JPH11243126A - Vacuum processing equipment - Google Patents
Vacuum processing equipmentInfo
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- JPH11243126A JPH11243126A JP10044975A JP4497598A JPH11243126A JP H11243126 A JPH11243126 A JP H11243126A JP 10044975 A JP10044975 A JP 10044975A JP 4497598 A JP4497598 A JP 4497598A JP H11243126 A JPH11243126 A JP H11243126A
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- transport
- vacuum chamber
- vacuum
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- Plasma Technology (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 薄板状の基板を確実に搬送することができる
真空処理装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 薄板状の基板1を真空チャンバ11内に
載置して真空処理を行う真空処理装置において、基板1
を長手方向に搬送する搬送路14と、搬送路14上を基
板1を押送して基板の真空チャンバ11内への搬入およ
び真空チャンバ11からの搬出を行う搬送爪49aを備
え、この搬送爪49aが基板1の端部と当接する当接部
に凹部49bを設けてこの凹部49bの下部を基板1の
下方へ突出して基板1を支持し基板1の下垂を防止する
支持部とした。これにより撓みやすい薄板状の基板であ
っても搬送時に搬送爪49aが基板1の端部から外れる
ことがなく、基板1を確実に搬送することができる。
(57) [Problem] To provide a vacuum processing apparatus capable of reliably transporting a thin substrate. SOLUTION: In a vacuum processing apparatus in which a thin plate-shaped substrate 1 is placed in a vacuum chamber 11 to perform vacuum processing, the substrate 1
A transport path 14 for transporting the substrate in the longitudinal direction, and transport claws 49a for pushing the substrate 1 on the transport path 14 to carry the substrate into and out of the vacuum chamber 11, and the transport claws 49a A concave portion 49b is provided in a contact portion that comes into contact with an end of the substrate 1, and a lower portion of the concave portion 49b protrudes below the substrate 1 to serve as a support portion for supporting the substrate 1 and preventing the substrate 1 from sagging. Thereby, even if the substrate is a thin plate that is easily bent, the transport claw 49a does not come off from the end of the substrate 1 during transport, and the substrate 1 can be transported reliably.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は基板を真空中で処理
する真空処理装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a vacuum processing apparatus for processing a substrate in a vacuum.
【0002】[0002]
【従来の技術】基板の表面処理を行う装置として、プラ
ズマ処理装置などの真空処理装置が知られている。この
真空処理装置は、減圧雰囲気下で対象物である基板の処
理を行うものであり、真空チャンバ内に基板を搬入して
載置した状態で真空チャンバ内部の真空吸引が行われ
る。真空チャンバ内に基板を搬入する方法として、一般
に搬送路上で基板を押送する方法が広く用いられてい
る。この方法は基板の幅寸法に対応した側面ガイドが設
けられた搬送路上に基板を載置し、基板の後端部を搬送
爪で押送することにより、真空チャンバへの搬入および
真空チャンバからの搬出を行うものである。2. Description of the Related Art Vacuum processing apparatuses such as a plasma processing apparatus are known as apparatuses for performing a surface treatment of a substrate. The vacuum processing apparatus processes a substrate as an object under a reduced-pressure atmosphere, and performs vacuum suction inside the vacuum chamber while the substrate is loaded and placed in the vacuum chamber. As a method of carrying a substrate into a vacuum chamber, a method of pushing a substrate on a transfer path is widely used. In this method, a substrate is placed on a transport path provided with side guides corresponding to the width of the substrate, and the rear end of the substrate is pushed in by a transport claw, so that the substrate is loaded into and unloaded from the vacuum chamber. Is what you do.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】ところで、真空チャン
バの内部は外部から遮断された密閉構造とする必要があ
るため、上記搬送路上に真空チャンバの内外を遮断する
側壁が下降する部分では搬送路は真空チャンバの側壁の
厚さに相当する隙間分だけ途切れて不連続となる。した
がって、この隙間部分を基板が通過する際には、基板の
隙間上の部分は搬送路によって下方から支持されておら
ず、基板そのものの剛性によって保持されている状態と
なる。However, since the inside of the vacuum chamber needs to have a hermetically sealed structure that is shielded from the outside, the transfer path is formed on the transfer path at a portion where the side wall that blocks the inside and the outside of the vacuum chamber descends. A gap corresponding to the thickness of the side wall of the vacuum chamber is interrupted and discontinuous. Therefore, when the substrate passes through the gap, the portion above the gap of the substrate is not supported by the transport path from below, and is held by the rigidity of the substrate itself.
