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JPH11121932A - Multilayer wiring board and multilayer printed wiring board - Google Patents

Multilayer wiring board and multilayer printed wiring board

Info

Publication number
JPH11121932A
JPH11121932A JP9303694A JP30369497A JPH11121932A JP H11121932 A JPH11121932 A JP H11121932A JP 9303694 A JP9303694 A JP 9303694A JP 30369497 A JP30369497 A JP 30369497A JP H11121932 A JPH11121932 A JP H11121932A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
wiring board
printed wiring
multilayer printed
conductor circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9303694A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoji Mori
要二 森
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP9303694A priority Critical patent/JPH11121932A/en
Priority to CN200610100699.4A priority patent/CN101013685B/en
Priority to CNB2006101018385A priority patent/CN100431144C/en
Priority to US09/529,597 priority patent/US6392898B1/en
Priority to EP07122502A priority patent/EP1895586A3/en
Priority to CNB2004100456190A priority patent/CN100426491C/en
Priority to CN200610094490.1A priority patent/CN1909226B/en
Priority to CN200610101861.4A priority patent/CN1901180A/en
Priority to EP07122506A priority patent/EP1895589A3/en
Priority to CNB988102153A priority patent/CN1161838C/en
Priority to EP07122509A priority patent/EP1895587A3/en
Priority to EP98944278A priority patent/EP1030365A4/en
Priority to KR1020007004062A priority patent/KR100691296B1/en
Priority to PCT/JP1998/004350 priority patent/WO1999021224A1/en
Priority to CN200710085293.8A priority patent/CN100547780C/en
Priority to US10/850,584 priority patent/USRE41242E1/en
Priority to CN200610101902XA priority patent/CN1971899B/en
Priority to TW087117123A priority patent/TW398162B/en
Priority to MYPI98004731A priority patent/MY128327A/en
Publication of JPH11121932A publication Critical patent/JPH11121932A/en
Priority to US09/905,974 priority patent/US6411519B2/en
Priority to US09/905,973 priority patent/US6490170B2/en
Priority to US09/906,078 priority patent/US6487088B2/en
Priority to US09/906,076 priority patent/US20010054513A1/en
Priority to US10/876,287 priority patent/USRE41051E1/en
Pending legal-status Critical Current

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    • H10W74/15
    • H10W90/724
    • H10W90/734

Landscapes

  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ノイズからの影響を受け難い多層配線板及び
多層プリント配線板を提供する。 【解決手段】 最外層の導体回路158U、158Dを
支持する層間樹脂絶縁層150の下側に配設される導体
回路58U、58Dを電源層、グランド層とし、該導体
回路58U、58Dにバイアホール160U、160D
を直接接続し、該バイアホールに半田バンプ76U、7
6Dを形成してあるので、電源層或いはグランド層と半
田バンプとを接続する配線が無くなる。このため、配線
に重畳するノイズによる影響を受けなくなり、集積回路
−マザーボード間の信号等の受け渡し、及び、マザーボ
ード側からの電源供給を中継する際におけるノイズの影
響を低減することができる。
(57) [Problem] To provide a multilayer wiring board and a multilayer printed wiring board which are hardly affected by noise. SOLUTION: Conductor circuits (58U, 58D) disposed below an interlayer resin insulating layer (150) supporting outermost conductor circuits (158U, 158D) are used as a power supply layer and a ground layer, and via holes are formed in the conductor circuits (58U, 58D). 160U, 160D
Are directly connected, and solder bumps 76U, 7U are provided in the via holes.
Since the 6D is formed, there is no wiring for connecting the power supply layer or the ground layer and the solder bump. Therefore, the influence of noise superimposed on the wiring is eliminated, and the influence of noise when transferring signals and the like between the integrated circuit and the motherboard and relaying power supply from the motherboard can be reduced.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、層間絶縁層を介
して上層の導体回路と下層の導体回路とを絶縁し、該上
層の導体回路と下層の導体回路とをバイアホールを介し
て接続する多層配線及び多層プリント配線板に関するも
のである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention insulates an upper conductive circuit from a lower conductive circuit via an interlayer insulating layer, and connects the upper conductive circuit and the lower conductive circuit via via holes. The present invention relates to a multilayer wiring and a multilayer printed wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】複数層の導体回路をそれぞれ絶縁層にて
絶縁して成る多層配線板において、1層分の導体回路を
グランド層、或いは、電源層として用いることが、ノイ
ズの低減等の目的で行われている。従来技術に係る多層
配線板では、該グランド層(或いは電源層)から外部端
子への接続は、配線を介して行っていた。
2. Description of the Related Art In a multilayer wiring board in which a plurality of layers of conductive circuits are insulated by insulating layers, the use of one conductive circuit as a ground layer or a power supply layer is intended to reduce noise and the like. It is done in. In the multilayer wiring board according to the related art, the connection from the ground layer (or the power supply layer) to the external terminal is performed via the wiring.

【0003】この従来技術の多層プリント配線板におけ
る該グランド層から外部端子へ接続について図24を参
照して説明する。基板430の上層には、グランド層と
なる配線434A、434B、434C(導体回路)が
形成されている。該配線434A、434B、434C
の上側には、層間樹脂絶縁層450を介在させて配線4
58A及び信号線458Bが形成されている。更に、該
配線458A及び信号線458Bの上側には、層間樹脂
絶縁層550を介在させて信号線558C、558Dが
形成されている。ここで、信号線458Cは、半田バン
プ576Cの形成されたバイアホール560Cと接続さ
れ、信号線458Bは、半田バンプ576Bの形成され
たバイアホール560Bと接続され、該半田バンプ57
6C、576Bを介して信号線458C、458Bは図
示しない集積回路チップに接続される。また、グランド
層を形成する配線434Aには、バイアホール460A
が接続され、配線458Aを介してバイアホール560
Aに接続されている。該バイアホール560Aに接続さ
れた半田バンプ576Aは、集積回路チップのグランド
側のバンプに接続される。
A connection from the ground layer to an external terminal in the conventional multilayer printed wiring board will be described with reference to FIG. In the upper layer of the substrate 430, wirings 434A, 434B, 434C (conductor circuits) serving as ground layers are formed. The wirings 434A, 434B, 434C
Above the wiring 4 with an interlayer resin insulating layer 450 interposed
58A and a signal line 458B are formed. Further, signal lines 558C and 558D are formed above the wiring 458A and the signal line 458B with an interlayer resin insulating layer 550 interposed. Here, the signal line 458C is connected to a via hole 560C in which a solder bump 576C is formed, and the signal line 458B is connected to a via hole 560B in which a solder bump 576B is formed.
The signal lines 458C and 458B are connected to an integrated circuit chip (not shown) via 6C and 576B. The wiring 434A forming the ground layer includes a via hole 460A.
Is connected to the via hole 560 via the wiring 458A.
A is connected. The solder bump 576A connected to the via hole 560A is connected to a bump on the ground side of the integrated circuit chip.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ここで、グランド層4
34Aと半田バンプ576Aとの接続を配線458Aを
介して行うため、該配線458Aにノイズが乗り易く、
該ノイズが集積チップ等の多層配線板に接続される電子
素子の誤動作の原因となっていた。また、該配線を多層
配線板内に引き回すためのスペースが必要となり、高密
度化を阻害していた。
Here, the ground layer 4
Since the connection between 34A and the solder bump 576A is made via the wiring 458A, noise easily gets on the wiring 458A,
The noise has caused a malfunction of an electronic element connected to a multilayer wiring board such as an integrated chip. In addition, a space for routing the wiring in the multilayer wiring board is required, which hinders high density.

