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JPH0356831A - 冷却型赤外線検知装置 - Google Patents

冷却型赤外線検知装置

Info

Publication number
JPH0356831A
JPH0356831A JP1190606A JP19060689A JPH0356831A JP H0356831 A JPH0356831 A JP H0356831A JP 1190606 A JP1190606 A JP 1190606A JP 19060689 A JP19060689 A JP 19060689A JP H0356831 A JPH0356831 A JP H0356831A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
infrared
sensing element
infrared detection
detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1190606A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeki Hamashima
濱嶋 茂樹
Masaru Koseto
勝 小瀬戸
Koji Hirota
廣田 耕治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP1190606A priority Critical patent/JPH0356831A/ja
Priority to US07/556,451 priority patent/US5118947A/en
Publication of JPH0356831A publication Critical patent/JPH0356831A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F30/00Individual radiation-sensitive semiconductor devices in which radiation controls the flow of current through the devices, e.g. photodetectors
    • H10F30/10Individual radiation-sensitive semiconductor devices in which radiation controls the flow of current through the devices, e.g. photodetectors the devices being sensitive to infrared radiation, visible or ultraviolet radiation, and having no potential barriers, e.g. photoresistors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
    • G01J5/28Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using photoemissive or photovoltaic cells
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/70Passive compensation of pyrometer measurements, e.g. using ambient temperature sensing or sensing of temperature within housing
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F77/00Constructional details of devices covered by this subclass
    • H10F77/30Coatings
    • H10F77/306Coatings for devices having potential barriers
    • H10F77/331Coatings for devices having potential barriers for filtering or shielding light, e.g. multicolour filters for photodetectors
    • H10F77/334Coatings for devices having potential barriers for filtering or shielding light, e.g. multicolour filters for photodetectors for shielding light, e.g. light blocking layers or cold shields for infrared detectors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
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    • GPHYSICS
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    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 概要 冷却型赤外線検知装置に関し、 冷却温度変動による赤外線画像の揺らぎを防止するよう
にした冷却型赤外線検知装置を提供することを目的とし
、 赤外線透過窓を有する外筒と素子搭載部を有する内筒と
