JPH11111810A - Cassette chamber - Google Patents
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- JPH11111810A JPH11111810A JP29050397A JP29050397A JPH11111810A JP H11111810 A JPH11111810 A JP H11111810A JP 29050397 A JP29050397 A JP 29050397A JP 29050397 A JP29050397 A JP 29050397A JP H11111810 A JPH11111810 A JP H11111810A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ等の
処理室に対して直接的或いは間接的に連結されるカセッ
ト室に関する。[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a cassette chamber directly or indirectly connected to a processing chamber for semiconductor wafers or the like.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に、半導体ウエハ等の基板に対して
各種の処理、例えば成膜処理やエッチング処理や、熱酸
化処理等を行なう処理室の前段側には、多数枚、例えば
25枚程度の基板を一度に収納できるカセットを収容す
るカセット室が設けられており、このカセット室と処理
室との間に搬送室を介して基板の受け渡しを行なうよう
になっている。この場合、カセット内の25個のスロッ
トの内、どのスロットに基板が有り、どのスロットには
基板が無いかを知ることは、処理室や搬送系を制御する
制御系にとって重要である。また、一般的には、カセッ
ト室内には、実際の製品基板の処理に先立って処理条件
を安定化させるために、或いは処理内容をモニターする
ために用いられるダミー基板が複数枚用意されており、
このダミー基板が、ダミー用カセットのどのスロットに
入っているかを予め検知しておくことも処理を行なう上
から重要である。このようにカセット内の基板の有無を
検出する操作をマッピング操作というが、一般的には、
このマッピング操作は、光センサを用いてカセット内の
基板の有無を検出することによって行なわれている。2. Description of the Related Art In general, a large number of substrates, for example, about 25 substrates, are provided at the front stage of a processing chamber for performing various processes on a substrate such as a semiconductor wafer, for example, a film forming process, an etching process and a thermal oxidation process. A cassette chamber for accommodating a cassette capable of accommodating substrates at one time is provided, and substrates are transferred between the cassette chamber and the processing chamber via a transfer chamber. In this case, it is important for the control system that controls the processing chamber and the transport system to know which of the 25 slots in the cassette has a substrate and which slot has no substrate. In general, a plurality of dummy substrates used for stabilizing processing conditions prior to actual processing of a product substrate or for monitoring processing contents are prepared in the cassette chamber,
It is also important from the viewpoint of processing to detect in advance which slot of the dummy cassette the dummy substrate is inserted into. The operation of detecting the presence or absence of the substrate in the cassette as described above is referred to as a mapping operation.
This mapping operation is performed by detecting the presence or absence of a substrate in the cassette using an optical sensor.
【0003】この状態を図8〜図12に基づいて詳述す
る。図8は複数の処理室を有するクラスタツール装置の
斜視図を示し、図9はその平面断面図を示し、図10は
カセット室を示す断面図である。このクラスタツール装
置は、2つの処理室2、4とこれに接続された1つの搬
送室6と、これに接続された2つのカセット室8、10
により主に構成される。各室間は、気密に開閉可能にな
されたゲートバルブGを介して連通遮断可能になされ
る。上記搬送室6内には、屈伸及び回転可能になされた
例えば多関節式の搬送アーム12が設けられ、この1つ
のアーム12により各室8、10内のカセットCに収容
されている半導体ウエハ等の基板Wの搬入・搬出を行な
う。This state will be described in detail with reference to FIGS. 8 is a perspective view of a cluster tool device having a plurality of processing chambers, FIG. 9 is a plan sectional view thereof, and FIG. 10 is a sectional view showing a cassette chamber. This cluster tool device comprises two processing chambers 2, 4 and one transfer chamber 6 connected thereto, and two cassette chambers 8, 10 connected thereto.
It is mainly composed of The communication between the chambers can be shut off via a gate valve G which can be opened and closed in an airtight manner. The transfer chamber 6 is provided with, for example, a multi-joint type transfer arm 12 that can be bent and stretched and rotated, and the semiconductor wafer or the like accommodated in the cassette C in each of the chambers 8 and 10 by this one arm 12. The substrate W is loaded and unloaded.
【0004】両カセット室8、10は、略同様に構成さ
れており、図10はその内の一方のカセット室8の断面
を示している。このカセット室8は、例えばアルミニウ
ム製のカセット収納容器14を有しており、このフロン
ト側の下部には、カセットCを搬出入できる大きさのカ
セット搬出入口16が設けられ、この搬出入口16に
は、これを気密に開閉するゲートドア18が設けられ
る。また、このカセット搬出入口16と略対向する側壁
の略中段には、上記搬送室6に連通される基板搬出入口
20が設けられており、この搬出入口20にはこれを気
密に開閉するゲートバルブGが設けられる。このカセッ
ト室8内には、底部より気密に貫通して設けた昇降機構
22に取り付けたカセット載置台24が、昇降可能に設
けられており、このカセット載置台24上に上記カセッ
トCを横置きで載置するようになっている。The two cassette chambers 8 and 10 have substantially the same configuration, and FIG. 10 shows a cross section of one of the cassette chambers 8. The cassette chamber 8 has a cassette storage container 14 made of, for example, aluminum. At the lower portion on the front side, a cassette loading / unloading port 16 having a size capable of loading and unloading the cassette C is provided. Is provided with a gate door 18 which opens and closes the airtightly. Substrate loading / unloading ports 20 communicating with the transfer chamber 6 are provided substantially in the middle of the side wall substantially opposite to the cassette loading / unloading port 16, and the loading / unloading port 20 is a gate valve that opens and closes the airtightly. G is provided. In the cassette chamber 8, a cassette mounting table 24 attached to an elevating mechanism 22 provided to penetrate from the bottom in an airtight manner is provided so as to be able to move up and down, and the cassette C is placed horizontally on the cassette mounting table 24. To be mounted.
