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JPH0323508A - Production of thin-film magnetic head - Google Patents

Production of thin-film magnetic head

Info

Publication number
JPH0323508A
JPH0323508A JP1157771A JP15777189A JPH0323508A JP H0323508 A JPH0323508 A JP H0323508A JP 1157771 A JP1157771 A JP 1157771A JP 15777189 A JP15777189 A JP 15777189A JP H0323508 A JPH0323508 A JP H0323508A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
magnetic
lead
film
plating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1157771A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takashi Kuhara
隆 久原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP1157771A priority Critical patent/JPH0323508A/en
Publication of JPH0323508A publication Critical patent/JPH0323508A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Magnetic Heads (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、磁気記録媒体からデータを読みだしたり、磁
気記録媒体にデータを書き込んだりする磁気記録再生装
置に用いられる薄膜磁気ヘッドの製造方法に関するもの
である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a thin film magnetic head used in a magnetic recording/reproducing device that reads data from or writes data to a magnetic recording medium. It is.

従来の技術 第4図は従来の薄膜磁気ヘッドを示す断面図で、1は非
磁性材料で作威された基板、2は絶縁層で、絶縁層2は
基板1の上に形成され、アルミナ等で形成されている。
Conventional technology FIG. 4 is a sectional view showing a conventional thin film magnetic head, in which 1 is a substrate made of a non-magnetic material, 2 is an insulating layer, and the insulating layer 2 is formed on the substrate 1, and is made of alumina, etc. It is formed of.

3は下部磁性層で、下部磁性層3は絶縁層2の上に形成
され、N i − F e.磁性材料で作戒されている
。又下部磁性層3は磁性膜3aと、磁性膜3aの上に形
成された磁(1.膜3bとで構成されている。4はギャ
ップ層で、ギャップ層4は下部磁性層3の上に形成され
、アルミナで作威されている。5は絶縁層で、絶縁満5
はギャップ層4の上に形成され、フォトレジスト等で構
成されている。6はコイル層で、コイル層6は絶縁M5
の上に形成され、銅等の良導体で作成されている。又コ
イル層6には引き出し部6aが設けられている。7は絶
縁層で、絶縁層7はコイル層6を覆うように絶縁層5の
上に形成され、フォトレジスト等によって作成されてい
る。
3 is a lower magnetic layer, the lower magnetic layer 3 is formed on the insulating layer 2, and is made of Ni-Fe. It is secured with magnetic material. The lower magnetic layer 3 is composed of a magnetic film 3a and a magnetic film 3b formed on the magnetic film 3a. 4 is a gap layer, and the gap layer 4 is formed on the lower magnetic layer 3. 5 is an insulating layer, and the insulation layer is made of alumina.
is formed on the gap layer 4 and is made of photoresist or the like. 6 is a coil layer, and coil layer 6 is an insulation M5
It is made of a good conductor such as copper. Further, the coil layer 6 is provided with a lead-out portion 6a. Reference numeral 7 denotes an insulating layer, and the insulating layer 7 is formed on the insulating layer 5 so as to cover the coil layer 6, and is made of photoresist or the like.

又引き出し部6aの一部は絶縁層7によって覆われてい
る。8は上部磁性層で、上部磁性層8は下部磁性層3と
ともに磁気回路を構成するように絶8M7の上に設けら
れている。又上部磁性層8はNi−Fe磁性材料で作成
されている。上部磁性層8を作成する場合には、先ず磁
性膜8aを形成し、その上に磁性膜8bを形成して得ら
れる。9はリードで、リード9は上部磁性層8と同じ材
料でしかも上部磁性層8と同じ工程で形戒される。
Further, a part of the extended portion 6a is covered with an insulating layer 7. Reference numeral 8 denotes an upper magnetic layer, and the upper magnetic layer 8 is provided on the top 8M7 so as to constitute a magnetic circuit together with the lower magnetic layer 3. Further, the upper magnetic layer 8 is made of Ni--Fe magnetic material. When creating the upper magnetic layer 8, the magnetic film 8a is first formed, and then the magnetic film 8b is formed thereon. The lead 9 is made of the same material as the upper magnetic layer 8 and formed in the same process as the upper magnetic layer 8.

