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JPH11202971A - Semiconductor integrated circuit - Google Patents

Semiconductor integrated circuit

Info

Publication number
JPH11202971A
JPH11202971A JP10008932A JP893298A JPH11202971A JP H11202971 A JPH11202971 A JP H11202971A JP 10008932 A JP10008932 A JP 10008932A JP 893298 A JP893298 A JP 893298A JP H11202971 A JPH11202971 A JP H11202971A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clock signal
clock
semiconductor integrated
integrated circuit
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10008932A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Naoki Nakagawa
直樹 中川
Kanji Egawa
貫治 江川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP10008932A priority Critical patent/JPH11202971A/en
Publication of JPH11202971A publication Critical patent/JPH11202971A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 この発明は、回路構成の大型化を招くことな
く周波数の異なるクロック信号間の遅延差を低減し、回
路動作の安定化を向上した半導体集積回路を提供するこ
とを課題とする。 【解決手段】 この発明は、基準クロック信号と終端ク
ロック信号との位相の比較結果に基づいて基準クロック
信号とそれぞれ対応するクロック信号系のクロック信号
供給元のクロック信号との位相差を合わせる可変遅延回
路3を備えて構成される。
(57) Abstract: The present invention provides a semiconductor integrated circuit in which the delay difference between clock signals having different frequencies is reduced and the circuit operation is stabilized without increasing the circuit configuration. As an issue. The present invention provides a variable delay for adjusting a phase difference between a reference clock signal and a clock signal source clock signal of a corresponding clock signal system based on a comparison result of phases between a reference clock signal and a termination clock signal. The circuit 3 is provided.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、少なくとも2つ
以上の異なる周波数のクロック信号系の回路群を備えた
半導体集積回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor integrated circuit having at least two or more clock signal system circuits having different frequencies.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、クロック信号に同期して動作する
半導体集積回路では、単一クロック信号におけるクロッ
クスキューはクロックツリー構造等の適用により十分に
抑制が可能となり、回路設計者はクロックスキューを意
識せずに回路設計を行うことができる。大規模、低消費
電力等の理由により周波数の異なる多数のクロック信号
を使用している現在の半導体集積回路にあって、図5に
示すようにLSIチップ101に内蔵されたクロック分
周器102によりソースクロック信号Sから生成される
それぞれ周波数の異なるクロック信号A,B,C,D
は、それぞれのクロック信号毎にそれぞれ対応したクロ
ックツリー103A,103B,103C,103Dに
よりクロックスキューがなくなるように調整され、それ
ぞれ対応したクロック信号系の回路群の例えば同期記憶
素子104に供給されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a semiconductor integrated circuit operating in synchronization with a clock signal, clock skew in a single clock signal can be sufficiently suppressed by applying a clock tree structure or the like, and a circuit designer is aware of clock skew. Circuit design can be performed without having to do so. In a current semiconductor integrated circuit using a large number of clock signals having different frequencies for reasons such as large scale and low power consumption, a clock divider 102 built in an LSI chip 101 as shown in FIG. Clock signals A, B, C, D having different frequencies generated from the source clock signal S
Are adjusted so as to eliminate clock skew by clock trees 103A, 103B, 103C and 103D respectively corresponding to the respective clock signals, and are supplied to, for example, the synchronous storage element 104 of a circuit group of the corresponding clock signal system. .

【0003】しかしながら、それぞれのクロックツリー
103A,103B,103C,103D間で遅延のば
らつきがあるため、それぞれのクロックツリー103
A,103B,103C,103Dによってそれぞれの
クロック信号A,B,C,D間の遅延時間差を無視でき
るほどに低減することは非常に困難であった。さらに、
この遅延時間差により発生するタイミング違反の修正が
回路のレイアウトの変更では不可能な場合には、アルゴ
リズム等の回路構成の変更が必要となり、回路の開発期
間の長大化を招いていた。一方、このような不具合を回
避するために、異種クロック信号間の遅延時間差の予測
値を予め大きく設計するようにした場合には、無駄な遅
延素子の挿入や、本来遅い回路でもよいものを高速にす
るための素子を追加し、集積回路全体の素子数や消費電
力の増大を招くおそれがあった。また、プロセスのばら
つき、温度変化ならびに電源電圧の変動によって生じる
異種クロック信号間の遅延時間差によるタイミング違反
により、回路動作が不安定になるおそれがあった。
However, there is a delay variation among the clock trees 103A, 103B, 103C, and 103D.
It is very difficult to reduce the delay time difference between the respective clock signals A, B, C, D by using A, 103B, 103C, and 103D to a negligible level. further,
If it is not possible to correct the timing violation caused by the delay time difference by changing the layout of the circuit, it is necessary to change the circuit configuration such as the algorithm, which has led to a longer development period of the circuit. On the other hand, if the predicted value of the delay time difference between different types of clock signals is designed to be large in advance in order to avoid such inconveniences, useless insertion of a delay element or high-speed operation of a circuit that is originally slow may be achieved. However, there is a possibility that the number of elements and the power consumption of the entire integrated circuit may increase. Further, there is a possibility that a circuit operation becomes unstable due to a timing violation due to a delay time difference between different types of clock signals caused by process variations, temperature changes, and power supply voltage variations.

