[go: up one dir, main page]

JPH03169121A - Output buffer circuit - Google Patents

Output buffer circuit

Info

Publication number
JPH03169121A
JPH03169121A JP1310105A JP31010589A JPH03169121A JP H03169121 A JPH03169121 A JP H03169121A JP 1310105 A JP1310105 A JP 1310105A JP 31010589 A JP31010589 A JP 31010589A JP H03169121 A JPH03169121 A JP H03169121A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
output
output terminal
node
gate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP1310105A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2833073B2 (en
Inventor
Hisashi Fujiwara
藤原 久
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP1310105A priority Critical patent/JP2833073B2/en
Publication of JPH03169121A publication Critical patent/JPH03169121A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2833073B2 publication Critical patent/JP2833073B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electronic Switches (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To prevent malfunction of the circuit by preventing both a PMOS transistor(TR) and an NMOS TR at an output stage from being energized simultaneously at the time of changing over an input data. CONSTITUTION:A time difference is caused in the output change in a NAND gate circuit 1 fed to the gate of a PMOS TR 3 and the output change in a NOR gate circuit 2 fed to the gate of an NMOS TR 5, both the TRs fall into a nonenergized state and the output reaches a high impedance for the period. When the output of a 2-input NAND gate circuit 1 reaches '0', the PMOS TR 3 is energized to raise the level of a data output terminal OUT to logical '1'. Since the power level and ground level of other circuit on a same integrated circuit board are not fluctuated due to a large current flowing from a power supply to ground at the time of changing over the input data, the malfunction of the circuit due to the level fluctuation is evaded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は出力バッファ回路に関し、特に相補型MOS(
以下CMOSと称する〉トランジスタを用いた出力バッ
ファ回路に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to an output buffer circuit, and particularly to a complementary MOS (
The present invention relates to an output buffer circuit using a transistor (hereinafter referred to as CMOS).

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のこの種の出力バッファ回路を第4図と第5図に示
す.第4図において、VDDは正電源、90はインバー
タ回路、40はPチャネルMOS(以下PMOSと称す
る)トランジスタ、60はNチャネルMOS(以下NM
OSと称する)トランジスタ、Dはデータ入力端子、O
UTはデータ出力端子である.ここで、データ入力端子
Dから入力したデータが論理値1(以下、“1”と記す
)であったとすると、インバータ回路90の出力は反転
して論理値O(以下゛′O”と記す)となり、PMOS
トランジスタ40が導通状態、NMOSトランジスタ6
0が非導通状態となってデータ出力端子OUTは正電源
VDDのレベルすなわち“1”となる.データ入力端子
Dが“0”のときは、インバータ回路90の出力は“1
′”となり、PMOSトランジスタ40が非導通状態、
NMOSトランジスタ60が導通状態となって、データ
出力端子OUTはグランドレベルすなわち“0”になる
.このように、出力データとして入力データと同相の信
号が得られるような構成になっている。
Conventional output buffer circuits of this type are shown in Figures 4 and 5. In FIG. 4, VDD is a positive power supply, 90 is an inverter circuit, 40 is a P-channel MOS (hereinafter referred to as PMOS) transistor, and 60 is an N-channel MOS (hereinafter referred to as NM
(referred to as OS) transistor, D is the data input terminal, and O is the data input terminal.
UT is a data output terminal. Here, if the data input from the data input terminal D has a logical value of 1 (hereinafter referred to as "1"), the output of the inverter circuit 90 is inverted and has a logical value of O (hereinafter referred to as ``O''). Therefore, PMOS
Transistor 40 is conductive, NMOS transistor 6
0 becomes non-conductive, and the data output terminal OUT becomes at the level of the positive power supply VDD, that is, "1". When the data input terminal D is “0”, the output of the inverter circuit 90 is “1”.
''', and the PMOS transistor 40 becomes non-conductive.
The NMOS transistor 60 becomes conductive, and the data output terminal OUT becomes the ground level, that is, "0". In this way, the configuration is such that a signal having the same phase as the input data can be obtained as output data.