リード9は引き出し部6aと接続されている。ここでな
ぜリードの材料として鋼を用いず、NIFe磁性材料で
リード9を形或するかを説明する。一般に絶縁層や基板
として用いられるセラミック等の非磁性材料の上には銅
の薄膜は接合しに<<、容易に絶縁層等からはがれてし
まい、絶縁層2の上に形成するリードとして不適切であ
る。しかしN i −F e等の金属磁性膜は比較的絶
縁膜と相性が良く、強固に絶縁膜に接合する。又Ni−
Fe磁性材料は電気的にも抵抗が小さいので、基板1上
に形成するリードとして適切である。10は端子部で、
端子部10はリ一ド9に接続され、鋼によって形成され
ている。又、端子部10は先ずリード9上にスパッタ法
により形成された下地層10aを形成し、その上に硫酸
M鍍金によって形成される。下地層10aを形成するの
は以下の理由によるものである。一般にFeを含む合金
上等の様に、銅よりもイオン化傾向の大きな金属を含む
合金に銅鍍金をする場合、硫酸銅鍍金液によって銅鏡金
層は形成されに<<、シかも形成されたとしてもすぐに
はがれてしまうからである。従って先ずスパッタ法によ
って銅の下地層10aを形成しておき、その上に硫酸銅
鍍金によって銅鍍金を施して端子部10を形成している
。端子部]0には導線11がワイヤボンダー等によって
接合される。12はアルミナ等によって作威された保護
層である。
The lead 9 is connected to the lead-out portion 6a. Here, we will explain why the lead 9 is formed from NIFe magnetic material instead of using steel as the lead material. Generally, a thin copper film is not bonded to a non-magnetic material such as a ceramic used as an insulating layer or a substrate, and it easily peels off from the insulating layer, making it unsuitable for use as a lead formed on the insulating layer 2. It is. However, a metal magnetic film such as Ni-Fe has relatively good compatibility with an insulating film and is firmly bonded to the insulating film. MataNi-
Since the Fe magnetic material has low electrical resistance, it is suitable as a lead formed on the substrate 1. 10 is the terminal part,
The terminal portion 10 is connected to the lead 9 and is made of steel. The terminal portion 10 is formed by first forming a base layer 10a on the lead 9 by sputtering, and then plating the base layer 10a with M sulfuric acid plating. The reason for forming the base layer 10a is as follows. In general, when copper plating is applied to an alloy containing a metal that has a greater ionization tendency than copper, such as an alloy containing Fe, a copper mirror gold layer is not formed by the copper sulfate plating solution. This is because it will peel off quickly. Therefore, first, a copper base layer 10a is formed by sputtering, and then copper plating is applied thereon by copper sulfate plating to form the terminal portion 10. A conductive wire 11 is bonded to the terminal portion]0 using a wire bonder or the like. 12 is a protective layer made of alumina or the like.

以上の様に構成された従来の薄膜磁気ヘッドにおいて、
端子部10の製造方法を説明する。
In the conventional thin film magnetic head configured as described above,
A method of manufacturing the terminal portion 10 will be explained.

先ず−E部磁性層8及びリード9を形成し、第5図に示
すように下地層Boaとなる銅薄股13を一面にスパッ
タリングによって形成し、次に一面にフォトレジスト1
4を塗布する。次に第6図に示す様にリード9上の一部
のフォ1・レシストl4に紫外線を照射し、その照射部
分を現像液によって洗い流し、凹部14aを形成する。
First, the -E section magnetic layer 8 and the leads 9 are formed, and as shown in FIG.
Apply 4. Next, as shown in FIG. 6, a portion of the photo resist 14 on the lead 9 is irradiated with ultraviolet rays, and the irradiated portion is washed away with a developer to form a recess 14a.

