JPH11339937A - Temperature control device, method for manufacturing temperature control device, temperature sensor, and method for manufacturing temperature sensor - Google Patents
Temperature control device, method for manufacturing temperature control device, temperature sensor, and method for manufacturing temperature sensorInfo
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- JPH11339937A JPH11339937A JP10141961A JP14196198A JPH11339937A JP H11339937 A JPH11339937 A JP H11339937A JP 10141961 A JP10141961 A JP 10141961A JP 14196198 A JP14196198 A JP 14196198A JP H11339937 A JPH11339937 A JP H11339937A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、温度制御装置、温
度制御装置の製造方法、温度センサおよび温度センサの
製造方法に関する。The present invention relates to a temperature control device, a method for manufacturing a temperature control device, a temperature sensor, and a method for manufacturing a temperature sensor.
【0002】[0002]
【従来の技術】半導体の製造工程においては、塗布した
レジスト膜に残存する溶剤を取り除くために半導体ウェ
ハを加熱するプリベークや、エッチング前にレジストと
基板との密着を容易にするために半導体ウェハを加熱す
るポストベーク等の加熱工程が含まれているとともに、
加熱した半導体ウェハを都度室温レベルまで冷却するク
ーリング等の冷却工程が含まれており、これら各工程の
際に半導体ウェハを効率よく、かつ高精度に温度制御す
ることがスループットを向上させる上で重要となる。特
に、プリベークの次工程が露光であり、またポストベー
クの次工程がエッチングであるので、これらの工程に速
やかに移行できるようにするためには、ウェハの温度分
布にかなり厳しい条件が要求される。2. Description of the Related Art In a semiconductor manufacturing process, a pre-bake for heating a semiconductor wafer to remove a solvent remaining in a coated resist film, and a semiconductor wafer for facilitating adhesion between a resist and a substrate before etching are performed. A heating process such as post-baking is included, and
Cooling processes such as cooling, which cools heated semiconductor wafers to room temperature each time, are included, and in each of these processes, efficient and accurate temperature control of semiconductor wafers is important for improving throughput. Becomes In particular, since the next step of the pre-bake is exposure and the next step of the post-bake is etching, quite strict conditions are required for the wafer temperature distribution in order to be able to shift to these steps promptly. .
【0003】上述した加熱工程で用いられるウェハの温
度制御装置としては、ウェハを搭載する基台に薄膜ヒー
タを配置したものが適用されている。薄膜ヒータは、適
宜パターンに形成した発熱抵抗線状体と、この発熱抵抗
線状体を被覆する絶縁性樹脂とを備え、基台の表面に接
着されており、該発熱抵抗線状体の発熱により、基台に
搭載したウェハの加熱を行うようにしている。As a wafer temperature control device used in the above-described heating step, a device in which a thin film heater is arranged on a base on which a wafer is mounted is applied. The thin-film heater includes a heating resistor linear body formed in an appropriate pattern, and an insulating resin covering the heating resistor linear body, and is adhered to the surface of the base, and generates heat from the heating resistor linear body. Thus, the wafer mounted on the base is heated.
【0004】加熱を行う場合には、通常、薄膜ヒータと
ウェハとの間に一定の間隙を確保することによって空気
層を形成し、該空気層を介することで薄膜ヒータに生じ
た温度分布のウェハへの影響を減少するようにしてい
る。In the case of heating, usually, an air layer is formed by securing a certain gap between the thin film heater and the wafer, and a wafer having a temperature distribution generated in the thin film heater by passing through the air layer. To reduce the impact on
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】上記のような薄膜ヒー
タを適用してウェハを均一に加熱するためには、発熱抵
抗線状体の実際の発熱温度を正確に測定し、この測定結
果に基づいて発熱抵抗線状体に対する通電制御を行う必
要がある。この場合、発熱抵抗線状体の極近傍に温度セ
ンサを配置することが好ましいのはいうまでもない。In order to uniformly heat the wafer by applying the above-described thin film heater, the actual heating temperature of the heating resistor linear body is accurately measured, and based on the measurement result, Therefore, it is necessary to control the energization of the heating resistor linear body. In this case, it is needless to say that it is preferable to dispose the temperature sensor very close to the heating resistor linear body.
【0006】しかしながら、たとえば薄膜ヒータの表面
上に温度センサを貼着した場合には、この温度センサを
配置した部分の熱伝達率が著しく高くなり、ウェハに温
度分布を招来する。However, when a temperature sensor is attached to the surface of a thin-film heater, for example, the heat transfer coefficient of the portion where the temperature sensor is disposed becomes extremely high, which causes a temperature distribution on the wafer.
【0007】また薄膜ヒータと基台との間に温度センサ
を配置した場合には、薄膜ヒータとウェハとの距離が一
定でなくなり、ウェハに温度分布を招来する。When a temperature sensor is arranged between the thin film heater and the base, the distance between the thin film heater and the wafer is not constant, resulting in a temperature distribution on the wafer.
【0008】このため従来においては、基台の内部に温
度センサを配置し、基台を介して発熱抵抗線状体の温度
を測定せざるを得ず、この測定結果に基づく通電制御の
信頼性を著しく損なうことになり、その結果ウェハに温
度分布を招来する。For this reason, conventionally, a temperature sensor must be arranged inside the base to measure the temperature of the heating resistor linear body via the base, and the reliability of the energization control based on the measurement result has to be measured. Is significantly impaired, which results in a temperature distribution on the wafer.
【0009】本発明は、上記実情に鑑みて、被温度制御
対象物を均一に加熱することのできる温度制御装置およ
びその製造方法、並びにこの温度制御装置に好適な温度
センサおよびその製造方法を提供することを解決課題と
する。In view of the above circumstances, the present invention provides a temperature control device capable of uniformly heating an object to be temperature-controlled and a method of manufacturing the same, and a temperature sensor suitable for the temperature control device and a method of manufacturing the same. Is the task to be solved.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段および作用効果】請求項1
に記載の発明では、基台に搭載した被温度制御対象物の
温度制御を行う温度制御装置において、絶縁膜を介して
温度センサと発熱抵抗線状体とを積層した絶縁層を前記
基台の表面に設けている。Means for Solving the Problems and Functions and Effects
According to the invention described in the above, in the temperature control device for controlling the temperature of the temperature-controlled object mounted on the base, an insulating layer in which a temperature sensor and a heating resistor linear body are laminated via an insulating film is used as the base. Provided on the surface.
【0011】この請求項1に記載の発明によれば、発熱
抵抗線状体を被覆する絶縁層の内部に一体的に温度セン
サを設けるようにしているため、被温度制御対象物に温
度分布を招来することなく発熱抵抗線状体の温度をその
極近傍において正確に測定することができる。According to the first aspect of the present invention, since the temperature sensor is provided integrally inside the insulating layer covering the heating resistor linear body, the temperature distribution is controlled on the object to be controlled. It is possible to accurately measure the temperature of the heating resistor linear body in the very vicinity thereof without inviting.
【0012】したがって、この測定結果に基づいた発熱
抵抗線状体の通電制御も正確に行うことができ、被温度
制御対象物を均一に加熱することができるようになる。Therefore, it is possible to accurately control the energization of the heating resistor linear body based on the measurement result, and to uniformly heat the object to be temperature-controlled.
【0013】請求項2に記載の方法発明では、支持用絶
縁膜の一方表面に温度センサを形成する一方、該支持用
絶縁膜の他方表面に発熱抵抗線状体を敷設する工程と、
前記支持用絶縁膜の一方表面に前記温度センサを被覆す
る第1被覆用絶縁膜を形成する工程と、前記支持用絶縁
膜の他方表面に前記発熱抵抗線状体を被覆する第2被覆
用絶縁膜を形成する工程とを含むようにしている。According to a second aspect of the present invention, a step of forming a temperature sensor on one surface of the supporting insulating film and laying a heating resistor wire on the other surface of the supporting insulating film;
Forming a first covering insulating film covering the temperature sensor on one surface of the supporting insulating film, and forming a second covering insulating film covering the heating resistor linear body on the other surface of the supporting insulating film; And a step of forming a film.
【0014】この場合、第1被覆用絶縁膜を形成する工
程と第2被覆用絶縁膜を形成する工程とは、いずれを先
に行ってもよく、また両工程を同時に行っても構わな
い。In this case, the step of forming the first coating insulating film and the step of forming the second coating insulating film may be performed first, or both steps may be performed simultaneously.
【0015】この請求項2に記載の発明によれば、温度
センサと発熱抵抗線状体とを共通の支持用絶縁膜に形成
しているため、両者の絶縁性を十分に確保した状態でそ
の薄膜化を向上させることができる。According to the second aspect of the present invention, since the temperature sensor and the heating resistor linear body are formed on the common supporting insulating film, the temperature sensor and the heating resistor linear body are formed in a state where both insulating properties are sufficiently ensured. Thinning can be improved.
