JPH01284812A - 一眼レフレックスカメラ用測距装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （発明の利用分野） 本発明は、主ミラー（クリックリターンミラー）の一部
を透過し、副ミラーを介して測距センサ上に入射した光
束より測距を行う一眼レフレックスカメラ用測距装置に
関するものである。

（発明の背景） 従来より、この種の光学系を備えた一眼レフレックスカ
メラは各社より市販されている。しかし、これらはいず
れも精密に調整された一枚の副ミラーを用いてクリック
リターンミラーの中央部を透過した光束を測距センサ（
ＡＦセンサ）へ導く構成となっているため、画面中央の
ごく一部のパターンに対してしか測距（焦点検出）が出
来ないという欠点があった０本来撮影画面はその作画意
図を表現、確認するものであり、この様に中央しか測距
出来ない（焦点が合わない）と言う事は、撮影時に、フ
レーミング以前にプリフォーカス等の準備を必要として
不便なものであり、又その準備行為の手数の為にややも
すると肝心なフレーミングをおろそかにしがちであった
。

上記対策として従来より前記副ミラーを工夫して画面中
央以外の測距をも可能とする試みがなされてきていると
思われるが、撮影時には前記副ミラーを速やかに撮影光
路外に退避させなければならない等、光学的精密さが要
求されるこの種の光学系においてはこれを実現するには
非常に困難を伴い、今だこれを実現可能とする提案はな
されていないのが現状であった。

（発明の目的） 本発明の目的は、簡単な構成により、多点測距を行うこ
とのできる一眼レフレックスカメラ用測距装置を提供す
ることである。

本発明の他の目的は、簡単な構成により、多点測距を可
能とすると共に、副ミラーの位置が適正か否かの確認が
行え、更にその位置誤差を自動的に校正することのでき
る一眼レフシックカメラ用測距装置を提供することであ
る。

（発明の特徴） 上記目的を達成するために、本発明は、副ミラーを、撮
影画面内を複数の測距視野に分割する複数の反射部にて
構成し、該複数の反射部のそれぞれの反射部よりの測距
光束が測距センサ上の所定位置へ入射するように偏向す
る偏向手段を設け、以て、前記偏向手段による偏向制御
により、撮影画面内における測距視野選択を行うように
したことを特徴とする。

また、副ミラーと一体的に構成され、光信号を発生する
光信号発生手段と、該光信号発生手段よりの光信号より
前記副ミラーの現在位置を検出する位置検出手段とを設
け、以て、前記副ミラーの現在位置の確認を行うように
したことを特徴とする。

さらに、副ミラーと一体的に構成され、光信号を発生す
る光信号発生手段と、該光信号発生手段よりの光信号よ
り前記副ミラーの現在位置を検出する位置検出手段と、
該位置検出手段よりの位置情報と基準位置情報とを比較
し、その誤差情報に基づいて偏向手段の微調を行う微調
手段とを設け、以て、前記副ミラーの現在位置の確認を
行い、基準位置よりの該副ミラーの位置誤差を偏向手段
の偏向微調により校正するようにしたことを特徴とする
。

（発明の実施例） 第１〜３図は本発明の一実施例である測距光学系を示す
図であり、第１図は側面から、第２図は上面から、それ
ぞれ見た図である。又第３図は副ミラーの正面、側面及
び下面よりそれぞれ見た図である。上記各図において、
公知のクイックリターンミラーｌはヒンジ２を軸として
ミラー受板３と共に撮影時にはアップ（点線にて示す状
態）、測距時（観察時）にはダウンさせられる。

ミラー受板３は３−１．３−２（第１図参照）及び３−
３．３−４（第２図参照）に示す開口部を有しており、
この開口部を通してクイックリターンミラー１を透過し
た光束が副ミラー４に入射する。

副ミラー４は、中央測距点となる反射部４ａ、上方測距
点となる反射部４ｂ、下方測距点となる反射部４ｃ、右
測距点となる反射部４ｄ、左測距点となる反射部４ｅの
合計５つの反射面（撮影画面の異なる測距点となる部分
）をもち、第３図等から分かる様に全体で凹の球面状の
ミラーを成し、ミラー受板３の裏面に設けられたヒンジ
５に回動可能に軸支されている。前記副ミラー４で反射
された光束は、該プリズムによる色等の収差が殆ど測距
に影響しないような略−次結像面に配置された可変頂角
プリズム６を介して測距センサ７へ導かれる。可変頂角
プリズム６は上面ガラス６ａと下面ガラス６ｂ及びこの
間に注入された液体又はシリコン等の粘弾性体から成り
、前記上面ガラス６ａの傾きが２次元的に制御されて前
記副ミラー４のいずれか一つの反射部（測距点）よりの
光束を前記測距センサ７へ導くことになる。

反射部材８は光源９及び投光レンズ１０と共に前記副ミ
ラー４のダウン位置のずれを補正するためのもの、つま
り副ミラー４を多面ミラーとした場合、該副ミラー４自
身が回動するばかりでなく、該副ミラー４は回動せられ
るクリックリターンミラー１に軸支されるものである為
、経時的にそのダウン位置における所定の角度の確保が
難しく、それを補正するためのものであり、前記副ミラ
ー４と一体的に、且つ設計的に水平な形で構成されてい
る。又第１．２図中、１１はフィルム面相当面、１２は
露光制御用のシャッタ部、１３は撮影光軸、１４は公知
の焦点板面である。

上記測距光学系において、画面中央の測距時には、反射
部４ａに写った像を測距センサ７に導くために、可変頂
角プリズム６は左右方向に水平で、前後方向に関して後
方が約２０”持ち上がった角度に制御される。画面上方
測距時には、反射部４ｂに写った像を測距センサ７に導
くために、可変頂角プリズム６は左右方向に水平で、前
後方向に関して後方が約３５°持ち上がった角度に制御
される。画面右方測距時には、反射部４ｅに写った像を
測距センサ７に導くために、可変頂角プリズム６は左右
方向に関して左が約２０’持ち上がった角度で、前後方
向に関しては後方が約２０°持ち上がった角度に制御さ
れる。画面下方測距時には、反射部４ｃに写った像を測
距センサ７に導くために、可変頂角プリズム６は左右方
向及び前後方向共に水平状態に制御される。画面左方測
距時には、反射部４ｄに写った像を測距センサ７に導く
ために、可変頂角プリズム６は左右方向に関して右が約
２０”持ち上がった角度で、前後方向に関して後方が約
２０”持ち上がったような角度に制御される。