第5図は、第2の従来例であり、2人力NANDゲート
回路100と、2人力NORゲート回路200と、イン
バータ回路15と、PMOSトランジスタ40と、NM
OSトランジスタ60とより構戒される。VDDは正電
源、Dはデータ入力端子、Cは制御信号入力端子、OU
Tはデータ出力端子である.いま、制御信号入力端子C
に“1”が入力されているとすると、インバータ回路l
5の出力は“O nである。ここでデータ入力端子Dに
“1”が入力され、2人力NANDゲート回路100の
出力と2人力NORゲート回路200の出力とは両方と
も“O”になり、PMOSトランジスタ40が導通状態
、NMOSトランジスタ60が非導通状態となってデー
タ出力端子OUTには“1”が入力される。またデータ
入力端子Dに“O I1が入力されると、2人力NAN
Dゲート回路100、2人力NORゲート回路200の
出力はそれぞれ“′1″となり、PMOSトランジスタ
40は非導通状態、NM○Sトランジスタ60は導通状
態となって、データ出力端子OUTには“O”が出力さ
れる。一方、制御信号入力端子Cに“Onが入力されて
いる場合には、インバータ回路15の出力は“1”とな
り、データ入力端子Dの“1”,“O”にかかわらず2
人力NANDゲート回路100の出力は“1”、2人力
NORゲート回路200の出力も“0”に固定され、P
MOSトランジスタ40とNMOSトランジスタ60は
両方とも非導通状態になる.この場合、データ出力端子
OUTのレベルは“1nでも“0′′でもなく、ハイ・
インピーダンス状態をとるような構成になっている.〔
発明が解決しようとする課題〕 上述した従来の出力バッファ回路では、データ入力端子
Dのレベルが゛″1”からMO”あるいはII O”か
ら“1”に切摸わる過程で、バツファ部を構成するPM
OSトランジスタ40とNMOSトランジスタ60の両
方が導通する状態が一瞬ではあるが存在する. 一般にこの種の出力バッファ回路では、データ出力端子
OUTの負荷に小さな抵抗や大きな容量が付いた場合で
も十分に駆動できるように、出力段のPMOSトランジ
スタ40とNMOSトランジスタ60とは、トランジス
タのゲート幅をW、トランジスタのゲート長をLとする
と、Lに対するWの比く以下W/Lと記す)を大きくと
ることが多い.このようなW/Lの大きい、すなわち導
通状態における等価抵抗成分の小さいPMOS}−ラン
ジスタとNMOSトランジスタの両方が同時に導通状態
になることにより、正電源VDDからグランドに向かっ
て大きな電流が流れる。この電流は正電源VDDあるル
1はグランドの配線の抵抗戒分によって決まる電圧降下
を引き起こし、同一集積回路基板上の他の回路に対して
正電源VDDレベルの変動、およびグランドレベルの変
動といった形で悪影響を及ぼすため、回路が誤動作して
しまう可能性があるという欠点を有している. 本発明の目的は、出力段のPMOSトランジスタとNM
OSトランジスタの両方が同時に導通することがない出
力バッファ回路を提供することにある. 〔課題を解決するための手段〕 本発明の出力バッファ回路は、入力端子と第1の節点を
入力とする第1の論理回路と、前記入力端子と第2の節
点を入力とする第2の論理回路と、ソース・ドレイン路
が前記第1の節点と出力端子間に接続されゲートが前記
第1の論理回路の出力端に接続された一導電型MOSト
ランジスタと、ソース・ドレイン路が前記出力端子と前
記第2の節点間に接続されゲートが前記第2の論理回路
の出力端に接続された逆導電型MOSトランジスタと、
前記第2の論理回路の出力端を入力とし出力端が前記第
1の節点に接続された第1のCMOS回路と、前記第1
の論理回路の出力端を入力とし出力端が前記第2の節点
に接続された第2のCMOS回路とを有することを特徴
とする.〔実施例〕 次に、本発明について図面を参照して説明する. 第1図は本発明の第1の実施例を説明するめの回路図で
ある,NANDゲート回路はデータ入力端子Dと第1の
節点347とを入力とし、その出力端がPMOSトラン
ジスタ3のゲートに接続されている,NORゲート回路
2はデータ入力端子Dと第2の節点568とを入力とし
、その出力端がNMOSトランジスタ5のゲートに接続
されている,PMOSトランジスタ3はそのソース・ド
レイン路がデータ出力端子OtJTと第1の節点347
間に接続され、NMOSトランジスタ5はそのソース・
ドレイン路がデータ出力端子OUTと第2の節点568
間に接続されている,PMOSトランジスタ4はそのソ
ース・トレイン路がVDDと第1の節点347間に接続
され、ゲートがNORゲート回路2の出力端に接続され
ており、NMOSトランジスタ6はそのソース・ドレイ
ン路がGNDと第2の節点568間に接続され、ゲート
がNANDゲート回路1の出力端に接続されている.又
、NMOSトランジスタ7はそのソース・ドレイン路が
GNDと第1の節点347間に接続されゲートがNOR
ゲート回路2の出力端に接続されており、PMOSトラ
ンジスタ8はそのソース・ドレイン路がVDDと第2の
節点568間に接続されゲートがNANDゲート回路1
の出力端に接続されている.なお、これらの回路構或に
