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JPH117335A - Semiconductor integrated circuit and system, and method for reducing skew between clock signal and data signal - Google Patents

Semiconductor integrated circuit and system, and method for reducing skew between clock signal and data signal

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Publication number
JPH117335A
JPH117335A JP10113974A JP11397498A JPH117335A JP H117335 A JPH117335 A JP H117335A JP 10113974 A JP10113974 A JP 10113974A JP 11397498 A JP11397498 A JP 11397498A JP H117335 A JPH117335 A JP H117335A
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JP
Japan
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signal
data
clock signal
circuit
phase difference
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Application number
JP10113974A
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Japanese (ja)
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JP2935694B2 (en
Inventor
Yutaka Terada
裕 寺田
Hironori Akamatsu
寛範 赤松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 クロック信号とデータ信号とのスキューを低
減する。 【解決手段】 スレーブ20は、クロック信号CLKと
データ信号Dataとの間の位相差を低減する位相差低
減回路22と、クロック信号CLKとの間の位相差が低
減されたデータ信号Data’を受け取る回路24とを
備えている。
(57) [Summary] To reduce skew between a clock signal and a data signal. A slave (20) receives a phase difference reduction circuit (22) for reducing a phase difference between a clock signal (CLK) and a data signal (Data), and a data signal (Data ') with a reduced phase difference between the clock signal (CLK) and the clock signal (CLK). And a circuit 24.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、クロック信号とデ
ータ信号との間の位相差を低減することのできる半導体
集積回路およびシステム、並びにクロック信号とデータ
信号との間のスキューを低減する方法に関する。
The present invention relates to a semiconductor integrated circuit and system capable of reducing a phase difference between a clock signal and a data signal, and a method for reducing a skew between a clock signal and a data signal. .

【0002】[0002]

【従来の技術】マルチメディア化の普及により、パソコ
ンを中心としたシステムの高速化が薦められている。そ
のような中で特に半導体デバイスの占めるところは大き
く、半導体デバイスの高速化が叫ばれて久しい。
2. Description of the Related Art With the spread of multimedia, it has been recommended to speed up a system centered on a personal computer. In such a situation, a semiconductor device occupies a particularly large place, and it has been a long time since the speeding up of the semiconductor device has been called for.

【0003】複数の半導体デバイスで構成されたシステ
ムでは、各デバイス間で信号の転送を行う必要がある。
より高速な転送動作を行うために、最近の転送方式は、
クロック信号という一定の期間で遷移を繰り返す基準信
号に他の信号を同期させた同期システムになってきてい
る。
In a system constituted by a plurality of semiconductor devices, it is necessary to transfer signals between the devices.
In order to perform faster transfer operations, recent transfer methods are:
Synchronous systems have become known in which other signals are synchronized with a reference signal that repeats transitions in a certain period called a clock signal.

【0004】図23Aは、従来の同期システムの構成を
示す。送信側チップ705のバッファ703aは、デー
タ信号Dataを出力する。受信側チップ704のバッ
ファ703bは、データ信号Dataを受け取り、保持
回路701に出力する。保持回路701は、基準クロッ
ク信号SysCLKに同期してデータ信号Dataを保
持し、それを内部回路702に転送する。
FIG. 23A shows a configuration of a conventional synchronization system. The buffer 703a of the transmitting chip 705 outputs the data signal Data. The buffer 703 b of the receiving chip 704 receives the data signal Data and outputs it to the holding circuit 701. The holding circuit 701 holds the data signal Data in synchronization with the reference clock signal SysCLK, and transfers it to the internal circuit 702.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】このような同期システ
ムでは、より高速な動作を行うために基準クロック信号
の周波数を上げていくことが一般的によく行われる。し
かし、基準クロック信号と他の信号(例えばデータ信
号)間にはタイミングのずれ(すなわちスキュー)が存
在する。このスキューが保持回路の誤動作を引き起こす
原因となる。図23Bは、基準クロック信号SysCL
Kの位相とデータ信号Dataの位相とがずれることに
よりミスラッチが生じ、それにより、保持回路が誤動作
することを示している。
In such a synchronous system, it is common practice to increase the frequency of the reference clock signal in order to perform a higher-speed operation. However, there is a timing shift (ie, skew) between the reference clock signal and another signal (for example, a data signal). This skew causes a malfunction of the holding circuit. FIG. 23B shows the reference clock signal SysCL.
A shift in the phase of K from the phase of the data signal Data causes a mislatch, which indicates that the holding circuit malfunctions.

【0006】図24A〜図24Cは、基準クロック信号
の周波数が低い場合には、位相ずれTが問題になること
はないが、基準クロック信号の周波数が高くなるにつれ
て位相ずれTが問題になる様子を示す。
FIGS. 24A to 24C show that the phase shift T does not matter when the frequency of the reference clock signal is low, but the phase shift T becomes problematic as the frequency of the reference clock signal increases. Is shown.

【0007】図24Aは、基準クロック信号SysCL
Kの位相とデータ信号の位相とが完全に一致している場
合を示す。
FIG. 24A shows a reference clock signal SysCL.
The case where the phase of K completely matches the phase of the data signal is shown.

【0008】図24Bは、基準クロック信号SysCL
Kの周波数が低い場合に、基準クロック信号SysCL
Kの位相とデータ信号の位相との間に位相ずれTが生じ
ている場合を示す。この場合には、正しいデータが出力
されるため特に問題とはならない。
FIG. 24B shows a reference clock signal SysCL.
When the frequency of K is low, the reference clock signal SysCL
A case where a phase shift T occurs between the phase of K and the phase of the data signal is shown. In this case, there is no particular problem since correct data is output.

【0009】図24Cは、基準クロック信号の周波数が
高い場合に、基準クロック信号SysCLKの位相とデ
ータ信号の位相との間に位相ずれTが生じている場合を
示す。この場合には、正しいデータが出力されないため
問題となる。このように、位相ずれによる影響は、各信
号は高速に動作するに従って深刻となり、システムの高
速動作の障害となっている。
FIG. 24C shows a case where a phase shift T occurs between the phase of the reference clock signal SysCLK and the phase of the data signal when the frequency of the reference clock signal is high. In this case, a problem occurs because correct data is not output. As described above, the influence of the phase shift becomes more serious as each signal operates at a higher speed, which is an obstacle to the high-speed operation of the system.

【0010】従来、位相ずれを最小化するための方法と
して、基準クロック信号の転送経路とデータ信号の転送
経路とをできるだけ近接して配置するという方法が採ら
れてきた。しかし、この方法は、信号配線のレイアウト
に制約を加えるという欠点と、電源変動や温度変動によ
る位相ずれに対応できないという欠点とを有している。
Conventionally, as a method for minimizing the phase shift, a method has been adopted in which a transfer path for a reference clock signal and a transfer path for a data signal are arranged as close as possible. However, this method has a drawback that it imposes restrictions on the layout of signal wiring and a drawback that it cannot cope with a phase shift due to power supply fluctuation or temperature fluctuation.

【0011】本発明は、上述した課題に鑑みてなされた
ものであり、クロック信号とデータ信号との間の位相差
を低減することのできる半導体集積回路およびシステ
ム、並びにクロック信号とデータ信号との間のスキュー
を低減する方法を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and has been made in consideration of the above-described problems, and provides a semiconductor integrated circuit and a system capable of reducing a phase difference between a clock signal and a data signal. It is an object to provide a method for reducing the skew between them.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明の半導体集積回路
は、クロック信号とデータ信号との間の第1の位相差を
低減する位相差低減回路と、前記クロック信号との間の
前記第1の位相差が低減された前記データ信号を受け取
る回路とを備えており、これにより、上記目的が達成さ
れる。
According to the present invention, there is provided a semiconductor integrated circuit comprising: a phase difference reducing circuit for reducing a first phase difference between a clock signal and a data signal; And a circuit for receiving the data signal in which the phase difference is reduced, whereby the above object is achieved.

【0013】前記位相差低減回路は、前記クロック信号
とダミーパターン信号との間の第2の位相差が低減され
るように第1の遅延量を決定する遅延量決定回路と、前
記第1の遅延量に従って、前記クロック信号および前記
データ信号の一方を遅延させる可変遅延回路とを備えて
いてもよい。
The phase difference reducing circuit includes: a delay amount determining circuit for determining a first delay amount so that a second phase difference between the clock signal and the dummy pattern signal is reduced; A variable delay circuit for delaying one of the clock signal and the data signal according to a delay amount may be provided.

【0014】前記遅延量決定回路は、前記クロック信号
と前記データ信号との間の前記第1の位相差が低減され
るように第2の遅延量をさらに決定し、前記可変遅延回
路は、前記第2の遅延量に従って、前記クロック信号お
よび前記データ信号の一方を遅延させてもよい。
The delay amount determining circuit further determines a second delay amount such that the first phase difference between the clock signal and the data signal is reduced. One of the clock signal and the data signal may be delayed according to a second delay amount.

【0015】前記ダミーパターン信号は、第1の論理レ
ベルから第2の論理レベルに少なくとも1回変動する信
号であってもよい。
[0015] The dummy pattern signal may be a signal that changes at least once from a first logic level to a second logic level.

【0016】前記データ信号は、データ線を介して前記
位相差低減回路に入力され、前記ダミーパターン信号
は、前記データ信号が前記位相差低減回路に入力される
前に前記データ線を介して前記位相差低減回路に入力さ
れてもよい。
The data signal is inputted to the phase difference reducing circuit via a data line, and the dummy pattern signal is outputted through the data line before the data signal is inputted to the phase difference reducing circuit. It may be input to a phase difference reduction circuit.

【0017】本発明のシステムは、第1半導体集積回路
と第2半導体集積回路とを備えたシステムであって、前
記第1半導体集積回路は、データ信号を前記第2半導体
集積回路に出力する出力回路を含み、前記第2半導体集
積回路は、前記第1半導体集積回路から出力された前記
データ信号を受け取り、クロック信号と前記データ信号
との間の第1の位相差を低減する位相差低減回路と、前
記クロック信号との間の前記第1の位相差が低減された
前記データ信号を受け取る回路とを含む。これにより、
上記目的が達成される。
A system according to the present invention includes a first semiconductor integrated circuit and a second semiconductor integrated circuit, wherein the first semiconductor integrated circuit outputs a data signal to the second semiconductor integrated circuit. And a second semiconductor integrated circuit that receives the data signal output from the first semiconductor integrated circuit and reduces a first phase difference between a clock signal and the data signal. And a circuit for receiving the data signal with the first phase difference between the clock signal and the clock signal reduced. This allows
The above object is achieved.

【0018】前記位相差低減回路は、前記クロック信号
とダミーパターン信号との間の第2の位相差が低減され
るように第1の遅延量を決定する遅延量決定回路と、前
記第1の遅延量に従って、前記クロック信号および前記
データ信号の一方を遅延させる可変遅延回路とを備えて
いてもよい。
The phase difference reducing circuit includes: a delay amount determining circuit for determining a first delay amount so that a second phase difference between the clock signal and the dummy pattern signal is reduced; A variable delay circuit for delaying one of the clock signal and the data signal according to a delay amount may be provided.

【0019】前記遅延量決定回路は、前記クロック信号
と前記データ信号との間の前記第1の位相差が低減され
るように第2の遅延量をさらに決定し、前記可変遅延回
路は、前記第2の遅延量に従って、前記クロック信号お
よび前記データ信号の一方を遅延させてもよい。
The delay amount determining circuit further determines a second delay amount such that the first phase difference between the clock signal and the data signal is reduced, and the variable delay circuit includes One of the clock signal and the data signal may be delayed according to a second delay amount.

【0020】前記ダミーパターン信号は、第1の論理レ
ベルから第2の論理レベルに少なくとも1回変動する信
号であってもよい。
[0020] The dummy pattern signal may be a signal that changes at least once from a first logic level to a second logic level.

【0021】前記第1半導体集積回路と前記第2半導体
集積回路とはデータ線を介して互いに接続されており、
前記データ信号は、前記データ線を介して前記第1半導
体集積回路から前記第2半導体集積回路に転送され、前
記ダミーパターン信号は、前記データ信号が前記第1半
導体集積回路から前記第2半導体集積回路に転送される
前に前記データ線を介して前記第1半導体集積回路から
前記第2半導体集積回路に転送されてもよい。
The first semiconductor integrated circuit and the second semiconductor integrated circuit are connected to each other via a data line,
The data signal is transferred from the first semiconductor integrated circuit to the second semiconductor integrated circuit via the data line, and the dummy pattern signal is obtained by converting the data signal from the first semiconductor integrated circuit to the second semiconductor integrated circuit. Before being transferred to the circuit, the data may be transferred from the first semiconductor integrated circuit to the second semiconductor integrated circuit via the data line.

【0022】本発明の方法は、クロック信号とデータ信
号との間のスキューを低減する方法であって、(a)ク
ロック信号とデータ信号との間の第1の位相差を低減す
るステップと、(b)前記クロック信号との間の前記第
1の位相差が低減された前記データ信号を受け取るステ
ップとを包含しており、これにより、上記目的が達成さ
れる。
The method of the present invention is a method for reducing skew between a clock signal and a data signal, comprising: (a) reducing a first phase difference between the clock signal and the data signal; (B) receiving the data signal in which the first phase difference between the clock signal and the clock signal is reduced, whereby the object is achieved.

【0023】前記ステップ(a)は、(a−1)前記ク
ロック信号とダミーパターン信号との間の第2の位相差
が低減されるように第1の遅延量を決定するステップ
と、(a−2)前記第1の遅延量に従って、前記クロッ
ク信号および前記データ信号の一方を遅延させるステッ
プとを包含してもよい。
The step (a) comprises: (a-1) determining a first delay amount such that a second phase difference between the clock signal and the dummy pattern signal is reduced; -2) delaying one of the clock signal and the data signal according to the first delay amount.

【0024】前記ステップ(a)は、(a−3)前記ク
ロック信号と前記データ信号との間の前記第1の位相差
が低減されるように第2の遅延量をさらに決定するステ
ップと、(a−4)前記第2の遅延量に従って、前記ク
ロック信号および前記データ信号の一方を遅延させるス
テップとをさらに包含してもよい。
The step (a) includes: (a-3) further determining a second delay amount such that the first phase difference between the clock signal and the data signal is reduced; (A-4) delaying one of the clock signal and the data signal according to the second delay amount.

【0025】前記ダミーパターン信号は、第1の論理レ
ベルから第2の論理レベルに少なくとも1回変動する信
号であってもよい。
[0025] The dummy pattern signal may be a signal that changes at least once from a first logic level to a second logic level.

【0026】本発明の他の方法は、データ線に接続され
た半導体集積回路において、クロック信号とデータ信号
との間のスキューを低減する方法であって、(a)第1
の期間において、前記データ線を介してダミーパターン
信号を受け取るステップと、(b)第2の期間におい
て、前記データ線を介して前記データ信号を受け取るス
テップと、(c)前記クロック信号と前記ダミーパター
ン信号との間の位相差に基づいて、前記クロック信号と
前記データ信号との間の位相差を低減するステップとを
包含しており、これにより、上記目的が達成される。
Another method of the present invention is a method for reducing a skew between a clock signal and a data signal in a semiconductor integrated circuit connected to a data line, wherein:
Receiving the dummy pattern signal via the data line during the period, (b) receiving the data signal via the data line during the second period, and (c) receiving the clock signal and the dummy signal. Reducing the phase difference between the clock signal and the data signal based on the phase difference between the pattern signal and the data signal, thereby achieving the above object.

【0027】[0027]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施の形態を説明する。 (実施の形態1)図1は、本発明の実施の形態1のシス
テム1の構成を示す。システム1は、クロック信号CL
Kを生成するクロック信号生成器10と、クロック信号
CLKに従って動作するスレーブ20と、クロック信号
CLKに従って動作し、データ信号Dataをスレーブ
20に出力するマスタ30とを含む。マスタ30および
スレーブ20のそれぞれは、半導体集積回路であり得
る。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. Embodiment 1 FIG. 1 shows the configuration of a system 1 according to Embodiment 1 of the present invention. The system 1 includes a clock signal CL
It includes a clock signal generator 10 that generates K, a slave 20 that operates according to the clock signal CLK, and a master 30 that operates according to the clock signal CLK and outputs the data signal Data to the slave 20. Each of master 30 and slave 20 may be a semiconductor integrated circuit.

【0028】本明細書では、異なる回路間を転送される
信号を総称して「データ信号Data」という。「デー
タ信号Data」は、マスタ30とスレーブ20との間
を転送される任意の信号を含む。
In this specification, signals transferred between different circuits are collectively referred to as "data signal Data". "Data signal Data" includes an arbitrary signal transferred between master 30 and slave 20.

【0029】クロック信号CLKは、クロック信号線1
0aを介してスレーブ20に供給される。データ信号D
ataは、データ信号線10bを介してスレーブ20に
供給される。このように、クロック信号CLKとデータ
信号Dataとは、異なる経路を経由してスレーブ20
に供給される。従って、クロック信号CLKとデータ信
号Dataの間には、スキュー(すなわち、クロック信
号CLKの位相とデータ信号Dataの位相との差分)
が生じ得る。また、電源電圧の変動や温度変動、プロセ
スのばらつきなどの原因によりスキューの値は不定であ
る。
The clock signal CLK is supplied to the clock signal line 1
0a is supplied to the slave 20. Data signal D
The data “ata” is supplied to the slave 20 via the data signal line 10b. As described above, the clock signal CLK and the data signal Data pass through different paths via the slave 20.
Supplied to Therefore, there is a skew between the clock signal CLK and the data signal Data (that is, the difference between the phase of the clock signal CLK and the phase of the data signal Data).
Can occur. Further, the value of the skew is indeterminate due to a power supply voltage fluctuation, a temperature fluctuation, a process fluctuation, and the like.

【0030】位相差低減回路22は、上述した原因によ
って生じるスキューを低減するためにスレーブ20に設
けられている。位相差低減回路22は、クロック信号C
LKとデータ信号Dataと間の位相差を低減する。位
相差低減回路22によってその位相差が低減されたデー
タ信号Dataは、データ信号Data’として内部回
路24に供給される。内部回路24は、データ信号Da
ta’を受け取り、データ信号Data’を処理する。
内部回路24は、データ信号Data’に対して処理を
行う任意の回路であり得る。
The phase difference reducing circuit 22 is provided in the slave 20 in order to reduce the skew caused by the above-described cause. The phase difference reducing circuit 22 outputs the clock signal C
The phase difference between LK and data signal Data is reduced. The data signal Data whose phase difference has been reduced by the phase difference reducing circuit 22 is supplied to the internal circuit 24 as a data signal Data '. The internal circuit 24 outputs the data signal Da
ta ′ and processes the data signal Data ′.
The internal circuit 24 can be any circuit that performs processing on the data signal Data '.

