[go: up one dir, main page]

JPH11165116A - Processing liquid coating device - Google Patents

Processing liquid coating device

Info

Publication number
JPH11165116A
JPH11165116A JP9331502A JP33150297A JPH11165116A JP H11165116 A JPH11165116 A JP H11165116A JP 9331502 A JP9331502 A JP 9331502A JP 33150297 A JP33150297 A JP 33150297A JP H11165116 A JPH11165116 A JP H11165116A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid
cleaning
cleaning liquid
tank
pipe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP9331502A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koji Kizaki
幸治 木▲崎▼
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP9331502A priority Critical patent/JPH11165116A/en
Publication of JPH11165116A publication Critical patent/JPH11165116A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Coating Apparatus (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 洗浄液を有効活用することにより洗浄液の消
費量を効果的に抑える。 【解決手段】 スピンコータ10の各洗浄ノズルに対す
る洗浄液の供給系を次のように構成した。すなわち、洗
浄液を貯留するタンク60を設け、これと各洗浄ノズル
との間に洗浄液供給管62を配設するとともに、基板保
持体12の液貯留部44とタンク60との間に洗浄液回
収管66を配設した。これら洗浄液供給管62および洗
浄液回収管66には、それぞれ開閉バルブ64,68を
介設した。上記タンク60には、さらに、圧力計を備え
たレギュレータ72及び開閉バルブ74を介して図外の
窒素ガス供給源に接続されるガス供給管70と、開閉バ
ルブ78を介して真空ポンプ80に接続される負圧管7
6と、開閉バルブ84を介して大気中に開放される排気
管82とを接続した。
(57) [Summary] [PROBLEMS] To effectively reduce the consumption of a cleaning liquid by effectively using the cleaning liquid. SOLUTION: A supply system of a cleaning liquid to each cleaning nozzle of a spin coater 10 is configured as follows. That is, a tank 60 for storing a cleaning liquid is provided, a cleaning liquid supply pipe 62 is provided between the tank 60 and each of the cleaning nozzles, and a cleaning liquid collection pipe 66 is provided between the liquid storage section 44 of the substrate holder 12 and the tank 60. Was arranged. The cleaning liquid supply pipe 62 and the cleaning liquid recovery pipe 66 are provided with opening / closing valves 64 and 68, respectively. The tank 60 is further connected to a gas supply pipe 70 connected to a nitrogen gas supply source (not shown) via a regulator 72 equipped with a pressure gauge and an opening / closing valve 74, and to a vacuum pump 80 via an opening / closing valve 78. Negative pressure pipe 7
6 and an exhaust pipe 82 opened to the atmosphere via an on-off valve 84.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体基板、液晶
用およびプラズマディスプレイ用基板等のフラットパネ
ルディスプレイ用基板、フォトマスク用ガラス基板等の
基板に処理液を塗布する処理液塗布装置において、特
に、薄膜形成処理に伴い装置構成部分に付着した処理液
を洗浄除去する洗浄機能を備えた処理液塗布装置に関す
るものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a processing liquid application apparatus for applying a processing liquid to substrates such as semiconductor substrates, flat panel display substrates such as liquid crystal and plasma display substrates, and photomask glass substrates. The present invention relates to a processing liquid application apparatus having a cleaning function of cleaning and removing a processing liquid attached to a component of a device accompanying a thin film forming process.

【0002】[0002]

【従来の技術】上記のような処理液塗布装置として、例
えば、特開平6−106126号公報に開示されるよう
な装置が知られている。この装置は、テーブル上に吸着
保持した基板にレジスト等の処理液を供給した後、基板
とテーブルとを一体に回転させることにより、遠心力を
利用して処理液を基板面上に拡張させるように構成され
たいわゆるスピンコータである。
2. Description of the Related Art As a processing liquid coating apparatus as described above, for example, an apparatus disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-106126 is known. This apparatus supplies a processing liquid such as a resist to a substrate sucked and held on a table, and then rotates the substrate and the table integrally, thereby using a centrifugal force to expand the processing liquid on the substrate surface. Is a so-called spin coater.

【0003】この装置では、テーブルの周囲が環状のカ
ップで覆われており、基板の回転中は、このカップの上
部に蓋体がセットされることにより、カップ及び蓋体に
より形成される閉空間内に基板が配置されるようになっ
ている。こうすることで、基板の回転に伴い処理液が装
置外部に飛散するのを防止するようになっている。
In this device, the periphery of the table is covered with an annular cup. During rotation of the substrate, a lid is set on the cup to form a closed space formed by the cup and the lid. The substrate is arranged inside. By doing so, the processing liquid is prevented from being scattered outside the apparatus due to the rotation of the substrate.

【0004】また、スピンコータでは、上記カップ内面
やテーブルなどに向けて洗浄液を噴射する洗浄ノズルが
設けられ、所定のタイミングでカップ内面、あるいはテ
ーブル等に洗浄液を吹き付けて薄膜形成処理に伴ってカ
ップ内面等に付着した処理液等を洗い落すようになって
いる。こうすることで、カップ等に付着した処理液が乾
燥固化してパーティクルの原因となるのを防止する。
In the spin coater, a cleaning nozzle for spraying a cleaning liquid toward the inner surface of the cup or the table is provided, and the cleaning liquid is sprayed onto the inner surface of the cup or the table at a predetermined timing to form the inner surface of the cup with the thin film forming process. It is designed to wash off the processing liquid and the like adhering to the like. This prevents the treatment liquid adhering to the cup or the like from drying and solidifying to cause particles.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】この種の装置では、従
来、カップ等の洗浄に用いられた洗浄液は、例えば、排
液管を介して装置外部に排液されている。
In this type of apparatus, the cleaning liquid conventionally used for cleaning cups and the like is drained out of the apparatus through, for example, a drain pipe.

【0006】ところが、液晶表示器の大型化等、基板サ
イズの大型化により、基板に塗布する処理液の量が増加
する傾向にあり、カップ等に付着する処理液の量も増え
ている。そのため、カップ等の洗浄に供する洗浄液も増
加する傾向にあり、このような洗浄液の消費量の増加が
基板の生産コストを高める一つの要因となっている。
However, as the size of the substrate increases, such as the size of the liquid crystal display, the amount of the processing solution applied to the substrate tends to increase, and the amount of the processing solution attached to the cup or the like also increases. Therefore, the amount of the cleaning liquid used for cleaning the cups and the like tends to increase, and such an increase in the consumption of the cleaning liquid is one factor that increases the production cost of the substrate.

【0007】また、カラーフィルタ用のレジスト等、洗
浄液に溶解しにくい処理液を用いる場合には、カップ等
に付着した処理液を洗い落すのに多量の洗浄液が用いら
れることとなり、やはり、洗浄液の消費量を増加させて
生産コストを高める原因となっている。
In addition, when a processing solution that is hardly dissolved in a cleaning solution such as a resist for a color filter is used, a large amount of the cleaning solution is used to wash away the processing solution attached to a cup or the like. It is a cause of increasing production costs by increasing consumption.

【0008】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、処理液の塗布処理(薄膜形成処理)に
伴い装置各部に付着した処理液を洗浄除去する洗浄機能
を備えた処理液塗布装置において、洗浄液を有効活用す
ることにより洗浄液の消費量を効果的に抑えることがで
きる処理液塗布装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of such circumstances, and has a cleaning function of cleaning and removing a processing liquid attached to each part of an apparatus in association with a processing liquid coating processing (thin film forming processing). It is an object of the present invention to provide a processing liquid application apparatus capable of effectively suppressing the consumption of the cleaning liquid by effectively utilizing the cleaning liquid in the liquid application apparatus.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、基板保持部に保持された基板の表面に処
理液を供給して基板表面に処理液の薄膜を形成する処理
液塗布装置において、装置構成部分に向かって洗浄液を
吐出可能に配置された液吐出手段と、この液吐出手段に
洗浄液を送り上記液吐出手段から洗浄液を上記装置構成
部分に供給して上記装置構成部分を洗浄する液供給系と
を備え、上記装置構成部分の洗浄に供された洗浄液を回
収して上記液吐出手段に再供給するように上記液供給系
が構成されているものである。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a processing liquid for supplying a processing liquid to a surface of a substrate held by a substrate holding portion to form a thin film of the processing liquid on the substrate surface. In the coating apparatus, a liquid discharging means arranged so as to be able to discharge a cleaning liquid toward a device constituent part, and a cleaning liquid is sent to the liquid discharging means, and the cleaning liquid is supplied from the liquid discharging means to the device constituent part, thereby forming the device constituent part. And a liquid supply system for cleaning the components, wherein the liquid supply system is configured to collect the cleaning liquid used for cleaning the components of the apparatus and to resupply the liquid to the liquid discharging means.

【0010】この装置では、液吐出手段から装置構成部
分に向けて洗浄液が吐出されることにより、処理液の薄
膜形成の処理に伴って該装置構成部分に付着した処理液
が洗浄除去される。そして、この洗浄に供された洗浄液
は、回収されて再度液供給系により液吐出手段に供給さ
れる。これにより洗浄液が繰り返し使用される。そのた
め、洗浄液を有効に利用することができ、基板一枚当た
りの洗浄液の使用量が効果的に抑えられる。
[0010] In this apparatus, the cleaning liquid is discharged from the liquid discharging means toward the constituent parts of the apparatus, whereby the processing liquid attached to the constituent parts of the apparatus is cleaned and removed in association with the processing of forming a thin film of the processing liquid. Then, the cleaning liquid used for this cleaning is collected and supplied again to the liquid discharging means by the liquid supply system. As a result, the cleaning liquid is used repeatedly. Therefore, the cleaning liquid can be effectively used, and the amount of the cleaning liquid used per substrate can be effectively suppressed.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について図面
を用いて説明する。図1は、本発明に係る処理液塗布装
置であるスピンコータを示す斜視略図である。この図に
示すように、スピンコータ10は、基台等に設けられる
基板保持体12と、その上方に昇降可能に支持される蓋
体14と、上記基板保持体12の側方に配置される処理
液供給装置16とを備えている。
Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic perspective view showing a spin coater which is a processing liquid coating apparatus according to the present invention. As shown in this figure, a spin coater 10 includes a substrate holder 12 provided on a base or the like, a lid 14 supported above and below the substrate holder 12 so as to be able to move up and down, and a process disposed on the side of the substrate holder 12. And a liquid supply device 16.

