JPH11237437A - Multi-channel measurement device, multi-channel inspection device, and computer-readable recording medium recording multi-channel measurement program - Google Patents
Multi-channel measurement device, multi-channel inspection device, and computer-readable recording medium recording multi-channel measurement programInfo
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- JPH11237437A JPH11237437A JP10036499A JP3649998A JPH11237437A JP H11237437 A JPH11237437 A JP H11237437A JP 10036499 A JP10036499 A JP 10036499A JP 3649998 A JP3649998 A JP 3649998A JP H11237437 A JPH11237437 A JP H11237437A
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- inspection
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 チャンネル毎に個別に制御できるようにす
る。
【解決手段】 制御部40は、複数の条件設定部21,
22に対して個別の条件設定指令を出力することで、条
件設定部21,22と計測部31,32との組からなる
複数の検査用チャンネルをそれぞれ独立して制御する。
そのために制御部40は、複数の工程41a,41b,
41cからなる検査プログラム41と、各検査用チャン
ネルが実行されている工程を示す工程ポインタ42a,
42b,42cとを保持する。そして、工程ポインタ4
2a,42b,42cから次の工程を認識し、次の工程
の内容を検査プログラム41から取得することで、個別
の検査用チャンネルに対する条件設定指令や計測内容を
決定する。
(57) [Summary] [Problem] To enable individual control for each channel. A control unit includes a plurality of condition setting units.
By outputting an individual condition setting command to the control unit 22, a plurality of inspection channels including a set of the condition setting units 21 and 22 and the measurement units 31 and 32 are independently controlled.
To this end, the control unit 40 includes a plurality of processes 41a, 41b,
An inspection program 41 comprising an inspection program 41c and process pointers 42a,
42b and 42c. And the process pointer 4
By recognizing the next process from 2a, 42b, and 42c and acquiring the contents of the next process from the inspection program 41, the condition setting command and the measurement content for each inspection channel are determined.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は多チャンネル計測装
置、多チャンネル検査装置及び多チャンネル計測プログ
ラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体に
関し、特に測定時の作業効率を向上させた多チャンネル
計測装置、検査時の作業効率を向上させた多チャンネル
検査装置及び測定時の作業効率を向上させた多チャンネ
ル計測プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能
な記録媒体に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multi-channel measurement device, a multi-channel inspection device, and a computer-readable recording medium on which a multi-channel measurement program is recorded. The present invention relates to a multi-channel inspection apparatus with improved work efficiency at the time of inspection and a computer-readable recording medium that records a multi-channel measurement program with improved work efficiency at the time of measurement.
【0002】[0002]
【従来の技術】回路基板などの製造工程では、完成した
製品の品質を保証するために、製品を出荷する前(若し
くは他の製品に組み込む前)に様々な動作チェックを行
う。このような製品の検査は、所定の検査装置を用いて
行う。検査を行う際には、検査すべき製品を検査装置に
接続し、検査装置からテスト信号などを入力すること
で、所望の特性が得られていることを確認する。ただ
し、このような検査工程に長い時間を要してしまうと、
生産効率が低下してしまう。2. Description of the Related Art In a manufacturing process of a circuit board or the like, various operation checks are performed before shipping a product (or before incorporating it into another product) in order to guarantee the quality of a completed product. Inspection of such a product is performed using a predetermined inspection device. When performing an inspection, a product to be inspected is connected to an inspection device, and a test signal or the like is input from the inspection device to confirm that desired characteristics are obtained. However, if such an inspection process takes a long time,
Production efficiency decreases.
【0003】そこで、最近では、生産性を向上するた
め、複数チャンネルの測定機能を持つ検査装置が用いら
れている。多チャンネル検査装置では、1台の装置で複
数の対象物の検査を行い、検査工程に要する時間を短縮
している。これは実際の検査にかかる時間に対し、対象
物の検査装置(治具)へのセッティングにかかる時間を
短くするために考えられたものである。Therefore, recently, in order to improve productivity, an inspection apparatus having a measurement function of a plurality of channels is used. In the multi-channel inspection device, a plurality of objects are inspected by one device, and the time required for the inspection process is reduced. This is conceived in order to shorten the time required for setting the object to the inspection device (jig) with respect to the time required for the actual inspection.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の多チャ
ンネル検査装置における測定機能は、チャンネル毎に独
立して制御することはできない。そのため、複数の対象
物に対する検査工程を、常に同時に進行させなければな
らない。すると、1つのチャンネルの検査対象物が検査
途中で不良と判明した場合でも、他チャンネルのすべて
の検査が終了するまで不良の対象物を取り除くことがで
ぎず、無駄な時間を費やすこととなる。However, the measurement function in the conventional multi-channel inspection apparatus cannot be controlled independently for each channel. Therefore, the inspection process for a plurality of objects must always proceed at the same time. Then, even if the inspection target of one channel is determined to be defective during the inspection, it is impossible to remove the defective target until all the inspections of the other channels are completed, so that wasteful time is wasted.
【0005】また、対象物と検査装置との接続を行う部
分(フィクスチャー)の、ある1チャンネルに何らかの
故障が発生した場合、従来技術では、検査装置全体を停
止して修理しなければならず、その間製造を行うことが
できないという問題がある。[0005] Further, in the case where a certain failure occurs in a certain channel of a portion (fixture) for connecting the object and the inspection apparatus, in the related art, the entire inspection apparatus must be stopped and repaired. However, there is a problem that manufacturing cannot be performed during that time.
【0006】本発明はこのような点に鑑みてなされたも
のであり、チャンネル毎に個別に制御できる多チャンネ
ル測定装置を提供することを目的とする。また、本発明
の多の目的は、計測用のチャンネル毎に個別に制御でき
る多チャンネル検査装置を提供することである。The present invention has been made in view of the above points, and has as its object to provide a multi-channel measuring device that can be individually controlled for each channel. It is another object of the present invention to provide a multi-channel inspection apparatus capable of individually controlling each measurement channel.
【0007】また、本発明の別の目的は、検査用のチャ
ンネル毎に個別に制御できる多チャンネル測定プログラ
ムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提
供することである。Another object of the present invention is to provide a computer-readable recording medium on which a multi-channel measurement program that can be individually controlled for each test channel is recorded.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】本発明では上記課題を解
決するために、計測用のチャンネルを複数有する多チャ
ンネル計測装置において、条件設定指令を受け取ると、
計測対象物に対して、前記条件設定指令で指定された計
測条件を設定する複数の条件設定部と、前記条件設定部
に対応して設けられ、計測対象物に対して特定の条件が
設定された結果として発生する現象を計測する複数の計
測部と、複数の前記条件設定部に対して個別の前記条件
設定指令を出力することで、前記条件設定部と前記計測
部との組からなる複数の計測用チャンネルをそれぞれ独
立して制御する制御部と、を有することを特徴とする多
チャンネル計測装置が提供される。According to the present invention, in order to solve the above problems, in a multi-channel measuring device having a plurality of channels for measurement, when a condition setting command is received,
For the measurement target, a plurality of condition setting units for setting the measurement conditions specified by the condition setting command are provided corresponding to the condition setting unit, and specific conditions are set for the measurement target. A plurality of measurement units for measuring the phenomena occurring as a result of the above, and by outputting the individual condition setting commands to the plurality of condition setting units, a plurality of sets of the condition setting unit and the measurement unit And a control unit for controlling each of the measurement channels independently of each other.
