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JPH02153583A - Wavelength stabilization control device - Google Patents

Wavelength stabilization control device

Info

Publication number
JPH02153583A
JPH02153583A JP30684988A JP30684988A JPH02153583A JP H02153583 A JPH02153583 A JP H02153583A JP 30684988 A JP30684988 A JP 30684988A JP 30684988 A JP30684988 A JP 30684988A JP H02153583 A JPH02153583 A JP H02153583A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image sensor
wavelength
interference fringes
control device
stabilization control
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP30684988A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideki Kita
喜多 秀樹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP30684988A priority Critical patent/JPH02153583A/en
Publication of JPH02153583A publication Critical patent/JPH02153583A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/13Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude
    • H01S3/136Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling devices placed within the cavity
    • H01S3/137Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling devices placed within the cavity for stabilising of frequency

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、半導体製造プロセスにおけるリソグラフィ
ー(LSIのパターン露光)などの光源として使用され
る、狭帯化(波長選択)されたエキシマレーザのレーザ
発振装置の波長安定化制御装置に関するものである。
Detailed Description of the Invention [Field of Industrial Application] The present invention relates to a narrow band (wavelength selective) excimer laser used as a light source for lithography (LSI pattern exposure) in semiconductor manufacturing processes. The present invention relates to a wavelength stabilization control device for an oscillation device.

特に、2次元に配置された複数のりニアイメージセンサ
によって、光の干渉縞(フリンジ)の直径を正確に求め
ることができるので、光軸のズレを容易に補正すること
ができる等の長所を有するレーザ発振装置の波長安定化
制御装置に関するものである。
In particular, it has the advantage of being able to accurately determine the diameter of light interference fringes (fringes) by using multiple linear image sensors arranged two-dimensionally, making it easy to correct misalignment of the optical axis. The present invention relates to a wavelength stabilization control device for a laser oscillation device.

[従来の技術] 従来例の構成を第4図及び第5図を参照しながら説明す
る。第4図は、例えばr  IEEEJ ournal
 Quantum E 1ectricsJQE−14
(1978)17頁に示された従来の波長安定化制御装
置を示すブロック図であり、第5図は、従来の波長安定
化制御装置の撮像素子(7)を示す平面図である。
[Prior Art] The configuration of a conventional example will be described with reference to FIGS. 4 and 5. FIG. 4 shows, for example, r IEEE J internal
Quantum E 1electricsJQE-14
(1978), page 17, and FIG. 5 is a plan view showing an image sensor (7) of the conventional wavelength stabilization control device.

第4図において、従来の波長安定化制御装置は、レーザ
発振装置(1)から出力されたレーザ光の光軸上に設け
られたビームスプリッタ−(3)と、このビームスプリ
ッタ−(3)の直角方向の光軸上に設けられた散乱板(
4)と、この散乱板(4)の出口側に設けられたファブ
リペローエタロン(5)と、このファブリペローエタロ
ン(5)の出口側に設けられた凸レンズ(6)と、この
凸レンズ(6)の透過側に設けられた撮像素子(7)と
、この撮像素子(7)に接続された画像処理部(8)と
、この画像処理部(8)に入力側が接続されかつファブ
リペローエタロン(2)に出力側が接続されたサーボ機
構(9)とから構成されている。
In FIG. 4, the conventional wavelength stabilization control device includes a beam splitter (3) provided on the optical axis of the laser beam output from the laser oscillation device (1), and a beam splitter (3) installed on the optical axis of the laser beam output from the laser oscillation device (1). A scattering plate (
4), a Fabry-Perot etalon (5) provided on the exit side of this scattering plate (4), a convex lens (6) provided on the exit side of this Fabry-Perot etalon (5), and this convex lens (6). an image sensor (7) provided on the transmission side of the image sensor (7), an image processing section (8) connected to the image sensor (7), and an input side connected to the image processing section (8) and a Fabry-Perot etalon (2). ) and a servo mechanism (9) whose output side is connected to the servo mechanism (9).

