JPH1114860A - 光結合構造 - Google Patents
光結合構造Info
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- JPH1114860A JPH1114860A JP10104532A JP10453298A JPH1114860A JP H1114860 A JPH1114860 A JP H1114860A JP 10104532 A JP10104532 A JP 10104532A JP 10453298 A JP10453298 A JP 10453298A JP H1114860 A JPH1114860 A JP H1114860A
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- groove
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- optical waveguide
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光結合構造に関し、加工時間の短縮が図れ、
かつ光部品と光導波部品との間で高精度な光結合が得ら
れることを課題とする。 【解決手段】 光素子又は光導波路を含む光部品に光フ
ァイバ又は該光ファイバを収容するフェルール等の光導
波部品7を突き合わせ、これらの光軸を合わせるように
前記光導波部品を支持する光結合構造において、光導波
部品7を支持すべく光軸方向に延びる溝部3であって、
光導波部品7を位置決めするための必要最小限のV字状
又は台形状の溝3bを結晶基板1の異方性エッチングに
より形成すると共に、それ以外の部分は機械的手段によ
り切削された凹溝3a,3cとなし、異方性エッチング
時間の短縮と、V字状又は台形状の溝3bの面精度の改
善を図る。
かつ光部品と光導波部品との間で高精度な光結合が得ら
れることを課題とする。 【解決手段】 光素子又は光導波路を含む光部品に光フ
ァイバ又は該光ファイバを収容するフェルール等の光導
波部品7を突き合わせ、これらの光軸を合わせるように
前記光導波部品を支持する光結合構造において、光導波
部品7を支持すべく光軸方向に延びる溝部3であって、
光導波部品7を位置決めするための必要最小限のV字状
又は台形状の溝3bを結晶基板1の異方性エッチングに
より形成すると共に、それ以外の部分は機械的手段によ
り切削された凹溝3a,3cとなし、異方性エッチング
時間の短縮と、V字状又は台形状の溝3bの面精度の改
善を図る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は光結合構造に関し、
更に詳しくは光素子又は光導波路を含む光部品に光導波
部品を突き合わせてこれらの光軸を合わせるように支持
する光結合構造に関する。今日、光伝送は高速・大容量
の情報通信に不可欠なものとなっており、光通信網の整
備が進められている。光通信網では電気−光及び光−電
気信号変換を行う光伝送モジュールの大きな需要が見込
まれるため、モジュールの部品数、工数、製造時間等を
可能な限り低減すると共に、光部品と光ファイバ等の光
導波部品との位置合わせを高精度、高信頼性で行えるこ
とが必要とされる。
更に詳しくは光素子又は光導波路を含む光部品に光導波
部品を突き合わせてこれらの光軸を合わせるように支持
する光結合構造に関する。今日、光伝送は高速・大容量
の情報通信に不可欠なものとなっており、光通信網の整
備が進められている。光通信網では電気−光及び光−電
気信号変換を行う光伝送モジュールの大きな需要が見込
まれるため、モジュールの部品数、工数、製造時間等を
可能な限り低減すると共に、光部品と光ファイバ等の光
導波部品との位置合わせを高精度、高信頼性で行えるこ
とが必要とされる。
【0002】
【従来の技術】図18〜図20は従来技術を説明する図
(1)〜(3)である。図18(A)は結晶基板の異方
性エッチングを利用した光結合構造の外観斜視図、図1
8(B)はエッチング工程の平面図、図18(C)は光
ファイバ実装状態の側面図を夫々示している。
(1)〜(3)である。図18(A)は結晶基板の異方
性エッチングを利用した光結合構造の外観斜視図、図1
8(B)はエッチング工程の平面図、図18(C)は光
ファイバ実装状態の側面図を夫々示している。
【0003】図18(A)において、1は例えばシリコ
ン(Si )による支持基板、2はS i O2 によるマスク
(絶縁膜)、3は光ファイバ6を搭載するプラットフォ
ーム(V溝)、4は光導波路のクラッド層、5は該光導
波路のコア層、6は光ファイバである。係る構成では、
光ファイバ6をV溝3の壁面(斜面)に当接(搭載)す
ることにより、光ファイバ6と光導波路の両コア層(光
軸)が一致し、精密な光結合が得られる。
ン(Si )による支持基板、2はS i O2 によるマスク
(絶縁膜)、3は光ファイバ6を搭載するプラットフォ
ーム(V溝)、4は光導波路のクラッド層、5は該光導
波路のコア層、6は光ファイバである。係る構成では、
光ファイバ6をV溝3の壁面(斜面)に当接(搭載)す
ることにより、光ファイバ6と光導波路の両コア層(光
軸)が一致し、精密な光結合が得られる。
【0004】V溝3の製造プロセスを言うと、Si 基板
1の<110>結晶軸と平行にSiO2 による矩形状マ
スク2を形成し、該マスク領域内のSi 結晶をKOH水
溶液によりエッチングする。この場合に、基板1の(1
11)面と(100)面のエッチング速度比は約1:1
00となるため、このエッチング速度の異方性により正
確に角度54.7°のV溝3が形成される。このような
V溝3は理論的には原子単位の精度で加工可能であるた
め、高精度な光結合が得られる。また安価な基板材料
(Si 等)を用い、一括処理・生産することで大量の部
品を安価に供給できる。
1の<110>結晶軸と平行にSiO2 による矩形状マ
スク2を形成し、該マスク領域内のSi 結晶をKOH水
溶液によりエッチングする。この場合に、基板1の(1
11)面と(100)面のエッチング速度比は約1:1
00となるため、このエッチング速度の異方性により正
確に角度54.7°のV溝3が形成される。このような
V溝3は理論的には原子単位の精度で加工可能であるた
め、高精度な光結合が得られる。また安価な基板材料
(Si 等)を用い、一括処理・生産することで大量の部
品を安価に供給できる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記手法は光
ファイバ(外径φ=125μm程度)搭載用の浅いV溝
3を形成する場合は良いが、光ファイバ6を収容した細
径フェルール等の比較的大径の光導波部品を搭載する場
合には、例えば10倍程度の深いV溝3が必要となり、
異方性エッチングに長時間を必要とする欠点がある。例
えばSi 基板のエッチング速度は15〜20μm/時間
であり、細径フェルールの固定に必要となる深さ650
μmのV溝3を形成するためには30時間以上を要す
る。
ファイバ(外径φ=125μm程度)搭載用の浅いV溝
3を形成する場合は良いが、光ファイバ6を収容した細
径フェルール等の比較的大径の光導波部品を搭載する場
合には、例えば10倍程度の深いV溝3が必要となり、
異方性エッチングに長時間を必要とする欠点がある。例
えばSi 基板のエッチング速度は15〜20μm/時間
であり、細径フェルールの固定に必要となる深さ650
μmのV溝3を形成するためには30時間以上を要す
る。
【0006】また、上記Si 基板上にマスク2を形成す
るフォトリソ工程では、通常円形基板(ウエハ)に設け
てある切り欠き部(オリエンテーション・フラット)を
基準とするが、基板製作上の限界からこのオリエンテー
ション・フラットには<110>結晶軸から±1°程度
の誤差が存在する。このためマスク2の辺と<110>
軸との間に±1°程度の誤差が生じる。
るフォトリソ工程では、通常円形基板(ウエハ)に設け
てある切り欠き部(オリエンテーション・フラット)を
基準とするが、基板製作上の限界からこのオリエンテー
ション・フラットには<110>結晶軸から±1°程度
の誤差が存在する。このためマスク2の辺と<110>
軸との間に±1°程度の誤差が生じる。
【0007】図18(B)において、マスクパターン2
Aの長辺と<110>軸との間に角度θの傾きがある
と、図示の如くマスクパターン2Aの長辺から結晶の<
110>軸と平行となる方向に略(111)面のエッチ
ングが異常な速度で進み、このためエッチング時間と共
にV溝3の幅が増大してしまう。この場合に、光ファイ
バ搭載用の浅いV溝を形成する(エッチング時間が短
い)場合はあまり問題とはならないが、フェルール搭載
用の深いV溝を形成する(エッチング時間が長い)場合
は問題となる。
Aの長辺と<110>軸との間に角度θの傾きがある
と、図示の如くマスクパターン2Aの長辺から結晶の<
110>軸と平行となる方向に略(111)面のエッチ
ングが異常な速度で進み、このためエッチング時間と共
にV溝3の幅が増大してしまう。この場合に、光ファイ
バ搭載用の浅いV溝を形成する(エッチング時間が短
い)場合はあまり問題とはならないが、フェルール搭載
用の深いV溝を形成する(エッチング時間が長い)場合
は問題となる。
【0008】今、マスクパターン2Aの長さをL,幅を
Wとすると、異常なエッチングが最大まで進んだ場合
に、角度θによるV溝幅の増分△Wは約Lsinθとな
る。例えばフェルール搭載用マスクパターン2Aのサイ
ズを4mm×1.5mm,傾きθ=1°とすると、△W
≒69μmとなり、従って、μmオーダの正確な位置合
わせが要求される光ファイバとの光結合は不可能とな
る。
Wとすると、異常なエッチングが最大まで進んだ場合
に、角度θによるV溝幅の増分△Wは約Lsinθとな
る。例えばフェルール搭載用マスクパターン2Aのサイ
ズを4mm×1.5mm,傾きθ=1°とすると、△W
≒69μmとなり、従って、μmオーダの正確な位置合
わせが要求される光ファイバとの光結合は不可能とな
る。
【0009】この問題を解決するものとして、従来は、
マスクパターン2Aの長手方向に複数の突起部を持たせ
ることによりV溝幅Wの増加分△Wを減少させた光結合
構造が知られている(特開平7−35948)。これを
図19に従って説明する。図19(A)において、光フ
ァイバ6は複数の突起部に形成されたV溝31 ,32 の
斜面に当接して支持される。
マスクパターン2Aの長手方向に複数の突起部を持たせ
ることによりV溝幅Wの増加分△Wを減少させた光結合
構造が知られている(特開平7−35948)。これを
図19に従って説明する。図19(A)において、光フ
ァイバ6は複数の突起部に形成されたV溝31 ,32 の
斜面に当接して支持される。
【0010】図19(B)はエッチング工程の平面図を
示しており、一例のマスクパターン2Aはその長手方向
に幅aの突起部21 ,22 (左右対称)を有する。これ
をKOH等により異方性エッチングすると、有用なV溝
31 ,32 となる部分の長さaは、V溝全体の長さLよ
りも十分に短いため、この場合のV溝幅Wの増分△Wは
約asinθと小さくできる。従って、光ファイバ6の
実装精度が向上する。
示しており、一例のマスクパターン2Aはその長手方向
に幅aの突起部21 ,22 (左右対称)を有する。これ
をKOH等により異方性エッチングすると、有用なV溝
31 ,32 となる部分の長さaは、V溝全体の長さLよ
りも十分に短いため、この場合のV溝幅Wの増分△Wは
約asinθと小さくできる。従って、光ファイバ6の
実装精度が向上する。
【0011】しかし、この手法でも、光ファイバ用の浅
いV溝31 ,32 を形成する場合は良いが、例えばフェ
ルール用の深いV溝31 ,32 を形成するような場合に
は、その異方性エッチングに長時間を要する。しかも、
この異方性エッチングを長時間行うと、V溝31 ,32
の角部が削れてくるため、最悪の場合はV溝31 ,3 2
の斜面が消失してしまう。
いV溝31 ,32 を形成する場合は良いが、例えばフェ
ルール用の深いV溝31 ,32 を形成するような場合に
は、その異方性エッチングに長時間を要する。しかも、
この異方性エッチングを長時間行うと、V溝31 ,32
