[go: up one dir, main page]

JPH11111666A - Substrate-drying device - Google Patents

Substrate-drying device

Info

Publication number
JPH11111666A
JPH11111666A JP27274897A JP27274897A JPH11111666A JP H11111666 A JPH11111666 A JP H11111666A JP 27274897 A JP27274897 A JP 27274897A JP 27274897 A JP27274897 A JP 27274897A JP H11111666 A JPH11111666 A JP H11111666A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
gas
transport direction
nozzle
drying
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP27274897A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Mitsuaki Yoshitani
光明 芳谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP27274897A priority Critical patent/JPH11111666A/en
Publication of JPH11111666A publication Critical patent/JPH11111666A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/227Drying of printed circuits

Landscapes

  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To surely remove, droplets at a rear part on an upstream side in transporting direction of a substrate for drying the substrate, while restraining the increase running cost. SOLUTION: A substrate-drying device 3 is a device such that air is blown to the surface of a substrate W on which a cleaning liquid is sticking, the cleaning liquid is blown out from the surface of the substrate W for drying the substrate W, and a transporting mechanism, a first air injection mechanism 30, and a second air injection mechanism 40 are provided. The transporting mechanism 10 transports the substrate W on which the washing liquid is sticking. The first air injection mechanism 30 is extended along a direction across the transporting direction of the substrate W and blowing an air to the surface of the substrate W, on which the cleaning liquid sticks. The second air injection mechanism 40 blows air to the rear part on the up stream side in the transporting direction of the substrate W, after the air has been blown on the entire surface of the substrate W by the first air injection mechanism 30.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、各種基板の乾燥装
置、特に、液晶表示器用基板等のFPD(Flat P
anel Display)用基板、フォトマスク用基
板、プリント基板、及び半導体基板に付着した処理液を
除去して基板を乾燥させる基板乾燥装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for drying various substrates, and more particularly to an FPD (Flat PDP) for a substrate for a liquid crystal display.
The present invention relates to a substrate drying apparatus for removing a processing liquid attached to a substrate for an anel display, a photomask substrate, a printed circuit board, and a semiconductor substrate and drying the substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶表示器、カラーフィルタ、フォトマ
スク等の製造工程では、基板洗浄処理等の各種の湿式表
面処理が行われる。そして、これらの基板の処理後に基
板の表面に付着した液滴を除去し乾燥させる作業が行わ
れる。従来の基板の乾燥装置として、例えば、搬送ロー
ラとエアーナイフとから構成されるものが知られてい
る。ここでは、表面に洗浄液などの処理液が付着した基
板を複数の搬送ローラによってほぼ水平に支持しつつ所
定の方向に搬送させる。そして、その長手方向が基板の
搬送方向と直交する方向に沿ったエアーナイフ(気体を
吹き付ける手段)に設けられたスリット状の吐出口か
ら、層状の気体を基板の表面に吹き付ける。すると、吹
き付けられた気体が基板に付着している処理液を基板の
搬送方向上流側に移動させ、処理液が基板の搬送方向上
流側の後端縁から基板の後方に吹き飛ばされる。これに
より、基板の表面から処理液が除去されて基板が乾燥す
る。
2. Description of the Related Art In a process of manufacturing a liquid crystal display, a color filter, a photomask and the like, various wet surface treatments such as a substrate cleaning treatment are performed. Then, after these substrates are processed, an operation of removing and drying the droplets attached to the surface of the substrate is performed. 2. Description of the Related Art As a conventional substrate drying apparatus, for example, an apparatus including a transport roller and an air knife is known. Here, a substrate having a processing liquid such as a cleaning liquid adhered to the surface is transported in a predetermined direction while being supported substantially horizontally by a plurality of transport rollers. Then, a layered gas is blown onto the surface of the substrate from a slit-shaped discharge port provided in an air knife (means for blowing gas) whose longitudinal direction is orthogonal to the direction of transport of the substrate. Then, the blown gas moves the processing liquid adhering to the substrate to the upstream side in the transport direction of the substrate, and the processing liquid is blown away from the rear end edge of the upstream side in the transport direction of the substrate to the rear of the substrate. Thereby, the processing liquid is removed from the surface of the substrate, and the substrate is dried.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記のような基板の乾
燥装置による液滴の除去では、基板の搬送方向上流側の
後部に液滴が残留することが多い。このため、基板の乾
燥が不十分となって液滴が基板上に局部的な薄膜を形成
し、後工程において剥離してパーティクルの原因となっ
たり、基板上に素子を作り込む上で弊害となったりす
る。
In the removal of droplets by the substrate drying apparatus as described above, the droplets often remain at the rear portion on the upstream side in the transport direction of the substrate. For this reason, the drying of the substrate becomes insufficient, and the droplets form a local thin film on the substrate, and peel off in a later process to cause particles, and there is a problem in that an element is formed on the substrate. Or become.

【0004】図9に基板の搬送方向上流側の後部に液滴
が残留する状態例を示す。エアーナイフ100により気
体が吹き付けられる空間を図9の矢印Aの方向に基板W
が搬送されていく。基板Wに付着している処理液(斜線
部分)は、搬送方向上流側に移動させられ、基板Wの搬
送方向上流側の後端縁から基板Wの後方(図9の右側)
に吹き飛ばされる。しかし、基板Wの後部、特に基板W
の後端縁には、図9に示すような領域に液滴が残ること
が多い。
FIG. 9 shows an example of a state in which droplets remain at the rear portion on the upstream side in the transport direction of the substrate. The space where the gas is blown by the air knife 100 is moved in the direction of arrow A in FIG.
Is transported. The processing liquid (hatched portion) adhering to the substrate W is moved to the upstream side in the transport direction, and from the rear end of the substrate W in the transport direction upstream to the rear of the substrate W (right side in FIG. 9).
Blown away. However, the rear of the substrate W, especially the substrate W
Droplets often remain in the region shown in FIG.

【0005】このような液滴残りを減少させるために、
エアーナイフを複数配備したり、気体の吹き付け量を増
やしたりする方策が採られることがある。しかし、この
ような方策を採った場合、エアー流量や排気量が増え、
製造コスト、特にランニングコストの増大につながると
いうデメリットがある。本発明の課題は、ランニングコ
ストの増加を抑えつつ、基板の乾燥、特に基板の搬送方
向上流側の後部の液滴の除去をより確実にすることにあ
る。
[0005] In order to reduce such residual droplets,
Measures may be taken to deploy multiple air knives or increase the amount of gas blown. However, when such measures are taken, the air flow and exhaust volume increase,
There is a demerit that it leads to an increase in manufacturing costs, especially running costs. SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a method for drying a substrate, and more particularly, for removing a droplet at a rear portion on the upstream side in the transport direction of a substrate, while suppressing an increase in running cost.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】請求項1に係る基板乾燥
装置は、処理液が付着した基板の表面に気体を吹き付け
ることにより処理液を基板の表面から吹き飛ばして基板
を乾燥させる装置において、搬送手段と、第1乾燥手段
と、第2乾燥手段とを備えている。搬送手段は処理液が
付着した基板を搬送する。第1乾燥手段は、基板の搬送
方向と交差する方向に沿って延設されており、処理液が
付着した基板の表面に気体を吹き付ける。第2乾燥手段
は、第1乾燥手段によって基板の表面全体に気体が吹き
付けられた後に、基板の搬送方向上流側の後部に対して
気体を吹き付ける。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an apparatus for drying a substrate, wherein the processing liquid is blown off from the surface of the substrate by blowing a gas onto the surface of the substrate to which the processing liquid is adhered. Means, a first drying means, and a second drying means. The transport unit transports the substrate to which the processing liquid has adhered. The first drying unit extends along a direction intersecting with the substrate transport direction, and blows a gas onto the surface of the substrate to which the processing liquid has adhered. The second drying unit blows the gas to the rear part on the upstream side in the transport direction of the substrate after the first drying unit blows the gas on the entire surface of the substrate.

【0007】ここでは、搬送手段によって搬送されてい
る基板に対して、まず、第1乾燥手段が基板の表面全体
に気体を吹き付けていく。すると、基板の表面に付着し
ていた処理液が基板の搬送方向上流側に押し流されてい
く。そして、主として基板の搬送方向上流側の後端から
処理液が吹き飛ばされる。次に、第2乾燥手段が基板の
搬送方向上流側の後部に気体を吹き付ける。これによ
り、第1乾燥手段による気体の吹き付けでは取り除けず
に基板の搬送方向上流側の後部に残存していた処理液が
吹き飛ばされる。なお、第2乾燥手段による気体の吹き
付け時には、基板の搬送を一時的に停止させてもよい
し、基板の搬送速度を落としてもよいし、あるいは基板
の搬送速度をそのまま維持していてもよい。
[0007] Here, the first drying means first blows gas onto the entire surface of the substrate being conveyed by the conveying means. Then, the processing liquid adhering to the surface of the substrate is flushed to the upstream side in the transport direction of the substrate. Then, the processing liquid is mainly blown off from the rear end on the upstream side in the transport direction of the substrate. Next, the second drying unit blows a gas to the rear part on the upstream side in the transport direction of the substrate. As a result, the processing liquid remaining at the rear portion on the upstream side in the transport direction of the substrate without being removed by blowing the gas by the first drying means is blown off. When the gas is blown by the second drying unit, the transfer of the substrate may be temporarily stopped, the transfer speed of the substrate may be reduced, or the transfer speed of the substrate may be maintained. .