【0004】しかしながら、テープ基板等薄板状の基板
を対象とする場合には、基板の剛性が小さいため基板の
端部が上記隙間上にあるときに基板の端部がたわみ下垂
し易い。この結果、搬送時に基板の後端部が搬送爪から
外れて搬送爪が基板の後端部を安定して押送することが
できず、搬送ミスを発生し易いという問題点があった。However, when a thin substrate such as a tape substrate is used, the rigidity of the substrate is so small that the edge of the substrate is easily bent and sagged when the edge of the substrate is located in the gap. As a result, the rear end of the substrate is disengaged from the transfer claws during transfer, and the transfer claw cannot stably push the rear end of the substrate, resulting in a problem that a transfer error easily occurs.
【0005】そこで本発明は、薄板状の基板を確実に搬
送することができる真空処理装置を提供することを目的
とする。Accordingly, an object of the present invention is to provide a vacuum processing apparatus capable of reliably transporting a thin substrate.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明の真空処理装置
は、薄板状の基板を長手方向に搬送する搬送路と、真空
チャンバを構成する蓋部と、この蓋部を開閉する開閉手
段と、前記搬送路上を基板を押送して基板の真空チャン
バ内への搬入および真空チャンバからの搬出を行う搬送
爪と、前記真空チャンバ内を真空吸引する真空吸引手段
とを備え、前記搬送爪が基板の端部と当接する当接部の
下方に基板の下方へ突出して基板を支持し基板の下垂を
防止する支持部を設けた。According to the present invention, there is provided a vacuum processing apparatus comprising: a transfer path for transferring a thin plate-shaped substrate in a longitudinal direction; a lid constituting a vacuum chamber; an opening / closing means for opening and closing the lid; A transfer claw that pushes the substrate on the transfer path to transfer the substrate into and out of the vacuum chamber; and a vacuum suction unit that suctions the inside of the vacuum chamber under vacuum. A support portion is provided below the abutting portion that abuts the end portion to protrude below the substrate to support the substrate and prevent the substrate from sagging.
【0007】本発明によれば、搬送爪が基板の端部と当
接する当接部の下方にこの基板の下方へ突出して基板を
支持し基板の下垂を防止する支持部を設けることによ
り、搬送爪が外れることなく、基板を確実に搬送するこ
とができる。According to the present invention, the transfer claw is provided below the contact portion where the transfer claw contacts the end portion of the substrate by protruding below the substrate to support the substrate and prevent the substrate from hanging down. The substrate can be transported reliably without the nail coming off.
【0008】[0008]
【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態を図面を
参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態のプラ
ズマクリーニング装置の斜視図、図2(a)は同プラズ
マクリーニング装置の側断面図、図2(b)は同プラズ
マクリーニング装置の搬送爪の部分拡大図、図3は同プ
ラズマクリーニング装置の搬送路の平面図、図4は同プ
ラズマクリーニング装置の部分断面図である。Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view of a plasma cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2A is a side sectional view of the plasma cleaning apparatus, and FIG. 2B is a partially enlarged view of a transfer claw of the plasma cleaning apparatus. FIG. 3 is a plan view of a transfer path of the plasma cleaning apparatus, and FIG. 4 is a partial sectional view of the plasma cleaning apparatus.
