JPH111000A - ノズルプレートの製造方法、インクジェットヘッド、ノズルプレート及びインクジェット記録装置 - Google Patents
ノズルプレートの製造方法、インクジェットヘッド、ノズルプレート及びインクジェット記録装置Info
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- JPH111000A JPH111000A JP4840498A JP4840498A JPH111000A JP H111000 A JPH111000 A JP H111000A JP 4840498 A JP4840498 A JP 4840498A JP 4840498 A JP4840498 A JP 4840498A JP H111000 A JPH111000 A JP H111000A
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- Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 オリフィスの流体抵抗を低減することによ
り、インクジェットヘッドを高密度化しても必要なイン
ク滴の吐出量を確保することのできるフェイスイジェク
ト型のインクジェットヘッドに用いるノズルプレートを
提供する。 【解決手段】(110)面方位の単結晶シリコン基板5
00の少なくとも両面に耐エッチング被膜502を形成
する第1の工程と、オリフィス用凹部を形成するための
第1の開口部510をこの耐エッチング被膜に形成する
第2の工程と、この第1の開口部の所定部分に所定の未
貫通孔512を形成する第3の工程と、この未貫通孔の
形成された単結晶シリコン基板の湿式エッチングを行う
ことによりオリフィス用凹部110を形成する第4の工
程と、をこの順序で実施するようにした。
り、インクジェットヘッドを高密度化しても必要なイン
ク滴の吐出量を確保することのできるフェイスイジェク
ト型のインクジェットヘッドに用いるノズルプレートを
提供する。 【解決手段】(110)面方位の単結晶シリコン基板5
00の少なくとも両面に耐エッチング被膜502を形成
する第1の工程と、オリフィス用凹部を形成するための
第1の開口部510をこの耐エッチング被膜に形成する
第2の工程と、この第1の開口部の所定部分に所定の未
貫通孔512を形成する第3の工程と、この未貫通孔の
形成された単結晶シリコン基板の湿式エッチングを行う
ことによりオリフィス用凹部110を形成する第4の工
程と、をこの順序で実施するようにした。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はインクジェットヘッ
ドに用いられているノズルプレートの製造方法、インク
ジェットヘッド及びインクジェット記録装置に関する。
ドに用いられているノズルプレートの製造方法、インク
ジェットヘッド及びインクジェット記録装置に関する。
【0002】
【従来の技術】インクジェット記録装置に用いられるイ
ンクジェットヘッドには、インクジェットヘッド基板の
端部に形成されたノズル孔よりインク滴を吐出するエッ
ジイジェクト型のものと、インクジェットヘッド基板の
表面に形成されたノズル孔よりインク滴を吐出するフェ
イスエジェクト型のものがある。このうちフェイスイジ
ェクト型のインクジェットヘッドは、構造上ノズル孔を
多数配設することができるため、エッジイジェクト型の
インクジェットヘッドに比べて高密度化が可能であり、
高解像度・高速印刷により適している。
ンクジェットヘッドには、インクジェットヘッド基板の
端部に形成されたノズル孔よりインク滴を吐出するエッ
ジイジェクト型のものと、インクジェットヘッド基板の
表面に形成されたノズル孔よりインク滴を吐出するフェ
イスエジェクト型のものがある。このうちフェイスイジ
ェクト型のインクジェットヘッドは、構造上ノズル孔を
多数配設することができるため、エッジイジェクト型の
インクジェットヘッドに比べて高密度化が可能であり、
高解像度・高速印刷により適している。
【0003】このフェイスイジェクト型のインクジェッ
トヘッドに用いるノズルプレートとしては、ステンレス
基板に放電加工を施したものが実用化されているが、さ
らなる高密度化のために単結晶シリコン基板にプラズマ
エッチング加工を施したものが研究されている。
トヘッドに用いるノズルプレートとしては、ステンレス
基板に放電加工を施したものが実用化されているが、さ
らなる高密度化のために単結晶シリコン基板にプラズマ
エッチング加工を施したものが研究されている。
【0004】このフェイスイジェクト型のインクジェッ
トヘッドは、例えば、特開平5−50601号公報(8
欄41行目〜9欄5行目)及び特開平6−71882号
公報(10欄7行目〜11欄2行目)に開示されてい
る。
トヘッドは、例えば、特開平5−50601号公報(8
欄41行目〜9欄5行目)及び特開平6−71882号
公報(10欄7行目〜11欄2行目)に開示されてい
る。
【0005】一方、フェイスイジェクト型のインクジェ
ットヘッドのうちノズルプレートに単結晶シリコン基板
を用いたものは、アルカリを用いた異方性湿式エッチン
グ加工を施すことが可能となるため、このノズルプレー
トにオリフィス用凹部を形成することも可能となる。な
お、ここでいうオリフィスとは、インクを加圧するため
の複数のインク室とインク室へインクを供給する共通の
インクリザーバとを連結するインク流路のことである。
ットヘッドのうちノズルプレートに単結晶シリコン基板
を用いたものは、アルカリを用いた異方性湿式エッチン
グ加工を施すことが可能となるため、このノズルプレー
トにオリフィス用凹部を形成することも可能となる。な
お、ここでいうオリフィスとは、インクを加圧するため
の複数のインク室とインク室へインクを供給する共通の
インクリザーバとを連結するインク流路のことである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ように単結晶シリコン基板にアルカリを用いた異方性湿
式エッチング加工を施して形成されるオリフィス用凹部
は、異方性エッチング工程でエッチングレートの異方性
による影響を受けるため、図1に示したように三角の断
面形状となり必然的に浅いものとなってしまう。そのた
め、インクジェットヘッドを高密度化するに従って容積
が急激に減少し、これにより流体抵抗が急激に増大し、
インク滴の吐出量が減少し、必要な吐出量を得るのが困
難であるという課題があった。
ように単結晶シリコン基板にアルカリを用いた異方性湿
式エッチング加工を施して形成されるオリフィス用凹部
は、異方性エッチング工程でエッチングレートの異方性
による影響を受けるため、図1に示したように三角の断
面形状となり必然的に浅いものとなってしまう。そのた
め、インクジェットヘッドを高密度化するに従って容積
が急激に減少し、これにより流体抵抗が急激に増大し、
インク滴の吐出量が減少し、必要な吐出量を得るのが困
難であるという課題があった。
【0007】一方、単結晶シリコン基板にプラズマエッ
チング加工を施してノズルプレートを形成する方法は、
単結晶シリコン基板表面に対して垂直な壁面を有するノ
ズル孔を再現性よく形成するためには、プラズマエッチ
ング装置の真空チャンバ内の堆積物を除去するクリーニ
ングや真空ポンプのメンテナンス等を頻繁に行って常に
プラズマエッチング装置を一定の状態に維持する必要が
あるが、プラズマエッチング加工を行うのは長時間要す
るので、現実的にはこれを完全に行うのは困難であり、
その結果ノズル孔の垂直性を担保するのが困難であると
いう課題があった。また、単結晶シリコン基板にプラズ
マエッチング加工を施してノズルプレートを形成する方
法は、プラズマエッチング装置が高価格で処理能力が低
いことから、ノズルプレートの大量生産をするうえで障
害となるという課題があった。
チング加工を施してノズルプレートを形成する方法は、
単結晶シリコン基板表面に対して垂直な壁面を有するノ
ズル孔を再現性よく形成するためには、プラズマエッチ
ング装置の真空チャンバ内の堆積物を除去するクリーニ
ングや真空ポンプのメンテナンス等を頻繁に行って常に
プラズマエッチング装置を一定の状態に維持する必要が
あるが、プラズマエッチング加工を行うのは長時間要す
るので、現実的にはこれを完全に行うのは困難であり、
その結果ノズル孔の垂直性を担保するのが困難であると
いう課題があった。また、単結晶シリコン基板にプラズ
マエッチング加工を施してノズルプレートを形成する方
法は、プラズマエッチング装置が高価格で処理能力が低
いことから、ノズルプレートの大量生産をするうえで障
害となるという課題があった。
【0008】また一方、ノズル孔の形成をプラズマエッ
チング加工により行い、オリフィス用凹部の形成をアル
カリを用いた異方性湿式エッチング加工により行う場合
には、1)ノズル孔の形成を先に行う場合には、その後
のアルカリを用いた異方性湿式エッチング加工工程でノ
ズルが余計にエッチングされることのないようにノズル
孔の部分に無欠陥の耐エッチング皮膜形成を行う必要が
あるが、ノズル孔は基板表面に対して垂直に近い形状の
部分を有するため、エッジ部分に無欠陥の耐エッチング
皮膜形成を確実に行うのが困難であるのでノズル孔形状
が変形してしまう(たとえ無欠陥の耐エッチング皮膜が
形成できたとしてもその耐エッチング皮膜にオリフィス
用凹部形成用の高精度なパターニングを行うことは非常
に困難である)という課題があり、2)オリフィス用凹
部の加工を先に行う場合には、深いオリフィス用凹部の
エッジ部分に無欠陥の耐エッチング皮膜形成を確実に行
うのが困難であるためオリフィス用凹部形状が変形して
しまう(たとえ無欠陥の耐エッチング皮膜が形成できた
としても、その耐エッチング皮膜にノズル孔形成用の高
精度なパターニングを行うことは非常に困難である)と
いう課題があった。
チング加工により行い、オリフィス用凹部の形成をアル
カリを用いた異方性湿式エッチング加工により行う場合