【0008】このように、第1乾燥手段による気体の吹
き付けでは取り除くことができずに部分的に残存する処
理液を、その部分の乾燥に機能を特化した第2乾燥手段
によって吹き飛ばすこととしたため、装置のコストやラ
ンニングコストを抑えつつ基板の乾燥をより確実に行う
ことができる。請求項2に係る基板乾燥装置は、請求項
1に記載の装置において、第1乾燥手段は第1気体吐出
口を有している。また、第2乾燥手段は、気体吹き付け
ノズルと、ノズル移動手段とを有している。第1気体吐
出口は基板の搬送方向と概ね直交する方向に沿って延び
ている。気体吹き付けノズルには、先端に、概ね基板の
搬送方向に沿って延びる第2気体吐出口が形成されてい
る。ノズル移動手段は、気体吹き付けノズルを、基板の
搬送方向と直交する方向に移動させる。
As described above, the processing liquid which cannot be removed by blowing gas by the first drying means and remains partially is blown off by the second drying means specialized in drying the part. In addition, the substrate can be more reliably dried while suppressing the cost of the apparatus and the running cost. According to a second aspect of the present invention, in the apparatus for drying a substrate according to the first aspect, the first drying means has a first gas discharge port. Further, the second drying means has a gas blowing nozzle and a nozzle moving means. The first gas discharge port extends along a direction substantially perpendicular to the substrate transport direction. A second gas discharge port is formed at the tip of the gas blowing nozzle and extends substantially along the substrate transport direction. The nozzle moving means moves the gas blowing nozzle in a direction orthogonal to the substrate transfer direction.

【0009】ここでは、第1気体吐出口が基板の搬送方
向と概ね直交する方向に沿って延びているため、搬送さ
れている基板の表面全体に気体を吹き付けることが容易
である。また、第2気体吐出口が概ね基板の搬送方向に
沿って延びているため、第2気体吐出口からの気体の流
れの方向と第1気体吐出口からの気体の流れの方向とが
異なる。このため、第2乾燥手段による気体吹き付け時
において、第1乾燥手段による気体吹き付け後の基板の
搬送方向上流側の後部の残存処理液には、第1乾燥手段
による気体吹き付け時と異なる方向から気体が吹き付け
られることになる。したがって、基板に付着した処理液
の除去の効果が向上する。また、第2乾燥手段の気体吹
き付けノズルが基板の搬送方向と概ね直交する方向に移
動することにより、一側端から他側端まで基板の搬送方
向上流側の後部の全体にわたって気体が吹き付けられ
る。
Here, since the first gas discharge port extends along a direction substantially perpendicular to the direction in which the substrate is transported, it is easy to blow the gas over the entire surface of the substrate being transported. Further, since the second gas discharge port extends substantially along the substrate transfer direction, the direction of gas flow from the second gas discharge port is different from the direction of gas flow from the first gas discharge port. For this reason, when the gas is blown by the second drying means, the remaining processing liquid at the rear part on the upstream side in the transport direction of the substrate after the gas is blown by the first drying means is supplied with gas from a direction different from that at the time of the gas blowing by the first drying means. Will be sprayed. Therefore, the effect of removing the processing liquid attached to the substrate is improved. Further, by moving the gas blowing nozzle of the second drying means in a direction substantially orthogonal to the substrate transport direction, gas is blown from one side end to the other side over the entire rear part on the upstream side in the substrate transport direction.

【0010】請求項3に係る基板乾燥装置は、請求項2
に記載の装置において、第2気体吐出口から吹き出され
る気体の流れの方向は、基板の搬送方向と直交する方向
に対して搬送方向上流側に傾いている。ここでは、第2
気体吐出口から吹き出される気体の流れの方向の設定に
より、基板の搬送方向上流側の後部の処理液が基板の搬
送方向上流側の後端から外側(搬送方向上流側)に吹き
飛ばされるようにしている。これにより、基板の搬送方
向上流側の後部に残る処理液をより確実に除去すること
ができる。
A third aspect of the present invention provides a substrate drying apparatus.
In the apparatus described in (1), the direction of the flow of the gas blown out from the second gas discharge port is inclined upstream in the transport direction with respect to a direction orthogonal to the transport direction of the substrate. Here, the second
By setting the direction of the flow of the gas blown out from the gas discharge port, the processing liquid at the rear part on the upstream side in the transport direction of the substrate is blown outward (upstream side in the transport direction) from the rear end on the upstream side in the transport direction of the substrate. ing. This makes it possible to more reliably remove the processing liquid remaining in the rear portion on the upstream side in the transport direction of the substrate.

【0011】請求項4に係る基板乾燥装置は、請求項1
に記載の装置において、第2乾燥手段は、気体吹き付け
ノズルと、ノズル移動手段とを有している。気体吹き付
けノズルには、第2気体吐出口及び気体吸引口が形成さ
れている。ノズル移動手段は、気体吹き付けノズルを、
基板の搬送方向と直交する方向に移動させる。ここで
は、第2気体吐出口から吹き出された気体により基板の
搬送方向上流側の後部から吹き飛ばされた処理液が、気
体吸引口に吸い込まれていく。このため、吹き飛ばされ
た処理液が基板の他の部分や他の基板に再付着すること
が抑えられている。また、気体の吹き付けに加えて気体
の吸引も行っているため、第2乾燥手段による基板に付
着した処理液の除去の効果が高くなる。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a substrate drying apparatus.
The second drying means has a gas blowing nozzle and a nozzle moving means. A second gas discharge port and a gas suction port are formed in the gas blowing nozzle. The nozzle moving means includes a gas blowing nozzle,
The substrate is moved in a direction perpendicular to the transport direction of the substrate. Here, the processing liquid blown off from the rear part on the upstream side in the transport direction of the substrate by the gas blown out from the second gas discharge port is sucked into the gas suction port. For this reason, the blown processing liquid is suppressed from re-adhering to another part of the substrate or another substrate. In addition, since the gas is sucked in addition to the gas, the effect of removing the processing liquid attached to the substrate by the second drying unit is enhanced.

【0012】請求項5に係る基板乾燥装置は、請求項2
から4のいずれかに記載の装置において、第2乾燥手段
による気体の吹き付けは搬送が一時的に停止している基
板の搬送方向上流側の後部に対して行われる。ここで
は、基板を一時停止させるため、第2乾燥手段の気体吹
き付けノズルの動きを1次元的なものとすることがで
き、ノズル移動手段を簡易かつ低コストのものとするこ
とができる。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a substrate drying apparatus.
In the apparatus according to any one of Items 1 to 4, the blowing of the gas by the second drying unit is performed on a rear portion on the upstream side in the transport direction of the substrate where the transport is temporarily stopped. Here, since the substrate is temporarily stopped, the movement of the gas blowing nozzle of the second drying unit can be made one-dimensional, and the nozzle moving unit can be made simple and low-cost.

【0013】請求項6に係る基板乾燥装置は、請求項2
から4のいずれかに記載の装置において、第2乾燥手段
による気体の吹き付けは搬送中の基板の搬送方向上流側
の後部に対して行われる。ノズル移動手段は、気体吹き
付けノズルを、基板の搬送方向と直交する方向に移動さ
せつつ、且つ基板の搬送速度と実質的に同じ速度で基板
の搬送方向に移動させる。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a substrate drying apparatus.
In the apparatus described in any one of Items 1 to 4, the blowing of the gas by the second drying unit is performed on a rear portion of the substrate being transported on the upstream side in the transport direction. The nozzle moving means moves the gas blowing nozzle in a direction perpendicular to the substrate transport direction and at the same speed as the substrate transport speed in the substrate transport direction.

