JPH1114956A - 液晶パネル用検査ステージ - Google Patents
液晶パネル用検査ステージInfo
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- JPH1114956A JPH1114956A JP9180275A JP18027597A JPH1114956A JP H1114956 A JPH1114956 A JP H1114956A JP 9180275 A JP9180275 A JP 9180275A JP 18027597 A JP18027597 A JP 18027597A JP H1114956 A JPH1114956 A JP H1114956A
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Abstract
ても、検査位置における精密アライメントを可能にする
ことにある。 【解決手段】 液晶パネルの検査ステージは、多角形の
液晶パネルの隣り合う2つの端縁を受けるべくワークテ
ーブルのパネル受け面から突出する第1および第2のス
トッパ手段と、液晶パネルの隣り合う2つの端縁を両ス
トッパ手段に当接させるべく液晶パネルを押圧する押圧
手段とを備え、パネル受け面上において液晶パネルの隣
り合う2つの端縁を押圧手段により両ストッパ手段に押
圧する。これにより、パネル受け面に配置された液晶パ
ネルの位置を精密アライメントにおいて許される許容値
以内に修正することができ、また大きな液晶パネルを安
定した状態で正確に検査することができる。
Description
させて、その良否を検査する装置に関する。
手により検査する装置は、一般に、検査用プローブの破
損を防止する目的から、検査装置に対する液晶パネルの
受け渡しをする受け渡し位置と、測定ステージすなわち
検査ステージを用いて液晶パネルの点灯試験をする検査
位置とを別々に設け、液晶パネルを受け渡し位置から検
査位置におよびその逆に搬送している。
送機構により受け渡し位置と検査位置とに搬送するもの
(特開平5−334227号公報)と、点灯試験時に液
晶パネルを受ける検査ステージ自体に搬送手段の機能を
付加し、検査ステージ自体を受け渡し位置と検査位置と
に移動させるもの特開平9−138256号公報)とが
ある。
受け渡し位置に置いて粗アライメントをされ、検査位置
において精密アライメントをされる。精密アライメント
は、一般に、液晶パネルに設けられた複数の位置合わせ
マーク部のそれぞれをテレビカメラで撮影し、撮影した
マーク位置が所定の座標値となるようにワークテーブル
を変位させることにより、実行される。
ける滑りおよび振動等に起因して、液晶パネルが検査位
置において搬送手段に対し精密アライメントにおける許
容誤差以上に変位していると、検査ステージにおける精
密アライメントをすることができず、したがって検査不
能になる。
が搬送手段に対し多少変位しても、検査位置における精
密アライメントを可能にすることにある。
は、多角形の液晶パネルを受ける受け面を備えるワーク
テーブルと、液晶パネルの隣り合う2つの端縁を受ける
べく受け面から突出する第1および第2のストッパ手段
と、液晶パネルの隣り合う2つの端縁を両ストッパ手段
に当接させるべく液晶パネルを押圧する押圧手段とを含
む。
とも検査位置において、隣り合う2つの端縁を押圧手段
により両ストッパ手段に押圧される。このため、本発明
によれば、液晶パネルが検査ステージに配置されたとき
に多少の位置ずれを生じていても、その液晶パネルは精
密アライメントにおいて許される許容値以内に修正され
る。
ッパ手段に押圧する。これにより、液晶パネルを真空吸
着する検査ステージの場合、液晶パネルの大きさに対す
る真空吸着溝による吸着面の面積の割合が小さくても、
液晶パネルが安定に維持され、大きな液晶パネルをあっ
ても、その液晶パネルを安定した状態で正確に検査する
ことができる。
よりストッパ手段に押圧するようにしたから、液晶パネ
ルが検査ステージに配置されたときに多少の位置ずれを
生じていても、その液晶パネルは精密アライメントにお
いて許される許容値以内に修正され、また大きな液晶パ
ネルを安定した状態で正確に検査することができる。
手段に押圧する少なくとも1つの第1のプッシャー機構
と、液晶パネルを第2のストッパに押圧する少なくとも
1つの第2のプッシャーとを備えることができる。この
ようにすれば、液晶表示パネルをこれと平行の面内で交
差する2方向に確実に変位させることができる。
段から第1の方向へ間隔をおき、第2のプッシャー機構
は第2のストッパ手段から第1の方向と交差する第2の