【0004】このような不具合を解決するために、図6
に示すようにボード105上のそれぞれのクロック信号
A,Bと、ボード105上に搭載されてそれぞれ対応し
たクロック信号A,Bを受けるLSIチップ106A,
Bの終端のそれぞれのクロック信号の位相を合わせるた
めに使用されるPLL(フェーズ・ロックド・ループ回
路)107A,Bを応用して、図7に示すように、LS
Iチップ108に内蔵されたクロック分周器109によ
りソースクロック信号Sから生成されるそれぞれ周波数
の異なるクロック信号A,Bと、それぞれのクロック信
号毎にそれぞれ対応したクロックツリー110A,11
0Bにより位相合わせされた終端のクロック信号とをP
LL111A,Bにより位相合わせするこも考えられる
が、このような場合には、それぞれのクロック信号系毎
に例えば図8に示すようなPLLが必要となり、かつク
ロック信号A,Bの位相合わせを行うために分周器10
9の内部にもPLLが必要となる。
To solve such a problem, FIG.
As shown in the figure, the LSI chips 106A mounted on the board 105 and receiving the corresponding clock signals A and B on the board 105 respectively receive the clock signals A and B.
By applying PLLs (phase locked loop circuits) 107A and 107B used to match the phases of the respective clock signals at the end of B, as shown in FIG.
Clock signals A and B having different frequencies generated from the source clock signal S by a clock divider 109 built in the I chip 108, and clock trees 110A and 11 respectively corresponding to the respective clock signals.
The terminal clock signal phase-matched by 0B and P
Although it is conceivable to perform phase adjustment using the LLs 111A and LL, in such a case, for example, a PLL as shown in FIG. 8 is required for each clock signal system, and the phases of the clock signals A and B are adjusted. Divider 10
9 also requires a PLL.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】以上説明したように、
周波数の異なる多数のクロック信号を使用している従来
の半導体集積回路にあっては、周波数の異なるそれぞれ
のクロック信号間での遅延差の低減は極めて困難であっ
た。一方、PLLを用いてそれらの遅延差を低減する手
法が考えられるが、このような手法にあっては、多数の
PLLが必要となり、回路構成が大型化するといった不
具合を招くことにある。
As described above,
In a conventional semiconductor integrated circuit using a large number of clock signals having different frequencies, it has been extremely difficult to reduce the delay difference between the clock signals having different frequencies. On the other hand, a method of reducing the delay difference by using a PLL is conceivable. However, such a method requires a large number of PLLs, which may cause a problem such as an increase in the circuit configuration.

