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JPH1187885A - Production of basic material for lamination - Google Patents

Production of basic material for lamination

Info

Publication number
JPH1187885A
JPH1187885A JP26089497A JP26089497A JPH1187885A JP H1187885 A JPH1187885 A JP H1187885A JP 26089497 A JP26089497 A JP 26089497A JP 26089497 A JP26089497 A JP 26089497A JP H1187885 A JPH1187885 A JP H1187885A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resist
etching
layer
liquid
coating layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP26089497A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masayoshi Takizawa
正良 滝澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to JP26089497A priority Critical patent/JPH1187885A/en
Publication of JPH1187885A publication Critical patent/JPH1187885A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To ensure the thickness of a resist mask at a corner without increasing the viscosity of a liquid resist by subjecting at least the corner of protruding/recessed structure on the surface of a coating layer to surface roughening. SOLUTION: A through hole is made at a required position of an insulating board 10 comprising a laminate board, i.e., a copper clad laminate board, and the inner surface thereof is subjected to copper plating thus forming a through hole 11. The surface of the insulating board 10 is then subjected to polishing and the surface of a metal layer 12 is subjected to oxidation or surface roughening by soft etching before being coated with a photosensitive liquid resist 14. According to the method, dripping of the liquid resist 14 is reduced and the thickness of coating is prevented from decreasing at a part 14a above the corner 12a of the metal layer 12. Consequently, etching resist can be formed with uniform thickness and defect can be suppressed in various surface treatments employing a resist mask.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は積層基材の製造方法
に係り、特に、プリント配線板の製造工程に用いるもの
として好適な技術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a laminated substrate, and more particularly to a technique suitable for use in a process for manufacturing a printed wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、プリント配線板の主要な製造工程
としては、たとえば、銅箔が被着された絶縁基板を洗浄
した後、銅箔の表面上に感光性レジスト層と樹脂フィル
ムとを積層したラミネートタイプレジストとも呼ばれる
ドライフィルムレジストを貼着する工程、このドライフ
ィルムレジストの露光、現像を行って所定のパターンの
エッチングレジストを形成する工程、このエッチングレ
ジストを介して銅箔をエッチングして所定の導体パター
ンを形成する工程などがある。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a main manufacturing process of a printed wiring board, for example, a photosensitive resist layer and a resin film are laminated on the surface of a copper foil after cleaning an insulating substrate on which the copper foil is adhered. Attaching a dry film resist, also called a laminated type resist, exposing and developing the dry film resist to form an etching resist of a predetermined pattern, etching a copper foil through the etching resist to a predetermined And a step of forming a conductive pattern of the same.

【0003】一方、プリント配線板の製造工程に限ら
ず、半導体製造工程その他の感光性レジストを用いたフ
ォトリソグラフィ法を用いる製造工程においては、感光
液よりなる液状レジストを塗布して露光、現像などを行
うことがある。
On the other hand, in a manufacturing process using a photolithography method using a photosensitive resist, not only in a manufacturing process of a printed wiring board but also in a manufacturing process using a photolithography method using a photosensitive resist, a liquid resist composed of a photosensitive liquid is applied and exposed, developed, etc. May be performed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、プリント配
線板の場合、予め基板にスルーホールを形成し、このス
ルーホールの開口縁部や内面上に銅メッキなどを施すこ
とにより、プリント配線板に電気素子の脚部を挿通する
ための電極を兼ねた挿通部を設けたり、スルーホールを
介してプリント配線板の表裏の配線パターンを導電接続
したりする場合がある。
By the way, in the case of a printed wiring board, a through hole is formed in a substrate in advance, and copper plating or the like is applied to an opening edge or an inner surface of the through hole, so that the printed wiring board is electrically driven. There is a case where an insertion portion also serving as an electrode for inserting a leg portion of an element is provided, or a wiring pattern on the front and back of a printed wiring board is conductively connected through a through hole.

【0005】この場合、図2に示すように、絶縁基板1
0の表面を被覆する銅箔及び銅メッキ層よりなる金属層
12の表裏に液状レジスト14を塗布すると、スルーホ
ール11の開口縁部に形成された角部12a上に塗布さ
れた部分14aが液ダレ現象により塗厚が薄くなってし
まい、液状レジストの露光、現像により形成されたエッ
チングレジストが部分14aにおいて極めて薄くなって
しまう。このようにエッチングレジストが角部12a上
において薄くなると、金属層12のパターンエッチング
工程においてエッチングレジストが破壊されて金属層1
2の角部12aにおいて配線切れが発生し、配線パター
ンに重大な欠陥が生ずるという問題点がある。この場
合、高粘度の液状レジストを用いて角部12a上のレジ
ストの厚さを確保する方法が特公昭61−14680号
公報に開示されているが、この方法では、微細なスルー
ホールや基板表面の凹凸部にレジストが塗布されにくく
なり、エッチング工程で欠陥が生ずる可能性もある。
In this case, as shown in FIG.
When a liquid resist 14 is applied to the front and back of the metal layer 12 made of a copper foil and a copper plating layer covering the surface of the through hole 11, the portion 14 a applied on the corner 12 a formed at the opening edge of the through hole 11 is liquid. The coating thickness becomes thin due to the sag phenomenon, and the etching resist formed by exposure and development of the liquid resist becomes extremely thin in the portion 14a. As described above, when the etching resist becomes thinner on the corners 12a, the etching resist is destroyed in the pattern etching step of the metal layer 12, and the metal layer 1
There is a problem in that the wiring is cut off at the second corner 12a, and a serious defect occurs in the wiring pattern. In this case, a method of using a high-viscosity liquid resist to secure the thickness of the resist on the corners 12a is disclosed in Japanese Patent Publication No. 61-14680. It is difficult to apply the resist to the uneven portion of the substrate, and there is a possibility that a defect may occur in the etching process.