おいて、PMOSトランジスタ4とNMOSトランジス
タにより1つのCMOS回路が形成され、NMOSトラ
ンジスタ6とPMOSトランジスタ8により他のCMO
S回路が形成されている. PMOSトランジスタ3,4及びNMOSトランジスタ
5.6はデータ出力端子OUTの負荷として小さな抵抗
や大きな容量が付いた場合でも十分に駆動できるように
、W/Lを大きくとっている。これに対し、PMOSト
ランジスタ7とNMOSトランジスタ8はデータ出力端
子OUTの負荷を駆動する目的で設けられたものではな
く、W/Lを小さくとっている. まずデータ入力端子Dに“0”が入力している場合は2
人力NANDゲート回路1の出力は“1”でPMOSト
ランジスタ3及び8は非導通状態、NMOSトランジス
タ6は導通状態となる.又、2人力NORゲート回路2
の出力は“1゛で、NMOSトランジスタ5及び7は導
通状態、PMOSトランジスタ4は非導通状態であり、
データ出力端子OUTには“O”が出力され回路は安定
している. ここでデータ入力端子Dのレベルが“0”から“1”に
、さらに“1″から“0”に変化したときの各部の動作
を第2図を参照して説明する。
FIG. 5 shows a second conventional example, which includes a two-man powered NAND gate circuit 100, a two-man powered NOR gate circuit 200, an inverter circuit 15, a PMOS transistor 40, an NM
This is more important than the OS transistor 60. VDD is the positive power supply, D is the data input terminal, C is the control signal input terminal, OU
T is the data output terminal. Now, control signal input terminal C
If “1” is input to the inverter circuit l
The output of 5 is "O n". Here, "1" is input to the data input terminal D, and the output of the two-man power NAND gate circuit 100 and the output of the two-man power NOR gate circuit 200 both become "O". , the PMOS transistor 40 is in a conductive state and the NMOS transistor 60 is in a non-conductive state, and "1" is input to the data output terminal OUT.Furthermore, when "O I1" is input to the data input terminal D, the two-man power NAN
The outputs of the D gate circuit 100 and the two-man power NOR gate circuit 200 are each "'1", the PMOS transistor 40 is in a non-conducting state, the NM○S transistor 60 is in a conducting state, and the data output terminal OUT is "O". is output. On the other hand, when "On" is input to the control signal input terminal C, the output of the inverter circuit 15 becomes "1", and the output of the inverter circuit 15 becomes "1", regardless of whether the data input terminal D is "1" or "O".
The output of the human-powered NAND gate circuit 100 is fixed to "1", the output of the two-human powered NOR gate circuit 200 is also fixed to "0", and P
Both MOS transistor 40 and NMOS transistor 60 become non-conductive. In this case, the level of the data output terminal OUT is neither "1n" nor "0'', but is high.