には、1)ノズル孔の形成を先に行う場合には、その後
のアルカリを用いた異方性湿式エッチング加工工程でノ
ズルが余計にエッチングされることのないようにノズル
孔の部分に無欠陥の耐エッチング皮膜形成を行う必要が
あるが、ノズル孔は基板表面に対して垂直に近い形状の
部分を有するため、エッジ部分に無欠陥の耐エッチング
皮膜形成を確実に行うのが困難であるのでノズル孔形状
が変形してしまう(たとえ無欠陥の耐エッチング皮膜が
形成できたとしてもその耐エッチング皮膜にオリフィス
用凹部形成用の高精度なパターニングを行うことは非常
に困難である)という課題があり、2)オリフィス用凹
部の加工を先に行う場合には、深いオリフィス用凹部の
エッジ部分に無欠陥の耐エッチング皮膜形成を確実に行
うのが困難であるためオリフィス用凹部形状が変形して
しまう(たとえ無欠陥の耐エッチング皮膜が形成できた
としても、その耐エッチング皮膜にノズル孔形成用の高
精度なパターニングを行うことは非常に困難である)と
いう課題があった。
【0009】そこで、本発明は、上記したような課題を
解決するもので、その目的とするところは、1)オリフ
ィスの流体抵抗を低減することにより、インクジェット
ヘッドを高密度化しても必要なインク滴の吐出量を確保
することのできるフェイスイジェクト型のインクジェッ
トヘッドに用いるノズルプレートを提供することにあ
り、2)ノズル孔の垂直性が担保されたフェイスイジェ
クト型のインクジェットヘッドに用いるノズルプレート
を効率よく製造する方法を提供し、3)ノズル孔及びオ
リフィス用凹部の形成をともに同じ加工工程で行うこと
により、ノズル孔及びオリフィス用凹部の形成を異なる
加工工程で行うことによる上記した課題をすべて解決す
ることのできるフェイスイジェクト型のインクジェット
ヘッドに用いるノスルプレートの製造方法を提供するこ
とにある。
解決するもので、その目的とするところは、1)オリフ
ィスの流体抵抗を低減することにより、インクジェット
ヘッドを高密度化しても必要なインク滴の吐出量を確保
することのできるフェイスイジェクト型のインクジェッ
トヘッドに用いるノズルプレートを提供することにあ
り、2)ノズル孔の垂直性が担保されたフェイスイジェ
クト型のインクジェットヘッドに用いるノズルプレート
を効率よく製造する方法を提供し、3)ノズル孔及びオ
リフィス用凹部の形成をともに同じ加工工程で行うこと
により、ノズル孔及びオリフィス用凹部の形成を異なる
加工工程で行うことによる上記した課題をすべて解決す
ることのできるフェイスイジェクト型のインクジェット
ヘッドに用いるノスルプレートの製造方法を提供するこ
とにある。
【0010】また、そのようにして製造されたノズルプ
レートを備えた優れたフェイスイジェクト型のインクジ
ェットヘッドを提供することにあり、そのようなインク
ジェットヘッドを備えた優れたインクジェット記録装置
を提供することにある。
レートを備えた優れたフェイスイジェクト型のインクジ
ェットヘッドを提供することにあり、そのようなインク
ジェットヘッドを備えた優れたインクジェット記録装置
を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】請求項1のノズルプレー
トの製造方法は、(110)面方位の単結晶シリコン基
板の少なくとも両面に耐エッチング被膜を形成する第1
の工程と、オリフィス用凹部を形成するための第1の開
口部をこの耐エッチング被膜に形成する第2の工程と、
第1の開口部の所定部分に所定の未貫通孔を形成する第
3の工程と、この未貫通孔の形成された単結晶シリコン
基板の湿式エッチングを行うことによりオリフィス用凹
部を形成する第4の工程と、をこの順序で有することを
特徴とする。
トの製造方法は、(110)面方位の単結晶シリコン基
板の少なくとも両面に耐エッチング被膜を形成する第1
の工程と、オリフィス用凹部を形成するための第1の開
口部をこの耐エッチング被膜に形成する第2の工程と、
第1の開口部の所定部分に所定の未貫通孔を形成する第
3の工程と、この未貫通孔の形成された単結晶シリコン
基板の湿式エッチングを行うことによりオリフィス用凹
部を形成する第4の工程と、をこの順序で有することを
特徴とする。
【0012】このため、請求項1の方法は、所定の未貫
通孔の存在により、異方性エッチング工程でエッチング
レートの異方性による悪影響を克服できるので、図2に
示したように深いオリフィス用凹部を形成することが可
能となる。このため、オリフィスの流体抵抗を低減する
ことが可能となり、インクジェットヘッドを高密度化す
るに従ってオリフィスの容積が急激に減少するのを緩和
することができ、必要なインク滴の吐出量を確保するこ
とができる。
通孔の存在により、異方性エッチング工程でエッチング
レートの異方性による悪影響を克服できるので、図2に
示したように深いオリフィス用凹部を形成することが可
能となる。このため、オリフィスの流体抵抗を低減する
ことが可能となり、インクジェットヘッドを高密度化す
るに従ってオリフィスの容積が急激に減少するのを緩和
することができ、必要なインク滴の吐出量を確保するこ
とができる。
【0013】請求項2のノズルプレートの製造方法は、
(110)面方位の単結晶シリコン基板の少なくとも両
面に耐エッチング被膜を形成する第1の工程と、ノズル
孔を形成するための第2の開口部をこの耐エッチング被
膜に形成する第2の工程と、第2の開口部の所定部分に
所定の未貫通孔を形成する第3の工程と、この未貫通孔
の形成された単結晶シリコン基板の湿式エッチングを行
うことによりノズル孔を形成する第4の工程と、をこの
順序で有することを特徴とする。
(110)面方位の単結晶シリコン基板の少なくとも両
面に耐エッチング被膜を形成する第1の工程と、ノズル
孔を形成するための第2の開口部をこの耐エッチング被
膜に形成する第2の工程と、第2の開口部の所定部分に
所定の未貫通孔を形成する第3の工程と、この未貫通孔
の形成された単結晶シリコン基板の湿式エッチングを行
うことによりノズル孔を形成する第4の工程と、をこの
順序で有することを特徴とする。
【0014】このため、 請求項2の方法は、所定の未
貫通孔の存在により、異方性エッチング工程でエッチン
グレートの異方性による悪影響を克服できるので、アル
カリを用いた異方性湿式エッチング加工を用いて深く垂
直な孔を開けることが可能となる。このため、プラズマ
エッチング加工を用いる必要がなくなり、ノズル孔の垂
直性が担保されたノズルプレートを効率よく製造するこ
とができる。
貫通孔の存在により、異方性エッチング工程でエッチン
グレートの異方性による悪影響を克服できるので、アル
カリを用いた異方性湿式エッチング加工を用いて深く垂
直な孔を開けることが可能となる。このため、プラズマ
エッチング加工を用いる必要がなくなり、ノズル孔の垂
直性が担保されたノズルプレートを効率よく製造するこ
とができる。
【0015】請求項3のノズルプレートの製造方法は、
(110)面方位の単結晶シリコン基板の少なくとも両
面に耐エッチング被膜を形成する第1の工程と、オリフ
ィス用凹部を形成するための第1の開口部及びノズル孔
を形成するための第2の開口部をこの耐エッチング被膜
に形成する第2の工程と、第1及び第2の開口部の所定
部分に所定の未貫通孔を形成する第3の工程と、この未
貫通孔の形成された単結晶シリコン基板の湿式エッチン
グを行うことによりオリフィス用凹部及びノズル孔を形
成する第4の工程と、をこの順序で有することを特徴と
する。
(110)面方位の単結晶シリコン基板の少なくとも両
面に耐エッチング被膜を形成する第1の工程と、オリフ
ィス用凹部を形成するための第1の開口部及びノズル孔
を形成するための第2の開口部をこの耐エッチング被膜
に形成する第2の工程と、第1及び第2の開口部の所定
部分に所定の未貫通孔を形成する第3の工程と、この未
貫通孔の形成された単結晶シリコン基板の湿式エッチン
グを行うことによりオリフィス用凹部及びノズル孔を形
成する第4の工程と、をこの順序で有することを特徴と
する。
【0016】このため、請求項3の方法は、請求項1の
方法の効果と請求項2の方法の効果を合わせ持つと同時
に、ノズル孔及びオリフィス用凹部の形成を異なる加工
工程で行うことによる課題、すなわち、ノズル孔又はオ
リフィス用凹部の形状が変形してしまうという課題を解
決することができる。
方法の効果と請求項2の方法の効果を合わせ持つと同時
に、ノズル孔及びオリフィス用凹部の形成を異なる加工
工程で行うことによる課題、すなわち、ノズル孔又はオ
リフィス用凹部の形状が変形してしまうという課題を解
決することができる。
【0017】請求項4のノズルプレートの製造方法は、
請求項1乃至3のいずれかに記載のノズルプレートの製
造方法において、1)第1の開口部及び/又は第2の開
口部を形成するとともに、ノズル表面側凹部を形成する
ための第3の開口部を耐エッチング被膜に形成して第2
の工程を実施することを特徴とする。
請求項1乃至3のいずれかに記載のノズルプレートの製
造方法において、1)第1の開口部及び/又は第2の開
口部を形成するとともに、ノズル表面側凹部を形成する
ための第3の開口部を耐エッチング被膜に形成して第2
の工程を実施することを特徴とする。
【0018】このため、請求項4の方法は、請求項1乃
至3の方法が有する効果に加えて、ノズル表面側凹部の
存在により、ノズルプレートの厚みをある程度厚くする
ことができ、そのためノズルプレートの強度を増大させ
ることができるという効果を有する。
至3の方法が有する効果に加えて、ノズル表面側凹部の
存在により、ノズルプレートの厚みをある程度厚くする
ことができ、そのためノズルプレートの強度を増大させ
ることができるという効果を有する。
【0019】請求項5のノズルプレートの製造方法は、
請求項1乃至4のいずれかに記載のノズルプレートの製
造方法において、第2の工程と第3の工程との間に湿式
エッチングを実施することを特徴とする。
請求項1乃至4のいずれかに記載のノズルプレートの製