【0006】このため、上述のように近年はドライフィ
ルムレジストを貼着する方法が主流を占めているが、こ
の方法では、スルーホール11上を被覆するドライフィ
ルムレジストの部分が破れてスルーホール11の内面が
エッチングされてしまう事故が発生し易い。この場合、
予めスルーホールの内部をインク等で充填してからドラ
イフィルムを貼着する方法もあるが、ドライフィルムレ
ジストは感光性レジスト層上に薄い保護膜(カバーフィ
ルム)を重ねてあるために保護膜の光学的作用により露
光の解像度に劣り、精密なパターン形成及びパターンの
再現性が不十分となることがあるという問題点がある。
さらに、ファインパターンに対応した薄いドライフィル
ムを用いるとスルーホール上でより破れやすくなるとと
もに金属層12との密着性も悪くなり、欠陥が発生し易
くなる。さらに、金属層12の表面に傷があると、金属
層12の傷のある部分とドライフィルムレジストとの間
にエッチング液が侵入し、金属層12をエッチングして
配線パターンに断線、欠け、ピンホールなどが発生し易
くなるという問題点もある。
For this reason, in recent years, a method of attaching a dry film resist has become the mainstream as described above. However, in this method, a portion of the dry film resist covering the through hole 11 is torn and the through hole 11 is broken. An accident that the inner surface of the substrate is etched easily occurs. in this case,
There is also a method in which the inside of the through hole is filled with ink or the like beforehand, and then a dry film is attached. However, the dry film resist has a thin protective film (cover film) overlaid on the photosensitive resist layer. There is a problem in that the resolution of exposure is poor due to the optical action, and precise pattern formation and pattern reproducibility may be insufficient.
Further, when a thin dry film corresponding to the fine pattern is used, the film is more likely to be torn on the through-hole and the adhesion to the metal layer 12 is deteriorated, so that defects are easily generated. Further, if the surface of the metal layer 12 is damaged, an etching solution penetrates between the damaged portion of the metal layer 12 and the dry film resist, and the metal layer 12 is etched to disconnect or chip the wiring pattern. There is also a problem that holes and the like are easily generated.

【0007】上述のような各問題点はプリント配線板に
限らず、半導体装置やフォトリソグラフィ法により模様
を形成するデザイン材などの製造においても発生し、一
般に種々の積層基材の製造において障害をもたらす。ま
た、これらの積層基材の製造におけるエッチング或いは
パターニングに限らず、表面を所定のパターンで被覆す
るマスクを通しての種々の表面処理(たとえば、プラズ
マによる表面活性化処理など)にも同様の問題が発生す
る可能性がある。
The above-mentioned problems occur not only in printed wiring boards but also in the manufacture of semiconductor devices and design materials for forming patterns by photolithography, and generally hinder the manufacture of various laminated base materials. Bring. In addition, similar problems occur not only in etching or patterning in the production of these laminated base materials but also in various surface treatments (for example, surface activation treatment with plasma, etc.) through a mask that covers the surface with a predetermined pattern. there's a possibility that.

【0008】そこで、本発明は上記問題点を解決するも
のであり、その課題は、液状レジストを用いてもレジス
トマスクの部分的な薄肉化をもたらし難い新規の方法を
開発することにより、高品位の積層基材を製造すること
のできる方法を実現することにある。
Accordingly, the present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and has as its object to develop a new method which does not easily cause a partial reduction in the thickness of a resist mask even when a liquid resist is used. It is another object of the present invention to provide a method capable of manufacturing a laminated base material.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明が講じた手段は、基材表面上に被覆層に覆われ
た凹凸構造を備えた積層基材に対して前記被覆層の表面
の少なくとも前記凹凸構造の角部に粗面化処理を施す工
程と、前記被覆層の表面上に液状レジストを塗布する工
程と、前記液状レジストに処理を施してレジストマスク
を形成する工程とを有することを特徴とする積層基材の
製造方法である。
Means taken by the present invention to solve the above-mentioned problems is to provide a method for forming a coating layer on a substrate having an uneven structure covered with a coating layer on the surface of the substrate. Performing a surface roughening treatment on at least the corners of the uneven structure on the surface, a step of applying a liquid resist on the surface of the coating layer, and a step of performing a treatment on the liquid resist to form a resist mask. A method for producing a laminated base material, comprising:

【0010】この手段によれば、被覆層の表面に粗面化
処理を施すことにより、被覆層の表面上に液状レジスト
を塗布する際に凹凸構造の角部においても塗布厚を確保
することができるようになるため、液状レジストの粘度
をいたずらに増大させることなく、当該角部におけるレ
ジストマスクの厚さを確保することができる。したがっ
て、レジストマスクを用いた各種表面処理の不良の発生
を抑制することができるとともに、液状レジストを粘度
の調整なしに容易に用いることができるので、安価に製
造することができる。また、露光、現像によりレジスト
マスクを形成する場合には、被覆層の表面が粗面化され
ているのでハレーションが抑制され、平行光でなくても
高精度のパターニングが可能になる。さらに、ポジ型レ
ジストを用いることができるため、レジスト劣化も少な
くなり、高解像度のパターニングが可能になる。
According to this means, by applying a roughening treatment to the surface of the coating layer, it is possible to secure a coating thickness even at the corners of the uneven structure when applying the liquid resist on the surface of the coating layer. Therefore, the thickness of the resist mask at the corner can be ensured without unnecessarily increasing the viscosity of the liquid resist. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of defects in various surface treatments using the resist mask, and to use the liquid resist easily without adjusting the viscosity, thereby making it possible to manufacture the resist at low cost. When a resist mask is formed by exposure and development, halation is suppressed because the surface of the coating layer is roughened, and high-precision patterning is possible even when light is not parallel light. Further, since a positive resist can be used, resist deterioration is reduced, and high-resolution patterning can be performed.

【0011】なお、上記凹凸構造とは、貫通孔、凹部、
穴、段差、凸部などを全て含むものであり、角部とは、
貫通孔、凹部、穴などの縁部、段差の上部、凸部の周縁
などに形成された部分を全て含むものである。
The above-mentioned uneven structure includes a through hole, a concave portion,
It includes all holes, steps, protrusions, etc.
It includes all the portions formed at the edges of the through holes, concave portions, holes, etc., the upper portions of the steps, the periphery of the convex portions, and the like.

【0012】ここで、前記被覆層は金属からなり、前記
粗面化処理は前記被覆層の表層部分の酸化処理若しくは
エッチング処理により施されることが好ましい。
Here, it is preferable that the coating layer is made of a metal, and the surface roughening treatment is performed by an oxidation treatment or an etching treatment of a surface layer portion of the coating layer.