The structure is such that it assumes an impedance state. [
[Problems to be Solved by the Invention] In the conventional output buffer circuit described above, the buffer section is configured in the process in which the level of the data input terminal D changes from "1" to "MO" or from "II O" to "1". PM to do
There is a momentary state in which both the OS transistor 40 and the NMOS transistor 60 are conductive. Generally, in this type of output buffer circuit, the PMOS transistor 40 and NMOS transistor 60 in the output stage have a gate width of If W is W and the gate length of the transistor is L, the ratio of W to L (hereinafter referred to as W/L) is often set to be large. When both the PMOS transistor and the NMOS transistor, which have a large W/L, that is, a small equivalent resistance component in the conductive state, and the NMOS transistor become conductive at the same time, a large current flows from the positive power supply VDD toward the ground. This current causes a voltage drop determined by the resistance of the ground wiring between the positive power supply VDD and the other circuits on the same integrated circuit board. This has the disadvantage that the circuit may malfunction due to the negative effect it has on the circuit. The object of the present invention is to
The object of the present invention is to provide an output buffer circuit in which both OS transistors do not become conductive at the same time. [Means for Solving the Problems] The output buffer circuit of the present invention includes a first logic circuit having an input terminal and a first node as inputs, and a second logic circuit having the input terminal and a second node as inputs. a logic circuit; a MOS transistor of one conductivity type having a source-drain path connected between the first node and an output terminal and a gate connected to the output terminal of the first logic circuit; and a source-drain path connected to the output terminal; a reverse conductivity type MOS transistor connected between a terminal and the second node and having a gate connected to an output terminal of the second logic circuit;
a first CMOS circuit whose input is the output terminal of the second logic circuit and whose output terminal is connected to the first node;
and a second CMOS circuit whose input is the output terminal of the logic circuit and whose output terminal is connected to the second node. [Example] Next, the present invention will be explained with reference to the drawings. FIG. 1 is a circuit diagram for explaining the first embodiment of the present invention. The NAND gate circuit has the data input terminal D and the first node 347 as inputs, and its output terminal is connected to the gate of the PMOS transistor 3. The connected NOR gate circuit 2 has the data input terminal D and the second node 568 as inputs, and its output terminal is connected to the gate of the NMOS transistor 5.The PMOS transistor 3 has its source-drain path connected to the gate of the NMOS transistor 5. Data output terminal OtJT and first node 347
NMOS transistor 5 is connected between its source and
A drain path connects the data output terminal OUT and the second node 568
The PMOS transistor 4 has its source train path connected between VDD and the first node 347, and its gate is connected to the output terminal of the NOR gate circuit 2, and the NMOS transistor 6 has its source train connected between the VDD and the first node 347. - The drain path is connected between GND and the second node 568, and the gate is connected to the output end of the NAND gate circuit 1. Further, the NMOS transistor 7 has its source-drain path connected between GND and the first node 347, and its gate connected to the NOR
The PMOS transistor 8 has its source-drain path connected between VDD and the second node 568 and its gate connected to the output terminal of the NAND gate circuit 1.
It is connected to the output terminal of. Note that in these circuit configurations, one CMOS circuit is formed by the PMOS transistor 4 and the NMOS transistor, and another CMOS circuit is formed by the NMOS transistor 6 and the PMOS transistor 8.
An S circuit is formed. The PMOS transistors 3 and 4 and the NMOS transistors 5 and 6 have a large W/L so that they can be driven sufficiently even when a small resistance or a large capacitance is attached as a load to the data output terminal OUT. On the other hand, the PMOS transistor 7 and the NMOS transistor 8 are not provided for the purpose of driving the load of the data output terminal OUT, but have a small W/L. First, if “0” is input to data input terminal D, 2
When the output of the human-powered NAND gate circuit 1 is "1", the PMOS transistors 3 and 8 are in a non-conducting state, and the NMOS transistor 6 is in a conducting state. In addition, two-man power NOR gate circuit 2
The output of is "1", NMOS transistors 5 and 7 are in a conductive state, and PMOS transistor 4 is in a non-conductive state,
“O” is output to the data output terminal OUT, and the circuit is stable. Here, the operation of each part when the level of the data input terminal D changes from "0" to "1" and then from "1" to "0" will be explained with reference to FIG.