【0005】本発明は、上述した課題を解決するために
なされたものであり、その目的とするところは、ノイズ
からの影響を受け難い多層配線板及び多層プリント配線
板を提供することにある。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a multilayer wiring board and a multilayer printed wiring board which are hardly affected by noise.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、上記
目的を達成するため、最外層の導体回路と、該最外層の
導体回路を支持する絶縁層と、該絶縁層の下側に設けら
れる内層導体回路と、を備える多層配線板であって、前
記内層導体回路は、電源層および/またはグランド層で
あり、前記絶縁層を貫通し、前記内層導体回路に接続さ
れたバイアホールに、半田バンプが形成されていること
を技術的特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, in order to achieve the above object, an outermost conductor circuit, an insulating layer for supporting the outermost conductor circuit, and an insulating layer below the insulating layer are provided. And an inner-layer conductor circuit provided, wherein the inner-layer conductor circuit is a power supply layer and / or a ground layer, penetrates the insulating layer, and is connected to a via hole connected to the inner-layer conductor circuit. It is a technical feature that solder bumps are formed.

【0007】また、請求項2の発明は、内層の第1導体
回路と、該第1内層導体回路上に形成された第1層間樹
脂絶縁層と、該第1層間樹脂絶縁層上に形成された内層
の第2導体回路と、該第2導体回路上に形成された第2
層間樹脂絶縁層と、該第2層間樹脂絶縁層上に形成され
た最外層の導体回路と、を備える多層プリント配線板で
あって、前記内層の第2導体回路は、電源層および/ま
たはグランド層であり、前記第2層間樹脂絶縁層を貫通
し、前記第2の導体回路に接続されたバイアホールに、
半田バンプが形成されていることを技術的特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a first conductive circuit of an inner layer, a first interlayer resin insulating layer formed on the first inner conductive circuit, and a first interlayer resin insulating layer formed on the first interlayer resin insulating layer. A second conductive circuit in the inner layer, and a second conductive circuit formed on the second conductive circuit.
A multilayer printed wiring board comprising an interlayer resin insulation layer and an outermost conductor circuit formed on the second interlayer resin insulation layer, wherein the inner second conductor circuit is a power supply layer and / or a ground. A via hole that penetrates through the second interlayer resin insulation layer and is connected to the second conductor circuit;
It is a technical feature that the solder bump is formed.

【0008】請求項1の多層配線板においては、最外層
の導体回路を支持する絶縁層の下層の内層導体回路を電
源層および/またはグランド層とし、該第2導体回路に
バイアホールを直接接続し、該バイアホールに半田バン
プを形成してあるので、電源層或いはグランド層と半田
バンプとを接続する配線が無くなる。このため、配線に
重畳するノイズによる影響を受けなくなる。
According to the first aspect of the present invention, the inner conductor circuit under the insulating layer supporting the outermost conductor circuit is used as a power supply layer and / or a ground layer, and a via hole is directly connected to the second conductor circuit. Since the solder bump is formed in the via hole, there is no wiring for connecting the power supply layer or the ground layer to the solder bump. For this reason, it is not affected by the noise superimposed on the wiring.

【0009】請求項2の多層プリント配線板において
は、最外層導体回路を支持する第2層間樹脂絶縁層の下
側に配設される第2導体回路を電源層および/またはグ
ランド層とし、該第2導体回路にバイアホールを直接接
続し、該バイアホールに半田バンプを形成してあるの
で、電源層或いはグランド層と半田バンプとを接続する
配線が無くなる。このため、配線に重畳するノイズによ
る影響を受けなくなる。
In the multilayer printed wiring board according to the present invention, the second conductor circuit provided below the second interlayer resin insulation layer supporting the outermost conductor circuit is a power supply layer and / or a ground layer. Since the via hole is directly connected to the second conductor circuit and the solder bump is formed in the via hole, there is no wiring for connecting the power supply layer or the ground layer to the solder bump. For this reason, it is not affected by the noise superimposed on the wiring.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】本発明の第1実施形態に係る多層
プリント配線板の構成について図22を参照して説明す
る。図22に断面を示す第1実施形態の多層プリント配
線板は、上面に集積回路(図示せず)を載置した状態
で、マザーボード(図示せず)に取り付けるためのいわ
ゆる集積回路パッケージを構成するものである。該多層
プリント配線板は、上面に集積回路のバンプ側に接続す
るための半田バンプ76Uが設けられ、下面側にマザー
ボードのバンプに接続するための半田バンプ76Dが配
設され、該集積回路−マザーボード間の信号等の受け渡
し、及び、マザーボード側からの電源供給を中継する役
割を果たす。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The structure of a multilayer printed wiring board according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. The multilayer printed wiring board according to the first embodiment whose cross section is shown in FIG. 22 constitutes a so-called integrated circuit package for mounting on a motherboard (not shown) with an integrated circuit (not shown) mounted on the upper surface. Things. The multilayer printed wiring board is provided with solder bumps (76U) on the upper surface for connection to the bump side of the integrated circuit, and solder bumps (76D) for connection to the bumps on the motherboard on the lower surface side. It plays a role of transferring signals and the like and relaying power supply from the motherboard.

【0011】多層プリント配線板のコア基板30の上面
には、信号線となる内層銅パターン34Uが、下面には
信号線となる内層銅パターン34D形成されている。ま
た、内層銅パターン34Uの上層には、層間樹脂絶縁層
50を介在させて電源層を形成する導体回路58Uが形
成されている。導体回路58Uの上層には、層間樹脂絶
縁層150を介して最外層の導体回路158U及び該層
間樹脂絶縁層150を貫通するバイアホール160Uが
形成され、該バイアホール160Uには半田バンプ76
Uが形成されている。即ち、本実施形態では、電源層を
形成する導体回路58Uに取り付けられたバイアホール
160Uに半田バンプ76Uが形成され、外部のバンプ
(図示せず)へ直接該電源層を接続できるように構成さ
れている。
An inner copper pattern 34U serving as a signal line is formed on the upper surface of the core substrate 30 of the multilayer printed wiring board, and an inner copper pattern 34D serving as a signal line is formed on the lower surface. A conductor circuit 58U for forming a power supply layer is formed above the inner layer copper pattern 34U with the interlayer resin insulating layer 50 interposed therebetween. In the upper layer of the conductor circuit 58U, a via hole 160U penetrating the outermost conductor circuit 158U and the interlayer resin insulation layer 150 via the interlayer resin insulation layer 150 is formed.
U is formed. That is, in the present embodiment, the solder bump 76U is formed in the via hole 160U attached to the conductor circuit 58U forming the power supply layer, and the power supply layer can be directly connected to an external bump (not shown). ing.

