America, Inc. Shielded probe for testing a device under test
DE112004002554T5 (en) 2003-12-24 2006-11-23 Cascade Microtech, Inc., Beaverton Active wafer sample
EP1754072A2 (en) 2004-06-07 2007-02-21 CASCADE MICROTECH, INC. (an Oregon corporation) Thermal optical chuck
US7330041B2 (en) 2004-06-14 2008-02-12 Cascade Microtech, Inc. Localizing a temperature of a device for testing
EP1766426B1 (en) 2004-07-07 2013-09-11 Cascade Microtech, Inc. Probe head having a membrane suspended probe
EP1789812A2 (en) 2004-09-13 2007-05-30 Cascade Microtech, Inc. Double sided probing structures
US7535247B2 (en) 2005-01-31 2009-05-19 Cascade Microtech, Inc. Interface for testing semiconductors
US7449899B2 (en) 2005-06-08 2008-11-11 Cascade Microtech, Inc. Probe for high frequency signals
JP5080459B2 (en) 2005-06-13 2012-11-21 カスケード マイクロテック インコーポレイテッド Wideband active / passive differential signal probe
WO2007146285A2 (en) 2006-06-09 2007-12-21 Cascade Microtech, Inc. Differential signal probe with integral balun
US7443186B2 (en) 2006-06-12 2008-10-28 Cascade Microtech, Inc. On-wafer test structures for differential signals
US7403028B2 (en) 2006-06-12 2008-07-22 Cascade Microtech, Inc. Test structure and probe for differential signals
US8410806B2 (en) 2008-11-21 2013-04-02 Cascade Microtech, Inc. Replaceable coupon for a probing apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5688333U (en) 1981-07-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6016996Y2 (en) Address selection device for input/output interface device
JPH04315898A (en) Semiconductor integrated circuit
US4926425A (en) System for testing digital circuits
US20020157047A1 (en) Logical verification apparatus and method for memory control circuit
JPH05165734A (en) Fixed failure diagnostic device for main memory
JPH087442Y2 (en) Input / output device of programmable controller
JP2583326Y2 (en) Data bus diagnostic equipment
JPS6027054B2 (en) Input/output control method
JPH01209502A (en) Programmable controller expansion bus check device
JPS58195971A (en) Comparison circuit error detection method
JPS6331058B2 (en)
JPH01187660A (en) Interface diagnosing system for peripheral equipment
JPH01177146A (en) Memory checking circuit
JPS5938618B2 (en) Contact input circuit abnormality inspection device
JPS63174141A (en) Diagnosing system for test of information processor
JPH0546487A (en) Detector for erroneous mounting of file panel
JPS6073379A (en) Support data processing system for tracing cause
JPH05233846A (en) Microprocessor
JPS63753A (en) Test method for memory error correction/detection circuits
JPS5917465B2 (en) Check device
JPS58118096A (en) Memory check circuit
JPH08263394A (en) Bus test system
JPH05241968A (en) Register device
JPS62134900A (en) Test circuit
JPH02296165A (en) IC device test equipment