【0031】好ましくは、位相差低減回路22は、クロ
ック信号CLKとデータ信号Dataと間の位相差を実
質的にゼロにする。これにより、クロック信号CLKと
データ信号Dataとが供給される経路のいかんによら
ず、クロック信号CLKに同期したデータ信号Dat
a’を得ることができる。
Preferably, phase difference reducing circuit 22 makes the phase difference between clock signal CLK and data signal Data substantially zero. Thus, regardless of the path on which the clock signal CLK and the data signal Data are supplied, the data signal Dat synchronized with the clock signal CLK is provided.
a ′ can be obtained.

【0032】マスタ30は、ダミーパターン信号Dum
myおよびデータ信号Dataをデータ信号線10bに
選択的に出力する出力回路32を含む。出力回路32
は、イニシャライズ期間にはダミーパターン信号Dum
myをデータ信号線10bに出力し、動作・転送期間に
はデータ信号Dataをデータ信号線10bに出力す
る。なお、イニシャライズ期間は、動作・転送期間に先
だって設けられている。このようにして、イニシャライ
ズ期間には、データ信号線10bを介してダミーパター
ン信号Dummyがスレーブ20に入力され、動作・転
送期間には、データ信号線10bを介してデータ信号D
ataがスレーブ20に入力される。
The master 30 receives the dummy pattern signal Dum
and an output circuit 32 for selectively outputting my and data signal Data to data signal line 10b. Output circuit 32
Is a dummy pattern signal Dum during the initialization period.
My is output to the data signal line 10b, and during the operation / transfer period, the data signal Data is output to the data signal line 10b. Note that the initialization period is provided prior to the operation / transfer period. In this way, the dummy pattern signal Dummy is input to the slave 20 via the data signal line 10b during the initialization period, and the data signal Dummy via the data signal line 10b during the operation / transfer period.
data is input to the slave 20.

【0033】ここで、「ダミーパターン信号Dumm
y」とは、イニシャライズ期間において論理レベルが少
なくとも1回変動する信号をいう。すなわち、ダミーパ
ターン信号Dummyは、イニシャライズ期間において
HレベルからLレベルに変動し、または、Lレベルから
Hレベルに変動する。
Here, "Dummy pattern signal Dumm"
"y" refers to a signal whose logic level changes at least once during the initialization period. That is, the dummy pattern signal Dummy changes from the H level to the L level or from the L level to the H level during the initialization period.

【0034】ダミーパターン信号Dummyは、後述す
るように、クロック信号CLKとデータ信号Dataと
の間の位相差に相当する遅延量を決定するために使用さ
れる。その遅延量を決定するためには、ダミーパターン
信号Dummyは、イニシャライズ期間において少なく
とも1つのエッジ(立ち上がりエッジまたは立ち下がり
エッジ)を有していることが必要とされる。クロック信
号CLKのエッジとダミーパターン信号Dummyのエ
ッジとが一致するようにその遅延量を決定する必要があ
るからである。好ましくは、ダミーパターン信号Dum
myは、クロック信号CLKと同一の周期を有するクロ
ック信号である。
The dummy pattern signal Dummy is used to determine a delay amount corresponding to a phase difference between the clock signal CLK and the data signal Data, as described later. In order to determine the delay amount, the dummy pattern signal Dummy needs to have at least one edge (rising edge or falling edge) in the initialization period. This is because it is necessary to determine the delay amount so that the edge of the clock signal CLK matches the edge of the dummy pattern signal Dummy. Preferably, the dummy pattern signal Dum
my is a clock signal having the same cycle as the clock signal CLK.

【0035】図2は、出力回路32の構成を示す。FIG. 2 shows the configuration of the output circuit 32.

【0036】出力回路32は、ダミーパターン信号Du
mmyを生成するダミーパターン信号生成器32aと、
データ信号Dataを生成するデータ信号生成器32b
と、ダミーパターン信号生成器32aの出力とデータ信
号生成器32bの出力の一方を選択する選択器32cと
を含む。イニシャライズ期間には、選択器32cによっ
てダミーパターン信号生成器32aの出力が選択され
る。その結果、ダミーパターン信号Dummyがデータ
信号線10bに出力される。動作・転送期間には、選択
器32cによってデータ信号生成器32bの出力が選択
される。その結果、データ信号Dataがデータ信号線
10bに出力される。
The output circuit 32 outputs a dummy pattern signal Du.
a dummy pattern signal generator 32a for generating mmy;
Data signal generator 32b for generating data signal Data
And a selector 32c for selecting one of the output of the dummy pattern signal generator 32a and the output of the data signal generator 32b. During the initialization period, the output of the dummy pattern signal generator 32a is selected by the selector 32c. As a result, the dummy pattern signal Dummy is output to the data signal line 10b. During the operation / transfer period, the output of the data signal generator 32b is selected by the selector 32c. As a result, data signal Data is output to data signal line 10b.

【0037】選択器32cの切り換えは、イニシャライ
ズ期間を規定する制御信号Mode1または動作・転送
期間を規定する制御信号Mode2に従って行われる。
これらの制御信号は、出力回路32の内部で生成されて
もよいし、出力回路32の外部で生成されてもよい。
The switching of the selector 32c is performed according to a control signal Mode1 for defining an initialization period or a control signal Mode2 for defining an operation / transfer period.
These control signals may be generated inside the output circuit 32 or may be generated outside the output circuit 32.

【0038】なお、ダミーパターン信号Dummyとし
てクロック信号CLKと同一の周期を有するクロック信
号を使用する場合には、ダミーパターン信号生成器32
aは不要である。この場合には、クロック信号生成器1
0から供給されるクロック信号CLKを選択器32cに
入力するようにすればよい。
When a clock signal having the same cycle as the clock signal CLK is used as the dummy pattern signal Dummy, the dummy pattern signal generator 32
a is unnecessary. In this case, the clock signal generator 1
The clock signal CLK supplied from 0 may be input to the selector 32c.

【0039】図3は、位相差低減回路22の構成を示
す。
FIG. 3 shows the configuration of the phase difference reducing circuit 22.

【0040】位相差低減回路22は、クロック信号CL
Kとダミーパターン信号Dummyとの間の位相差が低
減されるように遅延量Dを決定する遅延量決定回路22
aと、遅延量Dを設定可能な可変遅延回路22bとを含
む。例えば、可変遅延回路22bが複数の遅延素子が直
列に接続された構成を有している場合には、遅延量Dに
応じて複数の遅延素子のうち信号が通過する遅延素子の
数を可変にすることにより、可変遅延回路22bに所望
の遅延量を設定することが可能である。
The phase difference reducing circuit 22 outputs the clock signal CL
Delay amount determining circuit 22 that determines delay amount D such that the phase difference between K and dummy pattern signal Dummy is reduced.
a and a variable delay circuit 22b capable of setting a delay amount D. For example, when the variable delay circuit 22b has a configuration in which a plurality of delay elements are connected in series, the number of delay elements through which a signal passes among the plurality of delay elements is variably set according to the delay amount D. By doing so, it is possible to set a desired delay amount in the variable delay circuit 22b.

【0041】イニシャライズ期間において、遅延量決定
回路22aは、遅延量Dを決定する。遅延量Dは、クロ
ック信号CLKとダミーパターン信号Dummyとの間
の位相差が低減されるように決定される。例えば、クロ
ック信号CLKのエッジとダミーパターン信号Dumm
yのエッジとを比較し、これらのエッジが一致するよう
に遅延量Dが決定される。遅延量決定回路22aによっ
て決定された遅延量Dは、可変遅延回路22bに設定さ
れる。
In the initialization period, the delay amount determining circuit 22a determines the delay amount D. The delay amount D is determined so that the phase difference between the clock signal CLK and the dummy pattern signal Dummy is reduced. For example, the edge of the clock signal CLK and the dummy pattern signal Dumm
The delay amount D is determined so that the edges are compared with the edges of y. The delay amount D determined by the delay amount determining circuit 22a is set in the variable delay circuit 22b.

【0042】動作・転送期間において、イニシャライズ
期間に可変遅延回路22bに設定された遅延量Dに従っ
て、データ信号Dataが遅延される。位相差低減回路
22は、遅延されたデータ信号Dataをデータ信号D
ata’として内部回路24に出力する。内部回路24
は、クロック信号CLKに従って動作する。例えば、内
部回路24は、クロック信号CLKのエッジに応答して
データ信号Data’を取り込む。このようにして、ク
ロック信号CLKとデータ信号Dataとの間の位相差
よりも、クロック信号CLKとデータ信号Data’と
の間の位相差を低減することができる。
In the operation / transfer period, the data signal Data is delayed according to the delay amount D set in the variable delay circuit 22b during the initialization period. The phase difference reducing circuit 22 converts the delayed data signal Data into the data signal D.
Output to the internal circuit 24 as “ata ′”. Internal circuit 24
Operate according to the clock signal CLK. For example, the internal circuit 24 takes in the data signal Data 'in response to the edge of the clock signal CLK. Thus, the phase difference between clock signal CLK and data signal Data 'can be reduced more than the phase difference between clock signal CLK and data signal Data.

【0043】なお、データ信号Dataの代わりに、遅
延量Dに従ってクロック信号CLKを遅延させることよ
っても同様の効果が得られる。この場合には、位相差低
減回路22は、データ信号Dataを内部回路24に出
力し、遅延されたクロック信号CLKをクロック信号C
LK’として内部回路24に出力する。内部回路24
は、クロック信号CLK’に従って動作する。例えば、
内部回路24は、クロック信号CLK’のエッジに応答
してデータ信号Dataを取り込む。このようにして、
クロック信号CLKとデータ信号Dataとの間の位相
差よりも、クロック信号CLK’とデータ信号Data
との間の位相差を低減することができる。遅延量Dに従
ってクロック信号CLKを遅延させる場合には、内部回
路24にクロック信号CLKを供給する必要はない。
The same effect can be obtained by delaying clock signal CLK according to delay amount D instead of data signal Data. In this case, the phase difference reducing circuit 22 outputs the data signal Data to the internal circuit 24, and outputs the delayed clock signal CLK to the clock signal C
LK 'is output to the internal circuit 24. Internal circuit 24
Operate according to the clock signal CLK ′. For example,
The internal circuit 24 takes in the data signal Data in response to the edge of the clock signal CLK '. In this way,
The clock signal CLK ′ and the data signal Data are more than the phase difference between the clock signal CLK and the data signal Data.
Can be reduced. When the clock signal CLK is delayed according to the delay amount D, it is not necessary to supply the clock signal CLK to the internal circuit 24.

【0044】このように、データ信号Dataをマスタ
30からスレーブ20に転送する前に、遅延量Dを可変
遅延回路22bに予め設定することにより、クロック信
号CLKとデータ信号Dataとの間の位相差を低減す
ることができる。ダミーパターン信号Dummyとデー
タ信号Dataとは同一のデータ信号線10bを介して
マスタ30からスレーブ20に転送されることから、ク
ロック信号CLKとデータ信号Dataとの間の位相差
と、クロック信号CLKとダミーパターン信号Dumm
yとの間の位相差とは実質的に等しいからである。
As described above, before the data signal Data is transferred from the master 30 to the slave 20, the delay amount D is previously set in the variable delay circuit 22b, so that the phase difference between the clock signal CLK and the data signal Data is increased. Can be reduced. Since the dummy pattern signal Dummy and the data signal Data are transferred from the master 30 to the slave 20 via the same data signal line 10b, the phase difference between the clock signal CLK and the data signal Data, and the clock signal CLK Dummy pattern signal Dumm
This is because the phase difference with y is substantially equal.

【0045】好ましくは、遅延量Dは、クロック信号C
LKとダミーパターン信号Dummyとの間の位相差が
実質的にゼロとなるように決定される。この場合には、
クロック信号CLKとデータ信号Dataとの間の位相
差を実質的にゼロにすることができる。
Preferably, the delay amount D is equal to the clock signal C
The phase difference between LK and the dummy pattern signal Dummy is determined to be substantially zero. In this case,
The phase difference between the clock signal CLK and the data signal Data can be made substantially zero.

【0046】なお、イニシャライズ期間において、クロ
ック信号CLKとダミーパターン信号Dummyとの間
の位相差を実質的にゼロにした場合でも、動作・転送期
間において、クロック信号CLKとデータ信号Data
との間の位相差が実質的にゼロとはならない場合があ
る。従って、クロック信号CLKとデータ信号Data
との間の位相差が低減されるように動作・転送期間中に
遅延量D’を決定し、動作・転送期間中に遅延量D’を
可変遅延回路22bに設定することが好ましい。遅延量
D’を決定するためには、データ信号Dataは、動作
・転送期間において少なくとも1つのエッジ(立ち上が
りエッジまたは立ち下がりエッジ)を有していることが
必要とされる。クロック信号CLKのエッジとデータ信
号Dataのエッジとが一致するように遅延量D’を決
定する必要があるからである。遅延量D’に従って遅延
されたデータ信号Dataは、データ信号Data’と
して位相差低減回路22から出力される。このようにし
て、クロック信号CLKとデータ信号Dataとの間の
位相差よりも、クロック信号CLKとデータ信号Dat
a’との間の位相差を低減することができる。なお、デ
ータ信号Dataの代わりに、遅延量D’に従ってクロ
ック信号CLKを遅延させることよっても同様の効果が
得られる。
It should be noted that even if the phase difference between the clock signal CLK and the dummy pattern signal Dummy is made substantially zero during the initialization period, the clock signal CLK and the data signal Data are not generated during the operation / transfer period.
May not be substantially zero. Therefore, the clock signal CLK and the data signal Data
It is preferable to determine the delay amount D ′ during the operation / transfer period so as to reduce the phase difference between the variable delay circuit 22b and the delay amount D ′ during the operation / transfer period. In order to determine the delay amount D ′, the data signal Data needs to have at least one edge (rising edge or falling edge) in the operation / transfer period. This is because it is necessary to determine the delay amount D ′ such that the edge of the clock signal CLK matches the edge of the data signal Data. The data signal Data delayed according to the delay amount D ′ is output from the phase difference reduction circuit 22 as the data signal Data ′. In this manner, the clock signal CLK and the data signal Dat are compared with the phase difference between the clock signal CLK and the data signal Data.
a ′ can be reduced. Note that a similar effect can be obtained by delaying the clock signal CLK according to the delay amount D 'instead of the data signal Data.

【0047】図4Aは、イニシャライズ期間において、
クロック信号CLKとダミーパターン信号Dummyと
が同期する様子を示す。この例では、ダミーパターン信
号Dummyは、クロック信号CLKと同一の周期を有
するクロック信号である。イニシャライズ期間の最初の
サイクルでは、クロック信号CLKの立ち上がりエッジ
とダミーパターン信号Dummyの立ち上がりエッジと
は一致していない。イニシャライズ期間のその後の数サ
イクルでは、クロック信号CLKの立ち上がりエッジと
ダミーパターン信号Dummyの立ち上がりエッジとが
徐々に一致していることが分かる。
FIG. 4A shows that during the initialization period,
FIG. 7 shows a state in which the clock signal CLK and the dummy pattern signal Dummy are synchronized. In this example, the dummy pattern signal Dummy is a clock signal having the same cycle as the clock signal CLK. In the first cycle of the initialization period, the rising edge of the clock signal CLK does not coincide with the rising edge of the dummy pattern signal Dummy. In several cycles after the initialization period, it can be seen that the rising edge of the clock signal CLK and the rising edge of the dummy pattern signal Dummy gradually match.

【0048】なお、クロック信号CLKとダミーパター
ン信号Dummyとを同期させるために使用されるエッ
ジは、立ち上がりエッジには限定されない。クロック信
号CLKとダミーパターン信号Dummyとを同期させ
るために、立ち下がりエッジを使用してもよい。あるい
は、立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジの両方を
使用してもよい。
The edge used to synchronize the clock signal CLK with the dummy pattern signal Dummy is not limited to the rising edge. A falling edge may be used to synchronize the clock signal CLK with the dummy pattern signal Dummy. Alternatively, both rising and falling edges may be used.

【0049】図4Bは、動作・転送期間において、クロ
ック信号CLKとデータ信号Dataとが同期する様子
を示す。クロック信号CLKとデータ信号Dataとの
間の位相差αが検出された場合、その位相差αが検出さ
れたサイクルの次のサイクルにおいてその位相差αが調
整される。
FIG. 4B shows how the clock signal CLK and the data signal Data are synchronized during the operation / transfer period. When the phase difference α between the clock signal CLK and the data signal Data is detected, the phase difference α is adjusted in a cycle next to the cycle in which the phase difference α is detected.

【0050】本発明によれば、クロック信号の転送経路
とデータ信号の転送経路とが近接して配置されていない
場合でも、クロック信号とデータ信号との位相ずれを最
小化することができる。また、本発明によれば、クロッ
ク信号の転送経路とデータ信号の転送経路とを近接して
配置するという従来の方法では対処できなかった電源変
動や温度変動による位相ずれに対しても対処することが
できる。
According to the present invention, the phase shift between the clock signal and the data signal can be minimized even when the transfer path for the clock signal and the transfer path for the data signal are not arranged close to each other. Further, according to the present invention, it is possible to cope with a phase shift due to power supply fluctuation or temperature fluctuation which cannot be dealt with by the conventional method of arranging the transfer path of the clock signal and the transfer path of the data signal in close proximity. Can be.

【0051】なお、本発明においても、クロック信号の
転送経路とデータ信号の転送経路とは近接して配置され
ていることが好ましい。転送経路の長さの違いに基づく
位相ずれを最小化するためである。
In the present invention, it is preferable that the clock signal transfer path and the data signal transfer path are arranged close to each other. This is to minimize the phase shift based on the difference in the length of the transfer path.

【0052】以下、本発明をメモリシステムに適用した
例を説明する。
Hereinafter, an example in which the present invention is applied to a memory system will be described.

【0053】図5Aは、メモリシステム100の構成を
示す。メモリシステム100は、クロック信号CLKを
生成するクロック信号生成器110と、クロック信号C
LKに従って動作するメモリ120と、クロック信号C
LKに従って動作するメモリコントローラ130と、ク
ロック信号CLKに従って動作するプロセッサ140と
を含む。クロック信号生成器110とメモリ120とメ
モリコントローラ130とプロセッサ140とは単一の
半導体チップ上に形成され得る。あるいは、それらは、
異なる半導体チップ上に形成されてもよい。
FIG. 5A shows the configuration of the memory system 100. The memory system 100 includes a clock signal generator 110 that generates a clock signal CLK, and a clock signal C.
LK, and a clock signal C
It includes a memory controller 130 that operates according to LK and a processor 140 that operates according to a clock signal CLK. The clock signal generator 110, the memory 120, the memory controller 130, and the processor 140 can be formed on a single semiconductor chip. Alternatively, they
They may be formed on different semiconductor chips.