【0005】このカセット載置台24は、複数枚、例え
ば3枚のダミー基板DWを収容するダミー用カセット2
6と、上記カセットCを直接的に載置支持するカセット
台28とよりなり、このカセット台28下面とダミー用
カセット26の上面とは、カセット台28の水平レベル
を調整する複数のレベル調整ネジ30により連結されて
いる。上記カセット台28上に載置されるカセットC
は、図11及び図12に示すように構成される。[0005] The cassette mounting table 24 includes a dummy cassette 2 accommodating a plurality of, for example, three dummy substrates DW.
6 and a cassette table 28 for directly mounting and supporting the cassette C. The lower surface of the cassette table 28 and the upper surface of the dummy cassette 26 are provided with a plurality of level adjusting screws for adjusting the horizontal level of the cassette table 28. They are connected by 30. Cassette C placed on the cassette table 28
Is configured as shown in FIG. 11 and FIG.
【0006】図11はカセットの一例を示す斜視図、図
12はカセットを示す断面図である。カセットCは、全
体がコンタミが発生し難く、且つパーティクルも発生し
難い樹脂、例えばテフロン樹脂により形成される。この
前方には基板の搬入搬出を行なう前方開口部32が形成
され、これと反対側の後方には後方開口部34が形成さ
れる。このカセットCの上部には、これを把持する時に
つかむ把手36が設けられる。また、このカセットCの
内部側壁の両側には、収容方向に沿って延在される幅狭
の棚部38すなわちスロットが多段に設けられており、
これに基板Wの縁部を支持させて、基板、すなわち半導
体ウエハを保持するようになっている。カセットC内に
は、8インチウエハの場合では、例えば25枚のウエハ
が収容でき、12インチウエハの場合には、例えば13
枚或いは25枚のウエハを収容できるようになってい
る。FIG. 11 is a perspective view showing an example of the cassette, and FIG. 12 is a sectional view showing the cassette. The cassette C is made of a resin that is hardly contaminated and hardly generates particles, for example, a Teflon resin. A front opening 32 for carrying the substrate in and out is formed in the front, and a rear opening 34 is formed in the rear on the opposite side. At the top of the cassette C, a handle 36 to be gripped when gripping the cassette C is provided. Further, on both sides of the inner side wall of the cassette C, narrow shelves 38, that is, slots are provided in multiple stages extending along the accommodation direction.
The edge of the substrate W is supported on the substrate to hold the substrate, that is, the semiconductor wafer. In the case of an 8-inch wafer, for example, 25 wafers can be accommodated in the cassette C, and in the case of a 12-inch wafer, for example, 13
One or 25 wafers can be accommodated.
【0007】さて、このように成形されたカセットC及
びダミー用カセット26内の基板の有無のマッピングを
行なうには、一般的には発光素子と受光素子とよりなる
光学式のセンサを用いるが、カセットCの側部は、側壁
40、40により被われているので、開放されている前
方開口部32と後方開口部34間に亘ってセンサ光を通
すことにより基板のマッピングを行なう。そのため、図
10に示すようにカセット室8の前方壁8Aと、これに
略対向する後方壁8Bにカセット室8内を見通せる例え
ばガラス製のビューポート42、44を設け、ここに例
えばレーザ光を発生するレーザ発光素子46とレーザ受
光素子48を設置している。これにより、カセット載置
台24を上昇させた時に、カセットC内の基板Wやダミ
ー用カセット26内のダミー基板DWがレーザ光を横切
ることによって、当該スロットにおける基板Wやダミー
基板DWの有無を検出して、マッピングを行なうように
なっている。In order to map the presence or absence of a substrate in the thus formed cassette C and the dummy cassette 26, an optical sensor including a light emitting element and a light receiving element is generally used. Since the side of the cassette C is covered with the side walls 40, 40, the substrate is mapped by passing the sensor light between the open front opening 32 and the rear opening 34. For this purpose, as shown in FIG. 10, for example, glass front viewports 42 and 44 are provided on a front wall 8A of the cassette chamber 8 and a rear wall 8B substantially opposed to the front wall 8A. A laser light emitting element 46 and a laser light receiving element 48 that generate light are provided. Thus, when the cassette mounting table 24 is raised, the substrate W in the cassette C and the dummy substrate DW in the dummy cassette 26 traverse the laser beam, and the presence or absence of the substrate W or the dummy substrate DW in the slot is detected. Then, mapping is performed.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したよ
うな装置例にあっては、基板Wやダミー基板DWのマッ
ピングを行なうためには、図10から明らかなように、
少なくともカセットCの高さと、ダミー用カセット26
の高さとを合計した長さ以上に亘ってカセット載置台2
4を上昇させねばならず、このため、ストロークが長く
なってカセット室自体の全体の高さがかなり大型化して
しまうという問題点があった。本発明は、以上のような
問題点に着目し、これを有効に解決すべく創案されたも
のである。本発明の目的は、2つの基板検出センサ部を
設けることにより、小さな上下方向のストロークにより
基板のマッピングを行なうことができるカセット室を提
供することにある。By the way, in the apparatus example as described above, in order to perform the mapping of the substrate W and the dummy substrate DW, as shown in FIG.