【0012】一方、コア基板30の下面側の信号線(内
層銅パターン)34Dの上層(ここで、上層とは基板3
0を中心として上面については上側を、基板の下面につ
いては下側を意味する)には、層間樹脂絶縁層50を介
してグランド層となる導体回路58Dが形成されてい
る。該導体回路58Dの上層には、層間樹脂絶縁層15
0を介して最外層の導体回路158D及び該層間樹脂絶
縁層150を貫通するバイアホール160Dが形成さ
れ、該バイアホール160Dには半田バンプ76Dが形
成されている。即ち、本実施形態では、グランド層を形
成する導体回路58Dに取り付けられたバイアホール1
60Dに半田バンプ76Dが形成され、外部のバンプ
(図示せず)へ直接該グランド層を接続できるように構
成されている。
On the other hand, the upper layer of the signal line (inner copper pattern) 34D on the lower surface side of the core substrate 30 (here, the upper layer is
A conductor circuit 58 </ b> D which becomes a ground layer via an interlayer resin insulating layer 50 is formed on the upper surface with respect to 0 as the upper surface and the lower surface with respect to the lower surface of the substrate. On the upper layer of the conductor circuit 58D, an interlayer resin insulating layer 15 is provided.
A via hole 160D penetrating through the outermost conductor circuit 158D and the interlayer resin insulating layer 150 through the through hole 0 is formed with a solder bump 76D in the via hole 160D. That is, in the present embodiment, the via hole 1 attached to the conductor circuit 58D forming the ground layer is used.
A solder bump 76D is formed on 60D so that the ground layer can be directly connected to an external bump (not shown).

【0013】本実施形態の構成では、最外層の導体回路
158U、158Dを支持する層間樹脂絶縁層150の
下側に配設される導体回路58U、58Dを電源層、グ
ランド層とし、該導体回路58U、58Dにバイアホー
ル160U、160Dを直接接続し、該バイアホールに
半田バンプ76U、76Dを形成してあるので、電源層
或いはグランド層と半田バンプとを接続する配線が無く
なる。このため、配線に重畳するノイズによる影響を受
けなくなり、集積回路−マザーボード間の信号等の受け
渡し、及び、マザーボード側からの電源供給を中継する
際におけるノイズの影響を低減することができる。ま
た、配線がない分、多層プリント配線板の高密度化を図
れる。なお、本実施形態の多層プリント配線板において
は、導体回路58Uを電源層に、導体回路58Dをグラ
ンド層にそれぞれしたが、導体回路58U又は導体回路
58Dは、同一層内に電源層として機能する導体回路
と、グランド層として機能する導体回路とを併設して形
成してもよい。
In the structure of the present embodiment, the conductor circuits 58U and 58D disposed below the interlayer resin insulation layer 150 supporting the outermost conductor circuits 158U and 158D are used as a power supply layer and a ground layer, respectively. Since the via holes 160U and 160D are directly connected to the 58U and 58D, and the solder bumps 76U and 76D are formed in the via holes, there is no wiring for connecting the power supply layer or the ground layer and the solder bumps. Therefore, the influence of noise superimposed on the wiring is eliminated, and the influence of noise when transferring signals and the like between the integrated circuit and the motherboard and relaying power supply from the motherboard can be reduced. Further, since there is no wiring, the density of the multilayer printed wiring board can be increased. In the multilayer printed wiring board of the present embodiment, the conductor circuit 58U is used as a power supply layer and the conductor circuit 58D is used as a ground layer. However, the conductor circuit 58U or the conductor circuit 58D functions as a power supply layer in the same layer. A conductor circuit and a conductor circuit functioning as a ground layer may be provided side by side.

【0014】引き続き、図22に示す多層プリント配線
板の製造工程について図1〜図22を参照して説明す
る。 (1)厚さ1mmのガラスエポキシ樹脂またはBT(ビ
スマレイミドトリアジン)樹脂からなるコア基板30の
両面に18μmの銅箔32がラミネートされている銅張
積層板30Aを出発材料とする(図1参照)。まず、こ
の銅張積層板30Aをドリル削孔し、無電解めっき処理
を施し、パターン状にエッチングすることにより、基板
30の両面に内層銅パターン34U、34Dとスルーホ
ール36を形成する(図2参照)。
Next, the manufacturing process of the multilayer printed wiring board shown in FIG. 22 will be described with reference to FIGS. (1) The starting material is a copper-clad laminate 30A in which 18 μm copper foils 32 are laminated on both sides of a core substrate 30 made of glass epoxy resin or BT (bismaleimide triazine) resin having a thickness of 1 mm (see FIG. 1). ). First, the copper-clad laminate 30A is drilled, subjected to an electroless plating process, and etched in a pattern to form inner layer copper patterns 34U and 34D and through holes 36 on both surfaces of the substrate 30 (FIG. 2). reference).

【0015】(2)さらに、内層銅パターン34U、3
4Dおよびスルーホール36を形成した基板30を、水
洗いして乾燥した後、酸化一還元処理し、内層銅パター
ン34U、34Dおよびスルーホール36の表面に粗化
層38を設ける(図3参照)。
(2) The inner copper patterns 34U, 3U
The substrate 30 having the 4D and the through-hole 36 formed thereon is washed with water and dried, and then subjected to an oxidation-reduction treatment to provide a roughened layer 38 on the surfaces of the inner copper patterns 34U and 34D and the through-hole 36 (see FIG. 3).

【0016】(3)一方、基板表面を平滑化するための
樹脂充填剤を調整する。ここでは、ビスフェノールF型
エポキシモノマー(油化シェル製、分子量310、YL
983U)100重量部、イミダゾール硬化剤(四国化
成製、2E4MZ−CN)6重量部を混合し、これらの
混合物に対し、表面にシランカップリング剤がコーティ
ングされた平均粒径1.6μmのSiO2 球状粒子(ア
ドマテック製、CRS1101−CE、ここで、最大粒
子の大きさは後述する内層銅パターンの厚み(15μ
m)以下とする)170重量部、消泡剤(サンノプコ
製、ペレノールS4)0.5重量部を混合し、3本ロー
ルにて混練することにより、その混合物の粘度を23±
1℃で45,000〜49,000cpsに調整して、
樹脂充填剤を得る。この樹脂充填剤は無溶剤である。も
し溶剤入りの樹脂充填剤を用いると、後工程において層
間剤を塗布して加熱・乾燥させる際に、樹脂充填剤の層
から溶剤が揮発して、樹脂充填剤の層と層間材との間で
剥離が発生するからである。
(3) On the other hand, a resin filler for smoothing the substrate surface is adjusted. Here, bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell, molecular weight 310, YL)
983U) 100 parts by weight of imidazole curing agent (made by Shikoku Kasei Co., 2E4MZ-CN) 6 parts by weight of 1, for these mixtures, SiO having an average particle size of 1.6μm silane coupling agent to the surface-coated 2 Spherical particles (manufactured by Admatech, CRS1101-CE, where the maximum particle size is the thickness of the inner layer copper pattern described later (15 μm).
m) or less) 170 parts by weight, and 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (manufactured by San Nopco, Perenol S4), and kneading with a three-roll mill to reduce the viscosity of the mixture to 23 ±
Adjust to 45,000-49,000 cps at 1 ° C,
Obtain resin filler. This resin filler is solventless. If a resin filler containing a solvent is used, the solvent is volatilized from the resin filler layer when the interlayer agent is applied, heated and dried in a later step, so that a gap between the resin filler layer and the interlayer material is generated. This causes peeling.

【0017】(4)上記(3)で得た樹脂充填剤40
を、基板30の両面にロールコータを用いて塗布するこ
とにより、上面の導体回路(内層銅パターン)34U間
あるいはスルーホール36内に充填し、70℃,20分
間で乾燥させ、下面についても同様にして樹脂充填剤4
0を導体回路34D間あるいはスルーホール36内に充
填し、70℃,20分間で乾燥させる(図4参照)。
(4) The resin filler 40 obtained in the above (3)
Is applied to both surfaces of the substrate 30 using a roll coater to fill the space between the conductor circuits (inner copper patterns) 34U on the upper surface or in the through holes 36, and is dried at 70 ° C. for 20 minutes. And resin filler 4
0 is filled between the conductor circuits 34D or in the through holes 36 and dried at 70 ° C. for 20 minutes (see FIG. 4).