【0054】プロセッサ140は、ダミーパターン信号
Dummyとデータ信号Dataとを選択的にデータ信
号線110bに出力する出力回路142と、メモリ12
0から出力される出力信号Outをデータ信号線110
dから受け取り、クロック信号CLKと出力信号Out
との同期をとる同期回路144とを含む。出力回路14
2および同期回路144のそれぞれは、クロック信号C
LKに従って動作する。
The processor 140 comprises: an output circuit 142 for selectively outputting the dummy pattern signal Dummy and the data signal Data to the data signal line 110b;
0 is output from the data signal line 110.
d, the clock signal CLK and the output signal Out
And a synchronizing circuit 144 for synchronizing with. Output circuit 14
2 and the synchronization circuit 144 are connected to the clock signal C
It operates according to LK.

【0055】ここで、データ信号Dataは、制御信
号、アドレス信号、メモリ120に書き込まれるべきデ
ータを示す信号を含む。制御信号は、例えば、RAS、
CAS、リード/ライト制御信号などである。
Here, the data signal Data includes a control signal, an address signal, and a signal indicating data to be written to the memory 120. The control signal is, for example, RAS,
CAS, read / write control signal, and the like.

【0056】ダミーパターン信号Dummyとデータ信
号Dataとは、メモリコントローラ130を経由して
メモリ120に転送される。出力信号Outは、メモリ
コントローラ130を経由してプロセッサ140に転送
される。
The dummy pattern signal Dummy and the data signal Data are transferred to the memory 120 via the memory controller 130. The output signal Out is transferred to the processor 140 via the memory controller 130.

【0057】メモリ120は、クロック信号CLKとデ
ータ信号Dataとの同期をとる同期回路122と、メ
モリコア124と、ダミーパターン信号Dummyと出
力信号Outとを選択的にデータ信号線110dに出力
する出力回路126を含む。同期回路122および出力
回路126には、クロック信号CLKが供給される。
The memory 120 includes a synchronization circuit 122 for synchronizing the clock signal CLK and the data signal Data, a memory core 124, and an output for selectively outputting the dummy pattern signal Dummy and the output signal Out to the data signal line 110d. Circuit 126 is included. The clock signal CLK is supplied to the synchronization circuit 122 and the output circuit 126.

【0058】メモリコア124は、複数のメモリセル
(図示せず)とメモリセルにアクセスするための周辺回
路(図示せず)とを含む。周辺回路には、例えば、デー
タラッチ、アドレスラッチ、デコーダ、センスアンプな
どが含まれる。メモリコア124は、典型的には、クロ
ック信号CLKに同期して動作する同期型のメモリ(例
えば、SDRAM)である。しかし、メモリコア124
は、そのような同期型のメモリに限定されない。メモリ
コア124は、クロック信号CLKに同期しないタイプ
のメモリであってもよい。この場合には、メモリコア1
24に供給されるクロック信号CLKは不要となる。
Memory core 124 includes a plurality of memory cells (not shown) and a peripheral circuit (not shown) for accessing the memory cells. The peripheral circuit includes, for example, a data latch, an address latch, a decoder, a sense amplifier, and the like. The memory core 124 is typically a synchronous memory (for example, SDRAM) that operates in synchronization with the clock signal CLK. However, the memory core 124
Is not limited to such a synchronous memory. The memory core 124 may be a type of memory that is not synchronized with the clock signal CLK. In this case, the memory core 1
The clock signal CLK supplied to 24 becomes unnecessary.

【0059】クロック信号CLKは、クロック信号線1
10aを介してメモリ120に供給される。データ信号
Dataは、データ信号線110bを介してメモリ12
0に供給される。このように、クロック信号CLKとデ
ータ信号Dataとは、異なる経路を経由してメモリ1
20に供給される。メモリ120の同期回路122は、
クロック信号CLKとデータ信号Dataとの間に生じ
得るスキューを低減するために設けられている。すなわ
ち、同期回路122は、図1に示される位相差低減回路
22と同一の機能を有している。
The clock signal CLK is applied to the clock signal line 1
It is supplied to the memory 120 via 10a. The data signal Data is transmitted to the memory 12 via the data signal line 110b.
0 is supplied. As described above, the clock signal CLK and the data signal Data are transferred to the memory 1 via different paths.
20. The synchronization circuit 122 of the memory 120
It is provided to reduce a skew that can occur between the clock signal CLK and the data signal Data. That is, the synchronization circuit 122 has the same function as the phase difference reduction circuit 22 shown in FIG.

【0060】クロック信号CLKは、クロック信号線1
10cを介してプロセッサ140に供給される。出力信
号Outは、データ信号線110dを介してプロセッサ
140に供給される。このように、クロック信号CLK
と出力信号Outとは、異なる経路を経由してプロセッ
サ140に供給される。プロセッサ140の同期回路1
44は、クロック信号CLKと出力信号Outとの間に
生じ得るスキューを低減するために設けられている。す
なわち、同期回路144は、図1に示される位相差低減
回路22と同一の機能を有している。
The clock signal CLK is applied to the clock signal line 1
It is supplied to the processor 140 via 10c. The output signal Out is supplied to the processor 140 via the data signal line 110d. Thus, the clock signal CLK
And the output signal Out are supplied to the processor 140 via different paths. Synchronous circuit 1 of processor 140
Reference numeral 44 is provided to reduce a skew that may occur between the clock signal CLK and the output signal Out. That is, the synchronization circuit 144 has the same function as the phase difference reduction circuit 22 shown in FIG.

【0061】図6は、同期回路122の構成を示す。同
期回路144も同様の構成を有している。
FIG. 6 shows the configuration of the synchronization circuit 122. The synchronization circuit 144 has a similar configuration.

【0062】図6に示される例では、データ信号Dat
aは、4ビットのデータ信号と2ビットの制御信号とを
含む6ビットのデータである。4ビットのデータ信号
は、1ビットの信号Data(0)、Data(1)、
Data(2)、Data(3)を含む。2ビットの制
御信号は、1ビットの信号Cont(0)、Cont
(1)を含む。2ビットの制御信号は、例えば、リード
/ライト制御信号やチップイネーブル信号である。な
お、データ信号のビット数および制御信号のビット数が
図6に示される例に限定されないことはいうまでもな
い。
In the example shown in FIG. 6, the data signal Dat
“a” is 6-bit data including a 4-bit data signal and a 2-bit control signal. The 4-bit data signal includes 1-bit signals Data (0), Data (1),
Data (2) and Data (3) are included. The 2-bit control signal is a 1-bit signal Cont (0), Cont (0)
(1) is included. The 2-bit control signal is, for example, a read / write control signal or a chip enable signal. It is needless to say that the number of bits of the data signal and the number of bits of the control signal are not limited to the example shown in FIG.

【0063】同期回路122は、各1ビットの信号ごと
にクロック信号CLKとの同期をとることができるよう
に、データ信号Dataのビット数と同数の同期回路1
22a〜122fを含む。
The synchronization circuit 122 has the same number of synchronization circuits 1 as the number of bits of the data signal Data so that each one-bit signal can be synchronized with the clock signal CLK.
22a to 122f.

【0064】同期回路122aには、1ビットのデータ
信号Data(0)とクロック信号CLKが入力され
る。同期回路122aは、データ信号Data(0)の
位相とクロック信号CLKの位相とを比較し、それらの
位相の差が実質的にゼロとなるようにデータ信号Dat
a(0)の遅延量を決定する。これにより、データ信号
Data(0)のエッジとクロック信号CLKのエッジ
とを一致させることが可能になる。
The synchronization circuit 122a receives a 1-bit data signal Data (0) and a clock signal CLK. Synchronizing circuit 122a compares the phase of data signal Data (0) with the phase of clock signal CLK, and outputs data signal Data (Data) such that the difference between the phases becomes substantially zero.
The delay amount of a (0) is determined. This makes it possible to match the edge of data signal Data (0) with the edge of clock signal CLK.

【0065】同期回路122b〜122fは、同期回路
122aと同一の構成を有している。
The synchronization circuits 122b to 122f have the same configuration as the synchronization circuit 122a.

【0066】また、同期回路122a〜122fは、そ
れぞれ、入出力線123に接続されている。入出力線1
23は、同期回路122a〜122fの1つにおいて信
号のレベルが遷移した場合にその信号レベルの遷移に応
答して決定される遅延量を他の同期回路に伝達するため
に使用される。例えば、データ信号Data(0)のレ
ベルが遷移した(すなわち、データ信号Data(0)
がLレベルからHレベルに変化した、または、Hレベル
からLレベルに変化した)と仮定する。この場合、デー
タ信号Data(0)のエッジとクロック信号CLKの
エッジとが一致するように遅延量が決定される。このよ
うに決定された遅延量が他の同期回路122b〜122
fに伝達される。
The synchronization circuits 122a to 122f are connected to the input / output line 123, respectively. I / O line 1
Reference numeral 23 is used for transmitting a delay amount determined in response to a transition of a signal level in one of the synchronization circuits 122a to 122f to another synchronization circuit. For example, the level of the data signal Data (0) changes (that is, the data signal Data (0)
Has changed from the L level to the H level, or from the H level to the L level). In this case, the amount of delay is determined such that the edge of data signal Data (0) matches the edge of clock signal CLK. The delay amount determined in this way is used for the other synchronization circuits 122b to 122b.
f.

【0067】このようにして、レベルが遷移していない
データ信号とクロック信号CLKとの同期をとることが
可能になる。このような動作は、動作・転送期間におけ
る同期回路122の同期動作として特に有効である。な
ぜなら、ダミーパターン信号Dummyとして使用され
得るクロック信号とは異なり、データ信号Dataは、
所定の期間内にそのレベルが遷移するとは限らないから
である。
In this way, it becomes possible to synchronize the data signal whose level has not transitioned with the clock signal CLK. Such an operation is particularly effective as a synchronous operation of the synchronous circuit 122 during the operation / transfer period. This is because, unlike a clock signal that can be used as the dummy pattern signal Dummy, the data signal Data is
This is because the level does not always change within a predetermined period.

【0068】以下、図5Aを再び参照して、メモリ12
0にデータを書き込む場合のメモリシステム100の動
作を説明する。
In the following, referring again to FIG.
The operation of the memory system 100 when writing data to 0 will be described.

【0069】プロセッサ140は、制御信号、アドレス
信号、メモリ120に書き込まれるべきデータを示す信
号をメモリコントローラ130に出力する。制御信号
は、例えば、RAS、CAS、リード/ライト制御信号
などである。
Processor 140 outputs a control signal, an address signal, and a signal indicating data to be written to memory 120 to memory controller 130. The control signal is, for example, RAS, CAS, a read / write control signal, or the like.

【0070】メモリコントローラ130は、アドレス信
号をプロセッサ140から受け取り、そのアドレス信号
を変換する。変換されたアドレス信号は、メモリ120
に出力される。また、メモリコントローラ130は、制
御信号とメモリ120に書き込まれるべきデータを示す
信号とをプロセッサ140から受け取り、これらの受け
取った信号を変換することなくメモリ120に出力す
る。
Memory controller 130 receives an address signal from processor 140 and converts the address signal. The converted address signal is stored in the memory 120
Is output to Further, the memory controller 130 receives a control signal and a signal indicating data to be written in the memory 120 from the processor 140, and outputs the received signal to the memory 120 without conversion.

【0071】イニシャライズ期間において、プロセッサ
140の出力回路142は、ダミーパターン信号Dum
myをデータ信号線110bに出力する。ダミーパター
ン信号Dummyは、メモリコントローラ130を経由
してメモリ120に転送される。ダミーパターン信号D
ummyは、例えば、クロック信号CLKと同一の周期
を有するパルス信号である。メモリ120の同期回路1
22は、クロック信号CLKのエッジとダミーパターン
信号Dummyのエッジを検出し、それらのエッジが一
致するように遅延量を設定する。
During the initialization period, the output circuit 142 of the processor 140 outputs the dummy pattern signal Dum
my is output to the data signal line 110b. The dummy pattern signal Dummy is transferred to the memory 120 via the memory controller 130. Dummy pattern signal D
ummy is, for example, a pulse signal having the same cycle as the clock signal CLK. Synchronous circuit 1 of memory 120
Reference numeral 22 detects the edge of the clock signal CLK and the edge of the dummy pattern signal Dummy, and sets the amount of delay so that the edges match.

【0072】動作・転送期間において、プロセッサ14
0の出力回路142は、データ信号Dataをデータ信
号線110bに出力する。「データ信号Data」は、
制御信号、アドレス信号、メモリ120に書き込まれる
べきデータを示す信号を含む。データ信号Dataは、
メモリコントローラ130を経由してメモリ120に転
送される。
In the operation / transfer period, the processor 14
The 0 output circuit 142 outputs the data signal Data to the data signal line 110b. "Data signal Data"
A control signal, an address signal, and a signal indicating data to be written to the memory 120 are included. The data signal Data is
The data is transferred to the memory 120 via the memory controller 130.

【0073】動作・転送期間において、メモリ120の
動作により電源変動や温度変動が生じ得る。これらの変
動に伴い、イニシャライズ期間に設定された遅延量では
クロック信号CLKとデータ信号Dataとが同期しな
いケースが生じ得る。メモリ120の同期回路122
は、クロック信号CLKのエッジとデータ信号Data
のエッジを検出し、それらのエッジが一致するように遅
延量を再設定する。これにより、クロック信号CLKに
同期したデータ信号Data’が得られる。データ信号
Data’は、メモリコア124に出力される。このよ
うにして、クロック信号CLKに同期したデータ信号D
ata’がメモリ120に書き込まれる。
In the operation / transfer period, power supply fluctuations and temperature fluctuations may occur due to the operation of the memory 120. Along with these fluctuations, a case may occur in which the clock signal CLK and the data signal Data are not synchronized with the delay amount set during the initialization period. Synchronous circuit 122 of memory 120
Is the edge of the clock signal CLK and the data signal Data
Are detected, and the delay amount is reset so that those edges match. As a result, a data signal Data 'synchronized with the clock signal CLK is obtained. Data signal Data 'is output to memory core 124. Thus, data signal D synchronized with clock signal CLK
data 'is written to the memory 120.

【0074】イニシャライズ期間のみならず、動作・転
送期間においても、同期回路122が同期動作を行うこ
とにより、メモリシステム100の全体の精度を確保す
ることができる。しかし、動作・転送期間中に、同期回
路122が同期動作を行うことは必須ではない。イニシ
ャライズ期間における同期回路122の同期動作によ
り、メモリシステム100の全体の精度が十分に確保で
きる場合には、動作・転送期間における同期動作122
の同期動作を省いてもよい。
The synchronous circuit 122 performs a synchronous operation not only during the initialization period but also during the operation and transfer periods, so that the overall accuracy of the memory system 100 can be ensured. However, it is not essential that the synchronizing circuit 122 performs the synchronizing operation during the operation / transfer period. If the overall accuracy of the memory system 100 can be sufficiently ensured by the synchronous operation of the synchronous circuit 122 during the initialization period, the synchronous operation 122 during the operation / transfer period
May be omitted.

【0075】次に、メモリ120からデータを読み出す
場合のメモリシステム100の動作を説明する。
Next, the operation of the memory system 100 when reading data from the memory 120 will be described.

【0076】出力回路126および同期回路144の動
作は、出力回路142および同期回路122の動作と同
一である。クロック信号CLKのエッジと出力信号Ou
tのエッジとが一致するように遅延量が同期回路144
に設定される。
The operation of output circuit 126 and synchronization circuit 144 is the same as the operation of output circuit 142 and synchronization circuit 122. Edge of clock signal CLK and output signal Ou
The amount of delay is adjusted by the synchronous circuit 144 so that the edge of t
Is set to

【0077】なお、出力回路142から同期回路122
に至るデータ信号線110bの長さと、出力回路126
から同期回路144に至るデータ信号線110dの長さ
とが実質的に等しい場合には、同期回路144において
遅延量を求めることなく、同期回路122に設定される
遅延量と同じ遅延量を同期回路144に設定するように
してもよい。データ信号線110bの長さとデータ信号
線110dの長さとが実質的に等しい場合には、クロッ
ク信号CLKとデータ信号Dataとのスキューとクロ
ック信号CLKと出力信号Outとのスキューとが実質
的に等しいと考えられるからである。これにより、同期
回路144の構成を簡素化することができる。
It should be noted that the output circuit 142 is connected to the synchronous circuit 122
And the length of the data signal line 110b reaching the output circuit 126
When the length of the data signal line 110d from the data line 110 to the synchronization circuit 144 is substantially equal, the delay amount equal to the delay amount set in the synchronization circuit 122 is set to the synchronization circuit 144 without calculating the delay amount in the synchronization circuit 144. May be set. When the length of the data signal line 110b is substantially equal to the length of the data signal line 110d, the skew between the clock signal CLK and the data signal Data is substantially equal to the skew between the clock signal CLK and the output signal Out. It is considered that. Thus, the configuration of the synchronization circuit 144 can be simplified.

【0078】図5Bは、データ信号Dataを遅延させ
る代わりに、クロック信号CLKを遅延させることによ
り、データ信号Dataとクロック信号CLKとの同期
をとるシステム100aの構成を示す。図5Bにおい
て、図5Aに示される構成要素と同一の構成要素には同
一の参照番号を付し、その説明を省略する。
FIG. 5B shows a configuration of a system 100a that synchronizes the data signal Data and the clock signal CLK by delaying the clock signal CLK instead of delaying the data signal Data. 5B, the same components as those shown in FIG. 5A are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.

【0079】メモリ120aは、同期回路122aと、
メモリコア124と、出力回路126とを含む。
The memory 120a includes a synchronization circuit 122a,
It includes a memory core 124 and an output circuit 126.

【0080】同期回路122aは、クロック信号CLK
を遅延させることにより、データ信号Dataとクロッ
ク信号CLKとの同期をとる。同期回路122aは、デ
ータ信号Dataをメモリコア124に出力し、遅延さ
れたクロック信号CLKをクロック信号CLK’として
メモリコア124に出力する。メモリコア124は、ク
ロック信号CLK’に同期してデータ信号Dataを受
け取る。出力回路126には、クロック信号CLK’が
供給される。
Synchronous circuit 122a receives clock signal CLK
To synchronize the data signal Data with the clock signal CLK. The synchronization circuit 122a outputs the data signal Data to the memory core 124, and outputs the delayed clock signal CLK to the memory core 124 as the clock signal CLK '. Memory core 124 receives data signal Data in synchronization with clock signal CLK ′. The output circuit 126 is supplied with the clock signal CLK ′.