【0012】上記基板保持体12は、基板Wを保持する
円形のテーブル20を有しており、このテーブル20を
包囲するように処理液飛散防止用のカップ22が設けら
れている。
The substrate holder 12 has a circular table 20 for holding the substrate W. A cup 22 for preventing the processing liquid from scattering is provided so as to surround the table 20.

【0013】上記テーブル20は、その中心部分に吸着
部20aを有しており、処理時には、この吸着部20a
で基板Wを真空吸着することにより基板Wをテーブル2
0上に保持するようになっている。また、テーブル20
は、モータ24を駆動源とする回転機構およびエアシリ
ンダを駆動源とする昇降機構に連結されており、基板W
の搬入及び搬出の際には、テーブル20のうち吸着部2
0aのみを昇降させて図外の搬送手段との間で基板Wの
受渡しを行わせる一方、処理液の塗布処理の際には、吸
着部20aを含むテーブル20全体を回転させることに
より基板Wを回転させるように構成されている。
The table 20 has a suction portion 20a at the center thereof.
The substrate W is vacuum-adsorbed by the
It is held above zero. Table 20
Is connected to a rotating mechanism driven by a motor 24 and a lifting mechanism driven by an air cylinder as a driving source.
When loading and unloading, the suction unit 2 of the table 20 is
0a is moved up and down to transfer the substrate W to and from a transport means (not shown), and at the time of applying the processing liquid, the substrate W is rotated by rotating the entire table 20 including the suction unit 20a. It is configured to rotate.

【0014】上記処理液供給装置16は、鉛直軸回りに
回転可能に支持されたアーム26を有しており、このア
ーム26の先端にレジスト等の処理液を吐出するめの処
理液吐出ノズル28を具備している。アーム26は、図
外のモータの駆動により上記軸回りに回転駆動され、上
記処理液吐出ノズル28をカップ22外方の退避位置
(同図に示す位置)と、上記テーブル20上方の所定の
供給位置とにわたって変位させるように構成されてい
る。そして、処理時には、処理液吐出ノズル28を供給
位置にセットした状態で、一定量の処理液を処理液吐出
ノズル28から基板Wの表面に供給するように構成され
ている。
The processing liquid supply device 16 has an arm 26 supported rotatably about a vertical axis. A processing liquid discharge nozzle 28 for discharging a processing liquid such as a resist is provided at the tip of the arm 26. I have it. The arm 26 is driven to rotate around the axis by the driving of a motor (not shown), and the processing liquid discharge nozzle 28 is moved to a retracted position outside the cup 22 (a position shown in the drawing) and a predetermined supply above the table 20. It is configured to be displaced over a position. During processing, a predetermined amount of processing liquid is supplied from the processing liquid discharge nozzle 28 to the surface of the substrate W while the processing liquid discharge nozzle 28 is set at the supply position.

【0015】一方、上記蓋体14は、図外のエアシリン
ダ等に連結されて昇降可能に支持される本体30を有
し、その下部に円盤状のプレート32を支持した構成と
なっている。蓋体14は、所定の高さ位置まで下降させ
られると上記基板保持体12と合体するように構成され
ており、処理時には、このように基板保持体12と蓋体
14とが合体することにより、テーブル20上の基板W
を、基板保持体12のカップ22と蓋体14の本体30
とで形成される閉空間内に配置するようになっている。
こうすることで処理中の装置外部への処理液の飛散を防
止するようになっている。なお、上記のように蓋体14
と基板保持体12とが合体すると、蓋体14の上記プレ
ート32が基板保持体12のカップ22内に介在し、こ
れがテーブル20表面と所定の隙間を形成した状態でテ
ーブル20と係合するとともに、本体30に対して回転
自在となる。そして、処理中は、基板W上方をプレート
32で覆った状態で、上記テーブル20とプレート32
とが一体に回転するようになっている。
On the other hand, the lid 14 has a main body 30 which is connected to an air cylinder or the like (not shown) and supported so as to be able to move up and down. The lid 14 is configured to unite with the substrate holder 12 when lowered to a predetermined height position. During processing, the substrate holder 12 and the lid 14 are united in this manner. , Substrate W on table 20
And the main body 30 of the lid 22 and the cup 22 of the substrate holder 12.
And are arranged in a closed space formed by.
This prevents the processing liquid from scattering to the outside of the apparatus during processing. Note that, as described above, the lid 14
When the substrate holder 12 and the substrate holder 12 are combined, the plate 32 of the lid 14 is interposed in the cup 22 of the substrate holder 12 and engages with the table 20 while forming a predetermined gap with the surface of the table 20. , Can be freely rotated with respect to the main body 30. During the processing, the table 20 and the plate 32 are covered with the plate 32 over the substrate W.
And rotate together.

【0016】上記基板保持体12および蓋体14には、
処理中にテーブル20やカップ22に付着するレジスト
液等の処理液を洗浄除去すべく洗浄液を噴射する本願の
液吐出手段としての複数の洗浄ノズルが設置されてい
る。
The substrate holder 12 and the lid 14 include:
A plurality of cleaning nozzles are provided as liquid discharging means of the present invention for spraying a cleaning liquid to wash and remove a processing liquid such as a resist liquid attached to the table 20 and the cup 22 during the processing.

【0017】具体的には、図2に示すように、基板保持
体12にカップ洗浄ノズル37、バック洗浄ノズル38
及びトラップ洗浄ノズル39という3種類の洗浄ノズル
が設けられる一方、図3に示すように、蓋体14にプレ
ート洗浄ノズル40a及びテーブル洗浄ノズル40bと
いう2種類の洗浄ノズルが設けられている。
Specifically, as shown in FIG. 2, a cup cleaning nozzle 37 and a back cleaning nozzle 38 are provided on the substrate holder 12.
While three types of cleaning nozzles, namely, a trap cleaning nozzle 39, are provided, as shown in FIG. 3, two types of cleaning nozzles, a plate cleaning nozzle 40a and a table cleaning nozzle 40b, are provided on the lid 14.

【0018】上記カップ洗浄ノズル37は、カップ22
の内周面において、テーブル20の周縁部に対向する位
置に設けられており、テーブル20の周縁部20bに向
かって洗浄液を噴射し、該周縁部20bで跳ね返される
洗浄液でカップ22の内周面を洗浄するようになってい
る。
The cup washing nozzle 37 is provided for the cup 22.
The inner peripheral surface of the cup 22 is provided at a position facing the peripheral edge of the table 20, sprays the cleaning liquid toward the peripheral edge 20 b of the table 20, and is washed with the cleaning liquid repelled by the peripheral edge 20 b. Is to be cleaned.

【0019】上記バック洗浄ノズル38は、テーブル2
0の下面に対向する位置に設けられており、洗浄液を噴
射することによってテーブル20の下面を洗浄するよう
になっている。
The back washing nozzle 38 is mounted on the table 2
The cleaning device is provided at a position facing the lower surface of the table 20, and the lower surface of the table 20 is cleaned by spraying a cleaning liquid.

【0020】上記トラップ洗浄ノズル39は、テーブル
20の下方において、その周縁部20bの下面に対向し
て設けられており、テーブル20の周縁部20bに形成
された処理液排出口42(トラップ部)に向けて洗浄液
を噴射するようになっている。すなわち、図2に示すよ
うに、テーブル20の周縁には、遠心力でテーブル20
の周縁に溜る処理液をカップ22内に形成された液貯留
部44に導出するための処理液排出口42が形成されて
おり、上記トラップ洗浄ノズル39から洗浄液を噴射す
ることによりこの処理液排出口42に付着した処理液を
洗い落すようになっている。
The trap cleaning nozzle 39 is provided below the table 20 so as to face the lower surface of the peripheral portion 20b, and a processing liquid discharge port 42 (trap portion) formed in the peripheral portion 20b of the table 20. The cleaning liquid is sprayed toward. That is, as shown in FIG.
A processing liquid discharge port 42 is formed to lead the processing liquid accumulated on the peripheral edge of the processing liquid to a liquid storage section 44 formed in the cup 22. The cleaning liquid is ejected from the trap cleaning nozzle 39 to discharge the processing liquid. The processing liquid attached to the outlet 42 is washed off.

【0021】一方、プレート洗浄ノズル40a及びテー
ブル洗浄ノズル40bは、図3に示すように、蓋体14
の本体30の中心部分に一体に設けられている。
On the other hand, the plate cleaning nozzle 40a and the table cleaning nozzle 40b are, as shown in FIG.
Are provided integrally with the central portion of the main body 30.

【0022】これらプレート洗浄ノズル40a及びテー
ブル洗浄ノズル40bは、それぞれのノズル先端をプレ
ート32の中心に形成された開口部32aから下方に突
出させる作動位置(図3に示す位置)と、プレート32
上方の後記退避位置とに変位可能とされ、上記作動位置
にある状態で、プレート洗浄ノズル40aはプレート3
2の下面に洗浄液を噴射し、テーブル洗浄ノズル40b
はテーブル20の上面に洗浄液を噴射するようになって
いる。
The plate cleaning nozzle 40a and the table cleaning nozzle 40b have an operating position (position shown in FIG. 3) in which each nozzle tip projects downward from an opening 32a formed in the center of the plate 32,
The plate cleaning nozzle 40a can be displaced to the later retracted position above and in the above-mentioned operating position,
The cleaning liquid is sprayed on the lower surface of the table 2, and the table cleaning nozzle 40b
Is designed to spray a cleaning liquid onto the upper surface of the table 20.

