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JPH1110549A - 切削ブレード - Google Patents

切削ブレード

Info

Publication number
JPH1110549A
JPH1110549A JP16844197A JP16844197A JPH1110549A JP H1110549 A JPH1110549 A JP H1110549A JP 16844197 A JP16844197 A JP 16844197A JP 16844197 A JP16844197 A JP 16844197A JP H1110549 A JPH1110549 A JP H1110549A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cutting blade
central portion
wear
cutting
abrasive grains
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP16844197A
Other languages
English (en)
Inventor
Hirotaka Kobayashi
寛隆 小林
Yukio Asami
幸雄 浅見
Kazuto Akagi
和人 赤城
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP16844197A priority Critical patent/JPH1110549A/ja
Publication of JPH1110549A publication Critical patent/JPH1110549A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Polishing Bodies And Polishing Tools (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体ウェハをダイシングするための切削ブ
レードに関し、刃先の摩耗をコントロールしてチッピン
グ及びクラックがダイシング時に発生しないようにす
る。 【解決手段】 切削ブレード9において、切削部9aを
角度を付けて断面形状で略V字状に形成すると共に、厚
み方向における中央部13とそれ以外の部分とで異なる
摩耗率を有するようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体ウェハをダイ
シングするための切削ブレードに関し、刃先の摩耗をコ
ントロールして、チッピング及びクラックがダイシング
時に発生しないようにする技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体の製造において、パターン形成工
程を終えた半導体ウェハは、ダイシング工程によってダ
イス状に切断されてチップ毎に分割される。
【0003】この半導体ウェハを切断する装置はダイサ
ーと称され、高速回転するスピンドルに薄刃の切削ブレ
ード(外周刃)を取り付け、該切削ブレードによってテ
ープに固定された状態の半導体ウェハを切断加工するも
のである。
【0004】ところで、半導体ウェハは最終的に半導体
のチップを形成するまでの工程において、様々な材料が
コーティングされたり、様々な材料と複合されるもので
あるので、ダイシング工程において、半導体ウェハの切
断は、単一材料ではなく複合材料の切断となるので、単
一材料の切断時に比べて様々な問題が発生する。
【0005】例えば、半導体ウェハの表面にパターン形
成工程において形成される酸化膜やアルミニウム配線等
が、半導体ウェハの切断線上に残っていると、切削ブレ
ードの目詰まりや目つぶれ等の切削不良が発生し、これ
に伴って、半導体ウェハ裏面のチッピング、チップのサ
イドクラック等の問題が発生する。
【0006】そこで、上記問題への対策として、図10
に示すように、切削部(刃先)に角度を付けて断面が略
V字状をした切削ブレードa(以下、「V型ブレード」
という。)を用いて、半導体ウェハbの表面にV型にカ
ットラインを入れて上記酸化膜やアルミニウム配線等を
除去した後、通常の形状をした切削ブレードcによって
上記カットラインで完全に切断(フルカット)するよう
にした切断加工法(ベベルカット)が用いられている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記V型ブ
レードaにあっては、図11に示すように、使用する内
に、当初略V型であった刃先が摩耗して断面形状で略U
字状になってしまう。従って、刃先が略V型であるうち
は、高さの調整を行うことでカットラインの幅を一定に
保つことが可能であるが、刃先が略U字状になってしま
った時には、高さを調整してカットラインの幅をある幅
にしても、半導体ウェハbの厚みのばらつきによりカッ
トラインの幅が大きくばらついてしまい、場合によって
は、チップが形成されているアクティブエリアをダイシ
ングしてしまったり、刃先が半導体ウェハの表面に食い
込む量が浅くなってしまうために半導体ウェハの表面の
酸化膜やアルミニウム配線等が十分に除去できないこと
となり、この除去できなかった酸化膜やアルミニウム配
線等によって、その後の通常の切削ブレードによるフル
カット時に半導体ウェハにチッピングが発生することが
あった。
【0008】従って、本発明切削ブレードは、刃先が摩
耗しても、断面形状で略U字状になってしまうことを防
止して、半導体ウェハのカットラインを均一に保って、
その後のフルカット時におけるチッピングの発生を防止
することを課題とするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明切削ブレードは、