【0009】まず、図1を参照して真空処理装置として
のプラズマクリーニング装置の全体構造を説明する。図
1において、10はベース部材であり、ベース部材10
の上面には、基板1の搬送路14が設けられている。搬
送路14は、基板1の幅に対応して長手方向に連続して
形成されており、この搬送路14に基板1を載置し長手
方向に押送することにより基板1を搬送するものであ
る。First, the overall structure of a plasma cleaning apparatus as a vacuum processing apparatus will be described with reference to FIG. In FIG. 1, reference numeral 10 denotes a base member.
A transfer path 14 for the substrate 1 is provided on the upper surface of the substrate 1. The transport path 14 is formed continuously in the longitudinal direction corresponding to the width of the substrate 1, and transports the substrate 1 by placing the substrate 1 on the transport path 14 and pushing the substrate 1 in the longitudinal direction. .
【0010】搬送路14上には、真空チャンバ11が設
けられている。真空チャンバ11はベース部材10、ベ
ース部材10に装着された電極12(図2および図3参
照)及びベース部材10上に配設された箱形の蓋部材1
3により構成される。蓋部材13の外側面には2つの板
状のブラケット15が固着されており、ブラケット15
の端部はブロック16に結合されている。ブロック16
は、蓋部材13の開閉手段17に結合されている。開閉
手段17はシリンダなどから成り、開閉手段17を駆動
することにより、蓋部材13は上下動し、真空チャンバ
11が開閉する。On the transfer path 14, a vacuum chamber 11 is provided. The vacuum chamber 11 includes a base member 10, an electrode 12 (see FIGS. 2 and 3) mounted on the base member 10, and a box-shaped lid member 1 provided on the base member 10.
3. Two plate-shaped brackets 15 are fixed to the outer surface of the lid member 13.
Is connected to the block 16. Block 16
Is connected to the opening / closing means 17 of the lid member 13. The opening / closing means 17 is composed of a cylinder or the like. By driving the opening / closing means 17, the lid member 13 moves up and down, and the vacuum chamber 11 opens and closes.
【0011】図1において、ベース部材10の側面に
は、ガイドレール40が配設されている。ガイドレール
40には、2個のスライダ41,42がスライド自在に
嵌合している。スライダ41,42にはブラケット4
3,44がそれぞれ固着されている。ブラケット43,
44には、第1のシリンダ45、第2のシリンダ47が
それぞれ装着されている。第1のシリンダ45のロッド
46及び第2のシリンダ47のロッド48には、第1の
搬送アーム49、第2の搬送アーム50がそれぞれ結合
されている。In FIG. 1, a guide rail 40 is provided on a side surface of the base member 10. Two sliders 41 and 42 are slidably fitted on the guide rail 40. Bracket 4 is attached to sliders 41 and 42
3, 44 are fixed respectively. Bracket 43,
A first cylinder 45 and a second cylinder 47 are mounted on 44, respectively. A first transfer arm 49 and a second transfer arm 50 are connected to the rod 46 of the first cylinder 45 and the rod 48 of the second cylinder 47, respectively.
【0012】第1の搬送アーム49の先端部と第2の搬
送アーム50の先端部は、搬送路14上に延出して下向
きに屈曲しており、第1の搬送爪49a及び第2の搬送
爪50aになっている。第1の搬送爪49a及び第2の
搬送爪50aは、搬送路14上に位置し、第1のシリン
ダ45のロッド46、第2のシリンダ47のロッド48
が突没することにより上下動する。The distal end of the first transport arm 49 and the distal end of the second transport arm 50 extend on the transport path 14 and are bent downward, so that the first transport claw 49a and the second transport It is a nail 50a. The first transport claws 49a and the second transport claws 50a are located on the transport path 14, and the rod 46 of the first cylinder 45 and the rod 48 of the second cylinder 47
Is moved up and down as a result.