の角部が削れてくるため、最悪の場合はV溝31 ,3 2
の斜面が消失してしまう。
【0012】また上記光素子とフェルールとの位置合わ
せの問題を解決する他の方法として、従来は、ファイバ
突出し型のフェルールを使用したレセプタクル型光伝送
モジュールが知られている{1996年電子情報通信学
会総合大会講演論文集C−207(文献1),1996
年電子情報通信学会総合大会講演論文集SC−2−7
(文献2)}。文献1(文献2も同様)の内容を図20
に従って説明する。
せの問題を解決する他の方法として、従来は、ファイバ
突出し型のフェルールを使用したレセプタクル型光伝送
モジュールが知られている{1996年電子情報通信学
会総合大会講演論文集C−207(文献1),1996
年電子情報通信学会総合大会講演論文集SC−2−7
(文献2)}。文献1(文献2も同様)の内容を図20
に従って説明する。
【0013】この光伝送モジュールは、トランスファモ
ールドパッケージ50とレセプタクル(スリーブ)60
との2部品から構成される。実装プロセスでは、まずS
i 基板51にLD搭載用インデックスマーカ52と、光
ファイバ用浅溝53と、フェルール用深溝54とを異方
性エッチングにより夫々形成する。次に、得られたSi
−V溝基板51にLD55を搭載する。次にファイバ突
出し型のフェルール56をSi −V溝基板51上に搭載
し、耐熱性エポキシ樹脂により固定する。次にLD55
とファイバ57とをSi キャップ58で覆い、周囲を耐
熱性エポキシ樹脂で固定・封止する。次にフェルール5
6の終端部を除いて、Si 基板51とキャップ58との
全体を低熱膨張性のエポキシ系樹脂でモールドするもの
である。
ールドパッケージ50とレセプタクル(スリーブ)60
との2部品から構成される。実装プロセスでは、まずS
i 基板51にLD搭載用インデックスマーカ52と、光
ファイバ用浅溝53と、フェルール用深溝54とを異方
性エッチングにより夫々形成する。次に、得られたSi
−V溝基板51にLD55を搭載する。次にファイバ突
出し型のフェルール56をSi −V溝基板51上に搭載
し、耐熱性エポキシ樹脂により固定する。次にLD55
とファイバ57とをSi キャップ58で覆い、周囲を耐
熱性エポキシ樹脂で固定・封止する。次にフェルール5
6の終端部を除いて、Si 基板51とキャップ58との
全体を低熱膨張性のエポキシ系樹脂でモールドするもの
である。
【0014】この構造によれば、光ファイバ用浅溝53
に搭載された光ファイバ57とLD55との間の精密な
位置合わせが行える。しかし、上記の如く一般に光ファ
イバ用浅溝53の精度に対してフェルール用深溝54の
精度は必ずしも十分では無い。このためファイバ突出し
型のフェルール56をSi −V溝基板51上に搭載した
際には、光ファイバ57とフェルール56との境界部分
に歪み応力が掛かり易くなり、信頼性の面で疑問があ
る。
に搭載された光ファイバ57とLD55との間の精密な
位置合わせが行える。しかし、上記の如く一般に光ファ
イバ用浅溝53の精度に対してフェルール用深溝54の
精度は必ずしも十分では無い。このためファイバ突出し
型のフェルール56をSi −V溝基板51上に搭載した
際には、光ファイバ57とフェルール56との境界部分
に歪み応力が掛かり易くなり、信頼性の面で疑問があ
る。
【0015】またフェルール56から突き出した光ファ
イバ57はその取り回し(実装プロセス等における取
扱)が困難であり、量産化の際の隘路になると考えられ
る。本発明は上記従来技術の問題点に鑑み成されたもの
で、その目的とする所は、加工時間の短縮が図れ、かつ
量産性、低価格性に優れると共に、高精度・高信頼性の
光結合が得られる光結合構造を提供することにある。
イバ57はその取り回し(実装プロセス等における取
扱)が困難であり、量産化の際の隘路になると考えられ
る。本発明は上記従来技術の問題点に鑑み成されたもの
で、その目的とする所は、加工時間の短縮が図れ、かつ
量産性、低価格性に優れると共に、高精度・高信頼性の
光結合が得られる光結合構造を提供することにある。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記の課題は例えば図1
の構成により解決される。即ち、本発明(1)の光結合
構造は、光素子又は光導波路を含む光部品に光ファイバ
又は該光ファイバを収容するフェルール等の光導波部品
7を突き合わせ、これらの光軸を合わせるように前記光
導波部品を支持する光結合構造において、前記光導波部
品を支持すべく光軸方向に延びる溝部3であって、機械
的手段により切削された第1の溝3aの床面側に結晶基
板の異方性エッチングにより形成された断面V字状又は
台形状の第2の溝3bを備えるものである。
の構成により解決される。即ち、本発明(1)の光結合
構造は、光素子又は光導波路を含む光部品に光ファイバ
又は該光ファイバを収容するフェルール等の光導波部品
7を突き合わせ、これらの光軸を合わせるように前記光
導波部品を支持する光結合構造において、前記光導波部
品を支持すべく光軸方向に延びる溝部3であって、機械
的手段により切削された第1の溝3aの床面側に結晶基
板の異方性エッチングにより形成された断面V字状又は
台形状の第2の溝3bを備えるものである。
【0017】本発明(1)によれば、予め機械的手段に
より切削された第1の溝3aを備えるので、その床面側
に所要の断面V字状(又は台形状)溝3bを得るための
異方性エッチングは比較的短時間で終了する。しかも、
この異方性エッチングの時間が短ければ、仮にSi 基板
上のマスクパターンの長辺と<110>結晶軸との間に
角度θの傾きがあっても、該長辺から<110>軸と平
行になる方向へ進む異常エッチングの進み程度を小さく
止める事が可能となり、V字状(又は台形状)溝3bの
幅精度が向上する。
より切削された第1の溝3aを備えるので、その床面側
に所要の断面V字状(又は台形状)溝3bを得るための
異方性エッチングは比較的短時間で終了する。しかも、
この異方性エッチングの時間が短ければ、仮にSi 基板
上のマスクパターンの長辺と<110>結晶軸との間に
角度θの傾きがあっても、該長辺から<110>軸と平
行になる方向へ進む異常エッチングの進み程度を小さく
止める事が可能となり、V字状(又は台形状)溝3bの
幅精度が向上する。
【0018】好ましくは、本発明(2)においては、上
記本発明(1)において、第2の溝3bの床面側に機械
的手段により切削された第3の溝3cを備える。第2の
溝3bの床面側に第3の溝3cを備えれば、光導波部品
7とプラットフォーム3との干渉を有効に避けられると
共に、第2の溝3bを形成するための異方性エッチング
の時間(深さ)を必要最小限に短くできる。従って、第
2の溝3bの幅精度は更に向上する。
記本発明(1)において、第2の溝3bの床面側に機械
的手段により切削された第3の溝3cを備える。第2の
溝3bの床面側に第3の溝3cを備えれば、光導波部品
7とプラットフォーム3との干渉を有効に避けられると
共に、第2の溝3bを形成するための異方性エッチング
の時間(深さ)を必要最小限に短くできる。従って、第
2の溝3bの幅精度は更に向上する。
【0019】また上記の課題は例えば図4の構成により
解決される。即ち、本発明(3)の光結合構造は、光素
子又は光導波路を含む光部品に光ファイバ又は該光ファ
イバを収容するフェルール等の光導波部品7を突き合わ
せ、これらの光軸を合わせるように前記光導波部品を支
持する光結合構造において、前記光導波部品を支持すべ
く光軸方向に延びる溝部3であって、結晶基板の異方性
エッチングにより形成された断面V字状又は台形状の第
1の溝3bの床面側に機械的手段により切削された第2
の溝3cを備えるものである。
解決される。即ち、本発明(3)の光結合構造は、光素
子又は光導波路を含む光部品に光ファイバ又は該光ファ
イバを収容するフェルール等の光導波部品7を突き合わ
せ、これらの光軸を合わせるように前記光導波部品を支
持する光結合構造において、前記光導波部品を支持すべ
く光軸方向に延びる溝部3であって、結晶基板の異方性
エッチングにより形成された断面V字状又は台形状の第
1の溝3bの床面側に機械的手段により切削された第2
の溝3cを備えるものである。
【0020】光素子又は光導波路との光結合位置が高い
ような用途では、基板1の表面にいきなり第1の溝3b
を形成できる。この場合でも該第1の溝3bの床面側に
機械的手段により切削された第2の溝3cを備えるの
で、異方性エッチングの時間(深さ)を必要最小限に短
縮できる。従って、第1の溝3bの幅精度が向上する。
また上記の課題は例えば図5の構成により解決される。
即ち、本発明(4)の光結合構造は、光素子又は光導波
路を含む光部品に光ファイバ又は該光ファイバを収容す
るフェルール等の光導波部品7を突き合わせ、これらの
光軸を合わせるように前記光導波部品を支持する光結合
構造において、前記光導波部品を支持すべく光軸方向に
延びる溝部3であって、機械的手段により階段状に切削
された凹溝3a〜3dの壁面を結晶基板の異方性エッチ
ングにより連続した斜面に形成した断面V字状又は台形
状の溝3を備えるものである。
ような用途では、基板1の表面にいきなり第1の溝3b
を形成できる。この場合でも該第1の溝3bの床面側に
機械的手段により切削された第2の溝3cを備えるの
で、異方性エッチングの時間(深さ)を必要最小限に短
縮できる。従って、第1の溝3bの幅精度が向上する。
また上記の課題は例えば図5の構成により解決される。
即ち、本発明(4)の光結合構造は、光素子又は光導波
路を含む光部品に光ファイバ又は該光ファイバを収容す
るフェルール等の光導波部品7を突き合わせ、これらの
光軸を合わせるように前記光導波部品を支持する光結合
構造において、前記光導波部品を支持すべく光軸方向に
延びる溝部3であって、機械的手段により階段状に切削
された凹溝3a〜3dの壁面を結晶基板の異方性エッチ
ングにより連続した斜面に形成した断面V字状又は台形
状の溝3を備えるものである。
【0021】予め機械的手段により複数の凹溝3a〜3
dを目標の斜面に沿って階段状に設ければ、該凹溝3a
〜3dの各壁面を連続した斜面に形成するための異方性
エッチングを比較的短時間で高精度に行える。従って、
V字状(又は台形状)溝3の幅精度が向上する。また上
記の課題は例えば図7の構成により解決される。即ち、
本発明(5)の光結合構造は、光素子又は光導波路を含
む光部品に光ファイバ又は該光ファイバを収容するフェ
ルール等の光導波部品7を突き合わせ、これらの光軸を
合わせるように前記光導波部品を支持する光結合構造に
おいて、結晶基板1の異方性エッチングにより該結晶基
板上に複数の独立した断面V字状又は台形状の第1の溝
3 1 〜33 を所要長Lに渡って一列に形成すると共に、
前記第1の各溝31 〜33の間を機械的手段により列と
直角方向に切削して前記光導波部品7を搭載可能に構成
したものである。
dを目標の斜面に沿って階段状に設ければ、該凹溝3a
〜3dの各壁面を連続した斜面に形成するための異方性
エッチングを比較的短時間で高精度に行える。従って、
V字状(又は台形状)溝3の幅精度が向上する。また上
記の課題は例えば図7の構成により解決される。即ち、
本発明(5)の光結合構造は、光素子又は光導波路を含
む光部品に光ファイバ又は該光ファイバを収容するフェ
ルール等の光導波部品7を突き合わせ、これらの光軸を
合わせるように前記光導波部品を支持する光結合構造に
おいて、結晶基板1の異方性エッチングにより該結晶基
板上に複数の独立した断面V字状又は台形状の第1の溝
3 1 〜33 を所要長Lに渡って一列に形成すると共に、
前記第1の各溝31 〜33の間を機械的手段により列と
直角方向に切削して前記光導波部品7を搭載可能に構成
したものである。
【0022】本発明(5)によれば、第1の各溝31 〜
33 は相互に離れて異方性エッチングされるので、各溝
31 〜33 には夫々に良好な斜面が得られる。即ち、仮
に長時間の異方性エッチングを行っても斜面の角部が消
失する心配は無い。また、各マスクパターン2A1 〜2
A3 の長さaを小さくできるので、各溝幅Wの増分△W
を小さくできる。更にまた、各溝31 〜33 の有効な各
斜面は、基板1の結晶軸<110>との間の角度ずれの