【0013】この手段によれば、微細な凹凸形状を持つ
粗面を容易に形成できる。
According to this means, a rough surface having fine irregularities can be easily formed.

【0014】また、前記粗面化処理は、前記被覆層の表
層部分を針状化若しくは多孔質化するものであることが
好ましい。
It is preferable that the surface roughening treatment is to make the surface portion of the coating layer acicular or porous.

【0015】この手段によれば、単なる凹凸を形成する
粗面化処理を施す場合よりもさらに厚い液状レジストを
表面上に保持することが可能になる。
According to this means, it is possible to hold a thicker liquid resist on the surface than in a case where a roughening treatment for forming only irregularities is performed.

【0016】上記手段は特に、前記レジストマスクを介
して前記被覆層の表層部分を除去する工程を有する場合
に、被覆層のパターニングの欠陥を防止することができ
る。
The above means can prevent a defect in patterning of the coating layer, particularly when the method has a step of removing a surface layer portion of the coating layer through the resist mask.

【0017】上記各手段において、前記積層基材はプリ
ント配線板であり、前記被覆層は金属層などの導体層で
あり、前記レジストマスクはエッチングレジストである
場合に、特にファインな導体パターンでも高い精度で形
成でき、また、導体パターンの欠陥を低減することがで
きる。
In each of the above-mentioned means, when the laminated base is a printed wiring board, the covering layer is a conductor layer such as a metal layer, and the resist mask is an etching resist, the fine conductor pattern is particularly high. It can be formed with high accuracy, and defects in the conductor pattern can be reduced.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】次に、図1を参照して本発明に係
る積層基材の製造方法の実施形態について説明する。本
実施形態においては、積層基材である銅張りの積層板か
らなる絶縁基板10の所要の位置にドリリングなどによ
り貫通孔を穿設し、この貫通孔の内面に銅メッキを施す
ことにより、スルーホール11を形成する。このとき、
絶縁基板10の表面上には、銅箔又はメッキ層からなる
金属層12がスルーホール11の内面部も含めて全面的
に被覆している。その後、必要に応じて絶縁基板10の
表面にバフ研磨、化学研磨(ポリッシング)、スラリー
研磨などの研磨処理を施す。次いで、上記金属層12の
表面に酸化処理若しくはソフトエッチングによる粗面化
処理を施す。
Next, an embodiment of a method for manufacturing a laminated base material according to the present invention will be described with reference to FIG. In the present embodiment, a through-hole is formed by drilling or the like at a required position of an insulating substrate 10 made of a copper-clad laminate, which is a laminated base material, and copper plating is performed on the inner surface of the through-hole to form a through-hole. A hole 11 is formed. At this time,
A metal layer 12 made of a copper foil or a plating layer covers the entire surface of the insulating substrate 10 including the inner surface of the through hole 11. Thereafter, if necessary, the surface of the insulating substrate 10 is subjected to a polishing treatment such as buffing, chemical polishing (polishing), or slurry polishing. Next, the surface of the metal layer 12 is subjected to oxidation treatment or surface roughening treatment by soft etching.

【0019】金属層12の表面の粗面化処理を酸化処理
により行う場合には、酸化処理液に絶縁基板10全体を
浸漬してもよく、また、酸化処理液をスプレーなどによ
る吹き付けその他の塗布により行ってもよい。酸化処理
液としては、たとえば、水酸化ナトリウム水溶液、次亜
塩素酸ナトリウムと水酸化ナトリウムを主成分とする水
溶液、硫化ソーダの水溶液、リン酸ナトリウムと水酸化
ナトリウムと亜塩素酸ナトリウムの混合水溶液、アルカ
リ性過酸カリウム水溶液などを用いることができる。
When the surface of the metal layer 12 is roughened by oxidation, the entire insulating substrate 10 may be immersed in an oxidizing solution, or the oxidizing solution may be sprayed or otherwise applied. May be performed. Examples of the oxidizing solution include a sodium hydroxide aqueous solution, an aqueous solution mainly containing sodium hypochlorite and sodium hydroxide, an aqueous solution of sodium sulfide, a mixed aqueous solution of sodium phosphate, sodium hydroxide, and sodium chlorite, An alkaline aqueous potassium peroxide solution or the like can be used.

【0020】金属層12が銅以外の金属で形成されてい
る場合には、たとえば鉄などには苛性ソーダと硝酸ソー
ダと重クロム酸ソーダとの混合水溶液、硫化ソーダ水溶
液などを用いることができるなど、金属層の材料に応じ
て適宜に選定できる。いずれにしても一般にアルカリ溶
液(アルカリ性酸化処理液)を用いることができる。こ
の場合、液温は、常温から120度程度まで液の種類に
より様々であるが、たとえば、次亜塩素酸ナトリウムと
水酸化ナトリウムを主成分とする水溶液の場合には、処
理能率、再現性及び均一性を保持するために50〜90
℃の範囲内が好ましく、60〜85℃がより望ましい。
When the metal layer 12 is formed of a metal other than copper, for example, a mixed aqueous solution of caustic soda, sodium nitrate, and sodium bichromate, an aqueous solution of sodium sulfide and the like can be used for iron and the like. It can be appropriately selected according to the material of the metal layer. In any case, generally, an alkaline solution (alkaline oxidation treatment liquid) can be used. In this case, the liquid temperature varies depending on the type of the liquid, from normal temperature to about 120 ° C. For example, in the case of an aqueous solution containing sodium hypochlorite and sodium hydroxide as main components, the processing efficiency, reproducibility and 50-90 to maintain uniformity
C. is preferable, and 60-85 C. is more preferable.

【0021】酸化処理の手順は、たとえば、基板の脱
脂、ソフトエッチング、水洗、酸処理、水洗、上記の酸
化処理、水洗、湯洗、乾燥の順で行うことが好ましい。
ここで、たとえば、脱脂にはアルカリ性若しくは酸性の
脱脂処理液を用いることができ、ソフトエッチングには
硫酸過水液、過硫安液、塩化第2銅液などを用いること
ができ、酸処理には5〜10vol%程度の硫酸若しく
は塩酸液を用いることができる。
The procedure of the oxidation treatment is preferably performed in the order of, for example, degreasing, soft etching, washing with water, acid treatment, washing with water, the above-mentioned oxidation treatment, washing with water, washing with hot water and drying.
Here, for example, an alkaline or acidic degreasing solution can be used for degreasing, a sulfuric acid peroxide solution, an ammonium persulfate solution, a cupric chloride solution or the like can be used for soft etching, and an acid treatment can be used for acid treatment. A sulfuric acid or hydrochloric acid solution of about 5 to 10 vol% can be used.