次に鍍金枠(図示せず)で、ヘッド半休の外周部を挟む
。すると鍍金枠とヘッド半体の外周部に剥きだしになっ
ている!@薄膜13の端面が接触した状態となる。この
状態で硫酸銅鍍金液の中に鍍金枠とともにヘッド半休を
浸す。そし、て鍍金粋に通電ずると鋼薄[113の凹部
1 4 aに剥きだしになっている部分に鍍金膜が積層
され端子部10が第7図に示すように形成される。次に
一面に紫外線を照射し、その後フォトレジスト14を現
像液によって全て除去する。その後第8図に示すように
イオンミーリング法によって銅薄膜l3のむき出しにな
っている部分を全て除去する。最後に保護層12を形成
する。
Next, the outer periphery of the half head is sandwiched between plating frames (not shown). Then, the outer periphery of the plating frame and half of the head is exposed! @The end surfaces of the thin film 13 are in contact with each other. In this state, the head half is immersed together with the plating frame in a copper sulfate plating solution. Then, when the plating layer is energized, the plating film is laminated on the exposed portion of the recess 14a of the steel sheet 113, and the terminal portion 10 is formed as shown in FIG. Next, the entire surface is irradiated with ultraviolet rays, and then the photoresist 14 is completely removed using a developer. Thereafter, as shown in FIG. 8, all exposed portions of the copper thin film 13 are removed by ion milling. Finally, a protective layer 12 is formed.

発明が解決しようとする課題 しかしながら前記従来の方法では、端子部10を形成し
た後に鋼薄[13を除去するが、この時第9図に示すよ
うに下部磁性層3と絶縁層2の境界部分にイオンミーリ
ングでは除去できない鋼薄膜Aが残っており、その銅薄
膜Aが残っている部分が媒体対向面に露出していると、
時間の経過とともに下部磁性層3を腐食させる原因にな
っていた。又媒体対向而に露出していなくても、銅と下
部磁性M3中のF eとのイオン化傾向の違いによって
電池作用が起こり下部iaffJl3の磁気特性が劣化
するという問題点を有していた。この解決のために第1
0図に示す様に上部磁1f1−.M8及び−1・部磁性
層3の上に7ォトレジスl・膜1 5を形成し、その後
に銅薄膜l3をスパッタリングによって形成し、下地膜
10aを形成する方法が考えられるが、この方法である
と7ォトレシスト15の現像工程や露光工程等を行わな
くてはならず、工程が増加し生産性が悪いという問題点
を有していた。
Problems to be Solved by the Invention However, in the conventional method, the steel thin film [13] is removed after forming the terminal portion 10, but at this time, as shown in FIG. There remains a steel thin film A that cannot be removed by ion milling, and the remaining copper thin film A is exposed on the medium facing surface.
This caused the lower magnetic layer 3 to corrode over time. Further, even if it is not exposed to face the medium, the difference in ionization tendency between copper and Fe in the lower magnetic M3 causes a battery action, resulting in a problem that the magnetic properties of the lower iaffJl3 deteriorate. To solve this problem, the first step is to
As shown in Figure 0, the upper magnetic field 1f1-. A possible method is to form a 7 photoresist film 15 on the M8 and -1 magnetic layers 3, and then to form a copper thin film 13 by sputtering to form the base film 10a. 7, a developing process and an exposure process for the photoresist 15 must be performed, resulting in an increase in the number of processes and a problem of poor productivity.

本発明は前記従来の問題点を解決しようとするもので、
端子部を形成する時にスバッタ銅の下地層を形成する事
が不要で、それにともなって製造工程の削減や下部磁性
層を腐食させない薄膜磁気ヘッドの製造方法を提供する
事を目的としている。
The present invention aims to solve the above-mentioned conventional problems,
The purpose of the present invention is to provide a method for manufacturing a thin-film magnetic head that does not require the formation of a sputtered copper underlayer when forming a terminal portion, thereby reducing manufacturing steps and preventing corrosion of the lower magnetic layer.