【0023】すなわち、上記各洗浄ノズル40a,40
bは、図3及び図4に示すように、本体30に固定され
たロータリーアクチュエータ48の出力軸に支持部材4
6を介して取付けられるとともに、エアシリンダ50に
よりロータリーアクチュエータ48と一体に上下方向に
変位させられるようになっており、洗浄終了後は、ロー
タリーアクチュエータ48及びエアシリンダ50の駆動
により、各洗浄ノズル40a,40bが上記作動位置か
らプレート32上方の位置(図3の一点鎖線に示す位
置)に移動させられ、さらに90°旋回させられること
により本体30の中心軸側方の退避位置(図4の一点鎖
線に示す位置)に収納されるようになっている。そし
て、処理時には、開口部32aの上方に昇降可能に支持
された栓体52がエアシリンダ54の駆動により下降端
位置に移動させられることにより、この開口部32aが
塞がれるようになっている。
That is, the cleaning nozzles 40a, 40
3B, the support member 4 is attached to the output shaft of the rotary actuator 48 fixed to the main body 30, as shown in FIGS.
6 and is vertically displaced integrally with the rotary actuator 48 by an air cylinder 50. After the cleaning, the cleaning nozzle 40a is driven by the rotary actuator 48 and the air cylinder 50. , 40b are moved from the operating position to a position above the plate 32 (the position shown by the dashed line in FIG. 3), and further turned by 90 °, so that the retracted position on the central axis side of the main body 30 (one point in FIG. (Position indicated by a chain line). At the time of processing, the stopper 32 supported up and down above the opening 32a is moved to the lower end position by driving the air cylinder 54, so that the opening 32a is closed. .

【0024】図5は、上記各洗浄ノズルへの洗浄液の供
給系(液供給系)を示している。この図に示すように、
上記スピンコータ10には、洗浄液を貯留するタンク6
0が設けられており、このタンク60と上記各洗浄ノズ
ルとの間に洗浄液供給管62が配設されるとともに、上
記基板保持体12の液貯留部44とタンク60との間に
洗浄液回収管66が配設されている。
FIG. 5 shows a supply system (liquid supply system) of the cleaning liquid to each of the above-mentioned cleaning nozzles. As shown in this figure,
The spin coater 10 has a tank 6 for storing a cleaning liquid.
A cleaning liquid supply pipe 62 is provided between the tank 60 and each of the cleaning nozzles, and a cleaning liquid collection pipe is provided between the liquid storage section 44 of the substrate holder 12 and the tank 60. 66 are provided.

【0025】上記洗浄液供給管62は、上流側、すなわ
ち洗浄液の供給方向における上流側がタンク60内に配
置される一方、下流側が開閉バルブ64を経た後、分岐
(図示せず)して各洗浄ノズルにそれぞれ接続されてい
る。一方、上記洗浄液回収管66は、上流側が上記液貯
留部44に接続される一方、下流側が開閉バルブ68を
介して上記タンク60に至っている。
The cleaning liquid supply pipe 62 is disposed in the tank 60 on the upstream side, that is, the upstream side in the supply direction of the cleaning liquid, while the downstream side passes through an opening / closing valve 64 and then branches (not shown) to form each cleaning nozzle. Connected to each other. On the other hand, the upstream side of the cleaning liquid recovery pipe 66 is connected to the liquid storage section 44, while the downstream side reaches the tank 60 via an opening / closing valve 68.

【0026】上記タンク60には、さらに、圧力計を備
えたレギュレータ72及び開閉バルブ74を介して図外
の窒素ガス供給源に接続されるガス供給管70と、開閉
バルブ78を介して真空ポンプ80に接続される負圧管
76と、開閉バルブ84を介して大気中に開放される排
気管82とが接続されている。
The tank 60 further includes a gas supply pipe 70 connected to a nitrogen gas supply source (not shown) through a regulator 72 equipped with a pressure gauge and an opening / closing valve 74, and a vacuum pump through an opening / closing valve 78. A negative pressure pipe 76 connected to the exhaust pipe 82 and an exhaust pipe 82 opened to the atmosphere via an on-off valve 84 are connected.

【0027】なお、符号86は、基板保持体12の上記
液貯留部44に接続された排液管で、開閉バルブ88を
介して図外の廃液設備に接続されている。
Reference numeral 86 denotes a drain pipe connected to the liquid storage section 44 of the substrate holder 12, and is connected to a waste liquid facility (not shown) via an opening / closing valve 88.

【0028】ところで、上記スピンコータ10には、図
示を省略するが、コンピュータを構成要素とするコント
ローラが設けられており、上記テーブル20の作動用の
モータ24や同エアシリンダ駆動用のバルブ、あるいは
洗浄液の上記供給系における各開閉バルブ等はすべてこ
のコントローラに電気的に接続されている。そして、ス
ピンコータ10の稼働時には、上記モータ24等がこの
コントローラによって統括的に制御されることにより、
以下に説明するような基板Wの処理液の塗布動作および
カップ22等の洗浄動作が行われるようになっている。
Although not shown, the spin coater 10 is provided with a controller having a computer as a component. The controller 24 includes a motor 24 for operating the table 20, a valve for driving the air cylinder, and a cleaning liquid. Each of the open / close valves and the like in the supply system described above is electrically connected to the controller. When the spin coater 10 is operated, the motor 24 and the like are collectively controlled by this controller,
The operation of applying the processing liquid on the substrate W and the operation of cleaning the cup 22 and the like as described below are performed.

【0029】以下、上記スピンコータ10の動作につい
て説明する。まず、図外の搬送手段によって基板Wがテ
ーブル20の上方に搬入される。この際、上記蓋体14
は上昇端位置に保持され、処理液供給装置16のアーム
26は退避位置にセットされている。また、洗浄液の供
給系においては、排気管82および排液管86の各開閉
バルブ84,88が全開とされる以外、すべての開閉弁
が全閉とされている。
Hereinafter, the operation of the spin coater 10 will be described. First, the substrate W is carried into the upper part of the table 20 by a transport means (not shown). At this time, the lid 14
Is held at the rising end position, and the arm 26 of the processing liquid supply device 16 is set at the retracted position. In the cleaning liquid supply system, all the on / off valves are fully closed except for the on / off valves 84 and 88 of the exhaust pipe 82 and the drain pipe 86.

【0030】基板Wが搬入されると、上記テーブル20
の吸着部20aが上昇端位置にセットされて搬送手段か
ら吸着部20aに基板Wが受け渡され、該基板Wが吸着
部20aに真空吸着される。その後、吸着部20aが下
降端位置にリセットされることにより基板Wがテーブル
20上に保持される。
When the substrate W is loaded, the table 20
Is set at the rising end position, the substrate W is transferred from the transport means to the suction unit 20a, and the substrate W is vacuum-sucked to the suction unit 20a. Thereafter, the substrate W is held on the table 20 by resetting the suction unit 20a to the lower end position.

【0031】次いで、処理液供給装置16のアーム26
が旋回駆動されて処理液吐出ノズル28がテーブル20
上方の上記作動位置にセットされ、処理液吐出ノズル2
8から基板Wの表面に処理液が供給される。そして、一
定量の処理液が供給されると、アーム26が旋回駆動さ
れて処理液吐出ノズル28が退避位置にリセットされ
る。
Next, the arm 26 of the processing liquid supply device 16
Is rotated to move the processing liquid discharge nozzle 28 to the table 20.
The processing liquid discharge nozzle 2 is set at the upper
From 8, the processing liquid is supplied to the surface of the substrate W. When a predetermined amount of the processing liquid is supplied, the arm 26 is driven to rotate, and the processing liquid discharge nozzle 28 is reset to the retracted position.

【0032】こうして基板Wへの処理液の供給が完了す
ると、上記蓋体14が基板保持体12に合体させられて
蓋体14の本体30と基板保持体12のカップ22とに
よって形成される閉空間内に基板Wが配置される。
When the supply of the processing liquid to the substrate W is completed in this way, the lid 14 is combined with the substrate holder 12 and the lid 14 is closed by the main body 30 of the lid 14 and the cup 22 of the substrate holder 12. The substrate W is arranged in the space.

【0033】そして、モータ24の作動によりテーブル
20が回転駆動され、基板Wがテーブル20及びプレー
ト32と一体に所定時間だけ回転させられる。これによ
り基板上の処理液が基板面上に均一に拡張されることと
なる。この際、基板Wの回転に伴い処理液が飛散するこ
ととなるが、上記閉空間内に基板Wが配置されているた
め装置外部への処理液の飛散が防止される。なお、飛散
した処理液はテーブル周縁の上記処理液排出口42を介
して、あるいはカップ22に付着して自重落下すること
により上記液貯留部44に集められつつ、上記排液管8
6を介して廃液設備に導出されることとなる。
Then, the table 20 is rotated by the operation of the motor 24, and the substrate W is rotated integrally with the table 20 and the plate 32 for a predetermined time. Thereby, the processing liquid on the substrate is uniformly spread on the substrate surface. At this time, the processing liquid is scattered with the rotation of the substrate W. However, since the substrate W is arranged in the closed space, the scatter of the processing liquid to the outside of the apparatus is prevented. The scattered processing liquid is collected in the liquid storage section 44 through the processing liquid discharge port 42 on the periphery of the table or by being attached to the cup 22 and falling by its own weight, while the drainage pipe 8 is being collected.
6 to the waste liquid facility.

【0034】テーブル20が停止すると、蓋体14が上
昇端位置にリセットされるとともに、吸着部20aが上
昇端位置に変位させられる。そして、吸着部20aから
搬送手段に基板Wが受け渡され、上記搬送手段により次
工程に基板Wが搬出される。その後、吸着部20aが下
降端位置にリセットされ、これにより当該基板Wに対す
る処理液の塗布動作が終了する。
When the table 20 stops, the lid 14 is reset to the rising end position, and the suction portion 20a is displaced to the rising end position. Then, the substrate W is delivered from the suction unit 20a to the transport unit, and the substrate W is unloaded to the next step by the transport unit. Thereafter, the suction unit 20a is reset to the lower end position, whereby the operation of applying the processing liquid to the substrate W ends.

【0035】そして、例えば、予め設定された数の基板
Wに対して処理液の塗布動作が繰り返し行われた後、あ
るいは生産ロットの切替え等のタイミングでカップ22
等の洗浄が行われる。
Then, for example, after the coating operation of the processing liquid is repeatedly performed on a predetermined number of substrates W, or at a timing such as when the production lot is switched, the cups 22 are removed.
Is performed.

