JPH0383017A - 液晶表示装置の製造方法 - Google Patents
液晶表示装置の製造方法Info
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- JPH0383017A JPH0383017A JP1221040A JP22104089A JPH0383017A JP H0383017 A JPH0383017 A JP H0383017A JP 1221040 A JP1221040 A JP 1221040A JP 22104089 A JP22104089 A JP 22104089A JP H0383017 A JPH0383017 A JP H0383017A
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1337—Surface-induced orientation of the liquid crystal molecules, e.g. by alignment layers
- G02F1/13378—Surface-induced orientation of the liquid crystal molecules, e.g. by alignment layers by treatment of the surface, e.g. embossing, rubbing or light irradiation
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は液晶表示の製造方法に関し、特に液晶分子の一
方向性水平配向膜の形成方法に関するものである。
方向性水平配向膜の形成方法に関するものである。
〈従来の技術〉
液晶表示装置は、対向したガラス基板の透明電極間に液
晶を挾持し、この電極間に電気信号を加えることにより
、外部から入射する光を変調し情報を表示するものであ
り、実用可能な表示コントラストを得るためには液晶分
子の配向を一様に規制する必要がある。特に液晶分子を
上下セル間で90’〜360°程度ツイストさせたねじ
れネマティック型等の電界効果型の液晶表示装置におい
ては、液晶分子の一方向性水平配向がその動作原理上望
會しい。
晶を挾持し、この電極間に電気信号を加えることにより
、外部から入射する光を変調し情報を表示するものであ
り、実用可能な表示コントラストを得るためには液晶分
子の配向を一様に規制する必要がある。特に液晶分子を
上下セル間で90’〜360°程度ツイストさせたねじ
れネマティック型等の電界効果型の液晶表示装置におい
ては、液晶分子の一方向性水平配向がその動作原理上望
會しい。
従来1.液晶セル内に封入される液晶分子の一方向性水
平配向を得るための配向膜を形成する方法としては、酸
化シリコンlたはポリイミド等の配向用膜を形成した後
必要に応じて焼成処理を施し基板上を起毛玄たは植毛し
た布を用いて一方向に研磨することにより配向力を付与
するラビング法あ8いは酸化シリコンを基板上に斜め方
向から真空蒸着し、特定の方向に蒸着膜として成長させ
る斜方蒸着法が一般的である。これらの方法は液晶分子
に対する配向規制力が大きく、長期間安定した配向状態
が得られるため液晶分子の配向処理法として広く用りら
れている。甘た以上の方法以外に酸化シリコン膜を形成
した基板上にイオンのような粒子t’を気的に加速して
照射することにより酸化シリコン膜を配向膜とする方法
も提案されている。
平配向を得るための配向膜を形成する方法としては、酸
化シリコンlたはポリイミド等の配向用膜を形成した後
必要に応じて焼成処理を施し基板上を起毛玄たは植毛し
た布を用いて一方向に研磨することにより配向力を付与
するラビング法あ8いは酸化シリコンを基板上に斜め方
向から真空蒸着し、特定の方向に蒸着膜として成長させ
る斜方蒸着法が一般的である。これらの方法は液晶分子
に対する配向規制力が大きく、長期間安定した配向状態
が得られるため液晶分子の配向処理法として広く用りら
れている。甘た以上の方法以外に酸化シリコン膜を形成
した基板上にイオンのような粒子t’を気的に加速して
照射することにより酸化シリコン膜を配向膜とする方法
も提案されている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、上述したラビング法や斜方蒸着法では下
記のような問題点がある。
記のような問題点がある。
筐ず、ラビング法では大面積基板の場合基板上の凹凸に
よるラビング圧力の不均一が発生し易く。
よるラビング圧力の不均一が発生し易く。
また基板の厚みの差によってもラビング圧力の不均一が
発生する。これらの圧力ムラは液晶分子の配向ムラとし
て表示に悪影響を与えこのため高精細な表示ができなく
なる。更にラビング布の繊維あるいは布の中に含1れる