存在にも係わらず、マスクパターン2A1 〜2A3 の配
列方向に一列に整列しているので、各溝幅Wの増分△W
が存在していても、光導波部品7の正確な位置出しが行
える。
33 は相互に離れて異方性エッチングされるので、各溝
31 〜33 には夫々に良好な斜面が得られる。即ち、仮
に長時間の異方性エッチングを行っても斜面の角部が消
失する心配は無い。また、各マスクパターン2A1 〜2
A3 の長さaを小さくできるので、各溝幅Wの増分△W
を小さくできる。更にまた、各溝31 〜33 の有効な各
斜面は、基板1の結晶軸<110>との間の角度ずれの
存在にも係わらず、マスクパターン2A1 〜2A3 の配
列方向に一列に整列しているので、各溝幅Wの増分△W
が存在していても、光導波部品7の正確な位置出しが行
える。
【0023】好ましくは、本発明(6)においては、上
記本発明(5)において、例えば図10に示す如く、所
要長に渡って一列に並ぶ複数の第1の溝31 〜33 の上
部及び又は下部側に機械的手段により列方向に切削され
た第2及び又は第3の溝93を更に備える。これは上記
本発明(5)に上記本発明(1)〜(3)の構成を適用
したものである。従って、この場合も異方性エッチング
の時間(深さ)を大幅に短縮でき、第1の各溝31 〜3
3 の幅精度は更に向上する。
記本発明(5)において、例えば図10に示す如く、所
要長に渡って一列に並ぶ複数の第1の溝31 〜33 の上
部及び又は下部側に機械的手段により列方向に切削され
た第2及び又は第3の溝93を更に備える。これは上記
本発明(5)に上記本発明(1)〜(3)の構成を適用
したものである。従って、この場合も異方性エッチング
の時間(深さ)を大幅に短縮でき、第1の各溝31 〜3
3 の幅精度は更に向上する。
【0024】また上記の課題は例えば図12,図13
(B)の構成により解決される。即ち、本発明(7)の
光結合構造は、光素子又は光導波路を含む光部品に光導
波部品を突き合わせ、これらの光軸を合わせるように支
持する光結合構造において、共通の支持基板1上に形成
されたV溝3上に、該V溝と相補的な傾きを有する凸状
斜面12a,12bを前記V溝上に当接して支持される
ように構成された光部品12と、光導波部品(例えばフ
ェルール7)とを夫々搭載し、前記光部品12と光導波
部品7の各端面を突き合わせるように支持したものであ
る。
(B)の構成により解決される。即ち、本発明(7)の
光結合構造は、光素子又は光導波路を含む光部品に光導
波部品を突き合わせ、これらの光軸を合わせるように支
持する光結合構造において、共通の支持基板1上に形成
されたV溝3上に、該V溝と相補的な傾きを有する凸状
斜面12a,12bを前記V溝上に当接して支持される
ように構成された光部品12と、光導波部品(例えばフ
ェルール7)とを夫々搭載し、前記光部品12と光導波
部品7の各端面を突き合わせるように支持したものであ
る。
【0025】図13(B)において、支持基板1のV溝
3上に光部品12の凸状斜面12a,12bを重ね合わ
せると、V溝3の斜面3a,3bと光部品12の凸状斜
面12a,12bとは相補的(傾斜角が同一で反対向
き)であるため、溝幅W2の所を境にして互いに密着す
ることになる。この時、光部品12の光入/出力端子は
溝幅W2の中心から所定長だけ真下の位置にある。この
状態で、前記V溝3に例えばフェルール7を搭載する
と、該フェルール7はその外周面と斜面3a,3bとの
作用によりX,Z軸方向に位置合わせされる。即ち、フ
ェルール7のX軸方向の中心は常に溝幅W2の中心にあ
る。またフェルール7のZ軸方向の中心は前記溝幅W2
の中心から前記所定長だけ真下の位置にあるように、例
えばフェルール外径を定められる。従って、本発明
(7)によれば、光部品12とフェルール7とを共通の
V溝3上で単に突き合わせるだけで、X,Z軸かつY軸
方向の高精度な位置合わせが自動的に得られる。
3上に光部品12の凸状斜面12a,12bを重ね合わ
せると、V溝3の斜面3a,3bと光部品12の凸状斜
面12a,12bとは相補的(傾斜角が同一で反対向
き)であるため、溝幅W2の所を境にして互いに密着す
ることになる。この時、光部品12の光入/出力端子は
溝幅W2の中心から所定長だけ真下の位置にある。この
状態で、前記V溝3に例えばフェルール7を搭載する
と、該フェルール7はその外周面と斜面3a,3bとの
作用によりX,Z軸方向に位置合わせされる。即ち、フ
ェルール7のX軸方向の中心は常に溝幅W2の中心にあ
る。またフェルール7のZ軸方向の中心は前記溝幅W2
の中心から前記所定長だけ真下の位置にあるように、例
えばフェルール外径を定められる。従って、本発明
(7)によれば、光部品12とフェルール7とを共通の
V溝3上で単に突き合わせるだけで、X,Z軸かつY軸
方向の高精度な位置合わせが自動的に得られる。
【0026】しかも、この位置合わせの精度は、支持基
板1のV溝3の幅や深さの精度には依存しない。このこ
とを図13(C)に従って説明する。今、V溝3の幅が
規定値よりもΔWだけ増加したとすると、この場合の光
部品12は、その凸状斜面12bがV溝3の斜面3b上
を図の右下側にずれ落ちる結果、反対側の斜面12aが
同斜面3aに当接するところで新たに支持されることと
なり、これに伴い光部品12の光入/出力端子も図の右
下側にずれ落ちる。
板1のV溝3の幅や深さの精度には依存しない。このこ
とを図13(C)に従って説明する。今、V溝3の幅が
規定値よりもΔWだけ増加したとすると、この場合の光
部品12は、その凸状斜面12bがV溝3の斜面3b上
を図の右下側にずれ落ちる結果、反対側の斜面12aが
同斜面3aに当接するところで新たに支持されることと
なり、これに伴い光部品12の光入/出力端子も図の右
下側にずれ落ちる。
【0027】しかし、この場合でも新たなV溝3に搭載
されたフェルール7の中心は常に底幅W2の中心から前
記所定長だけ真下の位置にある。従って、この場合も両
者間で正確な位置合わせが自動的に得られる。好ましく
は、本発明(8)においては、上記本発明(7)におい
て、光部品12は、凸状斜面の交差する側に断面台形と
なるような支持平面を有する支持部材と、前記支持平面
上に支持固定された光素子及び又は光導波路を含む光回
路部品とを備える。
されたフェルール7の中心は常に底幅W2の中心から前
記所定長だけ真下の位置にある。従って、この場合も両
者間で正確な位置合わせが自動的に得られる。好ましく
は、本発明(8)においては、上記本発明(7)におい
て、光部品12は、凸状斜面の交差する側に断面台形と
なるような支持平面を有する支持部材と、前記支持平面
上に支持固定された光素子及び又は光導波路を含む光回
路部品とを備える。
【0028】即ち、支持部材と光回路部品とが別部品の
場合であり、様々な光回路部品を支持部材に搭載・固定
(接着,ハンダ付け等)できる。また好ましくは、本発
明(9)においては、上記本発明(8)において、光回
路部品は、半導体結晶基板からなる支持部材上にデバイ
スプロセスにより一体的に作り込まれている。
場合であり、様々な光回路部品を支持部材に搭載・固定
(接着,ハンダ付け等)できる。また好ましくは、本発
明(9)においては、上記本発明(8)において、光回
路部品は、半導体結晶基板からなる支持部材上にデバイ
スプロセスにより一体的に作り込まれている。
【0029】即ち、半導体結晶基板からなる支持部材上
にハイブリッド方式又はモノリシック方式により光回路
(LD,PD,光導波路等)を直接的に集積した(作り
込んだ)場合であり、部品数(光回路部品)を減らせる
上、接着,ハンダ付け等を削除できるため、光部品(即
ち、光モジュールの全体)を高精度に形成できる。また
好ましくは、本発明(10)においては、上記本発明
(7)において、例えば図12に示す如く、光導波部品
は、光ファイバ6を内蔵したフェルール7である。
にハイブリッド方式又はモノリシック方式により光回路
(LD,PD,光導波路等)を直接的に集積した(作り
込んだ)場合であり、部品数(光回路部品)を減らせる
上、接着,ハンダ付け等を削除できるため、光部品(即
ち、光モジュールの全体)を高精度に形成できる。また
好ましくは、本発明(10)においては、上記本発明
(7)において、例えば図12に示す如く、光導波部品
は、光ファイバ6を内蔵したフェルール7である。
【0030】また好ましくは、本発明(11)において
は、上記本発明(7)において、例えば図17に示す如
く、光導波部品19は、V溝3と相補的な傾きを有する
凸状斜面19a,19bを該V溝上に当接して支持され
るように構成されている。即ち、光部品12と光導波部
品19とが共に夫々の凸状斜面(12a,12b),
(19a,19b)によって共通のV溝3により支持さ
れる場合である。
は、上記本発明(7)において、例えば図17に示す如
く、光導波部品19は、V溝3と相補的な傾きを有する
凸状斜面19a,19bを該V溝上に当接して支持され
るように構成されている。即ち、光部品12と光導波部
品19とが共に夫々の凸状斜面(12a,12b),
(19a,19b)によって共通のV溝3により支持さ
れる場合である。
【0031】また好ましくは、本発明(12)において
は、上記本発明(7)において、例えば図13(A)に
示す如く、光部品12と光導波部品7との間の光結合部
に透光性樹脂17を充填したものである。従って、光部
品12を保護できると共に、光結合部における光の反射
や損失を有効に抑制できる。
は、上記本発明(7)において、例えば図13(A)に
示す如く、光部品12と光導波部品7との間の光結合部
に透光性樹脂17を充填したものである。従って、光部
品12を保護できると共に、光結合部における光の反射
や損失を有効に抑制できる。
【0032】また好ましくは、本発明(13)において
は、上記本発明(7)において、支持基板1と、光部品
12と、光導波部品7/19の内の1つ以上が材料とし
てシリコンを用い、かつ斜面がシリコンの異方性エッチ
ングにより形成されているものである。シリコンは安価
に得られると共に、シリコンの異方性エッチングにより
高精度な斜面(V溝3,凸状斜面12a,12b/19
a,19b等)が容易に得られる。
は、上記本発明(7)において、支持基板1と、光部品
12と、光導波部品7/19の内の1つ以上が材料とし
てシリコンを用い、かつ斜面がシリコンの異方性エッチ
ングにより形成されているものである。シリコンは安価
に得られると共に、シリコンの異方性エッチングにより
高精度な斜面(V溝3,凸状斜面12a,12b/19
a,19b等)が容易に得られる。
【0033】また好ましくは、本発明(14)において
は、上記本発明(8)において、支持基板1と、支持部
材12と、光導波部品7/19の内の1つ以上がモール
ド成形品により製作されている。凸状斜面12a,12
b/19a,19bのサイズ(特に溝幅W2)を正確に
維持すれば、上記本発明(7)で述べた如く、仮に支持
基板1のV溝3の幅が増加/減少していても光軸の正確
な位置合わせが得られる。従って、例えば支持基板1を
安価なモールド成形品とでき、かつ光伝送モジュールの
製造プロセスを大幅に簡略化できる。
は、上記本発明(8)において、支持基板1と、支持部
材12と、光導波部品7/19の内の1つ以上がモール
ド成形品により製作されている。凸状斜面12a,12
b/19a,19bのサイズ(特に溝幅W2)を正確に
維持すれば、上記本発明(7)で述べた如く、仮に支持
基板1のV溝3の幅が増加/減少していても光軸の正確
な位置合わせが得られる。従って、例えば支持基板1を
安価なモールド成形品とでき、かつ光伝送モジュールの
製造プロセスを大幅に簡略化できる。
【0034】
【発明の実施の形態】以下、添付図面に従って本発明に
好適なる複数の実施の形態を詳細に説明する。図1は第
1の実施の形態による光結合構造を説明する図である。
図1(A)において、このプラットフォーム3はSi 基
板1の<110>軸と直角の方向に段差を有する溝部3
a〜3cを有し、その内の溝部3a,3cは機械的加工
(例えばダイシング)により、また斜面部3bはSi 基
板1の異方性エッチングにより形成されている。この斜
面部3bにフェルール7を当接(搭載)することでフェ
ルール7(即ち、光ファイバ6)の高精度な位置出しを