【0036】まず、カップ等の洗浄動作(以下、単に洗
浄動作という)では、蓋体14が基板保持体12に合体
させられテーブル20にプレート32が係合される。そ
して、プレート洗浄ノズル40a及びテーブル洗浄ノズ
ル40bが上記作動位置にセットされた後、上記排気管
82及び廃液管86の各開閉バルブ84,88が全閉
に、上記ガス供給管70の開閉バルブ74が全開に切換
えられ、タンク60内が加圧された後、洗浄液供給管6
2の開閉バルブ64が全開にされるとともに、上記モー
タ24の作動によりテーブル20が回転駆動される。
First, in a cleaning operation of a cup or the like (hereinafter simply referred to as a cleaning operation), the lid 14 is combined with the substrate holder 12 and the plate 32 is engaged with the table 20. After the plate cleaning nozzle 40a and the table cleaning nozzle 40b are set at the operating positions, the open / close valves 84 and 88 of the exhaust pipe 82 and the waste liquid pipe 86 are fully closed, and the open / close valve 74 of the gas supply pipe 70 is closed. Is switched to the fully open state, and after the inside of the tank 60 is pressurized, the cleaning liquid supply pipe 6
The second opening / closing valve 64 is fully opened, and the table 20 is driven to rotate by the operation of the motor 24.

【0037】これにより、タンク60から各洗浄ノズル
に洗浄液が供給されつつ、各洗浄ノズルから一定時間だ
け洗浄液が噴射され、上記カップ22等に付着した処理
液等が洗い落される。この際、洗浄に供された洗浄液は
テーブル20及びプレート32の回転に伴い周囲に飛散
し、上記液貯留部44に集められる。なお、洗浄液の噴
射は、ガス供給管70を介してタンク60に供給される
窒素ガスの圧力によりタンク60内の洗浄液が洗浄液供
給管62を介して圧送されることにより行われる。
Thus, while the cleaning liquid is supplied from the tank 60 to each of the cleaning nozzles, the cleaning liquid is jetted from each of the cleaning nozzles for a certain period of time, and the processing liquid and the like attached to the cup 22 and the like are washed away. At this time, the cleaning liquid used for the cleaning is scattered around as the table 20 and the plate 32 rotate, and is collected in the liquid storage unit 44. The cleaning liquid is sprayed by pressure-feeding the cleaning liquid in the tank 60 through the cleaning liquid supply pipe 62 by the pressure of the nitrogen gas supplied to the tank 60 through the gas supply pipe 70.

【0038】所定時間が経過すると上記開閉バルブ6
4,74が全閉に切換えられるとともに、これに同期し
てテーブル20が停止され、テーブル20の停止後、プ
レート洗浄ノズル40a及びテーブル洗浄ノズル40b
が上記退避位置にリセットされる。
When a predetermined time has elapsed, the open / close valve 6
4, 74 are switched to fully closed, and in synchronization with this, the table 20 is stopped, and after the table 20 is stopped, the plate cleaning nozzle 40a and the table cleaning nozzle 40b are stopped.
Is reset to the retracted position.

【0039】そして、プレート洗浄ノズル40a及びテ
ーブル洗浄ノズル40bが完全に退避位置にリセットさ
れると、再度、テーブル20が一定時間だけ回転駆動さ
れ、これによりテーブル20やプレート32に付着した
洗浄液が遠心力で除去される(スピン乾燥という)。ま
た、このスピン乾燥に同期して、上記洗浄液回収管66
および負圧管76の各開閉バルブ68,78が全開に切
換えられ、これにより洗浄に供されて液貯留部44に溜
った洗浄液がタンク60内に回収される。この際、負圧
管76を介してタンク60内が減圧されることにより、
液貯留部44の洗浄液が吸引されつつ速やかにタンク6
0に回収されることとなる。
When the plate cleaning nozzle 40a and the table cleaning nozzle 40b are completely reset to the retracted position, the table 20 is driven to rotate again for a predetermined time, whereby the cleaning liquid adhering to the table 20 and the plate 32 is centrifuged. Removed by force (called spin drying). Further, in synchronization with the spin drying, the washing liquid collecting pipe 66 is provided.
The opening / closing valves 68 and 78 of the negative pressure tube 76 are switched to the full open state, whereby the cleaning liquid used for cleaning and stored in the liquid storage section 44 is collected in the tank 60. At this time, the pressure in the tank 60 is reduced through the negative pressure pipe 76,
The cleaning liquid in the liquid storage section 44 is quickly sucked while the tank 6
0 will be collected.

【0040】こうして液貯留部44内の洗浄液がタンク
60に回収されると、上記開閉バルブ68,78が全閉
されるとともに、上記開閉バルブ84が全開に切換えら
れてタンク60が排気管82を介して大気中に開放され
る。これにより洗浄動作が終了する。
When the cleaning liquid in the liquid storage section 44 is collected in the tank 60 in this manner, the open / close valves 68 and 78 are fully closed, and the open / close valve 84 is switched to the full open state. Open to the atmosphere through. This ends the cleaning operation.

【0041】以上のスピンコータ10によれば、タンク
60内の洗浄液は、上述のように洗浄液供給管62を介
してカップ22等の洗浄に供された後、洗浄液回収管6
6を介してタンク60に回収される。つまり、上記の洗
浄液の供給系では、洗浄液は循環されながらカップ22
等の洗浄に繰返し供されることとなる。そのため、洗浄
に供した洗浄液をそのまま排液していた従来のこの種の
スピンコータと比べると、洗浄液を有効に利用すること
ができ、基板一枚当りの洗浄液の消費量を有効に低減す
ることができる。従って、大型の基板を対象とする場合
や、除去しにくい処理液を用いる場合でも、洗浄液の消
費量を有効に抑えることができ、従来のこの種の装置に
おいて問題となっていた、洗浄液の消費量の増大に伴う
基板Wの生産コストのアップを効果的に抑えることがで
きる。
According to the spin coater 10 described above, the cleaning liquid in the tank 60 is supplied to the cleaning of the cup 22 and the like via the cleaning liquid supply pipe 62 as described above, and then the cleaning liquid recovery pipe 6
6 and is collected in the tank 60. That is, in the above-described cleaning liquid supply system, the cleaning liquid is circulated while the cup 22 is being circulated.
And so on. Therefore, compared with a conventional spin coater of this type, in which the cleaning liquid used for cleaning is drained as it is, the cleaning liquid can be used more effectively, and the consumption of the cleaning liquid per substrate can be effectively reduced. it can. Therefore, even when a large substrate is used or when a processing liquid that is difficult to remove is used, the consumption of the cleaning liquid can be effectively suppressed, and the consumption of the cleaning liquid, which has been a problem in the conventional apparatus of this type, can be reduced. The increase in the production cost of the substrate W due to the increase in the amount can be effectively suppressed.

【0042】なお、上記スピンコータ10では、洗浄液
を循環させながら繰り返し使用するため、当然、洗浄液
の劣化等により洗浄機能が低下する。そのため、例え
ば、洗浄機能を維持できる洗浄回数を予め実験的に求め
ておき、その回数毎にタンク60内の洗浄液を入れ替え
て洗浄液の機能を維持するようにするのが望ましい。ま
た、このような洗浄回数によらず、例えば、タンク60
内の洗浄液の濃度を検出するセンサを設け、その濃度検
出に基づいて洗浄液の劣化状態を検知してタンク60内
の洗浄液を入れ替えるようにしてもよい。
Since the spin coater 10 is used repeatedly while circulating the cleaning liquid, the cleaning function is naturally deteriorated due to deterioration of the cleaning liquid. Therefore, for example, it is desirable to experimentally determine the number of times of cleaning that can maintain the cleaning function, and replace the cleaning liquid in the tank 60 with each number of times to maintain the function of the cleaning liquid. In addition, regardless of the number of washings, for example, the tank 60
A sensor for detecting the concentration of the cleaning liquid in the tank may be provided, and the deterioration state of the cleaning liquid may be detected based on the concentration detection to replace the cleaning liquid in the tank 60.

【0043】また、上記スピンコータ10では、液貯留
部44に溜った洗浄液を回収する際にタンク60内を減
圧することでタンク60内への洗浄液の導入を促進させ
るようにしているが、必ずしもタンク60内を減圧する
必要はなく、洗浄液が自然にタンク60内に流れ込むよ
うにしてもよい。但し、タンク60内を減圧して洗浄液
の導入を促進させるようにすれば、洗浄液の回収を含む
カップ22等の洗浄に要する時間を効果的に短縮するこ
とができる。
In the spin coater 10, the pressure in the tank 60 is reduced when the cleaning liquid stored in the liquid storage section 44 is collected, so that the introduction of the cleaning liquid into the tank 60 is promoted. It is not necessary to reduce the pressure inside the tank 60, and the cleaning liquid may naturally flow into the tank 60. However, if the pressure in the tank 60 is reduced to promote the introduction of the cleaning liquid, the time required for cleaning the cup 22 and the like including the recovery of the cleaning liquid can be effectively reduced.

【0044】ところで、上記のように洗浄液を循環させ
ながら使用するような洗浄液の供給系としては、図5に
示した供給系以外にも種々の変形例が考えられ、以下、
そのいくつかの例について図6〜図8を用いつつ説明す
ることとする。なお、以下の各例も基本的な構成は図5
に示す供給系と共通するため、共通する部分については
同一の符号を付して説明を省略し、相違点についてのみ
詳しく説明することとする。
By the way, as the supply system of the cleaning liquid which is used while circulating the cleaning liquid as described above, various modifications other than the supply system shown in FIG. 5 can be considered.
Some examples thereof will be described with reference to FIGS. The basic configuration of each of the following examples is also shown in FIG.
Therefore, the same reference numerals are given to the common parts, the description thereof will be omitted, and only the differences will be described in detail.

【0045】図6は、処理液の供給系の第1の変形例を
示している。この図に示す洗浄液の供給系では、上記タ
ンク60とは別に洗浄液を貯留するタンク61が設けら
れており、真空ポンプ80に通じる上記負圧管76はこ
のタンク61に接続されている。また、開閉バルブ85
を介して大気中に開放される排気管83がタンク61に
接続され、さらに、ポンプ92と開閉バルブ94を有す
る補給管90がタンク60とタンク61とにわたって接
続されている。
FIG. 6 shows a first modification of the processing liquid supply system. In the cleaning liquid supply system shown in this figure, a tank 61 for storing the cleaning liquid is provided separately from the tank 60, and the negative pressure pipe 76 leading to the vacuum pump 80 is connected to the tank 61. Further, the opening / closing valve 85
An exhaust pipe 83 opened to the atmosphere through the tank 61 is connected to the tank 61, and a supply pipe 90 having a pump 92 and an opening / closing valve 94 is connected across the tank 60 and the tank 61.