不純物が配向膜上に付着し特性が劣化するため配向処理
後の洗浄が不可欠であり大量の洗浄用溶媒が必要である
。普た’l”FT (薄膜トランジスタ)、MIM(金
属−絶縁層−金属)素子などの非線形素子アレイを有す
る液晶表示装置ではラビング時の摩擦により静電気が発
生し半導体スイッチング素子が破壊されることがある。
発生する。これらの圧力ムラは液晶分子の配向ムラとし
て表示に悪影響を与えこのため高精細な表示ができなく
なる。更にラビング布の繊維あるいは布の中に含1れる
不純物が配向膜上に付着し特性が劣化するため配向処理
後の洗浄が不可欠であり大量の洗浄用溶媒が必要である
。普た’l”FT (薄膜トランジスタ)、MIM(金
属−絶縁層−金属)素子などの非線形素子アレイを有す
る液晶表示装置ではラビング時の摩擦により静電気が発
生し半導体スイッチング素子が破壊されることがある。
次に、斜方蒸着法では基板に付着する酸化シリコンの結
晶の成長方向が扇状に拡がり、このため液晶分子の配向
方位が一方向に揃わすlたフレークが発生し配向ムラが
発生するという問題点がある。
晶の成長方向が扇状に拡がり、このため液晶分子の配向
方位が一方向に揃わすlたフレークが発生し配向ムラが
発生するという問題点がある。
更に、従来の酸化シリコン膜を形成した基板上にイオン
のような粒子を電気的に加速して照射する配向膜形成方
法では第1表に示したように配向膜の配向が不完全であ
り液晶表示装置として十分な特性を得ることは困難であ
る。尚、第1表で配向膜はスパッタ法で100OAの厚
さに形成した場合の特性である。
のような粒子を電気的に加速して照射する配向膜形成方
法では第1表に示したように配向膜の配向が不完全であ
り液晶表示装置として十分な特性を得ることは困難であ
る。尚、第1表で配向膜はスパッタ法で100OAの厚
さに形成した場合の特性である。
第
表
○ニ一部不均−な領域あり
△ニ一部の領域のみ配向
×二配向せず
く問題点を解決するための手段〉
本発明は基板上にポリイミド膜を形成した後。
該ポリイミド膜に加速された中性原子を含むイオン金照
射してエツチングし、ポリイミド膜を配向膜とする際に
、ポリイミド膜に向って照射されるイオンの照射角度を
基板の方線方向に対して40゜以上80″以下に設定し
、配向ムラを生ずることなく液晶分子を確実に一方向へ
水平配向させる液晶表示装置の製造方法を提供するもの
である。
射してエツチングし、ポリイミド膜を配向膜とする際に
、ポリイミド膜に向って照射されるイオンの照射角度を
基板の方線方向に対して40゜以上80″以下に設定し
、配向ムラを生ずることなく液晶分子を確実に一方向へ
水平配向させる液晶表示装置の製造方法を提供するもの
である。
く作 用〉
本発明の配向膜材料及びイオン照射角度を有する配向膜
形成方法を用いることにより、基板の厚さ、表面の凹凸
の影響を受けることなく液晶分子を安定して配向させる
ことができ大伺積、高精細な液晶表示装置を得ることが
可能となる。また非接触型の配向処理法であるために配
向膜表面の汚染がなく、従って配向処理後の洗浄も不要
とすることができる。
形成方法を用いることにより、基板の厚さ、表面の凹凸
の影響を受けることなく液晶分子を安定して配向させる
ことができ大伺積、高精細な液晶表示装置を得ることが
可能となる。また非接触型の配向処理法であるために配
向膜表面の汚染がなく、従って配向処理後の洗浄も不要
とすることができる。
〈実施例1〉
以下に本発明の一実施例を示す。
まずI T O(Indium Tin 0xide
)から成る透明電極が形成されたガラス基板上に液晶分
子を配向させるための膜としてポリイミド膜が形成され
る。酸化シリコン膜は真空蒸着又はスパッタとし)った
方法により形成することができるがポリイミド膜はデイ
プピング、スピンコード、オフセット印刷あるいは蒸着
重分といった方法で形成することができる。この場′合
のポリイミド膜の厚さとしては80 nm〜200 n
m程度が適当である。ポリイミド膜が形成された基板上
に第1図に示す様な構造を持つイオンビーム照射装置を
用いて斜方から基板に加速粒子を照射する。ここでイオ
ンビーム照射装置は交流電源1に接続されたプラズマ発
生装置2より加速電極3.引き出し電極4.アース電極
5を介してペルジャー6内の基板固定装置7に固作され
た基板」ヘイオンを照射する装置である。またペルジャ
ー6内には基板8の周囲を被覆するマスク9.中和用フ
ィラメント10が配置され、さらにガス流量制御装置1
1を介して導入用ガスボンベ12及びコック18を介し
て真空ポンプ14が連結されている。基板8はガラス。
)から成る透明電極が形成されたガラス基板上に液晶分
子を配向させるための膜としてポリイミド膜が形成され
る。酸化シリコン膜は真空蒸着又はスパッタとし)った