の間を真空吸引し、該素子搭載部上に所定の大きさの受
光部を有する赤外線検知素子を搭載するとともに該赤外
線検知素子を冷却して使用する冷却型赤外線検知装置に
おいて、前記素子搭載部上に前記赤外線検知素子と同一
材料から形成された受光部を有しない類似構造の温度検
出用素子を設け、該温度検出用素子を温度検出手段に接
続するとともに、該温度検出手役で検出した温度に応じ
て前記赤外線検知素子の出力を補正する補正手段を設け
て構成する。
産業上の利用分野 本発明は冷却型赤外線検知装置に関する。
赤外線センサ(検知装置)は目標物体に接触することな
く物体の存在、形状、温度、組或などを知ることができ
るため、人工衛星による気象観測、防犯、防災、地質・
資源調査、赤外線サーモグラフィによる医療用等の多く
の分野で用いられている。このような赤外線センサには
焦電素子、サーモパイル等を用いた熱型センサと半導体
を利用した光電効果聖(量子型)センサがある。
一般に熱型センサでは感度の波長依存性はないが、感度
が低く応答速度も遅いのでリアルタイムの赤外線センサ
としては不向きである。一方、光電効果型センサは感度
が高く、応答速度も速いが、素子の概略液体窒素温度で
の冷却が必要である。
光電効果型赤外線センサは、光導電型、光起電力型、M
IS型に分類される。このうち光導電型センサは、光照
射時の抵抗変化を利用するもので、例えば、テルル化カ
ドミウム水m (HgCdTe)等の化合物半導体結晶
からなる赤外線検知素子を用いたものが知られている。
このような光導電型の赤外線検知素子は、検知感度を高
めるために、上述したように概路液体窒素温度に冷却し
た状態で用いられている。このため、赤外線検知装置と
しては、通常、断熱特性が良好な真空容器を用い、この
真空容器内の素子搭載部を液体窒素のような冷媒による
か、或いは低温冷却装置により所定温度に冷却して素子
を動作させる構戊が取られている。
従来の技術 第5図は従来例概略構或図である。2は真空容器であり
、例えばコバール等から形成された外筒4とコバールガ
ラス等から形成された内筒6との間を真空吸引して構戊
されている。外筒4の頂部には赤外線透過用のゲルマニ
ウム窓8が設けられている。また、内筒6の頂部には素
子搭載部6aが設けられており、この素子搭載部6aに
例えばHgCdTe等の赤外線検知素子10とシリコン
ダイオード等から構或された温度センサ20が設けられ
ている。
内筒6の素子搭載部6aは液体窒素等の冷媒により、或
いは低温冷却装置により極低温に冷却され、赤外線検知
素子IOの感度を得るようにしている。赤外線検知素子
10はリード線12、端子14、リード線16により信
号検出回路18に接続されている。一方、温度センサ2
0はリード線22、端子24、リード線26により温度
制御回路28に接続されている。温度センサ20により
検出した温度に応じて温度制御回路28が素子搭載16
Hの温度を一定となるように制御し、赤外線の入射量に
応じた赤外線検知素子10の出力を得るようにしている
このように従来の赤外線検知装置の冷却温度制御は、赤
外線検知素子10とは別に設けた温度センサにより素子
搭載部6aの温度が一定となるように制御していた。
また、この温度センサは赤外線検知素子とは別の材料か
ら形戊されている。このような温文センサによって冷却
,@度を制御しているが、この温、文制御により赤外線
検知素子搭載部の温度を所定温度に厳密に制御するのは
困難であり、検知素子搭載部の温度は所定温度から±1
゜程度の範囲内で変動していた。これに応じて、赤外線
検知素子の温度も同様な変動幅で変動していた。
発明が解決しようとする課題 このように温度センサの検出値により赤外線検知素子の
温度を制御しようとすると、冷却温度を所定値に厳密に
保つのは困難であり、冷却温度に変動幅があるため、冷
却温度に応じて赤外線検知素子の特性(抵抗等)が変動
してしまい、この結果赤外線画像に揺与ぎが発生すると
いう問題があった。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、冷却温度変動による赤外線画像
の揺らぎを防止するようにした冷却型赤外線検知装置を
提供することである。
課題を解決するための手段 赤外線透過窓を有する外筒と素子搭載部を有する内筒と
の間を真空吸引し、該素子搭載部上に所定の大きさの受
光部を有する赤外線検知素子を搭載するとともに該赤外
線検知素子を冷却して使用する冷却型赤外線検知装置に
おいて、前記素子搭載部上に赤外線検知素子と同一材料
から形成された受光部を有しない類似構造の温度検出用
素子を設ける。そして、この温度検出用素子を温度検出
手段に接続するとともに、温度検出手段で検出した温度
に応じて赤外線検知素子の出力を補正する補正手段を設
ける。
作   用 温度検出用素子を赤外線検知素子と同一材料から形成し
た受光部を有しない類似構造とし、これを素子搭載部上
に搭載したため、赤外線が入射しないときの赤外線検知
素子の抵抗等の特性と温度検出用素子の特性とは同一と
なる。このため、温度変動による赤外線検知素子の特性
変化は温度検出用素子により検出することができるため
、温度検出手段で検出した温度に応じて補正手段により
赤外線検知素子の出力を補正することにより、温度変動
による赤外線検知素子の特性変化を補正することができ
、温度変化に起因する赤外線画像の揺らぎを防止するこ
とができる。
実  施  例 以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。本発明実施例の説明において、第5図に示した従来構
造と実質上同一構或部分については同一符号を付し、そ
の説明の一部を省略することにする。
第1図は本発明の実施例概略構或図であり、コバールガ
ラス等から形成された内筒6の素子搭紅部6a上には、
HgCd7e等の化合物半導体結晶から形戒された赤外