【0018】(5)上記(4)の処理を終えた基板30
の片面を、♯600のベルト研磨紙(三共理化学製)を
用いたベルトサンダー研磨により、内層銅パターン34
U、34Dの表面やスルーホール36のランド表面に樹
脂充填剤40が残らないように研磨し、次いで、上記ベ
ルトサンダー研磨による傷を取り除くためのバフ研磨を
行う(図5参照)。次いで、100℃で1時間、120
℃で3時間、150℃で1時間、180℃で7時間の加
熱処理を行って樹脂充填剤40を硬化させる。
(5) The substrate 30 after the processing of the above (4)
Of the inner layer copper pattern 34 by belt sander polishing using # 600 belt polishing paper (manufactured by Sankyo Rikagaku).
Polishing is performed so that the resin filler 40 does not remain on the surfaces of the U and 34D and the land surface of the through hole 36, and then buffing is performed to remove the scratches caused by the belt sander polishing (see FIG. 5). Then, at 100 ° C. for 1 hour, 120
The resin filler 40 is cured by performing a heat treatment at a temperature of 3 hours at 150 ° C. for 1 hour and at 180 ° C. for 7 hours.

【0019】このようにして、スルーホール36等に充
填された樹脂充填剤40の表層部および導体回路34
U、34D上面の粗化層38を除去して基板両面を平滑
化し、樹脂充填剤40と導体回路34U、34Dの側面
とが粗化層38を介して強固に密着し、またスルーホー
ル36の内壁面と樹脂充填剤40とが粗化層38を介し
て強固に密着した配線基板を得る。即ち、この工程によ
り、掛脂充填剤40の表面と内層銅パターン34U、3
4Dの表面とを同一平面にする。ここで、充填した硬化
樹脂のTg点は155.6℃、線熱膨張係数は44.5
×10-6/℃であった。
The surface layer of the resin filler 40 filled in the through holes 36 and the like and the conductor circuit 34
The roughened layer 38 on the upper surfaces of the U and 34D is removed to smooth both surfaces of the substrate, and the resin filler 40 and the side surfaces of the conductor circuits 34U and 34D are firmly adhered to each other through the roughened layer 38. A wiring board in which the inner wall surface and the resin filler 40 are firmly adhered via the roughened layer 38 is obtained. That is, by this step, the surface of the grease filler 40 and the inner copper patterns 34U, 3U
The 4D surface is flush with the surface. Here, the filled resin has a Tg point of 155.6 ° C. and a linear thermal expansion coefficient of 44.5.
× 10 -6 / ° C.

【0020】(6)上記(5)の処理で露出した導体回
路34U、34Dおよびスルーホール36のランド上面
に、厚さ2.5μmのCu−Ni−P合金からなる粗化
層(凹凸層)42を形成し、さらに、その粗化層42の
表面に厚さ0.3μmのSn層を設ける(図6参照、但
し、Sn層については図示しない)。その形成方法は以
下のようである。即ち、基板30を酸性脱脂してソフト
エッチングし、次いで、塩化パラジウムと有機酸からな
る触媒溶液で処理して、Pd触媒を付与し、この触媒を
活性化した後、硫酸銅8g/l、硫酸ニッケル0.6g
/l、クエン酸15g/l、次亜リン酸ナトリウム29
g/l、ホウ酸31g/l、界面活性剤0.1g/l、
pH=9からなる無電解めっき浴にてめっきを施し、銅
導体回路4およびスルーホール9のランド上面にCu−
Ni−P合金の粗化層42を形成した。ついで、ホウフ
ッ化スズ0.1mol/l、チオ尿素1.0mol/
l、温度50℃、pH=1.2の条件でCu−Sn置換
反応させ、粗化層42の表面に厚さ0.3μmのSn層
を設けた(Sn層については図示しない)。
(6) On the upper surfaces of the lands of the conductor circuits 34U, 34D and the through holes 36 exposed in the processing of (5), a roughened layer (rough layer) made of a Cu—Ni—P alloy having a thickness of 2.5 μm. Then, an Sn layer having a thickness of 0.3 μm is provided on the surface of the roughened layer 42 (see FIG. 6, but the Sn layer is not shown). The formation method is as follows. That is, the substrate 30 is acid-degreased and soft-etched, and then treated with a catalyst solution comprising palladium chloride and an organic acid to provide a Pd catalyst. After activating this catalyst, copper sulfate 8 g / l, sulfuric acid Nickel 0.6g
/ L, citric acid 15g / l, sodium hypophosphite 29
g / l, boric acid 31 g / l, surfactant 0.1 g / l,
Plating is performed in an electroless plating bath having a pH of 9 and Cu-
The roughened layer 42 of the Ni-P alloy was formed. Then, tin borofluoride 0.1 mol / l, thiourea 1.0 mol / l
1, a Cu-Sn substitution reaction was performed under the conditions of a temperature of 50 ° C. and a pH of 1.2 to provide a 0.3 μm thick Sn layer on the surface of the roughened layer 42 (the Sn layer is not shown).

【0021】引き続き、絶縁層を形成する感光性接着剤
(上層用)及び層間樹脂絶縁剤(下層用)を用意する。 (7)感光性接着剤(上層用)は、DMDG(ジエチレ
ングリコールジメチルエーテル)に溶解した濃度80w
t%のクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬
製、分子量2500)の25%アクリル化物を35重量
部、ポリエーテルスルフォン(PES)12重量部、イ
ミダゾール硬化剤(四国化成製、2E4MZ−CN)2
重量部、感光性モノマー(東亜合成製、アロニックスM
315)4重量部、光開始剤(チバガイギー製、イルガ
キュアI−907)2重量部、光増感剤(日本化薬製、
DETX−S)0.2重量部を混合し、これらの混合物
に対し、エポキシ樹脂粒子(三洋化成製、ポリマーポー
ル)の平均粒径1.0μmのものを7.2重量部、平均
粒経0.5μmのものを3.09重量部、消泡剤(サン
ノプコ製 S−65)0.5重量部を混合した後、さら
にNMP30重量部を添加しながら混合して粘度7Pa
・sの感光性接着剤(上層用)を得る。
Subsequently, a photosensitive adhesive (for an upper layer) and an interlayer resin insulator (for a lower layer) for forming an insulating layer are prepared. (7) The photosensitive adhesive (for the upper layer) is dissolved in DMDG (diethylene glycol dimethyl ether) at a concentration of 80 w
35% by weight of 25% acrylate of t% cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight 2500), 12 parts by weight of polyether sulfone (PES), imidazole curing agent (2E4MZ-CN) 2
Parts by weight, photosensitive monomer (Toa Gosei Co., Aronix M
315) 4 parts by weight, 2 parts by weight of a photoinitiator (manufactured by Ciba Geigy, Irgacure I-907), a photosensitizer (manufactured by Nippon Kayaku,
0.2 parts by weight of DETX-S) were mixed, and 7.2 parts by weight of epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Chemical Industries, polymer pole) having an average particle diameter of 1.0 μm were added to these mixtures, and the average particle diameter was 0%. After mixing 3.09 parts by weight of a 0.5 μm-thick and 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (S-65 manufactured by San Nopco), the mixture was further mixed while adding 30 parts by weight of NMP to obtain a viscosity of 7 Pa.
・ S photosensitive adhesive (for upper layer) is obtained.