造方法において、第2の工程と第3の工程との間に湿式
エッチングを実施することを特徴とする。
【0020】このため、請求項5の方法は、所定の未貫
通孔の被加工部があらかじめ一定量加工されているた
め、第3の工程における未貫通孔の加工時間が短縮でき
るという効果を有する。
通孔の被加工部があらかじめ一定量加工されているた
め、第3の工程における未貫通孔の加工時間が短縮でき
るという効果を有する。
【0021】請求項6のノズルプレートの製造方法は、
請求項1乃至5のいずれかに記載のノズルプレートの製
造方法において、レーザ加工法を用いて第3の工程を実
施することを特徴とする。
請求項1乃至5のいずれかに記載のノズルプレートの製
造方法において、レーザ加工法を用いて第3の工程を実
施することを特徴とする。
【0022】このため、請求項6の方法は所定の未貫通
孔の形成を高速で行うことができるという効果を有す
る。
孔の形成を高速で行うことができるという効果を有す
る。
【0023】請求項7のノズルプレートの製造方法は、
請求項6に記載のノズルプレートの製造方法において、
未貫通孔の深さがノズル孔の長さよりも大きくなるよう
に第3の工程を実施することを特徴とする。
請求項6に記載のノズルプレートの製造方法において、
未貫通孔の深さがノズル孔の長さよりも大きくなるよう
に第3の工程を実施することを特徴とする。
【0024】このため、請求項7の方法は、未貫通孔の
加工において一定量以上の加工ができればよいので、深
さ精度に関して厳しい精度を要求しない。すなわち、加
工深さ精度が良好でない加工方法、特にはレーザ加工法
を用いることができるという効果を有する。
加工において一定量以上の加工ができればよいので、深
さ精度に関して厳しい精度を要求しない。すなわち、加
工深さ精度が良好でない加工方法、特にはレーザ加工法
を用いることができるという効果を有する。
【0025】請求項8のノズルプレートの製造方法は、
請求項6に記載のノズルプレートの製造方法において、
未貫通孔の周囲に形成される結晶溶融部分の厚みと未貫
通孔の深さの和がノズル孔の長さよりも大きくなるよう
に第3の工程を実施することを特徴とする。
請求項6に記載のノズルプレートの製造方法において、
未貫通孔の周囲に形成される結晶溶融部分の厚みと未貫
通孔の深さの和がノズル孔の長さよりも大きくなるよう
に第3の工程を実施することを特徴とする。
【0026】このため、請求項8の方法は、レーザ加工
において発生する結晶溶融部分の厚みも含めて一定量以
上の加工をすればよいので、レーザ加工における加工量
を低減させることができるという効果を有する。
において発生する結晶溶融部分の厚みも含めて一定量以
上の加工をすればよいので、レーザ加工における加工量
を低減させることができるという効果を有する。
【0027】請求項9のノズルプレートの製造方法は、
請求項1乃至5のいずれかに記載のノズルプレートの製
造方法において、プラズマエッチング加工法を用いて第
3の工程を実施することを特徴とする。
請求項1乃至5のいずれかに記載のノズルプレートの製
造方法において、プラズマエッチング加工法を用いて第
3の工程を実施することを特徴とする。
【0028】このため、請求項9の方法は所定の未貫通
孔の形成を高速で行うことができるという効果を有す
る。プラズマエッチング加工法を用いて高精度(高垂直
性)なノズル孔自体を加工することには、前述したよう
に様々な困難が存在するが、未貫通孔の形成は高精度で
行う必要がないため、高エッチレートの加工条件で加工
を行うことができる(プラズマエッチング加工法におい
ては、高エッチレートと高精度の両立は困難である)。
孔の形成を高速で行うことができるという効果を有す
る。プラズマエッチング加工法を用いて高精度(高垂直
性)なノズル孔自体を加工することには、前述したよう
に様々な困難が存在するが、未貫通孔の形成は高精度で
行う必要がないため、高エッチレートの加工条件で加工
を行うことができる(プラズマエッチング加工法におい
ては、高エッチレートと高精度の両立は困難である)。
【0029】請求項10のノズルプレートの製造方法
は、請求項9に記載のノズルプレートの製造方法におい
て、未貫通孔の深さがノズル孔の長さよりも大きくなる
ように第3の工程を実施することを特徴とする。
は、請求項9に記載のノズルプレートの製造方法におい
て、未貫通孔の深さがノズル孔の長さよりも大きくなる
ように第3の工程を実施することを特徴とする。
【0030】このため、請求項10の方法は未貫通孔の
加工において一定量以上の加工ができればよいので、深
さ精度に関して厳しい精度を要求しない。すなわち、加
工深さ精度が良好でない加工条件でも加工できるという
効果を有する。プラズマエッチング加工法を用いて深さ
に関して高精度な加工することには様々な困難が存在す
るが、未貫通孔の形成は高精度で行う必要がないため、
加工条件のマージンが広くとれるという効果を有する。
加工において一定量以上の加工ができればよいので、深
さ精度に関して厳しい精度を要求しない。すなわち、加
工深さ精度が良好でない加工条件でも加工できるという
効果を有する。プラズマエッチング加工法を用いて深さ
に関して高精度な加工することには様々な困難が存在す
るが、未貫通孔の形成は高精度で行う必要がないため、
加工条件のマージンが広くとれるという効果を有する。
【0031】請求項11のノズルプレートの製造方法
は、請求項1乃至10のいずれかに記載のノズルプレー
トの製造方法において、前記(110)面方位の単結晶
シリコン基板に代えて、(110)面方位の単結晶シリ
コン基板のSOI基板を用いたことを特徴とする。
は、請求項1乃至10のいずれかに記載のノズルプレー
トの製造方法において、前記(110)面方位の単結晶
シリコン基板に代えて、(110)面方位の単結晶シリ
コン基板のSOI基板を用いたことを特徴とする。
【0032】このため、請求項11の方法は、ノズル長
さをSOI基板の活性層の厚みと等しくすることが容易
であり、すなわち、ノズル長さを高精度とすることがで
きるという効果を有する。
さをSOI基板の活性層の厚みと等しくすることが容易
であり、すなわち、ノズル長さを高精度とすることがで
きるという効果を有する。
【0033】請求項12のノズルプレートの製造方法
は、(110)面方位の単結晶シリコン基板の少なくと
も両面に耐エッチング被膜を形成する第1の工程と、第
1のノズル孔を形成するための第4の開口部及び第2の
ノズル孔を形成するための窪み部を前記耐エッチング被
膜に形成する第2の工程と、第4の開口部の所定部分に
所定の未貫通孔を形成する第3の工程と、この未貫通孔
の形成された単結晶シリコン基板の湿式エッチングを行
うことにより1)第1のノズル孔及び2)第1のノズル
孔と連通するようにノズルプレートの裏面側に形成され
かつ第1のノズル孔より断面積の大きい第2のノズル孔
を形成する第4の工程と、をこの順序で有することを特
徴とする。
は、(110)面方位の単結晶シリコン基板の少なくと
も両面に耐エッチング被膜を形成する第1の工程と、第
1のノズル孔を形成するための第4の開口部及び第2の
ノズル孔を形成するための窪み部を前記耐エッチング被
膜に形成する第2の工程と、第4の開口部の所定部分に
所定の未貫通孔を形成する第3の工程と、この未貫通孔
の形成された単結晶シリコン基板の湿式エッチングを行
うことにより1)第1のノズル孔及び2)第1のノズル
孔と連通するようにノズルプレートの裏面側に形成され
かつ第1のノズル孔より断面積の大きい第2のノズル孔
を形成する第4の工程と、をこの順序で有することを特
徴とする。
【0034】このため、請求項12の方法は、2段のノ
ズルを形成することができるという効果を有する。イン
ク吐出が行われる第1のノズル孔と、第1のノズル孔よ
り断面積の大きい第2のノズル孔とを連結させた2段の
ノズルを用いることによりノズル近傍でのインク流速を
向上させることができ、すなわち気泡排出性の向上が図
れるという効果を有する。
ズルを形成することができるという効果を有する。イン
ク吐出が行われる第1のノズル孔と、第1のノズル孔よ
り断面積の大きい第2のノズル孔とを連結させた2段の
ノズルを用いることによりノズル近傍でのインク流速を
向上させることができ、すなわち気泡排出性の向上が図
れるという効果を有する。
【0035】請求項13のノズルプレートの製造方法
は、請求項12に記載のノズルプレートの製造方法にお
いて、第4の開口部及び窪み部を形成するとともに、ノ
ズル表面側凹部を形成するための第3の開口部を耐エッ
チング被膜に形成して第2の工程を実施することを特徴
とする。
は、請求項12に記載のノズルプレートの製造方法にお
いて、第4の開口部及び窪み部を形成するとともに、ノ
ズル表面側凹部を形成するための第3の開口部を耐エッ
チング被膜に形成して第2の工程を実施することを特徴
とする。
【0036】このため、請求項13の方法は、請求項1
2の方法か有する効果に加えて、ノズル表面側凹部の存
在により、ノズルプレートの厚みをある程度厚くするこ
とができ、そのためノズルプレートの強度を増大させる
ことができるという効果を有する。
2の方法か有する効果に加えて、ノズル表面側凹部の存
在により、ノズルプレートの厚みをある程度厚くするこ
とができ、そのためノズルプレートの強度を増大させる
ことができるという効果を有する。
【0037】請求項14のインクジェットヘッドは、請
求項1乃至13のいずれかに記載のノズルプレートの製
造方法によって製造されたノズルプレートを有すること
を特徴とする。
求項1乃至13のいずれかに記載のノズルプレートの製
造方法によって製造されたノズルプレートを有すること
を特徴とする。
【0038】このため、請求項14のインクジェットヘ
ッドは、深いオリフィス用凹部を有するノズルプレート
を用いることで、インクジェットヘッドを高密度化する
に従ってオリフィスの容積が急激に減少するのを緩和す
ることができ、必要な量のインク滴を吐出することが可