【0081】図7は、同期回路122aの構成を示す。
同期回路122aは、クロック信号CLKとデータ信号
Dataとの同期をとる同期回路125a〜125f
と、ラッチ回路127a〜127fと、保持回路125
gとを含む。
FIG. 7 shows the structure of the synchronization circuit 122a.
The synchronization circuit 122a synchronizes the clock signal CLK with the data signal Data.
, Latch circuits 127 a to 127 f, and holding circuit 125
g.

【0082】保持回路125gは、同期回路125a〜
125fの1つにおいて信号のレベルが遷移した場合に
その信号の遷移に応答して決定される遅延量をすべての
同期回路に伝達するために使用される。保持回路125
gは、制御信号Mode2に従って活性化される。
The holding circuit 125g includes synchronization circuits 125a to 125g.
In the case where the signal level transitions at one of the 125f, the delay amount determined in response to the signal transition is transmitted to all synchronous circuits. Holding circuit 125
g is activated according to the control signal Mode2.

【0083】図8は、同期回路125aの構成を示す。
同期回路125b〜125fは、同期回路125aと同
一の構成を有している。
FIG. 8 shows the structure of the synchronization circuit 125a.
The synchronization circuits 125b to 125f have the same configuration as the synchronization circuit 125a.

【0084】同期回路125aは、クロック信号CLK
とデータ信号Dataとの間の位相差が低減するように
遅延量を決定する遅延量決定回路1260と、その遅延
量に従ってクロック信号CLKを遅延させる可変遅延回
路1250とを含む。同期回路125aは、制御信号M
ode1、Mode2に従って活性化される。
Synchronous circuit 125a receives clock signal CLK
A delay amount determining circuit 1260 for determining a delay amount so as to reduce a phase difference between the data signal Data and the data signal Data, and a variable delay circuit 1250 for delaying the clock signal CLK according to the delay amount. The synchronization circuit 125a outputs the control signal M
It is activated according to mode1 and mode2.

【0085】可変遅延回路1250は、遅延素子125
2−1〜1252−nと、AND素子1254−1〜1
254−nと、保持回路1256とを含む。ここで、n
は任意の整数である。
The variable delay circuit 1250 includes a delay element 125
2-1 to 1252-n, AND elements 1254-1 to 125-1
254-n and a holding circuit 1256. Where n
Is any integer.

【0086】保持回路1256は、保持回路1256に
入力される制御信号CTRL(1)〜CTRL(n)の
レベルを保持する。制御信号CTRL(1)〜CTRL
(n)のうちいずれか1つのみがHレベルに設定され
る。例えば、制御信号CTRL(1)のレベルがHレベ
ルであり、制御信号CTRL(2)〜CTRL(n)の
レベルがLレベルであると仮定する。この場合、クロッ
ク信号CLKは、AND素子1254−1を経由して、
遅延素子1252−1〜1252−nを通過する。制御
信号CTRL(1)〜CTRL(n)を用いて、クロッ
ク信号CLKが通過する遅延素子の段数を制御すること
ができる。これにより、クロック信号CLKの遅延量を
調整することができる。可変遅延回路1250によって
遅延されたクロック信号CLKは、クロック信号CL
K’(0)として可変遅延回路1250から出力され
る。
The holding circuit 1256 holds the levels of the control signals CTRL (1) to CTRL (n) input to the holding circuit 1256. Control signals CTRL (1) to CTRL
Only one of (n) is set to the H level. For example, assume that the level of control signal CTRL (1) is H level and the levels of control signals CTRL (2) to CTRL (n) are L level. In this case, the clock signal CLK passes through the AND element 1254-1,
Pass through the delay elements 1252-1 to 1252-n. The number of delay elements through which the clock signal CLK passes can be controlled using the control signals CTRL (1) to CTRL (n). Thereby, the delay amount of the clock signal CLK can be adjusted. The clock signal CLK delayed by the variable delay circuit 1250 is
It is output from the variable delay circuit 1250 as K ′ (0).

【0087】遅延量決定回路1260には、制御信号M
ode1、Mode2が入力されている。制御信号Mo
de1は、イニシャライズ期間を規定する。例えば、制
御信号Mode1のレベルがHレベルである期間がイニ
シャライズ期間である。制御信号Mode2は、動作・
転送期間を規定する。例えば、制御信号Mode2のレ
ベルがHレベルである期間が動作・転送期間である。こ
れらの制御信号は、プロセッサ140からメモリコント
ローラ130を経由して供給される。
The control signal M is supplied to the delay amount determination circuit 1260.
mode1 and Mode2 are input. Control signal Mo
de1 defines an initialization period. For example, a period in which the level of the control signal Mode1 is at the H level is an initialization period. The control signal Mode2 operates and
Specifies the transfer period. For example, a period in which the level of the control signal Mode2 is at the H level is an operation / transfer period. These control signals are supplied from the processor 140 via the memory controller 130.

【0088】遅延量決定回路1260は、位相比較器1
262と、アップダウンカウンタ1264と、位相比較
器1266とを含む。
The delay amount determining circuit 1260 includes the phase comparator 1
262, an up / down counter 1264, and a phase comparator 1266.

【0089】位相比較器1262は、制御信号Mode
1によってイニシャライズ期間において活性化される。
位相比較器1262は、クロック信号CLK’(0)の
位相とデータ信号Dataの位相とを比較する。データ
信号Dataの位相がクロック信号CLK’(0)より
進んでいる場合には、位相比較器1262は、アップ信
号up1をアップダウンカウンタ1264に出力する。
データ信号Dataの位相がクロック信号CLK’
(0)より遅れている場合には、位相比較器1262
は、ダウン信号down1をアップダウンカウンタ12
64に出力する。
The phase comparator 1262 outputs the control signal Mode
1 is activated during the initialization period.
The phase comparator 1262 compares the phase of the clock signal CLK ′ (0) with the phase of the data signal Data. When the phase of data signal Data is ahead of clock signal CLK ′ (0), phase comparator 1262 outputs up signal up1 to up / down counter 1264.
The phase of the data signal Data is the clock signal CLK '.
If it is later than (0), the phase comparator 1262
Transmits the down signal down1 to the up / down counter 12
64.

【0090】アップダウンカウンタ1264は、アップ
信号up1に応答してクロック信号CLKの遅延量が小
さくなるようにアップダウンカウンタ1264の出力を
シフトする。例えば、アップダウンカウンタ1264
は、アップ信号up1に応答して、「CTRL(1)=
H」を「CTRL(2)=H」にシフトする。また、ア
ップダウンカウンタ1264は、ダウン信号down1
に応答してクロック信号CLKの遅延量が大きくなるよ
うにアップダウンカウンタ1264の出力をシフトす
る。例えば、アップダウンカウンタ1264は、ダウン
信号down1に応答して、「CTRL(2)=H」を
「CTRL(1)=H」にシフトする。
Up / down counter 1264 shifts the output of up / down counter 1264 in response to up signal up1 such that the delay amount of clock signal CLK is reduced. For example, an up-down counter 1264
Responds to the up signal up1 by “CTRL (1) =
H ”is shifted to“ CTRL (2) = H ”. The up / down counter 1264 outputs a down signal down1
, The output of the up / down counter 1264 is shifted so that the delay amount of the clock signal CLK increases. For example, the up / down counter 1264 shifts “CTRL (2) = H” to “CTRL (1) = H” in response to the down signal down1.

【0091】位相比較器1266は、制御信号Mode
2によって動作・転送期間において活性化される。位相
比較器1266は、クロック信号CLK’(0)の位相
とデータ信号Dataの位相とを比較する。データ信号
Dataの位相がクロック信号CLK’(0)より進ん
でいる場合には、位相比較器1266は、アップ信号u
p2を保持回路125gに出力する。データ信号Dat
aの位相がクロック信号CLK’(0)より遅れている
場合には、位相比較器1266は、ダウン信号down
2を保持回路125gに出力する。
The phase comparator 1266 outputs the control signal Mode
2 is activated in the operation / transfer period. Phase comparator 1266 compares the phase of clock signal CLK ′ (0) with the phase of data signal Data. When the phase of data signal Data is ahead of clock signal CLK '(0), phase comparator 1266 outputs up signal u.
p2 is output to the holding circuit 125g. Data signal Dat
If the phase of “a” is behind the clock signal CLK ′ (0), the phase comparator 1266 outputs the down signal down.
2 is output to the holding circuit 125g.

【0092】保持回路125gは、アップ信号up2ま
たはダウン信号down2に応答して、同期回路125
a〜125fのそれぞれにアップ信号up3またはダウ
ン信号down3を出力する。これにより、同期回路1
25a〜125fを同時に制御することが可能になる。
The holding circuit 125g responds to the up signal up2 or the down signal down2, and
An up signal up3 or a down signal down3 is output to each of a to 125f. Thereby, the synchronization circuit 1
25a to 125f can be controlled simultaneously.

【0093】このようにして、同期回路125aは、デ
ータ信号Dataに同期したクロック信号CLK’
(0)を出力する。ラッチ回路127aは、クロック信
号CLK’(0)のエッジに応答してデータ信号Dat
aをラッチする。クロック信号CLK’(0)と、ラッ
チ回路127aから出力されるデータ信号Data
(0)とがメモリコア124に出力される。
As described above, the synchronization circuit 125a outputs the clock signal CLK 'synchronized with the data signal Data.
(0) is output. The latch circuit 127a responds to the edge of the clock signal CLK '(0) to respond to the data signal Dat.
Latch a. Clock signal CLK '(0) and data signal Data output from latch circuit 127a
(0) is output to the memory core 124.

【0094】同様にして、クロック信号CLK’(1)
〜CLK’(5)と、データ信号Data(1)〜Da
ta(3)、制御信号Cont(0)〜Cont(1)
とがメモリコア124に出力される。メモリコア124
は、クロック信号CLK’(0)〜CLK’(5)のう
ちの1つに従って動作する。
Similarly, the clock signal CLK '(1)
To CLK ′ (5) and data signals Data (1) to Da
ta (3), control signals Cont (0) to Cont (1)
Are output to the memory core 124. Memory core 124
Operates according to one of the clock signals CLK '(0) to CLK' (5).

【0095】以下、本発明をメモリシステムに適用した
他の例を説明する。
Hereinafter, another example in which the present invention is applied to a memory system will be described.

【0096】図9は、メモリシステム200の構成を示
す。メモリシステム200は、複数のメモリ220を有
している。メモリ220のそれぞれは、同期回路122
と、メモリコア124と、出力回路126と、フラグ信
号生成回路222とを含む。
FIG. 9 shows the configuration of the memory system 200. The memory system 200 has a plurality of memories 220. Each of the memories 220 includes a synchronization circuit 122
, A memory core 124, an output circuit 126, and a flag signal generation circuit 222.

【0097】なお、図9において、図5Aに示されるメ
モリシステム100の構成要素と同一の構成要素には同
一の参照番号を付し、その説明を省略する。
In FIG. 9, the same components as those of the memory system 100 shown in FIG. 5A are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.

【0098】メモリコントローラ130が複数のメモリ
220を制御する場合において、データ信号Dataを
転送する前に、イニシャライズ期間における同期処理を
常に行うとすると、イニシャライズ期間の長期化につな
がり、メモリシステム200の高速化に障害となるおそ
れがある。メモリシステム200では、動作・転送期間
中において同期回路122が同期処理を行った場合に
は、その動作・転送期間に続く次のイニシャライズ期間
において同期回路122が同期処理を行わないように同
期回路122が制御される。
When the memory controller 130 controls the plurality of memories 220, if the synchronization processing during the initialization period is always performed before transferring the data signal Data, the initialization period will be lengthened, and the high speed operation of the memory system 200 will occur. There is a possibility that it will be an obstacle to conversion. In the memory system 200, when the synchronization circuit 122 performs the synchronization process during the operation / transfer period, the synchronization circuit 122 does not perform the synchronization process in the next initialization period following the operation / transfer period. Is controlled.

【0099】フラグ信号生成回路222は、同期回路1
22が同期処理を行った時刻(すなわち、同期処理によ
り、クロック信号CLKのエッジとデータ信号Dat
a’のエッジとが一致した時刻)から一定の期間のみH
レベルとなるフラグ信号Flagを生成する(図10A
参照)。フラグ信号FlagがHレベルとなる期間は、
十数ns〜数十ns程度であることが好ましい。特に、
クロック信号CLKの周波数が高い場合には、フラグ信
号FlagがHレベルとなる期間は、20ns以下であ
ることが好ましい。
The flag signal generation circuit 222 includes the synchronization circuit 1
22 performs the synchronization process (that is, the edge of the clock signal CLK and the data signal Dat
H for a certain period from the time when the edge of a ′ coincides)
A flag signal Flag which becomes a level is generated (FIG. 10A).
reference). While the flag signal Flag is at the H level,
It is preferable that the time is about several tens to several tens ns. Especially,
When the frequency of the clock signal CLK is high, the period during which the flag signal Flag is at the H level is preferably 20 ns or less.

【0100】図10Bは、フラグ信号生成回路222の
構成を示す。
FIG. 10B shows a configuration of the flag signal generation circuit 222.

【0101】フラグ信号生成回路222は、データ信号
Data’のレベルの遷移を検出する検出器222a
と、RSフリップフロップ(RS−FF)222bと、
カウンタ222cとを含む。
The flag signal generation circuit 222 detects a level transition of the data signal Data ',
And an RS flip-flop (RS-FF) 222b;
And a counter 222c.

【0102】検出器222aは、データ信号Data’
のレベルの遷移に応答して、パルス信号setを生成す
る。パルス信号setは、RS−FF222bとカウン
タ222cとに供給される。検出器222aは、例え
ば、遅延素子222eと排他論理和素子222fとから
構成される。RS−FF222bは、パルス信号set
に応答して、フラグ生成信号FlagのレベルをLレベ
ルからHレベルに変化させる。
The detector 222a outputs the data signal Data '
The pulse signal set is generated in response to the level transition. The pulse signal set is supplied to the RS-FF 222b and the counter 222c. The detector 222a includes, for example, a delay element 222e and an exclusive OR element 222f. The RS-FF 222b outputs the pulse signal set
, The level of the flag generation signal Flag is changed from L level to H level.

【0103】カウンタ222cは、パルス信号setに
応答して、カウント値をリセットする。その後、カウン
タ222cは、クロック信号CLKのエッジに応答して
カウント値をインクリメントする。カウンタ222cの
カウント値が所定の値に到達すると、カウンタ222c
は、パルス信号resetをRS−FF222bに出力
する。
The counter 222c resets the count value in response to the pulse signal set. Thereafter, the counter 222c increments the count value in response to the edge of the clock signal CLK. When the count value of the counter 222c reaches a predetermined value, the counter 222c
Outputs a pulse signal reset to the RS-FF 222b.

【0104】RS−FF222bは、パルス信号res
etに応答して、フラグ生成信号FlagのレベルをH
レベルからLレベルに変化させる。
The RS-FF 222b outputs the pulse signal res
, the level of the flag generation signal Flag is set to H
Change from level to L level.

【0105】このようにして、データ信号Data’が
遷移した時刻から一定の期間、Hレベルとなるフラグ信
号Flagが生成される。
In this manner, the flag signal Flag which becomes H level for a certain period from the time when the data signal Data 'transits is generated.

【0106】フラグ信号Flagは、プロセッサ140
に転送される。プロセッサ140は、フラグ信号Fla
gのレベルに応じて同期処理を行うか否かを決定する。
The flag signal Flag is transmitted to the processor 140
Is forwarded to The processor 140 outputs the flag signal Fla
It is determined whether or not to perform the synchronization processing according to the level of g.

【0107】このような処理により、同期精度の高いデ
バイスについては、イニシャライズ期間には同期処理を
行わないようにすることができる。これにより、イニシ
ャライズ期間に同期処理を必要とするデバイス(メモ
リ)の数が減少し、同期処理が最適化される。その結
果、メモリシステム200の高速化を図ることができ
る。なお、上述した例では、フラグ信号Flagのレベ
ルがHレベルである場合には、そのフラグ信号Flag
に対応するメモリ220では、次回のイニシャライズ期
間において同期処理を行わず、フラグ信号Flagのレ
ベルがLレベルである場合には、そのフラグ信号Fla
gに対応するメモリ220では、次回のイニシャライズ
期間において同期処理を行うこととした。フラグ信号F
lagのレベルがLレベルである場合には、フラグ信号
Flagに対応するメモリ220の動作をその時点で強
制的に完了させ、動作・転送期間をイニシャライズ期間
に移行させ、そのイニシャライズ期間において同期処理
を行うようにしてもよい。 (実施の形態2)図11は、本発明の実施の形態2のシ
ステム2の構成を示す。システム2は、クロック信号生
成器10と、スレーブ20aと、マスタ30aとを含
む。図11において、図1に示される構成要素と同一の
構成要素には同一の参照番号を付し、その説明を省略す
る。
By such processing, it is possible to prevent a device having a high synchronization accuracy from performing the synchronization process during the initialization period. As a result, the number of devices (memory) that require synchronization processing during the initialization period is reduced, and the synchronization processing is optimized. As a result, the speed of the memory system 200 can be increased. In the example described above, when the level of the flag signal Flag is at the H level, the flag signal Flag
Are not synchronized in the next initialization period, and when the level of the flag signal Flag is L level, the flag signal
In the memory 220 corresponding to g, the synchronization processing is performed in the next initialization period. Flag signal F
If the level of the flag is L level, the operation of the memory 220 corresponding to the flag signal Flag is forcibly completed at that time, the operation / transfer period is shifted to the initialization period, and the synchronization process is performed in the initialization period. It may be performed. (Embodiment 2) FIG. 11 shows a configuration of a system 2 according to Embodiment 2 of the present invention. The system 2 includes a clock signal generator 10, a slave 20a, and a master 30a. 11, the same components as those shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.