以上が測距光路選択時に行われる制御であるが、これの
みでは前述したように副ミラー４の位置ずれに対する補
正は十分ではない。すなわち、例えば副ミラー４が１°
下方へ偏向すると、フィルム面上の同一位置に向かう光
は該副ミラー４で反射されると２°傾くことになる。こ
のために可変頂角プリズム６を通して見ている測距セン
サ７はその見る角度が２″狂ったことになり、正しい測
距（焦点検出）が出来なくなる。

そこで本実施例では、反射部材８、光源９及び投光レン
ズ１０を用いて副ミラー４の偏向角度を検出し、可変頂
角プリズム６の角度を変えることでその補正（以下校正
と記す）を行うようにしている。上述例では、可変頂角
プリズム６の角度を２″校正することで副ミラー４の偏
向補正とし、測距センサ７がレンズを見る角度を設計値
に合せている。なお、この際測距センサ７のフィルム面
との関係は、上下に約０．５ｍｍ、ピントで約０．０１
ｍｍずれる事になる。本件ではこの上下方向のずれは測
距範囲に比べ小さく、選択する多点測距間の距離に比べ
て小さいために無視し、一方ピントずれは設計時にＲＯ
Ｍ内に記憶させている「角度ずれ対ピントずれ」のデー
タに基づいて測距値を補正してＡＰ調節を行うようにし
ている。

第４図は前述した各種制御を実行するための回路構成の
一例を示すものであり、該図において、２１は測距セン
サ７よりの信号を光電変換して測距情報を算出すると共
に、校正用の前記光源９の副ミラー４よりの反射光の光
電変換情報（像信号）を出力する測距回路、２２はフィ
ルム交換時、電池交換時或は使用者の意図的な操作によ
りオンする、副ミラー４の自動校正用のスイッチ、２３
は前記光源９の駆動する光源駆動回路、２４はとの測距
域（測距点）が選択されたかの測距域位置信号を発生す
る信号発生回路、２５は装着されているレンズの焦点距
離情報を出力する焦点距離情報発生回路、２６は射出瞳
までの基準距離として１５０＋ｎｍなる情報を発生する
基準距離情報発生回路、２７は加算回路、２８は前記ス
イッチ２２のオンオフに反比例した状態に切り換わるス
イッチ、２９はＡＦ駆動回路、３０は像信号のピーク位
置（画素位置）を検出するピーク位置検出回路、３１は
測距センサ７を成す画素列方向の中央画素位置を示す情
報を発生する中央画素位置情報発生回路、３２はアップ
ダウンカウンタ、３３は比較回路、３４は光量検出回路
、３５は光量検出回路３４よりの信号のピーク時を検出
するピーク検出回路、３６は信号ラインａがハイレベル
になることにより前記アップダウンカウンタ３２及びピ
ーク検出回路３５と共に動作を開始する鋸波発生回路、
３７はラッチ回路、３８〜４２はアンドゲート、４３は
先すぼまり可算出回路、４４は反転増幅回路、４５は前
記アンドゲート４２の出力に従って切り換わるスイッチ
、４６は各種データを保持しているＲＯＭ、４８．４９
は加算回路、５０．５１はダイオード、５２はプルダウ
ン抵抗、５３．５４は可変頂角プリズム６の角度を上下
左右に変更するための駆動部、５５．５６はアンドゲー
ト３８，３９よりハイレベルが出力されることに伴って
オンするスイッチである。

次に動作について説明する。尚この実施例では、副ミラ
ー４の校正時にはアンドゲート４０〜４２の各出力は“
０”　′０“Ｏ”となり、また非校正時における中央測
距時には“１”１”“Ｏ”又は“１”１”１”、上方測
距時には“１“０”１”、下方測距時には“１”“Ｏ“
０”、左方測距時には“Ｏ”１″“Ｏ”、右方測距時に
は“０”１”１”となるような信号が信号発生回路２４
（この構成については後述する）に発生し、該非校正時
の各信号はＲＯＭ４６の上位アドレスとして与えられる
。

この信号を受けるＲＯＭ４６は上位アドレスより「５点
の測距域＋１つの校正域」の計６つの内のいずれかを選
択し、可変頂角プリズム６の左右方向の角度設定情報、
前後方向の角度設定情報及び選択された測距域（＝反射
部）と校正偏向によるピントのずれ量信号を出力する。

又校正情報はＲＯＭ４６の下位アドレスとして与えられ
る。

先ず副ミラー４の校正時の動作について述べる。

これは前述した様にこのように高精度なシステムを比較
的簡単な機構と補正機構とで実現する上で必要なもので
あり、フィルム交換時、電池交換時或は使用者の意図的
な操作に伴ってスイッチ２２がオンすることにより開始
される。すなわちスイッチ２２がオンすることにより信
号ラインａがハイレベルとなり、これに伴って光源駆動
回路２３が作動し、校正用の光源９が点灯する。又信号
ラインａがハイレベルになることからアンドゲート４０
〜４２の各出力はＯ”０“Ｏ”となり、副ミラー４の校
正時であることがＲＯＭ４６に伝わる。このような状態
において、前記光源９にて投射された光は投光レンズ１
０を介して副ミラー４に一体的に設けられた反射部材８
で反射し、可変頂角プリズム６を介して測距センサ７上
に略ピントを結ぶ。

ここで副ミラー４が前後方向に傾いていた場合は、反射
部材８よりのスポット光入射位置が測距センサ７の幅方
向（画素列と垂直方向）の中央位置よりずれることにな
り、測距センサ７上に写る全光量が減少する。すなわち
このことは、測距センサ７出力の光量が最高になるよう
に可変頂角プリズム６の角度を設定した場合に、前記光
源９の副ミラー４よりの反射光をとらえている、つまり
は校正が適正に行なわれたという事になる。例として、
副ミラー４が所定の位置よりｌ°傾いていた場合、光量
が最高になるのは可変頂角プリズム６の角度が２°傾い
た場合である。従ってこの時の測距センサ７の出力に基
づいて可変頂角プリズム６の角度を調整することで、正
確な副ミラー４の校正制御が可能となる。この制御は以
下のようにして行われる。

測距センサ７にて光電変換された像信号（光源９よりの
反射光の）は測距回路２１より光量検出回路３４に入力
し、次段のピーク検出回路３５によりそのピーク検出が
開始される。又この時鋸波発生回路３６に鋸波が発生し
、この信号がラッチ回路３７を介してＲＯＭ４６に入力
しており、これにより該ＲＯＭ４６から可変頂角プリズ
ム６の角度調整開始情報が出力され、可変頂角プリズム
６の角度が前後方向に傾くように動かされる。この動作
が行われている間に、前記ピーク検出回路３５によりピ
ーク検出（光量が最高となる時点の検出）がなされ、該
回路よりピーク検出信号が出力されるとラッチ回路が作
動し、この時の可変頂角プリズム６の角度がＲＯＭの下
位アドレスの形で入力し、保持される。