能になるという効果を有する。また、請求項14のイン
クジェットヘッドは、効率よく製造され、かつ、垂直及
び/又は高長さ精度及び/又は高形状精度のノズル孔ま
たはオリフィスを有するノズルプレートを用いること
で、安価で高品質印字が可能であるという効果を有す
る。
ッドは、深いオリフィス用凹部を有するノズルプレート
を用いることで、インクジェットヘッドを高密度化する
に従ってオリフィスの容積が急激に減少するのを緩和す
ることができ、必要な量のインク滴を吐出することが可
能になるという効果を有する。また、請求項14のイン
クジェットヘッドは、効率よく製造され、かつ、垂直及
び/又は高長さ精度及び/又は高形状精度のノズル孔ま
たはオリフィスを有するノズルプレートを用いること
で、安価で高品質印字が可能であるという効果を有す
る。
【0039】請求項15のノズルプレートは、長手方向
に連通した第1のノズル孔及び第2のノズル孔を有する
ノズルプレートであって、第1のノズル孔の断面積が第
2のノズル孔のそれより小さく、かつ、第2のノズル孔
が前記第1のノズル孔よりノズルプレートの裏面側に形
成されてなることを特徴とする。
に連通した第1のノズル孔及び第2のノズル孔を有する
ノズルプレートであって、第1のノズル孔の断面積が第
2のノズル孔のそれより小さく、かつ、第2のノズル孔
が前記第1のノズル孔よりノズルプレートの裏面側に形
成されてなることを特徴とする。
【0040】このため、請求項15のノズルプレート
は、ノズル近傍でのインク流速が大きく、すなわち気泡
排出性が優れているという効果を有する。
は、ノズル近傍でのインク流速が大きく、すなわち気泡
排出性が優れているという効果を有する。
【0041】請求項16のノズルプレートは、請求項1
5に記載のノズルプレートにおいて、このノズルプレー
トは(110)面方位の単結晶シリコン基板を用いて製
造されたノズルプレートであって、第1及び第2のノズ
ル孔は、この単結晶シリコン基板の表面に対して垂直な
4つの(111)結晶面を含む複数の面からなることを
特徴とする。
5に記載のノズルプレートにおいて、このノズルプレー
トは(110)面方位の単結晶シリコン基板を用いて製
造されたノズルプレートであって、第1及び第2のノズ
ル孔は、この単結晶シリコン基板の表面に対して垂直な
4つの(111)結晶面を含む複数の面からなることを
特徴とする。
【0042】このため、請求項16のノズルプレート
は、請求項15のノズルプレートが有する効果に加え
て、第1及び第2のノズル孔の垂直性が良好であるとい
う効果を有する。
は、請求項15のノズルプレートが有する効果に加え
て、第1及び第2のノズル孔の垂直性が良好であるとい
う効果を有する。
【0043】請求項17のインクジェットヘッドは、請
求項15又は16のいずれかに記載のノズルプレートを
備えたことを特徴とする。
求項15又は16のいずれかに記載のノズルプレートを
備えたことを特徴とする。
【0044】このため、請求項17のインクジェットヘ
ッドは、高気泡排出性、高印字品質であるという効果を
有する。
ッドは、高気泡排出性、高印字品質であるという効果を
有する。
【0045】請求項18のインクジェット記録装置は、
請求項14又は17に記載のインクジェットヘッドを備
えたことを特徴とする。
請求項14又は17に記載のインクジェットヘッドを備
えたことを特徴とする。
【0046】このため、請求項18のインクジェット記
録装置は、請求項14又は17に記載のインクジェット
ヘッドが有する効果を備えるという効果を有する。
録装置は、請求項14又は17に記載のインクジェット
ヘッドが有する効果を備えるという効果を有する。
【0047】なお、ここでいうインクジェット記録装置
とは、インクジェットヘッドを備えることにより紙、プ
ラスチックシート、樹脂等の媒体に情報を記録すること
のできる装置をいい、プリンタ、FAX、コピー等をす
べて含むものである。
とは、インクジェットヘッドを備えることにより紙、プ
ラスチックシート、樹脂等の媒体に情報を記録すること
のできる装置をいい、プリンタ、FAX、コピー等をす
べて含むものである。
【0048】
【発明の実施の形態】以下、本発明を実施例に基づき詳
細に説明する。
細に説明する。
【0049】(実施例1)図3は実施例1におけるイン
クジェットヘッド400の断面図である。実施例1にお
けるインクジェットヘッド400は、ノズルプレート1
00とキャビティプレート200と電極プレート300
とが接合されてなる構造を有している。ノズルプレート
100は、ノズル孔120とオリフィス用凹部110と
が形成されている。オリフィス用凹部110は、接合さ
れた状態でオリフィス112となり、インクキャビティ
212およびインクリザーバ222とを連結している。
キャビティプレート200は、インクキャビティ用凹部
210とインクリザーバ用凹部220と振動板230と
が形成されている。インクキャビティ用凹部210とイ
ンクリザーバ用凹部220とは、接合された状態でイン
クキャビティ212及びインクリザーバ222を構成し
ている。インクキャビティ212はキャビティプレート
200表面に対し垂直に加工されており、インクリザー
バ222はインクキャビティ212にインクを供給する
ものであり、振動板230はインクを加圧するためのも
のである。電極プレート300には、振動板230を静
電的に吸引しこれによりインクキャビティ212中のイ
ンクを加圧するための電極310が形成されている。イ
ンクは、インク供給管50からインクリザーバ222へ
供給され、最終的にインク滴10としてノズル孔120
から吐出される。ノズルプレート100及びキャビティ
プレート200は、ともに(110)面方位の単結晶シ
リコン基板からなる。
クジェットヘッド400の断面図である。実施例1にお
けるインクジェットヘッド400は、ノズルプレート1
00とキャビティプレート200と電極プレート300
とが接合されてなる構造を有している。ノズルプレート
100は、ノズル孔120とオリフィス用凹部110と
が形成されている。オリフィス用凹部110は、接合さ
れた状態でオリフィス112となり、インクキャビティ
212およびインクリザーバ222とを連結している。
キャビティプレート200は、インクキャビティ用凹部
210とインクリザーバ用凹部220と振動板230と
が形成されている。インクキャビティ用凹部210とイ
ンクリザーバ用凹部220とは、接合された状態でイン
クキャビティ212及びインクリザーバ222を構成し
ている。インクキャビティ212はキャビティプレート
200表面に対し垂直に加工されており、インクリザー
バ222はインクキャビティ212にインクを供給する
ものであり、振動板230はインクを加圧するためのも
のである。電極プレート300には、振動板230を静
電的に吸引しこれによりインクキャビティ212中のイ
ンクを加圧するための電極310が形成されている。イ
ンクは、インク供給管50からインクリザーバ222へ
供給され、最終的にインク滴10としてノズル孔120
から吐出される。ノズルプレート100及びキャビティ
プレート200は、ともに(110)面方位の単結晶シ
リコン基板からなる。
【0050】図4は、実施例1におけるノズルプレート
100の斜視図である。各ノズル孔120には、オリフ
ィス用凹部110が2個ずつ対応して形成されている
が、設計条件により、オリフィス用凹部の数は1個の場
合もあるし、3個以上の場合もある。
100の斜視図である。各ノズル孔120には、オリフ
ィス用凹部110が2個ずつ対応して形成されている
が、設計条件により、オリフィス用凹部の数は1個の場
合もあるし、3個以上の場合もある。
【0051】図5は、実施例1のノズルプレート100
の製造工程図であり、(110)面方位の単結晶シリコ
ン基板の少なくとも両面に耐エッチング被膜を形成する
第1の工程(a)と、オリフィス用凹部を形成するため
の第1の開口部及びノズル孔を形成するための第2の開
口部をこの耐エッチング被膜に形成する第2の工程
(b)と、第1及び第2の開口部の所定部分に所定の未
貫通孔を形成する第3の工程(c)と、この未貫通孔の
形成された単結晶シリコン基板の湿式エッチングを行う
ことによりオリフィス用凹部及びノズル孔を形成する第
4の工程(d〜e)と、を有している。
の製造工程図であり、(110)面方位の単結晶シリコ
ン基板の少なくとも両面に耐エッチング被膜を形成する
第1の工程(a)と、オリフィス用凹部を形成するため
の第1の開口部及びノズル孔を形成するための第2の開
口部をこの耐エッチング被膜に形成する第2の工程
(b)と、第1及び第2の開口部の所定部分に所定の未
貫通孔を形成する第3の工程(c)と、この未貫通孔の
形成された単結晶シリコン基板の湿式エッチングを行う
ことによりオリフィス用凹部及びノズル孔を形成する第
4の工程(d〜e)と、を有している。
【0052】(第1の工程:図5(a))ノズルプレー
ト100となる板厚400μmの(110)面方位の単
結晶シリコン基板500を摂氏1100度、水蒸気を含
む雰囲気下で、4時間の熱処理を行い、この単結晶シリ
コン基板の両面に耐エッチング皮膜として1μm厚みの
シリコン熱酸化膜502を形成する。
ト100となる板厚400μmの(110)面方位の単
結晶シリコン基板500を摂氏1100度、水蒸気を含
む雰囲気下で、4時間の熱処理を行い、この単結晶シリ
コン基板の両面に耐エッチング皮膜として1μm厚みの
シリコン熱酸化膜502を形成する。
【0053】(第2の工程:図5(b))熱酸化膜50
2にフォトエッチングを施し、オリフィス用凹部11
0、ノズル孔120、及びノズル孔を貫通させるための
ノズル表面側凹部130を形成するための開口部51
0、520、530を形成する。開口部510の形状は
幅20μmで長さが500μmである平行四辺形であ
り、開口部520の形状は一辺が30μmで、内角が7
0度および110度である菱形であり、この平行四辺形