なお、レーザ発振装置(1)は、レーザ発振器(1a)
と、このレーザ発振器(1a)の両側に配置された全反
射ミラー(1b)及び部分反射ミラー(出力ミラー)(
lc)と、レーザ発振器(1a)と部分反射ミラー(l
c)の間に配置された波長選択素子例えばファブリペロ
ーエタロン(2)とから構成されている。
Note that the laser oscillation device (1) is a laser oscillator (1a)
and a total reflection mirror (1b) and a partial reflection mirror (output mirror) placed on both sides of this laser oscillator (1a) (
lc), a laser oscillator (1a), and a partially reflecting mirror (l
c), for example, a Fabry-Perot etalon (2).

第5図において、撮像素子(7)は、1次元のイメージ
センサであるリニアイメージセンサ(7□)から構成さ
れている。このリニアイメージセンサ(71)は長辺方
向がX軸方向に沿うように配置されている。
In FIG. 5, the image sensor (7) is composed of a linear image sensor (7□) which is a one-dimensional image sensor. This linear image sensor (71) is arranged so that the long side direction is along the X-axis direction.

つぎに、上述した従来例の動作を第5図及び第6図を参
照しながら説明する。第6図は、従来の波長安定化制御
装置により得られた干渉縞の強度分布を示す波形図であ
る。
Next, the operation of the above-mentioned conventional example will be explained with reference to FIGS. 5 and 6. FIG. 6 is a waveform diagram showing the intensity distribution of interference fringes obtained by a conventional wavelength stabilization control device.

レーザ発振装置(1)から出力されたレーザ光の波長は
、光共振器の長さを変えることによって、すなわち、波
長選択素子であるファブリペローエタロン(2)のギャ
ップを変えることによって選択することができる。
The wavelength of the laser beam output from the laser oscillation device (1) can be selected by changing the length of the optical resonator, that is, by changing the gap of the Fabry-Perot etalon (2), which is a wavelength selection element. can.

まず、レーザ発振装置(1)から出力されたレーザ光の
一部が、ビームスプリッタ−〈3)によって取り出され
、散乱板(4)によって散乱されて、ファブリペローエ
タロン(5)によって分光される。
First, a part of the laser beam output from the laser oscillation device (1) is taken out by the beam splitter (3), scattered by the scattering plate (4), and separated by the Fabry-Perot etalon (5).

このファブリペローエタロン(5)を透過することがで
きる光の中心波長λmの条件は、λm= (2n d 
cosθm>/m   −・・  ■(たタシ、n:フ
ァブリペローエタロン(2)のギャップ内の屈折率、d
:ファブリペローエタロン(2)のギャップ、θIll
:ファブリペローエタロン(2)に対する入射角、II
:任意の整数)である。
The condition for the center wavelength λm of light that can pass through this Fabry-Perot etalon (5) is λm = (2n d
cos θm>/m −... ■(tatashi, n: refractive index within the gap of Fabry-Perot etalon (2), d
: Gap of Fabry-Perot etalon (2), θIll
: Incident angle to Fabry-Perot etalon (2), II
: any integer).

上記条件式■を満たす波長の光だけが、光軸に垂直な面
上に、同心状の干渉縞を発生することになる。この干渉
縞は、凸レンズ(6)によって集光されて、撮像素子(
7)上に導かれる。
Only light with a wavelength that satisfies the above condition (2) will generate concentric interference fringes on a plane perpendicular to the optical axis. The interference fringes are condensed by a convex lens (6) and placed on the image sensor (
7) Be guided upwards.

第6図の実線で示すように、干渉縞の強度分布が、画像
処理部(8)の演算処理によって得られる。
As shown by the solid line in FIG. 6, the intensity distribution of interference fringes is obtained by the arithmetic processing of the image processing section (8).

干渉縞の1つの直径Dmは、 Dm=2fθ…     ・・・ ■ (ただし、f:凸レンズ(6)と撮像素子(7)との間
の距離、θm= areaos(mλm/2 n d)
)から求めることができる。
The diameter Dm of one of the interference fringes is Dm=2fθ... ■ (where f: distance between the convex lens (6) and the image sensor (7), θm=areaos(mλm/2 n d)
).