【0022】この酸化処理においては、酸化処理液によ
り金属層12の表面近傍の表層部分13に、黒色の酸化
部(CuO)又は茶色(褐色)の酸化部(Cu2 O)が
形成される。このとき、金属層12の表層部分13は酸
化されるとともに組織も針状析出層が形成されたり、浸
食された多孔質的構造となったりする。このため、表層
部分13の表面は極めて微細な表面粗さを備えた粗化面
となる。
In this oxidation treatment, a black oxidized portion (CuO) or a brown (brown) oxidized portion (Cu 2 O) is formed on the surface layer portion 13 near the surface of the metal layer 12 by the oxidizing solution. At this time, the surface layer portion 13 of the metal layer 12 is oxidized, and the structure of the metal layer 12 is also such that a needle-like precipitate layer is formed or the structure becomes an eroded porous structure. For this reason, the surface of the surface layer portion 13 becomes a roughened surface having extremely fine surface roughness.

【0023】一方、上記粗面化処理をソフトエッチング
にて行う場合には、基板をエッチング液に浸漬してもよ
く、あるいは基板に対するエッチング液の吹付けその他
の塗布を行ってもよい。エッチング液としては、硝酸を
主成分とする水溶液、過酸化水素と硫酸を主成分とする
水溶液などの無機酸液、ギ酸を主成分とする水溶液、ク
エン酸を主成分とする水溶液などの有機酸液が挙げられ
る。ソフトエッチングは、一般に金属層12の表層部分
13を不規則にエッチングして微細な凹凸構造若しくは
浸食による多孔質的構造とし、表面を粗面化する他、エ
ッチング液によっては表層部分13を酸化して薄い茶色
のCu2 Oにする場合もある。
On the other hand, when the surface roughening treatment is performed by soft etching, the substrate may be immersed in an etchant, or the substrate may be sprayed or otherwise applied with the etchant. Examples of the etchant include inorganic acid solutions such as an aqueous solution mainly containing nitric acid, an aqueous solution mainly containing hydrogen peroxide and sulfuric acid, and organic acids such as an aqueous solution mainly containing formic acid and an aqueous solution mainly containing citric acid. Liquid. The soft etching generally irregularly etches the surface layer portion 13 of the metal layer 12 to form a fine uneven structure or a porous structure due to erosion, roughens the surface, and oxidizes the surface layer portion 13 depending on an etchant. In some cases, light brown Cu 2 O may be used.

【0024】ソフトエッチングの手順は、たとえば、脱
脂、水洗、乾燥、ソフトエッチング(硝酸を主成分とす
る水溶液)、水洗、ソフトエッチング(ギ酸を主成分と
する水溶液)、水洗、酸洗、乾燥の順で行うことが好ま
しい。ここで、たとえば、脱脂には酸性若しくはアルカ
リ性の脱脂処理液を用いることができ、酸洗は3.5v
ol%程度の塩酸液を用い、20〜30℃の温度でスプ
レーにより吹付けて処理することができる。
The procedure of soft etching includes, for example, degreasing, washing with water, drying, soft etching (aqueous solution mainly containing nitric acid), washing with water, soft etching (aqueous solution mainly containing formic acid), washing with water, pickling and drying. It is preferable to carry out in order. Here, for example, an acidic or alkaline degreasing treatment liquid can be used for degreasing, and pickling is performed at 3.5 V.
It can be treated by spraying with a hydrochloric acid solution of about ol% at a temperature of 20 to 30 ° C by spraying.

【0025】上記の酸化処理若しくはソフトエッチング
の後、その粗面化された表面上に感光性の液状レジスト
14を塗布する。本実施形態では表層部分13が粗面化
されているため、その上に液状レジスト14を塗布する
と、表面張力により液状レジスト14の液ダレが低減さ
れ、金属層12の角部12a上の部分14aにおいても
塗厚の減少が抑制される。したがって、後述する工程に
よりエッチングレジストをより均一な厚さに形成するこ
とができ、金属層12の角部12a上においてもエッチ
ングに支障のない厚さのエッチングレジストを形成する
ことが可能になる。
After the above oxidation treatment or soft etching, a photosensitive liquid resist 14 is applied on the roughened surface. In this embodiment, since the surface layer portion 13 is roughened, when the liquid resist 14 is applied thereon, the liquid dripping of the liquid resist 14 is reduced due to surface tension, and the portion 14a on the corner 12a of the metal layer 12 is formed. Also, the decrease in the coating thickness is suppressed. Therefore, the etching resist can be formed to have a more uniform thickness by the process described later, and an etching resist having a thickness that does not hinder the etching can be formed even on the corners 12a of the metal layer 12.

【0026】ここで、感光性レジストは、ネガ型、ポジ
型のいずれのレジストであってもよい。従来のドライフ
ィルムでは、ポジ型レジストはフィルム形成性が悪く、
また、露光、現像工程において発生する窒素によりカバ
ーフィルムが剥離してしまうためにネガ型レジストしか
使用できないのが実情である。これに対し、本実施形態
においては、製造工程において液状レジストを塗布する
ため、ポジ型レジストの使用も可能である。
Here, the photosensitive resist may be either a negative type resist or a positive type resist. With conventional dry films, positive resists have poor film formability,
In addition, since the cover film is peeled off by the nitrogen generated in the exposure and development steps, the fact is that only a negative resist can be used. On the other hand, in the present embodiment, since a liquid resist is applied in the manufacturing process, a positive resist can be used.

【0027】ネガ型レジストとしては、本分野で従来か
ら使用されている種々のネガ型感光性組成物を用いるこ
とができる。たとえば、ビニル−ケイ皮酸塩、ベンジル
−アセトフェノン、アセトフェノン−ケイ皮酸塩などの
共重合体などが挙げられる。
As the negative resist, various negative photosensitive compositions conventionally used in this field can be used. For example, copolymers such as vinyl-cinnamate, benzyl-acetophenone, and acetophenone-cinnamate are exemplified.