の長さ500μmの辺及び菱形の一組の平行な辺は単結
晶シリコン基板の<112>方向に平行にアライメント
されている(図6)。
2にフォトエッチングを施し、オリフィス用凹部11
0、ノズル孔120、及びノズル孔を貫通させるための
ノズル表面側凹部130を形成するための開口部51
0、520、530を形成する。開口部510の形状は
幅20μmで長さが500μmである平行四辺形であ
り、開口部520の形状は一辺が30μmで、内角が7
0度および110度である菱形であり、この平行四辺形
の長さ500μmの辺及び菱形の一組の平行な辺は単結
晶シリコン基板の<112>方向に平行にアライメント
されている(図6)。
【0054】(第3の工程:図5(c))第1の開口部
510及び第2の開口部520の所定部分に所定の未貫
通孔512、522を形成する。未貫通孔の形成は、Y
AGレーザを用いて行った。垂直な深い孔を開けるため
にYAGレーザのパワーやパルス数等のパラメータを適
切な値に設定した。インクジェットヘッドの規格から、
未貫通孔深さの狙い値が決定される。実施例1では、イ
ンクジェットヘッドの規格より、オリフィス用凹部の深
さの狙い値は80μm、ノズルの長さの狙い値は30μ
mである。通常単結晶シリコンをレーザ加工する場合、
加工された部分の周囲には結晶溶融部が形成される。結
晶溶融部は結晶性を失っているために、レーザ加工され
た部分に湿式異方性エッチングを行う場合には、エッチ
ングは結晶性を有している部分まで進行して自動的にエ
ッチストップとなる。すなわち、未貫通孔522の深さ
としては、実際の加工深さ狙い値よりも結晶溶融部の厚
みを差し引いた深さだけ加工すればよいことになる。ま
た、未貫通孔522の深さ(結晶溶融部の厚みも含む)
はノズル孔長さの狙い値である30μm以上であればよ
いが、深さばらつきも考慮して多少深い方が望ましい。
実施例1では、その結果、第1の開口部510の所定部
分に形成された未貫通孔512は、直径約15μmで深
さ約75μmとなり、第2の開口部520の所定部分に
形成された未貫通孔522は、直径約18μmで深さ約
35μmとなった(結晶溶融部の厚みは約5μmである
0)。また、実施例1では各開口部510にはそれぞれ
2つの未貫通孔を形成したが、これは、その後に行う第
4の工程での異方性湿式エッチング時間を短縮するため
であり、1つ、または3つ以上の未貫通孔を形成した場
合でも未貫通孔の深さを調整することで、最終的に得ら
れるオリフィス用凹部の形状は同一となる。
510及び第2の開口部520の所定部分に所定の未貫
通孔512、522を形成する。未貫通孔の形成は、Y
AGレーザを用いて行った。垂直な深い孔を開けるため
にYAGレーザのパワーやパルス数等のパラメータを適
切な値に設定した。インクジェットヘッドの規格から、
未貫通孔深さの狙い値が決定される。実施例1では、イ
ンクジェットヘッドの規格より、オリフィス用凹部の深
さの狙い値は80μm、ノズルの長さの狙い値は30μ
mである。通常単結晶シリコンをレーザ加工する場合、
加工された部分の周囲には結晶溶融部が形成される。結
晶溶融部は結晶性を失っているために、レーザ加工され
た部分に湿式異方性エッチングを行う場合には、エッチ
ングは結晶性を有している部分まで進行して自動的にエ
ッチストップとなる。すなわち、未貫通孔522の深さ
としては、実際の加工深さ狙い値よりも結晶溶融部の厚
みを差し引いた深さだけ加工すればよいことになる。ま
た、未貫通孔522の深さ(結晶溶融部の厚みも含む)
はノズル孔長さの狙い値である30μm以上であればよ
いが、深さばらつきも考慮して多少深い方が望ましい。
実施例1では、その結果、第1の開口部510の所定部
分に形成された未貫通孔512は、直径約15μmで深
さ約75μmとなり、第2の開口部520の所定部分に
形成された未貫通孔522は、直径約18μmで深さ約
35μmとなった(結晶溶融部の厚みは約5μmである
0)。また、実施例1では各開口部510にはそれぞれ
2つの未貫通孔を形成したが、これは、その後に行う第
4の工程での異方性湿式エッチング時間を短縮するため
であり、1つ、または3つ以上の未貫通孔を形成した場
合でも未貫通孔の深さを調整することで、最終的に得ら
れるオリフィス用凹部の形状は同一となる。
【0055】(第4の工程:図5(d〜e))次にアル
カリを用いた異方性湿式エッチングを行った。実施例1
では水酸化カリウム水溶液を用いた。通常、(110)
面方位の単結晶シリコン基板をアルカリを用いて異方性
湿式エッチングする場合は、エッチングマスク(実施例
1ではシリコン熱酸化膜)の開口部において、基板表面
に対し垂直な面と35度をなす面(ともに単結晶シリコ
ンの(111)面)とが出現し、開口部の両端部から出
現する2つの35度の(111)面がエッチングにより
形成される凹部の底部で交差するところでエッチングが
停止してしまうが(図1参照)、実施例1では、レーザ
加工により未貫通孔が形成されているために未貫通孔5
12および522の底部と(111)面とが交差すると
ころまでは基板表面に対し35度をなす(111)面が
出現せず、基板表面に対し垂直な4つの(111)面か
らなる、高精度なノズル孔120およびオリフィス用凹
部110が形成できる(図4参照)。図5(d)は、ア
ルカリを用いた異方性湿式エッチングの途中経過を示し
ている。開口部530からのエッチング部532でもエ
ッチングが進行している。図5(d)上では、エッチン
グ部532はレーザによる穴明け加工がないにもかかわ
らず垂直な面が形成されているように描かれているが、
実際にはエッチング部532の面積がノズル孔120の
面積に比べて非常に大きいため、開口部530の形状を
工夫することでほぼ図5(d)に示すような断面形状を
形成できる。さらにエッチングを行うと、ノズル孔とな
るエッチング部524およびオリフィス用凹部となるエ
ッチング部514では、上記したようにさらにはエッチ
ングは進行しないが、エッチング部532ではエッチン
グ時間に応じてエッチングが進行し、最終的にはノズル
孔となるエッチング部524が貫通し、ノズル孔120
が形成される。貫通後、さらにエッチングを行うと、ノ
ズル孔120の長さはエッチング時間に応じて短くなる
ため、ノズル孔120が所望長さとなるところでエッチ
ングを停止する(図5(e))。
カリを用いた異方性湿式エッチングを行った。実施例1
では水酸化カリウム水溶液を用いた。通常、(110)
面方位の単結晶シリコン基板をアルカリを用いて異方性
湿式エッチングする場合は、エッチングマスク(実施例
1ではシリコン熱酸化膜)の開口部において、基板表面
に対し垂直な面と35度をなす面(ともに単結晶シリコ
ンの(111)面)とが出現し、開口部の両端部から出
現する2つの35度の(111)面がエッチングにより
形成される凹部の底部で交差するところでエッチングが
停止してしまうが(図1参照)、実施例1では、レーザ
加工により未貫通孔が形成されているために未貫通孔5
12および522の底部と(111)面とが交差すると
ころまでは基板表面に対し35度をなす(111)面が
出現せず、基板表面に対し垂直な4つの(111)面か
らなる、高精度なノズル孔120およびオリフィス用凹
部110が形成できる(図4参照)。図5(d)は、ア
ルカリを用いた異方性湿式エッチングの途中経過を示し
ている。開口部530からのエッチング部532でもエ
ッチングが進行している。図5(d)上では、エッチン
グ部532はレーザによる穴明け加工がないにもかかわ
らず垂直な面が形成されているように描かれているが、
実際にはエッチング部532の面積がノズル孔120の
面積に比べて非常に大きいため、開口部530の形状を
工夫することでほぼ図5(d)に示すような断面形状を
形成できる。さらにエッチングを行うと、ノズル孔とな
るエッチング部524およびオリフィス用凹部となるエ
ッチング部514では、上記したようにさらにはエッチ
ングは進行しないが、エッチング部532ではエッチン
グ時間に応じてエッチングが進行し、最終的にはノズル
孔となるエッチング部524が貫通し、ノズル孔120
が形成される。貫通後、さらにエッチングを行うと、ノ
ズル孔120の長さはエッチング時間に応じて短くなる
ため、ノズル孔120が所望長さとなるところでエッチ
ングを停止する(図5(e))。
【0056】(その後の工程)ついで、エッチングマス
クである熱酸化膜502をフッ酸系エッチング液で除去
し(図5(f))、耐インク性付与のために、改めてシ
リコン熱酸化膜504を形成し、ノズルプレート100
が完成する(図5(g))。
クである熱酸化膜502をフッ酸系エッチング液で除去
し(図5(f))、耐インク性付与のために、改めてシ
リコン熱酸化膜504を形成し、ノズルプレート100
が完成する(図5(g))。
【0057】前述したように、従来工法では、オリフィ
スは高精度ではあるが、エッチング開口部に対し一義的
に決まる形状しか得られず、すなわちオリフィスの流体
抵抗値の自由度がなかったことに対して、本実施例で
は、オリフィスをノズルプレート表面に対して、垂直に
深く形状精度良好に形成でき、また、その深さはレーザ
加工により任意に決定できるようになったため、インク
ジェット記録装置の様々な仕様におけるオリフィスの流
体抵抗設計値に対応することができた。これにより、高
密度のインクジェットヘッドにおける幅の狭いオリフィ
スにおいて、最適な流体抵抗値が得られるようになり、
すなわち、高印字品質かつ高速印刷が可能なインクジェ
ットヘッドを提供することができた。また、前述したよ
うに、従来工法(プラズマエッチング)で形成されるノ
ズル孔の径は若干のばらつきを有していたが、本実施例
ではフォトエッチングによるパターンによりノズル孔径
寸法が決定されるため、再現よく高精度なノズル孔を低
コストで大量に形成できるようになった。これにより、
高密度インクジェットヘッドおよびこのインクジェット
ヘッドを用いたインクジェット記録装置における印字品
質の安定化と、低コスト化を実現することができた。ま