したがって、第5図及び第6図の点線で示すように、干
渉縞の光軸すなわち中心波長λ輪がズレると、第5図で
示すように、求める直径がDmからDa’ (Dm’ 
<Da)に変化し、正確な直径Dmが求められなくなる
Therefore, as shown by the dotted lines in FIGS. 5 and 6, if the optical axis of the interference fringes, that is, the center wavelength λ ring shifts, the required diameter will change from Dm to Da'(Dm'
<Da), and an accurate diameter Dm cannot be determined.

この直径DI11を表わす信号が、サーボ機1(9)に
フィードバックされ、光共振器の長さすなわちファブリ
ペローエタロン(2)のギャップがサーボi構く9)に
よって制御調節される。すなわち、0式より、レーザ光
の波長λ翔が長いと、干渉縞の直径DIIlが小さくな
り、波長λ輪が短いと、直径D−が大きくなる 従来の波長安定化制御装置は、上述したように1次元の
リニアイメージセンサを使用し、位相検波を利用した制
御を行っている。
A signal representing this diameter DI11 is fed back to the servo machine 1 (9), and the length of the optical resonator, that is, the gap of the Fabry-Perot etalon (2), is controlled and adjusted by the servo machine 1 (9). In other words, from Equation 0, when the wavelength λ of the laser beam is long, the diameter DIIl of the interference fringe becomes small, and when the wavelength λ ring is short, the diameter D- becomes large. A one-dimensional linear image sensor is used for control using phase detection.

[発明が解決しようとする課題] 上述したような従来の波長安定化制御装置では、撮像素
子として1次元のイメージセンサを使用しているので、
撮像素子を干渉縞の光軸上に正確に配置するように調節
しなければならないという問題点があった。
[Problems to be Solved by the Invention] In the conventional wavelength stabilization control device as described above, a one-dimensional image sensor is used as an image sensor.
There was a problem in that the image sensor had to be adjusted so as to be placed accurately on the optical axis of the interference fringes.

また、熱や振動などにより撮像素子と干渉縞の光軸がズ
しても、補正をすることができないという問題点があっ
た。
Furthermore, even if the optical axes of the image sensor and the interference fringes are misaligned due to heat, vibration, etc., there is a problem that correction cannot be made.

この発明は、上述した問題点を解決するためになされた
もので、撮像素子を干渉縞の光軸上に配置するように調
節することが容易になり、撮像素子と干渉縞の光軸のズ
レを補正することができる波長安定化制御装置を得るこ
とを目的とする。
This invention was made in order to solve the above-mentioned problems, and it becomes easy to adjust the imaging device so that it is placed on the optical axis of the interference fringes, so that the optical axis of the imaging device and the interference fringes are misaligned. The object of the present invention is to obtain a wavelength stabilization control device capable of correcting.

[課題を解決するための手段] この発明に係る波長安定化制御装置は、以下に述べるよ
うな手段を備えたものである。
[Means for Solving the Problems] A wavelength stabilization control device according to the present invention includes the following means.

(i)、レーザ光の一部を散乱し分光して集光する光学
手段。
(i) Optical means for scattering a part of the laser beam, separating it into spectra, and condensing the beam.

(ii)、上記集光された光の干渉縞を2次元的に撮像
する撮像素子。
(ii) An imaging device that two-dimensionally images the interference fringes of the focused light.

(ii)、上記2次元的に撮像された干渉縞の像を演算
処理してその干渉縞の位置を求める画像処理部。
(ii) An image processing unit that calculates the position of the interference fringe by processing the two-dimensionally captured image of the interference fringe.

(iv)、上記求めた干渉縞の位置に基づいて上記レー
ザ光の波長を選択する波長選択素子を制御するサーボ機
構。
(iv) a servo mechanism that controls a wavelength selection element that selects the wavelength of the laser beam based on the determined position of the interference fringes;

[作用] この発明においては、撮像素子によって、集光された光
の干渉縞が2次元的に撮像される。
[Operation] In the present invention, the interference fringes of the focused light are two-dimensionally imaged by the imaging device.

つづいて、画像処理部によって、上記2次元的に撮像さ
れた干渉縞の像が演算処理されて、その干渉縞の位置が
求められる。
Subsequently, the image processing section performs arithmetic processing on the two-dimensionally captured interference fringe image to determine the position of the interference fringe.