方向へ間隔をおくことができる。
と、該回転機構により液晶パネルにほぼ垂直のZ軸線の
周りに回転される揺動体であって一方向へ回転されたと
きに液晶パネルを押す揺動体とを有することができる。
1のプッシャー機構の側にあって受け面から突出する複
数の端縁受けを含み、受け面を、第1のプッシャー機構
の側が下方となりかつ第1のストッパの側が上方となる
ように、傾斜させることができる。このようにすれば、
受け面上の液晶パネルがプッシャー機構から開放されて
いても、液晶パネルが受け面から滑落することを防止す
ることができる。
段は、一方向に間隔をおいた複数のストッパを備える。
置10は、長方形の液晶表示体すなわち液晶パネル12
の人手による点灯検査に用いられる。液晶パネル12
は、図示の例では、長方形の辺のうち、3つの辺に対応
する端縁部のそれぞれに、複数の電極部からなる電極群
を有する。
10および液晶パネル12のいずれにおいても、液晶表
示パネルすなわち液晶パネル12の長い端縁の方向(左
右方向)をX方向といい、液晶パネル12の短い端縁の
方向をY方向(前後方向)といい、液晶パネル12に垂
直の方向をZ方向という。また、X,YおよびZ方向へ
伸びる軸線を、それぞれ、X,YおよびZ軸線という。
0を含む。筐体20の前面上部は、傾斜面部22とされ
ている。傾斜面部22は、液晶パネル12の受渡しに用
いる開口24と、液晶パネル12の検査に用いる開口2
6とを有する。開口24,26は、液晶パネル12より
大きくかつ隅角部を丸くされた矩形の形を有しており、
またX方向に間隔をおいている。
位は検査装置10に対する液晶パネル12の受け渡しを
する受け渡し位置とされており、開口26に対応する部
位は液晶パネル12の点灯検査をする検査位置とされて
いる。傾斜面部22には、スイッチパネル28が設けら
れている。スイッチパネル28は、当該検査装置10の
各機器のオン/オフをするための複数のスイッチを有す
る。
台30が配置されている。支持台30は、ベースプレー
ト32と、長方形の基台34と、両者を連結する複数の
支柱36とにより形成されている。基台34は、ベース
プレート32よりやや短い長さ寸法および幅寸法を有す
る板材により形成されており、またベースプレート32
と平行に筐体20内をX方向へ伸びている。
20の傾斜面部22を形成する部材であり、したがって
開口24,26はベースプレート32に形成されてい
る。しかし、ベースプレート32を傾斜面部22を形成
する部材と別の部材で形成し、ベースプレート32を傾
斜面部22を形成する部材に組み付けてもよい。
ト40が配置されている。プローブユニット40は、長
方形の板の形をしたプローブベース42と、1以上のね
じ部材によりプローブベース42に組み付けられたL字
型の複数のプローブブロック44とを備える。
開口46を有しており、また複数のねじ部材によりベー
スプレート32の外側に同軸的に取り付けられている。
プローブブロック44は、それぞれが複数のプローブブ
ロック44を含む3つのブロック群に分けられており、
また液晶パネル12の電極群が形成された端縁部に対応
する辺部に配置されている。
46を介して開口46内に達するように、他端部におい
てプローブベース42の外側に取り付けられている。各
プローブブロック44は、その一端部に複数のプローブ
48を支持している。各プローブ48は、液晶パネル1
2に対し角度を有する状態に伸びている。
せ用の一対のテレビカメラ50が組み付けられている。
テレビカメラ50は、液晶パネル12に形成されている
位置合わせマークを撮影するように、プローブベース4
2に配置されている。テレビカメラ50の出力信号は、
プローブユニット40に対する液晶パネル12の精密ア
ライメントのために用いられる。
ための受け渡しステージ52と、点灯検査のための検査
ステージ54と、液晶パネル12を傾斜した状態で搬送
する第1および第2の搬送装置56とを支持する。受け
渡しステージ52は開口24に対応する受け渡し位置に
配置されており、検査ステージ54は開口26に対応す
る検査位置に配置されている。
斜した状態に受ける平板状のパネル受け58と、パネル
受け58をZ方向へ変位させる2つのシリンダ機構6
0,62と、液晶パネル12をパネル受け58に対して
位置決める複数の位置決め部64とを備える。
ルを載置するパネル受け面とされており、1以上の切欠
部66をY方向の各端縁の側に有する。図示の例では、
Y方向の一端縁の側にはこの端縁に沿って伸びる1つの
細長い切欠部66が形成されており、Y方向の他端縁の
側には2つの切欠部66が四角形の隅角部を切除するこ
とにより形成されている。パネル受け58は、そのパネ