た、図5(c)における所定箇所への穴明け加工をプラ
ズマエッチングにより行うこともできる。この場合、前
記未貫通孔512および522の加工深さはほぼ同一と
なるが、より深い方の未貫通孔512の所定加工深さに
合わせてプラズマエッチング加工することで、オリフィ
ス用凹部110の深さ及びノズル孔120の長さを共に
狙い値どおりに形成できる。ノズル孔となる未貫通孔5
22の深さは、図5の工程(c)の段階では、ノズル孔
長さの狙い値より大きくなるが、最終的にはエッチング
部532のエッチング深さによりノズル孔120の長さ
を規定するため、なんら問題はない。なお、プラズマエ
ッチングには種々の方式があるが、トレンチエッチング
と呼ばれる垂直深穴加工が可能な方式によることが望ま
しい。 (実施例2)実施例2は、本発明の実施例1における第
2の工程のあとに、アルカリを用いた異方性湿式エッチ
ングを行うことで、その後の第3の工程における未貫通
孔の加工量を低減させ、本工程におけるスループットを
向上させるものである。
スは高精度ではあるが、エッチング開口部に対し一義的
に決まる形状しか得られず、すなわちオリフィスの流体
抵抗値の自由度がなかったことに対して、本実施例で
は、オリフィスをノズルプレート表面に対して、垂直に
深く形状精度良好に形成でき、また、その深さはレーザ
加工により任意に決定できるようになったため、インク
ジェット記録装置の様々な仕様におけるオリフィスの流
体抵抗設計値に対応することができた。これにより、高
密度のインクジェットヘッドにおける幅の狭いオリフィ
スにおいて、最適な流体抵抗値が得られるようになり、
すなわち、高印字品質かつ高速印刷が可能なインクジェ
ットヘッドを提供することができた。また、前述したよ
うに、従来工法(プラズマエッチング)で形成されるノ
ズル孔の径は若干のばらつきを有していたが、本実施例
ではフォトエッチングによるパターンによりノズル孔径
寸法が決定されるため、再現よく高精度なノズル孔を低
コストで大量に形成できるようになった。これにより、
高密度インクジェットヘッドおよびこのインクジェット
ヘッドを用いたインクジェット記録装置における印字品
質の安定化と、低コスト化を実現することができた。ま
た、図5(c)における所定箇所への穴明け加工をプラ
ズマエッチングにより行うこともできる。この場合、前
記未貫通孔512および522の加工深さはほぼ同一と
なるが、より深い方の未貫通孔512の所定加工深さに
合わせてプラズマエッチング加工することで、オリフィ
ス用凹部110の深さ及びノズル孔120の長さを共に
狙い値どおりに形成できる。ノズル孔となる未貫通孔5
22の深さは、図5の工程(c)の段階では、ノズル孔
長さの狙い値より大きくなるが、最終的にはエッチング
部532のエッチング深さによりノズル孔120の長さ
を規定するため、なんら問題はない。なお、プラズマエ
ッチングには種々の方式があるが、トレンチエッチング
と呼ばれる垂直深穴加工が可能な方式によることが望ま
しい。 (実施例2)実施例2は、本発明の実施例1における第
2の工程のあとに、アルカリを用いた異方性湿式エッチ
ングを行うことで、その後の第3の工程における未貫通
孔の加工量を低減させ、本工程におけるスループットを
向上させるものである。
【0058】図7は実施例2におけるインクジェットヘ
ッドに用いられるノズルプレート100aの製造工程図
であるが、基本的には実施例1と同一であり、異なる部
分についてのみ詳細に説明を行う。
ッドに用いられるノズルプレート100aの製造工程図
であるが、基本的には実施例1と同一であり、異なる部
分についてのみ詳細に説明を行う。
【0059】図7(a)〜(b)の工程において、本発
明の実施例1と同様に単結晶シリコン基板700上にシ
リコン熱酸化膜702を形成し、このシリコン熱酸化膜
702にオリフィス用凹部110a、ノズル孔120
a、及びノズル孔を貫通させるためのノズル表面側凹部
130aを形成するための開口部710、720、73
0を形成する。ついで、図7(c)の工程において、シ
リコン基板700の湿式異方性エッチングを行う。エッ
チング部ではシリコン基板700の表面に対し35度の
角度で現れる2つの(111)面703が交わるところ
でエッチングが自動的に終了する。次に、図7(d)の
工程において、本発明の実施例1と同様にレーザ加工法
により未貫通孔を形成するが、その際の加工量は、実施
例1の場合に比べて少なくてよいために、加工時間が短
縮されるという効果を有する。
明の実施例1と同様に単結晶シリコン基板700上にシ
リコン熱酸化膜702を形成し、このシリコン熱酸化膜
702にオリフィス用凹部110a、ノズル孔120
a、及びノズル孔を貫通させるためのノズル表面側凹部
130aを形成するための開口部710、720、73
0を形成する。ついで、図7(c)の工程において、シ
リコン基板700の湿式異方性エッチングを行う。エッ
チング部ではシリコン基板700の表面に対し35度の
角度で現れる2つの(111)面703が交わるところ
でエッチングが自動的に終了する。次に、図7(d)の
工程において、本発明の実施例1と同様にレーザ加工法
により未貫通孔を形成するが、その際の加工量は、実施
例1の場合に比べて少なくてよいために、加工時間が短
縮されるという効果を有する。
【0060】(実施例3)図8は実施例3におけるイン
クジェットヘッドに用いられるノズルプレート100b
の製造工程図であり、その製造工程について以下に詳細
に説明する。本実施例では、ノズルプレート100bと
なる基板として、(110)面方位の単結晶シリコン基
板500に代えて、(110)面方位の単結晶シリコン
基板のSOI基板800を用いている。活性層802は
厚み15μm、誘電体層(SiO2)804は、厚み
0.05μm、支持体806は、厚み400μmであ
り、活性層802および支持体806はともに(11
0)面方位の単結晶シリコンである。図8(a)〜
(g)における加工条件は、実施例1の場合と全く同一
であるため、説明を省略する。YAGレーザによるSi
への穴明け加工では、誘電体層804の加工に要するパ
ワーは無視し得るため、加工深さもばらつきの範囲で本
発明の実施例1の場合と同一となる。SOI基板を用い
ることで、開口部830からのエッチング部832での
エッチングは、誘電体層804が出現したところで、自
動的に停止する。誘電体層804の厚みは0.05μm
であり、長時間(10数分程度)の異方性湿式エッチン
グでは消失してしまうため、エッチングは適当なところ
で終了しなければならないが、同一バッチ内のエッチン
グばらつきを考慮してもエッチング停止には±5分程度
の許容範囲があるため、本工程における歩留まりは10
0%である。
クジェットヘッドに用いられるノズルプレート100b
の製造工程図であり、その製造工程について以下に詳細
に説明する。本実施例では、ノズルプレート100bと
なる基板として、(110)面方位の単結晶シリコン基
板500に代えて、(110)面方位の単結晶シリコン
基板のSOI基板800を用いている。活性層802は
厚み15μm、誘電体層(SiO2)804は、厚み
0.05μm、支持体806は、厚み400μmであ
り、活性層802および支持体806はともに(11
0)面方位の単結晶シリコンである。図8(a)〜
(g)における加工条件は、実施例1の場合と全く同一
であるため、説明を省略する。YAGレーザによるSi
への穴明け加工では、誘電体層804の加工に要するパ
ワーは無視し得るため、加工深さもばらつきの範囲で本
発明の実施例1の場合と同一となる。SOI基板を用い
ることで、開口部830からのエッチング部832での
エッチングは、誘電体層804が出現したところで、自
動的に停止する。誘電体層804の厚みは0.05μm
であり、長時間(10数分程度)の異方性湿式エッチン
グでは消失してしまうため、エッチングは適当なところ
で終了しなければならないが、同一バッチ内のエッチン
グばらつきを考慮してもエッチング停止には±5分程度
の許容範囲があるため、本工程における歩留まりは10
0%である。
【0061】本実施例で得られたノズルプレート100
bでは、ノズル孔120bの長さは活性層802の厚み
と同一であり、すなわち、エッチングに関するパラメー
タの変動によるエッチング深さばらつき(通常±5μm
程度)によらず、SOI基板製造工程で達成されている
活性層厚みばらつき(研磨工程の精度によるが、±1μ
m程度)の精度でノズル孔長さ精度が確保されるため、
より高印字品質のインクジェットヘッドを提供すること
ができた。
bでは、ノズル孔120bの長さは活性層802の厚み
と同一であり、すなわち、エッチングに関するパラメー
タの変動によるエッチング深さばらつき(通常±5μm
程度)によらず、SOI基板製造工程で達成されている
活性層厚みばらつき(研磨工程の精度によるが、±1μ
m程度)の精度でノズル孔長さ精度が確保されるため、
より高印字品質のインクジェットヘッドを提供すること
ができた。
【0062】なお、実施例3においては、ノズルプレー
ト上にオリフィス及びノズル孔を共に形成したが、オリ
フィスのみを、又はノズル孔のみを本発明の方法により
ノズルプレート上に形成し、オリフィス又はノズル孔は
他の方法により前記ノズルプレート上又は、他の基板上
に形成する場合も本発明の主旨から逸脱しない。
ト上にオリフィス及びノズル孔を共に形成したが、オリ
フィスのみを、又はノズル孔のみを本発明の方法により
ノズルプレート上に形成し、オリフィス又はノズル孔は
他の方法により前記ノズルプレート上又は、他の基板上
に形成する場合も本発明の主旨から逸脱しない。
【0063】(実施例4)図9は実施例4におけるイン
クジェットヘッド400cの断面図である。実施例4に
おけるインクジェットヘッド400cは、ノズルプレー
ト100cとキャビティプレート200cと電極プレー
ト300cとが接合されてなる構造を有している。イン
クジェットヘッド400cのインク吐出原理、およびキ