【0046】また、上記排液管86には、上記開閉バル
ブ88に代えて三方バルブ89が介設され、この三方バ
ルブ89を介して排液管86とタンク61との間に回収
管96が配設されている。なお、この供給系では、図5
に示した供給系のような、液貯留部44とタンク60と
を直接接続する洗浄液回収管66は設けられていない。
The drain pipe 86 is provided with a three-way valve 89 instead of the open / close valve 88, and a recovery pipe 96 is provided between the drain pipe 86 and the tank 61 via the three-way valve 89. It is arranged. In this supply system, FIG.
The cleaning liquid recovery pipe 66 for directly connecting the liquid storage section 44 and the tank 60 as in the supply system shown in FIG.

【0047】以上のような洗浄液の供給系では、基板W
への処理液の塗布動作時には、排気管82,83の開閉
バルブ84,85は全開とされ、これら開閉バルブ8
4,85以外のすべての開閉バルブは全閉とされる。こ
れにより洗浄液の供給は停止される。その一方、液貯留
部44が廃液設備に通じるように排液管86の三方バル
ブ89が切換えられ、これにより処理に伴い液貯留部4
4に集められる処理液が廃液設備に導出される。
In the above-described cleaning liquid supply system, the substrate W
When the processing liquid is applied to the exhaust pipes 82 and 83, the open / close valves 84 and 85 of the exhaust pipes 82 and 83 are fully opened.
All open / close valves other than 4,85 are fully closed. Thereby, the supply of the cleaning liquid is stopped. On the other hand, the three-way valve 89 of the drainage pipe 86 is switched so that the liquid storage unit 44 communicates with the waste liquid facility, whereby the liquid storage unit 4 is connected with the processing.
The treatment liquid collected in 4 is led to a waste liquid facility.

【0048】そして、洗浄動作時には、上記排気管8
2,83の開閉バルブ84,85が全閉に、洗浄液供給
管62、ガス供給管70、負圧管76の各開閉バルブ6
4、74,78が全開にそれぞれ切換えられる。また、
液貯留部44がタンク61に通じるように排液管86の
三方バルブ89が切換えられる。
During the cleaning operation, the exhaust pipe 8
The opening / closing valves 84, 85 of the cleaning liquid supply pipe 62, the gas supply pipe 70, and the opening / closing valves 6 of the negative pressure pipe 76 are fully closed.
4, 74 and 78 are respectively switched to full open. Also,
The three-way valve 89 of the drain pipe 86 is switched so that the liquid storage section 44 communicates with the tank 61.

【0049】これにより、タンク60から洗浄液供給管
62を通じて各洗浄ノズルに洗浄液が供給されつつ噴射
されるとともに、負圧管76を介してタンク61内が減
圧されて、液貯留部44に溜る洗浄液が回収管96を介
してタンク61に回収されることとなる。つまり、カッ
プ22等の洗浄が行われながら、該洗浄に供された洗浄
液の回収が同時に行われる。
As a result, the cleaning liquid is supplied from the tank 60 to the respective cleaning nozzles through the cleaning liquid supply pipe 62 while being jetted, and the inside of the tank 61 is depressurized through the negative pressure pipe 76 so that the cleaning liquid stored in the liquid storage section 44 is removed. It will be collected in the tank 61 via the collection pipe 96. That is, while the cup 22 and the like are being washed, the washing liquid used for the washing is collected at the same time.

【0050】そして、洗浄液の供給に伴いタンク60内
の洗浄液が一定量以下になると、例えば、処理液の塗布
動作中等において上記開閉バルブ94が全開されること
により、補給管90を通じてタンク61からタンク60
へとポンプ92により洗浄液が導入され、これによりタ
ンク60の洗浄液が補われる。
When the amount of the cleaning liquid in the tank 60 falls below a certain level due to the supply of the cleaning liquid, the open / close valve 94 is fully opened, for example, during the application of the processing liquid. 60
The cleaning liquid is introduced into the tank 60 by the pump 92, whereby the cleaning liquid in the tank 60 is supplemented.

【0051】このような図6に示す洗浄液の供給系によ
れば、上述のようにカップ22等の洗浄と、該洗浄に供
した洗浄液の回収とを並行して行うことができるので、
図5に示した供給系に比べると、カップ22等の洗浄か
ら洗浄液の回収までに要する時間を大幅に短縮すること
ができるという利点がある。
According to the cleaning liquid supply system shown in FIG. 6, the cleaning of the cup 22 and the like and the recovery of the cleaning liquid used for the cleaning can be performed in parallel as described above.
Compared with the supply system shown in FIG. 5, there is an advantage that the time required from cleaning of the cup 22 and the like to recovery of the cleaning liquid can be greatly reduced.

【0052】図7は、処理液の供給系の第2の変形例を
示している。この図に示す供給系には、2つのタンク6
0,60′が設けられており、洗浄液供給管62は、そ
の上流側が2つの分岐供給管62a,62bに分岐して
それぞれタンク60,60′に至っているとともに、こ
れら各分岐供給管62a,62bに開閉バルブ64a,
64bがそれぞれ介設されている。また、上記ガス供給
管70は、下流側が2つの分岐ガス管70a,70bに
分岐してそれぞれタンク60,60′に至っているとと
もに、これら分岐ガス管70a,70bにそれぞれレギ
ュレータ72a,72b及び開閉バルブ74a,74b
が介設されている。また、上記真空ポンプ80には、各
タンク60,60′に至る2つの負圧管76a,76b
が接続され、これら負圧管76a,76bにそれぞれ開
閉バルブ78a,78bが介設されている。また、洗浄
液回収管66は、その下流側が2つの分岐回収管66
a,66bに分岐してそれぞれタンク60,60′に至
っているとともに、これら分岐回収管66a,66bに
それぞれ開閉バルブ68a,68bが介設されている。
また、開閉バルブ84,84′を介して大気中に開放さ
れる上記排気管82,82′が各タンク60,60′に
それぞれ接続されている。
FIG. 7 shows a second modification of the processing liquid supply system. The supply system shown in FIG.
0, 60 'are provided, and the upstream side of the cleaning liquid supply pipe 62 is branched into two branch supply pipes 62a, 62b to reach the tanks 60, 60', respectively, and these branch supply pipes 62a, 62b are respectively provided. Open / close valve 64a,
64b are interposed. Further, the gas supply pipe 70 has a downstream side branched into two branch gas pipes 70a and 70b to reach tanks 60 and 60 ', respectively, and these branch gas pipes 70a and 70b have regulators 72a and 72b and open / close valves respectively. 74a, 74b
Is interposed. The vacuum pump 80 has two negative pressure tubes 76a, 76b reaching the respective tanks 60, 60 '.
Are connected to each other, and open / close valves 78a and 78b are interposed in these negative pressure tubes 76a and 76b, respectively. The cleaning liquid recovery pipe 66 has two branch recovery pipes 66 on the downstream side.
a and 66b, which reach tanks 60 and 60 ', respectively, and open / close valves 68a and 68b are interposed in the branch collection pipes 66a and 66b, respectively.
The exhaust pipes 82, 82 'open to the atmosphere via opening / closing valves 84, 84' are connected to the tanks 60, 60 ', respectively.

【0053】上記の供給系では、基板Wへの処理液の塗
布動作時には、各排気管82,82′の開閉バルブ8
4,84′および排液管86の開閉バルブ88が全開と
される以外、全ての開閉バルブが全閉とされる。これに
より洗浄液の供給は停止され、処理に伴い液貯留部44
に集められる処理液が排液管86を通じて廃液設備に導
出される。
In the above-described supply system, the opening / closing valve 8 of each exhaust pipe 82, 82 'is used during the operation of applying the processing liquid to the substrate W.
All of the open / close valves are fully closed, except that the open / close valves 88 of the drain pipe 86 are completely opened. As a result, the supply of the cleaning liquid is stopped, and the liquid storage 44
Is discharged to a waste liquid facility through a drain pipe 86.

【0054】そして、洗浄動作時には、各排気管82,
82′、排液管86の各開閉バルブ84,84′,88
が全閉されるとともに、タンク60,60′のいずれか
一方が洗浄液の供給用として、他方が洗浄液の回収用の
タンクとしてそれぞれ機能するように各開閉バルブが切
換えられる。
During the cleaning operation, each exhaust pipe 82,
82 ', opening and closing valves 84, 84', 88 of the drain pipe 86
Are fully closed, and each open / close valve is switched so that one of the tanks 60 and 60 'functions as a supply of the cleaning liquid and the other functions as a tank for collecting the cleaning liquid.

【0055】例えば、一方のタンク60が供給用とし
て、他方のタンク60′が回収用として用いられる場合
には、上記分岐供給管62a、分岐ガス管70a、分岐
回収管66b、負圧管76bの各開閉バルブ64a,7
4a,68b、78bがそれぞれ全開に切換えられる。
これにより、タンク60内の洗浄液が分岐供給管62a
を介して各洗浄ノズルに供給されて噴射されつつ、該洗
浄に供された洗浄液が分岐回収管66bを介してタンク
60′に回収されることとなる。
For example, when one tank 60 is used for supply and the other tank 60 'is used for recovery, each of the branch supply pipe 62a, the branch gas pipe 70a, the branch recovery pipe 66b, and the negative pressure pipe 76b is used. Open / close valve 64a, 7
4a, 68b and 78b are respectively switched to full open.
As a result, the cleaning liquid in the tank 60 is transferred to the branch supply pipe 62a.
While being supplied to and jetted to each of the cleaning nozzles, the cleaning liquid used for the cleaning is collected in the tank 60 'through the branch collection pipe 66b.

