JPH11101810A - カンチレバーユニットおよびそのホルダならびにこれらを装備した走査型プローブ顕微鏡 - Google Patents
カンチレバーユニットおよびそのホルダならびにこれらを装備した走査型プローブ顕微鏡Info
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Abstract
着できるようにしたカンチレバーユニットおよびそのホ
ルダならびにこれらを装備した走査型プローブ顕微鏡を
提供する。 【解決手段】 カンチレバーユニットホルダ50の一端
には、S字型の弾性体電極54(54a〜54d)のU
字部が挿貫される4つの溝55が開口されている。ホル
ダ50の下方には、下面と予定の間隙を保って対向配置
されるように片持ち支持され、各溝55と対応する位置
が欠けた櫛歯状の電極ガイド53が形成されている。各
弾性体電極54は、その一方のU字部がそれぞれ各溝5
5に挿貫され、他方のU字部から端部に至る部分は、電
極ガイド53の櫛歯間から間隙内へ弾性的に突出してい
る。ホルダ50の他端にはプリズム59が固着されてい
る。また基板80の配線パターン82a側に面取り部8
4を設けた。
Description
答した電気信号を出力する自己検知型カンチレバーを備
えたカンチレバーユニットおよびそのホルダならびにこ
れらを装備した走査型プローブ顕微鏡に係り、特に、自
己検知型カンチレバーを容易かつ正確に装着できるよう
にしたカンチレバーユニットおよびそのホルダ並びにこ
れらを装備した走査型プローブ顕微鏡に関する。
試料表面とプローブとの間の相互作用を利用して試料表
面の微細な組織や構造を検出するために、片持ち梁の先
端に探針を装着したカンチレバーがプローブとして使用
される。試料表面と探針との間には、原子間力に基づく
引力または斥力が発生するので、探針を試料表面でXY
方向へ走査させながら原子間力をカンチレバーの歪量と
して検出し、この歪量すなわち試料表面と探針との間隙
が一定となるように試料ステージをZ軸方向へ微動させ
れば、その際の微動信号、あるいは検出された歪量その
ものが試料表面の形状を代表するようになる。
カンチレバー部の構成を模式的に示した図であり、観察
対象である試料64の上方には、カンチレバー63の自
由端に取り付けられた探針65が対向して配置される。
レーザ発生器61から放出されたレーザ光66aは適宜
のレンズ手段67またはアパーチャ等によって収束さ
れ、カンチレバー63の自由端近傍の背面に照射され
る。カンチレバー63の撓み量は、反射されたレーザ光
66bのスポット位置を位置検出器62で測定すること
により検出される。
検出電極から構成されており、カンチレバー63の撓み
量が0の時にはレーザ光66bのスポットが該4分割電
極の中央に来るように位置合わせされている。このた
め、カンチレバー63に撓みが発生すると、該レーザ光
66bのスポットが該4分割電極上を移動し、4分割電
極から出力される電圧に差が発生する。
チレバーの撓み量を光学的に検出する方法では、構成が
複雑化して調整も難しいという問題があった。そのた
め、近年になって撓み量を検知するセンサ機能をカンチ
レバー上に設け、検知した撓み量を電気信号として直接
出力し得る特徴を持った自己検知型のカンチレバーが開
発されている。
れば、高価な光学系や複雑な調整が不要となるが、その
反面、電気信号を出力するためにカンチレバー側に設け
た電気接点と、カンチレバーを保持するために走査型プ
ローブ顕微鏡側に設けたホルダの電気接点とが正確に接
触するように、ホルダに対してカンチレバーを正確に位
置決めして固定する必要がある。
1回/日であるため、カンチレバーはホルダに対して容
易に着脱できるように保持することが望ましい。しかし
ながら、これまでは走査型プローブ顕微鏡に用いる自己
検知型カンチレバーが普及しておらず、その装着を容易
かつ正確に行えるカンチレバーホルダは存在しなかっ
た。
点を解決し、自己検知型カンチレバーを容易かつ正確に
装着できるようにするためのカンチレバーユニット、当
該カンチレバーユニットを保持するためのホルダならび
にこれらを装備した走査型プローブ顕微鏡を提供するこ
とにある。
ために、本発明では、以下のような手段を講じた点に特
徴がある。 (1) 本発明のカンチレバーユニットは、自己検知型カン
チレバーと、前記自己検知型カンチレバーを保持する基
板と、前記検知部と電気的に接続されて基板表面に形成
された複数のコンタクトパターンとによって構成され
る。このようなカンチレバーユニットを用いれば、自己
検知型カンチレバーを、そのホルダに対して機械的、電
気的に容易かつ正確に装着できるようになる。 (2) 本発明のカンチレバーユニットホルダは、正規の位
置に配置されたカンチレバーユニットのコンタクトパタ