データ入力端子Dのレベルが“O”から“1”に変化す
ると、まず2人力NORゲート回路2の出力がわずかに
遅延して“1″から“O”に変化する.この変化に対応
して、NMOSトランジスタ5が非導通状態となり、更
に、CMOS回路を構成するNMOSトランジスタ7が
非導通状態、PMOS}−ランジスタ4が導通状態とな
って第lの節点347の電位がNORゲート回路2の出
力変化より遅延して“1”となる。次に、第1の節点3
47の電位変化に応答してNANDゲート回路1の出力
がさらに遅延して“O”から“1”へ変化し、PMOS
トランジスタ3が導通することになる.なおこれらの遅
延は、配線抵抗によるもの及びトランジスタのゲート容
量等により生ずるものである. これらの動作から明らかのように、PMOSトランジス
タ3のゲートに印加されるNANDゲート回路1の出力
変化と、NMOSトランジスタ5のゲートに印加される
NORゲート回路2の出力変化に時間差が生じ、両トラ
ンジスタ共に非導通状態となり、これらの期間は出力が
ハイ・インピーダンス状態となる.次に、2人力NAN
Dゲート回路1の出力が“0゛′になると、PMOSト
ランジスタ3は導通状態となりデータ出力端子OUTの
レベルを“1”に立上げる.この状態ではデータ出力端
子OU’r:からPMOSトランジスタ3及び4を介し
てVDDに対して直流的経路が存在し、出力データとし
て入力データと同相の信号“1”が得られる. 2人力NANDゲート回路1の出力“0”はまたNMO
Sトランジスタ6を非導通状態、PMOSトランジスタ
8を導通状態にするよう作用し、第2の節点568のレ
ベルを“1”とするが、既にデータ入力端子Dが“1”
であるため2人力NORゲート回路2の出力には影響を
与えない. 次にデータ出力端子のレベルが“1″から“O”に変化
すると、まず2人力NANDゲート回路1の出力がわず
かに遅延して“0”から“1”に変化し、PMOSトラ
ンジスタ3が非導通状態となる.次にCMOS回路を構
成するPMOSトランジスタ8が非導通状態、NMOS
トランジスタ6が導通状態となって第2の節点568の
電位が更に遅延しながら“O”となる。この第2の節点
568の変化に応答してNORゲート回路2の出力は更
に遅延して゜“O”から“1”へと変化する.従って、
NANDゲート回路1の出力変化とNORゲート回路2
の出力変化に時間差が生じ、PMOSトランジスタ3と
NMOSトランジスタ5が共に非導通状態すなわちハイ
・インピーダンス状態が生じる.次に、2人力NORゲ
ート回路2の出力が“1”になると、NMOSトランジ
スタ5は導通状態となりデータ出力端子OUTのレベル
を“O”に立下げる。この状態ではデータ出力端子OU
TからNMOSトランジスタ5及び6を介してグランド
に対して直流的経路が存在し、出力データとして入力デ
ータと同相の信号“O I+が得られる.2人力NOR
ゲート回路2の出力“1″はまたPMOSトランジスタ
4を非導通状態、NMOS}−ランジスタ7を導通状態
にするよう作用し、第1の節点347のレベルを“0”
とするが、既にデータ入力端子Dが“O”であるため2
人力NANDゲート回路1の出力には影響を与えない. 尚、PMOSトランジスタ8とNMOSトランジスタ7
はそれぞれ第2′の節点568及び第1の節点347の
レベルを確定させるためのみに用いられるもので、前述
のようにW/Lは小さく、導通電流は小さく、又、不必
要に集積回路基板上の面積を占有するものではない.ま
た、入力データ切換時にはハイ・インピーダンス制御を
遅延回路等の手段を用いることなく論理的に実現してい
るため、確実にハイ・インピーダンス状態をつくり出し
て正電源VDDからグランドへの大電流を防止でき、さ
らに不必要にハイ・インピーダンス期間を長くとりすぎ
ることなく高速に出力レベルを切換えることが可能であ
る. 第3図は本発明の第2の実施例を説明するための回路図
である.基本的な構戒は第1図と同様であるが、制御信
号入力端子Cとインバータ回路15が追加され、NAN
Dゲート回路10及びNORゲート回路20が3人力で
ある点が異なる.制御信号入力端子Cにレベルが゜“1
”のときはインバータ回路15の出力は“O”であり、
第3図は第1図と等価となって同様の動作をするが、制
御信号入力端子Cのレベルが゛0”のときはデータ入力
端子Dのレベルにかかわらず3人力NANDゲート回路
10の出力は“1″、3人力NORゲート回路20の出
力は“O″となりPMOSトランジスタ3及びNMOS
トランジスタ5が定常的に非導通となってデータ出力端
子OUTはハイ・インピーダンス状態に固定される。こ
のように出力バッファ回路を有効にするか否かを制御す
る制御信号の入力信号を備えた出力バツファ回路にも本
発明を適用することができる.〔発明の効果〕 以上説明したように本発明の出力バツファ回路は入力デ
ータの切換時に出力段のPMOSトランジスタとNMO
Sトランジスタの両方が同時に導通状態になることがな
いため、入力データ切換時に電源からグランドへ流れる
大電流によって同一集積回路基板上の他の回路の電源レ
ベル,グランドレベルを変動させることがない.従って
このレベル変動に起因する回路の誤動作を防止できる効
果がある.さらに本発明の出力バッファ回路は上記のハ
イ・インビーダソス制御を論理的に行なっているため出
力レベルを高速に切換えることができるという効果があ
る。
When the level of the data input terminal D changes from "O" to "1", the output of the two-manual NOR gate circuit 2 first changes from "1" to "O" with a slight delay. Corresponding to this change, the NMOS transistor 5 becomes non-conductive, the NMOS transistor 7 constituting the CMOS circuit becomes non-conductive, and the PMOS transistor 4 becomes conductive, so that the potential of the l-th node 347 increases. It becomes "1" with a delay from the change in the output of the NOR gate circuit 2. Next, the first node 3