【0056】また、上記と逆、すなわちタンク60が回
収用として、他方のタンク60′が供給用として用いら
れる場合には、上記分岐供給管62b、分岐ガス管70
b、分岐回収管66a、負圧管76aの各開閉バルブ6
4b,74b,68a、78aをそれぞれ全開に切換え
られる。これにより、タンク60′内の洗浄液が分岐供
給管62bを介して各洗浄ノズルに供給されて噴射され
つつ、該洗浄に供された洗浄液が分岐回収管66aを介
してタンク60に回収されることとなる。
On the other hand, when the tank 60 is used for recovery and the other tank 60 'is used for supply, the branch supply pipe 62b and the branch gas pipe 70 are used.
b, opening / closing valve 6 of branch recovery pipe 66a and negative pressure pipe 76a
4b, 74b, 68a, and 78a can be switched to full open. As a result, the cleaning liquid in the tank 60 'is supplied to each cleaning nozzle via the branch supply pipe 62b and is jetted, and the cleaning liquid used for the cleaning is collected in the tank 60 via the branch recovery pipe 66a. Becomes

【0057】以上の供給系によれば、図6に示した供給
系同様にカップ22等の洗浄と、該洗浄に供した洗浄液
の回収を並行して行うことができる。しかも、各タンク
60,60′に対して処理液の供給系統と回収系統を設
けている、つまり、各タンク60,60′から各洗浄ノ
ズルにそれぞれ洗浄液を供給し、また、液貯留部44か
ら各タンク60,60′にそれぞれ洗浄液を回収するこ
とができるので、各タンクから交互に洗浄液を供給する
ようにすれば、図6の供給系のように、供給側のタンク
60の液の不足に応じて回収側のタンク61から供給側
のタンク60に洗浄液を補給する必要がないという利点
がある。
According to the above-described supply system, the cleaning of the cup 22 and the like and the recovery of the cleaning liquid used for the cleaning can be performed in parallel, similarly to the supply system shown in FIG. In addition, a processing liquid supply system and a recovery system are provided for each of the tanks 60 and 60 '. That is, the cleaning liquid is supplied from each of the tanks 60 and 60' to each of the cleaning nozzles. Since the cleaning liquid can be collected in each of the tanks 60 and 60 ', if the cleaning liquid is alternately supplied from each of the tanks, the liquid in the tank 60 on the supply side may become insufficient as in the supply system of FIG. Accordingly, there is an advantage that it is not necessary to supply the cleaning liquid from the tank 61 on the recovery side to the tank 60 on the supply side.

【0058】また、カップ22等の洗浄の際に、例え
ば、各開閉バルブのうち上記分岐供給管62a、分岐ガ
ス管70aの各開閉バルブ64a,74aのみを全開に
してタンク60から分岐供給管64aを介して洗浄系を
供給しつつ、洗浄に供した洗浄液を液貯留部44に溜め
ておき、洗浄終了後に、分岐供給管62a、分岐ガス管
70aの各開閉バルブ64a,74aを全閉するととも
に、分岐回収管66a及び負圧管76aの各開閉バルブ
68a,78aを全開にし、これにより液貯留部44に
溜った洗浄液をタンク60に回収するというように、一
方のタンク60を供給用及び回収用として併用すること
もできる。従って、バルブ故障等により、一方のタンク
からの洗浄液の供給、あるいは洗浄液の回収が不能とな
った場合でも、他方のタンクから洗浄液を供給しつつ該
タンクに洗浄液を回収することでスピンコータ10を継
続して作動させることができる。そのため、装置故障等
による基板処理の中断を防止するといった安全対策面で
も有効である。
When the cup 22 or the like is washed, for example, only the opening / closing valves 64a and 74a of the branch supply pipe 62a and the branch gas pipe 70a among the opening / closing valves are fully opened to open the branch supply pipe 64a from the tank 60. The cleaning liquid supplied to the cleaning is stored in the liquid storage unit 44 while supplying the cleaning system via the, and after the cleaning is completed, the open / close valves 64a and 74a of the branch supply pipe 62a and the branch gas pipe 70a are fully closed, and One opening / closing valve 68a, 78a of the branch collection pipe 66a and the negative pressure pipe 76a is fully opened, whereby the cleaning liquid collected in the liquid storage section 44 is collected in the tank 60. Can also be used together. Therefore, even if the supply of the cleaning liquid from one tank or the recovery of the cleaning liquid becomes impossible due to a valve failure or the like, the spin coater 10 is continued by collecting the cleaning liquid into the tank while supplying the cleaning liquid from the other tank. Can be activated. Therefore, it is also effective in terms of safety measures such as preventing interruption of substrate processing due to equipment failure or the like.

【0059】図8は、処理液の供給系の第3の変形例を
示している。この図に示す洗浄液の供給系では、図5に
示した供給系において、タンク60に新液供給管100
が接続されている。この新液供給管100は図外の新液
供給源に通じており、その途中に介設された開閉バルブ
101の開操作に応じて、タンク60に新液、すなわち
洗浄に全く供してしない未使用の洗浄液を供給できるよ
うになっている。
FIG. 8 shows a third modification of the processing liquid supply system. In the supply system of the cleaning liquid shown in this figure, in the supply system shown in FIG.
Is connected. The new liquid supply pipe 100 communicates with a new liquid supply source (not shown), and according to the opening operation of the opening / closing valve 101 provided in the middle thereof, the new liquid, that is, not supplied to the tank 60 for cleaning at all. The cleaning liquid used can be supplied.

【0060】また、上記排液管86には、上記開閉バル
ブ88に代えて三方バルブ99が介設され、この三方バ
ルブ99を介して上記排液管86とタンク60との間に
回収管98が配設されるとともに、上記三方バルブ99
より上流側の箇所に、排液管86内の廃液の色度を識別
する色度識別センサ102と開閉バルブ104が介設さ
れている。色度識別センサ102は、例えば、排液管8
6に対向配置された発光部と受光部とを有し、洗浄液の
光の透過率を検出するようになっている。なお、この供
給系では、図5に示した供給系のように、液貯留部44
とタンク60とを直接接続する洗浄液回収管66やタン
ク60内を減圧するためのポンプ80及び負圧管76は
設けられていない。
The drain pipe 86 is provided with a three-way valve 99 instead of the open / close valve 88, and a recovery pipe 98 is provided between the drain pipe 86 and the tank 60 through the three-way valve 99. And the three-way valve 99
A chromaticity identification sensor 102 for identifying the chromaticity of the waste liquid in the drain pipe 86 and an opening / closing valve 104 are provided at a more upstream side. The chromaticity identification sensor 102 is, for example, a drain pipe 8.
6 has a light-emitting part and a light-receiving part disposed opposite to each other, and detects the light transmittance of the cleaning liquid. In addition, in this supply system, as in the supply system shown in FIG.
A cleaning liquid recovery pipe 66 for directly connecting the tank 60 and the pump 60 and a negative pressure pipe 76 for reducing the pressure in the tank 60 are not provided.

【0061】以上のような洗浄液の供給系では、基板W
への処理液の塗布動作時には、排気管82および排液管
86の開閉バルブ84,104が全開され、これら開閉
バルブ84,104以外のすべての開閉バルブは全閉と
される。また、液貯留部44が廃液設備に通じるように
排液管86の三方バルブ99が切換えられる。これによ
り各洗浄ノズルへの洗浄液の供給が停止され、塗布動作
に伴い液貯留部44に集められる処理液が廃液設備に導
出される。
In the cleaning liquid supply system described above, the substrate W
When the processing liquid is applied to the exhaust pipe 82, the open / close valves 84 and 104 of the exhaust pipe 82 and the drain pipe 86 are fully opened, and all the open / close valves other than the open / close valves 84 and 104 are fully closed. Further, the three-way valve 99 of the drain pipe 86 is switched so that the liquid storage section 44 communicates with the waste liquid facility. As a result, the supply of the cleaning liquid to each cleaning nozzle is stopped, and the processing liquid collected in the liquid storage unit 44 during the coating operation is discharged to the waste liquid facility.

【0062】そして、洗浄動作時には、上記排気管82
および排液管86の各開閉バルブ84,104が全閉
に、洗浄液供給管62およびガス供給管70の各開閉バ
ルブ64、74が全開にそれぞれ切換えられるととも
に、液貯留部44がタンク60に通じるように排液管8
6の三方バルブ99が切換えられる。これにより洗浄液
供給管62を介して洗浄液が供給される。なお、このと
きには、上記のように液貯留部44がタンク60に通じ
るように排液管86の三方バルブ99が切換えられてい
ても、開閉バルブ104が全閉されているため、洗浄に
供された洗浄液はタンク60に回収されず液貯留部44
に溜ることとなる。
During the cleaning operation, the exhaust pipe 82
The opening and closing valves 84 and 104 of the drainage pipe 86 are fully closed, the opening and closing valves 64 and 74 of the cleaning liquid supply pipe 62 and the gas supply pipe 70 are fully opened, and the liquid storage section 44 communicates with the tank 60. Drain pipe 8 as
The three-way valve 99 is switched. As a result, the cleaning liquid is supplied through the cleaning liquid supply pipe 62. At this time, even if the three-way valve 99 of the drain pipe 86 is switched so that the liquid storage part 44 communicates with the tank 60 as described above, the open / close valve 104 is fully closed, so that it is used for cleaning. The washing liquid that has been collected is not collected in the tank 60, and is not collected in the tank 60.
Will accumulate.

【0063】洗浄動作が終了すると、排気管82および
排液管86の各開閉バルブが全開とされ、これにより液
貯留部44の洗浄液が回収管98を介してタンク60に
回収される。この際、回収される洗浄液の光の透過率が
色度識別センサ104により検出され、例えば、透過率
が所定値以上である場合、つまり、洗浄液の汚れが所定
レベル以下の場合には、全ての洗浄液がタンク60に回
収される。
When the cleaning operation is completed, the respective open / close valves of the exhaust pipe 82 and the drain pipe 86 are fully opened, whereby the cleaning liquid in the liquid storage section 44 is recovered in the tank 60 via the recovery pipe 98. At this time, the light transmittance of the collected cleaning liquid is detected by the chromaticity identification sensor 104. For example, when the transmittance is equal to or higher than a predetermined value, that is, when the contamination of the cleaning liquid is equal to or lower than a predetermined level, all The cleaning liquid is collected in the tank 60.

【0064】但し、透過率が所定値未満の場合、つま
り、洗浄液の汚れが所定レベルを超えている場合には、
液貯留部44が廃液設備に通じるように排液管86の三
方バルブ99が切換えられ、これにより洗浄液が廃液設
備に排液される。この場合、タンク60内の洗浄液が一
定量以下になると、新液供給管100の開閉バルブ10
1が開かれて新液がタンク60に補給される。これによ
り一定量の洗浄液がタンク60に確保されることとな
る。
However, when the transmittance is less than a predetermined value, that is, when the contamination of the cleaning liquid exceeds a predetermined level,
The three-way valve 99 of the drain pipe 86 is switched so that the liquid storage unit 44 communicates with the waste liquid facility, whereby the cleaning liquid is discharged to the waste liquid facility. In this case, when the cleaning liquid in the tank 60 becomes equal to or less than a certain amount, the opening and closing valve 10 of the new liquid supply pipe 100
1 is opened and the new liquid is supplied to the tank 60. Thus, a certain amount of the cleaning liquid is secured in the tank 60.