【0028】ネガ型レジストは酸素により減感するため
に、ドライフィルムの形態で保存するにはカバーフィル
ムが必要であったが、本実施形態では製造工程において
液状のものを塗布するだけでよいため、減感を起こさな
い状態でのレジストの保管が容易である。
Since the negative type resist is desensitized by oxygen, a cover film is necessary to store it in the form of a dry film. However, in this embodiment, it is only necessary to apply a liquid type in the manufacturing process. It is easy to store the resist without desensitization.

【0029】一方、ポジ型レジストとしては、メタルエ
ッチングに通常用いられる種々のポジ型感光性組成物を
用いることができる。たとえば、フェノールノボラック
樹脂、ナフトキノンジアジド、ポリビニルアルコールな
どが挙げられる。本実施形態では、上記の酸化処理若し
くはソフトエッチングを施すことにより、液状レジスト
14を乾燥若しくは重合硬化させ、パターニングして形
成されたエッチングレジストと金属層12との密着性が
良好になり付着力も強くなるため、レジスト剥離工程に
おけるエッチングレジストの剥離性が悪化する傾向があ
る。そのため、レジスト材料として光分解性の素材を用
いるとレジストの剥離が容易になることから、光分解性
を有するポジ型レジストを用いることが有利である。
On the other hand, as the positive resist, various positive photosensitive compositions usually used for metal etching can be used. For example, phenol novolak resin, naphthoquinonediazide, polyvinyl alcohol and the like can be mentioned. In the present embodiment, by performing the above-described oxidation treatment or soft etching, the liquid resist 14 is dried or polymerized and cured, and the adhesion between the etching resist formed by patterning and the metal layer 12 is improved, and the adhesion is also improved. Therefore, the peelability of the etching resist in the resist peeling step tends to deteriorate. Therefore, if a photodegradable material is used as the resist material, the resist can be easily peeled off. Therefore, it is advantageous to use a photodegradable positive resist.

【0030】液状レジスト14の塗布方法には種々の方
法を適用することができる。たとえば、ディップコータ
ー法、水平コーター法、ロールコーター法、カーテンコ
ーター法、スクリーンコーター法などの公知のコーティ
ング方法を単独に若しくは組み合わせて用いることがで
きる。より具体的には、ディップ、噴流、スプレー等に
よりスルーホールと表面とを同時にコーティングする方
法でもよく、また、このコーティングの後に表面の液状
レジスト14を一旦除去若しくは平滑化し、その後、さ
らにロールコーター法、ディップコーター法、印刷法、
カーテンコーター法、スプレー法などにより再コーティ
ングする方法でもよい。
Various methods can be applied to the method of applying the liquid resist 14. For example, known coating methods such as a dip coater method, a horizontal coater method, a roll coater method, a curtain coater method, and a screen coater method can be used alone or in combination. More specifically, a method in which the through hole and the surface are simultaneously coated by dip, jet, spray, or the like may be used. After this coating, the liquid resist 14 on the surface is once removed or smoothed, and then further subjected to a roll coater method. , Dip coater method, printing method,
A method of recoating by a curtain coater method, a spray method, or the like may be used.

【0031】本実施形態において、液状レジスト14は
その粘度に関して特に限定されず、塗布方法やプリント
配線板のパターン密度、上記酸化処理若しくはソフトエ
ッチングにより粗面化された表面状態により適宜に粘度
を設定することができる。ただし、液状レジスト14の
粘度が高くなり過ぎると微細な表面凹凸部や小径のスル
ーホールなどにエッチングレジストが密着し難くなり、
却ってエッチング不良が発生し易くなる。逆に、液状レ
ジスト14の粘度が低くなり過ぎると、エッチングマス
クとして要求されるレジストの厚さを塗布時に確保でき
なくなる。
In the present embodiment, the viscosity of the liquid resist 14 is not particularly limited, and the viscosity is appropriately set according to the coating method, the pattern density of the printed wiring board, and the surface condition roughened by the above-described oxidation treatment or soft etching. can do. However, if the viscosity of the liquid resist 14 becomes too high, it becomes difficult for the etching resist to adhere to fine surface irregularities or small-diameter through holes,
Rather, etching defects are likely to occur. Conversely, if the viscosity of the liquid resist 14 becomes too low, the thickness of the resist required as an etching mask cannot be secured at the time of coating.

【0032】プリント配線板の銅箔エッチングに耐えう
るエッチングレジストの厚さを確保できる範囲で、実際
に使用可能な液状レジスト14の粘度を小孔からの流出
速度により測定した。水平コーターの場合には30cp
(センチポアズ)であり、好適な範囲としては5〜50
cp、ディップコーターの場合には65cpであり、好
適な範囲としては10〜90cp、スプレーコーターの
場合には75cpであり、好適な範囲としては15〜1
00cp、印刷法の場合には180ps(ポアズ)であ
り、好適な範囲としては150〜300ps、ロールコ
ーターの場合には100psであり、好適な範囲として
は80〜200ps、カーテンコーターの場合には75
psであり、好適な範囲としては50〜150psであ
る。
The viscosity of the liquid resist 14 that can be actually used was measured by the flow rate from the small holes within a range in which the thickness of the etching resist capable of withstanding the etching of the copper foil of the printed wiring board could be secured. 30 cp for horizontal coater
(Centipoise), and a preferable range is 5 to 50.
cp, 65 cp for a dip coater, a preferred range is 10 to 90 cp, and a spray coater is 75 cp, a preferred range is 15 to 1 cp.
00 cp, 180 ps (poise) for the printing method, 150 to 300 ps as a preferred range, 100 ps for a roll coater, 80 to 200 ps as a preferred range, and 75 for a curtain coater.
ps, and a preferable range is 50 to 150 ps.

