JPS594020A - Treating device for semiconductor device - Google Patents
Treating device for semiconductor deviceInfo
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- JPS594020A JPS594020A JP57113113A JP11311382A JPS594020A JP S594020 A JPS594020 A JP S594020A JP 57113113 A JP57113113 A JP 57113113A JP 11311382 A JP11311382 A JP 11311382A JP S594020 A JPS594020 A JP S594020A
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/16—Coating processes; Apparatus therefor
- G03F7/162—Coating on a rotating support, e.g. using a whirler or a spinner
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
- Coating Apparatus (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(1)発明の技術分野
本発明は半導体装置の処理装置、詳しくはガス噴射ノズ
ルと薬液ディスペンサー(薬液滴下手段)を一体に形成
したハンドリングアーム(lll送手段)に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (1) Technical Field of the Invention The present invention relates to a processing apparatus for semiconductor devices, and more particularly to a handling arm (III transport means) in which a gas injection nozzle and a chemical liquid dispenser (chemical liquid dropping means) are integrally formed.
(2)技術の背景
半導体装置の製造において、例えばウェハ上(1)
にホトレジスト剤をスピンコード(回転塗布)法で塗布
することが行われる。第1図にそのための装置が概略断
面図で示され、同図において、1はその内で処理がなさ
れるスピンカップ、2はその上にウェハ3を載置するス
テージ、4はウェハ3上のゴミ等を飛散させる窒素ガス
(N2ガス)を噴射するNガスパージ用のノズル、5は
ディスペンサー(薬液滴下手段)、6はスピンカップ内
のN2ガスの混じった空気を矢印の方向に排出する排気
管をそれぞれ示す。窒素ガスと薬液とは図示されない供
給源から適宜供給され、スピンカップ1は清浄な空気が
常時流されているクリーンルーム内に配置される。(2) Background of the Technology In manufacturing semiconductor devices, for example, a photoresist agent is applied onto a wafer (1) using a spin cord (rotary coating) method. FIG. 1 shows a schematic cross-sectional view of an apparatus for this purpose. In the figure, 1 is a spin cup in which processing is performed, 2 is a stage on which a wafer 3 is placed, and 4 is a spin cup on which a wafer 3 is placed. An N gas purge nozzle that injects nitrogen gas (N2 gas) to scatter dust, etc., 5 is a dispenser (chemical solution dropping means), and 6 is an exhaust pipe that discharges the air mixed with N2 gas in the spin cup in the direction of the arrow. are shown respectively. Nitrogen gas and chemical solutions are appropriately supplied from a supply source (not shown), and the spin cup 1 is placed in a clean room where clean air is constantly flowing.
ウェハ処理においては、■ノズル4を用いるNガスバー
ジによりウェハ3の表面を清浄にし、■薬液をディスペ
ンサー5で滴下し、■ステージ2を高速回転してスピン
コードを行う。In the wafer processing, (1) the surface of the wafer 3 is cleaned by an N gas barge using a nozzle 4, (2) a chemical solution is dropped by a dispenser 5, and (2) the stage 2 is rotated at high speed to perform a spin code.
ウェハ3をスピンカップI内にもってくるには、第2図
に概略断面図で示されるハンドリングアームを用いる。To bring the wafer 3 into the spin cup I, a handling arm is used, which is shown schematically in cross section in FIG.
なお同図以下において、既に示(2)
した部分と同し部分は同一符号を付して表示し、7はハ
ンドリングアームを示す。In the figures below, the same parts as those already shown in (2) are designated by the same reference numerals, and 7 indicates a handling arm.