At least the height of the cassette C and the dummy cassette 26
And the height of the cassette mounting table 2
4 has to be raised, which causes a problem that the stroke becomes long and the overall height of the cassette chamber itself becomes considerably large. The present invention has been devised in view of the above problems and effectively solving them. An object of the present invention is to provide a cassette chamber in which two substrate detection sensor units are provided so that substrate mapping can be performed with a small vertical stroke.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題点を
解決するために、一側面に、複数の基板を多段に収容し
得るカセットを搬入・搬出させるために開閉可能になさ
れたカセット搬出入口を有し、これと略対向する他側面
に前記カセット内の基板を搬入・搬出させるために開閉
可能になされた基板搬出入口を有するカセット収納容器
と、前記カセットを載置して昇降するカセット載置台
と、このカセット載置台に、ダミー基板を収容するため
に固定的に設けられたダミー用カセットとを有するカセ
ット室において、前記基板搬出入口より上側に設けた第
1の基板検出センサ部と、前記基板搬出入口より下側に
設けた第2の基板検出センサ部とを備え、前記カセット
載置台を上下方向へ移動させることにより前記第1の基
板検出センサ部により前記カセット内の基板の有無を検
出し、前記第2の基板検出センサ部により前記ダミー用
カセット内のダミー基板の有無を検出するように構成し
たものである。SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-mentioned problems, the present invention has, on one side, a cassette unloading cassette which can be opened and closed for loading and unloading a cassette capable of accommodating a plurality of substrates in multiple stages. A cassette storage container having an entrance, and having a substrate loading / unloading opening which can be opened and closed to carry in / out a substrate in the cassette on the other side substantially opposite to the entrance; and a cassette for loading and unloading the cassette A first substrate detection sensor unit provided above the substrate loading / unloading port in a cassette chamber having a mounting table and a dummy cassette fixedly provided to accommodate a dummy substrate in the cassette mounting table; A second substrate detection sensor section provided below the substrate loading / unloading port, wherein the cassette mounting table is moved in the up-down direction so that the first substrate detection sensor section Wherein detecting the presence or absence of substrates in the cassette, which is constituted by the second substrate detection sensor unit to detect the presence or absence of the dummy substrate in the dummy cassette.
【0010】これにより、カセットをカセット載置台に
載置した状態で一定のストロークだけ上昇させることに
より、第1の基板検出センサ部は、カセット内の基板の
有無を調べてこのマッピングを行ない、また、第2の基
板検出センサ部はダミー用カセット内のダミー基板の有
無を調べてこのマッピングを行なう。従って、1つの基
板検出センサ部により基板及びダミー基板のマッピング
を行なった場合と比較して、そのストローク量を小さく
できるので、その分、カセット室の高さ自体を小さくす
ることができる。よって、ストローク量を小さくした分
だけ、カセット室の高さを小さくすることが可能とな
る。[0010] With this configuration, by raising the cassette by a predetermined stroke while the cassette is placed on the cassette mounting table, the first substrate detection sensor unit checks the presence or absence of the substrate in the cassette and performs this mapping. The second substrate detection sensor unit performs this mapping by checking for the presence or absence of a dummy substrate in the dummy cassette. Therefore, the stroke amount can be reduced as compared with the case where the mapping of the substrate and the dummy substrate is performed by one substrate detection sensor unit, and the height of the cassette chamber itself can be reduced accordingly. Therefore, the height of the cassette chamber can be reduced by the amount corresponding to the reduced stroke amount.
【0011】また、第2の基板検出センサ部には、カセ
ット載置台にカセットが載置されているか否かを検出す
るカセット有無検知機能を合わせ持たせることができ
る。このような第1及び第2の基板検出センサ部は、レ
ーザ光を発するレーザ発光素子とこのレーザ光を受光す
るレーザ受光素子により形成することができる。更に、
ダミー用カセットを有しない場合には、第1及び第2の
基板検出センサ部により、カセット内の基板の有無を、
領域を例えば上下に分けて検出するようにしてもよい。Further, the second substrate detection sensor section can also have a cassette presence / absence detection function for detecting whether or not a cassette is mounted on the cassette mounting table. Such first and second substrate detection sensors can be formed by a laser light emitting element that emits laser light and a laser light receiving element that receives this laser light. Furthermore,
When there is no dummy cassette, the presence or absence of a substrate in the cassette is determined by the first and second substrate detection sensor units.
For example, the region may be divided into upper and lower regions for detection.
【0012】[0012]
【発明の実施の形態】以下に、本発明に係るカセット室
の一実施例を添付図面に基づいて詳述する。図1は本発
明のカセット室を示す部分破断斜視図、図2は図1に示
すカセット室の基板検出センサ部の取り付け状態を示す
概略断面図、図3乃至図5は図1に示すカセット室を示
す断面図、図6及び図7はカセットの有無を検知するス
イッチ部を示す拡大断面図である。尚、先に説明した従
来の装置と同一部分については同一符号を付して説明を
行なう。本願発明と先に説明した従来装置との大きな差
は、本願発明ではダミー用カセット内のダミー基板をマ
ッピングする第2の基板検出センサ部を設けて、マッピ
ング時の全体のストロークを小さくした点である。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the cassette chamber according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a partially cutaway perspective view showing a cassette chamber of the present invention, FIG. 2 is a schematic sectional view showing an attached state of a substrate detection sensor portion of the cassette chamber shown in FIG. 1, and FIGS. 3 to 5 are cassette chambers shown in FIG. 6 and 7 are enlarged sectional views showing a switch unit for detecting the presence / absence of a cassette. The same parts as those of the conventional apparatus described above are denoted by the same reference numerals and will be described. The major difference between the present invention and the conventional apparatus described above is that the present invention has a second substrate detection sensor unit for mapping a dummy substrate in a dummy cassette to reduce the entire stroke at the time of mapping. is there.
【0013】図示するように、このカセット室50は、
例えばアルミニウム製の真空引き及びN2 パージが可能
なカセット収納容器52を有しており、この前方壁52
Aの下部には、カセットCを搬出入できる大きさのカセ
ット搬出入口16が開口されており、この搬出入口16
には、これを気密に開閉するゲートドア18が設けられ
る。また、このカセット搬出入口16と略対向する後方
壁52Bの略中段には、前記搬送室6(図9参照)に連
通される基板搬出入口20が設けられており、この搬出
入口20にはこれを気密に開閉するゲートバルブGが設
けられる。このゲートバルブGの中心レベルが基板Wを
搬送室6に対して搬出入する際の搬送面54となり、カ
セットCを1スロットずつ上下動しつつこの基板搬出入
口20を介して基板Wの受け渡しを行なうようになって
いる。As shown, the cassette chamber 50 has:
It has a cassette container 52 made of, for example, aluminum and capable of vacuuming and N 2 purging.
In the lower part of A, a cassette loading / unloading port 16 having a size capable of loading and unloading the cassette C is opened.