【0108】マスタ30aは、出力回路32aを含む。
出力回路32aは、イニシャライズ期間にはダミーパタ
ーン信号Dummyをデータ信号線10bに出力し、動
作・転送期間にはデータ信号Dataをデータ信号線1
0bに出力する。出力回路32aは、イニシャライズ期
間を定義する制御信号Mode1を制御信号線10cに
出力する。出力回路32aは、制御信号線10dを介し
て制御信号REFOUTを受け取る。制御信号REFO
UTは、イニシャライズ期間が終了したことを示す制御
信号である。例えば、イニシャライズ期間が終了したこ
とは、制御信号REFOUTのレベルがLレベルからH
レベルに遷移することによって表される。
The master 30a includes an output circuit 32a.
The output circuit 32a outputs the dummy pattern signal Dummy to the data signal line 10b during the initialization period, and outputs the data signal Data to the data signal line 1 during the operation / transfer period.
0b. The output circuit 32a outputs a control signal Mode1 that defines an initialization period to the control signal line 10c. The output circuit 32a receives the control signal REFOUT via the control signal line 10d. Control signal REFO
UT is a control signal indicating that the initialization period has ended. For example, the end of the initialization period means that the level of the control signal REFOUT changes from L level to H level.
It is represented by transitioning to a level.

【0109】スレーブ20aは、位相差低減回路320
と内部回路24とを含む。
The slave 20a includes a phase difference reducing circuit 320
And an internal circuit 24.

【0110】図12は、位相差低減回路320の構成を
示す。
FIG. 12 shows the configuration of the phase difference reducing circuit 320.

【0111】位相差低減回路320には、クロック信号
線10aを介してクロック信号CLKが入力され、デー
タ信号線10bを介してダミーパターン信号Dummy
およびデータ信号Dataが入力される。位相差低減回
路320には、制御信号線10cを介してイニシャライ
ズ期間を定義する制御信号Mode1がさらに入力され
る。
The clock signal CLK is input to the phase difference reduction circuit 320 via the clock signal line 10a, and the dummy pattern signal Dummy is input via the data signal line 10b.
And data signal Data are input. The control signal Mode1 defining the initialization period is further input to the phase difference reduction circuit 320 via the control signal line 10c.

【0112】位相差低減回路320は、クロック信号C
LKとダミーパターン信号Dummyとの間の位相差が
低減されるようにクロック信号CLKを遅延させる。以
下、このように遅延されたクロック信号CLKをクロッ
ク信号CLK’という。
The phase difference reducing circuit 320 outputs the clock signal C
The clock signal CLK is delayed so that the phase difference between LK and the dummy pattern signal Dummy is reduced. Hereinafter, the clock signal CLK thus delayed is referred to as a clock signal CLK ′.

【0113】位相差低減回路320は、ダミーパターン
信号Dummyの位相とクロック信号CLK’の位相と
を比較した結果を示す制御信号REFOUTを制御信号
線10dに出力する。
The phase difference reducing circuit 320 outputs a control signal REFOUT indicating a result of comparing the phase of the dummy pattern signal Dummy with the phase of the clock signal CLK ′ to the control signal line 10d.

【0114】以下、図12を参照しながら、位相差低減
回路320の動作を説明する。
Hereinafter, the operation of the phase difference reducing circuit 320 will be described with reference to FIG.

【0115】はじめに、マスタ30a(図11)は、制
御信号Mode1のレベルをLレベルからHレベルに変
化させる。これにより、イニシャライズ期間が開始され
る。イニシャライズ期間は、制御信号Mode1がHレ
ベルである期間であると定義される。
First, the master 30a (FIG. 11) changes the level of the control signal Mode1 from L level to H level. Thus, an initialization period is started. The initialization period is defined as a period during which the control signal Mode1 is at the H level.

【0116】イニシャライズ期間において、データ信号
線10bを介してダミーパターン信号Dummyが位相
差低減回路320に入力される。ここでは、ダミーパタ
ーン信号Dummyは、クロック信号CLKと同一の周
期を有するクロック信号であると仮定する。
In the initialization period, the dummy pattern signal Dummy is input to the phase difference reduction circuit 320 via the data signal line 10b. Here, it is assumed that the dummy pattern signal Dummy is a clock signal having the same cycle as the clock signal CLK.

【0117】イニシャライズ期間において、位相比較器
322は、制御信号Mode1によって活性化される。
位相比較器322は、クロック信号CLKの位相とダミ
ーパターン信号Dummyの位相とを比較する。クロッ
ク信号CLKの位相がダミーパターン信号Dummyの
位相より進んでいる場合には、位相比較器322は、そ
の位相差に対応するパルス幅を有するパルス信号Bac
kを可変遅延回路324に出力する。クロック信号CL
Kの位相がダミーパターン信号Dummyの位相より遅
れている場合には、位相比較器322は、その位相差に
対応するパルス幅を有するパルス信号Frontを可変
遅延回路324に出力する。
In the initialization period, the phase comparator 322 is activated by the control signal Mode1.
The phase comparator 322 compares the phase of the clock signal CLK with the phase of the dummy pattern signal Dummy. When the phase of clock signal CLK is ahead of the phase of dummy pattern signal Dummy, phase comparator 322 outputs pulse signal Bac having a pulse width corresponding to the phase difference.
k is output to the variable delay circuit 324. Clock signal CL
If the phase of K is behind the phase of the dummy pattern signal Dummy, the phase comparator 322 outputs a pulse signal Front having a pulse width corresponding to the phase difference to the variable delay circuit 324.

【0118】可変遅延回路324は、パルス信号Bac
kに応答して遅延量を増大させ、パルス信号Front
に応答して遅延量を減少させる。クロック信号CLK
は、可変遅延回路324に設定された遅延量に従って遅
延される。このようにして、クロック信号CLKのエッ
ジとダミーパターン信号Dummyのエッジとが一致す
るように可変遅延回路324の遅延量が決定される。
The variable delay circuit 324 outputs the pulse signal Bac
k, the delay amount is increased, and the pulse signal Front
To reduce the amount of delay. Clock signal CLK
Is delayed according to the delay amount set in the variable delay circuit 324. Thus, the amount of delay of variable delay circuit 324 is determined such that the edge of clock signal CLK matches the edge of dummy pattern signal Dummy.

【0119】位相比較器326は、クロック信号CL
K’の位相とダミーパターン信号Dummyの位相とを
比較する。クロック信号CLK’とダミーパターン信号
Dummyとの間の位相差が所定の値より大きい場合に
は、制御信号REFOUTのレベルはLレベルである。
クロック信号CLK’とダミーパターン信号Dummy
との間の位相差が所定の値以下である場合には、制御信
号REFOUTのレベルはHレベルである。理想的に
は、その所定の値はゼロである。しかし、実際の設計で
は、その所定の値はゼロに十分近い値であれば足りる。
制御信号REFOUTのレベルがLレベルからHレベル
に変化したことに応答して、可変遅延回路324の遅延
量がロックされる。
The phase comparator 326 outputs the clock signal CL
The phase of K 'is compared with the phase of the dummy pattern signal Dummy. When the phase difference between the clock signal CLK 'and the dummy pattern signal Dummy is larger than a predetermined value, the level of the control signal REFOUT is at the L level.
Clock signal CLK 'and dummy pattern signal Dummy
Is less than or equal to a predetermined value, the level of control signal REFOUT is at H level. Ideally, the predetermined value is zero. However, in an actual design, it is sufficient that the predetermined value is sufficiently close to zero.
In response to the change of the level of the control signal REFOUT from the L level to the H level, the delay amount of the variable delay circuit 324 is locked.

【0120】スイッチ328は、制御信号Mode1の
レベルがLレベルである場合には、データ信号線10b
を介して入力される信号を保持回路330に出力し、制
御信号Mode1のレベルがHレベルである場合には、
データ信号線10bを介して入力される信号を保持回路
330に出力しない。
When the level of control signal Mode1 is L level, switch 328 outputs data signal line 10b.
Is output to the holding circuit 330, and when the level of the control signal Mode1 is H level,
The signal input through the data signal line 10b is not output to the holding circuit 330.

【0121】保持回路330は、クロック信号CLK’
に従って、スイッチ328から出力される信号を保持す
るとともに、内部回路24(図11)に出力する。
The holding circuit 330 outputs the clock signal CLK '
, The signal output from the switch 328 is held and output to the internal circuit 24 (FIG. 11).

【0122】マスタ30a(図11)は、制御信号RE
FOUTのレベルがLレベルからHレベルに変化したこ
とを確認した後に、制御信号Mode1のレベルをHレ
ベルからLレベルに変化させる。これにより、イニシャ
ライズ期間が終了される。その後、動作・転送期間が開
始される。動作・転送期間において、データ信号線10
bを介してデータ信号Dataが位相差低減回路320
に入力される。
Master 30a (FIG. 11) provides control signal RE
After confirming that the level of FOUT has changed from the L level to the H level, the level of the control signal Mode1 is changed from the H level to the L level. Thus, the initialization period ends. Thereafter, the operation / transfer period is started. During the operation / transfer period, the data signal line 10
b through the phase difference reduction circuit 320
Is input to

【0123】なお、イニシャライズ期間の開始から可変
遅延回路324における遅延量がロックされるまでのロ
ック時間を予め予測することができる場合には、制御信
号REFOUTを出力する必要はない。そのロック時間
が経過した後に、データ信号Dataの転送動作を開始
すればよいからである。
When the lock time from the start of the initialization period to the locking of the delay amount in variable delay circuit 324 can be predicted in advance, there is no need to output control signal REFOUT. This is because the transfer operation of the data signal Data may be started after the lock time has elapsed.

【0124】図13は、位相差低減回路320において
使用される各信号の波形を示す。
FIG. 13 shows the waveform of each signal used in the phase difference reduction circuit 320.

【0125】時刻T1では、制御信号Mode1のレベ
ルがLレベルからHレベルに変化する。これにより、イ
ニシャライズ期間が開始される。時刻T1では、クロッ
ク信号CLKの位相がダミーパターン信号Dummyの
位相よりも進んでいる。従って、パルス信号Backに
よって可変遅延回路324の遅延量が増加される。可変
遅延回路324に設定された遅延量に応じてクロック信
号CLKが遅延される。
At time T 1 , the level of control signal Mode 1 changes from L level to H level. Thus, an initialization period is started. At time T 1, the phase of the clock signal CLK is ahead of the dummy pattern signal Dummy phases. Therefore, the delay amount of the variable delay circuit 324 is increased by the pulse signal Back. The clock signal CLK is delayed according to the delay amount set in the variable delay circuit 324.

【0126】時刻T2では、クロック信号CLK’の位
相とダミーパターン信号Dummyの位相とが一致す
る。図13において、白丸は、クロック信号CLK’の
エッジとダミーパターン信号Dummyのエッジとが一
致していることを示す。
At time T 2 , the phase of clock signal CLK ′ matches the phase of dummy pattern signal Dummy. In FIG. 13, a white circle indicates that the edge of the clock signal CLK 'matches the edge of the dummy pattern signal Dummy.

【0127】時刻T3では、クロック信号CLK’とダ
ミーパターン信号Dummyとの間の位相差がなくなっ
たことに応答して、制御信号REFOUTのレベルがL
レベルからHレベルに変化する。
[0127] At time T 3, in response to the phase difference between the clock signal CLK 'and the dummy pattern signal Dummy has disappeared, the level of the control signal REFOUT L
The level changes from the level to the H level.

【0128】時刻T4では、制御信号Mode1のレベ
ルがHレベルからLレベルに変化する。これにより、イ
ニシャライズ期間が終了される。図14は、位相差低減
回路420の構成を示す。位相差低減回路420は、図
12に示される位相差低減回路320と置換可能であ
る。
At time T 4 , the level of control signal Mode 1 changes from H level to L level. Thus, the initialization period ends. FIG. 14 shows the configuration of the phase difference reduction circuit 420. The phase difference reduction circuit 420 can be replaced with the phase difference reduction circuit 320 shown in FIG.

【0129】位相差低減回路420は、制御信号Mod
e1を使用する代わりに、所定のイニャライズパターン
を検出することにより、イニシャライズ期間の開始を検
出する。従って、位相差低減回路420には、制御信号
Mode1は入力されない。位相差低減回路420に
は、クロック信号線10aを介してクロック信号CLK
が入力され、データ信号線10bを介してダミーパター
ン信号Dummyおよびデータ信号Dataが入力され
る。
The phase difference reducing circuit 420 controls the control signal Mod
Instead of using e1, the start of the initialization period is detected by detecting a predetermined initialization pattern. Therefore, the control signal Mode1 is not input to the phase difference reduction circuit 420. The phase difference reducing circuit 420 receives the clock signal CLK via the clock signal line 10a.
Is input, and the dummy pattern signal Dummy and the data signal Data are input via the data signal line 10b.

【0130】位相差低減回路420は、クロック信号C
LKとダミーパターン信号Dummyとの間の位相差が
低減されるようにクロック信号CLKを遅延させる。以
下、このようにして遅延されたクロック信号CLKをク
ロック信号CLK’という。
The phase difference reducing circuit 420 generates the clock signal C
The clock signal CLK is delayed so that the phase difference between LK and the dummy pattern signal Dummy is reduced. Hereinafter, the clock signal CLK thus delayed is referred to as a clock signal CLK ′.

【0131】位相差低減回路420からは、ダミーパタ
ーン信号Dummyの位相とクロック信号CLK’の位
相とを比較した結果を示す制御信号REFOUTが出力
される。
From the phase difference reducing circuit 420, a control signal REFOUT indicating the result of comparing the phase of the dummy pattern signal Dummy with the phase of the clock signal CLK 'is output.

【0132】以下、図14を参照しながら、位相差低減
回路420の動作を説明する。
Hereinafter, the operation of the phase difference reduction circuit 420 will be described with reference to FIG.

【0133】デコーダ421は、データ信号線10bを
介して入力される信号の中に所定のイニシャライズパタ
ーンが含まれているか否かを判定する。所定のイニシャ
ライズパターンは、例えば、HLHHLLというパター
ンを有する信号である(図15A参照)。
The decoder 421 determines whether or not a signal input via the data signal line 10b includes a predetermined initialization pattern. The predetermined initialization pattern is, for example, a signal having a pattern of HLHHLL (see FIG. 15A).

【0134】デコーダ421がイニシャライズパターン
を検出すると、デコーダ421は、イニシャライズ期間
が開始されることを認識する。イニシャライズ期間にお
いて、データ信号線10bを介してダミーパターン信号
Dummyが位相差低減回路420に入力される。ここ
では、ダミーパターン信号Dummyは、クロック信号
CLKと同一の周期を有するクロック信号であると仮定
する。デコーダ421は、データ信号線10bを介して
入力される信号を位相比較器422に出力するようにセ
レクタ428を切り換える。
When the decoder 421 detects the initialization pattern, the decoder 421 recognizes that the initialization period starts. During the initialization period, the dummy pattern signal Dummy is input to the phase difference reduction circuit 420 via the data signal line 10b. Here, it is assumed that the dummy pattern signal Dummy is a clock signal having the same cycle as the clock signal CLK. The decoder 421 switches the selector 428 so as to output a signal input via the data signal line 10b to the phase comparator 422.

【0135】位相比較器422および可変遅延回路42
4の機能および動作は、図12に示される位相比較器3
22および可変遅延回路324のそれらと同一である。
従って、ここでは詳細な説明を省略する。
Phase comparator 422 and variable delay circuit 42
The function and operation of the phase comparator 3 shown in FIG.
22 and those of the variable delay circuit 324.
Therefore, detailed description is omitted here.

【0136】位相比較器426は、位相比較器326
(図12)と同様にして、制御信号REFOUTを生成
する。位相比較器426は、制御信号REFOUTのレ
ベルがLレベルからHレベルに変化したことに応答し
て、イニシャライズ期間が終了したことを示す信号をデ
コーダ421に出力する。
The phase comparator 426 has a phase comparator 326.
A control signal REFOUT is generated in the same manner as (FIG. 12). Phase comparator 426 outputs a signal indicating that the initialization period has ended to decoder 421 in response to the level of control signal REFOUT changing from L level to H level.

【0137】デコーダ421は、位相比較器426から
の信号に応答して、データ信号線10bを介して入力さ
れる信号を保持回路430に出力するようにセレクタ4
28を切り換える。デコーダ421は、可変遅延回路4
24における遅延量をロックする。
The decoder 421 responds to a signal from the phase comparator 426 to output a signal input via the data signal line 10b to the holding circuit 430.
Switch 28. The decoder 421 includes the variable delay circuit 4
Lock the amount of delay at 24.

【0138】保持回路430は、クロック信号CLK’
に従って、セレクタ428から出力される信号を保持す
るとともに、内部回路24(図11)に出力する。
The holding circuit 430 outputs the clock signal CLK ′
, The signal output from the selector 428 is held and output to the internal circuit 24 (FIG. 11).

【0139】マスタ30a(図11)は、制御信号RE
FOUTのレベルがLレベルからHレベルに変化したこ
とを確認した後に、データ信号Dataの転送動作を開
始する。
The master 30a (FIG. 11) controls the control signal RE.
After confirming that the level of FOUT has changed from the L level to the H level, the transfer operation of the data signal Data is started.

【0140】なお、イニシャライズ期間の開始から可変
遅延回路424における遅延量がロックされるまでのロ
ック時間を予め予測することができる場合には、制御信
号REFOUTを出力する必要はない。そのロック時間
が経過した後に、データ信号Dataの転送動作を開始
すればよいからである。
When the lock time from the start of the initialization period to the locking of the delay amount in variable delay circuit 424 can be predicted in advance, there is no need to output control signal REFOUT. This is because the transfer operation of the data signal Data may be started after the lock time has elapsed.

【0141】図15Bは、クロック信号CLKの位相が
ダミーパターン信号Dummyの位相より遅れている場
合の各信号の波形を示す。
FIG. 15B shows the waveform of each signal when the phase of the clock signal CLK is delayed from the phase of the dummy pattern signal Dummy.

【0142】クロック信号CLKとダミーパターン信号
Dummyとの間の位相差に対応するパルス幅W1を有
するパルス信号Frontが可変遅延回路424に出力
される。その結果、クロック信号CLKが遅延され、ク
ロック信号CLK’の位相とダミーパターン信号Dum
myの位相とが一致する。図15Bにおいて、2つの白
丸は、クロック信号CLKのエッジと、そのエッジに対
応するクロック信号CLK’のエッジを示す。
A pulse signal Front having a pulse width W1 corresponding to the phase difference between the clock signal CLK and the dummy pattern signal Dummy is output to the variable delay circuit 424. As a result, the clock signal CLK is delayed, and the phase of the clock signal CLK ′ and the dummy pattern signal Dum
my coincides with the phase. In FIG. 15B, two white circles indicate an edge of the clock signal CLK and an edge of the clock signal CLK 'corresponding to the edge.

【0143】図15Cは、クロック信号CLKの位相が
ダミーパターン信号Dummyの位相より進んでいる場
合の各信号の波形を示す。
FIG. 15C shows the waveform of each signal when the phase of the clock signal CLK leads the phase of the dummy pattern signal Dummy.