ハンドリングアーム7には図示しない他の位置でウェハ
3が実線で示す如くに載置され、次いでハンドリングア
ーム7はスピンカット1の上に搬送されてきて図示の如
く配置される。なお、ウェハのハンドリングアームへの
載置搬送もクリーンルーム内でなされる。次に、ステー
ジ2が図に矢印で示す如く上昇し、ウェハ3を点線で示
す位置に持ち上げ、ウェハ3とハンドリングアーム7と
を分離する。次いでハンドリングアームはスピンカット
1上の位置からもとの位置に戻り、そこで次のウェハが
載置される。ハンドリングアーム7が図示の位置を離れ
た後、ステージ2は第2図に実線で示す位置に降下し、
続いて第1図を参照して上記に説明した」二程が実施さ
れる。A wafer 3 is placed on the handling arm 7 at another position (not shown) as shown by a solid line, and then the handling arm 7 is conveyed onto the spin cut 1 and placed as shown in the drawing. Note that the wafer is also placed and transferred to the handling arm within the clean room. Next, the stage 2 rises as shown by the arrow in the figure, lifts the wafer 3 to the position shown by the dotted line, and separates the wafer 3 from the handling arm 7. The handling arm then returns from its position above the spin cut 1 to its original position, where the next wafer is placed. After the handling arm 7 has left the position shown, the stage 2 is lowered to the position shown in solid line in FIG.
Subsequently, the second step described above with reference to FIG. 1 is carried out.
(3)従来技術と問題点
上記した如く、次に処理されるべきウェハは、ハンドリ
ングアーム7内に置かれてスピンカップ1に運ばれるの
を待っているだけである。ウェハ(3)
処理の作業性効率向上の観点から、なんらの処理もなさ
れないでハンドリングアームを遊ばせておくことは、時
間の浪費であり、半導体装置製造の歩留り向上の障害と
なっている。(3) Prior Art and Problems As mentioned above, the wafer to be processed next is simply placed in the handling arm 7 and waiting to be transferred to the spin cup 1. Wafer (3) From the viewpoint of improving processing efficiency, leaving the handling arm idle without any processing is a waste of time and an impediment to improving the yield of semiconductor device manufacturing.
(4)発明の目的
本発明の目的は、ウェハ処理において、新しいウェハが
ハンドリングアームに載置されてから処理すれるべくス
ピンカップに運ばれるまでの待ち時間を有効に利用しう
るハンドリングアームを提供するにある。(4) Purpose of the Invention An object of the present invention is to provide a handling arm that can effectively utilize the waiting time from when a new wafer is placed on the handling arm until it is transported to a spin cup for processing in wafer processing. There is something to do.
(5)発明の構成
そしてこの目的は本発明によれば、上記待ち時間中に、
ウェハ処理の準備1捏であるN2ガスパージと薬液滴下
を行いうるハンドリングアームを提供することにより達
成される。(5) Structure and object of the invention According to the present invention, during the above waiting time,
This is achieved by providing a handling arm that can perform N2 gas purge and chemical droplet, which are two steps in preparation for wafer processing.
(6)発明の実施例 以下、本発明の実施例を図面によって詳述する。(6) Examples of the invention Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
第3図に本発明の1実施例ハンドリングアーム17が断
面で示され、同図において、14はNガス(4)
パージ用のノズル、15は薬液滴下のためのディスペン
サー、18は薬液容器を示す。FIG. 3 shows a cross section of a handling arm 17 according to an embodiment of the present invention, and in the same figure, 14 is a nozzle for purging N gas (4), 15 is a dispenser for dropping a chemical liquid, and 18 is a chemical liquid container. .
図示のハンドリングアーム17にウェハ3を載置し、そ
れをスピンカップの位置に向けて動かすまでの時間、す
なわち待ち時間中に、)hガスパージを、次いで薬液滴
下を行う。そしてスピンカップにおいては、ウェハのス
テージ上への載置とスピンコードだけがなされればよい
。従って、本発明のハンドリングアームを使用するとき
、スピンカップはステージ2だけを備えた構成で足り、
N2゜ガスパージ用のノズルおよび薬液滴下用のディス
ペンサーを用意する必要はない。During the time until the wafer 3 is placed on the illustrated handling arm 17 and moved toward the spin cup position, that is, during the waiting time, )h gas purge and then chemical liquid dropping are performed. In the spin cup, it is only necessary to place the wafer on the stage and perform the spin code. Therefore, when using the handling arm of the present invention, the spin cup only needs to have stage 2;
There is no need to prepare a nozzle for N2 gas purge and a dispenser for dropping chemical liquid.