Is provided with a gate door 18 which opens and closes the airtightly. At a substantially middle level of the rear wall 52B substantially opposite to the cassette loading / unloading port 16, a substrate loading / unloading port 20 communicating with the transfer chamber 6 (see FIG. 9) is provided. Is provided with a gate valve G that opens and closes airtightly. The center level of the gate valve G serves as a transfer surface 54 for transferring the substrate W into and out of the transfer chamber 6, and transfers the substrate W through the substrate transfer port 20 while vertically moving the cassette C by one slot. It is supposed to do it.
【0014】このカセット室50内には、底部56より
気密に貫通させた昇降機構22を設けており、この上端
にカセット載置台24を取り付けて、これを昇降自在と
している。そして、このカセット載置台24上に、カセ
ットCを横置きで、すなわち前方開口部32(図11及
び図12参照)を搬送室6側に向けた状態で載置するよ
うになっている。このカセット載置台24は、複数枚、
例えば3枚のダミー基板DWを収容するダミー用カセッ
ト26と図11及び図12に示すようなカセットCを直
接的に載置支持するカセット台28とよりなる。ダミー
用カセット26の構造は、比較的自由度が大きく、図3
乃至図5においてカセット26内を通って紙面垂直方向
への光路を形成できるようになっている。そして、この
カセット台28とダミー用カセット26の上面とは、カ
セット台28の水平レベルを調整する複数のレベル調整
ネジ30により連結されている。In the cassette chamber 50, there is provided an elevating mechanism 22 which penetrates from the bottom portion 56 in an airtight manner. The cassette mounting table 24 is attached to the upper end of the elevating mechanism 22 so that the elevating mechanism can be moved up and down. The cassette C is placed horizontally on the cassette mounting table 24, that is, with the front opening 32 (see FIGS. 11 and 12) facing the transfer chamber 6 side. The cassette mounting table 24 includes a plurality of sheets,
For example, it comprises a dummy cassette 26 for accommodating three dummy substrates DW and a cassette table 28 for directly placing and supporting the cassette C as shown in FIGS. The structure of the dummy cassette 26 has a relatively large degree of freedom.
5 to 5, an optical path in the direction perpendicular to the paper surface can be formed through the inside of the cassette 26. The cassette table 28 and the upper surface of the dummy cassette 26 are connected by a plurality of level adjusting screws 30 for adjusting the horizontal level of the cassette table 28.
【0015】図示例ではレベル調整ネジ30が2個記載
されているが、実際には3個程度設けられる。上記カセ
ット台28には、図6及び図7にも示すようにカセット
有無検出スイッチ58が設けられる。具体的には、この
検出スイッチ58は、カセット台28の下面に板バネ等
よりなる弾性部材60の基端部をネジ62で固定し、そ
の先端に、上向きに起立させて押し棒64を設けると共
に、下向きに光遮断板66を取り付けて構成されてい
る。上記押し棒64は、カセット台28に形成した操作
孔68を貫通してその上端がカセット台28の水平レベ
ルよりも僅かに上方へ飛び出すようになっている(図6
参照)。Although two level adjusting screws 30 are shown in the illustrated example, actually three level adjusting screws 30 are provided. The cassette table 28 is provided with a cassette presence / absence detection switch 58 as shown in FIGS. Specifically, the detection switch 58 fixes the base end of an elastic member 60 made of a leaf spring or the like to the lower surface of the cassette base 28 with a screw 62, and provides a push rod 64 at the tip thereof so as to stand upright. A light blocking plate 66 is attached downward. The push rod 64 penetrates the operation hole 68 formed in the cassette table 28, and the upper end thereof projects slightly upward from the horizontal level of the cassette table 28 (FIG. 6).
reference).
【0016】そして、図6に示す状態において、光遮断
板66よりも僅かに下方の黒丸が位置するところに、後
述する第2の基板検出センサ部の光軸70を通すように
なっている。従って、図7に示すようにカセットCがカ
セット台28に載置されると押し棒64が下方に押され
ることによって光遮断板66が光軸70を通るレーザ光
を遮断することになり、これによってカセットCの存否
を検出できるようになっている。尚、カセット載置台2
4の構成は単に一例を示したに過ぎず、どのような構造
のカセット載置台でもよく、例えばカセット台28等を
カセット搬出入口26から外側へ展開するなどしてカセ
ットCを最終的にカセット台28上へ載置するような構
造のものでもよい。In the state shown in FIG. 6, an optical axis 70 of a second substrate detection sensor section, which will be described later, passes through a position where a black circle slightly below the light blocking plate 66 is located. Therefore, as shown in FIG. 7, when the cassette C is placed on the cassette table 28, the push rod 64 is pushed downward, so that the light blocking plate 66 blocks the laser beam passing through the optical axis 70. Thus, the presence or absence of the cassette C can be detected. In addition, the cassette mounting table 2
4 is merely an example, and a cassette mounting table having any structure may be used. For example, the cassette C may be finally expanded from the cassette loading / unloading port 26 to the outside by, for example, expanding the cassette table 28 or the like. 28 may be used.
【0017】そして、搬送面54の上方、より詳しくは
基板搬出入口20の上側には、カセットC内の基板Wの
有無を検知するための第1の基板検出センサ部72が設
けられる。この第1の基板検出センサ部72は、図2に
も示すように前方壁52Aにおいてカセット搬出入口1
6よりも僅かに上方に設けたレーザ発光素子46と、こ
のレーザ光LA1を受けるために後方壁52Bにおいて
基板搬出入口20よりも僅かに上方に設けたレーザ受光
素子48とにより構成されている。この第1の基板検出
センサ部72の取付レベルは、カセット室の高さを小さ
くするためには、できるだけ基板搬出入口20に接近さ
せるのがよい。このレーザ発光素子46からは、レーザ
光LA1が略水平方向に位置するレーザ受光素子48に
向けて放射され、基板Wがこのレーザ光を横切ることに
よってその有無を確認できるようになっている。A first substrate detection sensor section 72 for detecting the presence or absence of the substrate W in the cassette C is provided above the transport surface 54, more specifically, above the substrate carrying port 20. As shown in FIG. 2, the first substrate detection sensor 72 is provided on the front wall 52A at the cassette loading / unloading port 1.