方法により形成することができるがポリイミド膜はデイ
プピング、スピンコード、オフセット印刷あるいは蒸着
重分といった方法で形成することができる。この場′合
のポリイミド膜の厚さとしては80 nm〜200 n
m程度が適当である。ポリイミド膜が形成された基板上
に第1図に示す様な構造を持つイオンビーム照射装置を
用いて斜方から基板に加速粒子を照射する。ここでイオ
ンビーム照射装置は交流電源1に接続されたプラズマ発
生装置2より加速電極3.引き出し電極4.アース電極
5を介してペルジャー6内の基板固定装置7に固作され
た基板」ヘイオンを照射する装置である。またペルジャ
ー6内には基板8の周囲を被覆するマスク9.中和用フ
ィラメント10が配置され、さらにガス流量制御装置1
1を介して導入用ガスボンベ12及びコック18を介し
て真空ポンプ14が連結されている。基板8はガラス。
プラスチックあるいはフィルム等のセル材料から成り基
板固定装置7に取り付けられることにより加速粒子の照
射方向に対し適宜の角度θを持って固定される。ここで
θは40″〜80°望1しくは50’〜70°の範囲に
設定する。真空ポンプ14を用いてペルジャー6内を1
〜2 X 10−’ torrの真空度に到達させた後
、アルゴン、クリプトン。
板固定装置7に取り付けられることにより加速粒子の照
射方向に対し適宜の角度θを持って固定される。ここで
θは40″〜80°望1しくは50’〜70°の範囲に
設定する。真空ポンプ14を用いてペルジャー6内を1
〜2 X 10−’ torrの真空度に到達させた後
、アルゴン、クリプトン。
キセノンあるいは酸素などのガスをガス流量制御装置を
通してペルジャー6内に導入し、1〜工OX 10”’
torrの圧力としてプラズマ発生装置2を作動させ
、導入されたガスをプラズマ状態にし250〜2000
V程度の電圧を加速電極8に印加し、発生したイオンに
運動エネルギーを与える。
通してペルジャー6内に導入し、1〜工OX 10”’
torrの圧力としてプラズマ発生装置2を作動させ
、導入されたガスをプラズマ状態にし250〜2000
V程度の電圧を加速電極8に印加し、発生したイオンに
運動エネルギーを与える。
ポリイミドのような絶縁膜ではイオンの照射による帯電
が発生するため中和用フィラメント10から熱電子を放
出し、イオンを中和する。これにより、TPTやMIM
等の非線形素子アレイを利用した場合でも静電気が発生
せず非線形素子が破壊されることはない。このようにし
て形成された基板8を用い第2図に示すようなセル厚5
μmのTN(ツィステブドネマティフク)液晶を作製し
た。本実施例ではTN液晶セルとしてガラス基板15.
16を用い、ガラス基板15.16内には透明電極17
,18.配向膜19,20.封止樹脂21,22、スペ
ーサ28,24.TN液晶25が内設されている。
が発生するため中和用フィラメント10から熱電子を放
出し、イオンを中和する。これにより、TPTやMIM
等の非線形素子アレイを利用した場合でも静電気が発生
せず非線形素子が破壊されることはない。このようにし
て形成された基板8を用い第2図に示すようなセル厚5
μmのTN(ツィステブドネマティフク)液晶を作製し
た。本実施例ではTN液晶セルとしてガラス基板15.
16を用い、ガラス基板15.16内には透明電極17
,18.配向膜19,20.封止樹脂21,22、スペ
ーサ28,24.TN液晶25が内設されている。
第2表に本実施例によって得られた液晶セルの緒特性を
示した。
示した。
第
表
〔◎二完全な均一配向〕
ここでは導入するガスとして第1表のデータと同様のア
ルゴンを用い、照射条件の/(ラメータとして照射角度
及び照射時間を用い、評価項目としては配向均一性、プ
レティルト角、電圧保持率。
ルゴンを用い、照射条件の/(ラメータとして照射角度
及び照射時間を用い、評価項目としては配向均一性、プ
レティルト角、電圧保持率。
直流電圧印加時のメモリー電圧(Voffset)につ
いて示した。配向均一性については均一な水平配向が得
られた面積で規定している。プレティルト角は少なくと
も0.5°以上必要であり、これが小さすぎた場合電圧
印加時に液晶分子の立ち上がりが一方向で起こらず、デ
ィスクリネーションが発生する。電圧保持率は時分割駆
動時の表示コントラストと関係し、大きな値であるほど
大きなコントラストが得られるが、95多程度の値があ
れば十分に実用的なコントラストとなる。オた電流電圧
印加時のメモリー電圧は主に非線形素子プレイを有する
アクティブマトリクス型液晶表示装置での表示品位に対
する指標であり液晶分子に対し非対称な波形の電圧が印
加された場合のちらつき現象の発生し易さを示してかり
、より小さな値になるほど表示品位は高くなる。ここで
は±8Vで80Hzの矩形波に2vの直流電圧を30分