ャビティプレート200cおよび電極プレート300c
の構造は本発明の実施例1の場合と同一であるので説明
を省略する。
クジェットヘッド400cの断面図である。実施例4に
おけるインクジェットヘッド400cは、ノズルプレー
ト100cとキャビティプレート200cと電極プレー
ト300cとが接合されてなる構造を有している。イン
クジェットヘッド400cのインク吐出原理、およびキ
ャビティプレート200cおよび電極プレート300c
の構造は本発明の実施例1の場合と同一であるので説明
を省略する。
【0064】図10は、実施例4におけるノズルプレー
ト100cの斜視図である。ノズルプレート100cの
ノズル孔はインク吐出方向に対して、断面積の異なる第
1ノズル120c1と第2ノズル120c2からなる2
段形状となっており、記録媒体に近い側(第1ノズル1
20c1)の断面積が小さくなっている。このような形
状とすることでノズル孔近傍でのインク流速が増加し、
気泡排出性を向上させることが可能となるが、ノズル孔
以外の部分は基本的に本発明の第1の実施例と同一の構
造であり、説明を省略する。
ト100cの斜視図である。ノズルプレート100cの
ノズル孔はインク吐出方向に対して、断面積の異なる第
1ノズル120c1と第2ノズル120c2からなる2
段形状となっており、記録媒体に近い側(第1ノズル1
20c1)の断面積が小さくなっている。このような形
状とすることでノズル孔近傍でのインク流速が増加し、
気泡排出性を向上させることが可能となるが、ノズル孔
以外の部分は基本的に本発明の第1の実施例と同一の構
造であり、説明を省略する。
【0065】図11は、実施例4のノズルプレート10
0cの製造工程図であり、(110)面方位の単結晶シ
リコン基板の少なくとも両面に耐エッチング被膜を形成
する第1の工程(a)と、オリフィス用凹部を形成する
ための第1の開口部、第1ノズルを形成するための第4
の開口部、第2ノズルを形成するための窪み部及びノズ
ル表面側凹部を形成するための第3の開口部をこの耐エ
ッチング被膜に形成する第2の工程(b〜d)と、第1
及び第4の開口部の所定部分に所定の未貫通孔を形成す
る第3の工程(e)と、この未貫通孔の形成された単結
晶シリコン基板の湿式エッチングを行うことによりオリ
フィス用凹部及びノズル孔を形成する第4の工程(f〜
h)と、を有している。
0cの製造工程図であり、(110)面方位の単結晶シ
リコン基板の少なくとも両面に耐エッチング被膜を形成
する第1の工程(a)と、オリフィス用凹部を形成する
ための第1の開口部、第1ノズルを形成するための第4
の開口部、第2ノズルを形成するための窪み部及びノズ
ル表面側凹部を形成するための第3の開口部をこの耐エ
ッチング被膜に形成する第2の工程(b〜d)と、第1
及び第4の開口部の所定部分に所定の未貫通孔を形成す
る第3の工程(e)と、この未貫通孔の形成された単結
晶シリコン基板の湿式エッチングを行うことによりオリ
フィス用凹部及びノズル孔を形成する第4の工程(f〜
h)と、を有している。
【0066】(第1の工程:図11(a))ノズルプレ
ート100cとなる板厚400μmの(110)面方位
の単結晶シリコン基板1100を摂氏1100度、水蒸
気を含む雰囲気下で、4時間の熱処理を行い、この単結
晶シリコン基板の両面に耐エッチング皮膜として1μm
厚みのシリコン熱酸化膜1102を形成する。
ート100cとなる板厚400μmの(110)面方位
の単結晶シリコン基板1100を摂氏1100度、水蒸
気を含む雰囲気下で、4時間の熱処理を行い、この単結
晶シリコン基板の両面に耐エッチング皮膜として1μm
厚みのシリコン熱酸化膜1102を形成する。
【0067】(第2の工程:図11(b〜d))熱酸化
膜1102にフォトエッチングを施し、オリフィス用凹
部110c、第1ノズル120c1、ノズル孔を貫通さ
せるためのノズル表面側凹部130cを形成するための
開口部1110、1120c1、1130、と第2ノズ
ル120c2を形成するための窪み部1120c2を形
成する。開口部1110及び開口部1130の形状・寸
法は本発明の実施例1の場合と同一である。窪み部11
20c2の形状は、開口部1120c1の形状に対し相
似である一辺が50μmの菱形であり、開口部1120
c1に対し同心状に配置される。また、窪み部1120
c2のシリコン熱酸化膜の膜厚は0.7μmとする。
膜1102にフォトエッチングを施し、オリフィス用凹
部110c、第1ノズル120c1、ノズル孔を貫通さ
せるためのノズル表面側凹部130cを形成するための
開口部1110、1120c1、1130、と第2ノズ
ル120c2を形成するための窪み部1120c2を形
成する。開口部1110及び開口部1130の形状・寸
法は本発明の実施例1の場合と同一である。窪み部11
20c2の形状は、開口部1120c1の形状に対し相
似である一辺が50μmの菱形であり、開口部1120
c1に対し同心状に配置される。また、窪み部1120
c2のシリコン熱酸化膜の膜厚は0.7μmとする。
【0068】(第3の工程:図11(e))第1の開口
部1110及び第2の開口部1120c1の所定部分に
YAGレーザにより所定の未貫通孔1112及び112
2を形成する。未貫通孔1112の加工は実施例1の未
貫通孔512の場合と同一条件で行ったが、未貫通孔1
122の加工ではYAGレーザのパワーやパルス数等の
パラメータを適切な値に設定し、その結果、直径約18
μmで深さ約80μmとなった。
部1110及び第2の開口部1120c1の所定部分に
YAGレーザにより所定の未貫通孔1112及び112
2を形成する。未貫通孔1112の加工は実施例1の未
貫通孔512の場合と同一条件で行ったが、未貫通孔1
122の加工ではYAGレーザのパワーやパルス数等の
パラメータを適切な値に設定し、その結果、直径約18
μmで深さ約80μmとなった。
【0069】(第4の工程:図11(f〜h))次にア
ルカリを用いた異方性湿式エッチングを行った。実施例
4では、実施例1の場合と同様に水酸化カリウム水溶液
を用いたが、異方性湿式エッチングを2回に分けて実施
した。1回目の異方性湿式エッチングでは、所定時間の
エッチングにより、第1ノズルとなる部分1124及び
オリフィス用凹部110cを形成する(図11(f)の
工程)。この時点で、窪み部1120c2のシリコン熱
酸化膜は水酸化カリウム水溶液によりエッチングされ、
当初0.7μmであった膜厚は薄くなっている。次い
で、窪み部1120c2の残りのシリコン熱酸化膜を全
てフッ酸系エッチング液で除去する(図11(g)の工
程)。次に、2回目の異方性湿式エッチングを行い、第
2ノズル120c2を形成する。エッチング時間として
は、第1ノズルとなる部分1124がノズル表面側凹部
130cとなるエッチング部1132のエッチングによ
り貫通し、第1ノズル120c1の長さが30μm、第
2ノズル120c2の深さが50μmとなるように調整
される。
ルカリを用いた異方性湿式エッチングを行った。実施例
4では、実施例1の場合と同様に水酸化カリウム水溶液
を用いたが、異方性湿式エッチングを2回に分けて実施
した。1回目の異方性湿式エッチングでは、所定時間の
エッチングにより、第1ノズルとなる部分1124及び
オリフィス用凹部110cを形成する(図11(f)の
工程)。この時点で、窪み部1120c2のシリコン熱
酸化膜は水酸化カリウム水溶液によりエッチングされ、
当初0.7μmであった膜厚は薄くなっている。次い
で、窪み部1120c2の残りのシリコン熱酸化膜を全
てフッ酸系エッチング液で除去する(図11(g)の工
程)。次に、2回目の異方性湿式エッチングを行い、第
2ノズル120c2を形成する。エッチング時間として
は、第1ノズルとなる部分1124がノズル表面側凹部
130cとなるエッチング部1132のエッチングによ
り貫通し、第1ノズル120c1の長さが30μm、第
2ノズル120c2の深さが50μmとなるように調整
される。
【0070】(その後の工程)ついで、エッチングマス
クである熱酸化膜1102をフッ酸系エッチング液で除
去し、耐インク性付与のために、改めてシリコン熱酸化
膜1104を形成し、ノズルプレート100cが完成す
る(図11(i))。
クである熱酸化膜1102をフッ酸系エッチング液で除
去し、耐インク性付与のために、改めてシリコン熱酸化
膜1104を形成し、ノズルプレート100cが完成す
る(図11(i))。
【0071】また、図11(e)における所定箇所への
穴明け加工をプラズマエッチングにより行うこともでき
る。なお、プラズマエッチングには種々の方式がある
が、トレンチエッチングと呼ばれる垂直深穴加工が可能
な方式によることが望ましい。実施例4で得られたノズ
ルプレート100cでは、ノズル孔はインク吐出方向に
対して、断面積の異なる第1ノズル120c1と第2ノ
ズル120c2からなる2段形状となっているために、
ノズル孔近傍でのインク流速が増加し、気泡排出性を向
上させることが可能となったため、このノズルプレート
を用いることで高印字品質のインクジェットヘッドを提
供することができた。
穴明け加工をプラズマエッチングにより行うこともでき
る。なお、プラズマエッチングには種々の方式がある
が、トレンチエッチングと呼ばれる垂直深穴加工が可能
な方式によることが望ましい。実施例4で得られたノズ
ルプレート100cでは、ノズル孔はインク吐出方向に
対して、断面積の異なる第1ノズル120c1と第2ノ
ズル120c2からなる2段形状となっているために、
ノズル孔近傍でのインク流速が増加し、気泡排出性を向
上させることが可能となったため、このノズルプレート
を用いることで高印字品質のインクジェットヘッドを提
供することができた。
【0072】なお、本実施例においては、ノズルプレー
ト上にオリフィス用凹部及びノズル孔をともに形成した
が、オリフィス用凹部のみを、又はノズル孔のみを本発
明の方法によりノズルプレート上に形成し、オリフィス
用凹部又はノズル孔は他の方法により前記ノズルプレー