【0144】クロック信号CLKとダミーパターン信号
Dummyとの間の位相差に対応するパルス幅W2を有
するパルス信号Backが可変遅延回路424に出力さ
れる。その結果、クロック信号CLKが遅延され、クロ
ック信号CLK’の位相とダミーパターン信号Dumm
yの位相とが一致する。図15Cにおいて、2つの白丸
は、クロック信号CLKのエッジと、そのエッジに対応
するクロック信号CLK’のエッジを示す。
A pulse signal Back having a pulse width W2 corresponding to the phase difference between the clock signal CLK and the dummy pattern signal Dummy is output to the variable delay circuit 424. As a result, the clock signal CLK is delayed, and the phase of the clock signal CLK ′ and the dummy pattern signal Dumm
The phase of y matches. In FIG. 15C, two white circles indicate an edge of the clock signal CLK and an edge of the clock signal CLK 'corresponding to the edge.

【0145】上述したように、位相差低減回路320お
よび420は、クロック信号CLKを遅延させることに
より、クロック信号CLKとデータ信号Dataとの間
の位相差を低減する。あるいは、データ信号Dataを
遅延させることにより、クロック信号CLKとデータ信
号Dataとの間の位相差を低減するように位相差低減
回路320および420を改変してもよい。そのように
改変された位相差低減回路320および420も本発明
の範囲に含まれる。 (実施の形態3)図16は、本発明の実施の形態3のシ
ステム3の構成を示す。システム3は、クロック信号生
成器10と、スレーブ20bと、マスタ30aとを含
む。図16において、図11に示される構成要素と同一
の構成要素には同一の参照番号を付し、その説明を省略
する。
As described above, phase difference reduction circuits 320 and 420 reduce the phase difference between clock signal CLK and data signal Data by delaying clock signal CLK. Alternatively, the phase difference reduction circuits 320 and 420 may be modified so as to reduce the phase difference between the clock signal CLK and the data signal Data by delaying the data signal Data. The phase difference reduction circuits 320 and 420 thus modified are also included in the scope of the present invention. (Third Embodiment) FIG. 16 shows a configuration of a system 3 according to a third embodiment of the present invention. The system 3 includes a clock signal generator 10, a slave 20b, and a master 30a. 16, the same components as those shown in FIG. 11 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.

【0146】マスタ30aには、クロック信号CLKが
供給される。マスタ30aは、クロック信号CLKに従
って動作する。スレーブ20bには、クロック信号CL
Kは供給されない。スレーブ20bは、クロック信号C
LK’をスレーブ20bの内部で生成し、クロック信号
CLK’に従って動作する。
The clock signal CLK is supplied to the master 30a. Master 30a operates according to clock signal CLK. The slave 20b has a clock signal CL
K is not supplied. The slave 20b receives the clock signal C
LK ′ is generated inside the slave 20b and operates according to the clock signal CLK ′.

【0147】システム3によれば、送信側の回路に供給
されるクロック信号CLKを受信側の回路に転送する必
要がない。このようなシステム構成は、送信側の回路と
受信側の回路との距離が非常に大きい場合に特に有効で
ある。
According to the system 3, there is no need to transfer the clock signal CLK supplied to the circuit on the transmitting side to the circuit on the receiving side. Such a system configuration is particularly effective when the distance between the circuit on the transmitting side and the circuit on the receiving side is very large.

【0148】スレーブ20bは、位相差低減回路520
と内部回路24とを含む。内部回路24は、クロック信
号CLK’に従って動作する。
The slave 20b includes a phase difference reduction circuit 520
And an internal circuit 24. The internal circuit 24 operates according to the clock signal CLK '.

【0149】図17は、位相差低減回路520の構成を
示す。
FIG. 17 shows the structure of the phase difference reduction circuit 520.

【0150】位相差低減回路520には、データ信号線
10bを介してダミーパターン信号Dummyおよびデ
ータ信号Dataが入力される。位相差低減回路520
には、制御信号線10cを介してイニシャライズ期間を
定義する制御信号Mode1がさらに入力される。
The dummy pattern signal Dummy and the data signal Data are input to the phase difference reduction circuit 520 via the data signal line 10b. Phase difference reduction circuit 520
Is further supplied with a control signal Mode1 for defining an initialization period via a control signal line 10c.

【0151】位相差低減回路520は、ダミーパターン
信号Dummyとクロック信号CLK’との間の位相差
が低減されるようにクロック信号CLK’を生成する。
The phase difference reducing circuit 520 generates the clock signal CLK 'so that the phase difference between the dummy pattern signal Dummy and the clock signal CLK' is reduced.

【0152】位相差低減回路520は、ダミーパターン
信号Dummyの位相とクロック信号CLK’の位相と
を比較した結果を示す制御信号REFOUTを制御信号
線10dに出力する。
The phase difference reducing circuit 520 outputs a control signal REFOUT indicating the result of comparing the phase of the dummy pattern signal Dummy with the phase of the clock signal CLK ′ to the control signal line 10d.

【0153】以下、図17を参照しながら、位相差低減
回路520の動作を説明する。
Hereinafter, the operation of the phase difference reduction circuit 520 will be described with reference to FIG.

【0154】はじめに、マスタ30a(図16)は、制
御信号Mode1のレベルをLレベルからHレベルに変
化させる。これにより、イニシャライズ期間が開始され
る。イニシャライズ期間は、制御信号Mode1がHレ
ベルである期間であると定義される。
First, master 30a (FIG. 16) changes the level of control signal Mode1 from L level to H level. Thus, an initialization period is started. The initialization period is defined as a period during which the control signal Mode1 is at the H level.

【0155】イニシャライズ期間において、データ信号
線10bを介してダミーパターン信号Dummyが位相
差低減回路520に入力される。ここでは、ダミーパタ
ーン信号Dummyは、クロック信号CLKと同一の周
期を有するクロック信号であると仮定する。
In the initialization period, the dummy pattern signal Dummy is input to the phase difference reduction circuit 520 via the data signal line 10b. Here, it is assumed that the dummy pattern signal Dummy is a clock signal having the same cycle as the clock signal CLK.

【0156】イニシャライズ期間において、位相比較器
522は、制御信号Mode1によって活性化される。
位相比較器522は、ダミーパターン信号Dummyの
位相とクロック信号CLK’の位相とを比較する。クロ
ック信号CLK’は、発振器(VCO)524によって
生成される。クロック信号CLK’の位相がダミーパタ
ーン信号Dummyの位相より進んでいる場合には、位
相比較器522は、その位相差に対応するパルス幅を有
するパルス信号BackをVCO制御回路523に出力
する。クロック信号CLK’の位相がダミーパターン信
号Dummyの位相より遅れている場合には、位相比較
器522は、その位相差に対応するパルス幅を有するパ
ルス信号FrontをVCO制御回路523に出力す
る。
In the initialization period, phase comparator 522 is activated by control signal Mode1.
The phase comparator 522 compares the phase of the dummy pattern signal Dummy with the phase of the clock signal CLK ′. The clock signal CLK ′ is generated by the oscillator (VCO) 524. When the phase of the clock signal CLK ′ is ahead of the phase of the dummy pattern signal Dummy, the phase comparator 522 outputs a pulse signal Back having a pulse width corresponding to the phase difference to the VCO control circuit 523. When the phase of the clock signal CLK 'is behind the phase of the dummy pattern signal Dummy, the phase comparator 522 outputs a pulse signal Front having a pulse width corresponding to the phase difference to the VCO control circuit 523.

【0157】VCO制御回路523は、パルス信号Ba
ckに応答して発振周波数が小さくなるようにVCO5
24を制御し、パルス信号Frontに応答して発振周
波数が大きくなるようにVCO524を制御する。クロ
ック信号CLK’の位相は、VCO524によって調整
される。このようにして、クロック信号CLK’のエッ
ジとダミーパターン信号Dummyのエッジとが一致す
るようにVCO524の発振周波数が決定される。
The VCO control circuit 523 outputs the pulse signal Ba
VCO5 so that the oscillation frequency decreases in response to
24, and controls the VCO 524 so that the oscillation frequency increases in response to the pulse signal Front. The phase of the clock signal CLK ′ is adjusted by the VCO 524. In this way, the oscillation frequency of the VCO 524 is determined so that the edge of the clock signal CLK 'matches the edge of the dummy pattern signal Dummy.

【0158】位相比較器522は、制御信号REFOU
Tを生成する。クロック信号CLK’とダミーパターン
信号Dummyとの間の位相差が所定値より大きい場合
には、制御信号REFOUTのレベルはLレベルであ
る。クロック信号CLK’とダミーパターン信号Dum
myとの間の位相差が所定値以下である場合には、制御
信号REFOUTのレベルはHレベルである。理想的に
は、その所定の値はゼロである。しかし、実際の設計で
は、その所定の値はゼロに十分近い値であれば足りる。
The phase comparator 522 controls the control signal REFOU.
Generate T. When the phase difference between the clock signal CLK 'and the dummy pattern signal Dummy is larger than a predetermined value, the level of the control signal REFOUT is at the L level. Clock signal CLK 'and dummy pattern signal Dum
When the phase difference between the control signal MY and the control signal MY is equal to or smaller than a predetermined value, the level of the control signal REFOUT is at the H level. Ideally, the predetermined value is zero. However, in an actual design, it is sufficient that the predetermined value is sufficiently close to zero.

【0159】電位保持回路526は、制御信号REFO
UTのレベルがLレベルからHレベルに変化したことに
応答して、位相比較器522から供給される電位を保持
する。電位保持回路526によって保持される電位は、
VCO制御回路523に供給される。これにより、VC
O524の発振状態がロックされる。スイッチ528
は、制御信号Mode1のレベルがLレベルである場合
には、データ信号線10bを介して入力される信号を保
持回路530に出力し、制御信号Mode1のレベルが
Hレベルである場合には、データ信号線10bを介して
入力される信号を保持回路530に出力しない。
The potential holding circuit 526 outputs the control signal REFO
In response to the change in the level of the UT from the L level to the H level, the potential supplied from the phase comparator 522 is held. The potential held by the potential holding circuit 526 is
It is supplied to the VCO control circuit 523. Thereby, VC
The oscillation state of O524 is locked. Switch 528
Outputs the signal input via the data signal line 10b to the holding circuit 530 when the level of the control signal Mode1 is L level, and outputs the data when the level of the control signal Mode1 is H level. The signal input through the signal line 10b is not output to the holding circuit 530.

【0160】保持回路530は、クロック信号CLK’
に従って、スイッチ528から出力される信号を保持す
るとともに、内部回路24(図16)に出力する。
The holding circuit 530 outputs the clock signal CLK ′
, The signal output from the switch 528 is held and output to the internal circuit 24 (FIG. 16).

【0161】マスタ30a(図16)は、制御信号RE
FOUTのレベルがLレベルからHレベルに変化したこ
とを確認した後に、制御信号Mode1のレベルをHレ
ベルからLレベルに変化させる。これにより、イニシャ
ライズ期間が終了される。その後、動作・転送期間が開
始される。動作・転送期間において、データ信号線10
bを介してデータ信号Dataが位相差低減回路520
に入力される。
The master 30a (FIG. 16) controls the control signal RE.
After confirming that the level of FOUT has changed from the L level to the H level, the level of the control signal Mode1 is changed from the H level to the L level. Thus, the initialization period ends. Thereafter, the operation / transfer period is started. During the operation / transfer period, the data signal line 10
b through the phase difference reduction circuit 520
Is input to

【0162】なお、イニシャライズ期間の開始からVC
O524の発振状態がロックされるまでのロック時間を
予め予測することができる場合には、制御信号REFO
UTを出力する必要はない。そのロック時間が経過した
後に、データ信号Dataの転送動作を開始すればよい
からである。
Note that VC from the start of the initialization period
If the lock time until the oscillation state of O524 is locked can be predicted in advance, the control signal REFO
There is no need to output a UT. This is because the transfer operation of the data signal Data may be started after the lock time has elapsed.

【0163】図18は、位相差低減回路520において
使用される各信号の波形を示す。
FIG. 18 shows the waveform of each signal used in the phase difference reduction circuit 520.

【0164】時刻T1では、制御信号Mode1のレベ
ルがLレベルからHレベルに変化する。これにより、イ
ニシャライズ期間が開始される。時刻T1では、クロッ
ク信号CLK’の位相がダミーパターン信号Dummy
の位相よりも進んでいる。従って、パルス信号Back
によってVCO524の発振周波数が小さくされる。そ
の後、パルス信号Frontおよびパルス信号Back
に応答して、VCO524の発振周波数が調整される。
At time T 1 , the level of control signal Mode 1 changes from L level to H level. Thus, an initialization period is started. At time T 1, the phase dummy pattern signal Dummy of the clock signal CLK '
Phase is advanced. Therefore, the pulse signal Back
As a result, the oscillation frequency of the VCO 524 is reduced. After that, the pulse signal Front and the pulse signal Back
, The oscillation frequency of VCO 524 is adjusted.

【0165】時刻T2では、クロック信号CLK’の位
相とダミーパターン信号Dummyの位相とが一致す
る。図18において、白丸は、クロック信号CLK’の
エッジとダミーパターン信号Dummyのエッジとが一
致していることを示す。
At time T 2 , the phase of clock signal CLK ′ matches the phase of dummy pattern signal Dummy. In FIG. 18, a white circle indicates that the edge of the clock signal CLK ′ coincides with the edge of the dummy pattern signal Dummy.

【0166】時刻T3では、クロック信号CLK’とダ
ミーパターン信号Dummyとの間の位相差がなくなっ
たことに応答して、制御信号REFOUTのレベルがL
レベルからHレベルに変化する。
[0166] At time T 3, in response to the phase difference between the clock signal CLK 'and the dummy pattern signal Dummy has disappeared, the level of the control signal REFOUT L
The level changes from the level to the H level.

【0167】時刻T4では、制御信号Mode1のレベ
ルがHレベルからLレベルに変化する。これにより、イ
ニシャライズ期間が終了される。図19は、位相差低減
回路620の構成を示す。位相差低減回路620は、図
17に示される位相差低減回路520と置換可能であ
る。
At time T 4 , the level of control signal Mode 1 changes from H level to L level. Thus, the initialization period ends. FIG. 19 shows the configuration of the phase difference reduction circuit 620. The phase difference reduction circuit 620 can be replaced with the phase difference reduction circuit 520 shown in FIG.

【0168】位相差低減回路620は、制御信号Mod
e1を使用する代わりに、所定のイニャライズパターン
を検出することにより、イニシャライズ期間の開始を検
出する。従って、位相差低減回路620には、制御信号
Mode1は入力されない。位相差低減回路620に
は、データ信号線10bを介してダミーパターン信号D
ummyおよびデータ信号Dataが入力される。
The phase difference reducing circuit 620 controls the control signal Mod
Instead of using e1, the start of the initialization period is detected by detecting a predetermined initialization pattern. Therefore, the control signal Mode1 is not input to the phase difference reduction circuit 620. The phase difference reduction circuit 620 has a dummy pattern signal D via the data signal line 10b.
ummy and the data signal Data are input.

【0169】位相差低減回路620は、ダミーパターン
信号Dummyとクロック信号CLK’との間の位相差
が低減されるようにクロック信号CLK’を生成する。
The phase difference reducing circuit 620 generates the clock signal CLK 'so that the phase difference between the dummy pattern signal Dummy and the clock signal CLK' is reduced.

【0170】位相差低減回路620からは、ダミーパタ
ーン信号Dummyの位相とクロック信号CLK’の位
相とを比較した結果を示す制御信号REFOUTが出力
される。
The phase difference reduction circuit 620 outputs a control signal REFOUT indicating the result of comparing the phase of the dummy pattern signal Dummy with the phase of the clock signal CLK '.

【0171】以下、図19を参照しながら、位相差低減
回路620の動作を説明する。
Hereinafter, the operation of the phase difference reducing circuit 620 will be described with reference to FIG.

【0172】デコーダ621は、データ信号線10bを
介して入力される信号の中に所定のイニシャライズパタ
ーンが含まれているか否かを判定する。所定のイニシャ
ライズパターンは、例えば、HLHHLLというパター
ンを有する信号である(図20A参照)。
The decoder 621 determines whether or not a signal input via the data signal line 10b includes a predetermined initialization pattern. The predetermined initialization pattern is, for example, a signal having a pattern of HLHHLL (see FIG. 20A).

【0173】デコーダ621がイニシャライズパターン
を検出すると、デコーダ621は、イニシャライズ期間
が開始されることを認識する。イニシャライズ期間にお
いて、データ信号線10bを介してダミーパターン信号
Dummyが位相差低減回路620に入力される。ここ
では、ダミーパターン信号Dummyは、クロック信号
CLKと同一の周期を有するクロック信号であると仮定
する。デコーダ621は、データ信号線10bを介して
入力される信号を位相比較器622に出力するようにセ
レクタ628を切り換える。
When the decoder 621 detects the initialization pattern, the decoder 621 recognizes that the initialization period starts. During the initialization period, the dummy pattern signal Dummy is input to the phase difference reduction circuit 620 via the data signal line 10b. Here, it is assumed that the dummy pattern signal Dummy is a clock signal having the same cycle as the clock signal CLK. The decoder 621 switches the selector 628 so as to output a signal input via the data signal line 10b to the phase comparator 622.

【0174】位相比較器622、VCO制御回路623
およびVCO624の機能および動作は、図17に示さ
れる位相比較器522、VCO制御回路523およびV
CO524のそれらと同一である。従って、ここでは詳
細な説明を省略する。位相比較器622は、位相比較器
522(図17)と同様にして、制御信号REFOUT
を生成する。
Phase comparator 622, VCO control circuit 623
The functions and operations of VCO 624 and VCO 624 correspond to phase comparator 522, VCO control circuit 523 and VCO shown in FIG.
Identical to those of CO524. Therefore, detailed description is omitted here. The phase comparator 622 controls the control signal REFOUT similarly to the phase comparator 522 (FIG. 17).
Generate

【0175】電位保持回路626は、制御信号REFO
UTのレベルがLレベルからHレベルに変化したことに
応答して、位相比較器622から供給される電位を保持
する。電位保持回路626によって保持される電位は、
VCO制御回路623に供給される。
The potential holding circuit 626 controls the control signal REFO
In response to the UT level changing from the L level to the H level, the potential supplied from the phase comparator 622 is held. The potential held by the potential holding circuit 626 is
It is supplied to the VCO control circuit 623.

