JPH0333800B2 - - Google Patents
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- JPH0333800B2 JPH0333800B2 JP58117548A JP11754883A JPH0333800B2 JP H0333800 B2 JPH0333800 B2 JP H0333800B2 JP 58117548 A JP58117548 A JP 58117548A JP 11754883 A JP11754883 A JP 11754883A JP H0333800 B2 JPH0333800 B2 JP H0333800B2
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- metal
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Description
【発明の詳細な説明】
<産業上の利用分野>
本発明は、金属、鋼板等を電気メツキするとき
の電液中の金属イオンの濃度を制御するメツキ制
御システムに関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial Application Field> The present invention relates to a plating control system for controlling the concentration of metal ions in an electrolyte when electroplating metals, steel plates, etc.
<従来の技術>
鋼板の表面等をメツキするメツキプロセスにお
いては、メツキ液の組成コントロールが最も重要
な課題の一つである。メツキ液の組成コントロー
ルの方法としては、従来、PH計と比重計を組合せ
て制御する等種々の方法が考案されてきている。<Prior Art> In the plating process of plating the surface of a steel plate, controlling the composition of the plating solution is one of the most important issues. Conventionally, various methods have been devised to control the composition of the plating liquid, such as control using a combination of a PH meter and a hydrometer.
近年、メツキ液の組成が複雑になるにつれ、オ
ンライン分析計を組込んで電解液の組成を直接測
定し、その結果をフイードバツクする方式がとら
れつつある。 In recent years, as the composition of plating solutions has become more complex, methods are being adopted to incorporate online analyzers to directly measure the composition of electrolyte solutions and to feed back the results.
<発明が解決しようとする課題>
メツキ液のコントロールは、通常、酸及び数種
類の金属を投入することにより管理されるが、以
下に示すような不具合を有している。<Problems to be Solved by the Invention> The plating liquid is usually controlled by adding acid and several types of metals, but this method has the following disadvantages.
(1) 金属投入後、その結果が測定できるまでの無
駄時間が大きい。(1) There is a large amount of wasted time after the metal is added until the result can be measured.
(2) オンライン分析計としては、サンプリング方
式が採られるが、分析値の得られる時間間隔が
長い。また、分析計の故障する確率が高い。(2) Online analyzers use a sampling method, but the time interval between obtaining analysis values is long. Furthermore, there is a high probability that the analyzer will break down.
従つて、制御性のよいメツキ液コントロールを
行うことが不可能であつた。 Therefore, it has been impossible to control the plating liquid with good controllability.
本発明はこのような点に鑑みてなされたもので
あつて、金属イオン投入後のメツキ液組成変化の
時間遅れの影響を受けずに制御性を向上させたメ
ツキ制御システムを実現することを目的とする。 The present invention has been made in view of these points, and an object of the present invention is to realize a plating control system that improves controllability without being affected by the time delay in changing the composition of the plating solution after metal ions are introduced. shall be.
<課題を解決するための手段>
上記の課題を解決した本発明の構成は、次の通
りである。<Means for Solving the Problems> The configuration of the present invention that solves the above problems is as follows.
即ち、本発明は、鋼板にメツキ液シヤワーをか
けて電気メツキを行うとともに使用済液を循環タ
ンクに集め再びメツキ液シヤワーとして用いるよ
うにしたメツキ制御システムにおいて、メツキ電
流の積算値より消費金属量Q=α・K∫i(t)dt
(但し、i(t)はメツキ電流、αはフイードバツ
ク補正係数、Kはメツキ効率を含んだ定数)を算
出してこの消費金属量Qに対応した量の金属イオ
ンをフイードフオワード制御により前記循環タン
クに投入する手段と、前記循環タンクに設けた金
属イオン濃度を検出する分析計の測定値と目標濃
度との差より前記フイードバツク補正係数αを修
正する演算制御装置とを有することを特徴とする
メツキ制御システムである。 That is, the present invention provides a plating control system in which a plating liquid shower is applied to a steel plate for electroplating, and the used liquid is collected in a circulation tank and used again as a plating liquid shower. Q=α・K∫i(t)dt
(However, i(t) is the plating current, α is the feedback correction coefficient, and K is a constant including the plating efficiency), and the amount of metal ions corresponding to the amount of metal consumed Q is fed to the It is characterized by comprising means for charging metal ions into a circulation tank, and an arithmetic and control device that corrects the feedback correction coefficient α based on the difference between a target concentration and a measurement value of an analyzer that detects metal ion concentration provided in the circulation tank. This is a mesh control system.