上記課題を解決するために、切削部を角度を付けて断面
形状で略V字状に形成すると共に、厚み方向における中
央部とそれ以外の部分とで異なる摩耗率を有するように
したものである。
【0010】従って、中央部とそれ以外の部分との摩耗
率を適宜調整することによって、切削部の略V字状の形
状を保つことが可能となる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明切削ブレードの実施
の形態について、添付図面を用いて詳細に説明する。
【0012】半導体製品の製造プロセスにおけるダイシ
ング工程にでは、ダイシング装置(ダイサー)1は、図
1及び図2に示すように、粘着テープ2を介してフレー
ム3に固定された半導体ウェハ4を、チャッキングテー
ブル5上で固定し、該チャッキングテーブル5を移動さ
せてアライメント調整等を行なった後に、切削手段6に
よってダイシングしてチップごとに分割する装置であ
る。
【0013】切削手段6は、図2に示すように、並列に
配置され高速回転するスピンドル7、7と、該スピンド
ル7、7に適宜な方法によって略リング状をした切削ブ
レード8及び9が固定されて成るものである。
【0014】上記切削ブレード8及び9は、例えば、電
解メッキ又は無電解メッキによってダイヤモンドの砥粒
をニッケル等によって定着して形成されるものであり、
外周側が切削部8a及び9aとされるものである。ここ
で、切削ブレード8は、本発明とは係わりのないもので
あるが、切削ブレード9は、本発明に係わるものである
ので、切削ブレード9についてのみ詳細に説明する。
【0015】尚、切削ブレード8及び切削ブレード9
は、図3に示すように、内部にニッケルの析出用のステ
ージ10が設けられたメッキ液漕11を用い、該メッキ
液漕11を、砥粒となるダイヤモンドの粒子が混入され
たニッケルメッキ液12で満たすと共にこれを攪拌する
ことによって、上記ステージ10上にダイヤモンドの粒
子が混入したニッケルメッキの層ができることを利用し
て製造されるものである。尚、以上は、無電解メッキの
場合であるが、電解メッキの場合には、ステージ10が
陽極となる。
【0016】そして、切削ブレード8は、上記製造方法
によって全体が均一な材質によって形成されたものであ
るが、切削ブレード9は、図4に示すように、切削部9
aの外周面には角度が付けられて略V字状に形成される
と共に、その断面形状において、中央部13及び側面部
14、14から成る三層構造を為し、中央部13は側面
部14、14に比べて、析出されたニッケルメッキの硬
度が高いという構造を有する。
【0017】また、図5及び図6はそれぞれ、切削ブレ
ードの第1及び第2の変形例9A及び9Bを示すもので
ある。即ち、切削ブレード9Aは、上記切削ブレード9
とは異なり明確に三層構造を為しているわけではない
が、析出されたニッケルメッキの硬度が、中央部15か
ら側面部16、16に行くに従って硬度が低くなるとい
う構造を有する。また、切削ブレード9Bは、砥粒であ
るダイヤモンドの密度が中央部17から両側面部18、
18に行くに従って徐々に低くなるという構造を有す
る。
【0018】これら切削ブレード9、9A及び9Bは、
前述したメッキ液層11等を用いた製造方法に改良を加
えた以下に示す方法によって形成することができる。
【0019】即ち、前述したように、内部にニッケルの
析出用のステージ10が設けられたメッキ液漕11を用
い、該メッキ液漕11を、砥粒となるダイヤモンドの粒
子が混入されたメッキ液12で満たすと共にこれを攪拌
することによって、上記ステージ10上にダイヤモンド
の粒子が混入したニッケルメッキの層ができることを利
用するのであるが、切削ブレード9や9Aのように、中
央部13及び側面部14、14や、中央部15及び側面
部16、16のように、部分的にニッケルメッキの硬度
が異なるように形成する場合には以下の方法を用いる。
【0020】即ち、メッキ液12に有機系の添加剤を添
加するとニッケルメッキの硬度が上がるという性質を利
用して、メッキ液12を上記添加剤を添加したものと添
加しないものの2種類を使い分けることによって形成可
能である。
【0021】例えば、切削ブレード9及び9Aは、最初
は、通常のメッキ液12を用いて一方の側面部14又は
16に相当する部分を析出させ、次に、メッキ液12に
添加剤を加えたものによって中央部13又は15に相当
する部分を析出させ、再び、添加剤が添加されていない
通常のメッキ液12を用いて残りの側面部14又は16
に相当する部分を析出させることによって形成する。
【0022】また、切削ブレード9Bのように、側面部
18、18と中央部17とでダイヤモンド等の砥粒が含
まれる密度が変わっているものは、メッキ工程の前半は
メッキの開始時から徐々にメッキ液12中のダイヤモン
ド粒子の量が増加するようにし、工程の中間地点におい
て、メッキ液12中にダイヤモンドの粒子を追加するの
を中止すると、後半は、ニッケルと共にメッキ液12中
のダイヤモンドの粒子が析出し続けることによって必然
的にメッキ液12中のダイヤモンド粒子の量が減少する
ので、ニッケルと共に析出するダイヤモンドの粒子の量
が少なくなり、ダイヤモンド砥粒の密度が高い中央部1
7と、ダイヤモンド砥粒の密度の低い側面部18、18
を形成することができる。尚、上記析出工程中におい
て、中央部17が形成された後に、フィルタを用いてメ
ッキ液12中のダイヤモンドの砥粒を徐々に取り除く方
法を用いることも可能である。
【0023】更に、メッキ液漕11内にメッキ液12を
満たすのではなく、ステージ10に図示しないノズルか
らメッキ液を噴出させて、ステージ10上にニッケルメ
ッキを析出させるようにして切削ブレード9、9A及び
9Bを形成することも可能である。そして、この方法に
おいては、ノズルから噴出させるメッキ液12中の添加
剤の濃度やダイヤモンド粒子の量を調整することで、上