ーンに圧接されるように位置決めされた弾性体電極を具
備し、前記カンチレバーユニットを、カンチレバーユニ
ットホルダに対して前記弾性体電極の圧接力によって保
持するようにした。このようなカンチレバーユニットホ
ルダによれば、自己検知型カンチレバーを有するカンチ
レバーユニットを機械的にも電気的にも容易かつ正確に
装着できるようになる。 (3) 本発明の走査型プローブ顕微鏡は、前記カンチレバ
ーユニットホルダで保持されたカンチレバーユニットの
自己検知型カンチレバーを、試料表面と探針との間隙を
予定値に保ちながら試料表面で走査する。このような走
査型プローブ顕微鏡によれば、走査プローブとしての自
己検知型カンチレバーを、その機械的および電気的な接
続を良好に保ちながら、ホルダに対して容易かつ正確に
着脱できるようになる。
細に説明する。図1は、本発明の一実施形態である走査
プローブ顕微鏡の主要部の構成を示した図である。筐体
1の上部には第1の永久磁石2が装着され、永久磁石2
の中央部には、環状溝5で囲まれた心棒部3が形成され
ている。永久磁石2の心棒部3にはキャップ状の可動子
4が遊嵌され、可動子4の外周部にはボイスコイル6が
巻回されている。永久磁石2、心棒部3、可動子4およ
びボイスコイル6は、音響用スピーカ等で使用されてい
るボイスコイルモータを形成している。
z方向に延びるスピンドル8の一端が固着されている。
スピンドル8の他端には、固定端が中筒13によって支
持された片持ち梁14の自由端が固着されている。片持
ち梁14には、後に図3〜5を参照して詳述するカンチ
レバーユニットホルダ50が固着されており、ホルダ5
0には、後に図6,7を参照して詳述する、自己検知型
カンチレバーを搭載したカンチレバーユニット10が保
持されている。
磁石21が装着され、永久磁石21の中央部には、環状
溝28で囲まれた心棒部22が形成されている。心棒部
22にはキャップ状の可動子23が遊嵌され、可動子2
3の外周部にはボイスコイル25が巻回されている。第
2の永久磁石21、心棒部22、可動子23およびボイ
スコイル25は前記と同様のボイスコイルモータを形成
している。
一端が固着され、スピンドル27の他端は中筒13の側
部に固着されている。このボイスコイルモータは主走査
方向(X方向)のスピンドル27に作用するが、図示さ
れていない同構成のボイスコイルモータが90°回転し
た位置に設けられており、副走査方向(Y方向)のスピ
ンドルに作用する。そして、前記主および副走査方向の
ボイスコイルモータを駆動することにより、カンチレバ
ーユニット10の自由端に設けられた探針10aは試料
表面に対してラスタ走査される。探針10aと対向する
位置には試料台31が設けられ、試料台31上には観察
対象の試料32が載置されている。該試料台31は試料
ステージ33上に設置されている。
される駆動回路系のブロック図であり、図1と同一の符
号は同一または同等部分を表している。探針10aの変
位、例えばプローブ10の撓み量が変位検出器49で検
出されると、その検出信号が基準値発生器42から出力
される基準値と差動増幅器41によって比較される。該
基準値は、探針10aと試料面との距離が所定値になっ
た時に変位検出器49から出力される値と等しいので、
探針10aと試料面との距離が所定値からずれている時
には、差動増幅器41はずれ量に応じた大きさの信号を
出力する。
積分回路43および比例回路44により処理され、V−
I変換器45に入力される。V−I変換器45は、入力
された電圧信号を電流信号Iz に変換してボイスコイル
6へ供給する。すなわち、変位検出器49、差動増幅器
41、積分回路43、比例回路44およびV−I変換器
45はフィードバック回路を構成している。
査方向の走査信号電流Ix ,Iy を、それぞれX方向可
動子23およびY方向可動子34に巻回されているボイ
スコイル25、35に供給する。また、ラスタスキャナ
46はCRT47にX,Y走査信号を供給する。試料表
面の形状、物理量等の検査情報は、V−I変換器45の
入力側から取り出されてCRT47に供給される。
ンチレバーユニットホルダ50の側面図であり、図4は
図3のA矢図であり、図5は図3のB矢図である。本実
施形態では、カンチレバーユニットホルダ50は圧電素
子板58を介して前記片持ち梁14に固定されている。
この圧電素子板58は、生物分子等の柔らかい試料の観
察時にカンチレバーを共振させる目的で設けられてい
る。
性体電極54(54a〜54d)のU字部がそれぞれ挿
貫される4つの溝55が形成されている。ホルダ50の
下方には、本体と予定の間隙を保って対向するように櫛
歯状の電極ガイド53が片持ち支持されている。電極ガ
イド53の櫛歯は、前記各溝55と対応する位置が欠け
るように構成されている。