間印加した後の、ちらつきを消去するための印加電圧と
規定した。この値は通常のラビング法を用いたものでは
ポリイミド配向膜のもので0.7〜0.8v%酸化シリ
コンのもので2v程度であり、酸化シリコンを斜方蒸着
したものでも2v程度である。
いて示した。配向均一性については均一な水平配向が得
られた面積で規定している。プレティルト角は少なくと
も0.5°以上必要であり、これが小さすぎた場合電圧
印加時に液晶分子の立ち上がりが一方向で起こらず、デ
ィスクリネーションが発生する。電圧保持率は時分割駆
動時の表示コントラストと関係し、大きな値であるほど
大きなコントラストが得られるが、95多程度の値があ
れば十分に実用的なコントラストとなる。オた電流電圧
印加時のメモリー電圧は主に非線形素子プレイを有する
アクティブマトリクス型液晶表示装置での表示品位に対
する指標であり液晶分子に対し非対称な波形の電圧が印
加された場合のちらつき現象の発生し易さを示してかり
、より小さな値になるほど表示品位は高くなる。ここで
は±8Vで80Hzの矩形波に2vの直流電圧を30分
間印加した後の、ちらつきを消去するための印加電圧と
規定した。この値は通常のラビング法を用いたものでは
ポリイミド配向膜のもので0.7〜0.8v%酸化シリ
コンのもので2v程度であり、酸化シリコンを斜方蒸着
したものでも2v程度である。
第2表に示したように本実施例の液晶分子配向法を用い
ることにより、表示方式として単純マトリクス型、アク
ティブマトリクス型のいずれの場合でも極めて表示品位
の高い液晶表示装置を得ることができる。
ることにより、表示方式として単純マトリクス型、アク
ティブマトリクス型のいずれの場合でも極めて表示品位
の高い液晶表示装置を得ることができる。
また上記構成からなる液晶分子配向法をTPT金高する
アクティブマトリクス型の液晶表示装置に適用したとこ
ろ、照射の前後でのTPT特性の変化やバスラ・fンの
断線や短絡゛は認められなかった。
アクティブマトリクス型の液晶表示装置に適用したとこ
ろ、照射の前後でのTPT特性の変化やバスラ・fンの
断線や短絡゛は認められなかった。
〈実施例2〉
本実施例は、真空中にて電気絶縁性の耐熱性合成樹脂原
料モノマーを蒸発させて、ガラス基板の電極側表面で重
合させ、その後、ポリイミドの場合はイミド比率を上げ
るため放熱線もしくは光照射等により加熱し、続いて、
得られた合成樹脂被膜の表面の一部あるいは全面に電界
により加速粒子を照射することにより一方向性水平配向
処理を行なうものである。
料モノマーを蒸発させて、ガラス基板の電極側表面で重
合させ、その後、ポリイミドの場合はイミド比率を上げ
るため放熱線もしくは光照射等により加熱し、続いて、
得られた合成樹脂被膜の表面の一部あるいは全面に電界
により加速粒子を照射することにより一方向性水平配向
処理を行なうものである。
第3図に本実施例に用いるインビーム照射装置の模式図
を示す。処理室81の中の基板固定台32に半導体スイ
ッチング素子の付いた電極基板33を取り付ける。配向
処理を施す崩を限定させるため2マスク34で蒸着する
合成樹脂を遮蔽する。
を示す。処理室81の中の基板固定台32に半導体スイ
ッチング素子の付いた電極基板33を取り付ける。配向
処理を施す崩を限定させるため2マスク34で蒸着する
合成樹脂を遮蔽する。
次に原料モノマー容器35に原料モノマーaとしてピロ
メリット酸二無水物を、原料モノマー容器36に原料モ
ノマーbとしてジアミノジフェニルエーテルを入れ、シ
ャッター87を閉じた状態にする。次いで、排気系38
を開け、処理室31内の雰囲気ガスの全圧をI X 1
0−’ torrに設定しヒーター89によりモノマー
aのピロメリット酸二無水物を160℃に、またモノマ
ーbのジアミノジフェニルエーテルを150℃に加熱す
る。これらの原料上ツマ−a、bを蒸発させ、蒸発量が
流量調整弁40.41によってモル比で1=1に調整さ
れた時点でシャブタ−37を開け、電極基板33の電極
側表面にIA/seeの蒸着速度で約l1分間蒸着し1
合成樹脂被膜の膜厚fj!:650Aにする。所定の膜
厚が得られると、流量調整弁40.41. シャフタ−
87を閉じる。
メリット酸二無水物を、原料モノマー容器36に原料モ
ノマーbとしてジアミノジフェニルエーテルを入れ、シ
ャッター87を閉じた状態にする。次いで、排気系38
を開け、処理室31内の雰囲気ガスの全圧をI X 1
0−’ torrに設定しヒーター89によりモノマー
aのピロメリット酸二無水物を160℃に、またモノマ
ーbのジアミノジフェニルエーテルを150℃に加熱す
る。これらの原料上ツマ−a、bを蒸発させ、蒸発量が
流量調整弁40.41によってモル比で1=1に調整さ
れた時点でシャブタ−37を開け、電極基板33の電極
側表面にIA/seeの蒸着速度で約l1分間蒸着し1