【0009】このような多チャンネル計測装置によれ
ば、複数の計測用チャンネルのそれぞれが制御部により
独立して制御されている。そのため、1つの計測用チャ
ンネルの計測処理を終了し、他の計測用チャンネルの処
理を継続することも可能である。According to such a multi-channel measurement device, each of the plurality of measurement channels is independently controlled by the control unit. Therefore, it is possible to end the measurement processing of one measurement channel and continue the processing of another measurement channel.
【0010】また、本発明では上記課題を解決するため
に、複数の検査対象物を同時に検査するための検査用の
チャンネルを複数有する多チャンネル検査装置におい
て、検査対象物に対して電気的接触させるための複数の
接続部と、前記接続部のそれぞれに電気的に接続されて
おり、条件設定指令を受け取ると、検査対象物に与える
べき条件が前記条件設定指令で指定された検査条件とな
るように、前記接続部に対して電気的信号を出力する複
数の条件設定部と、前記接続部のそれぞれに電気的に接
続されており、接続された前記接続部から出力される電
気的信号を計測する複数の計測部と、複数の前記条件設
定部に対して個別の前記条件設定指令を出力すること
で、前記条件設定部と前記計測部との組からなる複数の
検査用チャンネルをそれぞれ独立して制御する制御部
と、を有することを特徴とする多チャンネル検査装置が
提供される。According to the present invention, in order to solve the above problems, in a multi-channel inspection apparatus having a plurality of inspection channels for simultaneously inspecting a plurality of inspection objects, the inspection objects are electrically contacted. And a plurality of connecting portions for electrical connection to each of the connecting portions, and when a condition setting command is received, a condition to be given to the inspection object becomes the inspection condition specified by the condition setting command. A plurality of condition setting units for outputting an electric signal to the connection unit, and an electric signal which is electrically connected to each of the connection units and is output from the connected connection unit. By outputting the individual condition setting commands to a plurality of measuring units and the plurality of condition setting units, a plurality of inspection channels including a set of the condition setting unit and the measuring unit are allocated. Multichannel inspection apparatus is provided, characterized in that it comprises a control unit for controlling respective independently.
【0011】このような多チャンネル検査装置によれ
ば、複数の検査用チャンネルのそれぞれが制御部により
独立して制御されている。そのため、1つの検査用チャ
ンネルの検査処理を終了し、他の検査用チャンネルの処
理を継続することも可能である。According to such a multi-channel inspection apparatus, each of the plurality of inspection channels is independently controlled by the control unit. Therefore, it is possible to end the inspection processing of one inspection channel and continue the processing of another inspection channel.
【0012】また、本発明では上記課題を解決するため
に、条件設定指令を受け取ると、計測対象物に対して、
前記条件設定指令で指定された計測条件を設定する条件
設定部と、計測対象物に対して特定の条件が設定された
結果として発生する現象を計測する計測部との組からな
る複数の計測用チャンネルを制御するための計測プログ
ラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体に
おいて、複数の工程からなる計測プログラムと、前記計
測用チャンネルのそれぞれが実行されている工程を示す
工程ポインタとを保持し、前記工程ポインタの示す工程
の内容を前記計測プログラムから取得することで、前記
条件設定部に対して出力する条件設定指令の内容を決定
し、複数の計測用チャンネルをそれぞれ独立して制御す
る制御手段、としてコンピュータを機能させることを特
徴とする計測プログラムを記録したコンピュータ読み取
り可能な記録媒体が提供される。In the present invention, in order to solve the above-mentioned problem, when a condition setting command is received,
A plurality of measurement units each including a set of a condition setting unit that sets a measurement condition specified by the condition setting command and a measurement unit that measures a phenomenon that occurs as a result of setting a specific condition on a measurement target. In a computer-readable recording medium recording a measurement program for controlling the channel, holding a measurement program consisting of a plurality of steps, and a process pointer indicating a step in which each of the measurement channels is being executed, Control means for acquiring the content of the process indicated by the process pointer from the measurement program, determining the content of a condition setting command to be output to the condition setting unit, and independently controlling a plurality of measurement channels, Computer-readable recording medium recording a measurement program characterized by causing a computer to function as a computer It is provided.
【0013】このような媒体に記録された計測プログラ
ムをコンピュータに実行させれば、前記本発明の多チャ
ンネル測定装置の制御部に必要な機能がコンピュータに
よって実現される。When the computer executes the measurement program recorded on such a medium, the functions necessary for the control section of the multi-channel measurement apparatus of the present invention are realized by the computer.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。図1は、本発明の原理構成図であ
る。本発明の多チャンネル検査装置は、複数の検査対象
物1,2を同時に検査するために、複数の接続部11,
12、複数の条件設定部21,22、複数の計測部3
1,32、及び制御部40を有している。各要素は、以
下のような機能を有している。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of the present invention. The multi-channel inspection apparatus of the present invention includes a plurality of connection units 11 and
12, a plurality of condition setting units 21 and 22, a plurality of measuring units 3
1 and 32 and a control unit 40. Each element has the following functions.
【0015】接続部11,12は、対応する検査対象物
1,2との間で電気的接触を図るためのものである。条
件設定部21,22は、接続部11,12のそれぞれに
電気的に接続されており、制御部40から条件設定指令
を受け取ると、検査対象物1,2に与えるべき条件が条
件設定指令で指定された条件となるように、接続部1
1,12に対して電気的信号を出力する。計測部31,
32は、接続部11,12のそれぞれに電気的に接続さ
れており、接続された接続部11,12から出力される
電気的信号を計測する。The connecting portions 11 and 12 are for making electrical contact with the corresponding test objects 1 and 2. The condition setting units 21 and 22 are electrically connected to the connection units 11 and 12, respectively, and upon receiving a condition setting command from the control unit 40, the conditions to be given to the inspection objects 1 and 2 are the condition setting commands. Connection unit 1 so that the specified condition is satisfied
An electric signal is output to the first and second signals. Measuring unit 31,
Reference numeral 32 is electrically connected to each of the connection portions 11 and 12, and measures an electrical signal output from the connected connection portions 11 and 12.