【0016】しかも、第1被覆用絶縁膜、もしくは第2
被覆用絶縁膜を形成する際に該絶縁膜を利用して基台の
表面に接着させることができ、製造工程の簡略化を図る
ことができる。In addition, the first coating insulating film or the second
When the insulating film for covering is formed, the insulating film can be used to adhere to the surface of the base, and the manufacturing process can be simplified.
【0017】請求項3に記載の方法発明では、第1支持
用絶縁膜の表面に温度センサを形成する工程と、第2支
持用絶縁膜の表面に発熱抵抗線状体を敷設する工程と、
互いの表面を対向させた状態で、これら第1支持用絶縁
膜および第2支持用絶縁膜を被覆用絶縁膜によって相互
に接着する工程とを含むようにしている。According to the third aspect of the present invention, a step of forming a temperature sensor on the surface of the first supporting insulating film, and a step of laying a heating resistor linear body on the surface of the second supporting insulating film;
Bonding the first and second supporting insulating films to each other with a covering insulating film in a state where the surfaces are opposed to each other.
【0018】この場合、温度センサを形成する工程と発
熱抵抗線状体を敷設する工程とは、いずれを先に行って
もよく、また両工程を同時に行っても構わない。In this case, any of the step of forming the temperature sensor and the step of laying the heating resistor linear body may be performed first, or both steps may be performed simultaneously.
【0019】この請求項3に記載の発明によれば、第1
支持用絶縁膜および第2支持用絶縁膜を共通の被覆用絶
縁膜によって相互に接着するようにしているため、その
薄膜化を図ることができる。According to the third aspect of the present invention, the first
Since the supporting insulating film and the second supporting insulating film are bonded to each other by the common covering insulating film, the thickness can be reduced.
【0020】しかも、温度制御装置の表裏両面がいずれ
も支持用絶縁膜によって規定されることになるため、こ
れらの面を平坦化する必要がなく作業の容易化を図るこ
とができる。In addition, since both the front and back surfaces of the temperature control device are defined by the supporting insulating film, it is not necessary to flatten these surfaces and the work can be facilitated.
【0021】請求項4に記載の方法発明では、第1支持
用絶縁膜の表面に温度センサを形成する工程と、第2支
持用絶縁膜の表面に発熱抵抗線状体を敷設する工程と、
前記第1支持用絶縁膜の表面に前記温度センサを被覆す
る第1被覆用絶縁膜を形成する工程と、前記第2支持用
絶縁膜の表面に前記発熱抵抗線状体を被覆する第2被覆
用絶縁膜を形成する工程と、これら第1被覆用絶縁膜お
よび第2被覆用絶縁膜の一方を形成する際に、該被覆用
絶縁膜によって一方の支持用絶縁膜を他方の支持用絶縁
膜の裏面に接着させる工程とを含むようにしている。According to a fourth aspect of the present invention, a step of forming a temperature sensor on the surface of the first supporting insulating film, and a step of laying a heating resistor wire on the surface of the second supporting insulating film;
Forming a first coating insulating film covering the temperature sensor on a surface of the first supporting insulating film, and forming a second coating covering the heating resistor linear body on a surface of the second supporting insulating film; Forming one of the first coating insulating film and the second coating insulating film, and using the coating insulating film to replace one supporting insulating film with the other supporting insulating film. And a step of adhering to the back surface.
【0022】この場合、温度センサを形成する工程と発
熱抵抗線状体を敷設する工程とは、いずれを先に行って
もよく、また両工程を同時に行っても構わない。また同
様に、第1被覆用絶縁膜を形成する工程および第2被覆
用絶縁膜を形成する工程も、それぞれの順番は問わな
い。In this case, any of the step of forming the temperature sensor and the step of laying the heating resistor linear body may be performed first, or both steps may be performed simultaneously. Similarly, the order of forming the first insulating film and forming the second insulating film is not limited.
【0023】この請求項4に記載の発明によれば、温度
センサと発熱抵抗線状体との間に、第1支持用絶縁膜お
よび第2支持用絶縁膜のいずれか一方が介在することに
なるため、第1被覆用絶縁膜または第2被覆用絶縁膜の
厚さに関わりなくこれら温度センサおよび発熱抵抗線状
体を確実に絶縁することができる。According to the fourth aspect of the invention, one of the first supporting insulating film and the second supporting insulating film is interposed between the temperature sensor and the heating resistor linear body. Therefore, the temperature sensor and the heating resistor linear body can be reliably insulated regardless of the thickness of the first coating insulating film or the second coating insulating film.
【0024】請求項5に記載の発明では、支持用絶縁膜
に感温部用導電パターンと引出線用導電パターンとを形
成して温度センサを構成している。According to the fifth aspect of the present invention, the temperature sensor is formed by forming the conductive pattern for the temperature sensing portion and the conductive pattern for the lead wire on the insulating film for support.
【0025】この請求項5に記載の発明によれば、温度
センサが薄膜状に構成されるため、たとえば上述した温
度制御装置に適用した場合に発熱抵抗線状体の加熱作用
に与える影響が極めて少ない。According to the fifth aspect of the present invention, since the temperature sensor is formed in the form of a thin film, when the temperature sensor is applied to the above-described temperature control device, for example, the effect on the heating action of the heating resistor linear body is extremely small. Few.
【0026】請求項6に記載の発明では、上述した請求
項5に記載の発明において、前記感温部用導電パターン
と前記引出線用導電パターンとをさらに絶縁膜によって
被覆している。According to a sixth aspect of the present invention, in the fifth aspect of the invention, the conductive pattern for the temperature sensing portion and the conductive pattern for the lead wire are further covered with an insulating film.
【0027】この請求項6に記載の発明によれば、上述
した温度制御装置以外にも温度センサ単体として使用す
ることができる。According to the invention described in claim 6, the temperature sensor can be used as a single unit other than the temperature control device described above.
【0028】請求項7に記載の方法発明では、支持用絶
縁膜に引出線用導電パターンを形成する工程と、前記支
持用絶縁膜に導電線を配置することによって感温部用導
電パターンを形成する工程とを含むようにしている。According to a seventh aspect of the present invention, a conductive pattern for a lead line is formed on a supporting insulating film, and a conductive pattern is formed on the supporting insulating film by forming a conductive line on the supporting insulating film. And the step of performing
【0029】この請求項7に記載の発明によれば、導電
線を配置することによって感温部用導電パターンを形成
するようにしているため、エッチングや溶射や蒸着等の
大規模設備を使用する必要がなく、容易に、かつ安価に
温度センサを製造することができる。According to the seventh aspect of the present invention, since the conductive pattern is formed by arranging the conductive wires, large-scale equipment such as etching, thermal spraying, and vapor deposition is used. There is no need, and the temperature sensor can be manufactured easily and inexpensively.
【0030】請求項8に記載の方法発明では、耐熱性を
有した作業プレートに感温部用導電パターンを形成する
工程と、前記作業プレートにこの感温部用導電パターン
を被覆する支持用絶縁膜を形成する工程と、前記作業プ
レートを除去する工程とを含むようにしている。In the method according to the present invention, a step of forming a conductive pattern for a temperature-sensitive portion on a work plate having heat resistance, and a step of forming an insulating support for covering the conductive pattern for the temperature-sensitive portion on the work plate. The method includes a step of forming a film and a step of removing the work plate.
【0031】この場合、請求項9に記載の発明では、前
記感温部用導電パターンを形成する以前に予め前記作業
プレートに引出線用導電膜を形成する工程と、前記作業
プレートを除去した後、前記引出線用導電膜にエッチン
グを施すことによって引出線用導電パターンを形成する
工程とをさらに含むようにしている。In this case, according to the ninth aspect of the present invention, a step of forming a lead conductive film on the work plate in advance before forming the conductive pattern for the temperature sensing portion, and a step of removing the work plate. Forming a conductive pattern for a lead-out line by etching the conductive film for a lead-out line.
【0032】請求項8および請求項9に記載の発明によ
れば、耐熱性の作業プレートを適用しているため、感温
部用導電パターンとして、より精度の高い白金を適用し
た場合にもこれを蒸着や溶射によって形成することがで
きる。According to the eighth and ninth aspects of the present invention, since the heat-resistant work plate is applied, even when platinum with higher precision is applied as the conductive pattern for the temperature sensing portion, the present invention is not limited to this. Can be formed by vapor deposition or thermal spraying.
【0033】したがって、感温部用導電パターンと引出
線用導電パターンとの接続作業が不要になる等、作業工
程の簡略化を図ることができるようになる。Accordingly, the work of connecting the conductive pattern for the temperature sensing part and the conductive pattern for the lead wire becomes unnecessary, and the working process can be simplified.