合成樹脂被膜の膜厚fj!:650Aにする。所定の膜
厚が得られると、流量調整弁40.41. シャフタ−
87を閉じる。
上記の方法で電極基板33の電極側表面に均一な膜厚の
ポリアミック酸被摸を形成することができた。
ポリアミック酸被摸を形成することができた。
次にポリアミフク酸を加熱し、ポリイミドの重合反応を
起こすのとイミド化率を上げるために加熱ヒーター42
により電極基板33を200℃。
起こすのとイミド化率を上げるために加熱ヒーター42
により電極基板33を200℃。
30分間加熱し、電極側表面にポリイミド被膜を形成す
る。加熱ヒーター42としては、放熱線もしくハハロゲ
ンランプによる光照射が適する。
る。加熱ヒーター42としては、放熱線もしくハハロゲ
ンランプによる光照射が適する。
引き続き、排気系38により処理室81内の雰囲気ガス
の全圧f 2 X 10−’ Torrに調整し、さら
にガス給気系43によりアルゴンガスを導入して処理室
内31の全圧f 5 X 10−’ Torrに設定す
る。筐た、ガス給気系43はアルゴン、窒素。
の全圧f 2 X 10−’ Torrに調整し、さら
にガス給気系43によりアルゴンガスを導入して処理室
内31の全圧f 5 X 10−’ Torrに設定す
る。筐た、ガス給気系43はアルゴン、窒素。
酸素、水素、ヘリウム又は空気等の所望のガスを導入で
きるようにしている。
きるようにしている。
次に加速電極44に1ooov、引き出し電極45に5
00Vの電圧を印加する。そしてアルゴンイオンを加速
させる側にアース電極46を設置する。同時に高周波電
源47によってプラズマ48を発生させ、ここからイオ
ンを引き出し加速電極44によ−て運動エネルギーを与
え、被膜表面上エフチングする。なか、イオンビームの
入射角θは基板固定台2の角度を変えることにより調整
できる。また、ポリイミドのような絶縁膜上ではチャー
ジアップが起こりイオンビーム照射ができなくなるため
タングステンフィラメント49により熱電子を放出し中
和する。
00Vの電圧を印加する。そしてアルゴンイオンを加速
させる側にアース電極46を設置する。同時に高周波電
源47によってプラズマ48を発生させ、ここからイオ
ンを引き出し加速電極44によ−て運動エネルギーを与
え、被膜表面上エフチングする。なか、イオンビームの
入射角θは基板固定台2の角度を変えることにより調整
できる。また、ポリイミドのような絶縁膜上ではチャー
ジアップが起こりイオンビーム照射ができなくなるため
タングステンフィラメント49により熱電子を放出し中
和する。
本実施例では不活性原子であり、化学的に安定なアルゴ
ンガスを使用し、イオンビームの入射角及び照射時間を
パラメータとし配向均一性、液晶分子のプレティルト角
(6)、及び液晶の電圧保持率(優)を測定した。その
結果を第3表に示す。
ンガスを使用し、イオンビームの入射角及び照射時間を
パラメータとし配向均一性、液晶分子のプレティルト角
(6)、及び液晶の電圧保持率(優)を測定した。その
結果を第3表に示す。
なわ、イオンビームの入射角は40’〜80’特に50
″〜80’にて良好な配向を示すことが判明した。
″〜80’にて良好な配向を示すことが判明した。
第
8
表
本実施例に従えば、従来の方法以上に均一性の高い配向
が得られた。捷た。磁界電位法によって測定した液晶分
子のプレティルト角は0.4〜1.0’の範囲で得られ
てかりイオンビームの入射角度が小さく、照射時間の短
いものほど大きなプレティルト角が得られ、従来制御が
困難であったプレティルト角が制御可能となっている。
が得られた。捷た。磁界電位法によって測定した液晶分
子のプレティルト角は0.4〜1.0’の範囲で得られ
てかりイオンビームの入射角度が小さく、照射時間の短
いものほど大きなプレティルト角が得られ、従来制御が
困難であったプレティルト角が制御可能となっている。
さらに液晶の電圧保持率に関しては、イオンビームの照
射条件にかかわらず比較的高い値を示している。
射条件にかかわらず比較的高い値を示している。
次に信頼性を検討するため、80℃の恒温槽内で電圧を
印加した状態でエージングを行い、液晶の電圧保持率の
#性劣化を測定した。その結果を第4図に示す。
印加した状態でエージングを行い、液晶の電圧保持率の
#性劣化を測定した。その結果を第4図に示す。
第4図によれば、従来のラビング法による電圧保持率の
劣化と比較し1本実施例による配向処理を施したものは
、電圧保持率の特性劣化が極めて少ないことが分った。
劣化と比較し1本実施例による配向処理を施したものは
、電圧保持率の特性劣化が極めて少ないことが分った。
上記のような方法により、不純物の付着もなく特性劣化
も少ない−様な一方向性水平配向を容易に得ることがで
きた。會た1、上記製造方法は半導体スイブチング素子