【0006】そこで、この発明は、上記に鑑みてなされ
たものであり、その目的とするところは、回路構成の大
型化を招くことなく周波数の異なるクロック信号間の遅
延差を低減し、回路動作の安定化を向上した半導体集積
回路を提供することにある。
Accordingly, the present invention has been made in view of the above, and an object of the present invention is to reduce the delay difference between clock signals having different frequencies without increasing the size of the circuit configuration, and to reduce the circuit operation. To provide a semiconductor integrated circuit with improved stability.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1記載の発明は、少なくとも2つ以上の異な
る周波数のクロック信号系の回路群を備えた半導体集積
回路において、前記クロック信号系で最も周波数の低い
クロック信号系のクロック信号の終端となるクロック信
号受給先のクロック信号入力端子に与えられるクロック
信号を基準クロック信号とし、この基準クロック信号
と、それぞれ対応したクロック信号系におけるクロック
信号供給元のクロック信号と、それぞれ対応したクロッ
ク信号系の前記クロック信号入力端子からフィードバッ
クされる終端クロック信号を受けて、基準クロック信号
と終端クロック信号との位相を比較し、比較結果に基づ
いて基準クロック信号とそれぞれ対応するクロック信号
系のクロック信号供給元のクロック信号との位相差を合
わせる可変遅延回路を、基準クロック信号のクロック信
号系を除くクロック信号系のクロック信号供給元に具備
し、PLLを使用した場合に比べて回路構成の大型化を
招くことなく、周波数の異なるクロック信号間の遅延差
を低減し、回路動作の安定化を向上させることを特徴と
する。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a semiconductor integrated circuit having at least two or more clock signal system circuits having different frequencies. The clock signal supplied to the clock signal input terminal of the clock signal receiving end which is the terminal of the clock signal of the lowest frequency clock signal in the system is used as a reference clock signal. Receiving the clock signal of the signal supply source and the terminal clock signal fed back from the clock signal input terminal of the corresponding clock signal system, comparing the phases of the reference clock signal and the terminal clock signal, and based on the comparison result The clock signal supply of the clock signal system corresponding to the reference clock signal A variable delay circuit that adjusts the phase difference with the original clock signal is provided at the clock signal supply source of the clock signal system except for the clock signal system of the reference clock signal, so that the circuit configuration can be made larger than when using a PLL. Without inviting, the delay difference between clock signals having different frequencies is reduced, and the circuit operation is stabilized.

【0008】請求項2記載の発明は、前記可変遅延回路
は、請求項1記載の半導体集積回路において、前記基準
クロック信号と前記終端クロック信号を受けて両信号の
位相を比較する位相比較器と、前記位相比較器の比較結
果に基づいて、基準クロック信号と終端クロック信号の
位相差に応じた制御電圧信号を生成するループフィルタ
と、前記ループフィルタで生成された制御電圧信号と前
記クロック信号供給元のクロック信号を受けて、制御電
圧信号に基づいてクロック信号供給元のクロック信号を
遅延制御する電圧制御遅延回路を有し、PLLを使用し
た場合に比べて回路構成の小型化を図ることを特徴とす
る。
According to a second aspect of the present invention, in the semiconductor integrated circuit according to the first aspect, the variable delay circuit includes a phase comparator that receives the reference clock signal and the terminal clock signal and compares the phases of the two signals. A loop filter that generates a control voltage signal corresponding to a phase difference between a reference clock signal and a termination clock signal based on a comparison result of the phase comparator; and a control voltage signal generated by the loop filter and the clock signal supply. A voltage control delay circuit that receives the original clock signal and delay-controls the clock signal supply source clock signal based on the control voltage signal, thereby reducing the size of the circuit configuration as compared with the case where a PLL is used; Features.

【0009】請求項3記載の発明は、請求項1又は2記
載の半導体集積回路において、ソースクロック信号を受
けて、前記それぞれのクロック信号系のクロック信号を
生成する分周器を具備することを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, in the semiconductor integrated circuit according to the first or second aspect, a frequency divider which receives a source clock signal and generates a clock signal of each of the clock signal systems is provided. Features.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、図面を用いてこの発明の実
施の形態を説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0011】図1は請求項1,2又は3記載の発明の一
実施形態に係わる半導体集積回路の構成を示す図であ
る。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a semiconductor integrated circuit according to an embodiment of the present invention.

【0012】図1において、この実施形態の半導体集積
回路のLSIチップ1は、外部からソースクロック信号
Sを受けてそれぞれ周波数の異なる4つのクロック信号
A,B,C,Dを生成するクロック分周器2と、クロッ
ク分周器2で生成されたクロック信号B,C,Dにそれ
ぞれ対応して設けられクロック信号B,C,Dの位相を
調整する可変遅延回路(VDL_B,VDL_C,VD
L_D,)3と、クロック信号A又は可変遅延回路3か
ら出力されるそれぞれ対応したクロック信号B,C,D
を受けてクロックスキューを調整するクロックツリー4
と、それぞれのクロックツリー4の終端クロック信号
(クロック信号A´,B´,C´,D´)をクロック入
力端子で受けてそれぞれのクロック信号系の回路郡を構
成する例えば同期記憶素子5を備えて構成される。
In FIG. 1, an LSI chip 1 of a semiconductor integrated circuit according to this embodiment receives a source clock signal S from the outside and generates four clock signals A, B, C and D having different frequencies. Delay circuits 2 and variable delay circuits (VDL_B, VDL_C, VD) that are provided corresponding to the clock signals B, C, and D generated by the clock frequency divider 2 and adjust the phases of the clock signals B, C, and D, respectively.
L_D,) 3 and the corresponding clock signals B, C, D output from the clock signal A or the variable delay circuit 3, respectively.
Clock tree 4 that adjusts clock skew in response to
And the terminal clock signals (clock signals A ', B', C ', D') of the respective clock trees 4 are received at the clock input terminals to form, for example, the synchronous storage elements 5 constituting the respective clock signal system circuit groups. It is configured with.