<作用>
本発明のメツキ制御システムは、メツキ液中の
金属イオンの変化をメツキ電流の変化として検出
して金属イオンの投入制御をメツキ電流の積算値
によりフイードフオワード的に行うとともに、こ
のフイードフオワード制御による誤差を分析計出
力から得られた分析値に基づいて修正する。<Function> The plating control system of the present invention detects changes in metal ions in the plating liquid as changes in the plating current and controls the introduction of metal ions in a feedforward manner based on the integrated value of the plating current. Errors caused by feed forward control are corrected based on the analysis value obtained from the analyzer output.
<実施例>
以下、図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。<Example> Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
第1図は本発明の一実施例を示す構成図であ
る。 FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.
図において、1はその中にメツキ液が充填され
た循環タンク、2はメツキ液をシヤワー室(後
述)に圧送するポンプ、R1〜R3はシヤワー
室、S1〜S3は各シヤワー室に設けられたシヤ
ワー、R01〜R03はその間に鋼板3を挾むロ
ーラである。 In the figure, 1 is a circulation tank filled with plating liquid, 2 is a pump that pumps plating liquid to a shower chamber (described later), R1 to R3 are shower chambers, and S1 to S3 are installed in each shower chamber. Showers R01 to R03 are rollers that sandwich the steel plate 3 between them.
図中、左側から進行してきた鋼板3は、各シヤ
ワー室R1〜R3を通過する間にメツキ(例えば
ニツケルメツキ)がほどこされ、右側から出てい
く。 In the figure, the steel plate 3 advancing from the left side is plated (for example, nickel plated) while passing through each of the shower chambers R1 to R3, and exits from the right side.
4はメツキ液中の金属イオン濃度を測定するサ
ンプリング方式の分析計で、例えばタイトレータ
が用いられる。 Reference numeral 4 denotes a sampling type analyzer for measuring the concentration of metal ions in the plating solution, for example, a titrator is used.
5は所定の金属イオンが貯蔵されたタンク、6
は該タンク5からの電解液流量を制御する調節弁
であり、タンク5中の金属イオン液は所定の量だ
け循環タンク1中に注入され、該循環タンク1中
の金属イオン濃度が一定に保たれる。 5 is a tank in which predetermined metal ions are stored; 6
is a control valve that controls the electrolyte flow rate from the tank 5, and a predetermined amount of the metal ion liquid in the tank 5 is injected into the circulation tank 1, and the metal ion concentration in the circulation tank 1 is maintained constant. dripping
このように構成された装置の動作を説明すれ
ば、以下の通りである。 The operation of the device configured as described above will be explained as follows.
図に示す装置では、循環タンク1内のメツキ液
かポンプ2によつてシヤワー室R1〜R3に圧送
され、各シヤワー室R1〜R3を通過中の鋼板3
にふりかかる。この時、鋼板3には各シヤワー室
R1〜R3内のローラR01〜R03を介して電
位が与えられるので、あたかも鋼板3をメツキ液
中に入れたのと同じ原理で電気メツキが行われ、
鋼板3の表面は金属メツキされる。鋼板3にふり
かかつたメツキ液は各シヤワー室R1〜R3の下
方へ落下し、再び循環タンク1に戻されるが、メ
ツキされた量だけ金属イオンは減少している。そ
こで、タンク5に予め貯蔵されている金属イオン
液を循環タンク1に注入して循環タンク1内の金
属イオン濃度をほぼ一定に保つ必要がある。本発
明は、この循環タンク1中の金属イオン濃度を一
定に保つようにシステムを構成することを特徴と
する。 In the apparatus shown in the figure, the plating liquid in the circulation tank 1 is pumped to the shower chambers R1 to R3 by the pump 2, and the steel plate 3 passing through each shower chamber R1 to R3 is pumped to the shower chambers R1 to R3.