【0014】ここでは、第2乾燥手段の気体吹き付けノ
ズルの動きが2次元的なものとなり、気体吹き付けノズ
ルは搬送方向に対して斜めに移動することになる。これ
により、基板の搬送を止めることなく基板の搬送方向上
流側の後部の処理液を吹き飛ばすことができる。したが
って、生産性が向上する。
Here, the movement of the gas blowing nozzle of the second drying means becomes two-dimensional, and the gas blowing nozzle moves obliquely with respect to the transport direction. Thereby, the processing liquid in the rear part on the upstream side in the transport direction of the substrate can be blown off without stopping the transport of the substrate. Therefore, productivity is improved.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

〔第1実施形態〕図1に本発明の第1実施形態による基
板乾燥装置を示す。この基板乾燥装置は、洗浄室1に隣
接して配置された乾燥室2の内部に配備されており、洗
浄室1において純水等が吹き付けられることにより洗浄
された角型の基板Wに付着した液滴を除去するものであ
る。乾燥室2とは反対側の洗浄室1の側壁には基板Wを
投入するための投入口1aが、洗浄室1と乾燥室2との
間の隔壁には基板Wを洗浄室1から乾燥室2へ導くため
の導入口2aが、乾燥室2の出口側の側壁には基板Wを
搬出するための搬出口2bが、それぞれ設けられてい
る。投入口1aから投入された基板Wが導入口2aを介
して搬出口2bまで搬出されるように基板Wの搬送経路
が構成されている。
[First Embodiment] FIG. 1 shows a substrate drying apparatus according to a first embodiment of the present invention. This substrate drying apparatus is provided inside a drying chamber 2 arranged adjacent to the cleaning chamber 1 and adheres to the cleaned rectangular substrate W by spraying pure water or the like in the cleaning chamber 1. This is for removing droplets. On the side wall of the cleaning chamber 1 opposite to the drying chamber 2, there is provided an inlet 1 a for charging the substrate W, and on the partition wall between the cleaning chamber 1 and the drying chamber 2, the substrate W is transferred from the cleaning chamber 1 to the drying chamber. The drying chamber 2 is provided with an introduction port 2a for guiding the substrate W to the drying chamber 2 and an outlet 2b for unloading the substrate W. The transfer path of the substrate W is configured such that the substrate W input from the input port 1a is carried out to the outlet 2b via the inlet 2a.

【0016】洗浄室1は、搬送される基板Wを挟んで上
下に対向配備された複数個の洗浄ノズル1bを備え、図
示しない洗浄液供給源から供給された純水等の洗浄液
を、各ノズル1bから搬送される基板Wの上下両面に向
けて吹き付けることにより基板Wの表面に付着した不要
物等を洗い流すように構成されている。なお、洗浄室1
の下部には、洗浄液とともに基板Wから除去された不要
物を排出するための排出口1cが設けられている。同様
に乾燥室2の下部には、後述する基板乾燥装置3によっ
て基板Wの表面から除去された洗浄液を排出するための
排出口2cが設けられている。また、上記の搬送経路に
沿って基板Wを水平に搬送する搬送機構は後述する乾燥
室2のものと同様のものであり、ここでの説明は省略す
る。
The cleaning chamber 1 is provided with a plurality of cleaning nozzles 1b which are vertically arranged opposite to each other across the substrate W to be conveyed. The cleaning liquid such as pure water supplied from a cleaning liquid supply source (not shown) is supplied to each of the nozzles 1b. It is configured to spray unnecessary objects and the like attached to the surface of the substrate W by spraying the liquid onto the upper and lower surfaces of the substrate W transferred from the substrate W. The washing room 1
A discharge port 1c for discharging unnecessary substances removed from the substrate W together with the cleaning liquid is provided at a lower portion of the substrate. Similarly, a discharge port 2c for discharging the cleaning liquid removed from the surface of the substrate W by the substrate drying device 3 described below is provided in a lower portion of the drying chamber 2. Further, the transport mechanism for horizontally transporting the substrate W along the above transport path is the same as that of the drying chamber 2 described later, and the description is omitted here.

【0017】次に、乾燥室2の内部に配備された基板乾
燥装置の構成を、図1〜図3を参照して説明する。基板
乾燥装置3は、主として、搬送機構(搬送手段)10
と、第1気体噴射機構(第1乾燥手段)30と、第2気
体噴射機構(第2乾燥手段)40とから構成されてい
る。
Next, the structure of the substrate drying apparatus provided inside the drying chamber 2 will be described with reference to FIGS. The substrate drying apparatus 3 mainly includes a transport mechanism (transport unit) 10
And a first gas injection mechanism (first drying means) 30 and a second gas injection mechanism (second drying means) 40.

【0018】搬送機構10は、基板Wを水平方向に搬送
する機構であって、主として、基板Wを載置する第1及
び第2遊転ローラ11,12と、駆動ローラ13〜16
とから構成されている。駆動ローラ13〜16は、水平
な状態で基板Wの搬送方向と直交する方向に延びてお
り、その両端が軸受を介して両本体フレーム50に支持
されている。駆動ローラ13〜16の両端付近には段差
付の1対の中間ローラ13a〜16aが対向して装着さ
れており、これらの1対の中間ローラ13a〜16aの
段差間に基板Wの端縁が載置される。また、駆動ローラ
13〜16の中央部にはローラ13b〜16bが装着さ
れている。これらのローラ13b〜16bにより、搬送
中の基板Wの中央部分の垂れ下がりを抑えている。駆動
ローラ13〜16は、図示しないチェーン等を介してモ
ータに連結されており、洗浄室1で洗浄された基板Wを
水平な状態で搬送して搬出口2bから外部へと搬出す
る。駆動ローラ13〜16の上方には、図1に示すよう
に、基板Wを駆動ローラ13〜16に対して押圧しつつ
駆動する上乗せローラ17〜20が配備されている。こ
の上乗せローラ17〜20と駆動ローラ13〜16との
間に基板Wの両端縁が挟まれることで、基板Wの搬送中
のスリップが抑えられる。
The transport mechanism 10 is a mechanism for transporting the substrate W in the horizontal direction. The transport mechanism 10 mainly includes first and second idler rollers 11 and 12 on which the substrate W is placed, and drive rollers 13 to 16.
It is composed of The drive rollers 13 to 16 extend in a horizontal state in a direction perpendicular to the direction of transport of the substrate W, and both ends thereof are supported by both body frames 50 via bearings. A pair of stepped intermediate rollers 13a to 16a are mounted facing each other near both ends of the drive rollers 13 to 16, and the edge of the substrate W is located between the steps of the pair of intermediate rollers 13a to 16a. Is placed. Rollers 13b to 16b are mounted at the center of the drive rollers 13 to 16. With these rollers 13b to 16b, drooping of the central portion of the substrate W during transport is suppressed. The drive rollers 13 to 16 are connected to a motor via a chain or the like (not shown), and transport the substrate W cleaned in the cleaning chamber 1 in a horizontal state and carry it out of the outlet 2b to the outside. As shown in FIG. 1, additional rollers 17 to 20 for driving the substrate W while pressing the substrate W against the drive rollers 13 to 16 are provided above the drive rollers 13 to 16. Since both edges of the substrate W are sandwiched between the additional rollers 17 to 20 and the driving rollers 13 to 16, slippage during the transport of the substrate W is suppressed.

【0019】第1気体噴射機構30は、駆動ローラ13
と駆動ローラ14との間に基板Wの搬送方向と交差する
ように配置されており、搬送機構10によって搬送され
る基板Wを挟んで上方と下方に対向して配置される1対
のエアーナイフ31を備えている。上下の各エアーナイ
フ31は、その先端が先細り形状に形成された板部材を
互いに向かい合うように重ね合わせたものであり、先端
がスリット状の第1噴射口(第1気体吐出口)31aと
なっている。このエアーナイフ31は、図示しない気体
供給源から供給された高圧空気を帯状にした気体(エア
ー)を吹き出すためのものである。第1噴射口31a
は、基板Wの搬送方向と交差する方向に基板Wの幅より
も長く延びており、基板Wの幅方向全部分にわたってエ
アーをほぼ均一に吹き出す。ここでは第1噴射口31a
が基板Wの搬送方向と直交する方向に対して少し傾いて
いるが、第1噴射口31aは必ずしも傾いている必要は
ない。
The first gas injection mechanism 30 includes a drive roller 13
And a pair of air knives disposed between the first and second drive rollers 14 so as to intersect with the direction in which the substrate W is transported. 31 are provided. Each of the upper and lower air knives 31 is formed by laminating plate members each having a tapered tip so as to face each other, and has a slit-shaped first injection port (first gas discharge port) 31a. ing. The air knife 31 blows out a gas (air) formed by stripping high-pressure air supplied from a gas supply source (not shown). First injection port 31a
Extends longer than the width of the substrate W in a direction intersecting with the transport direction of the substrate W, and blows air substantially uniformly over the entire width direction of the substrate W. Here, the first injection port 31a
Are slightly inclined with respect to the direction orthogonal to the direction of transport of the substrate W, but the first injection port 31a does not necessarily have to be inclined.