【0022】(8)一方、層間樹脂絶縁剤(下層用)
は、DMDG(ジエチレングリコールジメチルエーテ
ル)に溶解した濃度80wt%のクレゾールノボラック
型エポキシ樹脂(日本化薬製、分子量2500)の25
%アクリル化物を35重量部、ポリエーテルスルフォン
(PES)12重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成
製、2E4MZ−CN)2重量部、感光性モノマー(東
亜合成製、アロニックスM315)4重量部、光開始剤
(チバガイギー製、イルガキュアI −907)2重量
部、光増感剤(日本化薬製、DETE−S)0.2重量
部を混合し、これらの混合物に対し、エポキシ樹脂粒子
(三洋化成製、ポリマーポール)の平均粒経0.5μm
のものを14.49重量部、消泡剤(サンノプコ製、S
−65)0.5重量部を混合した後、さらにNMP30
重量部を添加しながら混合して粘度1.5Pa・sの層
間樹脂絶縁剤(下層用)を得る。
(8) On the other hand, interlayer resin insulating material (for lower layer)
Is a 25% by weight cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku, molecular weight 2500) dissolved in DMDG (diethylene glycol dimethyl ether).
% Acrylate, 35 parts by weight of polyethersulfone (PES), 12 parts by weight of imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), 4 parts by weight of photosensitive monomer (Aronix M315, manufactured by Toa Gosei), light 2 parts by weight of an initiator (Circa Geigy, Irgacure I-907) and 0.2 part by weight of a photosensitizer (DETE-S, Nippon Kayaku) were mixed, and the mixture was mixed with epoxy resin particles (Sanyo Chemical Co., Ltd.). 0.5μm average particle size
14.49 parts by weight of an antifoaming agent (manufactured by San Nopco, S
-65) After mixing 0.5 part by weight, NMP30
By mixing while adding parts by weight, an interlayer resin insulating agent (for lower layer) having a viscosity of 1.5 Pa · s is obtained.

【0023】(9)基板の両面に、上記(7)で得られ
た粘度1.5Pa・sの層間樹脂絶縁剤(下層用)をロ
ールコ一夕で塗布し、水平状態で20分間放置してか
ら、60℃で30分の乾燥(プリベーク)を行い、絶縁
剤層44を形成する。さらにこの絶縁剤層44の上に上
記(8)で得られた粘度7Pa・sの感光性接着剤(上
層用)をロールコ一タを用いて塗布し、水平状態で20
分間放置してから、60℃で30分の乾燥を行い、接着
剤層46を形成する(図7参照)。
(9) The interlayer resin insulating material (for lower layer) having a viscosity of 1.5 Pa · s obtained in the above (7) is applied to both surfaces of the substrate with a roll coater and left in a horizontal state for 20 minutes. Thereafter, drying (prebaking) is performed at 60 ° C. for 30 minutes to form the insulating agent layer 44. Further, the photosensitive adhesive (for the upper layer) having a viscosity of 7 Pa · s obtained in the above (8) is applied on the insulating layer 44 by using a roll coater, and is applied in a horizontal state.
After leaving it for 60 minutes, drying is performed at 60 ° C. for 30 minutes to form an adhesive layer 46 (see FIG. 7).

【0024】(10)上記(9)で絶縁剤層44および
接着剤層46を形成した基板30の両面に、100μm
φの黒円が印刷されたフォトマスクフィルムを密着さ
せ、超高圧水銀灯により500mJ/cm2 で露光す
る。これをDMDG溶液でスプレー現像し、さらに、当
該基板を超高圧水銀灯により3000mJ/cm2 で露
光し、100℃で1時間、その後150℃で5時間の加
熱処理(ポストベーク)をすることにより、フォトマス
クフィルムに相当する寸法精度に優れた100μmφの
開口(バイアホール形成用開口48)を有する厚さ35
μmの層間樹脂絶縁層(2層構造)50を形成する(図
8参照)。なお、バイアホールとなる開口48には、ス
ズめっき層を部分的に露出させる。
(10) On both sides of the substrate 30 on which the insulating layer 44 and the adhesive layer 46 are formed in the above (9), 100 μm
The photomask film on which the black circle of φ is printed is brought into close contact with the photomask film, and exposed at 500 mJ / cm 2 using an ultra-high pressure mercury lamp. This is spray-developed with a DMDG solution, and further, the substrate is exposed to 3000 mJ / cm 2 by an ultra-high pressure mercury lamp, and is subjected to a heat treatment (post-bake) at 100 ° C. for 1 hour, and then at 150 ° C. for 5 hours. Thickness 35 having 100 μmφ opening (via hole forming opening 48) having excellent dimensional accuracy equivalent to a photomask film
A μm interlayer resin insulating layer (two-layer structure) 50 is formed (see FIG. 8). Note that the tin plating layer is partially exposed in the opening 48 serving as a via hole.

【0025】(11)開口48が形成された基板30
を、クロム酸に1分間浸漬し、接着剤層46の表面のエ
ポキシ樹脂粒子を溶解除去することにより、層間樹脂絶
縁層50の表面を粗面とし、その後、中和溶液(シプレ
イ社製)に浸漬してから水洗いする(図9参照)。さら
に、粗面化処理した該基板の表面に、パラジウム触媒
(アトテック製)を付与することにより、層間樹脂絶縁
層50の表面およびバイアホール用開口48の内壁面に
触媒核を付ける。
(11) The substrate 30 having the opening 48 formed
Is immersed in chromic acid for 1 minute to dissolve and remove the epoxy resin particles on the surface of the adhesive layer 46 to make the surface of the interlayer resin insulating layer 50 rough, and then to a neutralizing solution (manufactured by Shipley). After immersion, it is washed with water (see FIG. 9). Further, by applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the surface of the substrate subjected to the surface roughening treatment, a catalyst nucleus is attached to the surface of the interlayer resin insulating layer 50 and the inner wall surface of the via hole opening 48.

【0026】(12)以下の組成の無電解銅めっき浴中
に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ1.6μmの無電解
銅めっき膜52を形成する(図10参照)。 〔無電解めっき液〕 EDTA 150 g/l 硫酸銅 20 g/l HCHO 30ml/l NaOH 40 g/l α、α’−ビピリジル 80 mg/l PEG 0.1g/l 〔無電解めっき条件〕 70℃の液温度で30分
(12) The substrate is immersed in an electroless copper plating bath having the following composition to form an electroless copper plating film 52 having a thickness of 1.6 μm on the entire rough surface (see FIG. 10). [Electroless plating solution] EDTA 150 g / l Copper sulfate 20 g / l HCHO 30 ml / l NaOH 40 g / l α, α'-bipyridyl 80 mg / l PEG 0.1 g / l [Electroless plating conditions] 70 ° C. 30 minutes at liquid temperature

【0027】(13)上記(12)で形成した無電解銅
めっき膜52上に市販の感光性ドライフィルムを張り付
け、マスクを載置して、100mJ/cm2 で露光、
0.8%炭酸ナトリウムで現像処理し、厚さ15μmの
めっきレジスト54を設ける(図11参照)。
(13) A commercially available photosensitive dry film is stuck on the electroless copper plating film 52 formed in the above (12), a mask is placed, and exposure is performed at 100 mJ / cm 2 .
A development process is performed with 0.8% sodium carbonate to provide a plating resist 54 having a thickness of 15 μm (see FIG. 11).