【0013】ベース部材10の側面には、第1のモータ
57および第2のモータ58が配設されている。第1の
モータ57および第2のモータ58の回転軸には、それ
ぞれプーリ55,56が装着されている。ベース部材1
0の側面には、プーリ55,56に対応して従動プーリ
53,54が設けられている。プーリ55と従動プーリ
53、プーリ56と従動プーリ54には、それぞれベル
ト59,60が調帯されている。ベルト59,60は連
結部材51,52によってブラケット43,44と結合
されている。A first motor 57 and a second motor 58 are provided on a side surface of the base member 10. Pulleys 55 and 56 are mounted on the rotating shafts of the first motor 57 and the second motor 58, respectively. Base member 1
Driven pulleys 53 and 54 are provided on the side surface of 0 in correspondence with the pulleys 55 and 56. Belts 59 and 60 are tuned to the pulley 55 and the driven pulley 53, and to the pulley 56 and the driven pulley 54, respectively. The belts 59, 60 are connected to the brackets 43, 44 by connecting members 51, 52.
【0014】したがって、第1のモータ57、第2のモ
ータ58が正逆駆動することによりベルト59,60は
水平方向に走行し、ブラケット43,44に装着されて
いる第1のシリンダ45、第2のシリンダ47は水平方
向に正逆移動する。この水平方向の正逆移動と、第1の
シリンダ45および第2のシリンダ47の上下動を組み
合わせることにより、第1の搬送爪49aおよび第2の
搬送爪50aは基板1を搬送路14上で押送して搬送す
る。即ち、第1の搬送爪49aは上流側(図1において
左方)より基板1を真空チャンバ11内に搬入する。ま
た第2の搬送爪50aは真空チャンバ11内より、下流
側(図1において右方)へ基板1を搬出する。Accordingly, when the first motor 57 and the second motor 58 are driven forward and backward, the belts 59 and 60 travel in the horizontal direction, and the first cylinder 45 mounted on the brackets 43 and 44, the first cylinder 45 and the second The second cylinder 47 moves forward and backward in the horizontal direction. By combining the forward / reverse movement in the horizontal direction and the vertical movement of the first cylinder 45 and the second cylinder 47, the first transport claws 49a and the second transport claws 50a move the substrate 1 on the transport path 14 Push and transport. That is, the first transport claws 49a carry the substrate 1 into the vacuum chamber 11 from the upstream side (left side in FIG. 1). The second transport claw 50a unloads the substrate 1 from the vacuum chamber 11 to the downstream side (to the right in FIG. 1).
【0015】ベース部材10の上流側には、基板1のロ
ーダ部20が配設されている。ローダ部20はZ軸モー
タ23を備えたZテーブル22を有しており、Zテーブ
ル22には、マガジン21が装着されている。マガジン
21の内部には多数の基板1が水平姿勢で段積して収納
されている。24はプッシャであり、マガジン21内の
基板1を搬送路14上に押し出す。On the upstream side of the base member 10, a loader section 20 of the substrate 1 is provided. The loader unit 20 has a Z table 22 provided with a Z axis motor 23, and a magazine 21 is mounted on the Z table 22. A large number of substrates 1 are stacked and stored in the magazine 21 in a horizontal posture. A pusher 24 pushes the substrate 1 in the magazine 21 onto the transport path 14.
【0016】また、ベース部材10の下流側には、基板
1のアンローダ部30が配設されている。アンローダ部
30はZ軸モータ33を備えたZテーブル32を有して
おり、Zテーブル32には、マガジン31が装着されて
いる。マガジン31内にはプラズマクリーニング処理済
みの基板1が第2の搬送爪50aにより挿入されて回収
される。On the downstream side of the base member 10, an unloader section 30 for the substrate 1 is provided. The unloader unit 30 has a Z table 32 provided with a Z-axis motor 33, and a magazine 31 is mounted on the Z table 32. The substrate 1 after the plasma cleaning process is inserted into the magazine 31 by the second transport claw 50a and collected.