ル受け面が傾斜した状態に、シリンダ機構62のロッド
部に取り付けられている。
ダのような流体圧シリンダ機構であり、また伸縮方向が
同じになるように直列に連結されている。一方のシリン
ダ機構60は、その伸縮方向がZ方向となるようにシリ
ンダ部において組付具68により基台34に取り付けら
れている。他方のシリンダ機構62は、その伸縮方向が
Z方向となるようにシリンダ部において組付具70によ
りシリンダ機構60のロッド部に連結されている。
面に形成されている。図示の例では、Y方向の一端縁部
に2つの位置決め部64が形成されているとともに、Y
方向の他端縁部に1つの位置決め部64が形成されてい
る。各位置決め部64は、その内側をクランク状に形成
されており、したがって液晶パネル12を受ける段部を
内側に有する。
は、対応する 一端縁部の切欠部66を間にしてX方向
に間隔をおいており、また液晶パネル12の隣り合う2
つの端縁部が当接するようにL字状に曲げられている。
Y方向の他端縁部の位置決め部64は、他端縁部の切欠
部66の間にあって他端縁部の中央に形成されている。
右方向(X方向)に移動させるXステージと、液晶パネ
ル12を斜め上下方向(Y方向)へ移動させるYステー
ジと、液晶パネル12を該パネルに直角の方向(Z方
向)へ移動させるZステージと、液晶パネル12を該パ
ネルに直角のZ軸線の周りに角度的に回転させるθステ
ージと、液晶パネル12を受けるワークテーブル72と
を備える。
びワークテーブル72は、それぞれ、Xステージ、Yス
テージ、Zステージおよびθステージに移動可能に支持
されており、また対応するステージの移動にともなって
同じように移動される。
テーブル72が開口24の側となりかつXステージが基
台34側となるように、および、液晶パネル12をワー
クテーブル72に傾斜した状態に受けるように、Xステ
ージ30において基台34に移動可能に組み付けられて
いる。
受けかつ支持するように、ベースプレート32の側に開
口する直方体状の浅い箱の形をしている。ワークテーブ
ル72の内部空間を形成する4つの端縁部の斜め上向き
の面は、液晶パネル12を傾斜した状態に受ける長方形
の傾斜したパネル受け面とされている。
放する溝74を3つの端縁部に有するとともに、一対の
切欠部76をY方向の各端縁部に有しており、さらに液
晶パネル12がワークテーブル72から滑落することを
防止する一対の端縁受け78をY方向の一方の端縁部に
有する。ワークテーブル72内には、バックライトユニ
ット80が液晶パネル12を背面から照明するように収
容されている(図4および図6並びに図14〜図17参
照)。
された端縁部に対応する部位に形成されており、またワ
ークテーブル72が液晶パネル12の裏面を真空吸着す
る真空チャックとして作用するように図示しない真空源
に連通されている。対をなす両切欠部76は、Y方向に
間隔をおいており、またワークテーブル72の表裏の側
におよび側方に開放している。ワークテーブル72の切
欠部76は、パネル受け58の切欠部66に対応する位
置に形成されている。
端縁部に複数のねじ部材により取り付けられており、ま
たX方向へ間隔をおいている。このため、ワークテーブ
ル72に載置された液晶パネル12は、ワークテーブル
72のパネル受け面が傾斜していても、下端縁が端縁受
け78に当接し、それによりワークテーブル72から落
下することを防止される。
12をワークテーブル72に対して位置決める一対のス
トッパ82をX方向の一方の端縁部と上側の端縁部との
それぞれに有する。対をなすストッパ82は、パネル受
け面の対応する端縁部にねじ部材により取り付けられて
おり、また対応する端縁部の方向に間隔をおいている。
ル12をストッパ82に押圧するプッシャー機構84を
X方向の他方の端縁部とY方向の下側の端縁部とのそれ
ぞれに有する。図示の例では、2つのプッシャー機構8
4が下側の端縁部の中央にX方向に間隔をおいて配置さ
れており、また1つのプッシャー機構84がX方向の他
端縁部の中央に配置されている。
4に支持。された逆転可能の回転機構86と、該回転機
構により液晶パネル12に垂直の方向(Z方向)へ伸び
る軸線の周りに角度的に回転されて液晶パネル12を押
す揺動体88とを備える。
向へ伸びるように、ワークテーブル72に支持されてい
る。各回転機構86として、回転式のシリンダ機構、回
転式のソレノイド機構、電動機等を用いることができ
る。
86の出力回転軸に取り付けられたアーム88aと、該
アームの他端部にワークテーブル72のパネル受け面か
らZ方向へわずかに突出する状態に取り付けられたピン
88bとで構成することができる。