行う。
好適なる複数の実施の形態を詳細に説明する。図1は第
1の実施の形態による光結合構造を説明する図である。
図1(A)において、このプラットフォーム3はSi 基
板1の<110>軸と直角の方向に段差を有する溝部3
a〜3cを有し、その内の溝部3a,3cは機械的加工
(例えばダイシング)により、また斜面部3bはSi 基
板1の異方性エッチングにより形成されている。この斜
面部3bにフェルール7を当接(搭載)することでフェ
ルール7(即ち、光ファイバ6)の高精度な位置出しを
行う。
【0035】図1(B)は図1(A)を矢印a方向に見
た側面図である。溝部3a〜3cの各寸法は、光ファイ
バ6の光結合位置及びフェルール7の外径寸法に基づき
決定できる。斜面部3bの広さは、フェルール7の側面
に当接して該フェルール7の正確な位置出し及び固定を
行うに十分な接触面が得られる広さとする。溝部3aの
深さd1 及び溝部3cの幅w3 は、好ましくは、上記条
件を満足する斜面部3bの深さ(d2 −d1 )を最小と
するように決定される。これにより異方性エッチング時
間の短縮を図り、結晶軸<110>からの傾きに起因す
る異常エッチングの進行を短く押さえ、もって斜面部3
bの幅精度が向上する。また、溝部3aの幅w1 はその
壁面がフェルール7と干渉しない程度に選ばれ、かつ溝
部3cの深さd3 はその床面がフェルール7と干渉しな
い程度に選ばれる。
た側面図である。溝部3a〜3cの各寸法は、光ファイ
バ6の光結合位置及びフェルール7の外径寸法に基づき
決定できる。斜面部3bの広さは、フェルール7の側面
に当接して該フェルール7の正確な位置出し及び固定を
行うに十分な接触面が得られる広さとする。溝部3aの
深さd1 及び溝部3cの幅w3 は、好ましくは、上記条
件を満足する斜面部3bの深さ(d2 −d1 )を最小と
するように決定される。これにより異方性エッチング時
間の短縮を図り、結晶軸<110>からの傾きに起因す
る異常エッチングの進行を短く押さえ、もって斜面部3
bの幅精度が向上する。また、溝部3aの幅w1 はその
壁面がフェルール7と干渉しない程度に選ばれ、かつ溝
部3cの深さd3 はその床面がフェルール7と干渉しな
い程度に選ばれる。
【0036】図2は第1の実施の形態による光結合構造
の製法を説明する図である。図2(A)では、機械的手
段(ダイシングソー等)によりSi 基板1の上面に長さ
L(例えば4mm),幅w1 (例えば1.5mm),深
さd1 (例えば480μm)の溝部3aを形成する。ダ
イシングソーを使用した場合の加工精度は、深さ方向に
±1μm程度、幅方向に2μm程度となる。
の製法を説明する図である。図2(A)では、機械的手
段(ダイシングソー等)によりSi 基板1の上面に長さ
L(例えば4mm),幅w1 (例えば1.5mm),深
さd1 (例えば480μm)の溝部3aを形成する。ダ
イシングソーを使用した場合の加工精度は、深さ方向に
±1μm程度、幅方向に2μm程度となる。
【0037】図2(B)では、まず上記加工後のSi 基
板表面に熱酸化膜製造装置により厚さ5000ÅのSi
O2 膜を製膜する。次にフォトリソ工程により溝部3a
の床面中央部に長さL(=4mm),幅w2 (=850
μm)のマスク2Aをパターニングし、RIEによりS
i O2 膜をエッチングする。次の斜面3bの形成の際に
は、このSi O2 膜をマスク材として用いる。
板表面に熱酸化膜製造装置により厚さ5000ÅのSi
O2 膜を製膜する。次にフォトリソ工程により溝部3a
の床面中央部に長さL(=4mm),幅w2 (=850
μm)のマスク2Aをパターニングし、RIEによりS
i O2 膜をエッチングする。次の斜面3bの形成の際に
は、このSi O2 膜をマスク材として用いる。
【0038】図2(C)では、Si 基板1をKOHの水
溶液につけて少なくとも深さΔd(=d2 −d1 )以上
の異方性エッチングを行う。一例のエッチング時間は約
2.5時間であり、これによるエッチングの深さΔd≒
50μmとなる。その際には、マスクパターン2Aの結
晶軸<110>からの傾きθにより、上記異常エッチン
グが進み、V溝3bの幅Wが増大することが考えられ
る。
溶液につけて少なくとも深さΔd(=d2 −d1 )以上
の異方性エッチングを行う。一例のエッチング時間は約
2.5時間であり、これによるエッチングの深さΔd≒
50μmとなる。その際には、マスクパターン2Aの結
晶軸<110>からの傾きθにより、上記異常エッチン
グが進み、V溝3bの幅Wが増大することが考えられ
る。
【0039】なお、この明細書では正確には台形状の溝
であっても説明の便宜上V溝と呼ぶことがある。このエ
ッチング工程を図3に示す。本第1の実施の形態によれ
ば、必要なサイズの斜面部3bを得るためのエッチング
時間は、例えば上記2.5時間と十分に短いために、V
溝幅Wの増分△Wが小さい間にエッチングを終了するこ
とが可能である。図3(A)では本第1の実施の形態に
よる異常エッチングの進み状態を太線で模式的に示して
おり、V溝幅Wの増加は点線で示す従来{図18
(B)}の場合よりも十分に手前で停止している。
であっても説明の便宜上V溝と呼ぶことがある。このエ
ッチング工程を図3に示す。本第1の実施の形態によれ
ば、必要なサイズの斜面部3bを得るためのエッチング
時間は、例えば上記2.5時間と十分に短いために、V
溝幅Wの増分△Wが小さい間にエッチングを終了するこ
とが可能である。図3(A)では本第1の実施の形態に
よる異常エッチングの進み状態を太線で模式的に示して
おり、V溝幅Wの増加は点線で示す従来{図18
(B)}の場合よりも十分に手前で停止している。
【0040】図2に戻り、図2(D)では、上記エッチ
ング後の斜面部3bの底を機械的手段(ダイシングソー
等)により浚うことで、長さL,幅w3 (<w2 ),基
板1からの深さd3 の溝部3cを形成する。かくして、
比較的短時間の加工で高精度なプラットフォーム3を形
成できる。なお、上記本工程は予め溝部3a,3cの機
械的加工を同時に行い、その後、溝部3a,3cの間に
形成された角部を異方性エッチングすることで斜面3b
を形成してもよい。これにより全体の加工時間の短縮が
図れる。
ング後の斜面部3bの底を機械的手段(ダイシングソー
等)により浚うことで、長さL,幅w3 (<w2 ),基
板1からの深さd3 の溝部3cを形成する。かくして、
比較的短時間の加工で高精度なプラットフォーム3を形
成できる。なお、上記本工程は予め溝部3a,3cの機
械的加工を同時に行い、その後、溝部3a,3cの間に
形成された角部を異方性エッチングすることで斜面3b
を形成してもよい。これにより全体の加工時間の短縮が
図れる。
【0041】図1に戻り、光ファイバ6を収容したフェ
ルール7をプラットフォーム3上に搭載し、かつSi 基
板1の表面(プラットフォーム3の周囲)にエポキシ系
接着剤を塗布した後、例えばSi よりなる上蓋8を被
せ、フェルール7を斜面部3bに圧接固定する。その際
には、フェルール7は斜面部3bの作用によりX,Z軸
方向の位置を一義的に決定され、またフェルール7の端
面を溝部3の短辺に当接する事によりY軸方向の位置も
一義的に決定される。
ルール7をプラットフォーム3上に搭載し、かつSi 基
板1の表面(プラットフォーム3の周囲)にエポキシ系
接着剤を塗布した後、例えばSi よりなる上蓋8を被
せ、フェルール7を斜面部3bに圧接固定する。その際
には、フェルール7は斜面部3bの作用によりX,Z軸
方向の位置を一義的に決定され、またフェルール7の端
面を溝部3の短辺に当接する事によりY軸方向の位置も
一義的に決定される。
【0042】なお、上記エポキシ系接着剤を使用する代
わりに、ハンダ等で固定する様にしても良い。また、上
蓋8を光透過性のガラス素材とすることにより紫外線硬
化形の光学接着剤による固定も可能となる。更にまた、
上蓋8は必ずしも結晶性部材である必要はなく、その凹
溝部分を型加工する等、精度の低い加工法を用いること
が可能である。
わりに、ハンダ等で固定する様にしても良い。また、上
蓋8を光透過性のガラス素材とすることにより紫外線硬
化形の光学接着剤による固定も可能となる。更にまた、
上蓋8は必ずしも結晶性部材である必要はなく、その凹
溝部分を型加工する等、精度の低い加工法を用いること
が可能である。
【0043】図4は第2の実施の形態による光結合構造
を説明する図である。図4(A)において、11はレー
ザダイオード(LD)又はフォトダイオード(PD)等
の光素子であり、この例の光素子11はサブキャリア1
1Aにより支持されており、その光結合位置は図1の光
導波路の場合と比べて幾分高い位置にある。このため、
このプラットフォーム3には図1の様な溝3aを設ける
必要は無く、Si 基板1の表面からの異方性エッチング
により形成されたV溝3bの床面側に機械的手段(例え
ばダイシング)により切削された溝3cを備える構造と
なっている。
を説明する図である。図4(A)において、11はレー
ザダイオード(LD)又はフォトダイオード(PD)等
の光素子であり、この例の光素子11はサブキャリア1
1Aにより支持されており、その光結合位置は図1の光
導波路の場合と比べて幾分高い位置にある。このため、
このプラットフォーム3には図1の様な溝3aを設ける
必要は無く、Si 基板1の表面からの異方性エッチング
により形成されたV溝3bの床面側に機械的手段(例え
ばダイシング)により切削された溝3cを備える構造と
なっている。
【0044】なお、予め機械的手段により溝3cを設け
た後、該溝上部の角部を異方性エッチングして斜面3b
を形成しても良い。図4(B)において、フェルール7
は高精度の斜面3bに当接した状態で、上蓋8により圧
接固定される。図5は第3の実施の形態による光結合構
造を説明する図である。
た後、該溝上部の角部を異方性エッチングして斜面3b
を形成しても良い。図4(B)において、フェルール7
は高精度の斜面3bに当接した状態で、上蓋8により圧
接固定される。図5は第3の実施の形態による光結合構
造を説明する図である。
【0045】このプラットフォーム3は、フェルール7
を搭載すべく光軸方向に延びる溝部3であって、予め機
械的手段により階段状に切削された各凹溝3a〜3dの
壁面(角部)をSi 基板の異方性エッチングにより連続
した斜面{即ち、(111)面}に形成したV字状溝3
を備える。図5(B)において、光ファイバ6の光結合
位置及びフェルール7のサイズが決まると、フェルール
7の外周面に当接する斜面(V溝)のサイズが決まる。
各凹溝3a〜3dの寸法はこの斜面(54.7°)に沿
うように決定できる。各凹溝3a〜3dにより形成され
る階段の段差の縦横比は例えば1:0.707である。
この凹溝を何段にするかは、最下段の凹溝(この例では
凹溝3d)の床面側にもエッチングによるV溝が形成さ
れることを考慮して決定される。
を搭載すべく光軸方向に延びる溝部3であって、予め機
械的手段により階段状に切削された各凹溝3a〜3dの
壁面(角部)をSi 基板の異方性エッチングにより連続
した斜面{即ち、(111)面}に形成したV字状溝3
を備える。図5(B)において、光ファイバ6の光結合
位置及びフェルール7のサイズが決まると、フェルール
7の外周面に当接する斜面(V溝)のサイズが決まる。
各凹溝3a〜3dの寸法はこの斜面(54.7°)に沿
うように決定できる。各凹溝3a〜3dにより形成され
る階段の段差の縦横比は例えば1:0.707である。
この凹溝を何段にするかは、最下段の凹溝(この例では
凹溝3d)の床面側にもエッチングによるV溝が形成さ
れることを考慮して決定される。
【0046】図6は第3の実施の形態による光結合構造
の製法を説明する図である。図6(A)では、機械的手
段(ダイシングソー等)によりSi 基板1の上面に長さ
L,幅w1 〜w4 (w1 >w2 >w3 >w4 ),深さd
1 〜d4 (d1 <d 2 <d3 <d4 )の階段状の凹溝3
a〜3dを形成する。図6(B)では、凹溝3aの回り
にマスクパターン2Aを形成する。
の製法を説明する図である。図6(A)では、機械的手
段(ダイシングソー等)によりSi 基板1の上面に長さ
L,幅w1 〜w4 (w1 >w2 >w3 >w4 ),深さd