【0028】(14)ついで、レジスト非形成部分に以
下の条件で電解銅めっきを施し、厚さ15μmの電解銅
めっき膜56を形成する(図12参照)。 〔電解めっき液〕 硫酸 180 g/l 硫酸銅 80 g/l 添加剤(アトテックジャパン製、カパラシドGL) 1 ml/l 〔電解めっき条件〕 電流密度 1A/dm2 時間 30分 温度 室温
(14) Next, electrolytic copper plating is applied to the non-resist-formed portion under the following conditions to form an electrolytic copper plating film 56 having a thickness of 15 μm (see FIG. 12). [Electroplating solution] Sulfuric acid 180 g / l Copper sulfate 80 g / l Additive (captoside GL, manufactured by Atotech Japan) 1 ml / l [Electroplating conditions] Current density 1 A / dm 2 hours 30 minutes Temperature Room temperature

【0029】(15)めっきレジスト54を5%KOH
で剥離除去した後、そのめっきレジスト54下の無電解
めっき膜52を硫酸と過酸化水素の混合液でエッチング
処理して溶解除去し、無電解銅めっき膜52と電解銅め
っき膜56からなる厚さ18μmの導体回路58U、5
8D及びバイアホール60U、60Dを形成する(図1
3参照)。引き続き、その基板30を800g/lのク
ロム酸中に3分間浸漬して粗化面上に残留しているパラ
ジウム触媒核を除去する。
(15) 5% KOH plating resist 54
Then, the electroless plating film 52 under the plating resist 54 is dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide to form a film comprising the electroless copper plating film 52 and the electrolytic copper plating film 56. 58 μm conductor circuit 58U, 5
8D and via holes 60U, 60D are formed (FIG. 1).
3). Subsequently, the substrate 30 is immersed in 800 g / l chromic acid for 3 minutes to remove the palladium catalyst nuclei remaining on the roughened surface.

【0030】(16)導体回路58U、58D及びバイ
アホール60U、60Dを形成した基板30を、硫酸銅
8g/l、硫酸ニッケル0.6g/l、クエン酸15g
/l、次亜リン酸ナトリウム29g/l、ホウ酸31g
/l、界面活性剤0.1g/lからなるpH=9の無電
解めっき液に浸漬し、該導体回路58U、58D及びバ
イアホール60U、60Dの表面に厚さ3μmの銅−ニ
ッケル−リンからなる粗化層62を形成する(図14参
照)。さらに、ホウフッ化スズ0.1mol/l、チオ
尿素1.0mol/l、温度50℃、pH=1.2の条
件でCu−Sn置換反応を行い、上記粗化層62の表面
に厚さ0.3μmのSn層を設ける(Sn層については
図示しない)。
(16) The substrate 30 on which the conductor circuits 58U and 58D and the via holes 60U and 60D are formed is replaced with copper sulfate 8 g / l, nickel sulfate 0.6 g / l, and citric acid 15 g.
/ L, sodium hypophosphite 29g / l, boric acid 31g
/ L, a surfactant of 0.1 g / l, immersed in an electroless plating solution having a pH of 9 and a surface of the conductor circuits 58U, 58D and via holes 60U, 60D formed of copper-nickel-phosphorus having a thickness of 3 μm. A roughened layer 62 is formed (see FIG. 14). Further, a Cu—Sn substitution reaction was performed under the conditions of tin borofluoride 0.1 mol / l, thiourea 1.0 mol / l, temperature 50 ° C., and pH = 1.2, and a thickness of 0 A Sn layer of 0.3 μm is provided (the Sn layer is not shown).

【0031】(17)上記(2)〜(16)の工程を繰
り返すことにより、さらに上層の導体回路を形成する。
即ち、基板30の両面に、層間樹脂絶縁剤(下層用)を
ロールコ一夕で塗布し、絶縁剤層144を形成する。ま
た、この絶縁剤層144の上に感光性接着剤(上層用)
をロールコ一タを用いて塗布し、接着剤層146を形成
する(図15参照)。絶縁剤層144および接着剤層1
46を形成した基板30の両面に、フォトマスクフィル
ムを密着させ、露光・現像し、開口(バイアホール形成
用開口148)を有する層間樹脂絶縁層150を形成し
た後、該層間樹脂絶縁層150の表面を粗面とする(図
16参照)。その後、該粗面化処理した該基板30の表
面に、無電解銅めっき膜152を形成する(図17参
照)。引き続き、無電解銅めっき膜152上にめっきレ
ジスト154を設けた後、レジスト非形成部分に電解銅
めっき膜156を形成する(図18参照)。そして、め
っきレジスト154をKOHで剥離除去した後、そのめ
っきレジスト54下の無電解めっき膜152を溶解除去
し導体回路158U、158D及びバイアホール160
U、160Dを形成する(図19参照)。さらに、該導
体回路158U、158D及びバイアホール160U、
160Dの表面に粗化層162を形成し、多層プリント
配線板を完成する(図20参照)。
(17) By repeating the above steps (2) to (16), a conductor circuit in a further upper layer is formed.
That is, an interlayer resin insulating agent (for the lower layer) is applied to both surfaces of the substrate 30 with a roller to form an insulating agent layer 144. Also, a photosensitive adhesive (for the upper layer) is provided on the insulating layer 144.
Is applied using a roll coater to form an adhesive layer 146 (see FIG. 15). Insulating agent layer 144 and adhesive layer 1
A photomask film is brought into close contact with both surfaces of the substrate 30 on which the 46 has been formed, and exposed and developed to form an interlayer resin insulating layer 150 having an opening (via hole forming opening 148). The surface is made rough (see FIG. 16). Thereafter, an electroless copper plating film 152 is formed on the surface of the substrate 30 subjected to the surface roughening treatment (see FIG. 17). Subsequently, after a plating resist 154 is provided on the electroless copper plating film 152, an electrolytic copper plating film 156 is formed on a portion where no resist is formed (see FIG. 18). Then, after the plating resist 154 is peeled off with KOH, the electroless plating film 152 under the plating resist 54 is dissolved and removed, and the conductor circuits 158U and 158D and the via holes 160 are removed.
U, 160D are formed (see FIG. 19). Further, the conductor circuits 158U, 158D and via holes 160U,
A roughened layer 162 is formed on the surface of 160D to complete a multilayer printed wiring board (see FIG. 20).