一方向へ所定の角度回転することにより、揺動体88が
一方向に所定角度回転されて、液晶パネル12を対応す
るストッパ82に押し、回転機構86が所定の角度逆転
することにより、揺動体88が所定角度逆回転されて、
対応するストッパ82への液晶パネル12の押圧を解除
する。
い一対の支持板90を支持している。両支持板90は、
両ステージ52,54を間にしてY方向へ間隔をおいて
おり、また幅方向がZ方向となりかつ受け渡し位置から
検査位置にX方向へ平行に伸びるように基台34に組み
付けられている。
ールベース92がZ方向へ間隔をおいて取り付けられて
いる。全てのレールベース92は、X方向へ平行に伸び
ている。各レールベース92には、X方向へ伸びるレー
ル94が取り付けられている。基台34から遠い一対の
レール94は基台34から遠い第1の搬送装置56を受
けるために用いられ、基台34に近い一対のレール94
は基台34に近い第2の搬送装置56を受けるために用
いられる。
うに、パネル受け58およびワークテーブル72を受け
入れることができる開口を有するコ字状の第1のスライ
ダ96と、第1のスライダ96にY方向へ間隔をおいて
支持された細長い一対の第2のスライダ98と、第1の
スライダ96を往復移動させる第1の駆動機構100
と、各第2のスライダ98にX方向へ間隔をおいて配置
された複数のホルダ102と、ホルダ102を液晶パネ
ル12と平行の面内でY方向へ変位させる複数の第2の
駆動機構104とを備える。
6によりレール94にX方向へ移動可能に支持されてお
り、また第1の駆動機構100により両ステージ52,
54間を往復移動される。第2のスライダ98は、受け
渡しステージ52および検査ステージ54を間にしてX
方向へ平行に伸びている。両スライダ96,98は、ガ
イド106とともに、移動台として作用する。しかし、
第2のスライダ98を省略して、ホルダ102を第1の
スライダ96に配置してもよい。
ベース92の両端部にZ軸線の周りに回転可能に配置さ
れた一対のプーリ110と、両プーリ110に巻き掛け
られた無端ベルト112と、一方のプーリ110を回転
させる駆動原114とを備え、無端ベルト112を第1
のスライダ96に連結している。
されることにより、第1のスライダ96を受け渡し位置
から検査位置へ移動させ、駆動源114が逆転されるこ
とにより、第1のスライダ96を検査位置から受け渡し
位置へ移動させる。タイミングベルトを無端ベルト11
2として用いることができ、この場合プーリ110とし
てタイミングプーリが用いられる。
晶パネルの端縁を受け入れる凹所を有しており、また対
応する第2の駆動機構104により凹所を内側の向けた
状態に第2のスライダ98に支持されている。各ホルダ
102は、パネル受け58およびワークテーブル72の
切欠部66および76に対応する位置に維持されてい
る。一方の第2のスライダ98に配置されたホルダ10
2と他方の第2のスライダ98に配置されたホルダ10
2とは、凹所を対向させている。
は、エアーシリンダのような流体圧シリンダ機構を駆動
源として備えており、またシリンダ部において第2のス
ライダ98に取り付けられており、さらにホルダ102
を組付具によりロッド部104bに取り付けている。
機構104のロッド部104bに取り付けられた組付ブ
ロック116と、ブロック116からZ方向へ伸びてホ
ルダ102をZ方向へ変位可能に受ける軸118と、ブ
ロック116とホルダ102との間に配置されてホルダ
102をロッド部104bから離れる方向へ付勢する弾
性体120とを備える。
るフランジ部をブロック116と反対の側の端部に有す
る。弾性体120は、図示の例では、軸118に配置さ
れた圧縮コイルばねであるが、ゴムのような他の弾性体
であってもよい。各ホルダ102は、液晶パネル12を
損傷することを防止するための緩衝材122をコ字状の
内側面に設けている。
テージ52および搬送装置56の動作を説明する。
送装置56は、受け渡し位置に移動されており、またホ
ルダ102をパネル受け58に対する液晶パネル12の
受け渡しを妨げない位置に後退させている。受け渡しス
テージ52は、両シリンダ機構60を伸長させてパネル
受け58を基台34から遠い(高い側の)第1の搬送装
置56のホルダ102のZ方向における位置(高さ位
置)と一致する位置に変位させている。
テージ52および搬送装置56が上記の状態において、
人手により受け渡しステージ52のパネル受け58に配
置される。このとき、液晶パネル12は、位置決め部6
4により形成される空間に嵌合されることにより、パネ
ル受け58に対して位置決められる。
ルダ102が第2の駆動機構104により内側に向けて