The laser light emitting element 46 is provided slightly above the substrate 6 and a laser light receiving element 48 provided slightly above the substrate carrying-in / out port 20 on the rear wall 52B for receiving the laser light LA1. In order to reduce the height of the cassette chamber, it is preferable that the mounting level of the first substrate detection sensor unit 72 be as close to the substrate carrying-in / out opening 20 as possible. From the laser light emitting element 46, the laser light LA1 is emitted toward the laser light receiving element 48 located substantially in the horizontal direction, and the presence or absence of the laser light can be confirmed by the substrate W crossing the laser light.
【0018】発光素子46及び受光素子48が設けられ
る壁52A、52Bには、カセット室50内を見通せる
例えばガラス製のビューポート42、44が気密に設け
られて、上述のようにレーザ光を通過させるようになっ
ている。そして、このカセット収納容器52の基板搬出
入口20の下部側には、本発明の特長とする第2の基板
検出センサ部74(図1及び図2参照)が設けられる。
この第2の基板検出センサ部74は、上記レーザ発光素
子46とレーザ受光素子48のなす光軸に対して交わる
方向となるような方向に配置されたレーザ発光素子76
とこのレーザ光を受光するレーザ受光素子78とにより
形成される。具体的には、レーザ発光素子76は、カセ
ット収納容器52の一方の側壁52Cに例えばガラス製
のビューポート80を介して設けられ、レーザ受光素子
78は、上記側壁52Cと略対向する他方の側壁52D
に同じくビューポート82を介して取り付けられてい
る。この時のレーザ発光素子78からのレーザ光LA2
は水平方向へ放出され、図6において黒丸で示す光軸7
0を通るようになっている。尚、この図6においては、
カセット載置台24は、図3に示すように最下端部、す
なわちカセットCをロード、アンロードするポジション
に位置付けされた時の状態を示している。On the walls 52A, 52B on which the light emitting element 46 and the light receiving element 48 are provided, for example, glass view ports 42, 44, which can see through the cassette chamber 50, are provided in an airtight manner. It is made to let. A second substrate detection sensor 74 (see FIGS. 1 and 2), which is a feature of the present invention, is provided below the substrate loading / unloading port 20 of the cassette storage container 52.
The second substrate detection sensor section 74 includes a laser light emitting element 76 disposed in a direction that intersects with the optical axis formed by the laser light emitting element 46 and the laser light receiving element 48.
And a laser light receiving element 78 for receiving the laser light. Specifically, the laser light emitting element 76 is provided on one side wall 52C of the cassette housing 52 via, for example, a view port 80 made of glass, and the laser light receiving element 78 is provided on the other side wall substantially opposed to the side wall 52C. 52D
Is also attached via a view port 82. The laser light LA2 from the laser light emitting element 78 at this time
Is emitted in the horizontal direction, and the optical axis 7 indicated by a black circle in FIG.
It passes through zero. In FIG. 6,
As shown in FIG. 3, the cassette mounting table 24 is in a state of being positioned at the lowermost end, that is, a position where the cassette C is loaded and unloaded.
【0019】これにより、ダミー用カセット26が上昇
した時に、ダミー基板DWがレーザ発光素子76からの
レーザ光LA2を一時的に遮断することによりその有無
を検出できることになる。ここでは、第2の基板検出セ
ンサ部74は、第1の基板検出センサ部72の検出方向
と略直交する方向に設けたが、第1の基板検出センサ部
72の検出方向と略平行となるように設けてもよい。そ
の場合、この第2の基板検出センサ部74の発光素子7
6或いは受光素子78はゲートドア18に取り付けるこ
とになる。Thus, when the dummy cassette 26 is raised, the presence / absence of the dummy substrate DW can be detected by temporarily blocking the laser beam LA2 from the laser light emitting element 76. Here, the second substrate detection sensor unit 74 is provided in a direction substantially orthogonal to the detection direction of the first substrate detection sensor unit 72, but is substantially parallel to the detection direction of the first substrate detection sensor unit 72. It may be provided as follows. In that case, the light emitting element 7 of the second substrate detection sensor unit 74
6 or the light receiving element 78 is attached to the gate door 18.
【0020】次に、以上のように構成されたカセット室
の動作について説明する。まず、カセット室50のフロ
ント側のゲートドア18を開き、開放されたカセット搬
出入口16を介して、カセット載置台24上にカセット
Cを横置き状態で載置する(図3参照)。このカセット
Cの載置は、オペレータが行なってもよいし、或いは自
動搬送機構等を用いて自動で行なってもよく、その形態
は問わない。このカセットCを搬入する場合には、カセ
ット載置台24は、昇降機構22により最下端部の所定
の位置に位置付けられている。このように、カセットC
がカセット載置台24のカセット台28上に載置支持さ
れると、図6に示すようにカセット台28の上方に突出
していたカセット検出部材58の押し棒64は図7に示
すようにカセットCの底部に押されて、この結果、弾性
部材60は下方向に屈曲変形する。すると、この弾性部
材60の先端に設けていた光遮断板66が光軸70をさ
え切る、ここを通っていた第2の基板検出センサ部74
のレーザ発光素子76(図2参照)からのレーザ光LA
2を遮断することになる。この結果、レーザ受光素子7
8にはレーザ光LA2が届かなくなって、カセットCの
存在を認識することができる。Next, the operation of the cassette chamber configured as described above will be described. First, the gate door 18 on the front side of the cassette chamber 50 is opened, and the cassette C is placed horizontally on the cassette mounting table 24 via the opened cassette carry-in / out port 16 (see FIG. 3). The placement of the cassette C may be performed by an operator or automatically by using an automatic transport mechanism or the like, and the form is not limited. When carrying in the cassette C, the cassette mounting table 24 is positioned at a predetermined position at the lowermost end by the elevating mechanism 22. Thus, the cassette C
Is supported on the cassette table 28 of the cassette mounting table 24, the push rod 64 of the cassette detecting member 58 projecting above the cassette table 28 as shown in FIG. As a result, the elastic member 60 is bent and deformed downward. Then, the light blocking plate 66 provided at the tip of the elastic member 60 cuts even the optical axis 70, and the second substrate detection sensor part 74 passing therethrough
Laser light LA from the laser light emitting element 76 (see FIG. 2)
2 will be blocked. As a result, the laser light receiving element 7
8, the laser beam LA2 does not reach, and the presence of the cassette C can be recognized.