【0013】可変遅延回路3は、クロック信号A,B,
C,Dの内、周波数の最も低いクロック信号Aが供給さ
れるクロック信号系の終端クロック信号となるクロック
信号A´を基準クロック信号とし、この基準クロック信
号と、クロック分周器2で生成されたそれぞれ対応する
クロック信号B,C,Dと、それぞれ対応したクロック
信号系の終端クロック信号となるクロック信号B´,C
´,D´を受けて、基準クロック信号と終端クロック信
号との位相を比較し、比較結果に基づいて基準クロック
信号とクロック信号B,C,Dの位相差を合わせてそれ
ぞれの信号間の遅延差を十分小さい値に調整する。この
ような可変遅延回路3は、基準クロック信号を設定した
クロック信号系を除くそれぞれのクロック信号系のクロ
ック信号供給元となるクロック分周器2の出力と、それ
ぞれ対応するクロックツリー4の入力との間に設けられ
ている。
The variable delay circuit 3 includes clock signals A, B,
A clock signal A ', which is the terminal clock signal of the clock signal system to which the clock signal A having the lowest frequency is supplied, is used as a reference clock signal. And corresponding clock signals B, C, and D, and clock signals B ', C, which are the end clock signals of the respective clock signal systems.
', D', the phases of the reference clock signal and the terminal clock signal are compared, and based on the comparison result, the phase difference between the reference clock signal and the clock signals B, C, D is adjusted to delay the respective signals. Adjust the difference to a sufficiently small value. Such a variable delay circuit 3 includes an output of the clock divider 2 serving as a clock signal supply source of each clock signal system except for the clock signal system in which the reference clock signal is set, and an input of the corresponding clock tree 4. It is provided between.

【0014】基準クロック信号は、クロック信号Aを受
けるクロックツリー4の終端クロック信号により駆動さ
れる全ての同期記憶素子5のクロック入力端子の信号と
なるため、同期記憶素子5と同数の複数存在することに
なるが、クロック信号Aのクロック信号系でのクロック
スキューは対応するクロックツリー4により十分に小さ
い値に調整されているため、基準クロック信号として使
用されるのは任意の1つのクロック信号で十分である。
あるいは、クロック信号Aのクロック信号系のクロック
ツリー4の終端クロック信号をマージして1つの基準ク
ロック信号とするようにしてもよい。一方、図2に示す
ように、クロック分周器2を削除してクロック信号A,
B,C,Dを外部から直接LSIチップ1に与えるよう
にしてもよい。
The reference clock signal is a signal at the clock input terminals of all the synchronous memory elements 5 driven by the terminal clock signal of the clock tree 4 receiving the clock signal A. That is, since the clock skew of the clock signal A in the clock signal system is adjusted to a sufficiently small value by the corresponding clock tree 4, any one clock signal is used as the reference clock signal. It is enough.
Alternatively, the terminal clock signal of the clock tree 4 of the clock signal system of the clock signal A may be merged into one reference clock signal. On the other hand, as shown in FIG.
B, C, and D may be directly supplied to the LSI chip 1 from the outside.