【0033】上記のように液状レジスト14を塗布した
後、公知のマスクフィルムを介して選択的に露光を行
う。この工程において、本実施形態では、金属層12は
上述の表層部分13に覆われており、粗面化された表面
の光沢は少なく、ほとんど無光沢の状態になっているた
め、露光時のハレーションを有効に防止することができ
る。したがって、形成されるエッチングレジストのパタ
ーン精度が向上する。従来方法ではハレーションによる
パターン精度の低下を回避するために平行光による露光
が必要であったのに対し、本実施形態では厳密な平行光
でなく散乱光であっても十分に良好なパターン形状を得
ることができる。
After the application of the liquid resist 14 as described above, selective exposure is performed through a known mask film. In this step, in the present embodiment, the metal layer 12 is covered with the surface layer portion 13 described above, and the roughened surface has little gloss and is almost matte. Can be effectively prevented. Therefore, the pattern accuracy of the formed etching resist is improved. In the conventional method, exposure with parallel light was necessary to avoid a decrease in pattern accuracy due to halation, whereas in the present embodiment, a sufficiently good pattern shape was obtained even with scattered light instead of strict parallel light. Obtainable.

【0034】上記露光後、表面を現像液にて処理するこ
とにより、不要部分を溶解除去して所要のパターン形状
のエッチングレジストを形成する。この後、必要に応じ
て表層部分13のエッチングを行い、エッチングレジス
トにて覆われていない部分において比較的平坦で酸化さ
れていない金属層12を露出させる。たとえば、上述の
酸化処理を行ったものに対しては、2〜5vol%程度
の塩酸液をスプレーすることにより表層部分13を除去
し、金属色の表面を得ることができる。このように表層
部分13を除去することにより、エッチングレジストの
被覆する部分のみに表層部分13が残っているため、表
層部分13の有無によりコントラストに差が発生し、エ
ッチングレジストの検査時において光学系外観検査機な
どによる観察や自動判定などが容易になるという効果が
得られる。
After the above exposure, the surface is treated with a developing solution to dissolve and remove unnecessary portions to form an etching resist having a required pattern shape. Thereafter, if necessary, the surface layer portion 13 is etched to expose a relatively flat and non-oxidized metal layer 12 in a portion not covered with the etching resist. For example, the surface layer 13 can be removed by spraying a hydrochloric acid solution of about 2 to 5 vol% to the one subjected to the above-described oxidation treatment, and a metal-colored surface can be obtained. By removing the surface layer portion 13 in this manner, the surface layer portion 13 remains only in the portion to be covered with the etching resist, so that a difference in contrast occurs depending on the presence or absence of the surface layer portion 13, and the optical system is inspected when inspecting the etching resist. This has the effect of facilitating observation and automatic determination by a visual inspection machine or the like.

【0035】次に、通常のプリント配線板の製造工程に
おいて用いられている方法によりエッチングレジストに
覆われていない領域の金属層12をエッチング除去す
る。この工程においては、たとえば、銅箔又は銅メッキ
層により構成された金属層12の場合、塩化第2銅液、
塩化第2鉄液などのエッチング液を用いる。このエッチ
ング除去工程が終了すると、エッチングレジストを剥離
する。たとえば、レジストとして光分解性フェノールノ
ボラック樹脂を用いた場合には、光照射を行った後に3
〜5vol%の苛性ソーダ水溶液などでエッチングレジ
ストを洗い流す。
Next, the metal layer 12 in a region not covered with the etching resist is removed by etching using a method used in a normal printed wiring board manufacturing process. In this step, for example, in the case of the metal layer 12 composed of a copper foil or a copper plating layer, a cupric chloride solution,
An etching solution such as a ferric chloride solution is used. When this etching removal step is completed, the etching resist is removed. For example, when a photo-decomposable phenol novolak resin is used as a resist, 3 ×
The etching resist is washed away with an aqueous solution of caustic soda of about 5 vol%.

【0036】この後、基板を超音波、スプレー、噴流、
バキュームなどで適宜洗浄、清浄化し、最後に表面を永
久レジストにより被覆することにより、プリント配線板
が完成する。ここで、本実施形態では、導体パターンの
表面に上述の表層部分13が形成されているので、永久
レジストとの密着力が向上する。また、表層部分13の
存在により、スルーホール部や導体パターンの角部にお
ける永久レジストの液ダレを防止することもできる。
Thereafter, the substrate is subjected to ultrasonic wave, spray, jet,
The printed wiring board is completed by appropriately cleaning and cleaning with a vacuum or the like, and finally covering the surface with a permanent resist. Here, in the present embodiment, since the above-described surface layer portion 13 is formed on the surface of the conductor pattern, the adhesion to the permanent resist is improved. In addition, the presence of the surface layer portion 13 can prevent the permanent resist from dripping at the through-hole portion and the corner of the conductor pattern.

【0037】上記実施形態においては、本発明をスルー
ホールを有するプリント配線板に適用させた例を示す
が、スルーホールに限らず、表面に凹凸構造を有するも
のであれば、盲穴構造の穴縁部や導電パッドの凸部など
の種々の凹凸構造部の角部において効果を得ることがで
きる。また、多層プリント配線板の製造過程の途中にお
けるインナーバイアホール、ブラインドバイアホールな
どの凹凸構造部の縁部、角部など、あるいはまた、下層
の配線や電極パターンの厚さにより生じた上層の段差部
などにおいても効果が得られる。
In the above embodiment, an example is shown in which the present invention is applied to a printed wiring board having through holes. However, the present invention is not limited to through holes, and any hole having a concave-convex structure on its surface may have a blind hole structure. The effect can be obtained at the corners of various concave-convex structure portions such as the edge portion and the convex portion of the conductive pad. Also, in the middle of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board, the edges and corners of the uneven structure portion such as the inner via hole and the blind via hole, or the step of the upper layer caused by the thickness of the lower wiring and the electrode pattern. The effect can be obtained also in the section.

【0038】さらに、本発明は、上記のプリント配線板
に限らず、半導体装置、各種印刷物などにも適用できる
ものである。また、液状レジストにより形成されるレジ
ストマスクは、エッチングのマスクとなるものに限ら
ず、プラズマ処理、ドーピング、イオンプランテーショ
ンなどの種々の表面処理を行う際のマスクとして用いる
ものであってもよい。
Further, the present invention can be applied not only to the above-mentioned printed wiring board but also to semiconductor devices, various printed matters, and the like. Further, the resist mask formed by the liquid resist is not limited to a mask used as an etching mask, and may be a mask used when performing various surface treatments such as plasma treatment, doping, and ion plantation.