(相寄る方向へ)移動される。これにより、液晶パネル
12は、図9に示すように、Y方向の端縁部を第1の搬
送装置56のホルダ102の凹所に受け入れられる。こ
のとき、各ホルダ102は、その一部をパネル受け58
の切欠部66に受け入れられるから、液晶パネル12の
端縁部を安全かつ確実に受け入れる。
構62が収縮されて、パネル受け58が基台34に近い
(低い側の)第2の搬送装置56のホルダ102の位置
へZ軸線に沿って下降される。これにより、液晶パネル
12は、第1の搬送装置56に渡され、搬送装置56に
傾斜した状態に維持される。
動機構100により検査位置に向けて移動される。これ
により、図11に示すように、第2の搬送装置56が受
け渡し位置に残る。また、液晶パネル12は、その下側
の端縁を下側のホルダ102の凹所の奥面に当接させた
状態で搬送される。これにより、液晶パネル12は、粗
アライメントをされた状態に維持される。
された未検査の液晶パネルは、後に説明するように、検
査ステージ54のワークテーブル72がZ軸線に沿って
上昇され、次いで第1の搬送装置56のホルダ102が
液晶パネルの点灯検査を妨げない位置に後退されること
により、第1の搬送装置56から検査ステージ54に渡
されて、点灯検査をされる。検査の終了した液晶パネル
は、第1の搬送装置56のホルダ12に受けられる。
により検査位置に搬送され、その液晶パネルが点灯検査
を受けている間、未検査の新たな液晶パネル12が図1
1に示すように受け渡しステージ52のパネル受け58
に配置され、第2の搬送装置56のホルダ102が図1
2に示すように前進され、その後シリンダ機構60が図
13に示すように収縮される。これにより、新たな液晶
パネル12が図13に示すように第2の搬送装置56に
受けられる。
送装置56により受け渡し位置に戻されるとともに、新
たな液晶パネルが第2の搬送装置56により検査位置に
搬送される。
送されると、先ずパネル受け58が両シリンダ機構6
0,62により第1の搬送装置56のホルダ102の高
さ位置にZ軸線に沿って上昇され、次いで第1の搬送装
置56のホルダ102がパネル受け58に対する液晶パ
ネルの受け渡しを妨げない位置に後退される。これによ
り、検査済みの液晶パネルがパネル受け58に渡され
る。
晶パネルがパネル受け58から取り除かれ、未検査の新
たな液晶パネルがパネル受け58に配置される。このと
きの液晶パネルの受け渡しも、人手により行われる。
された液晶パネルは、上記と同様にして検査ステージ5
4に渡され、点灯検査を受け、その後第2の搬送装置5
6に戻される。
の液晶パネルの搬送と、他方の搬送装置による未検査の
液晶パネルの搬送とが同期して繰り返され、その間に液
晶パネルの点灯検査が行われる。
渡しステージへの液晶パネルの搬送と、他方の搬送装置
による検査ステージへの未検査液晶パネルの搬送とを並
行して行うことにより、搬送装置の移動による時間的な
無駄が著しく少なくなる。なお、パネル受け58への未
検査の液晶パネルの配置、および、パネル受け58から
の検査済みの液晶パネルの除去は、機械的に行ってもよ
い。
テージ54と搬送装置56との間の液晶パネルの受け渡
しを説明する。
において、未検査の液晶パネル12は、図14に示すよ
うに、搬送装置56によりZ方向におけるワークテーブ
ル72の高さ位置より上方に維持されている。
うに、ワークテーブル72のパネル受け面がZ方向にお
けるホルダ102の高さ位置になるまで、ワークテーブ
ル72が検査ステージ54のZステージによりZ軸線に
沿って上昇され、液晶パネル12を真空吸着する。
図16に示すように、点灯検査を妨げない位置に後退さ
れる。これにより、液晶パネル12は、ワークテーブル
72に完全に渡される。
合わせマークが位置合わせ用テレビカメラ50により撮
影され、その出力信号を基に位置合わせマークが所定の
座標位置となるようにワークテーブル72が検査ステー
ジ54の各ステージにより変位される。これにより、プ
ローブユニット40に対する液晶パネル12の精密アラ
イメントが行われる。
ブル72が検査ステージ54のZステージによりさらに
Z軸に沿って上昇され、それにより液晶パネル12の電
極部がプローブユニット40のプローブ48に押圧され
る。
された状態で、液晶パネルに通電される。これにより、
液晶パネル12が所定のパターンに点灯されるから、液
晶パネル12の良否が点灯状態の正否を確認することに
より判定される。点灯状態の正否は、作業者の目視によ
り確認される。
2のパネル受け面がZ方向におけるホルダ102の高さ
位置になるまでワークテーブル72がZ軸線に沿って下
げられ、ホルダ102が前進され、液晶パネルがワーク