【0034】なお、請求項8に記載の方法発明において
は、感温部用導電パターンを形成する以前に予め引出線
用導電膜にエッチングを施すことによって作業プレート
に引出線用導電パターンを形成するようにしてもよい
し、また作業プレートを除去した部分に引出線用導電膜
を形成し、さらにこの引出線用導電膜にエッチングを施
すことによって引出線用導電パターンを形成することも
可能である。In the method of the present invention, the lead conductive film is formed on the work plate by etching the lead conductive film before forming the temperature-sensitive part conductive pattern. Alternatively, it is also possible to form a conductive pattern for a lead by forming a conductive film for a lead in a portion where the work plate is removed, and further etching the conductive film for a lead. .
【0035】[0035]
【発明の実施の形態】以下、一実施の形態を示す図面に
基づいて本発明を詳細に説明する。図1は、本発明に係
る温度制御装置の一実施形態を示したものである。ここ
で例示する温度制御装置は、以下に示す(1)〜(8)
プロセスを経てレジスト膜を成膜する半導体製造工程に
おいて(3)または(4)の際に用いられる。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below in detail with reference to the drawings showing one embodiment. FIG. 1 shows an embodiment of a temperature control device according to the present invention. The temperature control devices exemplified here include the following (1) to (8)
It is used in (3) or (4) in a semiconductor manufacturing process of forming a resist film through a process.
【0036】(1)ウェハ洗浄 (2)レジストコーティング (3)プリベーキング(110〜130℃)+クーリン
グ(20℃) (4)露光 (5)現像 (6)リンス (7)ポストベーキング(120〜150℃)+クーリ
ング(20℃) (8)エッチング (3)および(4)プロセスでは、最初に被温度制御対
象物であるウェハWを高温に加熱し(ベーキング)、そ
の後このウェハWを室温まで冷却する(クーリング)と
いうサイクルをウェハ単位に数十秒間隔で繰り返す制御
が行われる。(1) Wafer cleaning (2) Resist coating (3) Pre-baking (110-130 ° C.) + Cooling (20 ° C.) (4) Exposure (5) Development (6) Rinsing (7) Post-baking (120-130) (150 ° C.) + Cooling (20 ° C.) (8) Etching In the processes (3) and (4), first, the wafer W to be controlled is heated to a high temperature (baking), and then the wafer W is cooled to room temperature. Control for repeating a cycle of cooling (cooling) at intervals of several tens of seconds for each wafer is performed.
【0037】すなわち、この温度制御装置は、加熱の際
の目標温度と、冷却の際の目標温度という2つの目標温
度をもっており、加熱・冷却を交互に繰り返す制御を行
うものである。That is, this temperature control device has two target temperatures, ie, a target temperature for heating and a target temperature for cooling, and performs control for alternately repeating heating and cooling.
【0038】図1に示すように、この温度制御装置は、
アルミニウムやアルミニウム合金、あるいはアルミナ
(Al2 O3 )等の熱伝導率の高い材質によって中空円
柱状に成形したベースプレート(基台)1を備えてい
る。As shown in FIG. 1, this temperature control device
A base plate (base) 1 is formed in a hollow cylindrical shape from a material having high thermal conductivity such as aluminum, an aluminum alloy, or alumina (Al2 O3).
【0039】このベースプレート1は、その上面が水平
となる状態で設置されており、その底壁に排出口1aと
流入口1bとを有している。The base plate 1 is installed with its upper surface horizontal, and has a discharge port 1a and an inflow port 1b on its bottom wall.
【0040】ベースプレート1の排出口1aは、排出通
路2を通じて蓄熱タンク3に接続され、ベースプレート
1の流入口1bは、供給通路4を通じて同蓄熱タンク3
に接続されている。The outlet 1a of the base plate 1 is connected to the heat storage tank 3 through the discharge passage 2, and the inlet 1b of the base plate 1 is connected to the heat storage tank 3 through the supply passage 4.
It is connected to the.
【0041】蓄熱タンク3は、その内部に、フッ化炭素
液(=フロリナート:登録商標)、エチレングリコー
ル、オイル、水、窒素、空気、ヘリウム等の温度流体を
貯留し、かつチラータンク5との間においてこの温度流
体を循環させることにより、当該温度流体を20℃近傍
の温度に調整維持するものである。The heat storage tank 3 stores therein a temperature fluid such as a fluorocarbon liquid (= Fluorinert: registered trademark), ethylene glycol, oil, water, nitrogen, air, helium, etc. By circulating this temperature fluid, the temperature fluid is adjusted and maintained at a temperature near 20 ° C.
【0042】またこの温度制御装置は、ベースプレート
1の上面に加熱手段10を備えている。This temperature control device has a heating means 10 on the upper surface of the base plate 1.
【0043】加熱手段10は、ベースプレート1の上面
と同一の外径を有した円板状を成すもので、絶縁層11
の内部に発熱抵抗線状体20と温度センサ30とを備え
ている。The heating means 10 has a disk shape having the same outer diameter as the upper surface of the base plate 1, and has an insulating layer 11.
Is provided with a heating resistor linear body 20 and a temperature sensor 30.
【0044】発熱抵抗線状体20は、ニッケルクロム合
金や鉄クロム合金等のように単位長さあたりの電気抵抗
が高い金属、あるいはその合金によって構成しており、
通電制御部40から加熱電力が供給された場合に発熱し
てウェハWの加熱を行う。The heating resistance linear body 20 is made of a metal having a high electric resistance per unit length, such as a nickel chromium alloy or an iron chromium alloy, or an alloy thereof.
When the heating power is supplied from the power supply control unit 40, heat is generated and the wafer W is heated.
【0045】図には明示していないが、この発熱抵抗線
状体20は、その全領域が等発熱密度となるような形状
で上記絶縁層11の内部に単一層状に配置されている。Although not explicitly shown in the drawing, the heating resistor linear body 20 is disposed in a single layer inside the insulating layer 11 in such a shape that the entire area thereof has an equal heating density.
【0046】温度センサ30は、図5(3)の側面図や
(3a)の平面図および図6(6)の側面図や(6a)
の底面図に示すように、支持用絶縁膜31に構成した薄
膜状を成しており、加熱手段10の温度を測定し、その
測定結果を上記通電制御部40に出力するものである。The temperature sensor 30 has a side view in FIG. 5 (3), a plan view in (3a), a side view in FIG.
As shown in the bottom view of FIG. 2, the thin film formed on the supporting insulating film 31 measures the temperature of the heating means 10, and outputs the measurement result to the energization control unit 40.
【0047】以下、図5および図6を参照しながら上記
温度センサ30の製造方法について2つの実施例を説明
し、さらにこれらの方法によって製造した温度センサ3
0を適用する加熱手段10の製造方法について図2乃至
図4を参照しながら3つの実施例を説明する。Hereinafter, two embodiments of a method of manufacturing the temperature sensor 30 will be described with reference to FIGS. 5 and 6, and the temperature sensor 3 manufactured by these methods will be described.
Three examples of the method of manufacturing the heating means 10 to which 0 is applied will be described with reference to FIGS.
【0048】〔温度センサ製造方法の第1実施例〕図5
に示す第1実施例は、図5(1)の側面図および(1
a)の平面図に示すように、支持用絶縁膜31の表面に
引出線用導電膜32を設けたシート材Sを適用して温度
センサ30を製造するものである。[First Embodiment of Temperature Sensor Manufacturing Method] FIG.
The first embodiment shown in FIG. 5 is a side view of FIG.
As shown in the plan view of a), the temperature sensor 30 is manufactured by using a sheet material S in which a conductive film 32 for a lead wire is provided on the surface of an insulating film 31 for support.
【0049】支持用絶縁膜31としては、ポリイミド樹
脂やポリテトラフルオルエチレン(=テフロン:商品
名)樹脂等のように、耐熱性を有した絶縁樹脂薄膜(1
0〜25μm)を適用することができる。The supporting insulating film 31 is made of a heat-resistant insulating resin thin film (1) such as polyimide resin or polytetrafluoroethylene (= Teflon: trade name) resin.
0 to 25 μm) can be applied.
【0050】引出線用導電膜32としては、銅、ステン
レス、ニッケル、金、銀等のように電気良導体で、エッ
チング可能な金属を、蒸着や溶射によって薄膜(10〜
25μm)に形成したものを適用することができる。The lead conductive film 32 is formed of a thin film (10 to 10) of an etchable metal such as copper, stainless steel, nickel, gold, silver or the like, which is a good conductor and can be etched.
25 μm) can be applied.
【0051】まず図5(2)の側面図および(2a)の
平面図に示すように、シート材Sの引出線用導電膜32
にエッチングを施し、3本の引出線用導電パターン3
2′を形成する。First, as shown in the side view of FIG. 5B and the plan view of FIG.
Is etched, and the three conductive patterns 3 for lead wires are etched.
Form 2 '.