【0021】このように、カセットCの存在を確認した
ならば、ゲートドア18を閉め、次にマッピング操作へ
と移行する。このマッピング操作では、カセットCを載
置した状態でカセット載置台24を例えば一定の速度で
図4及び図5に示す順序で上昇させる。そして、この時
の各基板検出センサ部72、74の出力変化によりマッ
ピングを行なう。すなわち、図3に示す状態から昇降機
構22を駆動することによりカセット載置台24を徐々
に上昇させていく。この場合、当然のこととして、カセ
ットC内やダミー用カセット26内の各スロットと上昇
量とは一対一対応で予め規定されている。As described above, when the presence of the cassette C is confirmed, the gate door 18 is closed, and then the operation shifts to the mapping operation. In this mapping operation, with the cassette C mounted, the cassette mounting table 24 is raised at a constant speed, for example, in the sequence shown in FIGS. Then, mapping is performed based on a change in the output of each of the board detection sensor units 72 and 74 at this time. That is, the cassette mounting table 24 is gradually raised by driving the elevating mechanism 22 from the state shown in FIG. In this case, as a matter of course, each slot in the cassette C or the dummy cassette 26 and the amount of rise are predetermined in one-to-one correspondence.
【0022】従って、カセットCの上昇にともなって、
第1の基板検出センサ部72のレーザ発光素子46から
のレーザ光LA1が一時的に遮断されれば、それに対応
するスロットに基板Wが存在することを示し、遮断され
なければ対応するスロットには基板Wが存在しないこと
になる。同様に、第2の基板検出センサ部74のレーザ
発光素子76からのレーザ光LA2が一時的に遮断され
れば、それに対応するスロットにダミー基板DWが存在
することを示し、遮断されなければ対応するスロットに
はダミー基板DWが存在しないことになる。このように
して、各スロットにおける基板或いはダミー基板の存否
を確認して図5に示す位置までカセット載置台24が上
昇した時にマッピングが終了する。Therefore, as the cassette C rises,
If the laser light LA1 from the laser light emitting element 46 of the first substrate detection sensor unit 72 is temporarily cut off, it indicates that the substrate W is present in the corresponding slot. The substrate W does not exist. Similarly, if the laser beam LA2 from the laser light emitting element 76 of the second substrate detection sensor unit 74 is temporarily cut off, it indicates that the dummy substrate DW exists in the corresponding slot. The dummy substrate DW does not exist in the corresponding slot. In this way, the presence or absence of the substrate or the dummy substrate in each slot is confirmed, and the mapping is completed when the cassette mounting table 24 is raised to the position shown in FIG.
【0023】すなわち、第1の基板検出センサ部72の
レーザ光LA1の水平レベルに、カセットCの底部が略
達する所までカセット載置台24を上昇させればよいこ
とになり、この時点では、ダミー用カセット26内のダ
ミー基板DWのマッピングは第2の基板検出センサ部7
4により完了されていることになる。従って、図10に
示した場合と比較して、ダミー用カセット26の高さ分
及びこの上に支持されるカセット台28までの高さ分に
相当する距離L1だけ昇降機構22のストローク量を少
なくすることができる。従って、カセット室50の高さ
をこの距離L1に相当する分だけ低くすることができ、
この小型化を図ることができる。That is, the cassette mounting table 24 has only to be raised to a position where the bottom of the cassette C substantially reaches the horizontal level of the laser beam LA1 of the first substrate detection sensor unit 72. At this time, the dummy Mapping of the dummy substrate DW in the cassette 26 for the second substrate detection sensor unit 7
4 has been completed. Therefore, as compared with the case shown in FIG. 10, the stroke amount of the lifting mechanism 22 is reduced by the distance L1 corresponding to the height of the dummy cassette 26 and the height to the cassette table 28 supported thereon. can do. Therefore, the height of the cassette chamber 50 can be reduced by an amount corresponding to the distance L1, and
This downsizing can be achieved.
【0024】実際の装置例では、例えばカセットCが基
板として8インチサイズのウエハを25枚を収納できる
場合には、カセットCの高さL2は略200mm程度で
あり、また、3枚のダミー基板を収納できるダミー用カ
セット26の場合には、距離L1は80〜100mm程
度となる。従って、この場合には、カセット室50の高
さは最大100mm程度低くすることができることにな
る。また、ここではダミー基板DWの存否の検出に用い
る第2の基板検出センサ部74のレーザ発光素子76か
らのレーザ光LA2を、図6に示す光軸70に通すこと
によって、カセット有無検出部材58の屈曲状態を検出
してカセット有無の判断も行なうことができるようにし
ているので、カセット有無判断用のスイッチを別途設け
る必要もなく、装置を簡略化することができる。In an actual example of the apparatus, for example, when the cassette C can store 25 wafers of 8-inch size as substrates, the height L2 of the cassette C is about 200 mm and three dummy substrates are used. In the case of the dummy cassette 26 capable of storing the distance L1, the distance L1 is about 80 to 100 mm. Therefore, in this case, the height of the cassette chamber 50 can be reduced by about 100 mm at the maximum. Here, the laser light LA2 from the laser light emitting element 76 of the second substrate detection sensor unit 74 used for detecting the presence or absence of the dummy substrate DW is passed through the optical axis 70 shown in FIG. Since it is possible to determine the presence / absence of a cassette by detecting the bent state of the cassette, there is no need to separately provide a switch for determining the presence / absence of a cassette, and the apparatus can be simplified.