【0176】デコーダ621は、制御信号REFOUT
のレベルがLレベルからHレベルに変化したことに応答
して、データ信号線10bを介して入力される信号を保
持回路630に出力するようにセレクタ628を切り換
える。
The decoder 621 outputs the control signal REFOUT
Is switched from the L level to the H level, the selector 628 is switched to output a signal input via the data signal line 10b to the holding circuit 630.

【0177】保持回路630は、クロック信号CLK’
に従って、セレクタ628から出力される信号を保持す
るとともに、内部回路24(図16)に出力する。
The holding circuit 630 outputs the clock signal CLK ′
, The signal output from the selector 628 is held and output to the internal circuit 24 (FIG. 16).

【0178】マスタ30a(図16)は、制御信号RE
FOUTのレベルがLレベルからHレベルに変化したこ
とを確認した後に、データ信号Dataの転送動作を開
始する。
The master 30a (FIG. 16) controls the control signal RE.
After confirming that the level of FOUT has changed from the L level to the H level, the transfer operation of the data signal Data is started.

【0179】なお、イニシャライズ期間の開始からVC
O624の発振状態がロックされるまでのロック時間を
予め予測することができる場合には、制御信号REFO
UTを出力する必要はない。そのロック時間が経過した
後に、データ信号Dataの転送動作を開始すればよい
からである。
It should be noted that, from the start of the initialization period, VC
If the lock time until the oscillation state of O624 is locked can be predicted in advance, the control signal REFO
There is no need to output a UT. This is because the transfer operation of the data signal Data may be started after the lock time has elapsed.

【0180】図20Bは、クロック信号CLK’の位相
がダミーパターン信号Dummyの位相に一致する様子
を示す。
FIG. 20B shows a state where the phase of the clock signal CLK 'coincides with the phase of the dummy pattern signal Dummy.

【0181】上述したように、位相差低減回路520お
よび620は、VCO524および624の発振周波数
を調整することにより、クロック信号CLK’とデータ
信号Dataとの間の位相差を低減する。あるいは、デ
ータ信号Dataを遅延させることにより、クロック信
号CLK’とデータ信号Dataとの間の位相差を低減
するように位相差低減回路520および620を改変し
てもよい。そのように改変された位相差低減回路520
および620も本発明の範囲に含まれる。
As described above, phase difference reduction circuits 520 and 620 reduce the phase difference between clock signal CLK ′ and data signal Data by adjusting the oscillation frequency of VCOs 524 and 624. Alternatively, phase difference reduction circuits 520 and 620 may be modified so as to reduce the phase difference between clock signal CLK ′ and data signal Data by delaying data signal Data. Phase difference reduction circuit 520 so modified
And 620 are also within the scope of the present invention.

【0182】上述したシステム3においては、データ信
号Dataを転送する動作・転送期間中は、VCO52
4(または624)は、イニシャライズ期間中にロック
された発振状態で発振し続ける。従って、動作・転送期
間において、クロック信号CLK’の位相とデータ信号
Dataの位相とがずれる可能性がある。
In the system 3 described above, during the operation for transferring the data signal Data and the transfer period, the VCO 52
4 (or 624) continues to oscillate in the locked oscillation state during the initialization period. Therefore, during the operation / transfer period, the phase of the clock signal CLK ′ and the phase of the data signal Data may be shifted.

【0183】以下、動作・転送期間において発生し得る
位相ずれを低減する補正処理について説明する。なお、
この補正処理は、データ信号Dataの周期は、クロッ
ク信号CLK’の周期の定数倍であるという前提の下で
実行される。
Hereinafter, a correction process for reducing a phase shift that may occur during the operation / transfer period will be described. In addition,
This correction process is performed on the assumption that the cycle of the data signal Data is a constant multiple of the cycle of the clock signal CLK '.

【0184】図21Aは、補正処理を実行する機能を有
する位相差低減回路520aの構成を示す。位相差低減
回路520aは、図17に示される位相差低減回路52
0におけるVCO524をVCO524aに置換し、補
正処理を実行する補正回路532を追加することによっ
て得られる。図21Aにおいて、図17に示される構成
要素と同一の構成要素には同一の参照番号を付し、その
説明を省略する。
FIG. 21A shows a configuration of a phase difference reduction circuit 520a having a function of executing a correction process. The phase difference reduction circuit 520a includes the phase difference reduction circuit 52 shown in FIG.
It is obtained by replacing the VCO 524 at 0 with a VCO 524a and adding a correction circuit 532 that executes a correction process. 21A, the same components as those shown in FIG. 17 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.

【0185】図21Bは、VCO524aおよび補正回
路532の構成を示す。
FIG. 21B shows a configuration of VCO 524a and correction circuit 532.

【0186】VCO524aは、n個のインバータがリ
ング状に接続されたリングオシレータ524cと、n個
のインバータのうちk個目のインバータから出力される
信号を選択するセレクタ524bとを含む。ここで、n
は2以上の任意の整数であり、kは1以上n以下の整数
である。以下、説明の簡略化のために、リングオシレー
タ524cは、3個のインバータを含むと仮定する。す
なわち、n=3と仮定する。
VCO 524a includes a ring oscillator 524c in which n inverters are connected in a ring, and a selector 524b for selecting a signal output from the k-th inverter among the n inverters. Where n
Is an arbitrary integer of 2 or more, and k is an integer of 1 or more and n or less. Hereinafter, for the sake of simplicity, it is assumed that ring oscillator 524c includes three inverters. That is, it is assumed that n = 3.

【0187】リングオシレータ524cは、リング状に
接続されたインバータ524c1とインバータ524c
2とインバータ524c3とを含む。ノードN1、N2
よびN3は、インバータ524c1、インバータ524
c2およびインバータ524c3の出力にそれぞれ接続
されている。
The ring oscillator 524c includes an inverter 524c1 and an inverter 524c connected in a ring.
2 and an inverter 524c3. Nodes N 1 , N 2 and N 3 are connected to inverter 524c1, inverter 524
c2 and the output of the inverter 524c3.

【0188】リングオシレータ524cの状態は、ノー
ドN1の電圧レベルとノードN2の電圧レベルとノードN
3の電圧レベルの組によって表現される。リングオシレ
ータ524cは、以下に示す状態1〜状態6を有してい
る。状態1〜状態6は、この順番に遷移し、状態6の次
は状態1に戻る。
[0188] state of the ring oscillator 524c, the node voltage level and the node of the voltage level and the node N 2 of N 1 N
It is represented by a set of three voltage levels. The ring oscillator 524c has the following states 1 to 6. State 1 to state 6 make a transition in this order, and return to state 1 after state 6.

【0189】 状態1:(H,L,H) 状態2:(L,L,H) 状態3:(L,H,H) 状態4:(L,H,L) 状態5:(H,H,L) 状態6:(H,L,L) ここで、(x,y,z)は、ノードN1の電圧レベルが
xレベルであり、ノードN2の電圧レベルがyレベルで
あり、ノードN3の電圧レベルがzレベルである状態を
示す。
State 1: (H, L, H) State 2: (L, L, H) State 3: (L, H, H) State 4: (L, H, L) State 5: (H, H) , L) condition 6: (H, L, L) where, (x, y, z), the voltage level of node N 1 is the x level, the voltage level of the node N 2 is y level, the node the voltage level of the N 3 indicates the state is z level.

【0190】ノードN1、ノードN2およびノードN3
それぞれの電圧レベルは、HレベルとLレベルとを繰り
返す。従って、ノードN1から出力される信号SN1、ノ
ードN2から出力される信号SN2およびノードN3から
出力される信号SN3は、所定の周期で振動するクロッ
ク信号となる。
Each of the voltage levels of node N 1 , node N 2 and node N 3 alternates between H level and L level. Therefore, the signal SN 3 output from the node signals SN 1 output from the N 1, the signal SN 2 and the node N 3 is output from the node N 2 becomes a clock signal that oscillates at a predetermined period.

【0191】セレクタ524bは、選択信号Selに従
って、信号SN1、信号SN2および信号SN3のうちの
1つを選択する。セレクタ524bによって選択された
信号がクロック信号CLK’としてVCO524aから
出力される。
Selector 524b selects one of signal SN 1 , signal SN 2 and signal SN 3 according to selection signal Sel. The signal selected by the selector 524b is output from the VCO 524a as a clock signal CLK '.

【0192】補正回路532は、リングオシレータ52
4cの状態を保持する保持回路534a、534bと、
リングオシレータ524cの状態の周回数をカウントす
るカウンタ536と、カウンタ536のカウント値を保
持する保持回路538a、538bと、保持回路534
aに保持される状態と保持回路534bに保持される状
態との変化量を検出する変化量検出回路540aと、保
持回路538aに保持されるカウント値と保持回路53
8bに保持されるカウント値との変化量を検出する変化
量検出回路540bと、変化量検出回路540aによっ
て検出された変化量を変化量検出回路540bによって
検出された変化量で除算する除算回路542と、その除
算結果に基づいて制御信号SVを生成する制御回路54
4と、変化量検出回路540aによって検出された変化
量に基づいて選択信号Selを生成する制御回路546
とを含む。
The correction circuit 532 includes the ring oscillator 52
Holding circuits 534a and 534b for holding the state of FIG.
A counter 536 for counting the number of turns in the state of the ring oscillator 524c, holding circuits 538a and 538b for holding the count value of the counter 536, and a holding circuit 534
a change amount detection circuit 540a for detecting a change amount between the state held in the holding circuit a and the state held in the holding circuit 534b, the count value held in the holding circuit 538a, and the holding circuit 53
8b, a change amount detection circuit 540b for detecting a change amount with respect to the count value held in 8b, and a division circuit 542 for dividing the change amount detected by the change amount detection circuit 540a by the change amount detected by the change amount detection circuit 540b. And a control circuit 54 for generating a control signal S V based on the result of the division.
4 and a control circuit 546 that generates a selection signal Sel based on the change amount detected by the change amount detection circuit 540a.
And

【0193】保持回路534a、534b、カウンタ5
36、保持回路538a、538b、変化量検出回路5
40a、540b、除算回路542、制御回路544、
546のそれぞれは、制御信号Mode2によって活性
化される。
Holding circuits 534a, 534b, counter 5
36, holding circuits 538a, 538b, change amount detection circuit 5
40a, 540b, a division circuit 542, a control circuit 544,
Each of 546 is activated by control signal Mode2.

【0194】以下、補正回路532の動作を説明する。Hereinafter, the operation of the correction circuit 532 will be described.

【0195】データ信号Dataのレベルが遷移したこ
とに応答して、保持回路534aおよび保持回路534
bの一方にリングオシレータ524cの現在の状態が保
持される。保持回路534aおよび保持回路534bの
他方には、リングオシレータ524cの1つ前の状態が
保持されている。
In response to the transition of the level of data signal Data, holding circuit 534a and holding circuit 534
The current state of the ring oscillator 524c is held in one of the positions b. The other of the holding circuits 534a and 534b holds the state immediately before the ring oscillator 524c.

【0196】変化量検出回路540aは、リングオシレ
ータ524cの現在の状態とリングオシレータ524c
の1つ前の状態との変化量を検出する。例えば、リング
オシレータ524cの現在の状態が「状態3」であり、
リングオシレータ524cの1つ前の状態が「状態1」
であった場合には、変化量は、2(=3−1)である。
変化量検出回路540aは、その変化量を示す信号とし
て値2を有する信号を除算回路542に出力する。
The change amount detection circuit 540a determines the current state of the ring oscillator 524c and the ring oscillator 524c.
The amount of change from the previous state is detected. For example, the current state of the ring oscillator 524c is “state 3”,
The state immediately before the ring oscillator 524c is “state 1”.
In the case of, the change amount is 2 (= 3-1).
The change amount detection circuit 540a outputs a signal having a value of 2 to the division circuit 542 as a signal indicating the change amount.

【0197】カウンタ536は、リングオシレータ52
4cの状態の周回数をカウントする。カウンタ536
は、リングオシレータ524cの状態が状態1から次の
状態1まで遷移したことに応答して、カウント値を1つ
だけインクリメントする。
The counter 536 includes the ring oscillator 52
The number of turns in the state of 4c is counted. Counter 536
Increments the count value by one in response to the state of the ring oscillator 524c transitioning from state 1 to the next state 1.

【0198】データ信号Dataのレベルが遷移したこ
とに応答して、保持回路538aおよび保持回路538
bの一方にカウンタ536の現在のカウント値が保持さ
れる。保持回路538aおよび保持回路538bの他方
には、カウンタ536の1つ前のカウント値が保持され
ている。
In response to the transition of the level of data signal Data, holding circuit 538a and holding circuit 538
The current count value of the counter 536 is held in one of b. The other of the holding circuit 538a and the holding circuit 538b holds the count value immediately before the counter 536.

【0199】変化量検出回路540bは、カウンタ53
6の現在のカウント値とカウンタ536の1つ前のカウ
ント値との変化量を検出する。その変化量は、データ信
号Dataのレベルが遷移してからデータ信号Data
のレベルが次に遷移するまでのリングオシレータ524
cの状態の周回数を示す。例えば、現在のカウント値が
「5」であり、1つ前のカウント値「2」であった場合
には、変化量は、3(=5−2)である。変化量検出回
路540bは、その変化量を示す信号として値3を有す
る信号を除算回路542に出力する。
The change amount detection circuit 540b includes a counter 53
The change amount between the current count value of No. 6 and the count value immediately before the counter 536 is detected. The amount of change is determined by the data signal Data after the level of the data signal Data transitions.
Ring oscillator 524 until the next level transitions
Shows the number of turns in state c. For example, when the current count value is “5” and the previous count value is “2”, the change amount is 3 (= 5-2). The change amount detection circuit 540b outputs a signal having a value of 3 to the division circuit 542 as a signal indicating the change amount.

【0200】除算回路542は、変化量検出回路540
aによって検出された変化量を変化量検出回路540b
によって検出された変化量で除算する。除算結果は、リ
ングオシレータ524cの1周回あたりに、データ信号
Dataがリングオシレータ524cの何状態分に相当
する位相ずれが生じたかを表す。例えば、上述した例の
場合、除算結果は、2/3(=2÷3)となる。これ
は、リングオシレータ524cの1周回あたりに、デー
タ信号Dataがリングオシレータ524cの2/3状
態分に相当する量だけ遅延していることを表す。
The dividing circuit 542 includes a change amount detecting circuit 540
a change amount detection circuit 540b
Divide by the amount of change detected by. The division result indicates how many phases of the data signal Data have a phase shift corresponding to one rotation of the ring oscillator 524c. For example, in the case of the example described above, the division result is 2/3 (= 2 ÷ 3). This indicates that the data signal Data is delayed by an amount corresponding to 2 of the state of the ring oscillator 524c per one turn of the ring oscillator 524c.

【0201】制御回路544は、除算結果に応じて、制
御信号SVを生成する。制御信号SVは、VCO制御回路
523に供給される。これにより、除算結果に応じて、
VCO524aの発振周波数が調整される。例えば、除
算結果が2/3である場合には、制御回路544は、リ
ングオシレータ524cの2/3状態分に相当する長さ
だけクロック信号CLK’の周期が長くなるように制御
信号SVを生成する。
Control circuit 544 generates control signal S V according to the result of the division. Control signal S V is supplied to the VCO control circuit 523. Thereby, according to the division result,
The oscillation frequency of the VCO 524a is adjusted. For example, the division if the result is 2/3, the control circuit 544, a control signal S V as the period of the ring oscillator length by a clock signal CLK corresponding to 2/3 state amount of 524c 'is longer Generate.

【0202】制御回路546は、変化量検出回路540
aによって検出される変化量に応じて、選択信号Sel
の値を変更する。例えば、変化量検出回路540aによ
って検出される変化量が2である場合には、データ信号
Dataのレベルが前回遷移してからデータ信号Dat
aのレベルが今回遷移するまでに、データ信号Data
がリングオシレータ524cの2状態分に相当する量だ
け遅延したことを表す。この場合、制御回路546は、
信号が出力されているノードよりも2段分だけ後方のノ
ードから信号が出力されるように選択信号Selの値を
変更する。
The control circuit 546 includes a change amount detection circuit 540.
a, the selection signal Sel
Change the value of. For example, when the change amount detected by the change amount detection circuit 540a is 2, the data signal Data
By the time the level of “a” transitions this time, the data signal Data
Is delayed by an amount corresponding to two states of the ring oscillator 524c. In this case, the control circuit 546
The value of the selection signal Sel is changed so that the signal is output from a node two stages behind the node to which the signal is output.

【0203】このようにして、補正回路532は、デー
タ信号Dataのレベルが前回遷移してからデータ信号
Dataのレベルが今回遷移するまでのデータ信号Da
taの遅延量を計算し、VCO524aは、その遅延量
に相当する分だけクロック信号CLK’を遅延させる。
また、補正回路532は、リングオシレータ524cの
1周回あたりのデータ信号Dataの遅延量を計算し、
VCO524aは、その遅延量に相当する分だけ低い周
波数を有するクロック信号CLK’を生成する。その結
果、データ信号Dataのエッジがクロック信号CL
K’のエッジに一致するようにクロック信号CLK’の
位相が調整される。
As described above, the correction circuit 532 outputs the data signal Da from the previous transition of the level of the data signal Data to the transition of the current level of the data signal Data.
The amount of delay of ta is calculated, and the VCO 524a delays the clock signal CLK 'by an amount corresponding to the amount of delay.
Further, the correction circuit 532 calculates a delay amount of the data signal Data per one turn of the ring oscillator 524c,
VCO 524a generates a clock signal CLK 'having a frequency lower by an amount corresponding to the delay amount. As a result, the edge of the data signal Data is shifted to the clock signal CL.
The phase of the clock signal CLK 'is adjusted so as to coincide with the edge of K'.

【0204】図22Aは、リングオシレータ524cの
ノードN1から出力される信号SN1、ノードN2から出
力される信号SN2、ノードN3から出力される信号SN
3の波形を示す。図22Aに示されるように、信号SN2
の位相は、インバータの1段分に相当する遅延量だけ信
号SN1の位相より遅れており、信号SN3の位相は、イ
ンバータの1段分に相当する遅延量だけ信号SN2の位
相より遅れている。
[0204] Figure 22A is a signal output from the signal SN 2, the node N 3 is output signal SN 1 is, from the node N 2 outputted from the node N 1 of the ring oscillator 524c SN
3 shows a waveform. As shown in FIG. 22A, the signal SN 2
Phase is later than the delay amount by the signals SN 1 phase corresponding to one stage of the inverter, the phase of the signal SN 3 is later than the delay amount by the signals SN 2 phase corresponding to one stage of inverter ing.

【0205】図22Bは、補正回路532によって実行
される補正処理の例を示す。
FIG. 22B shows an example of the correction processing executed by the correction circuit 532.