【0020】第2気体噴射機構40は、駆動ローラ15
と駆動ローラ16との間に配置されており、1対の気体
吹き付けノズル41と、ノズル支持部材42と、図示し
ないモータ、ワイヤ等、及びスライドレール44から成
るノズルスライド機構(ノズル移動手段)43とから構
成されている。1対の気体吹き付けノズル41は、基板
Wを挟んで、上方と下方に対向して配置される。この気
体吹き付けノズル41の基板W側の先端には、基板Wの
搬送方向に延びる第2噴射口(第2気体吐出口)41a
が形成されている。第2噴射口41aの幅は、基板Wの
搬送方向上流側の後部にエアーを吹き付けるためには十
分な長さとなっているが、第1噴射口31aの幅に較べ
ると短い(図2参照)。第2噴射口41aは、第2噴射
口41aから吹き出されるエアーの向きが基板Wの搬送
方向上流側に傾くように、基板Wの搬送方向に対して傾
きを持った状態で基板Wの搬送方向に延びている。この
ように、第2噴射口41aが基板Wの搬送方向に沿って
延びているため、第2噴射口41aからのエアーの流れ
の方向と第1噴射口31aからのエアーの流れの方向と
は異なったものとなる。なお、気体吹き付けノズル41
には、気体供給源に接続されている図示しない高圧空気
ホースによってエアーが供給される。
The second gas injection mechanism 40 includes a drive roller 15
A nozzle slide mechanism (nozzle moving means) 43 that is disposed between the motor and the drive roller 16 and includes a pair of gas blowing nozzles 41, a nozzle support member 42, a motor, wires, and the like (not shown), and a slide rail 44. It is composed of The pair of gas blowing nozzles 41 are arranged facing upward and downward with the substrate W interposed therebetween. A second injection port (second gas discharge port) 41 a extending in the transport direction of the substrate W is provided at the tip of the gas blowing nozzle 41 on the substrate W side.
Are formed. The width of the second injection port 41a is long enough to blow air to the rear part on the upstream side in the transport direction of the substrate W, but is shorter than the width of the first injection port 31a (see FIG. 2). . The second ejection port 41a is configured to transfer the substrate W while being inclined with respect to the transport direction of the substrate W such that the direction of the air blown out from the second ejection port 41a is inclined toward the upstream side in the transport direction of the substrate W. Extending in the direction. As described above, since the second ejection port 41a extends in the transport direction of the substrate W, the direction of the air flow from the second ejection port 41a and the direction of the air flow from the first ejection port 31a are different. It will be different. The gas blowing nozzle 41
Is supplied with air by a high-pressure air hose (not shown) connected to a gas supply source.

【0021】ノズル支持部材42は、上下の両気体吹き
付けノズル41の一端がそれぞれ固定される2つの固定
部42aと、後述するスライドレール44上をスライド
するスライド部42cと、両固定部42a及びスライド
部42cの両者を結ぶ連結部42bとから形成されてい
る。ノズルスライド機構43は、ノズル支持部材42を
基板Wの搬送方向と直交する方向に移動させることによ
って気体吹き付けノズル41を基板Wの搬送方向上流側
の後端に沿って移動させる機構である。このノズルスラ
イド機構43は、スライドレール44と、モータ及びワ
イヤ等から成る駆動系から構成される。スライドレール
44は、ノズル支持部材42のスライド部42cをスラ
イドレール44の長手方向に沿って移動可能なように保
持するレールであって、両端が図2及び図3に示すよう
に両本体フレーム50に固定されている。モータ及びワ
イヤ等の駆動系は、気体吹き付けノズル41及びノズル
支持部材42を移動させるものである。ここではモータ
及びワイヤ等によって駆動系を構成しているが、ベルト
及びプーリーを採用してもよいし、電動ボールネジを採
用することもできる。
The nozzle support member 42 includes two fixing portions 42a to which one ends of the upper and lower gas blowing nozzles 41 are fixed, a sliding portion 42c that slides on a slide rail 44 described later, the two fixing portions 42a and the sliding portion. And a connecting portion 42b connecting the two portions 42c. The nozzle slide mechanism 43 is a mechanism that moves the gas blowing nozzle 41 along the rear end of the substrate W in the transport direction by moving the nozzle support member 42 in a direction orthogonal to the transport direction of the substrate W. The nozzle slide mechanism 43 includes a slide rail 44 and a drive system including a motor and wires. The slide rail 44 is a rail that holds the slide portion 42c of the nozzle support member 42 so as to be movable along the longitudinal direction of the slide rail 44, and has two body frames 50 at both ends as shown in FIGS. It is fixed to. A drive system such as a motor and a wire moves the gas blowing nozzle 41 and the nozzle support member 42. Here, the drive system is constituted by a motor and wires, but a belt and a pulley may be employed, or an electric ball screw may be employed.

【0022】なお、ノズル支持部材42のスライド部4
2cとスライドレール44とのスライドによる発塵を抑
えるために、スライドレール44を覆うようにスライド
レールカバーが設置される。また、ノズル支持部材42
のスライド部42cとスライドレール44とのスライド
により発塵したものをパージするために、図示しないパ
ージ配管が設けられる。
The sliding portion 4 of the nozzle support member 42
A slide rail cover is provided so as to cover the slide rail 44 in order to suppress dust generation due to sliding between the slide rail 2c and the slide rail 44. Further, the nozzle support member 42
A purge pipe (not shown) is provided to purge dust generated by sliding between the slide portion 42c and the slide rail 44.

【0023】次に、基板乾燥装置3の動作及び有利な効
果について説明する。洗浄室1で洗浄された基板Wは、
第1気体噴射機構30によりエアーが吹き付けられてい
る駆動ローラ13及び上乗せローラ17の基板Wの搬送
方向下流側の空間に、一定の間隔を開けて搬送されてく
る。すると、基板Wの移動に従って、基板Wの表面に付
着していた洗浄液が基板Wの搬送方向上流側に押し流さ
れ、主として基板Wの搬送方向上流側の後端から後方へ
吹き飛ばされる。そして基板Wの搬送方向上流側の後端
が上述のエアーが吹き付けられている空間を通り過ぎる
と、基板Wの表面の洗浄液はほぼ除去された状態となる
が、基板Wの搬送方向上流側の後端には若干の洗浄液の
液滴が残存する。
Next, the operation and advantageous effects of the substrate drying apparatus 3 will be described. The substrate W cleaned in the cleaning chamber 1 is
The substrate W is conveyed at a certain interval into a space on the downstream side in the conveyance direction of the substrate W between the driving roller 13 and the superposing roller 17 to which the air is blown by the first gas injection mechanism 30. Then, in accordance with the movement of the substrate W, the cleaning liquid attached to the surface of the substrate W is flushed to the upstream side in the transport direction of the substrate W, and is mainly blown backward from the rear end of the upstream side in the transport direction of the substrate W. When the rear end on the upstream side in the transport direction of the substrate W passes through the space where the above-described air is blown, the cleaning liquid on the surface of the substrate W is almost removed, but the rear side on the upstream side in the transport direction of the substrate W is removed. Some cleaning liquid droplets remain at the end.

【0024】基板Wの搬送方向上流側の後端が図1及び
図2に示すように両気体吹き付けノズル41間まで搬送
されてくると、図示しない制御部からの指令によって搬
送機構10が停止して、基板Wの搬送が一時的に停止す
る。そして、第2気体噴射機構40の気体吹き付けノズ
ル41が、基板Wの搬送方向上流側の後端の一側端側
(図2の上側)の図2に示す位置から、基板Wの搬送方
向上流側の後端の他側端側(図2の下側)へと、基板W
の搬送方向上流側の後端に沿って移動する。このとき、
両気体吹き付けノズル41の第2噴射口41aから基板
Wの搬送方向上流側の後部へとエアーが吹き付けられ
る。これにより、第1気体噴射機構30によるエアーの
吹き付けでは取り除けずに基板Wの搬送方向上流側の後
端に残存していた液滴が吹き飛ばされる。
When the rear end of the substrate W on the upstream side in the transport direction is transported between the two gas blowing nozzles 41 as shown in FIGS. 1 and 2, the transport mechanism 10 is stopped by a command from a control unit (not shown). As a result, the transfer of the substrate W is temporarily stopped. Then, the gas blowing nozzle 41 of the second gas injection mechanism 40 is moved from the position shown in FIG. 2 on one side (upper side in FIG. 2) of the rear end on the upstream side in the transport direction of the substrate W to the upstream side in the transport direction of the substrate W. To the other end (lower side in FIG. 2) of the rear end of the substrate W
Along the rear end on the upstream side in the transport direction. At this time,
Air is blown from the second spray ports 41a of both gas blowing nozzles 41 to the rear part on the upstream side in the transport direction of the substrate W. As a result, droplets remaining at the rear end of the substrate W on the upstream side in the transport direction are blown off without being removed by the blowing of air by the first gas injection mechanism 30.

【0025】ここでは、第2噴射口41aからのエアー
の流れの方向と第1噴射口31aからのエアーの流れの
方向とが異なるため、第1気体噴射機構30によるエア
ー吹き付け後の基板Wの搬送方向上流側の後部の残存洗
浄液には、第1気体噴射機構30によるエアー吹き付け
時と異なる方向からエアーが吹き付けられることにな
る。したがって、基板Wに付着した洗浄液の除去の効果
が大きくなる。
Here, since the direction of the air flow from the second injection port 41a is different from the direction of the air flow from the first injection port 31a, the substrate W after the air blowing by the first gas injection mechanism 30 is discharged. Air is blown to the remaining cleaning liquid at the rear part on the upstream side in the transport direction from a direction different from that when air is blown by the first gas spraying mechanism 30. Therefore, the effect of removing the cleaning liquid attached to the substrate W is enhanced.