In response to the change in the potential of PMOS 47, the output of NAND gate circuit 1 is further delayed and changes from "O" to "1".
Transistor 3 becomes conductive. Note that these delays are caused by wiring resistance, transistor gate capacitance, etc. As is clear from these operations, there is a time difference between the change in the output of the NAND gate circuit 1 applied to the gate of the PMOS transistor 3 and the change in the output of the NOR gate circuit 2 applied to the gate of the NMOS transistor 5, and both transistors Both are in a non-conducting state, and the output is in a high impedance state during these periods. Next, two-person NAN
When the output of the D gate circuit 1 becomes "0", the PMOS transistor 3 becomes conductive and raises the level of the data output terminal OUT to "1". In this state, the data output terminal OU'r: is connected to the PMOS transistor 3 and There is a direct current path to VDD via 4, and a signal ``1'' in phase with the input data is obtained as output data.The output ``0'' of the two-man power NAND gate circuit 1 is also NMO
It acts to make the S transistor 6 non-conductive and the PMOS transistor 8 conductive, and sets the level of the second node 568 to "1", but the data input terminal D has already been set to "1".
Therefore, it does not affect the output of the two-man powered NOR gate circuit 2. Next, when the level of the data output terminal changes from "1" to "O", the output of the two-man NAND gate circuit 1 changes from "0" to "1" with a slight delay, and the PMOS transistor 3 becomes non-operational. It becomes conductive. Next, the PMOS transistor 8 constituting the CMOS circuit is in a non-conducting state, and the NMOS
Transistor 6 becomes conductive, and the potential at second node 568 becomes "O" with further delay. In response to this change in the second node 568, the output of the NOR gate circuit 2 is further delayed and changes from "O" to "1". Therefore,
Changes in the output of NAND gate circuit 1 and NOR gate circuit 2
There is a time difference between the output changes of the PMOS transistor 3 and the NMOS transistor 5, and both the PMOS transistor 3 and the NMOS transistor 5 are in a non-conducting state, that is, a high impedance state. Next, when the output of the two-way NOR gate circuit 2 becomes "1", the NMOS transistor 5 becomes conductive and the level of the data output terminal OUT falls to "O". In this state, the data output terminal OU
There is a direct current path from T to the ground via NMOS transistors 5 and 6, and a signal "O I+" in phase with the input data is obtained as output data. Two-man power NOR
The output "1" of the gate circuit 2 also acts to make the PMOS transistor 4 non-conductive and the NMOS transistor 7 conductive, thereby setting the level of the first node 347 to "0".