そして、サーボ機構によって、上記求めた干渉縞の位置
に基づいて、レーザ光の波長を選択する波長選択素子が
制御される。
Then, a wavelength selection element that selects the wavelength of the laser beam is controlled by the servo mechanism based on the position of the interference fringes determined above.

[実施例] 2つの実施例、すなわち第1実施例及び第2実施例につ
いて説明する。
[Example] Two examples, namely a first example and a second example, will be described.

最初に、第1実施例の構成を第1図及び第2図を参照し
ながら説明する。第1図は、この発明の第1実施例を示
すブロック図であり、撮像素子(7^)以外は上記従来
装置のものと全く同一である。
First, the configuration of the first embodiment will be explained with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention, which is completely the same as the conventional device described above except for the image sensor (7^).

また、第2図は、この発明の第1実施例の撮像素子(7
^)を示す平面図である。
Further, FIG. 2 shows an image sensor (7) of the first embodiment of the present invention.
^) is a plan view showing.

第1図において、この発明の第1実施例は、上述した従
来装置のものと全く同一のものと、凸レンズ(6)の透
過側に設けられた撮像素子(7^)とから構成されてい
る。
In FIG. 1, the first embodiment of the present invention consists of the same components as those of the conventional device described above, and an image sensor (7^) provided on the transmission side of the convex lens (6). .

ここで、この発明の光学手段は、ビームスプリッタ−(
3)と、散乱板く4)と、ファブリペローエタロン(5
)と、凸レンズ(6)とから構成されている。
Here, the optical means of the present invention includes a beam splitter (
3), scattering plate 4), and Fabry-Perot etalon (5)
) and a convex lens (6).

第2図において、撮像素子(7^)は、3つのリニアイ
メージセンサ(7a)、(7b)及び(7c)から構成
されている。これらのリニアイメージセンサ(7a)、
(7b)及び(7c)は、凸レンズ(6)から距離(f
)だけ離れ光軸に垂直な面内に配置され、リニアイメー
ジセンサ(7a)は長辺方向がy軸方向に沿うように配
置され、リニアイメージセンサ(7b)及び(7C)は
同様に長辺方向がそれぞれ=×軸及び+X軸方向に沿う
ように配置されている。
In FIG. 2, the image sensor (7^) is composed of three linear image sensors (7a), (7b), and (7c). These linear image sensors (7a),
(7b) and (7c) are the distance (f) from the convex lens (6).
) are arranged in a plane perpendicular to the optical axis, and the linear image sensor (7a) is arranged with its long side along the y-axis direction, and the linear image sensors (7b) and (7C) are arranged with their long sides along the y-axis direction. The directions are arranged along the =x-axis and +X-axis directions, respectively.

つぎに、上述した第1実施例の動作を第2図を参照しな
がら説明する。
Next, the operation of the first embodiment described above will be explained with reference to FIG.

第2図で示すように、1つの干渉縞が3つのリニアイメ
ージセンサ(7a)、(7b)及び(7C)上につくる
光の強度のピーク位置をA(0,y+>、B (X2,
0>、C(X3,0)とすると、この干渉縞の中心(a
、b)は、(a、b)=((x2+xs)/2. (y
+’+xzx+)/2y+1と表され、また直径りは、 o =I ((xz’+y12)(xi”+y+”))
/yと表される。
As shown in Fig. 2, the peak positions of the light intensity produced by one interference fringe on the three linear image sensors (7a), (7b) and (7C) are A (0, y+>, B (X2,
0>, C(X3,0), the center of this interference fringe (a
, b) is (a, b) = ((x2+xs)/2. (y
+'+xzx+)/2y+1, and the diameter is o = I ((xz'+y12)(xi"+y+"))
/y.

したがって、干渉縞の円の中心がx軸上にない場合でも
、その直径を正確に知ることができる。
Therefore, even if the center of the circle of interference fringes is not on the x-axis, its diameter can be accurately determined.

サーボ機f11(9)は、上述した直径りと、初期に設
定した値とを比較してファブリペローエタロン(2)を
制御する。
The servo machine f11 (9) controls the Fabry-Perot etalon (2) by comparing the above-mentioned diameter with an initially set value.