【0032】(19)そして、上述した多層プリント配
線板にはんだバンプを形成する。先ず、はんだバンプ用
のソルダーレジスト組成物の調整について説明する。こ
こでは、DMDGに溶解させた60重量%のクレゾール
ノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製)のエポキシ基
50%をアクリル化した感光性付与のオリゴマー(分子
量4000)を46.67g、メチルエチルケトンに溶
解させた80重量%のビスフェノールA型エポキシ樹脂
(油化シェル製、エピコート1001)15.0g、イ
ミダゾール硬化剤(四国化成製、2E4MZ−CN)
1.6g、感光性モノマーである多価アクリルモノマー
(日本化薬製、R604)3g、同じく多価アクリルモ
ノマー(共栄社化学製、DPE6A)1.5g、分散系
消泡剤(サンノプコ社製、S−65)0.71gを混合
し、さらにこれらの混合物に対し、光開始剤としてのべ
ンゾフェノン(関東化学製)を2g、光増感剤としての
ミヒラーケトン(関東化学製)を0.2g加えて、粘度
を25℃で2.0Pa・sに調整したソルダーレジスト
組成物を得る。
(19) Then, solder bumps are formed on the above-mentioned multilayer printed wiring board. First, adjustment of the solder resist composition for a solder bump will be described. Here, 46.67 g of a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) in which 50% of epoxy groups of a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku) of 60% by weight dissolved in DMDG were dissolved in methyl ethyl ketone was dissolved. 15.0 g of 80% by weight of bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell, Epicoat 1001), imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, 2E4MZ-CN)
1.6 g, 3 g of a polyacrylic monomer (R604, manufactured by Nippon Kayaku), which is a photosensitive monomer, 1.5 g of a polyvalent acrylic monomer (DPE6A, manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.), a dispersion defoaming agent (manufactured by Sannopco, S -65) 0.71 g, and 2 g of benzophenone (Kanto Kagaku) as a photoinitiator and 0.2 g of Michler's ketone (Kanto Kagaku) as a photosensitizer were added to the mixture. A solder resist composition having a viscosity adjusted to 2.0 Pa · s at 25 ° C. is obtained.

【0033】(20)上記(18)で得た配線板の両面
に、上記ソルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗
布する。次いで、70℃で20分間、70℃で30分間
の乾燥処理を行った後、円パターン(マスクパターン)
が描画された厚さ5mmのフォトマスクフィルムを密着
させて載置し、1000mJ/cm2 の紫外線で露光
し、DMTG現像処理する。そしてさらに、80℃で1
時間、100℃で1時間、120℃で1時間、150℃
で3時間の条件で加熱処理し、はんだパッド部分(バイ
アホールとそのランド部分を含む)71が開口した(開
口径200μm)ソルダーレジスト層(厚み20μm)
70を形成する(図21参照)。 (21)次に、ソルダーレジスト層70を形成した基板
30を、塩化ニッケル30g/l、次亜リン酸ナトリウ
ム10g/l、クエン酸ナトリウム10g/lからなる
pH=5の無電解ニッケルめっき液に20分間浸漬し
て、開口部71に厚さ5μmのニッケルめっき層72を
形成する(図22参照)。さらに、その基板30を、シ
アン化金カリウム2g/l、塩化アンモニウム75g/
l、クエン酸ナトリウム50g/l、次亜リン酸ナトリ
ウム10g/lからなる無電解金めっき液に93℃の条
件で23秒間浸漬して、ニッケルめっき層72上に厚さ
0.03μmの金めっき層74を形成する。
(20) The solder resist composition is applied to both sides of the wiring board obtained in (18) in a thickness of 20 μm. Next, after performing a drying process at 70 ° C. for 20 minutes and at 70 ° C. for 30 minutes, a circular pattern (mask pattern)
Is placed in close contact with a 5 mm thick photomask film on which is drawn, exposed to ultraviolet light of 1000 mJ / cm 2 , and subjected to DMTG development processing. And at 80 ° C for 1
Time, 1 hour at 100 ° C, 1 hour at 120 ° C, 150 ° C
And a heat treatment under conditions of 3 hours, a solder resist layer (opening diameter: 200 μm) with a solder pad portion (including a via hole and its land portion) 71 opened (opening diameter: 200 μm)
70 are formed (see FIG. 21). (21) Next, the substrate 30 on which the solder resist layer 70 is formed is converted into an electroless nickel plating solution having a pH of 5 consisting of 30 g / l of nickel chloride, 10 g / l of sodium hypophosphite, and 10 g / l of sodium citrate. By immersing for 20 minutes, a nickel plating layer 72 having a thickness of 5 μm is formed in the opening 71 (see FIG. 22). Further, the substrate 30 was treated with potassium gold cyanide 2 g / l and ammonium chloride 75 g / l.
immersion in an electroless gold plating solution consisting of 50 g / l of sodium citrate and 10 g / l of sodium hypophosphite at 93 ° C. for 23 seconds to form a gold plating of 0.03 μm thickness on the nickel plating layer 72. A layer 74 is formed.

【0034】(22)そして、ソルダーレジスト層70
の開口部71に、はんだペーストを印刷して200℃で
リフローすることによりはんだバンプ76U、76Dを
形成し、はんだバンプ76U、76Dを有する多層プリ
ント配線板を完成する。
(22) The solder resist layer 70
The solder bumps 76U and 76D are formed by printing a solder paste in the opening 71 of the substrate and performing reflow at 200 ° C. to complete a multilayer printed wiring board having the solder bumps 76U and 76D.

【0035】引き続き、本発明の第2実施形態に係る多
層プリント配線板について図23を参照して説明する。
図23は、本発明の第2実施形態に係る多層プリント配
線板の構成を示す断面図である。コア基板230の上面
及び下面には、グランド層となる内層銅パターン234
U、234Dが形成されている。即ち、基板230を介
在させて対向するグランド層(内層銅パターン)234
U及びグランド層(内層銅パターン)234Dによりコ
ンデンサが形成されている。
Next, a multilayer printed wiring board according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 23 is a cross-sectional view illustrating a configuration of a multilayer printed wiring board according to the second embodiment of the present invention. An inner copper pattern 234 serving as a ground layer is provided on the upper and lower surfaces of the core substrate 230.
U and 234D are formed. In other words, the ground layer (inner layer copper pattern) 234 facing with the substrate 230 interposed therebetween
A capacitor is formed by U and the ground layer (inner layer copper pattern) 234D.

【0036】また、内層銅パターン234Uの上層に
は、層間樹脂絶縁層250を介在させて信号線を形成す
る導体回路258Uが形成されている。該導体回路25
8Uの上層には、層間樹脂絶縁層350を貫通するバイ
アホール360Uが形成され、該バイアホール360U
には半田バンプ376Uが形成されている。
A conductor circuit 258U for forming a signal line is formed above the inner layer copper pattern 234U with an interlayer resin insulating layer 250 interposed therebetween. The conductor circuit 25
Via holes 360U penetrating through interlayer resin insulation layer 350 are formed in the upper layer of 8U.
Are formed with solder bumps 376U.

【0037】一方、基板230の下面側のグランド(内
層銅パターン)234Dの上層(ここで、上層とは基板
230を中心として上面については上側を、基板の下面
については下側を意味する)には、層間樹脂絶縁層25
0を介して信号線となる導体回路258Dが形成されて
いる。該導体回路258Dの上層には、層間樹脂絶縁層
350を介して電源層となる導体回路388Dが形成さ
れている。該導体回路388Dの上層には、層間樹脂絶
縁層390を貫通するバイアホール380Dが形成さ
れ、該バイアホール380Dには半田バンプ376Dが
形成されている。即ち、本実施形態では、電源層を形成
する導体回路388Dに取り付けられたバイアホール3
80Dに半田バンプ376Dが形成され、外部のバンプ
(図示せず)に直接該電源層を接続できるように構成さ
れている。
On the other hand, the upper surface of the ground (inner copper pattern) 234D on the lower surface side of the substrate 230 (here, the upper layer means the upper side of the upper surface of the substrate 230 and the lower surface of the lower surface of the substrate). Is the interlayer resin insulation layer 25
A conductor circuit 258D serving as a signal line via 0 is formed. On the upper layer of the conductor circuit 258D, a conductor circuit 388D serving as a power supply layer is formed via an interlayer resin insulating layer 350. In the upper layer of the conductor circuit 388D, a via hole 380D penetrating the interlayer resin insulating layer 390 is formed, and a solder bump 376D is formed in the via hole 380D. That is, in the present embodiment, the via hole 3 attached to the conductor circuit 388D forming the power supply layer is used.
A solder bump 376D is formed on 80D so that the power supply layer can be directly connected to an external bump (not shown).