【0039】本実施形態では、表面全体に酸化処理若し
くはソフトエッチングを行っているが、表面の凹凸構造
部の縁部、角部、段差部などの各種の角部に対して効果
を得るには、当該角部のみ、あるいは、角部とその近傍
のみに上述の酸化処理やソフトエッチングを施してもよ
い。
In this embodiment, the entire surface is oxidized or soft-etched. However, in order to obtain an effect on various corners such as edges, corners and steps of the uneven structure on the surface. Alternatively, only the corner portion or only the corner portion and its vicinity may be subjected to the above-described oxidation treatment or soft etching.

【0040】[0040]

【実施例】次に、より具体的な実施例とその結果につい
て述べる。
EXAMPLES Next, more specific examples and their results will be described.

【0041】(実施例1)基板R−1705SX(素材
FR−4、板厚1.6mm、松下電工社製、製品番号)
に孔径0.2mm、1.0mm、6.0mmの3種のス
ルーホールをそれぞれ複数個ずつ穿設し、厚さ25μm
の銅メッキを施した。この後、次亜塩素酸ナトリウム及
び水酸化ナトリウムを主成分とする水溶液である、エン
プレートMB−438A(メルティックス株式会社製、
商標、製品番号)を80ミリリットル/リットル、エン
プレートMB−438B(メルティックス株式会社製、
商標、製品番号)を130ミリリットル/リットルを水
に混合したものを85℃に保持し、その中に基板を3分
間浸漬して酸化処理を施した。温度は上記温度でなくて
もよいが、処理能率、再現性及び均一性を確保するため
には50〜90℃の範囲内が好ましく、60〜85℃の
範囲内であることがより好ましい。
(Example 1) Substrate R-1705SX (material FR-4, plate thickness 1.6 mm, manufactured by Matsushita Electric Works, product number)
A plurality of three types of through-holes having a hole diameter of 0.2 mm, 1.0 mm, and 6.0 mm were respectively formed in the holes, and the thickness was 25 μm.
Copper plating. Thereafter, Enplate MB-438A (manufactured by Meltics Co., Ltd.), which is an aqueous solution mainly containing sodium hypochlorite and sodium hydroxide,
(Trademark, product number) 80 ml / liter, Emplate MB-438B (manufactured by Meltics Co., Ltd.)
(Trademark, product number) mixed with 130 ml / liter of water was kept at 85 ° C., and the substrate was immersed in the mixture for 3 minutes to perform an oxidation treatment. The temperature may not be the above temperature, but is preferably in the range of 50 to 90 ° C, and more preferably in the range of 60 to 85 ° C, in order to ensure processing efficiency, reproducibility and uniformity.

【0042】次に、液状レジストとしてFHWS−10
1(富士フィルムオーリン社製、製品番号)を浸漬法に
より基板に塗布し、乾燥炉に移して80℃で8分間乾燥
させた。次に、5kWの超高圧水銀灯にて200mJ/
cm2 の照射量で露光し、1%の炭酸ナトリウム水溶液
からなる現像液を30℃として20秒現像処理を行っ
た。次いで、塩化第二鉄を主成分とするエッチング液に
て45℃で90秒のエッチング処理を行い、導体パター
ンを形成した。
Next, FHWS-10 was used as a liquid resist.
1 (manufactured by Fuji Film Ohlin Co., Ltd., product number) was applied to the substrate by a dipping method, transferred to a drying furnace, and dried at 80 ° C. for 8 minutes. Next, 200mJ /
Exposure was performed with an irradiation amount of cm 2 , and development processing was performed for 20 seconds at 30 ° C. using a developing solution composed of a 1% aqueous solution of sodium carbonate. Next, etching treatment was performed at 45 ° C. for 90 seconds using an etching solution containing ferric chloride as a main component to form a conductor pattern.

【0043】この実施形態では、酸化処理により形成さ
れた酸化された表層部分は0.5〜1.0μm程度の厚
さであり、黒色の針状析出層となっていた。いずれの孔
径のスルーホールにおいても、全て導体パターンの欠陥
は発見されなかった。
In this embodiment, the oxidized surface portion formed by the oxidation treatment has a thickness of about 0.5 to 1.0 μm, and is a black needle-like deposition layer. No defect of the conductor pattern was found in any of the through-holes having any diameter.

【0044】(実施例2)上記と同様の工程において、
上記酸化処理の代わりに、硝酸を主成分とする液であ
る、メックエッチボンドCZ−5480(メック株式会
社製、商標、製品番号)を30℃に保持して基板表面に
10〜20秒間スプレーし、ソフトエッチングを行っ
た。ソフトエッチングの処理液は蟻酸ナトリウムなどの
蟻酸を主成分とする液である、メックエッチボンドCZ
−8100(メック株式会社製、商標、製品番号)でも
ほぼ同様の結果が得られた。いずれの液の場合でも、温
度は上記温度でなくてもよいが、迅速に表面を均一かつ
十分に粗面化するためには、25〜40℃の範囲が好ま
しく、30〜35℃の範囲内がより好ましい。また、硝
酸を主成分とする液で処理した後、水洗して、蟻酸を主
成分とする液で処理することが確実に粗面化する上で最
も望ましい。
Example 2 In a process similar to the above,
Instead of the above oxidation treatment, MEC etch bond CZ-5480 (trade name, product number, manufactured by MEC Corporation), which is a liquid containing nitric acid as a main component, is sprayed on the substrate surface for 10 to 20 seconds while being kept at 30 ° C. And soft etching was performed. The processing solution for soft etching is a solution containing formic acid as a main component such as sodium formate.
Almost the same results were obtained with -8100 (manufactured by MEC Corporation, trademark, product number). In any case, the temperature may not be the above temperature, but in order to quickly and uniformly roughen the surface, the temperature is preferably in the range of 25 to 40 ° C, and in the range of 30 to 35 ° C. Is more preferred. In addition, it is most preferable to treat with a liquid containing nitric acid as a main component, then wash with water, and treat with a liquid containing formic acid as a main component in order to surely roughen the surface.