課題を解決するための手段 この目的を達成するために、リードをビロリン酸鋼鍍金
液に浸してリード上に端子部となる鍍金層を形成した。
Means for Solving the Problems In order to achieve this object, the leads were immersed in a birophosphate steel plating solution to form a plating layer on the leads that would become the terminal portion.

作     用 この方法により、直接鍍金によってリード上に端子部と
なる鍍金層を形成でき、しかも端子部は剥離に強い。
Function: With this method, it is possible to form a plating layer that will become a terminal portion on the lead by direct plating, and the terminal portion is resistant to peeling.

実  施  例 第1図は本発明の−実施例における薄膜磁気ヘッドの製
造方法によって作成された薄膜磁気ヘッドを示す断面図
である。lは基板、2は絶縁層、3は下部磁性層で、3
aは磁性膜、3bは磁性膜、4はギャップ層、5は絶縁
層、6コイル層、62Nは引き出し部、7は絶縁贋、8
は上部磁性層、8aは磁性膜、8bは磁性膜、9はリー
ド、1lは巻線、l2は保護層であり、これらは従来の
構成と同じである。17は端子部で、端子部17はリー
ド9上にビロリン酸鋼鍍金液を用いた鍍金によって形成
されている。ビロリン酸fIA鍍金液はビロリン酸銅を
57g1ビロリン酸カルシウムを250g,アンモニア
を3cc,硝酸カルシfクムをLogをIリットルの水
に溶かして構成さ4れる。又必要に応じて消泡剤として
しゅう酸カルシウムや、その他の光沢剤を混合して得ら
れる。
Embodiment FIG. 1 is a sectional view showing a thin film magnetic head manufactured by a method for manufacturing a thin film magnetic head according to an embodiment of the present invention. l is the substrate, 2 is the insulating layer, 3 is the lower magnetic layer, 3
a is a magnetic film, 3b is a magnetic film, 4 is a gap layer, 5 is an insulating layer, 6 is a coil layer, 62N is a lead-out portion, 7 is an insulation counterfeit, 8
8a is an upper magnetic layer, 8a is a magnetic film, 8b is a magnetic film, 9 is a lead, 1l is a winding wire, and 12 is a protective layer, which are the same as the conventional structure. 17 is a terminal portion, and the terminal portion 17 is formed on the lead 9 by plating using birophosphate steel plating solution. The birophosphate fIA plating solution is composed of 57 g of copper birophosphate, 250 g of calcium birophosphate, 3 cc of ammonia, and Log of calcicum nitrate dissolved in 1 liter of water. It can also be obtained by mixing calcium oxalate or other brighteners as an antifoaming agent, if necessary.

以下本発明の一実施例におけるR u’!磁気ヘッドの
製造方法について説明する。先ず第2図に示すようにフ
ォトレジスト膜18をリード10.J二に形成し、リー
ド9の端子部17を形成しようとする部分2Lのフォト
レジスト膜18に紫外線を照酊し、現像液によってその
部分を洗い流しり一ド9まで達した凹部19を形戒ずる
。次lこ第:31Aに不す様に凹部19がビロリン酸鍍
金液に浸るように基板1をビロリン酸鍍金液に浸し、鍍
金処理を行って厚さ55μmの端子部17を形成する。
Below, R u'! in one embodiment of the present invention! A method of manufacturing a magnetic head will be explained. First, as shown in FIG. 2, the photoresist film 18 is attached to the lead 10. The photoresist film 18 of the portion 2L where the terminal portion 17 of the lead 9 is to be formed is irradiated with ultraviolet rays, and that portion is washed away with a developer to form the recess 19 that reaches the first portion 9. Cheating. Step 1: The substrate 1 is immersed in birophosphate plating solution so that the recess 19 is immersed in the birophosphate plating solution as shown in step 31A, and plating is performed to form the terminal portion 17 having a thickness of 55 μm.