【0015】このような構成においては、クロック分周
器2によりソースクロック信号Sが分周されて生成され
たそれぞれ周波数が異なるクロック信号A,B,C,D
は、それぞれの信号間の遅延差が基準クロック信号とな
るクロック信号Aのクロック信号系を除くそれぞれのク
ロック信号系に設けられた可変遅延回路3により十分小
さい値に調整され、それぞれ対応したクロック信号系の
回路郡の同期記憶素子5のクロック入力端子に供給され
る。これにより、周波数の異なる複数のクロック信号を
使用する半導体集積回路を設計する段階で異種クロック
信号間の遅延時間差を正確に想定でき、クロック信号の
タイミングが最適化された回路を設計することができ
る。また、プロセスのばらつき、温度変化や電源電圧の
変動によって生じる異種クロック信号間の遅延時間差が
低減されるため、製造マージンを小さくでき歩留まりが
向上し、温度、電源電圧等の使用条件も広い範囲で保証
することが可能となる。
In such a configuration, clock signals A, B, C, and D generated by dividing the frequency of the source clock signal S by the clock divider 2 and having different frequencies are generated.
Is adjusted to a sufficiently small value by a variable delay circuit 3 provided in each clock signal system except for the clock signal system of the clock signal A serving as a reference clock signal, and the corresponding clock signal It is supplied to the clock input terminal of the synchronous storage element 5 in the circuit group of the system. Thereby, at the stage of designing a semiconductor integrated circuit using a plurality of clock signals having different frequencies, a delay time difference between different types of clock signals can be accurately assumed, and a circuit with optimized clock signal timing can be designed. . In addition, since the difference in delay time between different types of clock signals caused by process variations, temperature changes, and power supply voltage fluctuations is reduced, manufacturing margins can be reduced, yields can be improved, and operating conditions such as temperature and power supply voltage can be used over a wide range. It is possible to guarantee.

【0016】また、従来の技術で説明したように、この
実施形態の可変遅延回路3の動作は限定されているた
め、可変遅延回路3はPLLに比べて構成が半分程度に
まで小型化が可能となり、かつ可変遅延回路3は基準ク
ロック信号のクロック信号系には不要となり、必要とな
る可変遅延回路3の個数は(クロック信号の数−1)で
よく、これらによりPLLを単純に全てのクロック信号
系で使用する場合と比べて回路構成を大幅に小型化する
ことができる。さらに、図2に示すようにクロック分周
器2をLSIチップ1内に実装する必要がない場合に
は、LSIチップ1に入力される複数の異種クロック信
号間の位相を正確に一致させる必要はなく、設計が容易
となる。
Further, as described in the background art, since the operation of the variable delay circuit 3 of this embodiment is limited, the configuration of the variable delay circuit 3 can be reduced to about half that of the PLL. And the variable delay circuit 3 becomes unnecessary for the clock signal system of the reference clock signal, and the number of required variable delay circuits 3 may be (the number of clock signals minus 1). The circuit configuration can be significantly reduced in size as compared with the case of using in a signal system. Further, when it is not necessary to mount the clock divider 2 in the LSI chip 1 as shown in FIG. 2, it is necessary to make the phases of a plurality of different clock signals input to the LSI chip 1 exactly coincide with each other. And the design becomes easier.

【0017】図3は図1又は図2に示す可変遅延回路3
の具体的な回路構成を示す図である。
FIG. 3 shows the variable delay circuit 3 shown in FIG. 1 or FIG.
3 is a diagram showing a specific circuit configuration of FIG.

【0018】図3において、可変遅延回路3は、図9に
示すPLLのVCOを電圧可変遅延回路(VD)に置き
換えることにより実現され、基準クロック信号とクロッ
クツリー4からフィードバックされる終端クロック信号
を受けて、両者の位相を比較し、比較結果に応じてアッ
プ信号(UP)又はダウン信号(DOWN)を出力する
位相比較器(PD)6と、位相比較器6から出力される
アップ信号又はダウン信号を受けて、これらの信号の高
周波成分を除いた信号に基づいて充電又は放電を行い、
位相比較器6により比較された両信号の位相差に応じた
制御信号電圧(Vcot )を生成するループフィルタ(L
P)7と、クロック分周器2又は外部から与えられるク
ロック信号B,C,Dの対応したクロック信号とループ
フィルタ7で生成された制御電圧信号を受けて、制御電
圧信号にしたがってクロック信号と基準クロック信号の
位相差を合わせて両信号間の遅延時間差を十分に小さい
値に調整する電圧可変遅延回路(VD)8を備えて構成
されている。
In FIG. 3, a variable delay circuit 3 is realized by replacing the VCO of the PLL shown in FIG. 9 with a voltage variable delay circuit (VD), and converts a reference clock signal and a terminal clock signal fed back from the clock tree 4 into a clock signal. And a phase comparator (PD) 6 that compares the two phases and outputs an up signal (UP) or a down signal (DOWN) according to the comparison result, and an up signal or a down signal output from the phase comparator 6. Receiving the signal, perform charging or discharging based on the signal except for the high-frequency components of these signals,
A loop filter (L) that generates a control signal voltage (Vcot) corresponding to the phase difference between the two signals compared by the phase comparator 6
P) 7 and a clock signal corresponding to the clock signals B, C, and D supplied from the clock divider 2 or from the outside and the control voltage signal generated by the loop filter 7, and the clock signal is generated according to the control voltage signal. It is provided with a voltage variable delay circuit (VD) 8 that adjusts the delay time difference between the two signals to a sufficiently small value by adjusting the phase difference between the reference clock signals.