However, since the data input terminal D is already “O”, 2
It does not affect the output of the human-powered NAND gate circuit 1. In addition, PMOS transistor 8 and NMOS transistor 7
are used only to determine the levels of the second node 568 and the first node 347, respectively, and as mentioned above, W/L is small, the conduction current is small, and the integrated circuit board is unnecessarily It does not occupy the area above. In addition, when switching input data, high impedance control is achieved logically without using means such as delay circuits, so a high impedance state is reliably created and large currents from the positive power supply VDD to ground can be prevented. Furthermore, it is possible to switch the output level quickly without taking an unnecessarily long high impedance period. FIG. 3 is a circuit diagram for explaining the second embodiment of the present invention. The basic structure is the same as that shown in Fig. 1, but a control signal input terminal C and an inverter circuit 15 are added, and a NAN
The difference is that the D gate circuit 10 and the NOR gate circuit 20 are powered by three people. The level at control signal input terminal C is ゜“1”
”, the output of the inverter circuit 15 is “O”,
FIG. 3 is equivalent to FIG. 1 and operates in the same way, but when the level of the control signal input terminal C is "0", the output of the three-man power NAND gate circuit 10 is independent of the level of the data input terminal D. is "1", and the output of the three-man power NOR gate circuit 20 is "O", and the PMOS transistor 3 and NMOS
Transistor 5 is constantly turned off, and data output terminal OUT is fixed in a high impedance state. In this way, the present invention can also be applied to an output buffer circuit provided with an input signal of a control signal that controls whether or not to enable the output buffer circuit. [Effects of the Invention] As explained above, the output buffer circuit of the present invention connects the PMOS transistor and NMO transistor in the output stage when switching input data.
Since both S transistors do not become conductive at the same time, the power level and ground level of other circuits on the same integrated circuit board will not fluctuate due to the large current flowing from the power supply to ground when input data is switched. Therefore, it has the effect of preventing circuit malfunctions caused by this level fluctuation. Furthermore, since the output buffer circuit of the present invention performs the above-mentioned high-impedance control logically, it has the advantage that the output level can be switched at high speed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の第1の実施例を説明するための回路図
、第2図は第1図を説明するための動作タイミング図、
第3図は本発明の第2の実施例を説明するための回路図
、第4図及び第5図はそれぞれ従来技術による出力バッ
ファの回路図である. 1,10.100・・・NANDゲート回路、2,20
.200・・・NORゲート回路、15.90・・・イ
ンバータ回路、3.4,8.40・・・PチャネルMO
Sトランジスタ、5,6,7.60・・・NチャネルM
OSトランジスタ、D・・・データ入力端子、OUT・
・・データ出力端子、C・・・制御信号入力端子、VD
D・・・正電源.