Sprinkle on. At this time, a potential is applied to the steel plate 3 via the rollers R01 to R03 in each of the shower chambers R1 to R3, so electroplating is performed using the same principle as if the steel plate 3 were placed in a plating solution.
The surface of the steel plate 3 is plated with metal. The plating liquid sprinkled on the steel plate 3 falls below each of the shower chambers R1 to R3 and is returned to the circulation tank 1, but the metal ions are reduced by the amount of plating. Therefore, it is necessary to inject the metal ion liquid previously stored in the tank 5 into the circulation tank 1 to keep the metal ion concentration in the circulation tank 1 substantially constant. The present invention is characterized in that the system is configured to keep the metal ion concentration in the circulation tank 1 constant.
通常の動作状態においては、メツキ量とメツキ
電流とは比例関係にあると考えてよい。従つて、
或る一定期間内のメツキ電流の積算値は、その間
に消費された金属量に対応したものとなる。即
ち、消費金属量Qは次式で表わされる。 In normal operating conditions, the amount of plating and the plating current can be considered to be in a proportional relationship. Therefore,
The integrated value of the plating current within a certain fixed period corresponds to the amount of metal consumed during that period. That is, the consumed metal amount Q is expressed by the following equation.
Q=α・K∫i(t)dt (1)
ここで、i(t)はメツキ電流、αはフイード
バツク補正係数、Kはメツキ効率を含んだ定数で
ある。また、Kは鋼板の種類により変化する。こ
の消費金属量Qは、とりもなおさずメツキ液中に
補充しなければならい金属量でもある。この金属
量をFFとする。そこで、(1)式で求めた金属量Q
をフイードフオワード的にメツキ液中に補充すれ
ば、メツキ液中の金属イオン濃度をほぼ一定に保
つことができる。 Q=α·K∫i(t)dt (1) Here, i(t) is the plating current, α is the feedback correction coefficient, and K is a constant including the plating efficiency. Further, K changes depending on the type of steel plate. This amount of consumed metal Q is also the amount of metal that must be replenished into the plating solution. Let this metal amount be FF. Therefore, the amount of metal Q obtained using equation (1)
By replenishing the plating solution in a feed-forward manner, the metal ion concentration in the plating solution can be kept almost constant.
本発明では、図中に示されてはいないが、電極
となるローラR01〜R03とその電源との間に
電流計を接続してその出力を積分し、メツキ電流
積算値を得る。そして、このメツキ電流積算値を
消費金属量Qとし、この量Qに対応した金属量
FFをフイードフオワード制御によりタンク5か
ら調節弁6を介して循環タンク1に補充する。
尚、このフイードフオワード制御を実現するに
は、通常の制御機器を用いればよい。 In the present invention, although not shown in the figure, an ammeter is connected between the rollers R01 to R03 serving as electrodes and their power source, and the output thereof is integrated to obtain an integrated plating current value. Then, this plating current integrated value is defined as the amount of metal consumed Q, and the amount of metal corresponding to this amount Q is
FF is replenished from the tank 5 to the circulation tank 1 via the control valve 6 by feedforward control.
Note that in order to realize this feedforward control, ordinary control equipment may be used.
ところで、前述の制御は金属量とメツキ電流の
積算値が正確に比例関係にある場合にうまく行わ
れるものであつて、実際には正確な比例関係には
ない。循環タンク1中の正確な金属イオン濃度
は、分析計4の出力による他はない。そこで、分
析計4の測定値の結果PVを前記金属イオン投入
制御に反映させることができれば、より正確な金
属イオン濃度制御を行うことができる。 By the way, the above-mentioned control is performed successfully when the metal amount and the integrated value of the plating current are in an accurate proportional relationship, but in reality they are not in an accurate proportional relationship. The exact metal ion concentration in the circulation tank 1 depends on the output of the analyzer 4. Therefore, if the result PV of the measurement value of the analyzer 4 can be reflected in the metal ion injection control, more accurate metal ion concentration control can be performed.