記方法と同様に、適宜、切削ブレード9、9A及び9B
を形成することができる。
【0024】そして、以上のようにして形成される切削
ブレード9、9A及び9Bの刃先は、この後、適宜な方
法によって略V字状に形成される。
【0025】しかして、切削ブレード9、9A及び9B
は、半導体ウェハ4のダイシングに用いられると、切削
ブレード9においては、ニッケルメッキが硬い部分であ
る中央部13の磨耗は遅く、反対に、比較的ニッケルメ
ッキが柔らかい部分である側面部14、14の磨耗は早
いので、磨耗によって切削部9aの形状は、図7の左側
に示す状態から右側に示す状態へと変化する。
【0026】また、切削ブレード9Aにおいては、ニッ
ケルメッキが硬い部分である中央部15の磨耗は遅く、
反対に、ニッケルメッキが柔らかい部分である側面部1
6、16の磨耗は早ので、磨耗によって切削部9aの形
状は、図8の左側に示す状態から右側に示す状態へと変
化する。
【0027】更に、切削ブレード9Bにおいては、ニッ
ケルメッキ中のダイヤモンドの粒子の密度が高い部分で
ある中央部17は磨耗が遅く、反対に、ニッケルメッキ
中のダイヤモンドの粒子の密度が低い部分である側面部
18、18は磨耗が早くなるので、磨耗によってその形
状は、図9の左側に示す状態から右側に示す状態へと変
化する。
【0028】このように、切削ブレード9、9A及び9
Bは、それぞれの中央部13、15及び17の硬度が高
く摩耗しにくいので、刃先9aは長い期間尖った略V字
状をした状態を保つことができ、略U字状に摩耗するこ
とがない。
【0029】尚、中央部と側面部との摩耗率を変えるた
め、性質の異なる材料を少なくとも3枚以上重ね、接着
剤による接合や加熱加工による接合等により、本発明切
削ブレードを製作することも可能である。
【0030】また、切削ブレードの形状は、上記実施の
形態及び各変形例において示したもののように、金属の
円盤に挟むことによってスピンドルに固定するものの
他、アルミニウム製等の金属ハブに一体に接合され、該
金属ハブによってスピンドルに固定するようにされたも
のがある。
【0031】
【発明の効果】以上に記載したところから明らかなよう
に本発明切削ブレードは、切削部を角度を付けて断面形
状で略V字状に形成すると共に、厚み方向における中央
部と側面部とをそれぞれ構成する材質が異なる摩耗率を
有するようにしたので、中央部とそれ以外の部分との摩
耗率を適宜調整することによって、切削部の略V字状の
形状を保つことが可能となって、半導体ウェハの切断時
におけるチッピングの発生を防止することができる。
【0032】また、請求項2に記載した発明にあって
は、硬度を高くして摩耗しにくくした中央部と、該中央
部を挟むように位置すると共に中央部よりも硬度が低く
比較的摩耗しやすくした側面部との三層構造に形成した
ので、摩耗しにくい中央部によって切削部は略V字状の
形状を保つことができる。
【0033】請求項3に記載した発明にあっては、側面
部から中央部にかけて徐々に硬度が高くなるようにして
摩耗しにくいように形成したので、切削部の形状を略V
字状に保つことができる。
【0034】更に、請求項4及び請求項5に記載の発明
にあっては、側面部から中央部にかけて徐々にダイヤモ
ンド等の砥粒の密度が高くなるようして摩耗しにくいよ
うに形成したので、摩耗しにくい中央部によって切削部
は略V字状の形状を保つことができる。
【0035】請求6に記載した発明にあっては、砥粒密
度を高くして摩耗しにくくした中央部と、該中央部を挟
むように位置すると共に中央部よりも砥粒密度が低く比
較的摩耗しやすくした側面部との三層構造に形成したの
で、摩耗しにくい中央部によって切削部は略V字状の形
状を保つことができる。
【0036】更にまた、請求項7に記載の発明にあって
は、砥粒の粒径を大きくして摩耗しにくくした中央部
と、該中央部を挟むように位置すると共に中央部よりも
砥粒の粒径が小さく比較的摩耗しやすくした側面部との
三層構造に形成したので、摩耗しにくい中央部によって
切削部は略V字状の形状を保つことができる。
【0037】請求項8乃至請求項10に記載の発明にあ
っては、複数の異なる性質を有する材料を張り合わせる
ことによって形成したので、切削部が略V字状の形状を
保つように、切削ブレードの各部分の性質を自由に設定
することができる。
【0038】尚、前記実施の形態において示した各部の
具体的な形状及び構造は、何れも本発明を実施するに当
たっての具体化のほんの一例を示したものに過ぎず、こ
れらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈される
ことがあてはならないものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】図2乃至図9と共に本発明切削ブレードの実施
の形態を示すものであり、本図はダイシング装置を概略
的に示す斜視図である。
【図2】切削手段を示す斜視図である。
【図3】切削ブレードの製造方法を概略的に示す図であ
る。
【図4】切削ブレードの断面図である。
【図5】切削ブレードの第1の変形例を示す断面図であ
る。
【図6】切削ブレードの第2の変形例を示す断面図であ
る。
【図7】切削ブレードの摩耗による切削部の変化を示す
断面図である。
【図8】第1の変形例における切削ブレードの摩耗によ
る切削部の変化を示す断面図である。
【図9】第2の変形例における切削ブレードの摩耗によ
る切削部の変化を示す断面図である。
【図10】ベベルカット法による半導体ウェハのダイシ
ングを概略的に示す図である。
【図11】従来の切削ブレードの摩耗による変化を示す
図である。
【符号の説明】
9…切削ブレード、9a…切削部、13…中央部、14
…側面部、9A…切削ブレード、15…中央部、16…
側面部、9B…切削ブレード、17…中央部、18…側
面部