【0016】制御部40は、複数の条件設定部21,2
2に対して個別の条件設定指令を出力することで、条件
設定部21,22と計測部31,32との組からなる複
数の検査用チャンネルをそれぞれ独立して制御する。そ
のために制御部40は、複数の細分化された工程41
a,41b,41cからなる検査プログラム41と、各
検査用チャンネルが実行されている工程を示す工程ポイ
ンタ42a,42b,42cとを保持する。そして、工
程ポインタ42a,42b,42cの内容から次に行う
べき工程を認識し、該当する工程の内容を検査プログラ
ム41から取得する。取得した工程に応じて、条件設定
部21,22に対して出力する条件設定指令の内容や、
計測部31,32で計測すべき信号の内容を決定する。
これにより、複数の検査用チャンネルを個別に制御する
ことができる。The control unit 40 includes a plurality of condition setting units 21 and
By outputting an individual condition setting command to the plurality of test channels 2, a plurality of inspection channels composed of a set of the condition setting units 21 and 22 and the measurement units 31 and 32 are independently controlled. For this purpose, the control unit 40 includes a plurality of subdivided processes 41.
An inspection program 41 including a, 41b, and 41c, and process pointers 42a, 42b, and 42c indicating processes in which each inspection channel is being executed are held. Then, the process to be performed next is recognized from the contents of the process pointers 42 a, 42 b, and 42 c, and the content of the corresponding process is acquired from the inspection program 41. Depending on the acquired process, the content of the condition setting command output to the condition setting units 21 and 22,
The contents of the signals to be measured by the measuring units 31 and 32 are determined.
Thereby, a plurality of test channels can be individually controlled.
【0017】なお、本発明の多チャンネル測定装置は、
多チャンネル検査装置の接続部11,12を除いた構成
と同様である。ただし、処理内容は対象物の検査に限ら
ず、各種測定処理を行う。Note that the multi-channel measuring device of the present invention
The configuration is the same as that of the multi-channel inspection apparatus except for the connection parts 11 and 12. However, the processing content is not limited to the inspection of the target object, and performs various measurement processing.
【0018】以下、本発明を適用した具体的な実施の形
態について説明する。ここでは、2チャンネルの条件設
定部と計測部を持つ、テープレコーダの基板検査装置で
説明を行う。Hereinafter, specific embodiments to which the present invention is applied will be described. Here, a description will be given of a substrate inspection apparatus of a tape recorder having a condition setting unit and a measurement unit of two channels.
【0019】図2は、テープレコーダの基板検査装置の
構成図である。この基板検査装置100は、計測装置1
10と2つのフィクスチャー部120,130とで構成
される。FIG. 2 is a configuration diagram of a substrate inspection apparatus for a tape recorder. The board inspection apparatus 100 includes a measuring apparatus 1
10 and two fixture units 120 and 130.
【0020】計測装置110は、装置全体を制御する制
御部111と、検査条件を設定する2つの条件設定部1
12,114と、検査結果を計測する2つの計測部11
3,115とを有する。The measuring apparatus 110 includes a control section 111 for controlling the entire apparatus, and two condition setting sections 1 for setting inspection conditions.
12, 114 and two measuring units 11 for measuring the inspection result
3,115.
【0021】制御部111は、CPU(Central Process
ing Unit) 、メモリ、I/O(InputOutput)、表示装置
で構成される。メモリには、装置そのものを動作させる
ためのシステムプログラムと、検査対象基板ごとに異な
る検査シーケンスを記録した検査プログラムを格納す
る。前者はROM(Read Only Memory)に格納され、後者
は電池等によりバックアップされたRAM(Random Acce
ss Memory)におかれ、検査対象物に合わせ使用者の操作
により書き換え可能とする。そして、制御部111は、
検査開始を指示するための信号であるスタート信号がフ
ィクスチャー部120,130から入力されると、検査
プログラムにプログラミングされたシーケンスに従い、
条件設定部112,114や計測部113,115を制
御し、スタート信号を発信したフィクスチャー部12
0,130に接続された検査対象基板210,220の
検査を開始する。The control unit 111 has a CPU (Central Process
ing Unit), a memory, an I / O (Input Output), and a display device. The memory stores a system program for operating the apparatus itself and an inspection program in which an inspection sequence different for each inspection target substrate is recorded. The former is stored in ROM (Read Only Memory), and the latter is stored in RAM (Random Acce
ss Memory) and can be rewritten by a user operation in accordance with the inspection object. Then, the control unit 111
When a start signal, which is a signal for instructing the start of an inspection, is input from the fixture units 120 and 130, the start signal is output according to a sequence programmed in the inspection program.
The fixture unit 12 that controls the condition setting units 112 and 114 and the measurement units 113 and 115 and transmits a start signal
Inspection of the inspection target substrates 210 and 220 connected to 0 and 130 is started.
【0022】条件設定部112,114は、制御部11
1からの指令に従って 発振器112a,114aや検
査対象基板210,220から取り出す信号を選択する
ためのリレードライバ112b、114bを制御する。The condition setting units 112 and 114 include the control unit 11
In accordance with a command from the control unit 1, the control unit controls relay drivers 112b and 114b for selecting signals to be extracted from the oscillators 112a and 114a and the inspection target substrates 210 and 220.
【0023】発振器112a,114aは、対応するフ
ィクスチャー部120,130に接続されており、フィ
クスチャー部120,130に対して様々な検査用信号
を出力する。検査用信号の発振周波数、出力振幅は、検
査プログラムの内容に応じて変化する。リレードライバ
112b、114bは、フィクスチャー部120,13
0に設けられたリレー及びアクチュエータ制御機器(電
磁バルブ等)に接続されており、制御部111からの指
令に応じてリレー等を制御する。これにより、例えば、
検査対象基板210,220から取り出す信号をライン
アウト、ヘッドホンアウト、ヘッド出力の内から1つ選
択したり、あるいはテープセレクタのSWをNORMA
LとMETALに切り替える機構を実現できる。The oscillators 112a and 114a are connected to the corresponding fixture units 120 and 130, and output various test signals to the fixture units 120 and 130. The oscillation frequency and output amplitude of the test signal change according to the contents of the test program. The relay drivers 112b and 114b are
The control unit 111 is connected to a relay and an actuator control device (such as an electromagnetic valve) provided in the control unit 111 and controls the relay and the like according to a command from the control unit 111. This allows, for example,
Select one signal from line out, headphone out, and head output from the signals to be extracted from the inspection target substrates 210 and 220, or set the tape selector SW to NORMA.
A mechanism for switching between L and METAL can be realized.
【0024】計測部113,115は、対応するフィク
スチャー部120,130に接続されており、検査対象
基板210,220から出力された各種信号を、フィク
スチャー部120,130を介して受け取る。そして、
検査対象基板210,220から取り出した電気信号の
AC電圧、DC電圧、周波数等の測定機能を有する。こ
れらの測定機能により、検査対象基板の電気的特性を計
測し、あらかじめ決められた規格と比較することで良否
判定を行う。The measuring units 113 and 115 are connected to the corresponding fixture units 120 and 130, and receive various signals output from the inspection target substrates 210 and 220 via the fixture units 120 and 130. And
It has a function of measuring an AC voltage, a DC voltage, a frequency, and the like of an electric signal extracted from the inspection target substrates 210 and 220. With these measurement functions, the electrical characteristics of the inspection target substrate are measured, and the pass / fail judgment is made by comparing the electric characteristics with a predetermined standard.