【0045】この実施形態では、ソフトエッチングによ
る銅の浸食は1〜3μm程度であり、表面に微細な凹凸
が形成されていた。また、いずれの孔径のスルーホール
においても、全て導体パターンの欠陥は発見されなかっ
た。
In this embodiment, the erosion of copper by soft etching was about 1 to 3 μm, and fine irregularities were formed on the surface. Further, no defects in the conductor pattern were found in any of the through-holes having any diameter.

【0046】(比較例)上記実施例1と実施例2に対し
て、酸化処理とソフトエッチングを行わないで製造した
プリント配線板も作成し、比較例とした。この比較例に
おいては、いずれの孔径のスルーホールについても、全
て縁部に形成された角部においてエッチングがなされて
おり、断絶された導体パターンも存在していた。
(Comparative Example) A printed wiring board manufactured without performing the oxidation treatment and the soft etching was also made to be a comparative example with respect to the above-mentioned Examples 1 and 2. In this comparative example, the through-holes having any diameters were all etched at the corners formed at the edges, and some of the conductor patterns were cut off.

【0047】なお、いずれの例においてもエッチングレ
ジストの平均的な厚さは約7μm程度であるが、実施例
1及び2では厚さの分布は5〜10μmの範囲内に収ま
っていた。これに対して比較例ではスルーホールの開口
縁部の角部においてレジストの厚さが4μm未満の部分
が多く存在していた。
In each of the examples, the average thickness of the etching resist was about 7 μm, but in Examples 1 and 2, the thickness distribution was within the range of 5 to 10 μm. On the other hand, in the comparative example, there were many portions where the thickness of the resist was less than 4 μm at the corners of the opening edges of the through holes.

【0048】[0048]

【発明の効果】本発明によれば、被覆層の表面に粗面化
処理を施すことにより、被覆層の表面上に液状レジスト
を塗布する際に凹凸構造の角部においても塗布厚を確保
することができるようになるため、液状レジストの粘度
をいたずらに増大させることなく、当該角部におけるレ
ジストマスクの厚さを確保することができる。したがっ
て、レジストマスクを用いた各種表面処理の不良の発生
を抑制することができるとともに、液状レジストを粘度
の調整なしに容易に用いることができるので、安価に製
造することができる。また、露光、現像によりレジスト
マスクを形成する場合には、被覆層の表面が粗面化され
ているのでハレーションが抑制され、平行光でなくても
高精度のパターニングが可能になる。さらに、ポジ型レ
ジストを用いることができるため、レジスト劣化も少な
くなり、高解像度のパターニングが可能になる。
According to the present invention, by applying a roughening treatment to the surface of the coating layer, the coating thickness is ensured even at the corners of the uneven structure when the liquid resist is applied on the surface of the coating layer. Therefore, the thickness of the resist mask at the corner can be ensured without unnecessarily increasing the viscosity of the liquid resist. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of defects in various surface treatments using the resist mask, and to use the liquid resist easily without adjusting the viscosity, thereby making it possible to manufacture the resist at low cost. When a resist mask is formed by exposure and development, halation is suppressed because the surface of the coating layer is roughened, and high-precision patterning is possible even when light is not parallel light. Further, since a positive resist can be used, resist deterioration is reduced, and high-resolution patterning can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る実施形態の液状レジストの塗布状
態を示すプリント配線板の拡大断面図である。
FIG. 1 is an enlarged cross-sectional view of a printed wiring board showing a coated state of a liquid resist according to an embodiment of the present invention.

【図2】従来の液状レジストの塗布状態を示すプリント
配線板の拡大断面図である。
FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view of a printed wiring board showing a state of applying a conventional liquid resist.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 絶縁基板 11 スルーホール 12 金属層(被覆層) 12a 角部 13 表層部分 14 液状レジスト 14a 部分 プリント配線板(積層基材) DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Insulating substrate 11 Through hole 12 Metal layer (coating layer) 12a Corner 13 Surface layer 14 Liquid resist 14a Part Printed wiring board (laminated base material)

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基材表面上に被覆層に覆われた凹凸構造
を備えた積層基材に対して前記被覆層の表面の少なくと
も前記凹凸構造の角部に粗面化処理を施す工程と、前記
被覆層の表面上に液状レジストを塗布する工程と、前記
液状レジストに処理を施してレジストマスクを形成する
工程とを有することを特徴とする積層基材の製造方法。
A step of subjecting a laminated substrate having an uneven structure covered with a coating layer on the surface of a base material to a surface roughening treatment on at least a corner of the uneven structure on the surface of the coating layer; A method for manufacturing a laminated base material, comprising: a step of applying a liquid resist on a surface of the coating layer; and a step of performing a treatment on the liquid resist to form a resist mask.
【請求項2】 請求項1において、前記被覆層は金属か
らなり、前記粗面化処理は前記被覆層の表層部分の酸化
処理若しくはエッチング処理により施されることを特徴
とする積層基材の製造方法。
2. The method according to claim 1, wherein the coating layer is made of a metal, and the surface roughening treatment is performed by oxidizing or etching a surface portion of the coating layer. Method.
【請求項3】 請求項1において、前記粗面化処理は、
前記被覆層の表層部分を針状化若しくは多孔質化するも
のであることを特徴とする積層基材の製造方法。
3. The method according to claim 1, wherein the surface roughening is performed by:
A method for producing a laminated base material, wherein the surface layer portion of the coating layer is made acicular or porous.
【請求項4】 請求項1において、前記レジストマスク
を介して前記被覆層の表層部分を除去する工程を有する
ことを特徴とする積層基材の製造方法。
4. The method according to claim 1, further comprising a step of removing a surface portion of the coating layer through the resist mask.
【請求項5】 請求項1乃至請求項4のいずれか1項に
おいて、前記積層基材はプリント配線板であり、前記被
覆層は導体層であり、前記レジストマスクはエッチング
レジストであることを特徴とする積層基材の製造方法。
5. The method according to claim 1, wherein the laminated base is a printed wiring board, the covering layer is a conductor layer, and the resist mask is an etching resist. A method for producing a laminated base material.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002368415A (en) * 2001-06-01 2002-12-20 Goo Chemical Co Ltd Manufacturing method of printed wiring board
JP2014067976A (en) * 2012-09-27 2014-04-17 Hitachi Chemical Co Ltd Process of manufacturing multilayer wiring board

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