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電解メッキ若しくは無電解メッキによっ
    てダイヤモンド等の砥粒をニッケル等で定着して形成さ
    れる切削ブレードにおいて、 切削部を角度を付けて断面形状で略V字状に形成すると
    共に、 厚み方向における中央部とそれ以外の部分とで異なる摩
    耗率を有するようにしたことを特徴とする切削ブレー
    ド。
  2. 【請求項2】 硬度を高くして摩耗しにくくした中央部
    と、該中央部を挟むように位置すると共に中央部よりも
    硬度が低く比較的摩耗しやすくした側面部との三層構造
    に形成したことを特徴とする請求項1に記載の切削ブレ
    ード。
  3. 【請求項3】 厚み方向における側面部から中央部にか
    けて徐々に硬度が高くなるようにして摩耗しにくいよう
    に形成したことを特徴とする請求項1に記載の切削ブレ
    ード。
  4. 【請求項4】 厚み方向における側面部から中央部にか
    けて徐々にダイヤモンド等の砥粒の密度が高くなるよう
    して摩耗しにくいように形成したことを特徴とする請求
    項1に記載の切削ブレード。
  5. 【請求項5】 厚み方向における側面部から中央部にか
    けて徐々にダイヤモンド等の砥粒の密度が高くなるよう
    して摩耗しにくいように形成したことを特徴とする請求
    項3に記載の切削ブレード。
  6. 【請求項6】 砥粒密度を高くして摩耗しにくくした中
    央部と、該中央部を挟むように位置すると共に中央部よ
    りも砥粒密度が低く比較的摩耗しやすくした側面部との
    三層構造に形成したことを特徴とする請求項1に記載の
    切削ブレード。
  7. 【請求項7】 砥粒の粒径を大きくして摩耗しにくくし
    た中央部と、該中央部を挟むように位置すると共に中央
    部よりも砥粒の粒径が小さく比較的摩耗しやすくした側
    面部との三層構造に形成したことを特徴とする請求項1
    に記載の切削ブレード。
  8. 【請求項8】 複数の異なる性質を有する材料を張り合
    わせることによって形成したことを特徴とする請求項2
    に記載の切削ブレード
  9. 【請求項9】 複数の異なる性質を有する材料を張り合
    わせることによって形成したことを特徴とする請求項6
    に記載の切削ブレード
  10. 【請求項10】 複数の異なる性質を有する材料を張り
    合わせることによって形成したことを特徴とする請求項
    7に記載の切削ブレード
JP16844197A 1997-06-25 1997-06-25 切削ブレード Withdrawn JPH1110549A (ja)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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Legal Events

Date Code Title Description
A761 Written withdrawal of application

Effective date: 20050225

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761