【0026】また、第2噴射口41aから吹き出される
エアーの向きが基板Wの搬送方向上流側に傾いているた
め、基板Wの搬送方向上流側の後部の洗浄液が基板Wの
搬送方向上流側の後端から搬送方向上流側に吹き飛ばさ
れる。これにより、基板Wの搬送方向上流側の後部に残
る洗浄液がより確実に除去される。第2気体噴射機構4
0の気体吹き付けノズル41が基板Wの搬送方向上流側
の後端の他側端側(図2の下側)まで移動し終わると、
搬送機構10により基板Wの搬送が再開されるととも
に、気体吹き付けノズル41が元の位置に戻される。
Further, since the direction of the air blown out from the second injection port 41a is inclined toward the upstream side in the transport direction of the substrate W, the cleaning liquid at the rear of the upstream side in the transport direction of the substrate W is moved upstream in the transport direction of the substrate W. From the rear end to the upstream side in the transport direction. Thus, the cleaning liquid remaining on the rear portion of the substrate W on the upstream side in the transport direction is more reliably removed. Second gas injection mechanism 4
When the zero gas blowing nozzle 41 has moved to the other end (lower side in FIG. 2) of the rear end on the upstream side in the transport direction of the substrate W,
The transport of the substrate W is restarted by the transport mechanism 10, and the gas blowing nozzle 41 is returned to the original position.

【0027】このように、本実施形態においては、単に
エアー量を増やすのではなく、第1気体噴射機構30に
よるエアーの吹き付けでは取り除くことができずに残る
部分的な残存洗浄液を、その部分の乾燥に機能を特化し
た第2気体噴射機構40によって吹き飛ばすこととして
いる。このため、基板Wの乾燥がより確実となる一方、
基板乾燥装置3のランニングコストの増加が抑えられて
いる。
As described above, in the present embodiment, instead of merely increasing the amount of air, the partial remaining cleaning liquid that cannot be removed by blowing air by the first gas injection mechanism 30 is removed. It is blown off by the second gas injection mechanism 40 specialized in the function of drying. For this reason, while drying of the substrate W becomes more reliable,
The increase in the running cost of the substrate drying device 3 is suppressed.

【0028】また、第1気体噴射機構30のエアーナイ
フ31と同様のノズルを第2気体噴射機構40に用いた
とすると、既に乾燥している基板Wの表面に対してエア
ーを吹き付けることとなるため、基板Wに静電気が発生
しやすい。これに対し、ここでは、基板Wの搬送方向上
流側の後部に第2気体噴射機構40の気体吹き付けノズ
ル41により部分的にエアーを吹き付けるため、静電気
の発生を抑えることができる。
If the same nozzle as the air knife 31 of the first gas injection mechanism 30 is used for the second gas injection mechanism 40, air will be blown onto the already dried surface of the substrate W. In addition, static electricity is easily generated on the substrate W. On the other hand, here, since air is partially blown to the rear part on the upstream side in the transport direction of the substrate W by the gas blowing nozzle 41 of the second gas injection mechanism 40, generation of static electricity can be suppressed.

【0029】なお、図2に示す第2気体噴射機構40の
代わりに、図10に示す第2気体噴射機構140や図1
1に示す第2気体噴射機構240のように複数の気体吹
き付けノズルを有する気体噴射機構を用いればより効果
が上がる。図10に示す第2気体噴射機構140は、ノ
ズル支持部材142から基板Wの搬送方向に向かって左
右にそれぞれ気体吹き付けノズル141a及び141b
が延びる構成である。この第2気体噴射機構140を用
いれば、気体吹き付けノズル141a及び141bを元
の位置に戻さなくても次の基板を処理することができ、
処理タクトの向上を図ることができる。気体吹き付けノ
ズル141a及び141bのどちらからエアーを吹き出
させるかについては、切替弁によってエアー供給流路を
切り替えることにより選択させればよい。また、同一基
板に対して気体吹き付けノズル141a及び141bを
往復させれば、より確実に液滴を除去することができ
る。
In place of the second gas injection mechanism 40 shown in FIG. 2, the second gas injection mechanism 140 shown in FIG.
Use of a gas injection mechanism having a plurality of gas blowing nozzles, such as the second gas injection mechanism 240 shown in FIG. The second gas ejection mechanism 140 illustrated in FIG. 10 includes gas spray nozzles 141a and 141b that are respectively left and right from the nozzle support member 142 in the transport direction of the substrate W.
Is extended. By using the second gas injection mechanism 140, the next substrate can be processed without returning the gas blowing nozzles 141a and 141b to their original positions,
The processing tact can be improved. Which of the gas blowing nozzles 141a and 141b blows out the air may be selected by switching the air supply flow path by the switching valve. Further, if the gas blowing nozzles 141a and 141b are reciprocated with respect to the same substrate, droplets can be more reliably removed.

【0030】図11に示す第2気体噴射機構240は、
ノズル支持部材242から2対の気体吹き付けノズル2
41a及び241bが平行に延びる構成である。この第
2気体噴射機構240を用いれば、気体吹き付けノズル
241a及び241bを1度スライドさせるだけで、よ
り確実な液滴の除去が可能となる。 〔第2実施形態〕第1実施形態では、基板Wの搬送方向
に延びる第2噴射口41aを有する第2気体噴射機構4
0を採用しているが、本実施形態では、この第2気体噴
射機構40の代わりに図4〜図6に示す第2気体噴射機
構60を採用する。
The second gas injection mechanism 240 shown in FIG.
Two pairs of gas blowing nozzles 2 from the nozzle support member 242
41a and 241b extend in parallel. If this second gas injection mechanism 240 is used, it is possible to more reliably remove the liquid droplets only by sliding the gas blowing nozzles 241a and 241b once. [Second Embodiment] In the first embodiment, the second gas injection mechanism 4 having the second injection port 41a extending in the transport direction of the substrate W is used.
However, in the present embodiment, a second gas injection mechanism 60 shown in FIGS. 4 to 6 is used instead of the second gas injection mechanism 40.

【0031】なお、以降の説明において第1実施形態と
同一又は同様な部材の符号は同一符号を付すものとす
る。第2気体噴射機構60は、駆動ローラ15と駆動ロ
ーラ16との間に配置されており、ノズル61と、図示
しないモータ、ワイヤ等、及びスライドレール64から
成るノズルスライド機構63とから構成されている。
In the following description, the same or similar members as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals. The second gas injection mechanism 60 is disposed between the drive roller 15 and the drive roller 16 and includes a nozzle 61 and a nozzle slide mechanism 63 including a motor, wires, and the like (not shown) and a slide rail 64. I have.

【0032】ノズル61は、溝が設けられているほぼ直
方体形状の本体部61aと、本体部61aの下面から下
方に延びる連結部61fと、スライドレール64上をス
ライドするスライド部61gとから形成されている。連
結部61fは、本体部61a及びスライド部61gを結
んでいる。本体部61aには、基板Wの搬送方向に直交
する方向に溝が設けられており、この溝の側面で基板W
の搬送方向上流側の後部の上面と対向する第1面61
b、この溝の側面で基板Wの搬送方向上流側の後部の下
面と対向する第2面61c、及びこの溝の底面である第
3面61dが形成されている(図6参照)。第3面61
dの中央には孔(気体吸引口)61eが開けられてお
り、排気用の排気ホース74に接続している。第1面6
1bには孔61eに向かって延びる3本の噴射パイプ7
1が装着されており、第2面61cには孔61eに向か
って延びる3本の噴射パイプ72が装着されている。こ
れらの噴射パイプ71,72にはエアー供給用の高圧空
気ホース73からエアーが供給されて、噴射パイプ7
1,72は図6に示すように基板Wの搬送方向上流側の
後部に向かってエアーを噴射する。噴射パイプ71,7
2から噴射されるエアーの向きは基板Wの搬送方向上流
側に傾いている。
The nozzle 61 is formed of a substantially rectangular parallelepiped main body portion 61a provided with a groove, a connecting portion 61f extending downward from the lower surface of the main body portion 61a, and a slide portion 61g sliding on a slide rail 64. ing. The connecting portion 61f connects the main body portion 61a and the sliding portion 61g. A groove is provided in the main body 61a in a direction orthogonal to the transport direction of the substrate W, and the side of the substrate W
First surface 61 facing the upper surface of the rear part on the upstream side in the conveyance direction
b, a second surface 61c facing the lower surface of the rear portion on the upstream side in the transport direction of the substrate W on the side surface of the groove, and a third surface 61d which is the bottom surface of the groove are formed (see FIG. 6). Third surface 61
A hole (gas suction port) 61e is opened at the center of d, and is connected to an exhaust hose 74 for exhaust. First surface 6
1b has three injection pipes 7 extending toward the hole 61e.
1 are mounted, and three injection pipes 72 extending toward the hole 61e are mounted on the second surface 61c. Air is supplied to the injection pipes 71 and 72 from a high-pressure air hose 73 for supplying air.
1, 72 injects air toward the rear part on the upstream side in the transport direction of the substrate W as shown in FIG. Injection pipes 71, 7
The direction of the air injected from 2 is inclined to the upstream side in the transport direction of the substrate W.