【0038】第2実施形態の構成では、電源層を構成す
る導体回路388Dにバイアホール380Dを直接接続
し、該バイアホールに半田バンプ376Dを形成してあ
るので、電源層と半田バンプとを接続する配線が無くな
る。このため、配線に重畳するノイズによる影響を受け
なくなる。
In the configuration of the second embodiment, the via hole 380D is directly connected to the conductor circuit 388D constituting the power supply layer, and the solder bump 376D is formed in the via hole, so that the power supply layer and the solder bump are connected. There is no wiring to perform. For this reason, it is not affected by the noise superimposed on the wiring.

【0039】なお、上述した実施形態では、セミアディ
ティブ法により形成する多層プリント配線板を例示した
が、本発明の構成は、フルアディティブ法により形成す
る多層プリント配線板に、更に、セラミック製の多層配
線板にも適用し得ることは言うまでもない。
In the above-described embodiment, the multilayer printed wiring board formed by the semi-additive method has been exemplified. However, the structure of the present invention is different from the multilayer printed wiring board formed by the full-additive method in that the multilayer printed wiring board further includes a ceramic multilayer wiring board. Needless to say, the present invention can be applied to a wiring board.

【0040】[0040]

【発明の効果】以上説明したように請求項1の多層配線
板においては、最外層の導体回路を支持する絶縁層の下
層の内層導体回路を電源層および/またはグランド層と
し、該第2導体回路にバイアホールを直接接続し、該バ
イアホールに半田バンプを形成してあるので、電源層或
いはグランド層と半田バンプとを接続する配線が無くな
る。このため、配線に重畳するノイズによる影響を受け
なくなる。また、配線を無くし得る分、多層配線板の高
密度化を図ることが可能となる。
As described above, in the multilayer wiring board according to the first aspect, the inner conductor circuit below the insulating layer supporting the outermost conductor circuit is used as a power supply layer and / or a ground layer, and the second conductor is provided. Since the via hole is directly connected to the circuit and the solder bump is formed in the via hole, there is no wiring for connecting the power supply layer or the ground layer and the solder bump. For this reason, it is not affected by the noise superimposed on the wiring. Further, since the wiring can be eliminated, it is possible to increase the density of the multilayer wiring board.

【0041】請求項2の多層プリント配線板において
は、最外層導体回路を支持する第2層間樹脂絶縁層の下
側に配設される第2導体回路を電源層および/またはグ
ランド層とし、該第2導体回路にバイアホールを直接接
続し、該バイアホールに半田バンプを形成してあるの
で、電源層或いはグランド層と半田バンプとを接続する
配線が無くなる。このため、配線に重畳するノイズによ
る影響を受けなくなる。また、配線を無くし得る分、多
層プリント配線板の高密度化を図ることが可能となる。
In the multilayer printed wiring board according to the present invention, the second conductive circuit provided below the second interlayer resin insulating layer supporting the outermost conductive circuit is a power supply layer and / or a ground layer. Since the via hole is directly connected to the second conductor circuit and the solder bump is formed in the via hole, there is no wiring for connecting the power supply layer or the ground layer to the solder bump. For this reason, it is not affected by the noise superimposed on the wiring. Further, since the wiring can be eliminated, it is possible to increase the density of the multilayer printed wiring board.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a manufacturing process of a multilayer printed wiring board according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 5 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 9 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 10 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図11】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 11 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図12】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 12 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図13】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 13 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図14】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 14 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図15】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 15 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図16】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 16 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図17】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 17 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図18】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 18 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図19】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 19 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図20】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 20 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図21】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 21 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図22】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板を示す断面図である。
FIG. 22 is a sectional view showing the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図23】本発明の第2実施形態に係る多層プリント配
線板の構成を示す断面図である。
FIG. 23 is a cross-sectional view illustrating a configuration of a multilayer printed wiring board according to a second embodiment of the present invention.

【図24】従来技術に係る多層プリント配線板の構成を
示す断面図である。
FIG. 24 is a cross-sectional view illustrating a configuration of a multilayer printed wiring board according to a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

30 基板 34U、34D 内層銅パターン(内層導体回路) 48 バイアホール用開口 50 層間樹脂絶縁層 52 無電解めっき膜 54 めっきレジスト 56 電解めっき膜 58U、58D 導体回路(内層導体回路) 60U、60D バイアホール 76U、76D 半田バンプ 150 層間樹脂絶縁層(絶縁層) 158U、158D 導体回路 160U、160D バイアホール Reference Signs List 30 substrate 34U, 34D Inner layer copper pattern (inner conductor circuit) 48 Via hole opening 50 Interlayer resin insulation layer 52 Electroless plating film 54 Plating resist 56 Electrolytic plating film 58U, 58D Conductor circuit (inner conductor circuit) 60U, 60D Via hole 76U, 76D Solder bump 150 Interlayer resin insulation layer (insulation layer) 158U, 158D Conductor circuit 160U, 160D Via hole

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 最外層の導体回路と、 該最外層の導体回路を支持する絶縁層と、 該絶縁層の下側に設けられる内層導体回路と、を備える
多層配線板であって、 前記内層導体回路は、電源層および/またはグランド層
であり、 前記絶縁層を貫通し、前記内層導体回路に接続されたバ
イアホールに、半田バンプが形成されていることを特徴
とする多層配線板。
1. A multilayer wiring board comprising: an outermost conductive circuit; an insulating layer that supports the outermost conductive circuit; and an inner conductive circuit provided below the insulating layer. A multilayer wiring board, wherein the conductor circuit is a power supply layer and / or a ground layer, and a solder bump is formed in a via hole penetrating the insulating layer and connected to the inner layer conductor circuit.
【請求項2】 内層の第1導体回路と、 該第1内層導体回路上に形成された第1層間樹脂絶縁層
と、 該第1層間樹脂絶縁層上に形成された内層の第2導体回
路と、 該第2導体回路上に形成された第2層間樹脂絶縁層と、 該第2層間樹脂絶縁層上に形成された最外層の導体回路
と、を備える多層プリント配線板であって、 前記内層の第2導体回路は、電源層および/またはグラ
ンド層であり、 前記第2層間樹脂絶縁層を貫通し、前記第2の導体回路
に接続されたバイアホールに、半田バンプが形成されて
いることを特徴とする多層プリント配線板。
2. An inner-layer first conductive circuit, a first interlayer resin insulating layer formed on the first inner-layer conductive circuit, and an inner second conductive circuit formed on the first interlayer resin insulating layer. A multilayer printed wiring board comprising: a second interlayer resin insulation layer formed on the second conductor circuit; and an outermost layer conductor circuit formed on the second interlayer resin insulation layer, The second conductor circuit of the inner layer is a power supply layer and / or a ground layer, and a solder bump is formed in a via hole penetrating through the second interlayer resin insulation layer and connected to the second conductor circuit. A multilayer printed wiring board, characterized in that:
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