方のU字部がそれぞれ各溝55に挿貫され、他方のU字
部から端部に至る部分は、その屈曲部57が電極ガイド
53の櫛歯間から間隙内へ弾性的に突出している。ホル
ダ50の他方の側面にはプリズム59が固着されてお
り、下方にはカンチレバー台52が形成されている。次
いで、本発明の一実施形態であるカンチレバーユニット
について説明する。図6は、自己検知型カンチレバーを
搭載したカンチレバーユニット10の平面図であり、図
7は図6の側面図である。基板80の端部には面取り8
4が設けてある。面取り84を設けることにより、基板
の挿入をスムーズ行うことができる。また屈曲部57に
損傷を与えることなくなるため、信頼性が向上する。
7に示したように、厚板状のシリコン基板72と薄板状
のシリコン基板71とを積層し、薄板状シリコン基板7
1の一端から突き出た片持ち梁部71aの自由端に探針
10aが形成された自己検知型カンチレバー70と、図
6に示したように、前記カンチレバー70の少なくとも
片持ち梁部71aが端部から突き出すように当該カンチ
レバー70を保持するガラスエポキシ基板80とによっ
て構成されている。
た主面には、梁部71aの撓み量に応答した電気信号を
出力する検知回路(図示せず)、ならびに当該検知回路
の電源ライン用および信号ライン用のボンディングパッ
ド72が形成されている。ガラスエポキシ基板80の表
面には、複数の配線パターン82が形成されており、各
配線パターン82の一端には、前記カンチレバーユニッ
トホルダ50の各電極54の屈曲部57が圧接されるコ
ンタクトパターン82aが形成され、他端にはボンディ
ングパッド82bが形成されている。
2とガラスエポキシ基板80のボンディングパッド82
bとはボンディングワイヤ83で接続され、ボンディン
グワイヤ83および各ボンディングパッド72,82b
には樹脂モールド81が施されている。このようなカン
チレバーユニット10を前記ホルダ50へ装着する際、
作業者はピンセットあるいは適宜の専用治具を用いてカ
ンチレバーユニット10を水平状態に保ってつまみ、図
8に示したように、カンチレバー台52と電極ガイド5
3との間隙部へ下方から斜め上方へ向けて挿入する。カ
ンチレバー台52の側面およびカンチレバーユニット1
0のガラスエポキシ基板80の側面には、カンチレバー
ユニット10がホルダ50に対して正規の位置まで挿入
されたときに合致する位置決めマーク52a,80aが
それぞれ形成されている。作業者は、図9に示したよう
に、挿入したカンチレバーユニット10のマーク52a
がホルダ50側のマーク80aと合致していれば、カン
チレバーユニット10がホルダ50に対して正規の位置
まで挿入されたものと判断する。
性的に突出した電極54の弾性力に抗して挿入されるた
め、間隙内へ挿入された後は、その弾性力によってカン
チレバー台52側へ押しつけられ、電極54とカンチレ
バー台52とによって挟持されることになる。各電極5
4は、カンチレバーユニット10が正規の位置まで挿入
されると、その屈曲部57がガラスエポキシ基板80の
各コンタクトパターン82aと接触するように予め位置
決めされている。したがって、前記各位置決めマーク5
2a,80aが合致するようにカンチレバーユニット1
0をホルダ50に対して挿入しさえすれば、カンチレバ
ーユニット10を機械的にも電気的にも容易かつ正確に
装着できるようになる。
ように、コンタクトパターン82aがガラスエポキシ基
板80の挿入方向の先端部から予定の距離d3だけ離間
して形成されているので、カンチレバーユニット10の
挿入が不完全であると、コンタクトパターン82aが電
極54の屈曲部57まで到達しない。この結果、電気的
な接触が得られずに検知信号が異常となるので、検知信
号を参照することによっても、カンチレバーユニット1
0が正規の位置に保持されているか否かを認識できるよ
うになる。
10aを試料表面の所望位置に位置決めする方法を、図
10、11、12を参照して説明する。図12に示した
ように、プリズム59は、その鏡面59aが試料表面に
対して傾斜するように固定されており、試料表面から垂
直に探針10aを通る仮想光軸L1が斜め上方へ屈折さ
れて仮想光軸L2となる。したがって、図10に示した
ように、光学顕微鏡90の光軸91aと前記仮想光軸L
2とを一致させれば、光学顕微鏡90では、図11(a)
に示したように、探針10aの真上から試料表面を見下
ろした像が観察でき、試料表面での探針10aの位置決
めが極めて容易になる。
微鏡90を下方へ移動し、その光軸90bが探針10a
と交差するようにすれば、図11(b) に示したように、
探針10aと試料表面との垂直方向に関する位置関係を
観察できるようになる。なお、本実施形態では、図12
に示したように、カンチレバーユニットホルダ50の幅