テーブルの真空吸着から開放され、その後ワークテーブ
ルがさらにZ軸線に沿って下降される。これにより、液
晶パネル12は、ホルダ102に受けられる。
ダ102とが相対的に移動されるとき、各ホルダ102
の一部がワークテーブル72に形成された切欠部76に
受け入れられるから、ワークテーブル72とホルダ10
2との相対的移動が妨げられず、両者の間の液晶パネル
の受け渡しが確実に行われる。
シャー機構84によるワークテーブル72上における液
晶パネル12のアライメントと、ホルダ102からワー
クテーブル72への液晶パネル12の受け渡しの詳細に
ついて説明する。
ネル12がホルダ102によりZ方向におけるワークテ
ーブル72の高さ位置より上方に維持されている状態
で、ワークテーブル72が液晶パネル12と接触するま
で上昇される。
ッシャー機構84が動作して液晶パネル12をストッパ
82に向けて変位させる。すなわち、液晶パネル12が
図7に実線で示す位置から同図に2点鎖線で示す位置へ
移動され、その液晶パネル12の隣り合う2つの端縁が
ストッパ82に当接される。
ル受け58からホルダ102への液晶パネルの受け渡し
時、搬送装置56による液晶パネルの搬送時、および、
ホルダ102からワークテーブル72への液晶パネルの
受け渡し時に、液晶パネルの位置が多少変位しても、液
晶パネル12は、その位置合わせマークが位置合わせ用
テレビカメラ50の視野内に入るようにアライメントを
される。
(C)に示すようにさらにZ軸線に沿って上昇される。
これにより、液晶パネル12は、ワークテーブル72に
受けられる。
(D)に示すよう、ホルダ102を弾性体120の力に
抗して上昇させる位置に上昇され、その状態で液晶パネ
ル12がワークテーブル72に真空吸着される。これに
より、液晶パネル12は、ワークテーブル72に押圧さ
れた状態で、ワークテーブル72に真空吸着されるか
ら、ワークテーブル72に確実に保持される。
テーブル72がZ軸線に沿ってわずかに下げられ、次い
で図18(F)に示すようにホルダ102が点灯検査の
妨げにならない位置へ後退される。
2からホルダ102に渡すときは、上記と逆の動作が図
18(F),(C),(B)および(A)の順に行われ
る。この場合、プッシャー機構84が元の状態に戻ると
き、ワークテーブル72の上面が傾斜していることに起
因して、液晶パネルがワークテーブル72およびホルダ
102に対し変位し、液晶パネルはその下側の端縁を下
側のホルダ102の凹所の奥面に当接する。
た状態で前進または後退される。しかし、このとき、各
ホルダ102の凹所に配置された緩衝材122は、擦り
傷が液晶パネル12に形成されることを防止する。
れる方向(Y方向)へ移動可能に第1のスライダ96に
支持させ、ホルダ102を第2のスライダ98に取り付
け、両第2のスライダ98を駆動機構により相寄り相離
れる方向へ同期して移動させることにより、ホルダによ
る液晶パネルの把持およびその解除をするようにしても
よく、また両第2のホルダ98の最大間隔を検査すべき
液晶パネルの大きさに応じて調整するようにしてもよ
い。
の点灯検査が終了するまでは動作を継続しており、した
がって液晶パネル12はストッパ82に押圧されてい
る。このため、液晶パネルの大きさに対する溝74によ
る吸着面の面積の割合が小さくても、液晶パネルが安定
に維持され、大きな液晶パネルであっても、正確に検査
することができる。また、液晶パネルをプローブユニッ
トに押圧したときに、液晶パネルに作用する押圧力、不
平衡力等に起因する液晶パネルの変位が防止される。
いては、第2のスライダ98が第1のスライダ96に相
寄り相離れる方向へ移動可能に配置されている。第1の
スライダ96の上面にはY方向へ伸びるレール132が
設けられており、第2のスライダ98にはレール132
にその長手方向へ滑動可能に受けられた複数のガイド1
34が設けられている。
イド134とにより第1のスライダ96に片持ち梁状に
支持されている。このため、各第2のスライダ98は、
X方向に間隔をおいた2箇所のそれぞれにおいてリンク
136により第1のスライダ96にさらに連結されてい
る。
へ伸びる長穴138を有する。各リンク136は、第1
の軸140により第2のスライダ98に結合されている
とともに、長穴138にその長手方向へ移動可能に受け
入れられた第2の軸142により第1のスライダ96に
結合されている。
とき、図19に示すように、各リンク136はX方向へ
伸びており、また第2の軸142は第1の軸140に最
も接近している。
せると、リンク136は、第2の軸142が第1の軸1
40から漸次離れるように長穴138に対する位置を漸