この時ビロリン酸鍍金液の液温は55℃にし、まt・フ
ォトレジスト膜l8がビLコリン酸鍍金液1こ,上って
侵されないようにビロリン酸鍍金液のpH値を8.5〜
7.0にする。ビUリン酸fli4m金液による鍍金は
、従来行なわれていた硫酸M鍍金に比べてリード9との
接合力が非常に強い。従って下地膜は必要ない。又この
様な下地膜を必要ない鍍金液としてシアン化!@鍍金液
やほうフッ化鋼鍍金液があげられるがこれらは非常に毒
性が強く好ましくない。次に一面に紫外線を照射し、現
像液に,よってフォトレシストlII18を全て洗い流
す。最後にw!!縁層l2を形成する。
At this time, the temperature of the birophosphate plating solution is set to 55°C, and the pH value of the birophosphate plating solution is set to 8.5 to 8.5 to prevent the photoresist film 18 from rising and being attacked by the birophosphate plating solution.
Set it to 7.0. Plating with biU phosphoric acid fli4m gold solution has a much stronger bonding force with the lead 9 than conventional sulfuric acid M plating. Therefore, no base film is required. Also, cyanide as a plating solution that does not require such a base film! Examples include @plating solution and fluoroborated steel plating solution, but these are highly toxic and undesirable. Next, the entire surface is irradiated with ultraviolet rays, and all of the photoresist III 18 is washed away by a developer. Finally lol! ! A rim layer l2 is formed.

1′l下、従来と本実施例の製造方法に,よって形成さ
れた薄膜磁気ヘッドの耐食性を比べた。従来と本実施例
の製造方法で作成された.i′N膜磁気ヘッドを湿度8
5%温度85℃の雰囲気中に24時間放置し,た。この
結果従来の製造方法で作威した薄膜磁気ヘッドには媒体
対向而に腐食が起こった。しかし本実施例の製造方法で
作成した薄膜磁気ヘッドには腐食は起こらなかった。
1'1, the corrosion resistance of thin film magnetic heads formed by the conventional manufacturing method and the manufacturing method of this embodiment was compared. It was created using the conventional manufacturing method and the manufacturing method of this example. i'N film magnetic head at humidity 8
The sample was left for 24 hours in an atmosphere with a 5% temperature of 85°C. As a result, thin film magnetic heads produced using conventional manufacturing methods suffered from corrosion on the side facing the medium. However, no corrosion occurred in the thin film magnetic head manufactured by the manufacturing method of this example.

以」二の様に本実施例によればビロリン酸銅鍍金液によ
って端子部17を形成した事により、下地膜を形成しな
くてもよいので、従来よりも製造工程の削減になるとと
もに、下部磁性層3と絶縁層2の境界部分に銅薄膜が残
留する事がなく下部磁性層3の腐食などが起こらない。
As described below, according to this embodiment, since the terminal portion 17 is formed using birophosphate copper plating solution, there is no need to form a base film, which reduces the number of manufacturing steps compared to the conventional method, and reduces the number of lower parts. No copper thin film remains at the boundary between the magnetic layer 3 and the insulating layer 2, and corrosion of the lower magnetic layer 3 does not occur.

又ビロリン酸銅鍍金液によって凹部の中に1μmPl.
度の厚さになるまで下地膜を形成し、その1−、に硫酸
M鍍金を施して端子部を形成しても良い。
In addition, 1 μm Pl.
Alternatively, a terminal portion may be formed by forming a base film to a thickness of about 100 mL, and then plating the base film with M sulfuric acid.