また、副ミラー４が左右方向に傾いていた場合は、同様
に問題である。この場合副ミラー４で反射した光は左右
に振れ、測距センサ７上のスポット位置も左右（画素列
方向）へ振れる。この時のピーク画素位置を検出する回
路がピーク位置検出回路３０であり、ここで検出された
ピーク画素位置は中央画素位置情報発生回路３１よりの
中央画素位置と比較回路３３にて比較され、左或は右に
振れている場合には該比較回路３３よりハイレベル或は
ローレベルの誤差信号がアップダウンカウンタ３２へ出
力され、これによりＲＯＭ４６を介して可変頂角プリズ
ム６の左右方向の角度調整が開始される。その後前記比
較回路３３の出力が零になると、その時のアップ或はダ
ウンカウント値がアップダウンカウンタ３２に保持され
、この時のカウント値がＲＯＭ４６の下位アドレスの形
で入力し、保持される。これにより、光源９のスポット
光が測距センサ７の画素列方向の中央画素位置に入射す
るように、つまり可変頂角プリズム６の角度調整（副ミ
ラー４の左右方向の校正）がなされたことになる。

次に、測距域選択に応じて変化せられる可変頂角プリズ
ム６の角度調整制御について述べる。

例えば画面上方測距を行うべき信号が信号発生回路２４
より出力された場合は、アンドゲート４ｏ〜４２からＲ
ＯＭ４６へ“１”０”　′１”なる信号が入力する。す
ると該信号を受けるＲＯＭ４６は予め保持している可変
頂角プリズム６の角度設定情報、つまりこの実施例では
、反射部４ｂに写った像を測距センサ７に導くために、
可変頂角プリズム６を左右方向に水平で、前後方向に関
して後方が約３５°持ち上がった角度になるような角度
設定情報を出力する。これにより可変頂角プリズム６は
、後述するレンズ瞳位置に基づく補正情報が加算回路４
８にて加わった後、前述した校正制御がなされた状態（
角度）を基準とした角度設定が駆動部５３により行われ
る。つまりこの時レンズ瞳位置に基づく補正情報が零で
あった場合には、前記校正がなされた状態を基準として
、前後方向に関して後方が約３５６持ち上がった角度に
設定される。

また、同時にＲＯＭ４６からは設計時にＲＯＭ内に記憶
されている「角度ずれ対ピントずれ」のデータに基づい
たピントずれ量（選択された測距域と校正偏向によるピ
ントずれ量）が加算器２７へ出力されており、該加算器
２７で測距回路２１よりの測距信号と加算されて正規化
された測距情報としてスイッチ２８を介してＡＦ駆動回
路２９へ送られ、レンズのＡＰ調節が行われる。

尚、前述した校正制御と角度設定制御はいずれが先に行
われても良い事は言うまでもないであろう。

次に、レンズ瞳の補正について述べる・ＴＴＬ測距の場
合、全ての光は撮影レンズを通して与えられる。このた
め、画面中央な測距１″るには正しく光軸を狙うように
構成しなければならない。これは特に暗い（Ｆナンバー
の大きい）レンズの場合に測距光軸が例えば右に傾いて
いると、右側の射出瞳を狙っている測距光束がレンズ射
出瞳にケラれ、左側の射出瞳を狙っている測距光束はケ
ラれないというアンバランスが生じる。

これは左右の射出瞳からの多像を比較するずれ量による
ＡＦ方式の場合には、その比較が正しく行われなくなる
欠点がある。よってこの種装置においては十分な調整が
なされている。

しかし該実施例のように画面中央以外を測距可能とする
ものにおいては、レンズ光軸と測距光束の対称軸は平行
とはならないため、この様な測距時には補正を必要とす
る。すなわち、フィルム面で左側の点を測距する様な場
合であっても、その点への左右の測距光束はレンズの射
出瞳上で光軸に対し対称でなければならない事を意味す
る。何故なら測距光束の対称軸がレンズ光軸に対し平行
、つまりフィルム面に垂直な場合は、その左側の測距光
束がレンズ射出面でケラれることになるからである。又
レンズの射出瞳位置が測距光束対称軸より遠い場合は、
レンズの射出瞳面上で前述とは逆に右側の測距光束がケ
ラれてしまう。このため、多点測距においては、その各
点での測距光束対称軸がレンズの射出瞳面上で一致する
ように先すぼまりの形でなければならない。このことは
レンズの射出瞳面距離に応じて先すぼまり角を変える必
要がある。そこで本実施例では、射出瞳面位距離情報が
入手困難な場合のために、入手容易なレンズの焦点距離
信号を等価的に用いて補正制御するようにしている。熱
論レンズ構成によりレンズの焦点距離は射出瞳面距離と
は異なっている。しかしながら−眼レフレックスカメラ
用の交換レンズでは、その交換用のマウントより射出瞳
面ば遠いこと、及び広角から中望遠においては極端に暗
い、すなわち射出瞳径の小さいレンズが少ないことから
、以下のようにしている。

つまり焦点距離情報発生回路２５より出力される現在装
着されているレンズの焦点距離情報と基準情報発生回路
２６より出力されるｒ１５０ｍｍ　Ｊという距離情報の
大きい方の情報をダイオード５０．５１により選択し、
先すぼまり可算出回路４３により先すぼまり角αを以下
の式により算出する。

α＝ｔａｎ　　−’　　（ｆ！、／Ｌ）尚ここで、℃は
光軸から中央測距以外の測距時の測距光束入射位置まで
の距離、つまり例えば左方測距時であればフィルム面上
のそれに対応する点とフィルム面の中心点との距離であ
り、Ｌは現在装着されているレンズの焦点距離情報とｒ
１５０ｍｍ」という距離情報の大きい方の値である。

上記のようにして算出された先すぼまり角情報はスイッ
チ４５へ入力し、ここでその時選択されている測距域に
応じて、そのままの情報として或は反転増幅回路４４を
介した情報として出力される。すなわち、例えば上方や
右方の測距域が選択されている場合はアンドゲート４２
の出力が“１”であるのでスイッチ４５は反転増幅回路
４４の出力側に切り換わり、先すぼまり可算出回路４３
より出力される情報の反転増幅された情報を、つまりは
負の先すぼまり角情報（−α）として次段へ出力し、下
方や左方の測距域が選択されている場合はアンドゲート
４２の出力は“０”であるのでスイッチ４５は第４図の
状態側に切り換わり、先すぼまり可算出回路４３より出
力される情報をそのまま、つまり正の先すぼまり角情報
（＋α）として次段へ出力する。