次変化させることにより、図21に示すようにX方向に
対して角度を有するようになる。
液晶パネル12の大きさに応じて、第2のスライダ98
の間隔を調整することができる。第1のスライダ96に
対する第2のスライダ98の位置は、複数のねじ部材1
44により解除可能に維持することができる。各ねじ部
材144は、第2のスライダ98と螺合しており、また
先端をレール132に当接させている。
第2のスライダ98に結合させかつ第2の軸142によ
り第1のスライダ96に結合させる代わりに、第1の軸
140により第1のスライダ96に結合させかつ第2の
軸142により第2のスライダ98に結合さてもよい。
とえば、本発明は、液晶パネルを作業者の目視により検
査する目視検査装置用の検査ステージのみならず、テレ
ビカメラのような適宜な撮像手段を用いてその出力信号
を基にコンピュータにより検査する自動検査装置用の検
査ステージにも適用することができる。また駆動機構と
してのシリンダ機構の代わりに、ソレノイドを用いたプ
ランジャー機構を用いてもよい。
態に支持する検査ステージのみならず、液晶パネルを水
平または垂直の状態に支持する用の検査ステージにも適
用することができるし、四角形の液晶パネルのみなら
ず、六角形、八角形等の他の多角形の液晶パネルのため
の検査ステージにも適用することができ、さらには、多
角形の1つの辺に設けられた電極を利用して液晶パネル
を検査するための検査ステージにも適用することができ
る。
一実施例を示す正面図である。
施例を示す右側面図であってプローブユニットの部分を
断面で示す図である。
る3−3線の方向から見た視図である。
る。
メントを説明するための図である。
面図である。
ある。
る。
ある。
ある。
ある。
パネルの受け渡しを説明するための図であって最初の受
け渡しステップを示す図である。
る。
る。
る。
すときの搬送装置と検査ステージとの関係を説明するた
めの図である。
を接近させた状態を示す平面図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 多角形の液晶パネルを受ける受け面を備
えるワークテーブルと、液晶パネルの隣り合う2つの端
縁を受けるべく前記受け面から突出する第1および第2
のストッパ手段と、液晶パネルの隣り合う2つの端縁を
両ストッパ手段に当接させるべく液晶パネルを押圧する
押圧手段とを含む、液晶パネル用検査ステージ。 - 【請求項2】 前記押圧手段は、液晶パネルを前記第1
のストッパ手段に押圧する少なくとも1つの第1のプッ
シャー機構と、液晶パネルを前記第2のストッパに押圧
する少なくとも1つの第2のプッシャーとを備える、請
求項1に記載の検査ステージ。 - 【請求項3】 前記第1のプッシャー機構は前記第1の
ストッパ手段から第1の方向へ間隔をおいており、前記
第2のプッシャー機構は前記第2のストッパ手段から前
記第1の方向と交差する第2の方向へ間隔をおいてい
る、請求項3に記載の検査ステージ。 - 【請求項4】 各プッシャー機構は、逆転可能の回転機
構と、該回転機構により液晶パネルにほぼ垂直の軸線の
周りに回転される揺動体であって正転されたときに液晶
パネルを押す揺動体とを有する、請求項2または3に記
載の検査ステージ。 - 【請求項5】 さらに、前記液晶パネルの端縁を受ける
べく前記第1のプッシャー機構の側にあって前記受け面
から突出する複数の端縁受けを含み、前記受け面は、前
記第1のプッシャー機構の側が下方となりかつ前記第1
のストッパの側が上方となるように、傾斜されている、
請求項2〜4のいずれか1項に記載の検査ステージ。 - 【請求項6】 各ストッパ手段は、一方向に間隔をおい
た複数のストッパを備える、請求項1〜5のいずれか1
項に記載の検査ステージ。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9180275A JPH1114956A (ja) | 1997-06-23 | 1997-06-23 | 液晶パネル用検査ステージ |
| KR1019980013583A KR100278130B1 (ko) | 1997-06-23 | 1998-04-16 | 액정패널용 검사스테이지 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9180275A JPH1114956A (ja) | 1997-06-23 | 1997-06-23 | 液晶パネル用検査ステージ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1114956A true JPH1114956A (ja) | 1999-01-22 |