発明の効果 本発明はリードをビロリン酸銅鍍金液に浸i,5でリー
ド上に端子部を形成した事により、端子部が剥がれにく
いので、スバッタ法によって銅の78’ jll+膜を
形成する事なく直接鍍金によってリードI−(一端子部
となる鍍金層を形成できるので、従来のようにスパッタ
法による下地膜の作成する工程と比較して工程が減り、
生産性が向上するとともに、残留鋼による下部磁性層の
劣化を防ぐ事ができる。
Effects of the Invention In the present invention, the terminal portion is formed on the lead by immersing the lead in a birophosphate copper plating solution, so that the terminal portion is difficult to peel off. Since the plating layer that will become the lead I- (one terminal part) can be formed by direct plating without the need for direct plating, the number of steps is reduced compared to the conventional process of creating a base film by sputtering.
In addition to improving productivity, it is possible to prevent deterioration of the lower magnetic layer due to residual steel.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例における製造方法で作成され
た薄膜磁気ヘッドを示す断面図、第2図及び第3図は端
子部の製造方法を示す断面図、第4図は従来の薄膜磁気
ヘッドを示す断面図、第5図から第8図までは従来の薄
膜磁気ヘッドの端子部の製造方法を示す断面図、第9図
は従来の薄膜磁気ヘッドの製造方法によって作成された
薄膜磁気ヘッドの縦断面図、第10図は従来の他の薄膜
磁気ヘッドの製造方法を示す断面図である。 1 2 1 7 1 8 1 9 保護層 端子部 フォトレジスト膜 凹部 基板 絶縁層 下部磁性層 磁性膜 磁性膜 ギャップ層 絶縁層 コイル層 引き出し部 絶縁層 上部磁性層 磁性膜 磁性膜 リード 巻線
FIG. 1 is a sectional view showing a thin film magnetic head manufactured by a manufacturing method according to an embodiment of the present invention, FIGS. 2 and 3 are sectional views showing a method for manufacturing a terminal portion, and FIG. 5 to 8 are cross-sectional views showing a method for manufacturing the terminal portion of a conventional thin-film magnetic head. FIG. 9 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a conventional thin-film magnetic head. FIG. 10 is a longitudinal cross-sectional view of the head and is a cross-sectional view showing another conventional method of manufacturing a thin film magnetic head. 1 2 1 7 1 8 1 9 Protective layer Terminal photoresist film Recess substrate Insulating layer Lower magnetic layer Magnetic film Magnetic film Gap layer Insulating layer Coil layer Leading portion Insulating layer Upper magnetic layer Magnetic film Magnetic film Lead winding

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 基板の上に下部磁性層を形成し、前記下部磁性層の上に
ギャップ層を形成し、前記下部磁性層の上に引き出し部
を有するコイル層を形成し、前記コイル層の上に上部磁
性層を形成し、前記引き出し部と接続するリードを前記
基板の上に形成し、前記リードをピロリン酸銅鍍金液に
浸す事によって、前記リード上に端子部となる鍍金層を
形成した事を特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方法。
A lower magnetic layer is formed on the substrate, a gap layer is formed on the lower magnetic layer, a coil layer having a lead-out portion is formed on the lower magnetic layer, and an upper magnetic layer is formed on the coil layer. A plating layer that will become a terminal portion is formed on the lead by forming a lead that connects to the lead-out portion on the substrate and immersing the lead in a copper pyrophosphate plating solution. A method for manufacturing a thin film magnetic head.
JP1157771A 1989-06-20 1989-06-20 Production of thin-film magnetic head Pending JPH0323508A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1157771A JPH0323508A (en) 1989-06-20 1989-06-20 Production of thin-film magnetic head

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JP1157771A JPH0323508A (en) 1989-06-20 1989-06-20 Production of thin-film magnetic head

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Publication Number Publication Date
JPH0323508A true JPH0323508A (en) 1991-01-31

Family

ID=15656944

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1157771A Pending JPH0323508A (en) 1989-06-20 1989-06-20 Production of thin-film magnetic head

Country Status (1)

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JP (1) JPH0323508A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9650305B2 (en) 2007-12-28 2017-05-16 United States Gypsum Company Hard water foaming agents and methods for gypsum board production

Cited By (1)

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