この正或は負の先すぼまり角情報は次いでアンドゲート
３８或は３９の出力によりオンオフが制御されているス
イッチ５５．５６へと入力する。

ここでアンドゲート３８は左方或は右方の測距域が選択
されている時にその出力がハイレベルとなり、スイッチ
５５をオン状態にしており、アンドゲート３９は上方或
は下方の測距域が選択されている時にその出力がハイレ
ベルとなり、スイッチ５６をオン状態にしている。従っ
て、例えば現在右方測距が選択されているとすれば、ス
イッチ４５は反転増幅回路４４の出力側に切り換わって
おり、又この時スイッチ５５がオンすることになるため
、負の先すぼまり角情報が加算回路４９へ入力し、ＲＯ
Ｍ４６よりの正の角度設定情報をこの負の先すぼまり角
情報で減じた結果が該加算回路４９から出力されること
になり、この結果可変頂角プリズム６は駆動部５４によ
り負の先すぼまり角情報分だけ測距光束が内側を向くよ
うに角度補正されることになる。また下方測距が選択さ
れているとすれば、スイッチ４５は第４図の状態側に切
り換わっており、又この時スイッチ５６がオンすること
になるため、正の先すぼまり角情報が加算回路４８へ入
力し、ＲＯＭ４６よりの負の角度設定情報をこの正の先
すぼまり角情報で加算した結果が該加算回路４８から出
力されることになり、この結果可変頂角プリズム６は駆
動部５３により正の先すぼまり角情報分だけ測距光束が
やや上を向くように角度補正されることになる。

尚この先すぼまり角による補正に伴って厳密には測距位
置及び測距結果の補正は必要であるが、比較的その影響
は少ないため、該実施例では考慮していない。

又該実施例において、可変頂角プリズム６上での測距結
果と実際のピント面との差は設計上以下のようになる。

フィルム面上の中心点でｒ　６．６ｍｍ」、左右の点で
ｒ７．２ｍｍ　Ｊ　、フィルム面上での上の点でｒ７．
６ｍｍ　Ｊ　、下の点でｒ５．５ｍｍＪである。

上記実施例では、副ミラー４のダウン時の角度誤差に伴
う校正のみを行うようにしているが、平行シフト等の誤
差の可能性も大きいような場合には以下のようにするこ
とが望ましい。

第５図はこの副ミラー１１０の様子を示したものであり
、第１図と同じ部分は同一符号を付しである。ここでは
校正用の光源９及び反射部材８と対称な位置に校正用の
光源１１１及び反射部材１１２を配置しており、正規位
置における副ミラー４等の正面図としては第５図左上図
、側面図としては右上図のようになる。

ここで、副ミラー１１０が左右方向に角度（誤差）を持
った場合の状態を示したのが右下図である。この場合、
光源９による校正用の光線は可変頂角プリズム６上で右
にずれ、同じく光源１１１による校正用の光線も同一方
向でほぼ同じ量だけずれる。また副ミラー１１０が下又
は前方に誤差を持った状態を示したのが左下図である。

この場合、光源９と１１１のずれは逆方向でほぼ同じ量
となる。

以上のような状態を検出し、平行シフトに対応できる構
成としたのが第６図であり、第４図と同じ部分は同一符
号を付しである。

光源９による校正動作はほぼ同じである。すなわちピー
ク検出回路３５よりピーク検出信号が出力されるまでは
フリップフロップ１１５はリセット状態であるため、そ
のＱ出力はハイレベルであり、この副ミラー校正時には
信号ラインａもハイレベルであるのでアンドゲート１１
６の出力がハイレベルとなってアップダウンカウンタ３
２がイネーブル状態となり、比較回路３３よりハイレベ
ル或はローレベルが入力している間アップ或はダウンカ
ウント動作を開始する。この間前述と同様ＲＯＭ４６か
ら可変頂角プリズム６の角度調整開始情報が出力され、
可変頂角プリズム６の角度が動かされている。その後ピ
ーク検出回路３５によりピーク検出がなされ、該回路よ
りピーク検出信号が出力されるとフリップフロップ１１
５がセットされてそのＱ出力がローレベルに反転するこ
とから、その時のアップダウンカウンタ３２の値が保持
され、この時の可変頂角プリズム６の角度がＲＯＭの下
位アドレスの形で入力、保持される。

又同時に前記フリップフロップ１１５のＱ出力がハイレ
ベルになることからオアゲート１１８より“１“が出力
され、その結果ＲＯＭ４６に“Ｏ”Ｏ”１”なる信号が
入力することになり、光源１１１による校正モードへと
移る。これによりＲＯＭ４６より再び可変頂角プリズム
６の角度調整開始情報が出力され、可変頂角プリズム６
の角度が今度は前と逆の方向に傾くように動かされる。

その後前述と同様な動作が前記アップダウンカウンタ３
２に替わってアップダウンカウンタ１１７で行われ、同
じくピーク検出時の可変頂角プリズム６の角度がＲＯＭ
の下位アドレスの形で入力、保持される。

以上の構成により、アップダウンカウンタ３２よりのア
ドレスとアップダウンカウンタ１１７よりのアドレスと
の差が副ミラー１１０のシフト分としての測距時の校正
用、和が副ミラー１１０の角度分として同じく測距時の
校正用として保持される。

以上は副ミラーの校正用として単純な形を示したもので
あるが、完全に３次元の６座標自由度では同様の測定が
少なくとももう１ケ所必要な事は言うまでもない。しか
し実際上は副ミラーの支持、ストッパ等によりその自由
度が少ないため、このような校正アドレスにより限定さ
れた自由度下の各測距点に及ぼす補正量は設計上設定可
能である。その為、その各補正量による完全な測距が比
較的簡単な機構で実現可能となる。

次に、撮影者が上記５点より測距域を選択する場合につ
いて、第７図を用いて説明する。

第７図はカメラグリップ部左前方から見た図であり、撮
影者は不図示の干−ド選択部材により測距視野選択モー
ドを選択し、ダイヤル１３０によって５点のうちのいず
れかの測距域を選択することになる。前記ダイヤル１３
０は軸１３１を中心に回転可能に構成されており、クリ
ックばね１３２．１３３によるクリック性をもっている
。このダイヤル１３０の回転はエンコード基板１３４と
ブラシユニット１３５により９０°位相差をもつ回転位
置信号に変換される。又第７図中、１３６はレリーズ用
スイッチであり、ダイヤル１３０により選択された測距
域を後述する多点評価測距に考慮するか否かを入力可能
にしている。