の付いていない単純マトリクス型の配向処理にも有効で
ある。
も少ない−様な一方向性水平配向を容易に得ることがで
きた。會た1、上記製造方法は半導体スイブチング素子
の付いていない単純マトリクス型の配向処理にも有効で
ある。
上記実施例に従えば、一連の配向処理を全て真空中にて
行なうことができ、クリーンでしかも処理後の洗浄も不
要なため工程の短縮化によるコストダウンを行うことが
できる。ここで1合成樹脂原料モノマーの蒸着を真空中
で行うようにしたのは、蒸発したモノマー自身あるいは
モノマー自身が処理室の壁部等に衝突するのを防ぎ、モ
ノマー蒸気を直接基板上に付着させて、そこで重合させ
るためである。この方法であれば溶媒が不要であり、昇
華プロセスのため不純物混入を充分防ぐことができる。
行なうことができ、クリーンでしかも処理後の洗浄も不
要なため工程の短縮化によるコストダウンを行うことが
できる。ここで1合成樹脂原料モノマーの蒸着を真空中
で行うようにしたのは、蒸発したモノマー自身あるいは
モノマー自身が処理室の壁部等に衝突するのを防ぎ、モ
ノマー蒸気を直接基板上に付着させて、そこで重合させ
るためである。この方法であれば溶媒が不要であり、昇
華プロセスのため不純物混入を充分防ぐことができる。
また、蒸着時間と合成樹脂被膜の膜厚が比例関係にあり
、膜厚制御が容易である。
、膜厚制御が容易である。
電気絶縁性の耐熱性合成樹脂としては1例えばポリイミ
ド、ポリアミド、ポリウレタン、ポリ尿素等が用いられ
るがその中でも高電気絶縁性、耐熱性及び電気化学的安
定性の面から上記実施例で示したポリイミドが最も優れ
ている。
ド、ポリアミド、ポリウレタン、ポリ尿素等が用いられ
るがその中でも高電気絶縁性、耐熱性及び電気化学的安
定性の面から上記実施例で示したポリイミドが最も優れ
ている。
重合によって得られた合成樹脂被膜がポリイミドのとき
イミド化率を上げるため加熱が必要な場合には、処理室
内において真空のit放熱線もしくは光照射により行え
ばよい。!た1重合反応を起こすのに原料モノマーを加
熱する必要がある場合には同様の方法で処理することが
できる。
イミド化率を上げるため加熱が必要な場合には、処理室
内において真空のit放熱線もしくは光照射により行え
ばよい。!た1重合反応を起こすのに原料モノマーを加
熱する必要がある場合には同様の方法で処理することが
できる。
配向処理は、得られた合成樹脂被膜の一部あるいは全向
に対し斜方向から電界により加速粒子を射突させ、被膜
表節をエツチングし微細な溝をつくり、液晶分子長軸が
溝に揃うように配向させるものである。ここでいう処理
は例えばイオンビームエマチング等のプラズマエツチン
グの部類に属する方法が最も優れていると考えられる。
に対し斜方向から電界により加速粒子を射突させ、被膜
表節をエツチングし微細な溝をつくり、液晶分子長軸が
溝に揃うように配向させるものである。ここでいう処理
は例えばイオンビームエマチング等のプラズマエツチン
グの部類に属する方法が最も優れていると考えられる。
この方法は真空中及び不活性ガス中で行ってもよい。l
た、加速粒子の入射角が50’〜800の範囲にわいて
比較的良好な配向を得ることができる。この方法によれ
ば従来の方法と比較して、不純物等の付着もなく容易に
−様な水平配向を得ることができ、特に大崩積基板及び
表崩形状の細かく複雑な基板に対し高品位な一方向性水
平配向を得ることができる。また、従来制御が困難であ
った液晶分子のプレティルト角についても加速粒子の入
射角及び処理時間によって制御することができる。
た、加速粒子の入射角が50’〜800の範囲にわいて
比較的良好な配向を得ることができる。この方法によれ
ば従来の方法と比較して、不純物等の付着もなく容易に
−様な水平配向を得ることができ、特に大崩積基板及び
表崩形状の細かく複雑な基板に対し高品位な一方向性水
平配向を得ることができる。また、従来制御が困難であ
った液晶分子のプレティルト角についても加速粒子の入
射角及び処理時間によって制御することができる。
〈実施例8〉
第2図に示すイオンビーム照射装置を用いて本発明の他
の実施例を説明する。
の実施例を説明する。
仕込み用ゲートバルブ75を介して配向処理を施す電極
基板58複数枚を仕込み室70内に収容する。次に電極
基板68を1枚づつ蒸着室71に移し、電極側表面を下
向きに基板固定台に取り付け、マスク74で蒸着面を限
定する。次に原料モノマー容器55に原料モノマーaと
してピロメリット酸二無水物を、容器56に原料モノマ
ーbとしてジアミノジフェニルエーテルを入れ、シャッ
ター57を閉じた状態にする。次いで排気系58により
蒸着室71内の雰囲気ガスの全圧を1×10″’ To
rrに設定し、ヒータ59によりモノマーaを160℃
、モノマーbを150℃に加熱・蒸発させ、蒸発量が流