【0052】引出線用導電パターン32′は、温度セン
サ30の引出線となる部分であり、3本のうちの隣設す
る2本が先端部で導通している。The lead-out conductive pattern 32 'is a part to be a lead-out line of the temperature sensor 30, and two adjacent ones of the three are conductive at the tip.
【0053】次いで図5(3)の側面図および(3a)
の平面図に示すように、独立した引出線用導電パターン
32′の先端部間に導電線を配置し、その両端部をそれ
ぞれ引出線用導電パターン32′に接続させることによ
って支持用絶縁膜31に感温部用導電パターン33を形
成する。Next, the side view of FIG. 5 (3) and (3a)
As shown in the plan view, a conductive wire is arranged between the distal ends of the independent lead-out conductive patterns 32 ', and both ends are connected to the lead-out conductive patterns 32', respectively, to thereby form the supporting insulating film 31. Then, a conductive pattern 33 for a temperature sensing part is formed.
【0054】この感温部用導電パターン33は、温度セ
ンサ30の温度測定部となる部分であり、必要な抵抗値
(100Ω)となる長さの白金製導電線(φ10μm)
を適用している。白金以外には、ニッケルや銅を適用す
ることができる。The conductive pattern 33 for the temperature sensing portion is a portion to be a temperature measuring portion of the temperature sensor 30 and has a length of a platinum conductive wire (φ10 μm) having a required resistance value (100Ω).
Has been applied. In addition to platinum, nickel or copper can be used.
【0055】感温部用導電パターン33と引出線用導電
パターン32′との接続には、半田やスポット溶接を利
用することができる。The connection between the conductive pattern 33 for the temperature sensing portion and the conductive pattern 32 'for the lead wire can be made by soldering or spot welding.
【0056】また支持用絶縁膜31に配置した導電線
は、該支持用絶縁膜31に張り付けることが好ましい。
この場合、接着剤を利用してもよいし、加熱しながら押
圧することによっても導電線を支持用絶縁膜31に張り
付けることが可能である。It is preferable that the conductive wires disposed on the supporting insulating film 31 be attached to the supporting insulating film 31.
In this case, the conductive wire can be attached to the supporting insulating film 31 by using an adhesive or by pressing while heating.
【0057】以上の工程によって加熱手段10に適用す
る温度センサ30を製造することができるが、図5
(4)の側面図に示すように、引出線用導電パターン3
2′および感温部用導電パターン33をそれぞれ絶縁膜
34によって被覆すれば、通常の温度センサ30′とし
て用いることもできる。The temperature sensor 30 applied to the heating means 10 can be manufactured by the above steps.
As shown in the side view of (4), the lead-out conductive pattern 3
If the 2 'and the conductive pattern 33 for the temperature sensing part are respectively covered with the insulating film 34, it can be used as a normal temperature sensor 30'.
【0058】この第1実施例では、導電線を適用して感
温部用導電パターン33を形成するようにしているた
め、エッチングや溶射や蒸着等の大規模設備を使用する
必要がなく、容易に、かつ安価に温度センサ30を製造
することができる。In the first embodiment, since the conductive pattern 33 is formed by applying a conductive wire, it is not necessary to use a large-scale facility such as etching, thermal spraying, or vapor deposition. The temperature sensor 30 can be manufactured at low cost.
【0059】しかしながら、支持用絶縁膜31の溶融温
度(150〜250℃程度)よりも低い温度で溶射や蒸
着を行うことができる金属を選択した場合には、これら
溶射や蒸着によって感温部用導電パターン33を形成す
ることも可能である。However, when a metal that can be sprayed or vapor-deposited at a temperature lower than the melting temperature of the supporting insulating film 31 (about 150 to 250 ° C.) is selected, the thermal spraying or vapor-depositing is performed by using such a metal. It is also possible to form the conductive pattern 33.
【0060】〔温度センサ製造方法の第2実施例〕図6
に示す第2実施例は、図6(1)の側面図で示すよう
に、作業プレート35を用いて温度センサ30を製造す
るものである。[Second Embodiment of Temperature Sensor Manufacturing Method] FIG.
In the second embodiment, as shown in the side view of FIG. 6A, the temperature sensor 30 is manufactured using the work plate 35.
【0061】作業プレート35は、上面が平坦に形成さ
れており、鉄などのように白金を蒸着させる際に必要と
なる温度(約800℃)に対しても耐熱性を有してい
る。The work plate 35 has a flat upper surface and has heat resistance even at a temperature (about 800 ° C.) required for depositing platinum such as iron.
【0062】まずこの第2実施例では、図6(2)の側
面図に示すように、作業プレート35の上面に引出線用
導電膜32を形成する。First, in the second embodiment, as shown in the side view of FIG. 6 (2), the conductive film 32 for the lead wire is formed on the upper surface of the work plate 35.
【0063】引出線用導電膜32としては、第1実施例
と同様に、電気良導体で、エッチング可能な金属を、蒸
着や溶射によって薄膜(10〜25μm)に形成したも
のを適用することができる。As the lead conductive film 32, as in the first embodiment, an electrically conductive, etchable metal formed into a thin film (10 to 25 μm) by vapor deposition or thermal spraying can be used. .
【0064】次いで図6(3)の側面図および(3a)
の平面図に示すように、引出線用導電膜32の上面に感
温部用導電パターン33を形成する。Next, the side view of FIG. 6 (3) and (3a)
As shown in the plan view, a conductive pattern 33 for a temperature sensing portion is formed on the upper surface of the conductive film 32 for a lead wire.
【0065】ここで、この第2実施例では、耐熱性を有
した作業プレート35に対して感温部用導電パターン3
3を形成するようにしているため、該感温部用導電パタ
ーン33として白金を選択した場合にも溶射や蒸着を行
うことができる。Here, in the second embodiment, the conductive pattern 3 for the temperature sensing portion is placed on the work plate 35 having heat resistance.
3, the thermal spraying and vapor deposition can be performed even when platinum is selected as the conductive pattern 33 for the temperature sensing part.
【0066】このため、感温部用導電パターン33と後
述する引出線用導電パターン32′との接続作業が不要
になり、上述した第1実施例に比べて作業工程の簡略化
を図ることができるようになる。For this reason, there is no need to connect the temperature-sensitive portion conductive pattern 33 and the lead-out conductive pattern 32 ′, which will be described later, and the working process can be simplified as compared with the first embodiment. become able to.
【0067】しかしながら上記第1実施例と同様に、導
電線を適用して感温部用導電パターン33を形成しても
もちろん構わない。However, as in the first embodiment, the conductive pattern 33 may be formed by applying a conductive wire.
【0068】次いで図6(4)の側面図に示すように、
作業プレート35に支持用絶縁膜31を形成することに
よって感温部用導電パターン33および引出線用導電膜
32を被覆する。Next, as shown in the side view of FIG.
By forming the supporting insulating film 31 on the work plate 35, the conductive pattern 33 for the temperature sensing portion and the conductive film 32 for the lead wire are covered.
【0069】支持用絶縁膜31としては、第1実施例と
同様に、耐熱性を有した絶縁樹脂薄膜(10〜25μ
m)を適用することができる。As the supporting insulating film 31, as in the first embodiment, an insulating resin thin film having heat resistance (10 to 25 μm) is used.
m) can be applied.
【0070】次いで図6(5)の側面図に示すように、
支持用絶縁膜31によって被覆された感温部用導電パタ
ーン33および引出線用導電膜32から作業プレート3
5を除去する。Next, as shown in the side view of FIG.
The working plate 3 is formed from the conductive pattern 33 for the temperature sensing portion and the conductive film 32 for the lead wire covered with the insulating film 31 for support.
5 is removed.
【0071】この場合、引出線用導電膜32と作業プレ
ート35との間を剥離させるようにしてもよいし、作業
プレート35を溶融させて除去するようにしてもよい。In this case, the conductive film 32 for the lead wire and the work plate 35 may be separated, or the work plate 35 may be melted and removed.
【0072】さらに図6(6)の側面図および(6a)
の底面図に示すように、引出線用導電膜32にエッチン
グを施し、感温部用導電パターン33のそれぞれの端部
に接続された2本の引出線用導電パターン32′を形成
する。Further, the side view of FIG. 6 (6) and (6a)
As shown in the bottom view of FIG. 5, the lead conductive film 32 is etched to form two lead conductive patterns 32 ′ connected to respective ends of the temperature-sensitive part conductive pattern 33.
【0073】この場合、エッチング液としては感温部用
導電パターン33が溶けないものを適用する必要があ
る。たとえば感温部用導電パターン33が白金で引出線
用導電膜32が銅の場合塩化第2鉄の水溶液を適用すれ
ばよい。In this case, it is necessary to use an etchant that does not dissolve the temperature-sensitive portion conductive pattern 33. For example, when the conductive pattern 33 for the temperature sensing part is platinum and the conductive film 32 for the lead wire is copper, an aqueous solution of ferric chloride may be applied.