1 〜d4 (d1 <d 2 <d3 <d4 )の階段状の凹溝3
a〜3dを形成する。図6(B)では、凹溝3aの回り
にマスクパターン2Aを形成する。
【0047】なお、予めSi 基板1にSi O2 膜2を形
成し、これを切削して階段状の凹溝3a〜3dを形成し
ても良い。図6(C)では、Si 基板1をKOHの水溶
液につけて異方性エッチングを行う。溝部3の壁面は階
段状であるため、異方性エッチングは各階段の凸部が削
れる様に進行する。
成し、これを切削して階段状の凹溝3a〜3dを形成し
ても良い。図6(C)では、Si 基板1をKOHの水溶
液につけて異方性エッチングを行う。溝部3の壁面は階
段状であるため、異方性エッチングは各階段の凸部が削
れる様に進行する。
【0048】図6(D)では、比較的短時間の異方性エ
ッチングによりV溝と同等の斜面が形成されている。従
って、溝幅Wの幅精度が向上する。図7は第4の実施の
形態による光結合構造を説明する図である。図7(A)
において、このプラットフォーム3は、相互に離れた場
所で異方性エッチングされた複数のV溝31 〜33 と、
機械的手段によりこれらの間を結合する様に削り取られ
た溝91 ,92 とを備える。V溝31 〜33 の間にフェ
ルール7を架け渡して載置し、光ファイバ6の位置出し
を行う。
ッチングによりV溝と同等の斜面が形成されている。従
って、溝幅Wの幅精度が向上する。図7は第4の実施の
形態による光結合構造を説明する図である。図7(A)
において、このプラットフォーム3は、相互に離れた場
所で異方性エッチングされた複数のV溝31 〜33 と、
機械的手段によりこれらの間を結合する様に削り取られ
た溝91 ,92 とを備える。V溝31 〜33 の間にフェ
ルール7を架け渡して載置し、光ファイバ6の位置出し
を行う。
【0049】図7(B)にこのプラットフォーム3の製
法の概要を示す。Si 基板1の上面に幅wで、長さaの
矩形状マスクパターン2A1 〜2A3 を光軸方向の所要
長Lに渡って一直線上に配列し、各マスクパターン領域
内を異方性エッチングにより所要の深さにエッチングす
る。そして、得られた各V溝31〜33 の間を結合する
様に機械的手段により光軸と垂直の方向に凹溝91 ,9
2を形成する。
法の概要を示す。Si 基板1の上面に幅wで、長さaの
矩形状マスクパターン2A1 〜2A3 を光軸方向の所要
長Lに渡って一直線上に配列し、各マスクパターン領域
内を異方性エッチングにより所要の深さにエッチングす
る。そして、得られた各V溝31〜33 の間を結合する
様に機械的手段により光軸と垂直の方向に凹溝91 ,9
2を形成する。
【0050】なお、この凹溝91 ,92 は、各V溝31
〜33 の光軸方向にフェルール7を搭載できるだけの結
合が得られれば良く、必ずしもプラットフォーム3の幅
全体に渡って設ける必要はない。図8,図9は第4の実
施の形態による光結合構造の製法を説明する図(1),
(2)で、ここではSi のウエハ上で複数のプラットフ
ォーム3を一括加工する場合を説明する。
〜33 の光軸方向にフェルール7を搭載できるだけの結
合が得られれば良く、必ずしもプラットフォーム3の幅
全体に渡って設ける必要はない。図8,図9は第4の実
施の形態による光結合構造の製法を説明する図(1),
(2)で、ここではSi のウエハ上で複数のプラットフ
ォーム3を一括加工する場合を説明する。
【0051】図8(A)では、Si 基板1の上面に幅w
で、長さaの矩形状マスクパターン2A1 〜2A3 を各
プラットフォーム3の所要長Lに渡って夫々一直線上に
配列形成する。各マスクパターン2A1 〜2A3 の周囲
はSi O2 の保護膜2で覆われ、かつその内側ではSi
結晶が露出している。この場合に、各マスクパターン2
A1 〜2A3 は不図示のオリエンテーション・フラット
に基づく加工軸方向と平行に形成され、かつ配列されて
いるが、この加工軸方向とSi 結晶の<110>軸との
間には角度θの誤差が生じている。
で、長さaの矩形状マスクパターン2A1 〜2A3 を各
プラットフォーム3の所要長Lに渡って夫々一直線上に
配列形成する。各マスクパターン2A1 〜2A3 の周囲
はSi O2 の保護膜2で覆われ、かつその内側ではSi
結晶が露出している。この場合に、各マスクパターン2
A1 〜2A3 は不図示のオリエンテーション・フラット
に基づく加工軸方向と平行に形成され、かつ配列されて
いるが、この加工軸方向とSi 結晶の<110>軸との
間には角度θの誤差が生じている。
【0052】図8(B)では、上記Si 基板(ウエハ)
1をKOHの水溶液につけて異方性エッチングを行い、
相互に離れた場所でV溝31 〜33 を形成する。V溝3
1 〜33 は相互に離れた場所で異方性エッチングされた
ため、所要の深さd3 を得るために比較的長時間のエッ
チングを行っても、夫々に良好なV溝形状が得られる。
またその際には、加工基準軸の角度θの傾きにより各V
溝31 〜33 のエッチング幅Wが増加するが、各V溝3
1 〜33 の長さaが短いので、幅Wの増分△Wも小さく
抑えられる。特に図の斜面p,qの部分は異常エッチン
グの進行の最も遅い部分であるため、この部分の当接位
置精度は最大となる。しかも、このような斜面p,qは
3つのV溝31 〜33 で夫々に得られる。
1をKOHの水溶液につけて異方性エッチングを行い、
相互に離れた場所でV溝31 〜33 を形成する。V溝3
1 〜33 は相互に離れた場所で異方性エッチングされた
ため、所要の深さd3 を得るために比較的長時間のエッ
チングを行っても、夫々に良好なV溝形状が得られる。
またその際には、加工基準軸の角度θの傾きにより各V
溝31 〜33 のエッチング幅Wが増加するが、各V溝3
1 〜33 の長さaが短いので、幅Wの増分△Wも小さく
抑えられる。特に図の斜面p,qの部分は異常エッチン
グの進行の最も遅い部分であるため、この部分の当接位
置精度は最大となる。しかも、このような斜面p,qは
3つのV溝31 〜33 で夫々に得られる。
【0053】図9(A)では、機械的手段(ダイシング
ソー等)により、オリエンテーション・フラットに基づ
く加工基準軸方向と直角の方向にダイシングを行い、V
溝3 1 〜33 の間をつなげるように凹溝91 ,92 を形
成する。この溝加工はSi のウエハ上に並ぶ複数のプラ
ットフォーム3につき一挙に行える。また、ダイシング
はV溝31 〜33 における各斜面p,qの部分を残すよ
うに行う。
ソー等)により、オリエンテーション・フラットに基づ
く加工基準軸方向と直角の方向にダイシングを行い、V
溝3 1 〜33 の間をつなげるように凹溝91 ,92 を形
成する。この溝加工はSi のウエハ上に並ぶ複数のプラ
ットフォーム3につき一挙に行える。また、ダイシング
はV溝31 〜33 における各斜面p,qの部分を残すよ
うに行う。
【0054】図9(B)では、上記ダイシング終了後、
各プラットフォーム3を分割する。得られた各プラット
フォーム3への光部品の実装時には、フェルール7をV
溝3 1 〜33 上に載置する。この例のV溝31 〜33 の
各斜面は上記加工基準軸の傾きθにより異常エッチング
が進み、図の左右方向に多少広がっている。しかし、V
溝31 〜33 の縦方向に載置されたフェルール7はその
腹面を必然的に最良の各斜面p,qと当接することにな
る。従って、光ファイバ6は光導波路のコア部5と正確
に位置合わせされる。
各プラットフォーム3を分割する。得られた各プラット
フォーム3への光部品の実装時には、フェルール7をV
溝3 1 〜33 上に載置する。この例のV溝31 〜33 の
各斜面は上記加工基準軸の傾きθにより異常エッチング
が進み、図の左右方向に多少広がっている。しかし、V
溝31 〜33 の縦方向に載置されたフェルール7はその
腹面を必然的に最良の各斜面p,qと当接することにな
る。従って、光ファイバ6は光導波路のコア部5と正確
に位置合わせされる。
【0055】また、図示しないが、更に蒸着やフォトリ
ソ工程等により必要な電極を形成し、光素子を固定す
る。その際には、溝部3を金属膜が付着した状態に保護
する。またフェルール7には予めメタルコーティングを
施し、上蓋8、フェルール7、プラットフォーム3の固
定はハンダ付けにより行う。図10は第5の実施の形態
による光結合構造を説明する図である。
ソ工程等により必要な電極を形成し、光素子を固定す
る。その際には、溝部3を金属膜が付着した状態に保護
する。またフェルール7には予めメタルコーティングを
施し、上蓋8、フェルール7、プラットフォーム3の固
定はハンダ付けにより行う。図10は第5の実施の形態
による光結合構造を説明する図である。
【0056】図10(A)において、このプラットフォ
ーム3は、上記図7のプラットフォーム3の構成に加
え、各V溝31 〜33 の下部側に機械的手段により光軸
方向に切削された凹溝93 を更に備える。図10(B)
にこのプラットフォーム3の製法の概要を示す。Si 基
板1の上面に幅wで、長さaの矩形状マスクパターン2
A1 〜2A3 を光軸方向の所要長Lに渡って一直線上に
配列し、各マスクパターン領域内を異方性エッチングに
よりエッチングする。但し、この異方性エッチングはフ
ェルール7と当接するための必要最小限の深さのV溝3
1 〜33 が得られれば良く、このためにエッチングの時
間(深さ)は短くて良い。そして、得られた各V溝31
〜33 の間を結合する様に機械的手段により光軸と垂直
の方向に凹溝91 ,92 を形成する。更に、載置された
フェルール7の円周面との干渉を避けるため、各V溝3
1 〜33 の床面を所要深さに渡って光軸の方向に切削す
る。
ーム3は、上記図7のプラットフォーム3の構成に加
え、各V溝31 〜33 の下部側に機械的手段により光軸
方向に切削された凹溝93 を更に備える。図10(B)
にこのプラットフォーム3の製法の概要を示す。Si 基
板1の上面に幅wで、長さaの矩形状マスクパターン2
A1 〜2A3 を光軸方向の所要長Lに渡って一直線上に
配列し、各マスクパターン領域内を異方性エッチングに
よりエッチングする。但し、この異方性エッチングはフ
ェルール7と当接するための必要最小限の深さのV溝3
1 〜33 が得られれば良く、このためにエッチングの時
間(深さ)は短くて良い。そして、得られた各V溝31
〜33 の間を結合する様に機械的手段により光軸と垂直
の方向に凹溝91 ,92 を形成する。更に、載置された
フェルール7の円周面との干渉を避けるため、各V溝3
1 〜33 の床面を所要深さに渡って光軸の方向に切削す
る。
【0057】本第5の実施の形態によれば、V溝31 〜
33 の異方性エッチングの時間を短縮できるため、高精
度なV溝(特に斜面p,qの部分)が得られ、フェルー
ル7の実装精度が格段に向上する。この場合に、もし必
要なら、上記図1の場合と同様にして予め幅w1 ,深さ
d1 の凹溝3aを形成し、その後異方性エッチングによ
りV溝31 〜33 を形成しても良い。
33 の異方性エッチングの時間を短縮できるため、高精
度なV溝(特に斜面p,qの部分)が得られ、フェルー
ル7の実装精度が格段に向上する。この場合に、もし必
要なら、上記図1の場合と同様にして予め幅w1 ,深さ
d1 の凹溝3aを形成し、その後異方性エッチングによ
りV溝31 〜33 を形成しても良い。
【0058】図11は実施の形態によるエッチング装置
を説明する図である。上記の異方性エッチングは例えば
KOHの水溶液を満たした液槽30の中に複数のSi ウ
エハ10を垂直に挿入し、かつKOH液を攪拌する等し
て、各マスクパターン201 〜20n の部分が夫々同一
の条件(温度条件等)でエッチングされるように維持さ
れる。
を説明する図である。上記の異方性エッチングは例えば
KOHの水溶液を満たした液槽30の中に複数のSi ウ
エハ10を垂直に挿入し、かつKOH液を攪拌する等し
て、各マスクパターン201 〜20n の部分が夫々同一
の条件(温度条件等)でエッチングされるように維持さ
れる。
【0059】しかし、実際上は同一のエッチング条件を
維持することが極めて困難であり、比較的長時間のエッ
チングを行うと、液槽30の上部のマスクパターン20
1 により形成されるV溝と、下部のマスクパターン20
n により形成されるV溝との間で溝幅Wに顕著な相違が