【0065】以上のような洗浄液の供給系によれば、現
実の洗浄液の劣化状態を検知しながら洗浄液を排液し、
また新液を補給するので、洗浄液を合理的に使用するこ
とができる。すなわち、一律に予め設定された使用回数
毎にタンク60内の洗浄液を入れ替える場合には、洗浄
液が汚れ過ぎて既に洗浄機能を適切に発揮できない洗浄
液が使用されたり、あるいは、殆ど劣化していない洗浄
液が排液されるという不合理が生じ得るが、上記のよう
に洗浄液の劣化状態の検知に基づいて洗浄液を排液する
ようにすれば、洗浄液の劣化状態との関係において最も
適切なタイミングで洗浄液を排液することができる。
According to the above-described cleaning liquid supply system, the cleaning liquid is drained while detecting the actual state of deterioration of the cleaning liquid.
In addition, since the new liquid is supplied, the cleaning liquid can be used rationally. In other words, when the cleaning liquid in the tank 60 is exchanged at a predetermined number of times of use, a cleaning liquid that is too dirty and cannot properly perform the cleaning function is used, or a cleaning liquid that has hardly deteriorated. May be drained, but if the cleaning liquid is drained based on the detection of the state of deterioration of the cleaning liquid as described above, the cleaning liquid may be drained at the most appropriate timing in relation to the state of deterioration of the cleaning liquid. Can be drained.

【0066】なお、新液の供給に際しては、排液量、す
なわち1回の洗浄に供す洗浄液の量に相当する供給量を
予め設定しておき、排液後にこの設定量の新液を供給す
るようにしてもよいが、例えば、タンク60に液面セン
サを設置し、タンク60内に一定量の洗浄液が貯留され
るまで新液を供給するようにしてもよい。また、タンク
60内の洗浄液の重量の検知に基づいて、タンク60内
に一定量の洗浄液が貯留されるように新液を供給するよ
うにしてもよい。なお、このように常に新液を補充しな
がら一定量の洗浄液をタンク60に貯留する場合には、
タンク60にオーバーフロー用の配管を設けるのが好ま
しい。すなわち、各洗浄サイクル毎に消費される洗浄液
の量は、洗浄液の蒸発、カップ等への付着、あるいはカ
ップ内での滞留等によってそれぞれ異なり、そのため新
液の補充によって一定量以上の洗浄液がタンク60に貯
留されるような場合がある。従って、オーバーフロー用
の配管を設けることにより、このような過剰な洗浄液を
オーバーフローさせてタンク60内の貯留液量を適正に
保つことができる。
When supplying the new liquid, the drainage amount, that is, the supply amount corresponding to the amount of the cleaning liquid to be subjected to one cleaning is set in advance, and after the drainage, the set amount of the new liquid is supplied. Alternatively, for example, a liquid level sensor may be provided in the tank 60, and a new liquid may be supplied until a certain amount of the cleaning liquid is stored in the tank 60. Further, based on the detection of the weight of the cleaning liquid in the tank 60, a new liquid may be supplied so that a fixed amount of the cleaning liquid is stored in the tank 60. In the case where a constant amount of the cleaning liquid is stored in the tank 60 while constantly replenishing the new liquid,
It is preferable to provide an overflow pipe in the tank 60. That is, the amount of the cleaning liquid consumed in each cleaning cycle varies depending on evaporation of the cleaning liquid, adhesion to the cup or the like, or staying in the cup, and the like. May be stored in Therefore, by providing an overflow pipe, it is possible to overflow such an excessive cleaning liquid and to appropriately maintain the amount of the liquid stored in the tank 60.

【0067】また、この例では、排液管86に色度識別
センサ104を介設して洗浄液の劣化状態を検知するよ
うにしているが、例えば、色度識別センサによりタンク
60内の洗浄液の劣化状態を検知し、洗浄液が一定レベ
ル以上汚れている場合に、次回の洗浄動作で使用する洗
浄液を排液するようにしてもよい。なお、この場合に
は、タンク60と廃液設備とを接続する配管を設けてお
き、この配管を介してタンク60内の洗浄液全部を廃液
設備に直接排液するようにしてもよい。
Further, in this example, the deterioration state of the cleaning liquid is detected by interposing the chromaticity identification sensor 104 in the drainage pipe 86. For example, the chromaticity identification sensor is used to detect the cleaning liquid in the tank 60. When the deterioration state is detected and the cleaning liquid is contaminated by a certain level or more, the cleaning liquid used in the next cleaning operation may be drained. In this case, a pipe connecting the tank 60 and the waste liquid facility may be provided, and the entire cleaning liquid in the tank 60 may be directly discharged to the waste liquid facility via this pipe.

【0068】ところで、以上説明したスピンコータ10
は、本発明に係る処理液塗布装置の一部の例であって、
その具体的な構成、あるいは処理液の塗布動作や洗浄動
作は本発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能であ
る。
Incidentally, the spin coater 10 described above is used.
Is an example of a part of the treatment liquid application device according to the present invention,
The specific configuration, or the application operation and cleaning operation of the processing liquid can be appropriately changed without departing from the gist of the present invention.

【0069】例えば、洗浄液の供給系は、洗浄液を循環
させながら繰返し使用できる構成であれば、図5〜図8
に示した各供給系以外の構成であってもよい。また、図
5〜図8の供給系の特徴部分を組み合わせた供給系を構
成するようにしてもよい。例えば、図5〜図7の各供給
系において、図8の供給系のように色度識別センサを用
いて洗浄液の劣化状態を検知して洗浄液の入れ替えタイ
ミングを図るようにしてもよい。また、図5〜図7のタ
ンク60,61,60′に適宜、新液を加えるようにし
てもよい。
For example, as long as the cleaning liquid supply system can be used repeatedly while circulating the cleaning liquid, FIGS.
The configuration may be other than each supply system shown in FIG. Further, a supply system combining the characteristic parts of the supply systems of FIGS. 5 to 8 may be configured. For example, in each of the supply systems shown in FIGS. 5 to 7, the deterioration state of the cleaning liquid may be detected by using a chromaticity identification sensor as in the supply system shown in FIG. Further, a new liquid may be added to the tanks 60, 61, 60 'of FIGS.

【0070】また、図6に示した洗浄液の供給系のよう
に、各洗浄ノズルにタンク60から洗浄液を供給しなが
ら、これと同時に洗浄に供した洗浄液をタンク61に回
収する洗浄液の供給系では、例えば、洗浄に供された洗
浄液の全てを回収するのではなく、洗浄開始直後の一定
時間は洗浄液を排液し、この時間が経過した後から洗浄
液をタンク61に回収するようにしてもよい。
As in the cleaning liquid supply system shown in FIG. 6, the cleaning liquid is supplied to each of the cleaning nozzles from the tank 60, and at the same time, the cleaning liquid used for cleaning is collected in the tank 61. For example, instead of collecting all of the cleaning liquid used for cleaning, the cleaning liquid may be drained for a certain period of time immediately after the start of cleaning, and the cleaning liquid may be collected in the tank 61 after this time has elapsed. .

【0071】すなわち、洗浄開始直後は洗浄液の汚れが
ひどく再使用に適していない場合が多いため、このよう
な汚れのひどい洗浄液を排液することで、回収される洗
浄液の劣化を効果的に抑えることが可能となる。この場
合、時間タイミングで洗浄液の排液と回収を切換える以
外に、例えば、図8の供給系のように色度識別センサに
より洗浄液の劣化状態を検知しながら、洗浄液の汚れが
再使用に適した一定レベル以下となるタイミングで洗浄
液の排液と回収とを切換えるようにしてもよい。なお、
洗浄回数や処理液の種類等によっては、新液を1回使用
しただけでもそのままでは再使用に適しない程に劣化す
る場合もあり、このような場合には、上記のような時間
等に拘らず、例えば、洗浄に供された洗浄液のうちの一
定量の一部の洗浄液を回収し、これに新液を加えて用い
るようにすればよい。このようにすれば、汚れのひどい
洗浄液であっても再使用することが可能となる。
In other words, immediately after the start of cleaning, the cleaning liquid is often extremely dirty and is not suitable for reuse. By draining such a dirty cleaning liquid, deterioration of the recovered cleaning liquid is effectively suppressed. It becomes possible. In this case, besides switching between draining and recovery of the cleaning liquid at the time timing, for example, while the deterioration state of the cleaning liquid is detected by the chromaticity identification sensor as in the supply system of FIG. The switching between the drainage and the recovery of the cleaning liquid may be switched at a timing when the cleaning liquid drops below a certain level. In addition,
Depending on the number of washings and the type of processing solution, the use of a new solution may cause deterioration to the extent that it is not suitable for reuse if it is used only once. Instead, for example, a certain amount of a part of the cleaning liquid used for the cleaning may be collected, and a new liquid may be added to the collected cleaning liquid for use. In this way, even a dirty cleaning solution can be reused.

【0072】なお、上記実施形態のスピンコータ10で
は、装置の洗浄箇所等に拘らず洗浄液を繰返し使用する
ようにしているが、例えば、特定箇所については新液の
みを用いて洗浄を行うように洗浄液の供給系を構成する
ようにしてもよい。すなわち、例えば、テーブル20の
吸着部20aでは、洗浄に再使用の洗浄液を用いると、
真空吸着用の吸着穴が目づまりを起こし吸着機能が損な
われることが考えられる。従って、このような箇所につ
いては新液のみを用いて洗浄するのが好ましい。また、
洗浄開始直後は再使用の洗浄液を用いて粗洗浄を行い、
所定時間が経過すると新液を供給して仕上げ洗浄を行う
ように洗浄液の供給系を構成するようにしてもよい。
In the spin coater 10 according to the above-described embodiment, the cleaning liquid is repeatedly used regardless of the cleaning location of the apparatus. For example, the cleaning liquid is cleaned at a specific location using only the new liquid. May be configured. That is, for example, in the adsorption section 20a of the table 20, when a reuse cleaning liquid is used for cleaning,
It is conceivable that the suction holes for vacuum suction are clogged and the suction function is impaired. Therefore, it is preferable to clean such a portion using only a new solution. Also,
Immediately after the start of cleaning, perform rough cleaning using the reused cleaning solution,
The cleaning liquid supply system may be configured so that a new liquid is supplied after a predetermined time has elapsed to perform finish cleaning.