上述したこの発明の第1実施例は、2次元的に配置され
た3つのリニアイメージセンサ(7a)、(7b)及び
(7c)を使用したので、光軸がズしても、干渉縞の中
心及び直径を求めることができるので、波長を長時間安
定に制御することができる。
The first embodiment of the present invention described above uses three linear image sensors (7a), (7b), and (7c) arranged two-dimensionally, so even if the optical axis is shifted, interference fringes will not be generated. Since the center and diameter can be determined, the wavelength can be stably controlled over a long period of time.

また、光軸ズレや面ぶれを補正できるので、撮像素子で
あるリニアイメージセンサ()a)、(7b)及び(7
c)の取り付は精度の許容範囲が大きくなり、工作が容
易になる他、部品加工が安価で済む。
In addition, since optical axis deviation and surface blur can be corrected, linear image sensors () a), (7 b) and (7
Mounting c) has a wider tolerance for accuracy, facilitates machining, and allows parts to be processed at lower cost.

第2番目に、この発明の第2実施例の構成及び動作を第
3図を参照しながら説明する。第3図は、この発明の第
2実施例の撮像素子(7B)を示す平面図である。
Second, the configuration and operation of the second embodiment of the present invention will be explained with reference to FIG. FIG. 3 is a plan view showing an image sensor (7B) according to a second embodiment of the invention.

この発明の第2実施例は、上述した第1実施例のうち撮
像素子(7^)の代わりに、撮像素子(7B)から構成
されている。
The second embodiment of the present invention includes an image sensor (7B) instead of the image sensor (7^) in the first embodiment described above.

第3図において、撮像素子(7B)は、6つのリニアイ
メージセンサ(7d)、(7e)、(7f)、(7g)
、(7h)及び(71)から構成されている。これらの
リニアイメージセンサ(7d)、(7e)、(7r)、
(7g)、(7h)及び(71)は、凸レンズ(6)か
ら距離(f)だけ離れた面内に配置され、リニアイメー
ジセンサ(7d)は長辺方向が+x軸方向に沿うように
配置され、他のリニアイメージセンサ(7e)、(7f
)、(7g)、(7h)及び(71)は、リニアイメー
ジセンサ(7d)を基点にして同一面内に60度毎に配
置されている。
In FIG. 3, the image sensor (7B) includes six linear image sensors (7d), (7e), (7f), (7g).
, (7h) and (71). These linear image sensors (7d), (7e), (7r),
(7g), (7h), and (71) are arranged in a plane separated by a distance (f) from the convex lens (6), and the linear image sensor (7d) is arranged so that the long side direction is along the +x axis direction. and other linear image sensors (7e), (7f
), (7g), (7h), and (71) are arranged every 60 degrees in the same plane with the linear image sensor (7d) as the base point.

したがって、干渉縞の位置に間するデータが6点得られ
るならば、センサ面が光軸に対して垂直でない場合でも
光軸ズレや面ぶれを補正できる。
Therefore, if six data points between the positions of the interference fringes can be obtained, optical axis deviation and surface wobbling can be corrected even when the sensor surface is not perpendicular to the optical axis.

なお、上記第1及び第2実施例では、干渉縞の位置が所
定の半径(r)以内にあることを条件にして、光軸位置
に関する警報を出すこともできる。
In the first and second embodiments described above, it is also possible to issue a warning regarding the optical axis position on the condition that the position of the interference fringes is within a predetermined radius (r).

また、上記実施例では1次元のリニアイメージセンサを
複数配置して2次元の撮像素子を構成したが、例えばC
CD等の2次元の撮像素子を使用しても所期の目的を達
成し得ることはいうまでもない。
Further, in the above embodiment, a plurality of one-dimensional linear image sensors are arranged to constitute a two-dimensional image sensor, but for example, C
It goes without saying that the intended purpose can be achieved even if a two-dimensional imaging device such as a CD is used.