ハンドリングアーム17に設げたディスペンサー15の
配置においては、前に説明したようにウェハ3が持ち上
げられてハンドリングアーム17と離れるとき、ウェハ
3がディスペンサー15に突き当ることのないよう設計
する。なお、薬液滴下の時間は、滴下の後にウェハがス
テージ上に移されスピンコードが始まったとき、なんら
支障なくウェハ上に拡がることが可能なように、ハンド
リング(5)
アームの移動時間およびウェハをステージ上に載置する
時間を計算して設定する。The arrangement of the dispenser 15 provided on the handling arm 17 is designed so that the wafer 3 does not hit the dispenser 15 when the wafer 3 is lifted and separated from the handling arm 17 as described above. In addition, the time for dropping the chemical solution is determined based on the movement time of the handling (5) arm and the wafer so that it can be spread over the wafer without any problems when the wafer is transferred onto the stage after the drop and the spin code starts. Calculate and set the time to place it on the stage.
なお、以上の説明はウェハにホトレジスト膜を塗布する
場合を例にとったが、本発明の適用範囲はその場合に限
られるものでなく、マスクの如き他の物品のためのハン
ドリングアームにも及ふものである。Note that although the above explanation takes as an example the case where a photoresist film is applied to a wafer, the scope of application of the present invention is not limited to that case, but also extends to handling arms for other articles such as masks. It is a foot.
(7)発明の効果
以上、詳細に説明したように、本発明のハンドリングア
ームを用いることにより、従来のウェハ処理におけるウ
ェハの待ち時間が有効に利用され、半導体装置製造の歩
留りの向上に効果大である。(7) Effects of the Invention As explained in detail above, by using the handling arm of the present invention, the waiting time for wafers in conventional wafer processing can be effectively utilized, which is highly effective in improving the yield of semiconductor device manufacturing. It is.
第1図はスピンカップの断面図、第2図は従来のハンド
リングアームの断面図、第3図は本発明にかかるハンド
リングアームの断面図である。
1−・スピンカップ、2−ステージ、
3−・ウェハ、4.14−・ノズル、5.15−ディス
ペンサー、6−排気口、
(6)
7.17− ハンドリングアーム、
1B−−薬液容器
特 許 出願人 富士通株式会社
第1図
@2図
第3図
101−FIG. 1 is a sectional view of a spin cup, FIG. 2 is a sectional view of a conventional handling arm, and FIG. 3 is a sectional view of a handling arm according to the present invention. 1--Spin cup, 2-stage, 3--wafer, 4.14--nozzle, 5.15-dispenser, 6-exhaust port, (6) 7.17-handling arm, 1B--chemical container patent Applicant Fujitsu Ltd. Figure 1 @ Figure 2 Figure 3 101-
Claims (1)
記表面上に薬液を滴下し、物品を回転させて該薬液を物
品表面上に回転塗布する工程で当該物品を搬送するハン
ドリングアームにして、前記回転塗布の前の段階で該ハ
ンドリングアームに載置された物品に対するパージガス
噴射と薬液滴下とをなす手段を設けたことを特徴とする
半導体装置の処理装置。The surface of the article is cleaned by spraying a purge gas, and then a chemical solution is dropped onto the surface, and the article is rotated to apply the chemical solution onto the surface of the article. 1. A semiconductor device processing apparatus, comprising means for injecting a purge gas and dropping a chemical liquid onto an article placed on the handling arm at a stage before the processing.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57113113A JPS594020A (en) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | Treating device for semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57113113A JPS594020A (en) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | Treating device for semiconductor device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS594020A true JPS594020A (en) | 1984-01-10 |
Family
ID=14603833
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57113113A Pending JPS594020A (en) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | Treating device for semiconductor device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS594020A (en) |
-
1982
- 1982-06-30 JP JP57113113A patent/JPS594020A/en active Pending
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