【0025】また、実施例では、ダミー基板DW及びダ
ミー用カセット26を用いた場合を例にとって説明した
が、これらを用いない場合にも本願発明装置を適用する
ことができる。この場合には、第2の基板検出センサ部
74のレーザ発光素子76とレーザ受光素子78とをそ
れぞれ前方壁52A及び後方壁52Bに設けた第1の基
板検出センサ部72のレーザ発光素子46とレーザ受光
素子48と略平行となるように設定する(図2参照)。
そして、これらの第1と第2の基板検出センサ部72、
74によりカセットC内の基板Wを、それぞれ区分を分
割してマッピングする。例えば第1の基板検出センサ部
72により、カセットC内の上半分のスロットの基板の
有無を検知してマッピングを行ない、第2の基板検出セ
ンサ部74によりカセットC内の残りの下半分のスロッ
トの基板の有無を検知してマッピングを行なうようにす
ればよい。Further, in the embodiment, the case where the dummy substrate DW and the dummy cassette 26 are used has been described as an example, but the apparatus of the present invention can be applied even when these are not used. In this case, the laser light emitting element 76 and the laser light receiving element 78 of the second substrate detection sensor unit 74 are provided on the front wall 52A and the rear wall 52B, respectively. It is set so as to be substantially parallel to the laser light receiving element 48 (see FIG. 2).
Then, these first and second substrate detection sensor units 72,
The substrate W in the cassette C is mapped by dividing the section into sections by 74. For example, the first substrate detection sensor unit 72 detects the presence / absence of a substrate in the upper half slot in the cassette C and performs mapping, and the second substrate detection sensor unit 74 performs the remaining lower half slot in the cassette C. The mapping may be performed by detecting the presence or absence of the substrate.
【0026】この場合にもカセット載置台24のストロ
ーク量を少なくでき、その分、カセット室の高さを低く
することができる。尚、ここではカセット室をクラスタ
ツール装置に適用した場合を例にとって説明したが、こ
れに限定されず、単独の処理室にカセット室を接続する
ような場合にも、本発明を適用し得るのは勿論である。
また、ここでは基板として半導体ウエハを例にとって説
明したが、これに限定されず、LCD基板、ガラス基板
等にも適用することができる。Also in this case, the stroke of the cassette mounting table 24 can be reduced, and the height of the cassette chamber can be reduced accordingly. Here, the case where the cassette chamber is applied to the cluster tool device has been described as an example, but the present invention is not limited to this, and the present invention can be applied to a case where the cassette chamber is connected to a single processing chamber. Of course.
Further, although a semiconductor wafer has been described as an example of the substrate here, the present invention is not limited to this, and may be applied to an LCD substrate, a glass substrate, and the like.
【0027】[0027]
【発明の効果】以上説明したように、本発明のカセット
室によれば、次のように優れた作用効果を発揮すること
ができる。カセット室に、上下に異なる位置に第1と第
2の基板検出センサ部を設けて、第1の基板検出センサ
部によりカセット内の基板のマッピングを行ない、第2
の基板検出センサ部によりダミー用カセット内のダミー
基板のマッピングを行なうようにしたので、カセット載
置台を上昇するストローク量が少なくて済み、その分、
カセット室の高さを抑制することができる。また、第2
の基板検出センサ部に、カセット載置台上に載置される
べきカセットの有無を判断するカセット有無検出機能を
合わせ持たせるようにしたので、カセットの有無を判断
する複雑なスイッチ機能を別途設ける必要がない。更
に、ダミー用カセットを用いない場合には、第1及び第
2の基板検出センサ部により、カセット内の基板の有無
を、カセット内の領域を例えば上下に分けて検出してマ
ッピングすることができ、この場合にもカセット載置台
のストローク量を少なくして、その分、カセット室の高
さを抑制することができる。As described above, according to the cassette chamber of the present invention, the following excellent effects can be obtained. First and second substrate detection sensor units are provided at different positions in the cassette chamber, and the first substrate detection sensor unit maps the substrates in the cassette.
Since the dummy substrate in the dummy cassette is mapped by the substrate detection sensor section, the amount of stroke for raising the cassette mounting table can be reduced, and accordingly,
The height of the cassette chamber can be suppressed. Also, the second
The board detection sensor section of this product has a cassette presence / absence detection function to determine the presence / absence of a cassette to be placed on the cassette mounting table, so it is necessary to separately provide a complicated switch function to determine the presence / absence of a cassette. There is no. Furthermore, when the dummy cassette is not used, the presence and absence of the substrate in the cassette can be detected and mapped by, for example, dividing the area in the cassette into upper and lower portions by the first and second substrate detection sensor units. Also in this case, the stroke amount of the cassette mounting table can be reduced, and the height of the cassette chamber can be suppressed accordingly.
【図1】本発明のカセット室を示す部分破断斜視図であ
る。FIG. 1 is a partially cutaway perspective view showing a cassette chamber of the present invention.
【図2】図1に示すカセット室の基板検出センサ部の取
り付け状態を示す概略断面図である。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing a mounting state of a substrate detection sensor unit in the cassette chamber shown in FIG.
【図3】図1に示すカセット室を示す断面図である。FIG. 3 is a sectional view showing the cassette chamber shown in FIG. 1;
【図4】図1に示すカセット室を示す断面図である。FIG. 4 is a sectional view showing the cassette chamber shown in FIG. 1;
【図5】図1に示すカセット室を示す断面図である。FIG. 5 is a sectional view showing the cassette chamber shown in FIG. 1;
【図6】カセットの有無を検知するスイッチ部を示す拡
大断面図である。FIG. 6 is an enlarged sectional view showing a switch unit for detecting the presence or absence of a cassette.