生じてしまう。しかし、本発明によれば異方性エッチン
グの時間を短縮できるため、エッチング条件の相違に基
づく溝幅Wの相違も十分に抑制できる。
維持することが極めて困難であり、比較的長時間のエッ
チングを行うと、液槽30の上部のマスクパターン20
1 により形成されるV溝と、下部のマスクパターン20
n により形成されるV溝との間で溝幅Wに顕著な相違が
生じてしまう。しかし、本発明によれば異方性エッチン
グの時間を短縮できるため、エッチング条件の相違に基
づく溝幅Wの相違も十分に抑制できる。
【0060】図12〜図14は第6の実施の形態による
光結合構造を説明する図(1)〜(3)で、光素子や光
導波路を集積した光部品(PLC:Planar light-wave
Circuit)と光導波部品(フェルール)とを共通の支持基
板(V溝)上で高精度に光結合可能としたレセプタクル
型光伝送モジュールへの適用例を示している。図12は
光結合構造の組立概念図を示しており、図において、1
はSi よりなる共通の支持基板、2は支持基板表面のマ
スク(Si O2 膜)、3は支持基板1上に形成された共
通のプラットフォーム(V溝)、6は光ファイバ、7は
光ファイバ6を両端面で面一となるように収容している
フェルール(光導波部品)、8はSi 又はプラスチック
やセラミック等のモールド品からなる蓋部材、12はS
i よりなる光部品支持部材、12Aは支持部材12の中
央部光軸方向に形成されたV凸部、16はV凸部12A
の底面(図では上面)に設けられた光部品(PLC)、
13はスリーブ型の光コネクタ、14は光コネクタ13
に着脱自在に設けられた光アダプタ(レセプタクル)、
15は光アダプタ14に接続された光ケーブルである。
光結合構造を説明する図(1)〜(3)で、光素子や光
導波路を集積した光部品(PLC:Planar light-wave
Circuit)と光導波部品(フェルール)とを共通の支持基
板(V溝)上で高精度に光結合可能としたレセプタクル
型光伝送モジュールへの適用例を示している。図12は
光結合構造の組立概念図を示しており、図において、1
はSi よりなる共通の支持基板、2は支持基板表面のマ
スク(Si O2 膜)、3は支持基板1上に形成された共
通のプラットフォーム(V溝)、6は光ファイバ、7は
光ファイバ6を両端面で面一となるように収容している
フェルール(光導波部品)、8はSi 又はプラスチック
やセラミック等のモールド品からなる蓋部材、12はS
i よりなる光部品支持部材、12Aは支持部材12の中
央部光軸方向に形成されたV凸部、16はV凸部12A
の底面(図では上面)に設けられた光部品(PLC)、
13はスリーブ型の光コネクタ、14は光コネクタ13
に着脱自在に設けられた光アダプタ(レセプタクル)、
15は光アダプタ14に接続された光ケーブルである。
【0061】挿入図(a)にPLC16の概略平面図を
示す。一例のPLC16はSi ,Ga AS 又はIn P等
の結晶基板上に光導波路16A、フォトダイオード16
B、レーザダイオード16C、光波長フィルタ16D等
を集積した光集積回路からなっている。ここでは、LD
16Cからの射出ビームは光導波路端面16aより出射
し、また光導波路端面16aからの入射ビームはPD1
6Bの側に導かれる。
示す。一例のPLC16はSi ,Ga AS 又はIn P等
の結晶基板上に光導波路16A、フォトダイオード16
B、レーザダイオード16C、光波長フィルタ16D等
を集積した光集積回路からなっている。ここでは、LD
16Cからの射出ビームは光導波路端面16aより出射
し、また光導波路端面16aからの入射ビームはPD1
6Bの側に導かれる。
【0062】この光伝送モジュールの実装プロセスを概
説すると、予めV凸部12Aの下面の所定位置にPLC
16を接着剤により接着・固定する。この時、PLC1
6の水平方向(光軸)の位置合わせは光導波路端面16
aに対応して設けられたPLC16上のマーカ(不図
示)をV凸部12Aの表面のマーカM1に一致させるこ
とで行い、また光軸からの傾き方向の位置合わせは例え
ばPLC16の前面の両肩部をマーカM2,M3に一致
させることで行う。
説すると、予めV凸部12Aの下面の所定位置にPLC
16を接着剤により接着・固定する。この時、PLC1
6の水平方向(光軸)の位置合わせは光導波路端面16
aに対応して設けられたPLC16上のマーカ(不図
示)をV凸部12Aの表面のマーカM1に一致させるこ
とで行い、また光軸からの傾き方向の位置合わせは例え
ばPLC16の前面の両肩部をマーカM2,M3に一致
させることで行う。
【0063】次に支持部材12のV凸部12Aを下側に
して支持基板1のV溝3上に重ね合わせる。この時、支
持部材12はV凸部12Aの両斜面12a,12bとV
溝3の両斜面3a,3bとが夫々に密着する位置で支持
される。そして、支持部材12の両フランジ部と支持基
板1の上面との間に形成される隙間に接着剤18を注入
して両者を接着・固定する。
して支持基板1のV溝3上に重ね合わせる。この時、支
持部材12はV凸部12Aの両斜面12a,12bとV
溝3の両斜面3a,3bとが夫々に密着する位置で支持
される。そして、支持部材12の両フランジ部と支持基
板1の上面との間に形成される隙間に接着剤18を注入
して両者を接着・固定する。
【0064】次にフェルール7をV溝3上に搭載し、該
フェルールの前面7aを支持部材12の端面12cに突
き合わせることにより光軸方向の位置合わせを行う。こ
の時、光導波路端面16aとフェルール7(即ち、ファ
イバ6)との間の光軸と垂直方向の位置合わせはV凸部
12Aとフェルール7とを共通のV溝3上で突き合わせ
る構成により自動的に得られる。詳細は後述する。更
に、この状態でフェルール7の上から蓋部材8を被せ、
耐熱性エポキシ樹脂で固定する。またフェルールの前面
7aとPLC16との間の光結合部には透光性樹脂17
を充填する。
フェルールの前面7aを支持部材12の端面12cに突
き合わせることにより光軸方向の位置合わせを行う。こ
の時、光導波路端面16aとフェルール7(即ち、ファ
イバ6)との間の光軸と垂直方向の位置合わせはV凸部
12Aとフェルール7とを共通のV溝3上で突き合わせ
る構成により自動的に得られる。詳細は後述する。更
に、この状態でフェルール7の上から蓋部材8を被せ、
耐熱性エポキシ樹脂で固定する。またフェルールの前面
7aとPLC16との間の光結合部には透光性樹脂17
を充填する。
【0065】次にフェルール7の後端部7bより光コネ
クタ13の孔部13Aを嵌入し、光コネクタ13を支持
基板1及び蓋部材8の両端面に接着・固定する。こうし
て、光伝送モジュールの本体主要部が得られる。そし
て、この光コネクタ13の孔部13Aに光アダプタ14
のフェルール14Aを割りスリーブを付けて挿入するこ
とでファイバケーブル15との光結合が得られる。
クタ13の孔部13Aを嵌入し、光コネクタ13を支持
基板1及び蓋部材8の両端面に接着・固定する。こうし
て、光伝送モジュールの本体主要部が得られる。そし
て、この光コネクタ13の孔部13Aに光アダプタ14
のフェルール14Aを割りスリーブを付けて挿入するこ
とでファイバケーブル15との光結合が得られる。
【0066】かくして、本第6の実施の形態によれば、
光部品を搭載したV凸部12Aとファイバを突き出さな
いフェルール7とを共通のV溝(プラットフォーム)3
上で突き合わせる簡単な構造により、従来の光ファイバ
突出し型の光伝送モジュールが持っていた諸問題、即
ち、光ファイバの根元に応力が掛かることによる信頼性
の問題や、突き出した光ファイバの取り回しが困難であ
る製造上の問題を、全て回避できると共に、このような
光伝送モジュールの製作は容易かつ高精度・高信頼性で
行える。
光部品を搭載したV凸部12Aとファイバを突き出さな
いフェルール7とを共通のV溝(プラットフォーム)3
上で突き合わせる簡単な構造により、従来の光ファイバ
突出し型の光伝送モジュールが持っていた諸問題、即
ち、光ファイバの根元に応力が掛かることによる信頼性
の問題や、突き出した光ファイバの取り回しが困難であ
る製造上の問題を、全て回避できると共に、このような
光伝送モジュールの製作は容易かつ高精度・高信頼性で
行える。
【0067】以下、細部の構造を説明する。図13
(A)は光結合構造の側面図を示している。支持部材1
2の前面12cにフェルール7の前面7aを突き当てる
ことで光軸(Y軸)方向の位置合わせを行う。この場合
に、PLC16の前面はV凸部の前面12cよりも少し
(通常は30μm程度)後ろ側に設けられおり、よって
PLC16の前面がフェルール(即ち、ファイバ)の前
面7aと直接に突き当たることは無い。これによりPL
C16の前面が保護される。また、これによりできた隙
間にはファイバ6のコア部と略同じ屈折率を有するよう
な透光性樹脂17を充填し、これにより光結合部におけ
る光の反射や漏れ出し(損失)を有効に防止できる。
(A)は光結合構造の側面図を示している。支持部材1
2の前面12cにフェルール7の前面7aを突き当てる
ことで光軸(Y軸)方向の位置合わせを行う。この場合
に、PLC16の前面はV凸部の前面12cよりも少し
(通常は30μm程度)後ろ側に設けられおり、よって
PLC16の前面がフェルール(即ち、ファイバ)の前
面7aと直接に突き当たることは無い。これによりPL
C16の前面が保護される。また、これによりできた隙
間にはファイバ6のコア部と略同じ屈折率を有するよう
な透光性樹脂17を充填し、これにより光結合部におけ
る光の反射や漏れ出し(損失)を有効に防止できる。
【0068】図13(B)は図13(A)のa−a断面
図(1)を示している。支持基板1上のV溝3と、支持
部材12のV凸部12Aとは共にSi 基板のKOH水溶
液による異方性エッチングにより作成されている。一例
のフェルール7の直径は2500μmであり、これを支
持するためのV溝3はフェルール7の高さの半分以上を
収容できるように設けられる。このようなV溝3は、深
溝となるため、一般にこれをエッチングプロセスだけで
製作するのは困難である。
図(1)を示している。支持基板1上のV溝3と、支持
部材12のV凸部12Aとは共にSi 基板のKOH水溶
液による異方性エッチングにより作成されている。一例
のフェルール7の直径は2500μmであり、これを支
持するためのV溝3はフェルール7の高さの半分以上を
収容できるように設けられる。このようなV溝3は、深
溝となるため、一般にこれをエッチングプロセスだけで
製作するのは困難である。
【0069】そこで、ここでは例えば上記図6の第3の
実施の形態で述べた如く、ダイシングソーにより予め表
面の粗いV溝3を製作した後に、異方性エッチングプロ
セスによって斜面3a,3bを平滑化するという手法を
用いる。こうして得られたV溝3の開口幅W1は例えば
3516μmであり、斜面3a,3bの傾きは正確に5
4.7°である。
実施の形態で述べた如く、ダイシングソーにより予め表
面の粗いV溝3を製作した後に、異方性エッチングプロ
セスによって斜面3a,3bを平滑化するという手法を
用いる。こうして得られたV溝3の開口幅W1は例えば
3516μmであり、斜面3a,3bの傾きは正確に5
4.7°である。
【0070】一方、支持部材12のV凸部12Aは、そ
の凸部底面の幅W2が3092μm(<W1)であり、
その高さH2は330μmと低くなっている。従って、
このようなV凸部12Aはエッチングプロセスだけで高
精度に製作することが可能であり、例えば図14に示す
如く、Si ウェーハ10のマスクパターン2以外の部分
を、深さ330μm(V凸部12Aの高さH2に相当)
まで異方性エッチングすると共に、得られたV溝の底面
中央部(点線部)をダイシングソー等により分割する。
こうして、各支持部材12が多数取りされる。
の凸部底面の幅W2が3092μm(<W1)であり、
その高さH2は330μmと低くなっている。従って、
このようなV凸部12Aはエッチングプロセスだけで高
精度に製作することが可能であり、例えば図14に示す
如く、Si ウェーハ10のマスクパターン2以外の部分
を、深さ330μm(V凸部12Aの高さH2に相当)
まで異方性エッチングすると共に、得られたV溝の底面
中央部(点線部)をダイシングソー等により分割する。