【0206】図22Bに示される例では、データ信号D
ataは、時刻T1にLレベルからHレベルに変化し、
時刻T2にHレベルからLレベルに変化すると仮定す
る。また、時刻T1から時刻T2までの期間においてデー
タ信号Dataはリングオシレータ524cの2状態分
に相当する量だけ遅延し、時刻T1から時刻T2までの期
間においてリングオシレータ524cの周回数は3であ
ると仮定する。
In the example shown in FIG. 22B, data signal D
ata changes from L level to H level at time T 1 ,
Assume changes from H level to L level at time T 2. In the period from time T 1 to time T 2 , data signal Data is delayed by an amount corresponding to two states of ring oscillator 524 c, and in the period from time T 1 to time T 2 , the number of revolutions of ring oscillator 524 c is Assume it is 3.

【0207】この場合、上述した補正処理により、クロ
ック信号CLK’は遅延量αだけ遅延される。ここで、
遅延量αは、リングオシレータ524cの2状態分に相
当する量である。その結果、時刻T2には、データ信号
Dataのエッジとクロック信号CLK’のエッジとが
一致する。また、上述した補正処理により、時刻T2
ら、クロック信号CLK’の周期は(T+β)となる。
ここで、Tは時刻T1からT2までの期間におけるクロッ
ク信号CLK’の周期を示し、βはリングオシレータ5
24cの2/3状態分に相当する長さを示す。
In this case, the clock signal CLK 'is delayed by the delay amount α by the above-described correction processing. here,
The delay amount α is an amount corresponding to two states of the ring oscillator 524c. As a result, at time T 2, the edge of the edge of the data signal Data and the clock signal CLK 'matches. Further, by the above-described correction process, from the time T 2, the period of the clock signal CLK 'becomes (T + β).
Here, T is indicates the period of the clock signal CLK 'in the period from time T 1 to T 2, beta ring oscillator 5
The length corresponding to 2/3 of 24c is shown.

【0208】さらに、図22Bに示される例では、デー
タ信号Dataは、時刻T3にLレベルからHレベルに
変化すると仮定する。また、時刻T2から時刻T3までの
期間においてデータ信号Dataはリングオシレータ5
24cの1状態分に相当する量だけ遅延し、時刻T2
ら時刻T3までの期間においてリングオシレータ524
cの周回数は2であると仮定する。
[0208] Further, in the example shown in FIG. 22B, the assumed data signal Data is at time T 3 changes from L level to H level. Further, the data signal Data in the period from time T 2, to the time T 3 has the ring oscillator 5
Only delayed an amount corresponding to the 1 state portion of 24c, the ring oscillator 524 in a period from time T 2, until time T 3
Assume that the number of turns of c is 2.

【0209】この場合、上述した補正処理により、クロ
ック信号CLK’は遅延量γだけ遅延される。ここで、
遅延量γは、リングオシレータ524cの1状態分に相
当する量である。その結果、時刻T3には、データ信号
Dataのエッジとクロック信号CLK’のエッジとが
一致する。また、上述した補正処理により、時刻T3
ら、クロック信号CLK’の周期は(T’+δ)とな
る。ここで、T’は時刻T2からT3までの期間における
クロック信号CLK’の周期を示し、δはリングオシレ
ータ524cの1/2状態分に相当する長さを示す。
In this case, the clock signal CLK 'is delayed by the delay amount γ by the above-described correction processing. here,
The delay amount γ is an amount corresponding to one state of the ring oscillator 524c. As a result, at time T 3, the edge of the edge of the data signal Data and the clock signal CLK 'matches. Further, by the above-described correction process, from the time T 3, the clock signal CLK 'period of (T' becomes + [delta]). Here, T 'is the clock signal CLK during the period from time T 2, to T 3' indicates a period of, [delta] indicates a length corresponding to 1/2 state amount of the ring oscillator 524c.

【0210】[0210]

【発明の効果】本発明によれば、クロック信号とデータ
信号とが異なる経路で転送される場合でも、スキューを
発生させることのない半導体集積回路、システムおよび
方法を提供することができる。
According to the present invention, it is possible to provide a semiconductor integrated circuit, a system and a method which do not cause skew even when a clock signal and a data signal are transferred through different paths.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態1のシステム1の構成を示
す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a system 1 according to a first embodiment of the present invention.

【図2】出力回路32の構成を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a configuration of an output circuit 32.

【図3】位相差低減回路22の構成を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration of a phase difference reduction circuit 22.

【図4A】イニシャライズ期間において、クロック信号
CLKとダミーパターン信号Dummyとが同期する様
子を示す図である。
FIG. 4A is a diagram showing how a clock signal CLK and a dummy pattern signal Dummy are synchronized during an initialization period.

【図4B】動作・転送期間において、クロック信号CL
Kとデータ信号Dataとが同期する様子を示す図であ
る。
FIG. 4B is a diagram showing a clock signal CL during an operation / transfer period.
FIG. 6 is a diagram illustrating a state in which K and a data signal Data are synchronized.

【図5A】メモリシステム100の構成を示す図であ
る。
5A is a diagram showing a configuration of a memory system 100. FIG.

【図5B】メモリシステム100aの構成を示す図であ
る。
FIG. 5B is a diagram showing a configuration of a memory system 100a.

【図6】同期回路122の構成を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a configuration of a synchronization circuit 122.

【図7】同期回路122の他の構成を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing another configuration of the synchronization circuit 122.

【図8】同期回路125aの構成を示す図である。FIG. 8 is a diagram illustrating a configuration of a synchronization circuit 125a.

【図9】メモリシステム200の構成を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing a configuration of a memory system 200.

【図10A】フラグ信号Flagの波形を示す図であ
る。
FIG. 10A is a diagram showing a waveform of a flag signal Flag.

【図10B】フラグ信号生成回路222の構成を示す図
である。
FIG. 10B is a diagram showing a configuration of a flag signal generation circuit 222.

【図11】本発明の実施の形態2のシステム2の構成を
示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing a configuration of a system 2 according to a second embodiment of the present invention.

【図12】位相差低減回路320の構成を示す図であ
る。
FIG. 12 is a diagram showing a configuration of a phase difference reduction circuit 320.

【図13】位相差低減回路320において使用される各
信号の波形を示す図である。
FIG. 13 is a diagram showing waveforms of signals used in the phase difference reduction circuit 320.

【図14】位相差低減回路420の構成を示す図であ
る。
FIG. 14 is a diagram showing a configuration of a phase difference reduction circuit 420.

【図15A】イニシャライズパターンの例を示す図であ
る。
FIG. 15A is a diagram showing an example of an initialization pattern.

【図15B】クロック信号CLKの位相がダミーパター
ン信号Dummyの位相より遅れている場合の各信号の
波形を示す図である。
FIG. 15B is a diagram showing a waveform of each signal when the phase of the clock signal CLK is delayed from the phase of the dummy pattern signal Dummy.

【図15C】クロック信号CLKの位相がダミーパター
ン信号Dummyの位相より進んでいる場合の各信号の
波形を示す図である。
FIG. 15C is a diagram showing the waveform of each signal when the phase of the clock signal CLK is ahead of the phase of the dummy pattern signal Dummy.

【図16】本発明の実施の形態3のシステム3の構成を
示す図である。
FIG. 16 is a diagram showing a configuration of a system 3 according to a third embodiment of the present invention.

【図17】位相差低減回路520の構成を示す図であ
る。
FIG. 17 is a diagram showing a configuration of a phase difference reduction circuit 520.

【図18】位相差低減回路520において使用される各
信号の波形を示す図である。
FIG. 18 is a diagram showing waveforms of signals used in the phase difference reduction circuit 520.

【図19】位相差低減回路620の構成を示す図であ
る。
FIG. 19 is a diagram showing a configuration of a phase difference reduction circuit 620.

【図20A】イニシャライズパターンの例を示す図であ
る。
FIG. 20A is a diagram showing an example of an initialization pattern.

【図20B】クロック信号CLK’の位相がダミーパタ
ーン信号Dummyの位相に一致する様子を示す図であ
る。
FIG. 20B is a diagram showing a state where the phase of the clock signal CLK ′ matches the phase of the dummy pattern signal Dummy.

【図21A】位相差低減回路520aの構成を示す図で
ある。
FIG. 21A is a diagram showing a configuration of a phase difference reduction circuit 520a.

【図21B】VCO524aおよび補正回路532の構
成を示す図である。
21B is a diagram showing a configuration of a VCO 524a and a correction circuit 532. FIG.

【図22A】リングオシレータ524cに含まれるn個
の遅延回路のうちk段目の遅延回路から出力される信号
の波形を示す図である。
FIG. 22A is a diagram illustrating a waveform of a signal output from a k-th delay circuit among n delay circuits included in a ring oscillator 524c.

【図22B】クロック信号CLK’の周期がデータ信号
Dataの周期より短い場合を示す図である。
FIG. 22B is a diagram showing a case where the cycle of the clock signal CLK ′ is shorter than the cycle of the data signal Data.

【図23A】従来の同期システムの構成を示す図であ
る。
FIG. 23A is a diagram showing a configuration of a conventional synchronization system.

【図23B】位相ずれを示す図である。FIG. 23B is a diagram showing a phase shift.

【図24A】基準クロック信号SysCLKの位相とデ
ータ信号の位相とが完全に一致している場合を示す図で
ある。
FIG. 24A is a diagram showing a case where the phase of a reference clock signal SysCLK completely matches the phase of a data signal.

【図24B】基準クロック信号SysCLKの位相とデ
ータ信号の位相との間に位相ずれTが生じている場合を
示す図である。
FIG. 24B is a diagram showing a case where a phase shift T occurs between the phase of the reference clock signal SysCLK and the phase of the data signal.

【図24C】基準クロック信号の周波数が高い場合に、
基準クロック信号SysCLKの位相とデータ信号の位
相との間に位相ずれTが生じている場合を示す図であ
る。
FIG. 24C: When the frequency of the reference clock signal is high,
FIG. 9 is a diagram illustrating a case where a phase shift T occurs between the phase of a reference clock signal SysCLK and the phase of a data signal.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 システム 10 クロック生成器 20 半導体集積回路 22 位相差低減回路 24 内部回路 30 コントローラ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 System 10 Clock generator 20 Semiconductor integrated circuit 22 Phase difference reduction circuit 24 Internal circuit 30 Controller

Claims (15)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 クロック信号とデータ信号との間の第1
の位相差を低減する位相差低減回路と、 前記クロック信号との間の前記第1の位相差が低減され
た前記データ信号を受け取る回路とを備えた半導体集積
回路。
1. A first signal between a clock signal and a data signal.
A semiconductor integrated circuit, comprising: a phase difference reducing circuit configured to reduce a phase difference between the clock signal;
【請求項2】 前記位相差低減回路は、 前記クロック信号とダミーパターン信号との間の第2の
位相差が低減されるように第1の遅延量を決定する遅延
量決定回路と、 前記第1の遅延量に従って、前記クロック信号および前
記データ信号の一方を遅延させる可変遅延回路とを備え
ている、請求項1に記載の半導体集積回路。
2. A delay amount determining circuit that determines a first delay amount such that a second phase difference between the clock signal and the dummy pattern signal is reduced; 2. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, further comprising: a variable delay circuit that delays one of the clock signal and the data signal according to a delay amount of one.
【請求項3】 前記遅延量決定回路は、 前記クロック信号と前記データ信号との間の前記第1の
位相差が低減されるように第2の遅延量をさらに決定
し、 前記可変遅延回路は、前記第2の遅延量に従って、前記
クロック信号および前記データ信号の一方を遅延させ
る、請求項2に記載の半導体集積回路。
3. The delay amount determination circuit further determines a second delay amount such that the first phase difference between the clock signal and the data signal is reduced, and the variable delay circuit includes: 3. The semiconductor integrated circuit according to claim 2, wherein one of said clock signal and said data signal is delayed according to said second delay amount.
【請求項4】 前記ダミーパターン信号は、第1の論理
レベルから第2の論理レベルに少なくとも1回変動する
信号である、請求項2に記載の半導体集積回路。
4. The semiconductor integrated circuit according to claim 2, wherein the dummy pattern signal is a signal that changes at least once from a first logic level to a second logic level.
【請求項5】 前記データ信号は、データ線を介して前
記位相差低減回路に入力され、前記ダミーパターン信号
は、前記データ信号が前記位相差低減回路に入力される
前に前記データ線を介して前記位相差低減回路に入力さ
れる、請求項2に記載の半導体集積回路。
5. The data signal is input to the phase difference reduction circuit via a data line, and the dummy pattern signal is output via the data line before the data signal is input to the phase difference reduction circuit. 3. The semiconductor integrated circuit according to claim 2, wherein the semiconductor integrated circuit is input to the phase difference reduction circuit.
【請求項6】 第1半導体集積回路と第2半導体集積回
路とを備えたシステムであって、 前記第1半導体集積回路は、 データ信号を前記第2半導体集積回路に出力する出力回
路を含み、 前記第2半導体集積回路は、 前記第1半導体集積回路から出力された前記データ信号
を受け取り、クロック信号と前記データ信号との間の第
1の位相差を低減する位相差低減回路と、 前記クロック信号との間の前記第1の位相差が低減され
た前記データ信号を受け取る回路とを含む、システム。
6. A system including a first semiconductor integrated circuit and a second semiconductor integrated circuit, wherein the first semiconductor integrated circuit includes an output circuit that outputs a data signal to the second semiconductor integrated circuit. The second semiconductor integrated circuit receives the data signal output from the first semiconductor integrated circuit, and reduces a first phase difference between a clock signal and the data signal; Receiving the data signal with the first phase difference between the signal and the signal reduced.
【請求項7】 前記位相差低減回路は、 前記クロック信号とダミーパターン信号との間の第2の
位相差が低減されるように第1の遅延量を決定する遅延
量決定回路と、 前記第1の遅延量に従って、前記クロック信号および前
記データ信号の一方を遅延させる可変遅延回路とを備え
ている、請求項6に記載のシステム。
7. A delay amount determining circuit that determines a first delay amount such that a second phase difference between the clock signal and the dummy pattern signal is reduced, and 7. The system according to claim 6, further comprising: a variable delay circuit that delays one of the clock signal and the data signal according to a delay amount of one.
【請求項8】 前記遅延量決定回路は、 前記クロック信号と前記データ信号との間の前記第1の
位相差が低減されるように第2の遅延量をさらに決定
し、 前記可変遅延回路は、前記第2の遅延量に従って、前記
クロック信号および前記データ信号の一方を遅延させ
る、請求項7に記載のシステム。
8. The delay amount determination circuit further determines a second delay amount so that the first phase difference between the clock signal and the data signal is reduced, and the variable delay circuit 8. The system of claim 7, wherein one of the clock signal and the data signal is delayed according to the second delay amount.
【請求項9】 前記ダミーパターン信号は、第1の論理
レベルから第2の論理レベルに少なくとも1回変動する
信号である、請求項7に記載のシステム。
9. The system of claim 7, wherein the dummy pattern signal is a signal that changes at least once from a first logic level to a second logic level.
【請求項10】 前記第1半導体集積回路と前記第2半
導体集積回路とはデータ線を介して互いに接続されてお
り、 前記データ信号は、前記データ線を介して前記第1半導
体集積回路から前記第2半導体集積回路に転送され、前
記ダミーパターン信号は、前記データ信号が前記第1半
導体集積回路から前記第2半導体集積回路に転送される
前に前記データ線を介して前記第1半導体集積回路から
前記第2半導体集積回路に転送される、請求項7に記載
のシステム。
10. The first semiconductor integrated circuit and the second semiconductor integrated circuit are connected to each other via a data line, and the data signal is transmitted from the first semiconductor integrated circuit via the data line to the first semiconductor integrated circuit. The dummy pattern signal is transferred to the first semiconductor integrated circuit via the data line before the data signal is transferred from the first semiconductor integrated circuit to the second semiconductor integrated circuit; 8. The system according to claim 7, wherein the data is transferred to the second semiconductor integrated circuit.
【請求項11】 クロック信号とデータ信号との間のス
キューを低減する方法であって、 (a)クロック信号とデータ信号との間の第1の位相差
を低減するステップと、 (b)前記クロック信号との間の前記第1の位相差が低
減された前記データ信号を受け取るステップとを包含す
る方法。
11. A method for reducing skew between a clock signal and a data signal, the method comprising: (a) reducing a first phase difference between a clock signal and a data signal; Receiving the data signal with the first phase difference reduced from a clock signal.
【請求項12】 前記ステップ(a)は、 (a−1)前記クロック信号とダミーパターン信号との
間の第2の位相差が低減されるように第1の遅延量を決
定するステップと、 (a−2)前記第1の遅延量に従って、前記クロック信
号および前記データ信号の一方を遅延させるステップと
を包含する、請求項11に記載の方法。
12. The step (a) comprises: (a-1) determining a first delay amount such that a second phase difference between the clock signal and the dummy pattern signal is reduced; (A-2) delaying one of the clock signal and the data signal according to the first delay amount.
【請求項13】 前記ステップ(a)は、 (a−3)前記クロック信号と前記データ信号との間の
前記第1の位相差が低減されるように第2の遅延量をさ
らに決定するステップと、 (a−4)前記第2の遅延量に従って、前記クロック信
号および前記データ信号の一方を遅延させるステップと
をさらに包含する、請求項12に記載の方法。
13. The step (a) includes: (a-3) a step of further determining a second delay amount such that the first phase difference between the clock signal and the data signal is reduced. The method according to claim 12, further comprising: (a-4) delaying one of the clock signal and the data signal according to the second delay amount.
【請求項14】 前記ダミーパターン信号は、第1の論
理レベルから第2の論理レベルに少なくとも1回変動す
る信号である、請求項12に記載の方法。
14. The method of claim 12, wherein the dummy pattern signal is a signal that changes at least once from a first logic level to a second logic level.
【請求項15】 データ線に接続された半導体集積回路
において、クロック信号とデータ信号との間のスキュー
を低減する方法であって、 (a)第1の期間において、前記データ線を介してダミ
ーパターン信号を受け取るステップと、 (b)第2の期間において、前記データ線を介して前記
データ信号を受け取るステップと、 (c)前記クロック信号と前記ダミーパターン信号との
間の位相差に基づいて、前記クロック信号と前記データ
信号との間の位相差を低減するステップとを包含する方
法。
15. A method for reducing skew between a clock signal and a data signal in a semiconductor integrated circuit connected to a data line, comprising: Receiving a pattern signal; (b) receiving the data signal via the data line in a second period; and (c) based on a phase difference between the clock signal and the dummy pattern signal. Reducing the phase difference between the clock signal and the data signal.
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