【0074】以上の工程によって加熱手段10に適用す
る温度センサ30を製造することができるが、図6
(7)の側面図に示すように、引出線用導電パターン3
2′および感温部用導電パターン33をそれぞれ絶縁膜
34によって被覆すれば、通常の温度センサ30′とし
て用いることもできる。The temperature sensor 30 applied to the heating means 10 can be manufactured by the above steps.
As shown in the side view of (7), the lead conductive pattern 3
If the 2 'and the conductive pattern 33 for the temperature sensing part are respectively covered with the insulating film 34, it can be used as a normal temperature sensor 30'.
【0075】この第2実施例では、引出線用導電膜32
の上面に感温部用導電パターン33を形成するようにし
ているが、感温部用導電パターン33を形成する以前に
予め引出線用導電膜32にエッチングを施すことによっ
て作業プレート35に引出線用導電パターン32′を形
成するようにしてもよい。In the second embodiment, the conductive film 32
The conductive pattern 33 for the temperature sensing part is formed on the upper surface of the lead plate, but before the conductive pattern 33 for the temperature sensing part is formed, the lead line conductive film 32 is etched in advance to form the lead line on the work plate 35. May be formed.
【0076】また作業プレート35の上面に直接感温部
用導電パターン33および支持用絶縁膜31を形成する
ことも可能である。この場合、作業プレート35を除去
した部分に引出線用導電膜32を形成し、さらにこの引
出線用導電膜32にエッチングを施すことによって引出
線用導電パターン32′を形成することができる。It is also possible to form the conductive pattern 33 for the temperature sensing portion and the insulating film 31 for support directly on the upper surface of the work plate 35. In this case, the conductive film 32 for the lead wire is formed at the portion where the work plate 35 is removed, and the conductive film 32 for the lead wire is etched to form the conductive pattern 32 'for the lead wire.
【0077】なおこれら第1および第2実施例の製造方
法では、温度センサ30に必要となる部分にのみ支持用
絶縁膜31を設ければよいが、たとえばベースプレート
1の上面全域を覆う大きさの支持用絶縁膜31を適用
し、この一部分に温度センサ30を製造することも可能
である。この場合のエッチングは、引出線用導電パター
ン32′以外のすべてに施してもよいし、引出線用導電
パターン32′の周囲のみに施すようにしても構わな
い。In the manufacturing methods of the first and second embodiments, the supporting insulating film 31 may be provided only on a portion necessary for the temperature sensor 30. For example, the supporting insulating film 31 is large enough to cover the entire upper surface of the base plate 1. It is also possible to apply the supporting insulating film 31 and manufacture the temperature sensor 30 on a part of this. In this case, the etching may be performed on all parts other than the lead-out conductive pattern 32 ′, or may be performed only on the periphery of the lead-out conductive pattern 32 ′.
【0078】〔加熱手段製造方法の第1実施例〕この第
1実施例では、まず図2(1)に示すように、上述の方
法によって製造した温度センサ30に対してさらに支持
用絶縁膜31の裏面に発熱抵抗線状体20を敷設したも
のを製造する。[First Embodiment of Heating Means Manufacturing Method] In this first embodiment, as shown in FIG. 2A, a supporting insulating film 31 is further added to the temperature sensor 30 manufactured by the above-described method. In this example, a heating resistor linear body 20 is laid on the back surface.
【0079】この場合の温度センサ30は、ベースプレ
ート1の上面全域を覆う大きさの支持用絶縁膜31を有
している必要があり、図2(1)〜図2(3)では引出
線用導電パターン32′以外のすべてにエッチングを施
したものを例示している。In this case, the temperature sensor 30 needs to have a supporting insulating film 31 large enough to cover the entire upper surface of the base plate 1, and in FIG. 2 (1) to FIG. This shows an example in which everything except the conductive pattern 32 'is etched.
【0080】発熱抵抗線状体20としては、予め線状に
構成されたものや平板から所望の形状に打ち抜いたもの
を適用し、これを支持用絶縁膜31の裏面に接着させて
もよいし、支持用絶縁膜31の裏面に直接溶射や電着等
のその他の方法によって敷設してもよい。As the heating resistor linear member 20, a linear member or a member punched out of a flat plate into a desired shape may be used, and this may be adhered to the back surface of the supporting insulating film 31. Alternatively, it may be laid directly on the back surface of the supporting insulating film 31 by another method such as thermal spraying or electrodeposition.
【0081】次いで図2(2)に示すように、被覆用絶
縁膜50aによって発熱抵抗線状体20を被覆するとと
もに、該被覆用絶縁膜50aによって支持用絶縁膜31
をベースプレート1の上面に接着させる。Next, as shown in FIG. 2 (2), the heating resistance linear body 20 is covered with the covering insulating film 50a, and the supporting insulating film 31 is covered with the covering insulating film 50a.
Is adhered to the upper surface of the base plate 1.
【0082】被覆用絶縁膜50aとしては、耐熱性を有
した液状の絶縁樹脂で、被覆した後に硬化するものを適
用している。As the coating insulating film 50a, a liquid insulating resin having heat resistance, which is cured after coating, is used.
【0083】さらに図2(3)に示すように、被覆用絶
縁膜50bによって温度センサ30の引出線用導電パタ
ーン32′および感温部用導電パターン33を被覆し、
その上面を平坦化すれば、支持用絶縁膜31を介して温
度センサ30と発熱抵抗線状体20とを積層した加熱手
段10を製造することができる。この場合、支持用絶縁
膜31および被覆用絶縁膜50a,50bによって加熱
手段10の絶縁層11が構成される。Further, as shown in FIG. 2C, the lead-out conductive pattern 32 ′ and the temperature-sensitive part conductive pattern 33 of the temperature sensor 30 are covered with the covering insulating film 50 b.
If the upper surface is flattened, it is possible to manufacture the heating means 10 in which the temperature sensor 30 and the heating resistor linear body 20 are laminated via the supporting insulating film 31. In this case, the insulating layer 11 of the heating unit 10 is constituted by the supporting insulating film 31 and the covering insulating films 50a and 50b.
【0084】この第1実施例では、温度センサ30と発
熱抵抗線状体20とを共通の支持用絶縁膜31に形成し
たものを適用しているため、両者の絶縁性を十分に確保
した状態でその薄膜化を向上させることができる。In the first embodiment, since the temperature sensor 30 and the heating resistor linear body 20 are formed on the common supporting insulating film 31, a state in which the insulating properties of both are sufficiently ensured is employed. Thus, the film thickness can be improved.
【0085】しかも被覆用絶縁膜50aを利用して支持
用絶縁膜31をベースプレート1に接着させるようにし
ているため、製造工程の簡略化を図ることができる。Further, since the supporting insulating film 31 is adhered to the base plate 1 by using the covering insulating film 50a, the manufacturing process can be simplified.
【0086】この場合被覆用絶縁膜50a,50bは、
温度センサ30および発熱抵抗線状体20のいずれを先
に被覆してもよく、また両者を同時に被覆してもよい。
さらに必ずしも発熱抵抗線状体20をベースプレート1
に対向させる必要はなく、温度センサ30の引出線用導
電パターン32′および感温部用導電パターン33をベ
ースプレート1に対向させるようにしても構わない。In this case, the coating insulating films 50a and 50b
Either the temperature sensor 30 or the heating resistor linear body 20 may be coated first, or both may be coated simultaneously.
Further, the heating resistor linear member 20 is not necessarily connected to the base plate 1.
It is not necessary to make the conductive pattern 32 ′ for the lead wire and the conductive pattern 33 for the temperature sensing part of the temperature sensor 30 face the base plate 1.
【0087】なお、図2(4)は引出線用導電パターン
32′の周囲のみにエッチングを施した温度センサ30
を適用した場合の加熱手段10を示したものである。FIG. 2D shows the temperature sensor 30 in which only the periphery of the lead-out conductive pattern 32 ′ is etched.
2 shows the heating means 10 in the case where is applied.
【0088】〔加熱手段製造方法の第2実施例〕この第
2実施例では、まず図3(1)に示すように、上述の方
法によって製造した温度センサ30と、表面に発熱抵抗
線状体20を敷設した支持用絶縁膜21とを製造する。
以下、便宜上温度センサ30を形成した支持用絶縁膜を
第1支持用絶縁膜31と称し、発熱抵抗線状体20を敷
設した支持用絶縁膜を第2支持用絶縁膜21と称する。[Second Embodiment of Heating Means Manufacturing Method] In this second embodiment, as shown in FIG. 3A, first, as shown in FIG. Then, a supporting insulating film 21 on which 20 is laid is manufactured.
Hereinafter, for the sake of convenience, the supporting insulating film on which the temperature sensor 30 is formed is referred to as a first supporting insulating film 31, and the supporting insulating film on which the heating resistor linear body 20 is laid is referred to as a second supporting insulating film 21.