こうして、各支持部材12が多数取りされる。
【0071】その際には、上記浅溝(比較的短時間)の
異方性エッチングにより、V凸部12Aの幅W2を正確
に維持することが可能である。勿論、斜面12a,12
bの傾きは正確に54.7°である。図13(B)に戻
り、支持基板1のV溝3に支持部材12のV凸部12A
を重ね合わせると、これらの斜面3a,3bと斜面12
a,12bは常に溝幅W2の所を境にして互いに密着す
ることになる。
異方性エッチングにより、V凸部12Aの幅W2を正確
に維持することが可能である。勿論、斜面12a,12
bの傾きは正確に54.7°である。図13(B)に戻
り、支持基板1のV溝3に支持部材12のV凸部12A
を重ね合わせると、これらの斜面3a,3bと斜面12
a,12bは常に溝幅W2の所を境にして互いに密着す
ることになる。
【0072】この状態で、PLC16はV凸部12Aの
底面中央部に設けられており、該PLC16の中央部に
は光導波路端面16aが位置している。即ち、光導波路
端面16aは常にV凸部12Aの底幅W2の中心位置か
ら所定長だけ真下の位置にある。なお、このV凸部12
Aの底面には予めダイシングにより例えば幅500μ
m、深さ20μmの2つの接着用溝12Bが製作されて
おり、該溝12Bに注入した接着剤で両者を密着させる
ことにより、接着剤の染み出しを防止し、PLC16の
V凸部12Aの底面に対する高さ(Z軸)方向の精度が
維持されている。
底面中央部に設けられており、該PLC16の中央部に
は光導波路端面16aが位置している。即ち、光導波路
端面16aは常にV凸部12Aの底幅W2の中心位置か
ら所定長だけ真下の位置にある。なお、このV凸部12
Aの底面には予めダイシングにより例えば幅500μ
m、深さ20μmの2つの接着用溝12Bが製作されて
おり、該溝12Bに注入した接着剤で両者を密着させる
ことにより、接着剤の染み出しを防止し、PLC16の
V凸部12Aの底面に対する高さ(Z軸)方向の精度が
維持されている。
【0073】更に、この状態で共通のV溝3にフェルー
ル7を搭載すると、該フェルール7はその外周面と斜面
3a,3bとの作用によりX,Z軸方向に位置合わせさ
れる。即ち、フェルール7のX軸方向の中心は、上記両
斜面3a,3bの傾きが正確であるために、常にV凸部
12Aの底幅W2の中心の位置にある。またフェルール
7のZ軸方向の中心は、常に底幅W2の中心位置から前
記所定長だけ真下の位置にあるようにフェルール7の直
径を決定、維持できる。従って、V溝3にフェルール7
を搭載すだけで、フェルール中心の光ファイバ6とPL
C16の光導波路端面16aとが正確に位置合わせされ
る。
ル7を搭載すると、該フェルール7はその外周面と斜面
3a,3bとの作用によりX,Z軸方向に位置合わせさ
れる。即ち、フェルール7のX軸方向の中心は、上記両
斜面3a,3bの傾きが正確であるために、常にV凸部
12Aの底幅W2の中心の位置にある。またフェルール
7のZ軸方向の中心は、常に底幅W2の中心位置から前
記所定長だけ真下の位置にあるようにフェルール7の直
径を決定、維持できる。従って、V溝3にフェルール7
を搭載すだけで、フェルール中心の光ファイバ6とPL
C16の光導波路端面16aとが正確に位置合わせされ
る。
【0074】かくして、本第6の実施の形態によれば、
支持部材12のV凸部12Aとフェルール7とを共通の
V溝3上で互いに突き合わせるだけで、X,Y軸方向の
高精度な位置合わせが自動的に得られる。またV凸部1
2Aの底幅W2を精密に維持(製作)するだけでZ軸方
向の高精度な位置合わせも自動的に得られる。この場合
に、V凸部12Aは浅溝の異方性エッチングにより比較
的端時間に形成できるため、その底幅W2を精密に維持
することが可能である。
支持部材12のV凸部12Aとフェルール7とを共通の
V溝3上で互いに突き合わせるだけで、X,Y軸方向の
高精度な位置合わせが自動的に得られる。またV凸部1
2Aの底幅W2を精密に維持(製作)するだけでZ軸方
向の高精度な位置合わせも自動的に得られる。この場合
に、V凸部12Aは浅溝の異方性エッチングにより比較
的端時間に形成できるため、その底幅W2を精密に維持
することが可能である。
【0075】しかも、この位置合わせの精度は、支持基
板1のV溝3の幅や深さの精度には依存しない。このこ
とを以下に説明する。図13(C)は図13(A)のa
−a断面図(2)を示している。例えばV溝3の異方性
エッチングによる深溝形成に長時間を要し、この期間に
X軸方向への異常エッチングが進み、V溝3の幅が斜面
3aの側に換算して規定値よりもΔWだけ増加したとす
る。但し、斜面3a,3bの角度は夫々正確に54.7
°である。
板1のV溝3の幅や深さの精度には依存しない。このこ
とを以下に説明する。図13(C)は図13(A)のa
−a断面図(2)を示している。例えばV溝3の異方性
エッチングによる深溝形成に長時間を要し、この期間に
X軸方向への異常エッチングが進み、V溝3の幅が斜面
3aの側に換算して規定値よりもΔWだけ増加したとす
る。但し、斜面3a,3bの角度は夫々正確に54.7
°である。
【0076】この状態では、図の点線で示す元の支持部
材12は、そのV凸部12Aの斜面12bがV溝3の斜
面3bの上を図の右下側にずれ落ちる結果、反対側の斜
面12aが反対側の斜面3aに当接するところで新たに
支持されることになる。これに伴いPLC16(即ち、
光導波路端面16a)も同じ量だけ図の右下側にずれ落
ちる。
材12は、そのV凸部12Aの斜面12bがV溝3の斜
面3bの上を図の右下側にずれ落ちる結果、反対側の斜
面12aが反対側の斜面3aに当接するところで新たに
支持されることになる。これに伴いPLC16(即ち、
光導波路端面16a)も同じ量だけ図の右下側にずれ落
ちる。
【0077】しかし、この場合でもV凸部12Aの底幅
W2が正確に維持されていれば、該底幅W2を基準とす
る斜面3a,3bとの相対的な位置関係は上記図13
(B)で述べたものと何ら変わるところは無い。即ち、
この場合でも新たなV溝3に搭載されたフェルール7の
中心は常に底幅W2の中央から前記所定長だけ真下の位
置にある。従って、この場合も光導波路端面16aと光
ファイバ6との間で正確な位置合わせが自動的に得られ
る。
W2が正確に維持されていれば、該底幅W2を基準とす
る斜面3a,3bとの相対的な位置関係は上記図13
(B)で述べたものと何ら変わるところは無い。即ち、
この場合でも新たなV溝3に搭載されたフェルール7の
中心は常に底幅W2の中央から前記所定長だけ真下の位
置にある。従って、この場合も光導波路端面16aと光
ファイバ6との間で正確な位置合わせが自動的に得られ
る。
【0078】なお、支持部材12がずれ落ちた分は該支
持部材12と支持基板1との間に注入する接着剤18の
量を減らすことで吸収できる。図15,図16は第7の
実施の形態による光結合構造を説明する図(1),
(2)で、支持部材12上に、上記PLC16に代え
て、LDやPD等の光素子11を搭載した場合を示して
いる。
持部材12と支持基板1との間に注入する接着剤18の
量を減らすことで吸収できる。図15,図16は第7の
実施の形態による光結合構造を説明する図(1),
(2)で、支持部材12上に、上記PLC16に代え
て、LDやPD等の光素子11を搭載した場合を示して
いる。
【0079】図15は光結合構造の組立概念図を示して
おり、図において、11はLDやPD等からなる光素子
である。他の構成は上記図12で述べたものと同様で良
い。但し、一般に光素子11の搭載エリヤはPLC16
の搭載エリヤに比べて小さくて良い。これに伴いV溝3
やV凸部12Aの幅、長さや深さ、及びフェルール7の
直径等の各サイズを小さくできる。
おり、図において、11はLDやPD等からなる光素子
である。他の構成は上記図12で述べたものと同様で良
い。但し、一般に光素子11の搭載エリヤはPLC16
の搭載エリヤに比べて小さくて良い。これに伴いV溝3
やV凸部12Aの幅、長さや深さ、及びフェルール7の
直径等の各サイズを小さくできる。
【0080】光伝送モジュールの実装プロセスにおい
て、V凸部12Aの下面への光素子11の実装は、例え
ばV凸部12Aの下面に形成された導体パターンへのハ
ンダ付けにより行う。ハンダ付けによる光素子11の高
さ(Z軸)方向の精度は、従来技術を使用しても、ハン
ダペーストの厚みと光素子ボンディング時の荷重や温度
等の条件を制御することで、±1μm以内の精度で制御
可能である。また光素子11の横方向のずれもマーカを
用いて位置合わせをすることにより±1μm以内に抑え
ることが出来る。
て、V凸部12Aの下面への光素子11の実装は、例え
ばV凸部12Aの下面に形成された導体パターンへのハ
ンダ付けにより行う。ハンダ付けによる光素子11の高
さ(Z軸)方向の精度は、従来技術を使用しても、ハン
ダペーストの厚みと光素子ボンディング時の荷重や温度
等の条件を制御することで、±1μm以内の精度で制御
可能である。また光素子11の横方向のずれもマーカを
用いて位置合わせをすることにより±1μm以内に抑え
ることが出来る。
【0081】図16(A)は光結合構造の側面図を示し
ている。支持部材12の前面12cにフェルール7の前
面7aを突き当てることで光軸(Y軸)方向の位置合わ
せを行う。また光素子11とファイバ6との間に形成さ
れる隙間には透光性樹脂17を充填する。図16(B)
は図16(A)のa−a断面図を示している。
ている。支持部材12の前面12cにフェルール7の前
面7aを突き当てることで光軸(Y軸)方向の位置合わ
せを行う。また光素子11とファイバ6との間に形成さ
れる隙間には透光性樹脂17を充填する。図16(B)
は図16(A)のa−a断面図を示している。
【0082】この例では光素子11が小さい分、V溝3
及びV凸部12Aの各サイズ及びフェルール7の直径等
を小さくできる。従って、V溝製造時間の短縮、位置合
わせ精度の一層の向上が得られる。図17は第8の実施
の形態による光結合構造を説明する図で、共通のV溝3
上に、上記光導波部品としてのフェルール7に代えて、
V溝3と相補的な傾きを有する凸状斜面を該V溝3上に
当接して支持されるように構成された光導波部品19を
搭載する場合を示している。
及びV凸部12Aの各サイズ及びフェルール7の直径等
を小さくできる。従って、V溝製造時間の短縮、位置合
わせ精度の一層の向上が得られる。図17は第8の実施
の形態による光結合構造を説明する図で、共通のV溝3
上に、上記光導波部品としてのフェルール7に代えて、
V溝3と相補的な傾きを有する凸状斜面を該V溝3上に
当接して支持されるように構成された光導波部品19を
搭載する場合を示している。
【0083】図において、19はSi 結晶を基に形成さ
れた光導波部品、19Aは光導波部品19の中央部光軸
方向に形成されたV凸部、19BはV凸部19Aの光軸
方向に形成された光導波路である。図17(A)は光結
合構造の側面図を示している。光部品支持部材12の前
面12cに光導波部品19の前面19cを突き当てるこ
とで光軸(Y軸)方向の位置合わせを行う。また光素子
11と光導波路19Bとの間に形成される隙間には透光
性樹脂17を充填する。
れた光導波部品、19Aは光導波部品19の中央部光軸
方向に形成されたV凸部、19BはV凸部19Aの光軸
方向に形成された光導波路である。図17(A)は光結
合構造の側面図を示している。光部品支持部材12の前
面12cに光導波部品19の前面19cを突き当てるこ
とで光軸(Y軸)方向の位置合わせを行う。また光素子
11と光導波路19Bとの間に形成される隙間には透光
性樹脂17を充填する。
【0084】図17(B)は図17(A)のa−a断面
図を示している。光導波部品19(図の点線で示す)
は、上記光部品支持部材12と同様に、V凸部19Aの
斜面19a,19bをV溝3の斜面3a,3bに夫々当
接することにより、支持及びX,Z軸方向に位置合わせ
される。従って、この光導波部品19についても、V凸
部19Aの底幅(図ではV凸部12Aの底幅と同一に描
かれているが、これに限らない)を正確に維持すること
で、常に光素子11との正確な光軸合わせ状態が得られ
る。因みに、この例ではV凸部19Aの高さが低いの
で、V凸部19Aの底幅を正確に維持できる。