【0033】ノズルスライド機構63は、ノズル61を
基板Wの搬送方向と直交する方向に移動させることによ
ってノズル61を基板Wの搬送方向上流側の後端に沿っ
て移動させる機構である。このノズルスライド機構63
は、スライドレール64と、モータ及びワイヤ等から成
る駆動系から構成される。スライドレール64は、ノズ
ル61のスライド部61gをスライドレール64の長手
方向に沿って移動可能なように保持するレールであっ
て、両端が両本体フレーム50に固定されている。モー
タ及びワイヤ等の駆動系はノズル61を移動させるもの
である。
The nozzle slide mechanism 63 is a mechanism for moving the nozzle 61 along the rear end on the upstream side in the transport direction of the substrate W by moving the nozzle 61 in a direction orthogonal to the transport direction of the substrate W. This nozzle slide mechanism 63
Is composed of a slide rail 64 and a drive system including a motor and wires. The slide rail 64 is a rail that holds the slide portion 61g of the nozzle 61 so as to be movable along the longitudinal direction of the slide rail 64, and both ends are fixed to both body frames 50. A drive system such as a motor and a wire moves the nozzle 61.

【0034】他の構成については、第1実施形態と同様
である。本実施形態では、基板Wの搬送方向上流側の後
端が図4〜図6に示すようにノズル61の第1面61b
及び第2面61cと対向する位置まで搬送されてくる
と、制御部からの指令によって搬送機構10が停止し
て、基板Wの搬送が一時的に停止する。そして、第2気
体噴射機構60のノズル61が、基板Wの搬送方向上流
側の後端の一側端側(図5の上側)の図5に示す位置か
ら、基板Wの搬送方向上流側の後端の他側端側(図5の
下側)へと、基板Wの搬送方向上流側の後端に沿って移
動する。このとき、ノズル61の噴射パイプ71,72
から基板Wの搬送方向上流側の後部へとエアーが吹き付
けられると同時に、図示しない排気ファンが作動して孔
61eからのエアーの吸引が開始される。これにより、
第1気体噴射機構30によるエアーの吹き付けでは取り
除けずに基板Wの搬送方向上流側の後端に残存していた
液滴が吹き飛ばされる。ここでは、噴射パイプ71,7
2から吹き出されたエアーにより基板Wの搬送方向上流
側の後部から吹き飛ばされた液滴が、孔61eに吸い込
まれていく。このため、吹き飛ばされた液滴が基板Wの
他の部分や他の基板Wに再付着することが抑えられる。
また、エアーの吹き付けに加えてエアーの吸引も行って
いるため、基板Wに付着した洗浄液の除去の効果が高
い。
The other configuration is the same as that of the first embodiment. In the present embodiment, the rear end of the substrate W on the upstream side in the transport direction is the first surface 61b of the nozzle 61 as shown in FIGS.
When the wafer W is transported to a position facing the second surface 61c, the transport mechanism 10 is stopped by a command from the control unit, and the transport of the substrate W is temporarily stopped. Then, the nozzle 61 of the second gas ejection mechanism 60 is moved from the position shown in FIG. 5 on one side (upper side in FIG. 5) of the rear end on the upstream side in the transport direction of the substrate W to the upstream side in the transport direction of the substrate W The substrate W moves along the rear end on the upstream side in the transport direction of the substrate W to the other end (the lower side in FIG. 5) of the rear end. At this time, the injection pipes 71, 72 of the nozzle 61
At the same time, air is blown toward the rear part on the upstream side in the transport direction of the substrate W, and at the same time, an exhaust fan (not shown) is operated to start suction of air from the hole 61e. This allows
The droplets remaining at the rear end on the upstream side in the transport direction of the substrate W are blown off without being removed by the blowing of air by the first gas injection mechanism 30. Here, the injection pipes 71, 7
The droplets blown off from the rear part on the upstream side in the transport direction of the substrate W by the air blown out from 2 are sucked into the holes 61e. For this reason, it is possible to prevent the blown droplets from re-adhering to another portion of the substrate W or another substrate W.
Further, since the suction of air is performed in addition to the blowing of air, the effect of removing the cleaning liquid attached to the substrate W is high.

【0035】第2気体噴射機構60のノズル61が基板
Wの搬送方向上流側の後端の他側端側(図5の下側)ま
で移動し終わると、搬送機構10により基板Wの搬送が
再開されるとともに、ノズル61が元の位置に戻され
る。 〔第3実施形態〕第1,第2実施形態では、基板Wの搬
送方向に直交する方向に延びるスライドレール44,6
4を有する第2気体噴射機構40,60を採用している
が、本実施形態では、これらの第2気体噴射機構40,
60の代わりに図7に示す第2気体噴射機構80を採用
する。
When the nozzle 61 of the second gas injection mechanism 60 has finished moving to the other end (lower side in FIG. 5) of the rear end on the upstream side in the transport direction of the substrate W, the transport mechanism 10 starts transporting the substrate W. At the same time, the nozzle 61 is returned to the original position. [Third Embodiment] In the first and second embodiments, the slide rails 44, 6 extending in the direction orthogonal to the direction in which the substrate W is conveyed.
Although the second gas injection mechanisms 40, 60 having the second gas injection mechanisms 40, 60 are employed in the present embodiment,
The second gas injection mechanism 80 shown in FIG.

【0036】なお、以降の説明において第1実施形態あ
るいは第2実施形態と同一又は同様な部材の符号は同一
符号を付すものとする。基板乾燥装置3は、主として、
搬送機構10と、第1気体噴射機構30と、第2気体噴
射機構80とから構成されている。搬送機構10は、第
1及び第2遊転ローラ11,12と、駆動ローラ13,
14,16,91とから構成されている。駆動ローラ1
3,14,16は、水平な状態で基板Wの搬送方向と直
交する方向に延びており、その両端が軸受を介して両本
体フレーム50に支持されている。駆動ローラ91は、
それぞれ両本体フレーム50に片持ちの状態で支持され
ている(図7参照)。駆動ローラ13,14,16,9
1は、図示しないチェーン等を介してモータに連結され
ている。駆動ローラ13,14,16,91の上方に
は、それぞれ上乗せローラが配備されている。
In the following description, the same or similar members as those in the first or second embodiment are denoted by the same reference numerals. The substrate drying device 3 mainly includes
It comprises a transport mechanism 10, a first gas injection mechanism 30, and a second gas injection mechanism 80. The transport mechanism 10 includes first and second idle rollers 11 and 12, a driving roller 13,
14, 16, and 91. Drive roller 1
3, 14, 16 extend horizontally in a direction perpendicular to the direction of transport of the substrate W, and both ends thereof are supported by both body frames 50 via bearings. The drive roller 91 is
Each is supported by both body frames 50 in a cantilevered state (see FIG. 7). Drive rollers 13, 14, 16, 9
Reference numeral 1 is connected to the motor via a chain or the like (not shown). Above the driving rollers 13, 14, 16, 91, additional rollers are provided, respectively.

【0037】第2気体噴射機構80は、駆動ローラ14
と駆動ローラ16との間に配置されており、ノズル81
と、図示しないモータ、ワイヤ等、及びスライドレール
84から成るノズルスライド機構83とから構成されて
いる。ノズル81は、図8に示すように、本体部61a
と、連結部81fと、図示しないスライド部とから形成
されている。本体部61aには、第1面61b、第2面
61c、及び第3面61dが形成されている。第3面6
1dの中央には孔(気体吸引口)61eが開けられてお
り、排気用の排気ホース74に接続している。第1面6
1bには孔61eに向かって延びる3本の噴射パイプ7
1が装着されており、第2面61cには孔61eに向か
って延びる3本の噴射パイプ72が装着されている。こ
れらの噴射パイプ71,72にはエアー供給用の高圧空
気ホース73からエアーが供給される。図7及び図8に
示すように、本体部61aは、各噴射パイプ71,72
からのエアーが基板Wの搬送方向上流側の後端に吹き当
たるように、配置されている。一方、連結部81f及び
スライド部は、後述するスライドレール84に対応した
配置となっている。このため、連結部81fは本体部6
1aに対して斜めに接合されている。
The second gas injection mechanism 80 includes the drive roller 14
And the drive roller 16, the nozzle 81
And a nozzle slide mechanism 83 including a motor, wires and the like (not shown) and a slide rail 84. The nozzle 81 is, as shown in FIG.
, A connecting portion 81f, and a slide portion (not shown). The main body 61a has a first surface 61b, a second surface 61c, and a third surface 61d. Third surface 6
A hole (gas suction port) 61e is formed in the center of 1d, and is connected to an exhaust hose 74 for exhaust. First surface 6
1b has three injection pipes 7 extending toward the hole 61e.
1 are mounted, and three injection pipes 72 extending toward the hole 61e are mounted on the second surface 61c. Air is supplied to these injection pipes 71 and 72 from a high-pressure air hose 73 for supplying air. As shown in FIG. 7 and FIG. 8, the main body 61 a
This is arranged so that air from above blows on the rear end on the upstream side in the transport direction of the substrate W. On the other hand, the connecting portion 81f and the sliding portion are arranged corresponding to a slide rail 84 described later. For this reason, the connecting portion 81f is
It is joined obliquely to 1a.