【0089】この場合の温度センサ30は、第1支持用
絶縁膜31がいずれの大きさのものを適用してもよく、
図3(1)〜図3(3)ではベースプレート1の上面全
域を覆う大きさの第1支持用絶縁膜31を有し、かつ引
出線用導電パターン32′以外のすべてにエッチングを
施したものを例示している。In this case, the temperature sensor 30 may have any size as the first supporting insulating film 31.
3 (1) to 3 (3) have a first supporting insulating film 31 large enough to cover the entire upper surface of the base plate 1, and all parts except the lead-out conductive pattern 32 'are etched. Is exemplified.
【0090】第2支持用絶縁膜21は、ベースプレート
1の上面全域を覆う大きさを有している必要がある。The second supporting insulating film 21 needs to have a size that covers the entire upper surface of the base plate 1.
【0091】次いで図3(2)に示すように、接着用絶
縁膜51によって第2支持用絶縁膜21をベースプレー
ト1の上面に接着させる。Next, as shown in FIG. 3B, the second supporting insulating film 21 is bonded to the upper surface of the base plate 1 by the bonding insulating film 51.
【0092】この場合、発熱抵抗線状体20が上方とな
るように裏面を介してベースプレート1に接着させる。In this case, the heating resistor linear body 20 is adhered to the base plate 1 via the back surface so as to face upward.
【0093】接着用絶縁膜51としては、被覆用絶縁膜
50a,50bと同一のものを適用している。As the bonding insulating film 51, the same one as the coating insulating films 50a and 50b is applied.
【0094】さらに図3(3)に示すように、温度セン
サ30の引出線用導電パターン32′および感温部用導
電パターン33が発熱抵抗線状体20に対向するように
第1支持用絶縁膜31を配置し、これらの間を被覆用絶
縁膜50によって互いに接着させれば、被覆用絶縁膜5
0を介して温度センサ30と発熱抵抗線状体20とを積
層した加熱手段10を製造することができる。この場
合、第1および第2支持用絶縁膜31,21と被覆用絶
縁膜50とによって加熱手段10の絶縁層11が構成さ
れる。Further, as shown in FIG. 3 (3), the first supporting insulation is provided such that the lead-out conductive pattern 32 ′ and the temperature-sensitive part conductive pattern 33 of the temperature sensor 30 face the heating resistor linear body 20. If the films 31 are arranged and they are adhered to each other by the coating insulating film 50, the coating insulating film 5 is formed.
Thus, the heating means 10 in which the temperature sensor 30 and the heat-generating resistor linear body 20 are laminated via the heating means 10 can be manufactured. In this case, the first and second supporting insulating films 31 and 21 and the covering insulating film 50 constitute the insulating layer 11 of the heating unit 10.
【0095】この第2実施例では、第1支持用絶縁膜3
1および第2支持用絶縁膜21を共通の被覆用絶縁膜5
0によって相互に接着するようにしているため、その薄
膜化を図ることができる。In the second embodiment, the first supporting insulating film 3
The first and second supporting insulating films 21 are made of a common covering insulating film 5
Since they are adhered to each other by 0, the thickness can be reduced.
【0096】しかも、加熱手段10の表裏両面がいずれ
も支持用絶縁膜21,31によって規定されることにな
るため、これらの面を別途平坦化する必要がなく、作業
の容易化を図ることができる。Moreover, since both the front and back surfaces of the heating means 10 are defined by the supporting insulating films 21 and 31, these surfaces do not need to be separately flattened, thus facilitating the work. it can.
【0097】接着用絶縁膜51と被覆用絶縁膜50と
は、いずれを先に形成してもよく、また両者を同時に形
成しても構わない。さらに必ずしも第2支持用絶縁膜2
1をベースプレート1に接着させる必要はなく、第1支
持用絶縁膜31をベースプレート1に接着させるように
することも可能である。Either the bonding insulating film 51 or the coating insulating film 50 may be formed first, or both may be formed simultaneously. Furthermore, the second supporting insulating film 2 is not necessarily required.
1 does not need to be bonded to the base plate 1, and the first supporting insulating film 31 may be bonded to the base plate 1.
【0098】なお、図3(4)は第1支持用絶縁膜31
がベースプレート1の上面全域を覆う大きさを有し、か
つ引出線用導電パターン32′の周囲のみにエッチング
を施した温度センサ30を適用した場合の加熱手段10
を示したものである。FIG. 3D shows the first supporting insulating film 31.
Is a size that covers the entire upper surface of the base plate 1 and that applies a temperature sensor 30 in which only the periphery of the lead-out conductive pattern 32 'is etched.
It is shown.
【0099】図3(5)および(6)は、温度センサ3
0に必要となる部分だけに第1支持用絶縁膜31を有す
るものを適用した場合の加熱手段10を示しており、
(5)は温度センサ30の側方域を被覆用絶縁膜50で
充填したもの、(6)は温度センサ30の側方域に予め
硬化した絶縁性樹脂52を配置したものである。FIGS. 3 (5) and (6) show the temperature sensor 3
0 shows a heating means 10 in the case where a member having the first supporting insulating film 31 only in a portion necessary for 0 is applied,
(5) is the one in which the side area of the temperature sensor 30 is filled with the insulating film 50 for coating, and (6) is the one in which the insulating resin 52 cured in advance is arranged in the side area of the temperature sensor 30.
【0100】〔加熱手段製造方法の第3実施例〕この第
3実施例では、先の第2実施例と同様に、上述の方法に
よって製造した温度センサ30と、表面に発熱抵抗線状
体20を敷設した支持用絶縁膜21とを製造する。以下
第2実施例と同様、温度センサ30を形成した支持用絶
縁膜を第1支持用絶縁膜31と称し、発熱抵抗線状体2
0を敷設した支持用絶縁膜を第2支持用絶縁膜21と称
する。[Third Embodiment of Heating Means Manufacturing Method] In the third embodiment, similarly to the second embodiment, the temperature sensor 30 manufactured by the above-described method and the heating resistance linear body 20 And a supporting insulating film 21 on which is laid. Hereinafter, similarly to the second embodiment, the supporting insulating film on which the temperature sensor 30 is formed is referred to as a first supporting insulating film 31,
The supporting insulating film on which 0 is laid is referred to as a second supporting insulating film 21.
【0101】この場合の温度センサ30は、第1支持用
絶縁膜31がいずれの大きさのものを適用してもよく、
図4(1)〜図4(3)ではベースプレート1の上面全
域を覆う大きさの第1支持用絶縁膜31を有し、かつ引
出線用導電パターン32′以外のすべてにエッチングを
施したものを例示している。In this case, the temperature sensor 30 may have any size as the first supporting insulating film 31.
4 (1) to 4 (3), the first supporting insulating film 31 is large enough to cover the entire upper surface of the base plate 1, and all parts other than the lead-out conductive patterns 32 'are etched. Is exemplified.
【0102】第2支持用絶縁膜21は、ベースプレート
1の上面全域を覆う大きさを有している必要がある。The second supporting insulating film 21 needs to have a size to cover the entire upper surface of the base plate 1.
【0103】次いで図4(2)に示すように、接着用絶
縁膜51によって第2支持用絶縁膜21をベースプレー
ト1の上面に接着させる。Next, as shown in FIG. 4 (2), the second supporting insulating film 21 is bonded to the upper surface of the base plate 1 by the bonding insulating film 51.
【0104】この場合、発熱抵抗線状体20が上方とな
るように裏面を介してベースプレート1に接着させる。In this case, the linear heating element 20 is adhered to the base plate 1 via the back surface so as to face upward.
【0105】次いで図4(3)に示すように、温度セン
サ30の引出線用導電パターン32′および感温部用導
電パターン33が上方となるように第1支持用絶縁膜3
1を第2支持用絶縁膜21の上方に配置し、これらの間
を被覆用絶縁膜50aによって互いに接着させる。Next, as shown in FIG. 4 (3), the first supporting insulating film 3 is formed such that the lead-out conductive pattern 32 ′ and the temperature-sensitive part conductive pattern 33 of the temperature sensor 30 are located above.
1 are arranged above the second supporting insulating film 21, and they are bonded to each other by the covering insulating film 50 a.
【0106】さらに図4(4)に示すように、温度セン
サ30の引出線用導電パターン32′および感温部用導
電パターン33を被覆用絶縁膜50bによって被覆し、
その上面を平坦化すれば、被覆用絶縁膜50aおよび第
1支持用絶縁膜31を介して温度センサ30と発熱抵抗
線状体20とを積層した加熱手段10を製造することが
できる。この場合、第1および第2支持用絶縁膜31,
21および被覆用絶縁膜50a,50bによって加熱手
段10の絶縁層11が構成される。Further, as shown in FIG. 4D, the lead-out conductive pattern 32 'and the temperature-sensitive part conductive pattern 33 of the temperature sensor 30 are covered with a covering insulating film 50b.