【図7】カセットの有無を検知するスイッチ部を示す拡
大断面図である。FIG. 7 is an enlarged sectional view showing a switch unit for detecting the presence or absence of a cassette.
【図8】複数の処理室を有するクラスタツール装置を示
す斜視図である。FIG. 8 is a perspective view showing a cluster tool device having a plurality of processing chambers.
【図9】図8に示す装置の平面断面図である。9 is a plan sectional view of the device shown in FIG.
【図10】カセット室を示す断面図である。FIG. 10 is a sectional view showing a cassette chamber.
【図11】カセットの一例を示す斜視図である。FIG. 11 is a perspective view showing an example of a cassette.
【図12】カセットを示す断面図である。FIG. 12 is a sectional view showing a cassette.
16 カセット搬出入口 20 基板搬出入口 24 カセット載置台 26 ダミー用カセット 28 カセット台 46 レーザ発光素子 48 レーザ受光素子 50 カセット室 52 カセット収納容器 72 第1の基板検出センサ部 74 第2の基板検出センサ部 76 レーザ発光素子 78 レーザ受光素子 LA1,LA2 レーザ光 DW ダミー基板 W 基板 DESCRIPTION OF SYMBOLS 16 Cassette carrying-in / out 20 Substrate carrying-in / out 24 Cassette mounting stand 26 Dummy cassette 28 Cassette stand 46 Laser light emitting element 48 Laser light receiving element 50 Cassette room 52 Cassette storage container 72 First substrate detection sensor part 74 Second substrate detection sensor part 76 Laser light emitting element 78 Laser light receiving element LA1, LA2 Laser light DW Dummy substrate W substrate
Claims (4)
るカセットを搬入・搬出させるために開閉可能になされ
たカセット搬出入口を有し、これと略対向する他側面に
前記カセット内の基板を搬入・搬出させるために開閉可
能になされた基板搬出入口を有するカセット収納容器
と、前記カセットを載置して昇降するカセット載置台
と、このカセット載置台に、ダミー基板を収容するため
に固定的に設けられたダミー用カセットとを有するカセ
ット室において、前記基板搬出入口より上側に設けた第
1の基板検出センサ部と、前記基板搬出入口より下側に
設けた第2の基板検出センサ部とを備え、前記カセット
載置台を上下方向へ移動させることにより前記第1の基
板検出センサ部により前記カセット内の基板の有無を検
出し、前記第2の基板検出センサ部により前記ダミー用
カセット内のダミー基板の有無を検出するようにしたこ
とを特徴とするカセット室。1. A cassette loading / unloading opening / closing port which can be opened / closed for loading / unloading a cassette capable of accommodating a plurality of substrates in multiple stages on one side, and a cassette loading / unloading opening substantially opposite to the cassette loading / unloading port. A cassette storage container having a substrate loading / unloading opening / closing port that can be opened / closed for loading / unloading a substrate, a cassette mounting table on which the cassette is mounted and moved up and down, and a cassette mounting table for accommodating dummy substrates. In a cassette chamber having a fixedly provided dummy cassette, a first substrate detection sensor section provided above the substrate carry-in / out port and a second substrate detection sensor provided below the substrate carry-in / out port The first substrate detection sensor unit detects the presence or absence of a substrate in the cassette by moving the cassette mounting table in the vertical direction, and detects the second substrate detection unit. A cassette chamber wherein the presence / absence of a dummy substrate in the dummy cassette is detected by an output sensor unit.
るカセットを搬入・搬出させるために開閉可能になされ
たカセット搬出入口を有し、これと略対向する他側面に
前記カセット内の基板を搬入・搬出させるために開閉可
能になされた基板搬出入口を有するカセット収納容器
と、前記カセットを載置して昇降するカセット載置台と
を有するカセット室において、前記基板搬出入口より上
側に設けた第1の基板検出センサ部と、前記基板搬出入
口より下側に設けた第2の基板検出センサ部とを備え、
前記カセット載置台を上下方向へ移動させることにより
前記第1と第2の基板検出センサ部により前記カセット
内の基板の有無を、領域を分けて検出するようにしたこ
とを特徴とするカセット室。2. A cassette loading / unloading port which is openable and closable for loading / unloading a cassette capable of accommodating a plurality of substrates in multiple stages on one side, and a cassette loading / unloading port on the other side substantially opposed to the cassette loading / unloading port. In a cassette chamber having a cassette storage container having a substrate loading / unloading opening and closing capable of opening and closing a substrate for loading and unloading a substrate, and a cassette loading table for loading and unloading the cassette, the cassette chamber is provided above the substrate loading / unloading entrance. A first substrate detection sensor unit, and a second substrate detection sensor unit provided below the substrate carry-in / out port,
A cassette chamber, wherein the presence or absence of a substrate in the cassette is detected separately for each region by the first and second substrate detection sensor units by moving the cassette mounting table in a vertical direction.
セット載置台にカセットが載置されているか否かを検出
するカセット有無検出機能を合わせ持つことを特徴とす
る請求項1または2記載のカセット室。3. The apparatus according to claim 1, wherein the second substrate detection sensor has a cassette presence / absence detection function for detecting whether a cassette is mounted on the cassette mounting table. Cassette room.
は、それぞれレーザ光を発するレーザ発光素子と、この
レーザ光を受けるレーザ受光素子よりなることを特徴と
する請求項1乃至3のいずれかに記載のカセット室。4. The apparatus according to claim 1, wherein each of the first and second substrate detection sensors comprises a laser light emitting element for emitting laser light and a laser light receiving element for receiving the laser light. Cassette room described in Crab.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29050397A JPH11111810A (en) | 1997-10-07 | 1997-10-07 | Cassette chamber |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29050397A JPH11111810A (en) | 1997-10-07 | 1997-10-07 | Cassette chamber |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11111810A true JPH11111810A (en) | 1999-04-23 |
Family
ID=17756870
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29050397A Pending JPH11111810A (en) | 1997-10-07 | 1997-10-07 | Cassette chamber |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11111810A (en) |
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