| JPH1114956A5 JPH1114956A5 (ja) | 2005-04-07 |
Family
ID=16080382
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9180275A Pending JPH1114956A (ja) | 1997-06-23 | 1997-06-23 | 液晶パネル用検査ステージ |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1114956A (ja) |
| KR (1) | KR100278130B1 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002368058A (ja) * | 2001-06-04 | 2002-12-20 | Micronics Japan Co Ltd | 表示用基板の搬送装置 |
| JP2005345406A (ja) * | 2004-06-07 | 2005-12-15 | Micronics Japan Co Ltd | 検査装置 |
| CN100434977C (zh) * | 2005-11-18 | 2008-11-19 | 飞而康公司 | 液晶显示面板检查设备的检查台 |
| CN100449362C (zh) * | 2005-06-03 | 2009-01-07 | 飞而康公司 | 液晶显示面板检测装置 |
| TWI396882B (zh) * | 2008-04-10 | 2013-05-21 | Nihon Micronics Kk | 亮點檢查裝置 |
| CN110907665A (zh) * | 2019-11-25 | 2020-03-24 | 杭州易正科技有限公司 | 一种抵靠程度可控的集成电路封装测试座 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP4768309B2 (ja) * | 2005-04-28 | 2011-09-07 | 株式会社日本マイクロニクス | 表示用基板を受けるワークテーブルの交換装置及び表示用基板の検査装置 |
| KR102199180B1 (ko) | 2019-09-26 | 2021-01-08 | 주식회사 삼승엔지니어링 | 양방향 이송스테이지 어셈블리 |
-
1997
- 1997-06-23 JP JP9180275A patent/JPH1114956A/ja active Pending
-
1998
- 1998-04-16 KR KR1019980013583A patent/KR100278130B1/ko not_active Expired - Lifetime
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002368058A (ja) * | 2001-06-04 | 2002-12-20 | Micronics Japan Co Ltd | 表示用基板の搬送装置 |
| JP2005345406A (ja) * | 2004-06-07 | 2005-12-15 | Micronics Japan Co Ltd | 検査装置 |
| CN100449362C (zh) * | 2005-06-03 | 2009-01-07 | 飞而康公司 | 液晶显示面板检测装置 |
| CN100434977C (zh) * | 2005-11-18 | 2008-11-19 | 飞而康公司 | 液晶显示面板检查设备的检查台 |
| TWI396882B (zh) * | 2008-04-10 | 2013-05-21 | Nihon Micronics Kk | 亮點檢查裝置 |
| CN110907665A (zh) * | 2019-11-25 | 2020-03-24 | 杭州易正科技有限公司 | 一种抵靠程度可控的集成电路封装测试座 |
| CN110907665B (zh) * | 2019-11-25 | 2021-10-22 | 江苏爱矽半导体科技有限公司 | 一种抵靠程度可控的集成电路封装测试座 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR100278130B1 (ko) | 2001-01-15 |
| KR19990006388A (ko) | 1999-01-25 |
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