By flattening the upper surface, the heating means 10 in which the temperature sensor 30 and the heating resistor linear body 20 are laminated via the coating insulating film 50a and the first supporting insulating film 31 can be manufactured. In this case, the first and second supporting insulating films 31,
The insulating layer 11 of the heating means 10 is composed of the insulating film 21 and the insulating films 50a and 50b for covering.
【0107】この第3実施例では、温度センサ30と発
熱抵抗線状体20との間に第1支持用絶縁膜31が介在
することになるため、これらの間の被覆用絶縁膜50a
の厚さに関わりなく温度センサ30および発熱抵抗線状
体20を確実に絶縁することが可能となる。In the third embodiment, since the first supporting insulating film 31 is interposed between the temperature sensor 30 and the heating resistor linear body 20, the covering insulating film 50a is provided therebetween.
Irrespective of the thickness of the wire, the temperature sensor 30 and the heating resistor linear body 20 can be insulated reliably.
【0108】接着用絶縁膜51と被覆用絶縁膜50a,
50bとは、いずれを先に形成してもよく、また両者を
同時に形成しても構わない。さらに必ずしも第2支持用
絶縁膜21をベースプレート1に接着させる必要はな
く、第1支持用絶縁膜31をベースプレート1に接着さ
せるようにすることも可能である。また温度センサ30
および発熱抵抗線状体20をそれぞれベースプレート1
に対向させるようにしてもよい。The bonding insulating film 51 and the coating insulating film 50a,
50b may be formed first, or both may be formed simultaneously. Further, the second supporting insulating film 21 does not necessarily have to be bonded to the base plate 1, and the first supporting insulating film 31 may be bonded to the base plate 1. The temperature sensor 30
And the heating resistor linear body 20 are respectively connected to the base plate 1.
May be opposed.
【0109】なお、図4(4)は第1支持用絶縁膜31
がベースプレート1の上面全域を覆う大きさを有し、か
つ引出線用導電パターン32′の周囲のみにエッチング
を施した温度センサ30を適用した場合の加熱手段10
を示したものである。FIG. 4D shows the first supporting insulating film 31.
Is a size that covers the entire upper surface of the base plate 1 and that applies a temperature sensor 30 in which only the periphery of the lead-out conductive pattern 32 'is etched.
It is shown.
【0110】図4(5)および(6)は、温度センサ3
0に必要となる部分だけに第1支持用絶縁膜31を有す
るものを適用した場合の加熱手段10を示しており、
(5)は温度センサ30の側方域を被覆用絶縁膜50b
で充填したもの、(6)は温度センサ30の側方域に予
め硬化した絶縁性樹脂52を配置したものである。FIGS. 4 (5) and (6) show the temperature sensor 3
0 shows a heating means 10 in the case where a member having the first supporting insulating film 31 only in a portion necessary for 0 is applied,
(5) is an insulating film 50b for covering the side area of the temperature sensor 30.
(6) is one in which an insulating resin 52 cured in advance is arranged in a side area of the temperature sensor 30.
【0111】以下、上記のように構成した温度制御装置
において、ウェハWの温度を高温にして行うベーキング
と、その後ウェハWの温度を室温レベルまで冷却するク
ーリングとを交互に実行する場合の動作について説明す
る。Hereinafter, the operation of the temperature control device configured as described above, in which baking performed at a high temperature of the wafer W and cooling that subsequently cools the temperature of the wafer W to the room temperature level are performed alternately. explain.
【0112】まずこの温度制御装置では、起動待機状態
にある場合、供給ポンプ6を作動させた状態で開閉バル
ブ7をOFFし、蓄熱タンク3に貯留した温度流体を自
己循環系8およびチラータンク5との間においてそれぞ
れ循環させている。First, in the temperature control device, when in the startup standby state, the open / close valve 7 is turned off while the supply pump 6 is operated, and the temperature fluid stored in the heat storage tank 3 is transferred to the self-circulation system 8 and the chiller tank 5. Circulate between the two.
【0113】この起動待機状態においては、蓄熱タンク
3に貯留されている温度流体が自己循環系8によって循
環されているため、当該蓄熱タンク3の内部において温
度流体に温度分布が発生する虞れがない。In this startup standby state, since the temperature fluid stored in the heat storage tank 3 is circulated by the self-circulation system 8, there is a possibility that a temperature distribution will occur in the temperature fluid inside the heat storage tank 3. Absent.
【0114】上述した起動待機状態から、レジストを塗
布したウェハWが加熱手段10の上面に載置されると、
通電制御部40から所定の加熱電力が供給され、発熱抵
抗線状体20が発熱状態となる。なお本実施形態では、
加熱手段10の上面にシム12を配置し、ウェハWとの
間に0.1mm程度の空気層を設けている。When the wafer W coated with the resist is placed on the upper surface of the heating means 10 from the above-described standby state,
Predetermined heating power is supplied from the power supply control unit 40, and the heating resistor linear body 20 enters a heating state. In this embodiment,
A shim 12 is arranged on the upper surface of the heating means 10, and an air layer of about 0.1 mm is provided between the shim 12 and the wafer W.
【0115】この状態においては、発熱抵抗線状体20
から発生した熱が空気層を介してウェハWに伝達され、
該ウェハWが直ちに高温状態に加熱維持されることにな
り、当該ウェハWに対するベーキングを行うことが可能
となる。In this state, the heating resistance linear body 20
The heat generated from is transmitted to the wafer W via the air layer,
The wafer W is immediately heated and maintained at a high temperature, and baking of the wafer W can be performed.
【0116】この間、通電制御部40においては、温度
センサ30の測定した温度を監視し、この測定結果に基
づいて発熱抵抗線状体20への通電量を制御している。During this time, the energization control section 40 monitors the temperature measured by the temperature sensor 30 and controls the amount of energization to the heating resistor linear body 20 based on the measurement result.
【0117】ここで、上記温度制御装置では、上述した
ように、発熱抵抗線状体20を被覆する絶縁層11の内
部に温度センサ30を設けるようにしているため、ウェ
ハWとの距離およびウェハWへの熱伝達率を均一にした
状態で、発熱抵抗線状体20の温度をその極近傍におい
て正確に測定することができる。Here, in the above temperature control device, as described above, since the temperature sensor 30 is provided inside the insulating layer 11 covering the heating resistor wire 20, the distance to the wafer W and the wafer With the heat transfer coefficient to W uniform, the temperature of the heating resistor linear body 20 can be accurately measured in the very vicinity thereof.
【0118】したがって、この測定結果に基づいた発熱
抵抗線状体20の通電制御も正確に行うことができる。Therefore, it is possible to accurately control the energization of the heating resistor linear body 20 based on the measurement result.
【0119】しかも、発熱抵抗線状体20とウェハWと
の間に介在される温度センサ30が薄膜状に構成されて
いるため、ウェハWに対する発熱抵抗線状体20の加熱
作用に与える影響は極めて少ない。In addition, since the temperature sensor 30 interposed between the heating resistor linear body 20 and the wafer W is formed in a thin film shape, the effect on the heating action of the heating resistor linear body 20 on the wafer W is not affected. Very few.
【0120】これらの結果、上記温度制御装置によれ
ば、ウェハWを均一に加熱することができるようにな
り、当該ウェハWに対するベーキングを効率よく、かつ
高精度に行うことが可能となる。As a result, according to the temperature control device, the wafer W can be uniformly heated, and the baking of the wafer W can be performed efficiently and with high accuracy.
【0121】上述したベーキングが終了すると、今度
は、発熱抵抗線状体20に対する加熱電力の供給が停止
されるとともに、開閉バルブ7がONされ、蓄熱タンク
3に貯留された20℃近傍の温度流体が供給通路4およ
び排出通路2を通じてベースプレート1の中空部に循環
供給される。When the above-described baking is completed, the supply of heating power to the heating resistor linear body 20 is stopped, the on-off valve 7 is turned on, and the temperature fluid near 20 ° C. stored in the heat storage tank 3 is turned on. Is circulated and supplied to the hollow portion of the base plate 1 through the supply passage 4 and the discharge passage 2.
【0122】この状態においては、空気層、加熱手段1
0およびベースプレート1を介してウェハWの熱が温度
流体に放熱され、ウェハWが直ちに室温レベルに冷却維
持されることになり、当該ウェハWに対するクーリング
を行うことが可能となる。In this state, the air layer, the heating means 1
The heat of the wafer W is radiated to the temperature fluid via the base plate 1 and the temperature coefficient 0, and the wafer W is immediately cooled and maintained at the room temperature level, so that the wafer W can be cooled.