第８図はダイヤル１３０の操作に伴って発生する信号、
すなわち前記エンコード基板１３４とブラシユニット１
３５により生成される９０”位相差をもつ回転位置信号
を、５点の内のとの測距域が選択されたかの測距点位置
信号に変換する回路構成例を示すものであり、これは第
４図の信号発生回路２４内の構成にほぼ相当する。ここ
では、ダイヤル１３０の右回りへの１クロツク回転操作
に伴って外周側の測距域が右回り（例えば上方測距−右
方測距一下方測距一左方測距）の順に、ダイヤル１３０
の反転操作時に中央測距が、それぞれ選択された事を示
す信号を発生するものとする。

ダイヤル１３０の右方向への回転操作がなされると、回
路１５１からは右回転方向を示す信号ｄｉｒとクリック
数に対応した数のクロック信号ＣＬにが出力され、カウ
ンタ１５４にてクロック信号ＣＬＫの数がカウントされ
、この値がＲＯＭ１５８へと出力される。このデータを
受けるＲＯＭｌ５８は予め保持している「回転方向とク
ロック数」のデータに基づいて上下左右のいずれの測距
域が選択されたかを示す３ビツトの信号を出力する。又
ダイヤル１３０が逆方向に回転されると、回路１５１か
らは左回転方向を示す信号ｄｉｒと１クロック信号Ｃし
にが出力される。これに伴って該逆の回転方向を示す信
号ｄｉｒとフリップフロップ１５５より前回の回転方向
を示す信号が入力しているエクスクル−シブオアゲート
１５６の出力はハイレベルに反転し、このハイレベルの
信号がし端子に入力するカウンタ１５４ではこの時入力
する１クロツクの信号は受付けず、よって前回のカウン
ト値を保持したままとなる。又前記エクスクル−シブオ
アゲート１５６の出力がパイレベルになることによりフ
リップフロップ１５７の出力も１パルス間ハイレベルと
なり、つまりこの間逆方向の回転がなされたことを示す
信号が出力され、この信号を受けるＲＯＭ１５８は中央
測距域が選択されたことを示す３ビツトの信号、つまり
前述した“１”　Ｏ”を出力する。

第９図はファインダでの表示例を示す図である。ファイ
ンダー６０内には各測距域１６１〜１６５に対応した位
置を表示可能とした構成となっている。

ここで、先ず該表示を行う表示素子の基本構成について
第１０図を用いて説明する。第１０図中、２００はファ
インダー６０内の前記各測距域１６１〜１６５の所定の
深度内外の表示を行う表示素子、２１０は屈折率可変物
質で、例えば液晶等から成っている。２２０は使用波長
λに対して透明な物質から成るレリーフ型の格子枠周期
Ｐの回折格子（部材）、２３０は透明電極、２４０は透
明光学部材からなる透明基板、２５０は任意の偏光特性
を有する入射光、２６１及び２６２はそれぞれ入射光２
５０のうちの互いに直交する偏光成分であり、２６１は
紙面に垂直方向の偏光成分、２６２は紙面に平行方向の
偏光成分を示している。

本表示素子２００は１対の透明基板２４０の対向する面
上に透明電極２３０を形成して、１対の透明基板２４０
の一方の透明基板２３０上に透明物質からなるレリーフ
型の回折格子２２０を設け、屈折率可変物質２１０を回
折格子２２０の溝部（凹部）に充填している。そして透
明電極２３０を介して電界を印加することにより屈折率
可変物質２１０の屈折率を変化させている。

次に前記表示素子２００の動作原理を、屈折率可変物質
２１０として液晶を用いた場合を例にとって説明する。

第１０図において、今電界が印加されていない、所謂静
的状態において液晶２１０は回折格子２２０の溝方向、
即ち紙面と垂直方向に配向され、ホモジニアス配向の状
態を維持しているものとする。

この静的状態の表示素子２００に入射する入射光２５０
の偏光成分２６１，２６２の内、液晶２１０の配向方向
と直交する成分である偏光成分２６２は液晶２１０の常
屈折率ｎｏを感じ、又液晶２１０の配向方向と平行な成
分である偏光成分２６１は液晶２１０の異常屈折率ｎｅ
を感じる。ここで回折格子２２０を成す物質の屈折率ｎ
ｇ、入射光２５０の波長をλ、回折格子２２０の厚さを
Ｔとすれば、回折格子２２０が矩形状の場合、入射光２
５０の偏光成分２６１．２６１のそれぞれに対する零次
の透過回折効率η。は概略次式で表される。

７７（、＝　　１７２　（１＋ｃｏｓ（２π・　Δｎ−
Ｔ／λ））但しΔｎは回折格子２２０の屈折率ｎｇと液
晶２１０の屈折率ｎｏ若しくはｎｅとの屈折率差であり
、入射光２５０の偏光成分２６２に対してはΔｎ＝１ｎ
ｏ　ｎｇｌとなり、又偏光成分２６１に対してはΔｎ＝
　Ｉ　ｎｅ　−ｎｇ　　Ｉとなる。

従って、上記式よりΔｎ＝＝ｏのとき、すなわちｎｅ＝
ｎｇのときに零次透過回折の回折効率η。

は７７ｏ＝１となる。又ΔｎＴ＝（ｍ＋１／２）λ、（
ｍ＝０．１，２．３．・・・・・・）のときに回折効率
η０はηｏ＝Ｑとなる。

次に透明電極２３０を介して液晶２１０に電界を印加す
ると、液晶２１０の配向方向（光学軸方向）が徐々に変
化する。この時入射光２５０における偏光成分２６２は
電界の印加に無関係に常時液晶２１０の常屈折率ｎＱを
感じる。これに対して偏光成分２６１は電界の印加量に
伴って液晶２１０の異常屈折率ｎｅと常屈折率ｎ０とを
、所定の比率で合成した合成屈折率ｎｘを感じる。ここ
で該合成屈折率ｎｘは液晶２１０の配向方向の変化に伴
って変化する。さらに電界の印加量を増加させると、液
晶２１０は透明基板２４０（透明電極２３０）に垂直配
向され、ホメオトロピック配向の状態となり、入射光２
５０の偏光成分２６０．２６１は共に液晶２１０の常屈
折率ｎ０を感じ、飽和する。このような状態においても
入射光２５０は上記式に従って変調される。

第１１図（ａ）は前記表示素子２００等の一眼レフレッ
クスカメラでの光学配置図、第１１図（ｂ）は表示素子
２００のより詳細な断面図である。第１１図（ａ）にお
いて、２０１は撮影レンズ、２゜２はクイックリターン
ミラー、２０３は焦点板、２０４はコンデンサレンズ、
２０５はペンタプリズム、２０６は接眼レンズ、２０７
は表示素子２００を駆動する表示駆動回路である。尚こ
の図には測距光学系は図示していない。第１１図（ｂ）
において、２２１，２２２は回折格子、２３１，２３２
．２３３，２３４は透明電極、２４１，２４２．２４３
は透明基板である。尚第１１図に示す表示素子２００は
本実施例で採用したものであり、第１０図に示した表示
素子２００は本実施例で採用した表示素子の基本構成を
示すものであり、多少その構造が異なるが簡単のため同
一符号を付して、以下説明を進める。