量調整弁60.61によってモル比に1に調整された時
点でシャッター57を開け、電極基板58の電極側表面
にIA/seeの蒸着速度で約11分蒸着し1合成樹脂
被膜の膜厚16soAにする。所定の膜厚を得ると流量
調整弁60,61、シャフタ−57を閉じる。上記の方
法で電極基板58の電極側表面に均一な膜厚のボリアS
、7り酸被膜を形成することができた。
基板58複数枚を仕込み室70内に収容する。次に電極
基板68を1枚づつ蒸着室71に移し、電極側表面を下
向きに基板固定台に取り付け、マスク74で蒸着面を限
定する。次に原料モノマー容器55に原料モノマーaと
してピロメリット酸二無水物を、容器56に原料モノマ
ーbとしてジアミノジフェニルエーテルを入れ、シャッ
ター57を閉じた状態にする。次いで排気系58により
蒸着室71内の雰囲気ガスの全圧を1×10″’ To
rrに設定し、ヒータ59によりモノマーaを160℃
、モノマーbを150℃に加熱・蒸発させ、蒸発量が流
量調整弁60.61によってモル比に1に調整された時
点でシャッター57を開け、電極基板58の電極側表面
にIA/seeの蒸着速度で約11分蒸着し1合成樹脂
被膜の膜厚16soAにする。所定の膜厚を得ると流量
調整弁60,61、シャフタ−57を閉じる。上記の方
法で電極基板58の電極側表面に均一な膜厚のボリアS
、7り酸被膜を形成することができた。
次にポリアミマク酸を加熱しポリイミドの重合反応を起
こすのと、イミド化率を上げるためにゲトバルブ76を
介し、゛成極!l(板53を順次加熱室72内に収容し
200℃、30分111」加熱し、電極11111表向
にポリイミド被膜金形戎する。な丸・、加、+A室72
内は処理中のクリーン度を保つためε。
こすのと、イミド化率を上げるためにゲトバルブ76を
介し、゛成極!l(板53を順次加熱室72内に収容し
200℃、30分111」加熱し、電極11111表向
にポリイミド被膜金形戎する。な丸・、加、+A室72
内は処理中のクリーン度を保つためε。
ゲートバルブ76を開けたときに蒸着室71内の全圧を
一定にするため、排気系58により蒸着室内と同じI
X 10−’ Torrに調整して卦く。
一定にするため、排気系58により蒸着室内と同じI
X 10−’ Torrに調整して卦く。
伏にゲートバルブ76金介し、配向処連室73内に電極
、N板53を移動させ1.N板同定台52に取(−Jけ
る。ここで配向処理室73内の雰囲気ガスの全圧を排気
系58により2 X 10−5Torrに調整し、さら
にガス給気系63によりアルゴンガスを導入し全圧を5
×10“4Torr(/i:設更する。次に0111妃
〈実施例2〉と同1美にイオンと一六七発士させ波覆表
U+L、フェノチングする。記向処J生が終rするとゲ
ートバルブ76を介し、取出し室74に順択収納して、
所定の枚数になると、取出E、アゲートルブ77を介し
、て取113す。上記の方法により高品位な一方向性水
平配向を得ることができた。
、N板53を移動させ1.N板同定台52に取(−Jけ
る。ここで配向処理室73内の雰囲気ガスの全圧を排気
系58により2 X 10−5Torrに調整し、さら
にガス給気系63によりアルゴンガスを導入し全圧を5
×10“4Torr(/i:設更する。次に0111妃
〈実施例2〉と同1美にイオンと一六七発士させ波覆表
U+L、フェノチングする。記向処J生が終rするとゲ
ートバルブ76を介し、取出し室74に順択収納して、
所定の枚数になると、取出E、アゲートルブ77を介し
、て取113す。上記の方法により高品位な一方向性水
平配向を得ることができた。
〈発明の効果〉
以上のように本発明の液晶表示装置の製造方法分用いる
ことにより、単純マトリクス型、アクティブマドIJク
ス型いずれの場合でも極めて表示品位の高い液晶表示装
置を得ることができる。また本発明では配向処理に必要
な材料は導入するガスだけであり生産コストが低減され
、埃も発生せず工程を汚染することもない。
ことにより、単純マトリクス型、アクティブマドIJク
ス型いずれの場合でも極めて表示品位の高い液晶表示装
置を得ることができる。また本発明では配向処理に必要
な材料は導入するガスだけであり生産コストが低減され
、埃も発生せず工程を汚染することもない。
第1図は本発明の一実施例に用いるイオンビーム照q1
装置の模式構成図である。 第2図は本発明の一実施例により得らnた液晶分子配向
1摸の特I!E評価に用いた液晶セルの構a図である。 第8図は本発明の他の実施例を1況明するイオンビーム
照射装M’ffiの模式構成図である。 第4図は第3図の実道例で得られた液晶セルにL・ける
液晶の、匡圧保持Vの特性図である。 第5図は本発明の更に他の実施例を説明するイオンビー
ム照射装:nの膜式構成欄である。 2.48.68・・・プラズマ発生装置。 L 81.78・・・ペルジャー 8.1(。 8・・・基板。 19.20・・・配向膜、 25・・・液晶。