【0019】このような構成において、位相比較器6に
より基準クロック信号と終端クロック信号の位相が比較
されて、基準クロック信号よりも終端クロック信号の位
相が進んでいる場合はダウン信号が位相比較器6からル
ープフィルタ7に出力され、基準クロック信号よりも終
端クロック信号の位相が遅れている場合はアップ信号が
位相比較器6からループフィルタ7に出力され、ダウン
信号が出力されるとループフルタ7により放電が行われ
てクロック信号の位相を遅らせる制御電圧信号が電圧可
変制御回路8に与えられ、アップ信号が出力されるとル
ープフルタ7により充電が行われてクロック信号の位相
を進める制御電圧信号が電圧可変制御回路8に与えら
れ、これらの制御電圧信号によりクロック信号の位相が
遅延あるいは進められ、両信号間の位相差が調整され
る。
In such a configuration, the phase of the reference clock signal and the terminal clock signal is compared by the phase comparator 6, and when the phase of the terminal clock signal is ahead of the reference clock signal, the down signal is 6 is output to the loop filter 7, and when the phase of the terminal clock signal is behind the reference clock signal, the up signal is output from the phase comparator 6 to the loop filter 7, and when the down signal is output, the loop filter 7 A control voltage signal for delaying the phase of the clock signal by discharging is supplied to the voltage variable control circuit 8, and when an up signal is output, the control voltage signal for charging the loop filter 7 to advance the phase of the clock signal is a voltage. The phase of the clock signal is delayed or advanced by these control voltage signals. , The phase difference between both signals is adjusted.

【0020】電圧可変遅延回路8は、例えば図4に示す
ようにMOSトランジスタにより構成され、同図(A)
又は同図(B)に示すように、CMOSのインバータ9
と、制御電圧信号がゲート端子に与えられたPチャネル
のトランジスタ10を介して高位電源VDDに接続され
たCMOSのインバータ11が縦続接続されて構成され
る。このように、電圧可変遅延回路8は簡単で小型に構
成できるため、可変遅延回路3は従来のPLLに比べて
格段に小型化することができる。
The voltage variable delay circuit 8 is composed of, for example, MOS transistors as shown in FIG.
Alternatively, as shown in FIG.
And a CMOS inverter 11 connected in cascade to a higher power supply VDD via a P-channel transistor 10 whose control voltage signal is applied to the gate terminal. As described above, since the voltage variable delay circuit 8 can be configured simply and in a small size, the variable delay circuit 3 can be significantly reduced in size as compared with a conventional PLL.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、PLLを使用した場合に比べて回路構成の大型化を
招くことなく、周波数の異なるクロック信号間の遅延差
を低減し、回路動作の安定化を向上させることができ
る。
As described above, according to the present invention, the delay difference between clock signals having different frequencies can be reduced without increasing the circuit configuration as compared with the case where a PLL is used. Can be improved in stability.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】請求項1,2又は3記載の発明の一実施形態に
係わる半導体集積回路の構成を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a semiconductor integrated circuit according to an embodiment of the present invention.

【図2】請求項1又は2記載の発明の一実施形態に係わ
る半導体集積回路の構成を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a configuration of a semiconductor integrated circuit according to an embodiment of the present invention.

【図3】可変遅延回路の構成を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration of a variable delay circuit.

【図4】電圧可変遅延回路の一構成を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing one configuration of a voltage variable delay circuit.

【図5】周波数の異なる複数のクロック信号を使用して
いる従来の半導体集積回路の構成を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a conventional semiconductor integrated circuit using a plurality of clock signals having different frequencies.