このため、本発明では、分析計出力により得た
値FB(=SV−PV)によつて(1)式の定数αを修正
する方式を付加する。ここで、SVは目標濃度で
ある。定数αの値をどの程度の頻度で修正するか
は各場合によつて異なる。この修正動作は、分析
計4の出力を受ける演算制御装置(図示せず)を
設け、この演算制御装置により行う。演算制御装
置としては、例えば制御用コンピユータ、マイク
ロコンピユータを用いる。演算制御装置は、修正
した金属量に応じてタンク5の調節弁を調節し、
所定の量の金属イオンを循環タンク1内に注入す
る。 Therefore, in the present invention, a method is added to correct the constant α in equation (1) using the value FB (=SV-PV) obtained from the analyzer output. Here, SV is the target concentration. The frequency with which the value of the constant α is modified depends on each case. This correction operation is performed by an arithmetic and control device (not shown) that receives the output of the analyzer 4. As the arithmetic and control device, for example, a control computer or a microcomputer is used. The arithmetic and control device adjusts the control valve of the tank 5 according to the corrected amount of metal,
A predetermined amount of metal ions is injected into the circulation tank 1.
即ち、制御の即応性はメツキ電流積算値による
フイードフオワード制御で行い、制御の確実性、
正確性は分析計出力により(1)式の定数αを修正す
るというフイードバツク制御を加味する。このよ
うな構成により、即応性と正確性を兼ねそなえた
金属イオン濃度制御を行うことができる。 In other words, the quick response of the control is achieved by feedforward control using the accumulated current value, and the reliability of the control is improved.
Accuracy takes into account feedback control in which the constant α in equation (1) is modified based on the analyzer output. With such a configuration, metal ion concentration control can be performed with both quick response and accuracy.
第2図は本発明システムを動作させた場合の各
部の動作波形を示す図である。 FIG. 2 is a diagram showing operating waveforms of each part when the system of the present invention is operated.
この図中、aはメツキ電流Iの波形を示す図、
bはメツキ電流Iの積算値ΣIを示す図、cは金
属投入量Qを示す図、dは分析計の測定値PVを
示す図である。 In this figure, a shows the waveform of the plating current I,
b is a diagram showing the integrated value ΣI of the plating current I, c is a diagram showing the metal input amount Q, and d is a diagram showing the measured value PV of the analyzer.
第1回のメツキ電流積算値S1から、第1回の
金属投入量Q1が求まり、第1回目の分析計4の
測定値PV1により、前述の(1)式における定数α
の修正量を算出し、次回の金属投入量Q2を修正
する。 From the first plating current integrated value S1, the first metal input amount Q1 is determined, and from the first measurement value PV1 of the analyzer 4, the constant α in the above equation (1) is determined.
The correction amount is calculated, and the next metal input amount Q2 is corrected.
このような操作の繰り返しにより、金属イオン
濃度制御が行われることになる。なお、分析計4
の測定値による金遅投入量の修正は1回ごとに行
う必要はなく、測定値の何回かのサンプリング値
を平均して修正量を求めるようにしてもよい。 By repeating such operations, metal ion concentration control is performed. In addition, analyzer 4
It is not necessary to correct the late deposit amount based on the measured value every time, and the correction amount may be obtained by averaging several sampled values of the measured value.
本発明の特徴を列挙すれば、以下のとうりであ
る。 The features of the present invention are listed below.
(1) 金属イオンの分析値が得られなくてもメツキ
電流の積算により金属投入制御を継続すること
ができる。(1) Even if analysis values for metal ions cannot be obtained, metal injection control can be continued by integrating the plating current.
(2) メツキ条件が変更となつた時は、フイードフ
オワード的に投入量を変更することができる。(2) When the plating conditions change, the input amount can be changed in a feed forward manner.
(3) 分析結果との差から、フイードフオワード量
の重みを偏差が小さくなるように自動的に修正
することができる。(3) Based on the difference with the analysis results, the weight of the feed forward amount can be automatically corrected so that the deviation becomes smaller.
(4) プロセスの無駄時間も容易に反映することが
できる。(4) Process waste time can be easily reflected.