装置の模式構成図である。 第2図は本発明の一実施例により得らnた液晶分子配向
1摸の特I!E評価に用いた液晶セルの構a図である。 第8図は本発明の他の実施例を1況明するイオンビーム
照射装M’ffiの模式構成図である。 第4図は第3図の実道例で得られた液晶セルにL・ける
液晶の、匡圧保持Vの特性図である。 第5図は本発明の更に他の実施例を説明するイオンビー
ム照射装:nの膜式構成欄である。 2.48.68・・・プラズマ発生装置。 L 81.78・・・ペルジャー 8.1(。 8・・・基板。 19.20・・・配向膜、 25・・・液晶。
Claims (1)
- 1、液晶を挾持する少なくとも一方の基板の一部あるい
は全面にポリイミド系、ポリアミド系、ポリウレタン系
又はポリ尿素系有機膜を形成した後、該有機膜の一部あ
るいは全面に加速された中性原子を含むイオンを照射す
ることにより前記有機膜をエッチングし、液晶分子を一
方向に配列させる配向膜とする液晶表示装置の製造方法
において、前記イオンの照射角度が基板の方線方向に対
して40゜以上80゜以下に設定されていることを特徴
とする液晶表示装置の製造方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1221040A JPH0383017A (ja) | 1989-08-28 | 1989-08-28 | 液晶表示装置の製造方法 |
| US07/568,943 US5030322A (en) | 1989-08-28 | 1990-08-17 | Method of forming orientation film of liquid-crystal display device |
| EP90309289A EP0415658B1 (en) | 1989-08-28 | 1990-08-23 | Method of forming an orientation film of a liquid-crystal display |
| DE69016538T DE69016538T2 (de) | 1989-08-28 | 1990-08-23 | Verfahren zur Herstellung eines Orientierungsfilms für eine Flüssigkristallanzeigevorrichtung. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1221040A JPH0383017A (ja) | 1989-08-28 | 1989-08-28 | 液晶表示装置の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0383017A true JPH0383017A (ja) | 1991-04-09 |
Family
ID=16760547
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1221040A Pending JPH0383017A (ja) | 1989-08-28 | 1989-08-28 | 液晶表示装置の製造方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5030322A (ja) |
| EP (1) | EP0415658B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0383017A (ja) |
| DE (1) | DE69016538T2 (ja) |
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| US10386679B2 (en) | 2015-04-21 | 2019-08-20 | Zeon Corporation | Multilayer film and method for manufacturing same, method for manufacturing optically anisotropic transfer body, optically anisotropic layer, optically anisotropic member, and optical layered body |
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| EP0415658B1 (en) | 1995-02-01 |
| DE69016538D1 (de) | 1995-03-16 |
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