[発明の効果] この発明は、以上説明したとおり、レーザ光の一部を散
乱し分光して集光する光学手段と、上記集光された光の
干渉縞を2次元的に撮像する撮像素子と、上記2次元的
に撮像された干渉縞の像を演算処理してその干渉縞の位
置を求める画像処理部と、上記求めた干渉縞の位置に基
づいて上記レーザ光の波長を選択する波長選択素子を制
御するサーボ機構とを備えたので、撮像素子を干渉縞の
光軸上に配置するように調節することが容易になり、撮
像素子と干渉縞の光軸のズレを補正することができると
いう効果を奏する。
[Effects of the Invention] As explained above, the present invention includes an optical means that scatters a part of laser light, separates it, and focuses it, and an imaging device that two-dimensionally images the interference fringes of the focused light. an image processing unit that calculates the position of the interference fringe by processing the two-dimensionally captured interference fringe image; and a wavelength that selects the wavelength of the laser beam based on the determined position of the interference fringe. Since it is equipped with a servo mechanism that controls the selection element, it is easy to adjust the image sensor to be placed on the optical axis of the interference fringes, and it is possible to correct misalignment between the optical axis of the image sensor and the interference fringes. It has the effect of being able to do it.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明の第1実施例を示すブロック図、第2
図はこの発明の第1実施例の撮像素子を示す平面図、第
3図はこの発明の第2実施例の撮像素子を示す平面図、
第4図は従来の波長安定化制御装置を示すブロック図、
第5図は従来の波長安定化制御装置の撮像素子を示す平
面図、第6図は従来の波長安定(ヒ制御装置により得ら
れた干渉縞の強度分布を示す波形図である。 図において、 (1)・・・ レーザ発振装置、 (2)・・・ ファブリペローエタロン(波長選択素子
)、 (3・・・ (4・・・ 5   ・・・ 6   ・・・ 7Δ   ・・・ 8   ・・・ 9   ・・・ なお、 を示す。 ビームスプリッタ− 散乱板、 ファブリペローエタロン、 凸レンズ、 撮像素子、 画像処理部、 サーボ機構である。 各図中、同一符号は同一、又は相当部分:−ミ、二ご−
ユ一二)す 元3図 不5図 Dm  < Dm 釈G″函・璽
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention, and FIG.
The figure is a plan view showing an image sensor according to a first embodiment of the invention, and FIG. 3 is a plan view showing an image sensor according to a second embodiment of the invention.
FIG. 4 is a block diagram showing a conventional wavelength stabilization control device.
FIG. 5 is a plan view showing an image sensor of a conventional wavelength stabilization control device, and FIG. 6 is a waveform diagram showing the intensity distribution of interference fringes obtained by a conventional wavelength stabilization control device. (1)... Laser oscillation device, (2)... Fabry-Perot etalon (wavelength selection element), (3... (4... 5... 6... 7Δ... 8...・ 9 ... In addition, is shown. Beam splitter scattering plate, Fabry-Perot etalon, convex lens, image sensor, image processing section, servo mechanism. In each figure, the same reference numerals are the same or equivalent parts: - Mi, Two
Yu 12) Source 3 Figure Not 5 Figure Dm < Dm Interpretation G'' Box/Seal

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] レーザ光の一部を散乱し分光して集光する光学手段、上
記集光された光の干渉縞を2次元的に撮像する撮像素子
、上記2次元的に撮像された干渉縞の像を演算処理して
その干渉縞の位置を求める画像処理部、及び上記求めた
干渉縞の位置に基づいて上記レーザ光の波長を選択する
波長選択素子を制御するサーボ機構を備えたことを特徴
とする波長安定化制御装置。
An optical means that scatters a part of the laser beam, separates it, and focuses it, an image sensor that two-dimensionally images the interference fringes of the focused light, and calculates an image of the two-dimensionally imaged interference fringes. A wavelength characterized by comprising: an image processing unit that processes the interference fringe to determine the position of the interference fringe; and a servo mechanism that controls a wavelength selection element that selects the wavelength of the laser beam based on the determined position of the interference fringe. Stabilization control device.
JP30684988A 1988-12-06 1988-12-06 Wavelength stabilization control device Pending JPH02153583A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30684988A JPH02153583A (en) 1988-12-06 1988-12-06 Wavelength stabilization control device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30684988A JPH02153583A (en) 1988-12-06 1988-12-06 Wavelength stabilization control device

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