【0025】フィクスチャー部120,130は、検査
対象基板210,220と電気的に接触するためのコン
タクトプローブを有している。このコンタクトプローブ
を検査対象基板210,220の端子に接続することに
より、検査対象基板210,220に対し、回路を動作
させるための電源を供給したり、検査信号の入出力を行
う。The fixture sections 120 and 130 have contact probes for making electrical contact with the substrates 210 and 220 to be inspected. By connecting the contact probes to the terminals of the substrates to be inspected 210 and 220, power is supplied to the substrates to be inspected 210 and 220 for operating the circuit, and input and output of inspection signals are performed.
【0026】ここで、フィクスチャー部120に対応す
る条件設定部112、計測部113を「チャンネルA」
とする。また、フィクスチャー部130に対応する条件
設定部114、計測部115を「チャンネルB」とす
る。Here, the condition setting unit 112 and the measuring unit 113 corresponding to the fixture unit 120 are referred to as “channel A”.
And The condition setting unit 114 and the measurement unit 115 corresponding to the fixture unit 130 are referred to as “channel B”.
【0027】次に、フィクスチャー部120,130の
構成を説明する。なお、以下の説明では、「チャンネル
A」のフィクスチャー部120の構成を例にとって説明
するが、「チャンネルB」のフィクスチャー部120の
構成も同じである。Next, the configuration of the fixture units 120 and 130 will be described. In the following description, the configuration of the fixture unit 120 of “Channel A” will be described as an example, but the configuration of the fixture unit 120 of “Channel B” is the same.
【0028】図3は、フィクスチャー部120の回路例
を示す図である。図3の中央部分が検査対象基板210
であり、検査対象基板210の両側に示した○印は、検
査対象基板210と電気的接触をとるコンタクトプロー
ブ121a〜121mをあらわす。コンタクトプローブ
121aは、検査対象基板210のグランド端子(GN
D)と電気的接触を取る。コンタクトプローブ121
b,121cは、検査対象基板210のヘッド用端子
(HEAD+,HEAD−)と電気的接触を取る。コン
タクトプローブ121d,121eは、検査対象基板2
10のマイク端子(MIC+,MIC−)と電気的接触
を取る。コンタクトプローブ121f,121gは、検
査対象基板210の電源端子(+B,GND)と電気的
接触を取る。コンタクトプローブ121h,121i
は、検査対象基板210のスピーカ出力端子(SPOU
T)と電気的接触を取る。コンタクトプローブ121
j,121kは、検査対象基板210のLED(Light-E
mitting Diode)端子(LED,GND)と電気的接触を
取る。コンタクトプローブ121l,121mは、検査
対象基板210のモータ電源端子(M+,M−)と電気
的接触を取る。FIG. 3 is a diagram showing a circuit example of the fixture unit 120. The central part of FIG.
The circles shown on both sides of the inspection target substrate 210 represent the contact probes 121a to 121m that make electrical contact with the inspection target substrate 210. The contact probe 121a is connected to a ground terminal (GN
Make electrical contact with D). Contact probe 121
b, 121c make electrical contact with the head terminals (HEAD +, HEAD-) of the substrate 210 to be inspected. The contact probes 121d and 121e are
Make electrical contact with 10 microphone terminals (MIC +, MIC-). The contact probes 121f and 121g make electrical contact with the power supply terminals (+ B, GND) of the inspection target substrate 210. Contact probes 121h, 121i
Is a speaker output terminal (SPOU) of the inspection target substrate 210.
Make electrical contact with T). Contact probe 121
j, 121k are LEDs (Light-E
Making electrical contact with terminals (LED, GND). The contact probes 121l and 121m make electrical contact with the motor power supply terminals (M +, M-) of the inspection target substrate 210.
【0029】図3の左側のジャック(SlG IN)1
22には計測装置110の発振器112aから出力され
る信号を接続する。図3の右側のジャック(0UT)1
23a,123bは、計測装置110の計測部113へ
接続される。The left jack (Slg IN) 1 in FIG.
The signal output from the oscillator 112a of the measuring device 110 is connected to 22. Jack (0UT) 1 on the right side of FIG.
23a and 123b are connected to the measuring unit 113 of the measuring device 110.
【0030】ジャック122は、リレーRy7を介して
再生ヘッド124aに接続され、さらにリレーRy8を
介してコンタクトプローブ121b,121cに接続さ
れている。また、ジャック122は、リレーRy9,R
y10を介してコンタクトプローブ121d,121e
に接続されている。The jack 122 is connected to the reproducing head 124a via the relay Ry7, and further connected to the contact probes 121b and 121c via the relay Ry8. The jack 122 is connected to the relays Ry9 and Ry9.
Contact probes 121d and 121e via y10
It is connected to the.
【0031】ジャック123は、リレーRy1〜Ry6
を介し、各種信号出力用の端子等に接続されている。す
なわち、リレーRy1を介してコンタクトプローブ12
1h,121iに接続され、リレーRy2を介してイヤ
ホンジャック125に接続され、リレーRy3を介して
コンタクトプローブ121j,121kに接続されてい
る。また、リレーRy4を介して録音ヘッド124bに
接続され、さらにリレーRy8を介してコンタクトプロ
ーブ121b,121cに接続されている。また、リレ
ーRy5を介してコンタクトプローブ121d,121
eに接続され、リレーRy6を介してコンタクトプロー
ブ121l,121mに接続され、イヤホンジャック1
25、及び録音ヘッド124bに接続されている。The jack 123 has relays Ry1 to Ry6
Are connected to various signal output terminals and the like. That is, the contact probe 12 is connected via the relay Ry1.
1h, 121i, connected to an earphone jack 125 via a relay Ry2, and connected to contact probes 121j, 121k via a relay Ry3. Further, it is connected to the recording head 124b via the relay Ry4, and further connected to the contact probes 121b and 121c via the relay Ry8. Also, contact probes 121d, 121d are connected via relay Ry5.
e, connected to the contact probes 121l and 121m via the relay Ry6, and connected to the earphone jack 1
25, and the recording head 124b.
【0032】図4は、リレードライバ及び制御部と接続
するためのフィクスチャー部の入出力部の回路図であ
る。フィクスチャー部120の入出力端子126には、
リレー等に接続された複数の端子が設けられている。図
中「Ry−1」〜「Ry−10」と示した端子は、それ
ぞれリレーRy1〜Ry10のコイル部127a〜12
7jに接続されている。また、図中「Ry−17」〜
「Ry−21」と示した端子は、電磁バルブ127k〜
127oに接続されている。図中「START」と示し
た端子は、スタートスイッチ127pに接続され、「R
ESET」と示した端子は、リセットスイッチ127q
に接続されている。ここで、電磁バルブ127k〜12
7oは、検査対象基板210に実装されたスイッチ類を
機械的に切り換えるためのアクチュエータのON−OF
Fを行うためのものである。FIG. 4 is a circuit diagram of an input / output unit of a fixture unit for connecting to a relay driver and a control unit. The input / output terminal 126 of the fixture unit 120 includes
A plurality of terminals connected to a relay or the like are provided. In the figure, terminals indicated as "Ry-1" to "Ry-10" are coil portions 127a to 127 of relays Ry1 to Ry10, respectively.