<発明の効果>
以上詳細に説明したように、本発明によれば、
メツキ液中の金属イオンの変化をメツキ電流の変
化として検出して金属イオンの投入制御をメツキ
電流の積算値によりフイードフオワード的に行う
とともに、このフイードフオワード制御による誤
差を金属イオン分析計出力から得られた分析値に
基づいて修正するようにしたので、金属イオン投
入後のメツキ液組成変化の時間遅れの影響を受け
ずに制御性を向上させたメツキ制御システムを実
現することができる。<Effects of the Invention> As explained in detail above, according to the present invention,
Changes in metal ions in the plating liquid are detected as changes in the plating current, and metal ion injection control is performed in a feed-forward manner using the integrated value of the plating current, and errors caused by this feed-forward control are analyzed by metal ion analysis. Since the correction is made based on the analytical value obtained from the meter output, it is possible to realize a plating control system with improved controllability without being affected by the time delay of the plating liquid composition change after metal ion injection. can.
第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2
図は第1図の実施例の各部の動作波形を表わす図
である。
1……循環タンク、2……ポンプ、3……鋼
板、4……分析計、5……タンク、6……調節
弁、S1〜S3……シヤワー、R1〜R3……シ
ヤワー室、R01〜R03……ローラ。
FIG. 1 is a configuration diagram showing one embodiment of the present invention, and FIG.
The figure is a diagram showing operation waveforms of each part of the embodiment of FIG. 1. 1... Circulation tank, 2... Pump, 3... Steel plate, 4... Analyzer, 5... Tank, 6... Control valve, S1-S3... Shower, R1-R3... Shower room, R01- R03... Laura.
Claims (1)
を行うとともに使用済液を循環タンクに集め再び
メツキ液シヤワーとして用いるようにしたメツキ
制御システムにおいて、メツキ電流の積算値より
消費金属量Q=α・K∫i(t)dt(但し、i(t)
はメツキ電流、αはフイードバツク補正係数、K
はメツキ効率を含んだ定数)を算出してこの消費
金属量Qに対応した量の金属イオンをフイードフ
オワード制御により前記循環タンクに投入する手
段と、前記循環タンクに設けた金属イオン濃度を
検出する分析計の測定値と目標濃度との差より前
記フイードバツク補正係数αを修正する演算制御
装置とを有することを特徴とするメツキ制御シス
テム。1 In a plating control system in which a plating liquid shower is applied to a steel plate for electroplating, and the used liquid is collected in a circulation tank and used again as a plating liquid shower, the amount of metal consumed Q = α・K from the integrated value of plating current. ∫i(t)dt (however, i(t)
is the plating current, α is the feedback correction coefficient, K
is a constant including the plating efficiency) and inputs an amount of metal ions corresponding to the consumed metal amount Q into the circulation tank by feed forward control; A plating control system comprising: an arithmetic and control device that corrects the feedback correction coefficient α based on the difference between the measured value of the analyzer and the target concentration.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11754883A JPS609900A (en) | 1983-06-29 | 1983-06-29 | Control system for plating |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11754883A JPS609900A (en) | 1983-06-29 | 1983-06-29 | Control system for plating |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS609900A JPS609900A (en) | 1985-01-18 |
| JPH0333800B2 true JPH0333800B2 (en) | 1991-05-20 |
Family
ID=14714530
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11754883A Granted JPS609900A (en) | 1983-06-29 | 1983-06-29 | Control system for plating |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS609900A (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3524082A1 (en) * | 1985-07-05 | 1987-01-08 | Bbc Brown Boveri & Cie | SUPRACTIVE FIBER AND METHOD FOR THE PRODUCTION THEREOF |
| JP4262178B2 (en) * | 2004-09-21 | 2009-05-13 | 新日本製鐵株式会社 | Electric tin plating method |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS516708A (en) * | 1974-07-08 | 1976-01-20 | Hitachi Ltd | JIKIKIOKUSOCHI |
-
1983
- 1983-06-29 JP JP11754883A patent/JPS609900A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS609900A (en) | 1985-01-18 |
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