【0017】次に、各図を参照して真空チャンバ11の
構造を説明する。図2、図4において、ベース部材10
には開口部10aが設けられており、開口部10aには
絶縁部材8を介して電極12が下方より装着されてい
る。電極12は高周波電源19と電気的に接続されてい
る。また、図4に示すように真空チャンバ11はベース
部材10に設けられたパイプ18を通じて真空吸引部6
2、プラズマガス供給部63および大気開放弁64と接
続されている。Next, the structure of the vacuum chamber 11 will be described with reference to the drawings. 2 and 4, the base member 10
Is provided with an opening 10a, and an electrode 12 is attached to the opening 10a from below through an insulating member 8. The electrode 12 is electrically connected to a high frequency power supply 19. As shown in FIG. 4, the vacuum chamber 11 is connected to the vacuum suction unit 6 through a pipe 18 provided in the base member 10.
2. It is connected to the plasma gas supply unit 63 and the atmosphere release valve 64.
【0018】真空吸引部62は真空チャンバ11内を真
空吸引する。プラズマガス供給部63は真空チャンバ1
1内にプラズマ発生用のガスを供給する。大気開放弁6
4を開放することにより、真空チャンバ11内には真空
破壊用の空気が導入される。プラズマクリーニングの対
象となる基板1は、搬送路14上を搬送されて真空チャ
ンバ11内に搬入され、電極12上に載置される。蓋部
材13は電気的に接地部61に接地され、電極12に対
向する対向電極となっている。またベース部材10上の
蓋部材13の下端部が当接する部分には、シール部材1
0sが装着されている。The vacuum suction unit 62 suctions the inside of the vacuum chamber 11 under vacuum. The plasma gas supply unit 63 is a vacuum chamber 1
A gas for plasma generation is supplied into 1. Atmospheric release valve 6
By opening 4, air for vacuum breaking is introduced into the vacuum chamber 11. The substrate 1 to be subjected to plasma cleaning is transported on the transport path 14, carried into the vacuum chamber 11, and placed on the electrode 12. The lid member 13 is electrically grounded to the grounding portion 61 and serves as a counter electrode facing the electrode 12. A seal member 1 is provided on a portion of the base member 10 where the lower end of the lid member 13 contacts.
0s is attached.
【0019】次に、図2、図3を参照して搬送路14お
よび第1の搬送爪49a、第2の搬送爪50aの形状に
ついて説明する。図3に示すように搬送路14は左右2
本の搬送レール14a,14bより構成されている。搬
送レール14a,14bの上部には切欠き部が形成され
ており、基板1はこれらの切欠き部上を摺動して搬送さ
れる。ベース部材10および電極12上には、搬送路1
4の幅に対応した幅寸法でガイド部材10b,12bが
それぞれ装着されている。図2(a)、図3に示すよう
に、搬送路14とガイド部材10bは蓋部材13の側壁
が下降する為の隙間Sによって隔てられている。すなわ
ち、搬送路14はこの部分で途切れて不連続であり、こ
の隙間S上を基板1が通過する際には基板1の端部は搬
送路14によって下方から支持されず、基板1の剛性の
みによって保持された状態となる。Next, the shapes of the transport path 14, the first transport claws 49a, and the second transport claws 50a will be described with reference to FIGS. As shown in FIG.
It is composed of book transport rails 14a and 14b. Notches are formed in the upper portions of the transfer rails 14a and 14b, and the substrate 1 is conveyed by sliding on these notches. On the base member 10 and the electrode 12, the transport path 1
The guide members 10b and 12b are mounted in a width dimension corresponding to the width of No. 4. As shown in FIGS. 2A and 3, the transport path 14 and the guide member 10 b are separated by a gap S for lowering the side wall of the lid member 13. That is, the transport path 14 is interrupted and discontinuous at this portion, and when the substrate 1 passes over the gap S, the end of the substrate 1 is not supported from below by the transport path 14 and only the rigidity of the substrate 1 The state is held.