7j. Also, “Ry-17” to
The terminals indicated as “Ry-21” are the electromagnetic valves 127k to
127o. The terminal labeled "START" in the figure is connected to the start switch 127p,
ESET ”is the reset switch 127q
It is connected to the. Here, the electromagnetic valves 127k to 12k
7o is an ON-OF of an actuator for mechanically switching switches mounted on the inspection target substrate 210.
F.
【0033】そして、図中「Ry−1」〜「Ry−2
4」と示した各端子は、計測装置110のリレードライ
バ112bに接続され、リレードライバ112bにより
検査シーケンスに従い制御される。また、図中「STA
RT」と示した端子は、制御部111に接続されてお
り、スタートスイッチ127pを押した際には、スター
ト信号が制御部111へ送られる。In the figure, "Ry-1" to "Ry-2"
Each terminal indicated by "4" is connected to the relay driver 112b of the measuring device 110, and is controlled by the relay driver 112b according to the inspection sequence. In the figure, "STA
The terminal indicated by “RT” is connected to the control unit 111, and when the start switch 127p is pressed, a start signal is sent to the control unit 111.
【0034】以上のようなテープレコーダの基板検査装
置100において、計測装置110の制御部111が、
2組の条件設定部112,114と計測部113,11
5をそれぞれ独立して制御し、フィクスチャー部12
0,130を同様に1チャンネルごとに分離すること
で、検査の効率化とメンテナンス性の向上を図る。その
ために、制御部111内には、以下のような情報が格納
される。In the above-described substrate inspection apparatus 100 for a tape recorder, the control unit 111 of the measuring apparatus 110
Two sets of condition setting units 112 and 114 and measuring units 113 and 11
5 are controlled independently of each other,
Similarly, by separating 0 and 130 for each channel, efficiency of inspection and improvement of maintainability are improved. For this purpose, the following information is stored in the control unit 111.
【0035】図5は、制御部が保持する情報を示す図で
ある。検査プログラム111aは、検査対象基板の検査
シーケンスが記述された領域である。ここには、検査の
ステップごとの、条件設定部112,114と計測部1
13,115との動作内容が記述されている。ステップ
シーケンス111b,111cは、細分化された実際の
制御プログラムの部分であり、メインの検査プログラム
より現在のステップポインタ111d,111eの値と
シーケンスポインタ111f,111gの値を引数とし
て受け取り、それに応じたハードウエアの制御を行う。
このステップシーケンス111b,111cは、それぞ
れ「チャンネルA」と「チャンネルB」とに対応して設
けられている。FIG. 5 is a diagram showing information held by the control unit. The inspection program 111a is an area in which the inspection sequence of the inspection target substrate is described. Here, the condition setting units 112 and 114 and the measurement unit 1 for each inspection step
13 and 115 are described. The step sequences 111b and 111c are portions of the actual control program that has been subdivided, and receive the current values of the step pointers 111d and 111e and the values of the sequence pointers 111f and 111g as arguments from the main inspection program and respond accordingly. Performs hardware control.
These step sequences 111b and 111c are provided corresponding to “Channel A” and “Channel B”, respectively.
【0036】ステップポインタ111d,111eは各
チャンネルの現在実行しているステップ番号が格納され
ている。ここで、「チャンネルA」に対応するステップ
ポインタ111dを「ステップポインタA」とし、「チ
ャンネルB」に対応するステップポインタ111eを
「ステップポインタB」とする。The step pointers 111d and 111e store the currently executed step numbers of the respective channels. Here, the step pointer 111d corresponding to “Channel A” is referred to as “Step Pointer A”, and the step pointer 111e corresponding to “Channel B” is referred to as “Step Pointer B”.
【0037】同様に、シーケンスポインタ111f,1
11gは各チャンネルのステップ内のシーケンス番号が
格納されている。シーケンス番号とは、ステップ内の動
作を細分化した時の順番で、ここでは「スタート待
ち」、「発振器の設定」、「リレーの設定」、「測
定」、「判定」の5つに細分化している。ステップ内の
動作を細分化することで、見かけ上マルチタスク動作に
することができる。ここで、「チャンネルA」に対応す
るシーケンスポインタ111fを「シーケンスポインタ
A」とし、「チャンネルB」と対応するシーケンスポイ
ンタ111gを「シーケンスポインタB」とする。Similarly, the sequence pointers 111f, 1
11g stores the sequence number in the step of each channel. The sequence number is the order in which the operation in the step is subdivided. In this case, the operation is subdivided into five parts: "wait for start", "oscillator setting", "relay setting", "measurement", and "judgment". ing. By subdividing the operation in the step, an apparent multitask operation can be obtained. Here, the sequence pointer 111f corresponding to “Channel A” is defined as “Sequence Pointer A”, and the sequence pointer 111g corresponding to “Channel B” is defined as “Sequence Pointer B”.