撮影レンズ２０１を透過した光はクイックリターンミラ
ー２０２を介してファインダ光学系に導かれ、焦点板２
０３のピント面上に結像する。

ピント板２０３から射出する光は撮影レンズ２０１のＦ
値及びマット面の拡散特性に応じた強度で拡散し、その
一部がコンデンサレンズ２０４、ペンタプリズム２０５
、接眼レンズ２０６を介して人間の眼に到達する。ここ
で実際に眼に入射する光はコンデンサレンズ２０４、ペ
ンタプリズム２０５、接眼レンズ２０６及び眼から成る
光学系の入射瞳により制限を受けたもので、焦点板２０
３上で光軸を中心に通常的３°の角度範囲内に出射した
光である。

表示素子２００は焦点板２０３のピント面近傍に配置さ
れ、表示駆動回路２０７により表示、非表示の状態及び
表示位置（測距域位置）の制御が行われる。非表示状態
では表示素子２００は屈折率の−様な透明基板と見なさ
れ、ピント面上に結像した被写体像は変調されずにコン
デンサレンズ２０４、ペンタプリズム２０５、接眼レン
ズ２０６を介して眼の網膜上にそのまま結像される。表
示状態では、表示素子２００に入射する光の一部は表示
パターンである回折格子で回折される。回折された光の
うち回折角の大きな成分は眼の視野外に飛ばされるため
に、被写体光の一部が減光されたように視認され、被写
体像と重なった表示がなされる。

ここで、前記表示素子２００は異なる色表示な行う２つ
の表示素子から構成されており、各々の動作原理は第１
０図で説明した通りである。第１１図（ｂ）において、
回折格子２２１と回折格子２２２の格子線は直交してお
り、図中Ｔ１は回折格子２２１の溝の深さ、Ｔ２は回折
格子２２２の溝の深さを示したものである。今、回折格
子２２１．２２２の屈折率ｎｇ＝１．５３、液晶２１０
の屈折率ｎｅ　＝１．７８　（ｎ、）　＝１．５３）　
、回折格子２２１の溝の深さＴＩ＝１．５μｍ、回折格
子２２２の溝の深さＴＩ＝２．５μｍとすると、上記式
より紙面に垂直な偏光成分２６１をもった入射光２５０
は液晶２１０　（ｎｅ　＝１．７８）と回折格子２２１
（ｎｇ　＝１．５３）との屈折率差により変調を受け、
透過光は青色を呈し、紙面に平行な偏光成分２６２をも
った入射光２５０は不図示の液晶と回折格子２２２との
屈折率差により変調を受け、透過光は赤色を呈する。入
射光２５０は一般に無偏光なので表示駆動回路２０７に
より２つの表示層を選択することにより、異なる色表示
が可能となる。

本実施例では、選択された測距域について、その測距域
を測距し、得られる測距情報により自動測距を行い、そ
の測距域での測距情報に基づいて対応測距域位置の深度
内／外表示を表示駆動回路２０７により選択的に青色や
赤色で表示させようするものである。

次に、第１２図を用いて深度優先ＡＰ結果に基づく表示
駆動制御について述べる。尚この第１２図は第１１図図
示表示駆動回路２０７内の主要部分の回路構成に相当す
る。

撮影者によって選択された測距域位置を示すアドレス信
号（第８図のＲＯＭ１５８出力）はラッチ回路３０５，
３０９によってラッチされ、それに対応した信号ライン
３００〜３０４．３１０〜３１４の内からそれに対応し
た信号ラインが選択される。すなわち例えば中央の測距
域が選択された場合（第９図に示す測距域１６１が選択
された場合）は、信号ライン３００．３１０が選択され
る。

中央の測距域が選択された状態において、測距開始の指
示がなされていない場合は、信号ラインＣがローレベル
になっており、ラッチ回路３０５．３０９には信号ライ
ンｂ、ｄを介して入力する合焦（深度内）信号、非合焦
（深度外）信号はラッチされない。又前記信号ラインＣ
がローレベルであることからこの場合アンドゲート３０
７がゲートを開き、発振回路３０６出力がオアゲート３
０８を介してラッチ回路３０５に入力することになる。

これによりラッチ回路３０５から信号ライン３００を介
して前記発振回路３０６出力（点滅信号）がそのまま出
力され、第１１図にて説明したような動作が不図示の表
示素子にて行われ、第９図に示す測距域１６１部分が青
色にて点滅することになる。これは現在選択されている
測距域指示点表示として撮影者に認識される。

測距開始の指示がなされた場合は、信号ラインＣがハイ
レベルとなるため、ラッチ回路３０５゜３０９には信号
ラインｂ、ｄを介して人力する合焦（深度内）信号、非
合焦（深度外）信号をラッチすることになる。今前記中
央の測距域１６１の測距が行われ、その結果として信号
ラインｂを介してハイレベルの合焦信号が入力したとす
ると、ラッチ回路３０５は信号ライン３００を介してハ
イレベルの信号を出力する。これにより第９図に示す測
距域１６１部分が青色にて点灯することになる。これは
現在選択されている測距域が合焦域に納まっていること
を示す表示として撮影者に認識される。−力信号ライン
ｄを介してハイレベルの非合焦信号が入力したとすると
、ラッチ回路３０９は信号ライン３１０を介してパイレ
ベルの信号を出力する。これにより第９図に示す測距域
１６１部分が赤色にて点灯することになる。これは現在
選択されている測距域が合焦域に納まっていないことを
示す表示として撮影者に認識される。

また、ラッチ回路３０５，３０９は電源投入時や新たに
測距開始がなされる直前に発生するリセット信号により
リセットされる。

以上、各点の測距結果とそれに対応した表示の両立によ
り、つまり対話形式により使い易いものとしている。

第１３図は多点深度優先制御を実現するためのブロック
図である。

これは次々と指示した測距域のそれぞれの測距情報に基
づいて、全ての測距域が深度内となるレンズ位置と絞り
を設定するようにしたもので、レンズの最小絞りでも深
度内に入らない場合はその測距域は深度外であることの
表示を行って無視するようにしたものである。撮影者は
重要そうな被写点（測距域）から順次指示することで、
深度内かどうか確認しながら深度優先のＡＰ、ＡＥが可
能となる。