【0020】次に図2(b)を参照して搬送爪49aの
形状について説明する。なお、第2の搬送爪50aにつ
いても同様である。図2(b)に示すように第1の搬送
爪49aが基板1を押送する際に当接する側の端面に
は、凹部49bが設けられている。押送時には基板1の
後端部は凹部49bの内底部49cに当接する。したが
って当接部である内底部49cの下方の部分49dは基
板1の下方に突出して基板1を支持し、基板1の下垂を
防止する支持部となっている。Next, the shape of the transport claws 49a will be described with reference to FIG. The same applies to the second transport claw 50a. As shown in FIG. 2B, a concave portion 49 b is provided on an end surface on a side where the first transport claw 49 a comes into contact with the substrate 1 when pushing the substrate 1. At the time of pushing, the rear end portion of the substrate 1 contacts the inner bottom portion 49c of the concave portion 49b. Therefore, a portion 49d below the inner bottom portion 49c, which is a contact portion, protrudes below the substrate 1 to support the substrate 1 and serves as a support portion for preventing the substrate 1 from sagging.
【0021】第1の搬送爪49aにこの凹部49bを設
けることにより、基板1の搬送時に基板1の後端部は下
垂することなく、従って搬送爪49aから外れることな
く安定した状態で確実に押送される。押送時には、搬送
爪49aの下端部は電極12の上面に長手方向に設けら
れた溝12a(図4参照)の内部に嵌入した位置にあ
り、凹部49bの高さ位置はこの状態で電極12の上面
に載置された基板1を押送するのに適当な高さとなって
いる。By providing the concave portion 49b in the first transport claw 49a, the rear end of the substrate 1 does not sag when the substrate 1 is transported, so that it is reliably pushed in a stable state without coming off from the transport claw 49a. Is done. At the time of pushing, the lower end of the transport claw 49a is located at a position fitted into a groove 12a (see FIG. 4) provided in the longitudinal direction on the upper surface of the electrode 12, and the height position of the concave portion 49b is in this state. The height is suitable for pushing the substrate 1 placed on the upper surface.
【0022】次に図4を参照して電極12の断面形状に
ついて説明する。図4に示すように、電極12の上面に
はセラミックなどの絶縁体より成る左右一対のガイド1
2bが設けられており、基板1はこれらのガイド12b
によって両側面をガイドされている。ガイド12bの上
面には水平方向内側に向かって突出する突起部12cが
設けられている。突起部12cは大気開放時の空気の流
れなどによって基板1が持ち上げられるのを防止する。Next, the sectional shape of the electrode 12 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 4, a pair of left and right guides 1 made of an insulator such as ceramic are provided on the upper surface of the electrode 12.
2b are provided, and the substrate 1 is provided with these guides 12b.
Are guided on both sides. On the upper surface of the guide 12b, there is provided a projection 12c projecting inward in the horizontal direction. The protrusion 12c prevents the substrate 1 from being lifted by the flow of air when the substrate is opened to the atmosphere.
【0023】この基板のプラズマクリーニング装置は上
記のような構成より成り、次に動作を説明する。まず、
図2(a)において、真空チャンバ11が開いた状態、
すなわち蓋部材13が上昇した状態で、第1の搬送爪4
9aによって真空チャンバ11内に基板1が搬入され
る。次いで蓋部材13が下降して真空チャンバ11が閉
じられる。この後、真空チャンバ11内は真空吸引部6
2により真空吸引され、次いでプラズマガス供給部63
によりプラズマ発生用ガスが真空チャンバ11内に導入
される。次いで高周波電源19を駆動して電極12に高
周波電圧を印加することにより、真空チャンバ11内に
はプラズマが発生する。その結果発生したイオンや電子
が基板1の表面に衝突することにより、基板1の表面の
プラズマクリーニングが行われる。This substrate plasma cleaning apparatus is constructed as described above, and the operation will be described next. First,
In FIG. 2A, a state where the vacuum chamber 11 is open,
That is, with the lid member 13 raised, the first transport claw 4
The substrate 1 is carried into the vacuum chamber 11 by 9a. Next, the lid member 13 is lowered and the vacuum chamber 11 is closed. Thereafter, the inside of the vacuum chamber 11 is
2, and then the plasma gas supply unit 63
As a result, a gas for plasma generation is introduced into the vacuum chamber 11. Next, by driving the high-frequency power supply 19 and applying a high-frequency voltage to the electrode 12, plasma is generated in the vacuum chamber 11. The ions and electrons generated as a result collide with the surface of the substrate 1, whereby plasma cleaning of the surface of the substrate 1 is performed.