ト上または、他の基板上に形成する場合も本発明の主旨
から逸脱しない。
ト上にオリフィス用凹部及びノズル孔をともに形成した
が、オリフィス用凹部のみを、又はノズル孔のみを本発
明の方法によりノズルプレート上に形成し、オリフィス
用凹部又はノズル孔は他の方法により前記ノズルプレー
ト上または、他の基板上に形成する場合も本発明の主旨
から逸脱しない。
【図1】 従来技術におけるエッチング原理の説明図。
【図2】 本発明におけるエッチング原理の説明図。
【図3】 実施例1におけるインクジェットヘッドの断
面図。
面図。
【図4】 実施例1におけるノズルプレートの斜視図。
【図5】 実施例1におけるノズルプレートの製造工程
断面図。
断面図。
【図6】 開口部のパターニング方向の説明図。
【図7】 実施例2におけるノズルプレートの製造工程
断面図。
断面図。
【図8】 実施例3におけるノズルプレートの製造工程
断面図。
断面図。
【図9】 実施例4におけるインクジェットヘッドの断
面図。
面図。
【図10】 実施例4におけるノズルプレートの斜視
図。
図。
【図11】 実施例4におけるノズルプレートの製造工
程断面図。
程断面図。
100 ノズルプレート 110 オリフィス用凹部 112 オリフィス 120 ノズル孔 130 ノズル表面側凹部 200 キャビティプレート 212 インクキャビティ 222 インクリザーバ 230 振動板 300 電極プレート 310 電極 400 インクジェットヘッド 512、522 未貫通孔
Claims (18)
- 【請求項1】 (110)面方位の単結晶シリコン基板
の少なくとも両面に耐エッチング被膜を形成する第1の
工程と、オリフィス用凹部を形成するための第1の開口
部をこの耐エッチング被膜に形成する第2の工程と、第
1の開口部の所定部分に所定の未貫通孔を形成する第3
の工程と、この未貫通孔の形成された単結晶シリコン基
板の湿式エッチングを行うことによりオリフィス用凹部
を形成する第4の工程と、をこの順序で有することを特
徴とするノズルプレートの製造方法。 - 【請求項2】 (110)面方位の単結晶シリコン基板
の少なくとも両面に耐エッチング被膜を形成する第1の
工程と、ノズル孔を形成するための第2の開口部をこの
耐エッチング被膜に形成する第2の工程と、第2の開口
部の所定部分に所定の未貫通孔を形成する第3の工程
と、この未貫通孔の形成された単結晶シリコン基板の湿
式エッチングを行うことによりノズル孔を形成する第4
の工程と、をこの順序で有することを特徴とするノズル
プレートの製造方法。 - 【請求項3】 (110)面方位の単結晶シリコン基板
の少なくとも両面に耐エッチング被膜を形成する第1の
工程と、オリフィス用凹部を形成するための第1の開口
部及びノズル孔を形成するための第2の開口部をこの耐
エッチング被膜に形成する第2の工程と、第1及び第2
の開口部の所定部分に所定の未貫通孔を形成する第3の
工程と、この未貫通孔の形成された単結晶シリコン基板
の湿式エッチングを行うことによりオリフィス用凹部及
びノズル孔を形成する第4の工程と、をこの順序で有す
ることを特徴とするノズルプレートの製造方法。 - 【請求項4】 請求項1乃至3のいずれかに記載のノズ
ルプレートの製造方法において、1)第1の開口部及び
/又は第2の開口部を形成するとともに、2)ノズル表
面側凹部を形成するための第3の開口部を耐エッチング
被膜に形成して第2の工程を実施することを特徴とする
ノズルプレートの製造方法。 - 【請求項5】 請求項1乃至4のいずれかに記載のノズ
ルプレートの製造方法において、第2の工程と第3の工
程との間に湿式エッチングを実施することを特徴とする
ノズルプレートの製造方法。 - 【請求項6】 請求項1乃至5のいずれかに記載のノズ
ルプレートの製造方法において、レーザ加工法を用いて
第3の工程を実施することを特徴とするノズルプレート
の製造方法。 - 【請求項7】 請求項6に記載のノズルプレートの製造
方法において、未貫通孔の深さがノズル孔の長さよりも
大きくなるように第3の工程を実施することを特徴とす
るノズルプレートの製造方法。 - 【請求項8】 請求項6に記載のノズルプレートの製造
方法において、未貫通孔の周囲に形成される結晶溶融部
分の厚みと未貫通孔の深さの和がノズル孔の長さよりも
大きくなるように第3の工程を実施することを特徴とす
るノズルプレートの製造方法。 - 【請求項9】 請求項1乃至5のいずれかに記載のノズ
ルプレートの製造方法において、プラズマエッチング加
工法を用いて第3の工程を実施することを特徴とするノ
ズルプレートの製造方法。 - 【請求項10】 請求項9に記載のノズルプレートの製
造方法において、未貫通孔の深さがノズル孔の長さより
も大きくなるように第3の工程を実施することを特徴と
するノズルプレートの製造方法。 - 【請求項11】 請求項1乃至10のいずれかに記載の
ノズルプレートの製造方法において、前記(110)面
方位の単結晶シリコン基板に代えて、(110)面方位
の単結晶シリコン基板のSOI基板を用いたことを特徴
とするノズルプレートの製造方法。 - 【請求項12】 (110)面方位の単結晶シリコン基
板の少なくとも両面に耐エッチング被膜を形成する第1
の工程と、第1のノズル孔を形成するための第4の開口
部及び第2のノズル孔を形成するための窪み部を前記耐
エッチング被膜に形成する第2の工程と、第4の開口部
の所定部分に所定の未貫通孔を形成する第3の工程と、
この未貫通孔の形成された単結晶シリコン基板の湿式エ
ッチングを行うことにより1)第1のノズル孔及び2)
第1のノズル孔と連通するようにノズルプレートの裏面
側に形成されかつ第1のノズル孔より断面積の大きい第
2のノズル孔を形成する第4の工程と、をこの順序で有
することを特徴とするノズルプレートの製造方法。 - 【請求項13】 請求項12に記載のノズルプレートの
製造方法において、第4の開口部及び窪み部を形成する
とともに、ノズル表面側凹部を形成するための第3の開
口部を耐エッチング被膜に形成して第2の工程を実施す
ることを特徴とするノズルプレートの製造方法。 - 【請求項14】 請求項1乃至13のいずれかに記載の
ノズルプレートの製造方法によって製造されたノズルプ
レートを有することを特徴とするインクジェットヘッ
ド。 - 【請求項15】 長手方向に連通した第1のノズル孔及
び第2のノズル孔を有するノズルプレートであって、第
1のノズル孔の断面積が第2のノズル孔のそれより小さ
く、かつ、第2のノズル孔が前記第1のノズル孔よりノ
ズルプレートの裏面側に形成されてなることを特徴とす
るノズルプレート。 - 【請求項16】 請求項15に記載のノズルプレートに
おいて、このノズルプレートは(110)面方位の単結
晶シリコン基板を用いて製造されたノズルプレートであ
って、第1及び第2のノズル孔は、この単結晶シリコン
基板の表面に対して垂直な4つの(111)結晶面を含
む複数の面からなることを特徴とするノズルプレート。 - 【請求項17】 請求項15又は16のいずれかに記載
のノズルプレートを備えたことを特徴とするインクジェ
ットヘッド。 - 【請求項18】 請求項14又は17に記載のインクジ
ェットヘッドを備えたことを特徴とするインクジェット
記録装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4840498A JPH111000A (ja) | 1997-04-15 | 1998-02-27 | ノズルプレートの製造方法、インクジェットヘッド、ノズルプレート及びインクジェット記録装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9777397 | 1997-04-15 | ||
| JP9-97773 | 1997-04-15 | ||
| JP4840498A JPH111000A (ja) | 1997-04-15 | 1998-02-27 | ノズルプレートの製造方法、インクジェットヘッド、ノズルプレート及びインクジェット記録装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH111000A true JPH111000A (ja) | 1999-01-06 |
Family
ID=26388666
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4840498A Withdrawn JPH111000A (ja) | 1997-04-15 | 1998-02-27 | ノズルプレートの製造方法、インクジェットヘッド、ノズルプレート及びインクジェット記録装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH111000A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6563079B1 (en) | 1999-02-25 | 2003-05-13 | Seiko Epson Corporation | Method for machining work by laser beam |
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| US8366950B2 (en) | 2007-09-06 | 2013-02-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Liquid-ejection head and method for manufacturing liquid-ejection head substrate |
-
1998
- 1998-02-27 JP JP4840498A patent/JPH111000A/ja not_active Withdrawn
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