【図6】図5に示す回路にPLLが使用されている従来
の半導体集積回路の構成を示す図である。
6 is a diagram showing a configuration of a conventional semiconductor integrated circuit in which a PLL is used for the circuit shown in FIG. 5;

【図7】図5に示す回路に複数のPLLが使用されて1
チップ化された半導体集積回路の構成を示す図である。
FIG. 7 shows an example in which a plurality of PLLs are used in the circuit shown in FIG.
FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of a semiconductor integrated circuit formed into a chip.

【図8】PLLの構成を示す図である。FIG. 8 is a diagram illustrating a configuration of a PLL.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 LSIチップ 2 クロック分周器 3 可変遅延回路 4 クロックツリー 5 同期記憶素子 6 位相比較器 7 ループフィルタ 8 電圧制御遅延回路 9,11,14,15 インバータ 10,12,13 トランジスタ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 LSI chip 2 Clock divider 3 Variable delay circuit 4 Clock tree 5 Synchronous memory element 6 Phase comparator 7 Loop filter 8 Voltage control delay circuit 9, 11, 14, 15 Inverter 10, 12, 13 Transistor

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくとも2つ以上の異なる周波数のク
ロック信号系の回路群を備えた半導体集積回路におい
て、 前記クロック信号系で最も周波数の低いクロック信号系
のクロック信号の終端となるクロック信号受給先のクロ
ック信号入力端子に与えられるクロック信号を基準クロ
ック信号とし、この基準クロック信号と、それぞれ対応
したクロック信号系におけるクロック信号供給元のクロ
ック信号と、それぞれ対応したクロック信号系の前記ク
ロック信号入力端子からフィードバックされる終端クロ
ック信号を受けて、基準クロック信号と終端クロック信
号との位相を比較し、比較結果に基づいて基準クロック
信号とそれぞれ対応するクロック信号系のクロック信号
供給元のクロック信号との位相差を合わせる可変遅延回
路を、基準クロック信号のクロック信号系を除くクロッ
ク信号系のクロック信号供給元に具備したことを特徴と
する半導体集積回路。
1. A semiconductor integrated circuit comprising at least two or more clock signal system circuit groups having different frequencies, wherein a clock signal receiving destination which is a terminal of a clock signal of a clock signal system having the lowest frequency in the clock signal system is provided. A clock signal supplied to a clock signal input terminal of the clock signal input terminal of the clock signal supply source in the corresponding clock signal system and the clock signal input terminal of the corresponding clock signal system The phase of the reference clock signal is compared with the phase of the termination clock signal, and based on the comparison result, the reference clock signal and the corresponding clock signal source clock signal supply source clock signal are compared. A variable delay circuit that adjusts the phase difference The semiconductor integrated circuit being characterized in that provided in the clock signal system clock signal source, except for clock signal system click signal.
【請求項2】 前記可変遅延回路は、前記基準クロック
信号と前記終端クロック信号を受けて両信号の位相を比
較する位相比較器と、 前記位相比較器の比較結果に基づいて、基準クロック信
号と終端クロック信号の位相差に応じた制御電圧信号を
生成するループフィルタと、 前記ループフィルタで生成された制御電圧信号と前記ク
ロック信号供給元のクロック信号を受けて、制御電圧信
号に基づいてクロック信号供給元のクロック信号を遅延
制御する電圧制御遅延回路を有することを特徴とする請
求項1記載の半導体集積回路。
2. The variable delay circuit according to claim 1, wherein the variable delay circuit receives the reference clock signal and the terminal clock signal, and compares the phases of the two signals; and a reference clock signal based on a comparison result of the phase comparator. A loop filter for generating a control voltage signal according to the phase difference of the terminal clock signal; receiving the control voltage signal generated by the loop filter and the clock signal supplied from the clock signal source; and generating a clock signal based on the control voltage signal. 2. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, further comprising a voltage control delay circuit for delay controlling the clock signal of the supply source.
【請求項3】 ソースクロック信号を受けて、前記それ
ぞれのクロック信号系のクロック信号を生成する分周器
を具備することを特徴とする請求項1又は2記載の半導
体集積回路。
3. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, further comprising frequency dividers receiving a source clock signal and generating clock signals of the respective clock signal systems.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000035831A (en) * 1998-07-21 2000-02-02 Nec Corp Low skew clock tree circuit using variable threshold voltage transistor

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