FIG. 1 is a circuit diagram for explaining the first embodiment of the present invention, FIG. 2 is an operation timing diagram for explaining FIG. 1,
FIG. 3 is a circuit diagram for explaining the second embodiment of the present invention, and FIGS. 4 and 5 are circuit diagrams of output buffers according to the prior art, respectively. 1,10.100...NAND gate circuit, 2,20
.. 200...NOR gate circuit, 15.90...Inverter circuit, 3.4, 8.40...P channel MO
S transistor, 5, 6, 7.60...N channel M
OS transistor, D...data input terminal, OUT/
...Data output terminal, C...Control signal input terminal, VD
D...Positive power supply.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、入力端子と第1ガ節点を入力とする第1の論理回路
と、前記入力端子と第2の節点を入力とする第2の論理
回路と、ソース・ドレイン路が前記第1の節点と出力端
子間に接続されゲートが前記第1の論理回路の出力端に
接続された一導電型MOSトランジスタと、ソース・ド
レイン路が前記出力端子と前記第2の節点間に接続され
ゲートが前記第2の論理回路の出力端に接続された逆導
電型MOSトランジスタと、前記第2の論理回路の出力
端を入力とし出力端が前記第1の節点に接続された第1
のCMOS回路と、前記第1の論理回路の出力端を入力
とし出力端が前記第2の節点に接続された第2のCMO
S回路とを有することを特徴とする出力バッファ回路。
1. A first logic circuit whose inputs are an input terminal and a first node; a second logic circuit whose inputs are the input terminal and a second node; and a source/drain path that is connected to the first node. a MOS transistor of one conductivity type connected between output terminals and having a gate connected to the output terminal of the first logic circuit; a source/drain path connected between the output terminal and the second node and having the gate connected to the first logic circuit; a reverse conductivity type MOS transistor connected to the output terminal of the second logic circuit; and a first MOS transistor whose input terminal is the output terminal of the second logic circuit and whose output terminal is connected to the first node.
a CMOS circuit, and a second CMOS circuit whose input is the output terminal of the first logic circuit and whose output terminal is connected to the second node.
An output buffer circuit comprising an S circuit.
JP1310105A 1989-11-28 1989-11-28 Output buffer circuit Expired - Lifetime JP2833073B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1310105A JP2833073B2 (en) 1989-11-28 1989-11-28 Output buffer circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1310105A JP2833073B2 (en) 1989-11-28 1989-11-28 Output buffer circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03169121A true JPH03169121A (en) 1991-07-22
JP2833073B2 JP2833073B2 (en) 1998-12-09

Family

ID=18001243

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1310105A Expired - Lifetime JP2833073B2 (en) 1989-11-28 1989-11-28 Output buffer circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2833073B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020507860A (en) * 2017-08-16 2020-03-12 華為技術有限公司Huawei Technologies Co.,Ltd. Voltage adjustment circuit

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020507860A (en) * 2017-08-16 2020-03-12 華為技術有限公司Huawei Technologies Co.,Ltd. Voltage adjustment circuit
US10984839B2 (en) 2017-08-16 2021-04-20 Huawei Technologies Co., Ltd. Voltage regulation circuit
US11120845B2 (en) 2017-08-16 2021-09-14 Huawei Technologies Co., Ltd. Voltage regulation circuit

Also Published As

Publication number Publication date
JP2833073B2 (en) 1998-12-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2616142B2 (en) Output circuit
US6480050B1 (en) Level shifter with no quiescent DC current flow
JP2748865B2 (en) Output circuit
JPH03192915A (en) Flip-flop
KR960702698A (en) Electronic circuits (CMOS input with Vcc compensated dynamic threshold)
JP2543248B2 (en) BiCMOS full swing drive circuit
JPH0677804A (en) Output circuit
JP2833073B2 (en) Output buffer circuit
JP3927312B2 (en) Input amplifier
JP3080718B2 (en) Output buffer circuit
JPH01159897A (en) Sense amplifier
JPH02123826A (en) Cmos inverter circuit
JPH05191258A (en) Cmos output circuit
JPS61214817A (en) Cmos integrated circuit
JP2982313B2 (en) Output buffer circuit
JPS6331219A (en) Output buffer circuit
JPH01272229A (en) Cmos input circuit
JP2636464B2 (en) Transfer gate circuit
CN116915235A (en) Level shifter circuit, corresponding apparatus and method
JPH0543211B2 (en)
JPH02254816A (en) Through-current prevention type output circuit
JP2002271184A (en) Interface circuit
JP2000101415A (en) Cmos buffer circuit
JPH0537345A (en) Semiconductor output buffer circuit
JPH0567956A (en) Converter circuit