第１３図において、３５１は測距域選択回数をカウント
するカウンタ、３５２はアンドゲート、３５３は何度か
行われる測距結果のデフォーカスの最低値を保持する記
憶回路、３５４はその最高値を保持する記憶回路、３５
５〜３５８は測距結果の最小値、最大値を得るためのダ
イオード、３５９．３６０は差動増幅回路、３６１は必
要な深度を算出するための差動増幅回路、３６２は演算
回路、３６３は比較回路、３６４はレンズの最小絞り情
報（最大絞り値）を発生する絞り情報発生回路、３６５
はラッチ回路、３６６はインバータ、３６７はバッファ
、３６８は深度性表示（赤色表示）を行う表示駆動部、
３６９は深度円表示（青色表示）を行う表示駆動部であ
り、これらは例えば第１１図の表示駆動回路２０７内に
配置される。又ｈ−ｐは信号ラインである。

上記構成において、１点目の測距指示時には、カウンタ
３５１のカウント値は零であるため、信号ラインｋを介
して入力する測距信号（これは選択される測距域及び副
ミラーの誤差等が考慮された状態において行われた結果
値である）は演算回路３６２を通ってそのままの値でＡ
Ｆ駆動系へ出力される。又この時前述したようにカウン
タ３５１のカウント値は零であるため差動増幅回路３６
１は不作動状態である。よって必要深度は零であり該必
要深度情報と絞り情報発生回路３６４よりの情報との比
較を行っている比較回路３６３の出力（信号ラインＩ２
）はハイレベルとなる。このように信号ラインβがハイ
レベルとなることによりラッチ回路３６５は必要深度を
記憶し、信号ラインｍを介して測光系へ絞り指示値を出
力する。また同時に信号ラインｑを介してＡＦ指示がな
される。さらに表示系へは深度内であるのでバッファ３
６７及び信号ライン０を介して表示駆動部３６９ヘハイ
レベルが与えられ（測距指示信号発生タイミングにより
）、この時の測距域に対応した郡部に青色表示がなされ
る。さらに又前記信号ラインβのハイレベルによりカウ
ンタ３５１のカウント値が「＋１」進められる。

尚仮に深度外であった場合には、前記信号ライン℃がロ
ーレベルとなるため、インバータ３６６及び信号ライン
ｎを介して表示駆動部３６８にハイレベルが与えられ、
この時の測距域に対応した部分に赤色表示がなされる。

そしてＡＦの動作等は行われない。

次に、ｎ回目の測距指示時について述べる。

ｎ回目の測距指示がなされると、演算回路３６２は新、
旧多点の新、旧平均値の偏差分を（偏差Ｄ／（ｎ＋１）
）で演算してその結果を信号ラインｐを介してＡＰ駆動
系へ出力する。ダイオード３５５〜３５８は前述したよ
うに最低値と最高値を得るためのものであり、これらか
らは信号ラインｈを介して現在のレンズ位置での今回ま
での測距での最低デフォーカス信号が、同じく信号ライ
ンｊを介して最高デフォーカス信号が差動増幅回路３５
９，３６０に送られる。この信号を受ける差動増幅回路
３５９，３６０では該信号と今回の測距位置でのデフォ
ーカス信号とを考慮した、今回までの平均的なデフォー
カス位置からの近側及び遠側のデフォーカス信号が生成
される。モして差動増幅回路３６１でこれらのデフォー
カス巾、つまり必要深度が算出され、前述と同様比較回
路３６３にて絞り情報発生回路３６４よりの情報（最小
絞り径情報）と比較される。この結果、最小絞り径によ
っても深度内に入らないデフォーカス巾であった場合、
つまり該比較回路３６３の出力がローレベルとなった場
合は、前述のように駆動部３６８の働きにより深度外を
示す赤色表示がその時の選択測距域部分にて行われ、又
この場合ローレベルの信号が入力することによりラッチ
回路３６５からは絞り切れない要求絞り値への改新デー
タは出力されない。さらに前述したようにＡＦ駆動等は
行われず、アンドゲート３５２による最高、最低デフォ
ーカス信号の改新も行われない。

一方、深度内に入る場合は信号ラインβはハイレベルと
なり、前述のように絞り値の改新、深度内を表す青色表
示、平均する場所への合焦動作等が行われ、さらにアン
ドゲート３５２を介して上記差動増幅回路３５９．３６
０に出力された新しいレンズ位置での近側、遠側のデフ
ォーカス信号の保持が記憶回路３５３，３５４にてなさ
れる。

次に、測距位置選択を自動的に行うことを可能とする回
路構成を第１４図に示す。

ここでは、例えば中央の測距域より測距を開始し、この
結果得られる測距信号の信頼度が低い（被写体コントラ
ストが低い場合等）には次々に測距位置を変えて、確実
な測距が行えるようにしたものである。

つまり、例えば最初に中央の測距域での測距が行われ、
その結果（測距信号）が比較回路４０５に入力すると、
ここで抵抗４０６と４０７により分圧された基準電圧（
これは低コントラスト等測距結果を不能とするしきい値
レベル）と比較され、この時の測距結果の信頼度が低い
ような場合は該比較回路４０５の出力がローレベルに反
転する。これによりアンドゲート４０８を介して１パル
スの測距完了信号が５進カウンタ４０１へと入力し、こ
こでのカウント値が進む。該カウンタ４０１よりのカウ
ント値を入力とするＲＯＭ４００は前記第８図のＲＯＭ
１５８に類似したものであり、例えば前記カウンタ４０
１でのカウント値が１つ進む毎に、中央測距−上方測距
一右方測距一下方測距→左方測距の順で測距位置を変化
させるべく信号を発生するもので、前述のようにカウン
タ４０１のカウント値が１つ進むと次に上方測距を行わ
せるべき信号を発生する。以下信頼度の高い測距信号が
得られるまで、同様の動作が順次繰り返し行われる。

本実施例によれば、従来より精度確保の難しかった副ミ
ラー４によるＴＴＬ測距系を比較的精度を緩めた形で５
つの反射面（反射部４８〜４ｅ）を持たせ、制御可能な
可変光路選択用の可変頂角プリズム６と組み合わせて、
すなわち副ミラー４のようにクイックリターンな動作が
必要なものの精度確保を、固定した可変頂角プリズム６
の角度制御で代行させ、多点測距を可能としている。こ
れにより、従来のようにフレーミング以前にプリフォー
カス等の準備を必要とすることはなく、フレーミングに
集中することができ、使い勝手のよいものとなる。また
使用者の意図による中央以外の被写体に対する測距や、
自動的評価測距や使用者の意図による評価測距を対話的
に行うことが可能になる。さらに多点測距とファインダ
表示の組み合わせにより、多点測距の操作と多点深度優
先ＡＦを使いやすく実現できる。即ち測距位置選択行為
と深度内／外表示によって測距位置を確認しながら多点
の深度優先が可能となる。