【0038】図6は、計測装置の制御手順を示すフロー
チャートである。このフローチャートをステップ番号に
沿って説明する。なお、メインプログラムのスタート時
点で、「ステップポインタA」、「ステップポインタ
B」、「シーケンスポインタA」、「シーケンスポイン
タB」はそれぞれ「0」にセットされ、「チャンネル
A」、「チャンネル,B」のスタート信号待ちの状態と
なっている。 [S1]「ステップポインタA」の値が「0」か否かを
判断する。「0」であればステップS2に進み、「0」
でなければステップS4に進む。 [S2]「チャンネルA」のスタート信号が「ON」か
否かを判断する。スタート信号が「ON」であればステ
ップS3に進み、「OFF」であればステップS4に進
む。 [S3]「ステップポインタA」の値を「1」に設定
し、「シーケンスポインタA」の値を「1」に設定す
る。 [S4]「ステップポインタB」の値が「0」か否かを
判断する。「0」であればステップS5に進み、「0」
でなければステップS7に進む。 [S5]「チャンネルB」のスタート信号が「ON」か
否かを判断する。スタート信号が「ON」であればステ
ップS6に進み、「OFF」であればステップS7に進
む。 [S6]「ステップポインタB」の値を「1」に設定
し、「シーケンスポインタB」の値を「1」に設定す
る。 [S7]「チャンネルA」の処理を実行する。このとき
に実行するのは、「ステップポインタA」で示されたス
テップ番号の、「シーケンスポインタA」で示されたシ
ーケンスの処理である。処理が終了したら、「シーケン
スポインタA」の値に「1」を加算する。 [S8]「チャンネルB」の処理を実行する。このとき
に実行するのは、「ステップポインタB」で示されたス
テップ番号の、「シーケンスポインタB」で示されたシ
ーケンスの処理である。処理が終了したら、「シーケン
スポインタB」の値に「1」を加算する。 [S9]「シーケンスポインタA 」の値が「4」を超え
ているか否かを判断する。「4」を超えていればステッ
プS10に進み、「4」を超えていなければステップS
13に進む。 [S10]「シーケンスポインタA」の値を「1」に設
定し、「ステップポインタA」の値に「1」を加算する [S11]「ステップポインタA」の値が終了ステップ
(この例では「STEP10」である)に1を加算した値と等
しいか否かを判断する。等しければステップS12に進
み、等しくなければステップS13に進む。 [S12]「チャンネルA」の総合判定を行う。判定終
了後、「ステップポインタA」の値と「シーケンスポイ
ンタA」の値とを「0」に設定する。 [S13]「シーケンスポインタB」の値が「4」を超
えているか否かを判断する。「4」を超えていればステ
ップS14に進み、「4」を超えていなければステップ
S1に進む。 [S14]「シーケンスポインタB」の値を「1」に設
定し、「ステップポインタB」の値に「1」を加算する [S15]「ステップポインタB」の値が終了ステップ
に1を加算した値と等しいか否かを判断する。等しけれ
ばステップS16に進み、等しくなければステップS1
に進む。 [S16]「チャンネルB」の総合判定を行う。判定終
了後、「ステップポインタB」の値と「シーケンスポイ
ンタB」の値とを「0」に設定し、ステップS1に進
む。FIG. 6 is a flowchart showing a control procedure of the measuring device. This flowchart will be described along with step numbers. At the start of the main program, “step pointer A”, “step pointer B”, “sequence pointer A”, and “sequence pointer B” are set to “0”, respectively, and “channel A”, “channel, B” Is waiting for a start signal. [S1] It is determined whether the value of the "step pointer A" is "0". If “0”, the process proceeds to step S2, and “0”
If not, the process proceeds to step S4. [S2] It is determined whether the start signal of "Channel A" is "ON". If the start signal is "ON", the process proceeds to step S3, and if it is "OFF", the process proceeds to step S4. [S3] The value of "step pointer A" is set to "1", and the value of "sequence pointer A" is set to "1". [S4] It is determined whether the value of the "step pointer B" is "0". If “0”, the process proceeds to step S5, and “0”
If not, the process proceeds to step S7. [S5] It is determined whether the start signal of "Channel B" is "ON". If the start signal is "ON", the process proceeds to step S6, and if it is "OFF", the process proceeds to step S7. [S6] The value of "step pointer B" is set to "1", and the value of "sequence pointer B" is set to "1". [S7] The processing of "channel A" is executed. What is executed at this time is the processing of the sequence indicated by “sequence pointer A” of the step number indicated by “step pointer A”. When the processing is completed, “1” is added to the value of “sequence pointer A”. [S8] The processing of "channel B" is executed. What is executed at this time is the processing of the sequence indicated by “sequence pointer B” at the step number indicated by “step pointer B”. When the processing is completed, “1” is added to the value of “sequence pointer B”. [S9] It is determined whether the value of "sequence pointer A" exceeds "4". If it exceeds "4", the process proceeds to step S10, and if it does not exceed "4", the process proceeds to step S10.
Proceed to 13. [S10] The value of "sequence pointer A" is set to "1", and "1" is added to the value of "step pointer A". [S11] The value of "step pointer A" is the end step (in this example, " It is determined whether or not it is equal to a value obtained by adding 1 to "STEP10"). If they are equal, the process proceeds to step S12, and if not, the process proceeds to step S13. [S12] Comprehensive determination of "channel A" is performed. After the determination is completed, the value of “step pointer A” and the value of “sequence pointer A” are set to “0”. [S13] It is determined whether the value of the "sequence pointer B" exceeds "4". If it exceeds "4", the process proceeds to step S14, and if it does not exceed "4", the process proceeds to step S1. [S14] The value of "sequence pointer B" is set to "1", and "1" is added to the value of "step pointer B". [S15] The value of "step pointer B" is one added to the end step. Determine if it is equal to the value. If they are equal, the process proceeds to step S16. If they are not equal, step S1 is performed.
Proceed to. [S16] Comprehensive determination of "channel B" is performed. After the end of the determination, the value of “step pointer B” and the value of “sequence pointer B” are set to “0”, and the process proceeds to step S1.
【0039】ここで、「チャンネルA」、「チャンネル
B」ともスタート信号が入力されない場合は、ステップ
S1,S2,S4,S5,S7,S8,S9,S13,
S1というループをたどり、何も動作は起こらない。
「チャンネルA」側のみスタート信号が入力された場
合、ステップS1,S2,S3,S4,S5,S7,S
8,S9,S13,S1とたどった後、ステップS1,
S4,S5,S7,S8,S9,S13,S1というル
ープで「チャンネルA」の検査プログラム「STEP
1」を実行する。「STEP1」のシーケンスが「4」
まですすみ、「シーケンスポインタA」の値が「5」に
なると、ステップS9の条件分岐でステップS10に分
岐し「STEP2」の検査プログラムを実行する。Here, if no start signal is input to both "Channel A" and "Channel B", steps S1, S2, S4, S5, S7, S8, S9, S13,
Following the loop of S1, no operation takes place.
If the start signal is input only on the “channel A” side, steps S1, S2, S3, S4, S5, S7, S
After following steps S8, S9, S13, and S1, steps S1,
In the loop of S4, S5, S7, S8, S9, S13, S1, the inspection program "STEP" of "Channel A"
1 ". "STEP1" sequence is "4"
If the value of "sequence pointer A" becomes "5", the process branches to step S10 by the conditional branch of step S9, and executes the check program of "STEP2".
【0040】この一連の動作の間「チャンネルB」のス
タート信号が入力されない場合、「チャンネルB側」は
何も動作しない。また、「チャンネルA」が検査プログ
ラムを実行途中で「チャンネルB」のスタート信号が入
力された場合、「チャンネルA」の動作と無関係に「チ
ャンネルB」が「STEP1」より検査を開始する。If a "channel B" start signal is not input during this series of operations, no operation is performed on the "channel B side". When a start signal of “Channel B” is input while “Channel A” is executing the inspection program, “Channel B” starts inspection from “STEP 1” regardless of the operation of “Channel A”.
【0041】このような手順で処理することにより、
「チャンネルA」と「チャンネルB」とをそれぞれ独立
して検査可能となる。ここで、検査プログラムのあるス
テップで判定がNGとなった場合、残りのステップを実
行せずに検査を終了させるためには、「ステップシーケ
ンスA」、「ステップシーケンスB」の「4:判定」の
プログラムに、結果がNGの場合強制的に「ステップポ
インタA」、「ステップポインタB」を最終ステップに
変更する機能を加えれば良い。By processing according to such a procedure,
“Channel A” and “channel B” can be inspected independently of each other. Here, if the judgment is NG in a certain step of the inspection program, to terminate the inspection without executing the remaining steps, “4: Judgment” of “step sequence A” and “step sequence B” May be added to the program of (1) to forcibly change the "step pointer A" and the "step pointer B" to the final step when the result is NG.