【0024】プラズマクリーニングが終了すると、真空
チャンバ11内には大気開放弁64を介して空気が導入
される。このとき、前述のガイド12bによって基板1
がガイドされているので基板1の位置ずれが発生しな
い。その後蓋部材13を上昇させて真空チャンバ11を
開く。次に、第1の搬送爪49a、第2の搬送爪50a
を下流側へ移動させることにより、新たな基板1を真空
チャンバ11内に搬入するとともに、プラズマクリーニ
ング処理済みの基板1を真空チャンバ11から搬出す
る。When the plasma cleaning is completed, air is introduced into the vacuum chamber 11 through an atmosphere release valve 64. At this time, the substrate 1 is
Are guided, no displacement of the substrate 1 occurs. Thereafter, the lid member 13 is raised and the vacuum chamber 11 is opened. Next, the first transport claws 49a and the second transport claws 50a
By moving the substrate to the downstream side, a new substrate 1 is carried into the vacuum chamber 11, and the substrate 1 after the plasma cleaning processing is carried out from the vacuum chamber 11.
【0025】この搬入・搬出の過程において基板1は搬
送路14からベース部材10上へ、更に電極12上へ乗
り移るが、搬送路14とベース部材10との隙間Sを通
過する際に、基板1の後端部は第1の搬送爪49a,第
2の50aの凹部49b,50b内に嵌入しているので
基板1の後端部が下垂することがない。したがって基板
1は常に第1の搬送爪49a,第2の搬送爪50aによ
って正常に押送され、搬送ミスを生じることがない。In the process of loading and unloading, the substrate 1 moves from the transport path 14 onto the base member 10 and further onto the electrode 12, but when passing through the gap S between the transport path 14 and the base member 10, the substrate 1 The rear end of the substrate 1 is fitted into the recesses 49b and 50b of the first transport claws 49a and the second 50a, so that the rear end of the substrate 1 does not hang down. Therefore, the substrate 1 is always pushed normally by the first transport claws 49a and the second transport claws 50a, and no transport error occurs.
【0026】なお、本実施の形態では第1の搬送爪49
a,第2の搬送爪50aの支持部の形状として凹49
b、50b部を形成する例を示しているが、これ以外の
他の形状、例えば第1の搬送爪49a,第2の搬送爪5
0aの下部を単に基板1の下方に突出させた形状など、
要は基板1の端部の下垂を防止できるような形状であれ
ばよい。In this embodiment, the first transport claws 49
a, the shape of the support portion of the second transport claw 50a is concave 49
Although an example in which the b and 50b portions are formed is shown, other shapes such as the first transport claw 49a and the second transport claw 5 are used.
0a simply protrudes below the substrate 1, etc.
In short, any shape may be used as long as the end of the substrate 1 can be prevented from hanging down.
【0027】[0027]
【発明の効果】本発明によれば、搬送爪が基板の端部と
当接する当接部の下方にこの基板の下方へ突出して基板
を支持し基板の下垂を防止する支持部を設けたので、撓
みやすい薄板上の基板であっても搬送時に基板の端部が
下垂して搬送爪から外れることがなく、基板を確実に搬
送することができる。According to the present invention, the supporting portion is provided below the abutting portion where the carrying claw abuts on the edge portion of the substrate to protrude below the substrate to support the substrate and prevent the substrate from sagging. In addition, even if the substrate is on a thin plate that is easily bent, the substrate can be reliably transported without the end of the substrate dropping off the transport claw during transport.