【0038】ノズルスライド機構83は、ノズル81を
基板Wの搬送方向と交差する方向に移動させることによ
って、すなわちノズル81を基板Wの搬送方向と直交す
る方向に移動させつつ基板Wの搬送方向に移動させるこ
とによって、ノズル81を搬送中の基板Wの搬送方向上
流側の後端に沿って移動させる機構である。このノズル
スライド機構83は、スライドレール84と、モータ及
びワイヤ等から成る駆動系から構成される。スライドレ
ール84は、ノズル81のスライド部をスライドレール
84の長手方向に沿って移動可能なように保持するレー
ルであって、両端が両本体フレーム50に固定されてい
る。このスライドレール84の長手方向は、基板Wの搬
送方向に対して傾斜している。スライドレール84の一
端は駆動ローラ14の下部近傍に固定され、スライドレ
ール84の他端は駆動ローラ16の下部近傍に固定され
る。モータ及びワイヤ等の駆動系はノズル81を移動さ
せるものである。
The nozzle slide mechanism 83 moves the nozzle 81 in a direction orthogonal to the substrate W transfer direction, that is, while moving the nozzle 81 in a direction orthogonal to the substrate W transfer direction. This mechanism moves the nozzle 81 along the rear end on the upstream side in the transport direction of the substrate W being transported. The nozzle slide mechanism 83 includes a slide rail 84 and a drive system including a motor, a wire, and the like. The slide rail 84 is a rail for holding the slide portion of the nozzle 81 so as to be movable along the longitudinal direction of the slide rail 84, and both ends are fixed to both body frames 50. The longitudinal direction of the slide rail 84 is inclined with respect to the transport direction of the substrate W. One end of the slide rail 84 is fixed near the lower part of the drive roller 14, and the other end of the slide rail 84 is fixed near the lower part of the drive roller 16. A drive system such as a motor and a wire moves the nozzle 81.

【0039】他の構成については、第1実施形態あるい
は第2実施形態と同様である。本実施形態では、基板W
の搬送方向上流側の後端が図7及び図8に示すようにノ
ズル81の第1面61b及び第2面61cと対向する位
置まで搬送されてくると、制御部からの指令によって、
搬送機構10による基板Wの搬送速度及びノズルスライ
ド機構83によるノズルの移動速度が同時に制御され
る。この制御では、基板Wの搬送方向上流側の後端とノ
ズル81の第3面61dとの距離を図8に示すような距
離に一定に保ちながら、ノズル81を基板Wの搬送方向
上流側の後端の一側端側(図7の上側)の図7に示す位
置から、基板Wの搬送方向上流側の後端の他側端側(図
7の下側)へと移動させる。また、このとき、ノズル8
1の噴射パイプ71,72から基板Wの搬送方向上流側
の後部へとエアーが吹き付けられると同時に孔61eか
らエアーが吸引される。これにより、第1気体噴射機構
30によるエアーの吹き付けでは取り除けずに基板Wの
搬送方向上流側の後端に残存していた液滴が吹き飛ばさ
れるとともに、噴射パイプ71,72から吹き出された
エアーにより基板Wの搬送方向上流側の後部から吹き飛
ばされた液滴が、孔61eに吸い込まれていく。
The other structure is the same as that of the first or second embodiment. In the present embodiment, the substrate W
When the rear end on the upstream side in the conveyance direction is conveyed to a position facing the first surface 61b and the second surface 61c of the nozzle 81 as shown in FIGS.
The transfer speed of the substrate W by the transfer mechanism 10 and the moving speed of the nozzle by the nozzle slide mechanism 83 are simultaneously controlled. In this control, while keeping the distance between the rear end of the substrate W on the upstream side in the transport direction and the third surface 61d of the nozzle 81 constant at a distance as shown in FIG. The substrate W is moved from the position shown in FIG. 7 on one side (upper side in FIG. 7) to the other side end (lower side in FIG. 7) of the rear end on the upstream side in the transport direction of the substrate W. At this time, the nozzle 8
Air is blown from one of the injection pipes 71 and 72 to the rear portion on the upstream side in the transport direction of the substrate W, and at the same time, air is sucked from the hole 61e. Accordingly, the droplets remaining at the rear end of the substrate W on the upstream side in the transport direction without being removed by the blowing of the air by the first gas injection mechanism 30 are blown off, and the air blown out from the injection pipes 71 and 72 is used. The droplets blown off from the rear part on the upstream side in the transport direction of the substrate W are sucked into the holes 61e.

【0040】第2気体噴射機構80のノズル81が基板
Wの搬送方向上流側の後端の他側端側(図7の下側)ま
で移動し終わると、基板Wの搬送速度が元に戻され、ま
たノズル81がノズルスライド機構83により元の位置
に戻される。ここでは、第2気体噴射機構80のノズル
81の動きが2次元的なものであり、ノズル81は基板
Wの搬送方向に対して斜めに移動する。これにより、基
板Wの搬送を止めることなく基板Wの搬送方向上流側の
後部の液滴を吹き飛ばすことができるので、生産性が向
上する。
When the nozzle 81 of the second gas injection mechanism 80 has finished moving to the other end (lower side in FIG. 7) of the rear end on the upstream side in the transport direction of the substrate W, the transport speed of the substrate W returns to the original speed. The nozzle 81 is returned to the original position by the nozzle slide mechanism 83. Here, the movement of the nozzle 81 of the second gas ejection mechanism 80 is two-dimensional, and the nozzle 81 moves obliquely with respect to the transport direction of the substrate W. Accordingly, the rear droplet on the upstream side in the transport direction of the substrate W can be blown off without stopping the transport of the substrate W, so that productivity is improved.

【0041】なお、第3実施形態において、ノズル81
に代えて第1実施形態に示す気体吹き付けノズル41、
気体吹き付けノズル141a及び141b、あるいは気
体吹き付けノズル241a及び241bを用いてもよ
い。上述のそれぞれの実施形態においては、基板Wは搬
送機構10によって水平な状態で搬送されるが、本発明
はこれに限定されるものではなく、例えば、搬送機構1
0によって基板Wを基板Wの搬送方向に向かって左右い
ずれかに傾斜させたり、基板Wの主面が鉛直方向に沿う
ように基板Wをたてて搬送させて、これに応じてその他
の機構を配置する構成としてもよい。
In the third embodiment, the nozzle 81
Instead of the gas blowing nozzle 41 shown in the first embodiment,
The gas blowing nozzles 141a and 141b or the gas blowing nozzles 241a and 241b may be used. In each of the above-described embodiments, the substrate W is transported in a horizontal state by the transport mechanism 10, but the present invention is not limited to this.
0, the substrate W is inclined leftward or rightward in the transport direction of the substrate W, or the substrate W is vertically transported so that the main surface of the substrate W is along the vertical direction. May be arranged.

【0042】[0042]

【発明の効果】本発明では、第1乾燥手段による気体の
吹き付けでは取り除くことができずに残る部分的な残存
処理液を、その部分の乾燥に機能を特化した第2乾燥手
段によって吹き飛ばすこととしたため、装置のコストや
ランニングコストを抑えつつ基板の乾燥をより確実に行
うことができる。
According to the present invention, the partially remaining treatment liquid that cannot be removed by blowing gas with the first drying means is blown off by the second drying means specialized in drying the part. Accordingly, the substrate can be more reliably dried while suppressing the cost and running cost of the apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1実施形態による基板乾燥装置を含
む乾燥室及び洗浄室の側面図。
FIG. 1 is a side view of a drying chamber and a cleaning chamber including a substrate drying apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】第1実施形態の基板乾燥装置の平面図。FIG. 2 is a plan view of the substrate drying apparatus according to the first embodiment.

【図3】図2のIII −III 矢視図。FIG. 3 is a view taken in the direction of arrows III-III in FIG. 2;

【図4】第2実施形態の基板乾燥装置の側面図。FIG. 4 is a side view of a substrate drying apparatus according to a second embodiment.

【図5】第2実施形態の基板乾燥装置の平面図。FIG. 5 is a plan view of a substrate drying apparatus according to a second embodiment.

【図6】第2実施形態のノズルの斜視図。FIG. 6 is a perspective view of a nozzle according to a second embodiment.

【図7】第3実施形態の基板乾燥装置の平面図。FIG. 7 is a plan view of a substrate drying apparatus according to a third embodiment.