線検知素子10と、この赤外線検知素子10に近接して
同一材料の化合物半導体結晶から形威されたダミー素子
(温度検出用素子)30が搭載されている。第2図に最
も良く示されているように、赤外線検知素子10は複数
の素子から構戊され、ダミー素子30が隣接して設けら
れている。36は各赤外線検知素子10の受光部であり
、ダミー素子30には受光部は設けられていない。38
は共通アース電極であり、この共通アース電極38には
各赤外線検知素子10のリード線12とダミー素子30
のリード線22が接続されている。また、各赤外線検知
素子10の個々のコンタクト電極にはリード線12が接
続されていると共に、ダミー素子30のコンタクト電極
にはリード線22が接続されている。
次に第3図及び第4図を参照して赤外線検知素子の構造
及びダミー素子の構造について説明する。
先ず、赤外線検知素子10の構造について説明すると、
HgCdTe等の化合物半導体結晶40上に共通アース
電極38及びコンタクト電極42が形成されており、そ
の上にZnS反射防止膜44が設けられている。反射防
止膜44上には開口部を有する遮光膜46が積層されて
おり、この遮光漠46の開口部を赤外線検知素子10の
受光部36として機能させている。
次に第4図のダミー素子30を参照すると、反射防止膜
44上に積層された遮光膜46′に開口部が設けられて
いない点が第3図の赤外線検知素子10の構造と相違す
る。ダミー素子30の他の構造は赤外線検知素子10の
構造と全く同様であり、ダミー素子30のコンタクト電
極42′と共通アース電極38との間の距離Aは赤外線
検知素子IOのコンタクト電極42と共通アース電極3
8との間の距離Aと全く同一となるように構或されてい
る。
化合物半導体結晶40は冷却温度に対応して抵抗が変化
する。また、赤外線検知素子10はその受光部36に赤
外線が入射することによりその抵抗が変化する。赤外線
検知素子10の電極間の距離Aとダミー素子30の電極
間の距iAとを全く同一となるように構戊するとともに
、両者を同一の化合物半導体結晶40から形成している
ので、両者の抵抗はほぼ同一となり、両者の温度変化も
同一となる。したがって、赤外線検知素子10の温度変
動による抵抗の変化はダミー素子30により適格に検知
され、ダミー素子30をリード線22に、端子24及び
リード線26を介して温度検出回¥832に接続するこ
とにより、この抵抗変化から温度の変動を算出すること
ができる。
温度検出回路32で検出した温度に応じて内筒6の素子
搭載部6aが所定温度になるように図示しない冷却装置
を温度制御回路を介して駆動するとともに、この温度変
動(抵抗の変化)は補正回路34に人力され、信号検出
回路18の検出値(抵抗値〉を温度変動に応じて補正す
る。これにより、赤外線検知素子10の温度が所定値か
らある範囲内(例えば±1℃)で変動したとしても、こ
の温度変動による信号の変動分は補正回路34により適
格に補正され、温度変動による赤外線画像の揺らぎを有
効に防止することができる。
発明の効果 本発明の冷却型赤外線検知装置は以上詳述したように構
或したので、冷却温度変動による赤外線画像の揺らぎを
有効に防止することができ、画像の安定化を図ることが
できるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例概略構戊図、 第2図は内筒の素子搭載部平面図、 第3図は赤外線検知素子断面図、 第4図はダミー素子断面図、 第5図は従来例概略構或図である。 2・・・真空容器、  4・・・外筒、6・・・内筒、
    6a・・・素子搭載部、8・・・赤外線透過窓
、10・・・赤外線検知装置、l8・・・信号検出回路
、30・・・ダミー素子、32・・・温度検出回路、3
4・・・補正回路、36・・・受光部、   38・・
・共通アース電極、40・・・化合物半導体結晶。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 赤外線透過窓(8)を有する外筒(4)と素子搭載部(
    6a)を有する内筒(6)との間を真空吸引し、該素子
    搭載部(6a)上に所定の大きさの受光部(36)を有
    する赤外線検知素子(10)を搭載するとともに該赤外
    線検知素子(10)を冷却して使用する冷却型赤外線検
    知装置において、 前記素子搭載部(6a)上に前記赤外線検知素子(10
    )と同一材料から形成された受光部を有しない類似構造
    の温度検出用素子(30)を設け、 該温度検出用素子(30)を温度検出手段(32)に接
    続するとともに、 該温度検出手段(32)で検出した温度に応じて前記赤
    外線検知素子(10)の出力を補正する補正手段(34
    )を設けたことを特徴とする冷却型赤外線検知装置。
JP1190606A 1989-07-25 1989-07-25 冷却型赤外線検知装置 Pending JPH0356831A (ja)

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JP1190606A JPH0356831A (ja) 1989-07-25 1989-07-25 冷却型赤外線検知装置
US07/556,451 US5118947A (en) 1989-07-25 1990-07-24 Infrared rays detecting apparatus with integral temperature control element

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JP1190606A JPH0356831A (ja) 1989-07-25 1989-07-25 冷却型赤外線検知装置

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