【図1】本発明の一実施の形態のプラズマクリーニング
装置の斜視図FIG. 1 is a perspective view of a plasma cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】(a)本発明の一実施の形態のプラズマクリー
ニング装置の側断面図 (b)本発明の一実施の形態のプラズマクリーニング装
置の搬送爪の部分拡大図FIG. 2A is a side sectional view of a plasma cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2B is a partially enlarged view of a transport claw of the plasma cleaning apparatus according to the embodiment of the present invention.
【図3】本発明の一実施の形態のプラズマクリーニング
装置の搬送路の平面図FIG. 3 is a plan view of a transport path of the plasma cleaning apparatus according to the embodiment of the present invention.
【図4】本発明の一実施の形態のプラズマクリーニング
装置の部分断面図FIG. 4 is a partial sectional view of the plasma cleaning apparatus according to the embodiment of the present invention;
1 基板 10 ベース部材 11 真空チャンバ 12 電極 13 蓋部材 14 搬送路 17 開閉手段 49a 第1の搬送爪 49c 内底部 50a 第2の搬送爪 62 真空吸引部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 10 Base member 11 Vacuum chamber 12 Electrode 13 Lid member 14 Transport path 17 Opening / closing means 49a First transport claw 49c Inner bottom 50a Second transport claw 62 Vacuum suction unit
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI // H01L 21/3065 H01L 21/302 N ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code FI // H01L 21/3065 H01L 21/302 N
Claims (1)
と、真空チャンバを構成する蓋部と、この蓋部を開閉す
る開閉手段と、前記搬送路上を基板を押送して基板の真
空チャンバ内への搬入および真空チャンバからの搬出を
行う搬送爪と、前記真空チャンバ内を真空吸引する真空
吸引手段とを備え、前記搬送爪が基板の端部と当接する
当接部の下方に基板の下方へ突出して基板を支持し基板
の下垂を防止する支持部を設けたことを特徴とする真空
処理装置。1. A transport path for transporting a thin substrate in the longitudinal direction, a lid constituting a vacuum chamber, an opening / closing means for opening and closing the lid, and a vacuum on the substrate by pushing the substrate on the transport path. A transfer claw for carrying in and out of the chamber; and vacuum suction means for vacuum suctioning the inside of the vacuum chamber, wherein the transfer claw contacts the end of the substrate. A vacuum processing apparatus, comprising: a supporting portion that protrudes downward from the substrate and supports the substrate to prevent the substrate from sagging.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10044975A JPH11243126A (en) | 1998-02-26 | 1998-02-26 | Vacuum processing equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10044975A JPH11243126A (en) | 1998-02-26 | 1998-02-26 | Vacuum processing equipment |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11243126A true JPH11243126A (en) | 1999-09-07 |
Family
ID=12706485
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10044975A Pending JPH11243126A (en) | 1998-02-26 | 1998-02-26 | Vacuum processing equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11243126A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015082471A (en) * | 2013-10-24 | 2015-04-27 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Plasma processing apparatus and plasma processing method |
| CN114774908A (en) * | 2022-03-09 | 2022-07-22 | 山东能源重装集团大族再制造有限公司 | High-speed cladding system |
-
1998
- 1998-02-26 JP JP10044975A patent/JPH11243126A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015082471A (en) * | 2013-10-24 | 2015-04-27 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Plasma processing apparatus and plasma processing method |
| CN114774908A (en) * | 2022-03-09 | 2022-07-22 | 山东能源重装集团大族再制造有限公司 | High-speed cladding system |
| CN114774908B (en) * | 2022-03-09 | 2024-03-08 | 山东能源重装集团大族再制造有限公司 | A high-speed cladding system |
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