【0042】以上、2チャンネルの場合について説明を
行ったが、これを3チャンネル以上に応用するために
は、図5のステップシーケンス、ステップポインタ、お
よびシーケンスポインタの部分をチャンネル数分用意
し、メインプログラムのステップS1,S2,S3,S
7,S9,S10,S11,S12の部分をチャンネル
の数に応して拡張することで容易に実現できる。The case of two channels has been described above. To apply this to three or more channels, the step sequence, step pointer, and sequence pointer of FIG. Steps S1, S2, S3, S of the program
It can be easily realized by expanding the portions of 7, S9, S10, S11, and S12 according to the number of channels.
【0043】これにより、複数の検査対象物の1つが検
査途中で不良と判断されたとき、他方の検査対象物に影
響を与えずに、検査を中止することができるため、無駄
な検査時間を省くことができる。これは、不良の割合が
増えるほど効果があることになる。Thus, when one of the plurality of inspection objects is determined to be defective during the inspection, the inspection can be stopped without affecting the other inspection object, so that unnecessary inspection time is reduced. Can be omitted. This is more effective as the percentage of defects increases.
【0044】また、検査途中で複数のフィクスチャー部
のある1つに不具合(コンタクトプローブの消耗による
接触不良等)が生じた場合、従来技術では装置全体を停
止して修理にあたる必要があったが、本装置では、不具
合の生じていないフィクスチャーは今まで通り検査を行
うことができ、修理による生産数量の減少を最小にする
ことができる。In the case where a defect (such as poor contact due to exhaustion of a contact probe) occurs in one of the plurality of fixture parts during the inspection, it is necessary in the prior art to stop the entire apparatus for repair. According to the present apparatus, a fixture free of trouble can be inspected as before, and a decrease in production quantity due to repair can be minimized.
【0045】なお、上記の制御部の処理機能は、各種コ
ンピュータによって実現することができる。その場合、
制御部が有すべき機能の処理内容は、コンピュータで読
み取り可能な記録媒体に記録されたプログラムに記述さ
れており、このプログラムをコンピュータで実行するこ
とにより、上記処理がコンピュータで実現される。コン
ピュータで読み取り可能な記録媒体としては、磁気記録
装置や半導体メモリ等がある。市場を流通させる場合に
は、CD−ROM(Compact Disk Read Only Memory) や
フロッピーディスク等の可搬型記録媒体にプログラムを
格納して流通させたり、ネットワークを介して接続され
たコンピュータの記憶装置に格納しておき、ネットワー
クを通じて他のコンピュータに転送することもできる。
コンピュータで実行する際には、コンピュータ内のハー
ドディスク装置等にプログラムを格納しておき、メイン
メモリにロードして実行する。The processing functions of the control unit can be implemented by various computers. In that case,
The processing contents of the functions that the control unit should have are described in a program recorded on a computer-readable recording medium, and the above processing is realized by the computer by executing this program on the computer. Examples of the computer-readable recording medium include a magnetic recording device and a semiconductor memory. When distributing in the market, the program is stored in a portable recording medium such as a CD-ROM (Compact Disk Read Only Memory) or a floppy disk and distributed, or stored in a storage device of a computer connected via a network. You can transfer it to another computer via a network.
When the program is executed by the computer, the program is stored in a hard disk device or the like in the computer, and is loaded into the main memory and executed.
【0046】[0046]
【発明の効果】以上説明したように本発明の多チャンネ
ル計測装置では、複数の計測用チャンネルのそれぞれを
独立して制御するようにしたため、一部のチャンネルに
おいてトラブルが発生した場合にも、トラブルの発生部
分のみの処理を中止し、他のチャンネルの処理は続行で
きる。その結果、同様の測定を大量に行う際において、
トラブル発生時の作業効率の低下を最低限に抑えること
ができる。As described above, in the multi-channel measurement device of the present invention, each of the plurality of measurement channels is controlled independently. The processing of only the portion in which is generated can be stopped, and the processing of other channels can be continued. As a result, when performing similar measurements in large quantities,
A decrease in work efficiency at the time of occurrence of a trouble can be minimized.
【0047】また、本発明の多チャンネル検査装置によ
れば、複数の検査用チャンネルのそれぞれを独立して制
御するようにしたため、一部のチャンネルにおいて検査
対象物の不良が発見されたり、トラブルが発生した場合
にも、問題部分のみの処理を中止し、他のチャンネルの
検査処理は続行できる。その結果、製造工程等における
検査において、問題発生時の生産性の低下を最低限に抑
えることができる。Further, according to the multi-channel inspection apparatus of the present invention, each of the plurality of inspection channels is independently controlled, so that a defect of the inspection object is found in some of the channels or trouble occurs. Even in the case of occurrence, processing of only the problem part can be stopped, and inspection processing of other channels can be continued. As a result, in inspection in a manufacturing process or the like, a decrease in productivity when a problem occurs can be minimized.
【0048】また、本発明の測定プログラムを記録した
コンピュータ読み取り可能な記録媒体では、記録された
測定プログラムをコンピュータに実行させることによ
り、複数の計測用チャンネルの独立した制御をコンピュ
ータに行わせることが可能となる。In a computer-readable recording medium on which the measurement program of the present invention is recorded, the computer can execute the recorded measurement program to control the plurality of measurement channels independently. It becomes possible.
【図1】本発明の原理構成図である。FIG. 1 is a principle configuration diagram of the present invention.
【図2】テープレコーダの基板検査装置の構成図であ
る。FIG. 2 is a configuration diagram of a substrate inspection device of the tape recorder.
【図3】フィクスチャー部の回路例を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a circuit example of a fixture unit.
【図4】リレードライバ及び制御部と接続するためのフ
ィクスチャー部の入出力部の回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram of an input / output unit of a fixture unit for connecting to a relay driver and a control unit.
【図5】制御部が保持する情報を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing information held by a control unit.
【図6】計測装置の制御手順を示すフローチャートであ
る。FIG. 6 is a flowchart showing a control procedure of the measuring device.
1,2…検査対象物、11,12…接続部、21,22
…条件設定部、31,32…計測部、40…制御部、4
1…検査プログラム、41a〜41c…工程、42a〜
42c…工程ポインタ1, 2,... Inspection object, 11, 12,.