【0073】[0073]

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、基板の
表面に処理液を供給して基板表面に処理液の薄膜を形成
する処理液塗布装置において、装置構成部分に向かって
洗浄液を吐出可能に配置される液吐出手段と、この液吐
出手段に洗浄液を送り上記液吐出手段から洗浄液を上記
装置構成部分に供給して上記装置構成部分を洗浄する液
供給系とを設け、上記装置構成部分の洗浄に供された洗
浄液を回収して上記液吐出手段に再供給するように上記
供給系を構成したので、上記装置構成部分の洗浄に供し
た洗浄液を繰り返し使用することができ、基板一枚当た
りの洗浄液の消費量の増大を有効に抑えることができ
る。従って、洗浄液の消費量の増大に起因した基板の生
産コストのアップを有効に抑えることができる。
As described above, according to the present invention, in a processing liquid coating apparatus for supplying a processing liquid to the surface of a substrate and forming a thin film of the processing liquid on the surface of the substrate, the cleaning liquid is discharged toward a component of the apparatus. A liquid discharging means arranged so as to be capable of being provided, and a liquid supply system for supplying a cleaning liquid to the liquid discharging means and supplying the cleaning liquid from the liquid discharging means to the device constituent parts to clean the device constituent parts, Since the supply system is configured to collect the cleaning liquid used for cleaning the part and resupply the cleaning liquid to the liquid discharging unit, the cleaning liquid used for cleaning the component part of the apparatus can be used repeatedly, and An increase in the consumption of the cleaning liquid per sheet can be effectively suppressed. Therefore, it is possible to effectively suppress an increase in substrate production cost due to an increase in the consumption of the cleaning liquid.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る処理液塗布装置であるスピンコー
タを示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a spin coater which is a processing liquid coating apparatus according to the present invention.

【図2】各洗浄ノズルの配置を説明するスピンコータ
(基板保持体)の要部断面図である。
FIG. 2 is a sectional view of a main part of a spin coater (substrate holder) for explaining the arrangement of each cleaning nozzle.

【図3】各洗浄ノズルの配置を説明するスピンコータ
(蓋体)の要部断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view of a main part of a spin coater (lid) for explaining an arrangement of each cleaning nozzle.

【図4】洗浄ノズルの駆動機構を説明する図3における
A方向の模式図である。
FIG. 4 is a schematic diagram of a direction A in FIG. 3 for explaining a driving mechanism of a cleaning nozzle.

【図5】各洗浄ノズルに対する洗浄液の供給系を示す図
である。
FIG. 5 is a diagram illustrating a supply system of a cleaning liquid to each cleaning nozzle.

【図6】洗浄液の供給系の変形例(第1の変形例)を示
す図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating a modified example (first modified example) of a cleaning liquid supply system.

【図7】洗浄液の供給系の変形例(第2の変形例)を示
す図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating a modification (second modification) of the supply system of the cleaning liquid.

【図8】洗浄液の供給系の変形例(第3の変形例)を示
す図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating a modified example (third modified example) of the supply system of the cleaning liquid.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 スピンコータ 12 基板保持体 14 蓋体 16 処理液供給装置 20 テーブル 22 カップ 60 タンク 62 洗浄液供給管 64,68,74,78,84,88 開閉バルブ 66 洗浄液回収管 70 ガス供給管 72 レギュレータ 76 負圧管 82 排気管 86 排液管 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Spin coater 12 Substrate holder 14 Lid 16 Treatment liquid supply apparatus 20 Table 22 Cup 60 Tank 62 Cleaning liquid supply pipe 64, 68, 74, 78, 84, 88 Opening / closing valve 66 Cleaning liquid collection pipe 70 Gas supply pipe 72 Regulator 76 Negative pressure pipe 82 Exhaust pipe 86 Drain pipe

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板保持部に保持された基板の表面に処
理液を供給して基板表面に処理液の薄膜を形成する処理
液塗布装置において、装置構成部分に向かって洗浄液を
吐出可能に配置された液吐出手段と、この液吐出手段に
洗浄液を送り上記液吐出手段から洗浄液を上記装置構成
部分に供給して上記装置構成部分を洗浄する液供給系と
を備え、上記液供給系は、上記装置構成部分の洗浄に供
された洗浄液を回収して上記液吐出手段に再供給するこ
とを特徴とする処理液塗布装置。
In a processing liquid coating apparatus for supplying a processing liquid to a surface of a substrate held by a substrate holding unit to form a thin film of the processing liquid on the surface of the substrate, a cleaning liquid is disposed so as to be able to discharge a cleaning liquid toward a component of the apparatus. Liquid discharging means, and a liquid supply system that sends a cleaning liquid to the liquid discharging means, supplies a cleaning liquid from the liquid discharging means to the device component, and cleans the device component, and the liquid supply system includes: A processing liquid coating apparatus, wherein a cleaning liquid used for cleaning the constituent parts of the apparatus is collected and supplied to the liquid discharging means again.
JP9331502A 1997-12-02 1997-12-02 Processing liquid coating device Withdrawn JPH11165116A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9331502A JPH11165116A (en) 1997-12-02 1997-12-02 Processing liquid coating device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9331502A JPH11165116A (en) 1997-12-02 1997-12-02 Processing liquid coating device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11165116A true JPH11165116A (en) 1999-06-22

Family

ID=18244363

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9331502A Withdrawn JPH11165116A (en) 1997-12-02 1997-12-02 Processing liquid coating device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11165116A (en)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010009203A (en) * 1999-07-08 2001-02-05 윤종용 chemical supplying structure for chemical vapor deposition coater
JP2001162207A (en) * 1999-10-01 2001-06-19 Tokyo Electron Ltd Coating device
US6877518B2 (en) 2001-12-04 2005-04-12 Nec Electronics Corporation Chemical solution treatment apparatus for semiconductor substrate
KR100985871B1 (en) 2003-10-29 2010-10-08 가부시키가이샤 와이디 메카트로 솔루션즈 Treatment Fluid Supply System
KR101065627B1 (en) * 2011-01-06 2011-09-19 (주)엠앤에스시스템 Spin coater
WO2014185467A1 (en) * 2013-05-14 2014-11-20 芝浦メカトロニクス株式会社 Liquid supply device and substrate processing device
JP2016072445A (en) * 2014-09-30 2016-05-09 株式会社Screenホールディングス Substrate processing apparatus
JP2017087185A (en) * 2015-11-16 2017-05-25 株式会社Screenホールディングス Substrate processing equipment
US10580668B2 (en) 2014-03-17 2020-03-03 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate processing apparatus and substrate processing method using substrate processing apparatus

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010009203A (en) * 1999-07-08 2001-02-05 윤종용 chemical supplying structure for chemical vapor deposition coater
JP2001162207A (en) * 1999-10-01 2001-06-19 Tokyo Electron Ltd Coating device
US6877518B2 (en) 2001-12-04 2005-04-12 Nec Electronics Corporation Chemical solution treatment apparatus for semiconductor substrate
KR100495400B1 (en) * 2001-12-04 2005-06-14 간또 가가꾸 가부시끼가이샤 Chemical solution treatment apparatus for semiconductor substrate
KR100985871B1 (en) 2003-10-29 2010-10-08 가부시키가이샤 와이디 메카트로 솔루션즈 Treatment Fluid Supply System
KR101065627B1 (en) * 2011-01-06 2011-09-19 (주)엠앤에스시스템 Spin coater
WO2014185467A1 (en) * 2013-05-14 2014-11-20 芝浦メカトロニクス株式会社 Liquid supply device and substrate processing device
CN105229777A (en) * 2013-05-14 2016-01-06 芝浦机械电子株式会社 Liquid supply device and substrate processing device
JPWO2014185467A1 (en) * 2013-05-14 2017-02-23 芝浦メカトロニクス株式会社 Liquid supply apparatus and substrate processing apparatus
US9811096B2 (en) 2013-05-14 2017-11-07 Shibaura Mechatronics Corporation Liquid feeding device and substrate treating device
US10580668B2 (en) 2014-03-17 2020-03-03 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate processing apparatus and substrate processing method using substrate processing apparatus
JP2016072445A (en) * 2014-09-30 2016-05-09 株式会社Screenホールディングス Substrate processing apparatus
JP2017087185A (en) * 2015-11-16 2017-05-25 株式会社Screenホールディングス Substrate processing equipment

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5485644A (en) Substrate treating apparatus
TWI423851B (en) Film forming device and film forming method
KR102566736B1 (en) Substrate processing apparatus, substrate processing method, and storage medium
KR100212023B1 (en) Resist coating equipment
KR100572113B1 (en) Coating apparatus
KR100267618B1 (en) Process apparatus and process method
JP3587723B2 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
KR101542704B1 (en) Substrate processing apparatus and method for supplying chemical
KR101530959B1 (en) Liquid processing apparatus, liquid processing method, and storage medium
TWI820065B (en) Liquid supply device and liquid supply method
JP5635452B2 (en) Substrate processing system
KR20030038425A (en) Substrate processing system and substrate processing method
CN108352313B (en) Film processing unit, substrate processing apparatus, and substrate processing method
JP2006114884A (en) Substrate cleaning processing apparatus and substrate processing unit
TW201250893A (en) Liquid Processing Apparatus
JPH11165116A (en) Processing liquid coating device
CN107851572A (en) Substrate processing apparatus, substrate processing method, and storage medium
JPH10258249A (en) Rotary substrate processing equipment
KR100249272B1 (en) Substrate spin treating apparatus
KR19980018527A (en) Processing equipment
JP2002305134A (en) Development processing equipment
TWI603379B (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
WO2020137811A1 (en) Substrate treatment device and filter air bubble removal method
KR100839912B1 (en) Substrate Processing Apparatus and Method
JP3961749B2 (en) Substrate cleaning apparatus, substrate processing apparatus, and substrate processing method

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20050301