【0123】以上のようにして、クーリングが終了する
と、ウェハWが新たなウェハWと交換され、この新たな
ウェハWに対して上記と同様にベーキングおよびクーリ
ングが行われる。When the cooling is completed as described above, the wafer W is replaced with a new wafer W, and the new wafer W is subjected to baking and cooling in the same manner as described above.
【0124】なお、上述した実施形態では、半導体製造
工程においてウェハWの温度制御を行うための温度制御
装置を例示しているが、その他の被温度制御対象物の温
度制御を行うものにももちろん適用することが可能であ
る。この場合、被温度制御対象物としては、必ずしも円
板状を成している必要はなく、基台が円柱状を成してい
る必要もない。また温度制御装置としては、必ずしも冷
却側の手段を備えている必要はない。In the above-described embodiment, the temperature control device for controlling the temperature of the wafer W in the semiconductor manufacturing process is exemplified. However, the temperature control device for controlling the temperature of the object to be temperature-controlled is of course also included. It is possible to apply. In this case, the object to be temperature-controlled need not necessarily be formed in a disk shape, and the base need not be formed in a columnar shape. Further, the temperature control device does not necessarily need to include a cooling-side unit.
【図1】本発明に係る温度制御装置の一実施形態を概念
的に示した図である。FIG. 1 is a diagram conceptually showing an embodiment of a temperature control device according to the present invention.
【図2】図1に示した加熱手段の製造工程の第1実施例
を示す図である。FIG. 2 is a view showing a first embodiment of a manufacturing process of the heating means shown in FIG. 1;
【図3】図1に示した加熱手段の製造工程の第2実施例
を示す図である。FIG. 3 is a view showing a second embodiment of the manufacturing process of the heating means shown in FIG. 1;
【図4】図1に示した加熱手段の製造工程の第3実施例
を示す図である。FIG. 4 is a view showing a third embodiment of the manufacturing process of the heating means shown in FIG. 1;
【図5】図1に示した温度センサの製造工程の第1実施
例を示す図である。FIG. 5 is a view showing a first embodiment of a manufacturing process of the temperature sensor shown in FIG. 1;
【図6】図1に示した温度センサの製造工程の第2実施
例を示す図である。FIG. 6 is a view showing a second embodiment of the manufacturing process of the temperature sensor shown in FIG. 1;
1…ベースプレート、10…加熱手段、11…絶縁層、
20…発熱抵抗線状体、21…第2支持用絶縁膜、30
…温度センサ、31…第1支持用絶縁膜、32…引出線
用導電膜、32′…引出線用導電パターン、33…感温
部用導電パターン、34…絶縁膜、35…作業プレー
ト、50,50a,50b…被覆用絶縁膜、W…ウェ
ハ。DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Base plate, 10 ... Heating means, 11 ... Insulating layer,
Reference numeral 20: heating resistance linear member, 21: second supporting insulating film, 30
... Temperature sensor, 31 ... First supporting insulating film, 32 ... Lead wire conductive film, 32 '... Lead wire conductive pattern, 33 ... Temperature sensing part conductive pattern, 34 ... Insulating film, 35 ... Work plate, 50 , 50a, 50b: insulating film for coating; W: wafer.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉光 利男 神奈川県平塚市万田1200 株式会社小松製 作所研究所内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Toshio Yoshimitsu 1200 Manda, Hiratsuka-shi, Kanagawa Prefecture, Komatsu Ltd.
Claims (9)
制御を行う温度制御装置において、 絶縁膜を介して温度センサと発熱抵抗線状体とを積層し
た絶縁層を前記基台の表面に設けたことを特徴とする温
度制御装置。1. A temperature control device for controlling the temperature of an object to be temperature-controlled mounted on a base, wherein an insulating layer formed by laminating a temperature sensor and a heating resistor linear body via an insulating film is provided on a surface of the base. A temperature control device, characterized in that it is provided in a temperature control device.
形成する一方、該支持用絶縁膜の他方表面に発熱抵抗線
状体を敷設する工程と、 前記支持用絶縁膜の一方表面に前記温度センサを被覆す
る第1被覆用絶縁膜を形成する工程と、 前記支持用絶縁膜の他方表面に前記発熱抵抗線状体を被
覆する第2被覆用絶縁膜を形成する工程とを含むことを
特徴とする温度制御装置の製造方法。2. A step of forming a temperature sensor on one surface of the supporting insulating film and laying a heating resistance linear body on the other surface of the supporting insulating film; and forming the temperature sensor on one surface of the supporting insulating film. Forming a first covering insulating film covering the temperature sensor; and forming a second covering insulating film covering the heating resistor linear body on the other surface of the supporting insulating film. A method for manufacturing a temperature control device.
形成する工程と、 第2支持用絶縁膜の表面に発熱抵抗線状体を敷設する工
程と、 互いの表面を対向させた状態で、これら第1支持用絶縁
膜および第2支持用絶縁膜を被覆用絶縁膜によって相互
に接着する工程とを含むことを特徴とする温度制御装置
の製造方法。3. A step of forming a temperature sensor on a surface of the first supporting insulating film, a step of laying a heating resistor linear body on a surface of the second supporting insulating film, and a state in which the surfaces are opposed to each other. Bonding the first supporting insulating film and the second supporting insulating film to each other with a covering insulating film.
形成する工程と、 第2支持用絶縁膜の表面に発熱抵抗線状体を敷設する工
程と、 前記第1支持用絶縁膜の表面に前記温度センサを被覆す
る第1被覆用絶縁膜を形成する工程と、 前記第2支持用絶縁膜の表面に前記発熱抵抗線状体を被
覆する第2被覆用絶縁膜を形成する工程と、 これら第1被覆用絶縁膜および第2被覆用絶縁膜の一方
を形成する際に、該被覆用絶縁膜によって一方の支持用
絶縁膜を他方の支持用絶縁膜の裏面に接着させる工程と
を含むことを特徴とする温度制御装置の製造方法。4. A step of forming a temperature sensor on a surface of the first supporting insulating film; a step of laying a heating resistor linear body on a surface of the second supporting insulating film; Forming a first coating insulating film covering the surface of the temperature sensor; and forming a second coating insulating film covering the heating resistor wire on a surface of the second supporting insulating film. Bonding one of the supporting insulating films to the back surface of the other supporting insulating film using the covering insulating film when forming one of the first covering insulating film and the second covering insulating film. A method for manufacturing a temperature control device, comprising:
引出線用導電パターンとを形成して成る温度センサ。5. A temperature sensor comprising a conductive pattern for a temperature sensing portion and a conductive pattern for a lead wire formed on a supporting insulating film.
用導電パターンとをさらに絶縁膜によって被覆したこと
を特徴とする請求項5記載の温度センサ。6. The temperature sensor according to claim 5, wherein the conductive pattern for the temperature sensing portion and the conductive pattern for the lead wire are further covered with an insulating film.
形成する工程と、 前記支持用絶縁膜に導電線を配置することによって感温
部用導電パターンを形成する工程とを含むことを特徴と
する温度センサの製造方法。7. A method of forming a conductive pattern for a lead line on a supporting insulating film, and a step of forming a conductive pattern for a temperature sensing part by arranging a conductive line on the supporting insulating film. A method for manufacturing a temperature sensor.
導電パターンを形成する工程と、 前記作業プレートにこの感温部用導電パターンを被覆す
る支持用絶縁膜を形成する工程と、 前記作業プレートを除去する工程とを含むことを特徴と
する温度センサの製造方法。8. A step of forming a conductive pattern for a temperature-sensitive part on a work plate having heat resistance, a step of forming a supporting insulating film for covering the conductive pattern for a temperature-sensitive part on the work plate; Removing the working plate.
前に予め前記作業プレートに引出線用導電膜を形成する
工程と、 前記作業プレートを除去した後、前記引出線用導電膜に
エッチングを施すことによって引出線用導電パターンを
形成する工程とを含むことを特徴とする請求項8記載の
温度センサの製造方法。9. A step of forming a lead conductive film on the work plate before forming the temperature-sensitive part conductive pattern, and etching the lead conductive film after removing the work plate. 9. A method of manufacturing a temperature sensor according to claim 8, further comprising the step of: forming a conductive pattern for a lead line by applying.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10141961A JPH11339937A (en) | 1998-05-22 | 1998-05-22 | Temperature control device, method for manufacturing temperature control device, temperature sensor, and method for manufacturing temperature sensor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10141961A JPH11339937A (en) | 1998-05-22 | 1998-05-22 | Temperature control device, method for manufacturing temperature control device, temperature sensor, and method for manufacturing temperature sensor |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11339937A true JPH11339937A (en) | 1999-12-10 |
Family
ID=15304161
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10141961A Pending JPH11339937A (en) | 1998-05-22 | 1998-05-22 | Temperature control device, method for manufacturing temperature control device, temperature sensor, and method for manufacturing temperature sensor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11339937A (en) |
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