... condition setting part, 31, 32 ... measuring part, 40 ... control part, 4
1 ... Inspection program, 41a-41c ... Process, 42a-
42c: Process pointer
Claims (7)
ンネル計測装置において、 条件設定指令を受け取ると、計測対象物に対して、前記
条件設定指令で指定された計測条件を設定する複数の条
件設定部と、 前記条件設定部に対応して設けられ、計測対象物に対し
て特定の条件が設定された結果として発生する現象を計
測する複数の計測部と、 複数の前記条件設定部に対して個別の前記条件設定指令
を出力することで、前記条件設定部と前記計測部との組
からなる複数の計測用チャンネルをそれぞれ独立して制
御する制御部と、 を有することを特徴とする多チャンネル計測装置。1. A multi-channel measuring device having a plurality of channels for measurement, comprising: a plurality of condition setting units for setting a measurement condition specified by the condition setting command on a measurement object when a condition setting command is received; A plurality of measurement units provided corresponding to the condition setting unit and measuring a phenomenon that occurs as a result of setting a specific condition on the measurement target; and a plurality of the condition setting units. A control unit that independently controls a plurality of measurement channels each including a set of the condition setting unit and the measurement unit by outputting the condition setting command. apparatus.
プログラムと、前記計測用チャンネルのそれぞれで実行
されている工程を示す工程ポインタとを保持し、前記工
程ポインタにより特定の前記計測用チャンネルで次に実
行すべき工程を認識し、次の工程の内容を前記計測プロ
グラムから取得することで、前記条件設定部に対して出
力する前記条件設定指令の内容を決定することを特徴と
する請求項1記載の多チャンネル計測装置。2. The method according to claim 1, wherein the control unit holds a measurement program including a plurality of processes and a process pointer indicating a process executed in each of the measurement channels. Recognizing a step to be executed next, and acquiring the contents of the next step from the measurement program to determine the contents of the condition setting command to be output to the condition setting unit. Item 4. The multi-channel measurement device according to Item 1.
の良否判定の結果、特定の前記計測用チャンネルにおい
て不良と判定された場合には、該当する前記計測用チャ
ンネルの計測処理を終了することを特徴とする請求項1
記載の多チャンネル計測装置。3. The control section terminates the measurement processing of the corresponding measurement channel when it is determined that the specific measurement channel is defective as a result of the quality determination of the measurement by the measurement section. Claim 1 characterized by the following:
A multi-channel measuring device as described.
の検査用のチャンネルを複数有する多チャンネル検査装
置において、 検査対象物に対して電気的接触させるための複数の接続
部と、 前記接続部のそれぞれに電気的に接続されており、条件
設定指令を受け取ると、検査対象物に与えるべき条件が
前記条件設定指令で指定された検査条件となるように、
前記接続部に対して電気的信号を出力する複数の条件設
定部と、 前記接続部のそれぞれに電気的に接続されており、接続
された前記接続部から出力される電気的信号を計測する
複数の計測部と、 複数の前記条件設定部に対して個別の前記条件設定指令
を出力することで、前記条件設定部と前記計測部との組
からなる複数の検査用チャンネルをそれぞれ独立して制
御する制御部と、 を有することを特徴とする多チャンネル検査装置。4. A multi-channel inspection apparatus having a plurality of inspection channels for simultaneously inspecting a plurality of inspection objects, a plurality of connection portions for making electrical contact with the inspection object, and the connection portions Are electrically connected to each other, and upon receiving a condition setting command, so that the condition to be given to the inspection target is the inspection condition specified by the condition setting command,
A plurality of condition setting units that output electric signals to the connection unit; and a plurality of condition setting units that are electrically connected to the connection units and measure the electric signals output from the connected connection units. By individually outputting the condition setting commands to a plurality of the condition setting units, a plurality of inspection channels formed by a set of the condition setting unit and the measurement unit are independently controlled. A multi-channel inspection device, comprising:
プログラムと、前記検査用チャンネルのそれぞれで実行
されている工程を示す工程ポインタとを保持し、前記工
程ポインタにより特定の前記検査用チャンネルで次に実
行すべき工程を認識し、次の工程の内容を前記計測プロ
グラムから取得することで、前記条件設定部に対して出
力する前記条件設定指令の内容を決定することを特徴と
する請求項4記載の多チャンネル検査装置。5. The control unit holds an inspection program including a plurality of processes and a process pointer indicating a process executed in each of the inspection channels, and uses the process pointer to specify a specific one of the inspection channels. Recognizing a step to be executed next, and acquiring the contents of the next step from the measurement program to determine the contents of the condition setting command to be output to the condition setting unit. Item 5. A multi-channel inspection device according to item 4.
結果の良否判定の結果、特定の検査用チャンネルにおい
て不良と判定された場合には、該当する前記検査用チャ
ンネルの検査処理を終了することを特徴とする請求項4
記載の多チャンネル検査装置。6. The control section, if the result of the quality determination of the measurement result by the measurement section is determined to be defective in a specific inspection channel, terminates the inspection processing of the corresponding inspection channel. 5. The method according to claim 4, wherein
A multi-channel inspection device as described.
に対して、前記条件設定指令で指定された計測条件を設
定する条件設定部と、計測対象物に対して特定の条件が
設定された結果として発生する現象を計測する計測部と
の組からなる複数の計測用チャンネルを制御するための
計測プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な
記録媒体において、 複数の工程からなる計測プログラムと、前記計測用チャ
ンネルのそれぞれが実行されている工程を示す工程ポイ
ンタとを保持し、前記工程ポインタの示す工程の内容を
前記計測プログラムから取得することで、前記条件設定
部に対して出力する条件設定指令の内容を決定し、複数
の計測用チャンネルをそれぞれ独立して制御する制御手
段、 としてコンピュータを機能させることを特徴とする計測
プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録
媒体。7. When a condition setting command is received, a condition setting unit that sets a measurement condition specified by the condition setting command for a measurement target, and a specific condition is set for the measurement target. In a computer-readable recording medium recording a measurement program for controlling a plurality of measurement channels formed by a set with a measurement unit for measuring a phenomenon that occurs as a result, a measurement program including a plurality of steps; Holding a process pointer indicating a process in which each of the channels is being executed, and acquiring the content of the process indicated by the process pointer from the measurement program, thereby outputting the content of a condition setting command output to the condition setting unit. And a computer functioning as control means for independently controlling a plurality of measurement channels. Computer readable recording medium recording a measurement program.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10036499A JPH11237437A (en) | 1998-02-19 | 1998-02-19 | Multi-channel measurement device, multi-channel inspection device, and computer-readable recording medium recording multi-channel measurement program |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10036499A JPH11237437A (en) | 1998-02-19 | 1998-02-19 | Multi-channel measurement device, multi-channel inspection device, and computer-readable recording medium recording multi-channel measurement program |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11237437A true JPH11237437A (en) | 1999-08-31 |
Family
ID=12471528
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10036499A Pending JPH11237437A (en) | 1998-02-19 | 1998-02-19 | Multi-channel measurement device, multi-channel inspection device, and computer-readable recording medium recording multi-channel measurement program |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11237437A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013536938A (en) * | 2010-09-03 | 2013-09-26 | カスケード マイクロテック インコーポレイテッド | Modular prober and method of operating this prober |
-
1998
- 1998-02-19 JP JP10036499A patent/JPH11237437A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013536938A (en) * | 2010-09-03 | 2013-09-26 | カスケード マイクロテック インコーポレイテッド | Modular prober and method of operating this prober |
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