また、簡単な機構により角度制御を可能とする可変頂角
プリズム６の角度を変えることにより、測距光束を測距
センサ７に導くようにしているため、１つの測距センサ
を備えることのみで多点測距を、高いコスト化を招くこ
となく行うことができる。さらに、光源９及び投光レン
ズ１０を備久、ここでの光を副ミラー４に一体的に設け
られた反射部材８へ投射し、該反射部材８よりの測距セ
ンサ７上の位置を見て、現在の副ミラー４の位置を確認
出来るようにしているため、該副ミラー４の位置誤差及
び誤差量を知ることができ、メンテナンスが容易なもの
となる。更に、前記測距センサ７上の光源９の反射部材
８よりの反射光入射位置に基づいて可変頂角プリズム６
の自動微調を行う様にしているため、副ミラー４の常時
校正がなされることになり、これに伴うメンテナンスの
必要が全く無くなる。

さらに又、ある測距位置での測距結果が信頼度の低いも
のであった場合には、信頼度の高い測距結果が得られる
まで次々と他の測距位置での測距を行うような構成にし
ているので、コントラストの低いパターンの場合にも広
範囲での高いコントラスト部の自動検索が可能となる。

（発明と実施例の対応） 本実施例において、可変頂角プリズム６、信号発生回路
２４．アンドゲート４０〜４２．ＲＯＭ４６、駆動部５
３．５４が本発明の偏向手段に、反射部材８が光信号発
生手段に、測距センサ７、測距回路２１が位置検出手段
に、ピーク位置検出回路３０〜ラツチ回路３７まで、及
びＲＯＭ４６が微調手段に、それぞれ相当する。またク
イックリターンミラー１が主ミラーに相当する。

（変形例） 本実施例では、測距光路選択用の部材として可変頂角プ
リズム６を用いたが、ＡＦ用のコンデンサレンズと兼ね
たレンズによる光路選択を行うにしても良い。第１５図
はこの例を示すものである。

図中４１０は半球のレンズで、この場合は光束４１１に
関しレンズ作用をもつ単なるコンデンサレンズとして働
く。しかし４１０′のように球中心＝平面部中心を軸と
して傾けた場合、光束４１１′に関しプリズム作用を４
１４のように持ち、且つ同一のコンデンサレンズとして
働く。このように、レンズを回転することによりコンデ
ンサレンズの働きを持ちながら、光路選択手段として働
く。

同様に、レンズ移動を行うようにして行っても良いし、
ＡＦ系に反射系を含む場合、その反射面を傾けて光束を
選択しても良い。

（発明の効果） 以上説明したように、本発明によれば、副ミラーを、撮
影画面を複数の測距視野に分割する複数の反射部にて構
成し、該複数の反射部のそれぞれの反射部よりの測距光
束が測距センサ上の所定位置へ入射するように偏向する
偏向手段を設け、以て、前記偏向手段による偏向制御に
より、撮影画面内における測距視野選択を行うようにし
たから、簡単な構成により、多点測距を行うことができ
る。

また、副ミラーと一体的に構成され、光信号を発生する
光信号発生手段と、該光信号発生手段よつの光信号より
前記副ミラーの現在位置を検出する位置検出手段とを設
け、以て、前記副ミラーの現在位置の確認を行うように
し、又前記位置検出手段よりの位置情報と基準位置情報
とを比較し、その誤差情報に基づいて偏向手段の微調を
行う微調手段とを設け、以て、前記副ミラーの現在位置
の確認を行い、基準位置よりの該副ミラーの位置誤差を
偏向手段の偏向微調により校正するようにしたから、副
ミラーの位置が適正か否かの確認が行え、更にその位置
誤差を自動的に校正することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す図、第２図は第１図図
示測距光学系を上方から見た図、第３図は第１図図示副
ミラーの正面、側面及び下方から見た図、第４図は測距
域選択等に伴う可変頂角プリズムの制御を行うブロック
図、第５図は副ミラーの位置誤差の他の例を説明する図
、第６図はその位置誤差を補正するための主要部分の回
路図、第７図は測距位置を選択するダイヤル機構を示す
斜視図、第８図は選択された測距域の位置信号を発生す
る回路図、第９図はファインダ内表示を示す図、第１０
図は本実施例に採用された表示素子の基本的な構造を示
す断面図、第１１図（ａ）はその表示素子が配置される
一眼レフレックスカメラの光学配置図、第１１図（ｂ）
は本実施例の表示素子の構造を示す断面図、第１２図は
表示制御を行う回路図、第１３図及び第１４図は多点深
度優先に関係する回路図、第１５図は光路選択部材の他
の例を示す図である。 １・・・・・・クイックリターンミラー、４・・・・・
・副ミラー、６・・・・・・可変頂角プリズム、７・・
・・・・測光センサ、８・・・・・・反射部材、９・・
・・・・光源、１０・・・・・・投光レンズ、２１・・
・・・・測距回路、２４・・・・・・信号発生回路、３
０・・・・・・ピーク位置検出回路、３１・・・・・・
中央位置情報発生回路、３２・・・・・・カウンタ、３
３・・・・・・比較回路、３４・・・・・・光量検出回
路、３５・・・・・・ピーク検出回路、３６・・・・・
・鋸波発生回路、３７・・・・・・ラッチ回路、４０〜
４２・・・・・・アンドゲート、４６・・・・・・ＲＯ
Ｍ、５３．５４・・・・・・駆動部。 第２図 第３図 第４図 第７図

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）主ミラーとともに撮影光路内外に移動可能に配置
   され、測距時には該主ミラーを透過した撮影レンズ通過
   光を測距光束として測距センサに導く副ミラーを備えた
   一眼レフレックスカメラ用測距装置において、前記副ミ
   ラーを、撮影画面内を複数の測距視野に分割する複数の
   反射部にて構成し、該複数の反射部のそれぞれの反射部
   よりの測距光束が測距センサ上の所定位置へ入射するよ
   うに偏向する偏向手段を設けたことを特徴とする一眼レ
   フレックスカメラ用測距装置。
2. （２）副ミラーと一体的に構成され、光信号を発生する
   光信号発生手段と、該光信号発生手段よりの光信号より
   前記副ミラーの現在位置を検出する位置検出手段とを設
   けたことを特徴とする請求項１記載の一眼レフレックス
   カメラ用測距装置。
3. （３）副ミラーと一体的に構成され、光信号を発生する
   光信号発生手段と、該光信号発生手段よりの光信号より
   前記副ミラーの現在位置を検出する位置検出手段と、該
   位置検出手段よりの位置情報と基準位置情報とを比較し
   、その誤差情報に基づいて偏向手段の微調を行う微調手
   段とを設けたことを特徴とする請求項１記載の一眼レフ
   レックスカメラ用測距装置。