d1とカンチレバーユニット10の幅d2とがほぼ等し
いので、両者の端面が揃うようにカンチレバーユニット
10を挿入すれば、幅方向の位置決めも同時に達成され
る。
成される。 (1) カンチレバーユニットの電極パターンに圧接されて
電気的接触を得る弾性体電極によってカンチレバーユニ
ットを挟持するようにしたので、自己検知型カンチレバ
ーを機械的にも電気的にも容易かつ正確に装着できるよ
うになる。 (2) カンチレバーユニットホルダにプリズムを設け、試
料表面から垂直に探針を通る光軸を屈折させて外部に取
り出すようにしたので、この光軸を光学顕微鏡と光軸と
一致させれば、探針の真上から試料表面を見下ろした像
を観察でき、試料表面での探針の位置決めが極めて容易
になる。 (3) カンチレバーユニットおよびホルダの双方に、カン
チレバーユニットが正規の位置まで挿入されたときに合
致するマークを設けたので、カンチレバーユニットが正
規の位置まで挿入されたことを目視により簡単に認識で
きる。 (4) カンチレバーユニットのコンタクトパターンを端部
から離間して設け、カンチレバーユニットが正規の位置
まで挿入されないと、ホルダ側の電極とコンタクトパタ
ーンとが接触しないようにしたので、電極上の信号を参
照すれば、カンチレバーユニットが正規の位置まで挿入
されているか否かを容易に認識できる。 (5) 走査型プローブ顕微鏡用の走査プローブとして自己
検知型カンチレバーを用い、これを前記カンチレバーユ
ニットホルダで保持するようにしたので、走査プローブ
としてのカンチレバーを、ホルダに対して機械的にも電
気的にも容易かつ正確に装着できるようになる。
走査プローブ顕微鏡の主要部の構成を示した図である。
ック図である。
である。
ンチレバーユニットの平面図である。
図である。
面図である。
法を示した図である。
めの図である。
に示した図である。
Claims (7)
- 【請求項1】 片持ち梁の自由端に探針が形成されたカ
ンチレバー部および前記カンチレバー部の撓み量を検知
する検知部を備えた自己検知型カンチレバーと、 前記自己検知型カンチレバーを、なくとも前記カンチレ
バー部の自由端が端部から突出するように保持する基板
と、 前記基板の表面に形成され、前記検知部と電気的に接続
された複数のコンタクトパターンとを具備したことを特
徴とするカンチレバーユニット。 - 【請求項2】 前記複数のコンタクトパターンは基板端
部から所定の間隙を設けて形成され、コンタクトパター
ンのある基板端部に面取り部を有することを特徴とする
請求項1に記載のカンチレバーユニット。 - 【請求項3】 前記請求項1または2に記載のカンチレ
バーユニットを保持するカンチレバーユニットホルダで
あって、 正規の位置に配置されたカンチレバーユニットのコンタ
クトパターンに圧接されるように位置決めされた弾性体
電極を具備し、前記カンチレバーユニットは、カンチレ
バーユニットホルダに対して前記弾性体電極の圧接力に
よって保持されることを特徴とするカンチレバーユニッ
トホルダ。 - 【請求項4】 前記カンチレバーユニットホルダは、そ
の一主面と予定の間隙を保って対向配置されるように一
端がカンチレバーユニットホルダに対して片持ち支持さ
れた櫛歯状の電極ガイドを具備し、 前記弾性体電極は、前記電極ガイドの櫛歯部から間隙内
へ弾性的に突出し、前記カンチレバーユニットを前記間
隙内でカンチレバーユニットホルダの一主面側へ圧接す
ることを特徴とする請求項3に記載のカンチレバーユニ
ットホルダ。 - 【請求項5】 前記カンチレバーユニットの端面には第
1の目印が形成されており、前記カンチレバーユニット
ホルダには、正規の位置に保持されたカンチレバーユニ
ットの前記第1の目印と対向する位置に第2の目印が形
成されたことを特徴とする請求項3または4に記載のカ
ンチレバーユニットホルダ。 - 【請求項6】 正規の位置に保持されたカンチレバーユ
ニットのカンチレバー部の自由端と交差して当該自由端
の変移方向に沿った仮想光軸を、当該仮想光軸外へ光学
的に屈折させる光屈折部材をさらに具備したことを特徴
とする請求項3ないし5のいずれかに記載のカンチレバ
ーユニットホルダ。 - 【請求項7】 前記請求項3ないし6のいずれかに記載
のカンチレバーユニットホルダを装備し、当該カンチレ
バーユニットホルダで保持したカンチレバーユニットの
自己検知型カンチレバーを、試料表面と探針との間隙を
予定値に保ちながら試料表面で走査することを特徴とす
る走査型プローブ顕微鏡。
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|---|---|---|---|
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