図を示している。光導波部品19(図の点線で示す)
は、上記光部品支持部材12と同様に、V凸部19Aの
斜面19a,19bをV溝3の斜面3a,3bに夫々当
接することにより、支持及びX,Z軸方向に位置合わせ
される。従って、この光導波部品19についても、V凸
部19Aの底幅(図ではV凸部12Aの底幅と同一に描
かれているが、これに限らない)を正確に維持すること
で、常に光素子11との正確な光軸合わせ状態が得られ
る。因みに、この例ではV凸部19Aの高さが低いの
で、V凸部19Aの底幅を正確に維持できる。
【0085】なお、上記第1〜第5の各実施の形態では
プラットフォーム3に比較的大径の細径フェルール7を
搭載する場合を述べたが、本発明(1)〜(6)は比較
的小径の光ファイバ6を搭載する場合に適用しても効果
がある。また、上記第6〜第8の各実施の形態ではV凸
部12Aの底面にPLC16又は光素子11からなる光
部品を別部品として付加・固定する構成としたが、これ
に限らない。例えば結晶基板からなるV凸部12Aに対
してプレナー技術等によりPLC16又は光素子11を
直接に作り込んでも良い。こうすれば部品数や接着/ハ
ンダ付けの工程を削減できると共に、PLC16又は光
素子11の実装精度が大幅に向上する。
プラットフォーム3に比較的大径の細径フェルール7を
搭載する場合を述べたが、本発明(1)〜(6)は比較
的小径の光ファイバ6を搭載する場合に適用しても効果
がある。また、上記第6〜第8の各実施の形態ではV凸
部12Aの底面にPLC16又は光素子11からなる光
部品を別部品として付加・固定する構成としたが、これ
に限らない。例えば結晶基板からなるV凸部12Aに対
してプレナー技術等によりPLC16又は光素子11を
直接に作り込んでも良い。こうすれば部品数や接着/ハ
ンダ付けの工程を削減できると共に、PLC16又は光
素子11の実装精度が大幅に向上する。
【0086】また、上記第6〜第8の各実施の形態では
共通のV溝3上で光部品と光導波部品との2つを位置合
わせする場合を述べたが、任意の3つ以上の位置合わせ
を行っても良いことは明らかである。また、上記各実施
の形態ではプラットフォーム3を構成する基板1がSi
結晶の場合を述べたが、Si 結晶以外でも、適当なエッ
チング速度の異方性を有する各種の結晶性物質(Ga A
s 、In P等)を用いることが可能である。またそのエ
ッチング液も結晶に応じて公知の様々なものを選択でき
る。
共通のV溝3上で光部品と光導波部品との2つを位置合
わせする場合を述べたが、任意の3つ以上の位置合わせ
を行っても良いことは明らかである。また、上記各実施
の形態ではプラットフォーム3を構成する基板1がSi
結晶の場合を述べたが、Si 結晶以外でも、適当なエッ
チング速度の異方性を有する各種の結晶性物質(Ga A
s 、In P等)を用いることが可能である。またそのエ
ッチング液も結晶に応じて公知の様々なものを選択でき
る。
【0087】また、上記本発明に好適なる複数の実施の
形態を述べたが、本発明思想を逸脱しない範囲内で各部
の構成、製法、及びこれらの組合せの様々な変更が行え
ることは言うまでも無い。
形態を述べたが、本発明思想を逸脱しない範囲内で各部
の構成、製法、及びこれらの組合せの様々な変更が行え
ることは言うまでも無い。
【0088】
【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、フェル
ール等の比較的大型の光導波部品搭載用の溝加工を簡易
で短時間に、かつ高精度で形成可能となり、この種の光
伝送モジュールの低価格化、量産性の向上に寄与すると
ころが極めて大きい。また、従来困難であったようなフ
ェルールと光部品との直接的な光結合を容易かつ精度よ
く行うことが可能となり、レセプタクル型光伝送モジュ
ールの高品質化、低損失化に寄与するところが極めて大
きい。
ール等の比較的大型の光導波部品搭載用の溝加工を簡易
で短時間に、かつ高精度で形成可能となり、この種の光
伝送モジュールの低価格化、量産性の向上に寄与すると
ころが極めて大きい。また、従来困難であったようなフ
ェルールと光部品との直接的な光結合を容易かつ精度よ
く行うことが可能となり、レセプタクル型光伝送モジュ
ールの高品質化、低損失化に寄与するところが極めて大
きい。
【図1】第1の実施の形態による光結合構造を説明する
図である。
図である。
【図2】第1の実施の形態による光結合構造の製法を説
明する図である。
明する図である。
【図3】第1の実施の形態によるエッチング工程を説明
する図である。
する図である。
【図4】第2の実施の形態による光結合構造を説明する
図である。
図である。
【図5】第3の実施の形態による光結合構造を説明する
図である。
図である。
【図6】第3の実施の形態による光結合構造の製法を説
明する図である。
明する図である。
【図7】第4の実施の形態による光結合構造を説明する
図である。
図である。
【図8】第4の実施の形態による光結合構造の製法を説
明する図(1)である。
明する図(1)である。
【図9】第4の実施の形態による光結合構造の製法を説
明する図(2)である。
明する図(2)である。
【図10】第5の実施の形態による光結合構造を説明す
る図である。
る図である。
【図11】実施の形態によるエッチング装置を説明する
図である。
図である。
【図12】第6の実施の形態による光結合構造を説明す
る図(1)である。
る図(1)である。
【図13】第6の実施の形態による光結合構造を説明す
る図(2)である。
る図(2)である。
【図14】第6の実施の形態による光結合構造を説明す
る図(3)である。
る図(3)である。
【図15】第7の実施の形態による光結合構造を説明す
る図(1)である。
る図(1)である。
【図16】第7の実施の形態による光結合構造を説明す
る図(2)である。
る図(2)である。
【図17】第8の実施の形態による光結合構造を説明す
る図である。
る図である。
【図18】従来技術を説明する図(1)である。
【図19】従来技術を説明する図(2)である。
【図20】従来技術を説明する図(3)である。
1 基板 2 マスク 3 プラットフォーム(V溝) 4 クラッド層 5 コア層 6 光ファイバ 7 フェルール 8 蓋部材 9 凹溝 10 Si ウエハ 11 光素子 12 支持部材 12A V凸部 13 光コネクタ 14 光アダプタ 15 光ケーブル 16 光部品(PLC) 17 透光性樹脂 18 接着剤 19 光導波部品 20 マスクパターン 30 液槽
Claims (14)
- 【請求項1】 光素子又は光導波路を含む光部品に光フ
ァイバ又は該光ファイバを収容するフェルール等の光導
波部品を突き合わせ、これらの光軸を合わせるように前
記光導波部品を支持する光結合構造において、 前記光導波部品を支持すべく光軸方向に延びる溝部であ
って、機械的手段により切削された第1の溝の床面側に
結晶基板の異方性エッチングにより形成された断面V字
状又は台形状の第2の溝を備えることを特徴とする光結
合構造。 - 【請求項2】 第2の溝の床面側に機械的手段により切
削された第3の溝を備えることを特徴とする請求項1に
記載の光結合構造。 - 【請求項3】 光素子又は光導波路を含む光部品に光フ
ァイバ又は該光ファイバを収容するフェルール等の光導
波部品を突き合わせ、これらの光軸を合わせるように前
記光導波部品を支持する光結合構造において、 前記光導波部品を支持すべく光軸方向に延びる溝部であ
って、結晶基板の異方性エッチングにより形成された断
面V字状又は台形状の第1の溝の床面側に機械的手段に
より切削された第2の溝を備えることを特徴とする光結
合構造。 - 【請求項4】 光素子又は光導波路を含む光部品に光フ
ァイバ又は該光ファイバを収容するフェルール等の光導
波部品を突き合わせ、これらの光軸を合わせるように前
記光導波部品を支持する光結合構造において、 前記光導波部品を支持すべく光軸方向に延びる溝部であ
って、機械的手段により階段状に切削された凹溝の壁面
を結晶基板の異方性エッチングにより連続した斜面に形
成した断面V字状又は台形状の溝を備えることを特徴と
する光結合構造。 - 【請求項5】 光素子又は光導波路を含む光部品に光フ
ァイバ又は該光ファイバを収容するフェルール等の光導
波部品を突き合わせ、これらの光軸を合わせるように前
記光導波部品を支持する光結合構造において、 結晶基板の異方性エッチングにより該結晶基板上に複数
の独立した断面V字状又は台形状の第1の溝を所要長に
渡って一列に形成すると共に、前記第1の各溝の間を機
械的手段により列と直角方向に切削して前記光導波部品
を搭載可能に構成したことを特徴とする光結合構造。 - 【請求項6】 所要長に渡って一列に並ぶ複数の第1の
溝の上部及び又は下部側に機械的手段により列方向に切
削された第2及び又は第3の溝を更に備えることを特徴
とする請求項5に記載の光結合構造。 - 【請求項7】 光素子又は光導波路を含む光部品に光導
波部品を突き合わせ、これらの光軸を合わせるように支
持する光結合構造において、 共通の支持基板上に形成されたV溝上に、該V溝と相補
的な傾きを有する凸状斜面を前記V溝上に当接して支持
されるように構成された光部品と、光導波部品とを夫々
搭載し、前記光部品と光導波部品の各端面を突き合わせ
るように支持したことを特徴とする光結合構造。 - 【請求項8】 光部品は、凸状斜面の交差する側に断面
台形となるような支持平面を有する支持部材と、前記支
持平面上に支持固定された光素子及び又は光導波路を含
む光回路部品とを備えることを特徴とする請求項7に記
載の光結合構造。 - 【請求項9】 光回路部品は、半導体結晶基板からなる
支持部材上にデバイスプロセスにより一体的に作り込ま
れていることを特徴とする請求項8に記載の光結合構
造。 - 【請求項10】 光導波部品は、光ファイバを内蔵した
フェルールであることを特徴とする請求項7に記載の光
結合構造。 - 【請求項11】 光導波部品は、V溝と相補的な傾きを
有する凸状斜面を該V溝上に当接して支持されるように
構成されていることを特徴とする請求項7に記載の光結
合構造。 - 【請求項12】 光部品と光導波部品との間の光結合部
に透光性樹脂を充填したことを特徴とする請求項7に記
載の光結合構造。 - 【請求項13】 支持基板と、光部品と、光導波部品の
内の1つ以上が材料としてシリコンを用い、かつ斜面が
シリコンの異方性エッチングにより形成されていること
を特徴とする請求項7に記載の光結合構造。 - 【請求項14】 支持基板と、支持部材と、光導波部品
の内の1つ以上がモールド成形品により製作されている
ことを特徴とする請求項8に記載の光結合構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10104532A JPH1114860A (ja) | 1997-04-30 | 1998-04-15 | 光結合構造 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11294097 | 1997-04-30 | ||
| JP9-112940 | 1997-04-30 | ||
| JP10104532A JPH1114860A (ja) | 1997-04-30 | 1998-04-15 | 光結合構造 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1114860A true JPH1114860A (ja) | 1999-01-22 |
Family
ID=26444986
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10104532A Withdrawn JPH1114860A (ja) | 1997-04-30 | 1998-04-15 | 光結合構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1114860A (ja) |
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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