【図8】第3実施形態のノズルの斜視図。FIG. 8 is a perspective view of a nozzle according to a third embodiment.

【図9】従来の基板乾燥の状態図。FIG. 9 is a state diagram of conventional substrate drying.

【図10】第1実施形態の別の第2気体噴射機構の概略
図。
FIG. 10 is a schematic diagram of another second gas injection mechanism of the first embodiment.

【図11】第1実施形態のさらに別の第2気体噴射機構
の概略図。
FIG. 11 is a schematic view of still another second gas injection mechanism of the first embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

3 基板乾燥装置 10 搬送機構(搬送手段) 30 第1気体噴射機構(第1乾燥手段) 31a 第1噴出口(第1気体吐出口) 40,60,80,140,240 第2気体噴射機
構(第2乾燥手段) 41,141a,141b,241a,241b 気
体吹き付けノズル 43,63,83 ノズルスライド機構(ノズル移動
手段) 61,81 ノズル(気体吹き付けノズル) 61e 孔(気体吸引口) 71,72 噴射パイプ(第2気体吐出口)
Reference Signs List 3 substrate drying device 10 transfer mechanism (conveyance means) 30 first gas ejection mechanism (first drying means) 31a first ejection port (first gas ejection port) 40, 60, 80, 140, 240 second gas ejection mechanism ( Second drying means) 41, 141a, 141b, 241a, 241b Gas blowing nozzles 43, 63, 83 Nozzle slide mechanism (nozzle moving means) 61, 81 Nozzle (gas blowing nozzle) 61e Hole (gas suction port) 71, 72 Injection Pipe (second gas discharge port)

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】処理液が付着した基板の表面に気体を吹き
付けることにより処理液を基板の表面から吹き飛ばして
基板を乾燥させる基板乾燥装置において、 処理液が付着した基板を搬送する搬送手段と、 基板の搬送方向と交差する方向に沿って延設され、処理
液が付着した基板の表面に気体を吹き付ける第1乾燥手
段と、 基板の表面全体にわたる前記第1乾燥手段による気体の
吹き付け後に、基板の搬送方向上流側の後部に気体を吹
き付ける第2乾燥手段と、を備えた基板乾燥装置。
1. A substrate drying apparatus for blowing a gas onto a surface of a substrate to which a processing liquid has adhered to blow off the processing liquid from the surface of the substrate to dry the substrate. A first drying unit that extends along a direction intersecting with the substrate transport direction and sprays a gas onto the surface of the substrate to which the processing liquid has adhered; A second drying unit for blowing gas to a rear portion on the upstream side in the transport direction of the substrate.
【請求項2】前記第1乾燥手段は基板の搬送方向と概ね
直交する方向に沿って延びる第1気体吐出口を有してお
り、 前記第2乾燥手段は、概ね基板の搬送方向に沿って延び
る第2気体吐出口が先端に形成されている気体吹き付け
ノズルと、前記気体吹き付けノズルを基板の搬送方向と
直交する方向に移動させるノズル移動手段とを有してい
る、請求項1に記載の基板乾燥装置。
2. The apparatus according to claim 1, wherein said first drying means has a first gas discharge port extending in a direction substantially perpendicular to a direction in which the substrate is transported. The nozzle according to claim 1, further comprising: a gas blowing nozzle having an extended second gas discharge port formed at a tip thereof; and a nozzle moving unit configured to move the gas blowing nozzle in a direction orthogonal to a substrate transport direction. Substrate drying device.
【請求項3】前記第2気体吐出口から吹き出される気体
の流れの方向は、基板の搬送方向と直交する方向に対し
て搬送方向上流側に傾いている、請求項2に記載の基板
乾燥装置。
3. The substrate drying apparatus according to claim 2, wherein the direction of the flow of the gas blown out from said second gas discharge port is inclined upstream in the transport direction with respect to a direction orthogonal to the transport direction of the substrate. apparatus.
【請求項4】前記第2乾燥手段は、第2気体吐出口及び
気体吸引口が形成されている気体吹き付けノズルと、前
記気体吹き付けノズルを基板の搬送方向と直交する方向
に移動させるノズル移動手段とを有している、請求項1
に記載の基板乾燥装置。
4. A second drying means, comprising: a gas blowing nozzle having a second gas discharge port and a gas suction port formed therein; and a nozzle moving means for moving the gas blowing nozzle in a direction orthogonal to a substrate transfer direction. 2. The method according to claim 1, wherein
3. The substrate drying apparatus according to item 1.
【請求項5】前記第2乾燥手段による気体の吹き付けは
搬送が一時的に停止している基板の搬送方向上流側の後
部に対して行われる、請求項2から4のいずれかに記載
の基板乾燥装置。
5. The substrate according to claim 2, wherein the blowing of the gas by the second drying unit is performed on a rear portion on the upstream side in the transport direction of the substrate on which the transport is temporarily stopped. Drying equipment.
【請求項6】前記第2乾燥手段による気体の吹き付けは
搬送中の基板の搬送方向上流側の後部に対して行われ、 前記ノズル移動手段は、前記気体吹き付けノズルを、基
板の搬送方向と直交する方向に移動させつつ、且つ基板
の搬送速度と実質的に同じ速度で基板の搬送方向に移動
させる、請求項2から4のいずれかに記載の基板乾燥装
置。
6. The gas blowing by the second drying means is performed on a rear portion on the upstream side in the transport direction of the substrate being transported, and the nozzle moving means moves the gas blowing nozzle perpendicular to the substrate transport direction. The substrate drying apparatus according to any one of claims 2 to 4, wherein the substrate drying apparatus moves the substrate in the substrate transport direction at substantially the same speed as the substrate transport speed while moving the substrate in the same direction.
JP27274897A 1997-10-06 1997-10-06 Substrate-drying device Pending JPH11111666A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27274897A JPH11111666A (en) 1997-10-06 1997-10-06 Substrate-drying device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27274897A JPH11111666A (en) 1997-10-06 1997-10-06 Substrate-drying device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11111666A true JPH11111666A (en) 1999-04-23

Family

ID=17518217

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27274897A Pending JPH11111666A (en) 1997-10-06 1997-10-06 Substrate-drying device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11111666A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6238803B1 (en) 1996-02-26 2001-05-29 Applied Materials, Inc. Titanium nitride barrier layers
US7017281B2 (en) 2002-08-30 2006-03-28 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate processing apparatus and substrate processing method drying substrate by spraying gas
WO2019011382A1 (en) * 2017-07-14 2019-01-17 RENA Technologies GmbH DRYING DEVICE AND METHOD FOR DRYING A SUBSTRATE
US20210229488A1 (en) * 2008-12-19 2021-07-29 Flooring Industries Limited, Sarl Methods for manufacturing panels and panel obtained thereby

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6238803B1 (en) 1996-02-26 2001-05-29 Applied Materials, Inc. Titanium nitride barrier layers
US7017281B2 (en) 2002-08-30 2006-03-28 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate processing apparatus and substrate processing method drying substrate by spraying gas
US20210229488A1 (en) * 2008-12-19 2021-07-29 Flooring Industries Limited, Sarl Methods for manufacturing panels and panel obtained thereby
WO2019011382A1 (en) * 2017-07-14 2019-01-17 RENA Technologies GmbH DRYING DEVICE AND METHOD FOR DRYING A SUBSTRATE
US12372300B2 (en) 2017-07-14 2025-07-29 RENA Technologies GmbH Drying device and method for drying a substrate
US12523425B2 (en) 2017-07-14 2026-01-13 RENA Technologies GmbH Drying device and method for drying a substrate

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4003441B2 (en) Surface treatment apparatus and surface treatment method
KR100212074B1 (en) Substrate Removal Device
JP4056858B2 (en) Substrate processing equipment
JP3070511B2 (en) Substrate drying equipment
JPH0536658A (en) Substrate cleaning / drying equipment
JP2004025144A (en) Substrate treatment apparatus and substrate washing method
JP2013026490A (en) Substrate processor
JP4579268B2 (en) Substrate processing equipment
CN101219427A (en) Substrate processing equipment
JP2012043949A (en) Coating device and nozzle maintenance method
JP4805384B2 (en) Substrate processing equipment
TWI234796B (en) Solution treatment method and solution treatment unit
JP2003083675A (en) Substrate drying equipment
JP2001284777A (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
JPH11111666A (en) Substrate-drying device
JP2004103978A (en) Substrate processing method and substrate processing apparatus
JPH0994546A (en) Liquid-extraction device for substrate
JPH07249605A (en) Substrate washing equipment
JP2002057137A (en) Wafer washing device and water treatment device
JP2002110619A (en) Substrate processing equipment
JP2002113430A (en) Substrate treatment device
JP2988828B2 (en) Substrate drainer / dryer
JP4663919B2 (en) Substrate dryer
JP2001255503A (en) Liquid crystal display substrate drying equipment
JPH11300300A (en) Method and device for treatment of substrate